红外镜面反射法

FI-R3X 是Finder Infra R3 系列中的一个子系列，尾缀字母“X”代表extra，其主机为大样品仓设计，多种功能附件可随意更换搭配，具有更好的实验室综合性，更易满足实验室的可变功能测试需求。FI-R3X 具有完全一体化且可靠的通用采样功能，轻松进行测量并提供各种常用配件，同时兼容如PIKE TECHNOLOGY 等公司的多种专用测量配件，是实验室和现场测试环境下红外检测仪器的理想选择。FI-R3X 可以对未知的化合物进行无损分析，比如，有机化合物、无机化合物、品、固体、液体、聚合物等材料；主机采用一体式光学光路设计，可以扩展使用制冷型高灵敏的MCT 检测器和各种大型通用附件等，适用于科研院所的研究和检测工作。 台式多功能傅里叶红外光谱仪产品特点：双样品腔红外分析仪满足常规的透射和ATR 测量方式兼容进口厂商的红外附件：如Pike 、Harrick、Specac 公司等原位催化剂表征，高温、高压漫反射池测量样品的绝对透射率测量样品的绝对反射率中红外积分球附件可选液氮制冷MCT，灵敏度更高适合用户自己搭建红外装置、气路连接等 台式多功能傅里叶红外光谱仪应用领域：催化领域的应用：原位红外漫反射附件、原位红外透射附、原位吡啶吸附池等高检测灵敏度的应用：配置MCT 检测器，可以提高实验的检测灵敏度超规样品的红外应用：超长样品的透射和反射测量大型OEM 红外附件的应用：附件体积比较大，如掠角反射、变角反射附件，积分球附件等高通量红外附件的应用：可自动实现多个样品的透射、漫反射、反射测量等用户自制特定尺寸的红外附件应用：同时监测红外信号和拉曼信号的原位池，用户自制的红外附件等 技术参数 型号FI-R3X-AFI-R3X-AEFI-R3X-BFI-R3X-BE单位光谱范围5000-5005000-6507500-4007500-650cm-1分辨率≤1cm-1波数精度≤0.01cm-1信噪比≥40,000:1-透过率精度≤0.1%τ分束器ZnSeKBr-干涉仪基于一体成型立体角镜-检测器高灵敏度DLaTGS制冷型MCT高灵敏度DLaTGS制冷型MCT -主机尺寸685×415×223mm重量20kg红外测量附件 金刚石 ATR 附件金刚石 ATR 附件，纯金刚石晶体、高强度、超级耐腐蚀、晶体尺寸大、光通量高，灵敏 度优异。30°镜面反射附件适用于全反射材料30°固定角度设计45°镜面反射附件适用于全反射材料45°固定角度设计10°镜面反射附件适用于全反射材料10°固定角度设计PIKE TECHNOLOGY 产品80°镜面反射附件适用于全反射材料80°掠入射角度设计PIKE TECHNOLOGY 产品可变角度镜面反射附件适用于全反射材料30°-80°可变角度设计角度调整精度：1°PIKE TECHNOLOGY 产品绝对测量镜面反射附件适用于全反射材料12°固定角度设计PIKE TECHNOLOGY 产品漫反射附件适用于固体材料简易漫反射测量PIKE TECHNOLOGY 产品长光程气体池附件适用于气体测量，可针对低浓度气体、高温气体、腐蚀性气体等特殊气体进行红外光谱测量光程长：5m可变温ATR 附件晶体为金刚石晶体，有两种可选210 和300℃。样品需要放置在ATR 晶体上，晶体加热样品，可以观测固态到液态或者液体的固化的光谱的变化过程。可变温的固体样品透射和镜反射测试附件温度范围：室温~ -600℃，可以抽真空和通气， 样品窗13*1mm，最大耐压0.5mpa，尺寸84 x 100 x 16 mm可变温的液体样品的透射测试附件温度范围：5~130℃产品选型表型号描述主机系列FI-R3X-A傅里叶红外光谱仪主机，配置DLaTGS 探测器，ZnSe 分束器，标准透射功能，含聚焦透射光路和平行透射光路测量位。FI-R3X-AE傅里叶红外光谱仪主机，配置制冷型MCT 探测器，ZnSe 分束器，标准透射功能，含聚焦透射光路和平行透射光路测量位。FI-R3X-B傅里叶红外光谱仪主机，配置DLaTGS 探测器，KBr 分束器，标准透射功能，含聚焦透射光路和平行透射光路测量位。FI-R3X-BE傅里叶红外光谱仪主机，配置制冷型MCT 探测器，KBr 分束器，标准透射功能，含聚焦透射光路和平行透射光路测量位。附件系列FR3XACC-ATR 标准金刚石ATR 测量附件FR3XACC-ATR-A可变温金刚石ATR 测量附件FR3XACC-ATR-B可变温的固体样品透射和镜反射测试附件FR3XACC-ATR-C可变温的液体样品的透射测试附件FR3XACC-STD30标准30°固定角度镜面反射附件FR3XACC-STD45 标准45°固定角度镜面反射附件FR3XACC-10Spec10°镜面反射附件，PIKE TECHNOLOGY 产品FR3XACC-80Spec80°镜面反射附件，PIKE TECHNOLOGY 产品FR3XACC-VeeMAX手调式可变角镜面反射附件，PIKE TECHNOLOGY 产品FR3XACC-ARA绝对测量镜面反射附件，PIKE TECHNOLOGY 产品FR3XACC-DIFF漫反射简易测量附件，PIKE TECHNOLOGY 产品FR3XACC-LPG5000长光程气体池附件，光程5m

