全反射射线荧光仪

S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来，X 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具，可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一：30 毫米石英片：对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科学研究图三：显微镜载玻片：临床和生物学样品，直接分析细胞培养物、涂片和切片图四：矩形载体：尺寸小于54 毫米，用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用： 药品检测活性药物成分中的催化元素：液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测：地表水，废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

痕量分析 TXRF 光谱仪 TXRF全反射X射线荧光光谱仪快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U。 需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样品10微克以内。 便携式全反射荧光仪，设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场进行分析。 1位及25位全自动进样器两款设计，分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。 第四代XFlashSDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术，不需要液氮，没有任何消耗。分辨率160eV at MnKa 100Kcps。 由于全反射无背景，荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好，用户不需要标样就可以进行定量分析。行业应用：水、废水、土壤中的污染元素；血液、尿液、组织中的有毒元素；食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。

TX3000全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀，专门设计研发用于元素分析和痕量分析的便携式光谱仪。其能够在极低的背景噪声条件下实现高灵敏度检测，可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物，进行定量和半定量多重元素微量分析，为痕量元素分析领域提供了一种高效率、高灵敏度的解决方案。TX3000体积小巧，便于携带和运输，非常适合现场分析或移动实验室的需求。其具有制样简单、高性能、易用性、环保性和经济效益等特点，是科研、质量控制和环境监测等领域中不可或缺的分析工具。使用优势一键智能操作具备用户友好的操作界面，使得操作简单、直观，即便是非专业人员也能轻松掌握。多元素同时分析仪器可以同时检测铬、铅等8大主要重金属元素，也可以根据检测需求进行元素扩展，分析近30个元素，大大节省了分析时间。轻便易携设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场或野外进行检测分析。环境友好与传统X射线荧光光谱仪相比，TXRF采用特殊几何配置，有效降低了辐射暴露风险，更能保障操作人员安全。本土化服务国内生产厂家能够提供更快速的售后服务和技术支持，确保用户在使用过程中的问题能够得到及时解决。 微量样品需求该方法只需极少量的样品即可进行准确分析，非常适用于样品量有限的情况。高精度与高灵敏度仪器采用多层膜单色器和全反射光路设计，缩短了探测器到样品距离，提高了荧光产量，适用于痕量元素的精确测定。低背景噪声X光束以掠射角照射样品，降低了散射和荧光背景，实现了更低的背景噪声，检测低限可降低几个数量级。低运行成本相比进口设备，国产TXRF通常具有更高的性价比，同时设计用于低能耗运行，需要的样品量少，减少了对昂贵试剂和标准物质的需求，另外样品溶解程序不需要使用设备以及危害性化学品，成本效益极高。应用领域环境科学土壤、空气和水质的微量元素分析材料科学食品安全生物医学/生物制药文化遗产地质/冶金法医学化妆品规格参数尺寸360 ×365 × 265mm（L×H×W）重量18KG核心技术全反射X射线荧光（TXRF）元素范围Al(铝)—U(铀)含量范围ppb至100%样品类型液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、擦拭物、过滤材料等样品体积液体及悬浮液从1μl到50μl，颗粒最大直径为100μm,粉末最大为10μg样品座载玻片X射线管高亮度微焦斑固定靶点光源光学系统真空正交背靠背X射线人工多层反射聚焦镜探测器50mm2超大面积SDD探测器数据显示系统仪器一体自带显示器，超大工业级电容屏附件移液枪、移液枪吸头、研钵、抹刀、加热干燥装置等

痕量分析 TXRF 光谱仪 TXRF全反射X射线荧光光谱仪快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U。 需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样品10微克以内。 便携式全反射荧光仪，设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场进行分析。 1位及25位全自动进样器两款设计，分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。 第四代XFlashSDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术，不需要液氮，没有任何消耗。分辨率160eV at MnKa 100Kcps。 由于全反射无背景，荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好，用户不需要标样就可以进行定量分析。行业应用：水、废水、土壤中的污染元素；血液、尿液、组织中的有毒元素；食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。

痕量分析 TXRF 光谱仪 快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U，检出限到2pg。 需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样品10微克以内。 便携式全反射荧光仪，设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场进行分析。 1位及25位全自动进样器两款设计，分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。 第四代XFlashSDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术，不需要液氮，没有任何消耗。分辨率优于160eV at MnKa 100Kcps。 由于全反射无背景，荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好，用户不需要标样就可以进行定量分析。 行业应用：水、废水、土壤中的污染元素；血液、尿液、组织中的有毒元素；食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。

仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。TX2000 将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上，创新光学编码器的步进电机，保证精确角度测量，软件控制Mo/W靶可自由切换，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。应用范围TX2000 可检测从钠Na到钚Pu所有元素含量，可进行痕量或超痕量元素分析（ppt或pg），广泛的应用在环境分析（水、灰尘、沉积物、大气悬浮物），制药分析（生物体液和组织样品中的有害元素），法医学（微小证据分析），化学纯度分析（酸、碱、盐、溶剂、水、超纯试剂），油品分析（原油、轻质油、燃料油），染料分析（墨水、油漆、粉末），半导体材料分析（挥发相分解），核材料工业（放射性元素分析）。 主要特点■ 单内标校正，有效简化了定量分析，无基体影响；■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析；■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析；■ 不受样品的类型和不同应用需求影响；■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小；■ 优良的检出限水平，元素分析范围从钠覆盖到钚；■ 出色的动态线性范围；■ 无需任何化学前处理，无记忆效应；■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。HORIZON 配备了12位样品台自动测量，创新光学编码器的步进电机，保证精确角度测量，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。广泛应用在环境分析、制药分析、法医学、化学纯度分析、油品分析、染料分析、半导体材料及核材料工业分析领域。主要特点■ 单内标校正，有效简化了定量分析，无基体影响；■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析；■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析；■ 不受样品的类型和不同应用需求影响；■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小；■ 优良的检出限水平，元素分析范围从钠覆盖到钚；■ 出色的动态线性范围；■ 无需任何化学前处理，无记忆效应；■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

