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红外缺陷测试仪

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红外缺陷测试仪相关的仪器

  • 太阳能光伏检测设备是一种用于检测太阳能光伏板和光伏电站性能和质量的仪器。其中,EL缺陷检测仪是其中的一种重要类型,它可以通过电致发光(EL)技术来检测光伏板中的缺陷和问题。EL缺陷检测仪利用晶体硅的电致发光原理,通过高分辨率的红外相机拍摄组件的近红外图像,获取并判定组件的缺陷。这种检测方式具有灵敏度高、检测速度快、结果直观形象等优点,是提升光伏组件品质的关键设备。通过EL缺陷检测仪的检测,可以全面掌握太阳电池内部问题,为改进生产工艺提供依据,提升产品质量。同时,可以对问题组件进行及时返修,尽可能的降低损失。除了EL缺陷检测仪,太阳能光伏检测设备还包括其他多种类型,例如IV曲线测试仪、光功率测试仪、环境模拟测试箱等。这些仪器可以对光伏板和光伏电站的各项性能指标进行全面检测,确保其性能和质量符合相关标准和要求。总之,太阳能光伏检测设备是确保光伏板和光伏电站性能和质量的重要工具,而EL缺陷检测仪则是其中的一种重要类型。通过使用这些仪器,可以有效地提高光伏产品的质量和可靠性,促进光伏产业的发展。
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  • CSI-Z097人工牙陶瓷牙孔隙和其他缺陷测试仪一,用途用于测试人工牙陶瓷牙孔隙的特定仪器。在牙科修复领域,通常使用的仪器和设备是用于检测和评估牙齿健康和状况的通用工具;2, 执行标准YY0300-20093, 技术参数控制系统:Windows系统+PLC 操作界面:彩色15寸工控机,中英文切换;砂轮电机:0-8000R/min,无级变速;固位材料:PMMA 砂纸规格:P240-P600之间,数量1包-10张;设备内置抛光功能,抛光膏配一盒0.3um 配置显微镜100倍可连接工控机显示成像功能;测试软件:进口CSI测试软件1套;软件分析数据:a)直径在 30 μm~40 μm 孔除的个数。b)直径在 41 μm~150 μm 孔隙的个数。e)直径大于 150 pm 孔隙的个数;
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  • el缺陷检测仪 400-860-5168转4652
    EL缺陷检测仪,全称为电致发光缺陷检测仪,是一种利用电致发光原理检测太阳能电池板内部缺陷的设备。它通过向太阳能电池板施加一定的电压,使电池板内部的缺陷区域产生发光现象,进而通过高清相机捕捉这些发光区域,实现对光伏板内部缺陷的精准定位和分析。产品简介:EL缺陷检测仪于光伏太阳能电池板的内部缺陷检测,可更好的帮助用户完成产品质量检测把控生产与安装风险,EL缺陷检测仪搭载2400万级红外相机可有效帮助用户发现光伏板内部直流质量问题,设备配套储能电源与Wi-Fi无线控制模块,现场的检测使用更为便捷快速。 应用场景:EL缺陷检测仪适用于光伏电站组件到货检与安装后支架上组件测试,以及仓库/实验室/工厂的组件质量检测。 可识别缺陷类型:隐裂破片碎片断栅黑心虚焊工艺污染低效率片黑边烧结过刻穿孔 产品特点优势:1、2400万级高清红外相机、EL画质更清晰2、全时自动对焦模块成像精度更高3、无线控制设备检测,快速成像4、程控恒流电源现场检测实现24小时不间断测试5、平板电脑无线检测图传查看无需相机查看检测图像6、储能电源现场检测无需任何准备即可测试7、2米碳纤维三脚架支架上组件多角度测试更便捷8、整机无线远程操作测试,一人即可完成整个项目9、三防拉杆箱携带运输轻便安全应用领域:场景工厂组件、仓库组件、电站现场组件测试、测试白天:户外防红外暗室测试;室内无太阳光环境测试夜晚:直接三脚架测试,灯光月光无影响对象晶硅组件、薄膜组件(可定制)数量单块组件成像检测 规格参数:模块配置规格相机模块像素2416万像素分辨率6000x4000芯片23.5x15.6mm、CMOS传感器红外芯片Lailx9s锗芯片 99.8%红外折射率精度1.0mm/pixel检测速度1~30s可调弱电流测试可在5A弱电流呈现清晰隐裂成像光屏蔽灯光、月光、星光、室内轻微太阳光、100辐照度以下太阳光对测试无影响检测面积4000mm*2000mm镜头18mm广角红外镜头对焦模式全时自动对焦电池980mah内存卡32GB数据线10cm电源模块容量10AH电芯高性能离锂电池输出电流8A电流精度0.1A输出电压70V电压精度0.1V负载功率100W~600W;上限不高于700W检测数量300~500块光伏板控制面板LED数显程控面板功能设置无线遥控上电断电节电模式上电10s后自动断电稳态模块恒定电源输出电流电压不受电量大小变化电路保护短路保护、断路保护、电流倒灌保护、过热保护、静电保护、电流电压自适应匹配光伏板上电线10cm交流三孔输入线直流线5m直流输出线、MC4端口对接组件电脑平板电脑华为平板 32GWi-Fi2.4G内置2.4GWi-Fi无线控制模块软件检测APP无线控制相机检测拍照,图传成像,动态视频取景定位,历史图片查看,图像下载等PC电脑软件检测自动检测,缺陷分类识别保存,文件夹日期管路,统计,增益,截图,相机参数调节,专业管理台式机软件支架系统检测支架1.5米铝合金支架检测云台支架一体式安装,360度旋转定位模块检测定位十字激光定位仪,快速定位支架上后组件位置,可提高数倍检测效率使用环境沙漠,高原,屋顶,丘陵,山坡,厂房,屋顶,雪地,大棚,农光互补,鱼光互补,风光互补,等各种环境质保售后2年质保、24H响应、72H故障解决方案、备品备件协调 配置清单:序号名称规格数量单位1EL相机2400万红外相机,全自动对焦1台2EL红外镜头18mm广角红外镜头;精度0.8mm1台3平板电脑华为荣耀 32G1台4Wi-Fi传输模块内置2.4G Wi-Fi模块1套5数据线/充电器标准1套6相机电池标准2套7检测支架2m碳纤维三脚架1套9检测云台720云台1台10EL-DC移动电源10AH储能,70V,700W,恒流恒压输出,遥控器无线控制,续航300~500块组件,10S自动断电1台11上电线5米1根12检测定位仪十字镭射激光定位,快速定位检测组件位置1套13设备拉杆箱专用三防仪器拉杆箱;1套14EL-APP检测软件无线操作相机检测,即时取景,图传查看,图片下载,历史图片查看1套15windows软件检测自动检测,缺陷分类识别保存,文件夹日期管路,统计,增益,截图,相机参数调节,专业管理台式机软件1套*适用场景光伏电站安装前测试;支架上组件测试*其他标准应用设备,市场主流产品。
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  • SBG-80T铝箔微孔检测台 药用铝箔表面缺陷测试仪SBG-80T铝箔微孔检测台 药用铝箔表面缺陷测试仪,由D6500高显色性超级光管与精密制造的投光机构组成。各项技术指标充分满足CIE国际照明委员会及CY3-91标准有关色评价与配色比色照明条件的规定。可全天候应用于铝箔针孔度的测试。专业技术:进口CIE D65 光源配置光谱稳定、显色准确符合标准的钢化玻璃,照度规范、光照均匀、可靠安全配置光源寿命自动计时器,方便用户及时了解仪器的运行情况SBG-80T铝箔微孔检测台 药用铝箔表面缺陷测试仪测试原理:在规定的环境及灯箱光源下,利用铝箔针孔的透光性,观察铝箔针孔数量,并测量针孔的尺寸。测试标准:该仪器参照多项国家和国际标准:GB/T 3198、GB/T 22638.2、YBB 00152002-2015测试应用:基础应用:药用铝箔——适用于药品包装用铝箔针孔度测试工业铝箔——适用于工业用铝箔针孔度测试SBG-80T铝箔微孔检测台 药用铝箔表面缺陷测试仪技术指标:观察尺寸:400×250mm色温:6500 K玻璃透射光照度:1000Lux左右使用环境光照度:20Lux-50Lux放大倍数:100倍最小刻度值:0.01mm电源:220VAC 50Hz/ 120VAC 60Hz外形尺寸:800mm(L) × 600mm(W) × 230mm(H)净重:10 kg产品配置:标准配置:主机、显微镜
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  • 仪器介绍: 便携式EL检测仪又名光伏组件内部缺陷检测仪,是检测光伏电站质量的重要仪器;通过EL检测仪测试后,可以清晰分辨光伏电池的内部缺陷,例如:碎片、隐裂、断栅、低效片混档等。检测原理: 电致发光(英文electroluminescent),又可称电场发光,简称EL,是通过加在两电极的电压产生电场,被电场激发的电子碰击发光中心,而引致电子在能级间的跃迁、变化、复合导致发光的一种物理现象。根据电致发光原理,将组件正负极接入直流电源的相应极性进行正向导通,电流控制在光伏组件短路电流以内,一般6A~8A范围,使光伏组件在通电状况下发出近红外光线(此光线人眼无法识别);通过定制的近红外相机对组件发出的近红外光线进行采集;将采集的图像反馈到显示屏上供测试人员进行相关缺陷分析。
