颗粒表面分析仪

仪器简介：仪器名称：Zeta电位分析仪 研究对象：纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。 主要应用：材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脱附等 材料组成 材料亲水性与疏水性 材料洁净处理等 表面活性剂相互作用 SurPASS 3固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪帮助科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性，设计新型、特定性质的材料，如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。 通过测量宏观固体物表面的流动电流或流动电压（电势），SurPASS 3固体电运动分析仪给出了Zeta 电位这样一个重要的信息。 Zeta 电位是一种界面特性，这对于理解固体材料在很多工艺技术处理方面非常重要。Zeta 电位给出了固体表面电荷、吸附性质等的信息。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪拓展丰富了表界面分析知识。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用。 在表面分析中，固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法，从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息，并可检测表面性质中最微小的变化。 Zeta电位： 范围：所用测量原理决定没有限制再现性：+/-0.5 mV 等电点： 再现性：+/-0.1 pH 平板固体： 最小 35 mm x 15 mm，厚度20 mm， 20 mm x 10 mm，厚度2 mm， 直径为 14 mm 或 15 mm 的圆片 纤维： 最少重量 100 mg 粉末： 最小粒径 25 μm 膜和过滤材料 生物材料 半导体工业 纤维、织物和无纺布 化妆品和洗涤剂 矿物 针对各种形状的固体 各种不同的测量池适用于天然的和人造的纤维和织物、颗粒样品、粗颗粒和平板样品。 突破极限-流动奥妙 快速测量： Zeta电位测量少于2分钟 表面Zeta电位直接分析： 适用于实际样品，无需使用示踪颗粒 主要特点：测量原理 ： 在电化学双电流层的模型中，电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。 Zeta 电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离，由此得出实验的Zeta 电位。 流动电势的大小由液相的流动压差P决定。Zeta 电位即可定义为固体表面的固定层电荷与离子移动层之间的电势，相应的流动电势系数为dU/dP， Zeta 电位表示为： 固体表面特性，粘性，介电常数，电解质电导率K 等都影响Zeta 电位的大小。得出Zeta 电位值时，需要说明电解质溶液的类型，浓度，pH值。 稀释的电解质循环流经装有样品的测量池，由此产生一个压差，其电荷在电化学双电层中相对运动产生并增加流动电压，这个流动电压/ 流动电流（可选择）由置于样品两边的电极检测。SurPASS 3可同时测量出电解质的电导率，温度及pH值。

颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS---有效避免测量颗粒表征错误在分析复杂固-液和液-液配方时，传统的粒度测量方法是基于2个假设，第一个假设是所有颗粒都是球形和光滑的，但球形和光滑的颗粒在大多数工业材料中很少出现；第二个假设是粒子总是均匀一致的，这也并不准确。由于这些错误的假设，测量粒径和颗粒表面积可能会产生误导，从而导致后续工艺和使用过程中的出现误差。德国ORONTEC公司研发的颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS使用核磁共振NMR技术直接测量颗粒大小和形状，避免高成本的错误，具有以下的功能：●轻松区分大小相同但表面或形状不同的产品；●可以显示相同材料表面化学成分的差异得益于这些功能，MagnoMeter XRS能够为任何行业在配方或者制造过程的任何阶段提供一流的功能和分析性能。颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS操作简单?无需样品制备：所有技术相关和行业相关的浓度均可直接测量，无需稀释?占用空间小：具有许多MagnoPod和控制模块的配置选项?测量实时进行：根据不同的样品，测量结果在1s内或最迟2min后得出?颗粒测量新技术：MagnoMeter XRS 为传统粒度测量、zeta 电位、BET 气体吸附和汞孔隙率测定分析提供了一种补充技术。颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS优点?颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS没有移动部件，不需要光学校准，通过简单的插件设置即可开始测量?温度控制MagnoPod与控制模块隔离，消除电子和热干扰?一个控制模块可以操作多个磁控振荡器，是隔离危险样品的理想选择?允许在空浓度范围内进行直接样品测量，具有出色的信噪比?可以用标准核磁共振管操作颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS适用领域颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS的用途非常广泛，无论是在研发、质量控制和保证方面，还是在过程控制实验室测量速度和可靠性方面，颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS都是一种高效的工具，广泛运用在以下的领域：?来料的质量控制?中间制造过程监控?成品质量保证?产品保质期确定客户举例欧洲分散技术中心The European Center for Dispersion Technologies（EZD）使用颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS进行颗粒表征分析。翁开尔是德国ORONTEC中国总代理，欢迎致电【400-6808-138】咨询更多关于颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS产品信息，技术应用和客户案例。

目前新能源，电子信息等高新制造业中我们常常会使用电子浆料，这种浆料是由悬浮在有机载体中的粉末，无机或高分子粘结剂构成的固体颗粒或有机液体混合的体系，它通过印刷等方式应用于电子元器件中，形成具有特定功能的模块。 而其体系的稳定性、多相结构的亲和性对浆料的储存与使用具有直接影响，传统的亲和性的表征手段主要包括使用动态光散射 测试粒子的分散态，利用TEM,SEM等观察颗粒的形貌、团聚状态，但都有其局限性：光散射方法需要稀释样品，不适用于不透光浆料；TEM/SEM需要颗粒与溶剂分离，且只能观测局部小视野下的情况。颗粒表面亲和性分析仪可实现不透光样品，1ml以 上样品的整体亲和性分析。产品简介：纽迈分析颗粒表面亲和性分析仪PQ001，配有专业的测试软件，方便快捷，人性化的软件操作确保高效的测试效率。 颗粒表面亲和性分析仪在外观设计、硬件配置、软件操作方面融合了先进的技术并不断升级，确保了卓越的产品性能与友好的客户体验的完美结合。纽迈分析颗粒表面亲和性分析仪PQ001产品功能：悬浮液体系颗粒湿式比表面积粒子分散性、稳定性评估颗粒与介质之间亲和性评价粉体质量控制、分散工艺、研磨工艺研究表面活性剂含量分析顺磁铁磁性杂质识别颗粒改性增强效果评价纽迈分析颗粒表面亲和性分析仪PQ001性能优势：制样简单，无有毒溶剂 快速 非光学方法，可测不透光样品 具有统计意义的结果 样品可重复测量 由未经培训的人员进行测量 可现场测试 应用案例：采用以上三种硅烷偶联剂对硅微粉进行表面处理，均使 得分散体系的驰豫率RSP值变大，说明这三种硅烷偶联 剂都能够改善树脂颗粒与溶剂的亲和性。 其中，氨基硅烷偶联剂处理的悬浮液体系驰豫率RSP值 最大，说明其对溶液两相之间的亲和性改善效果最好。

产品简介：PQ001颗粒表面特性分析仪是一款用于颗粒表面特性分析的专用仪器，配有专业的测试软件，方便快捷，人性化的软件操作确保高效的测试效率。 PQ001颗粒表面特性分析仪在外观设计、硬件配置、软件操作方面融合了先进的技术并不断升级，确保了卓越的产品性能与友好的客户体验的完美结合。 产品功能：1. 悬浮液体系颗粒比表面积2. 粒子分散性、稳定性3. 颗粒与介质之间亲和性4. 粉体质量控制、分散工艺研究应用领域：1）制陶术：湿式制程、加工工艺改善, 分散性的质控和研发2）纳米科技：纳米粒子表面的化学状态, 如: 吸附和脱附作用, 比表面积的变化 等3）电子材料：浓稠状浆料和研磨液 (CMP) 的开发及品管4）墨水：碳黑、颜料分散, 最适研磨条件, 表面亲和性及化学和物理状态5）能源：电池, 太阳能板等的碳黑, 纳米碳管和浆料的分散, 粒子表面的化学和物理状态6）制药：API湿润性、亲和性及吸水性的差异7）其他: 全部的浓稠分散悬浊液体, 纳米纤维, 纳米碳等简单、清晰的测试显示页面：1. 测试页面包括测量设置区和结果显示区，设置与测量分开，直观方便；2. 软件集成一体化，对操作人员无特殊要求；3. 测试过程简单快速， 3min内即可完成。应用案例：分散剂对于石墨烯比表面积的影响加入分散剂于石墨烯水溶液中后，比表面积显著 增加，有利地证明了此分散剂的性能。注：颗粒表面特性分析仪外观如有变动，以产品技术资料为准。

产品简介：PQ001系列颗粒表面润湿性分析仪是一款用于颗粒表面润湿性分析的专用仪器，配有专业的测试软件，方便快捷，人性化的软件操作确保高效的测试效率。 PQ001系列颗粒表面润湿性分析仪在外观设计、硬件配置、软件操作方面融合了先进的技术并不断升级，确保了卓越的产品性能与友好的客户体验的完美结合。产品功能：悬浮液体系颗粒湿式比表面积粒子分散性、稳定性评估颗粒与介质之间亲和性评价粉体质量控制、分散工艺、研磨工艺研究表面活性剂含量分析顺磁铁磁性杂质识别颗粒改性增强效果评价应用领域：1）制陶术：湿式制程、加工工艺改善, 分散性的质控和研发2）纳米科技：纳米粒子表面的化学状态, 如: 吸附和脱附作用, 比表面积的变化 等3）电子材料：浓稠状浆料和研磨液 (CMP) 的开发及品管4）墨水：碳黑、颜料分散, 最适研磨条件, 表面亲和性及化学和物理状态5）能源：电池, 太阳能板等的碳黑, 纳米碳管和浆料的分散, 粒子表面的化学和物理状态6）制药：API湿润性、亲和性及吸水性的差异7）其他: 全部的浓稠分散悬浊液体, 纳米纤维, 纳米碳等应用案例：不同溶剂对防晒产品用氧化锌颗粒的润湿性差异分析四种防晒产品用的氧化锌的对比试验，每种氧化锌以 5% 的重量分散在两种不同的液体中 一种是己烷，一种是硅油。在硅油中差异性不大，可能是因为表面涂层是一种硅烷，它与线性硅油非常相容，例如聚二甲基硅氧烷。然而在乙烷中，由于乙醇是一种有机流体，导致润湿性差异较大。

DC-2200CE 便携式颗粒物表面积分析仪——颗粒物表面积分析、健康评价产品介绍Ecochem DC-2200CE颗粒物表面积分析仪采用单电极扩散负电原理，实时监测颗粒物总表面积，具有轻便、简洁、坚固的结构特点，自带电池供电、带内存存储数据，主要应用于应用于环境中（家庭、工作场所、汽车、隧道等）个人暴露监测。工作原理原理是单电极扩散负电。电晕放电使载气释放离子，离子与颗粒物表面结合，颗粒物被收集到绝缘滤膜，在放大静电计中（分辨率fA），将电流信号转化为DC电压信号。颗粒物扩散负电特征：有几秒钟响应时间、可动态测定、成本低的方法；颗粒物范围广，几nm~10μm；负电机制不受颗粒物化学特征影响；同时用DC传感器和PAS传感器检测，可辨别不同类型的颗粒物，因为与DC相反，光电负荷是依赖颗粒物体积和表面积的（碳质物质）；PAS和DC联用，对分析燃烧气溶胶非常有效。产品特征&bull 轻便、简洁、坚固的结构&bull 内置1LPM抽气泵&bull LED屏显示&bull 自带电池供电&bull 带内存存储数据&bull 主要应用于应用于环境中（家庭、工作场所、汽车、隧道等）暴露监测。技术参数硬件参数显示LED屏，2行16字符重量1.5kg尺寸68mm×175mm×124mm电源115VAC/60Hz，最大220VAC/50Hz；15V锂电池操作温度5 ~ 40℃存储8000数据点（含时间和值）数字输出RS232数据下载PC兼容图表软件，可转换为excel等格式测量参数流速1LPM测量范围0 ~ 1000μm2/cm3检测线0 ~ 10μm2/cm3灵敏度0 ~ 10μm2/cm3响应时间＜10秒（可调）

