集成电路测试仪

集成电路 IC卡高低温测试集成电路 IC 卡高低温测试原因：集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能，inTEST-Temptronic 高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试 Thermal cycle、冷热冲击测试 Thermal stock、老化测试等试验。inTEST-Temptronic 高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃，特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。集成电路 IC 卡高低温测试客户案例一：上海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商，经过技术选型，采购 inTEST-Temptronic ATS-505用于集成电路 IC 卡高低温测试。Temptronic ATS-505 台式设计，体积轻巧，测试温度范围：-20°C 至+225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。Temptronic 集成电路高低温测试方法：客户采用 Air Mode 模式直接测试：Temptronic ATS-505利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将被测电路IC卡放置在热流罩位置，根据操作员设定，喷出和设定温度相差±1℃的气流，从而进行电路板的高低温测试。inTEST ATS-505 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度+230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。集成电路 IC 卡温度测试客户案例二：上海伯东客户是一家 IC 卡生产企业，经过技术选型，采购 Temptronic ThermoStream ATS-535 高低温测试机，ATS-535 内置空压机，温度测试范围：-60°C 至 +225°C，适用于实验室内无空压系统的客户，方便移动。集成电路 IC 卡温度测试方法：客户采用 DUT Mode 模式测试：1、将待测 IC卡和温度传感器放置在测试腔中2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-535 ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；气流通过热流罩进入测试腔4、测试腔中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度，inTEST ATS-535 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。 鉴于信息保密，更详细的 Temptronic 集成电路IC 卡高低温测试方法 欢迎拨打电话：inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

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电源管理芯片充电ic集成电路芯片电源适配器IC在所有的电子设备和产品中，都不乏电源IC的“身影”。随着数字高速IC技术和芯片制造工艺技术的共同高速发展，高性能电源IC“助阵”的作用显得愈加重要。而日新月异的电子产品应用、环保绿色节能需求的兴起也对电源IC提出了更高的要求，催生新一代高集成度、高性能和高能效电源管理IC的需求，亦成为电源管理IC厂商永恒的使命。电源管理半导体从所包含的器件来说，明确强调电源管理集成电路(电源管理IC，简称电源管理芯片)的位置和作用。电源管理半导体包括两部分，即电源管理集成电路和电源管理分立式半导体器件。电源管理集成电路包括很多种类别，大致又分成电压调整和接口电路两方面。电压凋整器包含线性低压降稳压器(即LOD)，以及正、负输出系列电路，此外 不有脉宽调制(PWM)型的开关型电路等。因技术进步，集成电路芯片内数字电路的物理尺寸越来越小，因而工作电源向低电压发展，一系列新型电压调整器应运 而生。电源管理用接口电路主要有接口驱动器、马达驱动器、功率场效应晶体管(MOSFET)驱动器以及高电压/大电流的显示驱动器等等。电源管理分立式半导体器件则包括一些传统的功率半导体器件，可将它分为两大类，一类包含整流器和晶闸管；另一类是三极管型，包含功率双极性晶体管，含有MOS结构的功率场效应晶体管(MOSFET)和绝缘栅双极型晶体管(IGBT)等。在某种程度上来说，正是因为电源管理IC的大量发展，功率半导体才改称为电源管理半导体。也正是因为这么多的集成电路(IC)进入电源领域，人们才更多地以电源管理来称呼现阶段的电源技术。深圳市骊微电子科技有限公司从事家电电源，充电器，电源适配器，LED电源等电源产品芯片IC设计，测试，销售。产品主要覆盖5-100W以内各类电源产品，公司同时提供电源产品应用与电源设计服务。

军工集成电路芯片粘接用导电银胶JM7000产品名称：军工集成电路芯片粘接用导电银胶JM7000耐高温低放气应用点: 芯片粘接要求：耐高温、调低温冲击、可靠性稳定 、低放气应用点图片：技术参数：产品图片：军工集成电路芯片粘接用导电银胶JM7000

PN8235 ic集成电路SOP7led电源ic厂家15.5W充电器应用方案 PN8235产品概述： PN8235集成超低待机功耗原边控制器及800V智能高压启动模块，外驱功率DMOS，外部Rg可调。PN8235用于高性能、外围元器件精简的充电器、适配器和内置电源。PN8235为原边反馈工作模式，可省略光耦和TL431。内置高压启动电路，可实现芯片空载损耗（230VAC）小于50mW。在恒压模式，采用多模式技术提高效率并消除音频噪声，使得系统满足6级能效标准，可调输出线补偿功能能使系统获得较好的负载调整率；在恒流模式，输出电流和功率可通过CS脚的电阻进行调节。该芯片提供了极为全面的智能保护功能，包含逐周期过流保护、过压保护、开环保护、过温保护、输出短路保护和CS开路保护等。PN823产品特点： 内置高压启动电路，小于50mW空载损耗（230VAC）采用多模式技术提高效率，满足6级能效标准外驱DMOS，外部Rg可调全电压输入范围±5%的CC/CV精度原边反馈可省光耦和TL431恒压、恒流、输出线补偿外部可调无需额外补偿电容无音频噪声智能保护功能过温保护 (OTP)VDD欠压&过压保护 (UVLO&OVP)逐周期过流保护 (OCP)CS开/短路保护 (CS O/SP）开环保护 (OLP) PN8235广泛应用于：电池充电器多口USB插排LED驱动器 全新原装现货库存。价格有优势。质量有保证。深圳骊微电子科技有限公司是一家专注于研发、生产、销售数码产品的高科技企业。公司实力雄厚，技术领先，集研发、生产、销售于一体，并致力于周边产品的技术研发和市场开拓。公司一贯秉承“科技领先，诚信第一，品质超群”的经营理念，“服务第一、用户至上、高效优质，精益求精”是我们追求的目标。

