红外高度测量仪

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红外高度测量仪相关的厂商

  • 东莞忠仪测量仪器有限公司
    东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售，技术培训，信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务，自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来，公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师，能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下：1.日本东京光电子（TOE）激光镭射测径仪。2.日本尼康（Nikon）工业测量仪器：投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计，3.日本三丰(Mitutoyo)系列：三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列：表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密（ACCRETECH）表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠（Rational）万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业，我们不但為客户提供优质的仪器设备，还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 东莞市正盛测量仪器有限公司
    东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件，机床设备及配件，电子产品及配件，仪器耗材等产品，致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询，力求成为客户可信赖的伙伴。
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  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司
    昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业，行业经验30年，市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年，同中国三坐标测量行业一起成长，经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验，依托科学严谨的管理体系，配备完善的生产手段和检测条件，测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发，根据国际市场发展趋势研发的各类新产品，始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作，为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
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红外高度测量仪相关的仪器

  • 安全帽垂直间距、佩戴高度测量仪
    安全帽垂直间距、佩戴高度测量仪一、主要用途安全帽垂直间距、佩戴高度测量仪是根据安全帽GB/T2812-2006、GB2811-2019生产，主要用于测试安全帽的垂直间距和佩戴高度。广泛应用于特种劳动防护用品监督检验站、建筑科学研究院、建筑工程质量检测站、电力部门以及安全帽生产企业。 二、主要特征1、头模采用插口式，无需再更换数显尺，方便快捷的更换头模。2、人性化横显尺设计，观察无盲区，提高了测试的方便性和舒适度，解决了竖式数显结构操作人员歪头观察的弊端。3、配置专用测试仪1#和2#头模各一个。 三、安全帽垂直间距、佩戴高度测量仪主要指标1、标尺刻度准确度：0.1mm。2、佩戴高度分辨率：0.01mm。3、配带高度分辨率：0.01mm。 四、适用标准GB/T 2812－2006《安全帽测试方法》GB 2811－2019
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    厂商： 北京路达伟业科技有限公司
    品牌： Anasys
    型号： LDPG103
    价格： 1800元
  • 鸡蛋蛋白高度重量测量仪 400-860-5168转4446
    鸡蛋蛋白高度重量测量仪QCD-Medium从设计、性能、稳定性、耐用性以及安全性都是非常棒的，从设计、性能、稳定性、耐用性以及安全性都是非常棒的，应用理念也非常的简单易学，不需要经过任何的培训就能够熟练的操，方便、快捷、实用，可以直接连接电脑储存数据，安装非常的简单，只需几步就可以完成。产品特点：1、手持充电款，适合市场的需求和应用；2、技术成熟，设施完善，可在任何环境下使用；3、内置储存器，可自动分类储存测量数据；4、测定数据响应速度快，不需要等等就能查看结果；5、设备技术比较成熟稳定，安装性做的也比较到位。鸡蛋蛋白高度重量测量仪QCD-Medium能够节约不少的时间，使用特别的方便，外观设计小巧，轻便容易携带，使用也比较顺手，操作也比较简单易懂，可为设备配备计算机和打印机同事采用一键校准和一键测定的功能。技术参数：1、功率：220V±15％；2、测量温度：0-55度；3、误差率：±1mm；4、电源要求：110-220V；5、储存测量数据：1000条。鸡蛋蛋白高度重量测量仪QCD-Medium采用的是一键测定操作模式，省略了复杂的操作步骤，可与计算机和打印机进行串口连接进行对设备的操作，实现全自动操作模式，告别传统复杂的操作模式，在基础上增加了和电脑进行连接进行数据的分析非常的方便实用，一键校准模式，可以在短时间内完成校准任务，方便实用。
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    厂商： 北京布拉德科技发展有限公司
    品牌： 布拉德/Bulader
    型号： QCD-Medium
    价格： 面议
  • 鸡蛋蛋白高度测量仪 400-860-5168转4446
    鸡蛋蛋白高度测量仪QCD-Starter测量方法简单，性能稳定，双通道，测量性能更稳定，只需要几秒就能够完成测量，技术成熟，设施完善，可在任何环境下使用，设计非常的小巧简单大方，技术成熟设备完善，性能稳定可靠，在操作方面属于易操作型，各项指标符合要求，采用的是德国测量技术，测量时无需连接其他的设备。产品特点：1、手持方便，使用简单，性能稳定可靠；2、操作简单，安装特别的方便快捷；3、内置自动储存器可储存1000条测量信息；4、标准化的测定数据，能够在几秒内测出所需数据；5、采用的是一键测量模式和多功能调节功能；6、整机全不锈钢组成，清洗非常的方便；7、操作非常简单，性能比较稳定；8、内置储存器，可自动分类储存测量数据；9、设备的性能比较稳定可靠，测量速度快。基础参数：1、使用温度：0-40度；2、电源要求：110-220V；3、储存测量数据：1000条；4、电源要求：110-220V；5、测量温度：0-40度；6、功率：220V±10％。鸡蛋蛋白高度测量仪QCD-Starter开机后即可使用，无需预热，也无需连接其他设备，技术性能稳定可靠，可以满足外出携带的需求，可以在任何环境下进行操作，无需连接其他设备，只需在电脑上进行操作即可，操作流程非常的简单，各项的设施也不够完善，现在的电子技术含量相当的成熟。