测试原理：在低温（如：液氮浴，77.3K）条件下，向样品管内通入一定量的吸附质气体（如：N2），通过控制样品管中的平衡压力直接测得吸附分压，通过气体状态方程(PV=nRT)得到该分压点的吸附量；通过逐渐投入吸附质气体增大吸附平衡压力，得到吸附等温线；通过逐渐抽出吸附质气体降低吸附平衡压力，得到脱附等温线；相对动态法，无需载气（He），无需液氮杯反复升降；由于待测样品是在固定容积的样品管中，吸附质相对动态色谱法不流动，故叫静态容量法；测试理论：吸附、脱附等温线测定 BET比表面测定(单点/多点法)；朗格缪尔(Langmuir)比表面 统计吸附层厚度法外比表面； BJH法孔容孔径分布 MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布； D-R法微孔分析 t-plot法(Boder)微孔分析；H-K法(Original)微孔分析 MP法(Brunauer) 微孔分析；DFT孔径分析 真密度测试、粒度估算报告。 脱气预处理系统：脱气站数量：2、4、8个预处理站可选；真空脱气，不采用气流吹扫方式；全自动脱气：不采用分体式的手动控制，而是采用与主机一体的全自动程序控制，定时开始、真空泵自动启停，程序升温、定时结束，实现无人值守测试和样品脱气处理；独 立 性：测试系统和脱气系统相互独立，样品的测试过程和脱气处理可同时进行；2组独立控温：可设置2组不同脱气温度、不同脱气时间； 金属加热脱气炉隔热设计，经久耐用，不易损坏脱气模式：具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；独立真空系统：不与测试位共用真空泵，脱气系统配备独立的双级机械真空泵；分析测试系统：测试范围：比表面0. 0005m2/g至无上限；孔径：0.35-500 nm(微孔常规分析: 0. 35-2nm 介孔分析: 2nm-50nm 大孔分析: 50nm-500nm)；总孔体积：0.0001cc/g至无上限。测量精度：比表面积重复精度≤± 1.0%，最可几孔径重复偏差≤0.02nm，真密度 ≤±0.04%；外表面积≤± 1.5%。分 析 站：1/2/4或6个分析站可选；独 立P0站：具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。测试系统：根据“国标标准”利用“氦气”测试温区体积，使测试精度更高，重复性更好。另外，也可以通过“氮气”测试得到温区体积(弊端：利用氮气测试温区体积，测试过程中可能导致样品部分孔内被氮填充，影响实验过程中氮的实际吸附量，影响测试精度)。气路系统：贝士德仪器独创的BEST“模块”歧管系统，对基准腔及控制阀门进行整体集成设计，无任何螺纹密封及管路压接或焊接接口，将真空管路减少90%以上，彻底消除漏气点，整个系统漏气率低于10-10Pa*m3/s，密封性提高10倍以上，达到进口高端仪器水平，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，极大减少故障率，大幅增强仪器稳定性。管路通径：大通径是高真空的必备条件，脱气位和测试位采用大通径阀门和管路，使真空泵的极限真空得到效果的体现。控制系统：采用原装进口日本SMC气控阀和电磁阀组合应用，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。真空系统：仪器配备两套独立的真空系统，既脱气系统和分析系统相互独立，真正彻底消除了分析与脱气在同时进行时之间的相互影响，避免由一套真空系统而带来的污染问题。压力测量：原装进口电容薄膜压力传感器，分段测试：0-1000torr，0-10torr（可选）；读数精度误差≤0.15%，为目前压力传感器的精度；微孔段分压 P/P0可达到 1×10-8，点数大于 50 个；大孔段具有 P0的实时测试功能，使 P/P0在趋于临界点时的控制精度达到0.998。 液 氮 杯：配备了3L大容量小口径玻璃内胆杜瓦瓶，相对敞口不锈钢内胆的保温性能大幅提升，保温时长大于140小时，可连续测试90小时以上无需添加液氮，适应微孔长时间测试需求。真 空 泵：原装进口(阿特拉斯Atlas copco，原英国爱德华)双级机械真空泵+德国原装进口涡轮分子泵，全程软件自动启停控制，实现了全自动化操作。 液位控制：贝士德独创的液氮面伺服保持系统，消除测试过程中由于液氮挥发使液氮面变化而带来的死体积变化，提高测试精度；标定气体：配备99.999%高纯HE；具有HE气死体积测试功能和温区测试功能；可获得更高的准确性。测试气体：高纯氮气及根据用户需要可选择多种气体，如，CO2，Ar，Kr等，配有多路独立进气口。样品类型：粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。售后服务：专业且完善的售后服务系统，可提供24小时电话咨询，48小时内上门服务，北京，上海，广州均设有服务机构，全力保障用户仪器正常运行；BSD-PS系列比表面及孔径分析仪---技术特点及优势l 独创的集成式“模块化”歧管系统模块化管路设计，将真空管路减少90%以上，仪器气密性提高10倍，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，减少漏气点，方便故障排查及维修，大幅增强仪器稳定性。 l 控制系统采用原装进口(日本SMC)气控阀和电磁阀组合应用，通过电磁阀控制气控阀的开关，气控阀直接与模块管路连接，气控阀的开关动作不发热，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。l 独立P0测试站及饱和蒸气压螺旋P0管(1) 具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。(静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸气压测试装置，专利号：ZL201120136959.X)(2) 采用螺旋状的P0管作为饱和蒸汽压管，与仪器主机连接，能够更快的达到液氮温度，是的测试的饱和蒸汽压更接近真实值(与进口等温夹的效果一样，解决了直形不锈钢P0管测试结果偏大2%的问题)，提高测试精度。 (饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201620716311.2） l 液氮杯自动加盖功能具有液氮杯自动加盖功能，能有效的减少液氮的挥发，同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰，（静态法比表面及孔径分析仪的加盖装置 专利号 ZL 201420148358.4）l 具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪基准腔恒温装置能够使恒温装置内的基准腔及内部气体、阀门、管路、传感器等的温度略高于环境温度并保持温度不变，降低了由于阀门发热导致温度的不均一性；保证了关键部件的温度恒定，减轻了传感器的漂移现象，提高了测试的准确性、稳定性和测试精度。（具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪 专利号 ZL 201420148783.3）l 非阻隔式防飞扬防污染多措施并用：? 措施①：涡旋降尘原理的非阻隔式硬件防污染装置，结合软件防抽飞程序彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况，如右图所示；? 措施②：贝士德独创的脱气位滤尘袋结合贝士德独创的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，缩短抽真空脱气时间、提高脱气效果；? 措施③：程序控制的分级抽速自动切换，防止瞬间高真空时样品飞扬；? 措施④程序升温，防止样品剧烈升温扬析沸腾；? 措施⑤：脱气完毕程控自动回填氮气；贝士德独创防污染滤尘袋结合涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，抽真空脱气时间缩短、效果提高。贝士德仪器独创的非阻隔式防飞扬防污染装置其他厂家的阻隔式防污染装置 工作过程：如遇到非常轻的样品，在高真空的情况下被抽飞，样品通过惯性首先落到滤尘袋内，极少部分会通过滤尘袋落到防污染瓶内，而不会进入气路系统，相比较阻隔式，既不影响真空度，又能够保护气路系统，彻底避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。非阻隔式防污染装置的优势：相比较阻隔式防污染装置，非阻隔式防污染装置能够彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。专利技术：(1) 具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201320045881.X；(2) 具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附仪，专利号：ZL201620714986.3。 工作原理：样品在脱气预处理过程中，如遇到较轻样品，在高真空的情况下，样品会发生扬析沸腾现象，常规的防污染都是通过阻隔的方式进行对气路系统的保护，而这种阻隔式防污染装置的弊端：1、若对2um以下的颗粒有效，则需要增加滤芯(滤棉)，而滤芯(滤棉)过多则会严重影响抽气速度，无法获得高真空度；2、如果滤芯(滤棉)过少，对于粒径小于2um的颗粒基本无效，样品便会发生扬析(抽飞)现象，发生扬析(抽飞)的样品便会进入管路系统、污染阀门等气路系统，影响真空度，造成样品的交叉污染，仪器维修率高，影响仪器的使用寿命。l 可选处理模式具有国内外首创的样品预“处理普通模式”和“分子置换模式”两种模式。(静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置，专利号：ZL201120136943. 9) l 真空泵自动启停管理优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长真空泵寿命。l 断电自动保存当前数据超强的稳定性，即使意外断电、断线，不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行。l 人性化操作界面清晰形象的图形化控制界面，并可在界面上进行所有硬件的控制操作。l 密封性自检先进的智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气。l 高智能化工作模式交互式数据处理软件可实现仪器的全自动运行，长时间实验无需人工值守，可根据用户需要定制报告内容。l 杜绝液氮杯意外下降具有液氮杯防意外“安全下降”智能控制机制，完全避免了液氮杯意外下降气体膨胀使样品管爆裂的危险。

新品详情上市时间：2012年1月创新点:表面能分析仪（SEA）代表了iGC（反气相色谱法）技术的巨大进步。SEA创新的核心是其独特的多面注射系统。这个系统生成了具有最大精度和范围的溶剂脉冲－精确的产生样品空前的高和极低的表面覆盖范围的等温线。这决定了对非均匀分布的表面量的测量精准性。*专利待定详细信息技术要点iGC 表面能分析仪继续保持了SMS 公司15年来开拓历史的反气相色谱法的世界领导者地位。iGC－反气相色谱法－创始原则iGC－是一项的针对粉末、颗粒、纤维、薄膜、半固体.的表面与体积性质的气相表征技术。实验包含了一系列蒸汽脉冲或是从正面通过塞满了将要检测的样品注射洗脱。由火焰电离探测器（FID）来衡量蒸汽的保留时间。蒸汽探针分子、流量、温度或色谱柱的条件的不同说明了广泛样品的表面和体积性质。SEA－崭新的一代表面能分析仪（SEA）代表了iGC技术的巨大进步。SEA创新的核心是其独特的多面注射系统* 这个系统生成了具有最大精度和范围的溶剂脉冲－精确的产生样品空前的高和极低的表面覆盖范围的等温线。这决定了对非均匀分布的表面量的测量精准性。*专利待定独特的1：4000容量注射比率的变量注射系统12层溶剂存储罐：抽屉使用轻松 为蒸汽稳定设计的 温度控制 火焰电离 探测器(FID)：增益可调。 完全集成的设计：易于使用样品柱炉子和溶剂存储罐。 2个样品柱炉子设计：更高的通量。 样品柱炉子：20℃－150℃完全集成可选：薄膜/单柱样品容器可选：背景湿度控制可选：气体多面流动 体积最小化设计：系统尺寸：宽：～490mm；高：～650mm深：～564mm系统重量：80kg 前面板LED灯：提供一览信息包括节能，FID点火，系统状态和泄漏检测。 表面能 表面能&gamma 是通过IGC SEA测量的一种原则特性。一个实体的存在，它的分子必须是积极主动的相互结合。由此可知物体表面的分子处于相对不良好的状态（即：具有更高能量），因为它们并没有被其他分子包围。 固表面能类似于液体表面的张力，量化样品相对大量表面的能量。如果固体样品表面有较高的&gamma 值，那它表面分子就处于高能状态，它们很有利于成为分子间的黏合剂。 正是这些分子间的力使粉末颗粒和和其他固体表面有吸引力。因此，与表面能量值（分散和对立）相关的几个关键的固体属性包括粉末流动性、集聚、诱导过程的障碍、粘连、静电与表面化学性。 SEA通过把固体样品暴露于已知属性的蒸汽探测器来模拟固体表面和其他固体样品的界面。这使他们形成分子间结合黏合剂，并且这种相互作用的分析量化了样品表面的总能量。表面分子处于高能量状态，他们中大部分形成少量粘合剂。这些表面分子有着不同水平的能量，造成表面能量不均匀。粉末颗粒表面的之间的作用力大大有助于粉末的物理性能。分子在三维空间内彼此大量黏合并且活性更加稳定。多相性图表大部分材料都有着非均质的活性，即他们不同的区域有不同的表面能。因此，描述整个样品表面就样以液体为基础的技术一样重要，而不是简单的计算平均&gamma 值。 SEA是唯一商业的iGC系统，它提供对分散与极性（酸碱）能量多相性的详细分析，并绘出示意图，如下：表面能量多相性概况（左），微颗粒和结晶的奈德粉分布（右）。微粒化的样本显示了更广泛的表面能量分布和更高的平均表面能量软件SMS的系统软件在稳定性、 灵活性、 直观性方面仍然是世界的领先者。通过广泛客户的参与和采纳反馈意见并进行自行设计，SMS让吸附解决方案操作变得更简单。SEA 控制软件：CIRRUSCirrus让复杂的实验简单化。拥有直观的、windows用户界面Cirrus实验方法可以被灵活的设计、编辑并实时运行。特性要点： * 智能化，基于向导wizard-based的实验及样品设置* 测量多样的变量：表面覆盖、溶剂、温度和流量* 实时显示实验进展状况* 设置简单，可轻松保存并恢复实验方法* 批量处理运行多达10种方法* 先进的系统状态诊断程序SEA 数据分析软件：CIRRUS PLUSCirrus Plus 利用了iGC SEA的实验灵活性。提供广泛的，人性化的数据分析，并可以单击生成报表，Cirrus Plus 将帮助您最大程度的运用iGC数据。可选的大容量分析&hellip SEA的扩展功能甚至可以通过添加额外的分析模块可以计算批量属性如溶解度参数、扩散系数和Tg值。规格特点： * 等温线测定/BET/Henry 常数* 表面能分析* 表面能量活力示意图* 粘附/凝聚力的测定* 竞争吸附的测量* 热吸附/吸附作用的测量* 酸碱化学分析

简介Lumina AT1光学表面缺陷分析仪可对玻璃、半导体及光电子材料进行表面检测。Lumina AT1既能够检测SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料，又能对Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板进行检测，其价格优势使其成为适合于研发/小批量生产过程中品质管理及良率改善的有力工具。 Lumina AT1结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与表面斜率等基本原理，以非破环性方式对Wafer表面的残留异物，表面与表面下缺陷，形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。1.偏振通道用于薄膜、划痕和应力点；2.坡度通道用于凹坑、凸起；3.反射通道用于粗糙表面的颗粒；4.暗场通道用于微粒和划痕；二、 功能l 主要功能1. 缺陷检测与分类2. 缺陷分析3. 薄膜均一性测量4. 表面粗糙度测量5. 薄膜应力检测l 技术特点1.透明、半透明和不透明的材料均可测量，比如硅、化合物半导体或金属基底；2.实现亚纳米的薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像；3.150mm晶圆全表面扫描的扫描时间为3分钟，50x50mm样品30秒内可完成扫描并显示结果；4.高抗震性能，系统不旋转，形状无关，可容纳非圆形和易碎的基底材料；5.高达300x300mm的扫描区域；可定位缺陷，以便进一步分析；技术能力三、应用案例1. 透明/非透明材质表面缺陷检测 2. MOCVD外延生长成膜缺陷管控3. PR膜厚均一性评价4. Clean制程清洗效果评价5. Wafer在CMP后表面缺陷分析6. 多个应用领域，如AR/VR、Glass、光掩模版、蓝宝石、Si wafer等

一、仪器名称：表面颗粒度检测仪二、品牌型号：荷兰Fastmicro公司FM-PS-SAS-V01型三、产品简介荷兰Fastmicro FM-PS-SAS-V01型表面颗粒度检测系统，采用采样器在待测样品表面取样，间接测量样品表面颗粒污染水平。采样器从待测样品表面收集颗粒（90%的表面颗粒都会被收集），且不会留下任何残留物。样品测试在几秒钟内即可完成，客户能够在一分钟内完成整个工作流程。主要用于半导体设备制造商及芯片制造商评价设备及零部件的清洁度，判断设备是否会引入颗粒污染，进而判断设备是否可以用于芯片生产，如果表面有颗粒污染，需要进行清洁才能正常运行。同时该设备可用于监测超净间的洁净水平。四、原理简介 采用专利技术米氏散射原理检测表面微观颗粒，光源发出的平行光照射待测表面，遇到表面的突起颗粒发生米氏散射，摄像头传感器以一定角度接收到散射信号，根据散射信号可获取关于待测表面颗粒尺寸信息。五、主要参数速度225mm2内秒级成像；整个流程1分钟内完成（取样+测试）；数据输出颗粒数量；颗粒位置；颗粒尺寸；带有粒子标记的图像；可导出KLARF和Excel文件；数据通过USB或以太网输出；易于操作操作简单；检测范围最小可检测500nm大小PSL颗粒；重复性更换采样器后, 90%的颗粒被统计，PSL颗粒大于500nm；测量精度＜20%（测试PSI颗粒）无损，无交叉污染取样器不会引人新的污染，测量过程属于非接触无损测量对取样器和样品处理的要求需要使用经过认证的取样器以及支架；采样器的污染水平要比客户样品的污染水平低10倍；洁净室ISO7，等级10000或更高；可选配粒子沉降模块，用于监测粒子沉降，判断超净间的洁净程度 产品尺寸（长*宽*高）615mm*300mm460mm六、应用案例七、选项（1）取样器颗粒去除率90%，并且PMC不会留下任何残留物。采样器存放在一个特定的盒子中。（2）洁净间粒子沉降监测模块该模块包含两部分：n 晶圆支架：用于关键区域的颗粒收集n 适配器器：将支架固定方便放入表面颗粒扫描仪中进行扫描分析将标准晶圆放置在晶圆支架上，将晶圆支架放置超净间或者制造地点，持续一段时间检测沉积在晶圆表面的颗粒情况，判断超净间或者制造地点的颗粒沉降水平，符合ISO 14644-17标准，它对评价超净间的洁净程度及洁净室内的相关半导体工艺开发特别有用。

