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宽带介质膜反射镜

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宽带介质膜反射镜相关的资讯

  • 首个中红外波长超级反射镜制成
    来自奥地利、美国和瑞士的科学家组成的国际科研团队,研制出了首个中红外波长范围超级反射镜,有望用于测量微量温室气体或用于切割和焊接的工业激光器等领域。研究论文发表于最新一期《自然通讯》杂志。在可见光波长范围内,现有金属反射镜的反射率为99%。在近红外范围,专用反射镜涂层的反射率高达99.9997%;但迄今最好的中红外反射镜的反射率为99.99%,光子丢失率是近红外超反射镜的33倍。人们一直希望将超反射镜技术扩展到中红外领域,以促进很多领域取得重大进展,如测量与气候变化有关的微量气体、分析生物燃料,以及提升广泛应用于工业和医疗领域的切割激光器和激光手术刀的性能等。此次,研究团队研制出的中红外超反射镜的反射率高达99.99923%。为制造出中红外超级反射镜,研究团队结合传统薄膜涂层技术与新型半导体材料和方法,开发出一种新涂层工艺。为此,他们先研制出直径为25毫米的硅基板,然后让高反射半导体晶体结构在10厘米的砷化镓晶片上生长,接着将其分成更小的圆形反射镜,再将这些反射镜安装到硅基板上,得到了超级反射镜并证明了其性能。研究人员指出,这款新型超反射镜的一个直接应用是显著提高中红外气体分析光学设备的灵敏度,可准确计量微量环境标志物,如一氧化碳等。
  • 我国宽带脉宽压缩光栅研制获进展
    中科院强激光材料重点实验室在800nm中心波长宽带脉宽压缩光栅的研制上取得阶段性重要进展。课题组采用模拟退火和傅里叶模式结合的全局优化设计方法,设计出了800nm中心波长宽带全介质脉宽压缩光栅(Pulse Compression Gratings, PCG,图1)(详见:Optical Letters,35(2010)187)。  该课题组成员经过大量的优化和容差计算,结合优良的制膜技术,获得了阈值~1J/cm2(50fs,TE,57°入射)的全介质膜,相关光栅参数具有较大工艺容差。中科大同步辐射光学实验室和清华大学衍射光栅课题组对课题组提供的全介质膜进行了光栅参数的刻蚀验证,得到带宽优于110nm的PCG样品。课题组测试了样品0级反射率谱(图2),采用-1级和0级反射率互补的计算方法,反演得到-1级衍射效率大于95%的带宽110nm以上(图3),在国际同领域中首次得到了带宽百纳米以上全介质PCG样品。  全介质膜PCG相对现行使用的金膜光栅具有高衍射效率和高损伤阈值的优点,在800nm高能飞秒激光器中具有重要应用前景。本项研究得到国家高技术863计划和国家自然科学基金支持。
  • 我国宽带脉宽压缩光栅研制取得重要进展
    中科院强激光材料重点实验室在800nm中心波长宽带脉宽压缩光栅的研制上取得阶段性重要进展。课题组采用模拟退火和傅里叶模式结合的全局优化设计方法,设计出了800nm中心波长宽带全介质脉宽压缩光栅(Pulse Compression Gratings, PCG)(详见:Optical Letters,35(2010)187)。  该课题组成员经过大量的优化和容差计算,结合优良的制膜技术,获得了阈值~1J/cm2(50fs,TE,57°入射)的全介质膜,相关光栅参数具有较大工艺容差。中科大同步辐射光学实验室和清华大学衍射光栅课题组对课题组提供的全介质膜进行了光栅参数的刻蚀验证,得到带宽优于110nm的PCG样品。课题组测试了样品0级反射率谱,采用-1级和0级反射率互补的计算方法,反演得到-1级衍射效率大于95%的带宽110nm以上,在国际同领域中首次得到了带宽百纳米以上全介质PCG样品。  全介质膜PCG相对现行使用的金膜光栅具有高衍射效率和高损伤阈值的优点,在800nm高能飞秒激光器中具有重要应用前景。本项研究得到国家高技术863计划和国家自然科学基金支持。
  • 2021数理科学部发布X射线反射镜等10个重大项目指南,拟资助5个
    8月5日,国家自然科学基金委员会发布“十四五”第一批重大项目指南及申请注意事项。其中,2021年数理科学部共发布10个重大项目指南,拟资助5个重大项目,项目申请的直接费用预算不得超过1500万元/项。2021年数理科学部共发布10个重大项目指南如下:“超大型航天结构空间组装动力学与控制”重大项目指南“材料长效使役性能高通量表征的力学理论与实验方法”重大项目指南“活动星系核反馈在星系演化中的作用”重大项目指南“致密天体活动与爆发的宽能段时变与能谱研究”重大项目指南“基于强太赫兹源的声子调控诱导电子新结构与物性研究”重大项目指南“基于铌酸锂薄膜的超高速多维光场调控及其应用基础研究”重大项目指南“粲夸克衰变中标准模型的精确检验”重大项目指南“基于LHAASO实验的粒子天体物理前沿问题研究”重大项目指南“先进核能系统中材料的若干协同损伤作用机理研究”重大项目指南“高精度X射线反射镜的关键科学与技术问题”重大项目指南10个重大项目指南关键内容如下:“超大型航天结构空间组装动力学与控制”重大项目指南一、科学目标瞄准超大型航天结构的减重设计和空间组装需求,提出满足在轨动力学要求的组装结构轻量化设计新理论;建立空间组装过程的“轨道-姿态-结构”耦合动力学新模型,揭示空间组装过程的耦合动力学演化新规律;提出空间组装过程的“轨道-姿态-结构”一体化稳定控制新理论;探索解决超大型航天结构动力学试验“天地一致性”问题的新方案。二、研究内容(一)超大型航天结构的轻量化和可控性设计。(二)超大型航天结构空间组装过程的动力学演化。(三)空间组装过程轨道-姿态-结构一体化稳定控制。(四)空间组装过程动力学与控制的地面模拟试验。“材料长效使役性能高通量表征的力学理论与实验方法”重大项目指南一、科学目标建立基于全场分析的梯度材料表征力学理论,发展多重物性宏微观高通量测试技术,通过结构与性能关系的多尺度机理研究和机器学习,构建材料短时数据与长效使役性能之间的映射关系,实现对其使役寿命的精准预测,应用于具有重要战略意义的高速列车车轴材料和全固态电池材料。二、研究内容(一)基于梯度样品全场分析的高通量表征力学理论。(二)梯度样品宏观层次高通量表征实验方法。(三)梯度样品微观层次高通量表征实验方法。(四)机理驱动的使役行为跨时空尺度映射。“活动星系核反馈在星系演化中的作用”重大项目指南一、科学目标获得不同光度活动星系核风的观测证据、以及风的速度、质量流与活动星系核光度的定量关系;将低红移星系气体的探测深度和中高红移星系的光谱数量提高一个数量级,并结合数值模拟,得到在不同红移处星系以及星系际介质的各种性质,特别是星系的恒星形成率、气体含量、星系际介质的X射线、发射和吸收线,及其与活动星系核反馈的内在关系;发展并完成星系尺度上的高分辨率数值模拟程序,获得不同的反馈模式分别对星系中气体和恒星形成率的影响以及风与辐射各自在反馈中起到的作用;将基于最真实和准确的活动星系核物理,完成一组包含新模型的宇宙学数值模拟,大幅改进目前的宇宙学尺度星系形成与演化研究。二、研究内容(一)活动星系核风的观测研究:反馈的内边界条件。(二)星系尺度上的活动星系核反馈:观测研究。(三)星系尺度上的活动星系核反馈:数值模拟研究。(四)星系外大尺度上的研究:观测约束以及宇宙学数值模拟。“致密天体活动与爆发的宽能段时变与能谱研究”重大项目指南一、科学目标发现几百个伽马射线暴,建立MeV能区高统计性的伽马暴样本,理解伽马暴相对论喷流的伽马射线辐射机制;监测上百例引力波、高能中微子、快速射电暴等爆发现象,揭示它们的爆发机制以及黑洞、中子星等致密天体的并合物理过程和机制;系统地获得十余个吸积中子星双星和黑洞双星的高能X射线时变和能谱演化特征和分类,理解黑洞周围的吸积过程、相对论喷流的产生以及硬X射线辐射机制;测量约十个致密星(中子星或者黑洞)的基本参数(质量、磁场、自转),理解致密天体的基本性质;开展银道面巡天,监视约200个X射线天体的活动,发现致密天体硬X射线新的活动并且开展后随观测证认研究。二、研究内容(一)极端天体爆发的物理机制。(二)黑洞X射线双星系统吸积与喷流过程。(三)中子星X射线双星系统吸积盘与中子星相互作用。(四)河内宽能段的巡天监测和后随观测研究。“基于强太赫兹源的声子调控诱导电子新结构与物性研究”重大项目指南一、科学目标围绕声子调控诱导电子新结构与新奇物性的研究目标,在研究手段上发展必要的突破现有太赫兹光源性能极限的强场产生新方法,实现具有宽频(整体频谱范围覆盖0.1-50 THz)、强场(场强突破GV/m)、高重复频率、频谱连续可调等优异特征的强场太赫兹光源,并通过人工微结构实现太赫兹近场强光场微区再增强条件;重点开展强场下非平衡态电子的多自由度(电、热、磁、光、谷、轨道)动力学物理过程研究,揭示光子与各量子激发在超强太赫兹光场范畴内的相互作用新机理(如电子、声子及光子复合激发机理);探索实现声子态调控的远离平衡态的新型量子态(如高温超导相、拓扑量子相、Floquet量子态等)及化学反应(如合成氨反应)的远离平衡态相干操控新效应。二、研究内容(一)强场太赫兹源调控电子行为的理论研究。(二)超强太赫兹光场构筑及实验方法研究。(三)强场太赫兹源对量子材料相干调控研究。“基于铌酸锂薄膜的超高速多维光场调控及其应用基础研究”重大项目指南一、科学目标针对片上全域光场快速调控的需求,通过超限制备技术突破铌酸锂薄膜新微纳结构、少层结构加工工艺,利用铌酸锂材料自身的多重特性,实现对光场以及部分相干光场的多维度超高速调控,实现对光场的强局域与非线性调控;发展基于电光效应的人工微结构光场多维调控新方法,并阐明其物理机理。从基础铌酸锂薄膜材料微纳加工技术开始,到片上集成光子器件,最后到片上光场快速调控,建立不同于现有光场调控的新体系。二、研究内容围绕基于铌酸锂薄膜的超高速多维光场调控技术,发展基于电光效应的人工微结构光场多维调控新机理与方法;突破现有微纳加工技术的能力限制,开展铌酸锂薄膜刻蚀机理及微纳芯片制造工艺研究,利用高品质铌酸锂薄膜光场调控芯片实现超高速多维光场调控及其应用。(一)铌酸锂刻蚀机理及铌酸锂薄膜微纳芯片制造技术。(二)铌酸锂薄膜莫尔晶格结构中光场局域及片上非线性增强。(三)铌酸锂薄膜少层微纳体系时空光场多维联合调控。(四)基于铌酸锂薄膜的光场相干性快速调控及应用。“粲夸克衰变中标准模型的精确检验”重大项目指南一、科学目标利用BESIII采集的海量粲强子样本,特别是在3.773 GeV采集的20 fb-1的数据,充分发挥近阈粲强子成对产生、背景低和量子关联等独特优势,开展中性粲介子量子关联特性的研究,精确测量相关不同末态的平均强相位差和CP本征态成分比例,为CKM矩阵的相角的精确测量提供关键参数;精确测量CKM矩阵元和,检验CKM矩阵的幺正性,探索新的CP破坏来源;精确测量粲强子衰变常数和半轻衰变形状因子,与格点QCD理论计算值比较,刻度格点QCD计算,探寻超出标准模型新现象;系统地研究粲强子的强子末态衰变,研究强子谱学和末态相互作用,检验夸克味对称性;研究粲强子衰变,高精度检验轻子普适性,寻找稀有或禁戒的衰变过程,精确检验标准模型理论、寻找超出标准模型的新物理;在理论上发展和完善非微扰能区的格点QCD计算和有效理论模型,理解粲强子弱衰变的动力学,检验相关的唯象模型,提高对粲强子衰变中CP破坏、衰变常数和形状因子等理论预言的精度。二、研究内容(一)阈值处中性粲介子量子关联性研究。(二)粲强子的强子末态衰变机制研究。(三)精确测量CKM矩阵元和粲介子衰变常数。(四)精确测量粲介子半轻衰变形状因子和检验轻子普适性。(五)粲强子衰变中探索新粒子和新相互作用。“基于LHAASO实验的粒子天体物理前沿问题研究”重大项目指南一、科学目标瞄准银河系内1015eV宇宙线起源这一重大问题,基于LHAASO实验数据精确测量每个超高能伽马射线源的辐射能谱、空间分布和时变,联合国内外射电、光学、X射线等设备数据完成相应天体源的多波段观测和分析,建立和优化多波段辐射模型,研究带电粒子在天体中的加速过程与辐射特征,寻找宇宙线起源和加速证据,同时基于LHAASO数据完成银盘弥散伽马射线、膝区宇宙线分成分能谱和宇宙线大尺度各向异性测量,建立宇宙线在银河系内的起源、加速和传播的整体图像。二、研究内容(一)超高能伽马射线源的搜寻与测量。(二)伽马射线源多波段多信使研究。(三)伽马射线源内的粒子加速、辐射与输运过程的研究。(四)星际介质中弥散伽马射线相关物理研究。(五)基于宇宙线的能谱和各向异性测量研究其起源和传播。“先进核能系统中材料的若干协同损伤作用机理研究”重大项目指南一、科学目标瞄准服役于聚变能等先进核能的典型材料,充分利用国内大型托克马克、高热负荷测试和多束离子辐照等装置,厘清高能中子-嬗变氢氦、中子辐照-粒子流-热负荷两类协同损伤作用的耦合机制;阐明多种因素作用下材料遭受的协同损伤效应的机理;建立能够模拟上述协同损伤作用的实验与计算模拟方法;基于计算和实验模拟,实现在聚变堆等综合服役环境下国产低活化钢、氧化物弥散强化(ODS)钢、钨基合金等关键材料的筛选及性能评估。二、研究内容(一)高能中子辐照的离位损伤与氢、氦对材料的协同损伤作用机制研究。(二)高能中子辐照离位损伤与热负荷、粒子流对聚变堆第一壁协同损伤的作用机制研究。(三)多因素协同损伤效应的长时大尺度计算模拟方法建立。(四)聚变中子-氢-氦协同效应的多离子束模拟实验方法建立。“高精度X射线反射镜的关键科学与技术问题”重大项目指南一、科学目标基于超高精度反射镜表面形貌对相干X射线波前传输的影响,研究单晶硅纳米形貌的原子级构建规律,揭示超强X射线辐照下单晶硅材料和薄膜的损伤机理及力热变形机制;建立跨尺度全频谱纳米表面形貌的在线和离线高精度表征方法,发展大尺寸超高精度反射镜的复合加工技术和集成技术,实现相干X射线波前的在线实时操控和自适应主动补偿;形成具有自主知识产权的X射线高精度反射镜的全链条创新技术体系。二、研究内容(一)大尺寸复杂轮廓单晶硅纳米精度表面形貌构造规律研究。(二)全频谱纳米形貌的综合检测评估方法研究。(三)高亮度相干X射线与材料表面相互作用机制。(四)光机集成系统中跨尺度表面形貌的多物理场影响规律研究。
  • 上海光机所低振荡宽带高色散镜研究取得进展
