红外反射率检测

● SPECTRAFIRE 解决了远红外测试时使用积分球造成 的能量损耗问题。● SPECTRAFIRE可以测试毛玻璃、半透明聚合物薄膜 等非透明样品● SPECTRAFIRE可以容易的安装到客户现有的Thermo Nicolet FTIR 红外光谱仪上 SPECTRAFIRE 是一个远红外反射率测试附件，可装配到 Thermo-Nicolet 的FTIR 光谱仪上，使用傅里叶变 换的方法进 行光谱半球反射率测试，其中使用了AZ 公司专利 的 ellipsoidal Collection半球能量收集技术，避免了传统的积分球技术对能 量的吸收损耗问题。仪器可从1.67um 到40um的范围内扫描测 试近法向半球反射率。所有的空间都可以被清除以最小化由于水和CO2造成的信号损失。法向发射率根据测试的光谱反射率数据和黑体曲线进行计算。SPECTRAFIRE 有2种测试模式，绝对测量模式和相对测量 （差分式）模式。在绝对测量模式中，近法向如射，半球反射率通过与配有校正臂的内置探测器直接测到。在这种情况下，无需校正。在相对测量（差分式）模式下，内置校正臂不起作用，而是提供一个参考样品进行背景扣除，然后测试样品。此外，该系统通过特殊标定的参考根据样品的光谱，来得到不透明样品的总半球发射率。使用Spectrafiar计算发射率并不需要知道光源的光谱，也不一定需要限定光源的色温在300K. SPECTRAFIRE 还可以用于正确的测量300K以外的发射率和非灰体的 发射率。准直的红外光束从Nicolet红外光谱仪进入到SPECTRAFIRE左边的入口处。通过一个离轴抛物面镜将该光束汇聚到样品上。样品口在系统的顶部，样品置于专利的收集器的顶部。入射光经样品反射并被收集汇聚到探测器上。探测器的信号由FTIR光谱仪进行处理。.在收集器里还内置一个光束偏离装置，用于绝对测量时的背景扣除。该偏离装置的反射率完全匹配收集器的反射率 。仪器里面的所有光学元件都镀了非保护性金膜，以获得在测试光谱范围内的最大反射率。Spectral resolution0.5 to 32/cmSpectral range2.5 to 40 microns (4000 to 250 cm -1 wave number)Sample size and geometry&ge 0.33 inches (8.3 mm) diameterDimensions: FTIR with SPECTRAFIRE attached.-Footprint: 33 x 25 inches-Height: 13.5" at the SPECTRAFIRE sample portElectrical requirement for Nicolet120 VAC, 60 HzWarranty1 year parts and labor*Note: terms reflectance, emittance and absorptance and terms reflectivity, emissivity and absorptivity are often used interchangeably. Spectroreflectometer, spectro-reflectometer and spectral reflectometer are also used interchangeably.

优秀的可见光透射率/反射率测量系统集成的可见光光谱分析仪集成的氙灯，或者卤钨灯，作为光源内置探头可以实现纺织品颜色检测纺织品透过率检测眼镜透过率检测半导体膜厚检测LED灯泡检测等应用举例一：布料反射率测量案例测试系统搭建如上图测试要求，计算近红外区域780-880nm的反射率和可见光区域610-710nm的反射率之比1. 左边是卤钨灯350-2500nm光源，光源由德国进口的灯泡2. 中间是反射式积分球，3. 右侧是采用日本进口滨松探测器的光谱仪器 SPM3-350-1050，波长范围350-1050nm，分辨率最小0.6nm，美国产进口600线光栅4. 搭配电脑，数据通过USB采集测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置1000ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率应用举例二：高分子材料/纳米材料相对石英的反射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（下面一条曲线），350-1000nm范围反射率72%， 样品2（上面一条曲线），350-1000nm范围反射率 82%，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率测试二过程，相对于黑板1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置黑板，采集参比光谱3. 移除黑板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（上面一条曲线），350-1000nm范围相对于黑板的反射率， 样品2（下面一条曲线）相对于黑板的反射率，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的是被测物相对黑板的反射率应用举例三：薄膜材料的透射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物薄膜的光谱

