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逆反射系数测试仪

仪器信息网逆反射系数测试仪专题为您提供2024年最新逆反射系数测试仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括逆反射系数测试仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的逆反射系数测试仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合逆反射系数测试仪相关的耗材配件、试剂标物,还有逆反射系数测试仪相关的最新资讯、资料,以及逆反射系数测试仪相关的解决方案。

逆反射系数测试仪相关的耗材

  • 反射模块
    反射模块可以测量样品的反射系数。配合根据干涉现象原理设计的反射模块,LabPro Plus软件的厚度模式能测量微米级薄膜的厚度。
  • 镜面反射组件
    镜面反射组件(7201#)为FTIR红外光谱仪提供80度的镜面反射角,是理想的红外镜面反射附件.镜面反射组件功能特点镜面反射是分析透明薄膜的一种主要技术, 使用常见的透射光谱技术测量透明薄膜,透明薄膜常常发出微弱的光谱。主要应用是反射衬底上的表面镀膜,薄膜厚度测量,反射系数测量。实际应用决定入射角的选择. 30度的入射角用于测量比较常见的样品, 而且这些样品的薄膜厚度在微米量级。对于纳米厚度量级的薄膜,80度的入射角比较合理。如果待测薄膜的厚度未知, 那么比较适合选用, 它的可变角度范围为30-85度, 适合全部镜面反射的分析。这些附件都配有参考镜片,帮助用户获取背景光谱。,这些附件的设计都注意消除杂散光保证最小的能力损失。如果使用线网型偏振片,灵敏度还能进一步提高.本镜面反射组件和红外镜面反射附件仅仅提供80度的镜面反射角,. 30度和可变角度的附件可以另外购买.Specular Reflectance is a technique for analyzing transparent films which usually yield weak spectra by ordinary transmission techniques. Applications include surface coatings on reflecting substrates film thickness measurements by interference fringes and reflectivity coefficient determinations of metals. The application is the determining factor when deciding which angle of incidence should be selected. A 30 degree angle of incidence is normally chosen for more routine samples which have coating thicknesses in the micrometer range.镜面反射组件可选附件: 镜面反射附件反射组件 (PartNo. #9000 )该红外镜面反射附件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片. 镜面反射附件,镜面反射组件,镜面反射光谱仪,红外光谱镜面反射,货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统镜面反射组件组合型HATR Part No #9110 组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 红外镜面反射附件由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 红外镜面反射附件提供了一个1.6mm的样品接口,配备了专门设计的组合秘诀珠,冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.
  • 变角镜面反射附件
    变角镜面反射附件是一款适合各种镜面反射分析的变角镜面反射附件,变角镜面反射附件是分析透明薄膜的一种主要技术, 使用常见的透射光谱技术测量透明薄膜,透明薄膜常常发出微弱的光谱。变角镜面反射附件功能特点主要应用是反射衬底上的表面镀膜,薄膜厚度测量,反射系数测量。实际应用决定入射角的选择,30度的入射角用于测量比较常见的样品,而且这些样品的薄膜厚度在微米量级。对于纳米厚度量级的薄膜,80度的入射角比较合理。如果待测薄膜的厚度未知,那么比较适合选用变角镜面反射附件VEEMAXII,它的可变角度范围为30-85度,适合全部镜面反射的分析。配有自动化附件,这些自动化的附件可以协助用户同时或单独编程控制地高精度选择入射角,并配有控制软件采集数据。具有30-85度的可变角度范围, 30度和80度固定角度的附件可以一起订购。变角镜面反射附件可选项变角镜面反射附件反射组件 (PartNo. #9000 )该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统.变角镜面反射附件组合型HATR Part No #9110 组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 单反射附件提供了一个1.6mm的样品接口,配备了专门设计的组合秘诀珠,冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.
  • 医药包装物理性能测试仪PMT-05普创paratronix
    产品介绍: PMT-05 医药包装物理性能测试仪是针对医用材料物理性能测试开发的一款多功能集成仪器,可进行器身密合性检测(预灌封注射器密合性检测)、铝塑瓶盖开启力、安瓿瓶折断力、胶塞穿刺力、注射针刚性、针座结合牢度、铝箔板材拉伸以及定力值和定位移测试。扩展还可进行其他项目测试。本仪器应用于注射剂瓶和输液瓶铝盖、丁基胶塞、铝塑组合盖、聚丙烯组合盖、薄膜、复合膜、药用铝箔、PVC硬片、预灌封注射器、一次性注射器等药品包装材料,进行接桥链接力、穿刺力、滑动性、开启力、拉伸强度、热合强度、人体内导管导丝摩擦力等试验。 医药包装物理性能测试仪采用进口品牌高精度传感器,测试结果精确稳定,无极调速可满足不同实验对试验速度的要求。仪器支持多种试验模式,配合不同试验夹具可满足不同实验要求,夹具更换方便快捷。广泛应用于药检机构、药包材生产企业、制药企业、医疗器械生产企业等单位。 