FOLI 20-Z是卓立汉光推出的一体式傅里叶变换红外光谱仪产品，FOLI 20-Z具有完全一体化且可靠的通用采样功能，轻松进行测量并提供各种常用配件，同时兼容PIKE TECHNOLOGY公司的多种测量配件，是实验室和现场测试环境下红外检测仪器的理想选择。FOLI 20-Z可以对未知的化合物进行无损分析，比如，有机化合物、无机化合物、du品、固体、液体、聚合物等材料；主机采用一体式光学光路设计，可以扩展使用制冷型高灵敏的MCT检测器和各种大型通用附件等，适用于科研院所的研究和检测工作。 傅里叶红外变换光谱仪FOLI 20-Z硬件特点l 干涉仪：可靠的性能、较强的抗干扰性能l 光学系统：采用专用镀金反射镜，具有红外波段高反射率且抗氧化性强，获得更稳定的光学性能l 检测器： 高灵敏度DLaTGS或制冷型MCTl 固态激光器：性能稳定，使用寿命长l 红外光源：高性能进口光源，封装技术，均匀散热，使用寿命长l 超大空间样品室：便于搭配各种常用配件，兼容PIKE公司的多种测量配件l 整机：一体式设计，防潮、防尘，环境适用性更强 傅里叶红外变换光谱仪FOLI 20-Z技术参数型号FOLI 20-ZFOLI 20-ZE单位光谱范围5000-5007500-400cm-1分辨率≤2cm-1波数精度≤0.01cm-1信噪比≥40,000:1-透过率精度≤0.1%τ分束器ZnSeKBr-干涉仪基于一体成型立体角镜-检测器标配：高灵敏度DLaTGS选配：制冷型MCT-主机尺寸550*450*230mm重量20kg 产品选型表型号描述主机系列FOLI 20-Z-A傅里叶红外光谱仪主机，配置DLaTGS探测器，ZnSe分束器，标准透射功能，含聚焦透射光路和平行透射光路测量位。FOLI 20-Z-B傅里叶红外光谱仪主机，配置制冷型MCT探测器，ZnSe分束器，标准透射功能，含聚焦透射光路和平行透射光路测量位。FOLI 20-ZE-A傅里叶红外光谱仪主机，配置DLaTGS探测器，KBr分束器，标准透射功能，含聚焦透射光路和平行透射光路测量位。FOLI 20-ZE-B傅里叶红外光谱仪主机，配置制冷型MCT探测器，KBr分束器，标准透射功能，含聚焦透射光路和平行透射光路测量位。附件系列F20ACC-ATR标准金刚石ATR测量附件F20ACC-STD30标准30°固定角度镜面反射附件F20ACC-STD45标准45°固定角度镜面反射附件F20ACC-10Spec10°镜面反射附件，PIKE TECHNOLOGY产品F20ACC-80Spec80°镜面反射附件，PIKE TECHNOLOGY产品F20ACC-VeeMAX可变角度镜面反射附件，手动调节，PIKE TECHNOLOGY产品F20ACC-ARA绝对测量镜面反射附件，PIKE TECHNOLOGY产品F20ACC-EASIDIFF漫反射简易测量附件，PIKE TECHNOLOGY产品

红外镜面反射聚焦炉（镀金） 钨丝密封在石英玻璃管中的高能流密度红外灯为热源，产生的红外线经过镀金多种抛物镜面反射然后聚焦到中心炉管，使其对中心炉管进行加热从而使温度快速升高。为增加反射比和遏制衰减，反射镜设计为高精度曲率；经镜面抛光处理后镀金，反射性能良好；内部结构分为椭圆型（棒状）和抛物线型（片状），适于不同形状的试样。 技术优点： & 甄选知名品牌合作：美国（GE）和日本牛尾（USHIO）；优化水路设计，无需经常清洗炉体水路。红外灯寿命可达5000小时；波长峰值约为1.15μm；炉体工艺达到光学平台级别（微米）。& 快速控温：高能流密度红外灯和镀金反射镜的设计，使仪器可以快速加热至高温；同时，炉体的热容小；炉身的水冷却系统和附加气体冷却装置，使样品实现快速冷却；提高工作效率。& 高精度控温：使用红外镀金聚焦炉和专用温度控制器，可以高精度控制试样的温度、冷却速度和恒温控制。& 洁净控温：红外灯的加热元件密封在石英玻璃中，加热元件不产生污染气体；炉中没有使用绝热保温材料，与电阻加热炉相比，不产生浑发物和污染气体，更适合在洁净环境中使用。& 满足各种工作条件：可以在各种环境如真空、惰性、氧化、还原气氛中进行加热、冷却。石英保护管。& 可定制不同功率、不同恒温区尺寸和温度范围的炉体 应 用 * 试验机控温炉体、热分析快速加热炉体、高温表面分析控温、逸出气体分析炉等；* 电子材料热源和控温、陶瓷材料/无机材料退火炉和温度控制； * 钢制材料/金属材料加热炉和分析炉、复合材料加热炉体和控温；* 金属或陶瓷超高温分析试验、合金粉末烧结；* 快速加热/冷却，高效加热提高试验效率、热冲击和热分析系统控温；超高温聚焦炉系列 CIF-H 管状炉型 号CIF-H48CIF-H424CIF-H612CIF-H636温度范围（℃）1500150014001500恒温区（mm）100225100225炉体长度（mm）220345220345开孔直径 (mm)50507575聚焦直径（mm）10102020红外灯数量4466额定电压200480200480功率（KW）8.024.012.036.0水冷参数4.0l/min3kgf/ cm212.0l/min3kgf/ cm28.0l/min3kgf/ cm218.0l/min3kgf/ cm2冷却气 （l/min）400400400l400重量 （Kg）10.016.020.030.0 椭圆型聚焦炉系列 CIF-E椭圆管状炉型 号CIF-E23CIF-E24CIF-E26CIF-E22CIF-E25CIF-E27CIF-E28CIF-E212温度范围（℃）12001200100010001200120012001200恒温区（mm）14026542070140200265420炉体长度（mm）240365520170245300365520开孔直径 (mm)3232325252525252聚焦直径（mm）7771010101010红外灯数量22244444额定电压14420030050144200200300功率（KW）2.44.06.02.04.86.48.012水冷参数1.2l/min3kgf/ cm22.0l/min3kgf/ cm23.0l/min3kgf/ cm21.5l/min3kgf/ cm22.5l/min3kgf/ cm23.5l/min3kgf/ cm24.0l/min3kgf/ cm25.0l/min3kgf/ cm2重量 （Kg）4.06.07.05.06.69.010.015.0 抛物线管式炉系列 CIF-P 抛物线管状炉型 号CIF-P68CIF-P610CIF-P612CIF-P618CIF-P816CIF-P824CIF-P1224CIF-P1236温度范围（℃）100010001000100010001000900900恒温区（mm）140200265420265420265420炉体长度（mm）240300365520365520365520开孔直径 (mm)104104104104124124204204聚焦直径（mm）4040404050508080红外灯数量6666881212额定电压144200200300200300200300功率（KW）7.29.612.018.016.024.024.036.0水冷参数4.0l/min3kgf/ cm25.0l/min3kgf/ cm26.0l/min3kgf/ cm28.0l/min3kgf/ cm27.0l/min3kgf/ cm28.0l/min3kgf/ cm28.0l/min3kgf/ cm210.0l/min3kgf/ cm2重量 （Kg）8.09．012.015.014.020.022.030.0 专业定制：垂直炉体（1000mm恒温区） 高低温炉体（可定制） & 温度范围：-269—RT/220℃；-196—RT/220℃；-150—500℃& 控温精度：±1℃& 可按照用户要求定制不同尺寸和功能参数程序温度控制器PTC Au1000 & 可连接PC通过软件控制 & 高精度地从慢速加热到瞬时等温控制。& 预热功能和报警功能，确保红外炉炉安全工作 控制方法PID VS闭环控制系统加热速率0-300k/min恒温时间1sec-99h显示实际温度、设定温度，加热时间，PID输出功率热电偶型号K.S.B.C等设置程序键数字显示；用上、下键数字设定分辨率±1℃ 采集时间0.2 sec尺寸/重量长*宽*高 （300*280*150 mm）/10.0kg