仪器概述固体表面Zeta电位分析仪是专门用多孔塞技术直接测定流动电位/流动电流的Zeta电位分析仪，该技术适用于50μm以上的大颗粒、纤维和平坦的表面，或在一个压力梯度下电解质可以透过的曲面膜或中空纤维样品。产品应用领域固体表面Zeta电位分析仪主要应用粉末、纸浆、反渗透膜、中空纤维、纺织纤维、地质矿物、矿石、玻璃、晶圆、聚合物、头发… … 产品用途流动电位流动电流(可选)插入阻力导电性温度产品规格n 可靠和简单的设置n 完全自动化的系统测量和冲洗n 基于Windows的菜单驱动软件n Excel数据采集、处理和导出n 在线电导率样品池，可精确计算zeta电位。n 压差与电位的实时关系图n 直接计算zeta电位n 直接数据传输和处理n 样品池尺寸在1cm～8cm之间可变。n 专用样品池选件满足特殊需要（平板膜，滤膜，中空纤维… … ）n 中空纤维切向流电位专用样品池n 直接测量多孔塞电阻独特功能n 在线电导率样品池，可精确计算zeta电位n 中空纤维切向流电位专用样品池产品优势n 样品池尺寸在1cm～8cm之间可变n 专用样品池选件满足特殊需要（平板膜，滤膜，中空纤维… … ）n 在线电导率样品池，可精确计算zeta电位。 操作软件固体表面Zeta电位分析仪的软件安装简单可靠，易于操作，所有样品独立显示电导率对时间作图，数据并以.txt格式自动存档客户案例北京金隅集团山东大学中国建材所售后服务应用支持中心：在北京设有应用支持中心和应用实验室。负责用户培训及应用支持，做到对用户的问题24小时即时响应。层次一： 经过多次培训的分布于各办事处的专职销售及市场工程师和产品专家同时负责用户的基本应用问题解答及仪器状态的判断。层次二：设于北京技术服务中心及应用实验室的工程师负责仪器的安装、维修及用户培训，做到对用户的问题24小时即时响应。层次三：公司专家每年访问中国，帮助中国用户解决疑难问题。层次四：公司专家求助热线提供每天18小时的全球服务，答疑解惑。 1.仪器的安装，调试:仪器到达用户使用现场后，由厂方从北京，上海或广州派出工程师进行安装，调试工作。2.仪器的验收: 安装调试完毕后，用标准物质或指定样品进行验收。3.应用培训:在仪器安装，验收完成后，由卖方对用户人员进行现场培训，使用户能进行独立的上机操作。4.维修服务：1.保质期为仪器验收之后12个月。2.在接到用户报修后，24小时响应；若确认仪器故障，48小时内工程师到现场进行维修。 3.公司将及时提供仪器软件的免费升级。分析报告

测试原理：在低温（如：液氮浴，77.3K）条件下，向样品管内通入一定量的吸附质气体（如：N2），通过控制样品管中的平衡压力直接测得吸附分压，通过气体状态方程(PV=nRT)得到该分压点的吸附量；通过逐渐投入吸附质气体增大吸附平衡压力，得到吸附等温线；通过逐渐抽出吸附质气体降低吸附平衡压力，得到脱附等温线；相对动态法，无需载气（He），无需液氮杯反复升降；由于待测样品是在固定容积的样品管中，吸附质相对动态色谱法不流动，故叫静态容量法；测试理论：吸附、脱附等温线测定 BET比表面测定(单点/多点法)；朗格缪尔(Langmuir)比表面 统计吸附层厚度法外比表面； BJH法孔容孔径分布 MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布； D-R法微孔分析 t-plot法(Boder)微孔分析；H-K法(Original)微孔分析 MP法(Brunauer) 微孔分析；DFT孔径分析 真密度测试、粒度估算报告。 脱气预处理系统：脱气站数量：2、4、8个预处理站可选；真空脱气，不采用气流吹扫方式；全自动脱气：不采用分体式的手动控制，而是采用与主机一体的全自动程序控制，定时开始、真空泵自动启停，程序升温、定时结束，实现无人值守测试和样品脱气处理；独 立 性：测试系统和脱气系统相互独立，样品的测试过程和脱气处理可同时进行；2组独立控温：可设置2组不同脱气温度、不同脱气时间； 金属加热脱气炉隔热设计，经久耐用，不易损坏脱气模式：具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；独立真空系统：不与测试位共用真空泵，脱气系统配备独立的双级机械真空泵；分析测试系统：测试范围：比表面0. 0005m2/g至无上限；孔径：0.35-500 nm(微孔常规分析: 0. 35-2nm 介孔分析: 2nm-50nm 大孔分析: 50nm-500nm)；总孔体积：0.0001cc/g至无上限。测量精度：比表面积重复精度≤± 1.0%，最可几孔径重复偏差≤0.02nm，真密度 ≤±0.04%；外表面积≤± 1.5%。分 析 站：1/2/4或6个分析站可选；独 立P0站：具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。测试系统：根据“国标标准”利用“氦气”测试温区体积，使测试精度更高，重复性更好。另外，也可以通过“氮气”测试得到温区体积(弊端：利用氮气测试温区体积，测试过程中可能导致样品部分孔内被氮填充，影响实验过程中氮的实际吸附量，影响测试精度)。气路系统：贝士德仪器独创的BEST“模块”歧管系统，对基准腔及控制阀门进行整体集成设计，无任何螺纹密封及管路压接或焊接接口，将真空管路减少90%以上，彻底消除漏气点，整个系统漏气率低于10-10Pa*m3/s，密封性提高10倍以上，达到进口高端仪器水平，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，极大减少故障率，大幅增强仪器稳定性。管路通径：大通径是高真空的必备条件，脱气位和测试位采用大通径阀门和管路，使真空泵的极限真空得到效果的体现。控制系统：采用原装进口日本SMC气控阀和电磁阀组合应用，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。真空系统：仪器配备两套独立的真空系统，既脱气系统和分析系统相互独立，真正彻底消除了分析与脱气在同时进行时之间的相互影响，避免由一套真空系统而带来的污染问题。压力测量：原装进口电容薄膜压力传感器，分段测试：0-1000torr，0-10torr（可选）；读数精度误差≤0.15%，为目前压力传感器的精度；微孔段分压 P/P0可达到 1×10-8，点数大于 50 个；大孔段具有 P0的实时测试功能，使 P/P0在趋于临界点时的控制精度达到0.998。 液 氮 杯：配备了3L大容量小口径玻璃内胆杜瓦瓶，相对敞口不锈钢内胆的保温性能大幅提升，保温时长大于140小时，可连续测试90小时以上无需添加液氮，适应微孔长时间测试需求。真 空 泵：原装进口(阿特拉斯Atlas copco，原英国爱德华)双级机械真空泵+德国原装进口涡轮分子泵，全程软件自动启停控制，实现了全自动化操作。 液位控制：贝士德独创的液氮面伺服保持系统，消除测试过程中由于液氮挥发使液氮面变化而带来的死体积变化，提高测试精度；标定气体：配备99.999%高纯HE；具有HE气死体积测试功能和温区测试功能；可获得更高的准确性。测试气体：高纯氮气及根据用户需要可选择多种气体，如，CO2，Ar，Kr等，配有多路独立进气口。样品类型：粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。售后服务：专业且完善的售后服务系统，可提供24小时电话咨询，48小时内上门服务，北京，上海，广州均设有服务机构，全力保障用户仪器正常运行；BSD-PS系列比表面及孔径分析仪---技术特点及优势l 独创的集成式“模块化”歧管系统模块化管路设计，将真空管路减少90%以上，仪器气密性提高10倍，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，减少漏气点，方便故障排查及维修，大幅增强仪器稳定性。 l 控制系统采用原装进口(日本SMC)气控阀和电磁阀组合应用，通过电磁阀控制气控阀的开关，气控阀直接与模块管路连接，气控阀的开关动作不发热，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。l 独立P0测试站及饱和蒸气压螺旋P0管(1) 具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。(静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸气压测试装置，专利号：ZL201120136959.X)(2) 采用螺旋状的P0管作为饱和蒸汽压管，与仪器主机连接，能够更快的达到液氮温度，是的测试的饱和蒸汽压更接近真实值(与进口等温夹的效果一样，解决了直形不锈钢P0管测试结果偏大2%的问题)，提高测试精度。 (饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201620716311.2） l 液氮杯自动加盖功能具有液氮杯自动加盖功能，能有效的减少液氮的挥发，同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰，（静态法比表面及孔径分析仪的加盖装置 专利号 ZL 201420148358.4）l 具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪基准腔恒温装置能够使恒温装置内的基准腔及内部气体、阀门、管路、传感器等的温度略高于环境温度并保持温度不变，降低了由于阀门发热导致温度的不均一性；保证了关键部件的温度恒定，减轻了传感器的漂移现象，提高了测试的准确性、稳定性和测试精度。（具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪 专利号 ZL 201420148783.3）l 非阻隔式防飞扬防污染多措施并用：? 措施①：涡旋降尘原理的非阻隔式硬件防污染装置，结合软件防抽飞程序彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况，如右图所示；? 措施②：贝士德独创的脱气位滤尘袋结合贝士德独创的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，缩短抽真空脱气时间、提高脱气效果；? 措施③：程序控制的分级抽速自动切换，防止瞬间高真空时样品飞扬；? 措施④程序升温，防止样品剧烈升温扬析沸腾；? 措施⑤：脱气完毕程控自动回填氮气；贝士德独创防污染滤尘袋结合涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，抽真空脱气时间缩短、效果提高。贝士德仪器独创的非阻隔式防飞扬防污染装置其他厂家的阻隔式防污染装置 工作过程：如遇到非常轻的样品，在高真空的情况下被抽飞，样品通过惯性首先落到滤尘袋内，极少部分会通过滤尘袋落到防污染瓶内，而不会进入气路系统，相比较阻隔式，既不影响真空度，又能够保护气路系统，彻底避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。非阻隔式防污染装置的优势：相比较阻隔式防污染装置，非阻隔式防污染装置能够彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。专利技术：(1) 具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201320045881.X；(2) 具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附仪，专利号：ZL201620714986.3。 工作原理：样品在脱气预处理过程中，如遇到较轻样品，在高真空的情况下，样品会发生扬析沸腾现象，常规的防污染都是通过阻隔的方式进行对气路系统的保护，而这种阻隔式防污染装置的弊端：1、若对2um以下的颗粒有效，则需要增加滤芯(滤棉)，而滤芯(滤棉)过多则会严重影响抽气速度，无法获得高真空度；2、如果滤芯(滤棉)过少，对于粒径小于2um的颗粒基本无效，样品便会发生扬析(抽飞)现象，发生扬析(抽飞)的样品便会进入管路系统、污染阀门等气路系统，影响真空度，造成样品的交叉污染，仪器维修率高，影响仪器的使用寿命。l 可选处理模式具有国内外首创的样品预“处理普通模式”和“分子置换模式”两种模式。(静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置，专利号：ZL201120136943. 9) l 真空泵自动启停管理优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长真空泵寿命。l 断电自动保存当前数据超强的稳定性，即使意外断电、断线，不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行。l 人性化操作界面清晰形象的图形化控制界面，并可在界面上进行所有硬件的控制操作。l 密封性自检先进的智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气。l 高智能化工作模式交互式数据处理软件可实现仪器的全自动运行，长时间实验无需人工值守，可根据用户需要定制报告内容。l 杜绝液氮杯意外下降具有液氮杯防意外“安全下降”智能控制机制，完全避免了液氮杯意外下降气体膨胀使样品管爆裂的危险。

Fastmicro Particle Defect Inspection System | FM-PDS品牌：Fastmicro型号：FM-PDS产地：荷兰关键字：颗粒度检测，颗粒污染检测，晶圆表面颗粒度检测一、产品介绍荷兰Fastmicro公司表面颗粒度检测系统专门用于直接、快速检测产品表面颗粒度污染情况，允许检测最小颗粒尺寸100nm。主要应用于半导体领域薄膜、标线片、晶圆表面颗粒度检测或显示领域表面颗粒度检测。基于模块化和可扩展设计，该检测系统的扫描区域可以覆盖非常大的表面，如LCD衬底。此外，扫描仪模块也可以集成到其它设备中作为OEM解决方案。二、系统配置操作模式：半自动/全自动；样品尺寸：4"/6"/8"/12检测速度：400 Wafers-Per-Hour (WPH)；分析参数：颗粒数量，位置和尺寸；分析报告：UI或PDF格式量化报告，满足ISO-14644-9标准；数据输出：KLARF, XML, Excel & Text文件；检测阈值：100nm及以上尺寸PSL颗粒；重复性：99%累积颗粒计数标准颗粒；尺寸准确性：PSL颗粒20%以内；定位准确性：40μm精度，15μm定位重复性；顶部/底部检测：单面检测/无翻转；控制：全数字控制设备网络-以太网，SECS/GEM；三、应用领域荷兰Fastmicro公司表面颗粒度检测系统可以应用于以下场景：薄膜检测（正面和背面）标线片，光掩模4 / 6 / 8/ 12英寸晶圆（背面、坯件、斜面）3Di（例如铜与铜的键合）高纯度关键部件四、检测模块集成 Fastmicro模块化设计的表面颗粒度检测系统可以根据客户需求集成到客户现有生产线上。可以包含检测模块、清洁模块、上片站、机械臂、检测区和清洁片存放区。

