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全反射射线荧光仪

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  • 【转帖】便携全反射X射线荧光分析仪

    转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿(TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术,它突出的优点是检出限低(pg、ng/mL 级以下)、用样量少(Μl、ng级)、准确高度(可用内标法)、简便、快速,而且要进行无损分析,成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段,在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看,与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较,TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内,能谱仪(XRF)和波谱仪(WXRF)在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面,都明显比TXRF差。在表面分析领域内,尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中,TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理:TXRF利用全反射技术,会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级,从而大大提高了能量分辨率和灵敏率,避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应,大大缩减了定量分析的工作量和工作时间,同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限(MDL)可由公式计算: (2)这里, 是木底计数率,t为测量计数时间,M为被测量元素质量,l代表被测量元素产生的特征峰净计数率,S=I/M就是系统灵敏度,由公式可以看出,提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处,因而MDL很低。

  • 【原创】能量色散X射线荧光光谱(电源)

    能量色散X射线荧光光谱开关电源能量色散X射线荧光光谱采取脉冲高度剖析器将不同能量的脉冲离开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具备高分别率的光谱仪,分别率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分别率光谱仪通常采取液氮冷却的半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分别便携式光谱仪经常采取反比计数器或闪耀计数器为探测器,它们不须要液氮冷却。近年来,采取电致冷的半导体探测器,高分别率谱仪已不必液氮冷却。同步辐射光激起X射线荧光光谱、质子激起X射线荧光光谱、喷射性同位素激起X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采取的是能量色散方法。编纂本段非色散谱仪  非色散谱仪不是采取将不同能量的谱线分别开来,而是通过抉择激起、抉择滤波和抉择探测等方法使测量剖析线而消除其余能量谱线的搅扰,因而个别只实用于测量一些简朴和组成基础固定的样品。假如n1n2,则介质1相关于介质2为光密介质,介质2相关于介质1为光疏介质。关于X射线,个别固体与空气相比都是光疏介质。所以,假如介质1是空气,那么α1α2(图2。20右图),即折射线会倾向界面。假如α1足够小,并使α2=0,此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1α临界时,界面就象镜子一样将入射线整个反射回介质1中,这就是全反射景象。X射线荧光光谱法有如下特征:剖析的元素规模广,从4Be到92U均可测定;   荧光X射线谱线简朴,互相搅扰少,样品不必分别,剖析方法对比简便;   剖析浓度规模较宽,从常量到微量都可剖析。重元素的检测限可达ppm量级,轻元素稍差。待续。。。。。非色散?不是很理解。楼主,你有示意图来介绍一下吗。

  • 关于X射线荧光光谱仪的详细介绍

    关于X射线荧光光谱仪的详细介绍: X射线荧光光谱仪分析的元素范围广,从4Be到92U均可测定;  X射线荧光光谱仪简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方法比较简便,分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级,轻元素稍差,分析样品不被破坏,分析快速,准确,便于自动化。  X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪,分辨率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器,它们不需要液氮冷却。近年来,采用电致冷的半导体探测器,高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。  X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水平,分析时间短。

  • 全反射X荧光分析仪

    有用过全反射的用户吗?他可以测低含量的,但是他很容易测试高含量的吗?比如1~99%,测试高含量的准确度、重现性怎样?

  • 使用衰减全反射的,请进!

    在看完了2005年版中国药典红外图谱集(第三卷)后,发现药品的制样技术新加了一个——衰减全反射!便把该册标准图谱全部翻了一下,但是发现标准图谱并没有使用衰减全反射(ATR)。不知道什么原因。

  • 【求助】衰减全反射红外附件

    我要做橡胶表面的衰减全反射红外光谱,我们单位的是PE的红外,用的附件中的衰减全反射的那个晶片的折射率太低了,做不出来,看到有介绍说可以用折射率大的,上次看到过,不知道是尼高的还是那个厂家的,忘了,有那位大哥帮忙推荐一下,并告知可以买到ATR晶片的地方吧,谢谢!

