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静电放电模拟器

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  • 【原创大赛】ESD模拟器试验不确定性简要分析

    【原创大赛】ESD模拟器试验不确定性简要分析

    文/孙成明 许展川 刘 笠 华测检测(汽车电子EMC实验室)[b]1 概述[/b]GB/T 17626.2-2006 电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验IDT IEC 61000-4-2:2001经两次修订为GB/T17626.2-2018 IDT IEC 61000-4-2:2012,欧盟也相应改版为EN61000-4-2:2009;主要修改内容是,试验脉冲参数和试验方法等;旨在减小试验不确定性。静电放电(简称ESD)试验的不确定性与试验设备、试验方法及环境条件等诸多因素有关。其中,ESD模拟器(试验脉冲发生器)输出脉冲波形参数的不确定性直接影响试验结果的判定。因此,IEC61000-4-2:2008/2012 对ESD模拟器输出波形参数和试验校验方法提出了新要求。某些在用ESD模拟器可能已不符合新标准要求。本文旨在简要分析ESD模拟器输出波形对试验不确定性的影响,引导ESD试验工程师校验、选择合格和正确使用ESD模拟器。[b]2 ESD模拟器基本原理和输出波形参数要求[/b]2.1 ESD模拟器基本原理IEC 61000-4-2:2008/2012规定的ESD模拟器基本工作原理如图1所示。[img=,498,219]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/07/201907012235054029_5777_3051334_3.jpg!w498x219.jpg[/img]注:图中,Cs为分布参数,对ESD输出放电电流峰值和I30,I60有一定影响;是IEC 61000-4-2:2008/2012新增加的参数。2.2 ESD模拟器输出波形和参数要求IEC 61000-4-2:2008规定ESD模拟器输出脉冲波形要求见图2;它与IEC61000-4-2:2001/1995规定的波形参数要求有差别,见表1所示。[img=,593,286]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/07/201907012235466782_8146_3051334_3.jpg!w593x286.jpg[/img]表1试验脉冲波形参数要求[table][tr][td][color=windowtext]项目[/color][/td][td][color=windowtext]参数[/color][/td][td][color=windowtext]单位[/color][/td][td][color=windowtext]IEC 61000-4-2[/color][color=windowtext]:[/color][color=windowtext]1995/2001[/color][/td][td][color=windowtext]IEC61000-4-2[/color][color=windowtext]:[/color][color=windowtext]2008/2012[/color][/td][/tr][tr][td][color=windowtext]脉冲上升时间[/color][/td][td][color=windowtext]tr[/color][/td][td][color=windowtext]ns[/color][/td][td][color=windowtext]0.7-1.0 [/color][/td][td][b][color=red]0.6-1.0[/color][/b][/td][/tr][tr][td][color=windowtext]第一峰值电流[/color][/td][td][color=windowtext]Ip[/color][/td][td][color=windowtext]A[/color][/td][td][color=windowtext]±10%[/color][/td][td][b][color=red]±15%[/color][/b][/td][/tr][tr][td][color=windowtext]放电电流[/color][color=windowtext]/30ns[/color][/td][td][color=windowtext]I30[/color][/td][td][color=windowtext]A[/color][/td][td][color=windowtext]±30%[/color][/td][td][color=windowtext]±30%[/color][/td][/tr][tr][td][color=windowtext]放电电流[/color][color=windowtext]/60ns[/color][/td][td][color=windowtext]I60[/color][/td][td][color=windowtext]A[/color][/td][td][color=windowtext]±30%[/color][/td][td][color=windowtext]±30%[/color][/td][/tr][/table][b]3 试验不确定性简要分析[/b]3.1试验脉冲参数校准3.1.1 IEC 61000-4-2:2001校准方法要求和测试结果IEC 61000-4-2:2001规定的校准方法是,输出串接50Ω匹配电阻,测试ESD模拟器脉冲输出电压减半。现市场上经过认证检测合格的ESD模拟器测试,即使符合IEC61000-4-2:2001规定要求,未必符合IEC 61000-4-2:2008/2012要求(参见下图3b),由于校准结果与实际试验负载不同,试验存在较大的不确定性。3.1.2 IEC 61000-4-2:2008/2012校准方法要求和测试结果分析IEC 61000-4-2:2008/2012规定的校准方法是,输出不串50Ω匹配电阻,测试ESD模拟器输出开路电压(不再减半)。例如:按IEC 61000-4-2:2008/2012校准方法要求,重新测试所选ESD模拟器的输出脉冲上升时间(tr)和第一峰值电流(Ip),放电电流(I30,I60),仅有一种产品接近标准规定下限值,见图3a);其余3种产品,均未达到新标准规定的波形参数要求,如图3b)所示。[img=,690,307]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/07/201907012235577564_3512_3051334_3.jpg!w690x307.jpg[/img]上述测试结果说明:1)按IEC 61000-4-2:2001校准方法校准合格的ESD模拟器,重新按IEC 61000-4-2:2008/2012校准方法校准,国内外大多数ESD模拟器已不符合IEC61000-4-2:2008/2012标准规定要求。主要差异是,测试ESD模拟器放电电流波形,第一峰值电流(Ip)和放电电流(I30,I60)均未达到标准规定要求。2)若用于产品ESD测试,存在或增加试验的不确定性;可能导致对受试设备的过度测试或测试不足。3.2 试验校验方法IEC 61000-4-2:2001规定,测量5次,取5次脉冲平均值。ESD模拟器输出脉冲校验结果离散性较大,试验存在不确定性。IEC 61000-4-2:2008/2012对ESD模拟器输出脉冲波形校验的可重现性提出了更高要求。规定在一个时间里或个别评估时,每个测量等级要记录5个脉冲;每一个脉冲每单次测量(tr, Ip, I30, I60)都必须符合规定要求;以期减小ESD模拟器特性和操作带来的不确定性。满足IEC 61000-4-2:2008/2012要求的新型ESD模拟器的输出脉冲上升时间(tr)减小,在(0.6-0.9)ns之间;第一峰值电流(Ip)增大,达到规定值范围;同时,放电电流(I30,I60)也很快降到规定值范围内。校准/校验波形的一致性明显增强。如图4所示。[img=,488,305]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/07/201907012236367635_4434_3051334_3.jpg!w488x305.jpg[/img]3.3减小分布参数影响从ESD模拟器基本工作原理(见图1)可看出,放电脉冲时间常数主要由Rd和(Cs+Cd)决定,其中Cs为分布参数,它与放电电路PCB、放电枪结构、接地平板及试验环境条件等有关。对这些分布参数,除放电回路(PCB)和放电枪结构可以设计控制外,其它环境分布参数有一定的试验随机性。所以,ESD试验必须严格按试验环境条件规定,由经过实际操作培训合格的试验工程师或技师操作,以减少试验环境的不确定性对试验结果的影响。3.4汽车电子零部件ESD试验汽车电子ESD试验GB/T19951-2005已改版为GB/T19951-201X(待发布),MOD ISO 10605:2008。主要修改内容包括有:试验环境温度,环境湿度,接地线长度,绝缘块厚度(25±2.5mm改为50±5mm),不接地设备试验方法,水平和垂直耦合板,测试桌上安全地线;试验脉冲放电参数,放电电极等。实验室应按新版本修改ESD试验SOP,需结合产品实际进行试验验证。[b]4结束语[/b]本文简要介绍了IEC 61000-4-2:2008/2012与IEC61000-4-2: 1995/2001对ESD模拟器特性和试验校准校验要求,并简要分析了ESD模拟器试验不确定性和按IEC 61000-4-2:2008/2012版要求进行校验和试验的要点,也同样适用于GB/T19951-2005/201X。对于减少ESD试验的不确定性有一定的指导参考意义。

  • avantes太阳模拟器光谱测量

    太阳模拟器作为光源,在某种意义上说,可以等同于太阳光源,可以模拟太阳光照射。太阳模拟器广泛应用于太阳能电池特性测试,光电材料特性测试,生物化学相关测试,光学催化降解加速研究,皮肤化妆用品检测,环境研究等。 随着太阳能光伏产业的蓬勃发展,太阳能模拟器的光谱匹配性能测试也越趋重要。针对大多数采用脉冲氙灯作为光源的设备,最理想的测试状态是采集一个脉冲周期内不同时间点的绝对辐射光谱,进而判断该太阳能模拟器的光谱等级。目前采用微小型的光纤光谱技术是实现太阳能模拟器光谱测量最简单可靠的方法。设备和方法 1、稳态光谱采集 根据IEC60694-9标准要求,太阳模拟器有效光谱范围是400-1100nm,这就需要光谱测试设备可同时采集到400-1100nm范围的绝对光谱数据,并且在整个波段范围内都具有较高的信噪比,以保证测试数据的可靠性。荷兰Avantes公司的AvaSolar光纤光谱仪,采用高信噪比的薄型背照式CCD探测器,其在200-1100nm均具有良好的光谱响应,以确保得到高质量的光谱数据。同时该套系统出厂时就进行了NIST可溯源的绝对辐射标定,可直接得到稳态的模拟器的辐照度光谱信息。 2、 瞬态光谱采集 基于AvaSolar光谱仪特有的快速采集功能,也可应用在瞬态模拟器的光谱检测中。AvaSolar最多可实现每秒钟450幅光谱的采集,不管模拟器的工作模式是单次脉冲、多次频闪,无论脉冲弛豫时间是小到2ms,还是较长的6s,AvaSolar系统均可得到真实可靠的辐照度数据。 3、光谱匹配度太阳模拟器的光谱匹配度是指在6个指定光谱范围内强度积分的百分比。任何与标准光谱的偏离百分比都必须在一定的范围内,这也正是衡量太阳模拟器等级的一项标准。对于A类太阳模拟器,光谱匹配度必须在75% - 125%之间。Ideal Spectral Match Defined by IEC StandardsSpectral MatchSpectral Range (nm) Ideal %400 - 500 18.4500 - 600 19.9600 - 700 18.4700 - 800 14.9800 - 900 12.5900 - 1100 15.9 利用AvaSoft-Solar软件特有的能量积分功能,可得到不同光谱范围内的辐照度总和(单位:µW/cm2),从而帮助判断该太阳能模拟器的光谱等级。如下图所示,同时对上述6个指定光谱范围的辐照强度进行能量积分计算。 4、 模拟器等级判断 AvaSoft-Solar软件可按照IEC60694-9标准上所述要求,根据测试得到的模拟器辐照度光谱数据直接给出模拟器的等级,可给出不同波段范围内的匹配度,以帮助用户更好的判断模拟器的性能。 5、 扩展功能 ⑴紫外老化仪光谱测量 对于设有可靠性试验室的用户来说,紫外老化也是检测光伏产品性能必不可少的环节,这也就需要针对紫外老化仪的光谱及辐照度进行有效的检测。由于AvaSolar主机可覆盖200-1100nm的光谱范围,因此AvaSolar该套系统可以直接用来进行紫外老化仪的光谱检测。 ⑵光伏组件玻璃板透过率测量 AvaSolar光谱仪不但可进行绝对辐照光谱的检测,同时可对光伏组件厂所用的大面积玻璃进行透过率的测量。仅需要在原有AvaSolar系统的基础上额外配置照射光源、积分球及光纤即可。对于工业用大尺寸的玻璃的透过率的检测,需要用户根据不同的现场测试要求自行设计积分