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  • 热成像法缺陷分析仪 400-860-5168转5963
    当热量从器件发热点(源)向环境中传递过程中,偶尔会遇到一些热的阻碍物,通常这些热阻碍物会非常严重的影响器件的可靠性。通过直接观察热的产生和其传递的路径是发现这些缺陷症状的最有效方法。TIFAS IR是一个高度集成的桌面型红外热成像法失效分析仪,可应用于几乎所有材料的失效分析。通过观察电子器件、系统、复合物、多层聚合物或烧结零配件的全波段光谱来判断其综合结构,如杂质、缺陷以及形貌等。技术参数:测试时间:1-10 sIR相机像素:382*288px (可提供更宽范围)观测区域:95 mm x 123 mm(可提供更宽范围)…欢迎联系我司,索要样本。
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  • BGA缺陷检测仪 400-860-5168转2189
    正业科技成立于1997年,专业从事精密检测仪器的研发与生产,近年来公司自主、合作研发、生产的产品仪器离子污染测试仪、外观检查机、X光检查机、特性阻抗测试仪,UV激光切割机,UV激光打孔机,X-RAY检测仪,BGA焊点检测仪等40余咱仪器适用于硬/挠性板的测试仪器设备,同时我司仪器也向锂电、SMT行业辐射。我司生产的BGA焊点检测仪主要用于SMT行业检测检测封装好的物品的内部结构,看是否有断痕,气泡,焊点检测,电路的短路等。例如在检测多层基版是否短路,在电容器中是否有气泡,光纤电缆线的铜丝是否断裂,SMT贴片电感检测,SMT贴片电容检测,电池检测中正负极是否对位等问题。X 射线可以穿透基板的表面看到基板的内部电路。BGA焊点检测仪(X-RAY检测仪)是利用X射线的穿透能力对BGA焊点的断路、焊锡点不足,缺陷、气泡,线路连接等问题进行检测。我司生产的BGA焊点检测仪(X-RAY)主要是检测封装好的产品,通过X光透视检测内部结构,我司的X-RAY检测仪是无损检测,如您有产品需要透视内部结构的都可以咨询我司,您也可直接拿样品到我司进行现场检测。
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  • 电池缺陷检测仪 400-860-5168转2189
    电池缺陷检测仪XG5000广泛应用电池行业检测电池的内部缺陷和实效分析。用户可以通过这款仪器获得高质量、高放大倍率、高分辨率的电池内部图像,对电池内部的正负极以及内部结构进行检测。电池缺陷检测仪XG5000具有标配超高性能90KV 的X射线管,可检测5微米的缺陷,最大几何放大倍率可达到48X.优质的优质的影像品质,高对比度,可检测到微小密度/灰度差异,便携式的操作方式更易于用户的行为。 电池缺陷检测仪XG5000所配备的软件功能 一 【测量功能】 1、直线距离、点线距离、圆直径、同心圆、点与圆心距离等测量 。 【图像浏览功能】2、可以调出原来的图片,进行比对,方便对异常现象的分析。3、选择任意图像,可以选择原先图片的检测设定条件,方便快速分析。 二 【步进功能】 载物台可以依设定好的程序,自动按照程序的功能,在检测量大形状单一的产品时有一定的优势。可以方便控制X光管和相机移动的方向和间隔时间,也可以设置不同检测点的X射线条件(电压,电流)进行不同效果检查。三【自动导航功能】 用鼠标点击导航图像任意一点,X光管和相机自动移动到想要被检测的地方。也可以回看上次保存的各个点位置和被测条件(如电流,电压等),被测图像在屏幕上可视化,操作简单,直观,定位准确.导航图像中有十字光标,便于操作人员识别。电池缺陷检测仪XG5000特色1、配置有免维护的密封管型微焦点X射线管。2、运动装置配备滚珠丝杆,同步轮步进驱动,使运动更加平滑,精度高,噪声小等优点。3、高压电源与光管是一体式的,工作更稳定、可靠。4、光管自动保护功能:无任何操作20min后自动断电进入保护状态。5、机器自动保护功能,任何一扇门开启,设备立刻进入停机保护状态,立刻停止发射X光。6、累计光管适用时间自动计时,角度倾斜及自动导航功能为选项。7、在软件操作界面上的X光&ldquo 开关&rdquo 按钮,可以用颜色来区分&ldquo 开&rdquo &ldquo 关&rdquo 。8、X光管使用时间的统计可以在菜单上显示。9、成像画面随鼠标指示位置移动,当鼠标点击成像画面某点位置时,某点位置移动到成像区域中央。10、鼠标点到之处,鼠标滚轮能实现成像图像的放大、缩小功能。11、软件加刻度或测量标尺。电池缺陷检测仪XG5000技术参数项目型号 XG5000光管X-Ray Tube光管类型/Tube style闭管,电源一体式光管电压/Tube voltage90kV光管电流/Tube current200&mu A(软件限值89&mu A)冷却方式/Cooling mode强制风冷几何放大倍率/Geometricmagnification time12-48 XX光管和图像增强/X-ray tube and intensifierX轴/Axis X16"(400mm)Y轴/Axis Y18"(450mm)X光管/X-ray tube Z轴/Axis Z6"(150mm)增强屏/Image intensifier视场/Field of view range2"/4"解析度/Analyse75/110 lp/cmX-Ray外壳尺寸/Dimension1028X1025X1840mm重量/Weight约760kg电源/Power供电方式/Power supply ACAC250 10A计算机Computer品牌/BrandHP 操作系统/Operation SystemWindows XP显示器/Display22"宽屏液晶显示器主机8200 Elite CMT/New core i3-2100(3.1G/3M/2)/2G(1*2G)DDR3 1333/500G(SATA)/DVD/No FDD//USB Keyboard/USB Optical Mouse/3-3-3/机箱智能电磁锁/Power Assistant辐射安全标准Radiation Safety Standard&le 1uSv/hr(国际安全辐射标准)&le 1uSv/hr(国际安全辐射标准)工作环境Working environment温度Safety Operating Temp.22± 3℃我司生产包括电池缺陷检测仪、离子污染测试仪等方面的仪器都有良好的保修制度。
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  • 红外热缺陷无损定位 400-860-5168转6017
    Optotherm Sentris ---高分辨率热成像无损缺陷定位系统是一款高分辨率热成像无损缺陷定位系统,通过锁相信号处理技术和强大的算法软件,将异常点的微弱发热提取出来,达到0.001 ℃的温度分辨率,以及最低约5uw的检出限,5um的高分辨率定位。无损分析---不破坏样品系统具有超高灵敏度,无需对样品进行预处理,只需给样品上微弱的电流即可实现定位,对于样品量较少,已封装或封胶的产品,可以做到不需要开封或去胶就能无破坏定位,而对于PCB,则不需要传统方法的割线或切割等。深圳市立特为智能有限公司(Shenzhen Leaderwe Intelligent Co., Ltd)作为OPTOTHERM中国区总代理,于2016年设立联合实验室,提供设备销售,验证,服务,技术支持等。
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  • 光伏无人机检测设备----------------H230光伏无人机检测设备 H230 应用于光伏电站的方阵组件EL检测与热成像检测,具备高效便携,高精度检测模块可进行定点或大面积巡检,多种模式检测功能,为电站检测与运维检测优选设备.高性能无人机系统H230采用大疆(M300RTK)行业无人机,作为全球市场占有率第一的无人机制造商,DJI无人机具备了更高的飞行稳定性与可靠性,M300RTK轻量化设计的机身最大续航可达50分钟,并搭载了新一代精准可靠的A3飞行控制系统和LIGHTBRIDGE 2高清数字图传。模块安装进行避震设计处理保障可靠的飞行表现和操控。内置飞行参数自适应的功能实现2.5kg范围内不同负载下的参数免调,操作便捷。同时无人机内置稳定模块,可大幅提升飞行可靠性,有效清除磁干扰的影响并提供厘米级的定位功能。整套系统具备更高的续航检测安全与稳定性能高分辨率热成像模块H230光伏无人机检测设备采用进口多传感热成像模块,其高达640X512像素的全辐射红外检测模块可实现30HZ高清热辐射红外图像与同步数据记录。热成像模块配备有红外与可见光双图传存储功能,搭配功能强大的热成像分析软件可有效帮助后期缺陷分析与定位分析。整套热成像系统具备GPS定位无人机巡航检测功能,可在无人情况下完成一整个方阵的检测与记录功能。