全反射射线荧光仪

这款X射线荧光屏是欧洲进口的优质闪烁体转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度，非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。这种X射线荧光屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底，具有超薄和超高分辨率的优点（最薄可达5微米以下）。这两种闪烁体材料（YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体）具有具有良好的化学、力学和温度性能，非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。中国领先的进口X射线成像系统旗舰型服务商--孚光精仪！这X射线荧光屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计，并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄成像荧光屏而言，如果使用高灵敏度的CCD探测器照相，就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的X射线荧光屏,高分辨率的X射线荧光屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG：Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图)使用这种镀在光学衬底上的X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏）我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏，也可与CCD耦合一起。FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图）和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图） 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏： 这种超薄荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物，不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏，但是厚度需要增加到0.050mm左右。

极端环境衰减全反射附件是全球唯一的为极端环境使用而设计制造的ATR附件，它可以耐受250摄氏度的高温和800帕斯卡高压的测量环境并兼具方便更换清洗ATR晶体的功能。极端环境衰减全反射附件的特点让广大用户随意更换ATR晶体而不必购买安装支架。极端环境衰减全反射附件特点采用独一无二的45度ZnSe单内反射元件，与另外两个光学镜片底座组合而用，用于光束进入样品和返回仪器探测器，ATR附件这种设计最大程度地减少光束能量损失，平均透过率可达百分之八十五以上。ATR附件采用了Kalrez垫片密封，从根本上消除了环氧树脂密封带来的问题。垫片不会与样品发生任何反应，从而避免了光谱曲线出现假峰或能量消退等问题。采用双控制器配置，方便抽样的自主管理和监测。可选方案：1.不带加热和加压功能的液体流动盒（使用平面顶板或液体流经）；2.加热范围为0-200摄氏度的液体盒；3.非加热液体流动盒；4.Ge或ZnS晶体用于衰减全反射,ATR附件,衰减全反射附件。极端环境衰减全反射附件可选FTIR光谱仪反射组件（PartNo. #9000 ）ATR附件 该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有附件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR附件配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统.组合型HATR Part No #9110 衰减全反射附件组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 衰减全反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

多重衰减全反射附件是 一种高效率的红外傅立叶变换光谱仪多重ATR附件，不需要频繁准直校正，特别适合日常使用。多重衰减全反射附件包括组合式平/槽顶板（每个都配有80x10x4mm 45度ZnSe 梯形ATR元件）、平板夹具、挥发物盖子、 清除剂组件。多重衰减全反射附件特点顶板非常容易取掉，因而非常方便快速清洗 以及与其他部件交换使用。多重ATR附件顶板采用针式固定方法，不仅保证重复操作精度，而且确保使用的方便性和分析精度。还有多种选项，ATR衰减全反射材料就有ZnS,Ge,Si,KRS-5,AMTIR和CdTe等选择，入射角有30，45和60度等选择。配备了100ml和500ml流经顶板和较高温度环境使用的配件包。可选: FTIR光谱仪反射组件（PartNo. #9000 ）多重衰减全反射附件该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统. 组合型HATR Part No #9110 多重ATR附件组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 多重衰减全反射附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 多重ATR附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

这款X射线转换屏是欧洲进口的优质闪烁体转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度，非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。这种X射线转换屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底，具有超薄和超高分辨率的优点（最薄可达5微米以下）。这两种闪烁体材料（YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体）具有具有良好的化学、力学和温度性能，非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。这X射线转换屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计，并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄成像荧光屏而言，如果使用高灵敏度的CCD探测器照相，就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的X射线转换屏,高分辨率的X射线荧光屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG：Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图)使用这种镀在光学衬底上的X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏）我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏，也可与CCD耦合一起。FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图）和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图） 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏： 这种超薄荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物，不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏，但是厚度需要增加到0.050mm左右。