镜面反射标准板，紫外增强铝膜，200-2500 nm，反射率约80%-90%， XOP-1208 描述镜面反射标准板可以用来测量镜片，感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等材料的反射率，或其它表面具有高镜面反射率值的物体的参照。其高反射率表面，在250-800nm范围内的反射率约为85%-90%，在800-2500nm反射率约为85%-98%。铝镜表面为镜面反射，镜面表面有一层熔融石英镀膜，可以防止铝镜表面氧化。技术参数材料反射率更多精彩内容，请关注下方！

15R-USB 便携式镜面反射率计 美国D&S公司生产的15R-USB便携式镜面反射率计是专门针对野外或实验室内应用设计的，可以测量平面或曲面样品的镜面反射率，具有如下优点： （1）电池操作，野外便携 （2）重复性：± 0.002 （3）质量控制和检测的理想应用产品 15R-USB便携式镜面反射率计采用可充电电池供电，每次充电完成后可连续测量15个小时。反射计设计小巧，高约15cm，直径12.7cm，重量1.0kg，测量时间约每分钟2~6次并自动记录和存储数据。具有USB接口可进行数据下载、数据维护和固件升级。这些特点对于现场太阳反射镜的测量、检测、生产过程中的质量控制、热控制涂层的维护等应用领域非常理想。 原理介绍： 15R-USB便携式镜面反射率计使用660nm的LED光源，通过校准光学部件产生10mm直径光束源。反射的光束穿过3个孔中的1个，标准接收角度为15、25和46mrad，提供7mrad可选孔径。15R-USB基座上有两个可调节的支承点，可用来调准反射光束与接收光学系统。支撑点中间具有停止位，可以根据反射镜厚度来调节；为了确认对准，可旋转检测器，通过15R-USB顶部的目镜查看光学路径和反射光束。LED光源通过电子截光并同步测量反射光束以消除杂散光误差。同时，光源通过参比检测器监测以减少热漂移。增益调节可将测量值精确到0.001。在仪器的底部，提供一个封装的标准体。 测量反射率时，只需将15R-USB置于待测量的反射镜上，并调节支撑点到液晶屏显示的最大读数。15R主机包含：15R-USB控制软件，USB连接线，反射率标准体，镍镉电池，电池充电器，操作手册，维护手册，技术说明和运输箱。 技术参数： 测量描述：测量15度入射角、10mm入射光源的镜面反射率，光束发散为5.0mrad 光源：高灵敏度红光LED 660nm，90HZ截光消除杂散光；可选570nm绿光LED 光学：LED光源固定于小光圈内确保提供点光源，并通过会聚透镜校准；内置光学进行过防尘处理。 标准体：提供封装的镜面反射标准体，安装在仪器底部 重复性：± 0.002 分辨率：LCD显示反射率0.1%，增益调节旋钮可进行标准体校准 操作温度：0~50℃ 耗电：可充电电池提供15个小时连续测量，通用100-240VAC电源适配器 重量：1.0kg 物理尺寸：订货指南： 15R-USB 便携式镜面反射率计，USB端口和电脑连接，红色LED光源，标配15，25和46mrad光圈，反射标准体，电池、充电器、电源线，USB电缆和运输箱可选项： 15R-570 570 nm 绿色LED光源 15R-7MR 7mrad光圈 产地：美国

RM-9镜面发射率测定器 日本进口村上色彩RM-9镜面反射率测定器是基于汽车后视镜装置标准JIS D 5705，SAE J 964的直接测量方法设计制造的，是产品检验必不可少的反射率测量装置。与普通测量设备不同，测量操作简单，因为不需要反射标准板。 通过使用摆动机构也可以容易地进行棱镜反射镜的测量。用途：• 汽车用平面镜（内部镜）的反射率测量• 汽车用棱镜（界内镜）反射率测量• 反射镜，金属表面的绝对反射率测量

日本电色直接测定式镜面反射率计MG-I 7000日本电色MG-I 7000是基于车用镜子（ISO 5740标准）的反射率直接测定法的直接测定式镜面反射率计。此仪器可以测量带有镜面样品的反射率。将样品放入样品室，按下操作面板上的按钮，测量数据即可显示在显示屏上，测量操作简单。适用于测量表面电镀产品、表面抛光产品、平面镜、移动镜（内后视镜）等。产品特点① 基于车用镜子的反射率直接测定法；② 可测量表面处理过的样品（如镜面、电镀、抛光）；③ 仪器操作简单，将样品放入样品室，按下操作按钮即可得出测试结果；④ 宽大的样品室可测量大尺寸样品；⑤ 光源可选择卤素灯，或白色LED（可选项）。 产品参数测定角度照明角度：25°，受光角度：25°，标准调整：0°-0°测定范围反射率：0.0~100.0%光源卤素灯，5V 9W测定时间约1秒测定开口Φ40mm测定精度反射率：标准偏差在0.1以内，10秒内可连续10次测量显示项目反射率，?反射率相关标准ISO 5740电源功率100V AC，50/60Hz, 40VA（光学单元）&26VA（测量单元）尺寸重量[光学单元]W463mm*D325mm*H500mm，19kg[测量单元]W350mm*D360mm*H110mm，5kg可选项数据传输软件等