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域n 航空工业 n 天文望远镜检查n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制仪器特点n 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射n NIST标准n 快速、便携n PDA触摸屏操作，内置SD卡n 计算半球反射比技术参数410-Solar 便携式太阳能反射率仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法20°入射角的积分总反射比输出参数总反射，漫反射，和20°角的镜面反射波段7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm入射角20°法线入射角样品表面：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面BEAM SPOT SIZE0.250”直径，20°入射角BEAM ANGLE3°半锥角测量时间10秒/次；90秒预热VIS-NIR源钨灯测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪，可在3-35微米范围内测试半球反射率测试（总半球反射率），提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250～2500纳米，主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um（并不限定于过滤器，窗等）测量精度（镜面反射和漫样品）-灰色样本满量程的± 1％- ± 3％满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5％或更好样品类型任何样品，包括金属箔，绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面：&ge 0.4英寸（1厘米）直径- 凹面： &ge 6.5英寸（16.5厘米）直径-凸面：&ge 1英寸（2.5厘米）直径 样品温度房间温度，环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率（300K）-半球发射率（300K）读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围（反射率）0.00～1.00尺寸光学头：直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位：4.5× 7.75× 7英寸便携包：12.5× 17× 11英寸重量光学头：5磅，控制和显示单元：4磅，携带箱：11磅保1年部件和人工

410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围：从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制仪器特点 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射 NIST标准 快速、便携 PDA触摸屏操作，内置SD卡 计算半球反射比技术参数410-Solar 便携式太阳能反射率仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法20°入射角的积分总反射比输出参数总反射，漫反射，和20°角的镜面反射波段7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm入射角20°法线入射角样品表面：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面BEAM SPOT SIZE0.250”直径，20°入射角BEAM ANGLE3°半锥角测量时间10秒/次；90秒预热VIS-NIR源钨灯测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）Apollo(阿波罗）是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器，被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户：英国国家美术馆，荷兰国立博物馆，美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画，唐卡作品，图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像，Apollo（阿波罗）是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

SOC410DHR 是一款高精度手持式DHR反射率测量仪，可进行现场测量，提供高精度、高质量测量数据，并可以更换多个测量头进行测量。410DHR 具有内置PDA和触摸屏，并由显示屏上的软件按键来控制测量；可测量6个光谱范围的材料光学常数，进行测量时，进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。技术参数410DHR 便携式定向半球反射率仪测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法总反射比输出参数绝对反射比波段6个波段：0.9-1.1、1.9-2.4、3.0-4.0、3.0-5.0、4.0-5.0、8.0-12.0μm入射角20°和60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源Kanthal合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

SOC410DHR 是一款高精度手持式DHR反射率测量仪，可进行现场测量，提供高精度、高质量测量数据，并可以更换多个测量头进行测量。410DHR 具有内置PDA和触摸屏，并由显示屏上的软件按键来控制测量；可测量6个光谱范围的材料光学常数，进行测量时，进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。仪器性能n 基于修正的积分球方法（与NRL和NIST合作）n 采用6个探测器测量0.9~12μm范围内6个波段的反射率n 20°和60°入射角测量反射率n 每个测量周期记录12个数据点n 便携，测量准确，软件操作方便主要特点n 光谱范围覆盖NIR-SWIR-MWIR-LWIRn 响应快速，测量准确n 高精度，测量头可更换n 电池操作，简单方便n 触摸屏可野外现场测量n 可同时提供十种设备运行信息n NIST校准技术参数410DHR 便携式定向半球反射率仪测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法总反射比输出参数绝对反射比波段6个波段：0.9-1.1、1.9-2.4、3.0-4.0、3.0-5.0、4.0-5.0、8.0-12.0μm入射角20°和60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源Kanthal合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

410 - Vis 便携式可见/近红外反射计Field Portable Hand-Held Reflectometers and Emissometers 410-Vis测量400 &ndash 1100 nm波谱范围内4个波段的总反射率。可输出20度入射角的总反射、散射反射和镜面反射数据。一次测量循环可以输出12个数据点。测量操作简单，只需扣动仪器扳机即可，数据记录并可以图表或数字形式显示在显示屏上。是一款真正便携、电池操作、内置PDA的反射计。 特点：测量400 &ndash 1100 nm范围4个波段的反射率测量总反射、漫反射和镜面反射电池操作、完全便携测量大目标反射率无须仪器调准可野外工作测量绝对反射率值

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）是采用红外反射成像技术扫描系统，被广泛用于材料鉴定分析，也适用于油画，壁画，唐卡等艺术品修复及研究，文物保护，考古发掘研究。我们的用户：斯坦福大学，剑桥大学，牛津大学，伦敦苏富比拍卖行，伦敦大学学院，大英博物馆，英国国家美术馆，荷兰国立博物馆（Rijksmuseum），美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆，洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆，挪威国家博物馆，梵高美术馆，德国汉堡美术馆，纽约大学美术学院，法国Arcanes，等等Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射扫描成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部机械微动扫描光学机构和红外面阵列传感器，在900-1700um的红外光谱波段，生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。 Apollo红外反射成像仪的扫描系统可以用于研究艺术作品的各个方面。不仅可以研究作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以实现多个光谱波段下的图像采集分析，高达65000级灰度图像，可以轻松区分不同物质和材料。如果您想采集到用于细节分析，目标识别鉴定等应用高对比度和高分辨率的红外反射图像，Apollo（阿波罗）是适合您的红外反射扫描成像系统Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-25分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

