红外探针检测器

电子探针简介：电子探针(EPMA)是用极细的电子束对样品表面进行照射产生特征性X射线，对特征性X射线进行分光和强度测定，得到微小区域的元素组成及样品表面元素浓度分布的分析装置。EPMA 采用波长色散型X 射线分光器（WDS），与能量色散型X 射线分光器（EDS）相比，具有高分辨率的特点。因此，EPMA与扫描型电子显微镜（SEM）配置EDS 检测器比较，可以进行更高精度和更高灵敏度的分析。 技术特点：岛津电子探针EPMA-1720系列优势在于传承52.5°的高X射线取出角技术，可以进行高灵敏度的X射线测定。高速稳定驱动的样品台，可以高精度设定分析位置和分析区域。配备各种自动功能和联动功能，电子束的设定简单易行。集多年分析经验于一体的控制?分析软件，实现了从数据采集到数据解析及报告制作的清晰易懂、操作便捷的良好操作环境。对于初学者，装备了从SEM 观察到定性分析?成图分析的简易可行的简单模式。数据浏览程序可以方便地进行数据的批次管理。

1：四探针测试仪 四探针检测仪 四探针测定仪/四探针电阻率测定仪 型号：HARTS-8HARTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。　术　　标 ： 测量范围 电阻率：10-5～105 &Omega .cm(可扩展)； 方块电阻：10-4～106 &Omega /□(可扩展)； 电导率：10-5～105 s/cm； 电阻：10-5～105 &Omega ； 可测晶片直径 140mmX150mm(配S-2A型测试台)； 200mmX200mm(配S-2B型测试台)； 400mmX500mm(配S-2C型测试台)；恒流源 电流量程分为1&mu A、10&mu A、100&mu A、1mA、10mA、100mA六档，各档电流连续可调数字电压表 量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　 分辨力：10&mu V； 输入阻抗：1000M&Omega ； 度：± 0.1% ； 显示：四位半红色发光管数字显示；性、量程自动显示；四探针探头基本标 间距：1± 0.01mm； 针间缘电阻：&ge 1000M&Omega ； 机械游移率：&le 0.3%； 探针：碳化钨或速钢Ф0.5mm； 探针压力：5～16 牛顿(总力)；四探针探头应用参数 (见探头附带的合格证)模拟电阻测量相对误差( 按JJG508-87行) 0.01&Omega 、0.1&Omega 、1&Omega 、10&Omega 、100&Omega 、1000&Omega 、10000&Omega &le 0.3%± 1字整机测量相对误差(用硅标样片：0.01-180&Omega .cm测试)&le ± 5%整机测量标准不确定度 &le 5%计算机通讯接口 并口，速并行采集数据，连接电脑使用时采集数据到电脑的时间只需要1.5 秒（在 0.1mA、1mA、10mA、100mA量程档时）。连接电脑使用时带自动测量 能，自动选择适合样品测试电流量程；标准使用环境 温度：23± 2℃； 相对湿度：&le 65%； 无频干扰； 无强光直射；配置 四探针测试仪主机、探针台、四探针探头、 2：多种气体采样器/多种气体取样器/多种气体出样器（100ml） 型号：HAD/CZY-100产品介绍：主要用于检查空气中各种气体的含量。配合气体检测管使用。配套使用检测管的方法及优势：1、用砂片稍用力将检测管两端各划圈割印。2、用硅胶管套套住检测管上的箭头所端，沿切割印掰断，用同样方法掰断另端。3、用硅胶管套套住检测管上的箭头所端（防止漏气），插入所要检测标注的气体通道口上（稍用力插紧）。注意方向性，箭头方向代表气体流过方向。4、将所需检测的若干项的检测管，按以上方法均插好之后，接通电源，即可正常使用。5、调节所需检测气体对应的时间控制器，使其符合标（见附表）。6、检测结束，拔出检测管。7、手持检测管箭头朝下，并垂直于地面放在与目光基本不平的位置，观察管上颜色变化所刻度，既为被检测气体的浓度。 （1）双重优点：测量气体的检测管实际是将化学分析方法仪器化，是种定量、定性、定值的检测方式,具有化学分析和仪器分析的双重优点。（2）适应性好：检测管现有Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ三种，从零点到几个PPM（10-6）到百分之几十，适用范围很大，为分析作提供了很大方便。（3）操作简便：为专业检验人员提供了很大的方便，操作人员按照使用说明书操作方法行测试即可。（4）使用安：使用时手动操作，无需要电源、热源，在有易燃易气体存在的场所能安使用。（5）分析速度快：由于操作方便，使得每次分析所需时间大为缩短，般仅需十几分钟即可得知结果，其分析速度是何化学分析和仪器方法不能比拟的。（6）测量度：在检测管含量标度的确定上模拟了现场分析条件，采用不同标准气标定，克服了化学分析中易带入的方法误差。同时减少了人为误差。 温馨提示：以上产品资料与图片顺序相对应。

1:便携式四探针电阻率测试仪 四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1A概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的际及家标准测试方法有关规定。它主要由电器测量份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由宽的恒流源提供，随时可行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分材料也可以用来作产品检测。对1～100&Omega &bull cm标准样片的测量瓿差不过± 3%，在此范围内达到家标准机的水平。测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9&Omega &bull cm。可测方块电阻：0.1～1999&Omega /口当被测材料电阻率&ge 200&Omega &bull cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档10mA量程：0.1～1mA 连续可调10mA量程：1mA ～10mA连续可调恒流度：各档均优于± 0.1%适合测量各种厚度的硅片（3） 直流数字电压表测量范围：0～199.9mv灵敏度：100&mu v准确度：0.2%（± 2个字）（4） 供电电源：AC：220V ± 10% 50/60HZ 率8W（5） 使用环境：相对湿度&le 80%（6） 重量、体积重量：2.2 公斤体积：宽210× 100× 深240（mm）（7）KD探针头压痕直径：30/50&mu m间距：1.00mm探针合力：8± 1N针材：TC2:· 数字式硅晶体少子寿命测试仪 型号：KDK-LT-100C为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照标GB/T1553及SEMI MF-1535用频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。 该设备是按照家标准GB/T1553&ldquo 硅单晶少数载流子寿命测定的频光电导衰减法&rdquo 。频光电导衰减法在我半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次十多个单位巡回测试的考验，证明是种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。 KDK-LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点：1、 可测量太阳能多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管硅单晶的少子寿命。2、 可测量太阳能单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。3、配备软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。4、配置两种波长的红外光源：a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深&ge 500&mu m，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅&asymp 30&mu m，但光强较强，有利于测量低阻太阳能硅晶体。5、测量范围宽广测试仪可直接测量：a、研磨或切割面：电阻率&ge 0.3&Omega &bull ㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。b、抛光面：电阻率在0.3～0.01&Omega &bull ㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。寿命可测范围 0.25&mu S&mdash 10ms 温馨提示：以上产品资料与图片相对应。

导电四探针电阻检测仪HRDZ通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换，在计算机控制下进行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。导电四探针电阻检测仪HRDZ因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正，因此显著降低了几何因素影响，从而提高了测量结果的准确度。所有这些，导电四探针电阻检测仪HRDZ用目前大量使用的常规四探针测量方法所生产的仪器是无法实现的。适用于企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用芯片控制，恒流输出，导电四探针电阻检测仪HRDZ选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表技术参数1.方块电阻范围 10^-5～2×10^5Ω/□2.电阻率范围 10^-6～2×10^6Ω-cm测试电流范围 0.1μA ，1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，100mA4.电流精度 ±0.1%5.电阻精度 ≤0.3%6.显示读数 液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式 普通单电测量8.工作电源 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗 lt 30W测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9Ω&bull cm。导电四探针电阻检测仪HRDZ可测方块电阻：0.1～1999Ω/口当被测材料电阻率≥200Ω&bull cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档10mA量程：0.1～1mA 连续可调10mA量程：1mA ～10mA连续可调恒流精度：各档均优于±0.1%适合测量各种厚度的硅片（3） 直流数字电压表测量范围：0～199.9mv灵敏度：100μv准确度：0.2%（±2个字）（4） 供电电源：AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W（5） 使用环境：相对湿度≤80%（6） 重量、体积重量：2.2 公斤体积：宽210×高100×深240（mm）(7)KD探针头压痕直径：30/50μm间距：1.00mm探针合力：8±1N针材：TC