    p  近期,中国科学院上海光学精密机械研究所薄膜光学实验室在抑制色散镜震荡研究方面取得进展。课题组基于表面减反膜阻抗匹配设计思想,采用啁啾膜系加倾斜沉积雕塑结构低折射率SiO2膜层,设计和制备了低振荡高色散镜,实现单个色散镜在680-920nm近240nm带宽范围内提供平坦的-200fs2群延迟色散。这是相同带宽范围内,群延迟色散量较大的设计结果,并首次实现单个雕塑结构低振荡色散镜应用于飞秒激光器系统进行色散补偿,激光脉冲通过低振荡色散镜2次,能够获得16fs超短脉冲输出。/pp  色散镜具有反射率高及色散补偿可精确控制等优点,是超强超短脉冲激光系统中重要的色散补偿元件之一。随着超强超短脉冲技术的不断发展,要求色散镜具有很宽的工作带宽和更大的色散补偿量。由于色散镜的带宽、色散量、色散震荡存在相互制约的关系,带宽和色散量的增加必然导致色散振荡的加剧,而色散振荡会严重影响实际应用中脉冲输出质量。传统的色散振荡多采用两个镜子色散曲线相互匹配来抑制。/pp  采用倾斜沉积雕塑结构SiO2膜层,折射率可调控至1.09(@800nm),能较好地匹配空气介质,从而降低色散振荡。通过离子束溅射工艺制备Nb2O5/SiO2高低折射率材料交错的啁啾膜系,并在此基础上沉积雕塑结构低折射率SiO2膜层。将制备的获得单个低震荡宽带高色散镜应用于钛宝石激光器系统中,反射两次共提供-400fs2色散补偿,可将100fs的激光脉冲压缩至16fs。该研究发表于OpticalMaterialsExpress, 8(4)836 (2018)。/pp  该研究获国家自然科学基金委员会与中国工程物理研究院联合基金(U1630140)、中科院青年创新促进会(2017289)、中科院战略性先导科技专项(B 类)(XDB1603)等资助。/ppimg src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/be7bb3aa-a5d4-46d1-8ef4-8153d3e3fb54.jpg" title="04-1.png"/img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/d838b3da-e885-45ff-bc55-d8a30d22d9b4.jpg" style="float: right width: 315px height: 242px " title="04-2.png" width="315" height="242"//pp  图1 低振荡色散镜的结构示意图:(a)雕塑结构低振荡色散镜最优设计膜层结构图 (b)低振荡色散镜各部分折射率示意图/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/2a255603-2928-4829-88a9-6995c5caebe4.jpg" title="04-3.png"//pp style="text-align: center"图2 雕塑结构低振荡色散镜压缩应用实验装置示意图 br//ppimg src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/b1a32a9b-84e1-41fa-9609-ae466adf8a49.jpg" title="04-4.png" width="316" height="224" style="width: 316px height: 224px "/img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/e3bcad71-90f3-4ab7-9fff-e2fce4f8a839.jpg" style="float: right width: 303px height: 211px " title="04-5.png" width="303" height="211"//pp  图3(a)最优设计的群延迟色散曲线图和反射率曲线(红色曲线),以及除去顶层低折射率SiO2层的结构的群延迟色散曲线图和反射率曲线(黑色曲线) (b)通过2次雕塑结构低振荡色散镜后的压缩脉冲FROG跟踪/ppbr//p
  • 中科院化学所成功研制高分辨宽带和频振动光谱仪
    p  高分辨宽带和频振动光谱(high-resolution broadband sum frequency generation vibrational spectroscopy, HR-BB-SFG-VS)是研究界面分子间相互作用的前沿光谱技术。最近,中科院化学所分子反应动力学国家重点实验室在国家自然科学基金委重大仪器研制项目的支持下,成功研制了具有亚波数分辨( 1cm-1)的界面和频振动光谱系统。/pp  本仪器最终测试指标达到或优于最初的设计参数。其飞秒红外脉冲的半高宽大于250波数,可一次性覆盖400波数以上的红外区间,光谱分辨率达到0.4个波数,优于国际上已报道的同类型设备参数,比传统飞秒宽带和频光谱10-20波数的光谱分辨率有极大的提高。本仪器可用于测量气液界面、气固界面、超分子手性界面、生物膜界面的分子振动光谱、分子取向结构和动力学。/pp  鞘脂类分子是细胞质膜的重要组成部分。Ca2+与鞘磷脂的相互作用一直是生命科学中备受关注的研究课题。研究人员使用研制成功的高分辨宽带和频振动光谱研究了气/液界面Ca2+对鞘磷脂(egg sphingomyelin, ESM)单分子膜的结构和取向的影响,提出了Ca2+与ESM相互作用的分子机理(图1),为深入理解神经细胞信号传导的分子机理及生物体内电解质对神经传导影响的机制提供了实验依据。本工作是世界上首次用高分辨宽带和频振动光谱研究磷脂体系,展示了该技术研究复杂体系的能力。相关研究成果近期发表在Biophysical Journal, Volume 112, Issue 10,2017, p2173–2183上,被编辑推荐为Featured Article。/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201706/insimg/0429659b-5694-4f57-ad4a-87772b8249f3.jpg" title="W020170619545828640231.jpg"//pp  图1 高分辨和频光谱实物图(a),高分辨和频振动光谱研究钙离子与鞘磷脂相互作用(b),钙离子与鞘磷脂之间相互作用机理图(c)。/p
  • 中科院化学所成功研制高分辨宽带和频振动光谱仪
    p  高分辨宽带和频振动光谱(high-resolution broadband sum frequency generation vibrational spectroscopy, HR-BB-SFG-VS)是研究界面分子间相互作用的前沿光谱技术。最近,中国科学院化学研究所分子反应动力学国家重点实验室在国家自然科学基金委重大仪器研制项目的支持下,成功研制了具有亚波数分辨( 1cm-1)的界面和频振动光谱系统。br//pp  该仪器最终测试指标达到或优于最初的设计参数。其飞秒红外脉冲的半高宽大于250波数,可一次性覆盖400波数以上的红外区间,光谱分辨率达到0.4个波数,优于国际上已报道的同类型设备参数,比传统飞秒宽带和频光谱10-20波数的光谱分辨率有极大的提高。该仪器可用于测量气液界面、气固界面、超分子手性界面、生物膜界面的分子振动光谱、分子取向结构和动力学。/pp  鞘脂类分子是细胞质膜的重要组成部分。Ca2+与鞘磷脂的相互作用一直是生命科学中备受关注的研究课题。研究人员使用研制成功的高分辨宽带和频振动光谱研究了气/液界面Ca2+对鞘磷脂(egg sphingomyelin, ESM)单分子膜的结构和取向的影响,提出了Ca2+与ESM相互作用的分子机理(如图),为深入理解神经细胞信号传导的分子机理及生物体内电解质对神经传导影响的机制提供了实验依据。该工作是世界上首次用高分辨宽带和频振动光谱研究磷脂体系,展示了该技术研究复杂体系的能力。相关研究成果近期发表在Biophysical Journal, Volume 112, Issue 10,2017, p2173–2183上,被编辑推荐为Featured Article。/pp  a href="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0006349517304423" target="_self" title=""文章链接/a/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201708/noimg/c1e862e8-8e40-49ba-92ca-cdac16d2566b.jpg" title="1.jpg"//pp  图:高分辨和频光谱实物图(a),高分辨和频振动光谱研究钙离子与鞘磷脂相互作用(b),钙离子与鞘磷脂之间相互作用机理图(c)。/ppbr//p
  • 最新综述:热反射表征技术在宽禁带半导体领域应用进展
    近日,武汉大学工业科学研究院袁超课题组在国际权威期刊《Journal of Applied Physics》上,以“A review of thermoreflectance techniques for characterizing wide bandgap semiconductors‘ thermal properties and devices’ temperatures”为题总结讨论了热反射表征技术(Thermoreflectance techniques)在宽禁带半导体材料和器件领域的应用进展。随着宽禁带和超宽禁带半导体器件的功率日益增大,器件散热问题逐渐成为工业界的巨大挑战。半导体材料热物性是反映器件散热能力最直接的参数,而器件结温是评估热可靠性和寿命的关键参数,因此,热物性和结温检测成为宽禁带半导体器件研发和生产中不可缺少的环节。宽禁带半导体器件普遍由薄膜异质结构组成,薄膜尺寸几十纳米到几微米 ( 如图1),因此,要求热物性检测技术具有纳微米级分辨率。传统的检测方法如稳态热板法、瞬态热线法、激光闪射法等,都不能满足分辨率的要求。3-omega方法虽然达到了分辨率的要求,但是需要在材料表面进行复杂的微加工,使得测试流程复杂且对材料表面质量要求过高。另一方面,宽禁带半导体器件沟道尺寸小(亚微米级)且常常在高频工况下(GHz级)运行,要求结温测试方法需满足高空间分辨率和高时间分辨率。图1:几种典型的宽禁带器件结构:(a) 氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT) (b) 氧化镓场效应管(β-Ga2O3 FET) 以上典型结构说明器件内存在大量微纳结构和异质界面近几十年,以热反射(Thermoreflectance)为测试原理,国际上开发并发展了多种泵浦-探测热反射技术(Pump-probe thermorefletance), 实现了纳微米级分辨率测试能力,广泛应用于宽禁带半导体材料的热物性检测。基于相同原理,国际上同期开发了一种热反射成像技术(Transient thermoreflectance imaging),实现了纳秒级时间分辨率和纳米级空间分辨率的测温能力,同样广泛应用于宽禁带半导体器件的稳态和瞬态结温检测。本文重点介绍了热反射现象和原理,在此基础之上,总结和讨论了多种泵浦-探测热反射技术,包括时域热反射法(Time-domain thermoreflectance), 频域热反射法(Frequency-domain thermoreflectance), 瞬态热反射法(Transient thermoreflectance)和稳态热反射法(Steady-state thermoreflectance)。总结了这些方法针对常见宽禁带半导体材料的检测应用,包括氮化镓薄膜异质结构(GaN-based structure)、氧化镓薄膜异质结构(β-Ga2O3-based structure)、金刚石薄膜、合金材料(如钪掺氮化铝ScAlN, 铝掺氮化镓AlGaN)以及宽禁带二维材料(如六方氮化硼h-BN)等,并全面总结了所有材料的热物性报道值(部分结果见本报道图2,详细结果见全文)。本文还重点比较了不同泵浦-探测热反射技术的特点。在所有方法中,时域热反射法发展最早且较为成熟,当前应用较为广泛;而频域热反射法和瞬态热反射法因具有和时域热反射法相似的分辨率和测试精度,也逐渐被认可,且已实现了广泛应用。值得注意的是,瞬态热反射法(如图3),相比时域热反射法,搭建成本大幅度减低,测试分析速度更快,操作更为简便,因而具有在半导体产线上的应用潜力。另外,本文也总结讨论了热反射成像技术以及它在宽禁带器件测温方面的应用。图2:氮化镓薄膜的热导率报道值;全文中还详细总结了氮化镓异质结构、氧化镓异质结构、金刚石薄膜和宽禁带合金材料的热物性报道值(热导率、界面热阻)图3:传统的瞬态热反射法(TTR)系统示意图常规的泵浦-探测热反射技术和热反射成像技术需要借助金属薄膜进行测试。对于泵浦-探测热反射技术,在检测之前需在材料表面镀一层薄膜金属(如金、铝),使得材料破坏,属于破坏性检测;对于热反射成像技术,温度检测区域集中在器件金属电极,而不是器件沟道处,导致温度测试结果往往低估真实器件结温。本文介绍了近几年一些学者(包括袁超研究员)对传统泵浦-探测热反射技术的改进,发展了免金属镀膜的泵浦-探测热反射技术(Transducer-less thermoreflectance),以实现在氮化镓外延、硅等材料的无损测试,为材料研发提供快速反馈,提升研发和生产效率、降低成本,并有望为半导体产线提供实时监测,使“边生长,边观测,边调控”成为可能。此外,介绍了热反射沟道结温直接测试技术以及它在氮化镓HEMTs器件上的应用。图4:免金属镀膜的瞬态热反射法(TTR)系统示意图论文详情:Chao Yuan*, Riley Hanus, Samuel Graham, A review of thermoreflectance techniques for characterizing wide bandgap semiconductors thermal properties and devices temperatures, Journal of Applied Physics, 132(22):220701, 2022. 论文第一作者和通讯作者为袁超研究员,合作作者来自美国佐治亚理工学院的Riley Hanus博士和 美国马里兰大学的Samuel Graham教授。通讯作者简介袁超研究员长期从事宽禁带半导体热表征和热管理研究工作。曾先后加入英、美知名大学宽禁带研究团队从事科学研究。在薄膜尺度热反射表征方法、声子热输运理论、以及(超)宽禁带半导体器件设计等领域具有一定的技术优势和科研特色,并致力于开发半导体无损热检测装备。现承担多个国家/省部/国际合作级重大战略需求的纵向科研项目,在高影响力期刊上(包含 Materials Today Physics, Communications Physics,Appl. Phys. Lett.等)发表多篇论文。此外,长期和国内外知名半导体集成电路企业和机构合作。课题组主页:http://jszy.whu.edu.cn/yuanchao
  • 我科学家首创宽带隙半导体材料太阳能电池
    日前,厦门大学物理与机电工程学院康俊勇教授课题组研发成功一种新型太阳能电池,即将氧化锌和硒化锌两种宽带隙半导体材料用作太阳能电池,从而大大稳定了太阳能电池的性能并使其寿命延长。这也是国际上首次实现了宽带隙半导体在太阳能电池中的应用。近期,英国皇家化学学会的《材料化学》杂志发表了这一成果,在国际上引起广泛关注。  所谓宽带隙半导体,一般是指室温下带隙大于2.0电子伏特的半导体材料。从物理学上来讲,带隙越宽,其物理化学性质就越稳定,抗辐射性能越好,寿命也越长 但与此相对应,带隙宽的一个缺点是——这种材料对太阳光的吸收较少,光电转换效率低。由于这种“致命性缺陷”,宽带隙半导体材料以往在太阳能电池中不用作发电的关键结构,而仅用作电极。  据介绍,目前,在太阳能电池中,应用较多的是硅太阳能电池,但其寿命有限。针对硅电池“寿命短”的问题,从2005年起,厦门大学半导体光子学中心的专家们将眼光瞄向了具有稳定物理化学性质、抗辐射性能好、“寿命长”的宽带隙半导体,致力于“宽带隙半导体在太阳能电池应用”的研究。  经过深入研究,课题组发现,有两个制约“转化”的瓶颈:一是能否形成光生电流 二是能否提高宽带隙半导体的吸光率。  最让课题组“费脑筋”的是如何让光电子“流动”起来。经过多次实验,课题组决定,选用两种宽带隙半导体材料——氧化锌和硒化锌作为太阳能电池的材料,形成类似于PN结的带阶,让电流“流动”起来。  同时,课题组在提高吸光率上也大“做文章”——“改革”了以往的制备方式,通过控制条件,让两种材料实现共格生长,首次形成新型量子结构,大幅度降低了宽带隙半导体的有效带隙,增加了吸收太阳光的范围。同时,将叠层状的薄膜形式改为一根一根的同轴线形式,每根仅有200纳米。这样一来,吸光面积大幅度增加,吸光率也随之提高。