S4 TStar — TXRF的明星 数十年来，X 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。因此，TXRF 成为原子吸收光谱法（AAS）以及电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）或质谱法（ICP-MS）的理想的替代性方法。现在，S4 TStar 在台式TXRF 光谱仪的性能、自控和质量方面开创了新的标准。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具，可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。它的样品通用性优于ICP。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一：30 毫米石英片：对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科学研究图三：显微镜载玻片：临床和生物学样品，直接分析细胞培养物、涂片和切片图四：矩形载体：尺寸小于54 毫米，用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用： 药品检测活性药物成分中的催化元素：液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品*标准：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测：地表水，废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

ATR衰减全反射探头Attenuated Total Reflectance Probe ATR探头是测量吸光率在4000-5000 AU/cm 的样品的理想产品。它能够直接插入样品中，不需要稀释样品就能获得光谱。典型的应用包括纯墨水样品、染色样品和原油样品的测量。另外，如果探头顶部的接触样品的折射率大于ATR探头的蓝宝石晶体的折射率，或大于1.7，ATR探头可用作通用探头。ATR探头被设计用于工业过程应用，曾经在10,000psig的环境下接受测试。ATR探头可以在315C的温度下工作。ATR探头是个经过三次反射的探头，并且可以穿透被测量波长的衰逝波/倏逝波。应用场景ATR(attenuated total reflection,衰减全反射), 定义：入射面内偏振的单色平面光波在密－疏媒质的界上全反射时，光疏媒质中所形成的迅衰场（见衰减波）量可以被耦合到金属或半导体的表面上而使表面等离元（SP）或表面极化激元共振激发。全反射的光强因而发生剧邃衰减的现象。 利用光学中的迅衰场与SP相耦合衰减全反射方法在1968年由A.奥托提出。 应用：ATR在实际应用中，作为红外光谱法的重要实验方法之一，从一开始便显示出其独特的优势和广阔的应用前景。由于其并不需要通过透过样品的信号，而是通过样品表面的反射信号获得样品表层有机成份的结构信息。不但简化了样品的制作过程，而且极大地扩大了红外光谱法的应用范围。使许多采用传统透过法无法制样，或者样品制备过程十分复杂、难度大、而效果又不理想的实验成为可能。因此，被广泛应用于塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。详细参数型号规格推荐使用的光纤直径:600 μm外部直径:19 mm (0.75")探头长度:~305 mm身体材料:316 不锈钢(标准) Hastelloy C, Titantium 和 Monel 也可用晶体材料:蓝宝石密封:标准用Viton，也可选Chemraz, Kalrez压强限制:10,000 psig光纤接头:SMA 905温度限制:300 oC波长范围:UV-NIR

2500W全反射太陽模擬器 主要特点: 全反射設計代替分散鏡片提高目標點上的均勻性 2.5kW非臭氧氙弧燈 空氣冷卻燈塔 過濾片固定器可以安裝7.6x7.6 cm(3"x3")的過濾片(此過濾固定器也可以裝其他尺寸的過濾片) 現有大范圍選擇的過濾片 標準橫向操作,豎直選項 可調動的LED顯示電源,包括啓動器(igniter)SKU: SS2.5KWSciencetech 生產4种高壓版本高效率的太陽模擬器。最小的是500W型號，接近市場上大多數常規系統的1000W輸出功率。Sciencetech也生產1000W，1600W和2500W型號。這些型號比相同的產品机型的強度更大。Sciencetech的 太陽模擬器是高強度應用裝置及能量級別重要的裝置的理想選擇。 這款模型的燈源是來自高壓的氙燈。這個燈源的光譜分佈跟氣團結過濾器結合,可以擬出不同地球和太空條件下的太陽光譜分佈（太陽在天空的不同角度或無大氣層干擾）。這個SS 全反射系列的特點是不需要鏡片或分散裝置來均勻輸出在目標區域。這樣呈現出了最佳的太陽模擬器，因此Sciencetech的太陽模擬器比競爭對手的更有效率。這個全反射設計只用了鏡片來引導從弧燈出來的光束從弧燈到目標，而且還可以產生高強度均勻的輻照在目標板。 光束方向 太陽模擬器可以裝垂直或水平位置，請在訂購時説明具體方向。在水平位置時，輸出來的光是從旁邊鑲板發出的，然後輻照在墻上（或者任何其他的東西您放在它前面）。 一個自選的90度的折射鏡子可以裝置在輸出的窗戶，這樣可重新向上，下，左和右調整光束。在垂直方向需要一個地板裝置。這樣輸出的光是水平方向，然後自選折射鏡子可以用來指揮光束向上，下，左和右。

衰减全反射探头 新势力光电供应衰减全反射探头，基于硫化物(CIR，1.5-6.0µ m)和银化物(PIR，4.0-18.0µ m)光纤开发而成。该系列衰减全反射探头具有如下特点：近红外/中红外透过率高、流动液体测量无盲区、恶劣工业环境工作稳定、使用所有光谱仪/自动化过程控制接口。衰减全反射探头应用广泛，包括：实时在线监控、过程分析技术、远程聚合控制、结晶过程监测。ATR-ProbeSpecificationProbe typeDiamond ATRZnSe ATRCubic Zirconium ATRTransmission range5.2-17µ m+3.2-4.5µ m3.2-17µ m1.5-6.5µ m600-1900cm-1+2300-3100cm-1600-3100cm-11550-6650cm-1Fiber typePIR-900/1000(AgCl:AgBr)PIR-900/1000(AgCl:AgBr)CIR-500/550(As-S-glass)Temperature range-150° C/+140° C-150° C/+140° C-150° C/+90° CPressure200Bar10Bar100BarTotal length1.5m, options: 1 to 5mShaft length230mm, options: 100 to 500mmShaft diameter12mm, 6.3mm, options: 3mmShaft materialHastelloy C22Length of legs300mm, options: 100 to 500mmProtective tube materialLiquid tight SS-conduit, KOPEX-tubeMinimal bending radiu130mmInput/output connectorLong SMA, options: any other typeCompatible process interfaceCeramat-FOS or SensoGate-FOS相关商品反射探头 Y 型光纤 光纤跳线 激光传输光纤