四探针方阻电阻率检测仪如果采用直接测量电阻(电压一电流比值仪器)。开始在任一极性上(正向)测量模拟电路的正向电阻r.。改变连接极性,测量反向电阻r.。继续改变极性进行测量,记录5次每一极性的正向电阻r和反向电阻r.测量值,然后按6.1.5进行。7.1.4如果不是采用直接测量电阻仪器,则让电流在正向,调节电流大小到近似表2推荐圆片的测量电流值,测量正向电流时标准电阻两端的电势差V,或直接测量流过模拟电路的正向电流1,再测量正向电流时模拟电路的电势差Va。将电流换向,测量反向电流时标准电阻两端的电势差V&bdquo 或模拟电路的反向电流I&bdquo 和反向电流时模拟电路的电势差V&bdquo 。继续改变极性重复进行测量,记录5次每一极性的测量值。7.1.5按8.2计算平均电阻r和标准偏差.7.1.6电学测量装置应满足下述条件:7.1.6.1 r值应在已知r值的0.3%以内。7.1.6.2样品标准偏差口应小于r的0.3%。7.1.6.3设备应能测量出0.05%电阻的变化。7.2确定探针间距与探针尖端状态7.2.1 将四探针以正常压力压在严格固定的抛光硅片表面上,形成一组压痕。提起探针,在垂直于探针尖连线方向上移动硅片表面或探针0.05 mm~0.10 mm,再将探针压到硅片表面上,重复上述步骤，直到获得10组压痕。建议在两组或三组压痕后,将硅片表面或探针移动上述距离的两倍,以帮助操作者识别压痕属于哪一组。7.2.2将硅片表面清洗,用空气干燥。7.2.3将此具有压痕的硅片表面置于工具显微镜的载物台上,使y轴的读数(图6中的yn和ys)相差不大于0.150mm,记录在工具显微镜中的10组压痕A到H的x轴读数,精确到1μm。四探针方阻电阻率检测仪1.电阻率：10-5～2×106Ω-cm2.电 阻：10-5～2×106Ω3.电导率：5×10-6～105ms/cm4.分辨率： 小0.1μΩ测量误差±（0.05%读数±5字）5.测量电压量程： 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±（0.1%读数）6.分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV7.电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。量程：1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，1000mA, 误差：±0.2%读数±2字8.显示方式：液晶显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算四探针方阻电阻率检测仪在放大倍数不小于400倍的显微镜下检查压痕。7.2.5按9.1计算探针间距S,,平均探针间距S,标准偏差a 和探针系数C.7.2.6对于合格的探针,必须满足下述条件。7.2.6.1对于S.来说,3组10次测量值的每一组样品标准偏差σ应小于S，的0.30%。7.2.6.2,和S的差应不大于2%。7.2.6.3每根探针的压痕应只出现一个接触面,最大直径线度小于100μm。如果有的压痕出现不连续的接触面,则更换探针并重新测量。7.2.6.4在放大倍数为400倍的显微镜下检验时,在与硅片表面的接触面上出现明显的横向移动的探针是不合格的。该探针系统必须重新调整,以防止上述移动。7.3测量7.3.1将试样清洗干净,用空气干燥。7.3.2将试样置于样品架/台上。如果是圆片试样,应将试样置于散热器的云母上,用欧姆表测量试样与散热器间电阻,以保证两者是电绝缘的(10’Ω)。7.3.3测量并记录环境温度T,如果是圆片试样应借助置于散热器中的温度计来确定温度。让试样在该温度下保持足够的时间,以便温度平衡,准确到0.1℃注:根据试样的质量决定温度平衡时间。对于小的试样需时30min~60 min,而大的试样则需1d~2d时间。在圆片仲裁测试前,应将散热器放置在室内48h(并且要求室温变化不超过±1℃).7.3.4将探针下降到试样表面的待测位置,每一探针尖离试样边缘的最近距离至少为平均探针间距的4倍。如果为圆片试样,应使探针尖端的阵列中心在试样中心的0.25mm以内。7.3.5让电流在正向,根据试样电阻率大小按表2调节电流大小。要求两内探针之间测得的电势差小于50mV。不同的测量方法要求记录不同的数据,如果用标准电路测量记录V、V1、VsR、VR、T要求至少3一有效数字 用直接测量电路记录I、VI,V,T,要求至少3一有效数字 用直接测量电阻记录四探针方阻电阻率检测仪卜全因斤的试件,如来远用视展电况在数但上等于2,则两内探什之间则得的电势力在数值上等于电阻率值,可免于计算。推荐的圆片测量电流是在试样厚度为0.5mm,两内探针间为10 mV电势差时得到。8测量结果计算8.1 利用7.2测量数据计算探针间距S、平均探针间距S、标准偏差a、探针系数C和探针间距修正因子F&bdquo .8.1.1对十组测量数据中的每一组,用式(2)计算探针间距S, ,S2,,SyS = [(C, + D,)/2]-[(A, +B,)/2]S,=[(E, + Fj)/2]-[(C, +D,)/2].....-(2)S,,=[(G, +H,)/2]-[(E +F )/2]式中:S,~S,,--探针间距,单位为厘米(cm) A~H一一探针压痕的点位,见图6所示,单位为厘米(cm) 脚标j一组数,取1到10。8.1.2用式(2)得到的S,计算每一间距平均值S，如式(3):-(0)s………--………(3)式中:i取 1,2,3.8.1.3将按式(3)计算得到的S,和按式(2)计算得到的S。,利用式(4)分别计算3个间距的试样标准偏差a・ /÷[∑....…...……(4)8.1.4计算平均探针间距S,如式(5):s=/(++)...……………(5)8.1.5计算探针系数C和适用于圆片测量时的探针间距修正因子F&bdquo ,分别如式(6)和式(7):C-2x…………----*(6)京+¯ +s¯ s+S1F,=1+1.082[1-(/).......-.-*****……(7)8.2利用7.1.3~7.1.4测量的数据计算模拟电路测量的平均电阻r和标准偏差o。8.2.1如果采用直接测量电阻,用单个正向和反向电阻(无论是计算结果或是测量结果)均按式(8)计算平均电阻,否则按8.2.2计算模拟电路的正向电阻r,及反向电阻r,:…………---…(8)式中:r-10个模拟电路的正向电阻r,及反向电阻r,中的任意一个值.8.2.2根据测量值计算模拟电路的正向电阻r,及反向电阻r,如式(9):四探针方阻电阻率检测仪r, = V&bdquo R,/V&bdquo 式中:模拟电路的正向电阻,单位为欧姆(Ω) r,一模拟电路的反向电阻,单位为欧姆(Ω) R,一标准电阻值,单位为欧姆(Ω) V。一正向电流下模拟电路两端的电势差,单位为毫伏(mV)1V---反向电流下模拟电路两端的电势差,单位为毫伏(mV) V一正向电流下标准电阻两端的电势差,单位为毫伏(mV) V,一反向电流下标准电阻两端的电势差,单位为毫伏(mV).当直接测量电流时,使用式(10)计算模拟电路的正向电阻r¡ 及反向电阻r,.r1=Va/I.………-----…(10)r,- V&bdquo /I_式中:I。一流过模拟电路的正向电流,单位为毫安(mA) I&bdquo 一流过模拟电路的反向电流,单位为毫安(mA)。8.2.3根据式(11)计算样品标准偏差:-÷∑cr,-F)]t10* ……………(11)8.3计算试样电阻率p。8.3.1计算正向和反向电流的电阻,如式(12)。R¡ - V(R,/Va*….………*…*(12)R, V,R./V&bdquo 式中:R一正向电流时的试样电阻,单位为欧姆(Ω) R,一-反向电流时的试样电阻,单位为欧姆(Ω) V一正向电流时测得的试样电势差,单位为毫伏(mV) V,一反向电流时测得的试样电势差,单位为毫伏(mV) V,一正向电流下标准电阻两端的电势差,单位为毫伏(mV) v,一反向电流下标准电阻两端的电势差,单位为毫伏(mV)。当直接测量电流,采用式(13)计算。如果使用电阻直读仪器,就不需此计算。要求R与R,之差与R:或R,(取两者中较大者)的比值小于10%。R,= V,/I,..……-……(13)R,= V,/I,式中:I一通过试样的正向电流,单位为毫安(mA) I,一通过试样的反向电流,单位为毫安(mA).