产品特点:● 进口微型计算机控制技术,开放式结构,友好人机界面操作,使用简单方便● 多种操作模式任意选择,增加定力值、定位移模式,操作更简单方便● 精密丝杆传动,优质不锈钢导轨及合理布局,确保仪器运行平稳● 采用进口高精度测力传感器,测量精度为 0.5 级● 采用精密微分电机驱动,传动更平稳,噪音更低,定位更准确,测试结果重复性更好● 液晶中文显示,全自动测量,具有测试数据统计处理功能● 高速微型打印机输出,打印快速,噪音低,不需更换色带,更换纸卷方便● 内置专用校准程序,便于计量、校准部门(第三方)对仪器进行校准● 高清彩色大屏幕显示曲线、文字,视觉更清晰● 可配备电脑软件,双向操作 技术参数:测量范围 5kg 25kg 50kg (任选一个或多个)测量单位 N kg ib测量精度 0.5 级试验行程 1000mm测试模式 开启力测试、折断力测试、穿刺力测试、拉压力测试、针管刚性测试、定力值测试、定位移测试、剥离力测试、活塞滑动性能测试、器身密合性测试、人体内导管导丝摩擦力测试试验速度 1-600mm/min 无级变速外形尺寸 470(L) X 450(B) X 970(H) mm重 量 约 90kg电 源 AC220V±22V,50Hz标准配置 主机 、拉伸夹具选购配置 开启力夹具、穿刺夹具、折断力夹具、滑动性能夹具、电脑软件、电脑设置标准:YBB00242004-2015、YBB00402003-2015、 YBB00042005-2015、YBB00052005-2015、 YBB00332004-2015 、YBB00332002-2015、YBB00112004-2015、GB-14232.1-2004、GB-15811-2016、GB-15810-2001、GB/T-1962.1-2001、GB-2637-1995、ASTM D882医药包装物理性能测试仪PMT-05普创paratronix 医药包装物理性能测试仪PMT-05普创paratronix
  • 少子寿命测试仪
    少子寿命测试仪性能参数? 测量原理 QSSPC(准稳态光电导) 少子寿命测量范围 100 ns-10 ms 测试模式:QSSPC,瞬态,寿命归一化分析 电阻率测量范围 3&ndash 600 (undoped) Ohms/sq. 注入范围:1013-1016cm-3 感测器范围 直径40-mm 测量样品规格 标准直径: 40&ndash 210 mm (或更小尺寸) 硅片厚度范围 10&ndash 2000 &mu m 外界环境温度 20° C&ndash 25° C 功率要求 测试仪: 40 W 电脑控制器:200W 光源:60W 通用电源电压 100&ndash 240 VAC 50/60 Hz -------------------------------------------------------------------------------- 少子寿命测试仪成功使用用户? 江苏,上海,北京,浙江,西安,四川,河北,河南等地的硅料生产企业及半导体光伏拉晶企业等等。 一、采购项目名称:硅片少子寿命测试系统、溶剂净化系统等 二、采购代理机构 :杭州求是招标代理有限公司 三、确定成交日期:2010年11月16日 四、本项目公告日期: 2010年11月4日、11月5日 五、项目成交单位: 硅片少子寿命测试系统(z9264):上海瞬渺光电技术有限公司 -------------------------------------------------------------------------------- 相关资料下载 少子寿命测试仪一款功能强大的少子寿命测试仪,不仅适用于硅片少子寿命的测量,更适用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1&mu s到6000&mu s,硅料电阻率下限达0.1&Omega .cm(可扩展至0.01&Omega .cm)。测试过程全程动态曲线监控,少子寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况,是原生多晶硅料及半导体及太阳能拉晶企业不可多得少子寿命测量仪器。 少子,即少数载流子,是半导体物理的概念。 它相对于多子而言。   半导体材料中有电子和空穴两种载流子。如果在半导体材料中某种载流子占少数,导电中起到次要作用,则称它为少子。如,在 N型半导体中,空穴是少数载流子,电子是多数载流子;在P型半导体中,空穴是多数载流子,电子是少数载流子。   多子和少子的形成:五价元素的原子有五个价电子,当它顶替晶格中的四价硅原子时,每个五价元素原子中的四个价电子与周围四个硅原子以共价键形式相结合,而余下的一个就不受共价键束缚,它在室温时所获得的热能足以便它挣脱原子核的吸引而变成自由电子。出于该电子不是共价键中的价电子,因而不会同时产生空穴。而对于每个五价元素原子,尽管它释放出一个自由电子后变成带一个电子电荷量的正离子,但它束缚在晶格中,不能象载流子那样起导电作用。这样,与本征激发浓度相比,N型半导体中自由电子浓度大大增加了,而空穴因与自由电子相遇而复合的机会增大,其浓度反而更小了。  少子浓度主要由本征激发决定,所以受温度影响较大。 少数载流子寿命(简称少子寿命)是半导体晶体硅材料的一项重要参数,它对半导体器件的性能、晶体硅太阳能电池的光电转换效率都有重要的影响.分别介绍了常用的测量晶体硅和晶体硅太阳电池少子寿命的各种方法,包括微波光电导衰减法(MW-PCD),准稳态光电导方法(QSSPC),表面光电压(SPV),IR浓度载流子浓度成像(CDI),调制自由载流子吸收(MFCA)和光束(电子束)诱导电流(LBIC,EBLC) 少子寿命是描述半导体 材料特征方程的基本参数之一,对器件特性的精确描述起着重要作用,特别是对以PN结为基本结构的器件,额外载流子的产生与复合在PN结的状态转换过程中起着决定性的作用,因而少子寿命是决定PN结型器件工作特性的关键材料参数之一。   太阳电池的转换效率主要依赖于基区的少子寿命.少子寿命越长光照产生的过剩载流子越可能到达PN结,受PN结电场分离后对外产生光电流,同样由于暗电流的降低可增加太阳电池的开路电压,所以大部分生产商都在生产前检验原始材料的一些关键性参数,光伏工业生产中最常见的测试就是少子寿命的测试,通过对原始材料的寿命测量预测成品太阳电池的效率。   少子寿命测试仪采用微波光电导衰减法(ASTM国际标准-1535)的测试原理,提供低成本、快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命的测试,主要是通过904nm波长的激光激发出硅片,硅棒或硅锭体内的非平衡载流子,再通过微波反射的探测手段来测试少数载流子引起的电导率的变化,从而判断该硅片,硅棒或硅锭的缺陷、沾污情况。该设备主要应用于硅棒,硅片的出厂、进厂检查,生产工艺过程的沾污检测等。特别是在太阳能领域,少子寿命将直接关系到成品电池的效率,是必备的检测手段。   少子寿命测量仪可测量半导体的少子寿命。少子寿命值反映了太阳电池表面和基体对光生载流子的复合程度,即反映了光生载流子的利用程度。少子寿命是半导体晶体硅材料的一项关键性参数,它对晶体硅太阳能电池的光电转换效率有重要的影响,可以说硅电池的转化效率和少子寿命成正向相关对应关系。   少子寿命测量仪采用微波光电导衰减法(SEMI国际标准-1535)的测试原理,即通过激光激发出硅体内的非平衡载流子,再通过微波反射的探测手段来测试少数载流子引起的电导率的变化,从而计算出少子寿命值,为半导体提供低成本、快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命的测试。该仪器测量少子寿命的精度达到ns级,分辨率达1%,测试结果准确性好、重复性高,完全能满足太阳能级硅电池的少子寿命测试。