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接触式数字厚度计

仪器信息网接触式数字厚度计专题为您提供2024年最新接触式数字厚度计价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括接触式数字厚度计参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的接触式数字厚度计您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合接触式数字厚度计相关的耗材配件、试剂标物,还有接触式数字厚度计相关的最新资讯、资料,以及接触式数字厚度计相关的解决方案。

接触式数字厚度计相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件:核心模块----光谱仪;外壳模块----各种精密精美的仪器外壳;工作面积模块----测量工作区域;光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件;测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型,不同光谱范围和光源,满足各种测量应用
  • 等厚度薄膜制样工具
    specac_迷你等厚度薄膜制样套装等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理,所得到样品是纯样品,谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求,提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜,还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。视频:http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频
  • 高精度膜厚仪|薄膜测厚仪A3-SR光学薄膜厚度测量(卤素灯)
    目标应用: 半导体薄膜(光刻胶) 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜(光刻胶) ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*(H90+H140)测试支架(配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘)测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm(标配,可以根据用户要求配置)样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标(THICKNESS SPECIFICATION):产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1(厚度要求)N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量,实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅(500纳米)测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.
  • 京都电子KEM 密度计 数字式密度计
    数字式密度计DA-650/DA-645/DA-640 Digital Density Meter 数字式密度计DA-650/DA-645/DA-640 主要特点: 1. 密度计测量精度高,测定速度快,样品量少。2. 自动粘度补正功能,不需输入样品的粘度值。3. 内置进样泵,自动进样、洗净和干燥测量池。4. 高亮度LED背景光源,方便直接观察测量池。5. 平滑接头,不会产生气泡和污染,方便清洗。6. 输入密度和浓度的对照表,换算试样的浓度。7. 可选购进样/清洗装置或多试样自动进样装置。8. 密度计可外接折光仪,同时测定密度和折光率。9. 符合GLP规范,存储测定结果、检查校正纪录。 数字式密度计DA-650/DA-645/DA-640 技术参数: 形式数字式密度计仪器型号DA-650DA-645DA-640测量方法U型振动管法测量范围0~3 g/cm3温度控制范围0~96°C (32~204.8°F) , 内置帕尔贴控温准确度密度±2x10-5 g/cm3±5x10-5 g/cm3±1x10-4 g/cm3温度±0.02°C±0.03°C±0.05°C重复性密度SD: 5x10-6g/cm3SD: 1x10-5 g/cm3SD: 5x10-5 g/cm3解析度密度0.0000010.000010.0001温度0.0010.010.01黏度修正有有有最少样品量1) 约1mL(注射器) 2) 约2mL(自动进样泵)测量时间1) 1~4分钟(手动) 2) 2~10分钟(自动)显示5.7英寸彩色液晶触摸屏, 分辨率640 x480显示密度、比重、相对密度、振动频率、温度、浓度和测量讯息进样方式1) 注射器手动进样2) 使用内置进样泵自动进样测量方法可储存100组不同的测量方法稳定度依据测量精度和时间有四种稳度定模式自动温度补正1) 