金属多元素分析仪

leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000拥有全新外观，更加方便使用。新一代的光谱分析技术，长时间保持真空度，让测量结果更稳定，更准确。增加波长范围，为每一台光谱仪用户提供更高级的材料分析方案。 检测器： Toshiba、Sony、Hamamatsu（可选）（背照式CCD、CMOS） 光源系统：leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000采用全频数字双脉冲激发光源，可变频（100-1000Hz）激发技术，双火花组合放电使得样品激发更稳定。光学系统： 帕型-龙格结构，罗兰光栅，焦距400，2400g/mm，波长范围120-800nm；（可选）全谱平场光学系统，波长可选范围：190-1100nm；读出系统：电源前置滤波电路，高速16位ADC模数转换、FPGA数字信号控制器、工业USB数据采集（200KHz/s）、超高速多路同步数字采集器、320万次/秒、带模拟量光隔离、模拟量数字积分、单火花信号采集，带制冷、带智能检测（可实时监测各环节工作状态） 激发平台：整体采用耐磨耐腐蚀Cr不锈钢材质、激发氩气智能气压保护装置真空系统：l 真空油污染小、分子筛l 真空定时控制l（专利）整体式真空体l 长时间保持真空度l 真空泵工作时间短 leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000的产品参数型号WL15APro-5000WL15APro-7000检测器Toshiba、Sony、Hamamatsu（可选）（背照式CCD、CMOS）光源系统全频数字双脉冲激发光源，可变频（100-1000Hz）激发技术，双火花组合放电：样品激发更稳定；光学系统帕型-龙格结构，罗兰光栅，焦距400，2400g/mm，波长范围120-800；（可选）全谱平场光学系统，波长可选范围：190-1100nm；读出系统电源前置滤波电路，高速16位ADC模数转换、FPGA数字信号控制器、工业USB数据采集（200KHz/s）、超高速多路同步数字采集器、320万次/秒、带模拟量光隔离、模拟量数字积分、单火花信号采集，带制冷、带智能检测（可实时监测各环节工作状态）计算系统外置品牌计算机，windows操作系统，显示器，打印机电源参数220V±10%，50Hz；火花激发最大功率：200-1000VA；10A慢熔保险丝环境要求相对湿度：20%-80%；工作温度：（10-35）℃；光谱环境：无腐蚀性气体和高灰尘污染真空系统间歇式工作，工作压力0.1-5Pa、工作时间60分钟，标配分子筛，隔离阀气路系统双气路四喷嘴气路系统，内置流量表激发平台整体采用耐磨耐腐蚀Cr不锈钢材质、激发氩气智能气压保护装置可测基体镍基、钴基、钛基、铅基、锡基、银基等 纯铝、纯铜、纯锡、纯锌、纯铅等纯金属 外型尺寸880*720*410，95Kgleetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000的应用领域冶金、铸造、机械加工、炉前化验、科研、商检、汽车、石化、造船、电力、航空航天、核电、兵器等。铸造行业:leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000主要用作铸造过程中的（炉前炉后）金属和合金材料中的元素分析和组分检测,便于质量控制和出厂品质 废品回收行业:leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000主要用作检测回收物品中某些元素的含量多少，辅助确定废料的进出价格 零件加工行业:leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000主要用作进厂原材料品质的鉴定和加工成品的成分变化检测 高校、理化实验室:leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000主要用作进厂原材料品质的鉴定和加工成品的成分变化检测 金属加工和制造业：leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000用于金属原材料、半成品和成品的质量控制，例如钢铁、铜、铝、锌等金属制品的检测和分析。 航空航天工业：leetes金属多元素分析仪WL15A-Pro 5000用于飞机发动机、火箭发动机、飞行器部件等材料的分析和检测，以确保其性能和质量。

