红外反射测试仪

● SPECTRAFIRE 解决了远红外测试时使用积分球造成 的能量损耗问题。● SPECTRAFIRE可以测试毛玻璃、半透明聚合物薄膜 等非透明样品● SPECTRAFIRE可以容易的安装到客户现有的Thermo Nicolet FTIR 红外光谱仪上 SPECTRAFIRE 是一个远红外反射率测试附件，可装配到 Thermo-Nicolet 的FTIR 光谱仪上，使用傅里叶变 换的方法进 行光谱半球反射率测试，其中使用了AZ 公司专利 的 ellipsoidal Collection半球能量收集技术，避免了传统的积分球技术对能 量的吸收损耗问题。仪器可从1.67um 到40um的范围内扫描测 试近法向半球反射率。所有的空间都可以被清除以最小化由于水和CO2造成的信号损失。法向发射率根据测试的光谱反射率数据和黑体曲线进行计算。SPECTRAFIRE 有2种测试模式，绝对测量模式和相对测量 （差分式）模式。在绝对测量模式中，近法向如射，半球反射率通过与配有校正臂的内置探测器直接测到。在这种情况下，无需校正。在相对测量（差分式）模式下，内置校正臂不起作用，而是提供一个参考样品进行背景扣除，然后测试样品。此外，该系统通过特殊标定的参考根据样品的光谱，来得到不透明样品的总半球发射率。使用Spectrafiar计算发射率并不需要知道光源的光谱，也不一定需要限定光源的色温在300K. SPECTRAFIRE 还可以用于正确的测量300K以外的发射率和非灰体的 发射率。准直的红外光束从Nicolet红外光谱仪进入到SPECTRAFIRE左边的入口处。通过一个离轴抛物面镜将该光束汇聚到样品上。样品口在系统的顶部，样品置于专利的收集器的顶部。入射光经样品反射并被收集汇聚到探测器上。探测器的信号由FTIR光谱仪进行处理。.在收集器里还内置一个光束偏离装置，用于绝对测量时的背景扣除。该偏离装置的反射率完全匹配收集器的反射率 。仪器里面的所有光学元件都镀了非保护性金膜，以获得在测试光谱范围内的最大反射率。Spectral resolution0.5 to 32/cmSpectral range2.5 to 40 microns (4000 to 250 cm -1 wave number)Sample size and geometry&ge 0.33 inches (8.3 mm) diameterDimensions: FTIR with SPECTRAFIRE attached.-Footprint: 33 x 25 inches-Height: 13.5" at the SPECTRAFIRE sample portElectrical requirement for Nicolet120 VAC, 60 HzWarranty1 year parts and labor*Note: terms reflectance, emittance and absorptance and terms reflectivity, emissivity and absorptivity are often used interchangeably. Spectroreflectometer, spectro-reflectometer and spectral reflectometer are also used interchangeably.

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）Apollo(阿波罗）是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器，被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户：英国国家美术馆，荷兰国立博物馆，美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画，唐卡作品，图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像，Apollo（阿波罗）是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

410 - Vis 便携式可见/近红外反射计Field Portable Hand-Held Reflectometers and Emissometers 410-Vis测量400 &ndash 1100 nm波谱范围内4个波段的总反射率。可输出20度入射角的总反射、散射反射和镜面反射数据。一次测量循环可以输出12个数据点。测量操作简单，只需扣动仪器扳机即可，数据记录并可以图表或数字形式显示在显示屏上。是一款真正便携、电池操作、内置PDA的反射计。 特点：测量400 &ndash 1100 nm范围4个波段的反射率测量总反射、漫反射和镜面反射电池操作、完全便携测量大目标反射率无须仪器调准可野外工作测量绝对反射率值