目前该方法是最受市场接受的少子寿命测试方法 主要特点:   适应低电阻率样片的测试需要,最小样品电阻率可达0.1ohmcm   全自动操作及数据处理   对太阳能级硅片,测试前一般不需钝化处理   能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭   可以选择测试样品上任意位置   能提供专利的表面化学钝化处理方法   对各道工序的样品均可进行质量监控:   硅棒、切片的出厂、进厂检查   扩散后的硅片   表面镀膜后的硅片以及成品电池常见问题: WT-2000与WCT-120测少子寿命的差异? WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance(QSSPC准稳态光电导)而WT2000是微波光电导。 WCT-120准稳态光电导法测少子寿命的原理? WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance(QSSPC准稳态光电导) 准稳态光电导衰减法(QSSPC)和微波光电导衰减法(MWPCD)的比较? QSSPC方法优越于其他测试寿命方法的一个重要之处在于它能够在大范围光强变化区间内对过剩载流子进行绝对测量,同时可以结合 SRH模型,得出各种复合寿命,如体内缺陷复合中心引起的少子复合寿命、表面复合速度等随着载流子浓度的变化关系。 MWPCD方法测试的信号是一个微分信号,而QSSPC方法能够测试少子寿命的真实值,MWPCD在加偏置光的情况下,结合理论计算可以得出少子寿命随着过剩载流子的变化曲线,而QSSPC直接就能够测得过剩载流子浓度,因此可以直接得出少子寿命与过剩载流子浓度的关系曲线,并且得到PN结的暗饱和电流密度;MWPCD由于使用的脉冲激光的光斑可以做到几个到十几个,甚至更小的尺寸,在照射过程中,只有这个尺寸范围的区域才会被激发产生光生载流子,也就是得到的结果是局域区域的差额寿命值,这对于寿命分布不均匀的样品来说,结果并不具备代表性。
  • 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针
    IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料:详情请联系吴小姐:15080317079近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA)PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品,以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。对于Spectrum 400系列,有一款附件可以安装在设备的右侧,这样样品仓就能空出来留作其他用途。特色和优势Ø 适用于不同容器中的各种样品Ø 设计精巧,集成化,零校准,零设置。一旦连接好了样品仓,该附件就成为了整个系统的一部分,能随时使用Ø 可重复性更强,操作简单Ø 水平样品台,方便采样定位Ø 大采集角和大光斑尺寸,保证最佳采样效果Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换与标准附件套件一起提供,套件中包括样品定位器,标准样和样品处理工具。近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400L125401N近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100L125403LNIRA的附件和耗材RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029NIRA Spectralon校准 1 L1245028NIR远程固体采样系统专为远程固体或粉末采样设计,工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器,让用户能够持续地进行远程操作,从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁,而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N.特色和优势Ø 包含高性能触发光纤探针,便于固体或粉末采样Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口Ø 光学扫描场深更大,改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果Ø 光斑尺寸更大(-6mm),改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果Ø 配备保护盖和探针保护套,背景采集符合Spectralon标准Ø 模块化,可拓展,智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单,完全的即插即用操作Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片,坚固耐用,易清洁远程固体采样系统2m L1250030远程固体采样系统3m L1250037远程固体采样系统5m L1250031远程固体采样系统10m L1250032
  • 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针
    IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料:详情请联系吴小姐:15080317079近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA)PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品,以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。对于Spectrum 400系列,有一款附件可以安装在设备的右侧,这样样品仓就能空出来留作其他用途。特色和优势Ø 适用于不同容器中的各种样品Ø 设计精巧,集成化,零校准,零设置。一旦连接好了样品仓,该附件就成为了整个系统的一部分,能随时使用Ø 可重复性更强,操作简单Ø 水平样品台,方便采样定位Ø 大采集角和大光斑尺寸,保证最佳采样效果Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换与标准附件套件一起提供,套件中包括样品定位器,标准样和样品处理工具。