BSD-PM系列比表面及微孔分析仪---性能参数测试原理：在低温（如：液氮浴，77.3K）条件下，向样品管内通入一定量的吸附质气体（如：N2），通过控制样品管中的平衡压力直接测得吸附分压，通过气体状态方程(PV=nRT)得到该分压点的吸附量；通过逐渐投入吸附质气体增大吸附平衡压力，得到吸附等温线；通过逐渐抽出吸附质气体降低吸附平衡压力，得到脱附等温线；相对动态法，无需载气（He），无需液氮杯反复升降；由于待测样品是在固定容积的样品管中，吸附质相对动态色谱法不流动，故叫静态容量法；测试理论：吸附、脱附等温线测定 BET比表面测定(单点/多点法)；朗格缪尔(Langmuir)比表面 统计吸附层厚度法外比表面； BJH法孔容孔径分布 MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布； D-R法微孔分析 t-plot法(Boder)微孔分析；H-K法(Original)微孔分析 MP法(Brunauer) 微孔分析；DFT孔径分析 真密度测试、粒度估算报告。 脱气预处理系统：脱气站数量：2、4、8个预处理站可选；真空脱气，不采用气流吹扫方式；全自动脱气：不采用分体式的手动控制，而是采用与主机一体的全自动程序控制，具有预约、定时脱漆功能及真空泵自动启停，程序升温、定时结束，实现无人值守测试和样品脱气处理；独 立 性：测试系统和脱气系统相互独立，样品的测试过程和脱气处理可同时进行；2组独立控温：可设置2组不同脱气温度、不同脱气时间；BET比表面积仪,微孔分析仪,孔径分析仪,比表面积测试仪,比表面积分析仪脱气模式：具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；冷阱：具有脱气位冷阱，保护真空系统，提高真空度；独立真空系统：不与测试位共用真空泵，脱气系统配备独立的双级机械真空泵； 分析测试系统：测试范围：比表面0. 0005m2/g至无上限；孔径：0.35-500 nm(微孔常规分析: 0. 35-2nm 介孔分析: 2nm-50nm 大孔分析: 50nm-500nm)；总孔体积：0.0001cc/g至无上限。测量精度：比表面积重复精度≤± 1.0%，最可几孔径重复偏差≤0.02nm，真密度 ≤±0.04%；外表面积≤± 1.5%。分 析 站：1或2个分析站可选；独 立P0站：具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。测试系统：根据“国标标准”利用“氦气”测试温区体积，使测试精度更高，重复性更好。另外，也可以通过“氮气”测试得到温区体积(弊端：利用氮气测试温区体积，测试过程中可能导致样品部分孔内被氮填充，影响实验过程中氮的实际吸附量，影响测试精度)。气路系统：贝士德仪器独创的BEST“模块”歧管系统，对基准腔及控制阀门进行整体集成设计，无任何螺纹密封及管路压接或焊接接口，将真空管路减少90%以上，彻底消除漏气点，整个系统漏气率低于10-10Pa*m3/s，密封性提高10倍以上，达到进口高端仪器水平，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，极大减少故障率，大幅增强仪器稳定性,BET比表面积仪,微孔分析仪,孔径分析仪,比表面积测试仪,比表面积分析仪。管路通径：大通径是高真空的必备条件，脱气位和测试位采用大通径阀门和管路，使真空泵的极限真空得到效果的体现。控制系统：采用原装进口日本SMC气控阀和电磁阀组合应用，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。冷阱：脱气气路，分析气路独立双冷阱装置，彻底除去气路中的水分、油性物质等杂质。 真空系统：仪器配备两套独立的真空系统，既脱气系统和分析系统相互独立；分析位配备独立双级机械真空泵+德国原装进口涡轮分子泵，极限真空达到 10-6Pa；三台泵组成的两套独立的真空系统即提高了测试效率，又真正彻底消除了分析与脱气在同时进行时之间的相互影响，避免由一套真空系统而带来的污染问题。压力测量：原装进口电容薄膜压力传感器，分段测试：0-1000torr，0-1torr，0-0.1torr（可选）；读数精度误差≤0.15%，为目前压力传感器的精度；微孔段分压 P/P0可达到 1×10-8，点数大于 50 个；大孔段具有 P0的实时测试功能，使 P/P0在趋于临界点时的控制精度达到0.998。液 氮 杯：配备了3L大容量小口径玻璃内胆杜瓦瓶，相对敞口不锈钢内胆的保温性能大幅提升，保温时长大于140小时，可连续测试90小时以上无需添加液氮，适应微孔长时间测试需求。真 空 泵：原装进口(阿特拉斯Atlas copco，原英国爱德华)双级机械真空泵+德国原装进口涡轮分子泵，全程软件自动启停控制，实现了全自动化操作。 液位控制：贝士德独创的液氮面伺服保持系统，消除测试过程中由于液氮挥发使液氮面变化而带来的死体积变化，提高测试精度；标定气体：配备99.999%高纯HE；具有HE气死体积测试功能和温区测试功能；可获得更高的准确性。 测试气体：高纯氮气及根据用户需要可选择多种气体，如，CO2，Ar，Kr等，配有多路独立进气口。样品类型：粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。售后服务：专业且完善的售后服务系统，可提供24小时电话咨询，48小时内上门服务，北京，上海，广州均设有服务机构，全力保障用户仪器正常运行；BSD-PM系列比表面及微孔分析仪---技术特点及优势l 独创的集成式“模块化”歧管系统模块化管路设计，将真空管路减少90%以上，仪器气密性提高10倍，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，减少漏气点，方便故障排查及维修，大幅增强仪器稳定性。 l 控制系统采用原装进口(日本SMC)气控阀和电磁阀组合应用，通过电磁阀控制气控阀的开关，气控阀直接与模块管路连接，气控阀的开关动作不发热，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。l 双冷阱脱气气路和分析气路独立的双冷阱装置，彻底除去气路中的水分、油性物质等杂质(气体净化冷阱及比表面仪，专利号：ZL200920110450.0)l 独立P0测试站及饱和蒸气压螺旋P0管(1) 具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。(静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸气压测试装置，专利号：ZL201120136959.X)(2) 采用螺旋状的P0管作为饱和蒸汽压管，与仪器主机连接，能够更快的达到液氮温度，使得测试的饱和蒸汽压更接近真实值(与进口等温夹的效果一样，解决了直形不锈钢P0管测试结果偏大2%的问题)，提高测试精度。 (饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201620716311.2） l 液氮杯自动加盖功能具有液氮杯自动加盖功能，能有效的减少液氮的挥发，同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰，（静态法比表面及孔径分析仪的加盖装置 专利号 ZL 201420148358.4）l 具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪基准腔恒温装置能够使恒温装置内的基准腔及内部气体、阀门、管路、传感器等的温度略高于环境温度并保持温度不变，降低了由于阀门发热导致温度的不均一性；保证了关键部件的温度恒定，减轻了传感器的漂移现象，提高了测试的准确性、稳定性和测试精度,BET比表面积仪,微孔分析仪,孔径分析仪,比表面积测试仪,比表面积分析仪。（具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪 专利号 ZL 201420148783.3）l 可选处理模式具有国内外首创的样品预“处理普通模式”和“分子置换模式”两种模式。(静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置，专利号：ZL201120136943. 9) l 非阻隔式防飞扬防污染多措施并用：? 措施①：涡旋降尘原理的非阻隔式硬件防污染装置，结合软件防抽飞程序彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况，如右图所示；? 措施②：贝士德独创的脱气位滤尘袋结合贝士德独创的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，缩短抽真空脱气时间、提高脱气效果；? 措施③：程序控制的分级抽速自动切换，防止瞬间高真空时样品飞扬；? 措施④程序升温，防止样品剧烈升温扬析沸腾；? 措施⑤：脱气完毕程控自动回填氮气；贝士德仪器独创的非阻隔式防飞扬防污染装置其他厂家的阻隔式防污染装置 工作过程：如遇到非常轻的样品，在高真空的情况下被抽飞，样品通过惯性首先落到滤尘袋内，极少部分会通过滤尘袋落到防污染瓶内，而不会进入气路系统，相比较阻隔式，既不影响真空度，又能够保护气路系统，彻底避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。非阻隔式防污染装置的优势：相比较阻隔式防污染装置，非阻隔式防污染装置能够彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。专利技术：(1) 具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201320045881.X；(2) 具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附仪，专利号：ZL201620714986.3。 工作原理：样品在脱气预处理过程中，如遇到较轻样品，在高真空的情况下，样品会发生扬析沸腾现象，常规的防污染都是通过阻隔的方式进行对气路系统的保护，而这种阻隔式防污染装置的弊端：1、若对2um以下的颗粒有效，则需要增加滤芯(滤棉)，而滤芯(滤棉)过多则会严重影响抽气速度，无法获得高真空度；2、如果滤芯(滤棉)过少，对于粒径小于2um的颗粒基本无效，样品便会发生扬析(抽飞)现象，发生扬析(抽飞)的样品便会进入管路系统、污染阀门等气路系统，影响真空度，造成样品的交叉污染，仪器维修率高，影响仪器的使用寿命。 l 真空泵自动启停管理优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长真空泵寿命。l 断电自动保存当前数据超强的稳定性，即使意外断电、断线，不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行。l 人性化操作界面清晰形象的图形化控制界面，并可在界面上进行所有硬件的控制操作。l 密封性自检先进的智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气。l 高智能化工作模式交互式数据处理软件可实现仪器的全自动运行，长时间实验无需人工值守，可根据用户需要定制报告内容。l 杜绝液氮杯意外下降具有液氮杯防意外“安全下降”智能控制机制，完全避免了液氮杯意外下降气体膨胀使样品管爆裂的危险。 仪器选型指南： 型号功能BSD-PM1BSD-PM2预处理站22分析站12P0测试功能√√BET比表面√√总孔体积√√介孔孔径分布（p/p0＞10-3）√√微孔孔径分布（p/p0＜10-4）√√吸附脱附曲线√√真空泵√√分子泵√√1000 torr压力传感器√√10 torr压力传感器可选可选1 torr压力传感器√√0.1 torr压力传感器可选可选脱气位冷阱√√分析位冷阱√√测试报告：获得专利：典型客户：

BSD-PM系列比表面及微孔分析仪---性能参数测试原理：在低温（如：液氮浴，77.3K）条件下，向样品管内通入一定量的吸附质气体（如：N2），通过控制样品管中的平衡压力直接测得吸附分压，通过气体状态方程(PV=nRT)得到该分压点的吸附量；通过逐渐投入吸附质气体增大吸附平衡压力，得到吸附等温线；通过逐渐抽出吸附质气体降低吸附平衡压力，得到脱附等温线；相对动态法，无需载气（He），无需液氮杯反复升降；由于待测样品是在固定容积的样品管中，吸附质相对动态色谱法不流动，故叫静态容量法；测试理论：吸附、脱附等温线测定 BET比表面测定(单点/多点法)；朗格缪尔(Langmuir)比表面 统计吸附层厚度法外比表面； BJH法孔容孔径分布 MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布； D-R法微孔分析 t-plot法(Boder)微孔分析；H-K法(Original)微孔分析 MP法(Brunauer) 微孔分析；DFT孔径分析 真密度测试、粒度估算报告。 脱气预处理系统：脱气站数量：2、4、8个预处理站可选；真空脱气，不采用气流吹扫方式；全自动脱气：不采用分体式的手动控制，而是采用与主机一体的全自动程序控制，具有预约、定时脱漆功能及真空泵自动启停，程序升温、定时结束，实现无人值守测试和样品脱气处理；独 立 性：测试系统和脱气系统相互独立，样品的测试过程和脱气处理可同时进行；2组独立控温：可设置2组不同脱气温度、不同脱气时间；BET比表面积仪,微孔分析仪,孔径分析仪,比表面积测试仪,比表面积分析仪脱气模式：具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；冷阱：具有脱气位冷阱，保护真空系统，提高真空度；独立真空系统：不与测试位共用真空泵，脱气系统配备独立的双级机械真空泵； 分析测试系统：测试范围：比表面0. 0005m2/g至无上限；孔径：0.35-500 nm(微孔常规分析: 0. 35-2nm 介孔分析: 2nm-50nm 大孔分析: 50nm-500nm)；总孔体积：0.0001cc/g至无上限。测量精度：比表面积重复精度≤± 1.0%，最可几孔径重复偏差≤0.02nm，真密度 ≤±0.04%；外表面积≤± 1.5%。分 析 站：1或2个分析站可选；独 立P0站：具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。测试系统：根据“国标标准”利用“氦气”测试温区体积，使测试精度更高，重复性更好。另外，也可以通过“氮气”测试得到温区体积(弊端：利用氮气测试温区体积，测试过程中可能导致样品部分孔内被氮填充，影响实验过程中氮的实际吸附量，影响测试精度)。气路系统：贝士德仪器独创的BEST“模块”歧管系统，对基准腔及控制阀门进行整体集成设计，无任何螺纹密封及管路压接或焊接接口，将真空管路减少90%以上，彻底消除漏气点，整个系统漏气率低于10-10Pa*m3/s，密封性提高10倍以上，达到进口高端仪器水平，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，极大减少故障率，大幅增强仪器稳定性,BET比表面积仪,微孔分析仪,孔径分析仪,比表面积测试仪,比表面积分析仪。管路通径：大通径是高真空的必备条件，脱气位和测试位采用大通径阀门和管路，使真空泵的极限真空得到效果的体现。控制系统：采用原装进口日本SMC气控阀和电磁阀组合应用，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。冷阱：脱气气路，分析气路独立双冷阱装置，彻底除去气路中的水分、油性物质等杂质。 真空系统：仪器配备两套独立的真空系统，既脱气系统和分析系统相互独立；分析位配备独立双级机械真空泵+德国原装进口涡轮分子泵，极限真空达到 10-6Pa；三台泵组成的两套独立的真空系统即提高了测试效率，又真正彻底消除了分析与脱气在同时进行时之间的相互影响，避免由一套真空系统而带来的污染问题。压力测量：原装进口电容薄膜压力传感器，分段测试：0-1000torr，0-1torr，0-0.1torr（可选）；读数精度误差≤0.15%，为目前压力传感器的精度；微孔段分压 P/P0可达到 1×10-8，点数大于 50 个；大孔段具有 P0的实时测试功能，使 P/P0在趋于临界点时的控制精度达到0.998。液 氮 杯：配备了3L大容量小口径玻璃内胆杜瓦瓶，相对敞口不锈钢内胆的保温性能大幅提升，保温时长大于140小时，可连续测试90小时以上无需添加液氮，适应微孔长时间测试需求。真 空 泵：原装进口(阿特拉斯Atlas copco，原英国爱德华)双级机械真空泵+德国原装进口涡轮分子泵，全程软件自动启停控制，实现了全自动化操作。 液位控制：贝士德独创的液氮面伺服保持系统，消除测试过程中由于液氮挥发使液氮面变化而带来的死体积变化，提高测试精度；标定气体：配备99.999%高纯HE；具有HE气死体积测试功能和温区测试功能；可获得更高的准确性。 测试气体：高纯氮气及根据用户需要可选择多种气体，如，CO2，Ar，Kr等，配有多路独立进气口。样品类型：粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。售后服务：专业且完善的售后服务系统，可提供24小时电话咨询，48小时内上门服务，北京，上海，广州均设有服务机构，全力保障用户仪器正常运行；BSD-PM系列比表面及微孔分析仪---技术特点及优势l 独创的集成式“模块化”歧管系统模块化管路设计，将真空管路减少90%以上，仪器气密性提高10倍，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，减少漏气点，方便故障排查及维修，大幅增强仪器稳定性。 l 控制系统采用原装进口(日本SMC)气控阀和电磁阀组合应用，通过电磁阀控制气控阀的开关，气控阀直接与模块管路连接，气控阀的开关动作不发热，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。l 双冷阱脱气气路和分析气路独立的双冷阱装置，彻底除去气路中的水分、油性物质等杂质(气体净化冷阱及比表面仪，专利号：ZL200920110450.0)l 独立P0测试站及饱和蒸气压螺旋P0管(1) 具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。(静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸气压测试装置，专利号：ZL201120136959.X)(2) 采用螺旋状的P0管作为饱和蒸汽压管，与仪器主机连接，能够更快的达到液氮温度，使得测试的饱和蒸汽压更接近真实值(与进口等温夹的效果一样，解决了直形不锈钢P0管测试结果偏大2%的问题)，提高测试精度。 (饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201620716311.2） l 液氮杯自动加盖功能具有液氮杯自动加盖功能，能有效的减少液氮的挥发，同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰，（静态法比表面及孔径分析仪的加盖装置 专利号 ZL 201420148358.4）l 具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪基准腔恒温装置能够使恒温装置内的基准腔及内部气体、阀门、管路、传感器等的温度略高于环境温度并保持温度不变，降低了由于阀门发热导致温度的不均一性；保证了关键部件的温度恒定，减轻了传感器的漂移现象，提高了测试的准确性、稳定性和测试精度,BET比表面积仪,微孔分析仪,孔径分析仪,比表面积测试仪,比表面积分析仪。（具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪 专利号 ZL 201420148783.3）l 可选处理模式具有国内外首创的样品预“处理普通模式”和“分子置换模式”两种模式。(静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置，专利号：ZL201120136943. 9) l 非阻隔式防飞扬防污染多措施并用：? 措施①：涡旋降尘原理的非阻隔式硬件防污染装置，结合软件防抽飞程序彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况，如右图所示；? 措施②：贝士德独创的脱气位滤尘袋结合贝士德独创的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，缩短抽真空脱气时间、提高脱气效果；? 措施③：程序控制的分级抽速自动切换，防止瞬间高真空时样品飞扬；? 措施④程序升温，防止样品剧烈升温扬析沸腾；? 措施⑤：脱气完毕程控自动回填氮气；贝士德仪器独创的非阻隔式防飞扬防污染装置其他厂家的阻隔式防污染装置 工作过程：如遇到非常轻的样品，在高真空的情况下被抽飞，样品通过惯性首先落到滤尘袋内，极少部分会通过滤尘袋落到防污染瓶内，而不会进入气路系统，相比较阻隔式，既不影响真空度，又能够保护气路系统，彻底避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。非阻隔式防污染装置的优势：相比较阻隔式防污染装置，非阻隔式防污染装置能够彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。专利技术：(1) 具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201320045881.X；(2) 具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附仪，专利号：ZL201620714986.3。 工作原理：样品在脱气预处理过程中，如遇到较轻样品，在高真空的情况下，样品会发生扬析沸腾现象，常规的防污染都是通过阻隔的方式进行对气路系统的保护，而这种阻隔式防污染装置的弊端：1、若对2um以下的颗粒有效，则需要增加滤芯(滤棉)，而滤芯(滤棉)过多则会严重影响抽气速度，无法获得高真空度；2、如果滤芯(滤棉)过少，对于粒径小于2um的颗粒基本无效，样品便会发生扬析(抽飞)现象，发生扬析(抽飞)的样品便会进入管路系统、污染阀门等气路系统，影响真空度，造成样品的交叉污染，仪器维修率高，影响仪器的使用寿命。 l 真空泵自动启停管理优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长真空泵寿命。l 断电自动保存当前数据超强的稳定性，即使意外断电、断线，不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行。l 人性化操作界面清晰形象的图形化控制界面，并可在界面上进行所有硬件的控制操作。l 密封性自检先进的智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气。l 高智能化工作模式交互式数据处理软件可实现仪器的全自动运行，长时间实验无需人工值守，可根据用户需要定制报告内容。l 杜绝液氮杯意外下降具有液氮杯防意外“安全下降”智能控制机制，完全避免了液氮杯意外下降气体膨胀使样品管爆裂的危险。 仪器选型指南： 型号功能BSD-PM1BSD-PM2预处理站22分析站12P0测试功能√√BET比表面√√总孔体积√√介孔孔径分布（p/p0＞10-3）√√微孔孔径分布（p/p0＜10-4）√√吸附脱附曲线√√真空泵√√分子泵√√1000 torr压力传感器√√10 torr压力传感器可选可选1 torr压力传感器√√0.1 torr压力传感器可选可选脱气位冷阱√√分析位冷阱√√测试报告：获得专利：典型客户：

