红外长度测量仪

中图仪器SJ5180系列长度激光测量仪采用高精度激光测量系统、精密研磨导轨、高精度温度环境补偿系统、双向恒测力系统、高性能计算机控制系统技术，能够检定精密量具、精密量规，如块规、环规、塞规、卡规、螺纹规、花键规、表类、尺类。还可以检测各种精密工件内外尺寸，如齿轮、花键、校对棒、非标量规等，具有通用性强的特点。产品应用SJ5180系列长度激光测量仪能实现各种长度参数的高精度测量，具有精度高、操作便携、稳定性强、功能齐全实用等优点。仪器主要功能1、标配功能：检测量块&块规：（0.1~1000mm）；光滑环规：φ5~φ200mm（壁厚≤50 mm，高度≤50mm）、光滑塞规：φ1~φ220mm；螺纹环规：M5~M200（螺距0.8~4mm）螺纹塞规：M1~M220（螺距0.25~5.5mm）；光滑卡规：内卡5~200mm，外卡1~300mm千分尺校对杆：25~1000mm；塞尺：0.02~1mm针规：φ0.1~φ10mm三针：0.118~6.585mm；两点内径千分尺：25~1000mm；2、可选配功能：小型光滑环规：φ0.8~φ5mm；螺纹环规：规格M3~M4（螺距0.5~0.7mm）、M200~M450（螺距4.5~6mm）；光滑锥度环规：φ5~φ200mm（厚度≤50mm）；光滑锥度塞规：φ5~φ60mm（长度10~100mm）；φ60~φ200mm（长度≤50mm）；螺纹锥度环规：M5~M200mm（厚度≤50mm）；螺纹锥度塞规：M5~M60mm（长度10~100mm）；M60~ M200mm（长度≤50mm）；锯齿螺纹、梯形螺纹：M3~M450（螺距0.5~6mm）；花键环塞规/花键及标准齿轮（跨棒距测量）：内φ10~φ450mm，外φ5~φ450mm，模数0.8~6mm；外径千分尺示值误差手动校准：25~1000mm；数显及游标卡尺示值误差手动校准：75~1000mm；深度千分尺示值误差手动校准：0~25、25~50、50~75mm；三爪内径千分尺手动校准：φ6~φ200mm；表类（百分表、千分表、杠杆表手动校准）；数显半径规手动校准：R5~R700mm；轴承内外圈锥度、沟槽底径内外径及沟槽宽度、精密零部件的长度尺寸，内外径尺寸测量；高精度、高稳定性1)高精度激光测量系统，线性测量精度达到0.5PPM，分辨力达到0.01μm，测量精度高；2)精密研磨导轨系统，导轨直线度高，导轨材料耐磨性好、保证系统高精度稳定可靠的工作；3)进口特殊材料制作的高刚性、无变形测杆，保证测试数据的真实采集；4)采用大理石基座，保证了在头座及五轴工作台的移动过程中不会产生变形以及仪器不受外界震动干扰，保证了仪器的稳定可靠；5)采用紧凑型摩擦驱动结构，保证了头座移动过程中的稳定性。高性能五轴工作台1)X,Y,Z三轴采用高性能交叉滚子导轨：摩擦力小，稳定性好，承载高； 2)Y轴平移、倾斜、水平旋转设计了高调节细度的结构，方便客户更好地找到三个轴的拐点； 3)Z轴可配置数显装置，用于螺距显示。高性能螺纹环规测量装置SJ5180系列长度激光测量仪配置高性能螺纹环规测量装置，可测量小螺纹环规，同时可完成小光滑环规检测；测量力为电子测力，由软件选择测力大小； 部分技术指标型号SJ5180-1000测量范围外尺寸直接：0~1020mm内尺寸比对：5~900mm测力0.1N、0.3N、0.5N、1~10N手动连续可调测量最大中径环规200mm 、塞规250mm五轴工作台型号ST-30.1（标配）Z轴0~50mmY轴±25mm负载50㎏台面尺寸350mm×125mm仪器重量180㎏仪器尺寸2000mm×400mm×450mm环境条件参考环境温度：（20±1）℃以内，温度变化不超过0.2℃/h。相对湿度控制在20%～60%。校准室内应无影响测量的灰尘、震动、噪音、气流、腐蚀性气体和较强磁场。校准实验室应符合精密仪器实验室振动等级标准，环境振动≤0.03mm/s；如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

VX8000中图仪器一键几何长度测量仪采用双远心高分辨率光学镜头，结合高精度图像分析算法，并融入一键闪测原理。编程简单，工件可以任意摆放，批量测量更快捷高效。VX8000中图仪器一键几何长度测量仪一键测量二维平面尺寸测量，或是搭载光学非接触式测头实现高度尺寸、平面度等参数的精密快速测量。更适用于要求批量测量或自动测量的应用场景。如电子PCB测量、五金零部件检测、橡胶圈尺寸测量、手机尺寸检测等领域，在满足产品测量精度的同时，对于操作人员要求也更低，并且软件使用更加简单便捷。产品优势一键闪测，批量更快1.任意摆放产品，无需夹具定位，仪器自动识别，自动匹配模板，一键测量。2.多可同时测量1024个部位。3.支持CAD图纸导入，一键自动匹配测量。4、CNC模式下，可快速精确地进行批量测量。计算精准，稳定可靠1.高分辨率镜头和2000万高像素工业相机，1%亚像素图像处理，高精度算法分析。2.自动对焦，排除人为测量操作干扰，且重复聚焦一致性高。3.自动识别测量部位，每次都能获得统一稳定的测量结果。操作简单，轻松无忧1.任何人都能很快上手，无需复杂培训。2.简洁的操作界面，任何人都能轻松设定和测量。3.测量现场立即评价测量尺寸偏差，一键生成统计分析、检测结果报告等。功能丰富，自动报表1.提供多达80种提取分析工具和多种专用测量工具。2.自动输出SPC分析报告。3.具有强远程数据输出功能。测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。中图仪器一键几何长度测量仪大幅有效的提升了产品的检测效率，更切合追求“快"、“准"、“稳"的现代化工业尺寸测量！目前被广泛应用于3C电子零件、精密五金配件及塑胶产品等常规尺寸的快速、批量测量，像一些精密螺丝、精密弹簧、齿轮、手机外壳、手机玻璃、精密五金配件等尺寸较小的产品及零部件需要批量测量时。应用领域可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具等领域。部分技术规格型号VX8300图像传感器2000万像素CMOS受光镜头高分辨率双远心镜头测量视野广视野300×200（4角R50）高精度230×130高度测量（选配）可测量范围（XY）120mm×110mmZ轴不移动高度±3.5mmZ轴移动75mm分辨率0.25μm卧式转台规格（选配）测量直径Φ60mmXY电动载物台X轴移动范围210mmY轴移动范围110mmZ轴移动范围75mm外形尺寸(L×W×H) mm531*503*731重量75kg恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