近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400L125401N近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100L125403LNIRA的附件和耗材RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029NIRA Spectralon校准 1 L1245028NIR远程固体采样系统专为远程固体或粉末采样设计,工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器,让用户能够持续地进行远程操作,从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁,而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N.特色和优势Ø 包含高性能触发光纤探针,便于固体或粉末采样Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口Ø 光学扫描场深更大,改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果Ø 光斑尺寸更大(-6mm),改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果Ø 配备保护盖和探针保护套,背景采集符合Spectralon标准Ø 模块化,可拓展,智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单,完全的即插即用操作Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片,坚固耐用,易清洁远程固体采样系统2m L1250030远程固体采样系统3m L1250037远程固体采样系统5m L1250031远程固体采样系统10m L1250032
  • 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针
    IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料:详情请联系吴小姐:15080317079近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA)PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品,以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。对于Spectrum 400系列,有一款附件可以安装在设备的右侧,这样样品仓就能空出来留作其他用途。特色和优势Ø 适用于不同容器中的各种样品Ø 设计精巧,集成化,零校准,零设置。一旦连接好了样品仓,该附件就成为了整个系统的一部分,能随时使用Ø 可重复性更强,操作简单Ø 水平样品台,方便采样定位Ø 大采集角和大光斑尺寸,保证最佳采样效果Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换与标准附件套件一起提供,套件中包括样品定位器,标准样和样品处理工具。近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400L125401N近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100L125403LNIRA的附件和耗材RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029NIRA Spectralon校准 1 L1245028NIR远程固体采样系统专为远程固体或粉末采样设计,工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器,让用户能够持续地进行远程操作,从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁,而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N.特色和优势Ø 包含高性能触发光纤探针,便于固体或粉末采样Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口Ø 光学扫描场深更大,改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果Ø 光斑尺寸更大(-6mm),改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果Ø 配备保护盖和探针保护套,背景采集符合Spectralon标准Ø 模块化,可拓展,智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单,完全的即插即用操作Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片,坚固耐用,易清洁远程固体采样系统2m L1250030远程固体采样系统3m L1250037远程固体采样系统5m L1250031远程固体采样系统10m L1250032
  • 能谱ATRS-01万能衰减全反射附件
    天津能谱科技自主研发的ATRS-01万能衰减全反射附件样品无需前处理,简化了样品的制作过程,被广泛应用于各种固体和液体样品测试,如塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。ATRS-01主要采用ZnSe晶体,具有硬度好透过率高可以满足各种常规样品的测试,同时可配合我公司生产iCAN 9傅立叶红外光谱仪进行使用,更方便快捷。衰减全反射技术 (ATR)是目前比较广泛的采样技术。ATR可以进行原位定性或定量测试,样品基本不需要制备,直接将样品放在ATR晶体上就可以进行测试。因此可以大大加快测试速度、提高测试效率。  ATR的工作原理是红外光束进入折光指数较高的晶体中红外光束从晶体表面反射回来,但同时在样品中有一个衰减波区域,这部分红外光束有部分被样品吸收而反射出来到达检测器以获得样品的红外光谱的信息。全反射现象不完全是在两种介质的界面上进行,部分光束要进入到样品介质一段距离后才反射回来,透入到样品介质的光束,在样品的透光区,反射光能几乎等于入射光能,而在样品的吸收区,则有部分入射光被吸收。“全反射"是衰减的,其衰减程度与样品的吸收系数的大小有关。因此扫描整个中红外区即可得到一个非常类似于透光光谱的红外光谱,一般称为ATR光谱。衰减全反射中谱带的强度除了取决于样品本身的吸收性质以外,还和光线在样品表面反射的次数以及穿透样品的深度有关,一般来说,穿透越深,吸收越强。
  • GaSe 硒化镓 NIR-IR近红外非线性光学晶体