  • 太阳模拟器光源等级对太阳能电池测试的影响

    光伏行业发展初期,晶体硅电池和组件达到批量化生产时,BAA级的模拟器被行业普遍使用,但随着行业的发展和科学技术的进步,尤其是现在各种不同技术类型和不同规格的光伏电池/组件的产品的涌现,其B级光谱的限制性和对多标准板的要求以及测试误差的过大,对AAA级的模拟器成为行业的必然需求,即  A(光谱等级)A(辐照不均匀度等级)A(辐照不稳定性等级,通常指LTI)。  1.光谱对测试结果的影响  不同基材的电池光谱响应差别很大。实际上,即使基材相同的电池在生产过程中由于晶体生长或其它条件和工艺等的差异,也会导致光谱响应的差异,由于无法保证校准设备时使用的标准电池和其它被测电池的绝对一致性,因此如果要得到更为准确的结果,就需要高等级光谱的太阳模拟器。  2.光强均匀性对测试结果的影响  晶体硅太阳电池组件中单体电池之间焊接不良及同串单体电池IV特性不匹配等因素会导致输出功率降低。在工业上,为了防止由以上原因造成的热斑效应和功率消耗,在组件制造时一般都会在每十几片串联的电池片两端并上旁路二极管。这样做虽可降低组件的热斑效应,但同时也可能会使组件的IV特性曲线出现畸变。造成热斑效应的原因有很多,其中两个主要的原因是:一是电池组件本身工艺或品质造成的单体电池IV特性不匹配,二是遮盖等外界原因造成的组件受光不均匀。  因此,一个光强均匀性良好的太阳模拟器,可以通过测试从一定程度上反映出太阳电池组件的单体电池IV特性不匹配的问题。  模拟器的光均匀性还会影响测试结果的FF,如果模拟器的光均匀度不好,一般情况下,测试IV曲线的FF就会比实际值偏小。  3.辐照不稳定度对测试结果的影响  辐照稳定度对测试结果的影响是很容易理解的,模拟器辐照不稳定,就必然会造成测试结果不稳定,辐照稳定度保证了所测试的I-V特性是在同一条件下量测的,为数据的可参考性提供了前提。

  • 全光谱稳态太阳光模拟器

    全光谱稳态太阳光模拟器

    [b][b][font=宋体]概述[/font][/b][/b][font=宋体]稳态太阳光模拟器是一种可以模拟太阳光谱、光强、光照时间等参数的设备,常用于室内环境下对材料、器件、产品等的测试和评估。通常由光源、光学系统、控制系统等组成。[/font][font=宋体]模拟光源可以采用氙灯、汞灯、金属卤化物灯等,这些光源能够发出相近于太阳光谱的光线,以模拟太阳光照射下的环境。光学系统可以对光线进行聚焦、分散、滤波等处理,以达到所需的光强和光谱分布。控制系统可以控制光源的开关、光强、光照时间等参数,以便进行不同条件下的测试和评估。稳态太阳光模拟器[/font][font=宋体][font=宋体]提供一个接近自然日光的环境,不受环境、气候和时间等因素影响实现[/font][font=Calibri]24[/font][font=宋体]小时不间断光照。[/font][/font][img=光降解之太阳光模拟器,690,387]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311261121287227_2939_5724447_3.jpg!w690x387.jpg[/img][b][b][font=宋体]设备详情[/font][/b][/b][font=宋体]稳态太阳光模拟器[/font][font=宋体]设备采用氙气灯[/font][font=宋体]作为核心光源[/font][font=宋体][font=宋体],辐照强度在[/font][font=Calibri]600[/font][font=宋体]~ [/font][font=Calibri]1200W/m[/font][font=宋体]2可调。为了确保有效辐照面积的均匀性,每套灯采用独立的 [/font][font=Calibri]EPS [/font][font=宋体]实时反馈控制,确保灯的恒功率输出能量,单个光源系统可以实时模拟量信号输出至采集器。为达到辐照面积[/font][font=Calibri]1m[/font][font=宋体]×[/font][font=Calibri]1m [/font][font=宋体]设备总共采用 [/font][font=Calibri]4 [/font][font=宋体]组光源。[/font][/font][font=宋体]其他辐照面积可根据用户需求定制生产。[/font][font=Calibri]1) [/font][font=宋体][font=宋体]光源特性:[/font][font=Calibri]1000 [/font][font=宋体]小时光强衰减小于 [/font][font=Calibri]10[/font][font=宋体]% (采用 [/font][font=Calibri]EPS[/font][font=宋体])[/font][/font][font=Calibri]2) [/font][font=宋体]排布方式:线性阵列排布,计算机模拟空间分布[/font][font=Calibri]3) [/font][font=宋体][font=宋体]光源寿命:[/font][font=Calibri]1000h+[/font][font=宋体](更换光源以满足[/font][font=Calibri]3000H[/font][font=宋体])[/font][/font][font=Calibri]4) [/font][font=宋体][font=宋体]光源质保:[/font][font=Calibri]1000h[/font][/font][font=Calibri]5) [/font][font=宋体][font=宋体]辐照强度:[/font][font=Calibri]600[/font][font=宋体]~[/font][font=Calibri]1200W/m[/font][font=宋体]2(此范围内可调)[/font][/font][font=Calibri]6) [/font][font=宋体][font=宋体]波段:[/font][font=Calibri]350[/font][font=宋体]~[/font][font=Calibri]1100nm[/font][/font][font=Calibri]7) [/font][font=宋体][font=宋体]辐照面积:[/font][font=Calibri]1m[/font][font=宋体]×[/font][font=Calibri]1m[/font][/font][font=Calibri]8) [/font][font=宋体][font=宋体]光谱匹配度:[/font][font=Calibri]A [/font][font=宋体]级[/font][/font][font=Calibri]9) [/font][font=宋体][font=宋体]辐照度不均匀性:[/font][font=宋体]≤± [/font][font=Calibri]2% A [/font][font=宋体]级[/font][/font][font=Calibri]10) [/font][font=宋体][font=宋体]不稳定性:[/font][font=Calibri]LTI[/font][font=宋体]≤± [/font][font=Calibri]2% A [/font][font=宋体]级[/font][/font][font=Calibri]11) [/font][font=宋体][font=宋体]单组灯的功率为:[/font][font=Calibri]1-3kw[/font][/font][img=光降解之太阳光模拟器,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311261122009141_2160_5724447_3.jpg!w690x690.jpg[/img][b][b][font=宋体]应用领域[/font][/b][/b][font=宋体][font=宋体]广泛应用于太阳能电池特性测试、染料敏化电池([/font][font=Calibri]DSSC[/font][font=宋体])、钙钛矿电池([/font][font=Calibri]PSC[/font][font=宋体])、光电材料特性测试、生物化学相关测试、光学催化降[/font][/font][font=宋体]解加速研究、皮肤化妆用品检测和环境研究等。[/font][b][b][font=宋体]专业术语定义[/font][font=黑体][font=Arial]1[/font][font=黑体]、光谱匹配[/font][/font][/b][/b][font=宋体]光谱匹配度太阳光模拟器的光谱匹配度是指太阳光模拟器的光谱辐照度分布与太阳光的标准光谱分布的匹配程度,一般用太阳光模拟器在每个波长范围内辐射的能量百分比与标准太阳光在同样波长范围内辐射的能量的百分比的比率表示。太阳光标准光谱辐照度分布情况见表。[/font][table][tr][td=3,1][align=center][b][font=宋体]表[/font][/b][font=宋体] [/font][b][font=宋体]1[/font][/b][font=宋体] [/font][b][font=宋体]标准光谱辐照度分布[/font][/b][/align][/td][/tr][tr][td=1,2][align=center][font=宋体][font=宋体]波长范围[/font][font=宋体]/nm[/font][/font][/align][/td][td=2,1][align=center][font=宋体][font=宋体]占有效波段内积分辐照度的百分比[/font][font=宋体]/%[/font][/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]AMO条件[/font][font=宋体][/font][font=宋体](有效波段300 nm~ 1100 nm)[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]AM1.5G条件[/font][font=宋体][/font][font=宋体](有效波段400 nm~ 1100 nm)[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]300~400[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]9.4[/font][/align][/td][td][font=宋体] [/font][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]400~500[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]18.5[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]18.4[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]500~600[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]18.6[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]19.9[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]600~700[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]15.8[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]18.4[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]700~800[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]12.8[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]14.9[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]800~900[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]10.2[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]12.5[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]900~1100[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]14.7[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]15.9[/font][/align][/td][/tr][/table][align=center][font=宋体]标准光谱辐照度分布[/font][/align][b][font=黑体]2、[/font][b][font=黑体]辐照不均匀性[/font][/b][/b][font=宋体]表示太阳模拟器参数的光束在空间上的均匀程度。均匀性不好的模拟器会影响测试的结果,一般情况下导致测试值比实际值偏小。[/font][font=宋体][font=宋体]真实的太阳光在空间分布中是非常均匀的,但人造的光源并并不是。根据[/font][font=Calibri]ASTM[/font][font=宋体]的规定,太阳模拟器辐照不均匀度的计算公式如下:[/font][/font][font=宋体]太阳模拟器辐照不均匀度等级评定标准如下表:[/font][align=center][font=宋体]太阳光模拟器[/font][font=宋体]辐照不均匀[/font][/align][table][tr][td=1,2][align=center][font=宋体]等级[/font][/align][/td][td=1,2][align=center][font=宋体]光谱匹配到所有中指定的间隔[/font][/align][/td][td=1,2][align=center][font=宋体]空间非均匀性辐照度[/font][/align][/td][td=2,1][align=center][font=宋体]时间不稳定性[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]短期不稳定性辐照度[/font][/align][align=center][font=宋体]STI[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]长期不稳定性辐照度[/font][font=宋体]LTI[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]A+[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.875----1.125[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]1%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.25%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]1%[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]A[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.75---1.25[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]2%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.5%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]2%[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]B[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.6---1.4[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]5%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]2%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]5%[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]C[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.4---2.0[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]10%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]10%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]10%[/font][/align][/td][/tr][/table][b][font=黑体]3、[/font][b][font=黑体]辐照时间不稳定性[/font][/b][/b][font=宋体]表示太阳模拟器光束辐照度在时间上的稳定性。真实的阳光辐照度在一段(短)时间内是非常稳定的,因此太阳模拟器的辐照度也应具有一定的稳定性。辐照稳定度对测试结果的可参考性提供了前提。[/font][font=宋体][font=宋体]等级[/font][font=Calibri] [/font][font=宋体]辐照时间不稳定性[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]A 2%[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]B 5%[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]C 10%[/font][/font]

  • 【求助】求助!!SOLAAR AA的模拟器!!