  • 基于介质多层薄膜的光谱测量元器件
    近日,南京理工大学理学院陈漪恺博士与中国科学技术大学物理学院光电子科学与技术安徽省重点实验室张斗国教授合作,提出并实现了一种基于介质多层薄膜的光谱测量元器件,可用于各类光信号的光谱表征;其核心部件厚度仅微米量级,可附着在常规显微成像设备或微型棱镜上完成光谱测量,实验光谱分辨率小于0.6nm。研究成果以“Planar Photonic Chips with Tailored Dispersion Relations for High-Efficiency Spectrographic Detection”为题发表在国际学术期刊ACS Photonics。光谱探测技术被广泛应用在科学研究和工业生产,在材料科学、高灵敏传感、药物诊断、遥感监测等领域具有重要应用价值。近年来,微型光谱仪的研究受到了广泛关注,其优点在于尺寸小,结构紧凑,易于集成、便携,成本低。特别是随着纳米光子学的发展,光谱探测所需的色散元件、超精细滤波元件以及光谱调谐级联元件等,都可以利用超小尺寸的微纳结构来实现。如何兼顾器件的小型化、集成化,与光谱测量分辨率、探测效率一直是该领域的重点和难点之一。截至目前,文献报道的集成化微型光谱仪大多利用线性方程求解完成反演测算,信号模式之间的非简并性(不相似性)决定了重建光谱仪的分辨能力。这种基于逆问题求解的光谱反演技术易于受到噪音的干扰,从而降低微型光谱仪的探测分辨率和效率。近期研究工作表明,通过合理设计结构参数,调控介质多层薄膜的色散曲线,同时借助介质多层薄膜负载的布洛赫表面波极低传输损耗特性,可以实现了光源波长与布洛赫表面波激发角度之间的近似一一对应关系,如图1a,1b所示。它意味着无需方程求解,即可以完成光谱的探测与分析,避免了逆问题求解过程中外界环境噪声对反演过程的干扰,节约了时间成本,提升了探测效率。该介质多层薄膜由高、低折射率介质(氮化硅和二氧化硅)薄膜交替叠加组成,可通过常规镀膜工艺(如等离子体增强化学的气相沉积法)在各种透明衬底上大面积、低成本制备,其制作难度与成本远小于基于微纳结构的光谱测量元件。图1:一种基于介质多层薄膜的光谱探测元件,可用于各类光信号的光谱表征;其核心部件厚度仅微米量级,可附着在常规显微成像设备或微型棱镜上完成光谱测量,实验光谱分辨率小于0.6nm。作为应用展示,该光谱探测元器件被放置于微型棱镜或者常规反射式光学显微镜上,当满足布洛赫表面波激发条件时,即可实现光谱探测。如图1c,当激光和宽带光源分别入射到介质多层薄膜上时,采集到的反射信号分别为暗线和暗带,其强度积分及对应着光源的光谱(图1d,1e所示)。钠灯的光谱测量实验结果表明,该测量器件能达到的光谱分辨率小于0.6 nm (图1f所示)。不同于常规光谱仪需要在入射端加载狭缝,该方法无需狭缝对被测光源进行限制,从而充分利用信号光源,有效提升了光谱探测的信噪比和对比度,因此器件可以应用于荧光光谱和拉曼散射光谱等极弱光信号的光谱表征,展现出其在物质成分和含量探测上的能力,如图1g,1h所示。介质多层薄膜的平面属性,使得其可以在同一基底上加载不同结构参数的介质多层薄膜,从而实现宽波段、多功能光谱探测器件。该项工作表明,借助于介质多层薄膜负载布洛赫表面波的高色散、低损耗特性,可以实现低成本、高效率、高分辨率的光谱测量,为集成化微型光谱仪的实现提供了新器件。该项工作也拓展了介质多层薄膜的应用领域,有望为薄膜光子学研究带来新的生长点。陈漪恺博士为该论文第一作者,张斗国教授为通讯作者。上述研究工作得到了科技部,国家自然科学基金委、安徽省科技厅、合肥市科技局、唐仲英基金会等项目经费的支持。相关样品制作工艺得到了中国科学技术大学微纳研究与制造中心的仪器支持与技术支撑。
  • 光学薄膜透射反射性能检测方法进展
    随着智能穿戴设备、消费电子设备应用兴起,生物识别、物联网、自动驾驶、国防/安防等领域对光电镀膜材料的需求日益旺盛。不同行业根据使用场景,对光学镀膜的性能提出了更加多样化的需求,越来越多需要测试镀膜样品的变角度透射、变角度反射信号。传统变角度反射测试一般为相对反射率测试,需要通过参比镜进行数据传递,往往参比镜在不同角度下的绝对反射率曲线很难获取,给测试带来很大困难,同时在数据传递中也会增加误差的来源。随着智能穿戴设备、消费电子设备应用兴起,生物识别、物联网、自动驾驶、国防/安防等领域对光电镀膜材料的需求日益旺盛。不同行业根据使用场景,对光学镀膜的性能提出了更加多样化的需求,越来越多需要测试镀膜样品的变角度透射、变角度反射信号。传统变角度反射测试一般为相对反射率测试,需要通过参比镜进行数据传递,往往参比镜在不同角度下的绝对反射率曲线很难获取,给测试带来很大困难,同时在数据传递中也会增加误差的来源。本文主要介绍采用PerkinElmer紫外可见近红外光谱仪配置可变角度测试附件,直接测试样品不同角度下绝对反射率、透射率曲线,无需参比镜校准,操作简单方便,测试结果更加准确。附件为变角度绝对反射、变角度透射率测试附件,如下图所示,检测器和样品台均可以360度旋转,通过样品台和检测器配合旋转,测试不同角度下透射和反射信号。PerkinElmer Lambda1050+ 光谱仪自动可变角附件光路图图1 仪器外观图固定布局 工具条上设置固定宽高背景可以设置被包含可以完美对齐背景图和文字以及制作自己的模板下分别选取不同应用场景下的典型样品,对测试数据进行简要介绍。以下分别选取不同应用场景下的典型样品,对测试数据进行简要介绍。以下分别选取不同应用场景下的典型样品,对测试数据进行简要介绍。样品变角度透射测试采用自动可变角附件可以方便快捷的测试样品不同角度下透射数据,自动测试样品不同角度下P光和S光下透射率曲线,一次设置即可完成所有角度在不同偏振态下透射率曲线测试,无需多次操作,测试曲线如下图所示。图2 样品不同角度和偏振态下透射率测试数据样品变角度透射/反射曲线测试同一个样品,可以通过软件设置一次性测试得到样品透射和反射率曲线,如下图所示,该样品在可见波长下反射率大于99.5%,透射率低于0.5%,可同时表征高透和减反性能。图3 样品45度透射和反射曲线测试NIST标准铝镜10度反射率曲线测试采用自动可变角附件测试NIST标准铝镜10度下反射率曲线,如下图所示,黑色曲线为自动可变角附件测试曲线,红色为NIST标准值曲线,发现两条测试曲线完全重合,进一步证明测试系统的可靠性,可以准确测试样品的光学数据。图4 NIST标准铝镜10度反射率曲线测试(红色为NIST标准曲线)样品变角度全波长反射曲线测试(200-2500nm)软件设置不同的测试角度和偏振方向,自动测试样品不同角度下P光和S光偏振态下反射率曲线,如下图所示,200-2500nm整个波段下测试曲线均有优异信噪比,尤其是在紫外区(200-400nm),可以完成各波长范围的反射性能测试。图5 样品全波段(200-2500nm)变角度反射率测试不同膜系设计的镀膜样品性能验证测试样品600-1400nm下45度反射率曲线,该样品在1200nm以上属于高反射率,反射率大于99.5%,同时需要关注600-1200nm范围各个吸收峰情况,该波段下吸收峰非常尖锐,同时吸收峰较多,需要仪器具备高分辨率,从而准确测试出每一个尖锐吸收峰信号。图6 膜系设计验证样品45度反射率测试双向散射分布函数(BSDF)测试除了测试常规变角度透射和反射曲线外,自动可变角附件可以自动测试样品不同角度下透射和反射率信号,可以得出样品不同角度下的透射分布函数(BTDF)和反射分布函数(BRDF)信号,最终得到双向散射分布函数(BSDF)。采用该附件可方便测试样品双向散射分布函数(BSDF)、双向反射分布函数(BRDF)、双向透射分布函数(BTDF)等光学参数测试,测试结果如下图所示:图7 BRDF和BTDF测试如下图所示,测试样品不同波长下BSDF分布函数曲线(BRDF + BTDF),从而可以得出样品随不同角度下透射和反射信号变化情况。图8 样品不同波长下BSDF(BRDF+BTDF)测试窄带滤光片测试Lambda系列光谱仪为双样品仓设计,自动可变角测试附件可与标准检测器、积分球检测器自由更换。对于窄带滤光片样品,即需要准确测设带通区域的透过率、半峰宽,也需要准确测试截止区吸光度值(OD值),可直接切换标准检测器进行检测。图9 用于生物识别的滤光片透射和OD值测试数据图10 用于激光雷达的镀膜镜片透射和OD值测试数据综上,采用Lambda系列紫外/可见/近红外分光谱仪,搭配自动可变角测试附件、标准检测器、积分球等多种采样附件,可以组合出完备的材料光学性能测试平台,满足光学镀膜测试的多样化需求,更加准确便捷地得到样品的光学检测数据。
  • 北京理工大学方岱宁院士、董浩文副教授课题组《Natl. Sci. Rev.》:面向超宽带声束工程的色散定制化消色差超构表面
    近年来,作为一种可调控波相位、极化方式、传播模式的超薄声学人工表面结构,声学超构表面(Acoustic metasurfaces)可以实现许多新奇的波控功能,在吸声降噪、医学超声、声波器件、探测、通信等领域展现了广阔的应用前景。然而,绝大多数声学超构表面都面临突出的窄带和功能色散问题,且主动调控的手段也存在功能色散、低可靠性、高系统复杂度和高制造成本等诸多挑战。更重要的是,可重构超构表面虽可保证离散频率下波动功能,但不太可能适用于含多个频率的宽带入射波包。因此,从工程应用的角度来看,声学超构表面亟需实现被动式超宽带、非频变特性,也需更多新的结构形式与调控机理。近期,北京理工大学方岱宁院士和董浩文副教授、香港理工大学成利院士、天津大学汪越胜教授、美国罗文大学沈宸助理教授、青岛大学赵胜东副教授密切合作,并联合德国锡根大学张传增院士、美国杜克大学Steven A. Cummer教授、中科院深圳先进技术研究院郑海荣教授和邱维宝研究员等国内外学者,在超构材料领域取得重要进展。该团队提出了定制化色散的逆向设计方法,利用面投影微立体光刻技术(nanoArch S140,摩方精密)实现了声学超构表面的高精度3D打印,成功构造了消色差声学超构表面,实现了高效、相对带宽为93.3%的声波定向传输、相对带宽为120%的能量聚焦、相对带宽为118.9%的超声粒子悬浮等超宽带声学波束工程,并揭示了超宽带消色差特性的力学机理,为超宽带、高效、多功能超构材料器件提供了新的设计范式,可为先进结构技术与完美波动调控的结合提供系统的理论与方法。该研究以“Achromatic metasurfaces by dispersion customization for ultra-broadband acoustic beam engineering”为题发表于《国家科学评论》(National Science Review, NSR, https://doi.org/10.1093/nsr/nwac030, 2022)。为获得超构表面的定制化色散特性,该研究提出了系统的超宽带消色差 “至下而上”逆向设计框架(图1)。为实现声波异常折射、聚焦和超声悬浮功能,超构表面需分别产生具备线性非色散、非线性非色散、非线性色散特性的三类波束,即:定向传输波束、聚焦束和局域空心束(图1b)。事实上,为实现特定的色散、严苛的相位分布与传输效率,所有超构表面单元必须同时满足特定的等效折射率、相对群延迟以及相对群延迟色散。因此,本研究建立了超构表面单元的“相位-效率-色散”的拓扑优化模型,利用遗传算法完成了超宽带、消色差、高效声学超构表面的逆向设计。图1:超宽带消色差超构表面的逆向设计方法 为证实逆向设计方法的正确性与有效性,本研究首先针对声波异常折射功能,设计出具有非对称局部腔体、弯曲空气通道的超构表面单元(图2a)。在低频宽带范围内(1600-4400 Hz),优化单元具备恒定的等效折射率与高传输率(图2b, 2c)以及线性非色散特性。值得注意的是,这种拓扑特征与传统的Helmholtz共振腔和迷宫结构非常不同。这种区别意味着超宽带非色散特性无法由单一构型所决定,而需要多种拓扑特征的组合来实现。仿真和实验结果也进一步验证了具有恒定折射角的高效、异常透射功能(图2d,2e)。图2:逆向设计的声学超构表面与其超宽带高效异常波束折射 本研究进一步设计出更复杂的非对称超构表面单元(图3a),其具备超宽带恒定的等效折射率(图3b),且折射率增加的程度逐渐降低;大部分超构表面单元均可保持高于80%的传输效率(图3c)。有趣的是,#4、#5、#6和#7单元具有非常相似的拓扑特征,但#3、#2单元却呈现完全不同的特征,这意味着单一的拓扑构型无法实现超宽带非色散功能。结果表明,优化的超构表面可实现具有恒定焦距、高效、声波聚焦功能(图3d,3e),证实了其超宽带[1000 Hz, 4000 Hz]、消色差特性。图3:逆向设计的声学超构表面与其超宽带高效聚焦 为更进一步展示所发展优化模型与方法的优势,本研究还针对宽低频、高度复杂的色散特性,设计出一系列具有非色散、非线性色散特性的高效超构表面单元(图4a)。通过特定的单元集成方式,构建了含13×13个微米尺度单元(4.2 mm×4.2 mm×1.2 cm,S140,摩方精密,10 μm打印精度)、轻质、超薄的3D声波超表面(5.46 cm×5.46 cm×1.2 cm)。结果表明,超构表面可在[16.5 kHz, 66 kHz]内产生具有恒定悬浮位置的局域空心束(图4e),从而实现了单边、稳定、超宽带的超声悬浮现象(图4f),显著优于目前已知的超声悬浮技术。此外,超构表面的波动功能对热粘滞损耗也具有很强的鲁棒性。图4:逆向设计的声学超构表面与超宽带、单边、稳定的超声粒子悬浮 为揭示超宽带消色差特性的机理,本研究详细地考察了具有线性非色散、线性非色散、非线性色散特性的3个代表性超构表面单元,分析了其相位响应(图5a-5c)、等效阻抗矩阵(图5d-5f)和散射性质(图5g-5i)。结果显示,优化的非对称单元均存在明显的内部共振(internal resonance),从而有效地补偿了由单个结构块体色散而产生的复杂相移。此外,3种单元也存在一定程度的双各向异性(bi-anisotropy)。更有趣的是,这种优化的超构表面单元还存在显著的多散射效应,可被视为一种新的超构表面设计自由度。 图5:超宽带消色差特性的协同作用机理 针对声波超宽带声束工程,本研究发展了融合相位、幅值、色散、功能的声学超构表面通用逆向设计框架,设计出一系列新型非对称超表面,实现了超宽带、消色差声波负折射、聚焦和超声悬浮三类功能,揭示了超宽带消色差特性的协同作用机理,即:集成的内部共振、双各向异性以及多散射效应。研究可为超宽带、被动式、多功能超构材料的构造提供系统性逆向设计方法,可为2D/3D弹性波/声波超构材料的大规模、集成设计提供重要的理论指导与结构基础。近年来,本团队已提出了多种弹性波/声波超构材料的逆向设计模型,揭示了宽带力学机理,实现了一系列高性能弹性波、声波、水声功能及器件,为超构材料宽低频响应的系统性创新设计提供了解决方案。作者:董浩文