SJ5100中图光栅测长机高精度长度参数测量仪是一种常用于工业制造业的精密测量设备，可以用于测量物体长度、角度和位置等参数。SJ5100中图光栅测长机高精度长度参数测量仪采用进口高精度光栅测量系统、高精密研磨直线导轨、高精度温度补偿系统、双向恒测力系统、高性能计算机控制系统技术，通过高精密研磨导轨保证测量头座移动的高稳定性及超高直线度，采用进口高精度光栅测量系统记录长度方向坐标，由计算机将光栅数据与测力装置、温度传感器的反馈数据及阿贝误差数据修正后进行数据合成（由于导轨较高的直线度，因此阿贝修正造成的仪器误差小）。按被测件参数的相关定义及公式进行分析，计算获得相关长度参数。应用领域SJ5100中图光栅测长机高精度长度参数测量仪具有精度高、操作便携、稳定性强、功能齐全实用等优点，能够测量及检定精密量具、精密量规，如块规、环塞规、卡规、螺纹规、花键规、表类、尺类。还可以检测各种精密工件内外尺寸，如齿轮、花键、校对棒、非标量规等，具有通用性强的特点。仪器主要功能1、标配功能：检测量块&块规：（0.1~300mm）；光滑环规：φ5~φ200mm（壁厚≤50 mm，高度≤50mm）、光滑塞规：φ1~φ220mm；螺纹环规：M5~M200（螺距0.8~4mm）螺纹塞规：M1~M220（螺距0.25~5.5mm）；光滑卡规：内卡5~200mm，外卡1~300mm千分尺校对杆：25~300mm；塞尺：0.02~1mm针规：φ0.1~φ10mm三针：0.118~6.585mm；两点内径千分尺：25~300mm；2、可选配功能：小型光滑环规：φ0.8~φ5mm；螺纹环规：规格M3~M4（螺距0.5~0.7mm）；光滑锥度环规：φ5~φ200mm（厚度≤50mm）；光滑锥度塞规：φ5~φ60mm（长度10~100mm）；φ60~φ200mm（长度≤50mm）；螺纹锥度环规：M5~M200mm（厚度≤50mm）；螺纹锥度塞规：M5~M60mm（长度10~100mm）；M60~M200mm（长度≤50mm）；锯齿螺纹、梯形螺纹：M3~M400（螺距0.5~6mm）；花键环塞规/花键及标准齿轮（跨棒距测量）：内φ10~φ200mm，外φ5~φ200mm，模数0.8~6mm；外径千分尺示值误差手动校准：25~300mm；数显及游标卡尺示值误差手动校准：75~300mm；深度千分尺示值误差手动校准：0~25、25~50、50~75mm；三爪内径千分尺手动校准：φ6~φ200mm；表类（百分表、千分表、杠杆表手动校准）；数显半径规手动校准：R5~R700mm；轴承内外圈锥度、沟槽底径内外径及沟槽宽度、精密零部件的长度尺寸，内外径尺寸测量；SJ5100测长机高精度光栅测量系统，分辨力达到0.01μm，测量精度高配置高性能环规内测装置，可测量小M3螺纹环规（根据选配测针），同时可完成小（φ0.8mm）光滑环规检测（选配测针）；测量力为电子测力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N，由软件选择测力大小（可根据客户需求定更小测力）。智能化管理与检测软件系统1)仪器操作界面友好，操作者很容易基本掌握仪器操作，使用十分简便；2)十多年积累的实用软件设计经验，向客户提供简洁、实用、便捷的操作体验；3)集成众多长度标准、规程，功能强大、自动处理数据、打印各种格式的检测报告，自动显示、打印、保存、查询检测记录；4)测量范围广，可满足绝大多数类型的量规、量块等长度参数测量；5)软件配备快速找拐点指示功能，方便客户快速便携地找到被测件的拐点；6)纯中文操作软件系统，更好的为国内用户服务；7)打印格式正规、美观。检定数据可存档，或集中打印，不占用检测操作时间；8)本仪器采用计算机大容量数据库储存，可自动记录保存所有检测结果。方便快捷的仪器操作体验1)测帽无需调节，高精度测帽加工保障测量精度，直接安装即可使用；2)螺纹塞规测量三针带支板，配合仪器测帽可快速的进行螺纹塞规的中径测量；3)支持客户使用模糊搜索量规标准，并支持用户特殊规格量规自动计算公差带。应用领域主要技术指标型号SJ5100-Prec300（精密测量型）测量范围外尺寸直接测量：0~340mm内尺寸比较测量：5~200mm（配置比较测量环规）外尺寸示值误差≤±（0.2+L/1000）μm，其中：L为被测长度，单位：mm内尺寸重复性(2S或2δ)≤0.1μm内尺寸重复性(2S或2δ)≤0.2μm（使用测钩）≤0.3μm（使用内测装置）测力内测装置传感器测力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N、主测力1~10N手动连续可调测量直径环规200mm（标配） 、塞规250mm（标配）仪器尺寸1400*400*450mm仪器重量150kg五轴工作台型号ST-30.1(标配)Z轴0~50mmY轴±25mmX轴浮动±10mmZ轴旋转±3°Y轴摆动±3°负载50kg台面尺寸350*25mm环境条件参考校准/使用环境温湿度：温度：20±2℃，波动不超过0.5℃/小时相对湿度：10~70%。振动：按照三坐标振动要求标准，振动速度均方根≤5um/s，振动频率8~100Hz；校准室内应无影响测量的灰尘、震动、噪音、气流、腐蚀性气体和较强磁场。恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪集光、机、电、计算机等技术于一体，利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点。SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。产品配置SJ6000激光干涉仪系统具有丰富的模块化组件，可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列，依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。主要镜组图其中，线性镜组为标配，由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析，以及反向间隙修正和螺距补偿。产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据；（5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）支持手动或自动进行环境补偿。在机床领域中的应用1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿在计量检定领域的应用1、测长机检定传统的测长机示值误差主要采用量块进行校准，受环境因素影响较大，校准条件要求高，且量程大于1m的测长机需要分段校准，效率低，而使用激光干涉仪进行校准，不仅可以提高效率，还可通过环境补偿单元对空气温度、压力、湿度和材料温度进行补偿，提高校准精度。2、三坐标测量机示值误差测量随着三坐标测量机技术的更新和发展，使用传统的量块、球板等已经难以满足大型三坐标测量机的检测要求，激光干涉仪测量准确度高，测量范围大，测量数据丰富，适合测量三坐标各项几何误差。3、位移传感器检定利用SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪对位移传感器检定成为发展趋势,其特点是测量精度高、反应速度快、易于数字化测量。在测量中设计一个精密导轨,将反射镜同被测传感器放在一起同步检测,从而形成对比，位移传感器自动检定系统与SJ6000激光干涉仪(标准)对定长位移进行测试对比,得出往复测试实验结果。4、影像仪定位精度测量影像仪传统检测方法采用线纹尺比对法进行，存在着检测精度低、测量系统误差大、成因分析功能缺失、改善方向不精准、 检测效率低下等问题。使用激光干涉仪可以对影像仪的定位误差进行快速检测，对测量数据进行运算分析，利用软件生产补偿文件快速实施二维平面多点位补偿，可大大降低设备制造过程中的精度检测难度、提升检测效率及补偿效率。

中图仪器SJ5100国产光栅长度尺寸测量仪采用高精度光栅式大量程接触式测量方式，常用于工业制造业中测量各种物体长度、角度和位置等参数。产品描述SJ5100国产光栅长度尺寸测量仪采用进口高精度光栅测量系统、高精密研磨直线导轨、高精度温度补偿系统、双向恒测力系统、高性能计算机控制系统技术，实现各种长度参数的高精度测量。通过高精密研磨导轨保证测量头座移动的高稳定性及超高直线度，采用进口高精度光栅测量系统记录长度方向坐标，由计算机将光栅数据与测力装置、温度传感器的反馈数据及阿贝误差数据修正后进行数据合成（由于导轨较高的直线度，因此阿贝修正造成的仪器误差小）。按被测件参数的相关定义及公式进行分析，计算获得相关长度参数。仪器主要功能1、标配功能：检测量块&块规：（0.1~300mm）；光滑环规：φ5~φ200mm（壁厚≤50 mm，高度≤50mm）、光滑塞规：φ1~φ220mm；螺纹环规：M5~M200（螺距0.8~4mm）螺纹塞规：M1~M220（螺距0.25~5.5mm）；光滑卡规：内卡5~200mm，外卡1~300mm千分尺校对杆：25~300mm；塞尺：0.02~1mm针规：φ0.1~φ10mm三针：0.118~6.585mm；两点内径千分尺：25~300mm；2、可选配功能：小型光滑环规：φ0.8~φ5mm；螺纹环规：规格M3~M4（螺距0.5~0.7mm）；光滑锥度环规：φ5~φ200mm（厚度≤50mm）；光滑锥度塞规：φ5~φ60mm（长度10~100mm）；φ60~φ200mm（长度≤50mm）；螺纹锥度环规：M5~M200mm（厚度≤50mm）；螺纹锥度塞规：M5~M60mm（长度10~100mm）；M60~M200mm（长度≤50mm）；锯齿螺纹、梯形螺纹：M3~M400（螺距0.5~6mm）；花键环塞规/花键及标准齿轮（跨棒距测量）：内φ10~φ200mm，外φ5~φ200mm，模数0.8~6mm；外径千分尺示值误差手动校准：25~300mm；数显及游标卡尺示值误差手动校准：75~300mm；深度千分尺示值误差手动校准：0~25、25~50、50~75mm；三爪内径千分尺手动校准：φ6~φ200mm；表类（百分表、千分表、杠杆表手动校准）；数显半径规手动校准：R5~R700mm；轴承内外圈锥度、沟槽底径内外径及沟槽宽度、精密零部件的长度尺寸，内外径尺寸测量；产品应用SJ5100国产光栅长度尺寸测量仪具有精度高、操作便携、稳定性强、功能齐全实用等优点，能够测量及检定精密量具、精密量规，如块规、环塞规、卡规、螺纹规、花键规、表类、尺类。还可以检测各种精密工件内外尺寸，如齿轮、花键、校对棒、非标量规等，具有通用性强的特点。性能特点1. 全程直接测量：SJ5100系列高精度光栅测长机采用进口高精度长玻璃光栅尺作为长度方向定位，可进行高精度全行程直接测量。2. 高精度、高稳定性：1)高精度光栅测量系统，分辨力达到0.01μm，测量精度高；2)精密研磨导轨系统导轨直线度高，材料耐磨性好、保证系统高精度稳定可靠的工作；3)进口特殊材料制作的高刚性、无变形测杆，保证测试数据的高精度真实采集；4)采用大理石基座，通过有限元分析优化仪器基座结构保障几十年稳定不变形，高刚性大理石底座结构保证了仪器在头座及工作台在测量移动过程中几乎不产生变形，仪器受外界震动干扰小，保证仪器的长期稳定可靠性；5)采用紧凑型摩擦驱动结构，移动摩擦驱动力小，保证了头座移动过程中的稳定性。3. 双向恒测力：1) 特殊传感器双向恒测力系统，减小了测力对测量结果的影响，保证了高的系统测量精度；2) 测力较大范围的连续可调；3) 非砝码加载，测力传感器原理避免了仪器台面不水平及周围环境振动带来的测力误差。4. 智能化管理与检测软件系统：1)仪器操作界面友好，操作者很容易基本掌握仪器操作，使用十分简便；2)十多年积累的实用软件设计经验，向客户提供简洁、实用、便捷的操作体验；3)集成众多长度标准、规程，功能强大、自动处理数据、打印各种格式的检测报告，自动显示、打印、保存、查询检测记录；4)测量范围广，可满足绝大多数类型的量规、量块等长度参数测量；5)软件配备快速找拐点指示功能，方便客户快速便携地找到被测件的拐点；6)纯中文操作软件系统，更好的为国内用户服务；7)打印格式正规、美观。检定数据可存档，或集中打印，不占用检测操作时间；8)本仪器采用计算机大容量数据库储存，可自动记录保存所有检测结果。5. 方便快捷的仪器操作体验：1)测帽无需调节，高精度测帽加工保障测量精度，直接安装即可使用；2)螺纹塞规测量三针带支板，配合仪器测帽可快速的进行螺纹塞规的中径测量；3)支持客户使用模糊搜索量规标准，并支持用户特殊规格量规自动计算公差带。6. 高性能五轴工作台：1)X，Y，Z三轴采用高性能交叉滚子导轨：摩擦力小，稳定性好，承载高；2)Y轴平移、倾斜、水平旋转设计了高调节细度的结构，方便客户更好地找到三个轴的拐点；3)Z轴及Y轴可配置数显表，可将数据传输到电脑，可用于锥度量规测量及螺纹螺距观察。7. 高性能内尺寸测量装置：配置高性能环规内测装置，可测量小M3螺纹环规（根据选配测针），同时可完成小（φ0.8mm）光滑环规检测（选配测针）；测量力为电子测力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N，由软件选择测力大小（可根据客户需求定制更小测力）。部分技术规格型号SJ5100-Prec300（精密测量型）测量范围外尺寸直接测量：0~340mm内尺寸比较测量：5~200mm（配置比较测量环规）外尺寸示值误差≤±（0.2+L/1000）μm，其中：L为被测长度，单位：mm内尺寸重复性(2S或2δ)≤0.1μm内尺寸重复性(2S或2δ)≤0.2μm（使用测钩）≤0.3μm（使用内测装置）分辨力0.01μm（可选0.1μm、1μm）测力内测装置传感器测力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N、主测力1~10N手动连续可调测量直径环规200mm（标配） 、塞规250mm（标配）仪器尺寸1400*400*450mm仪器重量150kg五轴工作台型号ST-30.1(标配)Z轴0~50mmY轴±25mX轴浮动±10mmZ轴旋转±3°Y轴摆动±3°负载50kg台面尺寸350*25mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解.