输入密度对温度表或多项式, 自动换算至需求温度下的密度2) 内置ASTM石油测量表, 自动转换原油、燃料油或润滑油至15°C或60°F的密度自动浓度换算1) 输入密度对浓度表或多项式, 由密度或相对密度自动换算成浓度2) 内置糖度、酒精度、API度、酸碱液浓度换算表, 可自动换算成浓度值统计计算1) 自动或手动计算平均值、标准差、相对标准差2) 重新计算、数据删除界面1) LAN: 电脑2) USB: U盘、键盘、条码机、打印机3) RS-232C: 打印机、自动进样清洗单元、多样品自动进样器选件1) 打印机: 针式打印机、热敏打印机2) 进样单元: 自动进样清洗单元、多样品自动进样器3) 软件: 数据采集软件数据输出/输入1) 使用U盘储存数据 2) 使用U盘提供应用资料材质PTFE、硼硅玻璃、SUS304环境条件1) 温度: 5~35°C2) 湿度: 85%RH以下电源AC100~240V, 50Hz/60Hz(AC适配器)功率约40瓦(最大120瓦, 最小20瓦)尺寸320(W) × 362(D) × 272(H)mm重量约18公斤京都电子(KEM)中国分公司 客服热线: 400-820-2557
  • 透过材料接触传热性测试仪 ISO12127-2007
    产品介绍:泰思泰克透过材料接触传热性测试仪根据ISO12127-2007及EN702设计研发并制造;该仪器通过加热筒在一定载荷下接触试样及热量计,测定一定温度下试样的传热性能;该仪器操作简单,数据准确,安全可靠,广泛应用于消防防护服相关公司及检测部门; 产品型号:TTech-ISO12127符合标准:ISO12127-2007 EN702技术参数1、 该设备由控制箱及不锈钢试验架台构成;2、 试样架自动升降,升降时速度 5mm±0.2mm/s3、 K型铠装热电偶,直径2mm,测温精度0.1℃;4、 加热桶温度大于500℃ 试样接触表面直径25.2±0.05mm5、 加热桶载荷重量 49N,可调节;6、 计时器 计时范围9999s 计时精度0.1s 7、 热量计固定盘直径25mm,厚度5mm 并装配铂电阻温度传感器;8、 支撑架材料为尼龙66;直径40mm 高度50mm 9、 试样直径80mm 10、 PLC 及触摸屏智能控制系统;11、 升温PID智能控制,系统自动采集温度数据;12、 试验数据系统自动计算,自动存储;可自由打印;13、 试验台尺寸:650mm x 350 mm x 650mm14、 电源 220V 50/60Hz, 功率800w
  • 厚度4.0 μ m、XRF測試用的Prolene膜416#
    X-RAY样品膜、XRF測試用的Prolene膜、XRF样品膜、ROHS测试膜、迈拉膜--美国Chemplex 416#现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:416产品信息:Prolene膜,卷轴,厚度4.0 μm,宽190px x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。产品详细信息:Pre-Perforated Thin-Film Sampel SupportsPROLENE? FILMCAT. NO:416Gauge:0.00016”,4.0 μm;0.16mil,40,640ATypical Impurities,PPM:Ca, P, Fe, Zn, Cu, Zr, Ti, AlChemplex? INDUSTRIES,INC.ROLL:3” x 300’ (190px x 91.4m); Lot No:082176。现货供应:XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。联系方式: 广州德骏仪器有限公司 联系人:13430208978 黎小姐 电话:020-83234248 传真:020-83234458 邮箱:1067173170@qq.com 地址:广州市越秀区解放南路123号金汇大厦25楼2519室
  • 非接触式/敲击式探针-长悬臂 DIAMONDCOATED
    DIAMONDCOATED:金刚石涂层探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式,长悬臂, 探针侧面 铝涂层导电金刚石涂层探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式,长悬臂, 探针侧面 铝涂层
  • 厚度2.5 μm 迈拉膜型号100
    迈拉膜、麦拉膜、XRF样品膜、EDX样品膜、X-ray样品膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、美国Chemplex样品膜-100# 品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO:100产品信息:Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜),卷轴,厚度2.5 μm,宽7.62cm x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。一、简介美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性好,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。 二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 三、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/盒Rolls连续卷轴,宽7.6cm x长91.4 m:100 Mylar® 迈拉 2.5 μ 0.00010” 0.10 mil 0.00254mm 7.6cm x91.4 m 1卷