410Vis-IR可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点n在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率n半球热辐射的预测n测量太阳能吸收/反射n在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量n可测量光谱范围：从可见到中远红外nNIST可溯源标准n快速和便携式使用nPDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域n航空工业n天文望远镜检查n涂层领域n太阳能领域优化太阳能利用性能n节能建筑n光学材料质量控制技术参数410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量，有Spectraflect® 和Infragold® 涂层可供选择。Spectraflect® 在300-2400nm范围具有高反射率；Infragold® 在波长为 0.7um-20um范围内效果最好。RT积分球有5个1英寸开口可容纳样品和9°反射光束的结构；在球的顶部有一个0.5英寸探测器口；镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率；探测器端口在底部；RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构，RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集大角度散射，挡板采用最小化的设计，允许探测器最大限度地看到球内壁表面。探测口位于球的顶部和底部，并使用挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。产品特性：1.独特的设计满足了客户多样化的需求2.业界高度认可的反射率测量结构设计应用领域：1.材料反射率和透射率2.不透明物体的反射率3.混浊样品的透过率4.颜色特性5.反射系统设计6.红外反射7.反射率与角度的关系适用于固体、浑浊液体、粉末和薄膜不透明样品反射率等太阳能等材料发射率透过率测量漫反射率测量漫透射率测量半球反射率测量散射光测量吸收测量测量光谱反射率光谱透过率透过色特性测定反射系统设计红外反射率反射率随角度变化不同规格尺寸的积分球? 1、最小到2英寸，最大到76英寸或更大? 2、各种内部反射涂层的积分球? 3、Spectraflect（经济实用型）? 4、Duraflect（防水、防潮、耐腐蚀型）? 5、Spectralon（高反射率、宽光谱范围，）? 6、Infragold（近红外/中红外波段适用）

反射率/透射率积分球 最适宜测量内容： 材料反射率和透射率 不透明物体的反射率 混浊样品的透过率 颜色特性 反射系统设计 红外反射 反射率与角度的关系 Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量。可提供两种积分球涂层：Spectraflect，在300-2400nm防范围具有高反射率；Infragold，设计工作在0.7um-20um。 RT积分球有5个1inch开口可容纳样品和9° 反射光束的结构。在球的顶部有一个0.5inch探测器口。镜面光束光阱用于去除镜面反射束的方法。RTC积分球则在积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率。探测器端口在底部。 RT积分球可以测量镜面反射9° /h结构和排除镜面反射9° /d结构。RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。 积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，阻挡效应可以最小化，允许探测器最大限度地看到球表面。探测口位于球的顶部和底部，并被挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。 RT--060-SF和RT-060-IG反射率透射率积分球 Labsphere 的 RT-060-XX 积分球具有五个1英寸直径的口来容纳样品和9° 双光束结构中参考光束，同样包括用于9° 单光束结构测量中的端口盖。与积分球一起的两个1英寸样品架用于安装样品和放射率透射率标准板。积分球顶部具有0.5英寸的探测口，探测罩限制探测视场范围。还包括一镜面光阱去除镜面反射光束。 积分球适合于镜面测量，包括非镜面反射测量，前散射和背散射测量，以及混浊或散射样品的透射率的测量。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，阻挡效应可以最小化，允许有效的积分。为了保证高积分球效率，总开口面积应小于积分球表面积的5%。每个积分球拥有一个支架配件，由支杆底座和1/4-20支架组成，这样积分球的高度可以方便调节。 RTc-060-SF 和 RTc-060-IG 具有中心支架的反射率透射率积分球 增加了中心样品架，Labsphere RTc-060-XX 用户能够测量反射率与辐射入射角度的关系，一些情况下，还能测透射率与辐射入射角度的关系。 RTC-060-IG 积分球具有5个开口来容纳样品和参考光束:三个1英寸直径的口，两个1.25英寸直径的口。中心样品台安装在积分球的顶部，0.5英寸探测口在积分球底部。探测罩限制探测视场范围。RTC 系列积分球配件包括四个样品架:一个中心样品架，两个1.25英寸直径样品架和一个1英寸用于进一步灵活备用。中心样品架允许各种样品反射率与入射角度变化的测量。积分球包括颚式中心样品架，同时夹式和槽式中心样品架可供选择。颚式可以夹住1英寸*2英寸，最厚达0.38英寸的样品。夹式中心样品架设计用于薄膜或硬度不能承受颚式样品架的样品。夹式中心样品架可以夹住样品尺寸最大为1.50&rdquo x 2&rdquo x 0.125&rdquo 的样品。槽式样品架为12.5平方毫米容器，可以承装液体和粉末，用于测试吸收和散射特性。 系统指标 型号RT-060-SFRT-060-IGRTC-060-SFRTC-060-IG积分球直径6 inches6 inches6 inches6 inches积分球涂料SpectraflectInfragoldSpectraflectInfragold® 光谱范围250 - 2500 nm0.7 &mu m - 20 &mu m250 - 2500 nm0.7 &mu m - 20 &mu m探测口直径0.5 inch0.5 inch0.5 inch0.5 inch样品和参考口FiveFiveFiveFive样品和参考口直径(数量)1 inch (5)1 inch (5)1 inch (3)1.25 inch (2)1 inch (3)1.25 inch (2)积分球支架1/4 - 20 凸台,安装支杆和底座1/4 - 20 凸台,安装支杆和底座可调 H 型支架结构可调 H 型支架结构预定编号AS-02484-100AS-02485-100AS-02484-000AS-02485-000 可选配件 KI-120, Kohler Illuminator套件 AS-02509-100 反射率可选择的标准反射板 个人选择 SC 6000 辐射度计/光度计 系统控制 AS-02702-000 Labsphere 探测器配件 个人选择 CSMH-RTC-CLIP-SF, 夹式中心样品架 AS-02759-000 CSMH-RTC-CUV-SF, 槽式中心样品架 AS-02728-000 PA-100-74S, 连接积分球与OOI 74系列的准直镜头适配器 AS-02764-000

Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量，Spectraflect和Infragold涂层可供选择。Spectraflect在300-2400nm范围具有高反射率；Infragold适用于 0.7um-20um范围。RT积分球有5个1英寸开口可容纳样品和9°反射光束的结构；在球的顶部有一个0.5英寸探测器口；镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率；探测器端口在底部；RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构，RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，挡板采用最小化的设计，允许探测器大限度地看到球内壁表面。探测口位于球的顶部和底部，并使用挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。 应用领域：材料反射率和透射率不透明物体的反射率混浊样品的透过率 颜色特性反射系统设计红外反射反射率与角度的关系 不同用途的积分球1、通用型积分球2、反射透射率测量积分球3、光测量积分球4、均匀光源积分球不同规格尺寸的积分球1、积分球尺寸2英寸-76英寸或更大2、各种内部反射涂层的积分球3、Spectraflect（经济实用型）4、Duraflect（防水、防潮、耐腐蚀型）5、Spectralon（高反射率、宽光谱范围）6、Infragold（近红外/中红外波段适用）

反射/透射率积分球应用领域：材料的反射率/透射率测量不透明物体的反射率测试 浑浊样品的透射率测试颜色属性测试反射系统设计红外反射反射率与角度的关系 Labsphere的反射/透射率积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量。积分球内部涂料有两种选择：Spectraflect涂料，在300 – 2400 nm波长范围内效果较好；Infragold涂料适用于波长0.7 - 20 μm范围。 RT积分球有5个1英寸开口，可容纳样品和9°反射光束，在球的顶部有一个0.5英寸探测器口，镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。 RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率。积分球有5个开口可调节样品，顶部的中心安装平台装有参考光束，积分球底部有一个0.5英寸的探测器端口。 RT积分球和RTC积分球均能做任何几何角度测量。RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构和排出镜面反射9°/d结构；RTC除上述功能外还可测量变角度入射情况下的反射率。 积分球的开口处采用刀刃结构有助于收集大角度散射，挡板采用最小化设计，使得探测器能够非常大程度地看到球内壁表面。探测器口位于球的顶部和底部，使用挡板遮挡防止样品和参考口光束直接照射。RT-060-SF及RT-060-IG反射/透射率测试积分球 Labsphere的RT-060-XX积分球有5个1英寸的开口容纳样品和9°双光束结构结构中参考光束，也包括用于9°单光束结构测量中的端盖。两个1英寸的样品支架用于安装样品和反射/透射率标准板。积分球顶部具有0.5英寸的探测口，探测罩用以限制探测器视场范围。镜面光阱去除镜面反射光束。 积分球适合于镜面测量，包括非镜面反射测量，前散射和背散射测量，以及混浊或散射样品的透射率的测量。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，阻挡效应可以最小化，允许有效的积分。为了保证高积分球效率，总开口面积应小于积分球表面积的5%。每个积分球拥有一个支架配件，由支杆底座和1/4-20支架组成，方便调节积分球的高度。 RTC-060-SF 和 RTC-060-IG反射率透射率积分球增加了中心样品架，方便用户测量反射率与辐射入射角度的关系，一些情况下，还能测透射率与辐射入射角度的关系。 RTC-060-IG 积分球具有5个开口来容纳样品和参考光束:三个1英寸、两个1.25英寸的开口。中心样品台安装在积分球的顶部，0.5英寸探测口在积分球底部。探测罩用于限制探测视场范围。 RTC 系列积分球配件包括四个样品架: 一个中心样品架，两个1.25英寸直径样品架和一个1英寸用于进一步灵活备用。中心样品架允许各种样品反射率与入射角度变化的测量。积分球包括颚式中心样品架，同时夹式和槽式中心样品架可供选择。颚式可以夹住1英寸*2英寸，最厚达0.38英寸的样品。夹式中心样品架设计用于薄膜或硬度不能承受颚式样品架的样品。夹式中心样品架可以夹住样品尺寸最大为1.50"x 2"x 0.125”的样品。槽式样品架为12.5平方毫米容器，可以承装液体和粉末，用于测试吸收和散射特性。订购信息及规格