1.恒奥德仪器手持式四探针测试仪四探针检测仪 配件型号HAD-3 HAD-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.HAD 标准。仪器成套组成：由HAD-3主机、选配的四探针探头等二分组成，也可加配测试台。仪器所有参数设定、能转换采用轻触按键输入；具有零位、满度自校能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。详见《四探针探头特点与选型参考》点击入仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等特点。仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。 三、基本术参数1. 测量范围、分辨率电 阻： 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω电 阻 率： 0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD方块电阻： 0.050～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□ 2. 可测材料尺寸手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：直 径：HADT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130HADHAD。HADT-C方测试台直接测试方式180HADHAD×180HADHAD。长()度：测试台直接测试方式 H≤100HADHAD。.测量方位: 轴向、径向均可. 量程划分及误差等 2.声波泥水界面计污泥水界面计声波泥水界面仪 型号DQF-QFWJ-100 测量原理传感器发出声波遇到泥层会反射，测出发射波和反射波之间的时间，就可以得出传感器到泥层的距离H；传感器到池子底面的距离是用户设置的L；这样就可以得到泥层的厚度D=L-H。参数:测量范围：0.5~10m准确度：±1.0%分辨率：1mm标 定：出厂标定，可现场校验 显 示：液晶显示 模拟输出：4～20mA、大负载750W继电器输出：报警继电器输出 继电器容量：AC230V、5A数字接口：可选RS485供电电源：AC220V±10%材 质：PC防护等：IP65作温度：-20~60℃材 质：316不锈钢、PVC连接方式：G1管螺纹 传感器线缆：10米（其他长度可在订货中说明） 防护等：IP68作温度：0~60℃环境湿度：相对湿度≤90%过程压力：0.6MPa 3.红外辐照计/红外辐照度计 型号:HAD-IR850 标 1、波长选择：本仪器有如下两种波长的红外探测器可供选择： （1）中心波长850nm； （2）中心波长940nm；2、测量范围：1uw/cm2~999.9k uw/cm2；3、测量度：5%；4、显示刷新率：1次／秒；5、供电电源：9V叠层电池；6、耗：＜20mW 7、作环境条件：温度0~40℃、湿度：＜90％；8、仪表尺寸：130mm×65mm×25mm 4.多能土壤腐蚀速度测量仪 型号 HAD-ZKW180 术特点】 采用五个相同材质电环组合联结成组合式电化学探头，有效地降低了测量腐蚀电流密度时土壤介质IR降的影响；其中辅助电（CE ）研究电（WE ）和 参比电（RE）的连接方式以（CE-WE-RE）表示，组合式电化学探头连接方式为（1-5，2-4 ，3 ）。研究电（WE ）和参比电（RE） 的面积为5cm2 ； 运用四电探针，采用相对较低的测量电压，准确测定土壤电阻率，避免压测量带来的读数困难和土壤电解成理化性能破坏； 采用标准铂电、硫酸铜电用于测量土壤氧化还原电位； 在探头聚四氟缘棒上固定度测温元件测量土壤温度； 运用预孔器方法，测量时对土壤原有结构的破坏很小且不用开挖； 前端采用锥形设计以保证探头和土壤间有良好的接触； 探头通过打磨可重复利用。 1 土壤腐蚀性评定 多能土壤腐蚀速度测量仪 应用域 Ø 输油、气埋地管线、城市埋地管线外腐蚀评价 Ø 混凝土腐蚀性评定 Ø 水溶液腐蚀介质腐蚀性评定 Ø 等等 多能土壤腐蚀速度测量仪 术标 Ø 仪器正常使用的环境条件： • 温度：0 ℃至40 ℃. • 相对湿度：≤80%RH Ø 土壤温度测量范围：零下10℃至100℃，误差：2 ℃ Ø 土壤氧化还原电位测量范围：±2000mV，误差：≤1% Ø 土壤电阻率测量范围：0至10KΩm，误差：≤2% 土壤化电阻测量范围：40Ω至300KΩ，误差：≤3% 土壤腐蚀速度测量范围：1 ×10-4至2 mm/a 蓄电池充电时间6小时，充电时可正常作。次充电后可持续作24小时 5.初粘性和持粘性测试仪/斜面滚法、胶粘带瞬间粘合力测试仪/初粘性测试仪 型号:CZYG 适用于压敏胶带等相关产品行初粘性测试试验，具A斜面滚法B斜槽滚法两种试验方法，转换方式简单易行。特点: 采用斜面滚法的测试原理，测试试样的瞬间粘附性能 按照家标准设计的测试钢，确保了测试数据的准性 测试倾斜角度可以按照用户的需求行自由调整 应用: 基础应用 胶粘制品 适用于各种胶粘类制品的初粘性测试，如压敏胶带、用贴剂、不干胶标签、保护膜等 作原理：采用A法斜面滚法和B法斜槽滚法 1. A法通过钢和压敏胶粘带试样粘性面之间以微小压力发生短暂接触时，胶粘带对钢的粘附作用来测试试样初粘性。将钢滚过平放在倾斜板上的胶粘带粘性面，根据规定长度的粘性面能够粘住的钢尺寸，评价其初粘性大小。 2. B法将规定大小的钢滚过倾斜槽，测量其在水平板上的胶粘带粘性面上滚动的距离来评价其初粘性的大小。 术参数:可调倾角： 0-60° 台面宽度： 120mm 试区宽度： 80mm 标准钢： 1/32-1英寸 药典46枚钢 外形尺寸： 14（B）×32（L）×18（H）cm 重 量： 13 kg 配置:主要由倾斜板、放器、支架、可调水平底座及钢盒等分构成 6.单体支柱测压仪 测压仪 型号HAD-40Z HAD-40Z单体支柱测压仪也称为外平衡仪表，用以检测单体液压支柱初撑力（作阻力）的增压式。 HAD-40Z单体支柱测压仪术参数： ⑴ 量程： 0 ～ 40MPa ；⑵ 显示方式：微表式；⑶ 度： 2.5%FS ；⑷ 作介质：含 2% 乳化液或乳化油；⑸ 重量： 1.3 ㎏；⑹ 每桶液体充液次数： 90 ～ 100 7.测力环/ 土用测力环 测力装置 应力环 型号:HAD-100KN 测力环与路面材料强度试验仪主机及相应附件配套使用，可做无侧限抗压强度、承载比、马歇尔稳定度、劈裂试验、回弹簧模量等试验。规格：150KN、100KN、60KN、30KN、7.5KN、2KN能简介：测力环结构合理、操作方便，适用于各种型号路面材料强度试验仪、承载比试验仪、电动应变无侧限压力仪、土基试验仪等公路仪器标准力值的试验。术参数：示值重复性相对误差不大于0.3% 示值回程相对误差不大于1.5% 示值长期稳定度（三个月）不大于0.3% 回零偏差不大于0.2个分度 灵敏度所不大于0.2个分度对应的力值8.智能化γ辐射仪/智能化伽玛辐射仪 型号 HAD-2000 仪器特点 灵敏度、能量响应范围宽、耗低、稳定性好、操作方便，中文显示被测石材的A、B、C类别，亦可显示计数率和吸收剂量率。 术标 1.测量模式 常规测量：每3s测量次，显示每秒的平均值； 定时测量：可自行选择10s、30s、60s、300s、600s中的 档测量，仪器显示每秒钟的平均值 2.测量范围：（0.01～100）μGy/h 3.能量阈：40keV 4.测量线性：放射性强度γ与计数率CPS的相关系数≥0.999 5.长期稳定性：≤6%（连续作8h） 6.准确度：＜20％ 7.灵敏度：1μGy/h（103nGy/h）的计数≥350s-1 8.电源：3节1号电池 9.耗：≤100mW 10.使用环境 温度：（0～40）℃ 湿度：≤90%（40℃） 11.外形尺寸及重量（含包装箱）：（350×200×250）㎜；6㎏ 仪器认证 中计量科学研究院检定并出具检定证书 9.活化仪/吸附管老化仪/老化仪 型号:HAD-TH-10 HAD-TH-10 型活化仪是在热解吸的基础上，为提作效率而研制设计的检 测配套件。其特点是具有立控温系统，不需外接其何控温设备，即可 立成 1 — 10 支吸附管的活化过程，自带流量计，显示直观，操作简单。 术参数： ◆ 电源：220VAC 50Hz ◆ 率：300VA ◆ 控温范围：室温~400℃ ◆ 控温度：±1℃ ◆ 定时范围：1分钟~99小时59分钟 ◆ 流量调节范围：0~1000ml/分钟 ◆ 次多活化数量：10支吸附管 ◆ 吸附管长度：110mm以上（却省） ◆ 外型尺寸：x宽x深 225 x 265 x 345 ◆ 净重：约7.5kg 10凝胶化时间测试仪/凝胶化时间检测仪/酚醛树脂凝胶化 型号：HAD-YGT-A 产品说明： 常温HAD-YGT-A型凝胶化时间测试仪术规范： ►温度：室温—230.0℃ 意调节 ►温度度：±0.5℃，四位LED显示 ►热盘尺寸：￠50×2.5 ｍｍ ►温度控制：欧姆龙固态继电器PID控制 ►时钟：0—999.9秒计时，带“启动/停止”和“归零”开关 ►温度和时间控制与热盘是二个并列的组合体（参考照片） ►外形尺寸（W×D×H）：342×170×190mm ►机体重量（㎏）：约18㎏ ►电 源：220V,50HZ,600W 本公司主营 不锈钢采水器，弯曲测量装置，鼓风干燥箱，色度计，化学试剂沸点测试仪，提取仪，线缆探测仪，溶解氧测定仪，活性炭测定仪，磁导率仪，比浊仪，暗适应仪，旋转仪，酸度计，硅酸根测定仪，过氧化值测定仪，腐蚀率仪，电阻率测定仪，耐压测定仪，污泥比组测试仪，粉体密度测试仪，机械杂质测定仪，运动粘度测试仪，过氧化值酸价测定仪，噪声源，土壤腐蚀率仪，直流电阻测试仪，厌氧消化装置，耐压测试仪，甲醛检测仪，硅酸根测试仪，PH酸度计，测振仪，消解仪，读数仪，空气微生物采样器，，双波长扫描仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，钢化玻璃表面平整度测试仪，腐蚀率仪，凝固点测试仪，水质检测仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，气体采样泵，自动结晶点测试仪，凝固点测试仪，干簧管测试仪，恒温水浴箱，汽油根转，气体采样泵，钢化玻璃测试仪，水质检测仪，PM2.5测试仪，牛奶体细胞检测仪，氦气浓度检测仪，土壤水分电导率测试仪，场强仪，采集箱，透色比测定仪，毛细吸水时间测定仪，氧化还原电位计 测振仪，二氧化碳检测仪，CO2分析仪，示波谱仪，黏泥含量测试仪，汽车启动电源，自动电位滴定仪，，干簧管测试仪，电导率仪，TOC水质分析仪，微电脑可塑性测定仪，风向站，自动点样仪，便携式总磷测试仪，腐蚀率仪，恒温水浴箱，余氯检测仪，自由膨胀率仪，离心杯，混凝土饱和蒸汽压装置，颗粒强度测试仪，斯计，自动涂膜机，，气象站，动觉方位仪，，气味采集器，雨量计，四合气体分析仪，乳化液浓度计，溶解氧仪，温度测量仪，薄层铺板器，温度记录仪，老化仪，噪音检测仪，恒温恒湿箱，分体电阻率测试仪，初粘性和持粘性测试仪，红外二氧化碳分析仪，氢灯，动觉方位仪，冷却风机，油脂酸价检测仪，粘数测定仪，菌落计数器，气象站，雨量计，凯氏定氮仪，荧光增白剂，啤酒泡沫检测仪，发气性测试仪，低频信号发生器，油液质量检测仪，计数器，漏电流测试仪，标准测力仪，毛细吸水时间测定仪，大气采样器，流速仪，继电器保护测试仪，体积电阻率测试仪，侧面光检测仪，照度计，体化蒸馏仪，涂布机，恒温加热器，老化仪，烟气分析仪 本产品价格仅为配件价格，由于检测参数不同对仪器的终要求也不同，所展示的价格并非产品终价格，如给您带来不便请谅解请您在购买前联系我们客服人员，我们会给你确认产品信息，术参数以及报价，我们会以优惠的价格，诚恳的态度为您服务，期待您的来电！ 以上参数资料与图片相对应

欧世盛（北京）科技有限公司成立于2015年，是国内能够生产全套流动化学实验室（Flow Lab）设备及管理系统的企业。公司成立之初便致力于流动化学核心部件、仪器整机、控制软件的研发、生产，并不断丰富整体解决方案中的产品和相关配件。总部设在北京海淀区光华创业园内，生产基地坐落在河北廊坊文安工业区内。目前已在全国八个主要地区设有办事处和共享实验室，为用户提供多种解决方案和定制化服务。中红外检测器是我司针对流动化学专门研发的一款在线式、快速、准确且应用广泛的检测仪器 。此仪器是红外光和化合物相互作用后，引起化合物不同分子键发生相应的振动及转动，根据红外吸收光谱的峰位、峰形和峰强，可以获取不同化合物的特征吸收光谱图，从而可以对未知化合物进行定性及定量分析。搭载一体化的 ATR 流通采集系统，可实时检测被测样品成分，适用于过程在线检测。 中红外检测器的主要特点是：ZnSe；Diamond；Silicon ATR 光学材料，适应不同工业现场使用金反射镜光学系统，抗氧化性强，光学性能更稳定搭载高灵敏度电制冷 MCT 检测器，适用于微量化合物检测 技术指标：光谱范围5000-500cm-1分辨率优于2cm-1分束器防潮型ZnSe检测器室温DTGS；TE-MCTATR光学材料DiamondATR适用pH范围Diamond(1-14)最大耐温Diamond(200°C)是否吹扫无需吹扫通信接口LAN软件可设置连续测量、常规测量模式检测模式连续在线监测模式、离线测量模式尺寸（mm）381进深*274宽*200高

在线傅里叶红外检测器是一款快速、准确且应用广泛的检测仪器。红外光和化合物相互作用后，引起化合物不同分子键发生相应的振动及转动，根据红外吸收光谱的峰位、峰形和峰强，可以获取不同化合物的特征吸收光谱图，从而可以对未知化合物进行定性及定量分析。搭载一体化的 ATR 流通采集系统，可实时检测被测样品成分，适用于过程在线检测。 特点：☉ ZnSe；Diamond；Silicon ATR 光学材料，适应不同工业现场使用☉ 金反射镜光学系统，抗氧化性强，光学性能更稳定☉ 搭载高灵敏度电制冷 MCT 检测器，适用于微量化合物检测 性能指标光谱范围 5000-500cm-1分辨率 优于 2cm-1分束器 ZnSe检测器 电制冷 MCTATR 光学材料 DiamondATR 适用 pH 范围 Diamond（1-14）耐温 Diamond（200℃）通信接口 LAN软件 可设置连续测量、常规测量模式检测模式 连续在线监测模式、离线测量模式检测模式 连续在线监测模式、离线测量模式

IR4是双波长，专门针对聚烯烃研究而开发的红外检测器。可以与HPLC、GPC、CRYSTAF或TREF等相连，在线检测聚烯烃样品的浓度和组分，基线稳定，灵敏度高。IR4由两个模块组成：光谱模块（与分析系统相连）和控制模块（控制IR4、采集数据信号）。IR4可安装组分或羰基芯片，用于获得除了浓度以外的数据信息。它可与高温GPC联用分析乙烯丙烯共聚物中的乙烯含量、乙烯-醋酸乙烯共聚物中的乙烯醋酸酯等。北京化工研究院、上海化工研究院目前已经在高温GPC（其他品牌）安装IR4红外检测器，替代原有的示差折光检测器。 功能：1、可与GPC、TREF、CRYSTAF和HPLC等系统联用，测量样品的浓度；2、选配组分芯片，测量样品中CH3/1000C数；3、选配羰基芯片，测量EVA共聚物等；4、内置泄漏传感器和报警系统； 特点：1、灵敏度高，基线稳定；2、可选配组分和羰基芯片，测量乙烯丙烯共聚物中的乙烯含量、乙烯-醋酸乙烯共聚物中的乙烯醋酸酯；3、无需外部设施及标气；4、数据处理过程简单；5、内置红外流通池和加热传输管路；6、通过串口和数据模拟输出采集数据； IR4技术参数基本情况测量探头：灵敏度：组分检测限：羰基检测限：检测器噪声：流通池容量：最大压力：最高温度：浓度，参比，组分，羰基（可选） 0.3 AU/mg/mL（浓度）5CH3/1000TC5C=O/1000TC1· 10-3 AU13ul50bar170℃传输管路最高温度内径长度170℃0.5mm30cmGPC One数据处理软件（可选）计算结果：数据库整合：数据库统计:可定制报告：导出分析数据分子量分布，短支链接入LIMS系统含有使用My Own Report工具导出MS Excel，PDF等计算机控制仪器控制软件：计算机接入方式：IR4控制和数据采集软件RS 232安全危害感应器过热保护安装加热单元固件其他数据接入 模拟：四单端输出，16bits，0-2.5V/0-10V模拟：输入 12bit 0-2.5V数字：TTL输入电源要求电压电流90Vac-260Vac/50-60Hz3.0A@100-120Vac 2A@200-250Vac尺寸控制单元：光谱单元：宽 cm 高cm 长cm 重kg19 6 25 415 12 9 2IR4技术参数