    现在我要给同事们演示[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱仪[/color][/url]!!但是缺少模拟器!!有哪位同仁能提供,兄弟在此十分感谢!!

  • 【分享】ARL3460模拟器的使用

    最近发现了ARL3460WINOE 3.2 的模拟器,能够在脱机情况下使用,分享一下,具体分三步1.UTILITIES-------SECURITY-------SYSTEM OPTIONS 在下框中找到 ICS EMULATOR 选中并改为 ON2.UTILITIES-----communication----instrument 的 port 下拉改为emulator3.此时在UTILITIES-----communication会出现-instrument emulator并打开这样在不联机的情况下就可以练习使用了

  • 【分享】静电放电与保护

    安全用电是非常重要的问题,不引起重视,不但可能造成电气设备损坏、停产、停电、引起火灾或爆炸事故,甚至还可能造成人身伤亡。安全用电涉及的内容和方面较多,包括常见的触电、保护接地与接中性线、静电保护及防火知识等。在以上诸多内容中,静电保护最容易被忽略。殊不知,静电保护在电力安全中也是非常重要的问题。 1 静电放电 我们知道,两种物体互相摩擦后,会产生静电,有较高介电常数的物体带正电荷,较低者带负电荷。两种物质紧密接触后再分离、物体受压或受热、物质电解、物体受其它带电体感应均可产生静电。在工农业生产中,很多情况下都产生静电。 (1)当物体产生的静电荷越积越多,形成很高的电位,与其它不带电的物体接触时,就会形成很高的电位差,并发生放电现象。当电压达到300V以上,所产生的静电火花,即可引燃周围的可燃气体、粉尘。此外,静电对工业生产也有一定危害,还会对人体造成伤害。 (2)固体物质在搬运或生产工序中会受到大面积摩擦和挤压,如传动装置中皮带与皮带轮之间的摩擦;固定物质在压力下接触聚合或分离;固体物质在挤出、过滤时与管道过滤器发生摩擦;固体物质在粉碎、研磨和搅拌过程及其它类似工艺过程中,均可产生静电。而且随着转速加快,所受压力的增大,以及摩擦、挤压时的接触面过大、空气干燥且设备无良好接地等原因,致使静电荷聚集放电,有出现火灾危险性。

  • 在线语音研讨会——符合国际标准的太阳能模拟器测量系统(主讲:熊利民老师)

    报名地址: http://webinar.ofweek.com/activityDetail.action?activity.id=4555178&user.id=2在线研讨会介绍研讨会主题:符合国际标准的太阳能模拟器测量系统举行公司:海洋光学亚洲分公司研讨会简介: 1、 熊利民老师太阳模拟器等级评定测试技术。2、 Michael Matthews作为海洋光学(Ocean Optics)引进的新型光学测量方案——RaySphere,主要用于太阳光模拟器和其他辐射源的绝对辐照度测量。作为一款用于检验太阳能闪光灯输出、太阳光过滤器功效、以及新型活性材料性能的工具,该款便携式RaySphere光谱仪对于太阳光模拟器和光电研发实验室的生产商和终端用户来说特别实用。 太阳能闪光灯尤其被广泛用于根据光谱反应设计的光生伏打电池以及关键光电模组功效测量设备的光电制造流程。为了取得IEC、JIS和ASTM等行业标准颁发的太阳能闪光灯认证,以及为了分析闪光灯的性能和稳定性,需要一款高度准确和精确的测量系统。RaySphere光谱仪将光学测量性能与先进的超低频振动式光学/电气触发电子元件相结合,用于关联闪光灯的光学和电气测量。德国物理技术研究院(PTB)的认证实验室对RaySphere的校准进行了确认,并授予太阳能闪光灯和模拟器光谱分布合格证书,证明其准确性和可靠性达到了前所未有的水平。研讨会议题安排 会议时间 会议内容 演讲嘉宾 会前 预先提问环节 网友可自行在线预先提问 有专家在线解答 09:50-10:00 会议即将开始 主持人介绍演讲专家和演讲内容情况 OFweek 杨秋妮 10:00-10:15 太阳模拟器等级评定测试技术。 演讲专家:熊利民 专家职务:中国计量科学研究院光学所 光通信与光探测实验室主任 10:15-10:45 符合国际标准的太阳能模拟器测量系统 演讲专家:Michael Matthews 专家职务: 10:45-11:00 现场提问互动环节 答疑专家: 丁海峰 专家职务: 光学工程师 11:00 研讨会结束 主讲人介绍http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/xiongliming.jpg演讲专家: 熊利民专家职务: 中国计量科学研究院光学所光通信与光探测实验室主任专家简介: 1996年哈尔滨工业大学工程热物理专业硕士毕业,其后分配到中国计量科学研究院光学所工作至今,长期从事光电探测器及太阳电池光谱响应度研究。已完成并正主持承担多项科技部项目、国家质检总局科研项目。曾获国家质检总局一等奖二项,二等奖一项,中国计量科学研究院一等奖一项;并被评为2003年国家质检总局岗位能手、2006年国家质检总局优秀青年。被誉为“国内太阳能模拟器计量第一人”。http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/michael.jpg演讲专家: Michael Matthews专家职务: 专家简介: Michael Matthews作为2009届凯洛格商学院生产管理硕士(MMM)研究生,除了拥有罗拉-密苏里大学非金属工艺学的学士和硕士学位外,他还在美国西北大学凯洛格商学院和麦考克工程学院取得工商管理和工程管理双学位。Michael现定居德国,带领海洋光学相关团队,致力于发展用于太阳光模拟器和其他辐射源的绝对辐照度测量新型光学测量方案——RaySphere。答疑人介绍http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/dinghaifeng.jpg演讲专家: 丁海峰专家职务: 光学工程师专家简介: 1982年出生,2008年毕业于上海交通大学 光学工程专业,硕士; 2010年3月加入海洋光学以来,一直致力于光学传感、光度测量及光谱分析方面的工作,侧重于技术研发及应用支持,尤其在LED光度、颜色测量及荧光粉测量方面。奖品介绍http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/j1.jpghttp://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/j2.jpghttp://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/j3.jpg参加预先提问活动人员里面抽5个幸运奖(限量纪念版4G U盘,价值100元)参加现场提问活动人员里面抽5个幸运奖(限量纪念版4G U盘,价值100元)研讨会结束后 再抽3个大奖(精美真皮钱包,价值500元)公司介绍 美国海洋光学作为微型光纤光谱仪的发明者,一直致力于光纤光谱仪,化学传感器的研究,是全球领先的光传感解决方案提供商,自1989年来在全球共售出近200,000套光谱仪,为OEM客户提供灵活多样的产品选择,为工业科研用户提供性能优越的系统解决方案,涉及领域涵盖生物,环保,医药,光电,化工,教育等。 海洋光学是英国豪迈(Halma)集团的分公司,豪迈集团主要经营用于探测潜伏危险和保护人们生命安全的产品,是专业性电子、安全和环

  • 海洋光学发布 RaySphere系列测量系统用于太阳光模拟器的质量检测

    海洋光学(www.oceanopticSChina.cn)近日推出一款 RaySphere 光学测量系统,用以测量太阳光模拟器和其他辐射源的绝对辐照度。RaySphere系统可测量从紫外线到近红外光谱(380-1700nm)的不同光谱范围的绝对辐照度(mW/cm2/nm)。作为一种用于验证已安装的太阳能闪光灯输出的工具,RaySphere 特别适用于太阳光模拟器制造商以及研发实验室。太阳光模拟器的闪光可用于目的为根据光谱反应组合细胞像素的光电制造流程、以及目的为测量最终光电效能的光电制造流程。RaySphere 的系统具有必要的精确度和分辨率,以测量和分析闪光器的性能和稳定性,并通过高级的低频抖动方式触发电子设备为闪光测量计时。RaySphere 的刻度经过公认的认证实验室的确认,以确保精确的探测,并使太阳能闪光灯和太阳光模拟器的评估和资格认证符合由 ASTM 和 IEC(IEC60904-9 2007)等标准制定机构制定的标准。两台热电冷却探测器使太阳能闪光灯的光谱分析(380-1700nm)可复验性高且准确。第二种型号的 RayShere 含有一个冷却探测器,以测量最多 1100nm 的光谱。该系统同时包含高级、高速的电子设备,以及直观、强大的软件界面。极少的测量次数可实现在闪光期间,甚至于闪光间隔期间的完整光谱检测。此外,测量还可以由一个快速反应的发光二极管促发。该二极管可在百万分之一秒内通过增加闪光强度而做出反应。