410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围：从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）是采用红外反射成像技术扫描系统，被广泛用于材料鉴定分析，也适用于油画，壁画，唐卡等艺术品修复及研究，文物保护，考古发掘研究。我们的用户：斯坦福大学，剑桥大学，牛津大学，伦敦苏富比拍卖行，伦敦大学学院，大英博物馆，英国国家美术馆，荷兰国立博物馆（Rijksmuseum），美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆，洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆，挪威国家博物馆，梵高美术馆，德国汉堡美术馆，纽约大学美术学院，法国Arcanes，等等Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射扫描成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部机械微动扫描光学机构和红外面阵列传感器，在900-1700um的红外光谱波段，生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。 Apollo红外反射成像仪的扫描系统可以用于研究艺术作品的各个方面。不仅可以研究作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以实现多个光谱波段下的图像采集分析，高达65000级灰度图像，可以轻松区分不同物质和材料。如果您想采集到用于细节分析，目标识别鉴定等应用高对比度和高分辨率的红外反射图像，Apollo（阿波罗）是适合您的红外反射扫描成像系统Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-25分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪，可在3-35微米范围内测试半球反射率测试（总半球反射率），提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250～2500纳米，主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um（并不限定于过滤器，窗等）测量精度（镜面反射和漫样品）-灰色样本满量程的± 1％- ± 3％满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5％或更好样品类型任何样品，包括金属箔，绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面：&ge 0.4英寸（1厘米）直径- 凹面： &ge 6.5英寸（16.5厘米）直径-凸面：&ge 1英寸（2.5厘米）直径 样品温度房间温度，环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率（300K）-半球发射率（300K）读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围（反射率）0.00～1.00尺寸光学头：直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位：4.5× 7.75× 7英寸便携包：12.5× 17× 11英寸重量光学头：5磅，控制和显示单元：4磅，携带箱：11磅保1年部件和人工

410Vis-IR可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点n在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率n半球热辐射的预测n测量太阳能吸收/反射n在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量n可测量光谱范围：从可见到中远红外nNIST可溯源标准n快速和便携式使用nPDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域n航空工业n天文望远镜检查n涂层领域n太阳能领域优化太阳能利用性能n节能建筑n光学材料质量控制技术参数410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

紫外反射滤光片 型号:UVREF 光谱范围：200nm-400nm

优秀的可见光透射率/反射率测量系统集成的可见光光谱分析仪集成的氙灯，或者卤钨灯，作为光源内置探头可以实现纺织品颜色检测纺织品透过率检测眼镜透过率检测半导体膜厚检测LED灯泡检测等应用举例一：布料反射率测量案例测试系统搭建如上图测试要求，计算近红外区域780-880nm的反射率和可见光区域610-710nm的反射率之比1. 左边是卤钨灯350-2500nm光源，光源由德国进口的灯泡2. 中间是反射式积分球，3. 右侧是采用日本进口滨松探测器的光谱仪器 SPM3-350-1050，波长范围350-1050nm，分辨率最小0.6nm，美国产进口600线光栅4. 搭配电脑，数据通过USB采集测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置1000ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率应用举例二：高分子材料/纳米材料相对石英的反射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（下面一条曲线），350-1000nm范围反射率72%， 样品2（上面一条曲线），350-1000nm范围反射率 82%，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率测试二过程，相对于黑板1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置黑板，采集参比光谱3. 移除黑板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（上面一条曲线），350-1000nm范围相对于黑板的反射率， 样品2（下面一条曲线）相对于黑板的反射率，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的是被测物相对黑板的反射率应用举例三：薄膜材料的透射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物薄膜的光谱

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域n 航空工业 n 天文望远镜检查n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制仪器特点n 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射n NIST标准n 快速、便携n PDA触摸屏操作，内置SD卡n 计算半球反射比技术参数410-Solar 便携式太阳能反射率仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法20°入射角的积分总反射比输出参数总反射，漫反射，和20°角的镜面反射波段7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm入射角20°法线入射角样品表面：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面BEAM SPOT SIZE0.250”直径，20°入射角BEAM ANGLE3°半锥角测量时间10秒/次；90秒预热VIS-NIR源钨灯测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制仪器特点 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射 NIST标准 快速、便携 PDA触摸屏操作，内置SD卡 计算半球反射比技术参数410-Solar 便携式太阳能反射率仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法20°入射角的积分总反射比输出参数总反射，漫反射，和20°角的镜面反射波段7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm入射角20°法线入射角样品表面：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面BEAM SPOT SIZE0.250”直径，20°入射角BEAM ANGLE3°半锥角测量时间10秒/次；90秒预热VIS-NIR源钨灯测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

