红外近场显微镜

美国Anasys公司的AFM+可以提供全面的原子力显微功能，具有强大的分析能力，使得AFM不仅仅是一个普通的成像工具，还可以进行材料纳米级尺度的成分分析，热性能和机械性能的分析。AFM+的主要特点：简洁的安装与操作 □ AFM+为最便利的使用而设计制造。探针预装在金属圆片上，确保探针位置的准确性和装针的便捷□ 仪器集几十年AFM设计大师的经验之大成，即使初次使用也能快速获取结果完整的AFM工作模式 □ 包含所有常规成像模式：接触、轻敲、相位、侧向力、力调制、力曲线□ 独有高分辨率低噪音的闭环成像□ 基于DI传承的多功能AFM，实现纳米热学，力学，电学和磁学测量：l 纳米热分析模块（nanoTA, SThM）l 洛仑兹接触共振模块（LCR）l 导电原子力显微镜镜（CAFM）l 开尔文电势显微镜（KPFM）l 磁力显微镜（MFM）l 静电力显微镜（EFM）独有的可升级功能□ 热学性能：独有的热探针技术，提供纳米级红外分析□ 机械性能：洛伦兹接触共振模式能够提供宽频纳米机械分析□ 化学性能：可升级具有纳米红外光谱技术，实现局部化学组分分析□ 近场成像：可升级具有散射式近场光学成像和光谱采集功能

2015年Anasys发布了最新一代产品nanoIR2-s，在广受欢迎的第二代纳米红外光谱系统的基础上增加了散射近场光学成像和光谱功能（s-SNOM）。实现了同一平台兼具AFM-IR和s-SNOM两种技术。仪器的空间分辨率达到10nm，广泛用于各种聚合物、有机无机复合材料、生物样本、半导体、等离子体、纳米天线等。纳米红外&散射近场光学成像和光谱系统(nanoIR2-s)AFM-IR &s-SNOM l AFM-IR 消除分析化学研究人员的担忧--与FTIR光谱完全吻合，没有吸收峰的任何偏移l s-SNOM使用金属镀层AFM探针代替传统光纤探针来增强和散射样品纳米区域内的光辐射，空间分辨率由AFM针尖的曲率半径决定l 专利技术实现智能的光路优化调整，无需担心光路偏差拖延你的实验进度l 最准确的定性微区化学表征，得到美国国家标准局NIST, 橡树岭国家实验室等美国权威机构的认可l 简单易用的操作，被三十多位企业用户和近百位学术界所选择l 基于DI传承的多功能AFM实现纳米热学，力学，电学和磁学测量：l 纳米热分析模块（nanoTA, SThM）l 洛仑兹接触共振模块（LCR）l 导电原子力显微镜镜（CAFM）l 开尔文电势显微镜（KPFM）l 磁力显微镜（MFM）l 静电力显微镜（EFM）10纳米空间分辨率化学成像和光谱石墨烯等离子体 高分辨率成像 石墨烯表面等离子体的近场相位和振幅成像；优于10nm的光学成像PTFE的nano FTIR光谱显示相干分子振动时域图（上图）,和相应的近场光谱（下左图）。pNTP分子层的近场光谱（图下右）。

仪器简介：2008 Pittcon 隆重推出的Thermo Scientific Nicolet iN10傅立叶变换显微红外光谱仪以全新的集成化设计理念，高效的光学系统和智能的操作方法, 为不同应用领域提供了更高性能方便快捷的显微红外检测分析技术。Thermo Scientific Nicolet iN10&trade 傅立叶变换显微红外光谱仪采用独特高效的一体化光学设计不仅简化显微红外分析操作，且性能更加卓越。 Nicolet iN10显微红外光谱仪OMNIC Picta&trade 能软件的&ldquo 向导&rdquo 技术，能帮助没有显微红外光谱仪使用经验的操作者迅速有效的采集样品微区的光谱数据，同时得到完整的解决方案。一架显微镜，一台光谱仪&mdash 完全一体化这是第一次，在红外显微镜内拥有一台完整的FT-IR光谱仪。Nicolet iN10 不仅节省了时间，金钱和空间，其一体化设计为高性能红外显微镜提供了显著提高的光学效率。 *智能化的机器使您无需学习新仪器操作 *分析样品，立即可见 *低温冷却系统可测量小至10微米的样品 *Micro-ATR 超越了衍射极限&mdash 小至3微米 OMNIC Picta 软件 即使您认为您不具备操作一台红外显微镜的技能，智能化的OMNIC Picta软件帮助您轻松装载材料和定位分析区域。OMNIC Picta 可在分析全过程中帮助您，无需您耗时猜测。或者选择&ldquo 向导&rdquo 设计帮助您一步步分析特定的材料，如颗粒，层状或者随机混合物样品。 OMNIC Picta是第一个能全过程逐步帮助您的红外显微镜任务式界面 解决最具挑战性的应用 Nicolet iN10 显微镜是日常分析的理想选择，适用领域：高分子，橡胶，包装，油漆，涂层，化合物，微电子，制药，水泥，化妆品，纺织品，颜料，纸化工，墨水，粘合剂等等。 纯化合物的辨别 OMNIC Picta 提供了每一步你所需的工具。使用一个自解压向导文件在数秒内建立预览图像；然后只需在化合物名称上单击，就可知道其分布的百分比以及分布地点。如果为未知材料，您可在其名称上立即进行搜索！ 颗粒和纤维分析 OMNIC Picta 为您提供便捷的用户界面，并为您快速轻松的获取数据设置好一切。颗粒向导能为您更加快速的完成任务！寻找样品特征，调至最佳光圈，收集光谱图，然后在您选中的图库中进行搜索。最终结果？特征数目，识别结果和每一材料的相对百分数。OMNIC Picta 提供的是答案，而不仅仅是好的数据。 层状样品和高分子膜 油漆碎片和食品包装的截面分析是红外显微镜的经典应用。OMNIC Picta 帮助您轻松驱动Nicolet iN10 快速获取传统的&ldquo 瀑布式&rdquo 图像。创新在何处？自解压向导文件可辨别每一层材料以及每层厚度。另一个向导文件帮助您知道内含物，凝胶和空洞处的成分，仅当需要时将样品分层或内含物的&ldquo 提取外科手术&rdquo 最小化。同时在2008 Pittcon 隆重推出的还有新型的Thermo Scientific Nicolet iN10MX 成像显微镜, 它包括成像的光学元件和阵列检测器，保证仪器简便快速地获得高保真的化学成像；Thermo Scientific Nicolet iS10 型傅立叶变换红外光谱仪,该产品由新版 OMNIC Specta软件支持。这种易用的系统简化了传统的光谱仪，使得分析和研究型化学实验室的化学家能够充分利用该技术的力量，从而得到更具自信心的实验结果；Thermo Scientific DXR SmartRaman型拉曼光谱仪，这是第一款专为满足质控(Quality Control，QC)实验室的需求和环境而设计的拉曼光谱仪，DXR SmartRaman型光谱仪将首次让质控实验室领略拉曼光谱技术的威力；Thermo Scientific DXR激光共聚焦拉曼光谱仪，该仪器专为帮助非专业人员对小到1微米的颗粒进行快速采样和分析而度身打造，这种新颖的显微镜集卓越的空间分辨率, 出众的性能和无与伦比的高重现性于一体,并且人人均能使用。技术参数：为目标建立的傅立叶红外（FT-IR）显微镜将红外显微镜带入了日常实验室 新的Nicolet iN 10 红外显微镜可满足如下客户的需求：当用户难以掌握此项技术或者觉得成本过高。 *新颖的用户界面为您管理显微镜 *向导软件一步步教您学会不熟悉的过程 *高性能显微镜，无需液氮 *材料科学主要特点：● 高效优化光程设计，配置DTGS检测器，无需液氮即可安全方便的检测样品，有效降低使用成本 ● 显微光谱仪独立使用，无需联机方式，有效提升操作的方便性和维护的简易性 ● 为各种显微技术应用设计的智能化&ldquo 向导&rdquo 功能，采用全新的显微测试理念使操作者简单易行的实施检测分析的全过程，正确得到样品光谱的化学物理分布信息 ● Nicolet iN10显微红外光谱仪的可升级设计，适应高分辨率、快速检测和图像分析等各种应用需求 ● 连接 Nicolet iZ10&trade FT-IR辅助光学台可全面满足红外光谱检测的各种需求Nicolet iN10显微红外光谱仪高度自动化集成技术提供自动照明、软件虚拟操纵杆控制的自动平台、自动聚焦定位、自动光阑、自动背景采集定位 等，以及先进的视频捕获技术和双屏显示设置，简化操作，使操作者能专注于检测分析任务。 可完美适用于： *分析服务 *质量控制 *法庭科学

AIRsight是岛津业内首创的红外拉曼“二位一体”显微镜（Infrared Raman Microscope，Micro-FTIR-Raman），用同一套设备和同一个软件实现显微红外和显微拉曼两种光谱技术从样品观察、定位标记、多模式测定到数据分析的全工作流。能够在不移动样品的情况下，对同一样品的同一位置快速获得互补的红外和拉曼光谱信息。 【核心特点】：1. 同一个显微镜，同一个软件，实现红外和拉曼两种光谱的测试和分析。2. 能够在不移动样品的情况下，对同一样品的微小区域分别获得互补的红外（有机）和拉曼（无机）信息，以实现对微量样品和样品微区的多维度光谱表征。3. 搭载岛津创造性设计的大视野相机和多物镜自动转台，可以与红外物镜和拉曼物镜共享位置信息，极大地提高了样品观察、定位和光谱测定的效率和可靠性。4. 显微镜与红外光谱仪主机联用，因此整套系统也同时拥有红外光谱仪主机的所有功能，可在微小样品之外，实现各种类型常规尺度样品（固、液、气）的红外光谱表征。【技术原理】：本设备将傅里叶变换红外光谱技术、显微红外光谱技术、激光共聚焦显微拉曼光谱技术和可视显微镜技术融合为一体，实现一台设备即可实现显微红外、显微拉曼和常规红外多个光谱技术于一身，特别是对微小样品（微米级别）和微量样品（纳克级别）能在不移动样品的情况下，实现红外光谱和拉曼光谱的测试表征；并结合可见的显微镜形貌观察和样品微区的光谱特征，实现样品多光谱信息和分子结构/成分/特性的可视化表达。在相对成熟的红外光谱仪和红外显微镜基础上，在不增加设备外在物理尺寸的情况下，集成了基于多波长激光的显微拉曼功能，并通过同一个软件同一种界面实现显微红外、显微拉曼模式的统一控制、统一显示和数据处理、仪器性能验证等功能。【仪器先进性】：同一个显微镜，同一个软件，实现红外和拉曼两种光谱的测试和分析。能够在不移动样品的情况下，对同一样品的微小区域分别获得互补的有机和无机信息，以实现多维度的光谱表征。同时，本显微镜搭载了岛津创造性设计的大视野相机，可以和红外显微物镜和拉曼显微物镜共享位置信息，极大地提高了样品观察、定位和光谱分析的效率和可靠性。此外，保留了红外光谱仪主机的所有功能，可以在微小样品之外，实现各种类型常规尺度样品（固、液、气）的多种形式红外光谱表征和原位分析。【用途必要性】：红外光谱和拉曼光谱都是用来表征化合物的分子结构、化学键、官能团、晶型等信息的有力工具，且能相互提供有意义的互补性信息。红外拉曼显微镜将常规红外和拉曼的测试对象从宏观尺度大样品扩展到微观尺度小样品或样品的局部微区。通过将傅立叶变换红外光谱技术、多波长激光拉曼光谱技术与全自动多物镜转台显微镜结合，实现对微量、微区样品的红外光谱和拉曼光谱的多维度化学信息测量。不仅仅是能够看到微小样品的形貌和自动读取计算样品的物理大小尺寸，而且还可以直接对微小样品进行多光谱化学维度的定性定量分析和化学成像。红外显微镜和拉曼显微镜已经成为现代分析实验室使用较广泛的高端分析仪器之一，将红外显微镜和拉曼显微镜融合在同一套设备和同一个软件中则进一步提高了操作便利性和实验室空间利用效率。