  • 【仪器心得】静电放电发生器使用心得

    [align=center][size=21px]静电放电发生器使用心得[/size][/align][size=16px] 自然界中及人类活动过程中很多时候都会产生静电现象,仪器也一样,在使用过程中也经常会产生静电或被外界传导静电。仪器若要[/size][size=16px]想正常[/size][size=16px]使用,必须得能承受一定量的静电干扰或破坏。[/size][size=16px]静电放电发生器[/size][size=16px]就是一种能发生静电并[/size][size=16px]释放[/size][size=16px]于外界的仪器。[/size][align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211230919300814_9803_2369266_3.jpeg[/img][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211230919294212_1816_2369266_3.jpeg[/img][/align][size=16px] 日本[/size][size=16px]Noiseken[/size][size=16px] ESS-B3011[/size][size=16px]静电放电发生器[/size][size=16px]是一款较高端的静电放电发生器,最大可发生释放±[/size][size=16px]15KV[/size][size=16px]静电,可分为接触放电(放电枪头接触到被测物[/size][size=16px]放电[/size][size=16px])和[/size][size=16px]空气放电[/size][size=16px]([/size][size=16px]放电枪头与被测物保持一定距离正对着放电[/size][size=16px])[/size][size=16px]空气放电可可调范围[/size][size=16px]是[/size][size=16px]0-[/size][size=16px]±[/size][size=16px]15KV[/size][size=16px],接触放电可调范围是[/size][size=16px]0-[/size][size=16px]±[/size][size=16px]8KV[/size][size=16px],也可用空气放电模式换上接触放电枪头[/size][size=16px](空气放电枪头[/size][size=16px]盒接触[/size][size=16px]放电枪头不一样,空气放电枪[/size][size=16px]头头是秃的[/size][size=16px],球状的防止与物体接触;接触[/size][size=16px]放电枪头头是[/size][size=16px]尖[/size][size=16px]的,[/size][size=16px]锥[/size][size=16px]状的[/size][size=16px],方便接触不同物体),范围就是[/size][size=16px]0-±15KV[/size][size=16px]。按国标要求民用级要求需满足二级要求,接触放电[/size][size=16px]±[/size][size=16px]4[/size][size=16px]KV[/size][size=16px],空气放电[/size][size=16px]±[/size][size=16px]6[/size][size=16px]KV[/size][size=16px];工业[/size][size=16px]级要求需满足[/size][size=16px]三[/size][size=16px]级要求,接触放电±[/size][size=16px]6[/size][size=16px]KV[/size][size=16px],空气放电±[/size][size=16px]8[/size][size=16px]KV[/size][size=16px];[/size][size=16px]军工[/size][size=16px]级[/size][size=16px]要求需满足[/size][size=16px]四[/size][size=16px]级要求,接触放电±[/size][size=16px]8[/size][size=16px]KV[/size][size=16px],空气放电±[/size][size=16px]15[/size][size=16px]KV[/size][size=16px];[/size][size=16px]我们设备多数都是工业级,静电放电抗扰度实验大多都是按工业级要求做的。[/size][size=16px]单次[/size][size=16px]放电时间、[/size][size=16px]放电[/size][size=16px]时间间隔、放电次数等参数也是可设置的,可满足不同实验需求。设备配套有绝缘板,接地金属板,连接地线等,放电量虽然较大,但实验过程的安全是可以保证的。为了安全起见放电实验要从低级逐渐到高级,以免损坏被测设备;实验过程中不要用放电[/size][size=16px]抢[/size][size=16px]对着人或危险品放电[/size][size=16px];放电间隔和单次放电时[/size][size=16px]长一定[/size][size=16px]要设置在安全范围内;碰上[/size][size=16px]做较高[/size][size=16px]级别的实验,实验现场人员配备至少两人以上。[/size][size=16px] 该设备功能、性能较全较高,精密度、准确度较高,使用较方便、操作较简单、安全性较高。优点不少,价格也是较贵。希望[/size][size=16px]国产[/size][size=16px]这方面设备快速发展早日替代进口[/size][size=16px]设备,让大多数有需求的实验室都有能力配备。[/size]

  • TEC半导体高精度可编程温度控制技术在红外目标模拟器中的应用

    TEC半导体高精度可编程温度控制技术在红外目标模拟器中的应用

    [b][color=#339999][font='微软雅黑',sans-serif]摘要:针对红外目标模拟器的高精度可编程温度控制功能,本文介绍了实现高精度温控的温控装置,给出了温控方案。温控装置主要包括[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]半导体制冷加热模组、电源自动换向器、传感器和超高精度[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]控制器。从超高精度温度控制,关键是[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]控制器具有[/font]24[font='微软雅黑',sans-serif]位[/font]AD[font='微软雅黑',sans-serif]、[/font]16[font='微软雅黑',sans-serif]位[/font]DA[font='微软雅黑',sans-serif]和[/font]0.01%[font='微软雅黑',sans-serif]最小输出百分比的高性能指标,同时还具有可手动和通讯软件编程功能。[/font][/color][/b][align=center][img=常温黑体中TEC半导体可编程高精度温度控制解决方案,600,337]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/02/202302220435170646_2129_3221506_3.jpg!w690x388.jpg[/img][/align][align=center][color=#339999]~~~~~~~~~~~~~~~[/color][/align][b][size=18px][color=#339999]1. [font='微软雅黑',sans-serif]红外目标模拟器工作原理[/font][/color][/size][/b][font='微软雅黑',sans-serif] 红外目标模拟器([/font]Infrared Target Simulator[font='微软雅黑',sans-serif])广泛应用于红外探测器和红外热像仪整机的工艺测试和评价测试,它为被测装置提供标准的红外测试图像,用于测试关键指标,如[/font]NETD[font='微软雅黑',sans-serif](噪声等效温差)、[/font]MRTD[font='微软雅黑',sans-serif](最小可分辨温差)、[/font]MDRD[font='微软雅黑',sans-serif](最小可探测温差)、[/font]SiTF[font='微软雅黑',sans-serif](信号传递函数)等,以及整个系统的性能评估。[/font][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]红外目标模拟器的重要指标包括发射率、辐射均匀性、温度控制精度、温度稳定性和响应速度等,其中前两个指标取决于所用黑体的结构、辐射面材质和黑漆喷涂技术,其余指标则取决于温控系统的性能。红外目标模拟器一般通过单黑体或双黑体实现,但无论采用哪一种黑体结构,高精度的温控技术都是其中的技术关键,它直接关系到红外目标模拟器的性能,是实现红外系统指标测试的关键因素。红外目标模拟器的工作原理如图[/font]1[font='微软雅黑',sans-serif]所示。[/font][align=center][size=14px][b][color=#339999][img=红外目标模拟器原理示意图,500,365]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/02/202302220437236876_9226_3221506_3.jpg!w690x505.jpg[/img][/color][/b][/size][/align][font='微软雅黑',sans-serif][color=#339999][/color][/font][align=center][b][font='微软雅黑',sans-serif]图[/font][font=&]1 [/font][font='微软雅黑',sans-serif]红外目标模拟器工作原理示意图[/font][/b][/align][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]如图[/font]1[font='微软雅黑',sans-serif]所示,目标位于准直器反射器焦平面上。热辐射图样将由热辐射表面和目标之间的温差产生,并由准直器转换成平行光以模拟无限远的红外目标,供被测红外系统的成像探测器使用。[/font][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]温控系统由温度传感器、[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]半导体模组、散热器、风扇、[/font]PID [font='微软雅黑',sans-serif]控制器、自动电源换向器等组成。温度传感器[/font]A[font='微软雅黑',sans-serif]检测的是目标温度,温度传感器[/font]B[font='微软雅黑',sans-serif]检测的是辐射表面温度。根据目标的设定温度,控制器通过[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]控制算法计算加热或制冷的控制量并驱动电源换向器工作电流的方向和大小,使得[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]半导体模组进行加热或制冷输出。[/font][b][size=18px][color=#339999]2. TEC[font='微软雅黑',sans-serif]半导体高精度温度控制标准装置[/font][/color][/size][/b][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]根据红外测试设备的检测指标,要求红外目标模拟器的工作温度范围为[/font]0~50[font='微软雅黑',sans-serif]℃,温度分辨率为[/font]0.001[font='微软雅黑',sans-serif]℃,控温精度为[/font]0.03[font='微软雅黑',sans-serif]℃。要实现此技术指标,温度控制系统需包括加热装置、温度传感器、执行器和[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]控制器这几部分内容,而且需要满足相应的技术指标。为此,专门针对温控系统本文设计了相应的解决方案,具体结构如图[/font]2[font='微软雅黑',sans-serif]所示。以下为图[/font]2[font='微软雅黑',sans-serif]所示温控方案的详细描述:[/font][align=center][size=14px][b][color=#339999][img=温度控制系统方案示意图,550,559]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/02/202302220437516841_6377_3221506_3.jpg!w690x702.jpg[/img][/color][/b][/size][/align][font='微软雅黑',sans-serif][color=#339999][/color][/font][align=center][b][font='微软雅黑',sans-serif]图[/font][font=&]2 [/font][font='微软雅黑',sans-serif]红外目标模拟器温度控制系统方案示意图[/font][/b][/align][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]([/font]1[font='微软雅黑',sans-serif])加热方式:有很多种加热方式可供选择,如电加热、循环水加热和[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]半导体制冷加热等,但考虑到红外目标模拟器对工作温度范围和超高精度温度控制的要求,目前也只有[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]热电半导体制冷加热方式比较适用。[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]用于红外目标模拟器的温度控制除能满足温度范围之外,与其他加热方式相比具有更高的控温精度、更快的冷热变化控制速度、结构简单以及造价低的突出特点。[/font][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]([/font]2[font='微软雅黑',sans-serif])执行机构:为了实现[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]的加热制冷功能,除了需要对[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]模组的加载电流进行自动调节之外,还需在调节过程中能自动改变电流方向,为此,[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]执行机构配备了电源自动换向器。换向器接收加热和制冷控制信号,并根据控制信号大小和方向输出相应的工作电流。[/font][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]([/font]3[font='微软雅黑',sans-serif])温度传感器:温度传感器是决定温度控制精度的关键因素之一,因此本方案中配置了高等级的铂电阻温度计(如标准铂电阻温度计)或高等级热敏电阻温度传感器,使得温度传感器的温度分辨率能达到[/font]0.001[font='微软雅黑',sans-serif]℃以及测温精度能达到[/font]0.01~0.02[font='微软雅黑',sans-serif]℃。[/font][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]([/font]4[font='微软雅黑',sans-serif])超高精度[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]控制器:决定温度控制精度的另一个关键因素是温度控制器的数据采集精度、控制算法和控制输出精度。为此,在本解决方案中采用了目前控制精度最高的[/font]VPC2021-1[font='微软雅黑',sans-serif]系列的工业用[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]程序调节器,除具有不超过[/font]96mm[font='微软雅黑',sans-serif]×[/font]96mm[font='微软雅黑',sans-serif]×[/font]87mm[font='微软雅黑',sans-serif]的小巧尺寸外,关键是此[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]调节器的模数转换[/font]AD[font='微软雅黑',sans-serif]为[/font]24[font='微软雅黑',sans-serif]位、数模转换[/font]DA[font='微软雅黑',sans-serif]为[/font]16[font='微软雅黑',sans-serif]位、双精度浮点运行运算以及[/font]0.01%[font='微软雅黑',sans-serif]的最小输出百分比,并可对控制程序进行编辑设计,适合红外目标模拟器在全温度量程内多个设定点的自动温度恒定控制。同时,此调节器采用了高级无超调[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]控制模式,并具有[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]参数自整定功能,结合超高精度的数据采集和控制输出,可实现十分精细的温度变化调节和控制。另外,此调节器附带功能强大的计算机软件,通过计算机运行此软件可快速进行[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]控制器的远程设置和运行操作,同时能图形化的显示和记录所有设置参数、控制程序曲线和温度控制变化曲线。[/font][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]总之,本文所述的采用[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]模组进行的温度控制系统,已经成为超高精度可编程温度控制的一种标准和通用性方案,完全适用于红外目标模拟器的高精度温度控制。[/font][align=center][color=#339999]~~~~~~~~~~~~~~~[/color][/align]

