全椭圆偏光测厚仪

仪器信息网全椭圆偏光测厚仪专题为您提供2024年最新全椭圆偏光测厚仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括全椭圆偏光测厚仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的全椭圆偏光测厚仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合全椭圆偏光测厚仪相关的耗材配件、试剂标物,还有全椭圆偏光测厚仪相关的最新资讯、资料,以及全椭圆偏光测厚仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

全椭圆偏光测厚仪相关的厂商

  • 武汉长盈通光电技术有限公司(YOEC)位于东湖高新技术开发区留学生创业园,注册资本4000万,主要从事光器件、光纤传感器、光纤传感网络的研发、生产、销售。公司2010年9月入选“武汉东湖国家高新技术示范区3551人才计划”。公司核心产品是光纤陀螺用保偏光纤环及高精度ASE光源(1550波长),拥有自主知识产权,广泛运用于国防军事工业领域以及智能电网传输领域,是光纤陀螺仪和全光纤电流互感器的核心敏感部件。光纤环产品已经申请企业产品技术标准并顺利通过国家军工质量管理体系以及ISO9001质量管理体系认证,产品已通过了军工总体单位的验证,完成了产品的研制和中试过程,现已进入产业化阶段。公司目前正在申请办理保密资质与武器装备研发生产许可证。分布式温度传感器是国内外应用较成熟的分布式传感技术,利用自发拉曼散射效应和光时域反射技术实时获得沿光纤分布的温度信息,结合智能火灾判断算法,可及时预警火灾隐患,并精确定位火灾发生位置。武汉长盈通光电技术有限公司拥有业内领先水平的研发、管理和销售团队,核心研发人员在光通信、光传感等领域均有多年的研发生产经验,为公司专利产品的产业化提供了有力的技术支撑。公司于2010年7月注册成立后,发展十分迅速,当年即完成销售额1200万元;2011年第一季度已完成销售合同额4000万元,全年销售额有望突破1亿元。武汉长盈通光电技术有限公司的目标是争取在3--5年内成为国内光纤陀螺系统总体单位在保偏光纤陀螺环上主要的供应商;推动保偏光纤陀螺技术的广泛应用,同时公司将加快光纤传感器、光纤传感网络在智能电网,城市轨道交通,桥梁和隧道的推广,为推动物联网的建设做贡献。
    留言咨询
  • 天津市拓普仪器有限公司(原天津市光学仪器厂)成立于2002 年,现坐落于天津市津南区双港工业园区丽港园内, 是一家专门从事光谱分析仪器、物理实验科学仪器、建筑玻璃节能检测仪器的研究、开发、生产和销售的高新技术企业。 一直以来,公司以市场为导向,以客户的需求为研发思路,坚持技术创新。拓普仪器拥有专业的研发团队,拥有众多知识产权和专利,多个产品荣获科技进步奖项。拓普仪器拥有完善的管理体系,通过了ISO9001国际质量管理体系认证。2003年10月成功发射的神舟五号和2005年10月成功发射的神舟六号首次载人航天飞船飞行中都有我们的产品,并获得了“中国空间技术研究院”的嘉奖。拓普仪器主要产品有:TJ270-30A红外分光光度计(国家药典型号TJ270-30升级型)、FTIR920傅立叶变换红外光谱仪、TP720紫外可见近红外光谱仪(可实现紫外-可见-近红外全波段连续扫描)、光栅光谱仪及单色仪、迈克尔逊干涉仪、压电陶瓷干涉测量实验仪、偏振光实验装置、 椭圆偏振测厚仪、半导体泵浦激光原理实验装置、光纤信息与光通信实验系统、全息照相实验、光电综合实验、信息光学实验、光学平台及导轨等多项自主研发的产品。拓普仪器产品遍布全国百余所重点及普通高等院校、全国各地药检所及药厂、各个科研机构,产品深受客户的认可和好评。拓普人持诚信为本,我们将以稳定可靠的产品赢得您的信任!