AIRsight是岛津业内首创的红外拉曼“二位一体”显微镜（Infrared Raman Microscope，Micro-FTIR-Raman），用同一套设备和同一个软件实现显微红外和显微拉曼两种光谱技术从样品观察、定位标记、多模式测定到数据分析的全工作流。能够在不移动样品的情况下，对同一样品的同一位置快速获得互补的红外和拉曼光谱信息。 【核心特点】：1. 同一个显微镜，同一个软件，实现红外和拉曼两种光谱的测试和分析。2. 能够在不移动样品的情况下，对同一样品的微小区域分别获得互补的红外（有机）和拉曼（无机）信息，以实现对微量样品和样品微区的多维度光谱表征。3. 搭载岛津创造性设计的大视野相机和多物镜自动转台，可以与红外物镜和拉曼物镜共享位置信息，极大地提高了样品观察、定位和光谱测定的效率和可靠性。4. 显微镜与红外光谱仪主机联用，因此整套系统也同时拥有红外光谱仪主机的所有功能，可在微小样品之外，实现各种类型常规尺度样品（固、液、气）的红外光谱表征。【技术原理】：本设备将傅里叶变换红外光谱技术、显微红外光谱技术、激光共聚焦显微拉曼光谱技术和可视显微镜技术融合为一体，实现一台设备即可实现显微红外、显微拉曼和常规红外多个光谱技术于一身，特别是对微小样品（微米级别）和微量样品（纳克级别）能在不移动样品的情况下，实现红外光谱和拉曼光谱的测试表征；并结合可见的显微镜形貌观察和样品微区的光谱特征，实现样品多光谱信息和分子结构/成分/特性的可视化表达。在相对成熟的红外光谱仪和红外显微镜基础上，在不增加设备外在物理尺寸的情况下，集成了基于多波长激光的显微拉曼功能，并通过同一个软件同一种界面实现显微红外、显微拉曼模式的统一控制、统一显示和数据处理、仪器性能验证等功能。【仪器先进性】：同一个显微镜，同一个软件，实现红外和拉曼两种光谱的测试和分析。能够在不移动样品的情况下，对同一样品的微小区域分别获得互补的有机和无机信息，以实现多维度的光谱表征。同时，本显微镜搭载了岛津创造性设计的大视野相机，可以和红外显微物镜和拉曼显微物镜共享位置信息，极大地提高了样品观察、定位和光谱分析的效率和可靠性。此外，保留了红外光谱仪主机的所有功能，可以在微小样品之外，实现各种类型常规尺度样品（固、液、气）的多种形式红外光谱表征和原位分析。【用途必要性】：红外光谱和拉曼光谱都是用来表征化合物的分子结构、化学键、官能团、晶型等信息的有力工具，且能相互提供有意义的互补性信息。红外拉曼显微镜将常规红外和拉曼的测试对象从宏观尺度大样品扩展到微观尺度小样品或样品的局部微区。通过将傅立叶变换红外光谱技术、多波长激光拉曼光谱技术与全自动多物镜转台显微镜结合，实现对微量、微区样品的红外光谱和拉曼光谱的多维度化学信息测量。不仅仅是能够看到微小样品的形貌和自动读取计算样品的物理大小尺寸，而且还可以直接对微小样品进行多光谱化学维度的定性定量分析和化学成像。红外显微镜和拉曼显微镜已经成为现代分析实验室使用较广泛的高端分析仪器之一，将红外显微镜和拉曼显微镜融合在同一套设备和同一个软件中则进一步提高了操作便利性和实验室空间利用效率。

仪器简介：以Zeiss显微镜为基础，近场激发光路为正置共焦显微镜加特殊设计的近场物镜头，采用悬臂梁近场光学针尖，近场光激发强度高于光纤针尖2-3个数量级，很大程度改善了近场光学显微镜信号过弱的问题，坚固的近场针尖加柔韧的悬臂梁，经典的原子力显微镜反馈模式，带来逼近和测量时的优异的安全性和稳定性； AlphaSNOM集中而且不相互干扰地提供了共焦光学、近场光学、原子力三种显微测试模式，各取三种显微模式之所长，相互比较，相互验证.

太赫兹近场显微镜TeraCube利用高性能太赫兹探针，结合时域泵浦探测系统成为THz近场系统可以进行高分辨率的成像研究。TeraCube Scientific和新的TeraCube Scientific M2是全自动太赫兹近场扫描系统，可以在光学实验室中运行。这两种系统都可以在距离样品表面受控的距离内对太赫兹场分布进行时域测量。TeraSpike近场微探针通过对平面样品传输宽带太赫兹脉冲进行成像。THz近场显微镜主要特点：▅ 通过同步运动控制和实时位置检测实现连续运动扫描的高速数据采集▅ 结构或弯曲样品在恒定微探针/表面距离下自适应太赫兹表面扫描的光学样品形貌检测▅ 用于偏振相关测量的线偏振和圆偏振太赫兹发射器▅ 高性能太赫兹发射器/探测器组件，加上高动态范围锁定检测，可获得卓越的信号质量▅ 用于监测微探针尖duan和样品位置的集成ccd摄像头模块▅ 集成CCD摄像头模块，用于监测微探针尖duan和样品位置系统控制和测量自动化软件，带有易于操作的图形用户界面，安装于配套PC▅ 软件实现对准监控功能和系统检测▅ 软件辅助微探针针尖到样品表面控制▅ 用于快速光学对准的时域信号预览模式▅ 数据导出为纯文本或Matlab兼容格式▅ 激光防护和防尘系统外壳▅ 开放式可扩展实验室型系统平台THz近场显微镜技术参数：THz近场显微镜安装要求：振动阻尼光学台，1.5米x 1米x 1米的系统放置空间；3B级或以上激光实验室规范THz近场显微镜应用：▅ 太赫兹超材料研究及传感应用 ▅ 半导体晶圆检验 ▅ 薄层电阻成像▅ 石墨烯分析 ▅ 太赫兹器件特性 ▅ 微观结构分析▅ 无损检测另外，我们可以根据客户要求，结合AFM原子力显微镜技术，配置相应的散射式THz近场成像系统。关于昊量光电：昊量光电 您的光电超市！上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外创新性的光电技术与可靠产品！与来自美国、欧洲、日本等众多知名光电产品制造商建立了紧密的合作关系。代理品牌均处于相关领域的发展前沿，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及前沿的细分市场比如为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等。我们的技术支持团队可以为国内前沿科研与工业领域提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务，助力中国智造与中国创造! 为客户提供适合的产品和提供完善的服务是我们始终秉承的理念！您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询，我们将竭诚为您服务。

Molecular Vista 散射式扫描近场光学显微镜 ——10nm以下空间分辨可见-红外成像与光谱采集随着近些年对于纳米光子学、表面等离极化激元、二维材料以及范德华异质结构等领域的深入研究，扫描近场光学显微镜 (Scanning Near-field Optical Microscope, SNOM) 已成为研究这些领域的不可或缺的表征手段。虽然扫描近场光学显微镜在散射式模式(s-SNOM)下的空间分辨率有了很大的提升，但是在实际使用上仍然得十分繁杂。在这一背景下，美国Molecular Vista应运而生，推出了全新一代散射式扫描近场光学显微镜Vista-SNOM！有别于传统的扫描近场光学显微镜，Vista-SNOM基于专利的光诱导力显微镜（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技术，通过检测探针与样品之间的偶极交互直接获得样品表面的场强分布，无需远场光学探测器。这不仅杜绝了远场信号的干扰，也无需像SNOM那样配置多个不同波段光学探测器。光诱导力显微镜的检测端可无缝适应紫外～射频，用户仅需考虑如何将激发光激发至样品。Vista-SNOM在光诱导力显微镜模式下实测的场强结果与模拟结果高度吻合，同时也具备了s-SNOM模式。这使得科研人员可以将PiFM场强结果与s-SNOM场强结果进行对比分析。s-SNOM 散射式扫描近场光学显微镜案例下图为金铝二聚体分别在480nm和633nm不同偏振方向激发后的场强分布，图a,b的实测场强与图c,d的理论模拟是否吻合，金铝二聚体间隔仅为5nm!摘自“Wavelength-dependent Optical Force Imaging of Bimetallic Al-Au Heterodimers, Nano Lett. 2018”上面提到拉曼信号的增强主要源于局域表面等离子体共振(LSPR)的电磁场增强，下图为基于银颗粒阵列的表面增强拉曼衬底(SERS)的场强分布，图f的FWHM结果显示光诱导力显微镜实现了3.1nm的空间分辨。摘自“Fabrication and near-field visualization of a waferscale dense plasmonic nanostructured array, RSC Adv. 2018”

**********************近场扫描光学显微镜的基本构造******************** 进行NSOM实验，必须将点光源靠到样品表面纳米距离，然后点光源扫描样品表面，再收集探测经过样品表面的光学信号。我们使用经金属涂层处理的带孔洞椎形光纤作为NSOM探针。光经耦合进入探针，从亚光波长孔径的探针尖端发出，NSOM的分辨率就是由孔径的大小决定(最优可以达到50纳米)。点光源和样品表面的距离通常通过正常的力反馈机制(与AFM相同)控制，因此可以进行接触、敲击和非接触模式的NSOM实验。针对不同的材料和实验，通常有四种NSOM操作模式： * 透射模式成像&mdash &mdash 样品经过探针照明，光通过样品并与样品相互作用后被收集探测；* 反射模式成像&mdash &mdash 样品经过探针照明，光从样品表面反射并被收集探测；* 收集模式成像&mdash &mdash 样品经远场光源照明(从上或下面均可)，探针将光信号从样品表面收集；* 照明收集模式成像&mdash &mdash 用同一根探针同时进行照明和收集探测反射光； 在近场光学领域，部分扫描模式只有通过Nanonics提供的独特玻璃光纤探针才能完成，因为我们独特的光纤探针具有很好的波导性能。 收集的光可通过多种探测器探测，如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探测器、CCD或通过光谱仪探测，通过探测器得到的信号经过数据处理得到样品材料的NSOM图像。技术参数：原子力扫描表征-接触模式（可选）-探针或者样品扫描都具有所有原子力显微镜的操作模式。近场光学成像和激发表征 -透射，反射，收集，激发模式界面差别对比表征 -反射和透射模式折射系数分析表征 -反射和透射模式热导和阻值扩散分析表征-接触AC模式-无反馈激光通过外部媒介导入半导体，使用音叉反馈在线远场共聚焦拉曼和荧光光谱成像-反射和透射模式-针尖增强拉曼散射和在超薄层面上做选择性拉曼散射，例如应变硅纳米刻蚀-纳米&ldquo 笔&rdquo 探针输送多种化学物质和气体-近场光学刻蚀和常规方式的纳米刻蚀技术比如电子氧化等，并且可-以同时使用另外一根探针做在线同步分析纳米压痕-使用兆级帕斯卡压强，通过另外一个附加探针的在线同步分析将力学探针精确定位和控制。++++++SPM 扫描头参数样品扫描器-压电扫描平台 （3D 扫描台&trade ）-高度7毫米探针扫描器-四个独立控制的压电扫描平台（3D 扫描台&trade ）模块-高度7毫米扫描范围 -每根单探针扫描范围30 微米 (XYZ方向)-仅样品扫描器扫描范围100微米(XYZ方向)-样品扫描器和单探针扫描器扫描范围130微米 (XYZ方向)-样品扫描器和双探针扫描器扫描范围160微米(XY方向)扫描分辨率- 0.05 纳米 (Z方向)- 0.15纳米(XY方向)- 0.02纳米(XY方向) 低电压模式粗定位-样品粗调定位： XY 马达驱动范围5mm-分辨率0.25微米-针尖粗调定位：-XY方向马达驱动-驱动范围5mm-分辨率0.25微米-Z方向马达驱动-驱动范围10mm-分辨率0.065微米反馈机制-音叉反馈（标准）-激光反射反馈（可选）常规样品尺寸-标准尺寸可达到16毫米-使用上置光学显微镜操可达到34毫米-不使用样品扫描方式可以达到55毫米-有些客户样品尺寸达到200mm也能扫描-非常规尺寸样品：例如横截面高低起伏较大的样品等一些特殊形状样品探针-独特的玻璃探针，针尖可以提供不同的形貌和参杂金属颗粒或者涂层各种形式的常规硅悬臂探针也可以使用 ++++++成像分辨率远场成像分辨率 -到达衍射限制光学成像分辨率 -非共聚焦下光学分辨率500纳米左右共聚焦成像分辨率-200纳米近场光学成像分辨率-安装时保证100纳米分辨率；50纳米分辨率也可以提供形貌成像分辨率-Z 方向噪音有效值0.05 纳米（RMS）-XY 横向分辨率：根据样品和针尖直径情况热学成像分辨率-至少100纳米阻值成像分辨率-至少25纳米++++++热学&阻值成像温度参数-300度或者更高，要考虑样品情况热学参数-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中-热敏感度0.01 º C-测量阻值改变速率为0.38 &Omega /º C阻值特点-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中并且可以做出不同的形状结构和涂层-超高电势分辨率-接触电阻极微小-电学稳定& 抗氧化 ++++++在线光学和电子/离子光学扫描同步完成可以完成的表征类别-远场光学，共聚焦光学，近场，微区拉曼，扫描电子显微镜（SEM）或者聚焦离子束（FIB）整合优势 -样品扫描台上下光路开阔，可以做光学或电子/离子光学特征同步扫描联用-将多形式的光学显微镜整合在一起，包括上置光学显微镜和下置光学显微镜同时整合在探针扫描平台上-整合了多种标准微区拉曼180度背反射几何形貌配置。下置光学显微镜和Nanonics独特的上下置光学显微镜可以做不同的透明和非透明样品-具有多种常规的远场光学操作模式包括相位成像和界面差别对比-可以使用上置，下置和双置光学显微镜做任何模式近场光学扫描，无需更换扫描头保证了实验结果稳定性和可重复性。探测器类别-PMT， APD 或者InGaAs 红外探测器激光光源-可提供深紫外到近红外激光电视频系统 -在线CCD 视频成像主要特点： 独特的多探针系统Nanonics原子力显微镜最多可以同时进行四探针测试，光纤探针各自独立控制，可以同时分别、独立进行如滴液、加压，电学，热学方面的测试等不同的工作。专利技术的独特扁平3D 扫描台具有专利技术的扫描台上下光路开阔，可以将上，下置光学共聚焦显微镜整合到AFM扫描平台上，在无需更换任何探头的情况下同步完成的一系列的探针扫描，光学测量，力学测量，热学电学测量等测试手段，节约了用户大量的时间和精力并保证了样品测试的连贯性。通常很多厂家仪器做不同测试的时候探头都需要更换，不能同步联用并且费时费力。Nanonics这项专利是优势技术，并且探针扫描台和样品扫描台可以独自运作，即可以探针不动，样品移动；或者样品不动，探针移动。扫描的步进位移通过压电陶瓷驱动精度极高，Nanonics原子力显微镜分别提供一个85um样品扫描台和30um探针扫描台，XY方向的扫描范围是110*110um。尤其是Z方向的大扫描范围是所有AFM厂家无法提供的。另外一个3D扫描台提供探针扫描和样品扫描两种模式，在所有AFM 电镜中是独特的设计。独特的音叉反馈机制常规的AFM反馈通过激光反射反馈，具有噪音大，调试困难，受干涉情况；尤其在液体中或者做光学测试的时候，例如近场光学，AFM-Raman测试中，容易被干涉或者干涉有效信号。音叉反馈采用常规力学反馈避免了以上所有弊病，安装简单，结构稳定。专利技术的悬臂光纤弯针 。Nanonics 原子力显微镜的玻璃探针可提供畅通的光学通道，光线能以与传统直线式近场光学元件相同的效率和偏振性传输到探针尖端。玻璃探针可以做成中空型，用于加载光纤或实现Nano-Pen功能。多种探针通用平台Nanonics 原子力显微镜系统不仅可以使用玻璃光纤探针，也可以使用传统的商业化AFM/NSOM硅探针，提供了一个通用多探针使用平台。客户也可以要求使用常规硅悬臂探针。另外Nanonics还可以根据客户不同的需要定制探针。无与伦比的Z 方向探测深度MV4000在Z方向最大可探测深度为140um，非常适合深沟状样品。独特的悬臂设计不仅能探测深沟底部的形貌，而且可以对侧面进行检测。常规的硅悬臂探针无法做深沟探测。独特的光学友好性Nanonics原子力显微镜的玻璃光纤探针可提供畅通的光学通道，可同时和正置与倒置显微镜配合使用，实现透射式、反射、照明模式、收集模式（Nanonics独有的）等多个功能。光纤探针具有良好的光学性能和光导性能，这是硅悬臂探针无法做到的。拉曼连用平台MV4000的玻璃光纤探针具有光学友好特性，可与拉曼光谱仪整合，例如常用的Reinshaw 和JY Raman系统。可实现在线AFM形貌扫描，拉曼Mapping，自动共聚焦，提高拉曼的精度。配合NSOM可以完成微区Raman，并且还可以做荧光和微区荧光扫描。由于独特的扫描平台，AFM-Raman 联用不仅可以扫描透明样品还可以扫描不透明的块状和薄膜样品，这也是在AFM-Raman 联用案例中独特的设计。独有的TERS玻璃探针Nanonics在玻璃光纤探针的尖端采用专利的独立金球技术，与其他涂层探针相比，不会因在长时间使用后，受到激光影响而脱落，更为稳定，效率更高。配合独特的扫描台设计，可以在光源位置找到最佳激光偏振位置获得最好的TERS信号源。这也是其独特功能。