150W全反射太阳光模拟器主要特点: · 全反射设计代替分散镜片提高目标点上的均匀性· 150W除臭氧氙弧灯· 空气冷却灯塔· 过滤片固定器7.6x7.6 cm(3"x3")的过滤片(此过滤固定器也可以装其他尺寸的过滤片)· 可调动的LED显示电源,包括启动器(igniter)· 标准水平操作,竖直选项· 自选折射镜子重新导向输出光束 SKU: SS150Sciencetech 150 W全反射太阳仿真器是专门为方便科研而设计的。用于太阳能电磁测试根据ASSTME927-05 和 IEC-904-9 标准. 辐照目标的直径可以调整并且可以辐照5x5cm到10x10cm(2"x2" 到 4"x4") 大小范围在1SUN的太阳能电池。 SS150是一款不需要镜片或分散器装置的太阳仿真器。这样呈现出了最佳的太阳仿真器，因此Sciencetech的太阳仿真器比竞争对手更有效率。全反射设计只用了镜片来引导光束从弧灯源到目标板上，而且还产生了高强度均匀的辐照。相比其它采用同瓦特的灯和发散装置的同类仿真器，此设计使目标区域输出功率增至1.3倍。 高功率的氙灯给太阳仿真器提供了极佳的基本配置，也通过使用气团（Air Mass）过滤镜模拟出不同地球条件下的太阳光谱分布。这个太阳仿真器需要一个特别的灯去达到非常好的空间均匀性（100-1250XOF-SS）。 这个特殊的条件是由于弧灯的制造方法：当一个正常的灯有输入气体的不规则的洞在玻璃表面时被关闭了。这个不规则性减少了均匀性在一个小点的全反射太阳仿真器目标平面上。大一点的全反射太阳仿真器不需要个特别的灯。其他光谱应用输出的光谱分布也可以用不同的可移动式的传输和反射器来制定，例如一个水过滤片或双色镜子。对于UV型的辐照我们提供汞氙灯来提高UV的输出。这个太阳仿真器通常有一个氙灯和AM1.5G 的过滤片，可以辐照一个7.6cm(3")直径在1 SUN太阳能电磁测试 光谱范围SS150无需过滤片的情况下可以提供一个很宽的光谱范围，从250-2500nm。 太阳能电池测试太阳能电池测试需要严格的均匀性来达到ASTM E927-05(2005)和IEC-904-9 ANSI 的标准。 让Sciencetech的全反射太阳仿真器符合这个均匀性的要求，只有里面那部分的辐照目标区域可以用。 这是因为均匀性在辐照目标点外边下降的快，所以在边缘最后那几毫米不能使用。里面的有保持着2%非均匀点，这遵守了太阳能电磁ASTM E937-05（2005）和IEC-904-9 ANSI标准。Sciencetech也提供可选的计算器生成空间过滤片来满足特殊需求（例如：1%均匀点） 电源输出用AM1.5G过滤片，SS150可以生产出1.5 SUN在7.6 cm (3")直径点在一个61cm (24")距离。这可以辐照一个样本像，例如5 x 5cm (2" x2")尺寸的太阳能电磁。 空间非均匀性这个模型是专们设计给太阳能测试的。符合在2-3%的空间非均匀性的ASTM A级标准

多功能X射线衍射/反射仪多功能X射线衍射/反射仪提供科研开发工作所需的各种X射线测试解决方案简介 Jordan Valley公司zui新设计的Delta-X是多功能的X射线衍射设备，可灵活应用于材料科学研究、工艺开发、与生产质量控制。Delta-X衍射仪的光源台和探测台的光学元件可以全自动化调控，并采用水平式样品台。Delta-X衍射仪可以在常规衍射模式、高分辨率衍射模式、X射线反射模式之间灵活切换。光学配置的切换完全在菜单式程序控制下由计算机完成，无需手动操作。自动化切换和准直不需要专门人员和操作设备，并确保每次切换都能达到zui佳的光学准直状态。 常规的样品测量可以通过Delta-X衍射仪，实现部分、乃至完全的自动化运行，自动化测量程序可以依客户需求进行专门定制。也可采用完全的手动模式操作Delta-X衍射仪，以便发展新测量方法，研究新材料体系。 数据分析或拟合可以作为测量程序的一部分，可实现完全自动化，也可依据需要单独进行数据分析。 依半导体生产线的需求，将RADS和REFS拟合软件以自动化模式运行，允许在没有用户干扰的情况下自动完成常规性的数据分析，并直接完成数据拟合和结果输出。RADS和REFS也可以单独安装，以便进行更详细的数据分析。 Delta-X 衍射仪的主要特点和优势n 自动化进行样品准直、测试、和数据分析n 客户可以自行设定测量的自动化程度n 300mm的欧拉环支架(Eulerian Cradle)设计，高精度的样品定位和扫描n 300mm的晶片水平式放置，且可以完整mappingn 100o的Chi轴倾转范围、无限制范围的Phi轴旋转空间，可实现极图和残余应力测试n 智能化的光学配置切换和准直。依测量需要，自动选择光学配置并实施光学准直n 工业界先的设备控制软件和数据分析软件n 高分辨率测角仪，以保证精密且准确的测量n 高强度的光源台设计和光学元件组合，以实现快速测量n 多方面广泛的测试技术和测量参数n 由拥有超过30年的高分辨率X射线衍射经验的世jie级专家设计、制造，具有全球客户经验。