衰减全反射探头筱晓光子供应衰减全反射探头，基于硫化物(CIR，1.5-6.0μm)和银化物(PIR，4.0-18.0μm)光纤开发而成。该系列衰减全反射探头具有如下特点：近红外/中红外透过率高、流动液体测量无盲区、恶劣工业环境工作稳定、使用所有光谱仪/自动化过程控制接口。衰减全反射探头应用广泛，包括：实时在线监控、过程分析技术、远程聚合控制、结晶过程监测。ATR-ProbeSpecificationProbe typeDiamond ATRZnSe ATRCubic Zirconium ATRTransmission range5.2-17μm+3.2-4.5μm3.2-17μm1.5-6.5μm600-47500px-1+2300-77500px-1600-77500px-11550-166250px-1Fiber typePIR-900/1000(AgCl:AgBr)PIR-900/1000(AgCl:AgBr)CIR-500/550(As-S-glass)Temperature range-150°C/+140°C-150°C/+140°C-150°C/+90°CPressure200Bar10Bar100BarTotal length1.5m, options: 1 to 5mShaft length230mm, options: 100 to 500mmShaft diameter12mm, 6.3mm, options: 3mmShaft materialHastelloy C22Length of legs300mm, options: 100 to 500mmProtective tube materialLiquid tight SS-conduit, KOPEX-tubeMinimal bending radiu130mmInput/output connectorLong SMA, options: any other typeCompatible process interfaceCeramat-FOS or SensoGate-FOS

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要通用衰减全反射 (UATR) 附件适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR)金刚石/硒化 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052金刚石/KRS-5 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053Ge/Ge UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持UATR附件用备用/替换件顶板和耗材UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048UATR 0.5mm套管 1 L1202049UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050UATR 锥形套管 1 L1201980UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024Miracle ATR附件单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。Miracle单反射ATR金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127ZNSE适用于Spectrum GX L1272103GE适用于Spectrum GX L1272104漫反射附件是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。用于 Spectrum 400/100/One L1200351漫反射附件耗材大容量杯 1 L1201654微量杯 1 L1201655多功能样品支架 1 L1201865金属镀层研磨垫 100 L1275106金属镀层研磨杵 100 L1275105硅碳磨研磨垫 100 L1271021金刚石研磨杵 100 L1275102水平ATR附件PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型)与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。适用于 Spectrum 400/100/One L1200351HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312HATR附件用备用/替换件顶板和耗材HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314HATR Ge 45° 平板 1 L1200333HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334HATR 压力臂套件 1 L1200321粉末压片机 1 L1201944挥发物盖 1 L1205436

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要通用衰减全反射 (UATR) 附件适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR)金刚石/硒化 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052金刚石/KRS-5 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053Ge/Ge UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持UATR附件用备用/替换件顶板和耗材UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048UATR 0.5mm套管 1 L1202049UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050UATR 锥形套管 1 L1201980UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024Miracle ATR附件单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。Miracle单反射ATR金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127ZNSE适用于Spectrum GX L1272103GE适用于Spectrum GX L1272104漫反射附件是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。用于 Spectrum 400/100/One L1200351漫反射附件耗材大容量杯 1 L1201654微量杯 1 L1201655多功能样品支架 1 L1201865金属镀层研磨垫 100 L1275106金属镀层研磨杵 100 L1275105硅碳磨研磨垫 100 L1271021金刚石研磨杵 100 L1275102水平ATR附件PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型)与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。适用于 Spectrum 400/100/One L1200351HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312HATR附件用备用/替换件顶板和耗材HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314HATR Ge 45° 平板 1 L1200333HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334HATR 压力臂套件 1 L1200321粉末压片机 1 L1201944挥发物盖 1 L1205436