  • TeraVM O-CU模拟器JDSU

    [url=http://www.leadwaytk.com/article/4834.html]JDSU[/url][font=宋体][font=宋体]发布了新型的[/font][font=Calibri]O-RAN[/font][font=宋体]测试套件,帮助经销商按照[/font][font=Calibri]O-RAN[/font][font=宋体]标准检验其产品,及其希望在使用网络之前检验这类器件的可扩展性的服务供应商。[/font][font=Calibri]TeraVMO-CU[/font][font=宋体]模拟器为[/font][font=Calibri]TM500[/font][font=宋体]的[/font][font=Calibri]O-DU[/font][font=宋体]检测工具提供一个免费的测试器件。[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]O-RAN[/font][font=宋体]连盟已经促进将[/font][font=Calibri]gNB[/font][font=宋体]分解成三种不同类型的、对外开放的和规范化的元素:[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]O-RU[/font][font=宋体]:对外开放无线电模块,承担数字前端、下部[/font][font=Calibri]PHY[/font][font=宋体]层[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]O-DU[/font][font=宋体]:对外开放分布式系统模块,承担[/font][font=Calibri]RLC[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]MA[/font][font=宋体]和更高部分[/font][font=Calibri]PHY[/font][font=宋体]层[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]O-CU[/font][font=宋体]:承担[/font][font=Calibri]RRC[/font][font=宋体]和[/font][font=Calibri]PDCP[/font][font=宋体]层的开放中间模块[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]TeraVMO-CU[/font][font=宋体]模拟器是款根据软件的检测工具,设置在[/font][font=Calibri]x86[/font][font=宋体]硬件上[/font][font=Calibri]-[/font][font=宋体]满足[/font][font=Calibri]3GPPF1[/font][font=宋体]应用层协议,各个模拟[/font][font=Calibri]CU[/font][font=宋体]兼容高达[/font][font=Calibri]256[/font][font=宋体]个[/font][font=Calibri]DU[/font][font=宋体],而且每部服务器能够模拟高达[/font][font=Calibri]8[/font][font=宋体]个[/font][font=Calibri]CU[/font][font=宋体]。[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]TeraVMO-CU[/font][font=宋体]模拟器能够模拟[/font][font=Calibri]5G[/font][font=宋体]场景:[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]5GNSA[/font][font=宋体]选择[/font][font=Calibri]3a[/font][font=宋体]、选择[/font][font=Calibri]3x5GSA[/font][/font][font=宋体]主要特征[/font][font=宋体][font=宋体]率先推出满足最新[/font][font=Calibri]3GPP[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]O-RAN[/font][font=宋体]标准化的[/font][font=Calibri]O-DU[/font][font=宋体]全围绕测试[/font][/font][font=宋体][font=宋体]在常规[/font][font=Calibri]x86[/font][font=宋体]硬件里的轻量级[/font][font=Calibri]VM[/font][font=宋体]中使用[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]CI/CD[/font][font=宋体]自动化集成[/font][/font][font=宋体]系统测试[/font][font=宋体]性能、容量测试[/font][font=宋体][font=宋体]兼容[/font][font=Calibri]Jenkins[/font][font=宋体]等开源自动化软件[/font][/font][font=Calibri]JDSU[/font][font=宋体]成立于[/font][font=Calibri]1923[/font][font=宋体]年,考虑到购买包括[/font][font=Calibri]OCLI[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]Network Instruments[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]Agilent[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]Arieso[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]Trilithic[/font][font=宋体]以及[/font][font=Calibri]Cobham AvComm [/font][font=宋体]和[/font][font=Calibri]Wireless[/font][font=宋体]在内的各公司的核心技术,[/font][font=Calibri]JDSU[/font][font=宋体]公司名称升级为[/font][font=Calibri]VIAVI[/font][font=宋体]。[/font][font=Calibri]VIAVI[/font][font=宋体]不断积聚专业技术,专注于实现技术领先通信和光学技术。[/font][font=宋体]深圳市立维创展科技有限公司,凭借着加拿大总公司地理竞争优势,与[/font][font=Calibri]JDSU[/font][font=宋体]原厂直接战略合作。期待与国内众多渠道分销、终端客户更多沟通交流战略合作,欢迎咨询。[/font][font=宋体]详情了解[/font][font=Calibri]JDSU[/font][font=宋体]产品请点击:[/font][url=http://www.leadwaytk.com/brand/41.html][font=Calibri]http://www.leadwaytk.com/brand/41.html[/font][/url]

  • 开源网络模拟器ns-3 - 架构与实践

    [b]【序号】:【作者】:[url=https://book.douban.com/search/%E5%91%A8%E8%BF%AA%E4%B9%8B]周迪之[/url]【题名】:[b]开源网络模拟器ns-3 - 架构与实践[/b]【期刊】:[font=Helvetica, Arial, sans-serif][size=13px][color=#111111]机械工业出版社[/color][/size][/font]【年、卷、期、起止页码】:[font=Helvetica, Arial, sans-serif][size=13px][color=#111111]2018-12-1[/color][/size][/font]【全文链接】:https://book.douban.com/subject/30422850/[/b]

  • 涡轮机润滑油静电放电的危害化

    涡轮机润滑油静电放电的危害化(1)静电放电引起润滑油局部燃烧,温度超过1100度(2)快速流动的润滑油,必然有气泡或者油中含有空气a在高压区域挤爆,b摩擦副,弯管紊流区等区域挤爆,c.配合静电,润滑油系统发生多次,多面积,局部燃烧,胶质油泥等大面积产生。(3)静电只有放电以后,大量胶质产生,结合自身氧化,高温热裂解,润滑油系统大量油泥胶质产生了。(5) 大量加速产生的油泥胶质,粘附在轴瓦表面,引起温度升高。产生的漆膜破坏轴瓦间隙,引起振动。(6) 导致伺服阀前置滤芯堵塞,供油压力不足。(7) 伺服阀线轴等部件,粘附沉积的漆膜等引起伺服阀的卡阻,引起跳机

  • NS61000-2 三基NS61000-2 静电放电发生器

    广东欧程电子仪器有限公司(东莞)联系人:肖菲 135-6081-3766公司地址:东莞市塘厦镇宏业北路148号升联创展大厦508公司网址: http://www.ony5117.com提示:如果您找不到联系方式,请在浏览器上搜索:供应二手静电枪 NS61000-2 三基NS61000-2 静电放电发生器名称: NS61000-2K/NS61000-2(30KV)静电放电发生器详细: 放电方式 接触放电、气隙放电 输出电压 NS61000-2K 0~20KV,(自动换挡发改变电压显示的分辨率) NS61000-2(30KV) 0~30KV,(自动换挡改变电压显示的分辨率) 极性 正、负 放电电容 150pF 放电阻抗 330Ω 放电模式 SINGAL 单击 REPEAT 连续,放电间隔0.1s~9.9s可调 COUNT 连续,放电间隔0.1s~9.9s可调   放电次数1~99999可设定 20PPS 每秒20次连续放电(即放电间隔0.05s) 放电电流上升沿 0.7~1ns 电源 AC220V±10%,50/60Hz 相关配置(选购件) 静电放电试验台(ESDD) 外形尺寸及重量 320×300×170(DXWXH)mm3约10kg备注:本公司专业经营各类二手进口仪器(销售、租赁业务),成色新,价格低,技术先进、质量可靠、性能稳定的优良产品。长期承接销售、租赁、维修、回收二手高档仪器, 包括Agilent、HP、Anritsu、Advantest、R/S、/MARCONI等世界知名品牌的具备丰富的经验和库存!

