扫描声学显微镜

扫描NV探针显微镜SNVM 扫描NV探针显微镜（Scanning nitrogen-vacancy probe microscope，SNVM）是一款结合了金刚石氮-空位色心（Nitrogen-Vacancy, NV）光探测磁共振（Optically Detected Magnetic Resonance, ODMR）技术和原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）扫描成像技术的量子精密测量仪器，可实现对磁性样品高空间分辨率、高灵敏度、定量无损的磁成像。应用领域测试案例

SONOSCAN 声学扫描显微镜咨询请点击导航栏 联系方式，直接联系我们。产品简介：从实验室到生产车间，Sonoscan的先进声学显微镜仪器和技术可以帮助您生产高质量的产品。Sonoscan仪器有着高技术含量，并且提供良好的客户服务和支持。Sonoscan超声波扫描显微镜提供多种成像模式，操作员可以根据样品内部取向特征获得有关检验样品的良好透视图。此外，通过利用产品专有先进功能，Sonoscan可以提供清晰的图像、高效率和理想的结果。SONOSCAN D9500通过样品在液晶(Liquid Cristal)和荧光微型热成像（FMI）的图像,分析产品内部的失效情况。产品原理 ：利用不同材料对超声波声阻抗不同，对声波的吸收和反射程度不同，来探测半导体、元器件的结构、缺陷、对材料做定性分析。产品应用:SONOSCAN D9500声学扫描显微镜以其良好的精度和稳健性是失效分析，工艺开发，材料分析与表征和小批量生产的理想选择。D9500采用同时传输和反射模式，并且应用更新更符合人体工程学设计。产品特征：惯性平稳扫描装置能减少振动，确保良好的扫描结果新的，更大的扫描范围，有多个托盘可以容纳大样本多语言操作系统，使用者可以选择母语：中文，英语等语言。温度控制选择：无论周围环境中空气温度变化，会确保一天中水的温度保持不变B型扫描定量分析模式（Q-BAM）：Sonoscan的B型扫描模式，为用户提供一个极准确且包含深层数据的虚拟横截面。

美国SONIX 超声波扫描显微镜SONIXTM公司是全球超声波扫描检测仪和无损检测设备的领先制造商。自1986年成立以来，SONIXTM在无损检测领域中不断改革创新，是第一家基于微机平台，提供全数字化成像方案的公司。SONIXTM一直致力于技术革新，提供给客户最领先的声学检测技术。SONIXTM设备被广泛应用于各种材料的无损检测，包括半导体，汽车零件和其他先进元件。拥有独立开发的软件，硬件和专利技术，多年来我们通过和客户的不断合作，实现了SAM技术的持续改进。SONIXTM努力提供最准确的数据，完美的图像质量，非凡的操作性和设备的高可靠性，从而为客户提高效率，节约成本。SONIX软件优势● 可编程扫描，自动分，定制扫描程序，一键开始扫描，自动完成分析，生成数据● TAMI断层显微成象扫描: 无需精确选择波形，可任意设定扫描深度及等分厚度，一次扫描可获得200张图片，最快速完成分析。● FSF表面跟踪线: 样品置于不平的情况下，自动跟踪平面，获取同一层面图片● ICEBERG离线分析: 存储数据后，可在个人电脑上进行再次分析SONIX硬件优势● 紧凑、稳定的结构设计： 模块化设计使得结构简单、稳定、易于维护● 高速，稳定的马达设计： 扫描轴采用最先进的线性私服马达，提供高速、稳定、无磨损的扫描● 专利的超声波探头/透镜： 提供精确的缺陷检验，最小能探测到仅0.05微米厚度的分层。● PETT技术： 反射及透射同时扫描，有效提高元器件分析效率封装检测设备应用：封模底部填胶（MUF）检测 堆叠式晶片成像（SDITM） 铜柱凸块（Cu Pillars） 覆晶封装检测晶片尺寸封装（CSP）检测 球闸陈列封装（BGA） 塑料封装IC检测 混合式多晶片模组（MCM）检测ECHO-VSTMSONIX ECHO-VS 是专为更高精度要求，更复杂元器设计的新一代设备。广泛应用在Flip chips, Stacked die,Bumped die,Boned Wafers等。&bull 高分辨率下，扫描速度是传统超声波扫描显微镜的2.5倍&bull 独有的波形模拟器（Waveform Simulator)及波束仿真（Beam Emulator）&bull 扫描分辨率小于1微米&bull 水温控制系统及紫外细菌系统超高频状态工作下，信号更稳定

D9600 C-SAM 超声波扫描显微镜现代标准声学扫描电子显微镜 D9600是现代声学成像的标准，和上一代产品一样提供了良好的精度和稳健性，增加了一个合并了PolyGate技术和Sonolytics的改进型的电子与软件平台。D9600是理想的用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产的工具。 特点：* PolyGate 技术和Multi-Gate 和Probing-Gate 功能具有运行单个和多个聚焦图像的能力* 每个通道可高达100个Gates* Windows 7 Ultimate，具备多语言和64位能力* 线性Rod Motor Scanner能够扫描JEDEC Trays* 安装在扫描塔上的扫描平台和样品固定装置更加精密* 容易进入扫描区域使得样品放入和取出更加容易* 定量的B-Scan分析模式（Q-BAM）合并了Sonoscan独有的B-Scan模式提供了虚拟横截面视图并带有准确的极性、幅值和深度数据* 可选水循环系统、Waterfall 探头、在线温度控制* 可选的数字图像分析（DIA）使用了先进的算法来量化声学数据并允许你设置准确的、自动的接受/拒收条件D9600 C-Mode 扫描声学显微镜是新一代声学显微图像（AMI）技术革新的一部分。无论你需要用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产或其它的试验室检查，D9600都会提供无与伦比的能力。D9500在反射和透射这两种模式下，具有高的精度和稳健性，成为现代AMI的标准。 先进的Sonoscan 功能增加了价值和信心，比如Visual PolyGate、移动地图、像素间距等等。具有的大尺寸、容易进入的且有灯光照明的扫描区域，以及它扫描塔的参考扫描和固定装置使得D9600有能力来高效的扫描任何样品，包括从单个器件到两个JEDEC托盘的器件。 除了充满Sonoscan领先的创新外，D9600还是为用户用心设计的。它的人体工程学特点使得使用更舒适和方便。它的先进的应用软件Sonolytics和新的直观的操作界面菜单有助于使结果大化，并同时节省了操作员的时间。D9600是新一代的C-SAM设备，提供了一整套的技术、人体工程学等。 非破坏内部检测的知名公司自成立以来，Sonoscan一直关注在发展先进的声学显微成像(AMI)技术上，以帮助我们的客户制造更高质量的产品。在AMI应用于非破坏性内部检测和分析上，Sonoscan保持了可信任的权威性。 厂务需求通用电压 - 90V到250V AC，单相，50/60 Hz，15安培（120V）外形–直式桌子：长宽高 1.89 x 0.74 x 1.58 m （74.5 x 29.0x 61.9 英寸）

Sonoscan D9600 C-SAM 超声波扫描显微镜　　现代标准声学扫描电子显微镜　　D9600是现代声学成像的标准，和上一代产品一样提供了无以伦比的精度和稳健性，增加了一个合并了PolyGate技术和Sonolytics的改进型的电子与软件平台。D9600是理想的用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产的工具。　　产品原理 ：　　利用不同材料对超声波声阻抗不同，对声波的吸收和反射程度不同，来探测半导体、元器件的结构、缺陷、对材料做定性分析。　　特点：　　* PolyGate 技术和Multi-Gate 和Probing-Gate 功能具有运行单个和多个聚焦图像的能力　　* 每个通道可高达100个Gates　　* Windows 7 Ultimate，具备多语言和64位能力　　* 线性Rod Motor Scanner能够扫描JEDEC Trays　　* 安装在扫描塔上的扫描平台和样品固定装置更加精密　　* 容易进入扫描区域使得样品放入和取出更加容易　　* 定量的B-Scan分析模式（Q-BAM）合并了Sonoscan独有的B-Scan模式提供了虚拟横截面视图并带有准确的极性、幅值和深度数据　　* 可选水循环系统、Waterfall 探头、在线温度控制　　* 可选的数字图像分析（DIA）使用了先进的算法来量化声学数据并允许你设置准确的、自动的接受/拒收条件 　　D9600 C-Mode 扫描声学显微镜是新一代声学显微图像（AMI）技术革新的一部分。无论你需要用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产或其它的试验室检查，D9600都会提供无与伦比的能力。D9500在反射和透射这两种模式下，具有高的精度和稳健性，成为现代AMI的标准。　　先进的Sonoscan 功能增加了价值和信心，比如Visual PolyGate、移动地图、像素间距等等。具有的大尺寸、容易进入的且有灯光照明的扫描区域，以及它扫描塔的参考扫描和固定装置使得D9600有能力来高效的扫描任何样品，包括从单个器件到两个JEDEC托盘的器件。　　除了充满Sonoscanling先的创新外，D9600还是为用户用心设计的。它的人体工程学特点使得使用更舒适和方便。它的先进的应用软件Sonolytics和新的直观的操作界面菜单有助于使结果zui大化，并同时节省了操作员的时间。D9600是真正新一代的C-SAM设备，提供了一整套的技术、人体工程学以及先进的Sonoscan成熟的其他任何地方都无法找到的特色。　　非破坏内部检测的ling导者　　自成立以来，Sonoscan一直关注在发展先进的声学显微成像(AMI)技术上，以帮助我们的客户制造更高质量的产品。在AMI应用于非破坏性内部检测和分析上，Sonoscan保持了zui可信任的权威性。Sonoscan拥有专利的系统跨越了实验室和生产环境，并且被认为是精度和产量的标准。　　厂务需求　　通用电压 - 90V到250V AC，单相，50/60 Hz，15安培（120V）　　外形–直式桌子：长宽高 1.89 x 0.74 x 1.58 m （74.5 x 29.0x 61.9 英寸）