由于镀金膜表面质地非常软，需在外层镀上保护膜以防刮防潮， 镀金外反射镜采用金膜表面镀二氧化硅，这种既能保护膜层又能保证金膜的性能。0.75μm-20μm波段反射率大于96%。

SSR-ER太阳光谱反射率仪提供准确的材料漫反射和镜面反射测量，材料样品最小厚度可至6.4mm，太阳反射比和吸收比精确到0.001，重复性达到0.003。采用钨丝提供漫反射光源，测量4个滤光探测器、20度近法线入射角的样品辐射反射。探测器主要覆盖紫外、蓝光、红光和IR光谱范围。2个额外的探测器用来重采样低色温情况下红光和IR光源。SSR 漫反射和镜面反射标准体随机提供，标准体通过美国National Bureau of Standards Materials 标定，仪器经过标准体定标后即可开始测量。默认操作模式下，仪器每完成一个测量循环的时间为8秒钟，钨灯亮6秒的同时并记录检测器偏移值，灯亮两秒钟后6个探测器进行反射率测量并存储，计算太阳反射比并显示在LCD上，然后关闭光源。通过键盘可切换6个探测器的反射比或吸收比显示。

集总透过率、可见光透射比、总吸光度、L 、A、 B、sRGB等参数光谱透反射率测试仪集光谱、透过率、反射率、饱和度、L、A、B等参数采用5英寸大屏，各测量参数及曲线实时显示，使用方便快捷，可直接测试 材料和镜片的透过率测试。

SOC-100 半球定向反射率测量仪（HDR）及其应用软件具有独特的材料光学性能的表征和利用能力，是一套功能强大的半球定向反射率测量工具。配备Nicolet FTIR， SOC-100可提供FTIR所涵盖光谱区域10°到80°入射角的偏振反射和角漫反射测量。使用标准FTIR，所测量光谱区域为2-25μm，也可通过客户定制的FTIR扩展到50μm。同时还具备样品加热功能。测量材料漫反射率的传统技术是利用积分球捕捉漫散射的能量。但由于积分球的固有能量限制，有价值的数据被限制在18μm内。而SOC-100利用2π半椭球以700°C黑体照射样品。一个可移动的顶部反射镜捕获反射能量并准直到FTIR。SOC-100软件使用MS Windows界面，驱动FTIR并控制各种数据采集、进程管理、数据归档和报表生成。它与OMNIC软件兼容，还具有附加软件包，可进行光学常数的测定、漫反射涂层的设计、热量分析和红外场景模拟。测量数据：n 10°~80°之间的用户设定角度的平行、垂直及非偏振光束反射率n 测量漫反射和镜面反射，及0°入射的透射率n 温度达500℃和10°~80°角度下，定向发射率的角度-波长-温度函数n 总半球发射率的温度函数应用：n 支持红外图像模拟和红外材料的开发n 鉴定和测量表面污染n 散射和镜面反射检测n 测量散装和粉状物料的偏振反射数据，以计算其光学常数（n，k）n 提供热分析和热传导的温度-波长函数发射率数据n 提供角度至2π球面度的半球完全散射透射率数据软件功能：n 标准软件提供：仪器控制、项目和数据的基础管理；控制Nicolet FTIR的OMNIC软件n 可选的应用软件：光学常数测定、涂层设计分析、红外场景模拟、热分析用途： n 热量传导 n 特征分析 n 涂料研发 n 质量控制 n 定量分析 n 光学测试