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    厂商： 北京布拉德科技发展有限公司
    品牌： 布拉德/Bulader
    型号： QCD-Starter
    价格： 面议
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  • 滨松近红外绝对量子产率测量仪亮相2018先进材料研究国际研讨会
    2018先进材料研究国际研讨会于2018年8月2日至8月5日在中国上海市举行，此次会议由中国材料研究学会、北京理工大学、东华大学和应用物理化学国家重点实验室（陕西应用物理化学研究所）联合主办。研讨会旨在推动中外材料科学与技术科学的发展，扩大中外学者在科学研究层面的合作水平，同时为国内材料研究工作者和博士生提供有关综述和展望近年来新材料最新进展和科研成果的平台。会议现场滨松中国展台滨松近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS C13534亮相了本次会议。绝对法是一种快速而准确测定量子效率的方法，该方法具有低能源消费与高环境保护的特点，所以被广泛应用于先进材料研究。滨松近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS是采用绝对法测量光致发光材料量子产率（PLQY）的集成化全新产品，通过集成光源、分光系统、积分球以及探测器于一体，大大提高了空间利用率，产品的软件操作自动化，让用户可以简单、便捷地使用产品。其可以测量薄膜、粉末以及液体样品，包含样品的激发光谱、发射光谱、量子产率、色度参数、EEM谱。在前代产品的基础上，Quantaurus-QY PLUS C13534增加了可扩展近红外探测器通道以及可扩展外接光源的接口。可扩展的近红外通道可以将量子产率的测量范围扩展至300-1650nm，覆盖市面上发光材料量子效率测量需求波段。与普通双通道探测器不同，滨松的双通道探测器测量结果通过算法拟合，结合JCSS级别的校准技术，可以让双通道结果无缝接合，得到稳定结果。产品的外接光源扩展接口可外接激光器以及高能氙灯等光源，可以轻松测量低量子产率以及上转换发光的材料，满足客户对于低发光效率以及上转换材料的测量需求。滨松近红外绝对量子产率测量仪 Quantaurus-QY PLUS C13534产品涉及领域广泛，包括荧光粉、量子点、有机电致发光材料、金属有机框架材料、PV敏化染料电池片、荧光探针、钙钛矿材料、上转换材料、AIE材料等。凭借优秀的性能以及滨松高效优质的技术支持和产品服务，近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS在研讨会期间受到了与会专家学者的高度关注。
    时间： 2018-08-06
    作者： 滨松中国
  • 700万！宁波海洋研究院采购红外折射率测量仪及中波红外干涉仪项目
    一、采购项目名称：宁波海洋研究院采购红外折射率测量仪及中波红外干涉仪项目二、项目编号：CBNB-20221203三、公告期限：2022年5月31日至2022年6月8日止四、采购组织类型：分散采购委托代理五、采购方式：公开招标六、招标项目概况（货物名称、数量、简要技术要求、采购预算/最高限价）：品目号货物名称数量简要规格描述采购预算/最高限价一红外折射率测量仪1台用于测量光学材料的折射率特性，具体详见招标文件450万元二中波红外干涉仪1台用于红外玻璃均匀性检测，球面、非球面以及自由曲面等面型透镜加工精度检测，具体详见招标文件250万元
    时间： 2022-06-01
    作者： dahua1981
  • 我国首台红外天光背景测量仪研制成功
    p style="text-align: justify margin-top: 10px margin-bottom: 10px line-height: 1.5em "　　中国科学技术大学近代物理系“strong核探测与核电子学国家重点实验室/strong”王坚课题组经过两年的攻关，攻克了红外观测微弱信号检测、高增益灵敏放大、暗流及背景噪声抑制、高真空低温封装、高精度数字锁相放大等关键技术，成功地研制出红外光谱扫描的天光背景测量装置。相关成果日前发表在该领域知名期刊《JATIS》上，同时申请专利并获得授权。/pp style="text-align: center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 600px height: 421px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/82433bdd-6501-47fa-8e9e-ee8c6e7f3efe.jpg" title="1 红外观测是天文研究的重要手段.jpeg" alt="1 红外观测是天文研究的重要手段.jpeg" width="600" vspace="0" height="421" border="0"//pp style="text-align: justify margin-top: 10px margin-bottom: 10px line-height: 1.5em "　　红外观测是天文研究的重要手段。长久以来，受限于优良台址和探测器的缺乏，我国红外天文研究发展严重落后。随着我国天文研究领域的不断扩展，中国天文界拥有红外天文观测能力的愿望也更加迫切。近期我国多项大型光学红外天文观测设备项目获得天文界支持，为了保证这些大型设备建设成功后，能顺利高效地开展红外观测仪器的研制和红外天文观测研究，必须对相关候选站址进行红外天光背景的测量。在红外波段的天光背景辐射强度很大程度上限制着红外望远镜及其他观测设备的一些重要性能，如巡天深度、能够观测的极限星等、天文成像系统曝光时间等。/pp style="text-align: center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 541px height: 532px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/d935f67b-0331-4759-bfe2-2e035a2324b3.jpg" title="2 红外观测是天文研究的重要手段.jpeg" alt="2 红外观测是天文研究的重要手段.jpeg" width="541" vspace="0" height="532" border="0"//pp style="text-align: justify margin-top: 10px margin-bottom: 10px line-height: 1.5em "　　2.5—5微米是热红外波段的开始，是地面观测的重要窗口所在区域。由于天光背景强度极其微弱，探测器输出信号低于nA量级，研究团队采用锁相放大技术成功提取出淹没在噪声中的信号；为了降低探测器暗电流的影响，探测器制冷到-150℃以下 为了克服由于仪器带来的背景热噪声，进行了适应低温的斩波器和光学设计。为了克服地面大气的吸收效应，地基红外望远镜只能从若干大气窗口进行观测。研究团队根据探测器在2.5—5微米波段上高响应的性能，利用线性可变滤波片在此波段线性可变的特点，研制出了此波段上连续扫描观测的红外天光背景测量仪。/p
    时间： 2020-08-24
    作者： 筱婕
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  • 目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？