SD8585S集成电路IC芯片led 线性ic电源适配器充电器IC SD8585S产品描述：SD8585S是内置高压MOS管功率开关的原边控制开关电源PSR，采用PFM调制技术，提供精确的恒压/恒流(VC/CC)控制环路，具有非常高的稳定性和平均效率采用SD8585S设计系统，无需光耦，可省去次级反馈控制、环路补偿，精简电路，降低系统成本。SD8585S适用10-12W输出功率，内置线损补尝功能和峰值电流补偿功能。 SD8585S产品特点：内置高压MOS管功率开关原边控制模式低启动电流前沿消隐逐周期限流PFM调制降峰值模式过压保护欠压锁定环路开路保护最大导通时间保护过温保护线损电压补偿峰值电流补偿SD8585S广泛应用于：充电器适配器待机电源深圳市骊微电子科技有限公司十大优势: 1、代理分销优势：专业代理、分销各类电子元器件，专注于音频,视频,电源类IC。 2、产品应用优势：所供应的产品广泛应用于通信、消费电子、能源、医疗保健、仪表仪器和测量、电机控制、安防和监控等领域。 3、经营产品优势：高数运算放大器和线性产品，音频DAC和视频编，数字电源管理和散热管理，宽带产品，处理器和DSP，时钟和定时IC，光纤和光通信产品，AD-DA数模转换器、模拟开关和多路复用器、接口、惯性传感器等。　　 4、 主打品牌优势：骊微电子代理了士兰微，芯朋微，华润华晶，泉芯，赛威，芯龙等一系列产品，具有一级代理商资质证书！　 5、市场优势：公司拥有稳定优势的进货渠道和完备的现货库存，客户群体面向国内外贸易及终端工厂用户市场，现已成为众多同行及厂家的合作伙伴。 6、公司文化优势：公司贯彻“质量第一，服务至上”的宗旨，坚持“只做原装正品”的原则，秉承“诚信经营，贴心服务，提升价值，最大化客户的利益”为理念，向广大客户承诺所供产品均为原装正品，假一赔十！ 7、技术配备优势：为了更好的替客户解决问题，我司拥有一批专业的工程技术人员，准确及时耐心的为客户提供解决方案和技术支持。另外，我司还附带提供：产品开发、芯片、应用咨询、方案设计等技术服务，欢迎各位厂家的咨询洽谈与合作。　优势的价格，原装的正品，稳定的货源，我相信这是您独一无二的选择！真诚的希望我们能成为您硬件开发和生产队伍中的一员，团结合作，共创双赢！ 8、本公司只做原装正品，欢迎来电咨询！

系统概述骇思HyperPureX ICM-E系列集成电路电子级超纯水系统以严谨的合规性指导系统的设计、制造、安装和验证的全过程，以模块化的设计集成了多介质过滤、活性炭吸附、软化、二级RO2nd、脱气、EDI、超滤、紫外杀菌和TOC降解、树脂超纯化、以及终端微滤各纯化单元，广泛应用于半导体晶圆及液晶屏清洗、芯片等各种精密电子元器件的加工和制造。 水质标准GB/T 11446.1-2013、GB/T 33087-2016、ASTM D1193-06等规定的水质标准 工艺路径1. 预处理系统+二级反渗透RO2nd系统+脱气系统+EDI系统+超纯化系统+储存分配系统 性能特点10“彩色触控屏及 PLC控制模块且具有物联网（IOT）和云平台功能的全自动控制系统；模块化设计理念，结构紧凑，便于操作及后期维护； 整套设备可以完全排空设计；可根据客户原水水质优化调整工艺路线； 系统内部部分浓水可回收，可提高系统回收率至80%以上；确保过程检验、质量监控、验证文件符合用户需求； 应用范围液晶面板制作、半导体晶圆、芯片等各种精密电子元器件行业的加工和制造

PN8160集成电路IC_AC-DC小家电电源ic方案PN8160产品描述: PN8160 内部集成了脉宽调制控制器和功率MOSFET，用于高性能、外围元器件精简的交直流转换开关电源，该芯片提供了极为全面和性能优优异的智能化保护功能，包括周期式过流保护，过载保护，软启动功能。通知QR+CCMECO-modeBurst-mode的三种模式混合调制技术和特殊器件低功耗结构技术实现了超低的待机功耗，全电压范围下的最佳效率。频率调制技术和SoftDriver技术充分保证良好的ＥＭＩ表现。 PN8160产品特点：专利高压启动，无需启动电阻，待机功耗小于50mW；QR-PWM + QR-PFM + Burst Mode提高平均效率，精准谷底开通算法，轻松满足六级能效；自适应PWM工作频率(85/65kHz)，减小变压器体积，校正高低压过流点一致性；内置电流采样管，无需CS电阻，节省成本、提高效率、简化布板；叠层封装技术，热阻更小，24W无需散热片；高低压脚位两侧排列，更高安全性；超宽VDD电压8-40V，适合快充应用；全面保护功能：输出过压保护、VDD欠过压保护、过温保护、过载保护、输出二极管短路等保护；超高可靠性：40V BCD平台 + 690V Smart MOSFET；HBM ESD大于4kV；Latchup电流大于200mA。PN8160广泛应用于：开关电源适配器和电池充电器家电、个人电脑、音响等辅助电源LCD /PDP电视机辅助电源深圳市骊微电子科技有限公司主要从事家电电源，充电器，电源适配器，LED电源等电源产品芯片IC设计，测试，销售。产品主要覆盖5-100W以内各类电源产品，公司同时提供电源产品应用与电源设计服务。公司地址：深圳市宝安区西乡鹤洲恒丰工业城B11栋5楼东