ASAP 2425 出色的高通量比表面与孔隙分析仪比表面积和孔隙度是影响材料质量和用途的两个重要物理性质，因此准确测量以及控制这些参数非常重要。此外， 比表面积和孔隙度对材料研究也非常重要，是了解天然材料形成、结构、潜在应用的非常关键参数。高性能/高测试量ASAP 2425 大型多站式全自动比表面与孔隙分析仪旨在减轻繁忙的实验室检测工作量，同时获得精确的比表面 积和孔隙度数。ASAP2425 测试量大、性能好、功能强大，并自带样品制备系统。分析系统六个独立分析站，可在完成样品分析后立即开始新的 分析。六站可同时分析，也可独立分析。不同于大多 数仪器需同时分析。长效杜瓦瓶及等温夹套技术在整个分析过程中保持 样品管和P0 管恒定。您可输入P0 管值或选择连续或 特定间隔时间测量P0 值。大容量的杜瓦瓶可进行长时间无人值守的分析测样。可在短短一小时内完成六个BET比表面分析。可使用氪气作为吸附气体来测量低比表面积，可测总 表面积可低至0.5㎡或更低。氪气分析时可用5个 分析站，高真空泵及 10mmHg压力传感器。直观的MicroActive 软件结合用户自定义的报告， 能够以交互方式分析等温线数据。在BET、t-plot、 Langmuir，DFT 和 NLDFT 理论模型中，用户可通过 图形界面选择数据范围。多达5个进气口，并配有测量自由空间的专用气体 接口。伺服阀可在分析时控制定量给气和排气以减少分析 时间。样品制备系统ASAP 2425拥有12个独立的样品脱气站，一个样 品的制备不会影响另一个样品的脱气和分析。样品制备系统为全自动控制，带有控温系统，控温范 围为环境温度到450℃。样品温度、升温速率以及 每个样品的处理时间可由计算机分别控制，可在整个 脱气过程中保持温度恒定。如果脱气压力超过极限值，程序会暂停升高温度，防 止继续加热破坏样品以及发生与残余气体和蒸汽发 生不该有的反应。低比表面积测量（氪气分析）和微孔选配除了标准版的ASAP2425比表面与孔隙分析仪，还可选配低比表面积 型号（氪气分析）和微孔型号。 低比表面积（氪气分析）型号包含一个 10mmHg 传感器，可以精确测量测量低表面积材料( 1 m2/g)。 微孔型号包括1mmHg 传感器，该传感器扩展低 压测量功能并增强了微孔表征性能，其中微孔压力传 感器分辨率也得到增强。卓越的数据处理能力麦克仪器创新的MicroActive 软件可通过交互方式处理等温线数据，用户可以利用交互的、可移动的计算条方 便的选中实验所需要的数据范围。等温线均可以以线性或对数坐标显示。数据处理优势交互式软件，可直接得到吸附数据， 通过简单的移动计算条，可以得到 新的结构信息。交互式数据处理模式，最大程度减 少对话框和到达指定参数的路径。 用户可以获得精确的材料的表面积 和孔隙率数据可与压汞数据进行叠加（最多25个）可通过图形界面在BET 、t-plot、 Langmuir、DFT 等模型中选择数据 范围用户可在报告选项中预览自定义报 告。每一份报告都有总结、表格和 图像等信息ASAP2425比表面与孔隙分析仪优势全自动分析高通量，6 个工作站的独立分析每个工作站都有专用的分析和P0 压力传感器12 个独立控制的脱气站BET比表面测试可在 1 小时内完成最大进气增量功能和定量进气功能可以输入或计算分析温度设定不同区段等温线可设定不同平衡时间低比表面分析选配带有五个独立分析站ASAP2425比表面与孔隙分析仪典型应用制药比表面积及孔隙度在药品的纯 化、加工、混合、制片和包装，以 及药品的保质期、溶解速率和生物 活性中扮演重要角色。陶瓷比表面积和孔隙度影响着陶胚 的固化和粘结以及成品的强度、质 感、外观以及密度。釉料以及玻璃 原料的比表面积影响收缩、裂纹、 表面分布的不均匀性。吸附剂比表面积、总孔体积和孔径分 布对于工业吸附剂的质量控制和分 离工艺非常重要，它们影响吸附剂 的选择性。活性炭在汽车油气回收、油漆的溶剂 回收和污水等污染控制方面，活性 炭的孔隙度和比表面积必须控制在 很窄的范围内。炭黑轮胎的磨损寿命、摩擦性和使 用性能与添加的炭黑比表面积相关。医学植入体控制人造骨骼的孔隙度可使其 更易被人体组织所吸收。催化剂催化剂的活性表面及孔结构显 著影响到反应速度。孔径的控制只 允许所需大小的分子进入并通过， 使催化剂产生预期的催化作用进而 得到主要产物。（化学吸附测试实 验对选择特殊用途催化剂、催化剂 生产商品质鉴定及测试催化剂的有 效性以便确定何时更换催化剂等方 面都非常有价值）。油漆及涂料颜料或填料的比表面积影响油 漆和涂料的光泽度、纹理、颜色、 颜色饱和度、亮度、固含量及成膜 附着力。（孔隙度能控制油漆和涂 料的应用性能，例如流动性、干燥 性或凝固时间及膜厚）。推进燃料燃料材料比表面积直接影响燃 烧速率，速率过高危险性增大，过 低导致故障和不精确。电子材料超级电容生产商通过选择高比 表面、精细设计的孔网络材料，可 以优化原材料的消耗量，同时为 储电容量提供更多的外比表面。化妆品当细颗粒的团聚倾向使得粒度 分析困难时，化妆品生产者通常利 用比表面积来预测颗粒尺寸。航空工业比表面积和孔隙度影响隔热防 护和绝缘材料的重量和功能。纳米管纳米管的比表面积和微孔孔隙 度可用来预测材料的储氢能力。地球科学孔隙度对于石油勘探和水文地 理学是非常重要的，因为它关系到 地质结构的含水量以及怎样能够抽 出这些水。燃料电池燃料电池的电极需要具有可控 孔隙度的比表面积来得到所需能量密度。

一、仪器名称：表面颗粒度检测系统二、品牌型号：荷兰Fastmicro公司FM-PS-SAS-V01型三、产品简介荷兰Fastmicro FM-PS-SAS-V01型表面颗粒度检测系统，采用采样器在待测样品表面取样，间接测量样品表面颗粒污染水平。采样器从待测样品表面收集颗粒（90%的表面颗粒都会被收集），且不会留下任何残留物。样品测试在几秒钟内即可完成，客户能够在一分钟内完成整个工作流程。主要用于半导体设备制造商及芯片制造商评价设备及零部件的清洁度，判断设备是否会引入颗粒污染，进而判断设备是否可以用于芯片生产，如果表面有颗粒污染，需要进行清洁才能正常运行。同时该设备可用于监测超净间的洁净水平。四、原理简介 采用专利技术米氏散射原理检测表面微观颗粒，光源发出的平行光照射待测表面，遇到表面的突起颗粒发生米氏散射，摄像头传感器以一定角度接收到散射信号，根据散射信号可获取关于待测表面颗粒尺寸信息。五、主要参数速度225mm2内秒级成像；整个流程1分钟内完成（取样+测试）；数据输出颗粒数量；颗粒位置；颗粒尺寸；带有粒子标记的图像；可导出KLARF和Excel文件；数据通过USB或以太网输出；易于操作操作简单；检测范围最小可检测500nm大小PSL颗粒；重复性更换采样器后, 90%的颗粒被统计，PSL颗粒大于500nm；测量精度＜20%（测试PSI颗粒）无损，无交叉污染取样器不会引人新的污染，测量过程属于非接触无损测量对取样器和样品处理的要求需要使用经过认证的取样器以及支架；采样器的污染水平要比客户样品的污染水平低10倍；洁净室ISO7，等级10000或更高；可选配粒子沉降模块，用于监测粒子沉降，判断超净间的洁净程度 产品尺寸（长*宽高）615mm*300mm*460mm六、应用案例七、选项（1）取样器颗粒去除率90%，并且PMC不会留下任何残留物。采样器存放在一个特定的盒子中。（2）洁净间粒子沉降监测模块该模块包含两部分：n 晶圆支架：用于关键区域的颗粒收集n 适配器器：将支架固定方便放入表面颗粒扫描仪中进行扫描分析将标准晶圆放置在晶圆支架上，将晶圆支架放置超净间或者制造地点，持续一段时间检测沉积在晶圆表面的颗粒情况，判断超净间或者制造地点的颗粒沉降水平，符合ISO 14644-17标准，它对评价超净间的洁净程度及洁净室内的相关半导体工艺开发特别有用。

电池材料比表面积分析仪新能源电池，尤其是锂离子电池，因其高能量密度、长循环寿命和环境友好性，已成为推动电动汽车和便携式电子设备发展的主要动力源。然而，随着应用领域的不断拓展，对电池性能的要求也越来越高。电池材料的比表面积分析，作为评估材料性能的重要手段，对于提高电池的能量密度、功率密度和循环稳定性具有重要意义。比表面积是描述材料表面特性的关键参数，它指的是单位质量或体积材料的表面积。在电池材料中，高比表面积意味着更多的活性位点和更大的电极-电解液接触面积，这直接关系到电池的充放电性能和电化学反应的动力学。具体来说，高比表面积的材料可以：提高电化学反应速率：增加活性位点，促进锂离子的嵌入和脱出。提升电池的充放电效率：增加与电解液的接触面积，减少电荷转移阻抗。增强电池的循环稳定性：减少在充放电过程中由于体积变化引起的结构损伤。低场核磁共振技术（LF-NMR）作为一种无损、快速、精确的分析方法，已经在电池材料的比表面积分析中得到了广泛应用。LF-NMR技术通过测量样品中氢质子的弛豫时间，可以反映材料孔隙结构的特性，从而计算出比表面积。与传统的氮气吸附法相比，LF-NMR技术具有以下优势：快速分析：LF-NMR技术可以在几分钟内完成比表面积的测定，大大提高了分析效率。无损检测：样品在分析过程中不会受到任何损伤，可以重复使用，减少了样品的消耗。高灵敏度：LF-NMR技术可以检测到微量的孔隙变化，为材料的优化提供了详细信息。广泛的适用性：LF-NMR技术适用于多种电池材料，包括多孔碳、金属氧化物、硅基材料等。纽迈分析推出的电池材料比表面积分析仪，采用低场核磁共振技术，专为材料领域的定量检测而设计，该仪器能够精确测量材料的交联度、树脂含量以及颗粒比表面积。配有专业的测试软件，方便快捷，人性化的软件操作确保高效的测试效率。电池材料比表面积分析仪在外观设计、硬件配置、软件操作方面融合了先进的技术并不断升级，确保了卓越的产品性能与友好的客户体验的结合。电池材料比表面积分析仪产品的基本参数：磁体类型：永磁体磁场强度：0.5T±0.03T样品尺寸范围：Ø 24.2mm*H25mm产品特点：1、测试页面包括测量设置区和结果显示区，设置与测量分开，直观方便；2、软件集成一体化，对操作人员无特殊要求；3、测试过程简单快速， 3min内即可完成。产品应用：材料领域定量检测交联度树脂含量颗粒比表面积加聚乙烯结晶度聚丙烯等规度聚酰胺共聚物中弹性体或聚乙烯含量测定油/水含量分析

