静力触探仪

B-100Y表面晶粒检查灯检查精密加工表面的瑕疵、污点、异物等快速检测小至10微米的瑕疵、小颗粒B-100Y表面晶粒检查灯可快速检查加工表面的瑕疵，灰尘，异物等表面晶粒检查灯应用：LCD滤光片、偏光板、晶圆、半导体、玻璃或金属表面刮痕及灰尘检查主要特点? 检查精密加工表面的瑕疵、污点、异物等? 快速无损检测小至10微米的瑕疵、小颗粒? 有效地探测出生产过程是早期的污物，节省生产时间及不必要的成本? 100瓦高强度汞灯发出543,574及576nm波长光谱? 特制的黄色滤色片滤掉波长小于500nm的光线，防止产生荧光干扰? 高对比度的光线能清晰检测到精细的表面粒子? B-100Y是铝合金外壳 B-100YP带塑料外壳? 灯头人体工学设计，易于操作B-100Y和B-100YP黄色滤光片能滤掉波长小于500nm的光线，产生543nm、574和576nm的光线。高对比度的光线可检测表面小于10微米的颗粒。b-100Y铝合金外壳，B-100YP带塑料外壳。规格UV光源：365nm长波紫外线功率：100W滤色片：黄光尺寸：B-100Y：216X140mm重量：5.33kg电源线：2.44米B-100YP：248X152mm重量：5.67kg电源线：2.44米型号型号描述货号B-100A100W，高强度长波紫外灯，230V95-0044-02B-100A/R100W，高强度长波紫外灯，6.1米电源线，115V95-0044-04B-100AP100W，高强度长波紫外灯，Cool-Touch阻热外壳，230V95-0127-02B-100AP/R100W，高强度长波紫外灯，Cool-Touch阻热外壳，6.1米电源线，230V95-0127-07B-100SP140W，高强度长波紫外灯，Cool-Touch阻热外壳，115VN/AB-100Y100W，高强度表面晶粒检查灯，黄光，230V95-0044-18B-100YP100W，高强度表面晶粒检查灯，Cool-Touch阻热外壳，黄光，115V95-0127-04

钢晶粒度显示剂无毒、环保、清洁卫生 (替代苦味酸)钢种牌号规格/瓶型号包装渗碳钢15、20、20Cr、20Mn2B、20Cr2Ni4、1 8Cr2Ni4W16MnCr5 20MnTiB、20CrMnTi、18CrNiMo7-615Cr、20CrMo、2CrNi3A、12Cr2Ni4A、18Cr2N 等250 mlKM-ST调质钢35、45、40Cr、35CrMo、42CrMo、4340、40Mn2、50Mn2、40B、45B、50BA40MnVB 45Cr、38CrSi、42CrMo、30CrMnSiA、30CrMnSiNi2A、40CrNiMoA38CrMoAl250 mlKM-TZ工模具钢12CrMoV CrWMn250 mlKM-GM不锈钢2Cr13\3 Cr13\4 Cr13250 mlKM-MB沉淀硬化不锈钢250 mlKM-CD轴承钢100CrMn、GCr15SiMn、GCr15、GCr15K250 mlKM-ZC镁合金各种合金250 mlKM-MG硝酸酒精钛合金组织显示剂铝合金金相显示剂铜合金金相显示剂常规不锈钢组织显示剂双相不锈钢组织显示剂宏观低倍焊缝显示剂特种不锈钢组织显示剂奥氏体不锈钢晶粒度显示剂特别承诺1、试剂无效全额退款。

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浙江奥力星电子有限公司是一家专业从事进出口仪器仪表的销售商与系统集成服务商。如需更多咨询，请致电：费经理0573-82651819 我们将以饱满的热情，真诚为您提供优质的产品和服务！CM-6The CM-6 Low Voltage monitor detects Carbon Monoxide (CO) in commercial facilities such as parking garages, boiler rooms, etc. It can be used as a stand-alone detector and controller and as an analog transducer for use with Macurco control panels and other systems – ETL Listed, LADBS ApprovedApprovals / CertificationsCM-6 / CM-12 UL 2075 CertificationUL Compliance ImportanceDVP-120 / DVP-120C / DVP-1200 & CM-6 LADBS ApprovalCM-6 / CM-12 Standalone LADBS ApprovalFrequently asked questions (FAQ's)View all of our product downloads here.Key Features12-24VAC or 12-32VDC input5A SPDT Fan control relay0.5A N.O. or N.C. Alarm RelaySelectable Fan and Alarm Relay Actuation SettingsDigital Display (0-200ppm of CO), Internal BuzzerCoverage Area: up to 7,500 sq. ft.4-20mA current loop