    GaSe(硒化镓)晶体的太赫兹振荡能达到有非常宽的频域,至41THz。GaSe是负单轴层状半导体晶体,拥有六边形结构的62m空间点群,300K时禁带宽度为2.2eV。GaSe晶体抗损伤阈值高,非线性系数大(54pm/V),非常合适的透明范围,以及超低的吸收系数,这使其成为中红外宽带电磁波振荡的非常重要的解决方案。因宽带太赫兹振荡和探测使用的是低于20飞秒的激光光源,GaSe发射-探测系统能获得与ZnTe可比的甚至更好的结果。通过对GaSe晶体厚度的选取,我们可以实现对THz波的频率可选择性控制。注:GaSe晶体的解理面为(001),因此对该晶体使用的一个很大限制在于质软,易碎。技术参数主要特性复合物GaSe透光率, μm0.62 – 20非线性系数, pm/Vd22 = 54 @10.6 μm对称度六方晶系, 6m2 point group晶胞参数, ?a=3.74, c=15.89典型反射系数10.6 μm 5.3 μmno=2.6975, ne=2.3745 no=2.7233, ne=2.3966光学损伤阈值, MW/cm21064 nm (t=10 ns)30离散角, °5.3 μm4.1应用10.6 μm激光辐射二次谐波的产生中红外区域高达17μm的光学参量振荡器、光学参量放大器、DFG等 对于所有晶体,我们能够为特定应用提供合适的防反射/保护涂层,以及反射率曲线。
  • 偏振测试仪
    偏振测试仪确定线偏振片和圆偏振片的偏振方向方便轻巧的手持式设计验证偏振片校准的理想选择在确定 LCD 的偏振方向方面表现出众TECHSPEC® 偏振测试仪适用于确定未知偏振片的不同特性,如线性偏振片的偏振方向和圆形偏振片的旋转方向。这款易于使用的手持式紧凑型工具兼容所有已安装和未安装的偏振片,其中包含设计用于测试线性偏振光,以及左旋和右旋的圆形偏振光的区域。对于圆形偏振片,本测试仪可识别偏振旋转方向,以及延迟器和线性偏振片的位置。TECHSPEC® 偏振测试仪适用于识别正确偏振片,或验证应用中是否精确对准。为获得优良效果,请确保在测试之前将所有保护膜从偏振片上取下。注意:安装偏振测试仪时,建议使用#54-997.产品信息类型波长范围(nm)厚度(mm)透射率(%)长度 (mm)宽度 (mm)产品编码Polarization Tester400 - 7000.7542200.0020.00#37-699
  • THz棱镜
    THz棱镜 Tydex提供的THZ棱镜有以下特点:- 传统的直角棱镜。这种棱镜常常用在光学系统中。- 衰减全反射比(ATR)棱镜。这样的棱镜使很难分析的材料能够用在THZ波的传输系统中。材料的吸收光谱学研究因为强的吸收和Fresnel 反射而很难实现。在这种情况下,最可行的方法来研究吸收材料是受抑全内反射。这个方法是基于反射系数的减小,以超过临界角的入射角从高折射率系数n0的截面入射到更小折射率n的吸收介质中:Θc=arcsin(n/n0)。反射系数取决于入射角,入射偏振态以及样品的折射率。选择正确参数的棱镜可以获得好的ATR光谱。受抑全内反射的方法使可研究的材料吸收系数从102 to 104 cm-1。主要参数指标:材料 HRFZ-Si直径公差, mm + /-0.2 角度公差, arc. min +/-30抛光面的表面质量, scr/dig 80/50背面的表面质量, Ra2.5表面精度, mm +/- 0.01 deviation from ideal plane棱镜可根据客户的需求定制。
  • Ashcroft 测试仪表
    Ashcroft 测试仪表1、Ashcroft 测试仪表精确地测量真空压力从 -30" 到 60 psi。2、Ashcroft 测试仪表提供模拟和数字两种格式。3、Ashcroft 测试仪表精确至 +/- 0.25%.4、Ashcroft 测试仪表仪表可以连接到罐阀。高精度测试的仪表,建议用于验证采样前后真空/压力罐的压力。模拟仪表6英寸的表面方便阅读。数字压力表运作时需要两节AAA电池供电,可提供一个明确的读数。两个压力表的精度为+ / - 0.25%,并是全金属接液部件。产品描述 包装量 货号# 模拟测试压力表, 直径6" ,NFT 1/4" 单个 24285 数字测试压力表,直径3" , NFT1/4" 单个 24268 Ashcroft 不锈钢压力表接头,链接到罐阀。1/4" 外螺纹接头链接到 1/4" 内螺纹接头 单个 22121
  • NIRS 99 % 反射率和波长标准板,用于工艺进程设备 | 6.7450.070
    NIRS 99 % 反射率和波长标准板,用于工艺进程设备,直径 1 英寸NIRS 99% reflection and wavelength standard process, 1 inch diameter订货号: 6.7450.070NIRS 99% 反射率和波长标准板,用于工艺进程设备,探针直径为 1 英寸
  • NIRS 金反射器,4 mm 总层厚 6.7420.020
    NIRS 金反射器,4 mm 总层厚订货号: 6.7420.020对液体进行透射反射测量的金反射器。可与下列设备组合使用:NIRS DS2500 Analyzer(订货号:2.922.0010)NIRS XDS MasterLab Analyzer(订货号:2.921.1310)NIRS XDS MultiVial Analyzer(订货号:2.921.1120)NIRS XDS RapidContent Analyzer(订货号:2.921.1110)NIRS XDS RapidContent Analyzer - Solids(订货号:2.921.1210)
  • NIRS 金反射器,2 mm 总层厚 6.7420.010
    NIRS 金反射器,2 mm 总层厚订货号: 6.7420.010对液体进行透射反射测量的金反射器。可与下列设备组合使用:NIRS DS2500 Analyzer(订货号:2.922.0010)NIRS XDS MasterLab Analyzer(订货号:2.921.1310)NIRS XDS MultiVial Analyzer(订货号:2.921.1120)NIRS XDS RapidContent Analyzer(订货号:2.921.1110)NIRS XDS RapidContent Analyzer - Solids(订货号:2.921.1210)
  • 低 GDD 超快反射镜
    低 GDD 超快反射镜Low GDD Ultrafast Mirrors反射率大于 99%覆盖 266 - 1550nm 的镀膜设计低群延迟色散(GDD)还提供TECHSPEC® 高性能低 GDD 超快反射镜通用规格后表面:Commercial Polish镀膜类型:Dielectric基底:Fused Silica低群延迟色散 (GDD) 超快反射镜专为使用 Er:glass、Ti:sapphire 或掺镱材料激光器的应用而设计。这些激光反射镜的设计适用于 266 至 1550nm 之间的波长,由此为实现广阔波长范围内的最大反射率进行了优化。多层介质镀膜专为实现最小的 GDD 而设计,因此非常适用于超快光束传输应用。低 GDD 超快反射镜具有高能超短激光脉冲所需的低热膨胀系数基片和高损伤阈值。注意:如需定制波长、角度与尺寸,请联系我们。产品信息DWL (nm)Dia. (mm)厚度 (mm)AOI (°)产品编码40025.405.0045#84-62140025.405.0045#85-31180025.405.0045#84-61980025.405.0045#85-10380025.409.530#36-40580025.409.5345#36-406103025.405.0045#84-618103025.405.0045#85-102155025.405.0045#84-617155025.405.0045#85-101