n主要用途：测试被测半导体或者材料领域产品的内部缺陷，如空洞、分层、裂缝、异物等；n优势简介：超声扫描显微镜在失效分析中的优势简介- 液体浸入式扫描超声显微镜，带转动，旋转，倾斜工作台- 主要用于金属零部件检测- 非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构- 可分层扫描、多层扫描- 噪声低，成像质量高- 可用于测量HIC内部缺陷的位置与尺寸大小 (Hydro Induced Crack)- 可显示材料内部的三维图像- 定制系统：可根据需要定制液体池，扫描范围等- 可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等）n产品特色SAM-SPICA是一款主要用于金属材料缺陷检测高性能声学显微镜，可以对金属材料，塑封集成电路IC、IGBT大功率模组，各型电容、以及铜基板器件进行无损检测，分析器件内部之分层、裂缝、空洞等缺陷。X轴和Y轴均是新型高速线性伺服电机，扫描速度快，同时经久耐用。能对器件作多种扫描模式，如点扫描(A-)、纵剖扫描（B-）、横剖扫描（C-）、多层横剖扫描(X-）等。n主要参数 - 超声波测量探头频率范围 : 1-500MHz - A/D 换能器：500MHz 取样频率, 1GHz带宽 - XY方向扫描速度：1000mm/s - XY方向重复定位精度：±0.5μm - 其余参数都可以定制n产品应用金属方向：Steel, Nonferrous Metal Materials, Founding Materials, Forging, Weld Zone半导体材料方向 : ITO Target, Wafer, Pipe, Plate, Bar, complex Material, Piston test, Flaw detection in Planting, Car Engine, Weld zone

德国KSI单探头多用途超声波扫描显微镜型号：v300/v400E/v-700E/v-1000E 扫描速度最快最准的超声波扫描显微镜 超声波扫描显微镜是利用超声波对微观物体进行成像的无损检测设备。可对各种材料、元器件内部缺陷、空洞、气泡、分层缺陷、杂质、裂纹进行非破坏性检测；还可进行涂镀层结合质量，内部焊接质量，键合层缺陷等检测、空洞率计算等。超声波扫描显微镜应用领域：● 半导体电子行业：半导体晶圆片、封装器件、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS等 ● 材料行业：复合材料、镀膜、电镀、注塑、合金、超导材料、陶瓷、金属焊接、摩擦界面等；● 生物医学：活体细胞动态研究、骨骼、血管的研究等超声波扫描显微镜在失效分析中的应用：● 晶圆面处分层缺陷● 锡球、晶圆、或填胶中的开裂● 晶圆的倾斜● 各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶…等） 超声波显微镜的在失效分析中的优势：● 非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构● 可分层扫描、多层扫描● 实施、直观的图像及分析● 缺陷的测量及缺陷面积和数量统计● 可显示材料内部的三维图像● 对人体是没有伤害的● 可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等） V系列单探头多用途超声波扫描显微镜KSI v-系列的单探头多用途超声波扫描显微镜的新一代产品。全新研发的扫描器和新型换能器相结合，能大大提高扫描速度。与常规的SAM产品相比，凯斯安 v-系列的检测效率能提高30%。大尺寸扫描区可实现对大型样品的检测，新型KSI v-系列机型创造出无与伦比的性价比。新型KSI v-系列的主要特点：● 扫描速度蕞高可达2000mm/s● 与其它品牌机器相比扫描时间节省30%● 新型的换能器● 成像更清晰● 有单探头、双探头、四探头、八探头系统，达到高效能● 扫描范围最小可至200μm×200μm● 扫描范围蕞大可达1000mm×700mm● 带宽达到550MHz● 蕞大放大倍数：625倍● 可以通过不同的扫描方式灵活应用● 通过Windows 7 GUI简单操作● 为中国用户开发的简体中文界面● 性价比高KSI V400E 多用途超声波扫描显微镜主要参数：● 该型号超声波扫描显微镜系统是实验室、研发和工业生产线主流机型。● 扫描速度蕞高可达：1000mm/s 或 2000mm/s，两种规格可选● 与其它品牌机型相比扫描效率高30%● 蕞大扫描范围：300mm x 300mm 或 400mm×400mm 或 400mm x 800mm，三种规格可选● 射频蕞大带宽：500MHz 或 550MHz，两种规格可选● 常规探头 或 FCT低噪探头，两种规格可选KSI v300失效分析实验室用声学显微镜机械扫描部分● X/Y/Z轴驱动系统是步进马达● X轴和Y轴的蕞高扫描速率是：1000mm/s● 蕞大扫描范围：300mm×300mm● X轴和Y轴的扫描精度：±0.25μm● Z轴是由自锁步进电机驱动● Z轴升降行程：100mm 电子部分和电脑工作站● 超声脉冲发生和接收器带宽：500MHz● 模数转换卡ADC 1GHz● 声学图像蕞大放大倍率400×● 正版Microsoft Windows 操作系统● Intel酷睿处理器● 1000GB 7200rpm硬盘● 22吋平板显示器 软件部分和扫描模式● 点扫描(A-)● 纵剖扫描(B-)● 横剖扫描(C-)● 单配置多层横剖扫描(X-)● 分层缺陷着色● 扫描图像复位功能，轻松重构超扫图像● 图像分辨率蕞大：32.000 x 32.000 （像素）● 扫描图像储存格式：BMP、JPG、sam等各种图像格式● 缺陷尺寸测量工具● 工件厚度测量估算 选件与客制件● 图像分析处理软件包● 专业3D声学图像处理软件包 KSI v-700E 多用途超声波扫描显微镜主要参数：● 该型号超声波扫描显微镜分析系统，用于检测大件样品● 蕞大扫描速度：2000 mm/s● 与其它品牌相比扫描效率高30%● 蕞大扫描范围：700mm×600mm● 最小扫描范围：200μm×200μm● 带宽：550MHz● 蕞大放大倍数：625倍● 新型FCT专利换能器 KSI v-1000E 多用途超声波扫描显微镜主要参数：● 该型号超声波扫描显微镜分析系统，用于研发和生产部门检测特大件样品● 蕞大扫描速度：2000 mm/s● 与其它品牌相比扫描效率高30%● 蕞大扫描范围：1000mm×700mm● 最小扫描范围：200μm×200μm● 带宽：550MHz● 蕞大放大倍数：250倍● 新型换能器