ATR1000自动透反射率测量仪支持透过率和反射率测量，可给出光谱曲线，用于实时测试样品的紫外到近红外波段（最宽可达200-2500nm）的透过率和反射率。ATR1000采用一体化设计，采用内置固定光纤，光路稳定，样品仓可以完全封闭，把外界光的影响降到最低。软件操作简单，可通过设置阈值自动判断测试结果是否合格，广泛应用于光学玻璃、半导体等行业，测试毛糙样品时，可按照客户要求配备积分球。产品特点◆能对多点进行全自动定位测量，实时数据采集◆ 可以测量整段光谱，能选取六个光谱的透过率或反射率，设置阈值自动判定检测结果◆ 可根据样品要求配备积分球◆ 灵活搭配的透/反射测量方案◆ 操作简单，容易更换样品◆ 采用内置固定光纤，光路稳定应用领域半导体激光器腔面高反射涂层 太阳能电池 硅片、晶圆光学玻璃、薄膜 屏幕面板 涂料珠宝玉石 纺织品技术参数

1 产品简介传统测量样品反射率的反射光纤探头光斑直径最小仅能达到1-2mm左右，光斑直径限制了样品的大小以及光谱空间分辨率，而若要获得样品更微小的尺度的光谱信息，通常的做法是与显微系统连用。微区反射光谱测量系统即是将光谱分析技术与显微光路结合，可在微米级尺度上采集样品的光谱信息，广泛应用于物理、化学、生物等行业材料光谱性能研究。 图1：微区反射光谱测量系统本系统采用光纤共焦照明方式，与传统的科勒式照明相比，共焦照明方式可获得更小的采样直径，即具有更高的空间光谱分辨率。如图所示，光源经由光纤接入显微系统，通过显微物镜将光斑大小压缩至微米级别并汇聚在样品平面，样品产生的反射光经由显微系统汇聚在接收光纤端面处，发射光纤端面、接收光纤端面、成像相机平面以及样品平面四面属于共轭关系，从而使得可以实现高精度原位光谱测量。图2：微区反射测量系统原理示意图 此外，系统中所用到的微区反射率转接模块中预留一光谱通道，此通道可支持在反射率光谱基础上拓展添加透射率测量、拉曼光谱测量或荧光光谱测量功能，实现多光谱综合测量。 2 规格参数 光谱模块光谱范围200-2500nm光斑大小取决于显微镜物镜倍数及光纤芯径积分时间1ms-65s光源寿命氘灯：5000hrs钨灯：10000hrs显微模块物镜无限远长工作距平场消色差金相物镜10X 20X 50X转换器内定位5孔转换器CCD成像可成像载物台双层机械式载物台，尺寸：210mm×140mm；移动范围：63mm×50mm落射照明系统6V30W卤素灯，亮度可调调焦结构粗微调同轴，配有限位装置和锁紧装置，粗动行程每圈：30mm，微调手轮格值2μm整机参数尺寸拉曼模块：160×140×42mm显微模块：550×280×380mm工作温度0-45℃工作湿度5%-80%3 产品特点l 模块设计：通过在显微镜中加装拓展模块实现光谱测量，同时可在客户现有显微镜基础上定制相应检测模块。l 共焦设计：光源光路与光谱仪接收光路共轴，独特的共焦设计使得测量“所见即所得”，并且系统的杂散光可以得到有效抑制。l 宽光谱检测范围：搭配如海光电的光纤光谱仪，可实现200~2500nm宽光谱测量。l 灵活选配与升级：该系统除可实现反射测量外，同时可根据客户需求在此基础上添加特定测量模块从而实现反射+透射+拉曼+荧光多光谱测量。l 高精度测量：自动移动平台最小步进1μm，可实现微小区域光谱扫描测量。4 测试实例图

紫外反射滤光片 型号:UVREF 光谱范围：200nm-400nm

漫反射涂料-Spectraflect Spectraflect涂料采用硫酸钡及专有配方配制而成，采用这种涂料制成的表面具有近乎完美的漫反射特性。Spectraflect在紫外-可见-近红外光谱区内通常被用作反射涂料，且在300至2400 nm的波长范围内最为有效， 其在可见区域内的反射率通常可达96%-98%。Spectraflect在100° C左右的温度下具有热稳定性。其损伤阈值为1.7 J/cm2。它可通过喷涂的方式被轻松涂覆在任何基板上，Labsphere向客户提供喷涂服务，并在大型或复杂的项目中进行现场喷涂。 应用光学元器件积分球反射灯罩涂层光谱漫反射板等产品特点： 高反射比高朗伯特性光学性能稳定无毒