CAMTEK 自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用碳化硅碳化硅晶片是未来一代半导体材料,具有独特的电学性能和优异的热性能。 与硅片和砷化镓晶片相比,碳化硅晶片更适合高温和高功率设备应用程序。Camtek开发专用的检验和计量解决方案,以及分析工具来解决这一新兴市场。功能• 处理透明材料区域使用黑暗查克在晶片上• 背光查克的早期阶段的过程• 朋友处理透明的晶片• eef——边缘控制能力• 自动缺陷分类(ADC)基于收益管理的深度学习• 弓测量• 预测收益率-晶圆缺陷位置精度 2um技术• sts -表面形貌传感器• 背光 产品 EagleT-AP为先进的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。 EagleT-i设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个 快的和 精确的2 d检查工具在市场上。 CAMTEK 自动光学检验AOI设备 表面检查Camtek提供了一个完全自动化的表面检测系统,用于支持大容量生产环境而提供快速检验和计量功能。独特的灵活平台支持市场 苛刻的应用程序,包括独联体、微机电系统、LED, OQC和记忆以及不同的流程步骤。功能• 2D缺陷检验和计量• 垫和调查分析• 2D CD测量• 高吞吐量、灵活设置• 在线和离线分类• 全自动化技术• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器 产品Eagle-i 的2D表面缺陷检验和计量系统,实现高容量生产前2 d检查解决方案和post-bumped晶片,探针标记检查,OQc等等。EagleT-i设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个 快的和 精确的2 d检查工具在市场上。 CAMTEK 自动光学检验AOI设备 三维集成电路Camtek灵活平台利用各种技术解决的复杂步骤3 dic发展和生产的需要。我们完全自动化的2 d和3 d测量和缺陷检测能力覆盖 先进的产业需求解决产业路线图。该系统包括数据分析工具使过程监控和产量的提高。功能• 高容量整片肿块2 d和3 d检查和计量• 层厚度测量• 调整层之间• 覆盖测量• 高分辨率CD测量• 表面相关缺陷检查• TSV CD测量• 通过了检验• 通过揭示/指甲高度和co-planarity测量• RDL检验和计量技术• Camtek独特的白光三角测量传感器• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器• 光干涉测量技术对3 d 产品 Eagle-APEagle-AP提供2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。 EagleT-AP为先进的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。 CAMTEK 自动光学检验AOI设备Fan-outCamtek先进的校准和诉讼机制结合专用的检验和计量能力解决挑战性的Fan-out的过程。我们的系统支持表面检验能力和独特的计量信息死层之间结合位置对齐数据。系统生成各种报告,增加产量和提高产量。功能• RDL检查和计量• 检查多层晶片• 多种光学设置所有步骤和缺陷类型• 3 d高度和co-planarity测量• 死位置测量技术• Camtek独特的白光三角测量传感器• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器• 光干涉测量技术对3 d 产品 Eagle-APEagle-AP提供2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。 CAMTEK 自动光学检验AOI设备 CMOS图像传感器检查Camtek CMOS图像传感器制造商提供了大量环境系统与不妥协的检测能力。我们的先进解决方案强加的独特挑战CIS应用程序,如像素尺寸小型化和复杂的生产过程,是基于我们长期积累的经验在这个市场。功能• Sub-resolution检测™ • 动态范围扩展器和双照明• 黑场和明亮的场• 先进的低对比度缺陷算法• 细晶片和改造晶片处理• 验证:在线和离线技术• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器

PN8149产品描述：PN8149内部集成了脉宽调制控制器和功率MOSFET，专用于高性能、外围元器件精简的交直流转换开关电源。该芯片提供了极为全面和性能优异的智能化保护功能，包括周期式过流保护（外部可调）、过载保护、过压保护、CS短路保护、软启动功能。通过Hi-mode、Eco-mode、Burst-mode的三种脉冲功率调节模式混合技术和特殊器件低功耗结构技术实现了超低的待机功耗、全电压范围下的最佳效率。良好的EMI表现由频率调制技术和Soft Driver技术充分保证。该芯片还内置智能高压启动模块。PN8149为需要超低待机功耗的高性价比反激式开关电源系统提供了一个先进的实现平台，非常适合六级能效标准、Eur2.0、能源之星的应用。 PN8149产品特点： 内置650V高雪崩能力的功率MOSFET Hi-mode（60kHz PWM） Eco-mode（动态PFM） Burst-mode （25kHz间歇工作模式） 改善EMI的频率调制技术 空载待机功耗 75 mW @230VAC 软启动技术 内置高压启动电路 内置线电压补偿和斜坡补偿 开放式输出功率 24W@230VAC 优异全面的保护功能 过温保护（OTP） 过载保护（OLP） 外部电阻可调式周期过流保护（OCP） 过压保护（OVP） CS短路保护PN8149广泛应用于： 开关电源适配器和电池充电器 白色家电、个人电脑、音响等辅助电源 LCD /PDP电视机辅助电源深圳市骊微电子科技有限公司 1.郑重承诺：我司只售原厂正品，敬请放心购买！ 2.公司具备一般纳税人资格，可开17%专用票。公司地址：深圳市宝安区西乡鹤洲恒丰工业城B11栋5楼东

设备名称：电力电缆故障智能测试仪 设备型号：ZT9608-G 设备简介：ZT9608-G电力电缆故障智能测试仪是我公司应用最新科研成果和高科技电子技术，大规模数字集成电路技术研制开发的一种全新的智能化电力电缆故障测试仪。 设备特点： （1）硬件采用大规模数字集成电路，大幅度提高了仪器的可靠性，极大的减小了体积（与同类产品比较，体积最小）。 （2）可外接笔记本电脑，本机及笔记本电脑均可操作。 （3）通过超大液晶屏显示，画面清晰，人机对话舒适，克服了CRT（显示管）固有的弊病。 （4）专用抗干扰电路，彻底解决了笔记本电脑抗干扰差而引起的飞屏、死机等现象。 （5）高压闪络采样为电流采样，连接方便、可靠，易操作。 （6）采用先进的同步定点技术，能够显示测试点到故障点的距离，并同时显示声波和电磁波。

