红外激光测量仪

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红外激光测量仪相关的厂商

  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 公司经销美国、德国、日本等国的进口仪器仪表,并全权代理日本测器株式会社在中国境内的产品制造、销售、修理、校正业务。  烟台日特测量仪器有限公司注册于2005年11月,母公司日本测器株式会社有着6000多家仪器、仪表等设备厂家商品的经销业绩,并和美国、德国、日本等国的1200多家仪器、仪表厂家签订有1级代理合同。在日本19个城市设立有分支机构。 公司经营产品简介:1.工业仪器(压力、温度、流量、液位等) 2.电气、电子测量仪器(示波器、光谱分析、万能表、电磁波、超声波等) 3.分析、环境、检查、校正仪器(PH计、水质、大气分析、粘度、硬度、导电率、厚度、浓度、粘度等)4.系统仪器(无损探伤设备,信息管理、温湿度、激光加工、电力监控系统等)5.海洋、气象、阀门等其它产品(水文观测、气象观测、电磁防爆阀门、船舶仪表等)6.成套设备(纯净水处理成套设备、污水处理成套设备、列车检测设备、海水淡化设备、无损探伤设备)主要代理厂家:长野计器(NAGANO)、千野(CHINO)、德图(TESTO)、KAWAKI、山本电机(MANOSTAR)、金子产业、爱模系统、工装(Denso)、 E+H 、日东精工、流体工业、东京流机、日置电机(HIOKI)、昭和机器计装、大阪FLOWMETER、佐藤计量器制作所、鹤贺电机、爱德万(advantest)、宇津木计器、鹤见精机、小野测器、能研、爱知时钟、新日电热工业、理化工业、武藏野机器、菊水电子、关西煤气meter、岛津制作所、管原研究所、兵田计器、A&D、日本电热计器、楠木化成、东和制电工业、金门制作所、NESSTECH、松岛机械研究所、仓本计器精工所、江州计器工业、昭和测器、理研电子、福禄克FLUKE、春日电机、高砂制作所、三和电气计器、安立计器、江藤电气、岩崎通信机、朝日计器、共立电气、冈野制作所、协立电子、TAZMO、东洋计器、横河M&C、东亚DKK、北川铁工所、能美防灾株式会社、山本光学、初田制作所、巴阀门(valve)、一濑、多摩川精机、涩川桑野、竹田特殊电线制作所等千余家公司产品。
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  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业,行业经验30年,市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年,同中国三坐标测量行业一起成长,经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验,依托科学严谨的管理体系,配备完善的生产手段和检测条件,测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发,根据国际市场发展趋势研发的各类新产品,始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作,为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
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红外激光测量仪相关的仪器

  • 长度激光测量仪 400-860-5168转6117
    中图仪器SJ5180系列长度激光测量仪采用高精度激光测量系统、精密研磨导轨、高精度温度环境补偿系统、双向恒测力系统、高性能计算机控制系统技术,能够检定精密量具、精密量规,如块规、环规、塞规、卡规、螺纹规、花键规、表类、尺类。还可以检测各种精密工件内外尺寸,如齿轮、花键、校对棒、非标量规等,具有通用性强的特点。产品应用SJ5180系列长度激光测量仪能实现各种长度参数的高精度测量,具有精度高、操作便携、稳定性强、功能齐全实用等优点。仪器主要功能1、标配功能:检测量块&块规:(0.1~1000mm);光滑环规:φ5~φ200mm(壁厚≤50 mm,高度≤50mm)、光滑塞规:φ1~φ220mm;螺纹环规:M5~M200(螺距0.8~4mm)螺纹塞规:M1~M220(螺距0.25~5.5mm);光滑卡规:内卡5~200mm,外卡1~300mm千分尺校对杆:25~1000mm;塞尺:0.02~1mm针规:φ0.1~φ10mm三针:0.118~6.585mm;两点内径千分尺:25~1000mm;2、可选配功能:小型光滑环规:φ0.8~φ5mm;螺纹环规:规格M3~M4(螺距0.5~0.7mm)、M200~M450(螺距4.5~6mm);光滑锥度环规:φ5~φ200mm(厚度≤50mm);光滑锥度塞规:φ5~φ60mm(长度10~100mm);φ60~φ200mm(长度≤50mm);螺纹锥度环规:M5~M200mm(厚度≤50mm);螺纹锥度塞规:M5~M60mm(长度10~100mm);M60~ M200mm(长度≤50mm);锯齿螺纹、梯形螺纹:M3~M450(螺距0.5~6mm);花键环塞规/花键及标准齿轮(跨棒距测量):内φ10~φ450mm,外φ5~φ450mm,模数0.8~6mm;外径千分尺示值误差手动校准:25~1000mm;数显及游标卡尺示值误差手动校准:75~1000mm;深度千分尺示值误差手动校准:0~25、25~50、50~75mm;三爪内径千分尺手动校准:φ6~φ200mm;表类(百分表、千分表、杠杆表手动校准);数显半径规手动校准:R5~R700mm;轴承内外圈锥度、沟槽底径内外径及沟槽宽度、精密零部件的长度尺寸,内外径尺寸测量;高精度、高稳定性1)高精度激光测量系统,线性测量精度达到0.5PPM,分辨力达到0.01μm,测量精度高;2)精密研磨导轨系统,导轨直线度高,导轨材料耐磨性好、保证系统高精度稳定可靠的工作;3)进口特殊材料制作的高刚性、无变形测杆,保证测试数据的真实采集;4)采用大理石基座,保证了在头座及五轴工作台的移动过程中不会产生变形以及仪器不受外界震动干扰,保证了仪器的稳定可靠;5)采用紧凑型摩擦驱动结构,保证了头座移动过程中的稳定性。高性能五轴工作台1)X,Y,Z三轴采用高性能交叉滚子导轨:摩擦力小,稳定性好,承载高; 2)Y轴平移、倾斜、水平旋转设计了高调节细度的结构,方便客户更好地找到三个轴的拐点; 3)Z轴可配置数显装置,用于螺距显示。高性能螺纹环规测量装置SJ5180系列长度激光测量仪配置高性能螺纹环规测量装置,可测量小螺纹环规,同时可完成小光滑环规检测;测量力为电子测力,由软件选择测力大小; 部分技术指标型号SJ5180-1000测量范围外尺寸直接:0~1020mm内尺寸比对:5~900mm测力0.1N、0.3N、0.5N、1~10N手动连续可调测量最大中径环规200mm 、塞规250mm五轴工作台型号ST-30.1(标配)Z轴0~50mmY轴±25mm负载50㎏台面尺寸350mm×125mm仪器重量180㎏仪器尺寸2000mm×400mm×450mm环境条件参考环境温度:(20±1)℃以内,温度变化不超过0.2℃/h。相对湿度控制在20%~60%。校准室内应无影响测量的灰尘、震动、噪音、气流、腐蚀性气体和较强磁场。校准实验室应符合精密仪器实验室振动等级标准,环境振动≤0.03mm/s;如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
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  • 中图仪器GTS空间姿态激光跟踪测量仪集激光干涉测距技术、光电检测技术、精密机械技术、计算机及控制技术、现代数值计算理论于一体,主要用于百米大尺度空间三维坐标的精密测量,能够解决大型、超大型工件和大型科学装置、工业母机等全域高精度空间坐标和空间姿态的测量问题。如在航空航天领域对飞机零部件及装配精度的测量;在机床行业中对机床平面度、直线度、圆柱度等的测量;在汽车制造中对车型的在线测量;在制造中对运动机器人位置的精确标定。此外,激光跟踪仪还可以广泛应用到造船、轨道交通、核电等先进制造各个领域。功能特点1、主机测量系统(1)集成化控制主机设计强大CPU处理能力、紧凑型的控制主机内置于激光跟踪头,主机集成化的设计大大减少设备连接线缆和携带箱体数量,方便现场快速安装。(2)目标球自动锁定技术目标锁定相机在断光时会在小范围内自动搜索到目标球,完成断光续接,自动锁定目标球,全过程不需人为操作,提高测量效率。(3)HiADM测距技术激光绝对测距(ADM)和激光干涉测距(IFM)融合技术(HiADM),将激光干涉测长的高动态速度与激光绝对测距功能相结合,保证测量精度,并实现挡光恢复。(4)一体化气象站一体化的环境气象站自动监视及更新环境气象参数,实时补偿温度、空气压力和湿度对激光在空气中空气折射率的影响,保证测量的准确性。(5)MultiComm通信设备与电脑之间可以通过硬件触发、有线网络或无线WIFI等多种方式数据通信,方便保密车间的现场使用,最高测量数据输出速度1000点/秒。(6)便携性运输集成化主机设计的激光跟踪头,集成式的配件运输箱,使得整个运输箱体系统体积小、重量轻,并且便于在不同的工作地点之间进行运输。(7)密封防护设计IP54防护等级,保证主机免受灰尘和其他污染物的进入,环境适用性强。(8)稳固三脚架GTS空间姿态激光跟踪测量仪稳定、便捷的三角架和底盘设计确保稳定的地面测量条件,灵巧升降机构设计省力操作,稳固的三角支撑系统避免环境震动带来的精度损失。2、iProbe 6D姿态探头(1)机器视觉和重力对齐的传感融合技术测量空间姿态。(2)可以测量孔、洞等内部特征、隐藏特征的几何结构。(3)双探头设计,对复杂特征测量时更加高效。(4)无线传输,简易随行。3、iTracker 6D姿态智能传感器(1)姿态传感器自动跟随锁定激光束,测量灵活性高。(2)俯仰角和偏航角不受光学回射器接收角度的限制。(3)简易接口连接,便于安装在机床或机器人上,重复性高、精度高。(4)专用波段激光束和滤光设计,对环境光不敏感。(5)采样速度200点/秒。4、EyeScan跟踪式激光扫描系统(1)动态追踪,无需贴点(2)测量范围广,支持大跨度转站(3)41条蓝色激光线,不惧黑亮(4)碳纤维材质,便携稳定(5)高采扫描速度1360000点每秒5、SpatialMaster空间测量软件SpatialMaster(简称SMT)是一款自主研发,专为大尺寸测量设备如激光跟踪仪配套使用,并且通过PTB认证的通用三维测量分析软件。