仪器简介：QL-S3000A型电脑全能联测多元素分析仪器 是本公司独家拥有、国内最先进的一款多元素联测分析仪，由本公司专利技术的BS1000A电脑精密元素分析仪和CS3000电脑碳硫分析仪组合而成，可检测普碳钢、低合金钢、高合金钢、生铸铁、球铁、合金铸铁等多种材料中的C、S以及Si、Mn、P、Cr、Ni、Mo、Cu、Ti等多种元素。其中多元素部分可储存99条工作曲线，通道曲线数还可根据用户需要增加，原则上可检测99个乃至更多元素，品牌电脑微机控制,全中文菜单式操作,台式打印机打印结果。可以满足冶金、机械、化工等行业在炉前、成品、来料化验等方面对材料多元素分析的需要。技术参数：技术参数 ◇ 测量范围：（因该仪器可检测的元素较多，现以钢中的C、S、Mn、P、Si、Cr、Ni等常见元素为例） 碳：0.05&mdash 6.00% 、 硫: 0.005&mdash 0.300% 、 锰0.10～15.00％、 硅0.10～5.00％、磷0.005～0.80％、 铬0.01～25.0％、 钼0.101～6.00％、镁0.010～0.100％、 镍0.010～30.0％、 稀土0.01～0.100％、&hellip &hellip 如改变测试条件，该范围可相应扩大。 ◇ 分析时间：两分钟左右 ◇ 分析误差：符合GB223.3～5～1988、GB223.68～69-1997等国家标准 ◇ 分析方法： 碳采用气体容量法、硫采用碘量滴定法； 其他多元素采用机外溶样，光电比色法，波长范围400～800nm电脑控制连续可调。 ◇ 标样曲线： 多元素部分记忆贮存99条曲线（可根据用户需要任意增加），采用回归方法，建立曲线方程。 ◇ 输入输出方式： 品牌电脑控制、数据导出的格式可根据实验室要求任意设置，打印机输出。主要特点：主要特点 ◇ 品牌电脑微机控制,全中文菜单式操作,台式打印机打印结果。 ◇ 采用最新计算机和单片机技术实现程序控制和数据处理。能快速、准确地测出钢铁和有色金属中多种元素的质量分数，自动化程度高，定量加液准确可靠，试剂量少等特点，提高了分析的准确度和精密度，能直接显示质量分数并打印。 ◇ 在国内首创元素分析仪用衍射光栅数码电机波长可调光学系统。产品采用可由计算机控制的元素分析仪专用的衍射光栅单色体，实现波长数码可调，即任意输入所需波长，光学系统即调整至指定波长，从而使产品可以实现由计算机控制，根据被测材料元素的要求，方便的迅速设定所需波长，可用于钢铁、铜铝等各种金属、非金属材料及其合金的多种元素分析。 ◇ 衍射光栅数码电机波长可调光学系统，提高了波长调整的步进精度，可以达到优于1nm的水平。 ◇ 产品智能化水平大幅提高，操作者可以在选择所测元素后，产品即自动调整至检测该元素所需的波长，为产品的推广使用，提供便利。 ◇ 采用计算机实现程序控制和数据处理。能快速、准确地测出钢铁和有色金属中多种元素的质量分数，自动化程度高，首创元素分析仪不定量称样功能，准确可靠，方便用户操作。 ◇ 可快速更换不同厚度比色杯； ◇ 采用冷光源专利技术、进口光电元件，自校零点和满度； ◇ 电子天平联机不定量称样，计算机自动读入重量或人工键入可选，方便分析操作。 ◇ 系统稳定性好，抗干扰能力强，分析结果准确、可靠。 ◇ 硫滴定加液采用专利无电极控制专利技术，采用专利防崩塞技术，有效降低故障率； ◇ 分析结果可长期大量保存，并可进行产品质量跟踪分析。 ◇ 可记忆贮存99条曲线（可根据用户需要任意增加），采用回归方法，建立曲线方程。 ◇ 机外溶样、操作方便，没有阀门和管道老化，延长使用寿命。

DM8000多元素分析仪（波散） 多道同时测量，快速、可靠、准确度高尤其适合工矿企业对多元素测量的要求采用波长色散X射线荧光(WDXRF)分析技术美国进口Varian公司薄铍端窗X射线管Moxtek公司0.6μm超薄聚酯探测器窗符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM8000多元素分析仪（波散）是由本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用同时式(或称多道式)波长色散X射线荧光(WDXRF)分析技术，所有道同时测量从Na到U的任意十种元素。对大多数元素，其测量范围可低至ppm高至100%。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作人员劳动强度低、只需一次性投资、无污染等特点，故广泛应用于建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。DM8000多元素分析仪（波散）关键部件采用进口产品，如X射线管采用Varian公司生产的400W薄铍端窗X射线管，Na、Mg等轻元素道探测器窗采用Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗，恒温室温度控制精度小于0.1℃，流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa，还具有样品自旋装置以消除样品不均匀所产生的测量误差。