可满足包括光伏电站检测在内的所有热辐射检测功能需求H230光伏无人机检测设备功能主要配置性能功能说明记录仪基于Intel CPU,运行红外相机和可见光相机,并存储相应的数据热红外相机H20T可见光相机2000万像素变焦相机;1200万像素广角相机;激光测距仪1200米综合遥控器遥控飞机、云台、红外相机和可见光相机摄录以及实现图像实施传输功能无人机大疆 M300rtk云台移动式可见光相机与红外相机共享云台近距离图传模块完成将图像从云台无线传输到无人机的图传系统飞行时间55分钟无人机功能说明对称点击轴距895mm外形尺寸810mm*670mm*430mm(螺旋桨、机臂、GPS支架均展开;重量6.3kg(含2块TB60电池)推荐最大起飞重量8.5kg悬停精度垂直:±0.1m 水平:±0.5m俯仰轴:300°/s 航向轴:100°/s最大俯仰角度25°最大上升速度6m/s最大下降速度5m/s最大可承受风速15m/s(7级)最大水平飞行速度23m/s(无风环境)悬停时间(2块TB60电池)无负载:55min 负载2kg:30min最大飞行海拔高度3000m悬停时间(2块TB60电池)无负载:60min 负载2kg: 45min综合续航30min(普通机动,剩余15%电量)最远续航里程13km(无风环境)动力系统动力电机型号:DJI 6010螺旋桨型号:DJI 2110可收放起落架标配工作环境温度-25°C至50°C避障能力全向感知系统,前方、后方、左右、上下避障能力卫星定位模块同时支持GPS、北斗、格洛纳斯中至少两个,有冗余的GPS模块,增加可靠性最大图传距离5KM;(空旷无干扰情况):最大数传距离5KM;(空旷无干扰情况):有效巡检时间90 min(电池续航能力不足时,应加配相当容量的电池);云台无人机云台技术参数云台相机H20T云台抖动量±0.01°可控转动范围俯仰:-120° 至 +30°平移:±320°结构设计范围俯仰:-132.5° 至 +42.5° 平移:±330°横滚:-90° 至 +60°变焦可见光相机变焦相机技术参数像素2000万传感器CMOS曝光模式程序自动曝光;手动曝光对焦模式自动对焦快门速度1~1/8000S感光范围100~25600视频分辨率3840x2160@30fps广角可见光相机广角相机技术参数像素1200万曝光模式程序自动曝光;手动曝光对焦模式自动对焦快门速度1~1/8000S感光范围100~25600视频分辨率1920x1080 @30fps变焦可见光相机变焦相机技术参数像素2000万传感器CMOS曝光模式程序自动曝光;手动曝光对焦模式自动对焦快门速度1~1/8000S感光范围100~25600视频分辨率3840 x 2160@30fps激光测距仪技术参数波长905nm测量范围3-1200m(直径12 m、20%反射率的垂直反射面)测量精度±(0.2m+D×0.15%)其中 D 表示与垂直反射面之间的距离无人机遥控器技术参数工作频率2.400Ghz ~ 2.483 Ghz最大通信距离5km(FCC模式)(无干扰、无阻挡)等效全向辐射功率(EIRP)20 dBm@2.4G视频输出接口HDMI,SDI,USB移动设备支架平板电脑或手机工作功耗9W工作环境温度-10~40℃平台设备最大宽度170mm无人机无线图传技术参数最大通信距离10m视频接口HDMI视频分辨率支持到180P60HZ常见分辨率工作频率59.4~63.56GHZ工作环境温度0~40℃最大功耗发射端 1.2W;接收端 2.5W工作电压7.4~18V(CAN接口)或5V USB热成像相机功能说明分辨率640x512传感器类型非制冷氧化钒缺陷类型热斑衰减,电力系统,温度差,温度显示检测模式无人机挂载检测探测器焦平面阵列 (12μmX12μm)光谱范围8-14μm温度范围-40--150℃,-40--550℃帧频30HZ镜头DFOV:40.6°焦距:13.5 mm ( 等效焦距:58 mm)光圈:f/1.0对焦距离:5 m 至无穷远数字变焦1x,2x,4x,8x热灵敏度≤50mK@f/1.0精度±2℃或±2% (取最大值)视频格式MP4照片格式JPEGGPS通过外部GPS连接/GPS数据在每一帧中可得到整合存储128G SD卡飞行过程中开始/结束记录辐射记录视频记录红外光/可见光切换有有有有红外光实时图片中的温度信息中心点/冷热点热斑警报支持FF自动/手动渲染白热/熔岩/铁红/热铁/医疗/北极/彩虹1/彩虹2/描红/黑热飞控软件技术参数一键起飞无人机搭载双光相机具备一键起飞、一键返航功能自动巡检无人机搭载双光相机自动按照预设轨迹进行巡检作业,采集目标数据断点续飞无人机由于种种原因未能完成一次飞行任务,第二次起飞可继续执行上一次未完成的任务自动返航低电量或其他不适宜无人机巡检作业情况下,无人机自动返航至起飞点手动操纵无人机可以在任何模式下切换至手动操纵模式,由无人机飞手手动操纵飞机指点飞行在全自动导航飞行模式下,地图上直接点击临时需要飞往的航点,到达航点后机头指向设定方向禁飞区悬停飞机在到达禁飞区边缘应自动悬停不闯入禁飞区域,软件应有相应提示GPS定位保护如果飞机在全自动导航飞行模式下或者手控飞行过程中GPS不能3D定位(丢星),无人机能够悬停或返航通讯保护如果在操纵手柄指令控制模式下超出通讯距离(或者通讯链路故障),飞行器能够自主返航或者悬停电压自动检测保护电压分多级保护,根据需要设定自动回家保护电压值和就地降落电压值自动避障如果飞机在自动导航模式飞行模式下或手控飞行过程能够自动避开障碍物,保障人身、设备、建筑物的安全巡检覆盖面积生成用于后期图像图像识别的可用素材(照片或视频)覆盖巡检区域的100%配置清单:序号名称规格数量单位备注1无人机M300RTK1台2螺旋桨4翼4个3无人机电池TB602块4H20T云台相机云台,定焦相机,广角相机,测距仪,热成像相机1套5相机电池标准2块6内存卡128G1张7带屏遥控器标准1台8无人机遥控器标准1套9充电器相机充电器,无人机充电器1套10智能电池箱标准1套
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  • 德国 Dioptic GmbH公司的ARGOS 光纤端面缺陷测试系统, ARGOS光纤测试系统能够执行 合格/不合格 评估并提供可供日后分析的完整测试报告。该测量方法符合 ISO 10110 7 和 ISO 14997 标准,在暗场结构中使用了杂散光分析。测量原理是使用超高分辨率线扫描相机聚焦到光纤端面成像,直接测量光纤研墨后的缺陷(划痕,坑,崩边等)并得到缺陷的量化数据,测量速度快每次仅几秒钟时间,适用于研发和生产应用。 Dioptic GmbH公司成立于1999年,现有主要产品/服务有:光学设计/衍射光学元件/红外光学元件/表面缺陷测试系统ARGOS(光学元件缺陷检测、光纤端面缺陷检测)。 可以在官网 查看ARGOS光纤端面缺陷测试系统的使用视频: ARGOS光纤测试系统能够执行 合格/不合格 评估并提供可供日后分析的完整测试报告。该测量方法符合 ISO 10110 7 和 ISO 14997 标准,并在暗场结构中使用杂散光分析精度1 μmstandard deviation for 30 reinsertionsof the same sample可视度1 μmsmallest visible defects overrated to size 2.5 μmdue to optical resolution重复精度 99% for 5/ 1x0.16 96% for 5/ 1x0.04assignment to same grade numbersmallest5/ 1x0.004holesdiscriminable5/ C1x0.01coating holesgrade number5/ L1x0.0045/ E0.04划痕崩边750009Specification fiber cable mountOptoskand QBH, others on requestsmallest defect grade5/1x0.004maximum sample size22 mm diameter or 22 x 50 mmtesting/handling time1 s / 20 simage sizeup to 146 mega pixelimage resolution0.0028 mm / pixel
