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离子探针

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离子探针相关的耗材

  • AFM探针/原子力探针/导电探针(DDESP-10) AFM探针
    AFM探针/原子力探针/导电探针(DDESP-10) AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。 Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高,所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括:扫描扩散电阻显微镜 (SSRM),扫描电容显微镜 (SCM),和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035
  • AFM探针/原子力显微镜探针/磁性探针(MESP) AFM探针
    NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP;2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • AFM探针针尖
    Omniprobe公司提供扫描电子和离子束显微镜纳米实验设备,处于行业领先水平。钨探针针尖由Omniprobe公司生产,包括 AutoProbe? 200, AutoProbe? AutoProbe? 250, 300, Short-Cut?, OmniGIS? 和 SST? 400-1 。l 钨/镍探针针尖Tungsten /Nickel Probe Tips常规设计,镍管柄、钨尖,钨尖尺寸:半径0.5um,13o锥角。使用寿命长。货号产品名称规格75960-01钨/镍探针针尖Tungsten/Nickel Probe Tip10/bxl 钨探针针尖Tungsten Probe Tips常规设计,钨尖尺寸:半径0.5um,13o锥角。使用寿命长。货号产品名称规格75960-02钨探针针尖All Tungsten Probe Tip10/bxl 原位探针针尖In-Situ Probe Tips常规的钨针尖,不锈钢柄,适合AutoProbe? 300、原位探针针尖更换系统和Short-Cut? 。钨尖尺寸:半径0.5um,8-10o锥角。 货号产品名称规格75960-03原位探针针尖In-Situ Probe Tip10/bxl Xtreme Access ?” 钨探针针尖 Tungsten Probe Tips常规设计,钨尖尺寸:半径小于0.5um,13o锥角。使用寿命长。货号产品名称规格75960-04XA ?” 钨探针针尖 Tungsten Probe Tip10/bxl Autoprobe 250钨探针针尖Tungsten Probe Tips常规设计,钨尖尺寸:半径小于0.5um,6o锥角。使用寿命长。(兼容Short-Cut?)货号产品名称规格75960-05AP250钨探针针尖 Tungsten Probe Tip10/bxl Xtreme Access Short-Cut? Probe Tips常规设计,钨尖尺寸:半径小于0.5um,6o锥角。使用寿命长。(兼容Short-Cut?)货号产品名称规格75960-06XA Short Cut Tungsten Probe Tip10/bxl XA探针针尖夹持器 Probe Point Holder适合 ?”钨探针针尖,, #75960-04 和 #75960-06. 货号产品名称规格75961-10 XA探针针尖夹持器 Probe Point Holder个l AP250 探针针尖夹持器Probe Tip HolderAutoProbe? 250探针针尖夹持器适合的钨针尖是75960-05.兼容 Short-Cut?。货号产品名称规格75961-105AP250 探针针尖夹持器Probe Tip Holder个
  • AFM探针/原子力探针/导电探针(DDESP-10)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高,所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括:扫描扩散电阻显微镜 (SSRM),扫描电容显微镜 (SCM),和隧道/导电原子力显微镜。NameMountDescriptionPackSizeTipRadius(nm) DDESP-10UnmountedDopedDLCCoatedTips,42N/m,320kHz,AlReflectiveCoating1035
  • AFM探针/原子力显微镜探针/磁性探针(MESP)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPackSizeTipRadius(nm) MESPUnmountedStandardMFMCoatedTips,2.8N/m,75kHz,Co/CrReflectiveCoating1020
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/氮化硅探针
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPackSizeTipRadius(nm) OBL-10UnmountedAuCoatedtips 2Cantilevers,0.006-0.03N/m,AuReflectiveCoating1030
  • AFM探针/原子力显微镜探针/氮化硅探针(MSCT) AFM探针
    在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm)MSCTUnmountedSharpened, 6 Cantilevers, 0.01-0.50N/m, Au Reflective Coating探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP;2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • 超高分辨TERS针尖增强拉曼探针/Nano IR纳米红外探针