光谱反射率及颜色测量 描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值通过积分球采样，还可进一步测量材料的表面颜色典型测试数据不同颜色纸张的光谱反射率光纤型光谱反射测量套件应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱反射率。配置清单积分球型光谱反射率测量套件应用适用于平面或曲面材料的漫反射或镜面反射测量，系统经过相对强度定标后，还可进一步测量材料的表面颜色。配置清单更多精彩内容，请关注下方！

自动绝对反射率测量系统可以测量绝对反射率和透射率，也可同时改变样品的入射角。 适用于测量太阳能电池元件、半导体、薄膜、光学元件、光学器件等各种固态样品的光谱特性和膜厚。 通过旋转样品台来设置入射角，通过滑动积分球来控制光接收角。 此外，入射角和接收角可以在异步模式下单独设置。 此外，还可以通过指定 P 和 S 偏振并任意设置偏振片的角度来研究样品的偏振特性。&bull 样品室及内部结构图中显示了自动绝对反射率测量单元的内部图 1 和图 2。 通过旋转样品台和检测器，可以改变入射角和光接收角， 样品台和检测部分由PC控制，透射率和绝对反射率可以在同一系统中进行评估。&bull 防窥视膜的视角测量随着在智能手机或其他设备屏幕上的防窥膜具有盲人状结构，其中透明层和遮光层交替排列，因此无法从左右、顶部和底部等看到屏幕。 由于这种结构，视角会随着着色层的高度和间距而变化。 评估此类结构的视角和透射率的最佳方法是使用绝对反射率测量单元，该单元可以将样品旋转到指定角度并测量光谱。在这里，我们介绍了测量智能手机防窥视膜透射光谱的角度依赖性的结果（产品规格：65度视角）。 图 4 显示了以 60 度间隔对入射角 &minus 60~20度进行光谱测量获得的间隔数据，图 5 显示了 550 nm 处透射率的角度依赖性。 从图4可以看出，在±32.5度左右的薄膜标称视角下，透光率约为5%，几乎没有透光

SSR-ER太阳光谱反射率仪 SSR-ER太阳光谱反射率仪提供准确的材料漫反射和镜面反射测量，材料样品最小厚度可至6.4mm，太阳反射比和吸收比精确到0.001，重复性达到0.003。 采用钨丝提供漫反射光源，测量4个滤光探测器、20度近法线入射角的样品辐射反射。探测器主要覆盖紫外、蓝光、红光和IR光谱范围。2个额外的探测器用来重采样低色温情况下红光和IR光源。SSR 漫反射和镜面反射标准体随机提供，标准体通过美国National Bureau of Standards Materials 标定，仪器经过标准体定标后即可开始测量。 默认操作模式下，仪器每完成一个测量循环的时间为8秒钟，钨灯亮6秒的同时并记录检测器偏移值，灯亮两秒钟后6个探测器进行反射率测量并存储，计算太阳反射比并显示在LCD上，然后关闭光源。通过键盘可切换6个探测器的反射比或吸收比显示。应用领域： 航空领域：热控制涂层 控制领域：镀膜、涂层 太阳能领域：吸收涂层、反射涂层、镜面和反射镜 技术参数： 定制测量头：标配测量头用来测量平面样品材料，可定制测量头用来测量曲面材料样品，如13mm直径圆柱面。 手柄：便于测量使用 12V便携供电套装：可连续测量5个小时的12V电池、充电器、运输箱 分辨率：LCD显示反射比、吸收比和透射比精确至0.001 重复性：±0.003 准确性：±0.002 漂移：5分钟预热，漂移小于每小时±1%或者读数+0.003 温度：电子组件最高操作温度60℃，测量头最高50℃ 湿度：最大80% 标准体：提供漫反射和镜面反射标准体，经过NBS定标 测量端口：1英寸直径，最小样品直径1.1英寸， 光源：插拔式可换钨丝灯 供电：100-240VAC通用电源 线缆：标配长度1.5m，可选长度10m 重量：测量头0.9kg，电子模块1.8kg，透射率附件4.5kg 透射率测量附件：SSR-T透射率测量附件可以和SSR-R反射测量头兼容进行样品太阳辐射透射率测量，透射率测量角度从法线方向至60°可调，采用漫反射光源 照明并测量。 SSR-T和SSR-R安装示意图如下： 订货指南： SSR-ER 太阳光谱反射率仪：包括电子模块SSR-E ，反射率测量头SSR-R，2个白瓷体，1个镜面标准体，黑体，6’信号电缆，卤素光源，光谱性能标准，通用电源，电源线和运输箱 SSR-ER-12V 太阳光谱反射率仪：包括电子模块SSR-E ，具有手柄的反射率测量头SSR-ER，可实现5个小时连续测量的12v电池和充电器，2个白瓷体，1个镜面标准体，黑体，6’信号电缆，卤素光源，光谱性能标准，通用电源，电源线和运输箱 可选项： SSR-T 透射率测量附件 产地：美国