    留言咨询
  • 400-860-5168转6203
    山东泉科瑞达仪器设备公司(注册商标:泉科瑞达)是专业的包装、材料检测仪器与质量控制解决方案系统供应商,是一家集研发、销售、服务一体的现代化企业 拥有完善的质量管理体系,精湛的科研队伍 产品具有规格齐全、质量可靠、测控技术优秀、性价比优越等优点,而深受科研院校、检验机构、包装、材料、食品、药品、日化、生活用纸、医疗、能源、印刷、胶黏剂、电子电器等行业用户的信任。 公司位于中国“试验机之都”泉城济南,专业生产包装与材料检测仪器、药包材与药品包装检验仪器、食品包装质量控制仪器,医疗器械实验室仪器,日化与卫生用品实验室仪器,胶粘剂检测仪器、纸品与包装检测仪器等行业专用仪器设备。 近年来,我们聚焦推动新一代测控技术升级,不断拓宽产品线,搭建团队综合服务职能,提高研发、生产、销售综合素质,建设完善售后服务团队;目前我们已为众多客户提供了逾千套包材检测仪器和服务方案;除此之外,公司以技术为依托,积极为多所科研单位、高等院校、检测机构、企业研发或品控部门提供个性化订制服务,极大提升了我司技术创新实力,为更好探索与提高前沿包装检测技术打下了坚实基础。 公司名称释义 泉科瑞达——分别取qualitycontrolleading英文发音的音译中文名称;qualitycontrol为质量控制之义(简称QC),leading则具有一流的、主要的、引领性的意义。公司创立于泉城济南,选用“泉”字即代表根植于泉城服务全球,又意味着泉源、源头;科则为科学、先进之意;瑞达则有德量荣达,以客为上,与客户共赢之意。 泉科瑞达——坚持自主研发,以技术创新驱动企业长足发展; 泉科瑞达——致力于向业内输出(新一代)检测技术优秀、性价比优越的检测仪器,通过检测技术提升,助推行业品控安全事业发展! 企业文化 崇尚关爱 形成以客户与员工为主线的关爱文化 并将关爱贯穿于客户服务、员工成长、企业发展的全过程 精品立足、诚信为本、是我们永恒不变的创业初衷。 泉科瑞达始终坚守“术业专攻,精品立足”的创业初心;推崇“诚信为本,以客户为中心,崇尚关爱”的企业文化;秉持“坚持自主研发,向业内输出性价比优越的检测仪器”的价值观;志在推动(新一代)检测技术价值普惠,更好助推行业品控安全事业发展。 泉科瑞达相关产品介绍: 1、薄膜及包装检测仪器:智能电子拉力试验机,顶空气体分析仪,薄膜热封仪,密封性检测仪,薄膜拉力机,摩擦系数仪,热封试验仪,落镖冲击试验仪,薄膜测厚仪,撕裂度仪,密封试验仪,剥离强度试验机,瓶盖扭力测试仪,纸箱抗压试验机,瓶盖扭矩仪,摩擦试验机,摆锤冲击试验仪,电子剥离试验机,微生物侵入法密封性测试仪。 2、胶粘剂类检测仪器:初粘性测试仪,持粘性测试仪,温控型持粘性测试仪,黏着力测试仪,黏附力测试仪,电子剥离试验机,智能电子拉力试验机。 3、玻璃(瓶)类检测仪器:底厚壁厚测试仪、垂直轴偏差测试仪、安瓿折力仪、安瓿圆跳动测试仪、全自动瓶盖扭力仪、偏光应力仪、冷热冲击试验仪、线热膨胀系数测试仪、折断力测试仪、玻璃颗粒耐水性制样仪。 4、药包材质量检测仪器:顶空残氧分析仪、安瓿瓶底厚壁厚测试仪、安瓿圆跳动测试仪、药用铝箔热封试验仪、铝箔针孔检测台、注射器针尖穿刺力测试仪。
    留言咨询