仪器简介：我们的创新NANONICS IMAGING LTD.一直是扫描探针显微镜（SPM）领域中将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)技术完美结合的领头羊之一。公司成立于1997年，在过去的十年里我们将新的概念应用到SPM系统中从而开拓了SPM市场领域一个新的视角。 Nanonics使用悬臂近场光学探针为业内提供了近场光学成像；同时也引入了双探针技术、样品扫描AFM系统；提供近场光学（NSOM）/原子力显微镜（AFM）低温系统，Raman-AFM系统，多探针AFM系统和扫描电镜（SEM）/AFM系统。NANONICS是业界成立最久并且对此类系列产品经验最丰富的公司之一，其产品荣获过许多国际大奖。在强大的NSOM/AFM的整合操作系统推动下，今天NANONICS继续以强大的优势和全面的系统领导着市场。NANONICS凭借实力和品质，其产品涉足的领域从科研到工业，从生物学到半导体，从化学制品到无线电通讯，应用范围极其广泛。 我们的理念 提供SPM，近场光学和显微镜整合方案 Nanonics 致力于制造世界级领先的SPM仪器，我们将SPM技术和其它显微镜表征技术整合在一起。在纳米科技表征技术领域中，为用户提供一个开放并极具潜力的SPM表征技术平台。 我们的技术作为一家商业公司，我们有着自己独特的技术优势。我们能提供大量种类齐全的纳米探针。包括专利的悬臂近场光学（NSOM）探针到热学，电学探针。这些外露光学探针的运用结合具有专利保护的3D平面扫描技术为我们的系统提供了一个广阔开放的光学平台 这是我们能够将AFM技术和其它显微镜表征技术完美结合的重要原因。 我们的团队 我们拥有一支世界级的专家团队为我们提供创新技术和高性能的产品。在过去的十年里我们拥有40多名员工并且组建了SPM专家和科学家团队。 团队直接由近场光学奠基人之一的Aaron Lewis 教授带领十五名科学家为全球客户提供以SPM为平台的产品和技术支持。 我的技术服务我们致力于提供客户高性能的业内领先级产品和高附加值的技术支持。从系统安装开始，我们就区别于其它竞争对手，为你提供高素质的技术专家安装设备，提供SPM技术领域的专家指导。通过一对一的与客户沟通帮助客户使用仪器。Nanonics在业内已经有一大批客户并且客户通过使用我们的仪器发表了不少好的文章。这些客户和客户的成绩也同样见证了我们为客户提供了的完整的SPM和其他表征整合方案和技术支持。**********************近场扫描光学显微镜的基本构造******************** 进行NSOM实验，必须将点光源靠到样品表面纳米距离，然后点光源扫描样品表面，再收集探测经过样品表面的光学信号。我们使用经金属涂层处理的带孔洞椎形光纤作为NSOM探针。光经耦合进入探针，从亚光波长孔径的探针尖端发出，NSOM的分辨率就是由孔径的大小决定(最优可以达到50纳米)。点光源和样品表面的距离通常通过正常的力反馈机制(与AFM相同)控制，因此可以进行接触、敲击和非接触模式的NSOM实验。针对不同的材料和实验，通常有四种NSOM操作模式： * 透射模式成像 样品经过探针照明，光通过样品并与样品相互作用后被收集探测；* 反射模式成像 样品经过探针照明，光从样品表面反射并被收集探测；* 收集模式成像 样品经远场光源照明(从上或下面均可)，探针将光信号从样品表面收集；* 照明收集模式成像 用同一根探针同时进行照明和收集探测反射光； 在近场光学领域，部分扫描模式只有通过Nanonics提供的独特玻璃光纤探针才能完成，因为我们独特的光纤探针具有很好的波导性能。 收集的光可通过多种探测器探测，如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探测器、CCD或通过光谱仪探测，通过探测器得到的信号经过数据处理得到样品材料的NSOM图像。技术参数：原子力扫描表征-接触模式（可选）-探针或者样品扫描都具有所有原子力显微镜的操作模式。近场光学成像和激发表征 -透射，反射，收集，激发模式界面差别对比表征 -反射和透射模式折射系数分析表征 -反射和透射模式热导和阻值扩散分析表征-接触AC模式-无反馈激光通过外部媒介导入半导体，使用音叉反馈在线远场共聚焦拉曼和荧光光谱成像-反射和透射模式-针尖增强拉曼散射和在超薄层面上做选择性拉曼散射，例如应变硅纳米刻蚀-纳米笔 探针输送多种化学物质和气体-近场光学刻蚀和常规方式的纳米刻蚀技术比如电子氧化等，并且可-以同时使用另外一根探针做在线同步分析纳米压痕-使用兆级帕斯卡压强，通过另外一个附加探针的在线同步分析将力学探针精确定位和控制。++++++SPM 扫描头参数样品扫描器-压电扫描平台 （3D 扫描台&trade ）-高度7毫米探针扫描器-四个独立控制的压电扫描平台（3D 扫描台&trade ）模块-高度7毫米扫描范围 -每根单探针扫描范围30 微米 (XYZ方向)-仅样品扫描器扫描范围100微米(XYZ方向)-样品扫描器和单探针扫描器扫描范围130微米 (XYZ方向)-样品扫描器和双探针扫描器扫描范围160微米(XY方向)扫描分辨率- 0.05 纳米 (Z方向)- 0.15纳米(XY方向)- 0.02纳米(XY方向) 低电压模式粗定位-样品粗调定位： XY 马达驱动范围5mm-分辨率0.25微米-针尖粗调定位：-XY方向马达驱动-驱动范围5mm-分辨率0.25微米-Z方向马达驱动-驱动范围10mm-分辨率0.065微米反馈机制-音叉反馈（标准）-激光反射反馈（可选）常规样品尺寸-标准尺寸可达到16毫米-使用上置光学显微镜操可达到34毫米-不使用样品扫描方式可以达到55毫米-有些客户样品尺寸达到200mm也能扫描-非常规尺寸样品：例如横截面高低起伏较大的样品等一些特殊形状样品探针-独特的玻璃探针，针尖可以提供不同的形貌和参杂金属颗粒或者涂层各种形式的常规硅悬臂探针也可以使用 ++++++成像分辨率远场成像分辨率 -到达衍射限制光学成像分辨率 -非共聚焦下光学分辨率500纳米左右共聚焦成像分辨率-200纳米近场光学成像分辨率-安装时保证100纳米分辨率；50纳米分辨率也可以提供形貌成像分辨率-Z 方向噪音有效值0.05 纳米（RMS）-XY 横向分辨率：根据样品和针尖直径情况热学成像分辨率-至少100纳米阻值成像分辨率-至少25纳米++++++热学&阻值成像温度参数-300度或者更高，要考虑样品情况热学参数-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中-热敏感度0.01 C-测量阻值改变速率为0.38 C阻值特点-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中并且可以做出不同的形状结构和涂层-超高电势分辨率-接触电阻极微小-电学稳定& 抗氧化 ++++++在线光学和电子/离子光学扫描同步完成可以完成的表征类别-远场光学，共聚焦光学，近场，微区拉曼，扫描电子显微镜（SEM）或者聚焦离子束（FIB）整合优势 -样品扫描台上下光路开阔，可以做光学或电子/离子光学特征同步扫描联用-将所有形式的光学显微镜整合在一起，包括上置光学显微镜和下置光学显微镜同时整合在探针扫描平台上-整合了所有标准微区拉曼180度背反射几何形貌配置。下置光学显微镜和Nanonics独特的上下置光学显微镜可以做不同的透明和非透明样品-具有所有常规的远场光学操作模式包括相位成像和界面差别对比-可以使用上置，下置和双置光学显微镜做任何模式近场光学扫描，无需更换扫描头保证了实验结果稳定性和可重复性。探测器类别-PMT， APD 或者InGaAs 红外探测器激光光源-可提供深紫外到近红外激光电视频系统 -在线CCD 视频成像主要特点： 独有的多探针系统Nanonics原子力显微镜最多可以同时进行四探针测试，光纤探针各自独立控制，可以同时分别、独立进行如滴液、加压，电学，热学方面的测试等不同的工作。专利技术的独特扁平3D 扫描台具有专利技术的扫描台上下光路开阔，可以将上，下置光学共聚焦显微镜整合到AFM扫描平台上，在无需更换任何探头的情况下同步完成的一系列的探针扫描，光学测量，力学测量，热学电学测量等测试手段，节约了用户大量的时间和精力并保证了样品测试的连贯性。通常很多厂家仪器做不同测试的时候探头都需要更换，不能同步联用并且费时费力。Nanonics这项专利是目前市场上的优势技术，并且探针扫描台和样品扫描台可以独自运作，即可以探针不动，样品移动；或者样品不动，探针移动，其它厂家无法提供这种独特的扫描方式。扫描的步进位移通过压电陶瓷驱动精度极高，Nanonics原子力显微镜分别提供一个85um样品扫描台和30um探针扫描台，XY方向的扫描范围是110*110um。尤其是Z方向的大扫描范围是所有AFM厂家无法提供的。另外一个3D扫描台提供探针扫描和样品扫描两种模式，在所有AFM 电镜中是独一无二的设计。独特的音叉反馈机制常规的AFM反馈通过激光反射反馈，具有噪音大，调试困难，受干涉情况；尤其在液体中或者做光学测试的时候，例如近场光学，AFM-Raman测试中，容易被干涉或者干涉有效信号。音叉反馈采用常规力学反馈避免了以上所有弊病，安装简单，结构稳定。专利技术的悬臂光纤弯针 。Nanonics 原子力显微镜的玻璃探针可提供畅通的光学通道，光线能以与传统直线式近场光学元件相同的效率和偏振性传输到探针尖端。玻璃探针可以做成中空型，用于加载光纤或实现Nano-Pen功能。多种探针通用平台Nanonics 原子力显微镜系统不仅可以使用玻璃光纤探针，也可以使用传统的商业化AFM/NSOM硅探针，提供了一个通用多探针使用平台。客户也可以要求使用常规硅悬臂探针。另外Nanonics还可以根据客户不同的需要定制探针。无与伦比的Z 方向探测深度MV4000在Z方向最大可探测深度为140um，非常适合深沟状样品。独特的悬臂设计不仅能探测深沟底部的形貌，而且可以对侧面进行检测。常规的硅悬臂探针无法做深沟探测。独特的光学友好性Nanonics原子力显微镜的玻璃光纤探针可提供畅通的光学通道，可同时和正置与倒置显微镜配合使用，实现透射式、反射、照明模式、收集模式（Nanonics独有的）等多个功能。光纤探针具有良好的光学性能和光导性能，这是硅悬臂探针无法做到的。拉曼连用平台MV4000的玻璃光纤探针具有光学友好特性，可与任何拉曼光谱仪整合，例如常用的Reinshaw 和JY Raman系统。可实现在线AFM形貌扫描，拉曼Mapping，自动共聚焦，提高拉曼的精度。配合NSOM可以完成微区Raman，并且还可以做荧光和微区荧光扫描。由于独特的扫描平台，AFM-Raman 联用不仅可以扫描透明样品还可以扫描不透明的块状和薄膜样品，这也是在AFM-Raman 联用案例中独特的设计。独有的TERS玻璃探针Nanonics在玻璃光纤探针的尖端采用专利的独立金球技术，与其他涂层探针相比，不会因在长时间使用后，受到激光影响而脱落，更为稳定，效率更高。配合独特的扫描台设计，可以在光源位置找到最佳激光偏振位置获得最好的TERS信号源。这也是其它厂家不具备的特点。

