三维表面形貌仪

科研史上前所未有的观测手段——数字全息DHM可高速实时测量三维形貌，达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图（1000fps）， 还可测频率响应（高达25MHz） 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试，微小光学元件检测，微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜，测量透明样品形貌，还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像，大面积三维形貌表征，表面粗糙度，MEMS振动测量分析，表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131406_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131407_01_1546_3.gif[/img][img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131406_02_1546_3.jpg[/img]

科研史上前所未有的观测手段——数字全息可高速实时测量三维形貌，达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图（1000fps）， 还可测频率响应（高达25MHz） 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试，微小光学元件检测，微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜，测量透明样品形貌，还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像，大面积三维形貌表征，表面粗糙度，MEMS振动测量分析，表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131349_01_1546_3.jpg[/img][img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131350_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131351_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131354_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131351_04_1546_3.gif[/img][img=,384,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131358_01_1546_3.jpg[/img]

科研史上前所未有的观测手段——数字全息DHM可高速实时测量三维形貌，达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图（1000fps）， 还可测频率响应（高达25MHz） 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试，微小光学元件检测，微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜，测量透明样品形貌，还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像，大面积三维形貌表征，表面粗糙度，MEMS振动测量分析，表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_01_1546_3.gif[/img][img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_02_1546_3.jpg[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_03_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_04_1546_3.gif[/img]

1、在腐蚀溶液总逐渐添加缓蚀剂后碳钢表面腐蚀形貌图1是Q235碳钢不同缓蚀剂的溶液中经过慢速动电位扫描达到孔蚀电位时的表面形貌。从图1可以看出，添加咪唑啉季铵盐后，金属表面孔蚀变化情况为小孔增多，但蚀孔深度有所下降，金属的溶解量减少。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271424_568111_2590289_3.png图1碳钢在含不同缓蚀剂的NaNO2+NaCl溶液中极化后的扫描电镜图2、未添加缓蚀剂时不同PH下碳钢表面孔蚀形貌不同pH条件下碳钢表面发生孔蚀时的表面形貌如图2所示。在pH =6.64时，蚀孔区域相对较集中，小孔周围覆盖有腐蚀产物，pH=10时试样表面蚀孔增多，但蚀孔一般较浅，蚀孔密集，有向全面腐蚀发展的趋势；pH=4时试验表面蚀孔区域与为发生孔蚀区域区分明显，孔蚀趋于多个连成一片，形成大的蚀坑。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271427_568114_2590289_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271427_568115_2590289_3.png图2不同pH条件下，碳钢在缓蚀剂溶液中的表面形貌3、 添加少量缓蚀剂时不同PH下碳钢表面孔蚀形貌当添加少量缓蚀剂时，不同pH条件下的孔蚀形貌变化如图3所示，与未添加咪唑啉季铵盐相比，试验表面在各个pH条件下小孔均有所增加，不同pH条件下的孔深变化情况基本与未添加咪唑啉季铵盐溶液体系保持一致。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271426_568112_2590289_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271426_568113_2590289_3.png图3添加少量缓蚀剂时，不同pH条件下的孔蚀形貌：(a)未调节pH；(b) pH =10；(c) pH=4 pH=7.02与pH=10时，试样表面小孔较多，且发生孔蚀的区域较大，当pH=4时，试样表面蚀孔明显减少，发生腐蚀区域较小，但是试样表面形貌变化较大，基本呈现坑蚀特征。4、缓蚀剂含量增加后，碳钢表面孔蚀形貌缓蚀剂含量增加后，不同pH条件下的孔蚀形貌变化如图4所示，与前两种体系相比：为确定pH条件下，体系蚀孔变浅，蚀孔数目相对于添加少量缓蚀剂时有减少，但仍比未添加咪唑时的蚀孔数目多；pH=10时，蚀孔数目明显减少，且深度变小；pH=4时，蚀孔深度和数目均减小，试验局部腐蚀得到明显的抑制。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271433_568116_2590289_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271433_568117_2590289_3.png图4缓蚀剂含量增加后，不同pH条件下的孔蚀形貌：(a)为调节pH；(b) pH =10；(c) pH=4