设备规格1.全自动操作模式；2.Robot取放片；3.适应于6英寸-8英寸Wafer；4..冷却方式包括水冷和氮气吹扫；5.MFC控制，3-5路制程气体 6.SEMI认证。工艺应用:快速热处理(RTP)，快速退火(RTA)，快速热氧化(RTO)，快速热氮化(RTN)；离子注入/接触退火；高温退火；高温扩散。金属合金；热氧化处理；

产品介绍：?识别卡测试方法?ISO/IEC10373-3-2001，智能卡三轮压力测试仪根据IC卡CQM项目对卡三轮测试，适用于对识别卡、带触点的集成电路卡进行三轮往复循环测试。 HY(SL)三轮测试仪根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试。卡被放到机器中，测试轮将循环测试100次，芯片前方滚动50次，芯片后方滚动50次，循环频率为0.5Hz，向下的压力为8N。经过测试，检查芯片情况，芯片应该是完好无损且功能正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准推荐的测试。1.型号：HY(SL)2、测试轮循环次数：前后循环各50次3、电源 AC220V 4、外形尺寸（mm）: 长255 ×宽235 ×高2855、重量（KG）：12kg

随着科技的不断发展，IV测试仪在电子行业中的应用越来越广泛。而在众多的IV测试仪中，便携式IV测试仪6591A因其独特的特性和优势，备受用户的青睐。本文将对便携式IV测试仪6591A的特点和优势进行深入分析，以帮助读者更好地了解和使用这一优秀的测试工具。一、便携式设计，方便携带和使用便携式IV测试仪6591A的最大特点就是其便携性。相比于传统的台式IV测试仪，6591A体积小巧、重量轻便，方便用户携带。无论是在实验室、生产线还是野外现场，用户都可以轻松携带6591A，随时进行测试工作。这种设计使得6591A成为各类电子设备生产、研发、维修等领域的必备工具。二、高性能，测试准确度高虽然便携式IV测试仪6591A体积小巧，但其性能却十分强大。它采用了先进的集成电路技术和传感器技术，具有高精度的电压和电流测量能力。在进行IV测试时，6591A能够提供准确的测试数据，帮助用户快速准确地判断电子设备的性能和状态。三、多通道测量，支持多路同时测试便携式IV测试仪6591A支持多通道测量，可以同时对多个通道进行测试。这一功能大大提高了测试效率，减少了测试时间。用户可以根据需要配置不同的通道数量和参数，以满足各种测试需求。四、友好的人机界面，操作简便便携式IV测试仪6591A采用大屏幕液晶显示器，用户界面友好，操作简便。仪器提供了直观的图形化显示和菜单导航，用户可以快速熟悉操作流程。此外，6591A还支持快捷键操作和自定义设置，使用户能够根据个人习惯进行操作，提高工作效率。五、丰富的扩展功能，满足多种测试需求便携式IV测试仪6591A不仅具备基本的IV测试功能，还拥有丰富的扩展功能。例如，仪器支持自动扫描和自动测量功能，能够快速准确地完成批量测试任务。此外，6591A还支持数据存储和导出功能，可以将测试数据保存到本地或通过USB接口导出到计算机进行处理。这些扩展功能使得6591A能够满足各种复杂的测试需求。六、可靠性强，使用寿命长便携式IV测试仪6591A采用了高品质的材料和零部件，经过严格的生产工艺控制，具有很高的可靠性和稳定性。此外，仪器还具备过载保护、短路保护等多重安全保护功能，能够有效地保护仪器和被测设备的安全。因此，6591A的使用寿命长，维护成本低，为用户节省了大量的成本和时间。七、广泛的适用范围，适用于多种电子设备测试便携式IV测试仪6591A适用于多种电子设备的IV测试，包括但不限于晶体管、集成电路、电池、电源模块等。无论是实验室、生产线还是野外现场，用户都可以使用6591A对各种电子设备进行快速准确的测试。这一广泛的适用范围使得6591A成为电子行业不可或缺的测试工具。江苏千裕净化科技供应便携式IV测试仪6591A具有便携性、高性能、多通道测量、友好的人机界面、丰富的扩展功能、可靠性强以及广泛的适用范围等特点和优势。这些特点和优势使得6591A成为电子行业中的优秀测试工具，能够帮助用户快速准确地完成各种IV测试任务。无论是在实验室、生产线还是野外现场，便携式IV测试仪6591A都是用户的可靠伙伴，为用户的工作带来极大的便利和效率提升。千裕科技致力于光伏检测设备的研发与生产，现有设备包括 EL检测系列，便携式EL检测仪，组串式EL检测仪，无人机EL测试仪，IV功率测试系列，便携式IV测试仪，电能质量分析仪，等相关光伏电站检测设备与光伏产线实验室检测设备

美国WEB Technology公司 WEB Technology 公司是设计，制造，生产半导体集成电路相关测试设备的提供商。公司总部设在美国的德州,公司成立于1982年，现有的产品线：裂缝测试仪，水汽测漏仪，粗测/精测漏仪，离心机和离心夹具，桌上测试机，转塔测试机，老化板上下料机。WEB 6000系列裂缝测试仪WEB 6000系列裂缝测试仪主要用于半导体器件的粗检漏。其主要工作原理将器件放置于氟油中，通过放大镜观看器件是否有气泡来判断器件密封性。其特点：● 可以满足MIL STD 883C测试条件● 配有寒环以减小氟油的蒸发● 可于165℃下作过滤。（独家技术）● 大镜位置可以调整来提高操作人员可视范围。● 双光源照明，照明时间可以超过15,000英尺蜡烛。● 可选用3X放大镜以便符合MIL STD 750及202测试条件（独家） 氟油箱容量 测试托盘6000 1.5gallons 10英寸x 4英寸6200 2.5gallons 14英寸x6英寸