由此使本分析仪具有极高的精度和准确度，达到国际先进水平。本分析仪屏蔽防护的良好设计保证无任何射线泄漏，满足辐射豁免要求。DM8000多元素分析仪（波散）应用于我国水泥行业尤其显示出其优越性。这是由于该款仪器最初是为水泥行业专门开发的，其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。其性能对水泥行业来说比进口同类产品更好，而价格仅为进口同类产品的一半，具有无可比拟的价格性能比。另外国内企业售后服务的方便程度是国外企业所无法相比的。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等的浓度测量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号，形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外，也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等工矿部门的固体、液体和粉末样品中Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等的浓度分析。特点快速同时––同时式(或称多道式)，所需测量元素同时快速分析，一般几分钟给出浓度结果。高准确度––波长色散XRF分析技术，具有能量色散无法企及的极高分辨率，从而准确测量相邻轻元素。使用方便––样品粉碎压片或熔融，放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。长期稳定––有恒温室、流气密度稳定、样品自旋等装置，还有可变增益数字多道，具极好的长期稳定性。高可靠性––固定道使仪器基本没有移动部件，且集成化程度高，环境适应能力强，从而可靠性高。软件强大––有比率或基体效应校正、偏差修正、合格率等统计、率值计算、出错提示等多种功能，还可免费 更新最新版本，根据用户要求增加软件功能。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。高性价比––无需水冷，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半，适应我国国情。原理其原理如图2所示。X射线管垂直放置，直接向上照射样品，这样可使它们之间的距离尽可能的近，从而达到最大激发效率。样品接受X射线管所发出X射线的照射将产生X射线荧光，其将进入分光室进行分光。一种元素对应一个分光室。X射线荧光经狭缝（如果分光晶体用的是弯晶）或索拉狭缝（如果分光晶体用的是平晶）射向分光晶体，经晶体分光后满足衍射条件布拉格方程的对应该元素的特征X射线荧光再经狭缝或索拉狭缝射向探测器。经探测器探测并经后面的电子线路计数后将得到该元素特征X射线荧光的强度，再经校准方程计算得到元素的浓度。图2 多道 WDXRF分析技术原理图由于其X射线荧光是经晶体按波长来区分的，所以称之为波长色散。其分辨率与探测器无关只与晶体有关，所以有很高的分辨率，相比于能量色散的要高1个数量级。关键部件进口美国Varian公司生产的薄铍端窗X射线管采用美国Varian公司生产的EG-60薄铍端窗X射线管。该X射线管是端窗的，X射线束垂直于靶，焦斑到样品距离极短，从而提高激发效率。其窗用薄铍，靶材用的是铑，所以能高效地探测轻元素。其阴极接地，消除了对高度绝缘的灯丝变压器的需要，也消除了铍窗口的电子轰击和由此产生的加热。其功率为400W，只需用风冷而不需用水冷，由于是多道同时测量，其效果相当于扫描式(或称单道式)的4000W大型X射线管。其外形图见图3。图3 EG-60薄铍端窗X射线管进口美国Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗对于轻元素的测量，比如Na、Mg，探测器的窗是很重要的，其必须足够薄并且足够牢。本仪器采用美国Moxtek公司生产的0.6μm厚的ProLINE系列20窗，其由超薄层聚合物和涂有200埃的铝的电荷耗散层连接到坚固的金属六边形支撑框架上，从而达到低能量x射线的高透射。B（Kα）的分析都是可能的。图4为其外形图。图5是其能量与透射率关系图。图4 Moxtek的超薄聚酯窗图5 ProLINE系列能量与透射率恒温室温度控制精度小于0.1℃波长色散分析仪是个精细的仪器，特别是晶体对机械尺寸的要求极高，当温度有一定的变化而造成尺寸那怕是微小的变化时会造成强度的变化，所以分光室必须恒温。本仪器的恒温室温度控制精度小于0.1℃，并且除分光室外，其他如探测部分及其电子线路等均在恒温室内，从而使仪器不受外界温度的影响。