  • 出售日本NoiseKen ESS-6008 静电发生器

    广东欧程电子仪器有限公司(东莞)联系人:肖菲 135-6081-3766公司地址:东莞市塘厦镇宏业北路148号升联创展大厦5楼公司网址: http://www.ony5117.comESS-6008半导体器件静电放电模拟试验器,静电是沿着物体移动而產生,而物体包含正、负电的电配置,当其配置失序,而倾向为一个极性時,静电即產生,这个现象就称为”带电”,“带电”主要是因为接觸,磨擦及剥落而產生 同时,静电还有另一种现象称为”感应带电”。此外,尽管有些時候,当脱下毛线衣及在干燥状态下接触车辆门把时可能会有火花产生而也称为静电,正确地說,它应该称为”静电放電(ESD)”。 ESS-6008半导体器件静电放电模拟试验器国内又叫做日本NOISEKEN ESS-6002/ESS-6008 LED静电分析仪,即可以测试人体和机械两种模式的静电测试仪。而在当下LED行业发展迅猛,很多企业又将之称做LED静电分析仪。日本NOISEKEN的ESS-6002/ESS-6008半导体器件静电放电模拟发生器已经生产10多年,最高机械模式可以达到8KV,并已经得到各行业的广泛认可。相比国内的一些刚生产一年左右的产品来说,稳定性、精密性、认可度优势已十分明显。作为专业从事EMC设备研发与生产,和相关标准的制定者,NOISEKEN的ESS-6002/ESS-6008以它的卓越功能被广泛认可。 在我们日常生活中,仅仅只是穿鞋及走在地毯上,很容易就可产生30kV静电。“NoiseKen”ESD模拟试验器(ESS-S3011/ESS-B3011/ESS-L1611)可再现及模拟来自带电人体的ESD,用意是要测试电子设备在ESD影响下是否能正确地操作或发生故障?而且,模拟试验器符合由IEC国际电工委员会标准化的IEC61000-4-2标准。而用于测试电子组件如半导体的ESD模拟试验器,有ESS-6008(请参考目录上之合格标准)。发生故障的过程是,当ESD发生到一电子设备時,表面电流在体表流動,而电位上升,结果,GND的电位變動,而接着产生电/磁雜訊,噪声流到内部与电路耦合,因此,造成故障(请参下圖)。 由于这个现象可轻易地频繁產生,因此,对电子设备进行测试乃是必须的。特 点考查实际上给电子设备安装半导体元件时,半导体元件所受到的抗静电破坏能力的静电试验器。半导体元件因受静电可能发生内部配线,绝缘膜的熔断,破坏等而导致产品特性裂化,误动作的现象。对于此静电破坏试验,只需利用1 台弊司小型ESS-600X 更换探头就可简单实行人体带电型,机器带电型的试验。还有,可用选件中的精密型支架可对超细密间距元件做半自动的试验。最适合用于进行LED,LCD, 光元件等电子部品的静电破坏耐性试验。精密型支架 可做最高输出电压±8KV 试验(ESS-6008) 可做出留有余量的试验 可对各种间距的受测元件进行静电施加试验 可搭配精密测台,以半自动(Y 轴)的脚位移动而正确的对待 测物施加静电 可做最低试验电压±10V 的试验(ESS-6002) 对于低电压驱动元件的评价可从10V 开始以1V 的步长予施加 可对应规格对应标准人体模型试验 (HBM)机械模型试验 (MM)AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003AEC-Q100-003-REV-E Jul.2003ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999IEC 61340-3-1Ed.1.0 2002IEC 61340-3-2 Ed.1.0-2002IEC 60749-26 Ed.1.0 2003IEC 60749-27 Ed.1.0 2003JEDEC JESD22-A114E Jan 2007JEDEC JESD22-A115A Oct.1997JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001MIL-STD-883G Method 3015.7 Mar.1989规格半导体器件静电放电模拟试验器 (ESS-6002/ESS-6008)项目功能/性能ESS-6002ESS-6008输出电压10~2000V±10%(ESS-6002) 1V步进100~8000V±10%(ESS-6008) 10V步进输出极性正或负重复周期0.3~99s±10%到10s为止0.1s步进 10s以后1s步进放电次数1~99次/连续Automatic output voltage rampingAvailable尺寸(W)340×(H)×199×(D)300mm(不含突起部分)尺寸约6kg简易型探针台 项目功能/性能尺寸/重量(探针台主机)(W)200×(H)330×(D)290mm/约1.5kg尺寸/重量(简易放电板)(W)100×(H)27×(D)180mm(不含突起部)/约200g钳口尺寸110mm其他POM造V型部件1个 标准附件半自动精密型探针台 由于半自动精密型探针台的最小分辨率为0.01mm,所以可以简单地对毫米间距和英寸间距等极小间距的半导体进行试验项目功能/性能尺寸/重量(W)250×(H)400×(D)300mm/约7kg可对应IC最大尺寸:40mm角 最小导线间距:0.4mmX轴手动 移动量:20mm ×燕尾槽、进给螺杆Y轴电动(zui大速度:13mm/s)移动量:40mm(Y分辨率:0.01mm)*步进马达&滚珠螺杆θ轴手动 移动量:360°Z axis手动 移动量:20mm *内置弹簧下压式回原点手动

  • 电磁兼容设备量值溯源图

    雷击浪涌模拟器、静电放电模拟器等电磁兼容设备的量值溯源图如何做,都要那些内容,设备的参数那么多都要以一些上么?请大神指教,最好能给发个电磁兼容设备的溯源图模板,我们借鉴学习一下?请大神不吝赐教!!!

  • 静电与仪器

    [align=center][size=24px]静电与仪器[/size][size=20px][/size][/align] [size=16px] 静电大家都不陌生,冬天脱衣服尤其是化学纤维面料,[/size][font='宋体'][size=16px]像[/size][/font][font='宋体'][size=16px]涤纶、锦纶、丙纶、氨纶等化纤材料[/size][/font][size=16px]的[/size][size=16px]衣服[/size][size=16px],在天气干燥时一经摩擦很容易产生静电。这个静电大家直观的看一是会产生噼里啪啦的声响,有时还比较吓人;二是会有短暂的电光火星,黑夜里看还挺好看;三是这些火星接触的身体有时还挺疼,对身体有一点影响。[/size] [size=16px] 静电对仪器设备等也有影响,有时还会比较严重。比如用带静电的物体或身体部位,如手[/size][size=16px]触碰到仪器(仪器裸露的金属部位、显示屏、敏感的部件等),仪器会有短时的异常,如显示屏闪烁,通讯中断,工作异常等现象,严重时仪器会死机、关机甚至发生故障等。静电如果足够大,带静电的物体或人体靠近[/size][size=16px]仪器仪器[/size][size=16px]都会有影响。[/size] [size=16px] 关于静电[/size][size=16px]放电[/size][size=16px]对仪器的干扰的国标,国内外也有很多,比如《[/size][size=16px]GB[/size][size=16px]/[/size][size=16px]T 17626.2-2018 [/size][size=16px]电磁兼容[/size][size=16px] [/size][size=16px]试验和测量技术[/size][size=16px] [/size][size=16px]静电放电抗扰度试验[/size][size=16px]》、《[/size][size=16px]GB[/size][size=16px]/[/size][size=16px]T 18268.1-2010 [/size][size=16px]测量、控制和实验室用的电设备[/size][size=16px] [/size][size=16px]电磁兼容性要求[/size][size=16px] [/size][size=16px]第[/size][size=16px]1[/size][size=16px]部分:通用要求[/size][size=16px]》[/size][size=16px]、《[/size][size=16px]GB/T 4365-2003[/size][size=16px]电工术语[/size][size=16px] [/size][size=16px]电磁兼容[/size][size=16px]》[/size][size=16px],IEC 61000-4-2:2008[/size][size=16px]等。[/size] [size=16px] 静电[/size][size=16px]放电[/size][size=16px]对仪器影响分为接触放电和空气放电,一般等级为,接触放电一级:±[/size][size=16px]2KV[/size][size=16px],二级:±[/size][size=16px]4KV[/size][size=16px],三级:[/size][size=16px]±[/size][size=16px]6[/size][size=16px]KV[/size][size=16px],[/size][size=16px]四级:[/size][size=16px]±[/size][size=16px]8[/size][size=16px]KV[/size][size=16px],[/size][size=16px]及更高。空气[/size][size=16px]放电一级:±[/size][size=16px]2KV[/size][size=16px],二级:±[/size][size=16px]4KV[/size][size=16px],三级:±[/size][size=16px]8[/size][size=16px]KV[/size][size=16px],四级:±[/size][size=16px]15[/size][size=16px]KV[/size][size=16px],[/size][size=16px]及[/size][size=16px]更高。[/size][size=16px]工业仪器仪表,包括实验室仪器仪表、室外或现场监测仪器仪表等,主要执行的三级标准,即[/size][size=16px]接触放电±[/size][size=16px]6KV[/size][size=16px],[/size][size=16px]空气[/size][size=16px]放电±[/size][size=16px]8KV[/size][size=16px]。仪器在试验过程中最好是没有影响,最差结果也得是在试验结束后,仪器在没有人为干预的情况下自己功能、性能等恢复正常[/size][size=16px]。[/size] [size=16px] 抗静电一个是防,防止静电接触到仪器,比如仪器外观无裸露的金属部位,无对静电敏感的部件,人或其它物体免于或少接触仪器,人或其它物体接触仪器前先进行去静电处理[/size][size=16px]或是带防静电[/size][size=16px]手环[/size][size=16px]或穿防静电[/size][size=16px]服等。另一个是对仪器做抗静电干扰设计,比如利用地线卸掉静电,增加抗静电电路设计,增加抗静电滤波器等。总之,不能让静电干扰到仪器的正常使用。[/size] [size=16px] 静电无处不在,防静电、抗静电刻刻铭记,提高认识,加强重视,[/size][size=16px]攻坚克难,避免影响。[/size]

  • 实验室仪器如何防静电

    实验室仪器如何防静电

    实验室仪器的静电是不可避免的,为了实验安全和产品质量。这些静电是需要采取措施进行防护的。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511271803_575347_2544766_3.jpg 实验室仪器中控制静电不仅是为了安全,附带目的还可能改进产品质量,例如在研磨运行中,静电电荷可影响成品达到优良质量,或者在有的纺织厂运行中,静电电荷可造成纤维竖直而不平卧,结果产生次品。众所周知,用溜槽或管道运输物料要积蓄静电荷,造成材料粘附在溜槽或管道的内壁上,这样会造成堵塞。1最小发火能量1、最小发火能量 静电的放电引起的火灾或爆炸灾害,是可燃性混合气中发生的放电能变换为热能,使可燃气体温度上升,超过发火温度的结果。使温度上升到该发火温度的最小能量称为最小发火能量,以该值作为发生爆炸、火灾的一个目标值。2防止静电灾害的对策2、防止静电灾害的对策 静电灾害是由于具备了电荷的产生、电荷的积蓄、放电现象、可燃性物质存在这四个条件而发生的。因此,如果消除这些条件的一个就可以防止灾害的发生。重要的是应该准确地判断制止这四个段中的哪一个,并采取适当的对策。作为防止静电灾害的基本措施,拟从防止、抑制带静电的观点出发介绍其具体方法。(1)抑制静电的产生:由于静电的发生源是物体之间的摩擦或分离作用等,因此要尽可能抑制这些作用。例如,在液体管路输送、粉尘物空气输送或者塑料的挤压等作业中,最好的方法是降低速度。实际上这样会影响作业效率。石油类的安全流速在1m/s以下。静电由于物质的不同而带电量或极性不同。因此可行的措施是避免使用容易带电的绝缘物,而使用通过组合难易产生静电的材料。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511271805_575348_2544766_3.jpg(2)促使发生电荷的泄露:在灾害对策中,最简单的方法是进行接地。该方法是通过金属导体使发生电荷迅速消失到大地中。但是,采用这种方法,如果带电体是导体可以简单地消除,而塑料或化纤类、石油类等绝缘物,由于带电部分的电荷难以移动,效果不大。另外,还有在物体内附加导电性物质而使电荷泄漏的方法。这其中包括在轮胎或操作人员的靴子以及化工厂的地板材料中加入金属粉末或碳黑,在化纤类或塑料类中使用亲水性油剂,以防止带电。如果提高空气中的相对湿度,则会在物体表面形成吸水层而增强导电性,在80%以上的湿度下几乎不会带电。为此在有带电可能的场所,可以提高调节湿度装置或撒水等方法提高湿度。但问题是人可能感觉不适,或对设备和产品有不良影响。(3)消除带电的电荷:在即使抑制电荷发生、促使电荷泄漏,仍然带静电的情况下,应该积极地消除带有的静电。对此可使用除静电器,目前有各种除静电器在开发和销售。目前开发的除静电装置是利用离子进行除电。按离子的生成方式分类有自放电式除电器、电压附加式除电器、放射性同位素式除电器三种。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511271805_575349_2544766_3.jpg3、静电保护接地 在处理熔剂、粉状物质或其他易燃产品的地方,常存在有危险电位,因为静电积累在设备上、处理的物料上、甚至在操作人员身上。静电电荷对地或其他设备放电,遇着易燃或爆炸物质的时候,必然引起火灾与爆炸,造成每年有许多人伤亡和带来大量财产损失。(转帖)

  • 实验室仪器设备如何去静电啊?愁!!