日本电色间接测定式镜面反射率计MG-II 7000 日本电色MG-II 7000是基于车用镜子（ISO 5740标准）的反射率间接测定法的间接测定式镜面反射率计。此仪器可以测量带有镜面产品的反射率。将样品固定在测量孔的支架上，按下操作面板上的按钮，测量数据即可显示在显示屏上，测量操作简单。适用于测量表面电镀产品、表面抛光产品、汽车后视镜、和各种凸镜等。产品特点① 基于车用镜子的反射率间接测定法；② 可测量表面处理过的样品（如镜面、电镀、抛光）；③ 仪器操作简单，将样品固定在测量孔的支架上，按下操作按钮即可得出测试结果；④ 此款由测量单元和单独的光学单元组成；⑤ 光源可选择卤素灯（标配），或白色LED（可选项）。 产品参数测定角度照明角度：25°，受光角度：积分球受光方式测定范围反射率：0.0~100.0%光源卤素灯，5V 9W测定时间约1秒测定开口Φ40mm测定精度反射率：标准偏差在0.1以内，10秒可连续10次测量显示项目反射率，?反射率相关标准ISO 5740电源功耗100V AC，50/60Hz, 40VA（光学单元）&26VA（测量单元）尺寸重量[光学单元]W463mm*D325mm*H500mm，12kg[测量单元]W350mm*D360mm*H110mm，5kg可选项数据传输软件等

日本电色MG-II 400是基于车用镜子（ISO 5740标准）的反射率间接测定法的间接测定式镜面反射率计。此仪器可以测量带有镜面的样品的反射率。只需将样品固定在测量孔的支架上，然后按下操作面板上的按钮，测量数据即可显示在显示屏上，测量操作非常简单。此款仪器是测量表面电镀样品、表面抛光样品、汽车后视镜、和各种凸镜的佳选。■特点① 此反射率计基于车用镜子的反射率间接测定法；② 可测量表面处理过的样品（如镜面、电镀、抛光）；③ 仪器操作简单，将样品固定在测量孔的支架上，并按下操作按钮即可得出测试结果；④ 此款由测量单元和单独的光学单元组成；⑤ 光源可选择卤素灯（标配），或白色LED（可选项）。 ■规格参数测定角度投光角度：25°，受光角度：积分球受光方式测定范围反射率：0.0~100.0%光源卤素灯，5V 9W测定时间约1秒测定开口Φ40mm测定精度反射率：标准偏差在0.1以内，在空气层间隔10秒可连续测定10次显示项目反射率，?反射率相关标准JIS D 5705, ISO 5740电源功耗100V AC，50/60Hz, 40VA（光学单元）&26VA（测量单元）尺寸重量[光学单元]W215mm*D430mm*H205mm，净重12kg[测量单元]W350mm*D360mm*H110mm，净重5kg可选项白色LED光源等

410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围：从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪，可在3-35微米范围内测试半球反射率测试（总半球反射率），提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250～2500纳米，主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um（并不限定于过滤器，窗等）测量精度（镜面反射和漫样品）-灰色样本满量程的± 1％- ± 3％满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5％或更好样品类型任何样品，包括金属箔，绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面：&ge 0.4英寸（1厘米）直径- 凹面： &ge 6.5英寸（16.5厘米）直径-凸面：&ge 1英寸（2.5厘米）直径 样品温度房间温度，环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率（300K）-半球发射率（300K）读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围（反射率）0.00～1.00尺寸光学头：直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位：4.5× 7.75× 7英寸便携包：12.5× 17× 11英寸重量光学头：5磅，控制和显示单元：4磅，携带箱：11磅保1年部件和人工

STAN-SSH 标准铝镜 标准反射镜是用于反射率测量的标准镜面反射参考物。闻奕光电的STAN-SSH标准反射镜采用高反的Al材料热蒸发而成，能够提供紫外-可见-近红外（200-2500 nm）宽光谱谱段大于95%的高反射率。 高反射率表面闻奕光电标准高镜面反射率标准板可以用来测量感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等材料的反射率,表面具有高镜面反射率值的物体的参照。 250nm-800nm 波长处反射率为~85%-90%。800-2500nm 反射率为~85%-98%。镜面表面有保护膜铝镜表面为镜面反射，镜面的熔融石英镀膜防止铝镜表面氧化。使用注意事项*设置高反射率基准时可使用STAN-SSH*STAN-SSH铝膜由一层熔融石英镀膜保护着，用户还是应该在使用时备加小心，以保证标准面不被破坏。不要用手或者物体碰表面，以避免污染和破坏。清理 STAN-SSH表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头 的表面。然后单向在镜面拖动，之后自然晾干即可。一般不需擦拭。 溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。*裸露的金属层非常干净精密，不能用此方法清理。指印和污垢会对它产生永久破坏，用户在操作STAN-SSH时一定要非常小心，以延长它的使用寿命。 更多促销信息：/产品特点 1、镜面的熔融石英镀膜放置轻微刮擦，耐高温，性能稳定，避免铝和空气氧化；2、高反射率铝镜；3、外壳铝材料，蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。典型图片STAN-SSH 标准反射镜反射率图谱 更多信息访问：

410Vis-IR可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点n在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率n半球热辐射的预测n测量太阳能吸收/反射n在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量n可测量光谱范围：从可见到中远红外nNIST可溯源标准n快速和便携式使用nPDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域n航空工业n天文望远镜检查n涂层领域n太阳能领域优化太阳能利用性能n节能建筑n光学材料质量控制技术参数410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

410 - Vis 便携式可见/近红外反射计Field Portable Hand-Held Reflectometers and Emissometers 410-Vis测量400 &ndash 1100 nm波谱范围内4个波段的总反射率。可输出20度入射角的总反射、散射反射和镜面反射数据。一次测量循环可以输出12个数据点。测量操作简单，只需扣动仪器扳机即可，数据记录并可以图表或数字形式显示在显示屏上。是一款真正便携、电池操作、内置PDA的反射计。 特点：测量400 &ndash 1100 nm范围4个波段的反射率测量总反射、漫反射和镜面反射电池操作、完全便携测量大目标反射率无须仪器调准可野外工作测量绝对反射率值