BSD-PM系列比表面及微孔分析仪---性能参数测试原理：在低温（如：液氮浴，77.3K）条件下，向样品管内通入一定量的吸附质气体（如：N2），通过控制样品管中的平衡压力直接测得吸附分压，通过气体状态方程(PV=nRT)得到该分压点的吸附量；通过逐渐投入吸附质气体增大吸附平衡压力，得到吸附等温线；通过逐渐抽出吸附质气体降低吸附平衡压力，得到脱附等温线；相对动态法，无需载气（He），无需液氮杯反复升降；由于待测样品是在固定容积的样品管中，吸附质相对动态色谱法不流动，故叫静态容量法；测试理论：吸附、脱附等温线测定 BET比表面测定(单点/多点法)；朗格缪尔(Langmuir)比表面 统计吸附层厚度法外比表面； BJH法孔容孔径分布 MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布； D-R法微孔分析 t-plot法(Boder)微孔分析；H-K法(Original)微孔分析 MP法(Brunauer) 微孔分析；DFT孔径分析 真密度测试、粒度估算报告。 脱气预处理系统：脱气站数量：2、4、8个预处理站可选；真空脱气，不采用气流吹扫方式；全自动脱气：不采用分体式的手动控制，而是采用与主机一体的全自动程序控制，具有预约、定时脱漆功能及真空泵自动启停，程序升温、定时结束，实现无人值守测试和样品脱气处理；独 立 性：测试系统和脱气系统相互独立，样品的测试过程和脱气处理可同时进行；2组独立控温：可设置2组不同脱气温度、不同脱气时间；BET比表面积仪,微孔分析仪,孔径分析仪,比表面积测试仪,比表面积分析仪脱气模式：具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；冷阱：具有脱气位冷阱，保护真空系统，提高真空度；独立真空系统：不与测试位共用真空泵，脱气系统配备独立的双级机械真空泵； 分析测试系统：测试范围：比表面0. 0005m2/g至无上限；孔径：0.35-500 nm(微孔常规分析: 0. 35-2nm 介孔分析: 2nm-50nm 大孔分析: 50nm-500nm)；总孔体积：0.0001cc/g至无上限。测量精度：比表面积重复精度≤± 1.0%，最可几孔径重复偏差≤0.02nm，真密度 ≤±0.04%；外表面积≤± 1.5%。分 析 站：1或2个分析站可选；独 立P0站：具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。测试系统：根据“国标标准”利用“氦气”测试温区体积，使测试精度更高，重复性更好。另外，也可以通过“氮气”测试得到温区体积(弊端：利用氮气测试温区体积，测试过程中可能导致样品部分孔内被氮填充，影响实验过程中氮的实际吸附量，影响测试精度)。气路系统：贝士德仪器独创的BEST“模块”歧管系统，对基准腔及控制阀门进行整体集成设计，无任何螺纹密封及管路压接或焊接接口，将真空管路减少90%以上，彻底消除漏气点，整个系统漏气率低于10-10Pa*m3/s，密封性提高10倍以上，达到进口高端仪器水平，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，极大减少故障率，大幅增强仪器稳定性,BET比表面积仪,微孔分析仪,孔径分析仪,比表面积测试仪,比表面积分析仪。管路通径：大通径是高真空的必备条件，脱气位和测试位采用大通径阀门和管路，使真空泵的极限真空得到效果的体现。控制系统：采用原装进口日本SMC气控阀和电磁阀组合应用，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。冷阱：脱气气路，分析气路独立双冷阱装置，彻底除去气路中的水分、油性物质等杂质。 真空系统：仪器配备两套独立的真空系统，既脱气系统和分析系统相互独立；分析位配备独立双级机械真空泵+德国原装进口涡轮分子泵，极限真空达到 10-6Pa；三台泵组成的两套独立的真空系统即提高了测试效率，又真正彻底消除了分析与脱气在同时进行时之间的相互影响，避免由一套真空系统而带来的污染问题。压力测量：原装进口电容薄膜压力传感器，分段测试：0-1000torr，0-1torr，0-0.1torr（可选）；读数精度误差≤0.15%，为目前压力传感器的精度；微孔段分压 P/P0可达到 1×10-8，点数大于 50 个；大孔段具有 P0的实时测试功能，使 P/P0在趋于临界点时的控制精度达到0.998。液 氮 杯：配备了3L大容量小口径玻璃内胆杜瓦瓶，相对敞口不锈钢内胆的保温性能大幅提升，保温时长大于140小时，可连续测试90小时以上无需添加液氮，适应微孔长时间测试需求。真 空 泵：原装进口(阿特拉斯Atlas copco，原英国爱德华)双级机械真空泵+德国原装进口涡轮分子泵，全程软件自动启停控制，实现了全自动化操作。 液位控制：贝士德独创的液氮面伺服保持系统，消除测试过程中由于液氮挥发使液氮面变化而带来的死体积变化，提高测试精度；标定气体：配备99.999%高纯HE；具有HE气死体积测试功能和温区测试功能；可获得更高的准确性。 测试气体：高纯氮气及根据用户需要可选择多种气体，如，CO2，Ar，Kr等，配有多路独立进气口。样品类型：粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。售后服务：专业且完善的售后服务系统，可提供24小时电话咨询，48小时内上门服务，北京，上海，广州均设有服务机构，全力保障用户仪器正常运行；BSD-PM系列比表面及微孔分析仪---技术特点及优势l 独创的集成式“模块化”歧管系统模块化管路设计，将真空管路减少90%以上，仪器气密性提高10倍，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，减少漏气点，方便故障排查及维修，大幅增强仪器稳定性。 l 控制系统采用原装进口(日本SMC)气控阀和电磁阀组合应用，通过电磁阀控制气控阀的开关，气控阀直接与模块管路连接，气控阀的开关动作不发热，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。l 双冷阱脱气气路和分析气路独立的双冷阱装置，彻底除去气路中的水分、油性物质等杂质(气体净化冷阱及比表面仪，专利号：ZL200920110450.0)l 独立P0测试站及饱和蒸气压螺旋P0管(1) 具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。(静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸气压测试装置，专利号：ZL201120136959.X)(2) 采用螺旋状的P0管作为饱和蒸汽压管，与仪器主机连接，能够更快的达到液氮温度，使得测试的饱和蒸汽压更接近真实值(与进口等温夹的效果一样，解决了直形不锈钢P0管测试结果偏大2%的问题)，提高测试精度。 (饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201620716311.2） l 液氮杯自动加盖功能具有液氮杯自动加盖功能，能有效的减少液氮的挥发，同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰，（静态法比表面及孔径分析仪的加盖装置 专利号 ZL 201420148358.4）l 具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪基准腔恒温装置能够使恒温装置内的基准腔及内部气体、阀门、管路、传感器等的温度略高于环境温度并保持温度不变，降低了由于阀门发热导致温度的不均一性；保证了关键部件的温度恒定，减轻了传感器的漂移现象，提高了测试的准确性、稳定性和测试精度,BET比表面积仪,微孔分析仪,孔径分析仪,比表面积测试仪,比表面积分析仪。（具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪 专利号 ZL 201420148783.3）l 可选处理模式具有国内外首创的样品预“处理普通模式”和“分子置换模式”两种模式。(静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置，专利号：ZL201120136943. 9) l 非阻隔式防飞扬防污染多措施并用：? 措施①：涡旋降尘原理的非阻隔式硬件防污染装置，结合软件防抽飞程序彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况，如右图所示；? 措施②：贝士德独创的脱气位滤尘袋结合贝士德独创的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，缩短抽真空脱气时间、提高脱气效果；? 措施③：程序控制的分级抽速自动切换，防止瞬间高真空时样品飞扬；? 措施④程序升温，防止样品剧烈升温扬析沸腾；? 措施⑤：脱气完毕程控自动回填氮气；贝士德仪器独创的非阻隔式防飞扬防污染装置其他厂家的阻隔式防污染装置 工作过程：如遇到非常轻的样品，在高真空的情况下被抽飞，样品通过惯性首先落到滤尘袋内，极少部分会通过滤尘袋落到防污染瓶内，而不会进入气路系统，相比较阻隔式，既不影响真空度，又能够保护气路系统，彻底避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。非阻隔式防污染装置的优势：相比较阻隔式防污染装置，非阻隔式防污染装置能够彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。专利技术：(1) 具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201320045881.X；(2) 具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附仪，专利号：ZL201620714986.3。 工作原理：样品在脱气预处理过程中，如遇到较轻样品，在高真空的情况下，样品会发生扬析沸腾现象，常规的防污染都是通过阻隔的方式进行对气路系统的保护，而这种阻隔式防污染装置的弊端：1、若对2um以下的颗粒有效，则需要增加滤芯(滤棉)，而滤芯(滤棉)过多则会严重影响抽气速度，无法获得高真空度；2、如果滤芯(滤棉)过少，对于粒径小于2um的颗粒基本无效，样品便会发生扬析(抽飞)现象，发生扬析(抽飞)的样品便会进入管路系统、污染阀门等气路系统，影响真空度，造成样品的交叉污染，仪器维修率高，影响仪器的使用寿命。 l 真空泵自动启停管理优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长真空泵寿命。l 断电自动保存当前数据超强的稳定性，即使意外断电、断线，不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行。l 人性化操作界面清晰形象的图形化控制界面，并可在界面上进行所有硬件的控制操作。l 密封性自检先进的智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气。l 高智能化工作模式交互式数据处理软件可实现仪器的全自动运行，长时间实验无需人工值守，可根据用户需要定制报告内容。l 杜绝液氮杯意外下降具有液氮杯防意外“安全下降”智能控制机制，完全避免了液氮杯意外下降气体膨胀使样品管爆裂的危险。 仪器选型指南： 型号功能BSD-PM1BSD-PM2预处理站22分析站12P0测试功能√√BET比表面√√总孔体积√√介孔孔径分布（p/p0＞10-3）√√微孔孔径分布（p/p0＜10-4）√√吸附脱附曲线√√真空泵√√分子泵√√1000 torr压力传感器√√10 torr压力传感器可选可选1 torr压力传感器√√0.1 torr压力传感器可选可选脱气位冷阱√√分析位冷阱√√测试报告：获得专利：典型客户：

表面处理是一个关键的制造过程。然而，大多数制造商都支持表面技术曲线，并且依赖于过时的方法（如达因和胶带剥离），这些方法是缓慢的，主观的或破坏性的。而我们开发了一种可访问的解决方案，可以解决所有这些问题，为工厂车间提供表面验证。该款手持式表面分析仪是利用我们在表面工程和材料科学方面的丰富经验而创建的。每次测试只需两秒钟，您现在可以验证您的表面是否已经可靠地为粘附做好准备...每次，每一天，每个部件。快速只需两秒钟即可分析您的表面，以确定它是否已准备好粘合，涂漆，密封，涂层，打印或清洁简便安卓系统支持在任何表面上，从任意方向，轻松进行手持式检测准确向用户提供精确，可重复的测量 绝对没有涉及主观性非破坏性使用HPLC高纯水进行接触角测量，避免材料损坏应用工艺：?粘接?密封?涂样?涂层?印刷?清洗应用领域：?航天?电子产品?汽车?医疗设备?消费品用于检测：?复合材料?金属?聚合物?玻璃?生物表面?一些纺织品

BOS-T180显微颗粒图像分析仪一、产品简介 BOS-T180是国内zui新一代静态颗粒图像分析设备，它采用zui新的图像采集系统与分析软件，将计算机图像学与颗粒粒度及粒形分析理论完美结合，在获得清晰的颗粒图像的同时，将颗粒的粒度、球型度、长径比、庞大率、表面率等相关颗粒大小和形状的表征参数以特征值和分布的形式呈现出来，使用户可以详细的了解颗粒。此外，该款仪器还赋予了自动化、智能化能时代性的标志、使其操作更简便、分析更智能、结果更稳定，是颗粒粒度测试及粒形分析的shou选搭档和得力助手。二、性能特点直观反映颗粒形貌 将颗粒的表面形貌直接反映到计算机屏幕，用户可以直观且全面了解颗粒的表面及形状属性；完美拼接多幅图像 将选取不同视场拍摄的多幅颗粒图像拼接成一幅，使参与分析的颗粒数量更多，测试结果更具代表性；自动分割粘连颗粒 采用更先进的颗粒识别算法，对各种形状的粘连颗粒都能自动分割，显著提高粘连颗粒分割准确率，减少人为参与，有效缩短图像处理时间；自适应二值化功能 采用一种自适应二值化功能，使其进行图像二值化处理时不受拍摄光线的影响，避免了因光线不均匀等因素而导致颗粒信息丢失的情况，为后续处理的精准度奠定基础；自动处理颗粒图像 颗粒图像分析软件含有自动处理工具集，集成了二值化、消除边界不完整颗粒、消除杂点、填充空洞、平滑边缘、分割粘连颗粒、计算颗粒参数等功能的自动操作，一键即可完成颗粒图像处理到分析结果的生成等全部过程，操作简便且结果可靠；自由切换粒径单位 标尺选取支持多种长度单位、可在纳米、微米和毫米之间自由切换，便于用户对通过电镜等其他方式获取的颗粒图片实现进一步处理；快速处理特殊形状颗粒 对于球形颗粒，采用du特的处理算法，对原始图片无需进行任何处理而直接分析颗粒粒径信息，即使颗粒颗粒之间相互粘连或重叠也不会影响分析结果，提高球形颗粒的分析效率。三、适用范围: BOS-T180静态颗粒图像仪适用于水泥、陶瓷、药品、涂料、树脂、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、煤粉、泥砂、粉尘、面粉、食品、添加剂、农药、炸药、石墨、感光材料、燃料、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土及其他粉体行业。四、技术参数规格型号BOS-T180执行标准ISO13322-1: 2004 GB/T21649.1-2008显微系统物镜4X、10X、40X、60X、100X（油）长距消色差（平场）物镜组目镜1X、10X、16X 大视野摄像目镜载物台手动三维机械式载物台，尺寸：185mm×140mm，移动范围：50mm×75mm，粗微同轴调焦，微动格值：2μm,带锁紧和限位装置光源底部透射光源，6V 20W卤素灯,亮度可调。可选顶部金相落射式光源（带起偏振器）总放大倍数4倍——1600倍摄像系统最高分辨率2048×1536像素尺寸3.2μm×3.2μm成像元件1/1.8英寸 progress scan CMOS帧率6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480最高清晰度900线信噪比小于42dB敏感度1.0V@550nm/lux/S输出方式USB2.0实际观测范围1-6000μm软件功能静态采集将样品形貌拍摄为高清晰JPG图片 图片处理使用多种画图工具对图片进行比较简单的处理 图像拼接将多幅图片进行无缝拼接,在颗粒测试中能够获得更多的颗粒数量以提高测试的代表性。同时也可单张分析保存后再进行拼接，进一步提高了结果的准确性。颗粒的自动处理工具集自动消除颗粒粘连、自动消除杂点、自动消除边界不完整颗粒、自动填补颗粒的空心区域、自动平滑颗粒边缘等12项自动处理工具。 比例尺标定通过国家标准测微尺标定后，每次测试只须选择与物镜相对应的比例尺数值即可直接得到颗粒的实际大小数值。 单个颗粒数据可在图片上直接对单个颗粒进行截面积、体积、长径比等10多项参数的分析。任务管理机制严格的任务管理机制，使用户能够将所有测试数据井井有条的管理起来。报告输出将测试结果输出为报告，并可以自由修改报告样式。整体分布特征参数D10、D50（中位径）、D90、D100等颗粒分布的特征参数报告参数整体频率分布累计分布颗粒按数量、体积、面积等分布的频率分布与累计分布的数据表、曲线图、柱状图等。统计平均径Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径形状参数长径比、庞大率、球型度、表面率、比表面积、外接矩形参数等表征颗粒形状的10多项常用数据个数统计直接得到所观测的颗粒数量样品缩略图可以将样品彩色或黑白（可选择）缩略图显示到报告中表头输入可以将样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头中