    NEXT-TIP SL公司成立于2012年,是西班牙研究委员会 (CSIC) 的衍生公司。其生产的TERS针增强拉曼探针和纳米红外探针,基于纳米粒子沉积技术,形成具有可控尺寸和成分的纳米颗粒涂层,具有超高的横向分辨率,大大提高了使用寿命。TERS针增强拉曼探针Next-Tip TERS 探针的出色性能与其形态特征有关。这些探头的设计经过开发,具有优异的 AFM 性能和超强的拉曼信号。突破针增强拉曼探针的限制:&bull 高可靠性,使用户能够专注于样品的表征。&bull 高达3 nm的超高分辨率&bull 超高灵敏度,可获得完全清晰/稳定的光谱,质量优于传统TERS。增强因子和对比度增强系数 (EF) 值是根据探针针的增强电场来量化拉曼信号的增强的参数。这个参数基于对比度值。对比度值根据在同一点的近场和远场扫描收集的实验数据计算。金TERS探针保证对比度高于20,银TERS探针保证对比度高于40,使得Next-Tip TERS 探针的增强系数高达105 -106。寿命银镀层的TERS探针由另一层金纳米粒子保护,以避免氧化和污染,保持等离激元的效应。致密的金纳米颗粒涂层提升了金属层厚度,大大提高了探针的耐用性。此外,纳米颗粒沿探针表面形成的不规则结构延长了其测量的寿命。性能可控的涂层沉积过程可实现坚固探头的高可重复性和高分辨率。此外,这种涂层工艺可以在针的点放置一个或两个纳米颗粒,实现超高空间分辨率。测量显示 AFM 分辨率小于5 nm,TERS 分辨率小于10 nm。TERS针增强拉曼探针类型高分辨率TERS在锐的硅基针上附着尤其致密,不规则和锐的纳米颗粒涂层,可获得超高空间分辨率和高质量的成像。基础TERS: 通过致密、不规则、颗粒状坚固的纳米颗粒涂层,用优化的涂层产生超强的拉曼信号,获得准确的成像和光谱数据。各型号参数对比银芯基础TERS探针高分辨金TERS探针高分辨银芯TERS探针型号NT-EASY-TERS-70银NT-EASY-TERS-300银NT-TERS-E-85金NT-TERS-E-335金NT-TERS-E-85银NT-TERS-E-335金共振频率(kHz)703008533585335力常数(N/m)2262.8452.845悬臂长度(μm)240160240160240160TERS针增强拉曼探针 测量结果1L MoS2/AuCNT/Graphene Oxide单层过渡金属二硫化物(TMDC)拉曼激发模式高精度表征参考文献:Alvaro Rodriguez, Matěj Velický , Jaroslava &Rcaron áhová, Viktor Zólyomi, János Koltai, Martin Kalbá&ccaron , and Otakar Frank. Activation of Raman modes in monolayer transition metal dichalcogenides through strong interaction with gold. Phys. Rev. B 105, 195413 – Published 10 May 2022. DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.105.195413Nano IR纳米红外探针纳米红外光谱的原理是基于一个锐的金属涂层前沿,激发激光束落在该前沿上。探针针的电磁场由于局部表面等离激元共振和避雷针效应的共同作用而具有局域限制和增强的效果。更强的纳米红外信号Next-Tip探针得到的红外信号比常用AFM探针高出几倍(约5倍)。下图显示了使用相同带宽激光源的两种探针在硅上获取的未标准化的近场振幅光谱。更高的纳米红外信噪比与使用标准的探针得到的光谱相比,使用Next-Tip探针得到的光谱具有更小的背景干扰,从而得到更高的SNR和更清晰的光谱。下图显示了使用两种探头在13.6秒内记录的PMMA的三阶解调纳米红外吸收光谱。Nano IR纳米红外探针类型各型号参数对比象鼻形金字塔形型号NT-IR-E-85NT-IR-E-335NT-IR-P-75NT-IR-P-330共振频率(kHz)8533575330力常数(N/m)2.8452.842悬臂长度(μm)240160225125
  • 射频探针|MPI T67A 探针
    MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造,具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性(最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗),它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同,由于独特的突起式针尖设计,MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次,即使对于没有经验的操作人员,也无需使用探头对准标记,就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33%,减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合,大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件,它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置,探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损:经过数十万次探针循环后,探针尖端的长度自然会缩小。然而,由于独特的探头设计,其电气特性保持不变。因此,TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。最后但并非最不重要的一点是,TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。
  • 射频探针|MPI T40A 探针
    MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造,具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性(最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗),它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同,由于独特的突起式针尖设计,MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次,即使对于没有经验的操作人员,也无需使用探头对准标记,就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33%,减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合,大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件,它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置,探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损:经过数十万次探针循环后,探针尖端的长度自然会缩小。然而,由于独特的探头设计,其电气特性保持不变。因此,TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。最后但并非最不重要的一点是,TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/导电探针