alpha300 RS – 原位关联的拉曼和扫描近场光学图像 对于拥有挑战性实验要求的用户来说，alpha300 RS将共聚焦拉曼图像及突破光学衍射极限的扫描近场光学显微镜结合在一起。Alpha 300RS在一台设备上继承了所有的Alpha 300R显微拉曼功能，Alpha 300S扫描近场光学显微镜功能和许多AFM操作模式。 Alpha 300S扫描近场光学显微镜主要特点l 所有alpha300 R (拉曼) 和alpha300 S (近场) 的性能集成到一个显微镜系统内l 优异的原位化学组分分析（拉曼）和超高分辨率表面成像（近场）的结合l 只需要转动物镜转盘即可在两种技术间轻松切换l 两种测量间无需移动样品 Alpha 300S扫描近场光学显微镜应用实例 剥离石墨烯的表面拓扑结构VS拉曼图像左图：表面拓扑结构及沿蓝线的轮廓曲线右图：石墨烯G峰沿红线的强度变化曲线 Alpha 300S扫描近场光学显微镜性能通用拉曼操作模式l 拉曼光谱成像：连续扫描的拉曼高光谱全谱成像，每个样品点都能获得完整的拉曼光谱l 平面2D和包含深度Z方向的3D成像模式l 快速和慢速时间序列l 单点及Z方向深度扫描l 光纤耦合的UHTS 系列光谱仪，专为弱光应用的拉曼光谱设计l 共聚焦荧光显微镜功能l 明场显微镜功能 近场显微镜操作模式l 扫描近场光学显微镜模式：底部激发顶部收集（远场激发近场收集）模式，顶部激发底部收集（近场激发远场收集）模式，探针收集（近场激发近场收集）模式l 共聚焦(CM)模式：透射，反射，荧光（可选）l 近场-原子力联用：Alpha 300A的所有模式均可选l 固定底部透射照明l 全内反射照明模式（可选） 原子力显微镜操作模式l 接触模式l 横向力模式l 其他可选 各类拉曼升级选项（如true surface等）l 多种激光可选择l 多种光谱仪可选择l 自动共聚焦拉曼成像l 自动多区域多点测量l 可升级超快拉曼图像模式(需配置EMCCD和Piezo样品台，可获得每秒1300张光谱的速度)l 可升级落射荧光照明l 自动聚焦功能l 显微镜观察法可选，如暗场，像差，偏光，微分干涉等 超高通光量UHTS光谱仪l 各类透射式波长优化谱仪可选 (UV, VIS or NIR)，均为弱光拉曼光谱设计l 光纤耦合，70%超高光通量l 优异的成像质量，光谱峰形对称无像差 控制电脑WITec控制和数据采集，处理软件

alpha300 RS – 原位关联的拉曼和扫描近场光学图像 对于拥有挑战性实验要求的用户来说，alpha300 RS将共聚焦拉曼图像及突破光学衍射极限的扫描近场光学显微镜结合在一起。Alpha 300RS在一台设备上继承了所有的Alpha 300R显微拉曼功能，Alpha 300S扫描近场光学显微镜功能和许多AFM操作模式。 主要特点l 所有alpha300 R (拉曼) 和alpha300 S (近场) 的性能集成到一个显微镜系统内l 优异的原位化学组分分析（拉曼）和超高分辨率表面成像（近场）的结合l 只需要转动物镜转盘即可在两种技术间轻松切换l 两种测量间无需移动样品 应用实例 剥离石墨烯的表面拓扑结构VS拉曼图像左图：表面拓扑结构及沿蓝线的轮廓曲线右图：石墨烯G峰沿红线的强度变化曲线 性能通用拉曼操作模式l 拉曼光谱成像：连续扫描的拉曼高光谱全谱成像，每个样品点都能获得完整的拉曼光谱l 平面2D和包含深度Z方向的3D成像模式l 快速和慢速时间序列l 单点及Z方向深度扫描l 光纤耦合的UHTS 系列光谱仪，专为弱光应用的拉曼光谱设计l 共聚焦荧光显微镜功能l 明场显微镜功能 近场显微镜操作模式l 扫描近场光学显微镜模式：底部激发顶部收集（远场激发近场收集）模式，顶部激发底部收集（近场激发远场收集）模式，探针收集（近场激发近场收集）模式l 共聚焦(CM)模式：透射，反射，荧光（可选）l 近场-原子力联用：Alpha 300A的所有模式均可选l 固定底部透射照明l 全内反射照明模式（可选） 原子力显微镜操作模式l 接触模式l 横向力模式l 其他可选 各类拉曼升级选项（如true surface等）l 多种激光可选择l 多种光谱仪可选择l 自动共聚焦拉曼成像l 自动多区域多点测量l 可升级超快拉曼图像模式(需配置EMCCD和Piezo样品台，可获得每秒1300张光谱的速度)l 可升级落射荧光照明l 自动聚焦功能l 显微镜观察法可选，如暗场，像差，偏光，微分干涉等 超高通光量UHTS光谱仪l 各类透射式波长优化谱仪可选 (UV, VIS or NIR)，均为弱光拉曼光谱设计l 光纤耦合，70%超高光通量l 优异的成像质量，光谱峰形对称无像差 控制电脑WITec控制和数据采集，处理软件

超高分辨散射式近场光学显微镜-neaSNOMneaSNOM是德国neaspec公司推出的第三代散射式近场光学显微镜（简称s-SNOM），其采用了专利化的散射式核心设计技术，极大的提高了光学分辨率，并且不依赖于入射激光的波长，能够在可见、红外和太赫兹光谱范围内，提供优于10nm空间分辨率的光谱和近场光学图像。由于其高度的可靠性和可重复性。neaSNOM业已成为纳米光学领域热点研究方向的首选科研设备，在等离基元、纳米FTIR和太赫兹等众多研究方向得到了许多重要科研成果。最近，neaspec公司成功开发了可见至太赫兹高分辨光谱和成像综合系统，将上述sSNOM功能与纳米红外（FTIR）、针尖增强拉曼（TERS）、超快光谱（ultrafast）和太赫兹光谱（THz）进行联用，可以为广大科学工作者在等离子激元、二维材料声子极化、半导体载流子子浓度分布、生物材料红外表征、电子激发及衰减过程等的研究上提供相关支持。neaSNOM技术特点和优势：neaSNOM是目前世界上唯一成熟的s-SNOM产品专利保护的散射式近场光学测量技术—独有的极高10 nm空间分辨率专利的高阶解调背景压缩技术—在获得10nm空间分辨率的同时保持极高的信噪比专利保护的干涉式近场信号探测单元专利的赝外差干涉式探测技术—能够获得对近场信号强度和相位的同步成像专利保护的反射式光学系统—用于宽波长范围的光源：可见、红外以至太赫兹高稳定性的AFM系统，—同时优化了纳米尺度下光学测量双光束设计—极高的光学接入角：水平方向180°，垂直方向60°操作和样品准备简单—仅需要常规的AFM样品准备过程neaSNOM重要应用领域：表面等离激元石墨烯六方氮化硼光电流/太赫兹化学过程高分子/生物材料应用案例Science：石墨烯莫尔(moiré）超晶格纳米光子晶体近场光学研究光子晶体又称光子禁带材料。从结构上看，光子晶体是一类在光学尺度上具有周期性介电结构的人工设计和制造的晶体，其物理思想可类比半导体晶体。通过设计，这类晶体中光场的分布和传播可以被调控，从而达到控制光子运动的目的，并使得某一频率范围的光子不能在其中传播，形成光子带隙。光子晶体中介质折射率的周期性结构不仅能在光子色散能带中诱发形成完整的光子带隙，而且在特定条件下还可以产生一维（1D）手性边界态或具有Dirac（或Weyl）准粒子行为的奇异光子色散能带。原则上，光子晶体的概念也适用于控制“纳米光”的传播。该“纳米光”指的是限域在导电介质表面的光子和电子的一种耦合电磁振荡行为，即表面等离子体激元（SPPs）。该SPP的波长，λp，相比入射光λ0来说最多可减少三个数量级。如果要想构筑纳米光子晶体，我们需要在λp尺度上实现周期性介电结构，传统方法中采用top-down技术来构建纳米光子晶体，该方法在加工和制造方面具有较大的限制和挑战。2018年12月，美国哥伦比亚大学D.N. Basov教授在Science上发表了题为Photonic crystals for nano-light in moiré graphene superlattices的全文文章。研究者利用存在于转角双层石墨烯结构（twisted bilayer grapheme, TBG）中的莫尔（moiré）超晶格结构，成功构筑了纳米光子晶体，并利用德国neaspec公司的neaSNOM纳米高分辨红外近场成像显微镜研究了其近场光导和SPP特性，证明了其作为纳米光子晶体对SPP传播的调控。纳米近场成像对钙钛矿太阳能电池的研究苏州大学Q.L. Bao教授等人在钙钛矿结构微纳米线的光电转换离子迁移行为和载流子浓度分布等领域作出了突出贡献。2016年，发表在ACS Nano上的钙钛矿结构微纳米线的光电转换离子迁移行为的研究中，作者利用Neaspec公司的近场光学显微镜neaSNOM发现：1. 未施加外场电压时， 该微纳米线区域中载流子密度（图1 g. s-SNOM振幅信号）和光折射率（图1 g. s-SNOM相位信号）较均匀；2. 施加外场正电压时，该区域中载流子密度随I-离子（Br?）的迁移而向右移动（图1 h. s-SNOM振幅信号），其光折射率随随MA+离子（CH3NH3+）的迁移而向左移动（图1 g. s-SNOM相位信号）较均匀；3. 施加外场负压时，情况正好与施加正电压时相反（图1 i）。该研究显示弄清无机-有机钙钛矿结构中的离子迁移行为对于了解钙钛矿基的特殊光电行为具有重要意义，进而为无机-有机钙钛矿材料的光电器件应用打下了坚实的基础。图1.SNOM测量钙钛矿结构微纳米线的光电转换的离子迁移行为。d-f. 离子迁移测量示意图；g-i,相应的s-SNOM光学信号振幅和相位图2017年， Q.L. Bao教授等人发表在AdvanceMaterials的文章中再次利用Neaspec公司的近场光学显微镜neaSNOM，首次在实验中研究了太阳能电池表面钙钛矿纳米粒子涂层的载流子密度。结果显示：钙钛矿纳米粒子覆盖区域近场信号强度高于Si/SiO2区域中信号强度（参见下图2 b 图2 a为对应区域的形貌）。另外作者也研究了增加光照的时间的影响（参见下图2 c, d）。其结果显示：近场信号强度随光照时间增加，从12.5 μV (黄色，0 min) 增加到 14.4 μV (红色, 60 min)，该近场信号反映了可移动自由载流子密度的变化。最终，红外光neaSNOM研究结果证明：随光照时间增加，太阳能电池表面的钙钛矿纳米粒子涂层富集和捕获了大量的电子。参考文献：1、Wang Y.H. et. al. The Light-InducedField-Effect Solar Cell Concept - Perovskite Nanoparticle Coating IntroducesPolarization Enhancing Silicon Cell Efficiency. Advanced Material 2017, First published: 3 March 2017 DOI: 10.1002/adma.201606370.2、Zhang Y.P. et. al. Reversible StructuralSwell?Shrink and Recoverable Optical Properties in Hybrid Inorganic?OrganicPerovskite. ACS Nano 2016,10, 7031?7038.丝纤蛋白电调控构象转变及其光刻应用的纳米红外研究中科院微系统所陶虎教授带领的研究团队利用neaspec公司的近场光学显微镜（neaSNOM）高化学敏感和10 nm空间分辨的优势，在纳米尺度近分子水平研究了电调控下丝蛋白中的多形态转变。 该研究在纳米尺度实现了蛋白质结构转换的探测，结合纳米精度的电子束光刻技术能为我们在二维及三维尺度实现丝蛋白的结构控制提供有力的方法；同时该工作为开启纳米尺度的蛋白质结构研究和探究蛋白质电诱导构象变化的临界条件铺平了道路；为未来设计基于蛋白质的纳米结构提了供新的规则。参考文献：1. Nanoscale probing of electron regulated structural transitions in silk proteins by near field IR imaging and nano-spectroscopy， Nature Comm. 7:130792. Precise Protein Photolithography (P3): High Performance Biopatterning Using Silk Fibroin Light Chain as the Resist, Adv. Sci. 2017, 1700191可调谐低损耗一维InAs纳米线的表面等离激元研究亚波长下光的调控与操纵对缩小光电器件的体积、能耗、集成度以及响应灵敏度有着重要意义。其中，外场驱动下由电子集体振荡形成的表面等离激元能将光局域在纳米尺度空间中，是实现亚波长光学传播与调控的有效途径之一。然而，表面等离激元技术应用的最关键目标是同时实现：①高的空间局域性，②低的传播损耗，③具有可调控性。但是，由于金属表面等离激元空间局域性较小，在长波段损耗较大且无法电学调控限制了其实用化。由中科院物理所和北京大学组成的研究团队报道了砷化铟（InAs）纳米线作为一种等离激元材料可同时满足以上三个要求。作者利用neaspec公司的近场光学显微镜（neaSNOM, s-SNOM）在纳米尺度对砷化铟纳米线表面等离激元进行近场成像并获得其色散关系。通过改变纳米线的直径以及周围介电环境，实现了对表面等离激元性质的调控，包括其波长、色散、局域因子以及传波损耗等。作者发现InAs纳米线表面等离激元展现出：①制备简易，②高局域性，③低的传波损耗，④具有可调控性，这为用于未来亚波长应用的新型等离子体电路提供了一个新的选择。该工作发表在高水平的Advanced Materials 杂志上。参考文献：Tunable Low Loss 1D Surface Plasmons in InAs Nanowires，Yixi Zhou, Runkun Chen, Jingyun Wang, Yisheng Huang, Ming Li, Yingjie Xing, Jiahua Duan, Jianjun Chen, James D. Farrell, H. Q. Xu, Jianing Chen， Adv. Mater. 2018, 1802551范德华材料异质结构的近场纳米成像研究范德华材料拥有一整套不同的激元种类，在所有已知材料中的具有最高的自由度。德国neaspec公司提供的先进近场成像方法（s-SNOM）允许极化波在范德华层或多层异质结构中传播时被激发和可视化，从而被广泛应用到范德华材料激元的研究中，为研究人员对范德华材料体系中激元的激发、传播、调控等研究提供了有力的工具。另一方面，范德华材料系统中激元的优点是它们具有的电可调性。此外，在由不同的范德华层构成的异质结构中，不同种类的激元相互作用，从而可以在原子尺度上实现激元的完美控制。德neaspec公司提供的纳米光谱（nano-FTIR）和纳米成像成功被研究人员用于激元的调控等研究中，通过实验证实，研究人员已经成功开启了操控激元相关纳米光学现象的多种途径。范德华材料中激元的先进近场光学可视化成像研究：A、石墨烯中Dirac等离激元；B、 石墨烯纳米共振器边缘的等离激元；C、碳纳米管中的一维等离激元；D、 石墨烯-六方氮化硼moiré 超晶格体系中的超晶格等离激元；E、六方氮化硼上石墨烯的杂化等离子-声子激元；F、WSe2中的激子激元；G、 双曲六方氮化硼中的声子激元及波导传播参考文献：Basov, D. N et. al Polaritons in van der Waals materials, Science, 354, aag1992(2016). DOI: 10.1126/science.aag1992发表文章部分最新发表文章：Science (2017) doi:10.1126/science.aan2735Tuning quantum nonlocal effects in graphene plasmonicsNature Nanotechnology (2017) doi:10.1038/nnano.2016.185Acoustic terahertz graphene plasmons revealed by photocurrent nanoscopyNature Photonics (2017) doi:10.1038/nphoton.2017.65Imaging exciton–polariton transport in MoSe2 waveguidesNature Materials (2016) doi:10.1038/nnano.2016.185Acoustic terahertz graphene plasmons revealed by photocurrent nanoscopyNature Materials (2016) doi:10.1038/nmat4755Thermoelectric detection and imaging of propagating graphene plasmons国内用户最新发表文章：Nat. Commun. 8, 15561(2017)Imaging metal-like monoclinic phase stabilized by surface coordination effect in vanadium dioxide nanobeamAdv. Mater. 29, 1606370 (2017)The Light-Induced Field-Effect Solar Cell Concept –Perovskite Nanoparticle Coating Introduces Polarization Enhancing Silicon Cell EfficiencyLight- Sci & Appl 6, 204 (2017)Effects of edge on graphene plasmons as revealed by infrared nanoimaging Light- Sci & Appl，中山大学accepted (2017)Tailoring of electromagnetic field localizations by two-dimensional graphene nanostructures Nanoscale 9, 208 (2017) Study of graphene plasmons in graphene–MoS2 heterostructures for optoelectronic integrated devices Nano-Micro Lett. 9,2 (2017) Molybdenum Nanoscrews: A Novel Non-coinage-Metal Substrate for Surface-Enhanced Raman Scattering J. Phys. D: Appl. Phys. 50, 094002 (2017) High performance photodetector based on 2D CH3NH3PbI3 perovskite nanosheets ACS Sens. 2, 386 (2017) Flexible, Transparent, and Free-Standing Silicon Nanowire SERS Platform for in Situ Food Inspection Semiconductor Sci. and Tech.32,074003 (2017) PbI2 platelets for inverted planar organolead Halide Perovskite solar cells via ultrasonic spray deposition