  • 厚度6.0μm 迈拉膜3015
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Mylar® 迈拉、ROHS测试膜--美国Chemplex-3015# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:3015产品信息:Mylar® 迈拉,厚度6.0μm,直径63.5mm,100片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/卷3015 Mylar® 迈拉 6.0 μ 0.00024” 0.24 mil 0.00610 mm 2.5”(63.5mm) 100片
  • 默克 Supelco TLC 硅胶60 薄层层析板 20×20 25块 铝 厚度200μ m TLC 硅胶60 薄层层析板 20×20 25块 铝 厚度200μm
    默克薄层层析产品简介 在高效液相色谱技术发达的今天,薄层层析色谱技术因其成本低廉,快速高效,适用性广( 基本涵盖所有物质包括农药、类固醇、脂类、核苷酸、配糖、碳水化合物、脂肪酸等)依然是广大化学家们热衷的分离检测手段。从1966年开始,德国默克公司就向全世界的化学分析家提供薄层层析预制板。几十年来,默克不断地推陈出新,高效薄层层析板、Lichrospher 球形硅胶薄层层析板,微晶纤维素板,各种改性键合硅胶板等这些对薄层色谱分析有些重要意义的产品,不停地更新并创造着全新的应用领域。默克公司薄层层析产品标的含义F一含有荧光指示剂F254 +366一荧光指示剂激发波长为254和366nmF254一绿色荧光指示剂F254s一蓝色荧光指示剂(对酸稳定)G—粘合剂含硫酸钙H—不含粘合剂P—制备薄层层析R—经特殊工艺进行深度纯化W—耐水根据不同的填料特征,默克公司的薄层层析板分为四大类:常规薄层层析板(TLC),高效薄层层析板(HPTLC),整体化薄层层析板(UTLC),制备薄层层析板(PLC)。各种类型薄层层析板的比较TLCHPTLCUTLCPLC平均粒度10-12μm5-6μm整体化填料25μm粒径分布5-20μm4-8μm整体化填料5-40μm涂层厚度250μm200μm10μm0.5mm,1mm,2mm展开高度10-15 cm3-6 cm1-3 cm10-15 cm上样体积1-5μl0.1-0.5μl5-10 nl5-20μl分析时间20-200 min3-20 min1-6 min20-200 min 根据不同的担体类型,默克公司的薄层层析板分为三类:玻璃层析板,铝薄层析板,塑料层析板。 根据不同涂层类型,默克薄层层析板分为以下:硅胶60、RP-18、RP-8、 RP-2、NH2,DIOL、 CN、氧化铝、微晶纤维素( Cellulose)、聚乙醇胺微晶纤维素、浓缩带薄层板、多肽分析专用HPTC板( ProteoChrom® )、硅藻土、硅藻土/硅胶混合板。常规薄层层析板 通常情况,正相硅胶薄层层析板可以适合绝大多数的物质。默克公司的正相硅胶板采用Silica 60为原材料,通过特有的聚合技术,使薄层板的表面坚硬且光滑。覆盖紧密、光滑的表面使得默克的薄层层析板拥有极好的分离效果。常规TLC参数平均粒度10-12μm粒径分布5-20μm涂层厚度250μm展开高度10-15 cm上样体积1-5μl分析时间20-200 min铝薄板VS玻璃板 由于玻璃层析板体积及重量庞大,运输存放不便,使得使用成本- -支居高不下。很多工艺落后的薄层板由于厚度太大,切割不便,使得使用起来很不方便,安全方面也不易控制。鉴于这种种不利因素,默克公司推出了以铝薄片为底衬的薄层层析板,结合默克公司独.一无二的聚合技术,使得铝薄板在实用性方面大大超越了传统的玻璃板。订货信息Si 60 薄层层析板填料尺寸包装材质订货号Silica gel 6020×2025块玻璃1.05721.000110×2050块玻璃1.05626.00015×20100块玻璃1.05724.00012.5×7.5100块玻璃1.15326.0001Silica gel 60 F25420×2025块玻璃1.05715.000110×2050块玻璃1.05729.00015×20100块玻璃1.05714.00015×2025块玻璃1.05808.00015×10200块玻璃1.05719.00015×1025块玻璃1.05789.00012.5×7.5100块玻璃1.15327.00012.5×7.5500块玻璃1.15341.0001Silica gel 60 WF 254s20×2025块玻璃1.16485.0001LuxPlate® silica gel 60 F 