本人读研究生期间一直做关于铁谱分析，后来发现在光学显微镜下可以重构物体的三维图像，也就一直在这个方向上面做，现在要毕业了，当时觉得这个方向其实非常不错，还想深入做下去，但是初步发现好像国内做这方面的公司不多，大多数都是代理，不知道大家有什么建议。我的qq号5060941，有空可以聊聊。附件中有我编写的软件效果图，下面是论文的摘要，由于论文还没有提交，所以不方便发全文。摘 要铁谱技术是以磨损磨粒分析为基础的故障诊断方法，在铁谱技术中，磨粒图像是反映机械设备内部零部件磨损状况的重要信息载体，磨粒特征分析是监测对象实际状态十分丰富而又有效的方法。磨粒识别是铁谱分析的核心环节，直接关系到磨损状态诊断的正确性。磨粒成分与磨损构件成分相同，正确判断磨粒成分可以确定机械磨损位置，给保养和维修带来极大的方便。磨粒颜色与磨粒组成成分有很大的关联，本文使用主成分分析法在HSI色度空间上判断磨粒颜色，通过磨粒颜色分布确定磨粒组成成分。长期以来，由于三维成像设备性能和成本的限制，磨粒分析一直局限在二维形貌分析上。本文利用光学显微镜聚焦范围有限的特点，以改进拉普拉斯算子作为聚焦评价函数进行磨粒表面高度的测量，提取与聚焦高度相对应的像素点叠合生成能够反映磨粒表面全貌的全景深图像，最后结合磨粒表面高度信息和全景深图像重构出磨粒表面三维形貌图。为了满足计算机实时进行三维重构需求，本文还给出了一种磨粒表面形貌三维重构的快速算法。本文使用DSP、步进电机、CCD摄像头和改装过的光学显微镜设计了进行磨粒三维形貌测量的装置，并编写了基于Visual C++.net的磨粒表面形貌实时分析及三维重构软件。本文的主要研究工作有：1．综合国内外有关文献，对铁谱磨粒分析技术和微观物体的三维测量技术的发展和现状进行综述，结合本课题研究的要求，阐述了本文的主要研究内容。2．应用主成分分析法在HSI色度空间对磨粒的颜色进行了分析，找出一种判断磨粒组成成分的方法。3．分析论述了铁谱图像的数字图像处理技术和微观物体三维测量的原理、方法以及在磨粒测量上的应用。4．使用DSP、步进电机、CCD摄像头、改装的光学显微镜和计算机设计并制作了一套微观物体三维形貌光学测量装置。5．使用VC++ 设计了磨粒表面形貌分析与三维重构软件并使用自行设计制作的微观物体三维形貌光学测量装置对磨粒进行分析并重构出磨粒表面形貌三维图像。关键词：铁谱技术，磨粒，图像处理，三维重构，显微镜[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2005/11/200511131645_10117_1163957_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2005/11/200511131647_10118_1163957_3.jpg[/img]

拍的一些样片[img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271527_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271527_02_1546_3.gif[/img][b]光敏聚合物受光形变 plots-3D[/b][img=,384,244]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271527_03_1546_3.png[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271528_02_1546_3.gif[/img][b]红细胞 电化学刻蚀[/b][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271528_03_1546_3.png[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271528_04_1546_3.gif[/img][b]静态三维形貌 加热降解[/b][img=,364,204]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271528_05_1546_3.gif[/img]电化学刻蚀[img=液体透镜形变,363,204]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271422_01_1546_3.gif[/img][img=24.7MHz表面声波,360,202]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271422_03_1546_3.gif[/img][b]液体透镜形变 24.7MHz表面声波[/b][img=MEMS麦克风,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271423_01_1546_3.gif[/img][img=MEMS微镜,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271424_01_1546_3.gif[/img][b]MEMS麦克风 MEMS微镜 [/b][img=,384,200]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271436_01_1546_3.gif[/img][b]酵母菌[/b]

[align=center][b][color=#ff0000][/color][/b][/align][align=center][b][size=24px][color=#ff0000]AM-7000白光干涉三维形貌测量仪[/color][/size][/b][/align][align=center][/align][align=center][url=https://img1.17img.cn/ui/simg/instrument/child/2022/edm/bg/index.html?v=a1http://]点击打开链接[img=,303,734]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211251256261550_4854_5842670_3.png!w303x734.jpg[/img][/url][/align]

[font=宋体][img=,690,151]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/08/202008211751120698_3790_2507958_3.jpg!w690x151.jpg[/img][/font][font=宋体]表面分析技术包括了飞行时间二次离子质谱，[/font]X[font=宋体]射线光电子能谱等技术，在生物医药的生产和研发过程中，对于药物，细胞等表面和一定深度的成份信息的表征具有非常重要的意义，也是生物医药领域必不可少的分析表征手段。无损三维成像技术主要包括[/font]X[font=宋体]射线三维显微镜，可对样品内部结构与组分在三维空间进行的定量表征。[/font][font=宋体]束蕴仪器（上海）有限公司作为高德英特[/font] TOF-SIMS[font=宋体]、[/font]XPS[font=宋体]、布鲁克[/font]X[font=宋体]射线三维显微镜的授权代理商，[/font]与大家一起交流表面分析与三维成像技术和生物医药领域的碰撞。[font=宋体]会议时间：[/font]8[font=宋体]月[/font]28[font=宋体]日[/font]13:30 – 17:30[font=宋体]会议安排：[/font][font=宋体][img=,690,276]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/08/202008211751509565_7243_2507958_3.png!w690x276.jpg[/img][/font][font=宋体][font=宋体]报名地址：[/font][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/BM828]点击打开链接[/url][/font][font=宋体]欢迎报名参加！[/font]