美国SONIX 超声波扫描显微镜SONIXTM公司是全球超声波扫描检测仪和无损检测设备的领先制造商。自1986年成立以来，SONIXTM在无损检测领域中不断改革创新，是第一家基于微机平台，提供全数字化成像方案的公司。SONIXTM一直致力于技术革新，提供给客户最领先的声学检测技术。SONIXTM设备被广泛应用于各种材料的无损检测，包括半导体，汽车零件和其他先进元件。拥有独立开发的软件，硬件和专利技术，多年来我们通过和客户的不断合作，实现了SAM技术的持续改进。SONIXTM努力提供最准确的数据，完美的图像质量，非凡的操作性和设备的高可靠性，从而为客户提高效率，节约成本。SONIX软件优势● 可编程扫描，自动分，定制扫描程序，一键开始扫描，自动完成分析，生成数据● TAMI断层显微成象扫描: 无需精确选择波形，可任意设定扫描深度及等分厚度，一次扫描可获得200张图片，最快速完成分析。● FSF表面跟踪线: 样品置于不平的情况下，自动跟踪平面，获取同一层面图片● ICEBERG离线分析: 存储数据后，可在个人电脑上进行再次分析SONIX硬件优势● 紧凑、稳定的结构设计： 模块化设计使得结构简单、稳定、易于维护● 高速，稳定的马达设计： 扫描轴采用最先进的线性私服马达，提供高速、稳定、无磨损的扫描● 专利的超声波探头/透镜： 提供精确的缺陷检验，最小能探测到仅0.05微米厚度的分层。● PETT技术： 反射及透射同时扫描，有效提高元器件分析效率封装检测设备应用：封模底部填胶（MUF）检测 堆叠式晶片成像（SDITM） 铜柱凸块（Cu Pillars） 覆晶封装检测晶片尺寸封装（CSP）检测 球闸陈列封装（BGA） 塑料封装IC检测 混合式多晶片模组（MCM）检测ECHO-LSTM超声波扫描模式：A-Scan(点扫描)、B-Scan(截面扫描)、C-Scan(层扫描)、Multi-Scan(多层扫描)、T-Scan (穿透式扫描)、Tray-Scan(盘扫描)、Jump-Scan(跳跃扫描)、HTS(高速扫描),TAMI-Scan(断层显微成象扫描)最大分辨率：10000X10000像素最大扫描区域：350mmX350mm最高扫描速度、加速度：1000mm/s，10000mm/s2超声波探头频率 ：10-300MHz设备尺寸 ：W 31" x D 31" x H 48"

Sonoscan超声波扫描显微镜——超声波无损检测系统从实验室到生产车间，Sonoscan的先进声学显微镜仪器和技术可以帮助您生产更高质量的产品。Sonoscan仪器有着极高的技术含量，并且提供一流的客户服务和支持。FastLine&trade P300&trade 一种紧凑型声学显微监控仪，专为工厂提供的最大生产和过程控制。FACTS2&trade 高级质量监控仪器，可以以生产速度提供高分辨率的声学显微成像，并且只需操作员做极少的控制。AW&trade 系列自动晶圆系列的超声显微检测设备，可以自动处理，检测和并根据操作人员制定的"合格与不合格"标准对晶圆进行分类。Gen6&trade 新一代具有技术创新，尖端技术和无与伦比的功能的C-SAM,把超声显微成像带上了一个新的水平。Gen5&trade 一种创新的声学显微监控仪，可提供最广泛和最先进的功能。D9&trade 系列这个系列的设备引领声像显微技术的新标准。为失效分析，工艺开发和材料特性检测提供了无与伦比的精准和灵活性。D24&trade 超大的扫描区（24” × 24”），非常适合较大面积的样品检验、印刷电路板元件检验和多种JEDEC 盘检验。Sonoscan技术AMI技术的杰出之处在于其能够在组件和材料中找出可能在生产或环境测试过程中出现的隐藏的缺陷。相比其他检验方法，使用AMI技术可以更有效地识别和分析分层、气泡和裂缝等缺陷。不同于X射线和红外成像等其他无损检测技术，AMI技术对材料弹性有着极强的敏感性。正因为如此，AMI查找和定性这些物理缺陷的能力明显要优越很多。AMI通常可应用于生产控制、破损分析和产品开发。Sonoscan提供多种成像模式，操作员可以根据样品内部取向特征获得有关检验样品的最佳透视图。此外，通过利用我们的专有先进功能，Sonoscan可以提供最佳的图像、最高的效率和最理想的结果。AMI技术的优点 在出故障之前把隐藏的缺陷找出来 将薄达200埃的脱层检测出来 材料性能变化定位 测量材料密度，孔隙度，夹杂物 探测裂缝和孔洞 评估热，冲击和疲劳损伤 对被测材料无损伤领先地位在声学显微成像（AMI）技术应用于内部品质无损检测与分析方面，Sonoscan一直是该行业的权威之一。Sonoscan系统被视为精确基准，通过我们的SonoLab&trade 部门，您可以向我们的声学应用工程师进行咨询，获取专业意见和指导。Sonoscan的创始人与总裁Lawrence Kessler博士是一位超声波学与成像系统领域的专家。Kessler博士致力于通过教育项目、客户应用程序评估与新系统开发来实现AMI技术的持续改进。 对AMI技术的专业研究是Sonoscan工作的核心。我们努力提供非凡的数据精确性、出众的图像质量和世界领先的技术。我们在AMI技术方面还拥有多项美国和外国专利。 总之，Sonoscan是您最值得信任的伙伴，我们可以为您节省成本并提高效率。 与 Sonoscan 合作的业界领导者： 全球10大半导体公司 10大汽车半导体公司中的9家公司 10大 国防承包商中的7家承包商 5大MEMS生产商中的4家生产商 市场应用Sonoscan 系统与SonoLab实验室服务可满足多种样品检验需要，并可以检测到使用传统检验方法无法检测到的隐蔽缺陷。 应用领域包括：微电子学领域- 塑料封装IC- 陶瓷电容器- 模片固定、载芯片板（COB）- 芯片型封装（CSP）- 倒装晶片- 堆叠型封装- 卷带式自动接合（TAB）- 混和技术、MCM、SIP- 柔性电路- 印刷电路板（PCB）- 智能卡- 粘结晶片- IMEMS微电子机械系统 (MEMS)- 粘结晶片- 制造工艺评估- 包装 军事/航空/汽车- 高可靠性资格筛选- 产品升级筛选- 资格筛选 IGBT 功率模块用超声检测GBT模块材料- 陶瓷、玻璃- 金属、粉末金属- 塑料- 合成物其他- 芯片实验室、生物芯片和微阵列芯片- 滤筒- 包装、密封- 微射流技术- 聚乙烯/箔袋- 焊件- 传感器

原子力声学显微镜是基于福朗霍夫非破坏性测量研究所(Saarbrucken,Germany)Walter Arnold教授的工作研制的。Hirsekorn等精辟地描述了常规的AFM与AFAM之间的差别。在常规AFM中，当扫描材料表面时，悬臂（cantilever）振动，样品和仪器顶端产生力。而在AFAM 中，一个声学调制器被放在样品的下面，产生垂直和水平的振动。系统利用悬臂产生的屈曲和扭转，基于样品局部的弹性、粘性和摩擦性质产生图象。这种分析类型叫做接触共振光谱学（contact resonancespectroscopy），并同时产生拓扑结构光谱和AFAM图象。NT-MDT网站上有动画来解释真实的实验以及衍生出来的图象和测量结果。

安赛斯（中国）有限公司---国际先进检测设备优质供应商产品标签：超声波扫描显微镜，超声扫描显微镜，声扫显微镜，超声C扫描系统 超声波扫描显微镜是利用超声波对微观物体进行成像的无损检测设备。可对各种材料、元器件内部缺陷、空洞、气泡、分层缺陷、杂质、裂纹进行非破坏性检测；还可进行涂镀层结合质量，内部焊接质量，键合层缺陷等检测、空洞率计算等。 超声波扫描显微镜应用领域：半导体电子行业：半导体晶圆片、封装器件、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS等 材料行业：复合材料、镀膜、电镀、注塑、合金、超导材料、陶瓷、金属焊接、摩擦界面等； 生物医学：活体细胞动态研究、骨骼、血管的研究等超声波扫描显微镜在失效分析中的应用：晶圆面处分层缺陷锡球、晶圆、或填胶中的开裂晶圆的倾斜各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶… 等）超声波显微镜的在失效分析中的优势：非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构可分层扫描、多层扫描实施、直观的图像及分析缺陷的测量及缺陷面积和数量统计可显示材料内部的三维图像对人体是没有伤害的可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等）更多产品信息，请登录安赛斯（中国）有限公司官网获取。V-400E、V-700E、V-1000E单探头超声波扫描显微镜 -该型号超声波扫描显微镜系统是实验室、研发和工业生产线主流机型。- 扫描速度最高可达：2000mm/s- 与其它品牌机型相比扫描效率高30%- 最小扫描范围：200μm×200μm- 射频最大带宽：500MHz- 新型FCT防误判专利探头V-duo、V-quatrro、V-Octo多探头超声波扫显微镜多探头超声波扫描显微镜系统，同时使用2只、4只或8只换能器- 最大扫描速度：2000 mm/s - 与其它品牌相比扫描效率高30% - 最小扫描范围：200μm×200μm - 带宽：550MHz - 新型换能器Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描系统它是声学显微成像系统和光学显微成像系统的完美结合。- 换能器频率范围：100MHz——2000MHz频率实现高分辨率 - 探测深度100nm - 特殊平均模式使信噪比更好 - 同步光学成像和超声波成像使样品在结构上、生物化学性能上和机械性能上具有关联性。 - 光声效应增强了对比性 - 最大放大倍数：1000倍 - 入射光显微镜和倒置光学显微镜可调节 咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。 产品标签：超声波扫描显微镜，超声扫描显微镜，声扫显微镜，超声C扫描系统您还可能感兴趣的产品有：德国工业CT系统 X射线计算机断层扫描系统美国声发射检测系统及声发射板卡Pocket-AE美国 水浸式超声C扫描系统德国X射线成像系统 Mu2000德国微焦点X射线成像系统 X光机 Y.Cheetah