25420×2025块玻璃1.05805.000110×2050块玻璃1.05804.00015×20100块玻璃1.05803.00015×1025块玻璃1.05802.00012.5×7.5100块玻璃1.05801.0001Silica gel 60*20×2025块铝1.05553.00015×1050片铝1.16835.0001Silica gel 60 W*20×2025片铝1.16487.0001Silica gel 60 F 254 *20×2025片铝1.05554.000110×2025片铝1.05570.00015×1050片铝1.16834.00015×7.520片铝1.05549.0001Silica gel 60 WF 254s*20×2025片铝1.16484.0001Silica gel 60*20×2025片塑料1.05748.0001Silica gel 60 F 254 *20×2025片塑料1.05735.00014×850片塑料1.05750.0001其中含*项涂层厚度为200μm不含*项为250μmSi 60 薄层层析板填料尺寸包装材质订货号Silica gel 40 F25420×2025块玻璃1.05634.0001涂层厚度为250μmW:可耐水F254:含荧光指示剂F254s:含酸稳定的荧光指示剂高效薄层层析板(HPTLC) 和传统的薄层层析板相比,高效薄层层析板拥有不可替代的优势,具体如下:分离速度大大加快,节省约一半的时间灵敏度大幅度提高,约5-10倍重现性更好,色带更窄,适合于定量分析规格参数TLCHPTLC平均粒度10-12μm5-6μm粒径分布5-20μm4-8μm涂层厚度250μm200μm展开高度10-15 cm3-6 cm上样体积1-5μl0.1-0.5μl分析时间20-200 min3-20 minTLC 和 HPTLC 的比较订货信息填料尺寸包装材质订货号HPTLC silica gel 6020×1050块玻璃1.05641.000110×1025块玻璃1.05631.000110×10100块玻璃1.05633.0001HPTLC silica gel 60 F 254s20×1025块玻璃1.15696.0001HPTLC silica gel 60 F 25420×1050块玻璃1.05642.000110×1025块玻璃1.05628.000110×10100块玻璃1.05629.00015×1025块玻璃1.05616.0001HPTLC silica gel 6020×2025片铝1.05547.0001HPTLC silica gel 60 F 25420×2025片铝1.05548.00015×7.520片铝1.05556.0001HPTLC silica gel 60 WRF 254s20×1025块玻璃1.15552.0001HPTLC silica gel 60 F 254 AMD, extra thin*20×1025块玻璃1.11764.0001HPTLC silica gel 60 WRF 254s AMD, extra thin*20×1025块玻璃1.12363.0001New HPTLC Premium Purity Plate20×2025块玻璃1.05648.0001含*项涂层厚度为100μm不含*项为200μmLichrospher 高效薄层层析板默克公司最早将Lichrospher 球形硅胶应用到薄层层析板,这又将薄层层析方法的分离极限提高了一个层次,实现了复杂样品的高通量分析。和传统的HPTLC相比,Lichrospher HTPLC 有以下优势:分离时间更短,约可缩短20%分离效果更好检出限更低订货信息填料尺寸包装材质订货号HPTLC LiChrospher® silica gel 60 F25420×1025 plates玻璃1.15445.0001HPTLC LiChrospher® silica gel 60 F 254s20×2025 plates铝1.05586.0001HPTLC LiChrospher® silica gel 60 AMD WR F254s extra thin*20×1025 plates玻璃1.05647.0001HPTLC LiChrospher® silica gel 60 RP-18 WF254s20×1025 plates玻璃1.05646.0001
  • 温湿度计 BT-2/数字温湿度计/BT-2 数显温度计
    BT-2温湿度计/数字温湿度计/BT-2 数显温度计由上海书培实验设备有限公司为您提供,欢迎联系我们。相关耗材:BT-2 数字温湿度计/温湿度计272-1干湿球温度计/金属壳干湿球温度计BT-2 数显温度计产品介绍: BT-2数字显示温度计是工农业生产和科学实验测量空气相对湿度的必备工具,多年来一直是这个领域里面客户最青睐的一款温度计,价格便宜,质量上等。BT-2 数显温度计功能特点: 两路温度测量,一路湿度测量,超大液晶屏幕,最高、最低温度、湿度记忆及记忆复位,摄氏、华氏转换,时钟及闹钟功能。BT-2 数显温度计技术参数:测量范围:内温:-30℃~+50℃(-22℉~+122℉)外温:-50℃~+70℃(-58℉~+158℉)湿度:20%~99%(RH)分辨率:温度:0.1湿度:1%精度:温度:±1℃湿度:±5%(25℃)电源:DC1.5V7#碱性电池一节(选配)整机尺寸:111×101×21.5(mm)显示尺寸: 81.5×64.5(mm)适用范围: 适合冷库、仓储、居家、办公等场所使用,物美价廉,小巧方便,是您实验室必备的小东西。