  • TYDEX 太赫兹棱镜
    太赫兹棱镜Tydex提供以下配置的THz棱镜:- 传统(直角)棱镜。 这种类型的棱镜用于光学方案。- 衰减全反射(ATR)棱镜。 这种特殊的棱镜可以检测难以分析的材料。由于强烈的吸收和菲涅耳反射,具有强吸收的材料的吸收光谱实际上变得不可能。在这种情况下,研究吸收材料的最合适的方法是受抑制的全内反射的方法。这种方法基于降低来自高折射率介质n0和吸收介质之间的界面的辐射的反射系数的影响,该介质在超过临界角的入射角处具有较小的折射率n:θc= arcsin(n / n0)。反射系数的值取决于辐射入射角,辐射偏振态以及样品的折射率。正确选择棱镜参数(特别是棱镜的底角)可以获得良好的ATR光谱。THz范围内受抑制的全内反射的方法允许允许研究具有102至2600px -1的吸收系数的材料。通用规格材质HRFZ-Si尺寸公差,毫米+ /-0.2角度公差,弧度。分+/-30表面质量抛光表面,scr / dig80/50地面的表面质量Ra2.5表面精度,毫米+/- 0.01 deviation from ideal plane
  • Smart SAGA 亚微米薄膜进行掠入射分析附件 0033-197
    Smart SAGA 亚微米薄膜进行掠入射分析附件Thermo Scientific Smart SAGA 适用于对金属基上的亚微米薄膜进行掠入射分析。Smart SAGA(高光带孔掠射角)极易操作,性能优异,样品区辨识能力极高。 只需将样品平放在水平采样台上,用激光雕刻隔栅进行定位,如需要则转动转轮以设置孔尺寸,然后扫描。掠射角反射系数是用以分析薄涂层或沉淀物的选择性方法,因为高入射角可以增大穿过感兴趣材料的红外光束的光程长度,从而大大改善灵敏度。 由于高入射角和选择性偏极化,因此可获取单层灵敏度。描述80° 固定入射角全金反射光学器件可以分析 10 埃 至 0.5 微米的薄膜永久性固定的偏光镜可以大大减小无益于表面光谱数据的‘S’偏光,从而可以改善灵敏度和采样速度独特的内部滑孔组件可快速调节至四种不同的样品定义形状与尺寸,无需设置孔径。采样板上的激光雕刻隔栅便于在进行定量分析时,重复进行样品定位和遮盖。SpecificationsAngle of Incidence: 80° 平均固定角度Sampling Area两个圆形活动区域: 5mm和 8mm一个椭圆形活动区域: 16 × 8mm开束Optics: 金反射器件Sample Positioning: 样品台上的激光雕刻测量隔栅Polarizer: 锗超薄涂层金属基上的被吸附物润滑剂表面污染物残留物分子单层订货信息:货号类型0033-197For Nicolet Avatar0033-199Specular Reflectance00331XXSmart SAGA
  • AGSe 硒镓银(AgGaSe2)NIR-IR近红外非线性晶体
    AgGaSe2晶体,中文名硒镓银晶体,简称AGSe晶体。中红外激光倍频有效的晶体材料,对中红外激光的倍频效率高,是有效的非线性激光晶体之一.还同时具有三波非线性作用(OPO)的优良性能。 ' AGSe晶体透光范围为0.73-18μm,AgGaSe2晶体可用波段位于0.9-16μm。采用目前成熟的激光泵浦,AGSe晶体的OPO呈现宽阔的红外可调谐性能。用Ho:YLF2.05μm泵浦AgGaSe2晶体获得2.5-12μmOPO调谐光源 用1.4-1.55um调谐光源泵浦的非临界相位匹配OPO输出1.9-5.5um调谐光源 早在1982年,就已经实现了脉冲CO2激光的有效倍频 上述系统的输出波段还可以用和频或差频混频的方法(SF/DFM)予以扩充。AGSe晶体可用于光学参量放大和光学参量振荡以及差频产生,应用波长可达到中红外的17 μm。技术参数主要特性复合物AgGaSe2透光率, μm0.76 – 18单轴负晶no ne (at λ 0.804 μm ne no)非线性系数, pm/Vd36 = 39.5 @10,6 μm 对称度四方晶系, -42m point group典型反射系数10.6 μm5.3 μmno=2.5915, ne=2.5582 no=2.6138, ne=2.5811光学损坏阈值, MW/cm22000 nm (t=30 ns)13离散角, °5.3 μm0.68热导系数 k, WM/M°C1.1频带隙能量, eV1.8光活度 ρ = 7deg/mm 在各向同性点, μmn0= ne, λ = 0.804 光学元件参数定位精度, arc min 30平行度, arc sec 40平面度546 nmλ/4表面质量, scratch/dig30/20应用有效中红外辐射二次谐波的产生 中红外区域高达17μm的光学参量振荡器、光学参量放大器等各向同性点附近区域的光学窄带滤波器(300 K时为0.804 μm) 对于所有晶体,我们能够为特定应用提供合适的防反射/保护涂层,以及反射率曲线。
  • 经认证的NIRS 99%反射率标准板6.7450.030
    经认证的 NIRS 99% 反射率标准板,用于实验室探针订货号: 6.7450.030经认证的 99% 反射率标准板,用于校正 NIRS XDS SmartProbe Analyzer
  • YSI 30-10型美国维赛YSI多参数水质测试仪YSI 30-10型
    唐海红 13120400643 YSI 30-10型美国维赛YSI多参数水质测试仪YSI 30-10型YSI 30-10型美国维赛YSI多参数水质测试仪YSI 30-10型 准确、坚固、耐用、防水 人体工学设计: 手提式操作,亦可肩挂或腰悬;内置探头存储室,方便携带 系统完整:已预接电导和温度探头,备有多种电缆长度可供选择 四纯镍电极探头:准确度高、维护量小,无需镀铂黑 无需校准:仪器出厂前已经预校妥当,开机即可读数 自动量程选择:确保任何高低读数均一致准确,省却了往返调拨之苦 自动温度补偿:可选择显示电导系数,参考温度和温度补偿系数可按需调整 特大液晶显示屏:另有背景加光功能,即使在昏暗的环境下仍能清晰读数 应力舒缓电缆接头:减少接线处的物料疲劳,有效延长电缆的使用寿命 坚固防水外壳:适用于野外的严峻环境,仪器即使掉入水中亦可自动浮起;探头外置不锈钢套,坚固耐用更易于沉入水中 全电池操作:工作寿命长达100小时(碱性电池);另有低电量显示 YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪 不带内存 备有3米、7.5米和15米三种电缆长度可供选择 YSI 30M型 盐度、电导、温度测量仪 带内存,可储存50组数据 使用非散失性存储器,读数不会因断电而丢失 备有3米、7.5米、15米和30米四种电缆长度可供选择 YSI 30/30M 系统规格 测量参数技术指标 参 数 测量范围 分辨率 准确度* 电导率 0至499.9微西门子/厘米 0至4999微西门子/厘米 0至49.99毫西门子/厘米 0至200.0毫西门子/厘米 0.1微西门子/厘米 1.0微西门子/厘米 0.0毫西门子/厘米 0.1毫西门子/厘米 量程之± 0.5%*+ 量程之± 0.5%* 量程之± 