美国 SONIX 超声波扫描显微镜:ECHO-VS, ECHO Pro™ 全自动超声波扫瞄显微镜, 晶圆检测设备 AutoWafe Pro, 封装检测设备ECHO-LS: SONIX™ 公司是世界500强丹纳赫集团(NYSE: DHR)下的全资子公司，是全球超声波扫描检测仪和无损检测设备的领先制造商。 自1986年成立以来，SONIX™ 在无损检测领域中不断改革创新，是第一家基于微机平台，提供全数字化成像方案的公司。 SONIX™ 一直致力于技术革新，提供给客户最领先的声学检测技术。SONIX™ 设备被广泛应用于各种材料的无损检测，包括半导体，汽车零件和其他先进元件。 拥有独立开发的软件，硬件和专利技术，这么多年来通过和客户的不断合作，实现了SAM技术的持续改进。 SONIX™ 努力提供最准确的数据，完美的图像质量，非凡的操作性和设备的高可靠性，从而为客户提高效率，节约成本。 SONIX 软件优势● 可编程扫描，自动分析 定制扫描程序，一键开始扫描，自动完成分析，生成数据 ● FSF表面跟踪线 样品置于不平的情况下，自动跟踪平面，获取同一层面图片 ● ICEBERG离线分析 存储数据后，可在个人电脑上进行再次分析 ● TAMI断层显微成象扫描 无需精确选择波形，可任意设定扫描深度及等分厚度，一次扫描可获得200张图片，最快速完成分析。 SONIX 软件 - 应用于塑封FlipChip和Stacked Die产品的成像功能 SONIXTM 的Flexible TAMITM设计 专为需要检测由不同层厚和材料组成的多层封装产品,例如:● 3-D架构● Stacked Die● Bonded wafers● Wafer 级封装 (WLP)● 塑封Flip Chips SONIX 硬件优势 ● 紧凑、稳定的结构设计 模块化设计使得结构简单、稳定，易于维护 ● 高速、稳定的马达设计 扫描轴采用最先进的线性伺服马达，提供高速、稳定、无磨损的扫描 ● 专利的超声波探头/透镜 提供精确的缺陷检验，最小能探测到仅0.1微米厚度的分层。 ● PETT技术 反射及透射同时扫描，有效提高元器件分析效率 封装检测设备晶圆夹具 (与可调的托盘夹具搭配使用) (NEW !!)

Sonoscan D9600 C-SAM 超声波扫描显微镜　 　现代标准声学扫描电子显微镜　　D9600是现代声学成像的标准，和上一代产品一样提供了无以伦比的精度和稳健性，增加了一个合并了PolyGate技术和Sonolytics的改进型的电子与软件平台。D9600是理想的用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产的工具。　　产品原理 ：　　利用不同材料对超声波声阻抗不同，对声波的吸收和反射程度不同，来探测半导体、元器件的结构、缺陷、对材料做定性分析。　　特点：　　* PolyGate 技术和Multi-Gate 和Probing-Gate 功能具有运行单个和多个聚焦图像的能力　　* 每个通道可高达100个Gates　　* Windows 7 Ultimate，具备多语言和64位能力　　* 线性Rod Motor Scanner能够扫描JEDEC Trays　　* 安装在扫描塔上的扫描平台和样品固定装置更加精密　　* 容易进入扫描区域使得样品放入和取出更加容易　　* 定量的B-Scan分析模式（Q-BAM）合并了Sonoscan独有的B-Scan模式提供了虚拟横截面视图并带有准确的极性、幅值和深度数据　　* 可选水循环系统、Waterfall 探头、在线温度控制　　* 可选的数字图像分析（DIA）使用了先进的算法来量化声学数据并允许你设置准确的、自动的接受/拒收条件 　　D9600 C-Mode 扫描声学显微镜是新一代声学显微图像（AMI）技术革新的一部分。无论你需要用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产或其它的试验室检查，D9600都会提供无与伦比的能力。D9500在反射和透射这两种模式下，具有高的精度和稳健性，成为现代AMI的标准。　　先进的Sonoscan 功能增加了价值和信心，比如Visual PolyGate、移动地图、像素间距等等。具有的大尺寸、容易进入的且有灯光照明的扫描区域，以及它扫描塔的参考扫描和固定装置使得D9600有能力来高xiao的扫描任何样品，包括从单个器件到两个JEDEC托盘的器件。　　除了充满Sonoscanling先的创新外，D9600还是为用户用心设计的。它的人体工程学特点使得使用更舒适和方便。它的先进的应用软件Sonolytics和新的直观的操作界面菜单有助于使结果zui大化，并同时节省了操作员的时间。D9600是真正新一代的C-SAM设备，提供了一整套的技术、人体工程学以及先进的Sonoscan成熟的其他任何地方都无法找到的特色。　　非破坏内部检测的ling导者　　自成立以来，Sonoscan一直关注在发展先进的声学显微成像(AMI)技术上，以帮助我们的客户制造更高质量的产品。在AMI应用于非破坏性内部检测和分析上，Sonoscan保持了zui可信任的权威性。Sonoscan拥有专li的系统跨越了实验室和生产环境，并且被认为是精度和产量的标准。　　厂务需求　　通用电压 - 90V到250V AC，单相，50/60 Hz，15安培（120V）　　外形–直式桌子：长宽高 1.89 x 0.74 x 1.58 m （74.5 x 29.0x 61.9 英寸）Sonoscan D9600 C-SAM 超声波扫描显微镜

Sonoscan D9600 C-SAM 超声波扫描显微镜　　现代标准声学扫描电子显微镜　　D9600是现代声学成像的标准，和上一代产品一样提供了无以伦比的精度和稳健性，增加了一个合并了PolyGate技术和Sonolytics的改进型的电子与软件平台。D9600是理想的用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产的工具。　　产品原理 ：　　利用不同材料对超声波声阻抗不同，对声波的吸收和反射程度不同，来探测半导体、元器件的结构、缺陷、对材料做定性分析。　　特点：　　* PolyGate 技术和Multi-Gate 和Probing-Gate 功能具有运行单个和多个聚焦图像的能力　　* 每个通道可高达100个Gates　　* Windows 7 Ultimate，具备多语言和64位能力　　* 线性Rod Motor Scanner能够扫描JEDEC Trays　　* 安装在扫描塔上的扫描平台和样品固定装置更加精密　　* 容易进入扫描区域使得样品放入和取出更加容易　　* 定量的B-Scan分析模式（Q-BAM）合并了Sonoscan独有的B-Scan模式提供了虚拟横截面视图并带有准确的极性、幅值和深度数据　　* 可选水循环系统、Waterfall 探头、在线温度控制　　* 可选的数字图像分析（DIA）使用了先进的算法来量化声学数据并允许你设置准确的、自动的接受/拒收条件 　　D9600 C-Mode 扫描声学显微镜是新一代声学显微图像（AMI）技术革新的一部分。无论你需要用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产或其它的试验室检查，D9600都会提供无与伦比的能力。D9500在反射和透射这两种模式下，具有高的精度和稳健性，成为现代AMI的标准。　　先进的Sonoscan 功能增加了价值和信心，比如Visual PolyGate、移动地图、像素间距等等。具有的大尺寸、容易进入的且有灯光照明的扫描区域，以及它扫描塔的参考扫描和固定装置使得D9600有能力来高效的扫描任何样品，包括从单个器件到两个JEDEC托盘的器件。　　除了充满Sonoscanling先的创新外，D9600还是为用户用心设计的。它的人体工程学特点使得使用更舒适和方便。它的先进的应用软件Sonolytics和新的直观的操作界面菜单有助于使结果zui大化，并同时节省了操作员的时间。D9600是真正新一代的C-SAM设备，提供了一整套的技术、人体工程学以及先进的Sonoscan成熟的其他任何地方都无法找到的特色。　　非破坏内部检测的ling导者　　自成立以来，Sonoscan一直关注在发展先进的声学显微成像(AMI)技术上，以帮助我们的客户制造更高质量的产品。在AMI应用于非破坏性内部检测和分析上，Sonoscan保持了zui可信任的权威性。Sonoscan拥有专利的系统跨越了实验室和生产环境，并且被认为是精度和产量的标准。　　厂务需求　　通用电压 - 90V到250V AC，单相，50/60 Hz，15安培（120V）　　外形–直式桌子：长宽高 1.89 x 0.74 x 1.58 m （74.5 x 29.0x 61.9 英寸）Sonoscan D9600 C-SAM 超声波扫描显微镜