  • 厚度25.4μ -Premier样品膜TF-225#
    土壤样品杯膜、XRF測試用的聚丙烯膜材質、美国Premier样品膜TF-225# 品名:XRF样品膜Sample Film 型号: CAT. NO TF-225# 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜:美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点: 有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择; 柔韧性强、方便、耐用; 极佳的X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪; 极佳的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品; (几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录:美国Premier X-ray样品膜种类:(1)、Hostaphan膜;(2)、Kapton膜:聚酰亚胺膜,卡普顿膜;(3)、Mylar膜:聚酯薄膜,迈拉膜,麦拉膜;(4)、Polypropylene膜:聚丙烯膜。目录编号:CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-225 Polypropylene膜 25.4μ(1.15mil) 76mm x15.2m 1卷/盒 Polypropylene Rolls连续卷轴
  • 非接触式/敲击式探针 HIGH ASPECT RATIO,DIAMONDCOATED
    HIGH ASPECT RATIO:高纵横比探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式,高纵横比针尖, 纵横比≥ 5:1倾斜补偿高纵横比探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式,高纵横比针尖,纵横比 ≥ 5:1,倾斜补偿为13°高纵横比探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式,高纵横比针尖, 纵横比≥ 10:1倾斜补偿高纵横比探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式,高纵横比针尖,纵横比 ≥ 10:1,倾斜补偿为13°高纵横比探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式,高纵横比针尖, 纵横比 ≥ 5:1,探针侧面:铝涂层倾斜补偿高纵横比探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式,高纵横比针尖,纵横比 ≥ 5:1,倾斜补偿为13°,探针侧面:铝涂层高纵横比探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式,高纵横比针尖, 纵横比 ≥ 10:1,探针侧面:铝涂层倾斜补偿高纵横比探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式,高纵横比针尖,纵横比 ≥ 10:1,倾斜补偿为13°,探针侧面:铝涂层DIAMONDCOATED :金刚石涂层探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式, 探针侧面:铝涂层导电金刚石涂层探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式, 探针侧面:铝涂层
  • 接触式探针 PPP ROTATED,PLATEAU
    PPP ROTATED:POINTPROBE?SPM加硅探针,接触式硅悬臂,针尖旋转180度,探针侧面:铝涂层3PLATEAU:SPM探针针尖最高点的材质为硅,接触式硅悬臂SPM探针针尖最高点的材质为硅,接触式硅悬臂,探针侧面:铝涂层
  • 厚度6.0 μ m迈拉膜、样品薄膜型号425
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-425# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的 知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性ji佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国 商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:425产品信息:polypropylene膜,卷轴,厚度6.0 μm,宽7.6cm x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/卷 CAT. NO:425:polypropylene 6.0 μ 0.00024” 0.24mil 0.006105 mm 91.4m(76.2mm) 1卷/盒