0.5%* 量程之± 0.5%* 盐 度 0至80ppt 0至80 ± 2%或± 0.1ppt* 温 度 -5℃至+95℃ 0.1℃ ± 0.1℃(± 1 lsd)* 注:* 仪器规格包括仪表和探头的总误差 + 若电缆长度超过15米,样本的比电导度需大于0.1毫西门子/厘米 其它技术指标 导管常数 5.0/厘米± 4% 参考温度 +15℃至+25℃(可调节) 温度补偿系数 0至4%(可调节) 适用水体 淡水、海水、污水或绝大部分其它溶液 工作温度 -5℃至+95℃ 防水性能 超过IP65标准 电 源 9伏 直流 (6节5号碱性电池) 尺 寸 24.1厘米(长)× 8.9厘米(宽)× 5.6厘米(厚) 重 量 0.77公斤 选购指南 仪 器 30-10 30-25 30-50 30M-10 30M-25 30M-50 30M-100 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,3米电缆 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,7.5米电缆 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,15米电缆 YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,3米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,7.5米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,15米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,30米电缆(带内存) 配 件 5050 5520 携带箱,硬体 塑料便携箱(能容纳7.5米电缆) 电导标准液 3167-1 3168-1 3169-1 电导标准液,1毫西门子/厘米(475毫升) 电导标准液,10毫西门子/厘米(475毫升) 电导标准液,50毫西门子/厘米(475毫升) YSI 30-10型美国维赛YSI多参数水质测试仪YSI 30-10型
  • 硬度测试仪配件
    硬度测试仪配件和欧洲进口的便携式硬度测试仪,使用高硬度的金属平台代替了传统的玻璃平台,有效避免了玻璃平台易碎的缺点,硬度测试仪配件结构更紧凑、合理,操作简单。硬度测试仪配件特点专用于配套SHORE A,SHORE D型橡胶硬度计,其测试原理更科学,结构更紧凑、合理,使测试的稳定性和准确度进一步得到提高使用高硬度的金属平台代替了传统的玻璃平台,有效避免了玻璃平台易碎的缺点 。硬度测试仪配件参数E A/C型橡胶硬度计组合成专业的试验机;外形尺寸: 100*212*250(mm)便携式硬度测试仪参数可选配SHOR结构更紧凑、合理,操作简单 净重:10 Kgs孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商,产品技术和性能保持全球领先,拥有包括硬度计,硬度测量仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类,世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系,确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库,可在下单后12小时内从国外直接空运发货,我们位于天津保税区的进口公司众邦企业(天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。关于便携式硬度测试仪参数,硬度测试仪参数的更多消息,孚光精仪将在第一时间更新并呈现,想了解更多内容,关注孚光精仪等你来体验!
  • 拉脱法附着力测试仪
    拉脱法附着力测试仪 测量金属、混凝土和其他基材上的涂层附着力-自我对中功能给附着力测量带来新的意义。容易使用便携、人手操作,仪器可在任何场合下使用,不需要外部电源,在实验室和现场测试皆宜。又大、又易于阅读的刻度(Ø 94 mm)价廉,一次性使用的底盘消除了重复使用所需的加热、清洁或刷洗工序。每个工具箱均包括测试所需的所有东西。 可 靠每一个PosiTest附着力测试仪的压力系统都经过较准,可达到所使NIST具追朔性载荷单元± 1%的精度。优质,精确的表盘指示器。一年保修符合ASTM D 4541,ISO 4624标准通 用自我对中底盘可测量光滑或不平表面且不会影响测试结果。多种型号可选,用于测量不同基材上的涂层附着力。20mm的底盘用于金属、塑料和木质基材,50mm底盘用于石质基材,如混凝土等。客户若需适合特别测量需要的其它尺寸底盘可联系供应商索取进一步细节。AT-C型包括独特的钻孔模板,将测量区域从周围涂层隔开,用于测试厚涂层。刻度盘具有MPa和PSI读数。器包括:手动液压泵调速控制器铝制测试底盘磨耗板20mm底盘切割工具(仅AT-P、AT-M和AT-CM配)钻孔模板和10个钻头,用于厚涂层(仅AT-C和AT-CM配)粘着剂粘着剂混合棒和盘 (5个)粘着剂兼容性测试棉棒 (5个)说明书校准证书,具NIST追朔性坚固、轻型的携带箱订货指引型号PosiTestAT-CPosiTestAT-PPosiTestAT-MPosiTestAT-CM典型应用混凝土上涂层塑料、木头、金属上清漆层金属上涂层混凝土和金属上涂层附着力范围0-500 PSI0-3.5 MPa0-1000 PSI0-7 MPa0-3100 PSI0-21 MPa结合了AT-C和AT-M型号分辨率3.2 PSI0.03MPa10 PSI0.1MPa20 PSI0.2MPa底盘尺寸(mm)*502020* 还有其它尺寸的底盘可满足客户需要--联系供应商以获得详细资料。
  • LIS 硫铟锂 (LiInS2) NIR-IR近红外非线性光学晶体
    硫铟锂(LiInS2或LIS)晶体的非线性特性与AgGaS2和AgGaS2相近,但其晶体结构不同。LiInS2是一种热释电材料,其电光参数是将其用作有效电光材料的基础。技术参数主要特性复合物LiInS2透光率, μm0.35– 13.2非线性系数, pm/Vd31=7.25, d24=5.66 @2.3 对称度斜方晶系, mm2 point group晶胞参数, ?a=6.893, b=8.0578, c=6.4816典型反射系数1064 nm532 nmnx=2.1305, ny=2.1668, nz=2.1745nx=2.2353, ny=2.2841, nz=2.2919用于SHG的基频 x-y, Type II, eoe2.35–6.11x-z, Type I, ooe1.78–8.22y-z, Type II, oeo2.35–2.67y-z Type II, oeo5.59–6.11总间隔时间1.617–8.71光学损坏阈值, GW/cm21064 nm (t=14 ns)40 热导率k, WM/M°Ckx=6.1 ± 0.3 ky=5.9 ± 0.3 kz=7.4 ± 0.30.2透明度级别的远红外吸收边缘2.58 THz at 118 μm 光学元件参数定向精度, arc min 30平行度, arc sec 30平面度546 nmλ/6表面质量, scratch/dig30/20 应用Ti: Sappire 激光泵浦的光学参量振荡器(范围 1 – 12 μm)用于使用OPO的可调谐固态激光器,由Nd:YAG和其他1.2-10μm范围内的激光器泵浦中红外(2-12μm)的差频产生 ,将CO2激光辐射图像上转换为近红外或可见光区域• 中红外范围(2-12μm)的不同频率发生器1-12μm泵浦Al2O3:Ti的光学参量振荡器席中红外区频率混频对于所有晶体,我们能够为特定应用提供合适的防反射/保护涂层,以及反射率曲线。