SMT支持多个任意类型的仪器同时测量,测量数据可溯源的,具有强大的数据处理分析功能,支持生产制造过程中的几何尺寸公差(GD&T)评定,此外SMT具有优秀的用户交互性,方便灵活的分析报告功能。6、RobotMaster机器人检测校准套件基于GTS激光跟踪仪的RobotMaster机器人套件为工业机器人空间绝对位置精度测量标定和性能检测提供高效可行的解决方案,既提供基于光学靶球的经济方案,也提供基于6D姿态智能传感器的增强方案。GTS空间姿态激光跟踪测量仪是高精度、便携式的空间大尺寸坐标测量机,是同时具高精度(μm级)、大工作空间(百米级)的高性能光电测量仪器,已经发展出三自由度激光跟踪仪和六自由度激光跟踪仪家族系列,可以和多种形式的合作目标测头配合使用:1、GTS3000激光跟踪仪与光学回射靶球配合组成三自由度激光跟踪仪,能对大尺度空间内的点、线、面、曲面等几何特征进行精确测量;2、GTS6000激光跟踪仪与空间姿态探头配合组成六自由度激光跟踪仪,能够根据合作目标的精确空间姿态对被测工件的内部特征、隐藏特征或曲面等复杂特征进行快速、高精度的测量。
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  • “激光拉曼气体多组分测量仪”是青岛金谱晟科技有限公司面向微量气体检测推出的气体拉曼光谱仪,该产品基于拉曼光谱技术,可实现对多种气体同时检测,可探测的气体包括:甲烷、乙烷和丙烷等烷烃气体、氢气、氧气、氮气、二氧化碳、一氧化碳、硫化氢、氨气等,该仪器的优势在于多组分同时测量、高灵敏度、采集时间短(数秒)。在工业气体检测、环境监测和溶解气体检测中具有重要的应用价值和科研价值。激光拉曼气体多组分测量仪软件页面多次反射增强拉曼激发波长 532nm多组分同时探测检测限低测试时间短宽浓度范围
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红外激光测量仪相关的资讯

  • 莱赛激光拟挂牌新三板 主营激光测量仪器
    1月3日消息,莱赛激光科技股份有限公司(以下简称:莱赛激光)已于近日正式申请新三板挂牌,全国股转系统披露的挂牌资料显示,莱赛激光董事长陆建红、副董事长张敏俐2人,通过直接和间接合计占股72%,为莱赛激光共同实际控制人。  公告显示,莱赛激光2014年度、2015年度、2016年1-9月营业收入分别为1.11亿元、9961.31万元、8212.80万元 净利润分别为546.37万元、678.32万元、791.14万元。  资料显示,莱赛激光主要业务为激光测量仪器设备的研发、生产和销售,主要为客户提供激光测量的整体解决方案。
  • 美国TSI公司激光流体测量仪器培训及技术研讨会
    LDV/PDPA 、PIV及V3V原理、系统构成与典型应用LDV/PDPA 与PIV硬件安装、调试与维护LDV/PDPA 与PIV软件参数设置与使用实验(加湿器与磁力搅拌器涡流实验)激光流体测量技术在消防与发动机喷嘴,汽车外形,飞机机翼,搅拌槽桨片,大型水坝等机械设计与制造,和湍流、边界层等复杂流动的研究中具有越来越重要的作用。TSI公司是专业的流体测量仪器生产供应商。从1984年进入中国,目前已经成为中国市场占有率最高的流体测量仪器厂家。为了提高用户的应用水平,TSI公司特举办此次研讨会,将系统的介绍LDV/PDPA、PIV及V3V原理、构成及应用,还将进行硬件及软件的实际操作培训。 相位多普勒粒子分析仪(LDV/PDPA)是单点、非接触式、高精度与高响应频率的测量工具,利用流体中运动微粒散射光的多普勒频率与相位变化来获得流体一维至三维速度与微粒粒径信息。 粒子图像测速仪(PIV) 通过对比分析一定时间间隔连续拍摄的两张示踪粒子的图像,获得流场中一平面上两维或三维的速度场。 体三维速度场仪(V3V),将激光流场测量技术带入了一个全新的层面,能在真实的流体立方体积内测量完整的体三维速度场。 会议安排2011年6月21日上午:理论培训及讨论:原理及系统构成介绍、系统各部件介绍与典型应用下午:硬件操作培训:LDV/PDPA(激光器安装及激光准直、分光器与耦合器安装、发散接收探头光斑重合度检验及校正、粒径测量探头安装);PIV(激光器操作、相机操作与系统标定) 2011年6月22日上午:软件操作培训:LDV/PDPA(Flowsizer)、PIV(Insight3G)软件参数设置及基本操作下午:实验:加湿器喷雾及磁力搅拌器会议地点北京市蟹岛绿色生态农庄(蟹岛度假村)电话:010-84324910/12地点:北京市朝阳区蟹岛路1号(首都机场辅路中段南侧)签到时间:6月20日中午后交通:北京市内用户可乘641路公交车直达蟹岛度假村东门,或乘10号线地铁于三元桥倒641路到达;乘飞机到达的用户可从首都机场乘出租车直接前往机场辅路中段南侧蟹岛路1号的蟹岛度假村。
  • 滨松近红外绝对量子产率测量仪亮相2018先进材料研究国际研讨会