新型气动式探针台，在常规探针台基础上升级了气动控制单元，改变了以往单纯依靠手柄旋转移动载物台的方式。新设计的T-150-G型号探针台结合了气动式和手柄移动式两种控制模式，具有快速移动的优点，又可以准确的位移调节。特别适合晶圆测试应用，也可用于单个器件，或样片的测试。常用于搭配晶体管图示仪、数字源表或者半导体参数分析仪，进行IV、CV、脉冲/动态 IV 等参数测试；应用场景如研发阶段的芯片测试，生产中芯片或晶圆的抽样检测，或是器件可靠性测试等。整个探针台系统采用模块式设计结构，占用空间小，操作灵活，简单易用，方便维护和未来升级。是常规手动探针台的升级替代方案！气动控制单元通过气动控制单元，配合气体控制按钮使得单手就能控制。可在平面上便捷的移动载物台，快速定位到需要测试的位置。手柄采用坚固铝合金制成，经过机床精密加工，电镀处理。 预接触控制单元预接触控制单元可使探针尖灵活升高300微米，可升高3毫米。对于测试完一个芯片转向下一个芯片时，只需一步就能将所有探针升起，从而便于移动晶圆（或载物台）到下一个测试位置。经过我们精心的研究后设置了300微米作为一个档，即使升起后依然能见探针，移动晶圆是更加清晰明了。该装置也可更助于快速更换被测晶圆，是传统探针台功能上的一大提升。精密千分尺调节器较其他普通探针台做的一项升级，在气动控制单元上加装的千分尺，可以将载物台位移精度提高到亚微米级，甚至更高。成都测芯科技有限公司(CHIPTEST)主要产品：探针台(Probe Station)。包括4寸、6寸、8寸、12寸常规探针台、高低温真空探针台、RF / mmW测试探针台、高压探针台、磁场探针台以及红外探针台等。可以按照特殊要求进行设计定制。代理美国GGB探针：GGB探针有ST系列硬探针、T-4系列柔性探针、Model系列微波探针（频率可到500GHz,分波导接口类型和同轴接口类型两种）、有源高阻探针、差分探针、定制探卡等，欢迎咨询。地址：成都高新西区合作路89号19栋5楼电话：曹经理 (weixin)邮箱：网站：

维护和保养使用者的维护为了防止意外发生，请不要接触机内部件。本机器内部所有的零件，绝对不需使用者的维护。如果机器有异常情况发生，请直接与百川仪器公司厂家联系或其指定的经销商给予维护。使用者的修改使用者不得自行更改机器的线路或零件，如被更改机器后保修则自动失效并且本公司不负任何事故责任。在保修内使用未经我公司认可的零件或附件造成故障也不予保证。如发现送回检修的机器被更改，将机器的电路和零件修复回原来设计的状态，并收取修护费用。测试工作站工作位置工作站的位置选择必须安排在一般人员非必经的处所，使非工作人员选离工作站。如果因为条件限制的安排而无法做到时，必须将工作站与其这它设施隔开并且特别标明“测试工作站”。如果工作站与其它作业站非常接近时，必须特别注意安全的问题。在测试时必须标明“测试执行中，非工作人员请勿靠近” 输入电源输入：220V±10% 使用频率：50Hz工作场所尽可能使用非导电的工作桌工作台。操作人员和待测物之间不得使用任何金属。操作人员的位置不得有跨越待测物去操作或调整测试仪器的现象。测试场所必须随时保持整齐、干净，不得杂乱无章。测试站及其周边之空气中不能含有可燃气体或在易燃物质。人员资格本仪器为精密仪器，必须由训练合格的人员使用和操作。安全守则操作人员必须随时给予教育和训练，使其了解各种操作规则的重要性，并依安全规则操作。衣着规定操作人员不可穿有金属装饰的衣服或戴金属手饰和手表等，这些金属饰物很容易造成意外的感电。医学规定绝对不能让有心脏病或配戴心律调整器的人员操作。测试安全程序规定一定要按照规定程序操作。操作人员必须确定能够完全自主掌控各部位的控制开关和功能。2.3.测试探头和测试平台操作选配测试平台的将被测物放在测试平台上，调节探头探针与样品良好接触，探头有二种，一种是探针是弹簧针型，一种是硬针而探头内腔有弹簧；探头有方型和直线型两种结构；调节测试平台上的水平定位角，保证水平仪水准在中心位置；放置好被测物品，后压下探头至被测物，带数据稳定后读取方阻测试时，在测试时电流的选择也不同根据国标GB/T1552-1995和根据ASTM F374-84标准方法测量方块电阻所需要的电流值

POP系列适用于泡液流与雾状流气液两相流测量用单光学探针同时测量气泡空隙率、速率&尺寸液滴浓度、速率&尺寸运用独家创新科技确保在稠密环境、液体中可无外部光学条件进行精密测量专业配套工具辅助测量工作原理POP 系统的操作依靠测量激光束在探头尖的反射。传感器是利用与周围相的折射率间敏感差异，并且检测在给定的位置的相位变化。速度测量是基于沿传感头的液 - 气界面的传播（上升信号的时间）。POP 的工作原理是通过接触测量，并且不需要在探针外部的任何的光传播，因此能够在非常稠密的环境中工作。技术规格? 浓度范围: 0 ≤ ɑ ≤ 100%（空隙率）? 速度范围: 0.1 ≤ U ≤ 25 m/s (可升级)? 通常待测目标尺寸:? 气泡 500 μm? 液滴 15 μm? 通常精度:? 浓度：± 5?%? 速率、尺寸：± 15?% ? 数据处理:? 泡状流：实时? 喷洒：后处理? 与电脑的连接:? USB, PCIe , ExpressCard颗粒浓度、粒径分补、颗粒速度、气泡特征、电导探针、远心相机、示踪剂停留时间、示踪剂浓度分布、示踪颗粒监测颗粒浓度、粒径分补、颗粒速度、气泡特征、电导探针、远心相机、示踪剂停留时间、示踪剂浓度分布、示踪颗粒监测颗粒浓度、粒径分补、颗粒速度、气泡特征、电导探针、远心相机、示踪剂停留时间、示踪剂浓度分布、示踪颗粒监测

Nanonics公司历史：Nanonics Imaging Ltd.公司在过去的20年一直是近场光学领域的佼佼者，在近场系统领域在市场上具有最丰富的经验和最多的文献发表。经过几十年的发展Nanonics研发了市场上先进的功能性SNOM系统。孔径式SNOM系统，多探针SNOM系统和无孔径散射式SNOM系统可用于UV，可见光，红外和太赫兹波段。设计和集成：最灵活的光路集成，适用于所有操作模式MV2500适用于所有光学照明和收集模式的SNOM/AFM扫描台： 上方-侧面-下方照明/收集光路： MV2500的设计提供给用户针对每个样品不同需求选择最好模式的能力。纳米级别的红外测试需求和现有样品的多样性决定了能够使用多种照明和收集模式来探测样品是非常重要的。 MV2500就可以满足多种照明和收集模式，这完善了纳米级别的红外测试。AFM扫描台：灵活的扫描功能和简单的使用成就了优秀的红外SNOM系统 MV2500的灵活性扩展了扫描探针的工作模式，提供给用户适用于任何样品的极致的控制权限和灵活性。 关键功能包括：l 探针和样品扫描：MV2500具有两个扫描台，一个用于探针扫描功能，另一个用于样品扫描功能。关键优势：n 每个扫描台的XYZ扫描范围都是85*85*85μmn 针尖和样品可以独立扫描。软件控制非常简易。n 组合式扫描范围：两个扫描台的扫描范围可以叠加用于大范围扫描。n XY和Z方向的扫描可以独立控制，如可以用样品扫描XY方向，而探针进行Z方向的反馈，针对特殊的实验设计。n 两个扫描台都可以用于快速和精确的探针或样品位置定位-这能实现针尖和激光相互作用的绝佳优化。 l 音叉（TF）反馈：n 音叉反馈不使用激光光束作为反馈方式，避免样品或光学信号与其互相干扰。n 音叉反馈是现有的最灵敏的AFM反馈方式，在空气和液体环境下都可达到优秀的AFM成像效果。音叉反馈可以用于非常柔软的样品并可具有低至pN级别的力学灵敏度。l 可定制的LabView软件和控制器：软件基于LabView系统，允许用户设计脚本控制多种光谱仪和激光器。

四探针电阻率检测仪HRTZ-300C无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。GB/T3048电线电缆电性能试验方法第2部分：金属材料电阻率试验 GB 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法GB-T 19289-2003 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法JB-T 6773-1993 金属石墨制品 电阻率试验方法1四探针电阻率检测仪HRTZ-300C金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的用仪器.四探针电阻率检测仪HRTZ-300C仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量四探针电阻率检测仪HRTZ-300C设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，符合国际和标准的要求。仪器适用于金属线材、金属板材、金属块体等不同形状导体材料进行检测测试设备。按照单晶硅物理测试方法标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的用仪器。适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用AD芯片控制，恒流输出，选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表用于：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品四探针电阻率检测仪HRTZ-300C由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。仪器采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。绝缘电阻、体积电阻及表面电阻值，本仪器是台通用试验仪器，只要不超过主机的测试量程，都可以测试，配备不同的电，适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。

公司主要经营产品：霍尔效应测试仪、探针台系列、显微镜系列：三维视频显微镜、超长工作距离视频显微镜、测量显微镜、红外/近红外显微镜、传统光学显微镜(体式、生物、偏光、荧光、金相、相衬、比对等常用教学及教研类显微镜)、光学产品组件、工业科研无损检测设备及光学自动一体化系统集成项目。测试噪声小于5E-13A 可扩展上下双透视窗口用于光电测试 可扩展凹视镜 。观察窗口可下凹，使物镜离样品更近，方便观察。 加热台材质纯银块，导热更好，不易氧化专业检测设备生产研发经验，实力见证品牌国内家专业研发探针台设备厂家，有强大技术研发实力已与国内2000多所高校和研究院合作，为您提供*价值的技术解决方案*信赖的检测设备服务商涉及光学、电学、电子、材料、生物、医学等各检测领域拥有国内专业的技术研发团队在探针台电学量测方面拥有近十年的经验小型真空探针台KT-Z4019MRL4T小型真空探针台KT-Z4019MRL4T参数真空腔体类型高温型室温到350℃高低温型 室温到350℃ 室温到-196℃腔体材质304不锈钢 6061铝合金 可选腔体内尺寸127mmX57mmX20mm腔体外尺寸150mmX80mmX32mm腔体重量不锈钢材质 约1.5KG 铝合金材质 约0.5KG腔体上视窗尺寸Φ42mm（可选配凹视窗用于减少窗口和样品之间距离）腔体抽气口KF16法兰（其余接口规格可转接）腔体真空测量口KF16法兰（其余接口规格可转接）腔体进气口6mm快拧 或 6mm快插腔体冷却方式腔体水冷+上盖气冷腔体水冷接口腔体正压≤0.05MPa腔体真空度机械泵≤5Pa （5分钟） 分子泵≤5E-3Pa（30分钟）样品台样品台材质不锈钢 银铜合金 纯银块银铜合金 纯银块样品台尺寸26x26mm样品台加热方式电阻加热电阻加热 液氮制冷样品台-视窗 距离11mm（可选配凹视窗用于减少窗口和样品之间距离到6mm）样品台测温传感器PT100型热电阻样品台温度室温到400℃室温到400℃ 室温到-196℃样品台测温误差±0.5℃样品台升温速率高温100℃/min 最大值 低温7℃/min温控仪温度显示7寸人机界面温控类型标准PID温控 +自整定温度分辨率0.1℃温控精度±0.5℃温度信号输入类型PT100 （可选K S B型热电偶）温控输出直流线性电源加热直流线性电源加热+液氮流速控制器辅助功能温度数据采集并导出 实时温度曲线+历史温度曲线 可扩展真空读数接口温控器尺寸32cmX170cmX380cm温控器重量约5.6KG探针电信号接头配线转接 BNC接头 BNC三同轴接头 SMA 接头 香蕉插头 线长1.2米电学性能绝缘电阻 ≥4000MΩ 介质耐压 ≤200V 电流噪声 ≤10pA探针数量4探针（可扩展5探针）探针材质镀金钨针 （其他材质可选）探针尖10μm手动探针移动平台X轴移动行程20mm ±10mm（需手动推动滑台）X轴控制精度≥500μmR轴移动行程120° ±60°（需手动旋转探针杆）R轴控制精度≥500μmZ轴移动行程2mm ±1mmZ轴控制精度≤50μm（需手动螺纹调节探针杆）