全椭圆偏光测厚仪相关的仪器

  • 产品特点: ? 椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。? 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。? 400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。? 可自由变换反射测量角度,得到更详细的薄膜解析数据。? 非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。产品规格: 膜厚测量范围0.1nm~波长测量范围250~800nm(可选择350~1000nm)感光元件光电二极管阵列512ch(电子制冷)入射/反射角度范围45~90o电源规格AC1500VA(全自动型)尺寸1300(H)×900(D)×1750(W)mm重量约350kg(全自动型) 应用范围: ■半导体晶圆?电晶体闸极(Gate)氧化薄膜、氮化膜,电极材料等?SiO 2、SixOy、SiN、SiON、SiNx、Al 2 O 2、SiNxOy、poly-Si、ZnSe、BPSG、TiN?光阻剂光学常数(波长色散)■化合物半导体?AlxGa (1-x) As多层膜、非结晶矽■平面显示器?配向膜?电浆显示器用ITO、MgO等■新材料?类钻碳薄膜(DLC膜)、超传导性薄膜、磁头薄膜■光学薄膜?TiO 2、SiO 2、多层膜、抗反射膜、反射膜■平版印刷领域?g线(436nm)、h线(405nm)、i线(365nm)、KrF(248nm)等于各波长的n、k值评价 应用范例: 非线性最小平方法比对NIST标准样品(SiO 2)膜厚精度确认
    留言咨询
  • 产品特点: ? 椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。? 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。? 400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。? 可自由变换反射测量角度,得到更详细的薄膜解析数据。? 非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。产品规格: 膜厚测量范围0.1nm~波长测量范围250~800nm(可选择350~1000nm)感光元件光电二极管阵列512ch(电子制冷)入射/反射角度范围45~90o电源规格AC1500VA(全自动型)尺寸1300(H)×900(D)×1750(W)mm重量约350kg(全自动型) 应用范围: ■半导体晶圆?电晶体闸极(Gate)氧化薄膜、氮化膜,电极材料等?SiO 2、SixOy、SiN、SiON、SiNx、Al 2 O 2、SiNxOy、poly-Si、ZnSe、BPSG、TiN?光阻剂光学常数(波长色散)■化合物半导体?AlxGa (1-x) As多层膜、非结晶矽■平面显示器?配向膜?电浆显示器用ITO、MgO等■新材料?类钻碳薄膜(DLC膜)、超传导性薄膜、磁头薄膜■光学薄膜?TiO 2、SiO 2、多层膜、抗反射膜、反射膜■平版印刷领域?g线(436nm)、h线(405nm)、i线(365nm)、KrF(248nm)等于各波长的n、k值评价 应用范例: 非线性最小平方法比对NIST标准样品(SiO 2)膜厚精度确认
    留言咨询
  • 产品特点: ? 400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。? 自动变更反射测量角度,可得到更详细的薄膜解析数据。? 采用正弦杆自动驱动方式,展现测量角度变更时优异的移动精度。? 搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。? 可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格: 样品对应尺寸100×100mm测量方式偏光片元件回转方式入射/反射角度范围45~90o入射/反射角度驱动方式反射角度可自动变更波长测量范围300~800nm分光元件Poly-chrometer尺寸650(H)×400(D)×560(W)mm重量约50kg
    留言咨询