WITec alpha 300S独特的悬臂式扫描近场光学显微镜alpha 300S一款操作简易的扫描近场光学显微镜（SNOM），采用独特设备的中空悬臂式近场探针实现超越衍射极限的光学分辨率。alpha 300S系统也具备优越的兼容性和扩展性，可与共聚焦光学/拉面显微镜及原子力显微镜集成在同一台仪器上，仅需旋转物镜转轮即可实现不同模式切换。WITec alpha 300S是一种纯近场光学显微镜，在很多样品上都可获得一致的超高分辨率，并且拥有透射与反射式两种模式。该近场光学显微镜不同于其他的超分辨显微镜，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于荧光染料分子的可选种类及特殊的激发光源。 alpha300S 系统采用软件可控的快速自动进针及调节等自动测试流程，操作非常简便、直观。 由于近场光学信号极其微弱，alpha300 S 近场光学显微镜配备高灵敏单光子计数的光电倍增管或雪崩二极管，并同时提供检测器快速超载保护。更重要的是，UHTS 光谱仪可与 alpha300S系统兼容，实现近场光谱与成像测量。 关键特性：突破衍射极限的空间光学分辨率（横向约 60 nm)独家专利的 SNOM 探针技术在空气与液体中均可使用包含多种原子力与光学显微镜模式非破坏性、无需标记的超高分辨成像技术，基本不需要样品制备可升级到关联的共聚焦拉曼成像和近场拉曼成像集成三种技术到一台仪器上：共聚焦显微镜, AFM 和 SNOM技术参数：1）工作模式：近场显微镜，共聚焦显微镜，原子力显微镜三种工作模式； 2）近场光学显微镜分辨率：为50nm 3) 共聚焦拉曼显微镜分辨率：200nm 4) 扫描台扫描范围：100 x 100 x 20 μm 5）探测器：光电倍增管（PMT）或雪崩二极管（APD）

WITec alpha 300S是一种纯近场光学显微镜，在很多样品上都可获得一致的超高分辨率，并且拥有透射与反射式两种模式。该近场光学显微镜不同于其他的超分辨显微镜，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于荧光染料分子的可选种类及特殊的激发光源。 alpha300S 系统采用软件可控的快速自动进针及调节等自动测试流程，操作非常简便、直观。由于近场光学信号极其微弱，alpha300 S 近场光学显微镜配备高灵敏单光子计数的光电倍增管或雪崩二极管，并同时提供检测器快速超载保护。更重要的是，UHTS 光谱仪可与 alpha300S系统兼容，实现近场光谱与成像测量。关键特性：突破衍射极限的空间光学分辨率（横向约 60 nm)独家专利的 SNOM 探针技术在空气与液体中均可使用包含多种原子力与光学显微镜模式非破坏性、无需标记的超高分辨成像技术，基本不需要样品制备可升级到关联的共聚焦拉曼成像和近场拉曼成像集成三种技术到一台仪器上：共聚焦显微镜, AFM 和 SNOM

产品详情德国Neaspec太赫兹近场光学显微镜 THz-NeaSNOM-30nm光学信号空间分辨率 太赫兹波段的纳米分辨散射式近场光学显微-谱仪系统：neaspec公司推出的第三代散射式近场光学显微镜neaSNOM，采用专利的高阶解调背景压缩技术，有效 提取散射近场信号，在获得10nm空间分辨率的同时保持极高的信噪比，是目前世界上唯一成熟的s-SNOM产 品。同时其赝外差干涉式探测技术，能够获得对近场信号强度和相位的同步成像。 由于专利的全反射式光学聚焦和独一无二的双光路设计，neaSNOM是目前世界上唯一一款可以应用于太 赫兹波段的近场光学显微成像和谱仪系统。全新推出的THz-neaSNOM必将成为广大太赫兹科研工作者手中的 神兵利器。 对有机和无机材料同样适用 。封闭式外罩设计，减少气流干扰。 。预先校准的近场光路，近一步提高稳定性 。快速成像，并以10nm空间分辨率鉴别纳米材料 。同步探测近场光学信号强度、相位并成像 。可对单层石墨烯，蛋白质有效测量的高敏感度 。简单明了的光路说明和光源选择指示，培训、操作简便 产品简介：太赫兹（THz）光源波长较大，一般在300微米左右。由于衍射极限的存在，THz远场测量系统的光学空间分辨率一般被限制在150微米左右。该THz光远场测量结果的准确度经常无法满足对材料科学研究，尤其是需要纳米分辨率的微细尺度材料分布研究（例如半导体芯片中各个组成：源极，漏极，栅极）的实验。THz-NeaSNOM近场光学显微镜的出现为此难题提供了一个很好的解决方案。德国Neaspec公司与Fraunhofer IPM在Neaspec公司NeaSNOM近场光学显微镜的基础上，已经成功研发了一套易用使用且THz系统的空间分辨率达到30nm的实验设备。 THz-NeaSNOM主要技术参数与特点： 。优于30nm的空间分辨率 。常用THz光范围：0.1-3THz 。专利设计的宽波段抛面镜 。THz研究可使用商业 散射型近场光学显微镜原理视频介绍：HNeaSNOM 30nm空间分辨率 专利的背景信号压制技术：s-SNOM技术相对于传统SNOM更难实现的主要瓶颈在于，探测器通过自由光路接收散射信号时，其接收到 的光学信号中99%以上是悬臂、样品等区域散射的背景信号，只有不到1%是来自于针尖与样品之间的有效近 场信号。只有成功的将有效的近场信号提取出来，才能获得可靠稳定的近场光学测量结果。neaSNOM通过其专利的高阶信号解调技术结合干涉式探测方式，实现了对背景信号的有效压制，获得了对 散射近场信号高度可重复性、高信噪比的可靠测量。 在原理上，利用AFM探针的高频振动，远场光学信息在快速傅里叶变换后仅可获得一阶信号；相对地，近场光学信息可以获得一至四阶不同的信号。通过探测器对高阶信号的采集处理，从而实现从背景信号中对有效 近场信号的剥离。 neaSNOM拥有专利的heterodyne探测模块，可以利用参考镜进一步对剥离的近场信号进行调制，从而实现了对其强度和相位的同时采集和成像。 更广的波长范围和更高的分辨率neaSNOM对晶体管的近场成像 与传统SNOM技术受到分辨率极限的限制，而只能使用可见光或近红外光源不同，neaSNOM将可用光源拓展到中红外和太赫兹波段，并始终保持纳米级分辨率，这决定于neaSNOM的分辨率只与散射源尺寸( AFM 针尖曲率半径）有关这一独特技术特点。上图为，neaSNOM采用波长为10um的中红外光源和118um的太赫 兹光源获得的近场成像结果，其太赫兹成像的分辨率达到40nm，约为激发波长的1/3000，充分证明了 neaSNOM的高分辨能力。在中红外和太赫兹波段的纳米成像能力，使得neaSNOM具有对纳米结构进行电学，分子、晶格振动等性质 的探测能力，近一步拓展了近场光学技术的应用范围，为更多学科提供了有利的表征手段。 更大的应用拓展空间得益于优秀的双光路设计，neaSNOM在成像功能基础上具有了更大的应用拓展空间。利用预留的第二套可 用光路，neaSNOM可以实现对拉曼、荧光、光诱导和超快等领域的研究，部分研究成果已经发表在国际著 名期刊。 专业的模块化设计neaSNOM散射型近场光学显微镜采用模块化设计，将可见光、近红外、中红外照明探测单元，nano-FTIR ,透射模式等功能进行封闭模块化设计，进一步提高了整体光路的稳定性，以及操作的简便性，便于使用者更 快掌握neaSNOM系统操作，获得高质量近场光学测结果。 用户友好的软件平台neaSNOM散射型近场光学显微镜的软件平台历经数发整合，已完全兼容于windows系统并有着优秀的客户体验。最新的软件系统用户友好，操作简单，为防止使用人员的误操作，模块化的设计体系保证了仪器更 高的安全性。