测试原理：在低温（如：液氮浴，77.3K）条件下，向样品管内通入一定量的吸附质气体（如：N2），通过控制样品管中的平衡压力直接测得吸附分压，通过气体状态方程(PV=nRT)得到该分压点的吸附量；通过逐渐投入吸附质气体增大吸附平衡压力，得到吸附等温线；通过逐渐抽出吸附质气体降低吸附平衡压力，得到脱附等温线；相对动态法，无需载气（He），无需液氮杯反复升降；由于待测样品是在固定容积的样品管中，吸附质相对动态色谱法不流动，故叫静态容量法；测试理论：吸附、脱附等温线测定 BET比表面测定(单点/多点法)；朗格缪尔(Langmuir)比表面 统计吸附层厚度法外比表面； BJH法孔容孔径分布 MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布； D-R法微孔分析 t-plot法(Boder)微孔分析；H-K法(Original)微孔分析 MP法(Brunauer) 微孔分析；DFT孔径分析 真密度测试、粒度估算报告。 脱气预处理系统：脱气站数量：2、4、8个预处理站可选；真空脱气，不采用气流吹扫方式；全自动脱气：不采用分体式的手动控制，而是采用与主机一体的全自动程序控制，定时开始、真空泵自动启停，程序升温、定时结束，实现无人值守测试和样品脱气处理；独 立 性：测试系统和脱气系统相互独立，样品的测试过程和脱气处理可同时进行；2组独立控温：可设置2组不同脱气温度、不同脱气时间； 金属加热脱气炉隔热设计，经久耐用，不易损坏脱气模式：具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；独立真空系统：不与测试位共用真空泵，脱气系统配备独立的双级机械真空泵；分析测试系统：测试范围：比表面0. 0005m2/g至无上限；孔径：0.35-500 nm(微孔常规分析: 0. 35-2nm 介孔分析: 2nm-50nm 大孔分析: 50nm-500nm)；总孔体积：0.0001cc/g至无上限。测量精度：比表面积重复精度≤± 1.0%，最可几孔径重复偏差≤0.02nm，真密度 ≤±0.04%；外表面积≤± 1.5%。分 析 站：1/2/4或6个分析站可选；独 立P0站：具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。测试系统：根据“国标标准”利用“氦气”测试温区体积，使测试精度更高，重复性更好。另外，也可以通过“氮气”测试得到温区体积(弊端：利用氮气测试温区体积，测试过程中可能导致样品部分孔内被氮填充，影响实验过程中氮的实际吸附量，影响测试精度)。气路系统：贝士德仪器独创的BEST“模块”歧管系统，对基准腔及控制阀门进行整体集成设计，无任何螺纹密封及管路压接或焊接接口，将真空管路减少90%以上，彻底消除漏气点，整个系统漏气率低于10-10Pa*m3/s，密封性提高10倍以上，达到进口高端仪器水平，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，极大减少故障率，大幅增强仪器稳定性。管路通径：大通径是高真空的必备条件，脱气位和测试位采用大通径阀门和管路，使真空泵的极限真空得到效果的体现。控制系统：采用原装进口日本SMC气控阀和电磁阀组合应用，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。真空系统：仪器配备两套独立的真空系统，既脱气系统和分析系统相互独立，真正彻底消除了分析与脱气在同时进行时之间的相互影响，避免由一套真空系统而带来的污染问题。压力测量：原装进口电容薄膜压力传感器，分段测试：0-1000torr，0-10torr（可选）；读数精度误差≤0.15%，为目前压力传感器的精度；微孔段分压 P/P0可达到 1×10-8，点数大于 50 个；大孔段具有 P0的实时测试功能，使 P/P0在趋于临界点时的控制精度达到0.998。 液 氮 杯：配备了3L大容量小口径玻璃内胆杜瓦瓶，相对敞口不锈钢内胆的保温性能大幅提升，保温时长大于140小时，可连续测试90小时以上无需添加液氮，适应微孔长时间测试需求。真 空 泵：原装进口(阿特拉斯Atlas copco，原英国爱德华)双级机械真空泵+德国原装进口涡轮分子泵，全程软件自动启停控制，实现了全自动化操作。 液位控制：贝士德独创的液氮面伺服保持系统，消除测试过程中由于液氮挥发使液氮面变化而带来的死体积变化，提高测试精度；标定气体：配备99.999%高纯HE；具有HE气死体积测试功能和温区测试功能；可获得更高的准确性。测试气体：高纯氮气及根据用户需要可选择多种气体，如，CO2，Ar，Kr等，配有多路独立进气口。样品类型：粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。售后服务：专业且完善的售后服务系统，可提供24小时电话咨询，48小时内上门服务，北京，上海，广州均设有服务机构，全力保障用户仪器正常运行；BSD-PS系列比表面及孔径分析仪---技术特点及优势l 独创的集成式“模块化”歧管系统模块化管路设计，将真空管路减少90%以上，仪器气密性提高10倍，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，减少漏气点，方便故障排查及维修，大幅增强仪器稳定性。 l 控制系统采用原装进口(日本SMC)气控阀和电磁阀组合应用，通过电磁阀控制气控阀的开关，气控阀直接与模块管路连接，气控阀的开关动作不发热，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。l 独立P0测试站及饱和蒸气压螺旋P0管(1) 具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。(静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸气压测试装置，专利号：ZL201120136959.X)(2) 采用螺旋状的P0管作为饱和蒸汽压管，与仪器主机连接，能够更快的达到液氮温度，是的测试的饱和蒸汽压更接近真实值(与进口等温夹的效果一样，解决了直形不锈钢P0管测试结果偏大2%的问题)，提高测试精度。 (饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201620716311.2） l 液氮杯自动加盖功能具有液氮杯自动加盖功能，能有效的减少液氮的挥发，同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰，（静态法比表面及孔径分析仪的加盖装置 专利号 ZL 201420148358.4）l 具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪基准腔恒温装置能够使恒温装置内的基准腔及内部气体、阀门、管路、传感器等的温度略高于环境温度并保持温度不变，降低了由于阀门发热导致温度的不均一性；保证了关键部件的温度恒定，减轻了传感器的漂移现象，提高了测试的准确性、稳定性和测试精度。（具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪 专利号 ZL 201420148783.3）l 非阻隔式防飞扬防污染多措施并用：? 措施①：涡旋降尘原理的非阻隔式硬件防污染装置，结合软件防抽飞程序彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况，如右图所示；? 措施②：贝士德独创的脱气位滤尘袋结合贝士德独创的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，缩短抽真空脱气时间、提高脱气效果；? 措施③：程序控制的分级抽速自动切换，防止瞬间高真空时样品飞扬；? 措施④程序升温，防止样品剧烈升温扬析沸腾；? 措施⑤：脱气完毕程控自动回填氮气；贝士德独创防污染滤尘袋结合涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，抽真空脱气时间缩短、效果提高。贝士德仪器独创的非阻隔式防飞扬防污染装置其他厂家的阻隔式防污染装置 工作过程：如遇到非常轻的样品，在高真空的情况下被抽飞，样品通过惯性首先落到滤尘袋内，极少部分会通过滤尘袋落到防污染瓶内，而不会进入气路系统，相比较阻隔式，既不影响真空度，又能够保护气路系统，彻底避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。非阻隔式防污染装置的优势：相比较阻隔式防污染装置，非阻隔式防污染装置能够彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。专利技术：(1) 具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201320045881.X；(2) 具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附仪，专利号：ZL201620714986.3。 工作原理：样品在脱气预处理过程中，如遇到较轻样品，在高真空的情况下，样品会发生扬析沸腾现象，常规的防污染都是通过阻隔的方式进行对气路系统的保护，而这种阻隔式防污染装置的弊端：1、若对2um以下的颗粒有效，则需要增加滤芯(滤棉)，而滤芯(滤棉)过多则会严重影响抽气速度，无法获得高真空度；2、如果滤芯(滤棉)过少，对于粒径小于2um的颗粒基本无效，样品便会发生扬析(抽飞)现象，发生扬析(抽飞)的样品便会进入管路系统、污染阀门等气路系统，影响真空度，造成样品的交叉污染，仪器维修率高，影响仪器的使用寿命。l 可选处理模式具有国内外首创的样品预“处理普通模式”和“分子置换模式”两种模式。(静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置，专利号：ZL201120136943. 9) l 真空泵自动启停管理优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长真空泵寿命。l 断电自动保存当前数据超强的稳定性，即使意外断电、断线，不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行。l 人性化操作界面清晰形象的图形化控制界面，并可在界面上进行所有硬件的控制操作。l 密封性自检先进的智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气。l 高智能化工作模式交互式数据处理软件可实现仪器的全自动运行，长时间实验无需人工值守，可根据用户需要定制报告内容。l 杜绝液氮杯意外下降具有液氮杯防意外“安全下降”智能控制机制，完全避免了液氮杯意外下降气体膨胀使样品管爆裂的危险。

Fastmicro Particle Defect Inspection System | FM-PDS品牌：Fastmicro型号：FM-PDS产地：荷兰关键字：颗粒度检测，颗粒污染检测，晶圆表面颗粒度检测一、产品介绍荷兰Fastmicro公司表面颗粒度检测系统专门用于直接、快速检测产品表面颗粒度污染情况，允许检测最小颗粒尺寸100nm。主要应用于半导体领域薄膜、标线片、晶圆表面颗粒度检测或显示领域表面颗粒度检测。基于模块化和可扩展设计，该检测系统的扫描区域可以覆盖非常大的表面，如LCD衬底。此外，扫描仪模块也可以集成到其它设备中作为OEM解决方案。二、系统配置操作模式：半自动/全自动；样品尺寸：4"/6"/8"/12检测速度：400 WPH；分析参数：颗粒数量，位置和尺寸；分析报告：UI或PDF格式量化报告，满足ISO-14644-9标准；数据输出：KLARF, XML, Excel & Text文件；检测阈值：100nm及以上尺寸PSL颗粒；重复性：99%累积颗粒计数标准颗粒；尺寸准确性：PSL颗粒20%以内；定位准确性：40μm精度，15μm定位重复性；顶部/底部检测：单次同时检测/无需翻转；控制：全数字控制设备网络-以太网，SECS/GEM；三、应用领域荷兰Fastmicro公司表面颗粒度检测系统可以应用于以下场景：薄膜检测（正面和背面）标线片，光掩模4 / 6 / 8/ 12英寸晶圆（背面、坯件、斜面）3Di（例如铜与铜的键合）高纯度关键部件四、检测模块集成 Fastmicro模块化设计的表面颗粒度检测系统可以根据客户需求集成到客户现有生产线上。可以包含检测模块、清洁模块、上片站、机械臂、检测区和清洁片存放区。

测试原理：在低温（如：液氮浴，77.3K）条件下，向样品管内通入一定量的吸附质气体（如：N2），通过控制样品管中的平衡压力直接测得吸附分压，通过气体状态方程(PV=nRT)得到该分压点的吸附量；通过逐渐投入吸附质气体增大吸附平衡压力，得到吸附等温线；通过逐渐抽出吸附质气体降低吸附平衡压力，得到脱附等温线；相对动态法，无需载气（He），无需液氮杯反复升降；由于待测样品是在固定容积的样品管中，吸附质相对动态色谱法不流动，故叫静态容量法；测试理论：吸附、脱附等温线测定 BET比表面测定(单点/多点法)；朗格缪尔(Langmuir)比表面 统计吸附层厚度法外比表面； BJH法孔容孔径分布 MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布； D-R法微孔分析 t-plot法(Boder)微孔分析；H-K法(Original)微孔分析 MP法(Brunauer) 微孔分析；DFT孔径分析 真密度测试、粒度估算报告。 脱气预处理系统：脱气站数量：2、4、8个预处理站可选；真空脱气，不采用气流吹扫方式；全自动脱气：不采用分体式的手动控制，而是采用与主机一体的全自动程序控制，定时开始、真空泵自动启停，程序升温、定时结束，实现无人值守测试和样品脱气处理；独 立 性：测试系统和脱气系统相互独立，样品的测试过程和脱气处理可同时进行；2组独立控温：可设置2组不同脱气温度、不同脱气时间； 金属加热脱气炉隔热设计，经久耐用，不易损坏脱气模式：具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；独立真空系统：不与测试位共用真空泵，脱气系统配备独立的双级机械真空泵；分析测试系统：测试范围：比表面0. 0005m2/g至无上限；孔径：0.35-500 nm(微孔常规分析: 0. 35-2nm 介孔分析: 2nm-50nm 大孔分析: 50nm-500nm)；总孔体积：0.0001cc/g至无上限。测量精度：比表面积重复精度≤± 1.0%，最可几孔径重复偏差≤0.02nm，真密度 ≤±0.04%；外表面积≤± 1.5%。分 析 站：1/2/4或6个分析站可选；独 立P0站：具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。测试系统：根据“国标标准”利用“氦气”测试温区体积，使测试精度更高，重复性更好。另外，也可以通过“氮气”测试得到温区体积(弊端：利用氮气测试温区体积，测试过程中可能导致样品部分孔内被氮填充，影响实验过程中氮的实际吸附量，影响测试精度)。气路系统：贝士德仪器独创的BEST“模块”歧管系统，对基准腔及控制阀门进行整体集成设计，无任何螺纹密封及管路压接或焊接接口，将真空管路减少90%以上，彻底消除漏气点，整个系统漏气率低于10-10Pa*m3/s，密封性提高10倍以上，达到进口高端仪器水平，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，极大减少故障率，大幅增强仪器稳定性。管路通径：大通径是高真空的必备条件，脱气位和测试位采用大通径阀门和管路，使真空泵的极限真空得到效果的体现。控制系统：采用原装进口日本SMC气控阀和电磁阀组合应用，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。真空系统：仪器配备两套独立的真空系统，既脱气系统和分析系统相互独立，真正彻底消除了分析与脱气在同时进行时之间的相互影响，避免由一套真空系统而带来的污染问题。压力测量：原装进口电容薄膜压力传感器，分段测试：0-1000torr，0-10torr（可选）；读数精度误差≤0.15%，为目前压力传感器的精度；微孔段分压 P/P0可达到 1×10-8，点数大于 50 个；大孔段具有 P0的实时测试功能，使 P/P0在趋于临界点时的控制精度达到0.998。 液 氮 杯：配备了3L大容量小口径玻璃内胆杜瓦瓶，相对敞口不锈钢内胆的保温性能大幅提升，保温时长大于140小时，可连续测试90小时以上无需添加液氮，适应微孔长时间测试需求。真 空 泵：原装进口(阿特拉斯Atlas copco，原英国爱德华)双级机械真空泵+德国原装进口涡轮分子泵，全程软件自动启停控制，实现了全自动化操作。 液位控制：贝士德独创的液氮面伺服保持系统，消除测试过程中由于液氮挥发使液氮面变化而带来的死体积变化，提高测试精度；标定气体：配备99.999%高纯HE；具有HE气死体积测试功能和温区测试功能；可获得更高的准确性。测试气体：高纯氮气及根据用户需要可选择多种气体，如，CO2，Ar，Kr等，配有多路独立进气口。样品类型：粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。售后服务：专业且完善的售后服务系统，可提供24小时电话咨询，48小时内上门服务，北京，上海，广州均设有服务机构，全力保障用户仪器正常运行；BSD-PS系列比表面及孔径分析仪---技术特点及优势l 独创的集成式“模块化”歧管系统模块化管路设计，将真空管路减少90%以上，仪器气密性提高10倍，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，减少漏气点，方便故障排查及维修，大幅增强仪器稳定性。 l 控制系统采用原装进口(日本SMC)气控阀和电磁阀组合应用，通过电磁阀控制气控阀的开关，气控阀直接与模块管路连接，气控阀的开关动作不发热，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。l 独立P0测试站及饱和蒸气压螺旋P0管(1) 具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。(静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸气压测试装置，专利号：ZL201120136959.X)(2) 采用螺旋状的P0管作为饱和蒸汽压管，与仪器主机连接，能够更快的达到液氮温度，是的测试的饱和蒸汽压更接近真实值(与进口等温夹的效果一样，解决了直形不锈钢P0管测试结果偏大2%的问题)，提高测试精度。 (饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201620716311.2） l 液氮杯自动加盖功能具有液氮杯自动加盖功能，能有效的减少液氮的挥发，同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰，（静态法比表面及孔径分析仪的加盖装置 专利号 ZL 201420148358.4）l 具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪基准腔恒温装置能够使恒温装置内的基准腔及内部气体、阀门、管路、传感器等的温度略高于环境温度并保持温度不变，降低了由于阀门发热导致温度的不均一性；保证了关键部件的温度恒定，减轻了传感器的漂移现象，提高了测试的准确性、稳定性和测试精度。（具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪 专利号 ZL 201420148783.3）l 非阻隔式防飞扬防污染多措施并用：? 措施①：涡旋降尘原理的非阻隔式硬件防污染装置，结合软件防抽飞程序彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况，如右图所示；? 措施②：贝士德独创的脱气位滤尘袋结合贝士德独创的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，缩短抽真空脱气时间、提高脱气效果；? 措施③：程序控制的分级抽速自动切换，防止瞬间高真空时样品飞扬；? 措施④程序升温，防止样品剧烈升温扬析沸腾；? 措施⑤：脱气完毕程控自动回填氮气；贝士德独创防污染滤尘袋结合涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，抽真空脱气时间缩短、效果提高。贝士德仪器独创的非阻隔式防飞扬防污染装置其他厂家的阻隔式防污染装置 工作过程：如遇到非常轻的样品，在高真空的情况下被抽飞，样品通过惯性首先落到滤尘袋内，极少部分会通过滤尘袋落到防污染瓶内，而不会进入气路系统，相比较阻隔式，既不影响真空度，又能够保护气路系统，彻底避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。非阻隔式防污染装置的优势：相比较阻隔式防污染装置，非阻隔式防污染装置能够彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。专利技术：(1) 具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201320045881.X；(2) 具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附仪，专利号：ZL201620714986.3。 工作原理：样品在脱气预处理过程中，如遇到较轻样品，在高真空的情况下，样品会发生扬析沸腾现象，常规的防污染都是通过阻隔的方式进行对气路系统的保护，而这种阻隔式防污染装置的弊端：1、若对2um以下的颗粒有效，则需要增加滤芯(滤棉)，而滤芯(滤棉)过多则会严重影响抽气速度，无法获得高真空度；2、如果滤芯(滤棉)过少，对于粒径小于2um的颗粒基本无效，样品便会发生扬析(抽飞)现象，发生扬析(抽飞)的样品便会进入管路系统、污染阀门等气路系统，影响真空度，造成样品的交叉污染，仪器维修率高，影响仪器的使用寿命。l 可选处理模式具有国内外首创的样品预“处理普通模式”和“分子置换模式”两种模式。(静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置，专利号：ZL201120136943. 9) l 真空泵自动启停管理优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长真空泵寿命。l 断电自动保存当前数据超强的稳定性，即使意外断电、断线，不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行。l 人性化操作界面清晰形象的图形化控制界面，并可在界面上进行所有硬件的控制操作。l 密封性自检先进的智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气。l 高智能化工作模式交互式数据处理软件可实现仪器的全自动运行，长时间实验无需人工值守，可根据用户需要定制报告内容。l 杜绝液氮杯意外下降具有液氮杯防意外“安全下降”智能控制机制，完全避免了液氮杯意外下降气体膨胀使样品管爆裂的危险。