全椭圆偏光测厚仪相关的资讯

  • HORIBA Scientific诚邀您参加第五届椭圆偏振光谱国际会议
    2010 年 5 月 23 日- 28 日,第五届椭圆偏振光谱国际会议(ICSE-V,International Conference on Spectroscopic Ellipsometry)将在美国纽约州奥尔巴尼市(Albany)奥尔巴尼大学纳米科技与工程学院(CNSE)举办。 和历届会议一样,为椭圆偏光术和相关测量技术领域的科学家和工程师提供国际交流的平台。ICSE-V 会议将为您展示椭圆偏振光谱技术和应用的新研究进展,包括涉及偏振技术开发的相关光谱分析技术等。 更多信息: http://www.icse-v.org/web/index.php 向世界同行展示您的工作! HORIBA Scientific(Jobin Yvon 光谱技术)诚邀 Jobvin Yvon 椭偏仪用户提交会议摘要并参加第五届椭圆偏振光谱国际会议(ICSE-V)! 摘要提交起讫时间: Oct.19&mdash Dec.6, 2009HORIBA Jobin Yvon 赞助 HORIBA Scientific 承诺赞助参与展板展示(poster presentation)或口头报告(oral presentation)的 Jobvin Yvon 用户。 申请赞助,请联系 :tfd-marketing.sci@horiba.com 应用支持,请联系: tfd-sales-sci.fr@horiba.com
  • HORIBA拉曼/SPRi及椭偏光谱技术交流会
    HORIBA Scientific 暨华南理工大学测试中心拉曼、SPRi及椭偏光谱技术交流会邀 请 函  主办:HORIBA Scientific (Jobin Yvon光谱技术)  协办:华南理工大学分析测试中心  时间:2011年4月27日(周三)上午8:30  地点:华南理工大学人文馆报告厅日程安排  上午:拉曼光谱及SPRi在化学、生物领域的应用专场  8:30~9:00 来宾签到  9:00~9:10 开幕词  9:10~10:00 拉曼光谱仪新进展以及应用 (HORIBA Scientific 沈婧 博士)  10:00~10:50 拉曼光谱在生物医学领域的应用(暨南大学 黄耀熊 教授)  10:50~11:00 提问及茶歇  11:00~11:30 拉曼光谱在食品化学领域的应用(华南理工大学 宋国胜 博士)  11:30~12:00 SPRi技术以及在生物、食品和卫生安全领域的应用(HORIBA Scientific 沈婧 博士)  12:00~13:30 午餐及休息  下午:拉曼光谱及椭圆偏振光谱在新能源、新材料领域的应用专场  13:30~14:00 来宾签到  14:00~14:30 拉曼光谱在新材料领域的应用(HORIBA Scientific 武艳红 应用工程师)  14:30~15:30 椭圆偏振光谱测量技术以及HORIBA Jobin Yvon新型椭偏仪(HORIBA Scientific Dr. Ramdane Benferhat)  15:30~15:45 提问及茶歇  15:45~16:45 椭偏仪在新能源材料领域的应用(HORIBA Scientific Dr. Ramdane Benferhat)  因本次会议场地有限,为方便我们对会议的组织与安排,请您与4月25日前确认参加  (请点击如下按钮完成网络提交)     如果您对会议有任何疑问,欢迎您随时与我们联系:  联系人:Li Su邮件地址:info-sci.cn@horiba.com  电话:021-62896060-101  会议地址地图   HORIBA Scientific(HORIBA集团科学仪器事业部)  HORIBA Scientific隶属 HORIBA 集团。一直致力于为用户提供先进的测和分析仪器:包括激光拉曼光谱、椭圆偏振光谱、元素分析、荧光、ICP、粒度表征、油中硫分析、水质和XRF等分析仪器。结合旗下知名品牌的技术优势,包括拥有近200年发展历史的世界光谱制造技术的Jobin Yvon。  今天,HORIBA Scientific 的各种高端检测分析仪器已经遍布全球各地,并在中国实现了销售和服务的本土化,位于上海、北京、广州三地的产品专家、售后服务团队以及全国各地的代理商机构可充分保障国内用户的技术咨询以及售后服务需求。  www.horiba.com/cn华南理工大学分析测试中心(计量认证合格单位)  组建于1982年10月,现有专业技术教师和管理人员共27人分析测试工作十年以上人员占80%,整体的检测分析能力强。中心装备了高分辨透射电镜、热场发射扫描电镜、超导核磁共振谱仪、液-质联用仪、多功能化学电子能谱、电子探针、X 射线荧光光谱仪、拉曼光谱仪、多功能生物质谱、气- 质联用仪、单晶衍射仪等大型精密贵重仪器30台,仪器总价值5000多万元 拥有独立且相对集中的现代化实验室,使用面积达3000m2 是华南地区规模宏大、设备先进、富具特色、  队伍精良的现代分析测试中心。  www.scut.edu.cn/test/   HORIBA科学仪器快讯第13期第12期
  • HORIBA | 平时使用仪器遇到这些困惑,你怎么办?——拉曼/荧光/椭圆偏振光谱仪