[font=宋体][img=,690,151]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/08/202008211751279777_4784_2507958_3.jpg!w690x151.jpg[/img][/font][font=宋体]表面分析技术包括了飞行时间二次离子质谱，[/font]X[font=宋体]射线光电子能谱等技术，在生物医药的生产和研发过程中，对于药物，细胞等表面和一定深度的成份信息的表征具有非常重要的意义，也是生物医药领域必不可少的分析表征手段。无损三维成像技术主要包括[/font]X[font=宋体]射线三维显微镜，可对样品内部结构与组分在三维空间进行的定量表征。[/font][font=宋体]束蕴仪器（上海）有限公司作为高德英特[/font] TOF-SIMS[font=宋体]、[/font]XPS[font=宋体]、布鲁克[/font]X[font=宋体]射线三维显微镜的授权代理商，[/font]与大家一起交流表面分析与三维成像技术和生物医药领域的碰撞。[font=宋体]会议时间：[/font]8[font=宋体]月[/font]28[font=宋体]日[/font]13:30 – 17:30[font=宋体]会议安排：[/font][font=宋体][img=,690,276]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/08/202008211751382904_8492_2507958_3.png!w690x276.jpg[/img][/font][font=宋体][font=宋体]报名地址：[/font][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/BM828]点击打开链接[/url][/font][font=宋体]欢迎报名参加！[/font]

[font=宋体][img=,690,151]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/08/202008211750577268_7133_2507958_3.jpg!w690x151.jpg[/img][/font][font=宋体]表面分析技术包括了飞行时间二次离子质谱，[/font]X[font=宋体]射线光电子能谱等技术，在生物医药的生产和研发过程中，对于药物，细胞等表面和一定深度的成份信息的表征具有非常重要的意义，也是生物医药领域必不可少的分析表征手段。无损三维成像技术主要包括[/font]X[font=宋体]射线三维显微镜，可对样品内部结构与组分在三维空间进行的定量表征。[/font][font=宋体]束蕴仪器（上海）有限公司作为高德英特[/font] TOF-SIMS[font=宋体]、[/font]XPS[font=宋体]、布鲁克[/font]X[font=宋体]射线三维显微镜的授权代理商，[/font]与大家一起交流表面分析与三维成像技术和生物医药领域的碰撞。[font=宋体]会议时间：[/font]8[font=宋体]月[/font]28[font=宋体]日[/font]13:30 – 17:30[font=宋体]会议安排：[/font][font=宋体][img=,690,276]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/08/202008211752040863_5792_2507958_3.png!w690x276.jpg[/img][/font][font=宋体]报名地址：[url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/BM828]点击打开链接[/url][/font][font=宋体]欢迎报名参加！[/font]