  • 非接触式/敲击式探针-长悬臂 POINTPROBE-PLUS? ,PLATEAU ,TIPLESS
    POINTPROBE-PLUS? :POINTPROBE?-加硅SPM探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式 ,长悬臂POINTPROBE?-加硅SPM探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式 ,长悬臂,探针侧面:铝涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式 ,长悬臂,探针侧面:铂/铹涂层,针尖/铂/铹涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式 ,长悬臂,探针侧面和针尖:铜涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式 ,长悬臂,探针侧面:铜涂层PLATEAU:SPM探针针尖最高点的材质为硅,硅悬臂非接触式 /敲击模式 ,长悬臂SPM探针针尖最高点的材质为硅,硅悬臂非接触式 /敲击模式 ,长悬臂,探针侧面:铝涂层TIPLESS:小针尖硅悬臂基于POINTPROBE?的技术
  • 厚度2.5 μ m X-ray样品膜100#
    迈拉膜、麦拉膜、XRF样品膜、EDX样品膜、X-ray样品膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、美国Chemplex样品膜-100#一、品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO:100产品信息:Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜),卷轴,厚度2.5 μm,宽7.62cm x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性 ,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/盒Rolls连续卷轴,宽7.6cm x长91.4 m:100 Mylar® 迈拉 2.5 μ 0.00010” 0.10 mil 0.00254mm 7.6cm x91.4 m 1卷
  • 厚度6.0 μm聚丙烯膜425
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-425# 品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:425产品信息:polypropylene膜,卷轴,厚度6.0 μm,宽7.6cm x长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性极佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/卷 CAT. NO:425:polypropylene 6.0 μ 0.00024” 0.24mil 0.006105 mm 91.4m(76.2mm) 1卷/盒 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。
  • MiniTemp MT4非接触式温度测量仪配件
    带激光瞄准功能的MiniTemp MT4非接触式温度测量仪特点和优势:以°C或°F的形式显示热量测定读数简单的点射红外技术可通过口袋大小的仪器而实现特别适合用来确认仪器热量测试值,其中包括GC进样端口和检测器测定值、恒温LC瓶以及酶水解浴规格型号MiniTemp MT温度范围-18至400°C(0 - 750 °F)间距与光斑大小之比(D:S)8:1响应时间500 m/sec发射率预设为0.95准确度±2%或±2°C(±3 °F)(以准确度更高的数值为准)与目标光斑的典型距离不超过1.5 m(4 ft)激光对准与否是受欢迎的MiniTemp MT4也具有用以辅助瞄准的单点激光对准功能。本品附带9伏电池。不需要进行再校准。带激光瞄准功能的MiniTemp MT4非接触式温度测量仪订货信息:产品描述部件编号MiniTemp MT4N9306074基础工具包产品描述部件编号装在工具箱中以便于储存和使用的工具N9301327本品包括:开口扳手套装(6件)、螺丝刀套装(6件)、可调式扳手(6英寸)、链用钳(窄)、剪钳和剥线器。豪华工具包产品描述部件编号运输时装在一个塑料工具箱内以便于储存N9301328本品包括:开口扳手套装(6件)、螺丝刀套装(6件)、可调式扳手(6英寸)、链用钳(窄)、剪钳、剥线器、滑动接口钳(6英寸)、5号长鼻不锈钢镊子(4-3/8英寸)、针式锉刀套装(6件)、艾伦扳手套装(11件、英制规格)和艾伦扳手套装(9件、公制规格)。
  • DCU-551H数字式密度计-高温全自动进样清洗装置
    DCU-551H数字式密度计-高温全自动进样清洗装置Auto Clean and Sampling UnitDCU-551H数字式密度计-高温全自动进样清洗装置 主要特点:1. 连接数字式密度计,由数字式密度计控制操作程序。2. 自动进样,排液,洗净,吹干。3. 内置真空加压泵,适用于30,000mPa.s高粘度样品测量。DCU-551H数字式密度计-高温全自动进样清洗装置 技术参数:样品数量: 1个样品。玻璃瓶尺寸: 20mL玻璃瓶。进样方式: 内置真空加压泵。自动处理: 进样,排液,两种溶剂洗净和吹干。温度设定: 室温~80° C。