1000W全反射太阳光模拟器主要特点: · 全反射设计代替分散镜片提高目标点上的均匀性· 1.0kW非臭氧氙弧灯· 空气冷却灯塔· 过滤片固定器可以安装7.6x7.6 cm(3"x3")的过滤片(此过滤固定器也可以装其他尺寸的过滤片)· 现有大范围选择的过滤片· 标准横向操作,竖直选项· 可调动的LED显示电源,包括启动器(igniter) SKU: SS1.0KWSciencetech 生产4种高压版本高效率的太阳仿真器。最小的是500W型号，接近市场上大多数常规系统的1000W输出功率。Sciencetech也深产1000W，1600W和2500W型号。这些型号比相同的产品机型的强度更大。Sciencetech的 太阳仿真器是高强度应用装置及能量级别重要的装置的理想选择。 这款模型的灯源是来自高压的氙灯。这个灯源的光谱分布跟气团结过滤器结合,可以拟出不同地球和太空条件下的太阳光谱分布（太阳在天空的不同角度或无大气层干扰）。这个SS 全反射系列的特点是不需要镜片或分散装置来均匀输出在目标区域。这样呈现出了最佳的太阳仿真器，因此Sciencetech的太阳仿真器比竞争对手的更有效率。这个全反射设计只用了镜片来引导从弧灯出来的光束从弧灯到目标，而且还可以产生高强度均匀的辐照在目标板。 光束方向太阳仿真器可以装垂直或水平位置，请在订购时说明具体方向。在水平位置时，输出来的光是从旁边镶板发出的，然后辐照在墙上（或者任何其他的东西您放在它前面）。 一个自选的90度的折射镜子可以装置在输出的窗户，这样可重新向上，下，左和右调整光束。在垂直方向需要一个地板装置。这样输出的光是水平方向，然后自选折射镜子可以用来指挥光束向上，下，左和右

1600W 全反射太阳光模拟器主要特点: · 全反射设计代替分散镜片提高目标点上的均匀性· 1.6kW非臭氧氙弧灯· 空气冷却灯塔· 过滤片固定器可以安装7.6x7.6 cm(3"x3")的过滤片(此过滤固定器也可以装其他尺寸的过滤片)· 现有大范围选择的过滤片· 标准横向操作,竖直选项· 可调动的LED显示电源,包括启动器(igniter) SKU: SS1.6KWSciencetech 生产4种高压版本高效率的太阳仿真器。最小的是500W型号，接近市场上大多数常规系统的1000W输出功率。Sciencetech也深产1000W，1600W和2500W型号。这些型号比相同的产品机型的强度更大。Sciencetech的 太阳仿真器是高强度应用装置及能量级别重要的装置的理想选择。 这款模型的灯源是来自高压的氙灯。这个灯源的光谱分布跟气团结过滤器结合,可以拟出不同地球和太空条件下的太阳光谱分布（太阳在天空的不同角度或无大气层干扰）。这个SS 全反射系列的特点是不需要镜片或分散装置来均匀输出在目标区域。这样呈现出了最佳的太阳仿真器，因此Sciencetech的太阳仿真器比竞争对手的更有效率。这个全反射设计只用了镜片来引导从弧灯出来的光束从弧灯到目标，而且还可以产生高强度均匀的辐照在目标板。 光束方向太阳仿真器可以装垂直或水平位置，请在订购时说明具体方向。在水平位置时，输出来的光是从旁边镶板发出的，然后辐照在墙上（或者任何其他的东西您放在它前面）。 一个自选的90度的折射镜子可以装置在输出的窗户，这样可重新向上，下，左和右调整光束。在垂直方向需要一个地板装置。这样输出的光是水平方向，然后自选折射镜子可以用来指挥光束向上，下，左和右。

天津能谱科技自主研发的ATRS-01衰减全反射附件样品无需前处理，简化了样品的制作过程，被广泛应用于各种固体和液体样品测试，如塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。ATRS-01主要采用ZnSe晶体，具有硬度好透过率高可以满足各种常规样品的测试，同时可配合我公司生产iCAN 9傅立叶红外光谱仪进行使用，更方便快捷。衰减全反射技术 (ATR)是目前比较广泛的采样技术。ATR可以进行原位定性或定量测试，样品基本不需要制备，直接将样品放在ATR晶体上就可以进行测试。因此可以大大加快测试速度、提高测试效率。　　ATR的工作原理是红外光束进入折光指数较高的晶体中红外光束从晶体表面反射回来，但同时在样品中有一个衰减波区域，这部分红外光束有部分被样品吸收而反射出来到达检测器以获得样品的红外光谱的信息。全反射现象不完全是在两种介质的界面上进行，部分光束要进入到样品介质一段距离后才反射回来，透入到样品介质的光束，在样品的透光区，反射光能几乎等于入射光能，而在样品的吸收区，则有部分入射光被吸收。“全反射"是衰减的，其衰减程度与样品的吸收系数的大小有关。因此扫描整个中红外区即可得到一个非常类似于透光光谱的红外光谱，一般称为ATR光谱。衰减全反射中谱带的强度除了取决于样品本身的吸收性质以外，还和光线在样品表面反射的次数以及穿透样品的深度有关，一般来说，穿透越深，吸收越强。

全反射太阳光模拟器,ABA级SS0.5特点：全反射光路 ，无色差 高紫外输出，可用于模拟外太空 4英寸触屏、高稳定性电源 加拿大制造，质量可靠 人工太阳辐射的高强度、均匀照明 通常，高功率太阳能模拟器使用椭球形反射器来捕获来自反射器内部弧光灯源的光，这种布置导致具有明亮外部区域和黑暗中心的光图案。这种不均匀性在许多太阳能模拟器应用中是不可接受的，因此，迫使我们的许多太阳能模拟器竞争对手使用涉及扩散器的设计来减少不均匀性。这导致目标区域上的强度降低和光谱失真。 Sciencetech’s解决这些问题的方法是使用一种独特的反射镜系统，将光“折叠”到目标平面上，有效地减少了损失的光，几乎没有光谱失真，还确保了输出光束中没有色差。 此外，Sciencetech的每个太阳能模拟器都可以定制，以最适合您的需求。全反射太阳能模拟器的设计允许在功率和均匀性之间进行权衡。可以用更低的功率实现更高的均匀性；或者可以增加功率并且降低均匀性。