  • [求助]请教“反射红外”与“衰减全反射红外”的区别

    我只稍微了解“衰减全反射红外ATR-IR”的原理;而对于“反射红外”的理解是,做液体样品时,将液体滴到金属片(如金片)上,利用金属片为反射面,测得液体样品的红外信号。高手能否比较下两种方法的异同,特别是做水溶液样品,哪种效果会好些。还有,将液体直接滴到KBr片上做透射红外与上面两者比较呢?谢谢啦另外,什么叫“结帖”,怎么结帖啊,呵呵

  • TXRF 全反射X荧光 检测器SSD 故障 请教

    全反射X荧光仪,用的探头SSD是EDAX的,比较老,捆绑个液氮罐做冷却的那种。现在遇到点问题请教:W靶源信号强度正常,28万cps左右。 可检测样品的时候所有元素均无信号,计数全部为0。示波器检测SSD无任何信号,噪音信号都没有啊。。。这是啥情况呢?有明白人不?前置放大器坏了?AM,A/D转化器还是FET。。。要如何确定故障源头,维修有啥建议?另请问哪里接收对外的有偿样品检测?12寸硅片表面的金属定量。pg-ng级的?有谁有老的SSD备件出售意愿的也可联系啊。。。急死我了

  • 【分享】X射线荧光光谱仪主要用途及性能

    X射线荧光光谱仪主要用途: 仪器是较新型X射线荧光光谱仪,具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水平,分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析,薄膜分析。 测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm. 仪器类别: 0303040903 /仪器仪表 /成份分析仪器 /荧光光度计 指标信息: 1.发射源是Rh靶X光管,最大电流125mA,电压60kV,最大功率3kW2.仪器在真空条件下工作,真空度13pascals 3.5块分析晶体,可以分析元素周期表F~U之间所有元素,含量范围是ppm~100%4.分析软件是Philips公司(现为PANalytical)最新版软件,既可作半定量,也可定量分析。精密度:在计算率N=1483870时,RSD=0.08% 稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03% 附件信息: 循环水致冷单元,计算机 P10气体瓶空气压缩机 分析对象主要有各种磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等,以及各种形态样品的无标半定量分析,对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金,结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速,某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。 X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。 波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开,然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源,可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素,因此测量速度通常比同时式慢,适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成,对测量速度要求高和批量试样分析,顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。

  • 【求助】关于x射线晶面反射的图谱分析求助

    【求助】关于x射线晶面反射的图谱分析求助

    各位前辈,大家好。我这里有一个样品,前一段时间做了x射线镜面反射曲线,但是不知道该怎么解释,查了各种资料,关于x射线镜面反射方面的资料很少,希望在这里能够得到各位前辈的指点,不胜感激。 我的样品为在蓝宝石衬底上生长的GaN基LED外延片,首先是在蓝宝石衬底上生长GaN缓冲层,然后生长1个微米左右的n型GaN,然后在生长150nm厚的InGaN/GaN超晶格结构层,然后再生长550nm左右的p型GaN。下图是在bede D1设备上做的x射线镜面反射曲线,不知道该怎么分析,希望能够得到各位前辈的不吝赐教。谢谢。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/04/200904161111_144457_1874631_3.jpg[/img]

  • 【线上讲座232期】基于反射技术的红外光谱分析方法(之一:ATR衰减全反射光谱法)