一款适用于8英寸及以下晶圆测试的标准探针台，台面加宽设计，便于摆放更多探针座，实现复杂灵活的测试应用。常用于对器件的 IV、CV、脉冲/动态 IV 等参数进行测试；接口兼容主流测试仪器。应用场景，如研发阶段的芯片测试，生产中芯片或晶圆的抽样检测，或是器件可靠性测试等。灵活的载物台载物台可灵活升级为定制夹具，实现不同产品种类的测试应用。可根据测试器件大小，独立控制吸附气路。设计上为了兼顾大、小器件的不同测试要求，真空吸附气路分成了吸附孔式和吸附环式，附环大小包括了2寸、4寸、6寸等，可以实现向下兼容。在实际使用时可灵活控制。 加宽型光滑台面台面经过几十道工序精密机加工，分上下层设计，下层是整块铝合金材质，通过机床多次加工打磨成型。上层为不锈钢材质，坚固耐磨。 精密电镀手柄调节载物台水平面移动，采用丝杆传动的方式，移动精密度更高。手柄采用铝合金加工而成，手感舒适。 多功能显微镜基座设计上考虑到市场上不同显微镜的差异，做了特殊的设计。兼容金相显微镜或者体式显微镜、单筒显微镜等。方便客户显微镜的更换。设计了X、Y、Z方向的调节旋钮。能在平面内任意移动位置。成都测芯科技有限公司(CHIPTEST)主要产品：探针台(Probe Station)。包括4寸、6寸、8寸、12寸常规探针台、高低温真空探针台、RF / mmW测试探针台、高压探针台、磁场探针台以及红外探针台等。可以按照特殊要求进行设计定制。代理美国GGB探针：GGB探针有ST系列硬探针、T-4系列柔性探针、Model系列微波探针（频率可到500GHz,分波导接口类型和同轴接口类型两种）、有源高阻探针、差分探针、定制探卡等，欢迎咨询。地址：成都高新西区合作路89号19栋5楼电话：曹经理 (weixin)邮箱：网站：

ChemInstruments 化仪 探针粘度检测仪 PT-2000 利用探针粘度检测仪，可以方便地测量压敏胶的粘性。平头探头的精确直径为5.0 mm，通过探头接触、翻转粘合剂并从粘合剂中拉出，记录并显示粘合剂的最-大粘性值。 探针粘性试验机符合ASTM D2979规定的标准。机器速度为24 ipm（10 mm/sec），探头直径为5 mm，圆环承受的力为9.79±0.10 kPa。每一个自动检测周期从开始到结束的接触时间为一秒。 仪器特性：l 坚固结构，适用于生产环境中频繁使用l 数控速度和远距离操控l 自动化的检测序列l 检测方法-D2979或自选检测方法l D2979试验方法速度为24 ipm（10 mm/sec），停留时间为1秒l 可选速度范围为6到30 ipm（2-12 mm/sec），最-低值为1 ipm或1 mm/sec。l 可选停留时间为1到30秒（最短时间为1秒）l 机器附带5磅称重传感器（可选2磅和10磅称重传感器）l 压力传感器精确度：±0.1%l 最-大拉力为5磅（2.2千克）l 工作温度范围32°-150°F（0°-70°C）l 可独立操作，集成触摸显示屏l 数据可下载至EZ数据软件进行完整的数据管理l 5.7英寸触摸屏l 通用输入电压85-265伏交流电（50/60赫兹） 数据采集系统 l EZ-Lab编辑软件系统集精确即时及操作简便等功能为一体,既能用于数字及图表显示,又有数据储存之用.l 在2000Hz下采集2个样本，取其平均值作为数据点存储。测试将每隔1毫秒生成一个数据点l 在测试完成时显示所有测量力值的图表l 测试完成后立即显示高和低测力结果l 使用我们的EZ数据软件通过USB连接将数据导出到本地PCl 以克、千克、盎司、磅或牛顿为单位显示测试值 EZ数据 兼容EZ数据与我们的EZ数据管理软件结合使用时，远程设置，操作控制和增强的数据收集都是可能的。此应用程序需要一台外部PC。 PT-2000 探针粘度检测仪 配件EZ实验室数据管理软件提供定制探头（直径和材料）提供定制环形环 可选配件可选称重传感器：2磅和10磅PSTC和TLMI测试手册 规格高: 18" (46 cm)宽: 13" (33 cm) 长: 16" (41 cm) 重量: 25 lbs (12 Kg) 方法此设备适用于通用的检测方法：ASTM:D 2979标准

仪器简介： CST400C用于油气管道,城市燃气管道等，管道内腐蚀监测，采用高灵敏度电阻探针设计，能适用于气相、液相、以及复杂油、水、气多相体系的腐蚀连续监测的全自动现场腐蚀监测仪器。仪器采用高速低功耗MCU单元和高精度低功耗24bit AD转换器，并利用专利的交流激励源技术和AV电桥原理，实现了较高的微电阻测量分辨率，可达探头设计寿命的1/5000，减薄分辨率可达到0.1mm（相对于0.5mm标称厚度感受元件）。内置温度补偿电路，降低温度变化的影响。本产品符合《GB3836.1-2010 爆炸性气体环境用电气设备第1部分：通用要求》和《GB3836.4-2010爆炸性环境用防爆电气设备_第4部分-本质安全型“i”保护的设备》标准；防爆标志为 Exib Ⅱ BT4，它适用于1区，2区，T1-T4爆炸性气体混合物场所。仪器可采用CST610无线数据收发器，实行远程测控，可直接将腐蚀测量数据传送到远端的监控中心，通过腐蚀数据分析软件，可用于实时在线监测腐蚀状态。仪器内置高精度实时日历时钟，提供数据点的日历标志。低功耗设计可以保证2节大容量锂电池可持续工作400天。技术指标 AD转换器：双通道16bit S-D转换器 微电阻测量分辨率：1mW 腐蚀减薄分辨率：0.05mm 日历时钟误差：1分钟/月(自带电池) 定时测量：测量间隔1～24小时 存储：128Kbyte，可存储8000 组数据电池：14Ah ER34615锂电池 电池寿命：~ 400天（每4小时测一次） 通讯端口：RS485/RS232 波特率：9600bps 机箱尺寸：φ98*130mm，重量：1.5kg使用环境：工作温度 -20°C~60°C，相对湿度≤80%，空气中无强烈腐蚀性气体。电阻探针：不锈钢外壳，耐压≤40MPa，工作温度260°C。软件指标 测量参数：腐蚀速率，腐蚀余量；腐蚀数据库管理，腐蚀趋势预测；腐蚀失重量及腐蚀速率图形显示，报表输出，输出数据兼容Excel格式。应用领域 适用于气相、液相以及油、水、气多相体系中的金属腐蚀总量、腐蚀余量与腐蚀速度监测。仪器配置 ① CST400C测量主机1台 ② CP-41电阻探针1支③ CSkit腐蚀分析软件1套④ *可选CST620手持数据下载器，实现人工下载数据。⑤ *可选CST610无线数据收发器，组成无线数据监测网，实现远程监控。

ECOM二极管阵列紫外检测器ECOM TOY18DAD400 EX产品介绍ECOM提供广泛的内置探测器。闪光灯,ECOM二极管阵列紫外检测器ECOM TOY18DAD400 EXTOYDAD和TOYFIX系列主要针对flash和制备的应用程序。大量的流动细胞与流动-速率从毫升到升每分钟允许广泛使用探测器。内嵌式探测器适合构造紧凑色谱系统。所有的探测器都可以通过我们的软件从PC端控制ECOM，通讯采用RS232。色谱站支持我们所有的检测器。TOYDAD和TOYFIX探测器一共有三款，机械版如TOYDAD, TOYDAD L和TOYDAD EX。TOYDAD EX探测器与SMA 905连接器用于外部流通池连接。ECOM二极管阵列紫外检测器ECOM TOY18DAD400 EX具有以下特点：1. 尺寸小2. 内置灯泡工作时间计数器；3. 可使用光缆连接流通池；4. 双波长、四波长及四波长带扫描多种选择；5. 内置精密的诊断软件6.大量应用于分离纯化、超滤等设备集成。

室温真空探针台能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个室温真空测试环境，通过外接不同的电学测量仪器，可完成集成电路的电压、电流、电阻以及IV曲线等参数检测，用于室温真空环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。 PSV系列室温真空探针台是一款专门针对室温真空电测环境开发的探针台，能够对2寸、4寸晶圆片进行重复非破坏性的、标准的电学实验，外接不同的测试设备可以完成对器件的电学特性测量、参数测量、DC测量和RF测量。特点&bull 真空腔极限真空度能够达到5E-4 mbar，通过真空泵连接KF25法兰抽真空。&bull 样品座可以放置4英寸的晶圆样品，探针臂的位移调节在真空腔外操作，可以在不破坏真空的情况下，切换样品上的不同器件进行测试。探针臂可在X-Y-Z-R范围内进行四维调节，能满足4英寸范围内全部位置的扎针测试。&bull 真空腔材质为铝制材料，能够有效减小外界的电磁干扰，提高测试的精准度和稳定性。&bull 直流探针臂采用三同轴接头，漏电性能好，使用4200实测漏电流小于100fA @1V。&bull 独特设计的柔性探针，将探针安装到铜制弹片上，避免扎针过程中力量过大导致样品或电极损坏。&bull 可选微波探针臂，频率可达到110GHz。型号分类：型号样品座尺寸PSV-22英寸PSV-44英寸参数和指标： 样品座样品座类型及材质：无氧铜接地样品座尺寸：2/4英寸可选配置：接地样品座、绝缘样品座、同轴样品座、三同轴样品座探针臂组件类型：直流探针臂数量：4个接头和线缆：三同轴接头漏电流：100fA@1V真空环境信号频率：直流~50MHz 交流匹配阻抗：50 Ω探针针尖直径：100μm铍铜探针位移行程：X-±35mm，Y-±12.5mm,Z-±6.5mm ，R-±10°读数精度：10μm光学系统显微镜放大倍数：10~180 倍分辨率：3μm视野范围：可到 22mm显微镜工作距离：90~100mm显微镜支架升级行程：65mm真空腔体材料：铝合金腔体容积：4/6L外形尺寸：800*800*600腔体入口尺寸：Ø 124mm可视窗口尺寸：50mm真空度：5E-4 torr真空抽口：KF25法兰真空腔体窗片：红外绝热材质防辐射屏窗片：石英材质充气阀接口：Ø 8 快拆接头预留接口：2个探针臂接口，2个电学接口减振支架（选件）尺寸（mm）：800×800×870；桌脚：有固定脚和滚轮可调换