中图仪器SJ5100接触式测长机长度测量仪采用的高精度光栅式大量程接触式测量是一种很好的长度测量方式。它能够测量及检定精密量具、精密量规，如块规、环塞规、卡规、螺纹规、花键规、表类、尺类。还可以检测各种精密工件内外尺寸，如齿轮、花键、校对棒、非标量规等，具有通用性强的特点。仪器主要功能1、标配功能：检测量块&块规：（0.1~300mm）；光滑环规：φ5~φ200mm（壁厚≤50 mm，高度≤50mm）、光滑塞规：φ1~φ220mm；螺纹环规：M5~M200（螺距0.8~4mm）螺纹塞规：M1~M220（螺距0.25~5.5mm）；光滑卡规：内卡5~200mm，外卡1~300mm千分尺校对杆：25~300mm；塞尺：0.02~1mm针规：φ0.1~φ10mm三针：0.118~6.585mm；两点内径千分尺：25~300mm；2、可选配功能：小型光滑环规：φ0.8~φ5mm；螺纹环规：规格M3~M4（螺距0.5~0.7mm）；光滑锥度环规：φ5~φ200mm（厚度≤50mm）；光滑锥度塞规：φ5~φ60mm（长度10~100mm）；φ60~φ200mm（长度≤50mm）；螺纹锥度环规：M5~M200mm（厚度≤50mm）；螺纹锥度塞规：M5~M60mm（长度10~100mm）；M60~M200mm（长度≤50mm）；锯齿螺纹、梯形螺纹：M3~M400（螺距0.5~6mm）；花键环塞规/花键及标准齿轮（跨棒距测量）：内φ10~φ200mm，外φ5~φ200mm，模数0.8~6mm；外径千分尺示值误差手动校准：25~300mm；数显及游标卡尺示值误差手动校准：75~300mm；深度千分尺示值误差手动校准：0~25、25~50、50~75mm；三爪内径千分尺手动校准：φ6~φ200mm；表类（百分表、千分表、杠杆表手动校准）；数显半径规手动校准：R5~R700mm；轴承内外圈锥度、沟槽底径内外径及沟槽宽度、精密零部件的长度尺寸，内外径尺寸测量；SJ5100接触式测长机长度测量仪采用进口高精度光栅测量系统、高精密研磨直线导轨、高精度温度补偿系统、双向恒测力系统、高性能计算机控制系统技术，具有精度高、操作便携、稳定性强、功能齐全实用等优点，通过高精密研磨导轨保证测量头座移动的高稳定性及超高直线度，采用进口高精度光栅测量系统记录长度方向坐标，由计算机将光栅数据与测力装置、温度传感器的反馈数据及阿贝误差数据修正后进行数据合成（由于导轨较高的直线度，因此阿贝修正造成的仪器误差小）。按被测件参数的相关定义及公式进行分析，计算获得相关长度参数。整个测量过程不超过3分钟，结束后自动生成结果及记录报表。性能特点1. 全程直接测量：SJ5100接触式测长机长度测量仪采用进口高精度长玻璃光栅尺作为长度方向定位，可进行高精度全行程直接测量。2. 高精度、高稳定性：1)高精度光栅测量系统，分辨力达到0.01μm，测量精度高；2)精密研磨导轨系统导轨直线度高，材料耐磨性好、保证系统高精度稳定可靠的工作；3)进口特殊材料制作的高刚性、无变形测杆，保证测试数据的高精度真实采集；4)采用大理石基座，通过有限元分析优化仪器基座结构保障几十年稳定不变形，高刚性大理石底座结构保证了仪器在头座及工作台在测量移动过程中几乎不产生变形，仪器受外界震动干扰小，保证仪器的长期稳定可靠性；5)采用紧凑型摩擦驱动结构，移动摩擦驱动力小，保证了头座移动过程中的稳定性。3. 双向恒测力：1) 特殊传感器双向恒测力系统，减小了测力对测量结果的影响，保证了高的系统测量精度；2) 测力较大范围的连续可调；3) 非砝码加载，测力传感器原理避免了仪器台面不水平及周围环境振动带来的测力误差。4. 智能化管理与检测软件系统：1)仪器操作界面友好，操作者很容易基本掌握仪器操作，使用十分简便；2)十多年积累的实用软件设计经验，向客户提供简洁、实用、便捷的操作体验；3)集成众多长度标准、规程，功能强大、自动处理数据、打印各种格式的检测报告，自动显示、打印、保存、查询检测记录；4)测量范围广，可满足绝大多数类型的量规、量块等长度参数测量；5)软件配备快速找拐点指示功能，方便客户快速便携地找到被测件的拐点；6)纯中文操作软件系统，更好的为国内用户服务；7)打印格式正规、美观。检定数据可存档，或集中打印，不占用检测操作时间；8)本仪器采用计算机大容量数据库储存，可自动记录保存所有检测结果。5. 方便快捷的仪器操作体验：1)测帽无需调节，高精度测帽加工保障测量精度，直接安装即可使用；2)螺纹塞规测量三针带支板，配合仪器测帽可快速的进行螺纹塞规的中径测量；3)支持客户使用模糊搜索量规标准，并支持用户特殊规格量规自动计算公差带。6. 高性能五轴工作台：1)X，Y，Z三轴采用高性能交叉滚子导轨：摩擦力小，稳定性好，承载高；2)Y轴平移、倾斜、水平旋转设计了高调节细度的结构，方便客户更好地找到三个轴的拐点；3)Z轴及Y轴可配置数显表，可将数据传输到电脑，可用于锥度量规测量及螺纹螺距观察。7. 高性能内尺寸测量装置：配置高性能环规内测装置，可测量小M3螺纹环规（根据选配测针），同时可完成小（φ0.8mm）光滑环规检测（选配测针）；测量力为电子测力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N，由软件选择测力大小（可根据客户需求定制更小测力）。典型应用主要技术指标型号SJ5100-Prec300（精密测量型）测量范围外尺寸直接测量：0~340mm内尺寸比较测量：5~200mm（配置比较测量环规）外尺寸示值误差≤±（0.2+L/1000）μm，其中：L为被测长度，单位：mm内尺寸重复性(2S或2δ)≤0.1μm内尺寸重复性(2S或2δ)≤0.2μm（使用测钩）≤0.3μm（使用内测装置）测力内测装置传感器测力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N、主测力1~10N手动连续可调测量直径环规200mm（标配） 、塞规250mm（标配）仪器尺寸1400*400*450mm仪器重量150kg五轴工作台型号ST-30.1(标配)Z轴0~50mmY轴±25mmX轴浮动±10mmZ轴旋转±3°Y轴摆动±3°负载50kg台面尺寸350*25mm环境条件参考校准/使用环境温湿度：温度：20±2℃，波动不超过0.5℃/小时相对湿度：10~70%。振动：按照三坐标振动要求标准，振动速度均方根≤5um/s，振动频率8~100Hz；校准室内应无影响测量的灰尘、震动、噪音、气流、腐蚀性气体和较强磁场。恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

中红外FROG超短脉冲测量仪所属类别： ? 光学/激光测量设备 ? 超短激光脉冲测量系统 所属品牌： 产品简介 中红外FROG超短脉冲测量仪 中红外FROG超短脉冲测量仪，能够覆盖传统超短脉冲测量仪无法测量的2000nm-3400nm中红外波长范围，最短测量脉宽12fs,并拥有高分辨率，动态范围达到75dB。 红外超短脉冲测量仪，超快脉冲测量仪，超短脉冲测量仪，FROGScan，频率分辨光学快门，FROG,飞秒激光脉冲测量,Grenouille 中红外FROG超短脉冲测量仪，能够覆盖传统超短脉冲测量仪无法测量的2000nm-3400nm中红外波长范围，最短测量脉宽12fs,并拥有高分辨率，动态范围达到75dB。 中红外FROG超短脉冲测量仪可以通过自由更换SHG晶体及光谱仪拓展探测范围，大幅降低多波段超短脉冲测量的采购成本 应用: 1. 改善激光系统2. 测量脉冲啁啾计算色散补偿量3. 实时测量数皮秒啁啾短脉冲4. 实时测量脉宽低至12fs的脉冲5. 测量其它FROG系统无法测量的复杂脉冲 工作原理: 将待测脉冲经分束器分为两束，一束作为探测光，另一束作为光开关，并且让作为开关的光射入到高速、高精度光延迟线，引入一个时间延迟τ，然后再让两束光聚焦在一块SHG二倍频晶体，产生相互作用。脉冲重叠区域的SHG信号光谱通过海洋光学USB4000或USB2000+光谱仪进行展开，用CCD进行测量，得到相互作用的光强随频率和时间延迟变化的空间图形，称为FROG迹线。利用脉冲迭代算法从FROG迹线中恢复脉冲的振幅和相位分布。 产品特点: 1. 实时测量系统，使用高度精确，高速的机械光学延迟，比其它光延迟线快至少10倍。2.因为集成一个16位数据接收器，具有比同类产品更高的动态范围，可以测量高度规整的脉冲和高阶相位畸变。3. F脉冲测量系统可以通过灵活更换SHG晶体和光谱仪测量波长范围450nm-3400nm和12fs到数十皮秒脉宽范围的脉冲。4.可同时测量脉冲长度与带宽。4.和配套的软件VideoFROGScan，使用的专利PCGP算法还原脉冲，这一算法是SHG FROG还原的最稳健算法，并且VideoFROGScan包含所有实时脉冲测量和分析所需的特性。 VideoFROG Scan Software 多功能数据采集，处理和显示软件。 超快激光脉冲测量系统中，软件和硬件装置同样重要。VideoFROG Scan是最佳的实时FROG脉冲测量软件,包含所有实时脉冲测量和分析所需的特性，允许FROG Scan直接接入到用户的实验中。VideoFROGscan虽然操作简单，但包含极其强大的功能，能够很容易测量复杂脉冲。 软件特色： 1.VideoFROG Scan软件不仅控制硬件，还为用户独特的应用提供信息摘要，使用户能够很容易的控制和评估测量过程。VideoFROG scan的概括面板提供了这些特性的显示，并且便捷的选项界面能够获得更多信息。通过鼠标点击显示主菜单上的提示框和帮助说明，将提供每一个您想知道的条目。2.使用弹出窗口，可以很容易聚焦到最相关问题的信息。利用这一功能您也可以定制显示布局。您可以将它们移动到前面，重新排列，调整大小和最小化。平面图向您提供完整的控制结果显示的方式。3.软件可以显示瞬时脉冲波形的同时显示脉冲频谱，您还可以还可以聚焦在监视的瞬时光谱中感兴趣的区域，或仅简单的监控脉冲统计。4.选项式用户界面使软件操纵简单明了。您可以更容易注意到当前您所需的信息，不同的部分为您提供您的激光器工作的独特视图，无论是脉宽，脉冲波形，谱形，谱宽，视场，或FROG迹线。指针放在显示脉冲上可以得到监视运行中的数据分析。缩放控制可以让您选择需要看到布局中任意区域。 相关产品 FROG 超短脉冲测量分析仪 光延迟线 自相关仪 自相关仪