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要通用衰减全反射 (UATR) 附件适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR)金刚石/硒化 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052金刚石/KRS-5 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053Ge/Ge UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持UATR附件用备用/替换件顶板和耗材UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048UATR 0.5mm套管 1 L1202049UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050UATR 锥形套管 1 L1201980UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024Miracle ATR附件单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。Miracle单反射ATR金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127ZNSE适用于Spectrum GX L1272103GE适用于Spectrum GX L1272104漫反射附件是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。用于 Spectrum 400/100/One L1200351漫反射附件耗材大容量杯 1 L1201654微量杯 1 L1201655多功能样品支架 1 L1201865金属镀层研磨垫 100 L1275106金属镀层研磨杵 100 L1275105硅碳磨研磨垫 100 L1271021金刚石研磨杵 100 L1275102水平ATR附件PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型)与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。适用于 Spectrum 400/100/One L1200351HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312HATR附件用备用/替换件顶板和耗材HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314HATR Ge 45° 平板 1 L1200333HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334HATR 压力臂套件 1 L1200321粉末压片机 1 L1201944挥发物盖 1 L1205436

XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号：CAT. NO：1850 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 ： 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100

富兰德 X射线硫含量测定仪 X射线荧光 GB/T11140符合GB/T11140、GB/T17040、 ASTM D4294所规定的要求技术参数1、分析范围：50PPM-5%。2、分析范围宽度： S % max—S % min≤5%； 例如石油：S：0.001~5%。3、固有误差、分析精度:石油,符合国家标准GB/T 17040 , 同时符合美国国家标准ASTM D4294的相关要求。4、系统分析时间： 1～999秒，推荐值为60秒。5、检测限：10ppm6、使用条件：环境温度：5~+40℃，相对湿度：≤85%，7、供电电源：220V±20V，50Hz，整机功耗：

天津能谱科技自主研发的ATRS-01万能衰减全反射附件样品无需前处理，简化了样品的制作过程，被广泛应用于各种固体和液体样品测试，如塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。ATRS-01主要采用ZnSe晶体，具有硬度好透过率高可以满足各种常规样品的测试，同时可配合我公司生产iCAN 9傅立叶红外光谱仪进行使用，更方便快捷。衰减全反射技术 (ATR)是目前比较广泛的采样技术。ATR可以进行原位定性或定量测试，样品基本不需要制备，直接将样品放在ATR晶体上就可以进行测试。因此可以大大加快测试速度、提高测试效率。　　ATR的工作原理是红外光束进入折光指数较高的晶体中红外光束从晶体表面反射回来，但同时在样品中有一个衰减波区域，这部分红外光束有部分被样品吸收而反射出来到达检测器以获得样品的红外光谱的信息。全反射现象不完全是在两种介质的界面上进行，部分光束要进入到样品介质一段距离后才反射回来，透入到样品介质的光束，在样品的透光区，反射光能几乎等于入射光能，而在样品的吸收区，则有部分入射光被吸收。“全反射"是衰减的，其衰减程度与样品的吸收系数的大小有关。因此扫描整个中红外区即可得到一个非常类似于透光光谱的红外光谱，一般称为ATR光谱。衰减全反射中谱带的强度除了取决于样品本身的吸收性质以外，还和光线在样品表面反射的次数以及穿透样品的深度有关，一般来说，穿透越深，吸收越强。

Tydex公司专业订制生产THz光学镜片，可以提供太赫兹专用离轴抛物镜、滤波片、偏振片、窗片、透镜、棱镜、波片、分束片、反射镜和菲涅尔透镜等，同时还提供太赫兹衰减器、太赫兹宽带相位变换器。太赫兹棱镜THz ATR Prisms我们可以提供以下规格的棱镜：- 传统（直角）棱镜。这类产品主要用于光学设计- 衰减全反射（ATR）棱镜。这类棱镜用于分析那些难以用常规透射方法来分析的材料。由于特殊材料菲涅尔反射和对光的强烈吸收，用吸收光谱来分析此类材料几乎是不可能的。对于这种情况，研究这类吸收材料最适用的方法就是衰减全反射。这个方法基于此效应效应：光在光密介质n0和和吸收介质（有较小的折射率n）界面，以大于全反射临界角θc=arcsin(n/n0)入射时，反射效率会因为倏逝波与被测材料表面等离子体相耦合而衰减。此反射效率依赖于入射角、偏振方向和被测材料的折射率。正确的选择棱镜参数（尤其是棱镜角度）会获得好的ATR光谱。在THz光谱内使用衰减全内反射方法可以研究材料在102-104cm-1(1um-100um:没引入2π)光谱范围内的吸收效率。常规参数材料高阻硅 HRSi尺寸公差，mm±0.2角度公差，mm±30表面平整度，scr（斑）/dig（坑）80/50表面精确度，mm±0.01相对于理想平面抛光面的表面平整度，Ra2.5