用于薄膜评估的波长色散X射线荧光光谱仪同时对各种薄膜的薄膜厚度和成分进行无损、非接触式分析这是一种波长色散X射线荧光光谱仪（WD-XRF），可以以非破坏性和非接触方式同时分析尺寸达~200mm的晶圆上各种薄膜的厚度和组成。 XYθZ驱动样品台（专利方法）可以精确分析各种金属膜，避免衍射射线的影响。 4kW大功率X射线管可实现超轻元素的高精度分析，例如BPSG薄膜的痕量元素测量和硼分析。 还支持C-to-C运输机器人（可选）。 它配备了自动校准（全自动每日检查和强度校正功能）。支持微量元素的浓度和成分分析适用于从轻元素到重元素的各种元素： 4是~92U高灵敏度硼检测仪AD-硼我们不断开发新的光学系统，例如提高硼分析能力，以提高分析的准确性和稳定性。 此外，降温机构和真空度稳定机构是稳定的标准设备。X-Y-θ 驱动级X-Y-θ驱动样品台和测量方向设置程序可以在整个晶圆上精确测量薄膜厚度和成分分布。 铁电薄膜也不受衍射光束的影响。应用半导体器件BPSG，SiO2四3N4、・ ・ 掺杂多晶硅（B，P，N，AS）， Wsix、・ ・ Al-Cu， TiW， TiN、TaN， PZT， BST， SBT， ・ ・ MRAM、・ ・ 金属膜 W， Mo， Ti， Co， Ni， Al， Cu， Ir， Pt， Ru， ・ 磁盘 CoCrTa， CoCrPt， DLC， ・ NiP， ・ 磁光盘 Tb-FeCo， ・ 磁头 GMR， TMR， ・ 广泛的固定测角仪产品阵容我们根据膜厚和膜结构提供最合适的固定测角仪。 我们还在准备一个专用的光学系统，可以分析硅晶圆上的Wsix薄膜。全自动日常管理功能自动校准为了获得准确的分析值，必须对仪器进行正确校准。 为此，必须定期测量检查晶圆和PHA调整晶圆作为管理晶圆，以保持设备的健康状况。 这种常规校准工作是完全自动化的，减少了操作员的工作量。 这就是AutoCal功能。与 C-to-C 自动输送兼容除了开放式暗盒外，还支持 SMIF POD。 兼容200mm以下的晶圆。 此外，还可以与主机进行SECS通信，并支持各种CIM/FA格式。紧凑节能设计主机占地面积1m2下面的紧凑型设计。 无油变压器的使用也使辅助设备更加紧凑和节能设计。同时评估薄膜厚度和成分适用于所有薄膜类型支持小于 200 mm 的晶圆和介质盘高分析性能、准确性和稳定性获得专利的XYθZ驱动样品台，可获得准确的XRF结果高灵敏度硼分析（带AD硼通道）使用可选的 C 到 C 自动加载器进行自动校准无油变压器X射线发生器功耗比以前的型号低 23%规格/规格产品名称WDA-3650技术同步波长色散X射线荧光光谱仪（WD-XRF）用最大 200 mm 晶圆的多层堆叠的厚度和成分科技4 kW X 射线发生器，带 XYθ 样品台，Rh 阳极 WDXRF主要成分多达 20 个通道，固定类型（₄ Be 至 ₉ ₂ U），扫描类型（₂ ₂ Ti 至 ₉ ₂ U）选择灵敏的AD-硼通道，使用C-c-C自动加载器进行自动校准控制（电脑）内置电脑，微软视窗操作系统车身尺寸1120（宽）x 1450（高）x 890（深）毫米质量600公斤（主机）权力三相 200 VAC 50/60 Hz、30 A 或单相 220-230 VAC 50/60 Hz 40 A

仪器简介：PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析 48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析. 软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户. 维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.技术参数：硬件： 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30μm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 采用新型光学系统 采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。 48样品交换器 实现平台式共享化，最多可放置48个样品。 多样品交换器实现了省空间。 1次X射线滤光片 除去X射线光管的特征X射线光谱， 在减低背景干扰方面发挥威力。 双泵、双真空系统 采用双真空系统（样品室/预抽真空室）。 防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统 的结构设计，样品交换实现更高效率。 粉末附件 电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入 真空泵内。 定点分析 100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像 上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。 采用r-θ样品台，避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰，可得到最佳灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台) 节能、节省空间 节能功能（自动减少X射线光管输出） 减少冷却水量 5L/min（水温30?以下） PR气体流量减少（5mL/min） 省空间 采用联体设计，设置面积只占传统仪器70%的空间。 便于维护 PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗 软件 新版SQX软件 在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX（Scan Quant X），追加了新功能。 委托分析EZ扫描 采用对话框形式设定，可进行SQX分析。 定角测试模式 微量元素，采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法，使用抑制统计变动的X射线强度，算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。 应用模板 各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 散射线FP法 不需设定非测试成分，也可以准确分析。散射线强度计算，可以考虑几何学效果，没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品，使用SQX软件，可以简单、准确地进行分析。 流程条 测试、处理流程显示。根据流程条内容，击鼠标键，便可按顺序进行所需的测试、处理。 其它特点的软件功能 ? SQX分析功能 ? Mapping数据库 ? 材质辨别 ? 理论重叠校正 ? 自动程序运转 ? 校正投入量计算 应用软件包 应用软件包，设定样品（标准样品、漂移校正样品） CD-ROM（测试条件、校正常数等）、操作手册全盘提供。主要特点：特点： 轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高 配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm 完美的无标样分析-最新的SQX软件 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