Scanning Microwave Impedance Microscopy，简称为sMIM，扫描微波阻抗显微镜，让您的AFM成为专业的电学显微镜！ 50nm超高分辨率，~100nm内部电学探测，导体、半导体、绝缘体的广泛适用度，为您提供电导率、介电常数、掺杂浓度纳米级高灵敏度电学表征成像的解决方案。 Scan Wave™ 可应用于多种领域材料的研究和发展：微电子材料，铁电材料，工业材料，以及石墨烯、碳纳米管，2D半导体、纳米材料等新星材料等。 独立扫描模块，包括微波信号发生器、探针干涉模块、自主专利同轴屏蔽探针、以及微波近场软件，可应用于各种AFM平台。特殊MEMS结构探针，有效避免散杂磁场的干扰 专业多功能自由切换电学显微镜测试功能体验 sMIM-C成像：介电常数、电容变化； sMIM-R成像：电导率、电阻率变化； dC/dV 振幅：载流子浓度； dC/dV 相位：载流子类型+/- ； dR/dV 振幅：相关损失系数； dR/dV 相位：相关损失系数 高精度电学测试，50nm分辨率； 工业级高灵敏度、低噪音，“Hard stuff”材料电学测试不再是难题； 可实现表面下成像、检测（100nm) 不同材料同步测量：导体、半导体、绝缘体、电介质都可以实现，不同的材料甚至分类都可以 在一次扫描中观测。 简易操作：不需要样品特别处理，不需要将样品放置在导电或电流中，人性化软件设计，操作简单。 接触和非接触模式多种扫描模式：即使在做力曲线，只要你想实现，就可以获得电学数据；

超高分辨散射式近场光学显微镜 - neaSNOM产品简介： neaSNOM是德国neaspec公司推出的三代散射式近场光学显微镜（简称s-SNOM），其采用了散射式核心设计技术，大的提高了光学分辨率，并且不依赖于入射激光的波长，能够在可见、红外和太赫兹光谱范围内，提供优于10nm空间分辨率的光谱和近场光学图像。由于其高度的可靠性和可重复性，neaSNOM业已成为纳米光学领域热点研究方向的重要科研设备，在等离基元、纳米FTIR和太赫兹等众多研究方向得到了许多重要科研成果。近，neaspec公司成功开发了可见至太赫兹高分辨光谱和成像综合系统，将上述s-SNOM功能与纳米红外（FTIR）、针增强拉曼（TERS）、超快光谱（ultrafast）和太赫兹光谱（THz）进行联用，可以为广大科学工作者在等离子激元、二维材料声子化、半导体载流子浓度分布、生物材料红外表征、电子激发及衰减过程等的研究上提供相关支持。技术特点和优势： neaSNOM是目前上非常成熟的s-SNOM产品散射式近场光学测量技术—有的高10 nm空间分辨率高阶解调背景压缩技术—在获得10nm空间分辨率的同时保持高的信噪比干涉式近场信号探测单元的赝外差干涉式探测技术—能够获得对近场信号强度和相位的同步成像 保护的反射式光学系统 —用于宽波长范围的光源：可见、红外以至太赫兹高稳定性的AFM系统—同时优化了纳米尺度下光学测量 双光束设计 —高的光学接入角：水平方向180°，垂直方向60° 操作和样品准备简单 —仅需要常规的AFM样品准备过程 重要应用领域： 部分发表文章：Science (2017) doi:10.1126/science.aan2735Tuning quantum nonlocal effects in graphene plasmonicsNature Nanotechnology (2017) doi:10.1038/nnano.2016.185Acoustic terahertz graphene plasmons revealed by photocurrent nanoscopyNature Photonics (2017) doi:10.1038/nphoton.2017.65Imaging exciton–polariton transport in MoSe2 waveguidesNature Materials (2016) doi:10.1038/nnano.2016.185Acoustic terahertz graphene plasmons revealed by photocurrent nanoscopyNature Materials (2016) doi:10.1038/nmat4755 Thermoelectric detection and imaging of propagating graphene plasmons国内用户发表文章：Nat. Commun. 8, 15561(2017)Imaging metal-like monoclinic phase stabilized by surface coordination effect in vanadium dioxide nanobeamAdv. Mater. 29, 1606370 (2017) The Light-Induced Field-Effect Solar Cell Concept –Perovskite Nanoparticle Coating Introduces Polarization Enhancing Silicon Cell EfficiencyLight- Sci & Appl 6, 204 (2017)Effects of edge on graphene plasmons as revealed by infrared nanoimagingLight- Sci & Appl，中山大学accepted (2017)Tailoring of electromagnetic field localizations by two-dimensional graphene nanostructuresNanoscale 9, 208 (2017)Study of graphene plasmons in graphene–MoS2 heterostructures for optoelectronic integrated devicesNano-Micro Lett. 9,2 (2017)Molybdenum Nanoscrews: A Novel Non-coinage-Metal Substrate for Surface-Enhanced Raman ScatteringJ. Phys. D: Appl. Phys. 50, 094002 (2017)High performance photodetector based on 2D CH3NH3PbI3 perovskite nanosheetsACS Sens. 2, 386 (2017)Flexible, Transparent, and Free-Standing Silicon Nanowire SERS Platform for in Situ Food InspectionSemiconductor Sci. and Tech.32,074003 (2017)PbI2 platelets for inverted planar organolead Halide Perovskite solar cells via ultrasonic spray deposition部分用户好评与列表（排名不分先后）neaspec公司产品以其稳定的性能、高的空间分辨率和良好的用户体验，得到了国内外众多科学家的认可和肯定......Prof. Dmitri Basov美国 加州大学 University of California San Diego"The neaSNOM microscope with it’s imaging and nano-FTIR mode is the most useful research instrument in years, bringing genuinely new insights."Dr. Jaroslaw Syzdek美国 劳伦斯伯克利实验室 Lawrence Berkeley National Laboratory "We were looking for a flexible research tool capable of characterizing our energy storage materials at the nanoscale. neaSNOM proofed to be the system with the highest spatial resolution in infrared imaging and spectroscopy and brings us substantial new insights for our research” 陈焕君 教授 中山大学Sun Yat-sen University "The neaSNOM microscope boosted my research in plasmonic properties of noble metal nanocrystals, optical resonances of dielectric nanostructures, and plasmon polaritons of graphene-like two dimensional nanomaterials."Prof. Rainer HillenbrandResearch CenterCo-Founder and Scientific Advisor"After many years of research and development in near-field microscopy, we finally made our dream come true to perform infrared imaging & spectroscopy at the nanoscale. With neaSNOM we can additionally realize Raman, fluorescence and non-linear nano-spectroscopy." Dr. Dangyuan LeiThe Hong Kong Polytechnic UniversityDepartment of Applied PhysicsHong Kong "We propose to establish a complete set of nano-FTIR and scattering-type SNOM in order to stay competitive in nanophotonics research as well as to maintain our state-of-the-art design and fabrication of novel nanomaterials. Only because of the unique technology from neaspec we were able to win this desirable university grant."Prof. Dan MittlemanBrown UniversitySchool of EngineeringUSA "The neaSNOM near-field microscope and it’s user-friendly software offer us an incredible flexibility for the realization of our unique experiments – without compromises in robustness, handling and ease-of-use."Dr. Raul FreitasCentro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM)Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS)Brazil "The great stability and robustness of the neaSNOM are key features for serving our diverse user’s demands. The neaSCAN software is user-friendly and intuitive allowing fresh users to quickly start measuring." Prof. Dr. Rupert Huber University of Regensburg Department of Phyics Germany "The unique dual beam-path design of the neaSNOM near-field microscope makes neaspec the natural choice for ultrafast spectroscopy at the nanoscale."国内部分用户（排名不分先后）：清华大学东南大学中科院物理所 中科院上海技物所香港理工大学 中山大学苏州大学 中科院大连化物所中国科学技术大学都师范大学四川大学 南开大学纳米科学中心中科院成都光电所 北京师范大学

Molecular Vista原子力微镜与可见-红外-拉曼联用系统 ——10nm以下空间分辨可见-红外-拉曼成像与光谱采集原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)经过30多年的发展后，从形貌测试及其它常规功能来看已经非常成熟。然而常规的原子力显微镜也越来越无法满足科研人员在纳米尺度下对于样品进行多性质原位测试分析的更高需求，尤其在化学、光学、电学、热学、力学等领域。在这一背景下，美国Molecular Vista应运而生，推出了全新一代原子力显微镜VistaScope！在具备所有常规原子力显微镜功能的条件下，基于专利的光诱导力显微镜（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技术，结合波长可调的可见-红外光源，从而实现10nm以下空间分辨可见~红外成像与光谱采集，无需远场光学接收器及光谱仪。此外，VistaScope原子力显微镜还可以与各类拉曼光谱仪进行联用，组成目前市场上功能最为强大的原子力显微镜与可见-红外-拉曼联用系统，以满足科研人员在纳米尺度下的各种测试需求。VistaScope原子力显微镜具备如下功能：NanoIR 纳米红外成像与光谱光诱导力显微镜突破性的采用检测探针与样品之间的偶极交互(dipole interaction)，使其不受到样品横向热膨胀对于空间分辨率带来的负面影响。因此，基于光诱导力显微镜的纳米红外能真正意义上的实现10nm以下空间分辨纳米红外成像！下图为PS-PMMA嵌段共聚物纳米红外成像与光谱案例，红色和绿色分别代表PMMA与PS的分布情况。摘自“Nanoscale chemical imaging by photoinduced force microscopy，Sci. Adv. 2016”基于光诱导力显微镜的纳米红外不仅适合有机高分子材料，也适合无机材料。下图为不同Si/Al比的ZSM-5沸石分子筛的纳米红外骨架振动峰在1100cm-1处的蓝移及劈裂情况，以及通过碳氢化合物在1480cm-1的C=C伸缩振动峰来反映ZSM-5参与甲醇制碳氢化合物（MTH)催化反应后结焦的分布情况。摘自“Nanoscale infrared imaging of zeolites using photoinduced force microscopy，作者Chem”纳米可见吸收成像与光谱NanoVis 偶极交互的检测原理使得光诱导力显微镜不仅能在中红外波段下工作，也可以很好在可见～近红外波段性下进行成像及光谱采集。下图为6-TAMRA荧光染料在不同波长下的可见吸收成像与光谱，黑色箭头所指处的染料颗粒尺寸小于10nm，达到了单分子成像的水平。摘自“Image force microscopy of molecular resonance: A microscope principle, Appl. Phys. Lett. 2010”下图为二硫化钼在不同波长下的可见吸收成像与光谱样品结果来自“Stanford University & University of British Columbia”AFM-Raman 原子力-拉曼联用系统VistaScope原子力显微镜具有正置-倒置光路一体化的设计，可以将激发光从顶部，侧面以及底部激发至样品以适应透明和不透明的样品或使激发在针尖上的光束具有合适的偏振方向从而进一步增强拉曼信号。MVI提供高速高通量的Vista-Raman光谱仪与VistaScope原子力显微镜进行联用，其也可以和其他拉曼光谱仪进行联用。下图为VistaScope联合Vista-Raman对载玻片上碳纳米管的针尖增强拉曼成像(Tip Enhanced Raman Spectroscopy，TERS)。拉曼信号的增强主要源于局域表面等离子体共振(LSPR)的电磁场增强。光诱导力显微镜可以直接表征样品表面的场强分布，通过场强表征结果可以找到高场强进行针尖增强拉曼成像。下图为在光诱导力显微镜对于镀金衬底上亮甲酚蓝(BCB)场强表征，可以看到高场强（亮）和低场强（暗）所得到拉曼光谱信号的强弱对比。s-SNOM 散射式扫描近场光学显微镜有别于传统的扫描近场光学显微镜，光诱导力显微镜采用检测探针与样品之间的偶极交互直接获得样品表面的场强分布，无需远场光学探测器。这不仅杜绝了远场信号的干扰，也无需像SNOM那样配置多个不同波段光学探测器。光诱导力显微镜的检测端可无缝适应紫外～射频，用户仅需考虑如何将激发光激发至样品。同时，MVI也提供散射式扫描近场光学显微镜(s-SNOM)功能，用于光学相位的测量，作为场强测量的补充。下图为金铝二聚体分别在480nm和633nm不同偏振方向激发后的场强分布，图a,b的实测场强与图c,d的理论模拟是否吻合，金铝二聚体间隔仅为5nm!摘自“Wavelength-dependent Optical Force Imaging of Bimetallic Al-Au Heterodimers, Nano Lett. 2018”上面提到拉曼信号的增强主要源于局域表面等离子体共振(LSPR)的电磁场增强，下图为基于银颗粒阵列的表面增强拉曼衬底(SERS)的场强分布，图f的FWHM结果显示光诱导力显微镜实现了3.1nm的空间分辨。摘自“Fabrication and near-field visualization of a waferscale dense plasmonic nanostructured array, RSC Adv. 2018”More Intergration 与其他光学-光谱技术联用VistaScope原子力显微镜还能与其他多种光学-光谱技术联用。例如，非线性-时间分辨-泵浦-探测-超快光谱，光致发光光谱（荧光光谱与磷光光谱），单分子荧光成像，共聚焦成像等。下图为VistaScope原子力显微镜结合飞秒激光器在光诱导力显微镜模式下，以809nm为泵浦光，605nm探测光对于单个萘酞菁硅(SiNc)纳米团簇分子的时间分辨瞬态吸收成像的表征。摘自“Linear and Nonlinear Optical Spectroscopy at the Nanoscale with Photoinduced Force Microscopy, Acc. Chem. Res. 2015”下图为VistaScope原子力显微镜-光诱导力显微镜与荧光光谱对于二硫化钼原位表征结果Multi-frequency AFM 多频原子力显微镜VistaScope原子力显微镜采用了全新的多频模式，在具备所有常规原子力显微镜功能的条件下，也将性能提升到了全新的高度。相比于常规的单频原子力显微镜，多频原子力显微镜拥有更高的空间分辨率与灵敏度。下图为VistaScope在各种AFM模式下的成像结果。