    欢迎大家前来与tianzhen老师一起就ATR衰减反射光谱技术知识的相关问题进行探讨~!活动时间:2013年09月09日——2013年09月18日【线上讲座232期】基于反射技术的红外光谱分析方法(之一:ATR衰减全反射光谱法) 主讲人:tianzhen--XRF & 颗粒度测量版面专家 活动时间:2013年09月09日——2013年09月18日 热烈欢迎tianzhen老师光临红外光谱版面进行讲座!http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif引言对红外光谱来说,常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法,不仅可以得到更加准确的结果,而且可能有效地节省分析时间,简化分析过程。但同时,在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说,其它的分析方法还无法与透射法相比,但随着反射法硬件及分析方法的完善,反射分析方法正越来越多地受到重视,本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讨论共分三部分,每一部分分别关注前面提到的三种技术。由于内容比较多,讲座拟定分三期进行,第一期为衰减全反射技术、第二期漫反射技术及第三期镜面反射技术。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif提要一、红外光的特点及红外光谱分析方法二、衰减全反射的原理及特点三、衰减全反射光谱的应用http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif欢迎大家前来与tianzhen老师一起就ATR衰减反射光谱技术相关的内容进行探讨交流~!以上资料为tianzhen老师所著,未经tianzhen老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间:2013年09月09日--09月18日答疑时间: 2013年09月09日--09月18日特邀佳宾:IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员:仪器论坛全体注册用户活动细则:1、请大家就ATR技术知识的相关问题进行提问,直接回复本帖子即可,自即日起提问截至日期2013年09月18日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励(1-50分不等),提问的也有奖励3、提问格式:为了规范大家的提问格式,请按下面的规则来提问 :tianzhen老师您好!我有以下问题想请教,请问:……http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif说明:本讲座内容仅用于个人学习,请勿用于商业用途,由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结,但是也凝聚着笔者大量心血,版权归tianzhen老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的,理解片面、错误之处肯定是有,欢迎大家指正。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif

  • 【原创】X射线荧光光谱分析的特点

    [font=宋体]曾在一本书上,其中总结列出了[/font][font=Arial]X[/font][font=宋体]射线荧光光谱分析有如下特点:[font=Arial][/font][/font][font=Arial]1[/font][font=宋体]、可直接对块状、液体、粉末样品进行分析,亦可对小区域或微区试样进行分析,如质子[/font][font=Arial]X[/font][font=宋体]射线荧光通过良好聚焦的带电粒子束可提供[/font][font=Arial]0.5[/font][font=宋体]μ[/font][font=Arial]m[/font][font=宋体]的束斑。[font=Arial][/font][/font][font=Arial]2[/font][font=宋体]、可分析镀层和薄膜的组成和厚度,如用基本参数法薄膜软件可分析多达十层膜的组成和厚度。[font=Arial][/font][/font][font=Arial]3[/font][font=宋体]、波长色散和能量色散[/font][font=Arial]X[/font][font=宋体]射线荧光光谱仪对元素的检测范围为[/font][font=Arial]0.00001[/font][font=宋体]﹪-100﹪,对水样的分析可达10的-9次方能量级;全反射X射线荧光光谱的检测限已达到10的-9次方--10的-12次方g。他们已满足许多物质的分析要求。[/font][font=宋体]4、随着计算机技术的迅猛发展,理论影响系数和基本参数法用于元素间吸收增强效应校正的软件,已可在线用于常规定量分析。这使得目前进行定量分析时,所用标准样品已由过去必须与试样在物理化学形态上相似的标准样品,过渡为可以用于非相似标准样品,如纯元素或氧化物标准样品,因此进行定量分析更方便。[/font][font=宋体]5、谱仪不仅已具有自动化、智能化、小型化和专业化等特点,并在性能上也有很大改进。如顺序式波长色散仪对主、次量元素测定仅需2s,以至于过去必须用于多道波长色散谱仪分析的项目,现在可用于性能优越、价格低廉的顺序式谱仪完成。这位用户根据需要选用相应的仪器提供更多的选择空间。[/font][font=宋体]6、由于仪器光源稳定,保证了长期稳定性,其指标已从20世纪80年代的0.1﹪提高到目前的0.04﹪,保证了分析数据的可靠性和分析结果的高精度。[/font][font=宋体]7、从常规分析的需要来看,其分析结果的准确度可与化学分析相媲美。除电费和简单的样品制备外,分析成本低。虽然一次性投资大,但往往在3-5年内即可收回成本。如在20世纪80年代我国实施的1:2×10的5次方区域地球化学扫面国家计划(RGNR)中,众多实验室采用了以波长色散X射线荧光为骨干的第三代多元素分析系统,可分析24个以上主量和痕量元素,共分析100万个组合化探样品。仅此一项就节约近1.7亿人民币。产生了巨大的社会经济效益。[/font][font=宋体]8、X射线荧光光谱是非破坏分析方法,随其分析技术的发展,已广泛用于古陶瓷、金属屑和首饰的组成分析,为文物的断源和断代提供了可靠的信息。[/font][font=宋体]9、能量色散仪特别是低分辨率谱仪已是在线分析的首选仪器之一,对提高产品质量起很大作用。[/font][font=宋体]10、除提供组成分析外,以波长色散谱仪为代表,该法还可在许多情况下提供待测元素的价态、配位和键性能等化学态信息。[/font][font=Arial][/font]看到这些特点相信大家对X射线光谱分析会有更深的认识和了解。我想其中定有大家感兴趣地方,欢迎大家就其中某些特点展开讨论,提出自己的认识或发表自己独特的见解。