  • 厚度3.0μ m型号3026进口薄膜、价格优惠
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-3026# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。 品名:XRF样品膜Sample Film目录编号:CAT. NO:3026产品信息:Etnom® ,厚度3.0μm,直径76.2mm,100片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 CAT. NO:3026:Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 3.0”(76.2mm) 100片
  • 厚度6.0μ m迈拉膜、麦拉膜TF-160-255#
    XRF測試用的麥拉膜材質、XRF专用圆形薄膜、X射线荧光膜、迈拉膜、麦拉膜--美国Premier TF-160-255# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Premier样品膜。一、美国Premier XRF样品膜:美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点: 有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择; 柔韧性强、方便、耐用; 的X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪; 的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品; (几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号:CAT. NO:TF-160-255(圆片)产品信息:MYLAR膜(迈拉膜、麦拉膜),厚度6.0μm,直径63.5mm,500片/盒品牌:美国Premier(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。
  • 防护服火接触传热性测试仪 ISO9151,EN367
    产品介绍:泰思泰克防护服火接触传热性测试仪根据ISO9151及EN367设计研发并制造;该仪器在有火源条件下测定防护服的传热性能;该仪器操作简单,数据准确,安全可靠,广泛应用于消防防护服相关公司及检测部门; 产品型号:TTech-EN367符合标准:ISO9151-1995EN367-1992技术参数1、 该设备由控制箱及不锈钢试验架台构成;2、 铜热量计由99% 纯铜制成;直径40mm,厚度1.6mm,重量18g 康铜热电偶;3、 样品支撑架有1.6mm厚铜板制成:尺寸为150mmx150mm,中间开孔为50mm x 50mm 4、 热量计由铝板制成;尺寸为149mm x 149mm;厚度为6mm 中间开孔直径90mm;重量为264±13g 5、 试样支撑架有不锈钢制成;试样距喷灯口距离为50mm 6、 喷灯为进口美克尔喷灯;喷灯口直径38mm±2mm 7、 进口流量调节阀精确调节火焰燃烧热量8、 进口品牌压力表及调压阀;9、 金属隔热板置于喷灯及试样之间,可自由移开;10、 计时器精度0.1s 11、试样尺寸140mmx 140mm 12、配备金属板140mm x 140mm;13、 PLC及触摸屏智能控制系统;实现热量校准更加智能化;系统自动计算热量值;14、系统自动点火,自动计时;15、试验数据系统自动保存和调取,试验报告可自由打印;16、热电偶精度0.1℃;17、试验台尺寸:650mm x 350 mm x 650mm18、电源 220V 50/60Hz,19、工业丙烷:客户自备;
  • Thorlabs精密盖玻片,厚度#1.5H(170 µ m)
    Thorlabs提供一系列精密盖玻片、显微镜载玻片和荧光载玻片(见右表),适合高性能的成像应用,比如全内反射荧光(TIRF)显微、活细胞成像和生物化学应用。精密盖玻片盖玻片由Schott D 263 M玻璃制造,这种玻璃具有透明、无色、低自发荧光的特性。#1.5H盖玻片经过精密加工,具有170 ± 5 µ m的均匀厚度,能够最大程度地减少因球面像差引起的图像缺陷;我们提供方形、矩形和圆形的版本。#0盖玻片经过研磨,厚度变得非常薄,处于85 - 115 µ m之间,适用于弱荧光或厚样品;它有方形和矩形的版本。精密盖玻片,厚度#1.5H(170 µ m)精密盖玻片,厚度#1.5H(170 µ m),公差±5 µ m推荐与高数值孔径的物镜配合使用提供方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)版本Thorlabs的精密盖玻片经过研磨,达到170 ± 5 µ m的均匀厚度。它们由Schott D 263 M玻璃制成,这是一种透明、无色、具有低自发荧光特性的玻璃。均匀的厚度和一致的光学特性减少了由球面像差造成的图像缺陷(详情请看规格标签)。因此,这些盖玻片非常适于与高数值孔径的物镜配合使用。 这些盖玻片有方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)的版本。请注意,Ø 12 mm盖玻片无法与MS15C1和MS15C2样品腔载玻片一起使用。