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPackSizeTipRadius(nm)SCM-PICUnmountedPt/IrCoatedTips,0.2N/m13kHz,Pt/IrReflectiveCoating1020
  • AFM探针/原子力显微镜探针(DNISP) AFM探针
    NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm)DNISPUnmountedDiamond Tip, 100 - 300N/m, 35 - 65kHz140探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP;2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • N1016071美国PE光纤浸液探针总代理报价
    公司主营:美国PE、戴安DIONEX离子色谱耗材,PE元素灯/PE石墨管/PE氘灯/PE钨灯/PE基体改进剂/PE样品杯/PE GCMS灯丝/PE ICP火炬/PE氧化铝注入管/PE雾化器大量现货!美国Perkinelmer(珀金埃尔默)耗材常备现货:元素灯、石墨管、样瓶杯、取样毛细管、进样针、雾化器、矩管、中心管、泵管、顶空瓶、隔垫、瓶盖、色谱瓶、热脱附管、干燥剂、钨灯、氘灯、铝制等产品介绍光纤浸液探针这种光纤浸液探针是一种用316级不锈钢制成的15mm探针,其波长为200-1100 nm。使用本品时需要(但不包括在产品套装内)以下部件:单光纤用转移光学部件、光线遮罩(N1016074)以及如下任一种探针头——光程为2mm的探针头(N1016073),光程为5 mm的探针头(N1016072)或光程为10 mm的探针头(N1016071)。订货信息:LAMBDA Model部件编号所有型号N1016070
  • N1016070美国PE光纤浸液探针厂家特价
    公司主营:美国PE、戴安DIONEX离子色谱耗材,PE元素灯/PE石墨管/PE氘灯/PE钨灯/PE基体改进剂/PE样品杯/PE GCMS灯丝/PE ICP火炬/PE氧化铝注入管/PE雾化器大量现货!美国Perkinelmer(珀金埃尔默)耗材常备现货:元素灯、石墨管、样瓶杯、取样毛细管、进样针、雾化器、矩管、中心管、泵管、顶空瓶、隔垫、瓶盖、色谱瓶、热脱附管、干燥剂、钨灯、氘灯、铝制等产品介绍光纤浸液探针这种光纤浸液探针是一种用316级不锈钢制成的15mm探针,其波长为200-1100 nm。使用本品时需要(但不包括在产品套装内)以下部件:单光纤用转移光学部件、光线遮罩(N1016074)以及如下任一种探针头——光程为2mm的探针头(N1016073),光程为5 mm的探针头(N1016072)或光程为10 mm的探针头(N1016071)。订货信息:LAMBDA Model部件编号所有型号N1016070
  • AFM探针/原子力探针/导电探针(DDESP-10)
    Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高,所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括:扫描扩散电阻显微镜 (SSRM),扫描电容显微镜 (SCM),和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/导电探针 AFM探针SCM-PIC
    NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) SCM-PICUnmountedPt/ Ir Coated Tips, 0.2N/m 13kHz, Pt/Ir Reflective Coating1020探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP;2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • 射频探针| MPI T50A 探针
    MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造,具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性(最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗),它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同,由于独特的突起式针尖设计,MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次,即使对于没有经验的操作人员,也无需使用探头对准标记,就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33%,减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合,大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件,它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置,探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损:经过数十万次探针循环后,探针尖端的长度自然会缩小。然而,由于独特的探头设计,其电气特性保持不变。因此,TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。最后但并非最不重要的一点是,TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。
  • 射频探针| MPI T26A 探针
    MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造,具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性(最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗),它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同,由于独特的突起式针尖设计,MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次,即使对于没有经验的操作人员,也无需使用探头对准标记,就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33%,减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合,大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件,它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置,探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损:经过数十万次探针循环后,探针尖端的长度自然会缩小。然而,由于独特的探头设计,其电气特性保持不变。因此,TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。最后但并非最不重要的一点是,TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。
  • 原子力探针/afm探针/轻敲模式/轻敲探针/形貌表征/RTESPA-300
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • MPI探针DC、各类开尔文探针
    产品概要:英铂为您提供MPI品牌的DC、各类开尔文探针,以供产品测试使用。基本信息:技术优势:DC探针:适用于常规漏电流测试开尔文探针:更低的漏电流和更好的可靠性,可以适用于高低温下的测试应用方向:适用于各种晶圆测试。
  • AFM探针/原子力显微镜探针(DNISP)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPackSizeTipRadius(nm)DNISPUnmountedDiamondTip,100-300N/m,35-65kHz140
  • 布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air AFM探针
    布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air,是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针,仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含:Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法,对图像质量进行持续的监测,并能自动地对参数进行适当的调整。因此:- 无论用户的专业技术水平如何,图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱,调到超低力,从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除,定位调整,获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针,所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格: 延展阅读:关于布鲁克:布鲁克公司以先进的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势:*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能 在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为:扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作 指标:探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP;2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • 晶圆探针台
    晶圆探针台,硅片探针台由中国领先的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售!孚光精仪精通光学,服务科学,欢迎垂询!晶圆探针台适合显微镜使用,尺寸小,重量轻,价格低硅片探针台适合科研院所和企业的实验室使用。非常适合小于4英寸的晶圆测量,也可用于LED/LD/PD灯光的光强和波长测量晶圆探针台主要指标:硅片探针台chuck stage (吸盘位移台):3' ' x3' ' 行程晶圆探针台chuck theta (吸盘theta角):0-30度硅片探针台platen (压盘):6个微定位器晶圆探针台工作环境要求:晶圆探针台电力:110VAC, 60Hz硅片探针台真空:-250mmHg, 7Liter/min晶圆探针台尺寸:320x320x400mm ( WxDxH,带显微镜尺寸)硅片探针台重量:20kg (带显微镜重量)晶圆探针台附件:晶圆探针台chuck stage push to position硅片探针台chuck stage vacuum based movement晶圆探针台microscope tilting mechanism and quick right angle switchover硅片探针台light intensity/wavelength measurement adapter晶圆探针台RF prob/cables硅片探针台acitive probeslow current/ capacitance probeshigh voltage probeultrasonic cutterCCTVPhotomicrographicspackaged device holderPCB holderThermal systemsLiquid crystal kit晶圆探针台Vibration free tabletop硅片探针台shielding box晶圆探针台Test bench硅片探针台Instrument case晶圆探针台chuck vacuum pattern硅片探针台gold plated chuck晶圆探针台和欧洲进口的硅片探针台,显微镜使用,适合小于4英寸的晶圆测量,是理想的硅片仪器.