一、仪器名称：晶圆表面颗粒度测量仪二、品牌型号：荷兰Fastmicro公司FM-PS-PRS-V01型三、产品简介荷兰Fastmicro公司的晶圆表面颗粒度测量仪采用专利的米氏散射原理可直接检测晶圆表面的颗粒污染程度，测量速度快，操作简单，可测量大于500nm的颗粒并进行分析统计。主要应用于半导体行业（晶圆裸片颗粒度检测，掩膜版表面颗粒度检测，CMP及清洗后晶圆表面颗粒度检测）与显示行业（玻璃面板）。由于其模块化和可扩展的设计，该测量仪具有无限的扫描区域。该系统可以根据需要测试产品的表面形状和位置进行定制。四、原理简介 采用专利技术米氏散射原理检测表面微观颗粒，光源发出的平行光照射待测表面，遇到表面的突起颗粒发生米氏散射，摄像头传感器以一定角度接收到散射信号，根据散射信号可获取关于待测表面颗粒尺寸信息。五、主要参数测量速度任何尺寸产品表面秒级成像；整个流程1分钟内完成（取样+测试）；数据输出颗粒数量；颗粒位置；颗粒尺寸；带有粒子标记的图像；可导出KLARF和Excel文件；数据通过USB或以太网输出；操作操作简单；可升级全自动设备；测量范围最小可检测0.5μm大小PSL颗粒；可重复性更换采样器后, 90%的颗粒被统计，PSL颗粒大于500nm；尺寸和定位精度PSL颗粒的尺寸精度＜20%；位置精度80μm，位置重复性30μm；无接触、无污染与检测区域不接触；待测产品粗糙度要求粗糙度Ra＜50nm；六、应用案例

产品简介 本仪器用于铁路碎石道砟表面清洁度的测定，即铁路碎石道砟产品颗粒表面粉尘、泥土等杂物所占的质量百分率。由10L有机玻璃容器和P30玻璃过滤器组成 。率符合TB/T 2328.18-2008《铁路碎石道砟试验方法 第18部分：颗粒表面清洁度试验》的技术要求。二、主要技术参数：1.容积尺寸：φ240*250mm2.过滤器规格：500ml P30

BWF-1表面微粒分析仪是一款具有自主知识产权的专门用于表面微粒检测的智能型仪器。密闭的取样器设计，可直接检测物体表面微粒，排除外部因素干扰，保证检测结果真实准确。先进的激光检测原理，能同时分析微粒的粒径大小及数量。操作简单、检测快捷，可广泛应用于包装材料进厂检测、医用无菌袋生产检测、纸张和纸板尘埃度检测等需要进行表面微粒检测和分析的领域。性能特点：▶ 高精度的激光传感器，测试范围宽，分辨率高，性能稳定▶ 采用独特的密闭隔离取样方式，大流量微型真空泵与空气过滤系统相结合，为密闭取样空间提供循环、稳定、洁净的气流，检测数据更加准确可靠▶ 自适应取样装置，满足对不同厚度样品的检测要求▶ 采样时间可自行设定，满足不同样品的测试要求▶ 内置校准曲线，自动拟合校准数据，提高检测精度▶ 内置标准测试以及自定义测试方式，支持常用标准以及自定义的检测要求▶ 界面自由切换，测试结果根据不同的标准要求自动转换，适合多种标准的使用要求▶ 全功能自动操作，中英文输入，具有分级管理系统，以确保数据安全▶ 彩色触摸屏操作，内置打印机，具有数据自动存储、打印功能▶ RS232接口和U盘存储，实现数据海量存储，并可连接电脑或实验室平台进行数据处理技术参数：▶ 测量范围：5 -150 μm▶ 通道数量：8 个▶ 通道精度：0.1μm▶ 取样面积：10 cm² ▶ 取样时长：5~59s 可设▶ 准确度：±20 % ▶ RSD：5 % ▶ 计数范围：0-9999999▶ 结果显示：cm² 、 m² 、 sq.in 、sq.ft可选▶ 工作温度：10～40℃▶ 电源：AC 220V ±10%；50Hz；≤100W

多功能颗粒度分析仪仪器介绍：多功能颗粒度分析仪可以用来测量颗粒粒度大小，形状特征，粒径分布，颗粒表面颜色等参数。产品由成像系统，转接头，数字摄像机，分析软件和计算机等组成。工作原理是通过专用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用专业的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器输出分析结果。多功能颗粒度分析仪是传统的显微镜观测功能和现代高科技图像处理功能的结合。技术参数 ：粒径范围200nm-3000μm 准确性＜3%粒径参数等效面积圆， 等效周长圆， 等效短径，等效长径等 粒度统计体积、面积、颗粒。摄像机分辨率2000万像素重要粒径参数D10、 D50 、D90 、D97软件分析自动统计分析并做粒度分布物镜 5X 10X 20X 40X产品特点：多功能颗粒度分析仪具有直观，可视，准确，测试范围宽，测量参数全面等特点分析软件：软件可以自动进行样品颗粒统计，并对颗粒做粒度分布。颗粒一键捕捉、分析。三秒完成测试。颗粒识别度＞99%。 测试过程：1）先将样品涂抹在显微镜载玻片上，用盖玻片轻轻按压盖上；2）准备好的玻片置于显微镜下观察，选择合适倍数的显微镜物镜；3）调节到合适的视野后利用多功能颗粒度分析仪的分析软件进行抓取图片，识别图片中的颗粒。分析软件可以自动快速分析出颗粒数量，给出D10、D50、D90等参数，识别视野中的颗粒并给出粒度分布，并可以按照不同的粒形进行过滤分析。4）保存并打印测试报告。

FT-104BA粉末颗粒流动性分析仪（多功能型）概述：FT-104BA粉末颗粒流动性分析仪由瑞柯仪器公司ROOKO自主研发，对粉末和颗粒流动性状分析中，关于堆角和时间对流动性之影响；采用高精度芯片控制技术，自动测量角度和时间，改进传统测量方式中存在之缺陷，提供样品测试之准确性要求，本仪器主要由控制部分和试验部分组成，本机满足：休止角测量，流动时间测定，自然堆密度，时间与质量关系；体积与时间关系，搅拌系统采用低噪音电机控制，搅拌速度可调；从而保证试样均匀流出漏斗填充容器；当试验完成时，直接获得休止角度，无需人工计算，自动计算出休止角，按打印出测试结果，配置多规格可转换漏斗满足不同试验要求使用 ，选配：如配置配备软件，可显示出流动时间、休止角测定过程及关系曲线，满足对样品之分析功能。FT-104BA粉末颗粒流动性分析仪标准要求满足：GB11986-89 、ISO4324-1977《表面活性剂 粉体和颗粒休止角的测定》要求；满足中国药典、USP（美国药典）、BP （英国药典）、EP（欧洲药典）的规范要求；参照标准：DIN ISO 4324 - December 1983； 对颗粒的休止角进行分析，以考察颗粒的流动性等，一般休止角在30°左右为 .FT-104BA粉末颗粒流动性分析仪参数：1．漏斗：由圆柱形量筒配置多个可转换漏斗组成，漏斗材质为不锈钢材料制成，且具有足够的壁厚、硬度、光滑、以防变形和过度磨损。2.可转换漏斗口径mm：7.0；8.0；9.0；10；14；15；16；17；18；25（根据用户需求选购）3.时间范围：0-99999S任意设定4.称量范围：0-2000g；精度0.01g 5.漏斗容积： 200ml 6.配备接收容器容积有：200ml、250ml、500ml（根据用户需求选购）7.休止角测量圆盘： 直径100mm ； 自动搅拌装置解决颗粒流动性差难流动.8.漏斗出口配有控制阀门9.配置电脑（选购）软件显示测试过程曲线：时间，质量，体积，密度 , 剪切性等关系曲线分布图.10.剪切强度测试功能.（选购）11.输入：220V±10% 常温环境下使用FT-104BA微电脑休止角测试仪,多功能休止角测定仪概述：FT-104BA微电脑休止角测量仪由瑞柯仪器公司自主研发，为改进传统测量方式中存在之缺陷，提供样品测试之准确性要求，本仪器主要由控制部分和试验部分组成，休止角测量中搅拌系统采用低噪音电机控制，搅拌速度可调；从而保证试样均匀流出漏斗填充容器；配备有打印功能：当试验完成时，通过仪器上面的探头直接获得数据休止角，无需人工操作，按打印出测试结果，本品还配备除定位角。（选购）软件可获得更多测试过程数据FT-104BA微电脑休止角测量仪标准要求满足：GB11986-89 、ISO4324-1977《表面活性剂 粉体和颗粒休止角的测定》要求；满足中国药典、USP（美国药典）、BP （英国药典）、EP（欧洲药典）的规范要求；参照标准：DIN ISO 4324 - December 1983；本仪器可用于类似试验要求对产品流动性的测定试验方法要求。对颗粒的休止角进行分析，以考察颗粒的流动性等，一般休止角在30°左右为 .FT-104BA微电脑休止角测量仪参数： 1.圆盘： 直径10CM2.漏斗： 漏斗颈内径10mm3.漏斗总高度：141mm4.基板上面刻有10-100mm同心圆5.支架：基板起带有0-100mm的刻度尺用于测量锥体高度6.漏斗出口配有控制阀门7. 输入：220V±10% 常温环境下使用FT-104BC粉末颗粒流动性分析仪(实用型)概述：FT-104BC粉末颗粒流动性分析仪由瑞柯仪器公司ROOKO自主研发，对粉末和颗粒流动性状分析中，关于堆角和时间对流动性之影响；采用高精度芯片控制技术，自动测量角度和时间，改进传统测量方式中存在之缺陷，提供样品测试之准确性要求，本仪器主要由控制部分和试验部分组成，本机满足：休止角测量，流动时间测定，自然堆密度，搅拌系统采用低噪音电机控制，搅拌速度可调；从而保证试样均匀流出漏斗填充容器；配备有打印功能：当试验完成时，直接获得休止角度，无需人工计算，自动计算出休止角，按打印出测试结果，配置多规格可转换漏斗满足不同试验要求使用. FT-104BC粉末颗粒流动性分析仪标准要求满足：GB11986-89 、ISO4324-1977《表面活性剂 粉体和颗粒休止角的测定》要求；满足中国药典、USP（美国药典）、BP （英国药典）、EP（欧洲药典）的规范要求；参照标准：DIN ISO 4324 - December 1983； 对颗粒的休止角进行分析，以考察颗粒的流动性等，一般休止角在30°左右为 .FT-104BC粉末颗粒流动性分析仪参数：1．漏斗：由圆柱形量筒配置多个可转换漏斗组成，漏斗材质为不锈钢材料制成，且具有足够的壁厚、硬度、光滑、以防变形和过度磨损。2.可转换漏斗口径mm：7.0；8.0；9.0；10；14；15；16；17；18；25（根据用户需求选购）3.时间范围：0-99999S任意设定4.称量范围：0-2000g；精度0.01g5.漏斗容积： 200ml6.配备接收容器容积有：200ml、250ml、500ml（根据用户需求选购）7.休止角测量圆盘： 直径100mm ； 自动搅拌装置解决颗粒流动性差难流动.8.漏斗出口配有控制阀门9.剪切强度测试功能.（选购）10.输入：220V±10% 常温环境下使用还有相关产品：FT-102B粉末流动性和密度测试仪；FT-102BA 微电脑粉末流动和密度测试仪 ；FT-104BA粉末颗粒流动性分析仪（多功能型）；FT-104BC粉末颗粒流动性分析仪(实用型)；FT-2000A颗粒和粉末特性分析仪（多功能型）；FT-2000B颗粒和粉末特性分析仪（实用型）FT-104B休止角测定仪瑞柯仪器企业提示制药行业，药物检测推荐方案：FT-100B 实用型振实密度仪；FZS4-4经济型振实密度测定仪；FT-100A微电脑粉体密度测试仪,FT-104B休止角测定仪，FT-103粉末自然堆积松装密度计FT-102C粉体物性测试仪还有更多相关产品，瑞柯仪器专业粉末和颗粒测试解决方案提供商

集料/颗粒图像分析仪/测量系统/4.75MM/0.075MM/PINE 2D粗粒料或粗集料由通过37.5 mm筛并保留在4.75 mm（4号）筛上的颗粒组成。该系统表现粗粒料或粗集料的棱角度、球形度、平整度和伸长率，并提供表面纹理指数。细粒料或细集料由通过4.75 mm（4号）筛并保留在0.075 mm（200号）筛上的颗粒组成。AIMS2表现细粒料或细集料的棱角性和2D形式。