  • DCU-551N数字式密度计-全自动进样清洗装置
    DCU-551N数字式密度计-全自动进样清洗装置 Auto Clean and Sampling Unit DCU-551N数字式密度计-全自动进样清洗装置 主要特点: 1. 连接数字式密度计,由数字式密度计控制操作程序。 2. 自动进样,排液,洗净,吹干。 3. 内置真空加压泵,适用于30,000mPa.s高粘度样品测量。 DCU-551N数字式密度计-全自动进样清洗装置 技术参数: 样品数量: 1个样品。 玻璃瓶尺寸: 20mL玻璃瓶。 进样方式: 内置真空加压泵。 自动处理: 进样,排液,两种溶剂洗净和吹干。
  • 非接触式/敲击式探针 PLATEAU,TIPLESS ,SUPERSHARP SILICON
    PLATEAU:SPM探针针尖最高点的材质为硅,硅悬臂非接触式 /敲击模式 SPM探针针尖最高点的材质为硅,硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面:铝涂层TIPLESS:小针尖硅悬臂基于POINTPROBE?的技术SUPERSHARP SILICON:SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式SUPERSHARPSILICONTM 针尖SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针,硅悬臂非接触式 /敲击模式SUPERSHARPSILICONTM 针尖
  • 接触皿(TSA)
    【产品通用名】:无菌接触碟(TSA)用途:用于洁净车间人员和设备表面浮游菌及沉降菌等微生物的测定以及实验室相关微生物指标的测定。检测菌种:金黄色葡萄球菌、枯草芽孢杆菌、铜绿假单胞菌、白色念珠菌、黑曲霉菌产品特点和优势:独家自密闭专利设计的培养皿1、上下皿吻合度高,不易脱离,在转运、培养过程中防止意外暴露,保证数据的完整性。符合新版GMP的原则——避免污染、交叉污染以及混淆差错等风险,保持持续稳定。2.预培养和培养过程中水分不易散失,灵敏度高,避免假阴性,确保了数据的准确性。3、密闭性好,起到很好的隔离效果,从而不易受到外界污染,避免假阳性。4.伽马射线辐照灭菌,避免了用环氧乙烷灭菌残留对培养基成份的破坏及对检测人员的危害。 【培养基原料】1、进口知名品牌BD、Merck 公司的培养基粉,或使用客户指定培养基粉2、品质稳定,灵敏度高,避免了假阴性的出现。3、颗粒小,透光性强,便于产品培养后观察。产品用途:用于设备、车间、人员,包装材料等表面做生物的测定【产品包装】1、外包装——采用高强度优质纸箱。2、内包装——采用三层包装。①三层均采用高品质的真空复合袋。②贴有辐照灭菌指示标签、产品标签。③可根据客户需求添加呼吸袋、密实袋或封口袋,方便采样和收集。 【产品无菌保障】培养平皿——底部印有产品的生产批号、生产日期、有效期。一重保障:自制空皿预先经过伽马射线辐照灭菌二重保障:培养基溶液湿热灭菌。三重保障:百级环境下无菌灌装。四重保障:成品培养基伽马射线辐照灭菌。五重保障:成品全部经过30~35℃48小时预培养,再进行一次全检方可出库。【仓储及物流】储存条件:2~25℃避光存放。物流:2~3天,可提供冷链运输方式。包装规格: 55mm:10皿/包30包/箱有效期:自辐照之日起6个月 联系人:曹经理 13533467655
  • 1"高增益不接触式探头
    高增益不接触式破碎探头必能信高增益不接触式破碎探头采用封闭式、不接触样品处理方法进行破碎,样品放在玻璃试管或其他密封的容器里,从而避免了探头的直接接触。凹型漏斗式的特殊设计使探头产生高强度的空穴效应,从而作用于需处理的样品中,形成强有力的破碎效果。这种设计不仅能破碎多种细胞,也可进行多种前处理,如:乳化、分散、脂质体的制备、均质、脱气等。典型运用:血液化学脂质体制备前处理药片的分散、溶解HPLC前脱气颜料的分散悬浮液的均质易传染性样品的前处理
  • 厚度3.0μm XRF薄膜3026
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-3026# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。美国Chemplex Industries有限公司从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性极佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号:CAT. NO:3026产品信息:Etnom® ,厚度3.0μm,直径76.2mm,100片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/盒 CAT. NO:3026:Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 3.0”(76.2mm) 100片
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