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  • 【药瓶包装缺陷检测】基本说明  药瓶包装外观缺陷检测系统主要针对口服液玻璃药瓶、塑料瓶及塑料容器进行快速、可靠的检测,项目有飞边、污渍、缺料、瓶口圆度、杂质物、孔洞、薄壁区域检测等,医药包装的检测方法除人工检测外便是更智能化自动化视觉检测设备,引用机器视觉检测,不仅可以提高药品的检测效率和准确性,更为企业降低了人工成本。药瓶机器视觉缺陷检测在制药过程中主要运用药品的生产、包装、封盒/封口、贴标、喷码、装箱等。  【药瓶包装缺陷检测】产品功能  不良处理缺陷检测、异物缺陷检测、瓶体尺寸缺陷检测、瓶液位判断、瓶身轧盖外观检、测贴标缺陷检测  【药瓶包装缺陷检测】产品特点  1.操作简单:快速建模,向导设置,直观的用户界面  2.检测精度高:可针对不同区域设置不同的精度等X  3.误报率低:检测误报率低  4.检测速度:X快速度20000pcs/小时(检测不同的产品速度不同)  5.不良存档:检测到的缺陷及不良图片存档到制定文件夹,可供操作人员针对不良追溯。  【药瓶包装缺陷检测】适用范围  药瓶包装外观缺陷检测系统可应用于口服液玻璃瓶体、塑料瓶及塑料容器、饮料瓶等瓶体外观缺陷在线检测。  【药瓶包装缺陷检测】产品参数  检测速度:250瓶/分钟--500瓶/分钟(可调)  检测项目:(玻璃屑、金属屑、纤维、黑点、白点)、液位、轧盖、瓶盖表面印刷等  电 压:AC3~380V 50HZ  设备容量:14KW  工作台高度:980mm  适用范围:20ml~60ml口服液  【药瓶包装缺陷检测】企业介绍  杭州国辰机器人科技有限公司(浙江智能机器人省级重点企业研究院,简称“浙江智能机器人研究院”)成立于2015年7月,位于杭州钱塘江畔的萧山国家经济技术开发区内,是一家以机器人核心关键技术开发与应用、机器人自动化系统集成、机器人教育以及机器人多元化产业发展,并重点致力于智能服务机器人研发与产品化的企业实体。国辰服务机器人产品可应用于小区,门岗,酒店,景区,讲解,营业厅,厂房,仓库,机房,实验室等多种场景,可提供智能机器人,服务机器人,巡检机器人,喷涂机器人,迎宾机器人,管家机器人,酒店机器人,景区机器人,讲解机器人,仓库机器人,布匹缺陷视觉检测,agv叉车,无人搬运机器人,导游机器人以及营业厅机器人等多种智能服务机器人产品。
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  • ARGOS是一种设计用于自动分类透明和反射表面缺陷的机台。ARGOS使用一台线扫描相机结合一个旋转台和高功率LED光源捕捉样品的高分辨率图像。表面缺陷被确认和分辨,按照ISO 0110-7和ISO 14997标准应用校准图像和处理算法。 ARGOS中路8.5KG,尺寸 35.5cm x 74cm x 34 cm(W x h x d)。控制单元重量21kg,尺寸 53cm x 74 cm x 58cm)。 表面材料:玻璃,金属,半导体,塑料,晶体德国 Dioptic GmbH公司的ARGOS 2表面缺陷测试系统, ARGOS2测试系统能够执行 合格/不合格 评估并提供可供日后分析的完整测试报告。该测量方法符合 ISO 10110 7 和 ISO 14997 标准,在暗场结构中使用了杂散光分析。测量原理是使用超高分辨率线扫描相机聚焦到样品表面成像,直接测量光学元件等样品的缺陷(划痕,坑,崩边等)并得到缺陷的量化数据,测量速度快每次仅几秒钟时间,适用于研发和生产应用。可以测试亚表面和内部缺陷。 Dioptic GmbH公司成立于1999年,现有主要产品/服务有:光学设计/衍射光学元件/红外光学元件/表面缺陷测试系统ARGOS(光学元件缺陷检测、光纤端面缺陷检测)。 smallest ISO specification 5/ 1x0.016 C1x0.04 L1x0.01 E 0.04 evaluates down to 16% of specified dig sizeand 25% of specified scratch sizerepeatability 98% for 5/ 1x0.16 assessment to same grade number 95% for 5/ 1x0.04visibility 1 μm visible defects smaller than 2.5 μm areevaluated as grade number 0.0025 dueto optical resolutionrepeatabilityprecision 1 μm standard deviation for 30 reinsertionsof the same reference sampletrueness 2 μm (dig) proximity of inspection results to the true 1 μm (scratch) value
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  • 太阳能电池板检测仪器专用近红外相机分享到:0 太阳能光伏近年来发展可谓是方兴未已,作为一种优质可再生资料,光伏发电有着许多发电方式没有的优势,太阳能既是一次能源,又是可再生能源。它资源丰富,既可免费使用,又无需运输,对环境无任何污染。为人类创造了一种新的生活形态,使社会及人类进入一个节约能源减少污染的时代,由此,如何有效检测太阳能电池板缺陷成为了这个领域一个新的问题。 近红外工业相机具有性能稳定可靠等技术优势,是应用于工业场合,对波长在780-3000nm范围的电磁波感应敏感的数字成像设备。近红外工业相机输出的是裸数据,适合进行高质量的图像处理算法,例如机器视觉检测等应用。而普通相机拍摄的图片,其光谱范围只适合人眼视觉,并且经过了mjpeg压缩,图像质量较差,不利于分析处理。 图森近红外相机增强了灵敏度,特别适合应用于太阳能电池板检测仪器中,用来监测和检测太阳能电池生产过程的产品质量问题。 近红外相机在所需的波长上具有非同反响的高灵敏度,并且同时可以提供高分辨率图片,因此应用于太阳能电池板检测仪器中,可以将太阳能电池板的结构性缺陷轻而易举的检测出来,令生产进程和质量控制达到最佳,并且优化太阳能电板的制程,已经被广泛应用于在大规模生产太阳能电池的生产线中。 通过高灵敏度近红外相机捕获的太阳能电池加电发光图像,可以直观地展现出太阳能电池扩散长度的分布特征,通过对该图像的分析,可以有效地发现硅片、扩散、钝化、网印及烧结等各个环节可能存在的问题。还可以识别出电池板的外观缺陷,如边缘破损,缺角,断栅,污点,裂痕等,并标记出不合格的电池片,向外发出信号将其剔除,这对改进工艺、提高生产效率和稳定生产都有非常重要的作用。 原图像: 加电在暗室中拍摄的图像,从图上可以清晰的看到太阳能电池板边缘破损,缺角,断栅,污点,裂痕等不良现象。图森近红外CCD相机除非注明,图森文章均为原创,转载请以链接形式标明本文地址本文地址:良好的制冷技术 TCH-1.4ICE和TCH-1.4CICE属于图森专业相机H系列,前者为黑白制冷CCD相机,后者为彩色制冷CCD相机。它们使用了SONY公司经典的高品质CCD芯片ICX285,同时半导体制冷技术将CCD温度降低至零下10摄氏度。在此低温下,CCD可进行长达1小时的曝光而不影响成像质量。TCH-1.4ICE/TCH-1.4CICE相机作为图森多年来精密制造工艺技术的完美结晶,为您进行荧光、化学发光等微弱光成像提供了卓越的品质保证。 TCH-1.4ICE和TCH-1.4CICE应用了图森最新的制冷工艺技术,即在数十分钟长时间曝光进行拍摄时,可以将传感器表面的温度降低至-10℃,使得暗电流噪声降低至忽略不计的水平,为您进行微弱光成像提供更全面的保障。 单个像素点达6.45微米X 6.45微米 TCH-1.4ICE和TCH-1.4CICE冷CCD相机分别搭载了SONY公司的专业CCD图像传感器ICX285AL与ICX285AQ,芯片感光面积的对角线长度为2/3英寸,单个像素点尺寸达6.45微米X 6.45微米。极大的像元面积也显著提高了各像素点的蓄光能力,提供了相当高的饱和输出电压信号。 优异的光电转换效率 TCH-1.4ICE和TCH-1.4CICE拥有很高的量子效率水平,其峰值达65%,这带来优异的灵敏度表现,可以捕获到极微弱的光源信号。TCH-1.4ICE与TCH-1.4CICE非常适合对于荧光、化学发光等微弱光成像应用。 CCD摄像头TCH-1.4ICETCH-1.4CICE图像传感器型号Sony ICX285AL Sony ICX285AQ 彩色/黑白黑白彩色CCD/CMOS 尺寸2/3"2/3"像素大小(&mu m)6.45× 6.456.45× 6.45有效像素141万141万最大分辨率 (H× V)1360× 10241360× 1024扫描模式逐行扫描逐行扫描快门模式电子快门电子快门帧频13fps(1360 × 1024 全分辨率)13fps(1360 × 1024 全分辨率) 15fps (680 × 520,2 × 2Bin) 15fps (680 × 520,2 × 2Bin) 彩色深度&mdash 36bit模数转换12 bit12 bit曝光控制自动/手动自动/手动曝光范围0.1ms-60min.0.1ms-60min.白平衡控制自动/手动自动/手动动态范围67dB66dB工作温度0-60℃0-60℃工作湿度45%-85%45%-85%贮存温度-20-70℃-20-70℃制冷方式半导体制冷半导体制冷制冷温度-10℃-10℃操作系统支持Windows / Linux / MacWindows / Linux / Mac光学接口C接口C接口数据接口USB2.0/480Mb/sUSB2.0/480Mb/s公 司:福州鑫图光电有限公司地址:福州市仓山区盖山镇齐安路756号财茂城主楼6F邮编:350008电话: 传真: 中文网站:国际网站:
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  • 如何使用影像亮度色度计进行 FPD 自动光学检测在产线上及产线的最终检测中,主要有三种方法可对高速生产过程中的平板显示屏 (FPD) 进行光学检测: 1) 人工检测 —— 轻松处理比较复杂的测试要求。但与电子测试方法相比,它相对缓慢,变化较大2) 基于机器视觉的检测 —— 非常快捷,测试简单。但很多测试不能反映出人的视觉体验3) 基于影像亮度色度计的检测 —— 在速度上介于上述两种方法之间。能够像人那样进行“目测”,而且具有高度的可靠性和可重复性 使用影像亮度色度计系统和相关分析软件,可以评估 FPD 的亮度、色彩均匀度和对比度,并识别 FPD 上的缺陷,这种用途已经被广为接受。影像亮度色度计和机器视觉之间的基本差别在于:影像亮度色度计可以精确地匹配人类视觉感知,包括对光线和色彩均匀度 (以及不均匀性 )的感知。 在本文中,我们将描述如何在全自动测试系统中使用影像亮度色度计,在高速度、大批量的生产环境中识别和量化缺陷。本文内容涵盖测试设置,以及可以执行的测试范围 – 从简单的点缺陷检测到复杂的 Mura检测和评估。测量挑战影像亮度色度计系统是基于 CCD 的影像系统,经过校准之后,它对光线、亮度和色彩的反应与 CIE 模型定义的标准人工观察者相同。可精确地同时测量亮度、色彩及其空间关系。测试时,系统会生成数据,并可随时使用这些数据来确定显示屏均匀性和对比度性能。此外,还可对均匀度差异进行分析,以识别和定位潜在的显示屏缺陷。显示屏测量和分析面临的三大重要挑战是: 1) 识别与人类视觉感知具有高度关联性的缺陷2) 量化缺陷的严重程度3) 快速执行高重复度的分析 缺陷的分析和量化可以作为依据,帮助我们确定导致缺陷的显示屏组件,以及接下来采取的行动 – 例如废弃显示屏或返回进行修理 – 从而提高质量测试的效率,还可以降低成本。与人工视觉检测相比,使用影像亮度色度计的测试更加快捷和灵活,重复度更高,另外它在匹配人类视觉感知方面的精确度高于机器视觉。 影像亮度色度计可以精确地捕获 FPD 上的光线和色彩变化的空间关系,这一优点使得这种测试方法非常适用于评估视觉性能。测量组件和测试通过指定适当的自动测试序列,影像亮度色度计可用于获取广泛、精确的高分辨率数据,以描述特定显示屏的性能。对于典型测试序列,此类测量数据通常可在几秒钟至一分钟之内获取,具体时间取决于显示屏技术和分辨率。使用新的 Mura缺陷分析技术,这些影像可用于确定与物理原因直接相关的各种缺陷之间的细微差异。 要使用影像亮度色度计进行显示屏的自动测量和分析,需要使用组合测量控制和分析软件。我们针对此应用开发的系统整体结构如图 1 所示。该系统的主要组件包括:(1) 科研级影像亮度色度计系统;(2) 基于 PC 的测量控制软件,它不仅控制影像亮度色度计,还控制待测试设备上的测试影像显示;以及 (3) 一套能够运行各种测试的影响分析函数。因此,该系统可针对各种显示屏缺陷 (例如点缺陷、线缺陷和 Mura)提供量化自动检测。 实施的部分测试包括:图 1. FPD AOI 测试设置,影像亮度色度计处在自动软件控制下显示屏缺陷检测应用显示屏缺陷分为很多类型,例如像素缺陷和行缺陷、屏幕制造的物理疵点 (例如脱层 )、屏幕损坏 (例如划痕 )、影像均匀度的疵点 (例如 Mura)。利用对视觉感知的最新研究,我们可以根据人工观察者发现这些缺陷的明显程度 (或者是否明显 ),通过数字方式对这些缺陷进行分类。这个分析过程速度很快,而且重复度很高。它适用于多种显示屏技术,包括液晶、等离子、OLED 和投影显示屏。 在本文中,我们通过分析多个显示屏,演示这些缺陷检测和分类方法。图 2 显示了存在行缺陷的显示屏的光学测量,分析软件在显示屏影像上识别和指示这个缺陷,如图 3 所示。行缺陷是一种比较容易确定根源的缺陷;其起因是液晶屏故障。 图 2.存在可视行缺陷的显示屏屏幕的光学测量。 图 3.行缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件识别的;屏幕上为用户指明了缺陷位置。 图 4 显示了存在点缺陷的显示屏的光学测量;分析软件在显示屏影像上识别和指示这个缺陷,如图 5 所示。如果分析确定该故障的起因是液晶屏像素停滞,则可将点缺陷归类为像素故障。但是,从单个角度直视并不能区分死像素与显示屏玻璃背面微粒之间的差异。在此情况下,需要进行第二道检验以识别故障原因。 图 4.存在点缺陷的显示屏的光学测量 – 您能看到吗? 图 5.点缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件识别的,并在显示屏屏幕上标记,我们放大了该点,让它更容易看到。Mura的检测和分类可能比较复杂。 Mura通常是亮度和色彩的不均匀性,覆盖较大的不规则区域。如果发现亮度和色彩对比度超过了可感知的阈值,则表示检测出 Mura。但是,由于人工感知这些对比度取决于多个因素,包括视距、空间频率和方向,因此我们无法通过查看对比度的简单绝对值,来识别相关 Mura。 在对显示屏缺陷的人类视觉感知建模方面,我们最近取得了进展,这使我们能够从“最小可觉差”(JND)的角度来量化 Mura。基于人工观察员的采样,我们定义了 JND 标度,如果 JND 差异为 1,则从统计上无法察觉;在绝对标度上,JND 为 0,表示没有可视的空间对比度,JND 绝对值为 1,表示第一个可察觉空间对比度 – 这样就能针对各种显示屏技术对显示缺陷进行分级。因此,我们可以处理亮度和色彩的空间分配的影像亮度色度计测量,以创建影像的 JND 映射,其中 Mura缺陷在与人类视觉感知直接关联的前提下进行了分级。图 6 显示了存在 Mura缺陷的显示屏,经过分析后,我们在显示屏影像上识别了该缺陷,如图 7 所示。 图 6.对存在 Mura缺陷的显示屏进行影像亮度色度计测 量,您能够找到这个缺陷吗?图 7.该 Mura缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件在显示屏上识别的。它的范围与 JND 值一同显示。图 8 和图 9 显示了识别 Mura的步骤。作为中间步骤,它会生成一个差异影像,显示相对于参考影像的亮度偏差。然后计算显示屏的 JND 映射。请注意,图 7 所示的 Mura测试有意忽略了 JND 影像中的明显边缘效应。这些效应可以简单地单独识别和分类。识别 Mura缺陷并不是基于各区域之间的对比度计算的简单数学计算。首先, Mura区域的大小和形状各不相同。其次,人工感知 Mura的能力受到其他一些因素的制约 – 视频、空间频率和色彩。 图 8.差异图片显示了相对于计算参考影像的偏离。Mura的位置突出显示。图 9.显示了显示屏 JND 映射的“伪彩色图像”。显示屏边缘的漏光和明显 Mura缺陷标识为较大的 JND 值。基于影像亮度色度计的 AOI 测试系统可以快速可靠地识别和量化显示屏缺陷。为确定或分类缺陷根源,从而确定显示屏的状态,有时需要人工检测。很多情况下,例如图 3 所示的行缺陷,识别的缺陷及其起因之间存在一对一关系。在这些情况下,我们可以即时对缺陷进行分类,而且无需人工检测。而在其他一些情况下,例如某些 Mura缺陷,缺陷可能有多种原因,因此我们需要更多信息帮助进行分类。执行这种分类的一种高效方法是让人工操作员确定哪种原因是正确的。当需要人工分类时,为了提高效率,TrueTest 会向操作员指示需要进一步检验的缺陷的位置和详细信息。可以在人工判断基础上进行加速,例如专门针对需要分类的缺陷,以及提供适当的细节。 对于图 4 和 图 5 中所示的点缺陷,操作员可以知道暗点的准确位置和相关信息,从而快速确定该缺陷是死像素,还是显示屏玻璃背面的微粒。 总结本文档所述的影像亮度色度计 AOI 测试方法可以应用于多种显示屏技术, FPD(液晶、等离子、OLED)和投影显示屏均可使用。这些方法提供与人工视频感知相关的快速可重复测量,能够通过数字方式标识缺陷特征,因而不仅可以识别显示屏缺陷,还能够按原因对缺陷进行分类。这使我们能够在制造应用中对显示屏进行一致测量,并根据用户定义的标准,自动确定显示屏是否通过测试。更加重要的是,它还可以自动确定修补措施 (例如返工或废弃 )。
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  • 缺陷检测 400-860-5168转5895
    PULSAR L系列及PULSAR H系列是应用于电子、半导体工业领域的缺陷检测设备如WLP、PLP、晶圆制造前端工艺等,可实现从低分辨率到高分辨率的缺陷检测、分类、定位测量等功能。产品特点自主设计开发,拥有完全自主知识产权定位测量功能及缺陷检测功能高分辨率高数据率和高灵敏度图像处理系统高速并行的图像处理系统多功能可扩展的应用软件 产品参数
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  • 当热量从器件发热点(源)向环境中传递过程中,偶尔会遇到一些热的阻碍物,通常这些热阻碍物会非常严重的影响器件的可靠性。通过直接观察热的产生和其传递的路径是发现这些缺陷症状的最有效方法。TIFAS IR是一个高度集成的桌面型红外热成像法失效分析仪,可应用于几乎所有材料的失效分析。通过观察电子器件、系统、复合物、多层聚合物或烧结零配件的全波段光谱来判断其综合结构,如杂质、缺陷以及形貌等。