Sonoscan D9600 C-SAM 超声波扫描显微镜　 　现代标准声学扫描电子显微镜　　D9600是现代声学成像的标准，和上一代产品一样提供了无以伦比的精度和稳健性，增加了一个合并了PolyGate技术和Sonolytics的改进型的电子与软件平台。D9600是理想的用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产的工具。　　产品原理 ：　　利用不同材料对超声波声阻抗不同，对声波的吸收和反射程度不同，来探测半导体、元器件的结构、缺陷、对材料做定性分析。　　特点：　　* PolyGate 技术和Multi-Gate 和Probing-Gate 功能具有运行单个和多个聚焦图像的能力　　* 每个通道可高达100个Gates　　* Windows 7 Ultimate，具备多语言和64位能力　　* 线性Rod Motor Scanner能够扫描JEDEC Trays　　* 安装在扫描塔上的扫描平台和样品固定装置更加精密　　* 容易进入扫描区域使得样品放入和取出更加容易　　* 定量的B-Scan分析模式（Q-BAM）合并了Sonoscan独有的B-Scan模式提供了虚拟横截面视图并带有准确的极性、幅值和深度数据　　* 可选水循环系统、Waterfall 探头、在线温度控制　　* 可选的数字图像分析（DIA）使用了先进的算法来量化声学数据并允许你设置准确的、自动的接受/拒收条件 　　D9600 C-Mode 扫描声学显微镜是新一代声学显微图像（AMI）技术革新的一部分。无论你需要用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产或其它的试验室检查，D9600都会提供无与伦比的能力。D9500在反射和透射这两种模式下，具有高的精度和稳健性，成为现代AMI的标准。　　先进的Sonoscan 功能增加了价值和信心，比如Visual PolyGate、移动地图、像素间距等等。具有的大尺寸、容易进入的且有灯光照明的扫描区域，以及它扫描塔的参考扫描和固定装置使得D9600有能力来高xiao的扫描任何样品，包括从单个器件到两个JEDEC托盘的器件。　　除了充满Sonoscanling先的创新外，D9600还是为用户用心设计的。它的人体工程学特点使得使用更舒适和方便。它的先进的应用软件Sonolytics和新的直观的操作界面菜单有助于使结果zui大化，并同时节省了操作员的时间。D9600是真正新一代的C-SAM设备，提供了一整套的技术、人体工程学以及先进的Sonoscan成熟的其他任何地方都无法找到的特色。　　非破坏内部检测的ling导者　　自成立以来，Sonoscan一直关注在发展先进的声学显微成像(AMI)技术上，以帮助我们的客户制造更高质量的产品。在AMI应用于非破坏性内部检测和分析上，Sonoscan保持了zui可信任的权威性。Sonoscan拥有专li的系统跨越了实验室和生产环境，并且被认为是精度和产量的标准。

仪器简介： CSPM5500是本原纳米仪器有限公司于2008年8月研制成功的新一代扫描探针显微镜,其功能齐全、性能优越、运行稳定、使用方便，非常适合用户开展纳米研究工作。 技术参数：(1)国际主流的研究级专业仪器，集成原子力显微镜(AFM)，横向力显微镜(LFM)，扫描隧道显微镜(STM) (2)分辨率： 原子力显微镜：横向0.2nm，垂直0.1nm（以云母晶体标定） 扫描隧道显微镜：横向0.1nm，垂直0.01nm（以石墨晶体标定） (3)高精度计量型仪器，采用NanoSensors提供的可溯源于国际计量权威机构Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)的标准样品进行校准 (4)一键式快速全程全自动进样，无需手动预调，行程大于30mm，可容纳超大样品 (5)两级可读数样品调节机构，可对样品进行精确的检测区域定位 (6)一次扫描技术，图像分辨高达4096×4096物理象素，微米级扫描即可得到纳米级的实际信息 (7)先进PID反馈算法实现快速高精度作用力控制，确保系统在高速扫描中稳定成像，实际扫描速度提升一个数量级 (8)系统采用10M/100M快速以太网(Fast Ethernet 10/100)或USB 2.0与计算机连接 (9)主控机箱前面板具有16×4液晶显示屏，系统当前状态实时显示 (10)具备实时在线三维图像显示功能，便于用户在检测过程中随时直观获得样品信息主要特点：(1) 标准配置： 原子力显微镜(AFM)：包括接触、轻敲、相移成像(Phase Imaging)等多种工作模式 横向力显微镜(LFM)：具有摩擦力回路曲线、摩擦力载荷曲线、摩擦力恒载荷曲线等摩擦学性能分析测量功能 扫描隧道显微镜(STM)：包括恒流模式、恒高模式、I-V曲线、I-Z曲线等 曲线测量分析功能：力-距离曲线、振幅-距离曲线、相移-距离曲线等(2)选配功能： 纳米加工：包括图形刻蚀模式、压痕/机械刻画、矢量扫描模式、DPN浸润笔模式等； 磁力显微镜/静电力显微镜； 环境控制扫描探针显微镜； 液相扫描探针显微镜； 导电原子力显微镜； 扫描探针声学显微镜； 扫描开尔文探针显微镜； 扫描电容显微镜； 压电力显微镜

n主要用途： 测试被测半导体或者材料领域产品的内部缺陷，如空洞、分层、裂缝、异物等；n优势简介： - 非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构 - 可分层扫描、多层扫描 - 噪声低，成像质量高 - 缺陷的测量及缺陷面积和数量统计 - 可显示材料内部的三维图像 - 对人体是没有伤害的 - 可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等）n产品特色SAM-DENEB是一款高性能声学显微镜，可以对塑封集成电路IC、IGBT大功率模组，各型电容、以及铜基板器件进行无损检测，分析器件内部之分层、裂缝、空洞等缺陷。X轴和Y轴均是新型高速线性伺服电机，扫描速度快，同时经久耐用。能对器件作多种扫描模式，如点扫描(A-)、纵剖扫描（B-）、横剖扫描（C-）、多层横剖扫描(X-）等。n主要参数 - 超声波测量探头频率范围 : 1-500MHz - A/D 换能器：2GHz 取样频率, 1GHz带宽 - 扫描台XY方向扫描范围：350mm*350mm - XY方向扫描速度：1000mm/s - XY方向扫描分辨率：0.5μm - XY方向重复定位精度：±0.5μm - Z方向扫描范围：70mm - Z方向扫描分辨率：2.5μmn产品应用 半导体方向 : Flip Chip, BGA, QFT, TBGA, FBGA, SOP, FET, MLCC, PCB 材料方向 : ITO Target, Wafer, Pipe, Plate, Bar, complex Material, Piston test, Flaw detection in Planting, Car Engine, Weld zone