Tydex公司专业订制生产THz光学镜片，可以提供太赫兹专用离轴抛物镜、滤波片、偏振片、窗片、透镜、棱镜、波片、分束片、反射镜和菲涅尔透镜等，同时还提供太赫兹衰减器、太赫兹宽带相位变换器。 太赫兹棱镜THz ATR PrismsDownload THz Prisms Datasheet (PDF, 33 KB)我们可以提供以下规格的棱镜：- 传统（直角）棱镜。这类产品主要用于光学设计- 衰减全反射（ATR）棱镜。这类棱镜用于分析那些难以用常规透射方法来分析的材料。由于特殊材料菲涅尔反射和对光的强烈吸收，用吸收光谱来分析此类材料几乎是不可能的。对于这种情况，研究这类吸收材料最适用的方法就是衰减全反射。这个方法基于此效应效应：光在光密介质n0和和吸收介质（有较小的折射率n）界面，以大于全反射临界角θc=arcsin(n/n0)入射时，反射效率会因为倏逝波与被测材料表面等离子体相耦合而衰减。此反射效率依赖于入射角、偏振方向和被测材料的折射率。正确的选择棱镜参数（尤其是棱镜角度）会获得好的ATR光谱。在THz光谱内使用衰减全内反射方法可以研究材料在102-104cm-1(1um-100um:没引入2π)光谱范围内的吸收效率。常规参数材料高阻硅 HRSi尺寸公差，mm±0.2角度公差，mm±30表面平整度，scr（斑）/dig（坑）80/50表面精确度，mm±0.01相对于理想平面抛光面的表面平整度，Ra2.5 Prisms are manufactured upon request. For price quotation and delivery please fill in our Request form.The finished parts of different dimensions are available from stock and supplied within a week.

质量保证正品、XRF样品薄膜、Chemplex、X射线荧光光谱仪、X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜--美国Chemplex-3025#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。XRF样品薄膜，又名X射线荧光光谱仪样品薄膜，薄膜样本支撑窗，XRF样本薄膜，XRF样品膜，X-ray样品薄膜，ROHS检测专用薄膜，迈拉膜、麦拉膜、 RoHS/WEEE优质拉伸膜，是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在XRF样本杯内的物质。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：3025产品信息：Etnom® ，厚度3.0μm，直径63.5mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 有方形托架的圆片：3025 Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 2.5”(63.5mm) 100片

XRF样品测试杯规格、适用于牛津仪器、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯美国Premier XRF样品杯： 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO)，或X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO SC-7332 品牌：美国Premier Lab （原装进口） 规格：双开端口特点：进动铝 配套套筒可兼容O型环地位标签CatalogNoOD(mm)ID(mm)H(mm)V(ml)SC-7332323038.518