最高温度 1650°c测量范围 0.1mΩ-100MΩ温度精度 ±0.25°c最快测量 6.4ms更多功能 高温四探针、退火高温I-V特性测试高温真空测量高温气氛测量高温烧结/退火高温四探针测量 消除电网谐波对采集精度的影响高温四探针测试仪采用直排四探针法设计原理测量。主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，参考美国 A.S.T.M 标准设计。重复性与稳定性更好，采用双屏蔽高频测试线缆，提高测试参数的精确度，同时抗干扰能力更强。本设备也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。 搭配Labview系统开发的Huacepro软件，具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合功能材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制，当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。 源测量仪器的精密耦合特点相对分立仪器具有许多优点。例如，它具有更短的测试时间，通过减少GPIB的流量并简化了远程编程接口。它还保护被测设备在偶尔过载、热失控等情况下不被损坏。电流源和电压源都可设置回读使器件测量完整性最大化。如果回读达到可编程容限的极限，那么该源就被钳位在此极限，从而提供错误保护。 华测系列阻抗分析仪是华测仪器电子事业部采用当前先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的最新高度。也彻底超越了国外同类仪器，在测量10Hz-50MHz的频率瓶颈；解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷；采用单测和分析两种界面，让测试更简单。得益于先进的自动平衡电桥技术，在10Hz-50MHz的频率范围可以保证0.05%的基本精度。 快达5ms的测试速度及高达50M的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规端配置的仪器向下扩展了十倍。 消除不规则输入的自动平均值功能 更强数据处理及内部屏蔽华测近红外高温炉配合吉时利数字源表进行四探针电阻测量，让测试更加稳定可靠，吉时利数字源表系列专用于要求紧密结合源和测量 的测试应用。全部数字源表型号都提供精密电压源和电 流源以及测量功能。每款数字源表既是高度稳定的直流 电源也是真仪器级的6位半万用表。此电源的特性包括 低噪声、精密和回读。此万用表的功能包括可重复性高和低噪声。最终形成了紧凑、单通道、直流参数测试仪。 在工作时，这些仪器能用作电压源、电流源、电压表、电流表和欧姆表。源和阱（4象限）工作，0.012%基础测量精度（6位半分辨率）。 2线、4线电压源和测量感测1700读数/秒（4位半分辨率），通过GPIB通过/失效比较器用于快速提供高速感测线接触检查功能，在半导体、功能材料行业吉时利数字源表是适于特性析和生产测试等广泛应用的重要源表。目前国内高温加热大都为管式炉或马弗炉，主要原理为加热丝或硅碳棒对炉体加热，加热与降温过程速度慢，效率低下。也无法实现温度的高精度测量，加热区域也存在不均匀的现象，华测仪器通过多年研究开发了一种可实现高精度，高反射率的抛物面与高质量的加热源相配置，在高速加热及高速冷却时，具有良好的温度分布。 可实现宽域均热区，高速加热、高速冷却 ，用石英管保护加热试样，无气氛污染。可在高真空，高纯度气体中加热 。设备可组成均热高速加热炉，温度斜率炉，阶段加热炉。 它提高了加热试验能力。 同电阻炉和其他炉相比，红外线反射炉节省了升温时间和保持时间及自然冷却到室温所需时间，再试验中也可改写设定温度值。从各方面讲，都节省试验时间并提高实验速度。 同高频炉相比，不需特殊的安装条件及对加热试样的要求。同电阻炉一样安装简单，有冷却系统安全可靠。以提高试验人员的工作效率，实现全新的温度控制操作！高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。 1、高速加热与冷却方式高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。2、温度高精度控制近红外镀金聚焦炉和温度控制器的组合使用，可以精确控制样品的温度(远比普通加温方式)。此外，冷却速度和保持在任何温度下可提供高精度。3、不同环境下的加热与冷却加热/冷却可用真空、气氛环境、低温（高纯度惰性气体 静态或流动），操作简单，使用石英玻璃制成。红外线可传送到加热/冷却室。 更强的扩展能力，实现一机多用█ 多功能真空加热 炉，可实现高温、真空、气氛环境下电学测试 █ 采用铂金材料作为测量导线、以减少信号衰减、提高测试精度 █ 设备配置水冷装置，降温速度更快、效率更高█ 可实现高温下四探针电阻谱等测量功能█ 进口温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度更精准█ 近红外加热，样品受热更均匀，不存在感应电流，达到精准测量█ 10寸进口触摸屏设计，一体化设计机械结构，更加稳定、可靠 █ 采用进口高频测试线，抗干扰能力更强，采集精度更高█ 99氧化铝陶瓷绝缘，配和铂金电极夹具█ huace pro 强大的控制分析软件与功能测试平台系统相互兼容温度范围： RT-800 (最高1650)°C 控温精度：±0.25°C 升温斜率：10°C/min（可设定） 测试范围 : 0.1mΩ-100MΩ 加热方式：近红外加热 冷却方式：水冷 输入电压：110~220V 样品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm 电极材料：碳化钨针 夹具辅助材料：99氧化铝陶瓷 测量方式：直接四探针 测试功能：I-V、R-T等 数据传输：4个USB接口 设备尺寸：600x500x350mm动态测量范围：电流：10pA to 10A 电压：1µ V to 200V四象限工作 0.012%的精确度，5&half 的分辨率 可程控电流驱动和电压测量钳位的 6位线电阻测量 在4&half 数位时通过GPIB达1700读数/秒 可选式接触检查功能

新型气动式探针台，在常规探针台基础上升级了气动控制单元，改变了以往单纯依靠手柄旋转移动载物台的方式。新设计的T-150系列探针台结合了气动式和手柄移动式两种控制模式，具有快速移动的优点，又可以准确的位移调节。特别适合晶圆测试应用，也可用于单个器件，或样片的测试。特殊功能：台面升降微调装置可按照测试需要对台面进行升降调节，行程可达10mm，可配合左侧升降杆一起操作，方便取放待测件。旋柄采用合金材料制成，做工精美。 金相显微镜系统搭载金相显微镜系统，放大倍率可达2000X，可自由切换不同倍率的物镜，常规物镜倍率有5X/10X/20X/50X和100X可选。 预接触控制单元预接触控制单元可使探针尖灵活升高300微米，可升高3毫米。对于测试完一个芯片转向下一个芯片时，只需一步就能将所有探针升起，从而便于移动晶圆（或载物台）到下一个测试位置。经过我们精心的研究后设置了300微米作为一个档，即使升起后依然能见探针，移动晶圆是更加清晰明了。该装置也可更助于快速更换被测晶圆，是传统探针台功能上的一大提升。 精密千分尺调节器较其他普通探针台做的一项升级，在气动控制单元上加装的千分尺，可以将载物台位移精度提高到亚微米级，甚至更高。成都测芯科技有限公司(CHIPTEST)主要产品：探针台(Probe Station)。包括4寸、6寸、8寸、12寸常规探针台、高低温真空探针台、RF / mmW测试探针台、高压探针台、磁场探针台以及红外探针台等。可以按照特殊要求进行设计定制。代理美国GGB探针：GGB探针有ST系列硬探针、T-4系列柔性探针、Model系列微波探针（频率可到500GHz,分波导接口类型和同轴接口类型两种）、有源高阻探针、差分探针、定制探卡等，欢迎咨询。地址：成都高新西区合作路89号19栋5楼电话：曹经理 (weixin)邮箱：网站：

仪器简介：动物活性检测器 AD-2活性检测器 AD-2活性检测器是一个多用途的基于光学的运动探测器，设计用于测量小动物的行为。AD-2使用不可见的红外光线(880 nm)，好处是不会影响任何生物体的行为。 活性检测器适合于动物行为分析时区分活动期和非活动期，尤其是呼吸运动等。如果您要测量某种动物在不活动时，即静止时的新陈代谢速率，任何活动将打断您的测量。AD-2活性检测器可以电压信号形式记录活动，来对活动进行客观测量。因此，它是小动物，如昆虫等研究级呼吸系统的必要组分。 AD-2活性检测器有两个光学传感器(一个发射器和一个接收器)，可任何方向放置，采用直射或反射光。我们为标准的RC-M小型呼吸室提供一个固定器。AD-2活性检测器使用9-18VDC直流电源，耗电极低(30mA)。多个呼吸系统可简单环接，可使用RM-8多路器将AD-2连接到数据获取系统。 特点 光学活性检测器可用于小动物 使用不可见的红外光 高灵灵敏 固定或可移动的探测器和发射器 电压输出，数据易于读取 极低耗电 性能指标 技术：红外光线发射于检测器 范围：1 - 10 cm 模拟输出： -5V到+5V信号输出，数值取决于光线发射或透射的变动，从而反应目标动物的活性 电源需求：9 - 18VDC 30mA 供应110VAC或220VAC适配器 操作温度：0 - 60 ℃，湿度非凝结 大小/重量：33 x 25 x 10 cm，4.5 kg MAD-1活性检测器 MAD-1活性检测器设计用于测量室或笼子里的松鼠、老鼠类的动物行为检测。它通过测量笼子施加到压力传感器上的压力来感知动物的活性。测量室或笼子里动物的任何移动都可改变压力传感器信号的平衡，从而测量出动物非入侵的活性指数。 活性检测器使用9-18VDC直流电源，耗电极低(30mA)。多个呼吸系统可简单环接，可使用RM-8多路器将AD-2连接到数据获取系统。 特点 非侵入性的活性检测 兼容多数测量室或笼子 测量动物重量范围：10g~2000g 电压输出等于目标活性指数 技术指标 技术：通过差分压力传感器检测运动 笼子重量范围：0.1kg~10 kg 模拟输出：-5V~+5V，取决于差分压力变化(重心) 电力要求：9~18VDC (30mA)，环行链界，提供220 VAC适配器 操作温度：0~60℃，相对湿度：非冷凝 大小/重量：33 x 25 x 10 cm，4.5 kg 产地：美国Sable Systems International公司