Sonoscan 超声波扫描显微镜Gen7 C-SAM检测系统 特点和好处 在双28“4k显示器上查看更多图像。使用先进的用户界面Sonolytics 2™ forWindows10做更多事情。 获得率高达六倍的结果更好。扫描较大的部件，扫描区域增加23％。 使用五个独立电机可以缩短采集时间。 Gen7 C-SAM检测系统是声学微成像的zui新一代。 Gen7基于其前代产品的进步，提供了迄今为止zui先进的硬件。先进的硬件允许新功能和分析，现在可以比以前更快地完成。 PolyGate，SonoSimulator，虚拟重新扫描模式（VRM）和频域成像（FDI）等高级功能增加了价值和信心。凭借其大型，易于访问的照明扫描区域，Gen7能够有效扫描从小部件到350mm尺寸部件的所有内容。 除了充满领xian的创新之外，Gen7的设计充分考虑了用户的需求。其符合人体工程学的特点使其使用起来既舒适又方便。新型Sonolytics 2是一款先进的操作软件，具有全新的，更直观的操作界面菜单，有助于zui大限度地提高结果，同时节省操作时间。 Gen7是真正zui先进的声学显微镜，提供一系列技术，人体工程学和先进的Nordson SONOSCAN开发的功能，这在其他任何地方都找不到。 第七代 产品规格检验方式• 同时轻松捕捉100张图像Visual PolyGate™ 。• 使用可自定义的方式创建信息图像颜色映射方案。 • 灵活的扫描模式：◇A-Scan显示传感器信号。◇B-Scan提供横截面图像。◇C-Scan是二维平面图像。◇散装扫描显示均匀材料的缺陷。◇Multi-Scan可以生成不同级别的多个图像。◇表面扫描显示表面有缺陷。◇回波损耗（LoBE）揭示了连续性缺陷。◇Nordson SONOSCAN独有的Q-BAM™ （定量B扫描分析模式）是样品的聚焦截面图。◇THRU-Scan（通过透射图像）通过样本的可选阴影图视图。◇同时直通扫描和反射（STaR）一种可选功能，可在一次通过中生成直通扫描图像和重选图像。◇同时ASF和反射（SASFaR）选项允许在一次扫描中使用两种模式。 • 精确的波形分析模式：◇FDI™ （频域成像）回声频率响应显示其他方法未见的细节。专利7,522,780和6,890,302◇幅度捕获峰峰值信号和极性。◇配置文件跟踪界面的位置。◇时差评估距离或厚度两个接口之间。◇Integration Mode™ 可轻松发现多层样品中的缺陷。◇ASF™ （声表面平整度）是一种可选功能，可测量表面的曲率或翘曲。专利8,794,072• 使用附带的高级触发工具安全地捕获图像：◇正，负和±交叉触发。◇在Front Interface Echo（FIE），Main Bang或Gated Trigger设置开始。◇使用动态触发精确定位图层并使用动态门控锁定位置。• 使用AUTOSCAN™ 节省重复设置的时间。单个按钮开始扫描多个区域，并自动对齐，居中和聚焦每个区域。通过我们的DIA功能完成自动化和集成分析。 • VRM™ （虚拟重新扫描模式）存储100％的A-Scan回波数据，以在任何模式下重现图像，而无需重新扫描实际样本。 • DIA™ （数字图像分析仪）高级算法量化自动接受/拒绝标准的结果。

Sonoscan D9650 C-SAM 超声波扫描显微镜咨询请点击导航栏 联系方式，直接联系我们。右上角的 查看电话非我司电话，无法直接联系到我们。D9650和上一代产品一样提供了良好的精度和稳健性，增加了一个合并了PolyGate技术和Sonolytics的改进型的电子与软件平台。D9650是理想的用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产的工具。产品原理 ：利用不同材料对超声波声阻抗不同，对声波的吸收和反射程度不同，来探测半导体、元器件的结构、缺陷、对材料做定性分析。特点和优势：* 带有Multi-Gate 及Probing-Gate 功能的PolyGate 技术可以进行单一及多层自动聚焦成像* 每频道多达100个Gates* 线性马达扫描仪可扫描JEDEC托盘* 带有塔式安装扫描参考平台及样品定位架，更加精准* 方便使用扫描区域使安装、拆卸更加方便，可以扫描JEDEC托盘或300mm晶圆片* 定量的B-Scan是Sonoscan独有的分析模式(Q-BAM)* B-Scan模式提供了虚拟横截面视图，并带有准确的极性、幅值和深度数据Sonoscan D9650 C-SAM 超声波扫描显微镜是新一代声学显微图像（AMI）技术革新的一部分。无论你需要用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产或其它的试验室检查，D9650都会提供优秀的能力。先进的Sonoscan 功能增加了价值和信心，比如Visual PolyGate、移动地图、像素间距等等。具有的大尺寸、容易进入的且有灯光照明的扫描区域，以及它扫描塔的参考扫描和固定装置使得D9650有能力来快速的扫描任何样品，包括从单个器件到两个JEDEC托盘的器件。厂务需求通用电压 - 90V到250V AC，单相，50/60 Hz，15安培（120V）外形–直式桌子：长宽高 1.89 x 0.74 x 1.58 m （74.5 x 29.0x 61.9 英寸）

显微镜物镜扫描仪高精度亚纳米物镜扫描台/定位台！上海昊量推出的物镜扫描台采用压电陶瓷直推，以柔性铰链为导向使物镜扫描台具有结构紧凑、体积小、无机械摩擦、定位分辨率高等优点，采用硅位移传感器，物镜扫描台相比于传统的电容式位移传感器，物镜扫描台硅传感器使平移台拥有更高的精度和线性度以及较低的底噪。物镜扫描台的精度可以达到亚纳米，底噪低至10pm。上海昊量光电设备有限公司推出的压电平移台旨在满足超精密定位应用的需求。该平移台采用压电陶瓷驱动，以柔性铰链为导向使其结构紧凑、拥有小的体积、无摩擦、无间隙、定位分辨率高等优点。采用硅高精度位移传感器，与电容位移传感器相比拥有更高的精度、线性度和低底噪。由于其具有较高的精度、线性度和较低的底噪等优点，被广泛的应用于超分辨率显微镜，光学捕获和原子力显微镜等领域。AU-FOCHS采用管状设计，专门用于显微镜物镜快速高精度定位。该物镜扫描台可提供行程可达到100μm，精度可达到0.1 nm，谐振频率可达到1175Hz。它由铝、钢和黄铜构成，配备硅传感器，可提供皮米级的稳定性。以上优点使其拥有广泛的应用，例如，激光加工、显微成像、体容积成像，等还可以与相机系统结合使用实现自动对焦。AU-FOC是一款专门用于显微镜物镜准确定位的设备。该物镜扫描台可提供100/200/300/500μm不同行程。该物镜扫描台由铝和黄铜构成，结合硅传感器可提供皮米量级的稳定性。以上两款物镜扫描台的黄铜安装环可以轻松更换，因此几乎所有的物镜都可以与这两款物镜扫描台结合使用。可用的物镜大小有RMS, M25, M26, M27 和 M32.显微镜物镜扫描台产品特点：l 高分辨率（0.01nm）l 高速度，谐振频率可达1175Hzl 采用硅传感技术l 超低底噪l 柔性铰链导向显微镜物镜扫描台主要应用：l 自动聚焦系统l 共焦显微镜l 3D成像l 超分辨显微镜l 半导体计量学 显微镜物镜扫描台产品参数：更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

KSI－Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描显微镜系统声学显微成像系统和光学显微成像系统的完美结合 KSI Nano型超声波扫描显微镜是拥有高分辨率的声学显微成像系统，它能对实测器件的表层缺陷作超高分辨缺陷检测。在使用100MHz——2000MHz的超高频超声波时，这种分辨率得以实现。KSI nano 还包含一个倒置光学显微镜，在进行超声波检测前可利用它调整样品的位置。 KSI nano超声波扫描显微镜系统还应用于世界各地的生命和物质科学研究。- 换能器频率范围：100MHz——2000MHz频率实现高分辨率- 探测深度100nm- 特殊平均模式使信噪比更好- 同步光学成像和超声波成像使样品在结构上、生物化学性能上和机械性能上具有关联性。- 光声效应增强了对比性- 放大倍数：1000倍- 入射光显微镜和倒置光学显微镜可调节

n主要用途：测试被测4,6寸wafer与LEDwafer产品的内部缺陷，如空洞、分层、裂缝、异物等；n优势简介：- 可用于4”,6”wafer SAM-CYGNUS LED测试- 带有全自动机械臂，可进行自动取片自动检测- 配置Wafer Map, BCR reader, Wafer Pre Aligner, Spin Coater System等全自动系统- 可用于测量材料表面与内部缺陷的位置与尺寸大小（Debonding, Delamination, Crack）- 可用于测量材料的厚度- 带Water jet 扫描系统- 带安全锁及报警系统- 噪声低：采用高精度linear-servo电机- 成像质量高，速度快，扫描精度高- 支持A, C, T 扫描模式n产品特色SAM-CYGNUS是一款全自动的wafer缺陷测试声学显微镜，可以对4,6寸wafer进行全自动无损检测，分析器件内部之分层、裂缝、空洞等缺陷。X轴和Y轴均是新型高速线性伺服电机，扫描速度快，同时经久耐用。能对器件作多种扫描模式，如点扫描(A-)、纵剖扫描（B-）、横剖扫描（C-）、多层横剖扫描(X-）等。n主要参数- 超声波测量探头频率范围 : 1-500MHz- A/D 换能器：2GHz 取样频率, 1GHz带宽- 适合wafer尺寸：4”与6”- XY方向重复定位精度：±2μm- Z方向扫描范围：70mm- Z方向扫描分辨率：2.5μmn产品应用：wafer与LED芯片