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  • 【金属表面检测系统功能】1.操作便捷操作简单,只需点击“开始”、“停止”即可完成所有操作。2.稳定性高可连续工作在极端温度和厂房环境中。3.高精度检测方案可检测出0.02 平方毫米以上的疵点缺陷,满足客户的不断提升的产品品质要求。4.远程数据库可以对生产的每卷材料进行精确的质量统计,详细的缺陷记录(大小和位置)和统计为生产工艺及设备状态调整提供了方便 离线分析,用于后续分切和质量管理,可有效保证产品质量。5.定位标识功能每生产一卷产品,系统会自动对这一卷产品的表面缺陷进行统计,同时打印出统计标签,贴在每一卷产品上,跟随产品发放下游。这样用户就可以通过每一卷产品上面的标签对产品进行评级,从而有效的用于分配不同质量要求的用途。6.输入输出报警当系统检测到疵点时进行声光报警,也可在系统中加入其他连锁I/O 输出。7.报表统计及打印报表统计及打印EXCEL缺陷明细表,便于用户做进一步的查询,分析,建档。
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  • KLA Candela光学表面缺陷分析仪(OSA)可对半导体及光电子材料进行先进的表面检测。Candela系列既能够检测Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板,又能对SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料进行检测,成为其制程中品质管理及良率改善的有力工具。 Candela系列采用光学表面分析(OSA)专用技术,可同时测量散射强度、形状变化、表面反射率和相位转移,为特征缺陷(DOI)进行自动侦测与分类。OSA检测技术结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与光学形状分析等基本原理,以非破环性方式对Wafer表面的残留异物,表面与表面下缺陷,形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。Candela系列拥有良好的灵敏度,使用于新产品开发和生产管控,是一套极具成本效益的解决方案。 二、 功能 主要功能 1. 缺陷检测与分类 2. 缺陷分析 3. 薄膜厚度测量 4. 表面粗糙度测量 5. 薄膜应力检测 技术特点 1. 单次扫描中结合四种光学检测方法的单机解决方案,可实现高效的自动化缺陷检测与分离; 2. 对LED材料的缺陷进行自动检测,从而增强衬底的质量管控,迅速确定造成缺陷的根本原因并改进MOCVD品质管控能力; 3. 满足多种工业要求,包括高亮度发光二极管(HBLED),高功率射频电子器件,透明玻璃基板等技术; 4. 在多个半导体材料系统中能更灵敏的检测影响产品良率的缺陷。 5. 自动缺陷分类功能(Auto Defect Classification)(Particle, Scratch, Pit, Bump, and Stain Detection) 6. 自动生成缺陷mapping。 技术能力 1. 检测缺陷尺寸0.3μm; 2. 大样品尺寸:8 inch Wafer; 3. 超过30种DOI的缺陷分类。 三、应用案例 1. 透明/非透明材质表面缺陷检测 2. MOCVD外延生长成膜缺陷管控 3. PR膜厚均一性评价 4. Clean制程清洗效果评价 5. Wafer在CMP后表面缺陷分析
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  • Lumina AT1薄膜缺陷检测仪产品特点:实现亚纳米薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像。实用于透明、硅、化合物半导体和金属基底。在3分钟内扫描并显示150毫米晶圆。可以标刻出缺陷的位置,以便进一步分析。可容纳高达300 x 300 mm的非圆形和易碎基板。能够通过一次扫描分离透明基板上的顶部/底部特征。系统优势的四个检测通道:偏光(污渍、薄膜不均匀性) 坡度(划痕、表面形貌)反射率(内应力、条纹)暗场(颗粒、夹杂物)AT1应用:1.透明基底上的缺陷2.单层污渍或薄膜不均匀性3.化合物半导体的晶体缺陷在化合物半导体基底和外延生长层上检测和分类多种类型的晶体缺陷AT1的多用途:所有缺陷类型薄厚基板透明和不透明基板电介质涂层金属涂层键合硅片开发和在线生产AT1规格参数:AT1 软件使用来自多个探测器任意组合的数据生成缺陷图和报告:地图和位置缺陷数量彩色编码缺陷缺陷尺寸
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  • Lumina AT2薄膜缺陷检测仪产品特点:实现亚纳米薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像。实用于透明、硅、化合物半导体和金属基底。在2分钟内扫描并显示300毫米晶圆。动态补偿表面翘曲。可以标刻出缺陷的位置,以便进一步分析。可容纳高达450 x 450 mm的非圆形和易碎基板。能够通过一次扫描分离透明基板上的顶部/底部特征。系统优势的四个检测通道:偏光(污渍、薄膜不均匀性)坡度(划痕、表面形貌)反射率(内应力、条纹)暗场(颗粒、夹杂物)AT2应用:1.透明基底上的缺陷2.单层污渍或薄膜不均匀性3.化合物半导体的晶体缺陷在化合物半导体基底和外延生长层上检测和分类多种类型的晶体缺陷AT2的多用途:所有缺陷类型薄厚基板透明和不透明基板电介质涂层金属涂层键合硅片开发和在线生产AT2规格参数:AT2 软件使用来自多个探测器任意组合的数据生成缺陷图和报告:地图和位置缺陷数量彩色编码缺陷缺陷尺寸
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  • 产品优势徕科光学推出的LK-ZDJY80R型号自动晶圆缺陷密度检查系统用于检查晶圆位错形态和分布,为晶圆材料研究、改进制备工艺提供数据支持。系统高度集成显微镜、摄像机、电动扫描台等硬件设备;项目化管理、流程化操作。不仅可用于晶圆位错缺陷分析、也可用于粉末冶金、涂料粒颗等分布形态分析。依靠着科技感和创新感双强的研发力量,可以根据不同客户的需求定制出高性价比的产品方案;具备内核稳定的售后方案,7*24小时响应,提供安装培训 一体化互动,更加直接且高效地为客户做好售前、售中、售后服务保障。经过十余年的研发服务,已积累千万客户,并在多地区投建服务部方便与客户的沟通互动。下图为现场安装、培训实景图:下图为合作伙伴情况:下图为服务站分布图:自动晶圆缺陷密度检查系统产品介绍1、 高整合的自动分析系统 Automatic Analysis System半导体晶圆制备中位错缺陷的形状和分布情况对电子元器件的性能有较大影响,由于掺杂材料、制备工艺的不同,位错分布也不同。本系统用于检查晶圆位错形态和分布,为晶圆材料研究、改进制备工艺提供数据支持。系统高度集成显微镜、摄像机、电动扫描台等硬件设备;项目化管理、流程化操作。不仅可用于晶圆位错缺陷分析、也可用于粉末冶金、涂料粒颗等分布形态分析。2、 自动扫描样品 Auto Scanning/Focusing/Snap支持多种扫描路径:矩形区域、圆形区域等,满足不同形状的样品需要;对于形状不规则的样品,采用四点矩形确定扫描区域,并支持空白区设置,减少扫描图像数目,提高工作效率。抓拍过程照片自动保存,进度状态实时可见;照片信息存入数据库,方便查询;提供视场图片浏览功能,可以实现视场定位回溯、重新拍照等功能;3、 软件支持多种自动聚焦方式 Automatic Focus Algorithm系统支持拟合补偿聚焦模式以保证低倍下每个视场的对焦精度;采用最新的图像融合聚焦算法,以确保高倍景深不足时的图像清晰度。4、 缺陷个数分布统计 Etch pits Density Analysis 位错在晶圆里产生由于晶体生长条件和掺杂材料或者是制造过程中的物理损坏。晶体缺陷会引起有害的电流漏出,可能阻止器件在正常电压下工作。1) 统计方式分为全覆盖扫描和抽点检查颗粒个数分布。其中全覆盖扫描更能准确反映缺陷分布情况;而抽点方式能更快速完成检查。2) 全覆盖扫描模式支持用户将整个晶圆划分为不同单元格进行个数统计,单元格可以通过输入单元格尺寸或输入单元格个数MxN自行设置。3) 抽点检查的单元格可设定为MxN方式,可按间距均匀分布以及按数量设定MxN均分两种方式;自动统计单元格内的缺陷个数。4) 支持设定单元格最大允许缺陷数,作为依据判断单元格合格指标,统计合格率(合格单元格数/单元格总数)。5) 支持设置单元格缺陷个数区间,统计落在不同区间的单元格数,以及该区间单元格数占总个数的百分比。6) 按单元格输出缺陷分布MAP图,支持设置过渡色,MAP图上按缺陷密度自动计算过渡色进行填充,并显示区间代码。