描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱透过率配置清单波长范围UV-VISVIS-NIR光谱仪BIM-6002A-01200-900nm，分辨率~1nmBIM-6002A-13400-1100nm，分辨率~1nm光源BIM-6203，氘钨灯光源，230-2500nm光纤SIM-6102-1015-TA/SMA，石英光纤支架BIM-6303，单双臂支架标准板SIM-6326，镜面反射标准板软件BSV光谱分析软件*需要了解各部件的详细参数，请点击表格中的链接测量案例：纸张的光谱反射率不同颜色纸张的光谱反射率

针对高反射率（R99.7%）的光学样品，德国 IPHT Jena研发了光腔衰荡光谱法（Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS）反射率测量测量系统, 它通过对指数型腔内衰荡信号的检测，去掉了传统检测方法中激光能量起伏所引起的误差, 大大提高了测量精度。测量原理当一束脉冲激光沿着光轴入射到光腔内，忽略衍射及散射损耗，单色脉冲光在两个腔镜之间往返振荡，每经过一次循环透射出部分光，探测器通过接收光脉冲信号得到其以单指数形式衰减。τ为衰荡时间，指光子出射脉冲光强衰减为初始光强的1/e时经历的时间。C代表光速，L是代表腔长，RM是两个腔镜的几何平均反射率，散射V和吸收系数α忽略不计。则，衰荡时间τ表示为从公式上可知:1)腔内损耗越小，反射率越高，衰荡时间越长。2)在已知参考片的反射率Rref 前提下，可求得要待测样品的反射率R。一、 德国IPHT CRD高反射率测量系统1. CRD系统介绍系统包含1. 激光光源2. 光学零部件3. A/D转换器4. 探测系统系统要求详细说明激光器波长范围400nm-1064nm内常见激光波长激光器工作模式脉冲测量角度范围标准0°；45°选配反射率测量范围99.9%-99.995%测量精度反射率精度取决于待测样品反射率，精度为（1-R）*10%样品类型平平/平凹镜(凹面的曲率半径≥500mm),平面抛光，凹面镀高反，反射率R在99.9%...99.995%范围内样品尺寸要求标准即1英寸；半英寸/50mm可选（直径要求可根据客户需求定制）标准厚度：1/4英寸（5-7mm可选）应用：准确检测高反射率激光腔镜的反射率，尤其对于反射率大于99.9%的腔镜测量具有更好的效果。

RT100透反射率测量仪支持透过率和反射率测量，给出光谱曲线，可用于测试样品的紫外到近红外波段（最宽可达200-2500nm）的透过率及反射率。采用一体式设计，样品仓可以完全闭合，把外界光的影响减到最低。软件简单易用，自动判断测量结果是否合格。RT100广泛地用于光学玻璃、薄膜、显示、触摸屏、手机盖板等行业。配备积分球，可用于具有毛糙表面的样品反射光谱和透射光谱测试，如聚光玻璃、毛玻璃等。仪器特点●灵活搭配的透/反射测量方案●极宽的光谱测量范围：200nm-2500nm； ●简单、易操作、易更换样品做测试●可以支持带积分球测量模式和不带积分球测量模式● 采用高精度光谱测量技术，精度高、测量速度快、稳定性好；● 自带校正及标定功能，方便用户自行校零和定标；●软件 可以测量整段光谱曲线，自动获取6个光谱位置透过率反射率数值，可设阈值自动判定结果。应用领域●固态样品 ●液态样品 ●汽车零部件 ●光学元件 ●镀膜 ●滤光片 ●珠宝 ●涂料 ●特种玻璃 ●各类薄膜 ●手机、平板各类型玻璃 ●聚光玻璃、毛玻璃、镜片主要参数●电源及插头：能在220V±10%，50Hz供电条件下连续工作。仪器设备的插头应符合中国国家标准，否则应提供适合仪器插头的插座。●工作环境：10-35℃、相对湿度10-80%（无结露）●光谱范围：380-1050nm（最宽可达200-2500nm，可以根据客户的要求定制范围）。●样品台尺寸：195 x 160 mm (W x D)。●带封闭样品仓，减少外界光线对测量结果的影响。●光源：高性能卤素灯（可根据光谱范围和样品特性定制光源）。●RT100软件：可以测量整段光谱曲线，可以自动获取6个光谱位置的透过率、反射率数值，设定阈值自动判断测量合格与否。