美国Chemplex样品杯XRF样品杯，又名X荧光光谱仪样品杯、XRF样品杯、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、高纯度聚脂测试杯，是应用于X荧光光谱仪XRF上的一次性量杯，广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。产品类型：XRF样品杯Sample Cups品牌：美国Chemplex型 号：所有型号（欢迎来电索取产品目录）产 地：美国一、产品介绍： Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注，使得Chemplex XRF样本杯在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国专利商标局授予知识产权地位。 Chemplex独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪（XRF）样本杯的质量始于一种特别配置的聚乙烯！ Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的全球知名厂商。从产品研发和设计新概念，在内部生产，Chemplex工业公司是形成了样品制备方法的基础的重大贡献。样本杯的设计始于一个开发一种用于承装和处理X射线分析的液体和粉末状样本物质的方法的创意。 谱飞科技作为美国Chemplex公司的中国代理商，提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪（XRF）的检测实验消耗产品！主要有：高纯度聚脂样品杯，铝制样品杯，样品薄膜等。我们不仅提供各种尺寸和属性的XRF样本杯、样品薄膜，还能根据您的样品类型和仪器品牌/型号为您选择合适的样品杯、样品薄膜。二、XRF样品杯尺寸、属性和仪器兼容性： 为了对样本杯与仪器提供的样本夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样本杯前请告知您使用的X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样本夹持设备的内径、高度和孔径。 我们列出了各种类型的样本杯的属性以更好地服务于应用，有需要的客户请联系本公司。本公司免费为客户提供包括样品杯的式样、尺寸、价格、编号、适用仪器型号等信息的产品目录。适用仪器： 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克Bruker、美国赛默飞世尔科技（热电）Thermo，瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma，Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 （适用X射线荧光光谱仪品牌型号：所有X射线荧光光谱仪包括：尼通(NITON)：Xlt797z、Xlt794、Xlt898；伊诺斯(Innov-X)：AlPHA6000；牛津(Oxford)：Met-5000；帕纳科(Panalytical)：Minipal4、Minipal2；精工(Seiko)：SEA1000A；斯派克（Spectro）：XEPOS、MIDEX M；热电(Thermo)：ARL Quant’X；日本电子（JEOL）JSX－3400R；Horriba等。）三、Chemplex产品系列： 注册商标有：Chemplex、SpectroCertified、SpectroSulfur?、SpectroMicro?、TrimLessTM、ThermoPlasticTM、TrimLessTM、FunnelShapeTM等XRF样品杯。四、产品系列：1000系列带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯 1300系列带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯 1400系列带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯 1500系列带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯 1545系列适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯 1700系列带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯 1800系列带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯 1080,1085,1850系列带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。1、1000系列：TRIMLESS?套筒样本杯与SPECTROSULFUR?分析仪杯，TRIMLESS?套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix，Panalytical Venus与Rigaku（日本理学株式会社）仪器。产品编号：10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。2、1300系列：可重复密封的可通风式XRF样本杯，集成外部溢流储液槽，并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。3、1400系列：单开端可通风XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L*特长单开口端。4、1500系列：双开口端XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。产品编号：1530 双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540 双开口端。5、1600系列：狭缝通风样本杯盖，适用于1500系列XRF样本杯。样品编号：1630样本杯盖、1640样本杯盖。6、1700系列：集成的咬合式通风XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1730 咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。7、1800系列：单开口端XRF样本杯，集成的外部溢流储液槽，通风装置；与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1830 ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。8、1850系列：单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯，Thermoplastic Seal?通风，集成外部溢流储液槽和排泄装置，适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。9、1900系列：双开口端XRF样本杯，顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器；适应于Oxford Lab-X仪器。产品编号：19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2 双开口端。10、1935-OX系列：双开口端XRF样本杯与通风盖，适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子，适用于牛津CK-100，耗材元件，零件编号54-CK-100。11、2100系列：双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽，通风的直接固定盖，TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。产品编号：2132、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。12、3100系列：SPECTROMICRO?样本杯，采用“FUNNELSHAPE?”（漏斗形）样本杯技术。产品编号：3106、3110、3115、3120。

SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪日本堀场SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪备件样品杯样品膜油中硫分析仪SLFA imageHORIBA的SLFA系列油中硫分析仪多年来一直是石油工业中的多数选择。我们不断的改进仪器性能，拓展仪器的适用性，来满足用户的要求。我们的X射线荧光硫分析仪符合美国ASTM D4294和ISO 8754 ，同时提供最符合成本效益的石油中的硫测量。SLFA - UV21系列操作简便，具有无与伦比的精度和准确性，符合ASTM标准D5453紫外荧光技术和ISO 20846 ，具有极佳的灵敏度，提供了更低水平级别的硫元素的测定。荧光X射线油中硫分析仪SLFA-60SLFA-60 X-ray Fluorescence Sulfur-in-Oil AnalyzerHORIBA introduces the new standard of transportable sulfur-in-oil analyzers, the SLFA-60. This instrument introduces new software and hardware features to meet the growing changes in the petroleum industry. The instrument has expanded storage of calibration curves and data can be exported using USB output.SLFA-2100/2800SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪是专为满足近期低硫燃料，柴油和RFG中硫元素新的检测要求。

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3120# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO:3120 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 3120 ： 1.20”(30.5mm) / 0.91”(23.1mm ) / 5.5mL 100

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3115# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO:3115 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 3115 ： 1.20”(30.5mm) / 0.99”(25.1mm) / 1.0mL 100

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--1330# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO:1330 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1400系列：带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯； CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1330 ： 1.21”(30.7mm) / 0.90”(22.9mm) 0.97”(24.6mm) 7mL 100

可变角原位25次衰减全反射ATRFT-IR或色散仪高灵敏度ATR检测特点入射光30°-60°可调25次反射适用于FT-IR或色散仪样品架配两个引脚标准 3” x 2” 样品架盘多种晶体可选可互换样品架(固体，液体，凝胶)25次反射 ATR可变入射光25次反射ATR (P/N GS11000)是一款竖直方向的ATR晶体附件，入射光在30度-60度快速简单可调。通过调整样品架及晶体装置到适宜的位置，架体后方保持与刻度板设定角度相符。标准晶体架(P/N GS11001)用于固体样品，可选配液体架(P/N GS11003)及凝胶架(P/N GS11002)。为测量25次反射需保证样品覆盖梯形晶体正反两面。KRS-5是标配的ATR附件晶体，可选配一系列其他晶体如：ZnSe, Ge 及Si 以扩展样品操作能力及附件研究范围。四块反射镜通过调整角度及倾斜度反射、收集晶体的红外光。附件配备标准的3” x 2”架盘适配于市面上仪器的样品室，另外底座一角配备了支撑脚。支撑脚高度可调，保证附件在样品室内的平稳。支撑脚可通过翼形螺母锁住应用? 固体? 液体? 凝胶? 涂层及薄膜多深度研究订购信息GS11000入射光可调25次反射ATR附件含固体架及45度角KRS-5 晶体可选配件GS11001 25次反射ATR固体架GS11002 25次反射ATR凝胶架GS11003 25次反射ATR液体架耗材GS11004 KRS-5晶体 (45°)GS11006 Ge晶体(45°)GS11009 Si晶体(45°)GS11014 ZnSe晶体(45°)GS11008 PTFE垫圈液体架用（1大、1小，5套）

XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO1850 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1800系列：带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯； CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 ： 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100

伽马射线计数器配件是一种专业的闪烁探测器， 专业为X射线和低能伽马射线计数而设计，是理想的科研级高灵敏度X射线探测器。伽马射线计数器配件采用高质量闪烁晶体YAP:Ce 作为探测物质，能够以高达10^6脉冲/秒的速度快速扑捉探测X射线和低能伽马射线，并且在5keV—150Kev的能量范围具有较高的线性度，在核心的闪烁晶体外围具有高反射铝层保护装置，不仅可以降低噪音，而且可以防止外部冲击对核心晶体参数损毁。伽马射线计数器配件特色用于X射线和伽马射线计数计数能力：10^6脉冲/秒能量范围：5kev --150Kev