一款适用于6英寸及以下晶圆测试的标准探针台，也可用于单个器件，或样片的测试。采用U型台面设计，更好的兼容各种类型探针底座。特殊设计的显微镜安装机构，可兼容金相显微镜或是普通的体式显微镜，方便客户灵活更换显微镜。预留升级接口，可按需要加装升级套件，扩展探针台应用功能。配套相关测试仪器，可对器件的 IV、CV、脉冲/动态 IV 等参数进行测试；另有丰富的测试辅助配件供选择，如防震光学平台、测试屏蔽箱、加热控制器等。整个探针台系统占用空间小，操作灵活，简单易用！ 精密卡盘单元卡盘采用优质不锈钢精密加工而成，盘面中心有独立真空吸附孔，方便器件的固定；另有环形真空吸附槽，分别兼容2寸、4寸、6寸晶圆。搭配日本进口工业真空泵，长久耐用，气路可单独控制；卡盘可选择接地或者接信号，也可选择独立绝缘，方便对不同器件的测试要求。 独立气路控制可根据测试器件大小，独立控制吸附气路。设计上为了兼顾大、小器件的不同测试要求，真空吸附气路分成了吸附孔式和吸附环式，且吸附环大小还分为2寸、4寸等。在实际使用时可灵活控制。 三目体式显微镜标准三目体式显微镜，不仅可以通过目镜直接观察样品，还能外接CCD高清工业相机，将画面通过高清液晶屏幕显示出来。既方便测试点观察，还能随时一键拍照或是录像，方便保存测试数据。成都测芯科技有限公司(CHIPTEST)主要产品：探针台(Probe Station)。包括4寸、6寸、8寸、12寸常规探针台、高低温真空探针台、RF / mmW测试探针台、高压探针台、磁场探针台以及红外探针台等。可以按照特殊要求进行设计定制。代理美国GGB探针：GGB探针有ST系列硬探针、T-4系列柔性探针、Model系列微波探针（频率可到500GHz,分波导接口类型和同轴接口类型两种）、有源高阻探针、差分探针、定制探卡等，欢迎咨询。地址：成都高新西区合作路89号19栋5楼电话：曹经理 (weixin)邮箱：网站：

T-100-P 4寸晶圆探针台系统（升级型）简介台面采用高硬度不锈钢精密抛光工艺处理，可长久稳定使用，亦可防止生锈和减少日常使用中的磨损。台面可兼容常规磁性探针座或真空吸附式探针座。可容纳4~6个常规直流探针底座（MP-80），或是2~4个射频探针底座(MP-150R)，为复杂测试提供可能。为了适用苛刻的测试要求，显微镜视角范围需要全覆盖卡盘。为了方便在调试阶段对显微镜的立体空间移动，以及可靠性而优化设计的调节架，固定单元皆为优质铸铁外加精密电镀处理，移动单元为高硬度不锈钢材质，耐磨且稳定。配有限位挡环以及力度调节旋钮，可更好的用于显微镜的固定和灵活安全的位置调节。成都测芯科技有限公司(CHIPTEST)主要产品：探针台(Probe Station)。包括4寸、6寸、8寸、12寸常规探针台、高低温真空探针台、RF / mmW测试探针台、高压探针台、磁场探针台以及红外探针台等。可以按照特殊要求进行设计定制。代理美国GGB探针：GGB探针有ST系列硬探针、T-4系列柔性探针、Model系列微波探针（频率可到500GHz,分波导接口类型和同轴接口类型两种）、有源高阻探针、差分探针、定制探卡等，欢迎咨询。地址：成都高新西区合作路89号19栋5楼电话：曹经理 (weixin)邮箱：网站：

水土保持林是为了调节水土流失地区地表径流、预防地表土壤侵蚀、防止河流水库泥沙堆积并能为人们提供林业副产品的人工种植或天然生长林。水土保持林属于防护林中的一种，探针式土壤墒情监测站还可以分为五大类：水源涵养林、沟道防护林、池塘水库防护林、坡面防腐林、梯田地坎造林。一、产品简介TH-TS600探针式土壤墒情监测站是一款高度集成、低功耗、可快速安装、便于野外监测使用的高精度自动气象观测设备。探针式土壤墒情监测站该设备支持有线、GPRS、蓝牙等传输方式，免调试，可快速布置，广泛应用于农业、林业、地质、高校、科研等方面。主要针对土壤水分含量和土壤温度进行监测，通过水分传感器和温度传感器测量土壤的体积含水量（VWC）和温度值。同时，根据用户需求，可以扩展配置土壤电导率、土壤PH、空气温度、空气湿度、太阳辐射、雨量等气象传感器。二、产品特点1、六层土壤温湿度传感器2、太阳能板顶盖镶嵌式设计，提高了光电转化效率，增加了抗风等级3、低温7寸安卓屏，版本：4.4.2、四核Cortex&trade -A7，512M/4G4、充电控制器：MPPT自动功率点跟踪，效率提高20%5、短信报警，超限后向指定的手机上发送短信6、土壤水分温度一体集成，不锈钢制作钢针，可经受长期点解，更耐腐蚀7、ABS材质防护箱，耐腐蚀、抗氧化，防水等级IP66三、技术参数1)土壤水分：测量范围：0-100%，精度：±3%，探针长度：5.5cm，探针直径：3mm，探针材料：不锈钢2)土壤温度：测温范围 －40+125℃，测量精度±0.5℃，分 辨 率：0.1℃3)土壤电导率：测量范围 可选量程：0-5000us/cm，10000us/cm，20000us/cm，测量精度0-10000us/cm范围内为±3% 10000-20000us/cm范围内为±5%，分辨率0-10000us/cm内10us/cm, 100000-20000us/cm内50us/cm（选配）4)土壤PH：测量范围：0-14 分辨率：0.1 测量精度：±0.2%（选配）5)空气温度：测量原理二极管结电压法，-40℃～85℃（±0.3℃）（选配）6)空气湿度：测量原理电容式，0～100%RH（±2%RH）（选配）7)太阳辐射：测量原理光电效应，0-2000W/m2(0.1W/m2)（选配）8)光学雨量：测量原理光电式，0～4mm/min（选配）9)数据存储：不少于50万条；10布设时间：1人，不大于30分钟完成布设；四、上位机软件介绍1、PC单机版数据接收、存储、查看、分析软件2、支持串口数据接收、处理、展示3、支持json字符串、modbus485等通信方式4、可自设置存储时间，modbus485采集模式下可自设置采集时间5、支持自助增加、删除、修改监测参数的协议、名称、图标等6、支持数据后处理功能7、支持外置运行javascript脚本五、安卓APP介绍1、安卓单机版数据接收、存储、查看、分析软件2、支持蓝牙数据接收3、手机休眠后软件后台接收、处理4、json数据自动添加设备，modbus设备支持扫码添加设备5、支持历史数据查看、分析、导出表格，支持曲线展示、单数据点查看。6、支持数据后处理功能7、支持外置运行javascript脚本六、云平台介绍1、CS架构软件平台，支持手机、PC浏览器直接观测、无需额外安装软件。2、支持多帐号、多设备登录3、支持实时数据展示与历史数据展示仪表板4、云服务器、云数据存储，稳定可靠，易于扩展，负载均衡。5、支持短信报警及阈值设置6、支持地图显示、查看设备信息。7、支持数据曲线分析8、支持数据导出表格形式

一款适用于8英寸及以下晶圆测试的标准探针台，台面加宽设计，便于摆放更多探针座，实现复杂灵活的测试应用。常用于对器件的 IV、CV、脉冲/动态 IV 等参数进行测试；接口兼容主流测试仪器。升级版的T-200系列探针台，台面可快速升降，或微调升降。同时具备快速装片功能。其载物台可选气动式和丝杆传动式相结合的位移模式，具有快速移动的优点，又可以实现准确的位移调节。特别适合晶圆测试应用，或是多个器件，样片的批次测试，提高整体测试效率。整个探针台系统采用模块式设计，占用空间小，操作灵活，简单易用，方便维护和升级。是常规手动探针台的升级替代方案！金相显微镜系统搭载金相显微镜系统，放大倍率可达2000X，可自由切换不同倍率的物镜，常规物镜倍率有5X/10X/20X/50X和100X可选。 台面快速升降单元可快速升降探针台面，便于分离探针尖和被测件。方便快速更换被测件。升降行程可达10mm，配备精密微调旋钮，微调行程50mm，精度达到亚微米级。操作杆带锁定功能。操作灵活便捷。 优良接地处理科学合理的接地处理，让测试结果更准确。 独立气路控制可根据测试器件大小，独立控制吸附气路。设计上为了兼顾大、小器件的不同测试要求,真空吸附气路分成了吸附孔式和吸附环式，吸附环大小包括2寸、4寸、6寸等，可以实现向下兼容。在实际使用时可灵活控制。 台面升降微调可按照测试需要对台面进行升降调节，行程可达50mm，可配合左侧升降杆一起操作，方便取放待测件。旋柄采用合金材料制成，做工精美。 台面高度实时显示较其他普通探针台做的一项升级，在气动控制单元上加装的千分尺，可以将载物台位移精度提高到亚微米级。成都测芯科技有限公司(CHIPTEST)主要产品：探针台(Probe Station)。包括4寸、6寸、8寸、12寸常规探针台、高低温真空探针台、RF / mmW测试探针台、高压探针台、磁场探针台以及红外探针台等。可以按照特殊要求进行设计定制。代理美国GGB探针：GGB探针有ST系列硬探针、T-4系列柔性探针、Model系列微波探针（频率可到500GHz,分波导接口类型和同轴接口类型两种）、有源高阻探针、差分探针、定制探卡等，欢迎咨询。地址：成都高新西区合作路89号19栋5楼电话：曹经理 (weixin)邮箱：网站：