SOC410DHR 是一款高精度手持式DHR反射率测量仪，可进行现场测量，提供高精度、高质量测量数据，并可以更换多个测量头进行测量。410DHR 具有内置PDA和触摸屏，并由显示屏上的软件按键来控制测量；可测量6个光谱范围的材料光学常数，进行测量时，进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。技术参数410DHR 便携式定向半球反射率仪测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法总反射比输出参数绝对反射比波段6个波段：0.9-1.1、1.9-2.4、3.0-4.0、3.0-5.0、4.0-5.0、8.0-12.0μm入射角20°和60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源Kanthal合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量，有Spectraflect® 和Infragold® 涂层可供选择。Spectraflect® 在300-2400nm范围具有高反射率；Infragold® 在波长为 0.7um-20um范围内效果最好。RT积分球有5个1英寸开口可容纳样品和9°反射光束的结构；在球的顶部有一个0.5英寸探测器口；镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率；探测器端口在底部；RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构，RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集大角度散射，挡板采用最小化的设计，允许探测器最大限度地看到球内壁表面。探测口位于球的顶部和底部，并使用挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。产品特性：1.独特的设计满足了客户多样化的需求2.业界高度认可的反射率测量结构设计应用领域：1.材料反射率和透射率2.不透明物体的反射率3.混浊样品的透过率4.颜色特性5.反射系统设计6.红外反射7.反射率与角度的关系适用于固体、浑浊液体、粉末和薄膜不透明样品反射率等太阳能等材料发射率透过率测量漫反射率测量漫透射率测量半球反射率测量散射光测量吸收测量测量光谱反射率光谱透过率透过色特性测定反射系统设计红外反射率反射率随角度变化不同规格尺寸的积分球? 1、最小到2英寸，最大到76英寸或更大? 2、各种内部反射涂层的积分球? 3、Spectraflect（经济实用型）? 4、Duraflect（防水、防潮、耐腐蚀型）? 5、Spectralon（高反射率、宽光谱范围，）? 6、Infragold（近红外/中红外波段适用）

SOC410DHR 是一款高精度手持式DHR反射率测量仪，可进行现场测量，提供高精度、高质量测量数据，并可以更换多个测量头进行测量。410DHR 具有内置PDA和触摸屏，并由显示屏上的软件按键来控制测量；可测量6个光谱范围的材料光学常数，进行测量时，进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。仪器性能n 基于修正的积分球方法（与NRL和NIST合作）n 采用6个探测器测量0.9~12μm范围内6个波段的反射率n 20°和60°入射角测量反射率n 每个测量周期记录12个数据点n 便携，测量准确，软件操作方便主要特点n 光谱范围覆盖NIR-SWIR-MWIR-LWIRn 响应快速，测量准确n 高精度，测量头可更换n 电池操作，简单方便n 触摸屏可野外现场测量n 可同时提供十种设备运行信息n NIST校准技术参数410DHR 便携式定向半球反射率仪测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法总反射比输出参数绝对反射比波段6个波段：0.9-1.1、1.9-2.4、3.0-4.0、3.0-5.0、4.0-5.0、8.0-12.0μm入射角20°和60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源Kanthal合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪 IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点：1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。7．在测量过程中不损伤被测样品。8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。主要技术指标测量波段：3～5um、8～14um、1～22um(若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片)2．发射率测量范围：0.1～0.993．灵敏度NE△&epsilon ：0.0014．示值误差：± 0.02 (&epsilon 0.50)5．重复性：± 0.016．样品温度：常温(特殊用户为常温～300℃)7．样品尺寸：Ф50mm8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示&epsilon 测量值。9．显示方法：LED数字显示，末位0.00110.电 源： 交流220V 50HZ

标线逆反射测试仪符合标准标线逆反射测试仪符合所有ASTM E1709 ASTM E2540, EN12899要求并遵循ASTM D4956, EN471, ANSI 107, GB/T 28468, GB 20653测试规范。适用范围标线逆反射测试仪为现场作业及实验室分析专业设计的便携式逆反射系数测试仪，设计用于测试反光材料的逆反射系数值(RA),包括夜间道路安全标识颜色标准(CIE 1931xy)、高亮度反光安全服、标线及其他反光材料。 技术参数量程(cd/lx/㎡）为0-20000； 世界通用的标准 “A”光源；观测角0.2°to 2.0°连续可调，步径0.1°；入射角-45° to +45°连续可调，步径1°；仅需一块白色校正板，且无需任何校正参数；具备遵循CIE 1931 xy retroreflected夜间色坐标的颜色测试功能；独立的电源供应器和电池2块；可通过屏幕或更直观的方式显示测试所需的各种参数如逆反射系数值或夜间色坐标数值等；通过内置蓝牙发射器或任何方式具备可以将设备连接手机、平板电脑等终端设备的功能；USB接口；内置均值计算器；具备可存储至少不小于32000组测试数据的记忆体。 标准配置932逆反射系数测试仪主机1台发泡箱1只测试点区域调整圆孔2个充电器1只电池2块校准板1块校验报告1份Windows软件系统1套