    使用光谱仪器时,如何巧妙制样?针对不同的样品,测试方法有哪些区别?仪器测试结果如何分析解读…11月13日,HORIBA的资深工程师们,就拉曼、荧光、椭圆偏正光谱仪器日常使用技巧,为大家分享了自己多年的宝贵(xue)经(lei)验(shi)。分享过程中,同学们也纷纷提出自己的问题,不知道是否也有你的困惑,我们一起看看吧:荧光光谱1.为什么样品信号之前的背景光平台不是平的?在进行磷光寿命测试时,前端的小段曲线是由光源产生的,即激发光还没有完全消失,就开始了样品信号采集,后边部分属于光源消失后磷光衰减的信号,进行寿命拟合的时候只要选择后边尾部即可。2.问水拉曼峰怎么测?1)开启仪器;2)将标准盛有三重去离子水的比色皿放入样品仓;3)打开软件,选择Spectra——emmission功能;4)点击Run进行信号采集即可。参数详见如下:激发波长350nm,水拉曼峰值,峰值波长397nm。实验条件:激发波长350nm,带宽5nm,0.5nm步进,发射波长扫描范围365~450nm,带宽5nm,积分时间1s;样品要求:必须是超纯水,三重蒸馏水或去离子水,HPLC级(18.2 MΩ,10ppb 溶解有机碳)或相同水质的水样。用4mL石英荧光比色皿3.ms量级荧光寿命如何测量?配置SpectrLED、Delta-HUB和相应的探测器,使用磷光寿命测试功能即可进行ms级的磷光寿命测量。具体测量及拟合方法可以联系我们应用工程师。4.薄膜样品怎么测量?将薄膜及其载玻片固定在固体样品支架上,即可进行稳瞬态荧光测试,但是有的薄膜样品散射较强,为了避免杂散光的干扰,一般需要使用相应的滤光片,另外Horiba提供前置测量附件,可以有效避免杂散光的干扰。5.用HORIBA的荧光光谱仪测荧光寿命,是用上升沿还是下降沿拟合寿命的?对于荧光寿命,拟合时上升下降沿的信号都要用到,对于磷光寿命,仅用下降沿部分拟合即可。具体拟合步骤及要点可与工程师联系。椭圆偏振1.请问老师,这个可以测量颗粒物表层吸附物质的厚度吗?纳米级别,烟尘颗粒由于椭偏光斑在微米至毫米尺度,无法分析离散态的纳米级别颗粒表层2.老师您好,请问衬底是石英片,可以测膜的厚度吗?可以,只要薄膜光学透明即可使用椭偏测试拉曼光谱1.CLS那个没看懂?简单的来说,CLS是数据统计的分析方法。夹峰法是以单个谱峰的峰强、峰面积、峰位的特性为拉曼成像依据。而CLS是以整张光谱或者某段光谱为依据,赋予不同的颜色。适用于已知混合物的拉曼成像。2.细胞的那个是这么做的呀?详细请见文章ACS Appl. Mater. Interfaces, 2017, 9 (7), pp 5828–5837,文章的拉曼部分在北京DEMO实验中心完成的,欢迎讨论。3.用JobinYvonLabRam HR800仪器,325 nm 的激光测薄膜光致发光,有时PL谱的曲线有波动,就是线一抖一抖的,请问能怎么改善呢?能测到发光峰,但是曲线上有很多小的正弦波。两个方面:一个需要标准样品测试,检验仪器本身是否有问题。另一个方面,考虑薄膜的厚度问题,是否刚好发生多次反射。之前有经历,特定的玻璃片上测样品,也有小正弦波,更换玻璃片之后就没有了。4.那请问如果是贴壁细胞呢 直接光斑扫描?贴壁细胞,做完封片,可以直接通过平台移动实现细胞成像。5.指甲油有要求吗?指甲油不要涂到样品上?指甲油本身有很好的拉曼信号,不能直接涂到样品上,建议选择亮色,这样能够看清楚指甲油的本身分布。若样品量比较大,建议选择大号的盖玻片,操作相对简单。6.请问G/D的物理意义G峰为石墨烯的特征峰,归属于sp2碳原子的面内振动,出现在1580 cm-1附近,该峰能够表征石墨烯的层数。D峰为石墨烯的无序振动峰,出现在1350 cm-1附近处,表征石墨烯中的结构缺陷或边缘。所以G/D峰,可以反映石墨烯的层数和缺陷分布。7.测细胞必须要涂指甲油吗?不是必须,封片的好处是减缓水份蒸发。8.老师,做矿物的话激光波长用多少合适大多数矿物532 nm激光比较合适,对于有荧光背景的,考虑红光激发。9.半導體異物量測方式?測試過532,633,785 laser量測都只有螢光訊號,異物大小約1~3um若异物在表层,可以考虑325 nm尝试下。若还是不行是否可以考虑用PL成像来区别异物。10.如何衡量石墨烯条带的边缘质量?见问题6,G/D比值成像及D峰成像都是不错的选择。11.鲁老师,请问罗丹明溶液633直接测拉曼,如何计算光斑内有效分子数?影响影子的计算方法我们在上一次的报告中有提到。详细可参见Phys. Chem. Chem. Phys., 2015,17, 21149-21157。文章是用XploRA仪器实现的,欢迎讨论。12.样品中有水,可以用3D得到水分布吗样品若是半透明的,可以实现水的分布的3D. 常见的地质样品,包裹体中的水分可以用3D表征。这是一篇文章,里面用拉曼证明了油水凝胶中的水分分布,你可以参考下。Nature Communications 8, Article number: 15911 (2017) doi:10.1038/ncomms15911。文章的拉曼部分在北京DEMO实验室完成的,欢迎讨论。13.请问测拉曼时荧光效应太强,背底太高可以怎么改善?一般是某些样品会出现,跟样品有关系,可是又需要样品的拉曼数据抑制荧光背景的方法:更换不同的激发波长;长时间激光照射光漂白;数值处理等。目前有效的是更换不同的激发波长测试。14.请介绍一下实时在线原位拉曼技术?在线原位技术是一个比较宽泛的命题,常见的有有机化学合成在线检测,高温高压在线检测,锂电池在线检测,电化学在线检测。若大家都有兴趣,我们可以专门利用一次讲座交流。HORIBA科学仪器事业部结合旗下具有近 200 多年发展历史的 Jobin Yvon 光学光谱技术,HORIBA Scientific 致力于为科研及工业用户提供先进的检测和分析工具及解决方案。如:光学光谱、分子光谱、元素分析、材料表征及表面分析等先进检测技术。今天HORIBA 的高品质科学仪器已经成为全球科研、各行业研发及质量控制的首选。