  • 电科思仪成功研制110GHz宽带巴伦
    近日,电科思仪突破关键技术,成功研制出110GHz宽带巴伦,满足用户高速测试需求,产品性能达到业内领先水平。巴伦是一种三端口器件,可将一路信号分成大小相等、振动或波动方向相反(镜像)的两路信号,也可将振动或波动方向相反的两路信号合成一路信号输出,在通信系统、光电系统等多种场景中有广泛应用。随着各场景对高性能宽带巴伦的技术要求不断提高,原有频率上限已不能满足用户需求。为解决这一技术瓶颈,电科思仪集中力量攻关,突破关键技术成功研制出110GHz宽带巴伦,充分满足市场需求。
  • 西安交大:3D打印超宽带太赫兹超材料吸波器
    太赫兹波,指频率为0.1-10 THz的电磁波,位于微波和红外之间,属于电子学与光子学的过渡区间。由于具有光子能量低、穿透力强、特征光谱分辨能力好等属性,太赫兹技术在生物传感、无损检测以及高速无线通讯等领域具有重要的应用前景。然而,由于自然界中的天然材料在太赫兹频段没有电磁响应,导致太赫兹频段的功能材料和器件非常匮乏,这也是造成太赫兹技术尚未广泛应用的重要原因。THz超材料,一种新型的周期性人工电磁材料,其性质主要取决于所设计的结构,通过特定的结构设计,可获得与自然界已知材料截然不同的电磁性质,从而实现丰富的功能器件,如吸波器、调制器和偏振转换器等。目前常见的太赫兹超材料,主要由光刻工艺制备得到,存在制备工艺复杂、加工成本高的问题。此外,目前宽带吸波器常采用上下重叠式多层结构设计,其在太赫兹频段所需的多步光刻工艺更是进一步提高了加工难度及成本。因此,探索太赫兹器件的无光刻、低成本、简单高效的制备方法获得超宽带太赫兹吸波器,将有利于促进太赫兹技术的繁荣发展。 近日,西安交通大学张留洋教授课题组提出了一种偏振不敏感的超宽带太赫兹吸波器设计及其制备方法,该超宽带吸波器由叠堆于类宝塔基底表面的多层环形谐振器构成,通过相邻谐振器共振模式的重叠实现带宽的扩展,最终通过叠堆12层圆形和环形谐振器实现1.07-2.88 THz频段的近完美吸收。该研究结合微尺度3D打印技术(nanoArch S130,摩方精密)制备得到实验样件,实验测试结果验证了宽带吸收机理的准确性。该成果以“Three-Dimensional Printed Ultrabroadband Terahertz Metamaterial Absorbers”为题发表于国际期刊Physical Review Applied上,该研究工作由西安交通大学机械工程学院博士生沈忠磊与硕士生李胜男共同合作完成。图1 具有面外形态的太赫兹吸波器结构示意图图2 太赫兹超宽带吸收谱 通过结合微尺度3D打印技术,超宽带太赫兹吸波器可由简单的三步工艺制备得到。其中,周期性阵列的三维类宝塔结构采用面投影微立体光刻3D打印技术(nanoArch S130,摩方精密)加工得到。实验结果表明:得益于高精度的微尺度3D打印技术,测试所得的宽带吸收谱谐振频率和吸收幅值均与数值模拟结果较为吻合。图3 太赫兹超宽带吸波器实验验证(其中单元周期Px=Py=185μm,顶层圆形谐振器半径r12=10μm, 叠堆环形谐振器宽度w=6μm,叠堆层厚Dt=10μm) 此外,文章进一步证明了该制备方法之于常见太赫兹窄带吸波器制备的适用性。实验结果表明:两种太赫兹窄带吸波器的吸收谱测试结果与数值模拟结果和理论结果均较为吻合,表明基于微尺度3D打印技术的制备方法同样可实现对常见太赫兹窄带吸波器的高质量制备。图4 太赫兹窄带吸波器实验验证原文链接:https://journals.aps.org/prapplied/abstract/10.1103/PhysRevApplied.16.014066官网:https://www.bmftec.cn/links/10
  • HORIBA科学仪器事业部发布HORIBA LabRAM Soleil™ 高分辨超灵敏智能拉曼成像仪新品
    HORIBA在拉曼光谱领域拥有50年的专业经验,新推出的LabRAM Soleil™ 高分辨超灵敏智能拉曼成像仪结构紧凑、体积小巧,将带给您前所未有的体验。LabRAM Soleil™ 只需较少的人工干预即可一天工作24小时,这得益于仪器的:高度自动化、高光通量、物镜自动识别、光学反射镜自动切换、SmartSampling™ 和QScan™ 提供的超快速成像、4块光栅快速全自动切换、光路自动准直以及LabSpec 6 智能软件功能。 结构紧凑型高分辨超灵敏智能拉曼成像仪LabRAM Soleil™ 设计紧凑且保证激光安全,提供多种光学观察模式和高光谱成像功能: √ 占用面积1m2 √ 1级激光安全大样品室 √ 反射/透射照明 √ 明场/暗场/落射荧光/相位差和差分干涉差(DIC)显微镜 √ ViewSharpTM 超快速三维表面形貌技术 √ QScan™ 激光矢量片层扫描技术——无需移动样品即可进行高质量3D共焦成像 √ XYZ 3D共聚焦成像,深度剖析(单点或QScanTM片层扫描) √ 标配低波数拉曼散射(30 cm-1) √ 光致发光(PL)、电致发光、光电流、上转换发光 √ 纳米空间分辨率光谱:耦合AFM和SEM可以实现NanoRaman™ (TERS)、纳米PL和阴极发光专注于您的工作,其它的交给仪器!忘掉拉曼成像前冗长乏味的准备操作!LabRAM Soleil™ 提供先进的自动化功能,结合EasyImage™ 易成像工作流技术,它大大减少了参数设置上花费的时间,并且极大程度上确保了稳定性和再现性: √ 真正的自动操作系统 √ EasyImage™ :有操作向导,简单快速 √ 自动校准:根据环境条件在几秒钟内自动检查并重新校准 √ SmartID™ : 不用担心使用错误的物镜倍数或者错误的参数 √ 远程维护超快速成像:拉曼成像从未有如此之快!LabRAM Soleil的光学稳定性加上专利保护的显微图像-拉曼匹配精度,使得高质量拉曼成像速度可以提高100倍以上: √ SmartSampling™ :基于新的成像法则,首先获取信号贡献多的样品点信号,将成像时间由几小时缩短为几分钟 √ TurboDrive™ :光栅快速驱动,快至400nm/s √ 4种SWIFT™ 功能 SWIFT™ :普通超快速成像 SWIFT™ XS:Ultra模式(快速拉曼成像,高达每秒1400条光谱)和高对比度模式(读出速率提升和信号增强) SWIFT™ XR:多窗口扩展快速成像技术,适用于需要采集大范围PL光谱或大范围高分辨拉曼光谱,同时又要保证超快速成像的样品 Repetitive SWIFT™ :信噪比增强快速成像技术,不断重复以改善信噪比解决各类分析问题从材料研究到聚合物研究,从生物分析到药物分析,LabRAM Soleil可以很轻松地应用于各个领域。得益于其先进的模块化和灵活性,LabRAM Soleil无论对于学术研究或者工业质量控制都是一套完美的显微拉曼系统。 √ 可配置4个内置激光器和6块不同的滤光片 √ 1分钟内可快速切换4块光栅 √ 标准低波数:低至30cm-1 √ 大样品室: 444(H) x 509 (L) x 337 (W) mm √ 具有很高的稳定性,维护操作简单LabSpec6软件:轻松驾驭LabRAM Soleil的全部功能!LabSpec 6软件将各种技术做成应用程序包,力求操作简便,可根据用户需要定制界面。软件的现代化和智能设计助您快速获取拉曼成像,即使您不是一个专家,也能轻松获取完美的拉曼成像图。 √ 先进的多变量分析方法MVAPlus™ :轻松分析百万条光谱,即使是“困难”的样品,也能极大程度地对其中的分子进行鉴别和定量分析。 √ ProtectionPlus确保符合FDA 21 CFR Part 11和GMP / GLP的要求 √ ParticuleFinder™ 能自动对颗粒进行形态和化学分析,几秒内即可对颗粒进行分类 √ EasyImage™ 自动化的工作流程使得用户只需一键点击即可获得拉曼成像技术指标光学设计高效率全反射式采用超宽带电介质反射镜共焦设计高效率全反射式采用超宽带电介质反射镜共焦针孔自动机械针孔三维空间滤波激光波长可选325nm、532nm、638nm、785nm等激光光路支持6路自动,独立优化控制激光偏转方向采用超宽带电介质反射镜光栅扫描速度400nm/s采用TurboDriveTM 闭环快速直驱光栅技术光栅数量不限支持4块光栅全自动切换低波数拉曼30cm-15cm-1可选Fast Alignment 新一代自动准直技术15s 光路准直时间内置PSD位敏探测器光谱模式多达6种全自动光谱模式拉曼、PL、ULF、上转换发光等等瑞利滤光片每个滤光片均由计算机控制激光阻挡优化成像多达8种光谱成像技术详情请咨询HORIBA销售工程师激光安全Class1 安全的激光安全等级尺寸898mm x 797mm x 806mm重量120Kg功耗满负荷运转时 600 W环保和安全设计1根电源线1根通讯线创新点:LabRAM Soleil™ 只需较少的人工干预即可一天工作24小时,这得益于仪器的:高度自动化、高光通量、物镜自动识别、光学反射镜自动切换、SmartSampling™ 和QScan™ 提供的超快速成像、4块光栅快速全自动切换、光路自动准直以及LabSpec 6 智能软件功能。 HORIBA LabRAM Soleil™ 高分辨超灵敏智能拉曼成像仪
  • 太阳能材料反射率测定方法
    材料的表面反射率是目前太阳能行业中最常关注的测试项目之一。这类测试所涉及到的样品种类繁多,包括金属反射涂层、半导体材料与涂层以及防护玻璃上面的防反膜等。很多材料的反射同时包含了镜面反射和漫反射两种类型,这对测试方法是否能将光谱干扰降到最低、获得准确的反射率数据提出了挑战。材料表面的反射类型:A.镜面反射;B.漫反射镜面反射镜面反射率可以用不同类型的镜面反射附件(例如VW型反射附件、VN型反射附件和通用反射附件URA)进行测量。VN型反射附件(单次样品反射)和VW型反射附件(两次样品反射)是根据背景(V)和样品(N和W)测量模式的几何光路而命名。背景和样品测量模式切换过程中镜子的移动是手动操作的。URA是一种可变角度、单次样品反射的VN型附件,其中镜子的移动和入射角度的选择完全由软件控制电子步进马达自动调节。PerkinElmer的通用反射附件URA漫反射漫反射率可以用积分球进行测量。测试光线分别经过参比光路和样品光路中的光学元件,通过Spectralon积分球表面开口,进入球体内部的参比窗口和样品反射窗口。积分球体积越大,开口率越小,测试准确率越高。PerkinElmer 150mm积分球内部检测器前面安装了具有Spectralon涂层的挡板,避免了样品初次反射光线进入检测器。PerkinElmer的150mm积分球及光路示意图■ 测试样品 样品描述1镜面反射成分很少的漫反射材料2反射强度较低的镜面涂层3中等反射强度的镜面涂层4反射强度较高的镜面半导体材料■ 光谱结果 样品1(左上)、2(右上)、3(左下)、4(右下)的光谱。黑色曲线为150mm积分球测量结果,红色曲线为60mm积分球测量结果,绿色光谱曲线为URA测量结果。样品1:150mm积分球测量的光谱强度更高,因为该积分球的窗口面积比例低于60mm积分球。因此更多的样品漫反射光线可以被收集起来,更接近准确值。样品2:150mm积分球测量结果与URA附件测量结果非常接近。60mm积分球测量结果的反射率偏高,这是因为热点区域主导并且富集了检测器所测量的光线。此外,积分球内部的漫反射光线很少,因此基本没有光线通过开放窗口逃离。样品3:60mm积分球测量的光谱存在波长漂移和强度平移的问题。150mm积分球与URA附件测量的光谱之间存在一些不规则的差异。样品4:60mm积分球和URA附件的测试结果差异明显(5%R),150mm积分球与URA附件所测量的样品光谱也不再重叠。结论镜面反射非常强或者完全是镜面反射的样品需要使用URA、VN或者VW等绝对镜面反射率附件进行测量。太阳能行业的一些材料具有很强的镜面反射,但是也含有少量的漫反射成分。对于这种类型的样品,可以使用150mm积分球来测量。通过测量铝镜消除热点产生的光谱干扰,获得可以接受的绝对反射率数据。如果样品与参比铝镜的反射率比较接近,可以获得最佳的测试结果。更多详情,请扫描二维码下载完整应用报告。
  • 上海光机所实现用于单周期艾瓦激光的超宽带脉冲压缩光栅
    近期,中国科学院上海光学精密机械研究所邵建达研究员、晋云霞研究员团队和张江实验室李朝阳研究员在超宽带脉冲压缩光栅领域取得突破性进展。研究团队针对单周期脉冲压缩需求,成功研制超400 nm宽带金光栅,其在750-1150 nm 的波长范围内衍射效率大于90%,比现役金光栅带宽提升近一倍,并且其研制口径可进一步推向米量级。相关成果以“400nm ultra-broadband gratings for near-single-cycle 100 Petawatt lasers”为题发表于《自然-通讯》。  拍瓦激光器的脉冲宽度从目前10-20个周期压缩到单周期(3.3 fs)结合大能量的载入被认为是实现艾瓦激光的未来。研究团队长期深耕于宽带高阈值脉冲压缩光栅领域。在本项工作进展中,超宽带金光栅的仿真设计取得突破,引入方位角扩展了设计和应用自由度 实验上掌握了光栅槽形演化规律,发明了大底宽小尖角金光栅技术(专利号:CN114879293B),成功研制1443 g/mm和1527 g/mm超400 nm宽带金光栅。如此宽带和高阈值(优于0.3J/cm2)的超宽带光栅将在宽角非共线光参量啁啾脉冲放大系统【WNOPCPA,Laser Photonics Rev 17, 2100705(2022). https://doi.org/10.1002/lpor.202100705】中发挥关键性作用,理论计算证明其足以支撑 4 fs 脉冲压缩,可将实现百拍瓦需要的光栅口径从米级缩减至半米级。  啁啾脉冲放大(CPA)及其衍生技术推动激光峰值功率从太瓦推向10PW量级,脉冲压缩器已成为高功率超强超短激光装置的核心模块。受限于大口径、宽光谱、高阈值压缩光栅的单路负载能力,中、欧、美、俄、韩等国均已部署多路相干合成100 PW乃至艾瓦量级的激光设施建设。除此外,单周期(3.3fs)脉冲也是产生艾瓦级激光的重要策略之一。近些年来,WNOPCPA等技术能够在工程上支撑增益介质的带宽拓展至 400 nm,从而支撑 3-6 fs的傅里叶变换极限脉冲。支持单周期脉冲展宽和压缩的超宽带光栅是实现单周期艾瓦激光的一个核心技术难题。目前,团队正将超宽带光栅的口径推向米级,并将其应用于单周期艾瓦激光的原理样机。  研究工作得到了国家重点研发计划、国家自然科学基金、科技部、上海市战略新兴产业项目的支持。
  • 上海光机所大口径脉宽压缩光栅用膜研制取得突破性进展