三轮滚压测试仪介绍：三轮滚压测试仪根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试，适用于对识别卡、带触点的集成电路卡进行三轮往复循环测试，将芯片卡放在机器测试滚轮之间，将芯片在三个钢制滚轮间循环测试100次，芯片前方滚动50次，芯片后方滚动50次，循环频率为0.5Hz，并在芯片上加一个8N的力，经过往复循环测试后验证ICC触点芯片功能是否正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准推荐的测试。 三轮滚压测试仪主要技术参数：1.型号：MX-GYY2.测试轮循环次数：前后循环各50次3.测试标准参考: Mcd4.CQM测试标准参考: P-225.测试方法参考: 10.3.226.CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.27.电源: 110-220 V 50/60 Hz.8.执行标准：GB/T 17554. 3-2006

导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.

硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。

工频耐压测试仪/介电强度测试仪产品型号：BDJC-50KV控制方式：微机控制一、满足标准： GB1408-2006 绝缘材料电气强度试验方法 GB/T1695-2005 硫化橡胶工频电压击穿强度和耐电压强度试验 GB/T3333 电缆纸工频电压击穿试验方法 HG/T 3330绝缘漆漆膜击穿强度测定法 GB12656 电容器纸工频电压击穿试验方法 ASTM D149 固体电绝缘材料在工业电源频率下的介电击穿电压和介电强度的试验方法.二、适用范围及功能主要适用于固体绝缘材料（如：塑料、橡胶、薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘漆等介质）在工频电压或直流电压下击穿强度和耐电压的测试。由电脑控制，通过我公司自主研发的全新智能数字集成电路系统与软件控制系统两部分来完成，使升压速率真正做到匀速、准确，并能够准确测出漏电电流的数据。可实时动态绘制试验曲线，显示试验数据，判断准确，并可保存，分析，修改，打印试验数据。1、本仪器在试验过程中可对升压击穿过程绘制实时曲线，每次试验的升压曲线都由不同颜色构成，试验结束后可叠加对比材料的试验数据重复性。2、可以随时调取当前及历史试验数据进行查看，编辑及修改实验结果。3、试验过程中可以随时修改试验条件及存储路径及自动存储试验结果。4、试验过程中，可随时通过软件决定本次试验是否有效，方便筛选试验结果。5、可对软件设置密码，生成密码保护，做到专机专人操作，避免无关人员误操作。6、 可对试验结果编辑修改后打印，方便操作 更加人性化。7、可对一组试验中曲线数据的试验结果是否进行人为选定 。8、本仪器采用先进的无触点原件匀速调压方式，淘汰同类产品中机械传动升压方式。三、技术要求：01、输入电压： 交流 220 V02、输出电压： 交流 0--50 KV 直流 0&mdash 50 KV03、电器容量： 3KVA04、高压分级： 0-10KV，0--50KV，05、升压速率： 100V/S 200V/S 500 V/S 1000 V/S 2000V/S 5000V/S 等 （备注：满足标准要求并可以根据用户需求设定不同的升压速率）06、试验方式： 直流试验：1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验 交流试验：1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验07、试验介质：空气，试验油08、安装灵敏度较高的过电流保护装置保证试样击穿时在0.05S内切断电源。09、采用智能集成电路进行匀速升压。10、支持短时间内短路试验要求。11、电压试验精度： &le 1％。12、试验电压连续可调： 0--50KV。13、电流可采集到mA级。14、出具国家一级计量单位校准检定证书或出具客户指定计量单位的证书。15、电源：220V± 10%的单相交流电压和50Hz± 1%的频率。16、电流电压稳定度: 外界电源电压波动10%时四、 安全保护电路保护控制：（1）超压保护 （2）过流保护 （3）短路保护（4）漏电保护 （5）软件误操作保护高压输入回路断电保护控制： (1)总电源开关 (2)调压器复位开关 (3)高压断电开关 (4)试验箱门安全开关 (5)高压回路开关(6)漏电保护开关五、标准配置01 试验主机 一台 02 控制装置 一套 03 试验电极 二套(国标1408.1) 04 试验油箱 二只 05 放电系统 一套 06 控制系统 一套 07 数据采集系统 一套 08 试验软件 一套 光盘 09 计算机 一套 品牌 10 喷墨打印机 一台 品牌 11 产品使用说明书 一份 12 计量证书 一份 13 产品合格证 一份 六、设备安全说明：1、设备要安装单独的保护地线。接保护地线，主要是减少试样击穿时对周围产生的较强的电磁干扰。也可避免控制计算机失控。2、该试验设备的电路设有多项保护措施，主要有：过流保护、失压保护、漏电保护、短路保护、直流试验放电报警等。3、接地要求： 仪器需要单独接地，接地附合国家标准要求，金属棒深埋地下至少要1.5米以下。4、该试验设备的电路设有多项保护措施，主要有：过流保护、失压保护、漏电保护、短路保护、直流试验放电报警等。七、常规型号为： BDJC-10KV BDJC-20KV BDJC-30KV BDJC-50KV BDJC-100KV

产品介绍：?识别卡测试方法?ISO/IEC10373-3-2001，智能卡三轮压力测试仪根据IC卡CQM项目对卡三轮测试，适用于对识别卡、带触点的集成电路卡进行三轮往复循环测试。 HY(SL)三轮测试仪根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试。卡被放到机器中，测试轮将循环测试100次，芯片前方滚动50次，芯片后方滚动50次，循环频率为0.5Hz，向下的压力为8N。经过测试， 检查芯片情况，芯片应该是完好无损且功能正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准推荐的测试。1.型号：HY(SL)2、测试轮循环次数：前后循环各50次3、电源 AC220V 4、外形尺寸（mm）: 长255 ×宽235 ×高2855、重量（KG）：12kg