全椭圆偏光测厚仪相关的方案

全椭圆偏光测厚仪相关的资料

全椭圆偏光测厚仪相关的试剂

全椭圆偏光测厚仪相关的论坛

  • 【分享】偏光显微镜在观察淀粉中的应用

    偏光显微镜被广泛地应用在矿物、化学等领域,在生物学和植物学也有应用。例如:在植物学方面,如鉴别纤维、染色体、纺锤丝、淀粉粒、细胞壁以及细胞质与组织中是否含有晶体等。医学上的应用则是用偏光显微镜检查关节液中的结晶,检验淀粉我们都知道可以用碘液染色来确定,但使用偏光显微镜,不用染色就可以确定是不是淀粉了。这是马铃薯的淀粉粒,只要切一小片马铃薯,然后在载玻片上涂抹,滴一滴水制成水埋玻片就可以观察了。在低倍下,没有染色只是一般的颗粒。    一般淀粉呈白色或类白色,不溶于乙醚、乙醇、丙酮等有机溶剂,也不溶于冷水。淀粉是以颗粒状态存在于胚乳细胞中,不同来源的淀粉其形状、大小各不相同,应用显微镜观察可以区别不同的淀粉或确定未知试样的种类。淀粉颗粒的形状大致可分为圆形、椭圆形和多角形3种。一般水分高,蛋白质含量少的植物淀粉颗粒较大,多呈圆形或椭圆形,如马铃薯淀粉;反之颗粒较小,呈多角形,如米淀粉。在400~600倍显微镜下观察,可以看到有些淀粉表面有轮纹,与树木的年轮相似,马铃薯淀粉轮纹极明显。    不过只要旋转偏光片,世界就不一样了,淀粉粒上会出现十字,这个十字有特殊的名字,称为马耳他十字(MalteseCross),十字的交点就在淀粉粒的脐。这个马耳他十字可是有历史的。再放大一点,可以看见淀粉粒上的环纹,中心点就是脐的位置。