410-Solar便携式可见/近红外手持反射计Visible/NIR Hand-Held Reflectometer 410-Solar可野外使用测量大目标物体的绝对反射比。 特点：测量总反射、漫反射和镜面反射估算太阳辐射吸收比可测量大目标物体反射比快速、便携基于修正的积分球方法测量330~ 2500 nm范围内7个波段的总反射比20° 入射角的总的漫反射和镜面反射数据每个测量周期记录21个数据点电池操作，便携，准确，软件操作方便 应用领域：镜面检测漫反射材料太阳辐射吸收比测量太阳能产品望远镜反射镜检测性能 410-Solar 测量20 ° 角太阳总反射的漫反射部分，采用完全自动化的镜面反射技术。镜面反射由总反射减去漫反射而获得。为了获得最大精度，既标定了镜面反射也标定了漫反射。软件和数据 410-Solar由显示屏上的软件按键来控制，进行测量时，只需扣动扳机即可进行，数据记录并可以图表或数字形式显示在屏幕上。 数据也可以标注测量名称或测量地点特征。 技术参数测量参数：定向半球反射比 (DHR)方法：一个波段范围内20° 入射角的积分总反射比测量值：总发射比，漫反射比，和20° 角的镜面反射（同时进行8个测量）波段：330～2500 nm 波谱范围内7个波段(335-380；400-450；480-600；590-720；700-1100；1000-1700；1700-2500）入射角：20° 法线入射角精 度：± 1%表面弯曲：任何表面，6&rdquo 半径曲面，12&rdquo 半径曲面BEAM SPOT SIZE：0.250&rdquo 直径在20° 入射角BEAM ANGLE：3° 半锥角测量时间：10秒/测量，用户可设(7 波段)运行时间：电池工作2小时，可更换电池后接续测量预热时间：90秒电源：可充电电池 充电时间约1小时VIS-NIR 源：钨丝，用户可控温度尺寸：手持式，H 11.54&rdquo , L 9.04&rdquo , W 3.72&rdquo 模块：测量头可更换操作界面：LCD 屏，触摸屏，软件按钮数据存储：265MB CF卡数据格式：Text格式环境：储存： -25～70℃；操作环境：0～40℃, 非冷凝重量：4.7 lbs.带电池

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域n 航空工业 n 天文望远镜检查n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制仪器特点n 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射n NIST标准n 快速、便携n PDA触摸屏操作，内置SD卡n 计算半球反射比技术参数410-Solar 便携式太阳能反射率仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法20°入射角的积分总反射比输出参数总反射，漫反射，和20°角的镜面反射波段7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm入射角20°法线入射角样品表面：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面BEAM SPOT SIZE0.250”直径，20°入射角BEAM ANGLE3°半锥角测量时间10秒/次；90秒预热VIS-NIR源钨灯测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制仪器特点 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射 NIST标准 快速、便携 PDA触摸屏操作，内置SD卡 计算半球反射比技术参数410-Solar 便携式太阳能反射率仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法20°入射角的积分总反射比输出参数总反射，漫反射，和20°角的镜面反射波段7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm入射角20°法线入射角样品表面：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面BEAM SPOT SIZE0.250”直径，20°入射角BEAM ANGLE3°半锥角测量时间10秒/次；90秒预热VIS-NIR源钨灯测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

热反射（Thermo-Reflectance）方法基于超高速激光闪射系统，可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如：热扩 散系数、导热系数、吸热系数（Thermal Effusivity）和界面热阻。由于激光闪射时间仅为纳秒（ns）量级，甚至可达到皮秒（ps） 量级，此系统可测量厚度低至 10nm 的薄膜。同时，系统提供不同的测量模式，以适应不同的基片情况（透明 / 不透明）。 NETZSCH TR 特性：• 该方法符合日本国家标准：• JIS R 1689：通过脉冲激光热反射方法测量精细陶瓷薄膜的热扩散系数；• JIS R 1690：陶瓷薄膜和金属薄膜界面热阻的测量方法 。发展简史1990 年，日本产业技术综合研究所/日本国家计量院（AIST/NMIJ）发明热反射法，测量薄膜导热性能。2008 年，AIST 设立 PicoTherm 公司。2010 年，PicoTherm 公司推出纳秒级热反射系统 NanoTR。2012 年，PicoTherm 公司推出皮秒级热反射系统 PicoTR。2014 年，PicoTherm 公司和 NETZSCH 公司建立战略合作。由 NETZSCH 负责 PicoTherm 产品在全球的销售和服务。技术背景激光闪射法 -最主流的材料热扩散系数测试方法在现代工业中，关于材料的热性能、特别是热物理性能的相关知识变得日益重要。在这里我们可以举出一些典型领域，例如应用于高性能缩微电子器件的散热材料，作为持续能源的热电材料，节能领域的绝热材料，涡轮叶片中所使用的热障涂层（TBC），以及核工厂的安全操作，等等。在各种热物性参数之中，导热系数显得尤其重要。可以使用激光闪射法（LFA）对材料的热扩散系数/导热系数进行测定。这一方法经过许多年的发展已广为人知，可以提供可靠而精确的数据结果。样品的典型厚度在 50um 至 10mm 之间。NETZSCH 是一家世界领先的仪器制造厂商，提供一系列的热物性测试仪器，特别是激光闪射法导热仪。这些 LFA 系统在陶瓷，金属，聚合物，核研究等领域得到了广泛应用。热反射法 -测试厚度为纳米级的薄膜材料的热扩散系数随着电子设备设计的显著进步，以及随之而来的对有效的热管理的需求，在纳米级厚度范围内进行精确的热扩散系数/导热系数测量已经变得越来越重要。日本国家先进工业科学与技术研究所（AIST），在上世纪 90 年代初即已响应工业需求，开始研发“脉冲光加热热反射法”。于 2008 年成立了 PicoTherm 公司，同时推出了纳秒级的热反射仪器“NanoTR”与皮秒级的热反射仪器“PicoTR”，这两款仪器可对薄膜的热扩散系数进行绝对法的测量，薄膜厚度从数十微米低至纳米级范围。2014 年，NETZSCH 日本分公司成为了 PicoTherm 公司的独家代理。与我们现有的 LFA 仪器相结合，NETZSCH 现在可以提供从纳米级薄膜、到毫米级块体材料的全套的测试方案。为什么需要测试薄膜？薄膜的热性能与块体材料的热性能不同纳米级薄膜的厚度通常小于同类块体材料典型的晶粒粒径。由此，其热物理性能与块体材料将有着显著的不同。测量模式超快速激光闪射法 -RF 模式：后部（Rear）加热 / 前部（Front）探测可测试热扩散系数与界面热阻纳米级薄层与薄膜的热透过时间极短，传统的激光闪射法（LFA）使用红外测温，采样频率相对较低，已不足以有效地捕捉纳米级薄膜的传热过程。因此需要一种新的更快速的检测方式，可以克服经典的激光闪射法的技术局限。这一被称为超快速激光闪射法的技术，其典型模式为后部加热/前部探测方法。这一方式的测量结构与传统的 LFA 方法相同：样品制备于透明基体之上，测量方向为穿过样品厚度、与样品表面垂直。由加热激光照射样品的下表面，由探测激光检测样品上表面的传热温升过程。随着样品检测面的温度逐渐上升，其表面热反射率会相应发生变化。使用探测激光按一定采样频率对检测面进行照射，利用反射率的变化可获取检测面的温度上升曲线。基于该曲线进行拟合计算，可得到热扩散系数（如下图所示）。这里，金属薄膜（Mo）的热扩散系数测量结果为 15.9 mm2/s。时间域热反射法 -前部加热 / 前部探测（FF）测定热扩散系数与吸热系数除了 RF 方法之外，测量也可以使用前部加热/前部探测（FF）的结构进行。“Front”一词这里指的是沉积于基体上的薄膜的外表面，而“Rear”一词指的是薄膜与基体接触的一面。在 FF 测量配置中（如下图所示），加热激光与探测激光处于样品的同一面。加热激光加热的是薄膜的前表面的一个直径为几十微米的区域，探测激光则指向同一位置，观察在照射之后表面温度的变化。这一方法可以应用于非透明基体上的薄层材料，即 RF 方法不适合的场合。在下图的示例中，使用 FF 模式，金属薄膜（Mo）的热扩散系数测量结果为 16.1 mm2/s。结果证明了 RF 与 FF 模式之间结果高度的一致性（偏差2%）。NanoTR 原理NanoTR 具有先进的信号处理技术，可以进行高速的测量。测试过程中，一束脉冲宽度 1ns 的激光脉冲被周期性（间隔20us）地照射到样品的加热面上。使用探测激光记录检测面相应的温度响应。通过在极短时间内进行大量的重复测试，对重复信号进行累加，可以获得优异的信噪比。通过软件，仪器可以方便地在 RF 与 FF 两种测试方式之间进行切换，由此适合于各种类别的样品。NanoTR 遵从 JIS R 1689，JIS R 1690 标准，提供具有热扩散时间标准值的薄膜标样（RM1301-a），使结果具有 SI 可回溯性。该标样由 AIST 提供。PicoTR 原理对于皮秒级热反射分析仪 PicoTR，照射到样品的加热面上的是脉冲宽度仅为 0.5ps 的激光脉冲，重复周期为 50ns。使用探测激光，记录检测面相应的温度响应。PicoTR 允许用户在 RF 与 FF 两种模式之间进行自由切换。PicoTR 符合 JIS R 1689，JIS R 1690 标准。技术参数仪器型号NanoTRPicoTR温度范围RT，RT … 300°C（选配）RT，RT … 500°C（选配）测量模式RF/FFRF/FF样品尺寸10 × 10mm … 20 × 20mm10 × 10mm … 20 × 20mm薄膜厚度30nm … 20μm （取决于样品种类和测量模式）10nm … 900nm （取决于样品种类和测量模式）热扩散系数0.01 … 1000mm2/s0.01 … 1000mm2/s主激光脉冲宽度 1ns 光束直径 100μm 激光功率 100mW脉冲宽度 0.5ps 光束直径 45μm 激光功率 20mW

耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 应用领域：可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如热扩散系数、热导率、吸热系数和界面热阻。 耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 产品特点：- 精确的微米级薄膜导热测量方法- 可提供RF测量模式（后加热-前检测）和FF测量模式（前加热-前检测）- Nano TR遵循国际校准标准 耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 技术参数：Nano TR温度范围RT，RT … 300°C（选配）测量模式RF/FF样品尺寸10×10 … 20×20mm薄膜厚度30nm … 20μm（取决于样品种类和测量模式）热扩散系数0.01 … 1000mm2/s主激光脉冲宽度 1ns光束直径 100μm激光功率 100mW详细参数，敬请垂询 *价格范围仅供参考，实际价格与配置、汇率等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

耐驰 PicoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 应用领域：可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如热扩散系数、热导率、吸热系数和界面热阻。 耐驰 PicoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 产品特点：- 精确的纳米级薄膜导热测量方法- 可提供RF测量模式（后加热-前检测）和FF测量模式（前加热-前检测）- Pico TR遵循国际校准标准 耐驰 PicoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 技术参数：Pico TR温度范围RT，RT … 500°C（选配）测量模式RF/FF样品尺寸10×10 … 20×20mm薄膜厚度10 … 900nm（取决于样品种类和测量模式）热扩散系数0.01 … 1000mm2/s主激光脉冲宽度 0.5ps光束直径 45μm激光功率 20mW详细参数，敬请垂询 *价格范围仅供参考，实际价格与配置、汇率等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

特点：■优质表面质量参数，面型1/10；光洁度60-40；平行度＜3′■应用光谱范围800-1600nm■溯源中国计量科学研究院■可与漫反射标准板配套使用，反射相关测量测试实验产品选型型号镜面反射率有效区域使用高度带座直径光谱范围价格备注MR-99-01099%D30mm14mmD38mm800-1600nmCALLMR-80-01080%D30mm14mmD38mm800-1600nmCALLMR-60-01060%D30mm14mmD38mm800-1600nmCALLMR-40-01040%D30mm14mmD38mm800-1600nmCALL此系列产品接受定制；其他镜面反射标准板75%；50%；20%；5%；2%等，请致电咨询

SOC-100 半球定向反射率测量仪（HDR）及其应用软件具有独特的材料光学性能的表征和利用能力，是一套功能强大的半球定向反射率测量工具。配备Nicolet FTIR， SOC-100可提供FTIR所涵盖光谱区域10°到80°入射角的偏振反射和角漫反射测量。使用标准FTIR，所测量光谱区域为2-25μm，也可通过客户定制的FTIR扩展到50μm。同时还具备样品加热功能。测量材料漫反射率的传统技术是利用积分球捕捉漫散射的能量。但由于积分球的固有能量限制，有价值的数据被限制在18μm内。而SOC-100利用2π半椭球以700°C黑体照射样品。一个可移动的顶部反射镜捕获反射能量并准直到FTIR。SOC-100软件使用MS Windows界面，驱动FTIR并控制各种数据采集、进程管理、数据归档和报表生成。它与OMNIC软件兼容，还具有附加软件包，可进行光学常数的测定、漫反射涂层的设计、热量分析和红外场景模拟。测量数据：n 10°~80°之间的用户设定角度的平行、垂直及非偏振光束反射率n 测量漫反射和镜面反射，及0°入射的透射率n 温度达500℃和10°~80°角度下，定向发射率的角度-波长-温度函数n 总半球发射率的温度函数应用：n 支持红外图像模拟和红外材料的开发n 鉴定和测量表面污染n 散射和镜面反射检测n 测量散装和粉状物料的偏振反射数据，以计算其光学常数（n，k）n 提供热分析和热传导的温度-波长函数发射率数据n 提供角度至2π球面度的半球完全散射透射率数据软件功能：n 标准软件提供：仪器控制、项目和数据的基础管理；控制Nicolet FTIR的OMNIC软件n 可选的应用软件：光学常数测定、涂层设计分析、红外场景模拟、热分析用途： n 热量传导 n 特征分析 n 涂料研发 n 质量控制 n 定量分析 n 光学测试