仪器简介：在以下方面，easyScan 2扫描隧道显微镜是最理想的工具 在石墨上用易完成的原子分辨率进行非常高分辨率测量 轻松进入纳米世界 大气环境中日常的实验室工作 瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：1. 扫描隧道显微镜扫描头 最大扫描范围： X和Y方向0.5um x 0.5um（可以选择1um x 1um） xy轴分辨率： 0.015nm 最大扫描范围： Z方向200nm z轴分辨率： 0.003nm 扫描速度： 每128个数据点，60ms/line 槽压： 5 mV 阶段时，± 10 V 设定点电流： 25 pA阶段时，± 100 nA 反馈回路宽带： 3kHz 自动接近样品 没有使用危险的高电压 包括高效减幅阶段 用0.25 mm的 Pt/Ir 金属丝作为扫描尖端 2. 扫描隧道显微镜电子控制器 数据采集时，可以和任何标准计算计串行端口连接 三个轴都有16位的数据收集与控制系统 轴输出电压：+12V 附加的独立的12位的ADC输入选件 外部电源 可以升级运行AFM扫描仪3. 扫描隧道显微镜软件 测量数据可以实现可视化 不同的窗体的扫描数据可以被同时显示 线观察，点观察，3维观察 在线数学计算功能（减，平均值等等） 可以实现多数据输出 定制显示器、工作场所 多用光谱功能 I-V和I-z曲线测量4. 扫描隧道显微镜可利用的附件和消耗品 覆盖10倍放大高质量光学镜的透明层 全部的STM工具（刀具，钳子，镊子） 提供STM原理信息手册 样品：HOPG，Gold 薄膜，MoS2 云母片上的取向薄膜Gold (111) 接触样品的银粉漆 Pt/Ir STM金属丝(直径为0.25mm)主要特点：可以在大气下进行任何STM实验设计小巧、紧凑；使用简便、舒适扫描仪配置了易接近和可视扫描端自动接近样品所有的功能可以在一台计算机上进行与标准计算机串行端口连接（不需要接界面卡）特殊的扫描仪设计，确保低震动灵敏度

KSI V300E 单探头超声波扫描显微镜 1.扫描机械机构 ? X轴和Y轴驱动系统全是磁悬浮高速线性电机? *X、Y轴有效最大扫描区域：300mm×300mm? *X、Y轴最大扫描速率：2m/s? X、Y轴最大扫描加速度：30m/s2? X、Y轴的重复精度：±0.1um? 扫描驱动装置Z轴：自锁步进马达? Z轴的重复精度：±0.25um? 具有自动对焦功能? Z轴升降行程：100mm2.脉冲信号收发器和换能器? 扫描工作模式：单通道工作模式? 脉冲信号收发器带宽：5MHz～500MHz? 射频总增益：72dB，以1dB/步增减调节? *换能器要求及数量：15MHz/f=0.75” 1个 ，检测TO封装等的厚型塑封器件30MHz/f=12.7mm 1个 ，检测常规的塑封器件40MHz/f=20mm 1个 ，检测IGBT等大功率模组110MHz/f=8mm 1个 ，检测Flipchip/BGA等薄型器件175MHz/f=8mm 1个 ，检测最新型结构的器件或新设计透射模组（含20MHz接收探头） 1套，用来做IC的快速批量检测或PCB板的检测? 模数转换卡ADC 1GHz? 声学图像放大倍数大于200× 3.样品槽/工装/过滤系统? 样品槽尺寸： 546mm×860mm×120mm（W×D×H）? 机器内含自净过滤系统 4.软件4.1控制软件KSI VISION? 软件界面语言：英文? 扫描模式：1) 点扫描(A-Scan)2) 纵剖扫描(B-Scan)3) 横剖扫描(C-Scan)4) 斜剖扫描(D-Scan)5) 多层横剖扫描(X-Scan)6) 多配置多层横剖扫描(G-Scan)7) 序列扫描(Sequence-Scan)8) 自动扫描(Auto-Scan)9) 3D扫描(3D-Scan)10) Z扫描(Z-Scan)11) 高质量扫描(HQ-Scan)? 保存图像格式：BMP、JPG、及保存所有尺寸及声波信号的原始声学图像格式(SAM、SAZ)；? 最大图像采样像素：32000×32000像素? 最高采样分辨率：1um （1000像素/毫米）? 最小门限时间：2ns? 软件主要功能：1) 扫描过程中调节增益、门限时间、门限位置、门限延迟；2) 厚度和距离测量3) 分层缺陷着色4) 扫描图像复位功能，轻松重构超扫图像； l5) 3D图像6) 设置参数均会自动存储，包括：A波形图、功率设置、增益、数字门限延迟、门限宽度；7) 阈值、正负波峰相位检测包括：幅值、均值、双极；8) 被测样品扫描尺寸和定位选择、相位检测、表面跟踪、采样图像分辨率选择；*4.2 三维图像扫描/旋转/剪切软件包KSI 4D VOLUME? 能对声学图像进行三维扫描、旋转、剖切等处理，直观地再现被测样品的空间感。*4.3 二维图像分析软件包 KSI VSION VIEW? 易用的图像分析软件包KSI VSION VIEW，包括缺陷面积百分比统计、着色处理等常用的声学图像分析功能； 5.工控机配置：? Intel酷睿双核处理器，核心频率大于2.6GHz? 正版Windows10操作系统英文版? 24寸 平板显示器 2个? 128GB固态硬盘 + 1000 GB 机械硬盘? 8 GB RAM 内存 可选配置包括如下： ① 能压制水花的防误判低噪探头，从5MHz, 10MHz, 30MHz, 40MHz, 50MHz … … … … .230MH, 300MHz,330Hz,400MHz可选 （共200个多，机器标配已含15MHz探头1个② 二维图像缺陷分析软件包Ksi vision View③ 三维图像缺陷分析软件包Ksi Volume4D④ 主控软件离线版 Ksi Vision （该软件也可以在普通办公电脑上运行）⑤ 透射探头套装⑥ 双显示器配置⑦ 定制特殊样品台

超声波扫描显微镜品牌：JIONSUN型号：UTScan400产品简介：扫描显微镜是一种利用传播媒介的无损检测设备。在工作中采用反射或者透射等扫描方式来检查元器件、材料、晶圆等样品内部的分层、空洞、裂缝等缺陷。超声波扫描显微镜是一种实用性极强的无损检测工具。该产品主要利用高频的超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能。因此，被广泛应用于半导体器件及封装检测、材料检测、IGBT功率模组产品检测等场合。应用领域：■ 半导体器件及封装检测：分立器件（IGBT/SiC）、陶瓷基板、塑封IC、光电器件、微波功率器件、MEMS器件、倒装芯片、堆叠Stacked Die、MCM多芯片模块等。■ 材料检测：陶瓷、玻璃、金属、塑料、焊接件、水冷散热器等。■ IGBT功率模组产品检测：实现 IGBT 模块内部界面和结构缺陷的无损检测，在进行功率循环后，通过SAM测试，准确找到 IGBT 模块材料、焊料层，打线等工艺中出现的问题，筛选不合格产品，并促进 IGBT 模块的封装质量提升。

LSI XL系列光片扫描显微镜旨在以高分辨率高速对大型样品进行三维成像。该系统利用线性贝塞尔光片技术，配合LSI独有的四面照明技术，可提供市场上最均匀的样品照明。LSI XL系列光片扫描显微镜配备了折射率（RI）校正光学器件，可在1.33至1.56之间调节，以确保在各种浸没介质中的最佳成像质量。可更换的样品室可容纳2cmx2cm的样品。LSI XL系列光片扫描显微镜的应用包括对通过日前广泛应用的以水基或溶剂基方法处理的大型透明组织或器官样品进行成像，以及通过内置的一键化多位点成像功能对大量活体透明样品（如斑马鱼或果蝇胚胎）的拍摄。 主要特点*线性贝塞尔光片和RI矫正光学模组提供了最佳的成像效果，分辨率可达500nm。*独特的四侧照明技术可显着增加照明深度和均匀度，尤其适合对在大型透明化样品成像。*适用于活体胚胎的长时间成像，专为大型透明化样品设计的光片成像平台，同时也可完美得适用于活体斑马鱼或果蝇胚胎的成像，其通量比传统的光片显微镜高得多。*智能化易用的软件系统配有快速数据处理功能，同时内置了3D渲染，多位置采集及自动拼接和反卷积等图像分析功能。*一体化台面紧凑设计配有内置隔振系统，无需外置隔振台。 线性贝塞尔光片（LSI）技术LSI技术通过物理和光学调制获取的光片，远比传统的高斯光片薄，有效长度也更长。因此LSI显微镜不仅具有极低的光毒率和超快的成像速度的特点，而且其出色的三维分辨率和高信噪比令其具有机器出色的层切能力 应用领域神经示踪三维成像 全脑神经胞体三维成像 全脑血管三维成像 动物胚胎成像同时可进行亚细胞分辨率的完整哺乳动物大脑中枢和外周神经系统的发育及微循环三维介观形态学图谱等研究。 微循环血管三维成像 三维肿瘤病理成像 三维肿瘤病理应用实例