OCI-L是一款高精度光纤长度测量仪，可精确测量光学链路的长度。该产品长度测量范围为100m, 可扩展至200m，长度测量精度达到毫米量级。支持系统定制，可为客户提供全方位的解决方案。产品特点测量精度：1mm测量速度快，使用方便支持定制更大测量范围 主要应用光纤长度、时延测量光纤干涉仪臂差测量产品参数类别 指标单位测量范围1 100200m测量精度21mm波段C band-单次测量时间1s输入电压AC 220/110V；DC 12V-主机功率60W通讯接口USB-光纤接口FC/APC-尺寸W 345 * D 390 * H 165mm重量7.5kg储藏温度0~50℃工作温度10~40℃工作湿度10~90%RH备注：1.100m为基础款测量范围，200m为可选测量范围；2.在温度恒定的测量条件下获得。

国产测长机工业制造业长度尺寸测量仪SJ5100是一种常用于工业制造业的精密测量设备，可以用来测量各种物体的长度。其原理是利用光栅的干涉作用，通过光电检测器将光信号转化为电信号，并经过计算得出被测物体的尺寸。具有高精度、高速度、非接触式测量等优点。仪器主要功能1、标配功能：检测量块&块规：（0.1~300mm）；光滑环规：φ5~φ200mm（壁厚≤50 mm，高度≤50mm）、光滑塞规：φ1~φ220mm；螺纹环规：M5~M200（螺距0.8~4mm）螺纹塞规：M1~M220（螺距0.25~5.5mm）；光滑卡规：内卡5~200mm，外卡1~300mm千分尺校对杆：25~300mm；塞尺：0.02~1mm针规：φ0.1~φ10mm三针：0.118~6.585mm；两点内径千分尺：25~300mm；2、可选配功能：小型光滑环规：φ0.8~φ5mm；螺纹环规：规格M3~M4（螺距0.5~0.7mm）；光滑锥度环规：φ5~φ200mm（厚度≤50mm）；光滑锥度塞规：φ5~φ60mm（长度10~100mm）；φ60~φ200mm（长度≤50mm）；螺纹锥度环规：M5~M200mm（厚度≤50mm）；螺纹锥度塞规：M5~M60mm（长度10~100mm）；M60~M200mm（长度≤50mm）；锯齿螺纹、梯形螺纹：M3~M400（螺距0.5~6mm）；花键环塞规/花键及标准齿轮（跨棒距测量）：内φ10~φ200mm，外φ5~φ200mm，模数0.8~6mm；外径千分尺示值误差手动校准：25~300mm；数显及游标卡尺示值误差手动校准：75~300mm；深度千分尺示值误差手动校准：0~25、25~50、50~75mm；三爪内径千分尺手动校准：φ6~φ200mm；表类（百分表、千分表、杠杆表手动校准）；数显半径规手动校准：R5~R700mm；轴承内外圈锥度、沟槽底径内外径及沟槽宽度、精密零部件的长度尺寸，内外径尺寸测量；SJ5100国产测长机工业制造业长度尺寸测量仪测量精度通常可达到亚微米级别，可以满足大多数工业生产对尺寸精度的要求。整个测量过程不超过3分钟，结束后自动生成结果及记录报表。性能特点1. 全程直接测量：SJ5100系列高精度光栅测长机采用进口高精度长玻璃光栅尺作为长度方向定位，可进行高精度全行程直接测量。2. 高精度、高稳定性：1)高精度光栅测量系统，分辨力达到0.01μm，测量精度高；2)精密研磨导轨系统导轨直线度高，材料耐磨性好、保证系统高精度稳定可靠的工作；3)进口特殊材料制作的高刚性、无变形测杆，保证测试数据的高精度真实采集；4)采用大理石基座，通过有限元分析优化仪器基座结构保障几十年稳定不变形，高刚性大理石底座结构保证了仪器在头座及工作台在测量移动过程中几乎不产生变形，仪器受外界震动干扰小，保证仪器的长期稳定可靠性；5)采用紧凑型摩擦驱动结构，移动摩擦驱动力小，保证了头座移动过程中的稳定性。3. 双向恒测力：1) 特殊传感器双向恒测力系统，减小了测力对测量结果的影响，保证了高的系统测量精度；2) 测力较大范围的连续可调；3) 非砝码加载，测力传感器原理避免了仪器台面不水平及周围环境振动带来的测力误差。4. 智能化管理与检测软件系统：1)仪器操作界面友好，操作者很容易基本掌握仪器操作，使用十分简便；2)十多年积累的实用软件设计经验，向客户提供简洁、实用、便捷的操作体验；3)集成众多长度标准、规程，功能强大、自动处理数据、打印各种格式的检测报告，自动显示、打印、保存、查询检测记录；4)测量范围广，可满足绝大多数类型的量规、量块等长度参数测量；5)软件配备快速找拐点指示功能，方便客户快速便携地找到被测件的拐点；6)纯中文操作软件系统，更好的为国内用户服务；7)打印格式正规、美观。检定数据可存档，或集中打印，不占用检测操作时间；8)本仪器采用计算机大容量数据库储存，可自动记录保存所有检测结果。5. 方便快捷的仪器操作体验：1)测帽无需调节，高精度测帽加工保障测量精度，直接安装即可使用；2)螺纹塞规测量三针带支板，配合仪器测帽可快速的进行螺纹塞规的中径测量；3)支持客户使用模糊搜索量规标准，并支持用户特殊规格量规自动计算公差带。6. 高性能五轴工作台：1)X，Y，Z三轴采用高性能交叉滚子导轨：摩擦力小，稳定性好，承载高；2)Y轴平移、倾斜、水平旋转设计了高调节细度的结构，方便客户更好地找到三个轴的拐点；3)Z轴及Y轴可配置数显表，可将数据传输到电脑，可用于锥度量规测量及螺纹螺距观察。7. 高性能内尺寸测量装置：国产测长机工业制造业长度尺寸测量仪配置高性能环规内测装置，可测量小M3螺纹环规（根据选配测针），同时可完成小（φ0.8mm）光滑环规检测（选配测针）；测量力为电子测力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N，由软件选择测力大小（可根据客户需求定制更小测力）。应用案例机械制造：在机械制造过程中，可以用来测量各种零件的尺寸和形状，以确保产品的质量和精度。半导体制造：在半导体制造行业中，可以用来测量芯片线宽和间距等微小尺寸参数。光学加工：在光学加工领域中，可以用来测量光学元件的表面形貌和厚度等参数。航空航天：在航空航天领域中，可以用来测量航空器的外形和尺寸，以及检测零部件之间的配合精度。部分技术规格型号SJ5100-Prec300（精密测量型）测量范围外尺寸直接测量：0~340mm内尺寸比较测量：5~200mm（配置比较测量环规）外尺寸示值误差≤±（0.2+L/1000）μm，其中：L为被测长度，单位：mm内尺寸重复性(2S或2δ)≤0.1μm内尺寸重复性(2S或2δ)≤0.2μm（使用测钩）≤0.3μm（使用内测装置）分辨力0.01μm（可选0.1μm、1μm）测力内测装置传感器测力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N、主测力1~10N手动连续可调测量直径环规200mm（标配） 、塞规250mm（标配）仪器尺寸1400*400*450mm仪器重量150kg五轴工作台型号ST-30.1(标配)Z轴0~50mmY轴±25mX轴浮动±10mmZ轴旋转±3°Y轴摆动±3°负载50kg台面尺寸350*25mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