支持以上数据以Excel形式输出。5、 缺陷形态分析 Etch pits Morphology Analysis 形态分析功能通过自动计算表面缺陷卡规直径、面积、形态因子等多种参数用于分析位错的大小、形状,进而通过改进工艺降低缺陷的危害。 1)缺陷参数包括面积、长度、宽度、圆度、形状因子等十余种参数。 2)支持按不同按缺陷参数设置分类区间,统计不同分布参数下的缺陷个数、该区间个数百分比、该区间内的平均参数。6、 缺陷的识别与参数计算 Particles Detection 1)软件采用马赛克技术实现帧间颗粒的探测,即使是跨视域的较大缺陷也能准确识别;软件也可自行定义探测参数,自动忽略探测范围外的缺陷。 2)提供扫描台与相机的夹角校正功能,提高帧间颗粒计算的准确性。 3)抽点检查时处于边缘的缺陷可按设定全部保留或全部忽略;全覆盖扫描时能精确分析和识别扫描区域内的缺陷,以准确反映缺陷的分布特性。 4)对于重叠较大无法自动识别的位错,系统也支持手动抽点检查位错密度分布情况。7、 晶圆图像电子存档,可日后追溯 Electronic Archive of Filter 扫描分析时系统将晶圆完整图像、分析数据以及测试报告以电子形式存档,日后如有需要,可以随时调取查阅或重新分析,不需重新扫描。8、 快捷方便的数据交互功能 Easy Editing 所有颗粒数据可快速浏览、定位、排序;支持管理员进行颗粒数据修正功能,解决特殊颗粒及聚集颗粒识别问题。9、 专业报告 Professional Report 报告模板和格式可根据不同的公司标准和需求自由设置;包含位错个数密度数据、个数分布MAP图,缺陷形态统计分类结果、样品全貌图、最大缺陷照片等信息。
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  • 现代工业自动化生产中涉及到各种各样的检验、生产监视和零件识别应用,如汽车零配件批量加工的尺寸检查和自动装配的完整性检查、电子装配线的元件自动定位、IC上的字符识别等。通常这种带有高度重复性和智能性的工作是由肉眼来完成的,但在某些特殊情况下,如对微小尺寸的精确快速测量、形状匹配以及颜色辨识等,依靠肉眼根本无法连续稳定地进行,其它物理量传感器也难以胜任。人们开始考虑用CCD照相机抓取图像后送入计算机或专用的图像处理模块,通过数字化处理,根据像素分布和亮度、颜色等信息来进行尺寸、形状、颜色等的判别。这种方法是把计算机处理的快速性、可重复性与肉眼视觉的高度智能化和抽象能力相结合,由此产生了机器视觉测试技术的概念。表面缺陷检测设备系统性能参数:1,能实现对红外截止滤光片的双面检测;2,能自动识别崩边、划伤、灰尘和点子、印子等四种表面缺陷特征;3,具备次品自动分拣功能;4,检测精度达到10μm;5,检测速度达到180片/分钟。东富达科技在线检测设备详情请咨询:
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  • 简介Lumina AT1光学表面缺陷分析仪可对玻璃、半导体及光电子材料进行表面检测。Lumina AT1既能够检测SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料,又能对Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板进行检测,其价格优势使其成为适合于研发/小批量生产过程中品质管理及良率改善的有力工具。 Lumina AT1结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与表面斜率等基本原理,以非破环性方式对Wafer表面的残留异物,表面与表面下缺陷,形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。1.偏振通道用于薄膜、划痕和应力点;2.坡度通道用于凹坑、凸起;3.反射通道用于粗糙表面的颗粒;4.暗场通道用于微粒和划痕;二、 功能l 主要功能1. 缺陷检测与分类2. 缺陷分析3. 薄膜均一性测量4. 表面粗糙度测量5. 薄膜应力检测l 技术特点1.透明、半透明和不透明的材料均可测量,比如硅、化合物半导体或金属基底;2.实现亚纳米的薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像;3.150mm晶圆全表面扫描的扫描时间为3分钟,50x50mm样品30秒内可完成扫描并显示结果;4.高抗震性能,系统不旋转,形状无关,可容纳非圆形和易碎的基底材料;5.高达300x300mm的扫描区域;可定位缺陷,以便进一步分析;技术能力三、应用案例1. 透明/非透明材质表面缺陷检测 2. MOCVD外延生长成膜缺陷管控3. PR膜厚均一性评价4. Clean制程清洗效果评价5. Wafer在CMP后表面缺陷分析6. 多个应用领域,如AR/VR、Glass、光掩模版、蓝宝石、Si wafer等
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  • 高速智能验布系统主要面向纺织行业,采用基于深度学习的人工智能算法,机器视觉技术检测织物表面缺陷。只要是不正常的纹理,均可实现实时在线检出,检出率95%以上。 适用于:各种静色化纤织物,如坯布、被单、衣料、家用织物、工业织物、轮胎、成品布、染后织品、牛仔布等自动检测上。功能: 1、送卷、自动验布和收卷,实现疵点图像实时显示、自动疵点分类、位置记录、发现重大缺陷或连续性缺陷停机和报表统计等功能。 2、可按照需求对布面缺陷进行记录或标记;并能够精准定位疵点位置坐标。 3、对不同种类疵点能够按照客户标准进行评级和评分,从而自动形成整卷布评级结果,例如一等品,合格品,等外品等级。 4、布长度测量,采用分辨率1mm的独立布长度测量装置,用来标记疵点的实际位置和长度。 5、实时在线检测经密、纬密、纬斜量、实际长度、幅宽、速度等参数。特点: 1、检测速度:120m/min。 2、分辨率:径向:0.18mm,纬向:0.15mm。 3、检测幅宽:1.2~2.8m。 4、24小时工作制。 5、环境温度:0℃-40℃。
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  • VOHCL沃驰-VC400DHF-高速智能电火花堆焊修复机设备原理电火花沉积工艺是将电源存储的高能量电能,在金属电极与金属母材间瞬间高频释放,通过电极材料与母材间的空气电离形成通道,使母材表面产生瞬间高温、高压微区,同时离子态的电极材料在微电场的作用下融渗到母材基体,形成冶金结合。由于该工艺是瞬间的高温-冷却过程,不仅使金属表面因淬火形成马氏体,而且在狭窄的沉积过度区形成超细奥氏体组织。电火花沉积工艺不是焊接,也不是喷涂或元素渗入工艺,简单的讲,是介于其间的工艺。公 司:上海沃驰实业有限公司联系人:康军手 机:(微信同号)电 话:Q Q:网 址:地 址:上海市嘉定区外冈工业园四区373号VOHCL-VC400DHF智能高速电火花堆焊修复机设备特点:1、沃驰技术领先:采用超精密高性能处理器,双端控流技术,能量回收和斩波技术,运行更高速,输出控制超精确,智能数字化一键启动调节、操作更简单、效率更高、性能更稳定。2、焊补强度高:单次输出能量达到几十焦耳,所以焊材能完全熔融到基体,形成冶金结合,产生极强的结合力。3、焊补精度高:焊补精度可达到微米级,可直接进行车、铣、磨、钻等加工,无气孔、沙眼、色差小或无色差。即便是无余量的加工表面,也可焊补,且无变形,无咬边,无灼伤现象。4、无退火和变形:1秒内可输出五百能量束,形成能量束输入、回收的反复过程,使基体不会有过多的温升,因而无变形、咬边和残余应力,无局部退火。5、高端战略机型一机多用:适用与对质量要求较高客户,可进行金属工件缺陷焊补、金属工件及模具表面强化被覆,且焊补范围广(如黑色金属:球铁、灰铁、钢等;有色金属:铝、铜等)。尤其对有色金属,焊补效率提升明显,且焊补强度高。6、强大的存储功能:⑴固定存储功能:使用者可以快速调取机器出厂时已存储在机器中的铸钢、铸铁、铜、铝、镁、锌、被覆强化最佳参数实施工作;智能化高、操作更简单,无需要专业知识工程师(女工可操作),可几分钟立刻学会使用。⑵多组参数存储:使用者也可以将自己经常使用的参数存储,以方便快速调取使用。7、对铜、铝、镁、锌、球铁、灰铁、钢的优秀焊补效果:由于瞬间的高能量输出,有效的解决了铜铝金属等高导电率金属的焊补,克服了普通电火花堆焊结合不牢的缺点。8、环保性:工作过程中无任何污染。 9、使用性:任何人都容易使用(女工可操作),无须特种焊工操作证,难焊接的地方也可进行堆焊。 10、经济性:在现场立刻修复,提高生产效率,节省费用,性价比超高、后期全国无忧。11、适用焊材广:由于VOHCL-VC400DHF不同的控制方式,输出能量高,控制精细,所以焊材的适用性较广。除常规的电火花堆焊修复机需专用焊材外,其他焊机所用的直径在0.3-4.0mm的直条焊材多数适用,普通的电焊条去药皮后也可使用。模具表面被覆强化功能: 把超硬合金在短时间內,迅速被覆在模具表面及渗透到模具组织內部,被覆后可增加模具的耐磨性、耐腐蚀性、耐冲击性、脱模性及耐热性。