    近日,中科院强激光材料重点实验室承担的大口径脉宽压缩光栅用膜研制工作取得突破性进展。该项目组参与研制的大口径脉宽压缩光栅应用在大能量拍瓦激光系统上,获得了皮秒级的较高能量输出,在光栅面上经受了0.54J/cm2(5ps,1053nm)的激光作用而没有任何损坏,光栅抗激光破坏能力与美国OMEGA-EP、日本FIREX-I装置采用的光栅水平相当,达到了国际先进水平。  中科院强激光材料重点实验室在光栅用大口径介质膜的研制工作中重点解决了以下几个问题:  1.  同时满足了中心波长1053nm宽波段范围内的高反射和413nm高透过的要求,均匀性控制在±0.5%范围内   2.  满足了大口径光栅高破坏阈值的要求   3.  有效控制了光栅用膜的应力形变,确保了大口径光栅面形指标要求的实现   4.  满足了光栅制作过程对光栅膜提出的强度要求。在经过光刻胶反复涂覆、真空反应离子束的刻蚀和反应气体的腐蚀、水溶液、强酸弱碱液的长时间浸泡清洗等条件下,光栅膜和在其上刻蚀的光栅均能保证稳定的光学和力学特性。  该项突破性进展将对相关专项工作的顺利实施起到积极的推动作用。中科院强激光材料重点实验室将在此基础上进一步提升大口径光栅膜特性。
  • 基于177.3nm激光的真空紫外光调制反射光谱仪
    CPB仪器与测量栏目最新发文:基于177.3nm激光的真空紫外光调制反射光谱仪,此装置将有望成为高效无损地探测宽禁带半导体材料电子能带结构高阶临界点的有效光学表征手段,并广泛用于超宽禁带半导体材料及其异质结的电子能带结构研究。光调制反射光谱是通过斩波器周期性地改变泵浦光源对样品的照射来测量半导体材料反射率相对变化的一种光谱分析技术。由于所测差分反射率作为能量的函数在材料电子能带结构的联合态密度奇点附近表现出明显的特征,光调制反射光谱已成为研究具有显著电子能带结构的半导体、金属、半金属及其微纳结构和异质结等材料联合态密度临界点的重要实验技术之一。光调制反射光谱中所使用的泵浦激光的光子能量一般要高于被研究材料的带隙,随着第三代宽禁带与超宽禁带半导体材料相关研究和应用的不断深入,需要更高能量的紫外激光作为光调制反射光谱的泵浦光源。目前国际上已报道的光调制反射光谱系统中,配备的泵浦光最大光子能量约5 eV,尚未到达真空紫外波段。因此,迫切需要发展新一代配备高光子能量和高光通量的泵浦光源的光调制反射光谱仪,使其具备探测超宽带隙材料的带隙和一般材料的超高能量临界点的能力。中科院理化所研制的深紫外固态激光源使我国成为世界上唯一一个能够制造实用化深紫外全固态激光器的国家,已成功与多种尖端科研设备相结合并取得重要成果。此文详细介绍了由中科院半导体所谭平恒研究员课题组利用该深紫外固态激光源搭建的国际上首台真空紫外光调制反射光谱仪(图1)的系统设计和构造,将光谱仪器技术、真空技术、低温技术与中科院理化所研制的177.3 nm深紫外激光源相结合,同时采用双单色仪扫描技术和双调制探测技术,有效避免了光调制反射光谱采集中的荧光信号的干扰,提高了采集灵敏度。该系统将光调制反射技术的能量探测范围从常规的近红外至可见光波段扩展至深紫外波段,光谱分辨率优于0.06 nm,控温范围8 K~300 K,真空度低至10-6 hPa, 光调制反射信号强度可达10-4。通过对典型半导体材料GaAs和GaN在近红外波段至深紫外波段的光调制反射信号的测量对其探测能力进行了性能验证(图2)。此装置将有望成为高效无损地探测宽禁带半导体材料电子能带结构高阶临界点的有效光学表征手段,并广泛用于超宽禁带半导体材料及其异质结的电子能带结构研究。该系统基于中科院半导体所承担的国家重大科研装备研制项目“深紫外固态激光源前沿装备研制(二期)”子项目“深紫外激光调制反射光谱仪”,目前已经初步应用于多种半导体材料在深紫外能量范围内的能带结构和物性研究,并入选《中国科学院自主研制科学仪器》产品名录,将有望在推动超宽禁带半导体材料的电子能带结构研究、优化超宽禁带光电子器件的性能方面发挥重要作用。图1. 深紫外激光调制反射光谱仪图2. 177.3 nm(7.0 eV)激光泵浦下的GaAs在1.2 eV至6 eV内的双调制反射光谱及对应能级跃迁
  • 研究|具有超低热导率的宽直接带隙半导体单层碘化亚铜(CuI)
    01背景介绍自石墨烯被发现以来,二维(two-dimensional, 2D)材料因其奇妙的特性吸引了大量的研究兴趣。特别是二维形式的材料由于更大的面体积比可以更有效的性能调节,通常表现出比块体材料更好的性能。迄今为止,已有许多具有优异性能的二维材料被报道和研究,如硅烯、磷烯、MoS2等,它们在电子、光电子、催化、热电等方面显示出应用潜力。在微电子革命中,宽带隙半导体占有关键地位。例如,2014年诺贝尔物理学奖材料氮化镓(GaN)已被广泛应用于大功率电子设备和蓝光LED中。此外,氧化锌(ZnO)也是一种广泛应用于透明电子领域的n型半导体,其直接宽频带隙可达3.4 eV。在透明电子的潜在应用中,n型半导体的有效质量通常较小,而p型半导体的有效质量通常较大。然而,人们发现立方纤锌矿(γ-CuI)中的块状碘化铜是一种有效质量小的p型半导体,具有较高的载流子迁移率,在与n型半导体耦合的应用中很有用。例如,γ-CuI由于其较大的Seebeck系数,在热电中具有潜在的应用。二维材料与块体材料相比,一般具有额外的突出性能,因此预期单层CuI可能比γ-CuI具有更好的性能。作为一种非层状I-VII族化合物,CuI存在α、β和γ三个不同的相。温度的变化会导致CuI的相变,即在温度超过643 K时,从立方的γ-相转变为六方的β-相,在温度超过673 K时,β-相进一步转变为立方的α-相。因此,不同的条件下,CuI的结构是很丰富的。超薄的二维γ-CuI纳米片已于2018年在实验上成功合成 [npj 2D Mater. Appl., 2018, 2, 1–7.]。然而,合成的CuI纳米片是非层状γ-CuI的膜状结构,由于尺寸的限制,单层CuI的结构可能与γ-CuI薄膜中的单层结构不同。因此,需要对单层CuI的结构和稳定性进行全面研究。在这项研究中,我们预测了单层CuI的稳定结构,并系统地开展电子、光学和热性质的研究。与γ-CuI相比,单层CuI中发现直接带隙较大,可实现超高的光传输。此外,预测了单层CuI的超低热导率,比大多数半导体低1 ~ 2个数量级。直接宽频带隙和超低热导率的单层CuI使其在透明和可穿戴电子产品方面有潜在应用。02成果掠影近日,湖南大学的徐金园(第一作者)、陈艾伶(第二作者)、余林凤(第三作者)、魏东海(第四作者)、秦光照(通讯作者),和郑州大学的秦真真、田骐琨(第五作者)、湘潭大学的王慧敏开展合作研究,基于第一性原理计算,预测了p型宽带隙半导体γ-CuI(碘化亚铜)的单层对应物的稳定结构,并结合声子玻尔兹曼方程研究了其传热特性。单层CuI的热导率仅为0.116 W m-1K-1,甚至能与空气的热导率(0.023 W m-1K-1)相当,大大低于γ-CuI (0.997 W m-1K-1)和其他典型半导体。此外,单层CuI具有3.57 eV的超宽直接带隙,比γ-CuI (2.95-3.1 eV)更大,具有更好的光学性能,在纳米/光电子领域有广阔的应用前景。单层CuI在电子、光学和热输运性能方面具有多功能优势,本研究报道的单层CuI极低的热导率和宽直接带隙将在透明电子和可穿戴电子领域有潜在的应用前景。研究成果以“The record low thermal conductivity of monolayer Cuprous Iodide (CuI) with direct wide bandgap”为题发表于《Nanoscale》期刊。03图文导读图1. 声子色散证实了CuI单层结构的稳定性。单层CuI(记为ML-CuI)几种可能的结构:(a)类石墨烯结构,(b)稳定的四原子层结构,(c)夹层结构。(d)稳定的γ相快体结构(记为γ-CuI)。(e-h)声子色散曲线对应于(a-d)所示的结构。给出了部分状态密度(pDOS)。通过测试二维材料的所有可能的结构模式,发现除了如图1(b)所示的弯曲夹层结构外,单层CuI都存在虚频。平面六边形蜂窝结构中的单层CuI,类似于石墨烯和三明治夹层结构,如图1(a,c)所示作为对比示例,其中声子色散中的虚频揭示了其结构的不稳定性[图1(e,f)]。因此,通过考察单层CuI在不同二维结构模式下的稳定性,成功发现单层CuI具有两个弯曲子层的稳定结构,表现出与硅烯相似的特征。优化后的单层CuI晶格常数为a꞊b꞊4.18 Å,与实验结果(4.19 Å)吻合较好。而在空间群为F3m的闪锌矿结构中,得到的优化晶格常数a=b=c=6.08 Å与文献的结果(5.99-6.03 Å)吻合较好。此外,LDA泛函优化得到的单层CuI和γ-CuI的晶格常数分别为4.01和5.87 Å,为此后续计算都基于更准确的PBE泛函。通过观察晶格振动的投影态密度,发现Cu和I原子在不同频率下的贡献几乎相等。此外,光学声子分支之间存在带隙[图1(g)],这可能导致先前报道的光学声子模式散射减弱。相反,在γ-CuI中不存在声子频率带隙[图1(h)]。图2. 热导率及相关参数的收敛性测试。(a)原子间相互作用随原子距离的变化。(b)热导率对截断距离的收敛性。彩色椭圆标记收敛值。(c)热导率相对于Q点的收敛性。(d)单层CuI和γ-CuI的热导率随温度的函数关系。在稳定结构的基础上,比较研究了单层CuI和γ-CuI的热输运性质。基于原子间相互作用的分析验证了热导率的收敛性[图2(a)]。如图2(b)所示,热导率随着截止距离的增加而降低,其中出现了几个阶段。热导率的下降是由于更多的原子间相互作用和更多的声子-声子散射。注意,当截止距离大于6 Å时,热导率仍呈下降趋势,说明CuI单层中长程相互作用的影响显著。这种长程的相互作用通常存在于具有共振键的材料中,如磷烯和PbTe。通过收敛性测试,预测单层CuI在300 K时的热导率为0.116 W m-1K-1[图2(c)],这是接近空气热导率的极低值。单层CuI的超低热导率远远低于大多数已知的半导体。此外,计算得到的γ-CuI的热导率为0.997 W m-1K-1,与Yang等的实验结果~0.55 W m-1K-1基本吻合,值得注意的是Yang等人的实验结果测量了多晶态γ-CuI。此外,单层CuI和γ-CuI的热导率随温度的变化完全符合1/T递减关系[图2(d)]。考虑到温度对热输运的影响,今后研究声子水动力效应对单层CuI热输运特性的影响,特别是在低温条件下,可能是很有意义的。图3. 单层CuI和γ-CuI在300 K的热输运特性。(a)群速度,(b)相空间,(c)声子弛豫时间,(d) Grüneisen参数,(e)尺寸相关热导率的模态分析。(f)平面外方向(ZA)、横向(TA)和纵向(LA)声子和光学声子分支对热导率的贡献百分比。超低导热率的潜在机制可能与重原子Cu和I有关,也可能与单层CuI的屈曲结构有关。声子群速度[图3(a)]和弛豫时间[图3(c)]都较小,而散射相空间[图3(b)]较大。总的来说,单层CuI (1.6055)的Grüneisen参数的绝对总值显著大于γ-CuI (0.4828)。即使在低频下Grüneisen参数没有显著差异[图3(d)],单层CuI和γ-CuI的声子散射相空间却相差近一个数量级,如图3(b)所示。因此,低频声子弛豫时间的显著差异[图3(c)]在于不同的散射相空间。此外,单层CuI的声子平均自由程(MFP)低于γ-CuI,如图3(e)所示。因此,在单层CuI中产生了超低的热导率,这将有利于电源在可穿戴设备或物联网的应用,具有良好的热电性能。此外,详细分析发现,光学声子模式在单层CuI[图3(f)]中的较大贡献是由于相应频率处相空间相对较小,这是由图1(g)所示的光学声子分支之间的带隙造成的。图4. 单层CuI的电子结构。(a)单层CuI和(h)γ-CuI的电子能带结构,其中电子局部化函数(ELF)以插图形式表示。(b-d)单层CuI和(i)γ-CuI的轨道投影态密度(pDOS)。(e)透射系数,(f)吸收系数,(g)反射系数。在验证了CuI单层结构稳定的情况后,进一步研究其电子结构,如图4(a)所示。利用PBE泛函,预测了单层CuI的直接带隙,导带最小值(CBM)和价带最大值(VBM)都位于Gamma点。PBE预测其带隙为2.07 eV。我们利用HSE06进行了高精度计算,得到带隙为3.57 eV。如图4 (h)所示,单层CuI的带隙(3.57 eV)大于体γ-CuI的带隙(2.95 eV),这与Mustonen, K.等报道的3.17 eV非常吻合,使单层CuI成为一种很有前景的直接宽频带隙半导体。此外,VBM主要由Cu-d轨道贡献,如图4(b-d)的pDOS所示。能带结构、pDOS和ELF揭示的电子特性的不同行为是单层CuI和γ-CuI不同热输运性质的原因。电子结构对光学性质也有重要影响。如图4(e-g)所示,在0 - 7ev的能量范围内,单层CuI的吸收系数[图4(f)]和折射系数[图4(g)]不断增大,说明单层CuI在该区域的吸收和折射能力增强。相应的,随着透射系数的减小,单层CuI的光子传输能力[图4(e)]也变弱。当光子能量大于7 eV时,CuI的吸收和折射系数开始显著减弱,最终在8 eV的能量阈值处达到一个平台。值得注意的是,与声子的吸收和传输能力相比,单层CuI对光子的反射效率较低,最高不超过2%。对于光子吸收,单层CuI的工作区域在5.0 - 7.5 eV的能量范围内,而可见光的光子能量在1.62 - 3.11 eV之间。显然,CuI的主要吸收光是紫外光,高达20%。
  • 西安交大《Physical Review Applied》:3D打印超宽带太赫兹超材料吸波器
    太赫兹波,指频率为0.1-10 THz的电磁波,位于微波和红外之间,属于电子学与光子学的过渡区间。由于具有光子能量低、穿透力强、特征光谱分辨能力好等属性,太赫兹技术在生物传感、无损检测以及高速无线通讯等领域具有重要的应用前景。然而,由于自然界中的天然材料在太赫兹频段没有电磁响应,导致太赫兹频段的功能材料和器件非常匮乏,这也是造成太赫兹技术尚未广泛应用的重要原因。THz超材料,一种新型的周期性人工电磁材料,其性质主要取决于所设计的结构,通过特定的结构设计,可获得与自然界已知材料截然不同的电磁性质,从而实现丰富的功能器件,如吸波器、调制器和偏振转换器等。目前常见的太赫兹超材料,主要由光刻工艺制备得到,存在制备工艺复杂、加工成本高的问题。此外,目前宽带吸波器常采用上下重叠式多层结构设计,其在太赫兹频段所需的多步光刻工艺更是进一步提高了加工难度及成本。因此,探索太赫兹器件的无光刻、低成本、简单高效的制备方法获得超宽带太赫兹吸波器,将有利于促进太赫兹技术的繁荣发展。 近日,西安交通大学张留洋教授课题组提出了一种偏振不敏感的超宽带太赫兹吸波器设计及其制备方法,该超宽带吸波器由叠堆于类宝塔基底表面的多层环形谐振器构成,通过相邻谐振器共振模式的重叠实现带宽的扩展,最终通过叠堆12层圆形和环形谐振器实现1.07-2.88 THz频段的近完美吸收。该研究结合微尺度3D打印技术(nanoArch S130,摩方精密)制备得到实验样件,实验测试结果验证了宽带吸收机理的准确性。该成果以“Three-Dimensional Printed Ultrabroadband Terahertz Metamaterial Absorbers”为题发表于国际期刊Physical Review Applied上,该研究工作由西安交通大学机械工程学院博士生沈忠磊与硕士生李胜男共同合作完成。图1 具有面外形态的太赫兹吸波器结构示意图图2 太赫兹超宽带吸收谱 通过结合微尺度3D打印技术,超宽带太赫兹吸波器可由简单的三步工艺制备得到。其中,周期性阵列的三维类宝塔结构采用面投影微立体光刻3D打印技术(nanoArch S130,摩方精密)加工得到。实验结果表明:得益于高精度的微尺度3D打印技术,测试所得的宽带吸收谱谐振频率和吸收幅值均与数值模拟结果较为吻合。图3 太赫兹超宽带吸波器实验验证(其中单元周期Px=Py=185μm,顶层圆形谐振器半径r12=10μm, 叠堆环形谐振器宽度w=6μm,叠堆层厚▲t=10μm) 此外,文章进一步证明了该制备方法之于常见太赫兹窄带吸波器制备的适用性。实验结果表明:两种太赫兹窄带吸波器的吸收谱测试结果与数值模拟结果和理论结果均较为吻合,表明基于微尺度3D打印技术的制备方法同样可实现对常见太赫兹窄带吸波器的高质量制备。图4 太赫兹窄带吸波器实验验证原文链接:https://journals.aps.org/prapplied/abstract/10.1103/PhysRevApplied.16.014066