流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa本仪器所用探测器为本公司自己开发生产的流气正比计数管，其所流过的气体的密度必须恒定才能保证探测器的稳定，本仪器流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa。具有样品自旋装置以消除样品不均匀所产生的测量误差。样品若用粉末压片的方法制备的话，如含SiO2，由于其硬度很高，磨得的颗粒大小不一，从而使样片的表面不均匀。所以本仪器设计安装了样品自旋装置以最大程度的消除样品不均匀所产生的测量误差。校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度，IC 为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）式的系数。用已知浓度的11个国家水泥生料标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1. 水泥生料标准样品校准结果数据成分系数D系数E系数F相关系数γNa2O-0.12816.7578×10-600.8296MgO-0.22926.0429×10-500.9968Al2O3-0.10961.2584×10-400.9945SiO2-5.11162.1326×10-500.9727SO3-0.22071.1990×10-500.9687K2O0.02677.0202×10-600.9952CaO11.48801.1060×10-500.9980Fe2O3-1.71809.9915×10-600.9967这些校准曲线的相关系数γ大部分都大于0.99，表示DM8000多元素分析仪（波散）的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2. 生料标准样品重复性测量数据分析（%）XS1标样Na2OMgOAl2O3SiO2SO3K2OCaOFe2O3标准值0.092.594.2714.430.240.3039.841.96平均示值0.072.514.3114.340.260.2939.951.95最大示值0.072.544.3614.390.270.2939.981.96最小示值0.072.504.2914.290.260.2939.921.94极差00.040.070.10.0100.060.02示值标准偏差0.0010.010.020.020.0020.00140.020.0053倍示值标准偏差0.0030.030.060.060.0060.00420.060.015GB/T176的重复性限0.050.150.200.200.150.100.250.15DM8000与国标的符合性远优远优优优远优远优优远优GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM8000多元素分析仪（波散）可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压：≤50keV，电流：≤8.0mA，功率：≤400W探测器超薄窗流气正比计数管可测元素或其氧化物种类从Na到U的任意十种元素或其氧化物，以水泥为例（下同）具体是：Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等。测量范围Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等分析范围均可调节，通过校准选定测量范围宽度Na2O max—Na2O min≤5%，MgO max—MgO min≤5%，Al2O3max—Al2O3min≤5%，SiO2 max—SiO2 min7≤%，SO3 max—SO3 min≤5%，TiO2 max—TiO2 min≤5%，K2O max—K2O min≤5%，CaOmax—CaOmin≤7%， Fe2O3 max—Fe2O3 min ≤5%。测量精度SNa2O≤0.01%，SMgO≤0.03%，SAl2O3≤0.04%，SSiO2≤0.04%，SSO3≤0.01%，STiO2≤0.01%，SK2O≤0.01%，SCaO≤0.03%，SFe2O3≤0.02%。符合标准GB/T 176—2017，JC/T1085—2008，JB/T11145—2011等系统测量时间1～999s，推荐值：180s恒温室温度36℃±0.1℃使用条件环境温度：15～28℃，相对湿度：≤75%(25℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤1.0kW尺寸及重量790mm（W）× 760mm（D）× 1200mm（H），195kg