VOHCL沃驰VC400DHF智能高速电火花堆焊修复机适用范围:1. 适用于耐冲击性的模具(压铸模、铸模、锻造模、塑胶模、冲压模等延长3倍寿命)2. 适用於耐高热面(如模具进料口、模芯等延长3倍寿命)3. 切削工具、刀具(銑刀、车刀、绞刀、钻头等延长5倍寿命)4. 适用於夹具、夾头之被覆,增加耐磨功能。5. 被覆的厚度及粗细度可以任意调整,标准厚度在0.01-0.1mm。 VC400DHF-智能高速电火花堆焊修复机被覆强化功能可重复、多次强化,提升模具使用寿命、增强脱模性;模具表面被覆厚度可从几微米到零点几毫米,可根据需求调节;模具被覆过程中基体无须预热,常温被覆,基体不发热,被覆区域附近金相组织不改变,无应力集中现象。即每个单元被覆过程所需热能为设备的一次智能性的输出,整个被覆过程基体及被覆区域附近始终处于常温状态,不产生热变形,不出现裂纹现象。由于整个模具被覆过程中,制件始终处于常常温状态,故在传统焊补或者表面被覆工艺中出现的不足均都得已避免,解决了模具拉模、粘模的难题,被覆后无需处理即可使用,且可多次重复被覆。 VC400DHF-智能高速电火花堆焊修复机尤其突出应用表现于压铸类模具的被覆使用,当压铸模具在使用过程中出现粘模、粘料现象,先将模具表面粘附的废料、油污、脱模剂等异物简单清理,再使用本设备对粘模、粘料部位进行被覆,被覆后无需做任何处理,即可直接上机生产,被覆部位可长时间不粘模、不粘料,若经过长时间使用后出现粘模、粘料现象,重复上述步骤即可。本设备可不限次数对模具进行被覆,从而提升模具使用寿命、增强脱模性能。VC400DHF-智能高速电火花堆焊修复机设备应用: A、汽车行业:制动盘、汽车曲轴、活塞、缸体、缸盖、进排气管、轮毂、油底壳、变数箱零部件、阀门、卡钳等铸造的缺陷修复,如砂眼、气孔、缺料、裂纹、冷隔、疏松等缺陷。 B、机械及机床工业:修正超差或磨损的工件,如修复机床导轨、床身,大型机械的轴类、齿类部件、轧钢用的冷、热轧辊、工程机械的液压杆、印刷机滚筒等各种各种零配件的焊补。 C、航空与船舶制造业:压缩机壳体、空压机壳体、不锈钢精密部件、精密轴类等。石油化工、煤炭、工程机械等诸多行业的产品修补。各种行业的有色金属件,如电力行业的SF6互感器的铝合金件,风机铝合金叶轮、铝合金散热器、铜合金的水暖阀门、管件等。D、模具行业:锌铝压铸模具的蚀痕、脱落、损伤等,以及型腔和浇道口的表面强化,延长模具的使用寿命,注塑模具、铜合金模具、铝合金模具、铁模、氮化模具等,磨损、碰伤、划痕等的焊补。VOHCL-VC400DHF-智能高速电火花堆焊修复机(表面强化被覆)产品参数型号Model:VC400DHF输入电源Input power:AC220V功率Power:1500W电压范围Voltage:20-100V频率Frequency:50-500HZ输出百分Percentage:10-100%重量 Weight:20KG外形尺寸Weight:415mmx200mmx400mm
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  • 【手机玻璃缺陷检测】基本说明  国辰手机玻璃盖缺陷检测系统采用高像素线阵相机加特殊组合LED光源,获取高清图像后,通过视觉检测系统进行处理,能检测出表划痕、凹坑、丝印不良、杂质、异色等外观缺陷,从而能大幅缩减传统的目检人员。【手机玻璃缺陷检测】工作原理  1. 手机玻璃盖缺陷检测系统一次可获取多张不同光源,不同角度的盖板影像,可以检测出不同的缺陷。特别对2.5D玻璃的P面、R角的缺陷有X创的解决方案,支持3D手机玻璃盖板缺陷检测  2. 国辰机器人手机玻璃盖缺陷检测系统算法拥有多项发明专利,不需要手机玻璃盖板的CAD设计图案。具有自适应性,可以根据盖板的不同区域进行自动识别和分类  3. 手机玻璃盖缺陷检测系统可检出的不良缺陷包括:划痕、牙边、凹坑、丝印不良、杂质、异色等【手机玻璃缺陷检测】适用范围  手机玻璃盖缺陷检测系统可应用于手机外壳、手机玻璃盖、尺寸检测、手机辅料、鼠标外观、笔记本脚垫、键盘瑕疵、键盘平面度、笔记本内部瑕疵等电子产品检测。【手机玻璃缺陷检测】公司介绍  杭州国辰机器人科技有限公司(浙江智能机器人省X重点企业研究院,简称“浙江智能机器人研究院”)成立于2015年7月,位于杭州钱塘江畔的萧山国家经济技术开发区内,是一家以机器人核心关键技术开发与应用、机器人自动化系统集成、机器人教育以及机器人多元化产业发展,并重点致力于智能服务机器人研发与产品化的企业实体。国辰服务机器人产品可应用于小区,门岗,酒店,景区,讲解,营业厅,厂房,仓库,机房,实验室等多种场景,可提供智能机器人,服务机器人,巡检机器人,喷涂机器人,迎宾机器人,管家机器人,酒店机器人,景区机器人,讲解机器人,仓库机器人,布匹缺陷视觉检测,agv叉车,无人搬运机器人,导游机器人以及营业厅机器人等多种智能服务机器人产品。
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  • Candela8520表面缺陷检测系统Candela8520第二代集成式光致发光和表面检测系统,设计用于对碳化硅和氮化镓衬底上的外延缺陷进行高级表征。采用统计制程控制(SPC)的方法来进行自动晶圆检测,可显著降低由外延缺陷导致的良率损失,最大限度地减少金属有机化学气相沉积(MOCVD)反应器的工艺偏差,并增加MOCVD反应器的正常运行时间。产品说明Candela 8520检测系统采用专有的光学技术,可同时测量两个入射角的散射强度。 它可以捕捉到形貌变化、表面反射率、相位变化和光致发光,从而对各种关键缺陷进行自动检测与分类。Candela 8520为氮化镓晶圆提供表面和光致发光的缺陷检测,对氮化镓位错、凹坑和孔洞进行检测和分类,用于氮化镓反应器的缺陷控制。其功率应用包括基于碳化硅的透明晶圆检查和晶体缺陷分类,如基面位错、微管、堆叠层错缺陷、条形堆叠层错缺陷、晶界和位错,以及对三角形、胡萝卜形、滴落物和划痕等形貌缺陷进行检测。功能检测宽带隙材料上的缺陷,包括直径达200毫米的碳化硅和氮化镓(衬底和外延)支持各种晶圆厚度对微粒、划痕、裂纹、沾污、凹坑、凸起、KOH蚀刻、胡萝卜形与表面三角形缺陷、基平面位错、堆叠层错、晶界、位错和其他宏观外延干扰进行检测应用案例衬底质量控制衬底供应商对比入厂晶圆质量控制(IQC)出厂晶圆质量控制(OQC)CMP(化学机械抛光工艺)/抛光工艺控制晶圆清洗工艺控制外延工艺控制衬底与外延缺陷关联外延反应器供应商的对比工艺机台监控行业工艺设备监控其他高端化合物半导体器件选项SECS-GEM信号灯塔金刚石划线校准标准离线软件光学字符识别(OCR)光致发光
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  • 基于发光成像和激光扫描的太阳能电池检测工具.该系统提供多种成像测试解决方案,如电致发光、光致发光、热成像和光束感应电流测量,用于检测太阳能电池的内部缺陷和器件故障。-电致发光成像-光致发光成像-光束感应电流(LBIC)成像-热成像-通过发光检测,检测出太阳电池和组件的缺陷,如裂纹、暗区和指状缺陷.....
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  • 【手机辅料缺陷检测】基本说明国辰机器人专注产品外观缺陷检测多年,可针对手机辅料外观尺寸缺陷检测进行非标定制,手机辅料缺陷检测设备可快速针对缺陷瑕疵进行筛选归类。【手机辅料缺陷检测】产品特点  检测设备主要是用来检测产品的外观尺寸、产品瑕疵、表面缺陷、外观划痕、表面毛刺、污点等。主要针对的是手机辅料外观缺陷检测。【手机辅料缺陷检测】产品性能  高适用性:该设备可按要求定制,适用于多种手机外观缺陷检测。  高效率:设备运行速度快、精度高,一台设备可替代多个人工检测,极大提高了产品的检测效率,降低了生产成本,保证了产品质量。  高检出率:设备使用X创的光学检测方案,能够检测出所有规定的外观缺陷并对其进行分类判定。【手机辅料缺陷检测】适用范围  手机辅料外观缺陷检测系统需要用到工业机器视觉检测应用系统,包括数字图像处理技术、机械工程技术、控制技术、光源照明技术、光学成像技术、传感器技术、模拟与数字视频技术、计算机软硬件技术、人机接口技术等。  杭州国辰机器人科技有限公司(浙江智能机器人省X重点企业研究院,简称“浙江智能机器人研究院”)成立于2015年7月,位于杭州钱塘江畔的萧山国家经济技术开发区内,是一家以机器人核心关键技术开发与应用、机器人自动化系统集成、机器人教育以及机器人多元化产业发展,并重点致力于智能服务机器人研发与产品化的企业实体。国辰服务机器人产品可应用于小区,门岗,酒店,景区,讲解,营业厅,厂房,仓库,机房,实验室等多种场景,可提供智能机器人,服务机器人,巡检机器人,喷涂机器人,迎宾机器人,管家机器人,酒店机器人,景区机器人,讲解机器人,仓库机器人,布匹缺陷视觉检测,agv叉车,无人搬运机器人,导游机器人以及营业厅机器人等多种智能服务机器人产品。
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