太赫兹近场光学显微镜 - THz-NeaSNOM--30nm光学信号空间分辨率太赫兹（THz）光源波长较大，一般在300微米左右。由于衍射限的存在，THz远场测量系统的光学空间分辨率一般被限制在150微米左右。该THz光远场测量结果的准确度经常无法满足对材料科学研究，尤其是需要纳米分辨率的微细尺度材料分布研究（例如半导体芯片中各个组成：源，漏，栅）的实验。THz-NeaSNOM近场光学显微镜的出现为此难题提供了一个很好的解决方案。德国neaspec公司与Fraunhofer IPM在neaspec公司neaSNOM近场光学显微镜的基础上，已经成功研发了一套易用使用且THz系统的空间分辨率达到30nm的实验设备。产品特点/基本参数+ 优于30nm的空间分辨率+ 常用THz光范围：0.1-3THz+ 设计的宽波段抛面镜+ THz研究可使用商业化的AFM探针+ THz-TDS使用飞秒激光光源+ 简单易用，稳定性高半导体结构表征—30nm空间分辨率THz-NeaSNOM近场光学显微镜（下图左）对半导体结构的测量结果图。该结果表明硅衬底（上图左，灰色）上的SiO（一氧化硅）的尺寸大约在1.5×1 平方微米。通过分析左侧的高度数据，可以知道该一氧化硅结构仅仅只有大约22纳米厚度。虽然该层状结构非常薄，但THz-NeaSNOM近场光学显微镜（下图左）在测量高度的同时仍然能够记录该结构与衬底的近场光学信号的明显不同衬度的结果。该THz-NeaSNOM近场光学显微镜不仅在测量非常薄样品的时 候灵敏度非常高，而且通过分析近场光学信号数据（下图右）也证实了它超高的空间分辨率（~25-30nm）。 表征半导体器件 Nature 456,454(2008) 超快机制研究纳米线 Nature Photonics 8,841(2014) 部分用户好评与列表（排名不分先后）neaspec公司产品以其稳定的性能、高的空间分辨率和良好的用户体验，得到了国内外众多科学家的认可和肯定......"The neaSNOM microscope with it’s imaging and nano-FTIR mode is the most useful research instrument in years, bringing genuinely new insights."Prof. Dmitri Basov美国 加州大学University of California San DiegoDepartment of PhysicsLa Jolla, USA"We were looking for a flexible research tool capable of characterizing our energy storage materials at the nanoscale. neaSNOM proofed to be the system with the highest spatial resolution in infrared imaging and spectroscopy and brings us substantial new insights for our research”Dr. Jaroslaw Syzdek美国 劳伦斯伯克利实验室Lawrence Berkeley National LaboratoryEnvironmental Energy Technologies DivisionBerkeley, USA"The neaSNOM microscope boosted my research in plasmonic properties of noble metal nanocrystals, optical resonances of dielectric nanostructures, and plasmon polaritons of graphene-like two dimensional nanomaterials."陈焕君 教授中国 中山大学Sun Yat-sen UniversityChina"As a near-field expert I was quickly convinced that neaSNOM is the only optical AFM microscope completely satisfying the needs of demanding near-field experiments. It’s the best comercially available technology and in addition really easy to use."Prof. Thomas Taubner德国 亚琛工业大学RWTH AachenMetamaterials & Nano-OpticsAachen, Germany"As a newcomer to the near-field optics I am very grateful for the prompt and competent support provided by neaspec’s experts."Dr. Edward Yoxall英国 帝国理工大学Imperial College LondonDepartment of PhysicsLondon, United Kingdom"After many years of research and development in near-field microscopy, we finally made our dream come true to perform infrared imaging & spectroscopy at the nanoscale. With neaSNOM we can additionally realize Raman, fluorescence and non-linear nano-spectroscopy."Prof. Rainer Hillenbrand西班牙 纳米科学协同研究中心CIC nanoGUNE Research CenterCo-Founder and Scientific AdvisorSan Sebastian, Spain"A unique advantage of the neaSNOM microscope is that it can be applied to many fields of scientific research such as Chemistry, Semiconductor Technology, Polymer Science and even Life-Science."Dr. Fritz Keilmann德国 慕尼黑大学Ludwig-Maximilians Universit?t MünchenCo-Founder and Scientific-AdvisorMunich, Germany南京大学中山大学都师范大学苏州大学University of San Diego，USAUniversity of Southampton, UKCIC nanoGUNE San Sebastion, SpainLBNL Berkeley, USAFraunhofer Institut ILT Aachen, GermanyMax-Planck-Institut of Quantum Optics, Garching, GermanyUniversity of Bristol, UKRWTH Aachen, GermanyCalifornia State University Long Beach, USA… …

用超越激光衍射极限的系统来研究样品NTEGRA Spectra 在检测样品时，通过扫描近场光学显微术能提供超越激光光学衍射的光学分辨率。支持两种不同的SNOM方式：光纤式SNOM和悬臂梁式SNOM所有的SNOM功能模式：透射模式，反射模式，收集模式。所有SNOM的信号都可以被检测：激光强度，荧光强度，光谱信号等。SNOM刻蚀：矢量式，光栅式。

Nanonics公司历史：Nanonics Imaging Ltd.公司在过去的20年一直是近场光学领域的佼佼者，在近场系统领域在市场上具有最丰富的经验和最多的文献发表。经过几十年的发展Nanonics研发了市场上先进的功能性SNOM系统。孔径式SNOM系统，多探针SNOM系统和无孔径散射式SNOM系统可用于UV，可见光，红外和太赫兹波段。设计和集成：最灵活的光路集成，适用于所有操作模式MV2500适用于所有光学照明和收集模式的SNOM/AFM扫描台： 上方-侧面-下方照明/收集光路： MV2500的设计提供给用户针对每个样品不同需求选择最好模式的能力。纳米级别的红外测试需求和现有样品的多样性决定了能够使用多种照明和收集模式来探测样品是非常重要的。 MV2500就可以满足多种照明和收集模式，这完善了纳米级别的红外测试。AFM扫描台：灵活的扫描功能和简单的使用成就了优秀的红外SNOM系统 MV2500的灵活性扩展了扫描探针的工作模式，提供给用户适用于任何样品的极致的控制权限和灵活性。 关键功能包括：l 探针和样品扫描：MV2500具有两个扫描台，一个用于探针扫描功能，另一个用于样品扫描功能。关键优势：n 每个扫描台的XYZ扫描范围都是85*85*85μmn 针尖和样品可以独立扫描。软件控制非常简易。n 组合式扫描范围：两个扫描台的扫描范围可以叠加用于大范围扫描。n XY和Z方向的扫描可以独立控制，如可以用样品扫描XY方向，而探针进行Z方向的反馈，针对特殊的实验设计。n 两个扫描台都可以用于快速和精确的探针或样品位置定位-这能实现针尖和激光相互作用的绝佳优化。 l 音叉（TF）反馈：n 音叉反馈不使用激光光束作为反馈方式，避免样品或光学信号与其互相干扰。n 音叉反馈是现有的最灵敏的AFM反馈方式，在空气和液体环境下都可达到优秀的AFM成像效果。音叉反馈可以用于非常柔软的样品并可具有低至pN级别的力学灵敏度。l 可定制的LabView软件和控制器：软件基于LabView系统，允许用户设计脚本控制多种光谱仪和激光器。

Nanonics多探针平台在纳米材料表征和加工应用中的独特性石墨烯的发现开启了新一代材料的进化史.这引领了低维度纳米材料和混合材料的多样发展.这些材料的发现也导致了对研究平台的反思,新的平台必须适应这些下一代基础材料的纳米表征和加工,以及相应的应用和新器件开发. 对于这种平台的一个基本的要求就是具有能将纳米成像和纳米操作以及其他探测台整合的能力.在Nanonics Imaging Ltd公司进行这一开拓之前,这种联用通常需要在线的扫描电镜（SEM）来有效的指导纳米操作探针进行纳米材料的研究。FEI Inc公司提供的SEM集成纳米操作台正是实例。但是，即使有SEM的指导的纳米操作台也会对这种纳米材料造成物理损伤或者引入有害的电荷。用户真正需要的是能够在原子级别来反映样品结构和性能的平台，这涵盖了高灵敏度的电学，热学，光学甚至化学的纳米表征。这正是Nanonics Imaging Ltd. MultiProbeMultiView 4000 (MV 4000)平台的独特之处。 这个多探针平台可以充分的集成所有扫描探针显微镜的功能，包括结构和性能的纳米成像。 同时保证纳米探针的超精细分辨率，又不会引入电子束伤害。并可以有效地使用常规的纳米探针用于纳米操作应用。因此，Nanonics多探针平台将多探针AFM探针同时用于结构和性能应用测试，并将先进的纳米操作台开放的联用起来。这项技术将扫描探针显微镜和探针塔的所有优势结合了起来。 为了提供这样的系统，Nanonics不仅在仪器设计方面取得了突破，而且还开拓了NanoToolKitTM专利探针的设计用于超精细的结构和性能成像。这些探针实现了一个探针能够真正的碰触另外一个探针。 这甚至可以允许一个AFM探针对另外一个AFM探针或者纳米操作探针进行成像。纳米操作探针和AFM探针的区别是不具有反馈和成像功能。 为了开启这一新领域，Nanonics在建立之后的20年中一直致力于研究现有单探针或多探针AFM设备中灵敏的AFM反馈机制。这种方法采用了音叉反馈。这种反馈机制非常的灵敏，甚至允许用户用于研究单个光子的作用力。 除了使用这种特有的成像模式，Nanonics平台也可以使用常规的AFM激光反馈模式和AFM硅悬臂达到出色的AFM扫描效果。这种悬臂探针需要反射的激光用于反馈调节。另外，这些探针无法相互之间接触因此无法进行多探针应用，这是他的固有限度。并且由于这种反馈机制明显很低的力灵敏度，纳米材料和元器件的研究并不想采用。 一个主要的局限是这种基于激光束的反馈会在材料上引入电荷，在基本表征测试中引入背景噪音。这些电荷会掩盖这些材料与众不同的物理现象。因此，能够在没有干扰的情况下测试电学，热学和光学特性是对于理解材料基本物理和器件功能必不可少的要求。除却多探针的优势以外，不束缚于外部激光反馈干扰的测试这些功能特性与传统的AFM技术相比具有更大的优势。 无光学干扰的优势对于多探针AFM集成的功能测试也尤其重要，如此探针才能真正物理意义上的接触彼此。这才能实现在两个探针纳米量级的距离变化情况下进行传导机制的测试。 因此，Nanonics多探针集成SPM平台实现了多种独特的测试功能。这是首个被引入国家科学基金会支持的报告的系统。Nanonics平台还在多个方面继续创新。首先，在这些研究中真空环境搭配加热/制冷的环境控制具有重要意义。Nanonics平台可将环境控制与扫描探针显微镜领域的成像功能结合。在我们的研究中需要将温度升至最高350摄氏度，这通过Nanonics平台是可以实现的。这一需求还需要搭配改进后的常规纳米操作台用于样品的精确操纵，这也可以通过Nanonics的系统来实现。而且，这些系统的设计都保证了完全开放自由的光学轴。这使标准的研究级光学显微镜可以与系统完美集成，用于从高真空系统的上方和下方观察样品。这种光学的灵活性在以往从未被实现。为了实现这一目的，SPM系统的结构和探针的设计都必须保证没有任何光学吸收，这对于器件研究尤为重要。传统AFM系统中都无法实现这样沿着光轴上下观察的设计。Nanonics系统提供的全视野不仅对于上述提到的未来升级非常必要，而且利用研究级高放大倍数的光学显微镜用户可以快速的将探针之间的距离缩短到微米量级。当然，所有的功能都同时保证AFM扫描的极限噪音在0.2nm级别伸直更低。新一代材料研究的中心还在于在线光谱表征。这些材料都具有很多重要的光谱特性，是非常必要的表征手段。除此之外，光致发光和振动光谱的研究也很必要。Nanonics是在1990年度就将振动光谱和扫描探针显微镜联用起来的公司。为了这一联用，Nanonics研发了第一台探针和样品都可以扫描的系统。样品扫描对于振动光谱是必要的，而Nanonics这种联用系统的首篇文章在1999年就发表了。这种联用功能现在可以复制到多探针系统上，实现了基于上述所有扫描探针，探针台，和真空功能的化学表征，用于研究材料在电运载过程中的化学性质改变。自从开发了第一套集成扫描探针和振动光谱联用系统，Nanonics多年来也一直努力创新于近场扫描成像领域，将独特的等离子探针引入振动光谱测试，实现纳米级别的振动光谱联用，如TERs（针尖增强拉曼测试）。 Nanonics在近场光学成像领域的专业性早已获得世界范围内的认可，使用多探针系统的成果也很广泛的用于顶级文章的发表。这些功能考虑到了纳米光学成像的多样性。针对这些新材料，还有一个重要应用就是使用纳米光源在没有背景干扰的情况下激发纳米光电效应。这对于研究这些低维度材料及其合成材料在金属接触的局部效应下的能量级非常必要。最后，多探针表征和纳米加工的特有结合也可以通过这个平台实现。在最近发表的一篇文章中，具有Nanonics NanoToolKitTM专利设计的纳米加工探针用于在纳米级别氧化一个纳米结构，并记录由于氧化引起的化学势变化。市面上其他能提供气体纳米加工的系统都结合了SEM和聚焦离子束技术，如FEI Inc和Hitachi High-Technology Corporation公司提供的双束产品。这种设备的价格都超过了一百万美金，并且不能提供实时在线测试以及其他Nanonics平台提供的很多优势。比如上面Patsha用户发表的文章中强调的扫描探针显象模式中的在线化学势成像是这种双束系统所不能提供的。总而言之，专利获奖的Nanonics探针平台可以允许科研人员有效的完成多种独特的测试表征功能。