    2018先进材料研究国际研讨会于2018年8月2日至8月5日在中国上海市举行,此次会议由中国材料研究学会、北京理工大学、东华大学和应用物理化学国家重点实验室(陕西应用物理化学研究所)联合主办。研讨会旨在推动中外材料科学与技术科学的发展,扩大中外学者在科学研究层面的合作水平,同时为国内材料研究工作者和博士生提供有关综述和展望近年来新材料最新进展和科研成果的平台。会议现场滨松中国展台滨松近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS C13534亮相了本次会议。绝对法是一种快速而准确测定量子效率的方法,该方法具有低能源消费与高环境保护的特点,所以被广泛应用于先进材料研究。滨松近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS是采用绝对法测量光致发光材料量子产率(PLQY)的集成化全新产品,通过集成光源、分光系统、积分球以及探测器于一体,大大提高了空间利用率,产品的软件操作自动化,让用户可以简单、便捷地使用产品。其可以测量薄膜、粉末以及液体样品,包含样品的激发光谱、发射光谱、量子产率、色度参数、EEM谱。在前代产品的基础上,Quantaurus-QY PLUS C13534增加了可扩展近红外探测器通道以及可扩展外接光源的接口。可扩展的近红外通道可以将量子产率的测量范围扩展至300-1650nm,覆盖市面上发光材料量子效率测量需求波段。与普通双通道探测器不同,滨松的双通道探测器测量结果通过算法拟合,结合JCSS级别的校准技术,可以让双通道结果无缝接合,得到稳定结果。产品的外接光源扩展接口可外接激光器以及高能氙灯等光源,可以轻松测量低量子产率以及上转换发光的材料,满足客户对于低发光效率以及上转换材料的测量需求。滨松近红外绝对量子产率测量仪 Quantaurus-QY PLUS C13534产品涉及领域广泛,包括荧光粉、量子点、有机电致发光材料、金属有机框架材料、PV敏化染料电池片、荧光探针、钙钛矿材料、上转换材料、AIE材料等。凭借优秀的性能以及滨松高效优质的技术支持和产品服务,近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS在研讨会期间受到了与会专家学者的高度关注。

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  • 【资料】温度测量仪

    温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表,是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡,倒置在一个盛有葡萄酒的容器中,从其中抽出一部分空气,酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时,细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降,因而酒面的高低就可以表示温度的高低,实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年,德国的华伦海特于荷兰首次创立温标,随后他又经过多年的分度研究,到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计,即至今仍沿用的华氏温度计。1742年,瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计,它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年,瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来,这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年,就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理,制造温度计,到18世纪末,出现了双金属温度计;1802年,查理斯定律确立之后,气体温度计也随之得到改进和发展,其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年,德国的塞贝克发现热电效应;同年,英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律,这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年,德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前,人们在烧窑和冶锻时,通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载,1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化,来识别烧制陶瓷的温度,后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度,来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初,维思定律和普朗克定律出现以后,才真正得到实用。