意大利LaserPoint公司是一家专业研发和生产激光功率计和能量计的公司，在激光功率计和能量计等产品领域拥有几十年的研发经验，其产品质量一流、可测波段涵盖紫外到中远红外几乎所有激光波长、可测功率可达数千瓦、能量可达数百焦耳，广泛应用于工业、医疗、科研等众多领域。激光探针是对激光功率测量方法的突破。探针内置微处理器根据温度动力学确定最佳测量时间长度，全自动运算得出功率参数，可多次在无制冷的情况下很准确的测量最高10KW。Laserpoint激光功率探针包括三个系列：FIT系列可以快速检测中低功率的激光；Cronos系列用于测量高功率激光；而FIT-IPL-R用于测量能量和强脉冲医疗光源（IPL），价格便宜，使用方便。 一、FIT系列 中低功率激光探针产品特点：■ 双波长校准（CO2 and Yag）■ 4秒钟测量和显示读数■ ±1%重复性■ ±3%准确度■ 50W的探针拥有10mW的分辨率■ 用户可以自己校准 Fit系列是全自动手持式激光探针，专用用于测量中低功率的激光。Fit功率探针是基于热电堆探测器的温度动态专利技术；测量和数据采集都是全自动的，这样就避免了用户操作失误造成的误差。 三款型号覆盖500mW到500W的功率范围。创新的测量理念下形成的Fit探针可以在4秒内获得高重复性（±1%），高准确度（±3%），高分辨率（50W量程下分辨率为±60 mW）的功率读数（最低可测满量程的1%）Fit功率探针的LCD显示屏功能强大，可以同时显示功率，选择的波长（标准的是CO2 和Nd-YAG，其他波长也可以要求），探针型号和电池电量报警等信息。移动的柱状条显示探针的实际温度：这就让使用者知道是否探针可以继续使用，还是说必须冷却了。 所有的探针都配有宽带，低反射膜层，这些膜层的损坏阈值很高。用户可以通过将电路复位来刷新原始灵敏度，这样就可以重新校准了。 两节AA电池可以持续工作，至少测量4000次。Fit探针测量准确，使用方便，价格比其他功率计都便宜，更适合产线上工业应用。 二、Cronos系列：高功率激光探针三款型号覆盖1.5W到10KW的功率范围■ 双波长校准（CO2 and Yag）■ 8秒钟测量和显示读数■ ±2%重复性（5KW和10KW的型号重复性为±5%）■ ±4%准确度■ 10KW的探头分辨率为1W■ 用户可以自己校准 Cronos系列是全自动手持式激光探针，专用用于测量高功率的激光。Cronos功率探针是基于热电堆探测器的温度动态专利技术；测量和数据采集都是全自动的，这样就避免了用户操作失误造成的误差。 创新的测量理念下形成的Fit探针可以在8-10秒内获得高重复性（±2%），高准确度（±4%），高分辨率（10KW量程下分辨率为1W）的功率读数（最低可测满量程的1%）。 三款型号覆盖1500W到10000W的功率范围。 Cronos功率探针的LCD显示屏功能强大，可以同时显示功率，选择的波长（标准的是CO2 和Nd-YAG，其他波长也可以要求），探针型号和电池电量报警等信息。移动的柱状条显示探针的实际温度：这就让使用者知道是否探针可以继续使用，还是说必须冷却了。 所有的探针都配有宽带，低反射膜层，这些膜层的损坏阈值很高。用户可以通过将电路复位来刷新原始灵敏度，这样就可以重新校准了。两节AA电池可以持续工作，至少测量4000次。Cronos探针测量准确，使用方便，价格比其他功率计都便宜，更适合产线上工业应用。 三、Fit-IPL-R:测量强脉冲光（IPL）的能量计 Fit-IPL-R可以测量闪光灯的单发的脉冲能量，最高可测量350J或者最高平均功率100W。Fit-IPL-R测量的动态范围大，最低可测量满量程的1%。■ 可以测量脉冲能量范围是7-350J■ 当用burst mode工作时平均功率最高为100W■ ±1%重复性■ ±3%准确度■ 10秒钟测量和显示读数■ 分辨率为10mW和100mJ■ 输出数据单位可选择J/cm2，配有1cm2孔的金属板 Fit-IPL-R是全自动手持式激光探针，专用用于测量IPL（强脉冲光源）。Fit-IPL-R有一个矩形的暴光区域（60x20mm），以适应光斑形状的要求。 探测器表面有一块窗口镜用来保护吸收层。宽带的探测器工作波长从400-1400nm，这是一般医疗最常用的波段（光子脱毛，皮肤恢复，治疗痤疮，治疗牛皮癣等）。 Fit-IPL-R的吸收层性能优异，可以用来承受专业系统（医疗和门诊）中最高的能量密度（最高90J/cm2）。但是它使用起来仍然非常灵活，它可以用在半专业的系统中（例如在美容院）和最终使用的系统中（通常为2-10J/cm2）。它的LCD显示屏功能强大，可以同时显示闪光灯的能量（或功率）；也能显示工作模式（单发的脉冲能量还是重复性的脉冲），探针模式和电池电量报警。客户也能打开微动开关，通过修正灵敏度来自行对该设备进行校准。Fit-IPL-R只要一个键就可以完成操作，如果5分钟内没有操作，它就会自动关闭，并且把最后一次测量结果保存在存储器中。两节AA电池可以持续工作，至少测量4000次。

储存于地下的燃料或化学物质泄漏会带来严重的环境风险，并减缓棕色地块（指城中旧房被清除后可盖新房的区域）的修复。磐合科仪引进的英国Markes公司VOC-MolesTM土壤探针提供了一种筛选污染土地中挥发性有机化合物的简单方法。它有利于对商业、废物和棕地场地进行有效调查，确定地下泄漏或地表泄漏，并经济有效跟踪溯源污染来源。土壤探针可以经济有效地对大面积土地进行原位筛选，包括工业生产场地，也可沿油料管道的长期放置，以提供泄漏的早期预警。土壤探针内部的扩散采样管可以24小时连续监测土壤VOC气体。泵采样也可以用于监测土壤VOCs。VOC-MolesTM通常以网格形式排列在感兴趣（有用）的位置上，允许有机污染物进入探针并收集（扩散采样或主动（泵）采样）到内部的吸附剂管中。全自动热脱附-GC / MS可快速分析识别土壤污染的性质、来源和扩散（方向），并能很好地显示土壤气体/蒸气水平。VOC-Mole土壤探针以网格形式排列在一个工业场地周围，可经济有效地测绘污染地面分布该VOC-MoleTM由不锈钢制成，可以长时间留在原位（初次采样处），在应用要求的任何采样频率下，将挥发性样品收集到吸附管上。VOC-MoleTM探针有三种探测长度，还有一种改良版可以在沼泽地带使用。独特的铝制采样帽（Markes受版权保护的设计）使探头既适用于扩散采样，也适用于主动（泵）采样。盖子上有O型密封环，防止水、野生动物和一般土壤碎片进入。采样吸附管/扩散帽组件可以在实验室中准备好并密封，以便运输到现场即开即用（探针之前可能已经安装就位）。可以采取各种不同的取样频率，例如：■ 长时间的标准扩散监测（即24小时）■ 被动（泵）采样监测，吸附管放置在探头内部或外部■ 使用两管串联泵采样，监测高挥发性组分（防止样品穿透）■ 使用手持的PID或FID检测器来检测VOC-MoleTM内的有机蒸气浓度

一、普通光纤探针光谱探针是由一束粘在一起的光纤，为光谱仪、光辐射（LED，激光，灯等），介质反射、荧光及吸收的光谱分析提供了较好的耦合效率。产品特征：●多通道的光度、光谱处理（高达37通道）。●预选波长的高光学通量，与各种光源、滤波器、迷你光谱仪兼容。●根据客户应用定制。聚合物或金属涂覆层。●高达600摄氏度的高温探针应用。●高达469根光纤的光纤束，直径从100um到600um。 光纤6+1 or 7+1 光纤束50,100,200,300μm core中间的光纤金属涂覆光纤类型 UV-VIS光纤类型 VIS-NIR探针头PEEK 套管 ? 1.0mm 钛金属套圈不锈钢针 ? 1.5mm L=60mm 带 机头 ? 8 mm L=80mm 客户定制可选光谱范围200-960nm 或 280-2100nm220-4000 nm 的特殊设计保护管柔韧的硬塑料聚合物 PEEK ? 1.0mmFlexible Ni or Cr plated Rigid Brass Tube 镍或铬电镀黄铜管? 4.9mm 可选的 PVC or PVC + Polycarbonate Tube ? 3.0-5.0 mm聚酸碳脂管温度范围-40°C +120°C 到 600°C - on request高低温探针可选光学连接器SMA-905 +ST or FC -FC客户连接头设计可选传输通道光纤输入呈线性或圆形分布柔韧性主要部件最小弯曲半径20mm (短时) -45mm (长时)可定制最小弯曲半径达5mm附件 液体吸收测量的带可调节球面镜的长传光学头 针对平行光束的光学增透膜透镜系统 适用于粉末和厚样品的反射探针头二、ART光纤探针ART photonics 的FlexiSpec探针包括新型的可衰减全反射设计适用于恶劣的应用条件。产品特点：●在近红外和中红外选择的谱线部分高光学通量；● ATR探针末端液体浸入式设计不留忙去；●在高达250°C的恶劣环境中，稳定的工业应用；●可承受高压；●与所有光谱仪和自动处理接口兼容。产品应用：●远程在线反应监控，温度范围（-100/+250°C）●PAT应用在实验室、试验厂以及具有过程接口的自动化过程控制的工业应用●化学药品、石油化学的、原子的、生物制药和视频工业实时的红外谱测量高温环境FlexiSpec IR-Fiber HT-ATR-Probes 规格探针类型Diamond ATR ZnSe ATRCubic Zirconium ATR传输范围5.2-17μm (600-1900cm -1) + 3.2-17μm 600-3100cm -1)1.5-6.5μm(1550-6650cm -1)光纤类型PIR-900/1000 卤化银PIR-900/1000卤化银硫属化合物玻璃 (As-S)工作温度范围-100°C / + 250°C-100°C / + 250°C-100°C / + 200°C承受压力 (max*)*for 12mm shafts200Bar*10Bar*100Bar*高温环境FlexiSpec IR-Fiber HT-ATR-Probes 规格全长1.5m (opt.: 1m to 5m)*轴长300 mm (opt.: 300-700 mm)*轴直径12mm轴材料Hastelloy C22腿长300mm (opt.: 100mm to 500mm)保护套管材料Liquid Tight SS-Conduit, KOPEX-Tube最小弯曲半径130mm输入/输出连接器长SMA头 (其它类型可选)冷却气体参数超压 0.5Bar, 流量2300l/h内部温度控制内部轴控制光纤温度 兼容的过程接口Ceramat-FOS三、透射和TransFlex光纤探针FlexiSpec 产品线包括最新一代的单通道和双通道的光纤探针兼容所有光谱仪和光度仪。单通道和双通道的光纤探针兼容所有的可自动清洗的过程接口，可实时监控实验室，实验工厂和全自动的工艺控制。产品特点：●长距离实时监测液体传输光谱●紫外、可见至中红外谱线的高光通量●恶劣环境中灵活稳健的工业应用●兼容所有光谱仪和自动控制的过程接口产品应用：●反应过程的实时监控●工程分析技术●结晶过程的监测●特性分析●生物制药分析●生物燃料的开发与发展光纤传输和Transflection Probes FlexiSpec规格探针类型TransmissionTransflection传输范围0,2 - 1,3 μm0,4 - 2,2 μm0,2 -1,3μm0,4 - 2,2 μm1,6 - 5,5 μm光纤类型Silica UV-VisSilica Vis-NIRSilica UV-VisSilica Vis-NIRCIR间隙大小2 5 10 20 mm2 5 10 mm2 5 10 20 mm2 5 10 mm0.05 – 2.0 mm工作温度≤ 200°C≤ 200°C≤ 200°C≤ 200°C≤ 100°C最小弯曲半径120 mm (for 600 μm core)130 mm Fiber Optic Transmission and Transflection Probes FlexiSpec一般参数全长1,5 m (opt: 1 – 30m) *轴长230mm (opt: 50 – 500mm) *轴直径12mm轴材料SS, Hastelloy C22保护套管材料Liquid Tight SS-Conduit, KOPEX-Tube输入/输出连接器Long SMA FC/PC ST兼容的过程接口Ceramat-FOS or SensoGate-FOS*客户可定制尺寸四、环形光纤探针产品特点：●中红外光谱范围的高光通量●液体、粘&软固体表面实时吸收谱测量●兼容所有傅里叶光谱仪、量子级联和红外滤波光谱仪●昂贵的可衰减全反射红外探针的替代选择●可替换的光纤探针末端ATR-Loop Infrared PIR-fiber probe 是最早的FlexiSpec产品线中设计用来在傅立叶变换光谱仪和其它的中红外光谱仪中使用的不需要取样就可完美的远程分析液体、糊剂和软表面的成分。产品应用：●实时远程监控吸收谱●浸入式光纤环可衰减全反射谱测量●简单的光纤环接触皮肤，进行医疗诊断的活体细胞谱测量Fiber Optic ATR-Loop Probes FlexiSpec规格探针类型Chalcogenide-IR (CIR)Polycrystalline-IR (PIR)传输范围6500 – 1700cm -13600 – 600cm -1光纤类型Chalcogenide glass (As-S)Silver Halide (AgCl:AgBr)温度范围≤ 90°C≤ 100°CFiber Optic Multi-Loop Probes FlexiSpec一般参数全长1m (opt.: PIR up to 5m, CIR up to 10m) *轴长120mm *轴直径10mm轴材料PEEK保护套管材料PEEK输入/输出连接器Long SMA-905 (opt.: any other type)可分拆的PIR 光纤环Loop Multi-Loop (Double-, Triple-Loop, etc.)*客户可定制