Bruker布鲁克纳米红外光谱nanoIR3，是一款基于原子力显微镜（AFM）的纳米表征工具。其采用光热诱导共振技术（PTIR，也称AFM-IR），使红外光谱的空间分辨率突破了光学衍射极限，提高至10纳米级别。为揭示纳米尺度下的表界面红外光谱信息提供了可能。该技术曾荣获2010年度美国R&D100大奖。光热诱导技术实现10nm超高化学分辨率和高信噪比纳米红外光谱高性能纳米级 FTIR 光谱只有 nanoIR3-s 能够提供：高性能纳米级 FTIR 光谱高性能红外近场光谱，采用目前先进的纳米红外激光源纳米级 FTIR 光谱，采用集成式DFG，可与宽带同步辐射光源集成适用于光谱和化学成像的多芯片 QCL 激光源点光谱技术POINTspectra 激光器可执行多个波长的光谱分析和高分辨光学成像。nanoIR3-s让测试更加简单：在 AFM 图像中选择要测量的特征测量样品的波谱，选择感兴趣的波长采集高分辨光学属性图根据对多个波长的干涉图的快速测量，获得空间分辨率达到 10nm 的振幅和相位图像 实现 10nm 分辨率Tapping AFM-IR，用于独特的互补性红外光谱分析。

产品详情德Neaspec真空太赫兹波段近场光学显微镜HV-THz-neaSNOM该套系统成功地继承了德国neaspec公司THz-neaSNOM的设计优势，采用专利保护的双光路设计，完全可以实现真空环境下太赫兹波段应用的样品测量。HV-THz-neaSNOM在实现30nm高空间分辨率的同时，由于采用0.1-3THz波段的时域太赫兹光源（THZ-TDS），也可以实现近场太赫兹成像和图谱的同时测量。这极大地满足真空环境中太赫兹近场光学研究的需求，可以减少大气中水对太赫兹波段的吸收影响，能更好地保持样品的洁净，为用户进一步集成真空设备提供了基础。太赫兹波有极强的穿透性，对不透明物体能完成透视成像，用来做半导体材料、生物样品等的检测是其应用趋势之一。该套真空太赫兹波段近场光学显微系统（HV-THz-neaSNOM）的集成，将在生物应用、半导体元器件和相变材料载流子等研究及领域都有着广阔的应用前景，有望为广大太赫兹科研工作者提供更多实际研究工作中的便利和支持。

红外光学显微镜如果您需要SWIR成像放大，我司提供的SWIR相机可以配置显微镜光学元件，以实现您所需的放大范围和视野。普遍的应用包括生命科学和测试工程等项目。可选择不同照明（LED、激光、宽带），支持双色显微观测。我们还可以为检测等应用配置卧式显微镜。生物医学研究使用SWIR显微镜进行荧光成像应用，包括活体动物SWIR成像，也可使用激光激发荧光。测试工程师利用SWIR显微镜来识别近红外透明组件中的缺陷，尤其是半导体材料。另外，也可以根据应用要求配置合适的热成像显微系统。我们根据您对放大率、视野和样品照明的精确要求配置SWIR显微镜。 ? 放大倍率67X至1000X ? 选择所需的视野、工作距离和放大范围? 定制配置以满足您的需求? 水平和机动配置可用? 可提供两种波段通道显微镜配置? LED、激光器和宽带光源的同轴照明? 灵活的体系结构支持未来需求的变化红外光学显微镜主要应用：■ 半导体产品或材料的缺陷测试 ■ 活体动物成像 ■ 红外荧光显微成像 ■ 文物鉴定 ■ 法医取证关于具体配置要求，详情可咨询上海昊量光电设备有限公司。关于昊量光电：昊量光电 您的光电超市！上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外创新性的光电技术与可靠产品！与来自美国、欧洲、日本等众多知名光电产品制造商建立了紧密的合作关系。代理品牌均处于相关领域的发展前沿，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及前沿的细分市场比如为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等。我们的技术支持团队可以为国内前沿科研与工业领域提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务，助力中国智造与中国创造! 为客户提供适合的产品和提供完善的服务是我们始终秉承的理念！您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询，我们将竭诚为您服务。

红外热成像显微镜 随着电子器件的不断缩小，热发生器和热耗散变得越来越重要。微型热显微镜可以测量并显示温度分布的半导体器件的表面，使热点和热梯度可显示缺损位置，通常导致效率下降和早期故障的快速检测。 应用检测芯片的热点和缺陷电子元件和电路板故障诊断测量结温甄别芯片键合缺陷测量热电阻装激光二极管性能和失效分析 产品特点20微米/像素固定焦距50度广角聚焦镜头320*240非制冷探测器30帧/秒拍摄和显示速度0—300摄氏度测量范围室温测量便于使用——1分钟安装测量待命 热及缺陷infrasight MI的红外摄像机的灵敏度高结合先进的降噪和图像增强算法提供检测和定位的热点在半导体器件消耗小于1毫瓦的功率和升高温度， 表现出只有0.05摄氏度。短时间试验中，设备通常是供电的5到10秒。I/O模块使大功耗是与软件测试同步。测试平均电阻低于一欧姆短路检测。因为低电阻短路消失，只有少量的电和热，一系列的测试可以一起平均提高测试灵敏度。 自动停止功能打开I/O模块继电器自动切断电源，对设备/板作为一个预先定义的阈值以上的短温度升高。这种安全功能可以帮助防止对设备/板损坏，同时定位时间。 红外热成像配套软件红外热成像显微镜软件提供了一套广泛的分析工具帮助客户非常容易而快速获取温度信息。实时的带状图、拍摄及回放序列不同视角和建设性的数据分析手段 微量可用于测量功能的器件结温。为了准确测量结温，一个模具的表面发射率的地图必须首先被创建。该装置是安装在保温阶段控制在均匀的温度。然后计算thermalyze软件的表面，适用于热图像纠正发射率的变化在死像素的发射率的地图像素。测量结温，设备供电，高温度区域内围交界处测量。

仪器简介：NANONICS IMAGING LTD. （以色列NANONICS有限公司）是业界将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)相技术相结合的领头羊之一。公司成立于1997年，NANONICS是业界成立最久并且对此类系列产品经验最丰富的公司之一，其产品荣获过许多国际大奖。在强大的NSOM/AFM的整合操作系统的推动下，今天NANONICS继续以强大的优势和全面的系统热销市场。NANONICS凭借着实力和品质，其产品涉足的领域从科研到工业，从生物学到半导体，从化学制品到无线电通讯，应用范围极其广泛。 低温NSOM/AFM拥有先进的系统设备、环境友好的样品反应室、化学药品和气体自动传送系统；还有nano-印刷术系统，给消费者提供一个空前的系统配置选择。加上有AFM/NSOM/SEM的整合与AFM/NSOM/micro-Raman的整合系统这样强大的成象结合，可以让用户拥有一个实验平台来完成多个材料表征应用。探针包括NSOM探针，micro-pipettes是检测热、电性能的，同时探针还可以提供气体和液体加样，这是Nanonics系列产品的特色功能，可以为提供用户在很小的范围内做原位反应等。NAONICS系统兼容可所有供应商提供的SPM探针。 Renishaw PLC Ltd是最主要的Raman微型光谱成像系统的供应商，第一次与Nanonics Imaging Ltd一起合作制造了Raman化学成像的扫描探针显微镜（SPM）。此发明获得2003年光子学循环的卓越奖，AFM和Raman的结合物既能运行AFM扫描也能做Raman扫描。Nanonics和Renishaw结合具有强大功能。现在，我们又将瑞典Smiths有限公司的在线红外测试仪和扫描电镜SEM与其结合在一起，使其拥有更强大的材料表征功能，同时客户可以得到更高性价比的仪器。技术参数：1、扫描范围: XY方向70um、Z方向5um，另外有10um扫描器选配 2、扫描步进：70um扫描器＜1nm，10um扫描器＜0.1nm 3、最大样品尺寸：15mm× 15mm 4、反馈机制：光束偏转 5、操作模式：接触式，非接触式，敲击式 6、探针类型：可使用Nanonics专利的玻璃探针、电学热学探针、Nanopen 等；同时也可使用通用的AFM探针 使用范围： 1、力-距离测量 2、液体样品成像 3、电学测量 4、微区热分析测量 5、热阻测量 6、与微拉曼光谱联用 7、纳米化学迁移及操控(Nano FountainPen) 8、深沟或边墙材料成像(Deep Trench and Sidewall Imaging)主要特点：1、是一款性价比很高的原子力显微镜，使用的灵活性很大 2、可使用Nanonics专利的多种玻璃探针，也可以使用常规硅原子力探针 3、独特的扫描器及探针设计确保原子力显微镜扫描与光学显微镜实时兼容 4、可升级与Renishaw激光微拉曼光谱联用 5、可升级近场光学显微镜(NSOM)功能 6、使用Labview软件包，留出一定的空间给用户编写特殊要求的软件模块

2015年Anasys发布了最新一代产品nanoIR2-s，在广受欢迎的第二代纳米红外光谱系统的基础上增加了散射近场光学成像和光谱功能（s-SNOM）。实现了同一平台兼具AFM-IR和s-SNOM两种技术。仪器的空间分辨率达到10nm，广泛用于各种聚合物、有机无机复合材料、生物样本、半导体、等离子体、纳米天线等。纳米红外&散射近场光学成像和光谱系统(nanoIR2-s)AFM-IR &s-SNOM l AFM-IR 消除分析化学研究人员的担忧--与FTIR光谱完全吻合，没有吸收峰的任何偏移l s-SNOM使用金属镀层AFM探针代替传统光纤探针来增强和散射样品纳米区域内的光辐射，空间分辨率由AFM针尖的曲率半径决定l 专利技术实现智能的光路优化调整，无需担心光路偏差拖延你的实验进度l 最准确的定性微区化学表征，得到美国国家标准局NIST, 橡树岭国家实验室等美国权威机构的认可l 简单易用的操作，被三十多位企业用户和近百位学术界所选择l 基于DI传承的多功能AFM实现纳米热学，力学，电学和磁学测量：l 纳米热分析模块（nanoTA, SThM）l 洛仑兹接触共振模块（LCR）l 导电原子力显微镜镜（CAFM）l 开尔文电势显微镜（KPFM）l 磁力显微镜（MFM）l 静电力显微镜（EFM）10纳米空间分辨率化学成像和光谱石墨烯等离子体 高分辨率成像 石墨烯表面等离子体的近场相位和振幅成像；优于10nm的光学成像PTFE的nano FTIR光谱显示相干分子振动时域图（上图）,和相应的近场光谱（下左图）。pNTP分子层的近场光谱（图下右）。

产品详情IRT-7200 多通道红外显微镜型号: IRT-7200 FT/IR-6800装置介绍IRT-7200搭载了16通道MCT检测器，通过与高速自动样品台的结合，与以往单元检测器的Mapping测定相比，所需的测定时间可缩短至以往的1/100。同时，为了对应多样化测量，准备了种类丰富的检测器。分步扫描（FT/IR-6000 选配）与IRT-7200的连用，可实现时间分辨成像功能。特点●高速扫描和高速样品台的组合，1秒可完成160个点光谱测定 ●阵列检测器和单元素MCT检测器同时搭载 ●标配x16, x32两种卡塞格林镜 ●标配可视化成像分析程序●观察型ATR可实现样品测定IRT-5200 红外显微镜型号: IRT-5200装置介绍微小范围的红外显微测定法，是产品研发、品质管理以及生物医学领域中，一种不可或缺的分析手段。IRT-5200搭载了智能mapping功能，即使使用手动样品台亦可进行mapping测定、多点测定以及ATR成像测定。特点●Smart mapping功能, 可进行mapping测定 ●搭载高分辨率CMOS相机和高亮度LED照明, 实现高清晰观察 ●智能观测功能, 可同时观测样品图像和红外光谱 ●解析程序可对应多种表示形式 ●观察型ATR可实现样品测定IRT-1000 红外显微镜型号: IRT-1000装置介绍IRT-1000是一款同时具备红外显微镜功能以及轻便外观的红外附件。适合微小微量样品的便捷测量。它通常设置与FT/IR主机样品仓内使用，与其他附件一样便于安装与拆卸。特点●设计精巧，不占空间 ●通过ATOS方式, 被光圈遮光的部分亦可同步观察 ●利用智能监控器可观察测定中的样品 ●观察型ATR可实现样品测定 ●标配专用PC软件, 可同时保存测定数据和显微画像