详情请咨询：18994392037（同VX）李经理 AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜，如AFM(范德华力)，静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属，如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。还有生物探针(分子功能化)，力调制探针，压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点，在于探针位于测微悬臂的Z端，由此易于清楚确认探针与样品的位置关系，从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求，此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 OMCL-AC240TS 10M 微软型(Medium-soft Silicon Cantilever) 适用于测量易受损(Soft)的样品 在轻敲模式中拥有Z微小的弹性系数2 N/m的硅悬臂,适合用来观测局部解剖的表面与柔软样品的黏弹性 Medium-soft Silicon Cantilever Spring constant of 2 N/m (norminal) is smallest of silicon cantilevers, suitable for observing surface ography ａnd viscoelasticity of soft samples.(2n/m,70khz) AFM的测量模式：※接触式(Contact mode)： 探针与材料表面间的距离为(2~3nm)。在扫描时，针尖与样品表面轻轻接触，产品微弱的排斥力使探针偏移，从而使得样品表面形貌的图像。※非接触式(Non-contact mode)： 探针与材料表面总维持着一定的距离(低于20nm)。非接触式为轻敲式的衍生，一样是利用探针跳动来扫描，但是探针始终都不接触表面。 ※轻敲式(Tapping mode又称 AC mode)： 介于接触式和非接触式之间，探针与材料表面间的距离为(5nm)。以探针震荡方式，探针在试片上跳动，当探针震荡至波谷时微接触样品。 Park探针选用小贴士： AC160TS:Tapping Mode,用於較硬的sample,適用半導體材料,金屬材料,Polymer,DVD… AC240TS:Tapping Mode,用於較軟的sample,適用生命科學:DNA,細胞,薄膜,蛋白質…

美国华瑞SP-1204A-SP1204A -SP1204A一氧化碳（CO）气体检测报警仪，主要特点，售后服务，操作说明书，办事处：咨询热线，15300030867,010-82752485-815张经理 欢迎您的来电咨询！针对性强专门为非防爆要求场所人员的健康和安全提供保护稳定可靠在十多年的行业应用中，不断为用户提供持续的安全保障选择性好具有很好的选择性，避免了其他气体对被检测气体的干扰数据存储功能可存储多达900条报警记录，便于查询多种信号输出标准4~20mA同步输出、RS485 Modbus、有源开关量输出（关断延时0~300s可设定），既可方便接入PLC/DCS等工控系统，也可以作为单机控制使用友好的人机操作界面超高亮LED显示，直观、清晰免开盖，红外遥控器操作现场声光指示多达7种声光指示，不同声光信号指示不同报警级别，可直观、清晰的为人员提供当前环境气体浓度信息美国华瑞SP-1204A-SP1204A -SP1204A一氧化碳（CO）气体检测报警仪，主要特点，售后服务，操作说明书，办事处，技术参数：检测原理电化学原理采样方式扩散型工作电源 DC10～30V，最大30mA功率 输出信号 4～20mA负载电阻 重复性 2%电气接口 3/4” NPT F（可选3/4″NPTM、1/2″NPTF/M、G3/4F/M）防护等级 IP65环境温度 -20℃~+50℃环境湿度 10-93% RH （无冷凝）环境压力 86~106kPa显示方式 手持显示终端外形尺寸 231×236×60mm（HWD）外壳颜色 灰壳体材料 铝合金重量 1.8kgCMC证书 京制00000301号防爆等级 Ex iaⅡCT6美国华瑞SP-1204A-SP1204A -SP1204A一氧化碳（CO）气体检测报警仪，主要特点，售后服务，操作说明书，办事处：咨询热线，15300030867,010-82752485-815张经理 欢迎您的来电咨询！

高增益不接触式破碎探头必能信高增益不接触式破碎探头采用封闭式、不接触样品处理方法进行破碎，样品放在玻璃试管或其他密封的容器里，从而避免了探头的直接接触。凹型漏斗式的特殊设计使探头产生高强度的空穴效应，从而作用于需处理的样品中，形成强有力的破碎效果。这种设计不仅能破碎多种细胞，也可进行多种前处理，如：乳化、分散、脂质体的制备、均质、脱气等。典型运用：血液化学脂质体制备前处理药片的分散、溶解HPLC前脱气颜料的分散悬浮液的均质易传染性样品的前处理