  • 硅基近红外光电转换取得突破
    p  近日,中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所陈沁课题组联合东南大学的王琦龙教授紧密合作,在低成本高效硅基热电子红外光电探测器方面取得了系列进展。他们首先提出了Au纳米颗粒修饰Si金字塔结构的方案,实验证明他们制备的这些器件的性能与那些精心设计、成本高昂的Si基近红外光电探测器性能相当,有望应用在大规模热光伏电池和低成本红外检测中。相关研究成果发表在近期的Nanotechnology期刊上。/pp  据悉,科研团队所采用的工艺十分简单:通过使用标准的各向异性化学湿蚀刻法来实现Si基金字塔的构建 然后在其表面溅射一层Au薄膜 接着通过快速热退火法形成修饰的金纳米颗粒 随后在金字塔那面通过磁控溅射沉积ITO薄膜,在另一面通过热蒸发沉积铝膜作为背电极 最后,样品通过铟锡焊接到芯片载体上,就完成了探测器的制作。/pp  他们发现金字塔表面增强了入射光子与Au纳米颗粒之间的耦合效应,因为这种金字塔表面减少了背反射光并使得光子在Au纳米颗粒内部多次反射,增加了入射光走的距离,而且Au纳米粒子的引入还使得器件的局部电磁场产生了增强,从而使光子可以被显著吸收,提高了光电转换量子效率。/pp  科研团队进一步采用了Au纳米颗粒—介质—金反射镜的结构,利用无序金属纳米颗粒的宽带高光学吸收和Au/TiO2/Si组成的全向肖特基结,在光学与电学两个方面同时入手提高光电转换的内外量子效率。这种密集的随机热点分布大大提升了光吸收与热电子发射的效率,光电响应度是目前最高结果之一,硅光电响应截止波长扩展到近2um,展示了有效的近红外硅基光电应用。/pp/p
  • 上海交大何祖源、樊昕昱教授团队在宽带高分辨率光谱测量方面取得最新进展
    近日,上海交通大学电子信息与电气工程学院电子工程系何祖源、樊昕昱教授团队提出将电光梳与回音壁散斑图案相结合的方案,实现了宽带高分辨率光谱测量。相关成果以“Whispering-gallery-mode barcode-based broadband sub-femtometer-resolution spectroscopy with an electro-optic frequency comb”为题发表在《Advanced Photonics》(先进光子学)上,该工作得到国家自然科学基金等项目资助。光谱学在分子和原子结构研究中扮演着关键角色,在传感、环境研究、医学诊断等领域发挥着重要作用。光谱仪和光频梳技术都是进行光谱测量的常用方案。然而,受制于现有光谱仪和光频梳技术的实现机制,宽带亚飞米分辨率光谱测量的实现仍面临巨大挑战。结合电光梳和WGM散斑的光谱测量技术的原理示意图本文提出将散斑图案与电光梳相结合的宽带高分辨率光谱测量方案。通过调谐探测激光产生的超精细电光梳谱线记录样品的谱图,使分辨率达到亚飞米级。基于回音壁模式(Whispering-gallery-mode, WGM)的散斑图案(或称“WGM条形码”)对探测激光和超稳激光的频率实现了精准连接,将测量带宽扩大至电光梳带宽的上千倍。该方法利用光纤激光器展示了0.8fm的高分辨率,利用可调谐的外腔激光器展示了80nm的宽带,并实现了超高Q值谐振腔和气体分子吸收的光谱测量。
  • 镀膜片基底背面反射的影响——低反射率样品表征
    当光线照射到两种介质的分界面上时,一部分光线改变了传播方向返回原来的媒介中继续传播,这种现象称为光的反射。在自然界中,光的反射存在着镜面反射、漫反射和逆反射三种现象。光的反射示意图镜面反射是在光线入射到一个非常光滑或有光泽的表面上时发生的。光线在物体表面反射的角度和入射的角度,度数相同但方向相反。如果物体的表面和光源成精确的直角,那么反射光线会完整地反射回光源方向。光的漫反射是一种最常见的反射形式。漫反射发生在光线入射到任何粗糙表面上, 由于各点的法线方向不一致,造成反射光线无规则地向不同的方向反射。只有很少一部分光线可以被反射回光源方向,所以漫反射材料只能给人眼提供很少的可视性。逆反射(背面反射)是指反射光线从靠近入射光线的反方向,向光源返回的反射。当入射光线在较大范围内变化时,仍能保持这一特性。当石英片上镀膜后,石英片的逆反射会对镜面反射的结果有明显的影响。本文采用日立的UH4150紫外可见近红外分光光度计、5°绝对反射附件和60mm积分球测试分析逆反射的影响。 下面是2种不同工艺需求的测试数据图:左图为同一批次的2个镀膜样品,变量为基底是否进行了涂黑处理。通过数据可以明显的发现:涂黑处理后的反射率明显降低,在1370nm附近的反射率约为0.3%,这是因为涂黑处理使得基底的背面反射(逆反射)尽可能地消除。 右图为另一种工艺的产品,直接对样品进行测试,不需要额外的处理,可以得到1300 ~ 1600 nm范围内反射率低于0.2%的效果,符合产品的预期。一般遇到测试反射率低于0.5%的指标需求时,建议使用标准片测试。×总结根据测试的目的需求,基底是否处理对实际的测试结果有很大影响。样品的反射率测试,需要考虑背面反射的影响。日立的紫外可见近红外分光光度计UH4150结合镜面反射附件,可以准确的表征低反射率的样品性能。——the end——公司介绍:日立科学仪器(北京)有限公司是世界500强日立集团旗下日立高新技术有限公司在北京设立的全资子公司。本公司秉承日立集团的使命、价值观和愿景,始终追寻“简化客户的高科技工艺”的企业理念,通过与客户的协同创新,积极为教育、科研、工业等领域的客户需求提供专业和优质的解决方案。 我们的主要产品包括:各类电子显微镜、原子力显微镜等表面科学仪器和前处理设备,以及各类色谱、光谱、电化学等分析仪器。为了更好地服务于中国广大的日立客户,公司目前在北京、上海、广州、西安、成都、武汉、沈阳等十几个主要城市设立有分公司、办事处或联络处等分支机构,直接为客户提供快速便捷的、专业优质的各类相关技术咨询、应用支持和售后技术服务,从而协助我们的客户实现其目标,共创美好未来。
  • 牛津仪器发布宽带多核台式核磁共振谱仪X-Pulse新品
    p style="text-align:center "img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201911/pic/8c9c2c18-690f-4b3c-b935-dc07a2f992b4.jpg!w400x400.jpg" alt="牛津仪器宽带多核台式核磁共振谱仪X-Pulse"//ph5 class="color-black" style="box-sizing: border-box font-family: " oxford="" font-weight:="" line-height:="" margin:="" 0px="" font-size:="" white-space:="" background-color:=""span style="font-family: arial, helvetica, sans-serif font-size: 16px "strongX-Pulse /strong提升了台式核磁共振波谱技术的灵活性。X-Pulse融汇了真正的宽频X-核能力、流动化学、反应监测、变温特性,同时具有高分辨率;利用X-Pulse,在您实验室的工作台上就可以完成各种实验。/span/h5h5 class="color-black" style="box-sizing: border-box font-family: " oxford="" font-weight:="" line-height:="" margin:="" 0px="" font-size:="" white-space:="" background-color:=""span style="font-family: arial, helvetica, sans-serif font-size: 16px "strongX-Pulse/strong采用60MHz永磁体,均匀性优异,热稳定性高,在实验室中安放方便,无需液体制冷剂。X-Pulse既能使用标准的5mm核磁管,也可搭配我们易用的流通池使用。/span/h5h5 class="color-black" style="box-sizing: border-box font-family: " oxford="" font-weight:="" line-height:="" margin:="" 0px="" font-size:="" white-space:="" background-color:=""span style="font-family: arial, helvetica, sans-serif font-size: 16px "系统由我们的新改进版SpinFlow数据采集软件控制,常规实验更为方便;高端用户使用起来,也更为灵活。/span/h5h5 class="color-black" style="box-sizing: border-box font-family: " oxford="" font-weight:="" line-height:="" margin:="" 0px="" font-size:="" white-space:="" background-color:=""span style="font-family: arial, helvetica, sans-serif font-size: 16px "标配中就包含的脉冲场梯度和定制射频脉冲可用于相干选择、选择性激励、水与溶剂抑制。/span/h5pbr//pp创新点:/pp1.X-原子核:真正的多核的能力X-Pulse 是一台提供真正多核能力的台式核磁共振系统。该系统无需改变NMR探头便可轻松调整任何核从 29Si 到 31P 。这意味着用户可以在一个设备上选择他们想要的原子核。2.变温流动化学独特的流动池和变温探头,可在20° C到60° C之间连续监测动态化学反应,帮助用户详细了解反应过程和动力学。3.高分辨率新一代匀场技术可获得半峰宽低于0.35Hz和0.55%高度处峰宽10Hz的谱线形状,使其更容易分离重叠的峰和识别更低的化合物浓度。高稳定性经典的磁体设计和高热容量的磁体使 X-Pulse 无论是静态还是流动的样品温度变化都不敏感,从而消除了样品温度假峰。/ppa href="https://www.instrument.com.cn/netshow/C368934.htm" style="font-size:22px text-decoration: underline " target="_blank"strong牛津仪器宽带多核台式核磁共振谱仪X-Pulse/strong/a/p
  • 杭高院物光学院邵建达教授工作室在微型计算光谱传感/成像领域取得新进展
    国科大杭州高等研究院物理与光电工程学院邵建达教授工作室和浙江大学光电学院沈伟东教授课题组联合提出一种基于全介质紧凑薄膜结构的计算微型光谱仪。相关成果以“Deep Learning-Based Miniaturized All-Dielectric Ultracompact Film Spectrometer”为题发表于中科院一区期刊ACS Photonics 。近年来,随着光谱分析的应用领域逐步扩大,对光谱仪较小物理尺寸、较低成本需求优先于高性能,光谱仪向微型化、集成化和低成本等方面高速发展。计算重构型微型光谱仪常依靠具有宽带光谱响应的阵列滤光片及探测器实现光谱编码,依靠压缩感知、深度学习等算法实现光谱重构。本研究中,阵列滤光片采用紧凑薄膜结构,通过改变单一介质膜层厚度,实现特异性高的宽带光谱响应。单点光谱重构仅需16个区块,数量在同类方案中数量最少,尺寸为毫米级的阵列滤光片(单个区块约2mm×3mm)采用电子束蒸发的方法进行制备。光谱重构网络基于深度学习,输入神经元数量对应区块数,输出神经元数量数量对应光谱通道数,含有若干隐层,各层神经元以全连接的方式连接,可实现高速、高精度(重构精度MSE10-3)光谱重构。应用于光谱成像时,得益于神经网络并行计算优势,光谱成像所耗时间不与图像空间分辨率成正比,相比于基于压缩感知的光谱重构算法,速度大幅提升(对15万像素图像的光谱成像时间只需0.6s)。图1 (a) 基于简单薄膜结构的微型光谱仪外观;(b) 基于简单薄膜结构的阵列滤光片结构示意图;(c) 基于深度学习的光谱重构算法。所提出的微型光谱仪可实现对可见光波段(400-700nm)样品绝对透射率/反射率的高精度重构,亦可在相同波段实现约2nm的单峰光谱分辨率和5nm的双峰光谱分辨率。此外,本研究还对标准色卡进行了光谱成像,各区域的重构光谱与参考光谱高度吻合。图2 (a,b) 本研究提出的微型光谱仪可实现 (a) 约2nm的单峰光谱分辨率及 (b) 约5nm的双峰光谱分辨率;(c) 对滤光片的绝对透过率的光谱重构结果;(d) 对标准比色卡的光谱成像结果及蓝、绿、红三个色块的光谱重构结果。论文第一作者为国科大杭高院2022级博士研究生温俊仁,通讯作者为国科大杭高院杨陈楹副研究员和浙江大学沈伟东教授,共同作者包括杭高院双聘教授邵宇川研究员,浙江大学章岳光副教授,杭高院硕士生郝凌云和高程等。目前,该团队积极探索科研成果转化,采用了微米级紫外光刻技术与纳米级薄膜沉积技术相结合的方法实现了百微米级滤光片阵列以及毫米级(约2×2mm)微型光谱传感模组。未来,该团队还将进一步研发超光谱成像模组及全光谱成像芯片,有望在于天文探测、人工智能、消费电子等诸多领域发挥重要作用。
  • 日立应用|平板液晶电视中反射膜的光学评估