仪器简介：隆力德专业提供WTW电导率测量仪，您可以了解到电导率测量仪的价格、应用场合，电导率测量仪的测量原理，测量方法和步骤等等。多种型号的电导率测量仪供您选择： 1、PROFILINE &ndash 便携式电导率测量仪：Cond3110 / Cond3210 / Cond3310 2、袖珍型电导率测量仪：Vario Cond 3、深水专用电导率测量仪：Cond197i 仪器介绍： 一、PROFILINE &ndash 便携式电导率测量仪： Cond3110 / Cond3210 / Cond3310 电导率测量仪Cond3310 突出特点： 1. 间隔控制记录功能，可容纳多达5000个记录：室外长期记录的完美化身 2. 背光式图表显示，可在黑暗环境下读取数据 3. 简明的文本菜单保证了操作的舒适便利 4. 仪表外壳极其牢固，硅胶小键盘防水且易清洁 5. 触感反馈型按键，令操作准确无误 6. 内置校正计时器，确保数据结果稳定可靠 7. IP66/IP67适于任何天气条件下的户外使用 8. 1-2-3-5点校正，自动识别16种缓冲液（DIN和NIST） 9. 校正完后，屏幕上会自动显示电极状态 10. 安全的测试 &ndash ATC 自动温度补偿 11.电池寿命长达1000小时，背景光常亮时100小时 12.新的连续测试控制（CMC）功能保证所有读数的可靠性 当测量值处在校正范围时，显示器上会给出指示； 超出时，显示器会发出警报。 13.防水USB接口，实现个人电脑和掌上电脑的快速数据传输，适合室外使用 14.优异的技术指标，量程最大可达1000mS/cm 二、袖珍型电导率测量仪：Vario Cond Vario系列仪器为WTW开发出来的袖珍型电导率测量仪，它结构小巧，采用人体工学设计，内置实时时钟，具定时器功能，可为实验室工作人员提供快速而又精确的测试。操作简单，采用触摸屏操作，目前已成功开发出pH和电导率测定仪，型号分别为Vario pH和Vario Cond。 电导率测量仪特性： 1.价格经济实惠 2.人体工学设计 结构小巧，轻便，坚固的手持式防滑橡胶外壳。 3.节能 内置定时器和实时时钟，Vario具有节能环保功能。一节1.5V（AA）电池可连续操作1500小时，在待机模式10分钟后仪器会自动关机。电池更换简单，甚至比更换手电筒电池还容易！ 4.可靠 可接WTW常规pH玻璃电极，电极的玻璃头有锥型塑料帽保护，可防止电极脱落和干涸。 5. 触摸屏操作 您会惊奇地发现：Vario电导率测量仪竟然没有按键！取而代之的是触摸屏：所有功能启动和设置只需一只手，要做的工作只是用您的指尖&mdash 触摸。电极浸入溶液便自动开始测试，甚至是点滴溶液也能测试自如，相当于一台传统的手提测试仪。但更让人惊奇的是整个屏幕显示可以倒转180度，这意味着客户可以任意角度握着仪表进行测试！多功能的大屏幕可以同时显示测试值、温度和其它已启动的特殊功能。 三、深水专用 便携式电导率测量仪：Cond197i 优点： 牢固耐用 完全防水IP67、防震效果好 携带方便 野外便携和实验室两用型 性能可靠 适于深水检测，最大深度可达100米 功能： 带轻便手提把手 可接专用沉水组件TA197 多功能,大尺寸LCD显示 内置记录器,可记录多达800组数据 自动读数,使测试非常准确可靠,再现性好 自动校正,MultiCal多种校正方法可选 自动温度补偿 ◆结构牢固 ProfiLine 197i电导率测量仪就是结构非常牢固，防震效果极好，完全防水，防护等级IP67，电缆可达100米，适于深水测试。用充电电池供电，寿命长，可达1500小时。仪器配有手提把手和腕带，以及电极保护套筒，重量非常轻，只有1.5Kg，是野外测试的专用仪器。此外，多功能显示屏、800组数据存贮容量以及RS232输出接口使操作界面更加友好。 ◆沉水组件，可达100米深度 沉水组件TA197内置温度传感器，电缆长度可达100米，带IP67防水接头，不锈钢护套以及螺纹保护头罩，可承受10巴的压力。 ◆电导率测量仪Cond197i 应用场合： 污水处理厂水质分析 环境监测站BOD分析及野外应急监测 河流/湖泊/地表水/地下水水质分析技术参数：Cond 3310 电导率测量仪电导率 0.0 &hellip 1000 mS/cm ± 0.5 % 温度补偿 无, nlF, 0.000 &hellip 10.00 %/K 校正存储 可查达5个校正数值 显示屏 LCD图表显示屏，背光式 数据存储 手动 200/自动5000 各型号技术参数详情，欢迎至电我司了解，厦门总部服务热线0592-5164321主要特点：多款WTW便携式电导率仪，不同型号不同特点，详见仪器介绍

MP系列手持式短波辐射测量仪Apogee出品的MP系列手持式短波辐射测量仪连接APOGEE生产的硅光辐射表，用于测量到达地球表面的短波辐射，具备余弦修正、自标定功能，其测量单位为J/m2s或W/m2。它具备数据记录功能，能够记录99个点的数据。在自动模式下，测量仪会每30秒测量一次，并每30分钟存储一次测量数据的平均值，同时还能对每日数据进行合计。显示器可以及时显示更新实时数据。通过AC-100数据线，您能够轻松将测量仪中存储的数据导入计算机。该系列测量仪包括MP-100和MP-200两种型号。主要性能参数：型号MP-100MP-200辐射表参数余弦响应45°天顶角 ±1%； 75天顶角 ±5%绝对精度±5%重复性±1%输出/入全日光：220mv（1100 W/m2) 线形输出范围：0~350mv（0~1750w/m2） 灵敏度：客户标定 接近5w/m2/mv 输入电源：无，自充电长期漂移3%/年操作环境-40~55℃，相对湿度：0~100%，户外长期使用，防水电缆无2m线缆尺寸直径2.4cm，高2.75 cm 存储手动或自动存储，可30秒测量一次, 30分钟储存一次，最多可记录99点的数据量程：0~1999 W/m2 电源标准3V电池显示屏4.2cm×2.8cm

NDVI测量仪可在近地面对冠层归一化植被指数（NDVI）进行长期定位监测。NDVI对绿色植被反应敏感，常被用于研究植被的生长状态。NDVI测量仪传感器制作工艺考究、坚固耐用，可在各种恶劣天气条件下正常工作；其体积小巧，安装简易方便；性价比高，可在多处布点。 工作原理NDVI是由冠层对近红外波长（810nm）的反射率与红光波长（650nm）的反射率之差比上两者之和计算得到，因此需同时安装向上和向下两个传感器来监测冠层对这两个波长的反射率。向上的NDVI传感器检测810nm和650nm的光照强度。测量结果代表了来自天空的入射光强度。传感器经过余弦校正，具有半球视场。安装时须保证视场内只有天空，没有冠层和其他地物。NDVI传感器也是检测810nm和650nm的光照强度。测量结果代表了来自冠层的反射光强度。传感器的视野范围被限定在30°以内，这种限定使得传感器可以准确朝向待测冠层。产品特点耗电量低性价比高支持SDI-12通讯协议自动测量、收集数据，校准信息保存在传感器内环氧树脂密封工艺，防水，耐受恶劣天气，可在野外长期布设若使用ZL6数据采集器，可通过互联网终端实现远程数据查看和下载应用领域单株植物或群落冠层的归一化植被指数（NDVI）动态监测监测植被返青、衰老和受胁迫状态冠层有效辐射截获量冠层生长物候监测冠层叶面积指数冠层生物量积累技术参数校准系数（灵敏度的倒数）逐个传感器校准，数据存储在固件中校准不确定性± 5 %波长范围红光检测器650 nm ± 5 nm；半峰宽（FWHM）65 nm；NIR检测器 810 nm ± 5 nm；半峰宽（FWHM）65 nm测量范围2倍全日照测量重复性 1 %长期漂移每年 2 %响应时间 0.6 s视场范围向上180°，向下30°方向（余弦）响应± 2 % @ 45°, ± 5 % @ 75° 天顶角温度响应 0.1 % 每 ℃输出SDI-12供电5.5 ~ 24 V DC外壳带有丙烯酸散射窗的阳极铝IP 防护IP68工作环境-40 ~ 70 ℃ 0 ~ 100 % RH尺寸S2-411-SS（向上）：直径 30.5 mm, 高37 mmS2-412-SS（向下）：直径 30.5 mm, 高34.5 m重量（包含5米缆线）140 g缆线5米屏蔽双绞线；TPR护套和不锈钢接口兼容数采（须另购）METER EM60 系列, ZL6 系列, ZSC, ProCheck, Campbell Scientific订购指南传感器： S2-411-SS向上半球视野传感器，S2-412-SS向下视场光阑传感器数采：ZL6数据采集器。另有PRI光化学反射指数传感器可选购。相关产品SRS-PRI 光化学反射指数测量仪产地与厂家：美国METER公司

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域 航空工业 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制主要特点 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 测量标准和60°入射角的定向热发射比 计算半球热发射比技术参数ET100 便携式红外发射率测量仪符合标准ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比波段6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏PDA图文操作界面 可同时提供十种设备运行信息 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便应 用 为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪测量参数定向半球反射比 (DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数发射率波段2个波段：3~5、8~12μm入射角20°法线入射样品表面：任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR 源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境： -25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。 ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域n 航空工业n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制主要特点n 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数n NIST标准n 快速、便携n 电池操作非常方便n 测量标准和60°入射角的定向热发射比n 计算半球热发射比技术参数ET100 便携式红外发射率测量仪符合标准ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比波段6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