介电强度击穿电压测试仪介电强度击穿电压测试仪适用范围及功能主要适用于固体绝缘材料（如：塑料、橡胶、层压材料、薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘漆等绝缘材料及绝缘件）在工频电压或直流电压下击穿强度和耐电压的测试。本仪器由电脑控制，是我公司自主研发的全新第三代介电击穿检测仪器，本仪器由数字集成电路系统与软件控制系统两大部分构成，使升压速率真正做到匀速、准确，并能够准确测出漏电电流的数据。可实时绘制试验曲线，显示试验数据，判断准确，并可保存，分析，打印试验数据。本系统能够自动判别试样击穿并采集击穿电压数据及泄露电流，同时能够在击穿的瞬间电压迅速降低自动归零。软件系统操作方便，性能稳定，安全可靠。介电强度击穿电压测试仪软件功能:01、软件平台：WINDOWS 窗口操作平台，界面直观，便于操作02、曲线显示：在实验过程中可以动态显示试验曲线03、数据导出：可以对试验结果导入 EXCEL 表格04、实验报告：可以人为设置报告名称，并对实验报告进行打印05、试验方式：可以根据需求对直流试验和交流试验进行灵活选择06、试验方法：可以根据需求自行选择击穿电压、耐压试验、梯度试验07、参数设置：可以根据不同的试验方式及试验方法灵活设置所需的不同参数值08、试样设置：可对不同标准的试样参数灵活设置09、人员管理：设置用户名及密码，不同的操作员登入进行不同的试验，互不影响10、标准选择：含有不同标准，可根据需求自行选择11、连续操作：连续操作试验时，可直接在软件里结束试验，进行二次试验满足标准：GB/T 1408-2006 绝缘材料电气强度试验方法GB/T1695-2005 硫化橡胶工频电压击穿强度和耐电压强度试验GB/T3333 电缆纸工频电压击穿试验方法HG/T 3330 绝缘漆漆膜击穿强度测定法GB12656 电容器纸工频电压击穿试验方法ASTM D149 固体电绝缘材料在工业电源频率下的介电击穿电压和介电强度的试验方法.介电强度击穿电压测试仪技术要求：01、输入电压： 交流 220 V02、输出电压： 交流 0-50kv 直流 0-50kv03、电器容量： 3KVA04、高压分级： 0-50KV 全程可调(采用高精度电压采样器件，取消了同类厂家由于电压采样精度不够必须采用高压分级的方式)05、升压速率：100 V/S 200 V/S 500 V/S 1000 V/S 2500 V/S 3000 V/S备注：注：本产品采用最先进的直流伺服电机加载减速机构，保证了最新标准里面关于极慢速试验和极快速试验的最新要求，（一般厂家为皮带轮机构，误差较大）保证用户可以自由选择升压速率，是目前同类产品中唯一满足国标对于升压速率要求的测试设备。可以根据用户需求设定不同的升压速率06、试验方式：直流试验：1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验交流试验：1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验注：根据不同行业的标准，我们可以根据用户的要求，依据贵行业标准，为您定制行业标准所需的特殊测试功能。07、电压试验精度： ≤ 1％08、电极规格：1、片材电极 ￠25mm 两个 片材电极 ￠75mm 一只(采用 95 黄铜质量高于一般材质的紫铜和黄铜)2、管用电极两个 、一套。09、过电流保护装置应有足够灵敏度以保证试样击穿时在 0.05S 内切断电源。10、本仪器采用先进的无触点原件匀速调压方式，淘汰同类产品中机械传动升压方式。11、一次试验可以做 5 个试样。备注:(同类产品一次试验只能做一个试样)12、耐压时间设定：0-6 小时(可通过软件连续设定)介电强度击穿电压测试仪试验方式1、绝缘试样空气中击穿或耐压试验2、绝缘试样浸油中击穿或耐压试验1、绝缘试样空气中阶梯击穿或耐压试验2、绝缘试样浸油中阶梯击穿或耐压试验注：根据用户要求，可定制其他试验方式介电强度击穿电压测试仪整机组成：1、升压部件：由调压器和高压变压器组成0～50KV的升压部分。2、动部件：由步进电机均匀调节调压器使加给高压变压器的电压变化。3、检测部件：由集成电路组成的测量电路。通过信号线把检测的模拟信号和开关信号传给计算机。4、计算机软件：通过智能电路把由检测设备采集的测控信号传给计算机。计算机根据采集的信息控制设备运行并处理试验结果。5、试验电极：根据国家标准(1408.1-2006)随设备提供三个电极，具体规格为：Ф25mm×25mm两个；Ф75mm×25mm一个。 单位：北京北广精仪仪器设备有限公司

电子标签弯曲测试仪产品用途：用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。 电子标签弯曲测试仪本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验 完全符合以上标准。外形尺寸：L670 X W380 X H220儀器重量：70kg電 壓：AC220V±5%功 率：35W測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz測試周期：1~9999次 扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm正反向各15°，总扭曲角度30°长边位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)长边位移量为2mm±0.50mm，短边位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)长边位移量为1mm±0.50mm，夹具安装尺寸完全按照国家标准执行

卡片滚压测试仪介绍：卡片滚压测试仪根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试，适用于对识别卡、带触点的集成电路卡进行三轮往复循环测试，将芯片卡放在机器测试滚轮之间，卡片滚压测试仪制滚轮间循环测试100次，芯片前方滚动50次，芯片后方滚动50次，循环频率为0.5Hz，并在芯片上加一个8N的力，经过往复循环测试后验证ICC触点芯片功能是否正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准推荐的测试。卡片滚压测试仪主要技术参数：1.型号：HY-SL2.测试轮循环次数：前后循环各50次3.测试标准参考: Mcd4.CQM测试标准参考: P-225.测试方法参考: 10.3.226.CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.27.电源: 110-220 V 50/60 Hz.8.执行标准：GB/T 17554. 3-2006