    液晶电视给我们的生活增添了更多光彩,几乎每家每户都在使用液晶电视获取信息或娱乐消遣。其中增亮膜、反射膜、扩散膜、导光板等是液晶模组的重要组成部分。分光光度计是检查光学组件特性的有利工具,今天我们重点介绍平板液晶电视中反射膜的评估。液晶模组内部结构液晶模组中的反射膜通过将光从导光板反射到正面来提高亮度。因此要求反射膜具有极好的反射特性,从而对光进行有效的利用。反射膜使用日立紫外-可见-近红外分光光度计UH4150搭配5°绝对反射附件、积分球检测器评估液晶显示屏中的反射膜。实验测量了三种反射膜的反射率,结果如图4所示。5°绝对反射附件 三种反射膜的反射光谱各反射膜的光反射率光源:D65视角:2°结果表明,样品C有最高的反射率,可以更好的利用光,增加显示的亮度和效果。日立紫外-可见-近红外分光光度计UH4150具有优异的平行光束特征,确保反射率和透过率的准确测定,大型样品仓和多种多样的附件,满足液晶模组中不同组件的评估。 UH4150公司介绍:日立科学仪器(北京)有限公司是世界500强日立集团旗下日立高新技术有限公司在北京设立的全资子公司。本公司秉承日立集团的使命、价值观和愿景,始终追寻“简化客户的高科技工艺”的企业理念,通过与客户的协同创新,积极为教育、科研、工业等领域的客户需求提供专业和优质的解决方案。 我们的主要产品包括:各类电子显微镜、原子力显微镜等表面科学仪器和前处理设备,以及各类色谱、光谱、电化学等分析仪器。为了更好地服务于中国广大的日立客户,公司目前在北京、上海、广州、西安、成都、武汉、沈阳等十几个主要城市设立有分公司、办事处或联络处等分支机构,直接为客户提供快速便捷的、专业优质的各类相关技术咨询、应用支持和售后技术服务,从而协助我们的客户实现其目标,共创美好未来。
  • 国产宽带测量迈入新纪元:2023年度中国市场示波器新品盘点
    示波器是电子信息工业的基础设备,是应用最广泛的通用电子测试测量仪器,被誉为电子工程师的眼睛,其主要通过采集电路中的电信号并存储和显示,并对信号进行测量、分析和处理,主要用于研发领域。随着电子工业的持续高速发展,信息技术产品的智能化、网络化以及集成化程度逐步提高以及半导体、5G、人工智能、新能源、航天航空及国防等行业驱动,示波器具有良好的发展前景。Mordor Intelligence的数据显示,数字示波器在2023的市场规模达到23.18 亿美元,在2028年将达到28.7586亿美元,在预测期内的复合年增长率为 4.41%。为了满足逐渐丰富的应用场景和市场需求,电子测试测量仪器企业也在不断推陈出新,大部分主流品牌皆有输出,国产方面也多点开花。以下对2023年示波器新品进行盘点,数据主要统计自公开信息,如有遗漏、错误欢迎在留言区补充或邮件(kangpc @instrument.com.cn )。2023年示波器发布新品速览品牌产品型号国家是德科技UXR-B美国泰克科技4系列B MSO美国罗德与施瓦茨R&S MXO 5德国LecoryWaveMaster 8000HD美国电科思仪4457系列(4457E/F/G/K/EH/FH/GH/KH)中国普源精电DS80000系列中国鼎阳科技SDS800X HD、SDS3000X HD、SDS1000X HD中国鼎阳科技SDS6000 Pro中国玖锦科技PDS6184A中国优利德MSO8000X中国优利德UPO1000X中国麦科信MHO5004中国麦科信STO2002中国麦科信MDO5004中国致远电子ZUS6000中国是徳科技|UXR-B百万级超大带宽高端新品示波器2023年9月,是德科技发布了一款百万级超大带宽高端新品示波器UXR-B。是德科技UXR-B高端示波器整个硬件做了全面加速升级,CPU处理器从I5-3550S升级为I7-9700E,具有8核8线程,内存由16G升级为64G,保证强大的计算处理能力。除此之外,新的UXR-B型号示波器的标配更加强大,标配支持500Mpts内存,波形捕获提升了2.5倍,160MHz带宽的数字下变频(DDC)和实时频谱分析仪(RTSA)加速了无线信号的分析和调试。对于高速数字设计,InfiniiSim Basic去嵌入、PrecisionCable和PrecisionProbe现在是标准配置,这样的组合有助于对信道损耗进行补偿或去嵌。泰克科技|4系列B混合信号示波器(MSO)泰克公司与福迪威公司联合推出4系列B混合信号示波器(MSO),该产品具有多项高级分析功能以及贯穿所有信道的前沿测量性能,可为用户带来丝滑高效的使用体验。泰克4系列B MSO专门面向需要高精度、多功能性和易用性的嵌入式产品设计人员,其带宽为200MHz至1.5GHz,硬件12位ADC, 在高分辨率模式下实现16位的垂直分辨率和6.25GS/s的实时采样率,并可实现与先前版本的4系列同样出色的信号保真度。此外,该产品不仅继承了前代产品备受好评的触控式用户界面,而且对处理器系统进行了升级,用户界面的响应速度可达先前产品的两倍以上,且高级分析功能的运行速度也有明显提升。4系列B MSO具有多达6个输入信道,非常适合执行三相功率分析,且其特有的频谱视图功能可以实现与时域波形同步的多通道频谱分析。除了提升前面板的操作效率之外,经过升级的处理器系统还能够提升远程操作的速度。用户可以使用简单的Web浏览器、专用的TekScope PC端软件或通过自定义编程支持各种通讯接口远程访问和控制4系列B MSO。此外,4系列B MSO还配备了13.3英寸 (1920x1080)高清显示屏,并通过业界领先的光学粘合技术来实现更大的屏幕对比度和可视角度。罗德与施瓦茨|R&S MXO 5示波器罗德与施瓦茨推出了全新的 R&S MXO 5 示波器,提供四通道和八通道模式。这些示波器基于罗德与施瓦茨开发的下一代 MXO-EP 处理 ASIC 技术,该技术在 R&S MXO 4 中首次引入,新的八通道 R&S MXO 5 示波器将测量性能提升到了新的水平。R&S MXO 5是全球首款每秒采集450万次和每秒生成1800万个波形的八通道示波器,极致精确度能够捕获复杂信号细节和偶发事件,在时域和频域中显示了信号活动的更多细节。R&S MXO 5在八个通道上都具有数字触发功能,能够准确隔离小信号异常。45000次每秒快速傅立叶变换(FFT)的性能突破为工程师们提供了极致的频谱信号查看体验,非常适合EMI和谐波测试。R&S MXO 5以超高的采集速度捕获高达99%的实时信号活动,加速信号分析,并能够检测到大多数示波器无法捕捉的罕见随机事件。R&S MXO 5示波器在所有八个通道上提供了标准的500M存储深度,是同类产品存储深度的两倍,可用于大规模数据捕获。R&S MXO 5作为首款具备数字触发功能的八通道示波器,树立了信号分析的新标准。数字触发功能的灵敏度达到0.0001格。R&S MXO 5在时域和频域都表现出色。它是首款每秒进行45000个快速傅立叶变换(FFT)的示波器。并可同时显示四个不同频谱,实现该产品独有的射频信号可见性,这些高级功能均是该产品的标准配置。Lecory|WaveMaster 8000HD高带宽示波器2023年9月5日,纽约Chestnut Ridge,特励达力科今天宣布推出全新 WaveMaster 8000HD 高带宽、高精度示波器 (HDO) 平台,该平台的示波器具有 20 至 65 GHz 带宽、12 位分辨率、高达 320 GS/s 的采样率和业界领先的 8 Gpts存储深度。新型 WaveMaster 8000HD 保留了和其前代一样的无与伦比的验证和调试功能,同时增加了新的 SDA Expert 串行数据分析软件,用于测试下一代串行数据技术。新型 WaveMaster 8000HD 系列高带宽示波器为下一代串行数据技术(如 PCIe 6.0 和 USB4 v2.0)提供卓越的信号表征性能。与前代示波器相比,WaveMaster 8000HD的带宽和采样率增加了一倍多,与竞争对手的示波器相比,提供四倍以上的分辨率和存储深度 — 全带宽和采样率下业界领先的 12 位分辨率以及高达 8 Gpts 的存储深度。12 位分辨率分别为 USB4 v2.0 和 PCIe 6.0 中使用的多级 PAM3 和 PAM4 信号提供了出色的信号表征,8 Gpts 显著增强了链路协商问题的调试。电科思仪|天玑星系列数字示波器产品2023年6月28日,思仪科技在2023MWC上海世界移动通信大会发布并展示了4457系列数字示波器产品,该系列示波器共8个产品型号4457E/F/G/K/EH/FH/GH/KH,模拟通道数4、8个,带宽1GHz、2GHz、3GHz、4GHz,采样率10GSa/s、20GSa/s,垂直分辨率8bit、12bit。4457系列是思仪科技全新推出的天玑星系列数字示波器产品,在通信、工业电子和教育等领域有着广泛的应用。4457系列数字示波器采用AnyAcquire技术,提供更多仪器功能、更快的测试速度和更智能化的操控,为用户提供全新示波器使用体验。具体来讲,一、更多:多合一仪器,为用户提供更多测试功能示波器、实时频谱分析、逻辑分析仪、函数发生器、总线分析仪及数字电压表功能多合一,多达8个模拟通道、16个数字通道,可实现多通道模数混合信号的测试与分析。4457系列示波器还支持眼图与抖动分析、波特图分析、极限模板测试、功率测量与分析、波形录制与回放、参数测量直方图统计等功能,帮助用户轻松应对各种挑战。二、更快:全硬件加速处理技术,为用户提供更快的测试速度4457系列示波器高达120万个波形/秒的波形捕获率,20GSa/s的采样率,极大提高了毛刺和偶发事件捕获的概率;示波器标配了分段存储器采集,即使示波器工作在深度存储模式下,依然可以保持快速的响应速度和屏幕更新率;示波器支持硬件的参数测量功能,支持同时显示20个测量项目的统计分析,全部采集模式下支持全内存自动测量,可提供更加精确的测量结果;示波器采用叠加FFT和数字荧光显示技术使得FFT刷新频率大于40万次/秒,增强查看偶发事件的能力。三、更智能:智能化操控,为用户提供全新使用体验4457系列示波器采用智能化、可视化的区域触发技术,只需在屏幕上观察感兴趣的信号并在它周围绘制一个区域,可以迅速简便地识别想要的触发事件。支持多窗口自由设定,用户可根据观察需求自由对打开的波形窗口进行各种操作。支持快捷栏自由定义,用户可根据自己的使用习惯,将常用功能按键设定为功能区快捷按键。支持智能语音交互,用户可以通过语音向示波器发出指令,从而完成用户想要的操作,解放双手,操作更智能、更便捷。普源精电|DS80000系列数字示波器2023年9月18日,普源精电科技股份有限公司(简称:普源精电)发布公告称,普源精电科技股份有限公司首次正式公开发布13GHz带宽的DS80000系列数字示波器。DS80000系列数字示波器是RIGOL自主研发的第八代数字示波器,基于StationMAX II代平台,实现了最高40GSa/s实时采样率、13GHz模拟带宽。基于RIGOL新一代UltraVision III平台,实现最大4Gpts的存储深度,让DS80000拥有高保真的信号采集能力,并可以在高采样率下采集更长时间的波形。普源精电称,该新产品通过自研核心技术平台,首次实现国产数字示波器产品带宽达到13GHz,具备国内行业技术领先优势和核心技术壁垒。本次推出的DS80000主要对标国外同类产品,包括但不限于是德科技(KEYSIGHT)Infiniium UXR 系列、Infiniium V 系列、 Infiniium S 系列,泰克科技(Tektronix)MSO/DPO70000DX 系列、6 Series B MSO 系列,特励达力科(Teledyne LeCroy)WavePro HD 系列、WaveMaster 8Zi-B 系 列,罗德与施瓦茨(Rohde & Schwarz)R&S®RTP 系列等。鼎阳科技|SDS800X HD、SDS3000X HD及新款SDS1000X HD高分辨率示波器2023年9月26日,鼎阳科技发布两款高分辨率示波器,分别是SDS3000X HD以及新款SDS1000X HD。SDS3000X HD/SDS1000X HD系列示波器全系采用12-bit高分辨率ADC,量化等级高达4096级,高分辨率模式下(ERES)可将分辨率提升至16-bit,配合垂直&水平放大功能,助力用户更完整清晰地观测到波形的细节。比如在LLC半桥式变换电路分析时,需要通过波形观察上管和下管的驱动信号之间存在的死区时间,12-bit示波器还原后的波形细节远比8-bit示波器清晰。SDS1000X HD的ENOB高达8.4-bit,而SDS3000X HD高达8.3~8.6-bit,时间误差、频率杂散都比较小,同时宽带噪声也比较低,能够有效保证测量的精准度。SDS3000X HD最高带宽为1GHz,分辨率为12-bit,高分辨率模式下可达16-bit,波形细节清晰可见,能够观测到微小波形变化;采样率为4GSa/s,存储深度为400Mpts/ch,即使长时间捕获波形,依然不会出现波形失真;Sequence模式下能够实现每秒采集89万个波形,能够在短时间内依据大量波形得出可靠的统计结果,帮助用户快速查找罕见的异常信号,SDS3000X HD不仅支持搜索导航、频率计、万用表、历史模式、区域触发等基本功能,还支持电源分析、波特图、模板测试、混合信号分析等重要功能,能广泛应用在第三代半导体,高精度电源等测试领域。此外,为进一步满足广大用户的需求与期待,鼎阳科技将SDS1000X HD进行了软件与硬件上的升级,SDS1000X HD在保持高性价比与具有诸多基本功能的基础上,诸多指标有一定程度上的提升:采样率将由1GSa/s提升至2GSa/s,波形还原更真实,参数测量更精准;Sequence模式下,波形捕获率最高由400,000wfm/s提升至500,000wfm/s,触发事件的间隔由2.5μs提升至2μs,异常事件捕获概率更高,除此之外,还有部分功能也进行了升级。12月12日,鼎阳科技正式公开发布SDS800X HD高分辨率数字示波器。SDS800X HD系列产品垂直分辨率为12-bit,最高带宽为200 MHz,具有极佳的信号检测和显示能力,波形细节清晰可见,能够观测到微小波形变化,有助于分析信号的细节与特征;采样率为2 GSa/s,存储深度可达100 Mpts/ch,适用于观察分析长时间信号、低频信号和瞬态现象。该系列产品具有丰富的触发功能,包括边沿、斜率、延迟、建立/保持时间和多种总线触发(串行触发),支持嵌入式行业的I2C、SPI、UART协议及汽车行业的CAN、LIN协议的触发与解码,能够准确捕获并直观地将总线的协议信息以表格形式或其他方式显示,稳定进行测试。玖锦科技|PDS6184A高速数字实时示波器2023年12月28日,玖锦科技《信号的复现艺术》主题发布会正式面向全网推出了“守仁”系列产品:18GHz高速数字实时示波器PDS6184A。该款国产自研的高速数字实时示波器产品攻克了三大国际技术壁垒指标:18GHz带宽,80GSa/s采样率和640Gbps高速实时处理算法。玖锦科技PDS6184A高速数字实时示波器是基于超高速数据捕获、校正与实时处理技术及专研ADC技术研制出的一款采样率高达80GSa/s、输入带宽高达18GHz的高速数字实时示波器。PDS6184A具备640Gbps超高速数据实时分析处理能力、高达2Gpts/ch的最大存储深度以及500000wfms/s的最高波形捕获率,能更大程度保留信号的完整性,迎接更复杂的测试及设计挑战,可广泛应用于5G/6G通信与光通信、卫星导航与通信及汽车电子自动驾驶等多领域。优利德|UPO1000X数字荧光示波器、MSO8000X高带宽混合信号示波器UPO1000X系列数字荧光示波器配置100MHz/200MHz 两个级别带宽,实时采样率高达2GSa/s,全系列标配4通道,标配最大存储深度56Mpts,Fast Acquire模式下最高可达500,000wfms/s,硬件实时波形不间断录制和波形分析功能最大达12万幅波形。支持独立的DVM模块,7位数字频率计和拥有丰富的触发功能,可选配全内存硬件实时解码,让协议分析不再成为难题。2023年5月11日,优利德举办了测试仪器新产品发布会,发布了MSO8000X系列高带宽混合信号示波器,分别有带宽4GHz和2.5GHz版本,最高实时采样率20GSa/s。麦科信|MHO5004、MDO5004、STO2002平板示波器麦科信于2023年10月30日推出12位高分辨率示波器MHO系列,并同时发布第五代平板示波器MDO系列。此外,STO2002是一款全新推出的双通道示波器,并且搭配了200MHz的带宽、1GSa/s的采样率、70Mpts的存储深度;支持串行总线触发和解码;具备丰富的测量项和高级数学运算功能;结合 Micsig 独有的触控算法专利技术,以及人性化的操作系统界面,将使用体验做到了极致。在专业级便携平板示波器领域,满足了工程师更多样化的产品需求。致远电子|ZUS6000高精度智能应用型示波器ZUS6000是致远仪器最新推出的采用12bit高速ADC,实现最高1GHz测量带宽,并配备了电源分析、智能硬件时序分析、汽车总线分析、以太网眼图、X-Key等功能的高精度智能应用型示波器。ZUS6000高精度智能应用型示波器可以支持多通道的波形运算功能,提高工程师波形和数据分析效率,并能实现多通道波形的分屏显示,查看更多波形的同时保障细节显示与测量准确。近年来,国产示波器性能进步发展飞快。整体来看,2023年,国产示波器产品买入了新的里程碑。普源精电首先推出了13GHz带宽的示波器,之后玖锦科技又推出18GHz带宽的示波器。而此前,国产示波器最高带宽仅4GHz。国产示波器正逐渐向高端迈进,这主要得益于企业在ADC等核心芯片的不断研发而开花结果。