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/NP-O10 AFM探针
    在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) NP-O10UnmountedTipless, 4 Cantilevers, 0.06-0.58N/m, Au Reflective Coating探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP;2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • 探针
    AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备。探针针尖半径一般为10到几十nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜,如AFM(范德法力),静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等, 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。型号种类备注HQ:XSC11/AlBS轻敲四悬臂、多功能硅探针,基片背面镀铝的反射层HQ:DEP-XSC11轻敲导电低噪音导电硅探针,四悬臂,多功能,镀铂HQ:NSC18/Co-Cr/AlBS磁性一个悬臂梁针尖,针尖镀钴铬,磁性探针,基片背面镀铝的反射层HQ:CSC37/AlBS接触三个悬臂梁针尖,基片背面镀铝的反射层HQ:CSC37/tipless/Cr-Au接触三悬臂无针尖探针,镀铬金HQ:CSC17/Pt接触导电单悬臂,镀铂HQ:NSC15/AlBS轻敲单个悬臂梁针尖,基片背面镀铝的反射层NSC11/AlBS轻敲两个三角型悬臂梁针尖,基片背面镀铝的反射层NSC15/AlBS轻敲单个悬臂梁针尖,基片背面镀铝的反射层NSC18/AlBS轻敲单个悬臂梁针尖,基片背面镀铝的反射层NSC19/AlBS轻敲单个悬臂梁针尖,基片背面镀铝的反射层NSC35/AlBS轻敲三个悬臂梁针尖,基片背面镀铝的反射层CSC11/AlBS接触两个三角型悬臂梁针尖,基片背面镀铝的反射层CSC37/AlBS接触三个悬臂梁针尖,基片背面镀铝的反射层CSC38/AlBS接触三个悬臂梁针尖,基片背面镀铝的反射层NSC18/Co-Cr轻敲一个悬臂梁针尖,针尖镀钴铬,磁性探针CSC38/Cr-Au接触三个悬臂梁针尖,针尖镀铬金,导电探针NP-S接触接触模式氮化硅探针,液体中轻敲成像和力测量。四悬臂0.06-0.58N/m 反射面镀金PPP-NCHR-20轻敲PPP硅探针用于增强SPM图片分辨率PPP-SEIHR-20轻敲PPP硅探针用于增强SPM图片分辨率AN-NSC10轻敲适用于非接触模式、轻敲模式、间断模式和近距离接触模式;长:125μm;弹性系数:40N/m;共振频率:300kHz。AN-NSC01轻敲适用于非接触模式、轻敲模式、间断模式和近距离接触模式;长:225μm;弹性系数:1.6N/m;共振频率:61kHz。ACCESS-50轻敲超稳定、超细前倾针尖,可直接观察针尖在样品上的工作情况HYDRA6R-200N-20轻敲具有长且尖、低弹性系数的矩形悬臂,高分辨率;主要应用于接触模式,但同时也可用于轻敲和非接触模式;HA--_NC(新)轻敲新型高精度探针,50根/盒。每个基片有两根长方形的多晶硅悬臂和尖锐硅针尖(典型值10nm)。共振频率120/200 KHz,弹性常数3.4/5.8N/mNSG01轻敲NSG01系列轻敲模式SPM探针,50根/盒,共振频率115-190KHz,弹性系数2.5-10N/m,仅有一个悬臂和针尖NSG03轻敲NSG03系列轻敲模式SPM探针,50根/盒,共振频率90-116KHz,弹性系数0.5-2.2N/m,仅有一个悬臂和针尖NSG10轻敲NSG10系列轻敲模式SPM探针,50根/盒,共振频率190-325KHz,弹性系数5.5-22.5N/m,仅有一个悬臂和针尖NSG20轻敲NSG20系列轻敲模式SPM探针,50根/盒,共振频率260-630KHz,弹性系数28-91N/m,仅有一个悬臂和针尖NSG01S轻敲NSG01S系列轻敲模式SPM探针,50根/盒,每根针尖附有SEM校准照片,共振频率115-190KHz,弹性系数2.5-10N/m,仅一个悬臂和针尖NSG10S轻敲NSG10S系列轻敲模式SPM探针,50根/盒,每根针尖附有SEM校准照片,共振频率190-325KHz,弹性系数5.5-22.5N/m,仅一个悬臂和针尖NSG20S轻敲NSG20S系列,50根/盒,每根针尖附有SEM校准照片,共振频率260-630KHz,弹性系数28-91N/m,仅有一个悬臂和针尖NSG10 DLC/10/50超细超细类金刚石碳(DLC)探针,10根/盒,典型曲率半径1nm,生长在NSG10和NSG01系列探针上NSC0510/20°/5超细NSC05 