  • 网络讲堂:9月16日 最新镀层、薄膜表征工具-辉光放电光谱仪&椭圆偏振光谱仪

    http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif最新镀层、薄膜表征工具——辉光放电光谱仪&椭圆偏振光谱仪讲座时间:2014年09月16日 10:00 主讲人:武艳红、王锋武艳红,HORIBA Scientific 辉光放电光谱技术应用工程师。王锋,HORIBA Scientific 椭圆偏振光谱技术应用工程师。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif【简介】 辉光放电光谱和椭圆偏振光谱仪作为现在最常用的两种镀层、薄膜表征技术。前者主要应用于镀层元素的深度剖析,它能够获得镀层中各元素随深度的分布状况,可以分析几纳米~100多微米的深度,深度分辨率1nm。后者是一种无损的分析技术,可以精确测量1A~40微米范围内的薄膜,并能表征单层、多层薄膜表面的粗糙度和氧化层,甚至可以获取折射率、消光系数等。 本次课程中我们将会介绍这两种技术的基本原理、可分析的材料,并对主要应用领域及案例进行深度分析。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~3、报名截止时间:2014年09月16日 9:304、报名参会:http://simg.instrument.com.cn/meeting/images/20100414/baoming.jpg

全椭圆偏光测厚仪相关的耗材

  • 椭圆芯保偏光纤
    椭圆芯保偏光纤产品介绍:加拿大IVG公司生产的椭圆具有高的消光比,并且对弯曲,扭曲以及应力不敏感。不同于传统的高双折射保偏光纤,椭圆芯的保偏光纤的双折射波导具有非常低的温度依赖性。椭圆芯的保偏光纤可以与普通熊猫光纤,单模光纤,或者领结型光纤熔接。熔接损耗是非对称的:圆心到椭圆芯的损耗为0.5dB, 但是椭圆芯到圆芯的损耗为2.5dB。PMD in spun fiber在光电感应或者远程通讯中,一般来说低双光折射旋转光纤可以显著的降低偏振模式的色散。而LB1300的偏振模式色散(Polarization mode dispersion)仅为传统通讯光纤的十分之一。描述PME1300单位工作波长1300-1600nm截至波长nm拍长9mmSpinPeriod-mm衰减8dB/km模场直径8×13um包层直径125um衣层直径250um包层连接性um包层偏离度um衣层材料亚克力拉力测试100kpsi弯曲半径30mm更多信息,请联系我们。
  • 椭圆窗口片
    北京飞凯曼科技有限公司提供立陶宛EKSMA OPTICS公司曲面窗口片(CURVED WINDOWS)和滤光片(Filters),曲面窗口片包括平凹窗口片(Plano-concave windows),平凸窗口片(Plano-convex windows),椭圆窗口片(ELLIPTICAL WINDOWS),平面窗口片(Flat WINDOWS)、圆形窗口片(Round Windows),薄圆形窗口片(Precision Thin Round Windows),矩形窗口片(Rectangular Windows)等。光学滤光片包括光学级紫外带通滤光片(Optical UV Band Pass Filters)、中密度吸收性带通滤光片(NEUTRAL DENSITY ABSORPTION TYPE FILTE RS AT 450-650 nm)、中密度反射式带通滤光片(NEUTRAL DENSITY REFLECTIVE TYPE FILTE RS AT 400-2000 nm)、彩色玻璃滤光片(COLO R GLASS FILTE RS)等。窗口片材料包括BK7和UV FS两种材料。椭圆窗口片技术规格MaterialBK7, UV FSSurface quality S1, S220-10 scratch & dig (MIL-PRF-13830B)Surface flatness S1, S2λ/4 @ 633 nmAxis tolerance+0.00,-0.12 mmThickness tolerance±0.25 mmParallelism椭圆偏振片示意图椭圆偏振片选型表BK7, A TypeCodeMaterialMinor axisMajor axisThickness T020-0183ABK718 mm25 mmT - 3 mm020-0254ABK725 mm35 mmT - 4 