广东正业是生产影像测量仪厂家，所生产的影像测量仪包括：二次元影像测量仪以及三次元影像测量仪。其中二次元影像测量仪中的手动影像测量仪于以二维测量为主，包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等。二次元影像测量仪|手动影像测量仪用途 ： 仪器适用于以二维测量为主，包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等，增加探针可实现三维测量。二次元影像测量仪|手动影像测量仪特征 ： 1、采用天然花岗石底坐和立柱，稳定性强，硬度高，不易变形；2、采用高精度滚动导轨，提高机器稳定性，长时间工作也能保持精度；3、工作台使用无牙光杆和磨擦传动；4、环形LED冷光源，使用寿命长，测量时不会产生热变形；5、光学系统品质优良，影像明亮清晰，图像还原性好；6、三轴采用日本松下伺服电机传动。手动影像测量仪|二次元影像测量仪技术参数 ： 手动影像测量仪2010测量行程(X.Y.Z)：200× 100× 150mm玻璃载物台承重：25KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X(手动型2010 3020 4030) 0.7X&mdash 5.0X（手动型5040）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）光栅尺分辨率：0.001mmX、Y线性精度：3+L/200&mu m (L为被测长度)重复测量精度：&le ± 0.003mm应用软件：ASIDA VMM3.0D测量软件（简、繁、英） 手动影像测量仪3020测量行程(X.Y.Z)：300× 200× 150mm玻璃载物台承重：25KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X(手动型2010 3020 4030) 0.7X&mdash 5.0X（手动型5040）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）光栅尺分辨率：0.001mmX、Y线性精度：3+L/200&mu m (L为被测长度)重复测量精度：&le ± 0.003mm应用软件：ASIDA VMM3.0D测量软件（简、繁、英） 手动影像测量仪4030测量行程(X.Y.Z)：400× 300× 200mm玻璃载物台承重：25KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X(手动型2010 3020 4030) 0.7X&mdash 5.0X（手动型5040）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）光栅尺分辨率：0.001mmX、Y线性精度：3+L/200&mu m (L为被测长度)重复测量精度：&le ± 0.003mm应用软件：ASIDA VMM3.0D测量软件（简、繁、英） 手动影像测量仪5040测量行程(X.Y.Z)：500× 400× 200mm玻璃载物台承重：25KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X(手动型2010 3020 4030) 0.7X&mdash 5.0X（手动型5040）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）光栅尺分辨率：0.001mmX、Y线性精度：3+L/200&mu m (L为被测长度)重复测量精度：&le ± 0.003mm应用软件：ASIDA VMM3.0D测量软件（简、繁、英）

广东正业是生产影像测量仪厂家，所生产的影像测量仪包括：二次元影像测量仪以及三次元影像测量仪。其中二次元影像测量仪产品包括龙门式影像测量仪、全自动影像测量仪、手动影像测量仪等。二次元影像测量仪用于以二维测量为主，包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等，增加探针可实现三维测量，可应用于应用于机械、电子、仪表、塑料、科研、品管等行业，可从视频捕捉卡上捕捉图像，快速测量待测物之尺寸，自动标注尺寸，操作简单方便。我司生产的二次元影像测量仪可根据客户的需要定制仪器制作，下面以二次元影像测量仪中的龙门式影像测量仪为主要介绍龙门式影像测量仪|二次元影像测量仪这款产品的特色所在：1、采用天然花岗石底坐和立柱，稳定性强，硬度高，不易变形；2、X、Y向采用空气轴承，花岗石导向，可长时间工作也保证了机械系统的精确稳定；3、工作台使用无牙光杆和磨擦传动；4、环形LED冷光源，使用寿命长，测量时不会产生热变形；5.光学系统品质优良，影像明亮清晰，图像还原性好；6、三轴采用日本松下伺服电机传动。 龙门式影像测量仪|二次元影像测量仪600*500技术参数测量行程：600× 500× 150 玻璃载物尺寸及承重：650× 550mm；30KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X物镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）龙门式结构，机台底坐和立柱材料：天然花岗石光栅尺分辨率：&le 0.001mm线性精度：3+L/200（L为被测长度）重复测量精度：&le ± 0.003mm整机尺寸（mm）：1300× 1400× 1800龙门式影像测量仪|二次元影像测量仪700*600技术参数测量行程：700× 600× 150玻璃载物尺寸及承重：750× 650 mm；30KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X物镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）龙门式结构，机台底坐和立柱材料：天然花岗石光栅尺分辨率：&le 0.001mm线性精度：3+L/200（L为被测长度）重复测量精度：&le ± 0.003mm整机尺寸（mm）：1400× 1500× 1800龙门式影像测量仪|二次元影像测量仪900*600技术参数测量行程：900× 600× 150玻璃载物尺寸及承重：950× 650mm；30KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X物镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）龙门式结构，机台底坐和立柱材料：天然花岗石光栅尺分辨率：&le 0.001mm线性精度：3+L/200（L为被测长度）重复测量精度：&le ± 0.003mm整机尺寸（mm）：1450× 1700× 1800相关类产品：龙门式影像测量仪、全自动影像测量仪、手动影像测量仪

EQ15土壤水势测量仪名称：土壤水势测量仪 型号：EQ15 产地：德国用途：EQ15土壤水势测量仪是一种全新的土壤水势测量仪器。水势是在等温条件下，从土壤中提取单位水所需要的能量，单位是巴 (1 bar=100kPa)。在土壤中，水势是决定水流方向和速度的主要因素，它是判断土壤水分对植物有效性的标志。不同土壤的水势可以直接相互比较。准确测定水势，在研究土壤水分的流动，植物的抗旱生理，自动控制节水灌溉，土壤湿度监测等方面有十分重要的意义。原理：EQ15平衡式土壤水势传感器由两部分组成：平衡传感器和含水量测量器。平衡传感器由一种特殊材料组成，这种材料具有两个特点：很稳定的含水量和水势之间的关系，高度透水性。 良好的透水性保证其水势和被测量的土壤同步变化。含水量测量器随时测量平衡传感器中的含水量，因含水量和水势之间的关系已知，测得含水量即测得土壤水势。含水量测量器被固定在平衡传感器内，探头周围的环境量稳定不变，从而避免了测量含水量时常见的土壤密度，石头，根系的影响，保证水势测量的精确度。 与传统土壤水势测量仪的比较：目前市场上可见的测量水势的仪器和方法从精度，测量范围，稳定性方面都有不同缺陷，不能完全满足实地使用的要求。传统张力计测量范围小(0~-0.8bar)， 只可以在湿润土壤中使用，而且易损坏；干湿球湿度计受温度变化影响大，精度低，不宜户外使用；石膏块精度低，稳定性低，受土壤pH值影响大。 平衡式土壤水势张力仪具有不可替代的优点：测量范围大，包括了植物可生存的全部范围；精度高，误差小于5kPa；使用简单，无需任何保养和维修措施，完全适于户外长期使用；测量精度不受土壤理化性质的影响 (碱性土壤除外)；可用数采进行多探头连接。 技术规格：平衡式土壤水势传感器测量范围0~-1500 kPa（0~-15 bar）测量精度±10 kPa（0~-100 kPa），读数10%（-100~-1500 kPa）适用温度工作温度0~40℃，存放温度-30 ~ +70℃，可留置于冻土中适用土壤非盐性土壤（土壤溶液的电导率1 mS/cm）电源5~15VDC，每次测量消耗23mA×5秒输出模拟式输出100~800mV尺寸17×4×2厘米，其中须插入土壤的为前端的7.5厘米重量350克（不含电缆）手持读数表显示液晶显示屏上直接显示当前水势值键盘7个按键电源3节AA碱性电池供电工作温度-20~+70℃尺寸127×83×42毫米外壳材质ABS工程塑料 产地：德国点将科技-心系点滴，致力将来！ ： (上海) (北京) (昆明) (合肥) Email: (上海) (北京) (昆明) (合肥) 扫描点将科技官方微信，获取更多服务：

DR树干半径生长变化测量仪一、产品简介DR树干半径生长传感器用两个特殊螺丝固定在树干的心材中，心材以外厚度的变化等于半径生长量，这种设置可确保长期，高稳定性的测量。测量仪分为3个不同版本，双螺丝固定的DR1和DR2和单螺丝固定的DR3，DR2更适合生长较快的树木，DR3还可以在同一个螺丝固定两个传感器分别测量树木表皮和木质部的不同生长量变化曲线。二、产品特点&bull 适合于大树（直径5厘米）&bull 对测点压力极小&bull 可抗拒风，雪，下跌小树枝和小果实的影响，保证稳定测量&bull 非常适合野外长期无人监护的测量&bull 耗电少&bull 有15年不同地带成功使用的经验（极地地区，热带，高山，沙漠）&bull 分辨率高达0.2微米（取决于数采的分辨率）&bull 探头温度补偿；三、产品参数DR1DR2DR3适用于树杆直径8厘米8厘米5厘米传感器测量范围11毫米25.4毫米11毫米复调测量范围无限无限无限准确度±1.5μm（取决于使用的数采）±3.3μm（取决于使用的数采）±1.5μm（取决于使用的数采）分辨率0.04％读数+4.4μm（取决于使用的数采）0.04％读数+10μm（取决于使用的数采）0.04％读数+4.4μm（取决于使用的数采）线性系数1%0.7%1%传感器的温度系数0.2μm/度0.2μm/度0.2μm/度传感器重量13g33g13g工作温度-25～70℃-25～70℃-25～70℃工作湿度0～100％0～100％0～100％四、产地：德国

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500-°K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点n 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数n 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectancen 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能n 液晶触摸屏PDA图文操作界面n 可同时提供十种设备运行信息n NIST标准n 快速、便携n 电池操作非常方便应 用n 为红外相机提供发射率参数n 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪测量参数定向半球反射比 (DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数发射率波段2个波段：3~5、8~12μm入射角20°法线入射样品表面：任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR 源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境： -25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

广东正业是生产影像测量仪厂家，所生产的影像测量仪包括：二次元影像测量仪以及三次元影像测量仪。其中二次元影像测量仪中的全自动影像测量仪于以二维测量为主，包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等。全自动影像测量仪用途： 仪器适用于以二维测量为主，包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等，增加探针可实现三维测量。全自动影像测量仪特征 1、采用天然花岗石底坐和立柱，稳定性强，硬度高，不易变形；2、采用高精度滚动导轨，提高机器稳定性，长时间工作也能保持精度；3、工作台使用无牙光杆和磨擦传动；4、环形LED冷光源，使用寿命长，测量时不会产生热变形；5、光学系统品质优良，影像明亮清晰，图像还原性好；6、三轴采用日本松下伺服电机传动。全自动影像测量仪技术参数 项 目 自动型2010 自动型3020 自动型4030 自动型5040 测量行程(X.Y.Z) 200× 100× 150mm 300× 200× 150 mm 400× 300× 200 mm 500× 400× 300 mm 大理石台面 506× 326 mm 玻璃台面 360× 260 mm 玻璃载物台承重 25KG 25KG 30KG 30KG 物镜工作距离 90mm 物镜放大倍率 0.7X&mdash 4.5X 总放大倍率 25X&mdash 225X 机台底坐和立柱材料 天然花岗石 X、Y线性精度 3+L/200&mu m (L为被测长度) 光栅尺分辨率 0.001mm 重复测量精度 &le ± 0.003mm 整机尺寸（mm） 650× 485× 939 820× 580× 1100 710× 930× 1000 1000× 1100× 1180 整机重量 约 150KG~650KG 应用软件 ASIDA VMA3.00.01测量软件（简、繁、英） 数据输出格式 DXF、EXCEL、WORD 系统平台 WindowsXP Pro PC要求 P4 2.4G处理器， 512M内存，64M独立显卡，80G硬盘 电源要求 室内220伏特电源即可，用户可自备1000W功率的ups 电源