  • 光谱光度辐射度计Photo Research技术原理及介绍
    ‍‍简介美国Photo Researc公司成立于1941年,现地点位于纽约州罗彻斯特的North Syracuse(北锡拉丘兹),是一家专门致力于光度、色度、辐射度测量仪器研究、生产的世界著名公司;同时,PR也是全球第一家生产光谱式亮度计的厂家,在全球拥有13个自己独立的光学校准实验室,溯源NIST(美国国家计量局)标定标准;Aunion昊量光电作为Photo Research公司在国内的一级代理商,总部位于上海,在西安、成都分别建立办事处,为国内客户提供快捷的本地校准及维修服务。‍‍一、理论介绍PR-6系列和PR-7系列是真正意义上的的光谱辐射度计;通过物镜或者其他光学配件有效收集光学辐射信号(光信号)。光信号通过反射镜上的孔径光阑(洞)到达衍射光栅(参见图2)。光栅把光按波长展开,就像棱镜把白色的光转换成彩虹一样。一个宽带光,例如太阳光是由很多不同波长的光组成的。当衍射光栅暴露在这种类型的光下,它将从多角度反射光线产生了一个分散的光谱就像一道彩虹。类似地,如果光栅接触了一种单一光源,比如一束激光,那么只有激光的特定波长的光会被反射。图1 PR-788光谱测量范围对于PR-655、PR-670和PR-788测量波长范围是380纳米(nm)(紫色)到780nm(深红色)-即电磁波的可见光谱段 (参见图1)。衍射光谱到达CCD探测器;PR-655探测器是128位的线性探测器,PR-670探测器是256位的线性探测器,PR-788探测器是512位的线性探测器;每个探测器单元均代表不同的颜色。测量时,辐射光通过自适应灵敏度算法在某个特定的时间内被取样测量,自动适配感应器自动会根据光信号的强弱确定合适曝光时间。光测量后,探测器用同样积分时间再次测量探测器的暗电流,然后从每个探测器单元的光测量结果中减去暗电流的光信号贡献值。图2 简化方框图图3 PR系列亮度计光路图仪器出厂时已通过相应的校准系数校准光谱数据,校正系数包括波长精确度修正、光谱分布修正和光度修正。波长校准采用的是具有特征光谱的氦灯光源,线光源提供了已知的光谱发射谱线通过光栅分光后投射到多探测器上再通过软件显示;用于波长校准的氦谱线包括388.6nm,447.1 nm,471.3 nm,587.6 nm,667.8 nm,706.5 nm和728.13 nm;接下来,可用光谱校准系数校准这些数据;这些校准系数确保被测目标光谱能量分布(SPD)和由此计算出的数据比如CIE色度值经过了正确的溯源。最后,校准系数(光度系数)确保光度测试结果的准确性,如亮度或照度。重要参数计算公式校正后的光谱数据用来计算光度和色度值包括亮度,CIE 1931 x,y和1976 u’, v’的色坐标、相关色温(CCT)和主波长。以下是一些基本的光度色度参数计算公式:图4 CIE 1931 三刺激值函数CIE XYZ三刺激值和光度:X,Y,和Z是CIE的三刺激值。X表示红色,Y是绿色,Z是蓝色。Y还可表示光度值-在使用标准的MS-75镜头时,Y给出的是cd /m²-国际亮度单位。footlamberts(英制亮度单位)可以用cd / m²值乘0.2919 得到fc 单位数值。683是可将流明转换成瓦的一个常数。对于亮场环境(白天),555nm处683流明等同于1瓦的功率。S(l) = 校正的光谱数据, 是CIE三刺激值函数曲线,D(l)是光谱增量 ,对于PR-655的增量是4nm,PR-670的增量是2nm,PR-788的增量是1nm。得出这三个三刺激值表达后,有用的色度值比如CIE 1931 x,y和1976 u,v”可以通过下面的公式计算:CIE 1931 x, y:CIE 1976 u’, v’:光谱式亮度计:速度相对缓慢但是精度高,适合LCD\OLED\Mini-LED\Micro-LED\硅基OLED研发等领域。滤片式亮度计:速度快,但是精度差,适合背光模组,产线上Flicker以及响应时间测试。二、 Spectroradiometer 分光辐射度计SpectraScan分光辐射度计是测量辐射度的高端专业仪器. 具有专利的Pritchard观景器。它们易于使用,高准确性和可靠性,使这一系列产品最广泛应用于光的量测。PR-655 :多功能,极高性价比,配件丰富PR-670 :自动多光阑和自动快门,微区测量PR-680(L) :集光谱式与滤光片式一体,一机多用PR-740/745: 制冷型线阵探测器,超低亮度与超短时间内(最短200ms)测量,同类产品中最敏感。PR-745光谱范围扩展到380-1080nm。PR-788宽动态范围的分光亮度计:是基于超灵敏PR74X系列光谱测试系统而研制的,当前应用于R&D、QC、QA以及工厂生产。具有业界领先的1000000:1 的动态范围 ,它提供了在不必增加外部衰减或改变几何光学(例如测量场地尺寸)的情况下,即可从黑到全白测试设备输出的解决方案,这是在市场上可得到的最高速度。特别地,针对OLED屏幕测试 PR-788满足暗态和超高灵敏度的需求!较宽的动态范围:测试显示/背光不需要添加外部过滤或者改变光阑;可变的光谱带宽:光谱分辨率能够满足LCD甚至激光投影仪的显示技术;极暗态下亮度测试:0.000,034-6,850,000 cd/㎡高速循环时间:测试/校准显示产品的总时间急剧减少;USB、RS232,蓝牙接口:易于集成到自动测试环境(ATE)PR-730/740/735/745技术规格:PR-788 技术规格:光阑&对应光斑尺寸:PR-788亮度范围:三、应用光谱式亮度计在面板显示和照明行业有着广泛的应用。重要可以测量亮度,色度,亮度均匀性,色度均匀性,Gamma值以及某些光学材料的透过率和反射率等应用。还可以作为标准,来校正机差,以及校正成像亮度计参数。不仅是科研,也是工厂中亮度,色度测量解决方案的首选。
  • Mirrorcle MEMS扫描镜技术概述(1)
    Mirrorcle MEMS扫描镜技术概述(1)高速的点到点以及倾斜性能 大多数的Mirrorcle MEMS Mirror设备类型都是为点对点光束扫描而设计和优化的。稳态模拟驱动电压会产生MEMS镜像的稳态模拟转角。该设备有一个一对一的对应的驱动电压和角度:它是高度可重复的,没有检测到随时间而发生变化。这在很大程度上是由于静电驱动方法和单晶硅材料的选择。镜面运行机构开环驱动的机械倾斜位置精度在每轴上至少14位(16384点)。对于大多数设备,每个轴上的机械倾斜范围为-5°到+5°,这种倾斜分辨率在0.6毫米或10微弧度内。一系列的驱动电压对应点对点扫描的一系列角度。Mirrorcle技术公司(MTI)的设备可以在非常宽的带宽内工作,从直流(它们在恒定电压下保持位置,设备功耗几乎为零)到几千赫兹。这种快速和宽带能力允许几乎任意的波形,如矢量图形,匀速线扫描,点对点步进扫描,目标跟踪等。图1 Mirrorcle专利的无框架两轴扫描驱动器的示例示意图(该驱动器基于四个静电双向旋转器,通过特殊的硅支架连接)多个授予的专利描述了专有的无平衡环设计方法和独特的专有多级光束制造方法,用于从单晶硅单片创建一个完整的驱动器。无框架设计的一个主要优点是能够在两个轴上以相同的速度控制光束或图像。一个具有0.8 mm直径镜的典型装置的倾斜角从-6°到+6°,非谐振光束转向超过1000 rad/s,在两个轴上的第yi谐振频率都在3.6 kHz以上。当开环驱动专用输入整形滤波器时,100 us的大角度阶跃响应稳定时间已经在直径高达0.8 mm的MEMS反射镜设备上得到了证明。多种扫描模式MIRRORCLE设备也可以在动态谐振模式下工作。当工作在谐振频率附近时,器件在较低的工作电压和正弦运动下给出了更多的角度。即MEMS运行机构利用单晶硅弹簧支撑MEMS镜面,并在运行过程中提供恢复力。弹簧和反射镜的惯性结合在一起形成了一个质量-弹簧系统,其质量因数(Q)相对较高,为50-100。因此,在这种模式下,近共振频率处的低驱动电压会导致大的双向旋转角,共振频率在几千赫的范围内。可以定义三种操作模式,如图2中的绿色连续波激光束转向的照片所示:a) 第one种模式为点对点模式或准静态模式。在这种情况下,两个轴都利用设备从直流到某个频率的工作带宽,不允许共振。因此,镜子可以保持直流电的位置匀速移动,或执行矢量图形等。b) 第二种模式为混合模式,其中一轴为准静态模式,另一轴为共振模式。一个典型的用例是快速运行一个轴(例如,几千赫兹)来创建水平线,并运行另一个具有锯齿状波形的轴来创建一个覆盖矩形显示或成像区域的光栅模式。同样,在共振时工作的轴获得其参数,开始时应在低电压和低角度情形下运行,以避免超过设备的蕞大机械角度。c) 第三种模式为共振模式。在这种情况下,两个轴都利用窄的高增益共振来获得大的偏转角和相对低的电压。运动被限制在窄带宽的正弦轨迹中,其相位滞后于外加电压。由于谐振模式可以在蕞高增益点的几个百分点以内获得,因此没有必要在准确的谐振峰值处驱动装置。由此产生的二维运动描述了圆、椭圆和各种高阶李萨如模式,并且可以以某种速率调制。当设计为点对点模式的器件在共振附近或共振处被驱动时,它们可能会超过安全工作角度。因此,在共振附近或共振处进行操作时,电压要明显降低,而且要格外小心。图2.使用Mirrorcle MEMS镜的三种例子((a)点对点扫描模式(准静态)两轴上激光在每个角度都停下,然后走到下一个角度,(b)共振扫描模式在x轴上(正弦运动光束)和准静态轴,(c)两轴共振扫描模式,为二维共振李萨如模式。所有的图像都是用连续波激光使用同一个Mirrorcle MEMS镜拍摄的)模块化设计MIRRORCLE驱动器有固定的模块化设计方法。每个运行机构都可以使用任意长度的静电转子、任意刚性连杆和任意位置的机械旋转变压器。此外,该装置由较多种镜面直径。无二维框架设计的概念示意图如图1所示。由于这种模块化,设备很容易根据特定的应用程序需求进行定制。根据硅模具的可用面积/尺寸(在一些应用中,如生物医学成像的尺寸受成像设备规格的限制),可以设计适当尺寸的驱动器,在允许的参数空间内获得蕞大的性能。由于这种设计的灵活性和广泛的应用需要波束转向,具有广泛不同的规格,MIRRORCLE提供多种类型的无框架两轴执行器设计。拥有超过20代主要的设计和制造产品,多个子代的设计调整为特定的客户或一套规格,完整的工作设计清单有超过100种设备类型。这些设备类型中的大多数在研发数量上都是可用的,为我们的客户提供了快速找到应用程序开发的蕞佳参数。设备运行速度与镜片大小的关系由于惯性增加,镜片直径较大的设备速度也相应较慢。圆形镜片的惯量与半径的四次方成正比,因此,随着反射镜尺寸的增加,速度会再次降低。这是一个非常粗略的估计,但许多其他参数影响实际性能,特别是模具尺寸和角度摆动。例如,将直径0.8mm的集成镜片与直径2.0mm的集成镜片进行比较,两者都具有相同的硅模具尺寸,并且都具有非常相似的机械端面/倾斜角(-5°到+5°)。0.8mm器件的第yi共振频率为~6kHz,而2.0mm器件的第yi共振频率为~1.3kHz。图3.两个器件的电压与角度(静态响应)和小信号(频率)响应图(上面为集成0.8mm镜的A7M8.1设备,以下为集成2.0mm镜的A7M20.1设备)蕞优的驱动器尺寸MIRRORCLE已经设计和制造了超过100种不同的设备类型。对关键性能规格有很大影响的一个非常重要的设计参数是驱动器(硅芯片)的尺寸。更大的驱动器可以提供更高的力和扭矩,以更快的速度驱动更大的镜子,但也需要更多的生产成本和更大的包装。小的驱动器适合小尺寸的镜子,因为驱动器本身也有较小的惯性。目前设计分为3种尺寸:1) 4.23mm x 4.23mm 2) 5.20mm x 5.20mm3) 7.25mm x 7.25mm重要的是查看每个特定的设计,以确定与特定应用程序的适配。一般来说,直径等于或大于3mm的镜子,应与尺寸#2或#3一起使用,以获得蕞佳性能,而直径等于或小于2.0mm的镜子应与尺寸#1或#2一起使用。关于昊量光电昊量光电 您的光电超市!昊量光电作为Mirrorcle在中国区的总代理,可给客户提供更全的产品、更低的价格、更短的货期以及优良的服务。上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外先进性与创新性的光电技术与可靠产品!与来自美国、欧洲、日本等众多知名光电产品制造商建立了紧密的合作关系。代理品牌均处于相关领域的发展前沿,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等,所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及前沿的细分市场比如为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、先进激光制造等。我们的技术支持团队可以为国内前沿科研与工业领域提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等优质服务,助力中国智造与中国创造! 为客户提供适合的产品和提供完善的服务是我们始终秉承的理念!
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