用途：背光照明；环境光测试目标；激光测试目标； 光学反射。 特点：WRC 6080 Spectralonâ Spectraflectâ ，Duraflectâ 及Infragoldâ 高漫反射率，最高可达99%良好的朗伯特性覆盖紫外、可见和红外区域良好的耐久性、防水性、耐腐蚀，广泛用于航天及激光应用不易脱落，使用寿命长无味，无毒 材料选择：Spectralon 标准反射白板Spectralon 反射对比板Infragold 镀金红外反射目标板 以上材料均为Labsphere公司专利技术涂层*

便携式建筑材料涂料隔热太阳反射比测试仪JP-ATB80适用标准： GB/T25261-2018《建筑用反射隔热材料》；JG/T235-2014《建筑反射隔热涂料》附录B 技术参数 主要特点 1.强劲的仪器性能：极其优良的光学系统，先进的电子学系统，高水准的机械系统，保证了0.010%T的超低杂散光，高精度24位电压数字采样。2.稳定可靠的品质：动态反馈比例记录测光系统保证了基线稳定性，太阳光模拟、光电倍增管等关键器件均用进口件，保证仪器的稳定可靠和长寿命。3.精准的测量：进一步降低仪器的杂散光，使仪器分析更加准确。4.轻松高效的人机对话：基于Windows环境设计的JP系列智能型建筑涂料太阳光反射比、吸收比、半球发射率、等效热阻中文操作软件，提供了丰富的仪器控制和操作功能，简单易用，灵活高效，轻松满足使用者的分析需求。5.优异的可扩展性：反射光学积分球专用附件，使仪器的应用范围大大扩展。6.设备维护简单方便：独特的插座式钨灯，换灯时免去光学调试，使设备仪器调试、维护更加简单方便。7.记录功能：自动记录用户的操作；日志文件采用更为可靠的数据库格式保存；管理员可对日志进行分类查阅和其他处理。8.采用综合的光学及半球发射一体装置测试系统，性价比高，便于测试。9.质量控制功能：可根据用户的设置对测量数据进行监控；超出控制范围的数据系统将会显示提示信息、进行颜色标记或自动重新测量。10.报告输出功能：可实现与其他系统共享数据的功能；可将测量结果保存为Microsoft Word格式、Microsoft Excel格式、文本文件格式；可对报告格式进行个性化的设置；可提前预览结果报告的打印效果。设备内部配置清单 核心元器件1.紫外、可见、红外探测器（美国）2.可见红外光源（美国HACH）3.光学镜片（国家光机所科技总公司）4.传感器采集系统（日本）5.反射积分球装置（国产）6.标准镜片（国家光机所科技总公司）7.主机外壳（国产）8.系统控制上位机（国产）9.机械分光系统（国产）10.专用建筑材料涂料隔热太阳反射比、半球发射率、测试系统软件（配套+国产）11.标准白板12.数据分析电脑（联想品牌）

逆反射系数测试仪 美国Roadvista932逆反射系数测试仪是为现场操作及实验室分析专业设计的便携式逆反射系数测试仪。932系列被设计用于测试反光材料的逆反射系数值（RA），包括夜间道路安全标识颜色标准（CIE 1931xy）高亮度反光安全服及其他反光材料。 使用者在轻松的按下测试按键后，准确的告知使用者反光材料的实际逆反射系数值，除此以外，一并可测试反光材料的颜色是否符合颜色定义标准。连续可调的入射角和观测角易于各种反光材料的测试，包括在EN471和ANSI 107标准规范下的高亮度反光服测试。Roadvista932逆反射系数测试仪|反光膜测试仪内置蓝牙发射器及USB接口。通过以上装置可以轻松的通过电脑实现远程操控，此外，内置的记忆体可存储超过32000组测试数据。内部的光感应器，符合ASTM E1709和ASTM E2540规范的要求，符合CIE标准的人眼反应系数。光感应器与CIE照明标准A光源连接使用。Roadvista932逆反射系数测试仪使用国际标准的光度滤光器，精确测量时使用1个白板校准板，而不需要设定任何修正系数，这安全超越了竞争对手。产品特点：简易操作，可测试各种类型的反光材料符合ASTM,CIE,ANSI,BS,EN&DIN技术规范观测角0.2度到2.0度连续可调入射角-45度到+45度连续可调世界通用的标准A光源仅需一块校正板，无需任何校正参数独立的电源供应器和电池数字触摸彩屏显示内置蓝牙发射器USB接口内置均值计算器内置可存储32000组测试数据的记忆体技术参数：入射角：-45度到+45度连续可调；观测角：0.2度到2度光源孔径张角：0.1度；光感应器孔径张角：0.1度；测试区域：直径1英寸（25mm）区域；技术规范：符合所有ASTM E1709 ASTM E2540，EN12899要求并遵循ASTMD4956，EN471，ANSI107测试规范；光感应器响应速率：光感应速率与ASTM E1709 6.4.2章及ASTM E2540 6.4.2章；量程：（cd/lx/m2）:0-20000 数据存储：超过32000组测试数据；颜色测试：遵循CIE1931 xy retroreflected夜间色坐标；电脑相连装置：usb接口和蓝牙发射器；电源供应器：removeable12 VDC,2.4Ah；充电器：110VAC,60HZ(932-2)110VDC车载充电器（932）220VAC，50Hz（932）环境温度：0度-50度环境湿度：0-95%（非凝结）外形尺寸：380*115*325mm重量：2.9kg（含电池）