从60年代开始,由于红外技术和电子技术的发展,出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计),从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法,也就出现了各种温标,如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值,以达到国际通用的目的,国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表,统一用摄氏温标。后经数次改革,到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ,以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ,1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点,如氢三相点,即氢的固、液、气三态共存点(-259.34℃);水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等,作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34~630.74℃之间 ,用基准铂电阻;在630.74~1064.43℃之间,用基准铂铑-铂热电偶;在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中,这两部分是连成一体的,如水银温度计;在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分,中间用导线联接,如热电偶或热电阻是检测部分,而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式,温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时,其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表;非接触温度测量仪表在测量时,温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触,因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计,都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展,便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头,使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速,装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能,能显示一个被测表面的多处温度 ,或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外,现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表,如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表;采用热象扫描方式的热象仪,可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图, 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布,对于节能非常有益;另外还有利用激光,测量物体温度分布的温度测量仪器等。

  • 分享影像测量仪的性能特点

    影像测量仪应用在各个不同的精密产品的行业中,是院校、研究所和计量检定部门的计量室、试验室以及生产车间不可缺少的计量检测设备之一。  影像测量仪的性能:  1、影像测量仪具备基本的点、线、圆、两点距离、角度等基本测量功能及坐标平移的功能,能满足基本的二次元测量要求。  2、花岗石底座与立柱,机构稳定可靠  3、影像测量仪的X、Y轴装有光栅尺,定位精确。  4、Z轴采用交叉导轨加配重块的全新设计,镜头上下升降受力均衡,确保精度。  5、LED冷光源(表面光合轮廓光)避免工件受热变形。  6、激光定位指示器,精确制定当前测量位置,方便测量。  7、影像测量仪可以使用OVMLite软件。  8、影像测量仪的镜头:3DFAMILY-S型0.7X-4.5X连续变倍镜头,影像放大倍率:28X-180X。

红外激光测量仪相关的耗材

  • testo 835-T1 红外测量仪器