Seagull™ 是一个强大的附件，用于通过可变角度FT-IR反射光谱法检查粉末、光学涂层、不透明基底、不透明基底上的薄膜和略微弯曲的固体。这个附件很容易适应镜面反射，ATR或漫反射测量。Seagull™ 可在大范围的入射角上工作，不会使系统失调、使入射辐射散焦或改变极化。这使得它成为FT-IR光谱学中非常灵活和灵活的工具。Seagull™ 还允许在不中断光谱仪清洗的情况下改变入射角。Seagull™ 非常适用于通过镜面反射或ATR检测固体，通过镜面反射研究液体和液体上的薄膜，深度剖面，以及确定光学常数。特征多用途，可变角度反射附件。ATR、镜面反射（外部）和漫反射能力。连续可变入射角，从5°到85°。将入射的FT-IR光束聚焦在所有入射角的样品上。始终将入射光束集中在样品的同一区域。所有测量的直接角度读数；无需ATR角度校正。保持入射角的偏振。改变入射角时，无需重新调整附件或重新定位样品。高光吞吐量。PermaPurge™ 允许在不中断FT-IR系统吹扫的情况下改变角度。可用选项包括：含锌硒或锗半球晶体的ATR试剂盒。Ming Sung™ ATR旋转器，用于分别提供的取向聚合物的光谱研究。提供方便的ATR流动池、槽、粉末和变温加热级。中红外jue对反射率测量用反射率基准。线栅偏振器。包括:镜面反射样品架。漫反射样品杯。样品压力板。指定FT-IR光谱仪的配套硬件。对准镜。

掠角反射可变角度镜面反射附件双重样品引入设计，提供薄膜在气体及液体中原位FT-IR单层检测；梯度入射光提供固体反射表面薄膜涂层的检测。特别适合LB，纳米膜的研究梯度光性能单层分析连续可调入射光 8°- 85°宽范围研究体积通量8.9ml样品规格：85 x 22mm 液体 140 x 35mm 固体内置极化架独特设计的小孔控制样品区液体薄膜压缩/扩展功能惰性PTFE样品流通（液体)单层/梯度镜面反射附件双重样品引入设计P/N GS19650，提供薄膜在气体及液体中原位FT-IR单层检测；梯度入射光提供固体反射表面薄膜包衣的检测。可选配的样品架可方便切换。梯度入射光从8°-85°可调，避免杂散光。独特设计的小孔可对光线进行修正，在临界梯度入射光极限情况下提高附件性能。单层模式包括表面活性剂、蛋白、洗涤剂、油类、高分子及生物膜中的磷脂双分子层，提供样品的原环境模拟研究。为研究分子取向、构象、相变，使用特制PTFE材质的样品通路装载样品。我们提供可旋转的偏光片架及压薄膜配件供研究所需。偏光片可安装Specac公司的P/N GS12000系列所有偏光片。选择合适的偏光片基板保证波长范围在中红外区域可见。针对固体样品，我们另外提供水平样品台代替液体流通台用于单层/梯度角度附件。单层梯度角附件中样品采样区大小和投射到样品表面入射光的角度相关。无论对于液体样品或固体表面，当入射光变大时(例如85°，单层设备极限)，由于光的椭圆型反射区变大导致样品表面的光传播更广。因此，为了尽可能利用更多的光，您需要更长更细的样品区域增加样品信号。由于梯度角情况下镜面反射光强度极低，Specac公司通常推荐灵敏度更高的检测系统，如MCT检测器。对于液体样品，表面大小最大为85mm x 22mm。对于固体平台，样品最大长度可达140mm，宽度35mm。单层/梯度角度附件的底座可以安装在光谱仪样品室我们会根据您提供的光谱仪型号提供合适的底座装置。订购信息GS19650 单层/梯度角附件包含以下配件：光学元件及底座水平样品台小孔塞偏光片架PTFE样品通道耗材GS19662 PTFE 样品池(单层模式)GS19663 单层/梯度角附件小孔塞及样品架子

反射率/透射率积分球 最适宜测量内容： 材料反射率和透射率 不透明物体的反射率 混浊样品的透过率 颜色特性 反射系统设计 红外反射 反射率与角度的关系 Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量。可提供两种积分球涂层：Spectraflect，在300-2400nm防范围具有高反射率；Infragold，设计工作在0.7um-20um。 RT积分球有5个1inch开口可容纳样品和9° 反射光束的结构。在球的顶部有一个0.5inch探测器口。镜面光束光阱用于去除镜面反射束的方法。RTC积分球则在积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率。探测器端口在底部。 RT积分球可以测量镜面反射9° /h结构和排除镜面反射9° /d结构。RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。 积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，阻挡效应可以最小化，允许探测器最大限度地看到球表面。探测口位于球的顶部和底部，并被挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。 RT--060-SF和RT-060-IG反射率透射率积分球 Labsphere 的 RT-060-XX 积分球具有五个1英寸直径的口来容纳样品和9° 双光束结构中参考光束，同样包括用于9° 单光束结构测量中的端口盖。与积分球一起的两个1英寸样品架用于安装样品和放射率透射率标准板。积分球顶部具有0.5英寸的探测口，探测罩限制探测视场范围。还包括一镜面光阱去除镜面反射光束。 积分球适合于镜面测量，包括非镜面反射测量，前散射和背散射测量，以及混浊或散射样品的透射率的测量。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，阻挡效应可以最小化，允许有效的积分。为了保证高积分球效率，总开口面积应小于积分球表面积的5%。每个积分球拥有一个支架配件，由支杆底座和1/4-20支架组成，这样积分球的高度可以方便调节。 RTc-060-SF 和 RTc-060-IG 具有中心支架的反射率透射率积分球 增加了中心样品架，Labsphere RTc-060-XX 用户能够测量反射率与辐射入射角度的关系，一些情况下，还能测透射率与辐射入射角度的关系。 RTC-060-IG 积分球具有5个开口来容纳样品和参考光束:三个1英寸直径的口，两个1.25英寸直径的口。中心样品台安装在积分球的顶部，0.5英寸探测口在积分球底部。探测罩限制探测视场范围。RTC 系列积分球配件包括四个样品架:一个中心样品架，两个1.25英寸直径样品架和一个1英寸用于进一步灵活备用。中心样品架允许各种样品反射率与入射角度变化的测量。积分球包括颚式中心样品架，同时夹式和槽式中心样品架可供选择。颚式可以夹住1英寸*2英寸，最厚达0.38英寸的样品。夹式中心样品架设计用于薄膜或硬度不能承受颚式样品架的样品。夹式中心样品架可以夹住样品尺寸最大为1.50&rdquo x 2&rdquo x 0.125&rdquo 的样品。槽式样品架为12.5平方毫米容器，可以承装液体和粉末，用于测试吸收和散射特性。 系统指标 型号RT-060-SFRT-060-IGRTC-060-SFRTC-060-IG积分球直径6 inches6 inches6 inches6 inches积分球涂料SpectraflectInfragoldSpectraflectInfragold® 光谱范围250 - 2500 nm0.7 &mu m - 20 &mu m250 - 2500 nm0.7 &mu m - 20 &mu m探测口直径0.5 inch0.5 inch0.5 inch0.5 inch样品和参考口FiveFiveFiveFive样品和参考口直径(数量)1 inch (5)1 inch (5)1 inch (3)1.25 inch (2)1 inch (3)1.25 inch (2)积分球支架1/4 - 20 凸台,安装支杆和底座1/4 - 20 凸台,安装支杆和底座可调 H 型支架结构可调 H 型支架结构预定编号AS-02484-100AS-02485-100AS-02484-000AS-02485-000 可选配件 KI-120, Kohler Illuminator套件 AS-02509-100 反射率可选择的标准反射板 个人选择 SC 6000 辐射度计/光度计 系统控制 AS-02702-000 Labsphere 探测器配件 个人选择 CSMH-RTC-CLIP-SF, 夹式中心样品架 AS-02759-000 CSMH-RTC-CUV-SF, 槽式中心样品架 AS-02728-000 PA-100-74S, 连接积分球与OOI 74系列的准直镜头适配器 AS-02764-000

Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量，有Spectraflect® 和Infragold® 涂层可供选择。Spectraflect® 在300-2400nm范围具有高反射率；Infragold® 在波长为 0.7um-20um范围内效果最好。RT积分球有5个1英寸开口可容纳样品和9°反射光束的结构；在球的顶部有一个0.5英寸探测器口；镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率；探测器端口在底部；RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构，RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集大角度散射，挡板采用最小化的设计，允许探测器最大限度地看到球内壁表面。探测口位于球的顶部和底部，并使用挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。产品特性：1.独特的设计满足了客户多样化的需求2.业界高度认可的反射率测量结构设计应用领域：1.材料反射率和透射率2.不透明物体的反射率3.混浊样品的透过率4.颜色特性5.反射系统设计6.红外反射7.反射率与角度的关系适用于固体、浑浊液体、粉末和薄膜不透明样品反射率等太阳能等材料发射率透过率测量漫反射率测量漫透射率测量半球反射率测量散射光测量吸收测量测量光谱反射率光谱透过率透过色特性测定反射系统设计红外反射率反射率随角度变化不同规格尺寸的积分球? 1、最小到2英寸，最大到76英寸或更大? 2、各种内部反射涂层的积分球? 3、Spectraflect（经济实用型）? 4、Duraflect（防水、防潮、耐腐蚀型）? 5、Spectralon（高反射率、宽光谱范围，）? 6、Infragold（近红外/中红外波段适用）

便携式反射率测量仪410-Solar介绍 便携式反射率测量仪410-Solar内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场金确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。 应用领域n 航空工业 n 天文望远镜检查n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制仪器特点n 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射n NIST标准n 快速、便携n PDA触摸屏操作，内置SD卡n 计算半球反射比

SOC410 VIS-IR便携式发射率和太阳能反射率仪 　　SOC410VIS-IR可见-红外发射率/反射率仪是为了替换经典的Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量包括13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335 nm至2500 nm，红外测量头测量范围为1.5&mu m至远红外。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20° 和60° 两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。该光谱仪还配备了NIST可溯源校准标样。 产品特点：　　&diams 　在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率　　&diams 　半球热辐射的预测　　&diams 　测量太阳能吸收/反射　　&diams 　在335至2500 nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量　　&diams 　可测量光谱范围：从紫外到远红外　　&diams 　NIST可溯源标准　　&diams 　快速和便携式使用产地：美国SOC

透反射积分球Labsphere 的反射率/ 透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量， 有Spectraflect® 和Infragold® 涂层可供选择。Spectraflect® 在300-2400nm 范围具有高反射率；Infragold® 在波长为 0.7um-20um 范围内效果最好。RT 积分球有5 个1 英寸开口可容纳样品和9°反射光束的结构；在球的顶部有一个0.5 英寸探测器口；镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。RTC 积分球在RT 积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率；探测器端口在底部；RT 积分球可以测量镜面反射的9 ° /h 结构，RTC 结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集大角度散射，挡板采用最小化的设计，允许探测器最大限度地看到球内壁表面。探测口位于球的顶部和底部，并使用挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。产品特性：? 独特的设计满足了客户多样化的需求? 业界高度认可的反射率测量结构设计应用领域：? 材料反射率和透射率? 不透明物体的反射率? 混浊样品的透过率? 颜色特性? 反射系统设计? 红外反射? 反射率与角度的关系

我们的杜瓦透射/反射附件适用于在-196°C至350°C温度范围内的受控环境中检测固体样品。电池由耐化学腐蚀的316不锈钢制成，并配有K型热电偶用于温度测量。杜瓦瓶被安装在这个附件中，用于低温操作。对于高温操作，提供低压加热器与适当的控制器（如Harrick温度控制器）一起使用。此附件配置用于传输测量，带有指定分光计的底座。它也可以重新配置为近正常（12°）镜面反射与我们的可变角度反射附件。特征化学惰性316不锈钢内部。冷却液冷指，例如液氮或干冰和丙酮混合物，用于-196°C以下的操作。光谱测量用加热器，温度高达350°C。可容纳直径25毫米、长度35毫米的透射或外反射样品。使用一个25x2mm或25x4mm窗口和一个32x3mm窗口。带O形密封圈的车窗支座。K型热电偶。低压加热器。两个1/4“316不锈钢VCO配件。与所有的红外光谱仪和一些紫外可见光谱仪兼容。与Harrick的可变角度反射附件一起用于近正常镜面反射测量。包括:用于传输测量的指定光谱仪的安装硬件。窗片需要单独订购。