逆反射系数测试仪RoadVista 932逆反射系数测试仪是一种用于现场测量逆反射材料光能的仪器，全新代的道路标志管理工具，具备强大便捷的逆反射系数测试与自动保存关键数据的功能。可用于对货车类机动车车身反光标识反光性能的测量，用于对生产逆反射材料反光质量的监测，以确保逆反射材料反光质量的监测，以确保逆反射标志材料达到有关标准规定的要求。 产品特点● 简易操作，可测试各种类型的反光材料● 符合 ASTM, CIE, ANSI, BS, EN & DIN 技术规范观测角0.2°to 2.0°连续可调● 入射角-45° to +45°连续可调● 世界通用的标准 “A”光源● 仅需块校正板，无需任何校正参数● 立的电源供应器和电池● 数字触摸彩屏显示● 内置蓝牙发射器● USB接口● 内置均值计算器● 内置可存储32000组测试数据的记忆体● 原装发泡箱技术参数入射角-45°到+45°连续可调观测角0.2°到2°光源孔径张角0.1°光感应器孔径张角0.1°测试区域直径1英寸（25mm）区域光感应器响应速率光感应速率与ASTM E1709 6.4.2章及ASTM E2540 6.4.2章量程0-20000 cd/lx/m2数据存储超过32000组测试数据颜色测试CIE1931 xy retroreflected环境温度0°-50°环境湿度0-95%（非凝结）外形尺寸380*115*325mm重量2.9kg（含电池）

IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪 IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点：1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。7．在测量过程中不损伤被测样品。8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。主要技术指标测量波段：3～5um、8～14um、1～22um(若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片)2．发射率测量范围：0.1～0.993．灵敏度NE△&epsilon ：0.0014．示值误差：± 0.02 (&epsilon 0.50)5．重复性：± 0.016．样品温度：常温(特殊用户为常温～300℃)7．样品尺寸：Ф50mm8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示&epsilon 测量值。9．显示方法：LED数字显示，末位0.00110.电 源： 交流220V 50HZ

远红外发射率测试仪 纺织品发射率红外性能测试仪用途:用于各类纺织产品，包括纤维、纱线、织物、非织造布及其制品等采用远红外发射率的方法测定其远红外性能。测试原理:将标准黑体板与试样先后置于热板上，依次调节热板表面温度使之达到规定温度，用光谱响应范覆盖5微米~14微米波段的远红外辐射测量系统分别定标准黑体板和试样覆盖在热板上达到稳定后的幅射强度，通过计算试样与标准黑体板的辐射强度之比，从而求出试样的远红外发射率符合标准:GB/T3012741远红外发射率的测定仪器特性:1、采用触摸屏控制和显示，菜单式操作模式，方便程度堪比智能手机2、核心控制部件采用自主研发组成多功能主板3、仪器表面喷涂采用优质静电喷塑工艺，整洁美观。4、采用光学调制技术，测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响5、为了确保仪器的测量精度，在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，系统自带修补功能和自定义窗口设置6、在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测进一步提高了仪器性能7、在测量过程不会损伤被测样品，操作简便，灵活性高；8、配USB接口和联机接口及操作Windows软件9、配套温自主研发测控系统