QJICHL五工位三轮测试仪产品介绍： ?识别卡测试方法?ISO/IEC10373-3-2001，智能卡五工位三轮压力测试仪根据IC卡CQM项目对卡三轮测试，适用于对识别卡、带触点的集成电路卡进行三轮往复循环测试。动态滑轮疲劳试验机根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试。卡被放到机器中，测试轮将循环测试0-200次可调，循环频率为0.5Hz，向下的压力为8N。经过测试，检查芯片情况，芯片应该是完好无损且功能正常。测试仪配有额外的3N、5N、7N三个砝码，用于进行CQM标准推荐的测试。QJICHL五工位三轮测试仪术参数：1.型号：QJICHL2、测试轮循环次数：0-200次可调；3、电源 AC220V 4、外形尺寸（mm）: 长500×宽400 ×高4005、重量（KG）：12kg6、测试工位数：5工位 （同时控制，同时显示） 7、滚轮初始位置可以进行调节（手动调节）8、滚轮初始高度可以进行调节 （手动调节） 9、滚轮两侧有支撑平板，且一边支持平板可移动QJICHL五工位三轮测试仪售后服务：1.购机前，我们专门派技术人员为您设计合适的流程和方案2.购机后，将免费指派技术人员为您调试安装3.整机保修一年，产品终身维护4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能长期使用

智能电缆故障测试仪 概述： 本测试仪主要用于10KV等级（可拓展至50kv）以内的高低压地埋电力电缆的断线、短路、对地漏电故障(对地绝缘电阻在0.5兆欧以内)的定位及地埋电缆深度、路径走向的探测。 适用于路灯电缆维护、农田水浇地电缆故障查修、小区物业及园林绿化带地埋铠甲铁皮电力电缆、野外动力电缆、高速公路、厂矿企业、铁塔通信基站直埋供电电缆故障排查等行业。 本仪器采用先进的集成电路技术、前沿的计算方法、电路结构简洁、可靠性高、误判率低的特点。 三通道设计： 1、长度测试:断电状态下可以直接测试电缆的断线、短路故障距离长度。 2、抗干扰通道:采用高性能滤波抗工频干扰电路，断电状态下配合信号发生器定位直埋电缆对地漏电位置，测地埋电缆路径走向及深度。 3、全频段通道:通电状态下使用探杆测试直埋低压电缆对地轻微漏电故障位置。是缩短故障查找时间、提高工作效率、减轻线路维护人员劳动强度的得力工具。 技术参数： 综合测试仪距离长度测试: 测试范围:8000米(可定制) 测试盲区:0米 测试分辨率:最小0.5米 脉冲宽度:96ns-10μs自动调节 测试方式:自动测试、手动分析，2种方式都有 综合测试仪漏电、路径定位: 漏电故障:漏电绝缘电阻范围0-0.5MΩ 测试误差:不大于1米 电缆深度:不小于3米 探测范围:8000米 路径精度:不大于0.2米. 信号发生器(真彩显示屏)： 信号输出:1KHZ可调 万用表功能:交直流电压、绝缘电阻、电缆环阻 主机体积:220*160*90(W*D*H,mm) 主机重量:2kg

CAMTEK 自动光学检验AOI设备 表面检查Camtek提供了一个完全自动化的表面检测系统,用于支持大容量生产环境而提供快速检验和计量功能。独特的灵活平台支持市场最苛刻的应用程序,包括独联体、微机电系统、LED, OQC和记忆以及不同的流程步骤。功能• 2D缺陷检验和计量• 垫和调查分析• 2D CD测量• 高吞吐量、灵活设置• 在线和离线分类• 全自动化技术• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器 产品Eagle-i先进的2D表面缺陷检验和计量系统,实现高容量生产前2 d检查解决方案和post-bumped晶片,探针标记检查,OQc等等。EagleT-i设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个快的和精确的2 d检查工具在市场上。

绝缘材料介电强度测试仪仪器简介：二、技术要求： 01、输入电压： 交流 220 V 02、输出电压： 交流 0--20 KV 直流 0&mdash 20 KV 03、电器容量： 3KVA 04、高压分级： 0-10KV，0--20KV05、升压速率： 100V/S 200V/S 500 V/S 1000 V/S 2000V/S 5000V/S 等 （备注：满足标准要求并可以根据用户需求设定不同的升压速率） 06、试验方式： 直流试验：1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验 交流试验：1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验 07、试验介质：空气，试验油 08、安装灵敏度较高的过电流保护装置保证试样击穿时在0.05S内切断电源。 09、采用智能集成电路进行匀速升压。 10、支持短时间内短路试验要求。 11、电压试验精度： &le 1％。 12、试验电压连续可调： 0--20 KV。 13、电流可采集到mA级。 14、出具国家一级计量单位计量单位的证书。技术参数：介电击穿强度试验仪 产品名称：介电击穿强度测定仪 产品型号：LJC-100KV 控制方式：微机控制满足标准：GB1408-2006 绝缘材料电气强度试验方法 GB/T1695-2005 硫化橡胶工频电压击穿强度和耐电压强度试验 GB/T3333 电缆纸工频电压击穿试验方法 HG/T 3330绝缘漆漆膜击穿强度测定法 GB12656 电容器纸工频电压击穿试验方法 ASTM D149 固体电绝缘材料在工业电源频率下的介电击穿电压和介电强度的试验方法.主要特点：一、适用范围及功能 主要适用于固体绝缘材料（如：塑料、橡胶、薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘漆等介质）在工频电压或直流电压下击穿强度和耐电压的测试。 本仪器由电脑控制，通过我公司自主研发的全新智能数字集成电路系统与软件控制系统两部分来完成，使升压速率真正做到匀速、准确，并能够准确测出漏电电流的数据。可实时绘制试验曲线，显示试验数据，判断准确，并可保存，分析，打印试验数据。 （淘汰了同类产品通过步进电机传动升压而导致的升压速率不准确，击穿电压及泄漏电流数据错误等特点）-