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域n 航空工业 n 天文望远镜检查n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制仪器特点n 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射n NIST标准n 快速、便携n PDA触摸屏操作，内置SD卡n 计算半球反射比技术参数410-Solar 便携式太阳能反射率仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法20°入射角的积分总反射比输出参数总反射，漫反射，和20°角的镜面反射波段7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm入射角20°法线入射角样品表面：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面BEAM SPOT SIZE0.250”直径，20°入射角BEAM ANGLE3°半锥角测量时间10秒/次；90秒预热VIS-NIR源钨灯测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

光化学反射指数(PRI)测量仪可在近地面对植物冠层光化学反射指数（PRI）进行长期定位监测，是研究植物冠层水平叶黄素循环的理想手段。PRI测量仪制作工艺考究、坚固耐用，可在各种恶劣天气条件下正常工作；其体积小巧，安装简易方便；性价比高，适合多处布点。 工作原理光化学反射指数（PRI）是由冠层对532nm的反射率与570nm的反射率之差比上两者之和计算得到，因此需同时安装向上和向下两个传感器来计算冠层对这两个波长的反射率。向上的PRI传感器检测532nm和570nm的光照强度。测量结果代表了来自天空的入射光强度。传感器经过了余弦校正，具有半球视场。安装时须保证视场内只有天空，没有冠层和其他地物。向下的PRI传感器也是检测532nm和570nm的光照强度。测量结果代表了来自冠层的反射光强度。传感器的视野范围被限定在35°以内，这种限定使得传感器可以准确朝向待测冠层。产品特点耗电量低性价比高支持SDI-12通讯协议自动测量、收集数据，校准信息保存在传感器内环氧树脂密封工艺，防水，耐受恶劣天气，可在野外长期布设若使用ZL6数据采集器，可通过互联网终端实现远程数据查看和下载应用领域研究植物冠层光能利用效率估算生态系统总初级生产力研究碳通量的空间分布研究冠层干旱、疾病或其他胁迫 技术参数校准系数（灵敏度的倒数）逐个传感器校准，数据存储在固件中校准不确定性± 5 %波长范围绿光检测器 532 nm，半峰宽（FWHM）10 nm黄光检测器 570 nm，半峰宽（FWHM）10 nm测量范围2倍全日照测量重复性 1 %长期漂移每年 2 %响应时间 0.6 s视场范围S2-421-SS (向上): 180°S2-422-SS (向下): 35°方向（余弦）响应± 2 % @ 45°, ± 5 % @ 75° 天顶角温度响应 0.1 % 每 ℃输出SDI-12供电5.5 ~ 24 V DC外壳带有丙烯酸散射盖的阳极铝IP防护IP68工作环境-40 ~ 70 ℃ 0 ~ 100 % RH尺寸S2-421-SS (向上): 直径30.5 mm, 高37 mm；S2-422-SS (向下): 直径23.5 mm, 高43 mm重量（包含5米缆线）S2-421-SS (向上): 140 g；S2-422-SS (向下): 110 g缆线5米屏蔽双绞线；TPR护套（高耐水性、高紫外线稳定性、在寒冷条件下的灵活性）；引线；不锈钢（316），ZL6立体声接口兼容数采（须另购）METER EM60 系列, ZL6 系列, ZSC, ProCheck, Campbell Scientific订购指南传感器：S2-421-SS向上半球视野传感器，S2-422-SS向下视场光阑传感器数采：ZL6数据采集器。另有归一化植被指数(NDVI)传感器可选购。相关产品SRS-NDVI 归一化植被指数测量仪产地与厂家：美国METER公司

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。

一、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪产品简介：小麦育种研究中，小麦表型参数至关重要，小麦表型检测仪可用于小麦株高、夹角、基粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标的测量，可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。这些表型参数在小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。软件集合多方面功能为一体，一站式解决小麦的表型参数测量问题。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的小麦研究。二、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪应用广泛：1、小麦亩穗数检测合适时期： 小麦抽穗期、开花期、灌浆期、成熟前期的小麦。2、麦穗形态测量的时期：室内考种时期：3、小麦夹角测量时期：抽穗期、开花期、灌浆期、乳熟期。4、千粒重测量时期： 室内考种时期。5、小麦株高测量时期： 各个生育时期。三、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪技术参数：测量范围和误差：1、小麦亩穗数测量误差： ≤±5%。2、麦穗形态测量范围： 5——20cm。穗长误差： ±2%。小穗数误差： ≤ 3个。3、小麦夹角测量范围： 0-180°。作物粗： 0-5.2cm。夹角测量误差： +5%。4、作物茎粗测量误差： ±1%。5、千粒重测量误差： ±2%。6、株高测量范围： 0.1-1.1m。测量误差： ±1%。1.1 小麦亩穗数测量仪1.1简介小麦亩穗数测量仪也称小麦亩穗数测量系统，采用图像识别技术、深度学习的方法获取数据，可多点快速取样，数据批量分析，且数据互联互通。可以测量小麦的亩穗数、理论产量、种子数量和千粒重指标，为小麦的品种筛选、小麦产量预测、产量基因定位和功能解析发挥着至关重要的作用。小麦产量是由单位面积上的穗数、每穗数(每颖花数)和粒重三个基本因素构成，穗数是小麦产量重要构成要素之一，快速、准确地获取小麦穗数和千粒重对智能测产意义重大。1.2外形尺寸1、小麦亩穗数740mm*740*(620——1500)mm2、标定杆可上下伸缩调节高度3、背光板尺寸： 47cm*35cm*0.8cm4、图像分辨率：1600*7205、摄像头：1300W像素1.3测量误差1、小麦亩穗数误差±5%。2、千粒重误差±2%，修正后可达100%。1.4适用范围1、麦穗检测合适时期：小麦灌浆期至成熟前期的小麦2、千粒重可测量小麦种子的数量和千粒重2.小麦株高测量仪2.2.1简介小麦株高测量仪用于测量小麦的株高。在小麦不同时期测量株高的标准不同。小麦株高一般是指植株基部至主茎顶部即主茎生长点之间的距离。幼苗期：（1）伪茎高度：植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部（即叶耳处）的距离为伪茎高度（或长度）；（2）植株全长：植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。2.苗期：伪茎高度：植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部（即叶耳处）的距离为伪茎高度（或长度）；真茎高度：各节间的总长为真茎高度（或长度）；（3）植株全长：植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。3.拔节期：（1）伪茎高度：植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部（即叶耳处）的距离为伪茎高度（或长度）；（2）真茎高度：各节间的总长为真茎高度（或长度）；（3）植株全长：植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。4.灌浆期：从植株基部（或分蘖节处）量到穗顶（不包括芒）的距离则为株高。2.2.2技术参数测量杆高度：375mm+375mm+350mm测量精度： 1mm测量范围： 10——1100mm外壳材质： 铝合金软件系统： Android2.2.3小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪功能特点1、仪器带有数据管理云平台和APP,可通过电脑网页或手机查看数据。由测量杆，手机，识别APP软件组成。2、手机对准测量杆上的刻度，拍照自动识别刻度数据实时传输到手机。3、测量杆带有水平仪，使测量过程更规范，更准确。4、完善识别内容：自动识别结果中显示识别的高度数据，手动录入作物数据（如：品种、生育期等）完善作物信息。首页界面上可显示所有测量结果。5、可根据检测日期，种类，测量人，区组名称进行测量结果查询。6、数据分析管理：分析结果可查看，可将图片和数据excel导出。7、数据上传：自动在wifi/4G网络链接正常下上传至云平台，实现管理、查看、分析数据。平台数据可下载、分析、打印。3.小麦夹角茎粗测量仪3.1仪器简介小麦夹角茎粗测量仪可快速测定和分析小麦夹角、茎粗等作物性状参数，方便开展科学研究和育种分析。也适用于水稻、油菜等作物品种。3.2小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪技术参数1、支撑材料：不锈钢2、支架材料：黑色塑料3、背景材质：白色树脂4、测量范围：作物夹角：0——180°；作物茎粗：0——6cm5、测量误差：作物夹角±1°；作物茎粗：±1mm3.3功能特点1、超轻便手持式设计，方便田间和室内测量使用；2、大屏幕彩色手触摸屏，安卓系统，1300万像素+200万像素双摄；3、测量速度快，拍照3秒即出结果，可先拍照后批量处理；4、手动修正功能强大，手动触摸屏幕进行修正，使结果更准；5、手机和作物之间可以进行自由距离设置，适合多种植物的测量，适应性强；6、压板和转轴柄一体式连接，方便固定作物茎部，减少风吹草动对作物角度拍摄的影响；7、环境适应性广，无需做遮光处理，可以在离体或活体情况下测量作物夹角和茎粗数据；8、自动调节白平衡，不受天气、光照等环境条件的影响；9、数据查看多样化：拍照分析后即可查看测量结果，可在历史记录中查看数据报表，可导成Excel格式，并可分享至微信、QQ和钉钉；10、自动生成数据列表：测量时间，图片，作物夹角、作物茎粗等信息，节约数据整理时间；11、作物夹角适用的作物：水稻、小麦、油菜；作物茎粗对各种作物的茎粗都能测量。4.麦穗形态测量仪4.1仪器简介麦穗形态测量仪也叫麦穗形态测定仪，基于机器视觉技术，利用手机摄像头获取麦穗的图像，利用图像处理算法现场分析，获取麦穗形态参数，AI智能识别利用透视变化矫正图像、光照补偿算法、距离变化等技术，自动计算出小麦的穗长。麦穗形态测量仪一次测定，可同时获得麦穗穗长、小穗数等多项指标，主要应用于应用于小麦育种、小麦遗传研究等领域，4.2技术参数外形尺寸： 460*320*10mmEVA背板尺寸： 420*295*2mm底板材料： 黑色双面细磨砂亚克力测量范围： 5——20cm测量误差： ±2%图像分辨率： 1600*7204.3功能特点1、超轻便手持式设计： 方便室内和室外测量使用 2、大屏幕彩色手触摸屏： 安卓系统，1300万像素 3、多穗同时测量： 麦形态测量仪一次可以测量10个麦穗长度：4、测量速度快： 拍照3秒即出结果，可先拍照后批量处理 5、比例尺自动标定： 对倾斜拍照的图片可自动进行图片矫正，提高测量的精确度。6、适应性广： 无需做遮光处理，可以在离体或活体情况下测量麦穗形态。7、自动调节白平衡： 不受天气、光照等环境条件的影响 8、存储容量大： 50G存储数据,可看历史记录，相对生长速率等。9、数据查看多样化： 拍照分析后即可滑动查看结果，也可在历史记录中查看数据报表，可导成Excel格式10、自动生成数据列表： 测量时间，图片，GPS位置信息，穗长等信息，节约数据整理时间。小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪配置清单1、十字标定钢管 *42、伸缩杆 *13、地钉+转接器 *14、麦穗背板装置 *15、小麦夹角手持装置 *16、小麦株高标定杆 *17、小麦株高伸缩架 *18、可调光背光板 *19、超大彩色屏手机（已安装软件） *110、航空箱 *111、使用说明书 *1