苏州锂影科技有限公司薄膜气氛保护样品台产品信息薄膜气氛保护台可用于惰性气氛环境中，如手套箱内，将样品台放入气氛保护台，密封后，从手套箱取出，放到X射线衍射仪内进行测试，样品在运输和测试过程中不接触空气，不会受到水和氧气的影响。也可用于需气体氛围的原位X射线衍射测试过程中，得到依赖气体氛围变化随之变化的材料结构方面的信息等。适用于粉末、薄膜、片材等样品，反射模式或透射模式测试均适用。还可用于同步辐射等大科学装置等需要惰性气体保护的转运及测试过程中。薄膜气氛保护样品台置于X射线衍射仪中装有薄膜样品的薄膜气氛保护样品台 使用/未使用薄膜气氛保护样品台测试得到的XRD对比图苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务联系电话：18943042895

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、XRF样品杯、X-ray样品杯、美国Premier样品杯-SC-4231 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号：CAT. NO4231 品牌：美国Premier Lab （原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。 一、美国Premier XRF样品杯： 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO)，或X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。　　二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品杯目录：目录编号CAT. NO高内径外径容积数量SC-423124mm25mm32mm12mL100个/包

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯SC-3345 一、美国Premier XRF样品杯： 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO)，或X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。　　品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO SC-3345 品牌：美国Premier Lab （原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT. NO 高 内径 外径 容积 数量SC-3345 40mm 37mm 45mm 40mL 100个/包

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、XRF样品杯、X-ray样品杯、美国Premier样品杯--SC-3332 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号：所有型号CAT. NO（欢迎来电索取产品目录） 品牌：美国Premier Lab （原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。 一、美国Premier XRF样品杯： 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO)，或X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。　　二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品杯目录：目录编号CAT. NO高内径外径容积数量SC-333223mm25mm32mm10mL100个/包

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Polypropylene聚丙烯膜、ROHS测试膜--美国Chemplex-3024#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：3024产品信息：Polypropylene聚丙烯，厚度12.0μm，直径76.2mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。XRF样品薄膜，又名X射线荧光光谱仪样品薄膜，薄膜样本支撑窗，XRF样本薄膜，XRF样品膜，X-ray样品薄膜，ROHS检测专用薄膜，迈拉膜、麦拉膜、 RoHS/WEEE优质拉伸膜，是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在XRF样本杯内的物质。有方形托架的圆片：3024 Polypropylene聚丙烯 12.0 μ 0.00050” 0.50mil 0.0127 mm 3.0”(76.2mm) 100片

X射线荧光膜、mylar膜、聚丙烯膜、日本理学/岛津/斯派克、EDX迈拉膜、XRF测试薄膜、美国Premier样品膜-TF-160-345 品名：XRF样品膜Sample Film 型号：TF-160-345 品牌：美国Premier Lab (原装进口） 货期：现货 起订量：1盒以上。 一、美国Premier XRF样品膜：美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉 。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film）以其ji低的（几乎不含）杂质和厚度均匀而严格生产，ji好的柔韧性和抗化学腐蚀性，保证检测结果的可靠性和重现性，被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。 二、Premier 样品膜特点： 有卷状和片状，多种规格、尺寸、数量可供选择； 柔韧性强、方便、耐用； Ji佳的X-ray射线穿透性，适合各类XRF光谱仪； Ji佳的抗化学腐蚀性能，不溶于有机溶剂，不污染待测样品； （几乎不含）痕量杂质，特别适合于轻质元素的限量检测。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录：美国Premier X-ray样品膜种类：（1）、Hostaphan膜；（2）、Kapton膜：聚酰亚胺膜，卡普顿膜；（3）、Mylar膜：聚酯薄膜，迈拉膜，麦拉膜；（4）、Polypropylene膜：聚丙烯膜。目录编号：CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-160-345 Mylar迈拉膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 76mm 500片/盒 Mylar® Pre-Cut Sheets方片