仪器简介：适用于Windows2000或Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能。频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离，见背面）图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞)测量模式用于：单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。可编程的应用项图标，用于快速产品选择。完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估。报告生成，数据输出语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文菜单中的某些选择项可授权使用技术参数：1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；2.原始射线从上至下；3.X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV，40kV或30kV；4.单个0.3mm直径(12 mils)的标准视准器，在附加费用的基础上可选择0.05×0.3 mm(2×12 mil)带槽视准器；或直径0.1mm 或直径0.2mm；或0.4X0.4mm方形。5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）；6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门；7.嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件。7.从X-射线头部（X-射线管，成比例的反射接收器及视准器）至测试件平面支承板有三种可选择的固定距离。需要的设定距离（见背面）必须在定货时明确（标准设定：中间位置）8.试件查看用彩色摄像机9.带有LED状态指示灯的测量开始/结束按钮与测试箱集成在一体主要特点：FISCHERSCOPE XDL-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。XDL-B 的特色是独特的距离修正方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL-B 带测量距离固定的X-射线头，这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。特别针对微波腔体之类样品的底部镀层厚度进行测量。

用150W光源的AAA级太阳模拟器的制造商，并继续通过高效率的系统进行创新。 SS150是我司*小的全反射型号，使其极为便携且易于使用。 我司专有的全反射设计使用镀金属的镜面，并在不影响折衷的情况下使整个光谱通过。 与基于折射的系统相比，这是明显的优势，基于折射的系统受到所使用的透明材料的特性的限制。 特征l AAA级太阳模拟器l 氙气短弧灯l 全反射光学系统l 无色差l 多种可用的过滤器l 模块化设计l 许多可选组件 应用领域l 光伏测试l 暴露测试l 轻度漂白l 高紫外线测试 不均匀度Item NumberModel #Target Diameters (cm) 1 SunClass AClass BClass C160-9001SS15056.57.5 光谱匹配Range (nm)ASTM AM 1.5GSciencetech FRSS AM 1.5GASTM AM 0Sciencetech FRSS AM 0Class A Match300-4008.00%7.30%PASS400-50018.40%15.12%16.40%17.70%PASS500-60019.90%17.54%16.30%17.00%PASS600-70018.40%19.67%13.90%14.10%PASS700-80014.90%15.63%11.20%10.50%PASS800-90012.50%12.34%9.00%9.20%PASS900-110015.90%19.70%13.10%14.00%PASS1100-140012.20%10.20%PASS 技术规格Collimation Angle (± degrees)2.5 degree divergenceTypical Power Output(mW/cm^2 at target )100Uniformity2%Uniformity ClassificationA (ASTM E927-05)Temporal Instability2%Temporal Instability ClassificationA (ASTM E927-05)Spectral MatchSee tableSpectral Match ClassificationA (ASTM E927-05)Working Distance (cm)76 +/- 2.5 cmLamp Power Requirements150WLine Regulation Requirement0.01% 可以配置全反射太阳能模拟器来满足您的要求。 均化器可以被定制为包括计算机可控制的百叶窗，并且灯罩可以被定制为包括光强度稳定器。 还提供了一系列太阳能电池卡盘，包括真空夹，热电或水冷，微型定位器以及完整的IV测试软件和硬件等选件。 SS150型可以安装在垂直支架上，以进行向下操作。 配置选项Lamp Housing Configuration Options(FS-02) Light Intensity Stabilizer115-9021Spare Lamp, 150W Xe, Ozone Free650-0055Homogenizer Configuration Options(SSES) Computer Controlled Shutter160-8004(CTBT) Beam Turner Assembly160-9009Body Options(DFS-150) Downward Facing Vertical Stand. Includes mounting plate, target table, foot base.160-9013(BASE-SS-ROLL) Solar Simulator Base Assembly with Castors165-8048Complete Package Options(SS-150A/DFS) SS150 with Downward Facing Stand.Includes SS150, Power Supply, External Igniter and DFS-150160-9021 滤镜选项Item numberDescriptionFilter Holder100-80353” filter holder for SS style filters, 2.5 mm thick maximumSpectral Filters—near 0 degree—3” filter slot in homogenizer640-900575 mm Mesh 34% Neutral Density Filter with Holder640-900675 mm Mesh 49% Neutral Density Filter with Holder640-900775 mm Mesh 71% Neutral Density Filter with Holder640-9011Visible longpass filter 400±6 nm, with Holder640-9012Hot Mirror for UV applications, 3” Square640-8014Pass UVA, block UVB, VIS, and IR640-9014Pass VIS-IR, Block UVA+B – 0 degree option (WG395)640-9017Pass UVA-VIS, IR block UVB640-9016Pass UVA+B, Block VIS, IR – 0 degree option640-8012Pass UVA+B, pass some IR Block VIS – 0 degree option640-0120Pass UVB Block UVA and aboveAir mass filter – near 0 degree incidence160-8020Air Mass AM0 filter for SS serious solar (Standard Range)160-8022Air Mass AM0 filter for SS serious solar (Standard Range)160-8024Air Mass AM0 filter for SS serious solar (Standard Range)160-8026Air Mass AM0 filter for SS serious solar (Standard Range)160-8028Air Mass AM0 filter for SS serious solar (Standard Range)Homogenizer IR water filter100-8018IR water filter, 3” Stainless steel, Fused Silica WindowBeam turning filter – 45 degrees – used with 165-8034640-8004Pass VIS, block UV, IR – CTBT option640-8008Pass IR, Block VIS, UV640-8011Pass UVA+B, block VIS, IR – CTBT option