    实验室仪器设备使用过程中会产生静电吗?静电灾害是由于具备了电荷的产生、电荷的积蓄、放电现象、可燃性物质存在这四个条件而发生的。实验室仪器使用过程中产生的静电有危害吗?那么怎样防止静电呢?  1、实验室仪器设备抑制静电的产生:由于静电的发生源是物体之间的摩擦或分离作用等,因此要尽可能抑制这些作用。例如,在液体管路输送、粉尘物空气输送或者塑料的挤压等作业中,最好的方法是降低速度。实际上这样会影响作业效率。石油类的安全流速在1m/s以下。静电由于物质的不同而带电量或极性不同。因此可行的措施是避免使用容易带电的绝缘物,而使用通过组合难易产生静电的材料。http://www.junlincn.com/uploads/allimg/120926/3-1209261F9140-L.jpg 2、实验室仪器设备促使发生电荷的泄露:在灾害对策中,最简单的方法是进行接地。该方法是通过金属导体使发生电荷迅速消失到大地中。但是,采用这种方法,如果带电体是导体可以简单地消除,而塑料或化纤类、石油类等绝缘物,由于带电部分的电荷难以移动,效果不大。  另外,还有在物体内附加导电性物质而使电荷泄漏的方法。这其中包括在轮胎或操作人员的靴子以及化工厂的地板材料中加入金属粉末或碳黑,在化纤类或塑料类中使用亲水性油剂,以防止带电。如果提高空气中的相对湿度,则会在物体表面形成吸水层而增强导电性,在80%以上的湿度下几乎不会带电。为此在有带电可能的场所,可以提高调节湿度装置或撒水等方法提高湿度。但问题是人可能感觉不适,或对设备和产品有不良影响。  3、实验室仪器设备消除带电的电荷:在即使抑制电荷发生、促使电荷泄漏,仍然带静电的情况下,应该积极地消除带有的静电。对此可使用除静电器,目前有各种除静电器在开发和销售。目前开发的除静电装置是利用离子进行除电。按离子的生成方式分类有自放电式除电器、电压附加式除电器、放射性同位素式除电器三种。  4、实验室仪器设备静电保护接地  在处理熔剂、粉状物质或其他易燃产品的地方,常存在有危险电位,因为静电积累在设备上、处理的物料上、甚至在操作人员身上。实验室仪器设备的静电电荷对地或其他设备放电,遇着易燃或爆炸物质的时候,必然引起火灾与爆炸,造成每年有许多人伤亡和带来大量财产损失。

  • 【分享】静电的危害

    电产生于物体与物体的接触表面,液体与固体或固体与液体接触表面存在电离层,当接触面分离时,在各自表面产生了过剩电荷即静电荷。任何物体内部都是带有电荷的,一般状态下,其正,负电荷数量是相等的,对外不显出带电现象,但当两种不同物体接触或摩擦时,一种物体带负电荷的电子就会越过界面,进入另一种物体内,静电就产生了。而且因它们所带电荷发生积聚时产生了很高静电压,当带有不同电荷的两个物体分离或接触时出现电火花,这就是静电放电的现象。产生静电的原因主要有摩擦、压电效应、感应起电、吸附带电等。摩擦是生产、生活中普遍存在的现象,伴随摩擦产生的静电也就跟生产、生活有着密切的联系。但遗憾的是在许多情况下,“静电”却是不受欢迎的“不速之客”。在气候干燥的季节,如果你穿着旅游鞋在干净的地板上行走后,伸手抓金属门柄,常常会给你一件意想不到的“礼物”──一个小火花跳到手上,麻得你不自在;当你伸手跟别人接触,常常会给对方造成一次电击,令人不快。这都是静电的“恶作剧”。究其原因,原来是身体与空气及周围物体摩擦带了电,由于旅游鞋底绝缘性能好,人体带的电荷不能泄放入地,一旦接触导体,就会发生火花放电,造成“不愉快”的电击。  我们还知道,物体带电后能吸引轻小的纸屑、绒线,当然也能吸引更小的灰尘。日常用的塑料制品、穿的化纤衣物,都是摩擦起电的好材料,静电电荷的良好栖息地。这些物品在使用过程中难免发生摩擦而带电,使用不久它们的表面就会吸附一层灰尘,鲜艳漂亮的用具、衣物也就黯然失色。

  • 仪器室应该怎样防止静电(不要乱动我置顶的贴子)

    实验室中控制静电不仅是为了安全,附带目的还可能改进产品质量,例如在研磨运行中,静电电荷可影响成品达到优良质量,或者在有的纺织厂运行中,静电电荷可造成纤维竖直而不平卧,结果产生次品。众所周知,用溜槽或管道运输物料要积蓄静电荷,造成材料粘附在溜槽或管道的内壁上,这样会造成堵塞。大多数分析仪器都是通过电信号转化分析结果的,如果存在静电也会影响分析数据的1、最小发火能量  静电的放电引起的火灾或爆炸灾害,是可燃性混合气中发生的放电能变换为热能,使可燃气体温度上升,超过发火温度的结果。使温度上升到该发火温度的最小能量称为最小发火能量,以该值作为发生爆炸、火灾的一个目标值。2、防止静电灾害的对策  静电灾害是由于具备了电荷的产生、电荷的积蓄、放电现象、可燃性物质存在这四个条件而发生的。因此,如果消除这些条件的一个就可以防止灾害的发生。重要的是应该准确地判断制止这四个段中的哪一个,并采取适当的对策。作为防止静电灾害的基本措施,拟从防止、抑制带静电的观点出发介绍其具体方法。  (1)抑制静电的产生:由于静电的发生源是物体之间的摩擦或分离作用等,因此要尽可能抑制这些作用。例如,在液体管路输送、粉尘物空气输送或者塑料的挤压等作业中,最好的方法是降低速度。实际上这样会影响作业效率。石油类的安全流速在1m/s以下。静电由于物质的不同而带电量或极性不同。因此可行的措施是避免使用容易带电的绝缘物,而使用通过组合难易产生静电的材料。  (2)促使发生电荷的泄露:在灾害对策中,最简单的方法是进行接地。该方法是通过金属导体使发生电荷迅速消失到大地中。但是,采用这种方法,如果带电体是导体可以简单地消除,而塑料或化纤类、石油类等绝缘物,由于带电部分的电荷难以移动,效果不大。  另外,还有在物体内附加导电性物质而使电荷泄漏的方法。这其中包括在轮胎或操作人员的靴子以及化工厂的地板材料中加入金属粉末或碳黑,在化纤类或塑料类中使用亲水性油剂,以防止带电。如果提高空气中的相对湿度,则会在物体表面形成吸水层而增强导电性,在80%以上的湿度下几乎不会带电。为此在有带电可能的场所,可以提高调节湿度装置或撒水等方法提高湿度。但问题是人可能感觉不适,或对设备和产品有不良影响。  (3)消除带电的电荷:在即使抑制电荷发生、促使电荷泄漏,仍然带静电的情况下,应该积极地消除带有的静电。对此可使用除静电器,目前有各种除静电器在开发和销售。目前开发的除静电装置是利用离子进行除电。按离子的生成方式分类有自放电式除电器、电压附加式除电器、放射性同位素式除电器三种。3、静电保护接地  在处理熔剂、粉状物质或其他易燃产品的地方,常存在有危险电位,因为静电积累在设备上、处理的物料上、甚至在操作人员身上。静电电荷对地或其他设备放电,遇着易燃或爆炸物质的时候,必然引起火灾与爆炸,造成每年有许多人伤亡和带来大量财产损失

  • 实验室关于静电的防护

    实验室仪器中控制静电不仅是为了安全,附带目的还可能改进产品质量,例如在研磨运行中,静电电荷可影响成品达到优良质量,或者在有的纺织厂运行中,静电电荷可造成纤维竖直而不平卧,结果产生次品。众所周知,用溜槽或管道运输物料要积蓄静电荷,造成材料粘附在溜槽或管道的内壁上,这样会造成堵塞。 1、最小发火能量 静电的放电引起的火灾或爆炸灾害,是可燃性混合气中发生的放电能变换为热能,使可燃气体温度上升,超过发火温度的结果。使温度上升到该发火温度的最小能量称为最小发火能量,以该值作为发生爆炸、火灾的一个目标值。 2、防止静电灾害的对策 静电灾害是由于具备了电荷的产生、电荷的积蓄、放电现象、可燃性物质存在这四个条件而发生的。因此,如果消除这些条件的一个就可以防止灾害的发生。重要的是应该准确地判断制止这四个段中的哪一个,并采取适当的对策。作为防止静电灾害的基本措施,拟从防止、抑制带静电的观点出发介绍其具体方法。 (1)抑制静电的产生:由于静电的发生源是物体之间的摩擦或分离作用等,因此要尽可能抑制这些作用。例如,在液体管路输送、粉尘物空气输送或者塑料的挤压等作业中,最好的方法是降低速度。实际上这样会影响作业效率。石油类的安全流速在1m/s以下。静电由于物质的不同而带电量或极性不同。因此可行的措施是避免使用容易带电的绝缘物,而使用通过组合难易产生静电的材料。 (2)促使发生电荷的泄露:在灾害对策中,最简单的方法是进行接地。该方法是通过金属导体使发生电荷迅速消失到大地中。但是,采用这种方法,如果带电体是导体可以简单地消除,而塑料或化纤类、石油类等绝缘物,由于带电部分的电荷难以移动,效果不大。 另外,还有在物体内附加导电性物质而使电荷泄漏的方法。这其中包括在轮胎或操作人员的靴子以及化工厂的地板材料中加入金属粉末或碳黑,在化纤类或塑料类中使用亲水性油剂,以防止带电。如果提高空气中的相对湿度,则会在物体表面形成吸水层而增强导电性,在80%以上的湿度下几乎不会带电。为此在有带电可能的场所,可以提高调节湿度装置或撒水等方法提高湿度。但问题是人可能感觉不适,或对设备和产品有不良影响。 (3)消除带电的电荷:在即使抑制电荷发生、促使电荷泄漏,仍然带静电的情况下,应该积极地消除带有的静电。对此可使用除静电器,目前有各种除静电器在开发和销售。目前开发的除静电装置是利用离子进行除电。按离子的生成方式分类有自放电式除电器、电压附加式除电器、放射性同位素式除电器三种。 3、静电保护接地 在处理熔剂、粉状物质或其他易燃产品的地方,常存在有危险电位,因为静电积累在设备上、处理的物料上、甚至在操作人员身上。静电电荷对地或其他设备放电,遇着易燃或爆炸物质的时候,必然引起火灾与爆炸,造成每年有许多人伤亡和带来大量财产损失。

  • 化学试剂、静电与火灾!