SEM3200是一款高性能、应用广泛的通用型钨灯丝扫描电子显微镜。拥有出色的成像质量、可兼容低真空模式、在不同的视场范围下均可得到高分辨率图像。大景深，成像富有立体感。丰富的扩展性，助您在显微成像的世界中尽情探索。 扫描电子显微镜不仅局限于表面形貌的观察，更可以进行样品表面的微区成分分析。SEM3200接口丰富，除支持常规的二次电子探测器（ETD）、背散射电子探测器（BSED）、X射线能谱仪（EDS）外，也预留了诸多接口，如电子背散射衍射（EBSD）、阴极射线（CL）等探测器都可以在SEM3200上进行集成。

Sonoscan 超声波扫描显微镜Gen7 C-SAM检测系统 特点和好处 在双28“4k显示器上查看更多图像。使用先进的用户界面Sonolytics 2™ forWindows10做更多事情。 获得率高达六倍的结果更好。扫描较大的部件，扫描区域增加23％。 使用五个独立电机可以缩短采集时间。 Gen7 C-SAM检测系统是声学微成像的zui新一代。 Gen7基于其前代产品的进步，提供了迄今为止zui先进的硬件。先进的硬件允许新功能和分析，现在可以比以前更快地完成。 PolyGate，SonoSimulator，虚拟重新扫描模式（VRM）和频域成像（FDI）等高级功能增加了价值和信心。凭借其大型，易于访问的照明扫描区域，Gen7能够有效扫描从小部件到350mm尺寸部件的所有内容。 除了充满领xian的创新之外，Gen7的设计充分考虑了用户的需求。其符合人体工程学的特点使其使用起来既舒适又方便。新型Sonolytics 2是一款先进的操作软件，具有全新的，更直观的操作界面菜单，有助于zui大限度地提高结果，同时节省操作时间。 Gen7是真正zui先进的声学显微镜，提供一系列技术，人体工程学和先进的Nordson SONOSCAN开发的功能，这在其他任何地方都找不到。 第七代 产品规格检验方式• 同时轻松捕捉100张图像Visual PolyGate™ 。• 使用可自定义的方式创建信息图像颜色映射方案。 • 灵活的扫描模式：◇A-Scan显示传感器信号。◇B-Scan提供横截面图像。◇C-Scan是二维平面图像。◇散装扫描显示均匀材料的缺陷。◇Multi-Scan可以生成不同级别的多个图像。◇表面扫描显示表面有缺陷。◇回波损耗（LoBE）揭示了连续性缺陷。◇Nordson SONOSCAN独有的Q-BAM™ （定量B扫描分析模式）是样品的聚焦截面图。◇THRU-Scan（通过透射图像）通过样本的可选阴影图视图。◇同时直通扫描和反射（STaR）一种可选功能，可在一次通过中生成直通扫描图像和重选图像。◇同时ASF和反射（SASFaR）选项允许在一次扫描中使用两种模式。 • 精确的波形分析模式：◇FDI™ （频域成像）回声频率响应显示其他方法未见的细节。专利7,522,780和6,890,302◇幅度捕获峰峰值信号和极性。◇配置文件跟踪界面的位置。◇时差评估距离或厚度两个接口之间。◇Integration Mode™ 可轻松发现多层样品中的缺陷。◇ASF™ （声表面平整度）是一种可选功能，可测量表面的曲率或翘曲。专利8,794,072• 使用附带的高级触发工具安全地捕获图像：◇正，负和±交叉触发。◇在Front Interface Echo（FIE），Main Bang或Gated Trigger设置开始。◇使用动态触发精确定位图层并使用动态门控锁定位置。• 使用AUTOSCAN™ 节省重复设置的时间。单个按钮开始扫描多个区域，并自动对齐，居中和聚焦每个区域。通过我们的DIA功能完成自动化和集成分析。 • VRM™ （虚拟重新扫描模式）存储100％的A-Scan回波数据，以在任何模式下重现图像，而无需重新扫描实际样本。 • DIA™ （数字图像分析仪）高级算法量化自动接受/拒绝标准的结果。 操作系统• 易于使用的操作环境Sonolytics 2™ Windows10。• SONOLINK™ Direct在线支持，可提供诊断和应用帮助。 • C-SAM Interactive™ 提供用户应用程序支持。系统• 采用专利平衡扫描仪的精确图像。专利7,584,664 B2• 使用连接的扫描塔进行可重复定位到样品的位置和X，Y和Z轴的精度±0.5微米。• 能够扫描350 mm x 350 mm样品，垂直方向可调节Z高度170 mm。• 五个高速扫描仪电机，可实现zui快的图像采集时间。• 大于1千兆像素的巨大图像生成。• 带宽为500 MHz的脉冲发生器/接收器，适用于高达400 MHz的传感器。• 可选择95 dB增益，步长为0.5 dB。• 可提供5至400 MHz的传感器。• 数字门控可在1到10,000 ns范围内选择。• 精确选择TOF，步长为10ns。• 声阻抗极性检测器（AIPD）同时显示极性和幅度信息。专利4,866,986• 工业机架式IntelCorei7-7700计算机。 设施要求• 符合人体工程学的环绕式L 248 cm x W 158 cm x H 186 cm• 重量约为610千克• 通用电源要求90VAC至250VAC单相50 / 60Hz• DI水流量：15 lpm。 可选功能和

产品描述显微镜自动平台控制系统自动平台主要技术指标一）X，Y方向自动平台1．外形尺寸： 191mmx164mm2．X方向行程：≥40mm3．Y方向行程：≥30mm4．重复定位精度：≤3um5．最小步距： ≤2um6．限位开关X，Y标准（四个）7．手动控制支持8．移动速度五档可调二）Z方向调焦机构9．调焦步距（分辨率）：0.25um10．手动控制支持三）自动平台控制器 11．通讯方式RS232串口通讯12．电动控制操纵杆控制13．电源交流220V自动平台控制及大图拼接软件主要功能定位移动：平台直接移动到指定位置全景扫描：沿试样表面平移，浏览试样全景定点拍照：按设定轨迹移动平台，同时拍摄镜下图像自动回位：多点位置记忆功能，精确快速回位大图拼接：定点拍照，同步拼接，自动生成大视野全景图片自动聚焦：控制Z轴上下移动，自动找到最佳焦面

仪器简介：Nanite 原子力显微镜系统是纳米测量和成像的完美工具。该系统提供三维数据。原子力显微镜测量是非破坏性的，无需制备样品。此外，机械运动平台允许批量的，预编程测量，使用大型花岗岩自动X/Y/Z样品台可测试尺寸达180mm样品的不同区域，用户甚至可以定制更大的移动样品台。Nanite设计灵活、操作简单，是您理想的全自动研究级AFM系统。瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：原子力显微镜测量模式: 接触式原子力显微镜，真正非接触式原子力显微镜，横向力/摩擦力显微镜（LFM），导电原子力显微镜，磁力显微镜（MFM），开尔文探针（Kelvin Probe），扫描热原子力显微镜（SThM），电容和静电力显微镜（EFM），高级的纳米光刻和纳米操作能力，音叉原子力显微镜，三维扫描成像。 ● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range ● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。 ● PZT/Voice Coil双模式技术AFM ● 全自动运动平台，马达驱动 ● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像 ● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象) ● 可以进行纳米压痕和划痕实验 ● 专利光学系统， XY闭环扫描技术 ● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发主要特点：● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。● PZT/Voice Coil双模式技术AFM● 全自动运动平台，马达驱动● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象)● 可以进行纳米压痕和划痕实验● 专利光学系统， XY闭环扫描技术● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发