    随着中国市场的科技技术日新月异，制造业对产品的精度要求越来越高，人为测量已无法满足客户要求，大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢？目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

  • 各种光谱测量仪要如何区别

    目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

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红外高度测量仪相关的耗材

  • 在线水分测量仪配件
    在线水分测量仪配件是德国高灵敏度水分测定仪，它采用德国高灵敏度光学水分传感器，非常适合测量粉末，颗粒，浆料,糊状物，膏剂等多种材料在内的多种样品的水分含量。在线水分测量仪配件特色直接测量样品，测量速度快，测量精度高，测量可靠性强，全面超越目前现存的NIR光谱或微波传感水分含量传感器产品，具有德国专利的光学水分传感器清洗技术，完全清洁光学传感器探头，解决了直接测量的光学传感器污染难题。在线水分测量仪配件特点直接深入样品非接触式光学测量LED显示技术确保长寿命高精度光学探头在线测量德国全固态设计结构，超级耐用无需耗材，使用成本低无需样品准备，直接测量，节省时间无需售后服务在线水分测量仪配件参数测量原理：近红外反射测量范围：0-90%水分含量测量精度：+/-0.1%测量时间：2秒测量距离：10-300mm 或者侵入式测量测量点尺寸：高达10cm光源：红外LED光源收集器：光电二极管工作温度要求：5-45摄氏度工作电力要求：24VDC， 0.2A，信号输出：0...10V或4...20mA外壳材料：IP65外形尺寸：300x200x160mm重量：2.8kg
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
    价格： 面议
  • testo 835-T1 红外测量仪器
    testo 835-T1 红外测量仪器产品参数：红外传感器testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1光学分辨率50:150:150:1激光瞄准4点4点4点量程-30 ~ +600 °C-10 ~ +1500 °C-30 ~ +600 °C精度±1数位±2.5 °C (-30.0 ~ -20,1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0,1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程)±2.0 °C或 ±1%测量值±2.5 °C (-30.0 ~ -20.1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0.1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程 )分辨力0.1 °C0.1 °C (-10.0 ~ +999.9 °C )1 °C (+1000.0 ~ +1500.0 °C )0.1 °CK型热电偶testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1量程-50 ~ +600 °C-50 ~ +1000 °C-50 ~ +600 °C精度±1数位±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)分辨力0.1 °C0.1 °C0.1 °Ctesto湿度传感器 量程0 ~ 100 % RH精度±1数位±2 %RH±0.5 °C分辨力0.1 °C0.1 %RH0.1 °Ctd仪器参数 光谱范围8 ~ 14μm发射率0.10 ~ 1.00 (最小调整间隔0.01)发射率表可存储20个数值激光瞄准点 开/关内存可存储200个数值报警(上限/下限)红外温度，热电偶温度报警信号声光报警操作温度-20 ~ +50 °C存储温度-30 ~ +50 °C材料/外壳ABS + PC尺寸193 x 166 x 63 mm重量514 g电池类型3节AA型电池(或USB供电)电池寿命25小时(一般25°C，不带激光和背光显示)10小时(一般25°C，不带背光显示)显示器点阵自动关闭背光：30 s仪器：120 s符合标准EN 61326-1:2006保修期1年，延长保修请登录http://www.testo.com.cn/warranty-extension_zh.htmltd style=testo 835-T1 红外测量仪器
    供应商： 北京宏昌信科技有限公司
    品牌： 德图
    价格： ¥1
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
    价格： 面议
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