太阳光反射比测试仪PM-A2功能使用方便，仪器轻巧，测试性能优越波长范围260~2500nm （约95%以上太阳光能力）的分光反射率、分光透过率，测量約2分钟,小号样品和大的样板都适用。PM-A2太阳光反射比测试仪反射模式测量举例：PM-A2太阳光反射比测试仪透射模式测量举例：PM-A2太阳光反射比测试仪技术规格测定波长范围 260~2500nm光源 75W氙灯支持三种测试方法 反射测量透射测量太阳光吸收率 (αS)测量不确定性 ±2%以内(再现性±1%以内)太阳光吸收率±0.02以内测定时间 约2分/次标准品 扩散性标准样板（SRS99 Labsphere公司）正反射性标准样板（TFA-25C05-4 ）电源 AC100V±10% 50/60Hz 250VA外形大小 约 W335×D375×H195mm重量 约15kg使用环境 温度：15~40℃湿度：10~45%RH存放环境 温度：10~45℃湿度：10~50%RH附件 使用手册CD（驱动程序）USB数据线 (Type A－Type B)电源线符合行业标准：ASTM E903-2012 用积分球测定材料太阳能吸收率、反射比和透射比的试验方法JIS K 5602 :2008 漆膜太阳辐射反射率测定ASTM C1549 常温下材料太阳光反射比的测定

Roadvista932逆反射系数测试仪美国Roadvista932逆反射系数测试仪|反光膜测试仪是为现场操作及实验室分析专业设计的便携式逆反射系数测试仪。932系列被设计用于测试反光材料的逆反射系数值（RA），包括夜间道路安全标识颜色标准（CIE 1931xy）高亮度反光安全服及其他反光材料。使用者在轻松的按下测试按键后，准确的告知使用者反光材料的实际逆反射系数值，除此以外，一并可测试反光材料的颜色是否符合颜色定义标准。连续可调的入射角和观测角易于各种反光材料的测试，包括在EN471和ANSI 107标准规范下的高亮度反光服测试。Roadvista932逆反射系数测试仪|反光膜测试仪内置蓝牙发射器及USB接口。通过以上装置可以轻松的通过电脑实现远程操控，此外，内置的记忆体可存储超过32000组测试数据。内部的光感应器，符合ASTM E1709和ASTM E2540规范的要求，符合CIE标准的人眼反应系数。光感应器与CIE照明标准A光源连接使用。Roadvista932逆反射系数测试仪使用国际标准的光度滤光器，精确测量时使用1个白板校准板，而不需要设定任何修正系数，这安全超越了竞争对手。产品特点● 简易操作，可测试各种类型的反光材料● 符合ASTM,CIE,ANSI,BS,EN&DIN技术规范● 观测角0.2度TO2.0度连续可调● 入射角-45度到+45度连续可调● 世界通用的标准A光源● 仅需一块校正板，无需任何校正参数● 独立的电源供应器和电池● 数字触摸彩屏显示● 内置蓝牙发射器● USB接口● 内置均值计算器● 内置可存储32000组测试数据的记忆体● 技术参数：● 入射角：-45度到+45度连续可调；● 观测角：0.2度到2度● 光源孔径张角：0.1度；● 光感应器孔径张角：0.1度；● 测试区域：直径1英寸（25mm）区域；● 技术规范：符合所有ASTM E1709 ASTM E2540，EN12899要求并遵循ASTMD4956，EN471，ANSI107测试规范；● 光感应器响应速率：光感应速率与ASTM E1709 6.4.2章及ASTM E2540 6.4.2章；● 量程：（cd/lx/m2）:0-20000 ● 数据存储：超过32000组测试数据；● 颜色测试：遵循CIE1931 xy retroreflected夜间色坐标；● 电脑相连装置：usb接口和蓝牙发射器；● 电源供应器：removeable12 VDC,2.4Ah；● 充电器：110VAC,60HZ(932-2)● 110VDC车载充电器（932）● 220VAC，50Hz（932）● 环境温度：0度-50度● 环境湿度：0-95%（非凝结）● 外形尺寸：380*115*325mm● 重量：2.9kg（含电池）符合标准符合GB 20653、GB/T 28648、EN ISO 20471、EN 471、ANSI 107 等标准规范下的高亮度反光服测试要求。随着中小学生的交通安全问题越来越严重，近期中国标委会发布了GB/T28468-2012 中小学生交通安全反光校服 测试技术规范和标准。里面特意提到用反光材料老保护道路学生行走安全，里面一项特别重要的测试指标是逆反射系数的测定。目前中国很多地区的纤维检验局，纤维检验所购买罗中科技代理的美国Roadvista品牌的逆反射系数测试仪进行该标准的测试。

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