  • X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪有什么不同?

    X射线衍射仪简称XRD( X-ray diffractometer ),特征X射线及其衍射X射线是一种波长(0.06-20nm)很短的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线,它具有靶中元素相对应的特定波长,称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。X射线荧光光谱仪简称XRF( X Ray Fluorescence ),人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X—Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中,有效的元素测量范围为9号元素 (F)到92号元素(U)。

  • 【分享】ATR原理讨论。(小名:全反射也有透射)

    【分享】ATR原理讨论。(小名:全反射也有透射)

    一。全内反射的基本理论 (摘自:浅谈全内反射荧光显微术及其在生物学中的应用 基础医学院2004级生物物理专业刘昭飞)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101091048_272852_1786353_3.jpg图1 全内反射现象 全内反射现象是生活中的一种常见现象,如钻石的色彩斑斓和光纤的光线传播等。如图1所示 ,当一束平面光波从折射率为n1的介质进入到折射率为n2的介质中。入射光在两介质接触面一部分发生反射,一部分发生折射。入射角θ1和透射角θ2之间满足关系式 n1sin θ1=n2 sin θ2 (1) 若n1大于n2,由公式(1)可以看出当入射角增大时,透射角也增大。假设增大到临界角θc[c

  • 【原创】X射线荧光类资料下载汇总

    [size=1][font=Arial]自X射线荧光光谱仪板块开设以来,各类资料不断上传,积累了大量的珍贵资料。由于这些资料相对比较分散,很多深藏在各个主题帖子里,不便找寻。曾在一篇帖子里汇总过这些资料:[url=http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20100317/2450581/]【资料】X射线荧光资料收集贴[/url]整理的有些乱,先分类整理如下,欢迎各位跟帖补充。[size=4][b]原理、理论及培训类:(括号内是上传者论坛ID)[/b][/size][/font][/size][*][img=absMiddle]http://simg.instrument.com.cn/bbs/090922/images/doc.gif[/img] [url=http://bbs.instrument.com.cn/download.asp?ID=206491]X射线荧光光谱分析的基础知识.doc[/url] (juway)[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=34653][color=#0365bf]x射线荧光原理[/color][/url] (zhoult)[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=42365][color=#0365bf]全反射X—射线荧光光谱的原理和应用[/color][/url] (eric_li)[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=138141][color=#0365bf]X射线荧光光谱[/color][/url] PPT (lylsg555)[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=25578][color=#0365bf]X射线光谱分析[/color][/url] ([b][u]zhzsd[/u][/b])[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=66535][color=#0365bf]荧光仪理论全介绍,吸收增强效应Cr-Fe-Ni[/color][/url] ([b][u]缺水的海豚[/u][/b])[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=40283][color=#0365bf]关于X荧光的培训[/color][/url] ([b][u]cyldz20050806[/u][/b])[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=133928][color=#0365bf]X射线荧光光谱分析技术介绍之一(理论).pdf[/color][/url] (jbjtzxhys)[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=133929][color=#0365bf]X射线荧光光谱分析技术介绍之二(制样方法).pdf[/color][/url] (jbjtzxhys)[color=#0365bf][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][/color][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=133930][color=#0365bf]无标样分析教程.pdf[/color][/url] (jbjtzxhys) [url=http://bbs.instrument.com.cn/download.asp?ID=295155]熔融法制样-CLAISSE.pdf[/url](leo324324)

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