10°/20°轻敲模式,5根/盒,有10度和20度倾角的须状物针尖NSG01/Au/Pt/TiN/WuC/50导电NSG01系列轻敲模式SPM探针(分别镀金、镀铂、镀氮化钛、镀碳化钨导电层),50根/盒,共振频率115-190KHz,弹性系数2.5-10N/mNSG10/Au/Pt/TiN/WuC/50导电NSG10系列轻敲模式SPM探针(分别镀金、镀铂、镀氮化钛、镀碳化钨导电层),50根/盒,共振频率190-325KHz,弹性系数5.5-22.5N/mNSG20/Au/Pt/TiN/WuC/50导电NSG20系列轻敲模式SPM探针(分别镀金、镀铂、镀氮化钛、镀碳化钨导电层),50根/盒,共振频率260-630KHz,弹性系数28-91N/mNSG03/Au/Pt/TiN/WuC/50导电NSG03系列轻敲模式SPM探针(分别镀金、镀铂、镀氮化钛、镀碳化钨导电层),50根/盒,共振频率90-116KHz,弹性系数0.5-2.2N/mNSG01/Co/50磁性NSG01系列轻敲模式SPM探针(镀钴铬磁性层),50根/盒,共振频率115-190KHz,弹性系数2.5-10N/mNSG03/Co/50磁性NSG03系列轻敲模式SPM探针(镀钴铬磁性层),50根/盒,共振频率90-116KHz,弹性系数0.5-2.2N/mNSG11/tipless/50无针尖无针尖NSG11系列,每头两个悬臂,50根/盒,共振频率115-190KHz,190-325KHz,弹性系数2.5-10 N/m,5.5-22.5N/mNSG20/tipless/50无针尖无针尖NSG20系列,50根/盒,一个三角形悬臂,共振频率260-630KHz,弹性系数28-91N/mMF001/002/003/004SNOM一套10根/盒SNOM探针(波长400-550nm)(波长450-600nm)(波长600-680nm),(波长780-970nm),没有音叉DCP11/50金刚石镀层轻敲模式镀金刚石导电探针DCP11系列,50根/盒,每根探针有两个悬臂,共振频率190-325KHz,115-190KHz;弹性系数5.5-22.5N/m,2.5-10N/m。稳定的、非破坏性的金刚石镀层可供长期使用。DCP20/50金刚石镀层轻敲模式镀金刚石导电探针DCP20系列,50根/盒,每根探针有一个悬臂,共振频率260-630KHz;弹性系数28-91N/m,AFM氧化刻蚀的理想探针。CSG01接触CSG01系列接触模式SPM探针,50根/盒,共振频率7-14KHz,弹性系数0.01-0.08N/m,仅有一个悬臂和针尖CSG10接触CSG10系列接触模式SPM探针,50根/盒,共振频率14-28KHz,弹性系数0.03-0.2N/m,仅有一个悬臂和针尖CSG01S接触CSG01系列接触模式SPM探针,50根/盒,每根针尖附有SEM校准照片,共振频率7-14KHz,弹性系数0.01-0.08N/m,仅有一个悬臂和针尖CSC0510/20°/5超细接触模式须型SPM探针,5根/盒,有10度和20度倾角的须状物针尖CSG10/Pt/TiN/50导电CSG11系列轻敲模式SPM探针(分别镀金、镀铂、镀氮化钛导电层),50根/盒,共振频率14-28KHz,弹性系数0.03-0.2N/m0.03-0.2N/mCSG01/Au/Pt/TiN/50导电CSG01系列轻敲模式SPM探针(分别镀金、镀铂、镀氮化钛导电层),共振频率7-14KHz,弹性系数0.01-0.08N/mCSG10/Au/Pt/TiN/50导电CSG10系列轻敲模式SPM探针(分别镀金、镀铂、镀氮化钛导电层),50根/盒,共振频率14-28KHz,弹性系数0.03-0.2N/m更多其他型号探针,请联系我们:sales@sunano.com.cn 021-5683191,92
  • 射频探针| MPI TS 110GHz 探针
    MPI射频探针MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造,具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性(最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗),它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同,由于独特的突起式针尖设计,MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次,即使对于没有经验的操作人员,也无需使用探头对准标记,就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33%,减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合,大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件,它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置,探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损:经过数十万次探针循环后,探针尖端的长度自然会缩小。然而,由于独特的探头设计,其电气特性保持不变。因此,TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。最后但并非最不重要的一点是,TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。
  • 原子力探针高分辨/智能成像探针/ SCANASYST-FLUID+/液下环境
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  • 原子力显微镜探针/高分辨/智能成像探针/SNL-10
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  • AFM探针/导电原子力/导电探针/SCM-PIT-V2
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  • 原子力显微镜探针/afm探针/生物样品/细胞成像/MLCT
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