三维显微激光拉曼光谱仪三维显微激光拉曼光谱仪装置Nanofinder30 　Nanofinder30 三维显微激光拉曼光谱仪装置是日本首创,世界最初的分析装置。它能在亚微米到纳米范围内,测定物质化学状态的三维图像。它由共焦激光显微镜,压电陶瓷平台(或电动扫描器)和光谱仪组成。并能自选追加原子力显微镜和近场表面增强拉曼测定的功能。 最新测量数据[ 变形Si的应力测定]PDF刊登 用二维的平面分析来评价变形Si。空间分辨率130nm, 变形率0.01%(0.1cm偏移)。 半导体/电子材料(异状物,应力,化学组成,物理结构)薄膜/保护膜(DLC,涂料,粘剂)/界面层,液晶内部构造结晶体(单壁碳纳米管,纳米晶体)光波导回路,玻璃,光学结晶等的折射率变化生物学(DNA, 蛋白质, 细胞 组织等) 以亚微米级分辨率和三维图像,能分析物质的化学结合状态空间分辨率200nm(三维共焦点模式),50nm(二维TERS模式)能同时测定光谱图像(拉曼/萤光/光致荧光PL),共焦显微镜图像,扫描探针显微镜图像(AFM/STM)和近场表面增强拉曼图像(SERS)能高速度,高灵敏度地测定样品(灵敏度:与原来之比10倍以上)不需要测定前样品处理,在空气中能进行非破坏测定全自动马达传动系统的作用,测定简单 共焦显微镜模式不能识别结晶缺陷,然而光致荧光(PL)模式却能清楚地测到结晶缺陷 共焦激光显微镜模式的形状测定 光谱窗 560 nm 用光致荧光(PL)模式测到的结晶缺陷的光谱图像(560nm的三维映像) 用AFM和共焦显微拉曼法同时测定CNT,能判定它的特性 (金属,半导体)和纯度。 同时测定单壁碳纳米管(CNT)的原子力显微镜(AFM) 形貌图像和拉曼光谱图像的例子 :拉曼光谱: 激光488nm,功率1.5mW,曝光时间2 sec,物镜100×Oil, NA=1.35, 积分时间100 sec (AFM和拉曼图像测定时) AFM形貌图像(右上)表示了单壁碳纳米管混合物的各种形状结构。图像中用数字1到8来表示其不同形状。数字1-6测得了拉曼光谱(上图所示),判定为半导体CNT。但7-8测不到拉曼光谱,所以不是半导体CNT,而可能是金属CNT(可用He-Ne激光633nm验证)。最上面表示了RBM(173cm-1), G-band(1593cm-1)及D-band(1351cm-1)的拉曼光谱图像 综合激光器和光谱分析系统的长处,坚固耐用的复合设计,卓越的仪器安定性,是纳米技术测定装置中的杰出产品。 ※日本纳米技术2004大奖“评价和测量部门”得奖. ※日本第16届中小企业优秀技术和新产品奖 “优良奖”得奖. 光学器件配置图Nanofinder30 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/12/200812071751_122565_1634361_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/12/200812071751_122566_1634361_3.jpg[/img][~122567~][~122568~]

1、SPM原位分析扫描电化学显微镜可用于原位检测电极表面微区电位、电流分布以及检测微观尺寸上的STM形貌分布。采用XMU-BY电化学扫描显微镜研究碳钢试样在孔蚀电位Eb及亚稳态孔蚀电位Em下恒电位极化时，碳钢试样表面的微区电位分布的变化。SPM技术是一种新型的观测金属表面的测试技术，包括扫描隧道显微镜(STM) 、原子力显微镜(AFM) 、磁力显微镜(MFM) 等。相较于其他表面分析技术，SPM不仅能够采用高分辨率的三维表面成相与测量，还能够对材料的性质差别进行研究。对于SPM的运用也从最初的测试工具发展为加工、制造等微观精密领域的应用。本文中所使用的XMU-BY扫描电化学工作站可用于原位检测电极表面微区电位、电流分布以及检测微观尺寸上的STM形貌分布。此外，XMU-BY扫描电化学工作站特有的定点测试功能，可以自动地将扫描探针定位到感兴趣的区域，然后可以进行局部点位置多种电化学信息的跟踪测试，比如电位随时间的变化测试、电位随X/Y/Z方向距离的变化测试、物质分布变化的测试以及形貌变化的测试。另外，还通过与恒电位仪联用，进行了外加恒电位条件下试样表面形貌的原位分析，实验用恒电位仪为。图1为联用系统结构原理框图，原理框图如下：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271337_568105_2590289_3.png图1扫描探针显微镜与恒电位仪联用系统结构原理框图 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271337_568106_2590289_3.png图2扫描探针显微镜与恒电位仪联用系统实物图图2为根据原理结构框图我们所建立的恒电位下扫描探针显微镜实物图。从图中可看出， XMU-BY扫描电化学工作站由5部分组成：扫描平台（包括扫描探头、扫描平台底座、扫描器、探针架和探针）、控制机箱、恒电位仪、电机控制器、计算机控制系统。2、实验与讨论在碳钢孔蚀电位Eb下进行恒电位极化，得到Q235碳钢表面电位变化。每隔5min得到一张电位微区分布图，连续恒电位测量1h，将所得的图片使用CSPM Imager图片编辑软件进行分析，绘制出三维图像。图3为实时监测电位分布图，图4为将得到数据进行三维处理后的电位分布图。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271349_568107_2590289_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271349_568108_2590289_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271349_568109_2590289_3.jpg图3 SPM恒电位极化下，碳钢表面电位分布http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271352_568110_2590289_3.png图4 恒电位Eb下Q235碳钢表面随时间变化的电位分布图3、结论在电位Eb恒电位极化下，碳钢表面微区电位同样呈现不均匀性，存在活性阳极与活性阴极区。