mm020-0304ABK730 mm42,5 mmT - 4 mmBK7, B TypeCodeMaterialMinor axisMajor axisThickness T020-0183BBK718 mm25 mmT - 3 mm020-0254BBK725 mm35 mmT - 4 mm020-0304BBK730 mm42,5 mmT - 4 mmUVFS, A typeCodeMaterialMinor axisMajor axisThickness T020-1183AUV FS18 mm25 mmT - 3 mm020-1254AUV FS25 mm35 mmT - 4 mm020-1304AUV FS30 mm42,5 mmT - 4 mmUVFS, B typeCodeMaterialMinor axisMajor axisThickness T020-1183BUV FS18 mm25 mmT - 3 mm020-1254BUV FS25 mm35 mmT - 4 mm020-1304BUV FS30 mm42,5 mmT - 4 mm其他技术规格和尺寸请咨询我们。
  • 彩涂湿膜测厚仪234型 -德国仪力信
    彩涂湿膜测厚仪234型 -德国仪力信简单介绍大量应用与彩涂及胶水行业油漆湿膜的测量234型湿膜测厚仪是德国Erichsen(仪力信)漆膜测厚仪,包含型号:234R/I,234R/II,234R/III,234R/IV,234R/V,234R/VI,234R/VII,234R/VIII。仪器由两个经硬化和研磨的钢轮及其中间的一个偏心轮盘组成.把仪器在湿膜上滚动,然后从偏心轮沾有油漆的部份读得漆膜的厚度.可测量0-1500微米的厚度,共有8个测量范围.234型湿膜测厚仪|漆膜测厚仪|德国Erichsen(仪力信)的详细介绍234型湿膜测厚仪符合DIN,EN ISO,ISO,ASTM,BS,NF.标准。234型湿膜测厚仪|漆膜测厚仪|德国Erichsen(仪力信) 特点膜厚测量在油漆和涂料的使用和检测中起一个重要的作用。在决定外观、保护性能和持久性能时,膜厚是一个决定性的因素。涂膜太薄不能提供足够的保护并减少遮盖力。因此,必须执行技术规格所规定的最小厚度并确保这些值的一致性。另一方面,过厚的涂层是使用了太多涂料的结果,相应地增加了成本。而且,较厚的涂层并不总是意味着性能提高,如它们在干燥时间方面会有一个负面的影响。涂层的物理和机械性能取决于漆膜的厚度。如果要执行的是有意义的测试,膜厚必须均匀。湿膜测厚仪用于检查刚刚涂上的涂料,也可用于计算干膜厚度结果。如果测量与指定值有误差,必须立即采取措施改正。机械式测厚仪有一系列优点:便携、操作简单、非技术人员也可使用。结构坚固,读数一目了然。测量可在任何表面上进行。因为全部机械式,故可适用于玻璃、木材、金属或塑料基材。与其它类型的测厚仪比较,机械式测厚仪具有更好的价格。应用用于所有的平面或均匀曲面 ( 凹面和凸面 )测试原理碟形测量仪器(图 1 )在湿膜表面滚动。在此过程中两个滚花,对中轮缘( 1 )在基材上滚过,当轮缘到凸轮的距离等于被测湿膜厚度时偏心凸轮( 2 )则会粘上涂料。设计和功能加硬、精确磨制的不锈钢测量盘直径为 50 mm ,厚 11 mm 。它包含一个铝制自由旋转滚轮使仪器能在表面滚动。 共有 8 种不同型号和测量范围 ( 见订货信息 ) 。读数刻度刻在盘的一侧,每一个仪器配一个盒子。测量程序测量 1用姆指与食指捏住仪器的导向滚轴 , 将仪器放在测试表面上,使接触点与零线相反。轻压滚动,使仪器向零线滚动,再提起。测量 2 (验证)仪器放置位置如 1 ,但以相反的方向旋转,直到它达到零线。湿膜厚度以湿膜记号出现处读出,并与相对的一侧比较,求出平均值。234型湿膜测厚仪|漆膜测厚仪|德国Erichsen(仪力信) 订货信息订货号型号测量范围读数精度0071.01.31234 R/I0~25 μm1 μm0071.02.31234 R/II0~50 μm2 μm0071.03.31234 R/III0~125 μm5 μm0071.04.31234 R/IV0~250 μm10 μm0071.05.31234 R/V0~500 μm20 μm0071.06.31234 R/VI500~1000 μm20 μm0071.07.31234 R/VII0~1000 μm50 μm0071.08.31234 R/VIII0~1500 μm50 μm
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制