仪器简介：X射线荧光定硫仪 RX-620高精度X射线荧光定硫仪利用一个紧凑的X射线管迅速的非破坏性测试石油含硫量测量30ppm到6wt%宽阔的测量范围一体机结构包括了显示器、操作键盘和内置打印机有一个放12个样品的turret，可当作内置样品转换器除正在测量的样品，其它样品在测量过程中可自由插入和取出， 采用单一样品池探测系统，在测量中可做到完善的现场防护。 由PTFE制造的样品池，可重复使用聚脂薄膜是唯一耗材X射线荧光定硫仪 Model RX-360---仅仅没有turret 的单点测量型号 重量（只有12公斤）内置打印机自动1点、2或多点（10）校准便携（直流+12V车用蓄电池）技术参数：测量原理：能散X射线荧光法测量标准：ASTM D4294,ISO 8754,JIS K2541 B7995测量样品：Kerosine, 石脑油，柴油，原油和重油等测量范围：0.003-6.00wt%样品量：大约3到5ml测量精度：5-200ppmC/H ratio correction:0.003wt%/1C/H,with sample containing 1wt%自动校准：自动1点、2点或3点标定，自动多点（最大12点）标定样品转换器：Turret型12个位置转换器，acrylic防尘盖外部接口：RS-232C(1个端口)打印机：内置点矩阵打印机显示：液晶显示器（4行20个数字）X射线泄漏：0.6µ Sv/Hr 或更小在器械表面安全：互锁机械装置，防止X射线意外泄漏主要特点：

Miracle 衰减全反射附件适用于各品牌红外光谱仪，提供多种材质晶体盘以满足不同应用需要。考虑到不同样品采样压力不同，测试结果有偏差，提供高压压头，可微调压头，带压力显示压头。对于高挥发性液体，或毒性大的样品，提供专用的液体附件。近期又开发出可变温的附件以配合变温条件下的测试，温度范围：室温-130℃。

我们制造了四个高功率版本的AAA级全反射太阳模拟器。 我司专有的全反射设计使用镀金属的镜面，并能使整个光谱通过，而毫不妥协。与基于折射的系统相比，这是明显的优势，基于折射的系统受到所使用的透明材料的特性的限制。特征l AAA级太阳能模拟器l 氙气短弧灯l 全反射光学系统l 无色差l 各种可用的过滤器l 模块化设计l 许多可选组件 应用领域l 光伏测试l 暴露测试l 轻度漂白l 高紫外线测试 不均匀性Part No.Model No.Class ATarget Diameters (cm)*Class BTarget Diameters (cm)1 Sun0.5 Sun2 Sun1 Sun0.5 Sun2 Sun165-9002SS0.5kW7.512.46.39157.5165-9001SS1kW12.7188.91521.510.5165-9007SS1.6kW1622.611.2202713.5165-9008SS2.5kW20.328.714.2243417*Target diameters are specified for AM1.5G SUNS, for other power levels the maximum ach光谱匹配Range (nm)ASTMAM 1.5GSciencetech FRSS AM 1.5GASTM AM 0Sciencetech FRSS AM 0 + 25% of Standard300-4008.00%7.30%PASS400-50018.40%21.81%16.40%17.70%PASS500-60019.90%20.65%16.30%17.00%PASS600-70018.40%17.81%13.90%14.10%PASS700-80014.90%13.00%11.20%10.50%PASS800-90012.50%11.00%9.00%9.20%PASS900-110015.90%15.73%13.10%14.00%PASS1100-140012.20%10.20%PASS 技术规格Collimation Angle (± degrees)3Typical Power Output (mW/cm2) (at target )100Uniformity2%Uniformity ClassificationA (ASTM E927-05)Temporal Instability2%Temporal Instability ClassificationA (ASTM E927-05)Spectral MatchSee tableSpectral Match ClassificationA (ASTM E927-05)Working Distance (cm)Depends on modelLamp Power Requirements500-2.5kWLine Regulation Requirement0.01% 可以根据您的要求配置全反射式太阳模拟器。 均质器可以自定义为包括计算机可控制的百叶窗，或可变焦点选项，使您可以将均匀平面放置在距模拟器输出不同的工作距离处。 有许多过滤选项可用。 一些滤波器选项通过内置滤波器抽屉添加到光束线上。 其他过滤选项需要增加一个光束转向过滤器支架。 还提供一系列太阳能电池卡盘，包括真空夹，热电或水冷却，微型定位器以及完整的IV测试软件和硬件等选件。 可以将SS0.5k*SS1.6k型号安装在垂直支架上，以进行向下操作。 请注意，SS2.5k型号必须安装在桌子上，以便朝下操作。 配置选项Homogenizer Configuration Options(SSES) High Power Computer Controlled Shutter165-8005(SSVF-SS) Variable Focus165-8011Homogenizer output window (G1 Quartz) for sealedContacthomogenizer optionHomogenizer output window (Si-UV) for sealed ho-Contactmogenizer optionOutput Flange Options(CTBT-SS) Beam turning mirror165-8018(CTBT-RF) Dichroic beam turning assembly165-8034Body Options(BASE-SS) Base assembly for vertical stand165-8030(BASE-SS-ROLL) Solar simulator base assembly with casters165-8048Sample Tray Options(SAMP-STD) Standard solar simulator and clamp assemblysample plate165-9006A range of solar cell chucks and sample holding accessories are availablecooling andBrowse chucksComplete Package Options(DFS-SS) Downward facing stand package SS0.5-1.6k simulators. (Includes CTBT-SS,BASE-SS and SAMP-STD).for160-8016(DFS-2.5SS) Downward facing stand package for SS2.5k.165-8050 滤镜选项我司每个全反射太阳能模拟器都包括一个FH-SS过滤器托盘。 FH-SS过滤器托盘*多可容纳2个过滤器，并位于模拟器光束均化器中。 通过将产品（FH-SS-ADD）添加到您的订单中，可以增加两个过滤器插槽。 Item Number Description Filter HolderFT-75-3 3" filter holder for SS style filters, 2.5mm thick max Spectral Filters • near 0 degree incidence • 3M diameter, mounted in FT filter mountMF-34-FT-3 75mm Mesh 34% Neutral Density Filter with Holder MF-49-FT-3 75mm Mesh 49% Neutral Density Filter with HolderMF-71-FT-375mm Mesh 71% Neutral Density Filter with HolderHPF-BB-NIR-FT-3 Hot Mirror for UV ApplicationsHPF-LP-VIS-FT-3Visible longpass filterHPF-LP-NIR-FT-BInfrared longpass filterHPF-BB-VIS-FT-3Visible blocking filterHPF-LP-UVA-FT-3UVA longpass filterHPF-BB-UVB-FT-3UVB band blocking filterHPF-BP-VIS-FT-3Visible bandpass filter, 0 DeeHPF-LP-420-FT-3420nm longpass filterAir mass filters - near 0 degree incidenceAMO-FT-3 Air Mass AMO Filter for SS Series Solar (Standard Range)* AM1.0D-FT-3 Air Mass AM1.0D Filter for SS Series Solar (Standard Range) AM1.5G-FT-3 Air Mass AM1.5G Filter for SS Series Solar (Standard Range) AM1.5D-FT-3 Air Mass AM1.5D Filter for SS Series Solar [Standard Range) AM2.0D-FT-3Air Mass AM2.0D Filter for 5S Series Solar (Standard Range)*Using AMO filter reduces the target size achievable for 1 sun class A Homogenizer IR Water filter100-8018IR Watftr Filter, 3U Stainless Fusftd SHica Windows beam turning filters - 45 degree - used with CT6T*RF640-8004 Pass VIS, Block UVJR - CTBT option 640-8008 Pass IR, Block UV Block VIS640-8011Payy UVA+B, Bk V1S+IR - CTBT optionPPE Accessories720-0159(UV-Glasses-Drk) Dark safety glasses

弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备， 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等；同时致力于开发多种 结构的弯晶构型，包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试， 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律，即当入射X射线与晶体晶格相互作用时，会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状，能够精确控制X射线的衍射效应，从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1，衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一，使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试，对各种弯晶材料进行了全面的研究，总结出相应的的性能特点，可以为客户提供优化设计的支持。弯晶石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶，并对各种弯晶构型做了详细测试，综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用，XRF能够在激发端有效降低荧光背景，检出限相比传统能谱方案降低一个数量级，如硫的检出限可达到1ppm以下，符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦，部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时，检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级，测硫方案符合ASTM 7039标准；部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值，还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务，将设计、制作和调试打包成一体，为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器，即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持，保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。

弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备， 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等；同时致力于开发多种 结构的弯晶构型，包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试， 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律，即当入射X射线与晶体晶格相互作用时，会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状，能够精确控制X射线的衍射效应，从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1，衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一，使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试，对各种弯晶材料进行了全面的研究，总结出相应的的性能特点，可以为客户提供优化设计的支持。弯晶石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶，并对各种弯晶构型做了详细测试，综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用，XRF能够在激发端有效降低荧光背景，检出限相比传统能谱方案降低一个数量级，如硫的检出限可达到1ppm以下，符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦，部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时，检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级，测硫方案符合ASTM 7039标准；部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值，还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务，将设计、制作和调试打包成一体，为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器，即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持，保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。

X射线荧光光谱仪FEDX-M810：一、技术规格：1.分析元素范围：Na(11)-U(92)2.含量分析范围：1ppm-99.999% 3.样品种类：颗粒、固体、液体、粉末等4.分析精度：标准偏差≤0.1%（国标标样）5.X射线源靶材：Ag靶6.滤光系统：6种(Cu、Al、Mo、Ti、Fe等组合)7.准直器：6mm、4mm、3mm、1mm、0.5mm可选。8.真空系统：配置真空系统，优化样品分析环境，提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度。9.仪器外观：台机结构；内设防震降噪装置、射线外溢屏蔽装置和四道散热装置；坚固耐用；确保仪器安全可靠稳定运行。10.X射线防护：符合GBZ 115-2002《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》。二、核心硬件配置：1. 探测器1.1. 美国探测器Amptek FASTSDD/Peltier1.2. 分辨率≤130eV1.3. 输出计数率高至1000KCPS1.4. 峰化时间≤12.8μs1.5. 峰背比180002. X射线源2.1. 电压0-50KV、步进1KV连续可调2.2. 电流0-1000uA、步进1uV连续可调2.3. 最大功率50W3. 高压发生器3.1. 电压0 -50 KV3.2. 电流0-1000uA3.3. 最大功率50 W3.4. 8小时稳定性≤0.05%

PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析 48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析. 软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户. 维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.技术参数：硬件： 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30μm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 采用新型光学系统 采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。 48样品交换器 实现平台式共享化，最多可放置48个样品。 多样品交换器实现了省空间。 1次X射线滤光片 除去X射线光管的特征X射线光谱， 在减低背景干扰方面发挥威力。 双泵、双真空系统 采用双真空系统（样品室/预抽真空室）。 防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统 的结构设计，样品交换实现更高效率。 粉末附件 电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入 真空泵内。 定点分析 100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像 上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。 采用r-θ样品台，避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰，可得到最佳灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台) 节能、节省空间 节能功能（自动减少X射线光管输出） 减少冷却水量 5L/min（水温30?以下） PR气体流量减少（5mL/min） 省空间 采用联体设计，设置面积只占传统仪器70%的空间。 便于维护 PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗 软件 新版SQX软件 在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX（Scan Quant X），追加了新功能。 委托分析EZ扫描 采用对话框形式设定，可进行SQX分析。 定角测试模式 微量元素，采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法，使用抑制统计变动的X射线强度，算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。 应用模板 各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 散射线FP法 不需设定非测试成分，也可以准确分析。散射线强度计算，可以考虑几何学效果，没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品，使用SQX软件，可以简单、准确地进行分析。 流程条 测试、处理流程显示。根据流程条内容，击鼠标键，便可按顺序进行所需的测试、处理。 其它特点的软件功能 ? SQX分析功能 ? Mapping数据库 ? 材质辨别 ? 理论重叠校正 ? 自动程序运转 ? 校正投入量计算 应用软件包 应用软件包，设定样品（标准样品、漂移校正样品） CD-ROM（测试条件、校正常数等）、操作手册全盘提供。主要特点：特点： 轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高 配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm 完美的无标样分析-最新的SQX软件 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间