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

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NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm)DNISPUnmountedDiamond Tip, 100 - 300N/m, 35 - 65kHz140探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜，如AFM(范德华力)，静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属，如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。还有生物探针(分子功能化)，力调制探针，压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点，在于探针位于测微悬臂的Z端，由此易于清楚确认探针与样品的位置关系，从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求，此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 具有高品质的解析度，共振频率在300 kHz与26 N/m的弹性系数, 大大的降低了破坏样品的机率； 外观设计：新产品的侧壁垂直面更便于探针的夹取； TipView设计：锋利的探头放置在后的悬臂。TipView设计便于精确探测定位； 测量环境：适用于空气中测量； 测量模式：AC（动态）模式； OMCL-AC160TS 10M的针尖适用于一般标准表面形貌量测，适用于以下sample: 1、pss蓝宝石基板的表面形貌量测； 2、太阳能板的表面形貌量测； 3、玻璃面板等各式有机材料、无机材料的表面形貌的量测 OMCL-AC160TS 10M均可直接代替以下品牌型号针尖： 1、Nanoworld 的NCHR/Arrow NCR 2、Appnano的ACTA 3、Bruker的TESPA/ORTESPA； 4、NT-MDT的NSG30 5、Budget Sensors的Tap300-G 详情请咨询：18994392037（同VX）李经理

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美国3M Dynatel 2273E光缆/电缆外皮故障及路由探测仪,简介,现货，办事处，3M办事处，北京办，代理，总代，铁道部，装备：销售热线：15300030867，张经理，欢迎您的来电咨询！DynatelTM2273E是一种具有微型处理器的电缆（光缆）外皮故障及路由探测仪，能快速有效地确定地下的电缆走向和深度，及确定外皮障.轻巧、结实的2273E能准确地：* 确定电缆（光缆）的走向* 探测电缆（光缆）的深度 * 探测电缆的信号电流* 探测外皮故障及电缆的破坏处* 识别电缆外皮故障的轻重程度* 探测架空电缆的短路或碰地故障* 确定受潮部分的电缆线对* 探测电力电缆 2273E能准确确定电缆深度，用厘米、英尺、英寸来显示。另外，当与3M EMS2205及2206电子标志器定位仪相配使用时，其系统具有：* 能准确探测出所埋的电子标志器的位置* 同步进行寻找电子标志器及跟踪电缆走向四种工作方式即使在复杂的地段也能精确定位确定电缆或光缆的走向，接收器有四种工作方式：峰值，反峰值，差分值或特 殊峰值（用来加强追踪长距离的灵敏度），用户可以根据实际情况选择有效的工作方式。接收器有四种容量，此外还有一个“扩展器”功能，使得峰值与反峰值测量 更为明确。如果两导体带相同频率的信号，该扩展器依据不同的振幅将它们区分开来，从而使结果更为准确，该信号含有耳机插座。准确确定故障 2273E能确定各种长度的电缆故障，2273E可同时发出一个路由跟踪音信号和一个故障定位音信号。操作者可在探测路由的同时使用外皮故障定位功能，并由2273E区别 故障程度。简易操作系统使用2273E探测仪，不需要特别培训，液晶显示屏幕及触摸式的按钮使使用更为简便。 “记忆储存功能” 能记录有关探测情况。此系统有三部分组成：* 具有欧姆表的发射器，能探测外部电压及测试持续的环路电阻* 带有图形的接收器用于指示信号的强弱以及电缆定位* 触地支架…… 配有色标，用于确定故障方位 2273E 探测仪具有四种有源跟踪频率：577Hz，8KHz ，33KHz和133KHz，依据具体实际情况，可以单独或同时使用来补偿现场条件的变化，同时有两种无源跟踪频率50、60Hz和低频 信号（LF）（无需使用发射器）。发射器与接收器在每次开启时自动自检，显示电源能量。这两部分都由高强度材料给予外在保护,能适应各种场合。美国3M Dynatel 2273E光缆/电缆外皮故障及路由探测仪,简介,现货，办事处，3M办事处，北京办，代理，总代，铁道部，装备，标准附件* 9012发射器直连电缆；直接连接外电缆与接地点，1.5米长* 8006不锈钢接地棒* 3014触地支架任选附件* 3019 Dynatel 耦合器件含3英寸（7.6厘米）3019耦合器，用在小于7.6厘米直径；连接电缆；包括* 3005 1英寸（2.5厘米）耦合器,用在小于2.5厘米直径的电缆* 1196 6英寸（17.5厘米）耦合器,用在直径小于17.5厘米电缆,包* 9043 接地加长电缆* 3011 感应探测棒,用来确认电缆的对数* 9011 耦合器加长电缆

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm)MSCTUnmountedSharpened, 6 Cantilevers, 0.01-0.50N/m, Au Reflective Coating探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) SCM-PICUnmountedPt/ Ir Coated Tips, 0.2N/m 13kHz, Pt/Ir Reflective Coating1020探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

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