产品概况：DBL60环式自动树木生长测量仪是一款用于测量树木生长的科学仪器。它是一套独立的系统，内置数据采集器和电池。数据采集器内置存储容量可容纳5万条数据记录，电池可持续工作长达5年。通过仪器的红外接口及 Windows操作系统配套的仪器专用软件，就可以完成与设备的通信。整个过程不需要任何编程技术。您只需要将 DBL60安装到树木上并设置好采集间隔即可。 DBL60环式自动树木生长测量仪的分辨率可高达1微米（0.001毫米）。DBL60环式自动树木生长测量仪采用非插入式的测量方式，它利用非延展性的不锈钢环卡在树干上。不锈钢环的热变形系数为1.73×10-6/℃，因此温度的日变化及季节性变化对于DBL60环式自动树木生长测量仪的测量几乎没有影响影响。 产品应用： 树木生长监测 灌溉管理 产品特点： 旋转式传感器 简单化数据读取 直径测量无上限 内置数据采集器 红外数据传输 可选的采集器内部温度采集 非破坏性安装 高分辨率(1μm) IP65工业防护等级，可在野外工作 技术规格：操作条件较小测量直径80 mm较大测量直径无上限延展范围60 mm分辨率0.001 mm线性度全量程的2%存储容量50,000条数据；以一小时为采集频率，可存储4年数据量通信方式红外通信温度测量测量精确度±2℃电源电池类型内置锂电池电池容量每小时采集一次，约可用 5年重量重量450g强度收缩捆缚强度15N到20N尺寸卷尺长度15m卷尺宽度12mm 产地：澳大利亚

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制仪器特点 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射 NIST标准 快速、便携 PDA触摸屏操作，内置SD卡 计算半球反射比技术参数410-Solar 便携式太阳能反射率仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法20°入射角的积分总反射比输出参数总反射，漫反射，和20°角的镜面反射波段7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm入射角20°法线入射角样品表面：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面BEAM SPOT SIZE0.250”直径，20°入射角BEAM ANGLE3°半锥角测量时间10秒/次；90秒预热VIS-NIR源钨灯测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

产品概述土壤水分测量仪又名非接触式土壤水分测量仪、土壤墒情测量仪，是一款以介电常数检测原理为基础的传感器。能够针对不同土层的土壤水分含量进行动态观测，而且是进行快速、准确、全面地观测，让人们实现对土壤的高度感知。土壤水分测量仪采用分层设点的观测结构，地面配置一个温度观测点，地下土壤每隔10cm配置一个土壤温湿测点，观测相对应范围内的土壤温湿度。注：可定制长度1米，多土壤温湿测点设备技术参数◇土壤湿度 测量范围：干土—饱和土 测量精度：±3% 分辨率：0.1%◇土壤温度 测量范围：-30℃～70℃ 测量精度：±0.3℃ 分辨率：0.1℃◇记录间隔：30分～24小时（可调）◇输出方式：4G◇存储容量：云端存储◇数据查看：Web网页系统平台远程查看◇供电方式：太阳能电池板+锂电池组合供电◇防护外壳：U-PVC◇防护等级：IP67◇工作环境：-20℃～85℃◇结构外观：集成管式（柱式）◇尺　　寸：外径6cm　　高78.2cm产品特色◇集成一体化将物联网通讯终端、数据存储和处理单元、高性能电池和主传感器在一个PVC管中集成。◇各项数据“码”上知道通过手机微信扫描设备（测量仪）的二维码，即可快速浏览与查询数据。◇高频探测波发射的高频探测波，可以穿透塑料管感知土壤环境。◇与土壤无直接接触不会受土壤中盐离子的影响，化肥、农药、灌溉等农业活动不会影响测量结果，数据准确。◇避免电极接触土壤传感器的电极没有直接与土壤接触，避免电力对土壤及土壤中的植物的干扰。适用范围土壤水分测量仪凭借着其特有的准确性、实用性、便捷性、耐久性等特点，适用于农事指导、园林灌溉、科学研究、地质灾害、墒情监测等领域。

Gigahertz Optik可见波段和近红外波段LED光通量,颜色测量仪BTS256-LED近红外LED光通量颜色测量仪产品结构:1) 颜色测量仪BTS256-LED 外壳 2) 50mm 带合成涂层的积分球 3) 锥形测量端口 4) 精密卡口安装 5) 测试电路板上的 LED（被测设备） 6) 遥控辅助灯 7) 带 Si 的 BiTec 传感器光电二极管、cmos 二极管阵列光谱仪和快门 8) 微处理器 9) USB 2.0 接口一.用于测量单个 VIS 和 NIR LED 的总光通量的紧凑型 BiTec 光谱辐射计 LED 测试仪创新实施的带有锥形测量端口的小积分球和替代校正辅助灯（自吸校正）BiTec 传感器* 用于高测量精度测量值如：光谱辐射功率、色温、CRI、色度坐标等。即插即用 LED 测试LED 的光度规格通常必须满足非常高的容差要求，即使对于通用和汽车照明等非专业应用也是如此。因为 LED 的制造公差可能高于应用中允许的公差，这通常就会 是一个问题。LED 制造商基于强度和颜色的分级提供的容差限制仅适用于操作条件与分级测试相似的情况。因此，将 LED 集成到其产品中的制造商需要能够准确测量 LED 的精确原始光度性能的设备。 二.紧凑型分光辐射计分别为 LED 测试仪紧凑的 BTS256-LED 使您能够方便地测量单个 LED 的光通量、光谱、颜色和显色指数。一项特殊功能是设备的锥形测量端口，对板载 LED 进行测量的能力，也使得包括热效应的测量成为可能。LED 的光通量、颜色、显色指数和光谱通常都可以在几秒钟内测量出来。因此，该设备非常适合检查进货以及生产过程中的质量控制。它在设计部门也非常有用。 颜色测量仪BTS256-LED 采用紧凑的铝制外壳，提供精确测量光通量、光谱、颜色和显色指数所需的所有功能。*为了获得更大的准确性和多功能性，该设备基于 BiTec 光传感器，颜色测量仪BTS256-LED 传感器由一个 V-λ 滤波硅光电二极管和一个具有 CMOS 二极管阵列的光谱仪单元组成。硅光电二极管在动态范围、线性度和速度方面无与伦比。基于 CMOS 二极管阵列的光谱仪保证了用于确定颜色值的发光光谱的精确测量数据。两个检测器的组合可以实现相互校正（参见关于BTS 科技的文章) 以获得更高的精度。这也使得执行准确的、时间同步的测量成为可能，例如，PWM 信号。BTS256-LED 的一项前沿功能是其用于阵列暗电流补偿的遥控快门以及用于补偿测量样品吸收的光（自吸收校正）的软件控制辅助灯。使用随机附带的 S-BTS256 软件通过 USB 2.0 接口进行远程控制。三.校准-Gigahertz Optik可见-近红外LED光通量颜色测量仪光度计设备的一项基本品质是其精确且可追溯的校准。颜色测量仪 BTS256-LED 的校准在 Gigahertz-Optik 的ISO/IEC 17025 校准实验室进行，该实验室获得了 DAkkS (DK-15047-01-00) 认可的 符合 ISO/IEC 17025的光谱响应率和光谱辐照度。该设备有两个校准：一种是使用专门开发的参考灯完成，提供 2pi 照明，可以精确测量漫射 LED 的光通量。第二个校准是针对具有较窄照明特性的光源。四.规格-Gigahertz Optik可见-近红外LED光通量颜色测量仪光谱传感器光谱范围(360-830)nm光谱带宽5nm数据解析度1nm积分时间(5.2-30000)ms典型测量时间1100lm≤5ms（白光）10mlm≤30s (白光)峰值波长±0.5nm主波长±1nmΔx 和 Δy 重复性±0.0001 标准A光源±0.0002 LEDΔx 和 Δy 不确定性±0.0002 标准A光源±0.0005 LEDΔCCT±50K(标准A光源)±3% LEDCCT测量范围(1700-17000)KCRIRa 和R1到R15积分传感器MAX光通量70000lm测量时间(0.1-6000)ms噪声等效光通量0.05mlm滤光片具有精细CIE光度匹配的光谱响应度。通过光谱测量数据对光度匹配进行在线校正（光谱错配系数校正）。f1' (光谱匹配误差)≤ 6%（未修正）≤ 1.5%（f1’a*（sz（λ））分别由光谱数据校正，由BTS自动完成关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。