品牌：久滨型号：JB-311名称：转向参数测试仪一、产品概述：　　JB-311型系列转向参数测试仪，是以高性能单片微型计算机为核心的智能化测试仪器，适用于汽车、拖拉机、工程机械及其他轮式车辆的转向性能测试试验。可以测量方向盘的自由转角、原地转向力、方向盘转矩/操纵力、转角和其他静态、动态参数等。二、优势及特点：　　仪器整机电路设计采用32位高性能单片机以及12位Σ-ΔＡ/Ｄ转换集成电路作为测试数据处理单元，测试数据精确、稳定。仪器采用汉字液晶显示，清晰直观，外型美观、使用方便。　　仪器配有标准9针RS232接口，可方便地与其他计算机系统进行数据通讯。　　该仪器在测试中自动记录本次测试过程中的转矩和转角的双向值。用户也可以在测试过程中将当前的测试值存储起来,共可存储100组数据。三、技术指标：1、内部电源：DC 9.6V (高容量镍氢电池8节)。2、测量范围：方向盘力矩：（-200～ +200）N.m3、方向盘转角：-1080°～ +1080°4、分辨率：方向盘力矩：0.1 N.m 方向盘转角：0.1°5、测量精度：方向盘力矩：± 2%　FS 方向盘转角：±3°标准9针RS232接口。（3脚信号输出，2脚信号输入，5脚信号地）。波特率9600，数据位8位，停止位1位，无校验。: 6、 传输距离：30米7、外型尺寸:（￠400×200）mm8、连接尺寸:￠320～￠480mm（选配：￠380～￠550mm）

海绵压陷硬度测试仪产品特点：1、 压陷量预先设定,通过计时电路精准控制压陷量；2、 使用方便：采用高精度压力传感器和大规模集成电路；3、 测试方法：除了国家标准规定的测试方法外，还可以自由设定试验方法；4、 压盘速度：默认速度为 100MM/MIN；可以根据需要自由设定运行速度；5、 传动机构：精密滚珠丝杠，测量无噪音；6、 厚度测量：能够自动计算显示所测试海绵厚度；7、 曲线显示：可以同步显示和调取试验时间、压力和压入深度的曲线；8、 数据调取：把鼠标放在曲线上的任意一点，都可以实时显示时间、压力和压入深度；9、 数据保存：可以对每次做的实验进行数据保存，同时也可以对设定好的试验方法进行保存；10、试验进程：实时显示试验进程；海绵压陷硬度测试仪技术参数：1、 默认速度：100MM/MIN；可自由设定2、 压陷硬度测定范围:0-1500 N3、 测力分辨率:0.01N4、 测定误差:1%5、 压头直径：200MM6、 压盘有效行程:150MM7、 电压：220V/50HZ9、 设备重量：60KG海绵压陷硬度测试仪基本概念和特点海绵压陷硬度测试仪是一种专门用于测量海绵材料压陷硬度的仪器。该仪器具有以下特点：专业化：专门针对海绵等泡沫材料进行压陷硬度测试，能够准确反映材料的性能。精度高：采用高精度传感器和测量电路，能够实现高精度测量，减少误差。自动化：仪器具有自动化特点，能够实现自动测量、数据存储和处理等功能，提高测试效率。海绵压陷硬度测试仪应用领域和优势海绵压陷硬度测试仪主要应用于以下领域：家具行业：家具产品的舒适度和质量与海绵的性能密切相关。使用海绵压陷硬度测试仪可以评估座椅海绵的性能，从而提高驾驶体验和安全性。海绵压陷硬度测试仪的优势在于：快速准确：相比传统的手工测量方法，海绵压陷硬度测试仪能够实现快速准确的测量，提高测试效率。全面评估：海绵压陷硬度测试仪能够全面评估海绵的性能，从而更好地了解材料的属性和适用范围。海绵压陷硬度测试仪测量原理及实现方法海绵压陷硬度测试仪的测量原理是：将一定形状和质量的加载装置放置在海绵材料上，测量加载装置陷入海绵中的深度，并通过计算机处理系统得到海绵的压陷硬度值。 2. 设定加载条件：根据相关标准或实验要求，设定加载装置的加载速率、持续时间等参数，以确保测量结果的一致性。 3. 测量深度：在加载装置施加一定压力后，测量加载装置陷入海绵试样中的深度，该深度值将作为计算海绵压陷硬度的依据。实际应用场景及注意事项实际应用场景 （1）产品质量控制：企业可以使用海绵压陷硬度测试仪对生产过程中的海绵材料进行质量检测，以确保产品的质量和安全性。 （2）科学研究：科研机构可以使用海绵压陷硬度测试仪对不同种类的海绵材料进行性能研究，为产品研发提供理论支持和实践依据。 （3）教学演示：高校或培训机构可以利用海绵压陷硬度测试仪进行材料科学相关课程的的教学演示，帮助学生更好地理解材料性能评估的方法和重要性。 （2）数据准确性：应定期对海绵压陷硬度测试仪进行校准和维护，以确保测量结果的准确性和稳定性。 （3）试样处理：测试前应对海绵试样进行预处理，如干燥、裁剪等，以消除外界环境对测量结果的影响。 （4）结果分析：应根据不同种类和规格的海绵材料选择合适的加载装置和实验条件，并对测量结果进行综合分析和对比，以获得更全面的材料性能评估。海绵压陷硬度测试仪作为评估海绵等泡沫材料性能的重要工具，正日益受到广泛关注和应用。未来研究方向应包括进一步完善海绵压陷硬度测试仪的测量原理和准确度提升等方面

该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。