  • NIRS 99% 反射率和波长标准板,用于工艺进程设备 | 6.7450.090
    NIRS 99% 反射率和波长标准板,用于工艺进程设备,1 英寸直径,45° 度倾斜NIRS 99% reflection and wavelength standard for process instrument, 1 inch diameter, 45° bevel订货号: 6.7450.090
  • 溶出度测试仪配件
    溶出度测试仪配件是一款自动药物溶出度仪,用于测量药物或化学物质在设定温度下的溶解情况,溶出度测试仪配备了蠕动泵和分光光度计,是领先的进口自动溶出度测试仪。溶出度测试仪配件特点六杯六杆,桨杆等采用进口SUS316不锈钢。数字读取提供连续更新的精确轴速度。水浴温度可设定到所需温度。旋转度可无限变化,可设定到任意所需速度。水浴温度均匀。全自动智能化控制温度、转速及时间三个参数。可以随意预置参数;分时显示预置值和实时值。溶出度测试仪配件应用用于药片,胶囊,药丸,固体剂型以及各种药品的溶出度测试,药品质量控制,研发。适合科研院所和制药企业的实验室使用。溶出度测试仪配件参数转速:10-250rpm电力:220V/50Hz安全功能:低水位,过热,防漏电温度:数字温度控制系统加热器:900W重量:62kg孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商,产品技术和性能保持全球领先,拥有包括溶出度测试仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类,世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系,确保每个一产品是用户满意的完美产品.我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库,可在下单后12小时内从国外直接空运发货,我们位于天津保税区的进口公司众邦企业(天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务,确保中国用户以极低的成本享受进口优质产品的良好体验。关于溶出度测试仪参数,溶出度测试仪应用,溶出度测试仪特点的更多消息,孚光精仪将在第一时间更新并呈现,想了解更多内容,关注孚光精仪等你来体验!
  • NIRS 99% 反射率和波长标准板,用于工艺进程设备 | 6.7450.080
    NIRS 99% 反射率和波长标准板,用于工艺进程设备,探针直径为 0.5 英寸NIRS 99% reflection and wavelength standard for process instrument, 0.5 inch probe diameter订货号: 6.7450.080
  • 偏振应力测试仪
    偏振应力测试仪(1)适合应力模式检测(2)适用于测试透镜硬度构成(3)随附携带箱这款便利的便携式偏振应力测试仪适合检查液晶、塑料和宝石内的应力模式。该偏振应力测试仪可显示裸眼或众多放大镜不可见的断裂痕迹和瑕疵。此外,该偏振应力测试仪可用于检查透镜的硬度构成,因为它可以显示只有正确硬化的透镜才具备的马耳他十字标记。该应力测试仪的尺寸为: 3" x 3"(折叠时),或 3" x 6" (打开时)。随附黑色携带箱。订购信息:Polarized Stress Tester库存#34-521技术参数与相关资料构造Polarizing Film类型Linear PolarizerRoHS不符合标准
  • LISe 硒铟锂 (LilnSe2) NIR-IR近红外非线性晶体
    LISe 硒铟锂 (LilnSe2) NIR-IR近红外非线性晶体通过定向凝固生长单晶。典型的生长晶体长约 20 毫米,直径约 10 毫米,呈深红色。晶格常数被确定为a = 7.218 埃, b= 8.441 ?,c = 6.772 ?,粉末 X 射线衍射。通过差热分析确定熔点为904℃。LiInSe 的能带隙2在室温下,通过光传输测量估计为 1.88 eV。典型的室温电阻率为 2.67 × 1011 Ω cm 具有 n 型电导率。双轴硒化锂铟(LiInSe 2或 LISe)非线性光学晶体的光谱透明度范围和高双折射使人们能够实现所有广泛使用的中红外激光器的倍频。它们的效率与AgGaS 2 晶体的效率相同,是LiInS 2晶体的效率的两倍。LiInSe 2晶体的优势在于可以创建由近红外固态激光器(特别是 Nd:YAG 激光器)辐射泵浦的中红外参量光振荡器,其效率比 AgGaS 2高一倍以上和 LiInS使用了2个晶体。还值得注意的是,LiInSe 2 晶体在飞秒脉冲频率转换方面的潜在优势超过了所有已知晶体,无论是在中红外区域,还是在飞秒 Ti:蓝宝石和 Cr:镁橄榄石激光的辐射直接转换到中红外区域.技术参数主要特性复合物LilnSe2透光率, μm0.43– 13.2 非线性系数, pm/Vd31=11.78, d24=8.17 @2.3 μm 对称度斜方(晶系), mm2 point group 晶胞参数, ?a=7.192, b=8.412, c=6.793 带隙, eV2.86典型反射系数10.0 μm 5.0 μmnx=2.2015, ny=2.2522, nz=2.2566 nx=2.2370, ny=2.2772, nz=2.2818用于SHG的基频x-y, Type II, eoe2.73 – 8.24x-z, Type I, ooe2.08 – 12.4y-z, Type II, oeo2.73 – 3.07y-z Type II, oeo7.66 – 8.24Total interval covered2.08 – 12.4光学损坏阈值, GW/cm21064 nm (t=10 ns)~40 热导率k, WM/M°Ckx=4.73 ± 0.3 ky=4.67 ± 0.3 kz=5.45 ± 0.3室温带隙, eVEg = 2.730.2透明度级别的远红外吸收边缘1.24 THz at 240 μm 光学元件参数定向精度, arc min 30平行度, arc sec 30平面度546 nmλ/4表面质量, scratch/dig30/20应用Ti: Sappire 激光泵浦下的光学参量振荡器 (范围 1 – 13 μm)中红外(2-13μm)的差频产生 对于所有晶体,我们能够为特定应用提供合适的防反射/保护涂层,以及反射率曲线。
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