    testo 835-T1 红外测量仪器产品参数:红外传感器testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1光学分辨率50:150:150:1激光瞄准4点4点4点量程-30 ~ +600 °C-10 ~ +1500 °C-30 ~ +600 °C精度±1数位±2.5 °C (-30.0 ~ -20,1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0,1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程)±2.0 °C或 ±1%测量值±2.5 °C (-30.0 ~ -20.1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0.1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程 )分辨力0.1 °C0.1 °C (-10.0 ~ +999.9 °C )1 °C (+1000.0 ~ +1500.0 °C )0.1 °CK型热电偶testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1量程-50 ~ +600 °C-50 ~ +1000 °C-50 ~ +600 °C精度±1数位±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)分辨力0.1 °C0.1 °C0.1 °Ctesto湿度传感器量程0 ~ 100 % RH精度±1数位±2 %RH±0.5 °C分辨力0.1 °C0.1 %RH0.1 °Ctd仪器参数光谱范围8 ~ 14μm发射率0.10 ~ 1.00 (最小调整间隔0.01)发射率表可存储20个数值激光瞄准点开/关内存可存储200个数值报警(上限/下限)红外温度,热电偶温度报警信号声光报警操作温度-20 ~ +50 °C存储温度-30 ~ +50 °C材料/外壳ABS + PC尺寸193 x 166 x 63 mm重量514 g电池类型3节AA型电池(或USB供电)电池寿命25小时(一般25°C,不带激光和背光显示)10小时(一般25°C,不带背光显示)显示器点阵自动关闭背光:30 s仪器:120 s符合标准EN 61326-1:2006保修期1年,延长保修请登录http://www.testo.com.cn/warranty-extension_zh.htmltd style=testo 835-T1 红外测量仪器
  • testo 835-T2 红外高温测量仪器
    testo 835-T2 红外高温测量仪器产品参数:红外传感器testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1光学分辨率50:150:150:1激光瞄准4点4点4点量程-30 ~ +600 °C-10 ~ +1500 °C-30 ~ +600 °C精度±1数位±2.5 °C (-30.0 ~ -20,1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0,1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程)±2.0 °C或 ±1%测量值±2.5 °C (-30.0 ~ -20.1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0.1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程 )分辨力0.1 °C0.1 °C (-10.0 ~ +999.9 °C )1 °C (+1000.0 ~ +1500.0 °C )0.1 °CK型热电偶testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1量程-50 ~ +600 °C-50 ~ +1000 °C-50 ~ +600 °C精度±1数位±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)分辨力0.1 °C0.1 °C0.1 °Ctesto湿度传感器量程0 ~ 100 % RH精度±1数位±2 %RH±0.5 °C分辨力0.1 °C0.1 %RH0.1 °Ctd仪器参数光谱范围8 ~ 14μm发射率0.10 ~ 1.00 (最小调整间隔0.01)发射率表可存储20个数值激光瞄准点开/关内存可存储200个数值报警(上限/下限)红外温度,热电偶温度报警信号声光报警操作温度-20 ~ +50 °C存储温度-30 ~ +50 °C材料/外壳ABS + PC尺寸193 x 166 x 63 mm重量514 g电池类型3节AA型电池(或USB供电)电池寿命25小时(一般25°C,不带激光和背光显示)10小时(一般25°C,不带背光显示)显示器点阵自动关闭背光:30 s仪器:120 s符合标准EN 61326-1:2006保修期1年,延长保修请登录http://www.testo.com.cn/warranty-extension_zh.htmltesto 835-T2 红外高温测量仪器
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
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