美国Chemplex样品杯XRF样品杯，又名X荧光光谱仪样品杯、XRF样品杯、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、高纯度聚脂测试杯，是应用于X荧光光谱仪XRF上的一次性量杯，广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。产品类型：XRF样品杯Sample Cups品牌：美国Chemplex型 号：所有型号（欢迎来电索取产品目录）产 地：美国一、产品介绍： Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注，使得Chemplex XRF样本杯在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国专利商标局授予知识产权地位。 Chemplex独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪（XRF）样本杯的质量始于一种特别配置的聚乙烯！ Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的全球知名厂商。从产品研发和设计新概念，在内部生产，Chemplex工业公司是形成了样品制备方法的基础的重大贡献。样本杯的设计始于一个开发一种用于承装和处理X射线分析的液体和粉末状样本物质的方法的创意。 谱飞科技作为美国Chemplex公司的中国代理商，提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪（XRF）的检测实验消耗产品！主要有：高纯度聚脂样品杯，铝制样品杯，样品薄膜等。我们不仅提供各种尺寸和属性的XRF样本杯、样品薄膜，还能根据您的样品类型和仪器品牌/型号为您选择合适的样品杯、样品薄膜。二、XRF样品杯尺寸、属性和仪器兼容性： 为了对样本杯与仪器提供的样本夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样本杯前请告知您使用的X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样本夹持设备的内径、高度和孔径。 我们列出了各种类型的样本杯的属性以更好地服务于应用，有需要的客户请联系本公司。本公司免费为客户提供包括样品杯的式样、尺寸、价格、编号、适用仪器型号等信息的产品目录。适用仪器： 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克Bruker、美国赛默飞世尔科技（热电）Thermo，瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma，Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 （适用X射线荧光光谱仪品牌型号：所有X射线荧光光谱仪包括：尼通(NITON)：Xlt797z、Xlt794、Xlt898；伊诺斯(Innov-X)：AlPHA6000；牛津(Oxford)：Met-5000；帕纳科(Panalytical)：Minipal4、Minipal2；精工(Seiko)：SEA1000A；斯派克（Spectro）：XEPOS、MIDEX M；热电(Thermo)：ARL Quant’X；日本电子（JEOL）JSX－3400R；Horriba等。）三、Chemplex产品系列： 注册商标有：Chemplex、SpectroCertified、SpectroSulfur?、SpectroMicro?、TrimLessTM、ThermoPlasticTM、TrimLessTM、FunnelShapeTM等XRF样品杯。四、产品系列：1000系列带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯 1300系列带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯 1400系列带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯 1500系列带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯 1545系列适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯 1700系列带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯 1800系列带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯 1080,1085,1850系列带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。1、1000系列：TRIMLESS?套筒样本杯与SPECTROSULFUR?分析仪杯，TRIMLESS?套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix，Panalytical Venus与Rigaku（日本理学株式会社）仪器。产品编号：10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。2、1300系列：可重复密封的可通风式XRF样本杯，集成外部溢流储液槽，并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。3、1400系列：单开端可通风XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L*特长单开口端。4、1500系列：双开口端XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。产品编号：1530 双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540 双开口端。5、1600系列：狭缝通风样本杯盖，适用于1500系列XRF样本杯。样品编号：1630样本杯盖、1640样本杯盖。6、1700系列：集成的咬合式通风XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1730 咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。7、1800系列：单开口端XRF样本杯，集成的外部溢流储液槽，通风装置；与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1830 ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。8、1850系列：单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯，Thermoplastic Seal?通风，集成外部溢流储液槽和排泄装置，适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。9、1900系列：双开口端XRF样本杯，顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器；适应于Oxford Lab-X仪器。产品编号：19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2 双开口端。10、1935-OX系列：双开口端XRF样本杯与通风盖，适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子，适用于牛津CK-100，耗材元件，零件编号54-CK-100。11、2100系列：双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽，通风的直接固定盖，TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。产品编号：2132、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。12、3100系列：SPECTROMICRO?样本杯，采用“FUNNELSHAPE?”（漏斗形）样本杯技术。产品编号：3106、3110、3115、3120。