    任何物体内部都带有电荷,一般状态下,其正、负电荷数量相等,对外不显出带电现象,但当两种不同物体接触或摩擦时,物体中的电子会越过界面,进入另一种物体内,产生静电。因它们所带电荷发生积聚时产生了很高静电压,当带有不同电荷的两个物体分离或接触时出现电火花,这就是静电放电现象。 一些化学物质里也会有静电,有些易燃的物质,在静电作用下很容易发生火灾,像石油。

  • ESD试验不同标准版本的差异解读

    ESD试验不同标准版本的差异解读

    [align=left]文/ 孙成明 乐明军 许展川 李 琴 华测检测(宁波汽车电子EMC实验室)[/align][align=left][b]摘要[/b]简要介绍《GB/T17626.2-2018电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验IDT IEC61000-4-2:2008 》与《GB/T17626.2-1998》及《GB/T17626.2-2006 IDT IEC61000-4-2:2001》版的主要差异和分析;可供电磁兼容实验室ESD试验工程师参考。[/align][align=left][b]1 概述[/b]《GB/T17626.2-2006电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 IDT IEC 61000-4-2:2001》是《GB/T17626.2-1998 IDT IEC 61000-4-2:1995》的改新版,主要修改内容有:1)不接地设备的试验方法;2)直接放电的试验方法;3)对水平耦合板放电的试验方法;4)试验结果评价和试验报告的要求等。[/align][align=left]《GB/T17626.2-2018电磁兼容试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 IDT IEC61000-4-2:2008》代替《GB/T17626.2-2006》,欧盟也相应改版为《EN 61000-4-2:2009》;主要修改内容是试验脉冲参数和试验方法等;旨在解决ESD试验结果的不确定性问题。[/align][align=left][b]2 试验布置的主要差异2.1 不接地设备的试验[/b] 1) 适用范围适用于安装规范或设计不与任何接地系统连接的设备或设备部件。 2)试验方法a)不接地台式设备的试验布置如图1所示;[img=,533,317]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/07/201907011614486036_854_3051334_3.jpg!w533x317.jpg[/img][/align][align=left]图1 不接地台式设备的试验布置示意图注:1)图1参见GB/T17626.2-2006图8;2)GB/T17626.2-2018图6(略),修改了VCP板试验布置方式。b)不接地落地式设备的试验设备布置按图2所示;[img=,690,317]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/07/201907011615022653_7205_3051334_3.jpg!w690x317.jpg[/img][/align][align=left]图2不接地落地式设备的试验布置示意图注:最新版修改了VCP板试验布置方式。c)带泄放电阻的电缆,参考图3制作;[/align][align=left][img=,690,132]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/07/201907011615260471_7884_3051334_3.jpg!w690x132.jpg[/img]图3 带泄放电阻的电缆原理示意图d)静电放电发生器的电极头应垂直于受试设备的表面。详见GB/T17626.2-2006第7.1.3或GB/T17626.2-2018第7.4.3。[b]2.2 直接放电试验[/b] 静电放电(ESD)只施加在正常使用时人员可能接触到的受试设备上的点和面;以下情况例外:a)维修时才接触到的点和面;b)用户保养时接触到的点和面;c)设备安装固定后或按使用说明使用后不再能接触到的点和面;d)外壳为金属的同轴连接器和多芯连接器可接触的点;非导电(如,塑料)连接器内可接触到的点,只进行空气放电试验。e)由于功能原因对静电放电敏感并有静电放电警告标签的连接器或接触部分可接触到的点。详见GB/T17626.2-2006第8.3.1。[b]2.3 对水平耦合板放电试验[/b] 对水平耦合板放电应在水平方向对其边缘施加,见GB/T17626.2-2001图5所示,放电电极应接触并垂直于水平耦合板的边缘,详见GB/T17626.2-2001 第8.3.2.1。[b]2.4 试验结果评价和试验报告要求[/b]2.4.1试验结果的评价 试验结果应依据受试设备在试验中的功能丧失或性能降低现象进行分类,相关的性能水平由设备制造商或需方确定,详见GB/T17626.2-2001第9部分。2.4.2试验报告的要求试验报告应包括能重现试验的全部信息,详见GB/T17626.2-2001第10部分。[b]3 GB/T17626.2-2018与GB/T17626.2-2006试验参数的主要差异3.1静电放电发生器脉冲参数[/b] 表1试验脉冲参数对比[table][tr][td][color=windowtext]项目[/color][/td][td][color=windowtext]参数[/color][/td][td][color=windowtext]单位[/color][/td][td][color=windowtext]2006[/color][color=windowtext]版[/color][/td][td][color=windowtext]2018[/color][color=windowtext]版[/color][/td][/tr][tr][td][color=windowtext]脉冲上升时间[/color][/td][td][color=windowtext]tr[/color][/td][td][color=windowtext]ns[/color][/td][td][color=windowtext]0.7-1.0 [/color][/td][td][color=windowtext]0.6-1.0[/color][/td][/tr][tr][td][color=windowtext]第一峰值电流[/color][/td][td][color=windowtext]Ip[/color][/td][td][color=windowtext]A[/color][/td][td][color=windowtext]±10%[/color][/td][td][color=windowtext]±15%[/color][/td][/tr][tr][td][color=windowtext]放电电流[/color][color=windowtext]/30ns[/color][/td][td][color=windowtext]I30[/color][/td][td][color=windowtext]A[/color][/td][td][color=windowtext]±30%[/color][/td][td][color=windowtext]±30%[/color][/td][/tr][tr][td][color=windowtext]放电电流[/color][color=windowtext]/60ns[/color][/td][td][color=windowtext]I60[/color][/td][td][color=windowtext]A[/color][/td][td][color=windowtext]±30%[/color][/td][td][color=windowtext]±30%[/color][/td][/tr][/table][b]3.2 试验校验方法[/b]原标准规定,测量5次,取5次脉冲平均值。新标准版本(-2018版)规定,每个测量等级是,在一个时间里或个别评估时,要记录5个脉冲,每一个脉冲每单次测量(i.e. tr, Ip, I30, I60)都必须符合规定的范围要求。[/align][align=left][b]4 简要分析4.1不接地设备或部件试验[/b]4.1.1原标准(GB/T17626.2-1998/-2006版,IEC61000-4-2:1995/2001版) 不接地设备或设备的不接地部件不能自行放电。受试点的电荷累积可能使电压为预期试验电压的两倍或更高,受放电回路LC影响,静电放电试验存在不确定性。4.1.2新标准(GB/T17626.2-2018版,IEC61000-4-2:2008版)试验模拟人体静电放电模式,增加“泄放电阻和电缆”(如图3所示);静电放电试验结果一致性增强。[b]4.2直接放电试验[/b]进一步明确了“试验点”的选择要求(见第2.2,2.3);既便于设备供应商制定产品标准,也便于使用方提出更合理的试验要求。[b]4.3水平耦合板试验[/b]对水平耦合板试验,原标准规定放电枪头垂直于水平耦合板(见GB/T17626.2-1998图5);新标准规定放电枪头与水平耦合板平行/垂直于水平耦合板边缘(见GB/T17626.2-2001图5),更符合静电放电实际要求。[b]4.4试验评价和试验报告要求[/b]进一步明确规定了对“试验结果”的评价要求和试验报告的内容要求,确保试验结果的一致性和再现性。[b]4.5发生器试验脉冲参数[/b]脉冲发生器的脉冲上升时间(tr)和第一峰值电流(Ip),放电电流(I30,I60)如表1所示。原标准校准,输出串接50Ω匹配电阻,输出电压减半;GB/T17626.2:2018/IEC…:2008新标准规定,校准试验脉冲发生器的输出不再串接50Ω匹配电阻,输出测试电压也不再减半;对ESD发生器提出了切合实际的更合理要求。[b]4.6试验校验[/b]4.6.1 屏蔽室新版本不再使用平均值测量方法,正确测量变得更加困难。不良的屏蔽测量系统是随机测量误差产生的一个重要原因;屏蔽效果可导致±20%或以上的幅度测量误差,如图4所示。换句话说,之所以静电放电脉冲测量不符合标准规定,可能是由于测量系统本身,而不是实际的静电放电模拟器。[b] [/b][/align][align=left][b][img=,312,190]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/07/201907011615507150_672_3051334_3.jpg!w312x190.jpg[/img][/b] 注:曲线1(深色),屏蔽不良;曲线2(浅色),屏蔽良好(频率范围10-1000MHz,衰减≥60dB)。[/align][align=left]图4 屏蔽引起的静电放电测量差异4.6.2 数字示波器模拟带宽≥2GHz/采样率≥10GS/ s;测量带宽4GHz /阻抗≤2.1欧姆 衰减器20dB。新的测量方法不再具有50欧姆的串联电阻。因此,示波器测量电压不再减半。4.6.3 参考地平面尺寸≥1.2米x1.2米;地面的接地参考平面连接位置是,垂直于测量目标0.5米以下。它影响着下降沿I30和I60的测量值。4.6.4 静电放电模拟器各种静电模式之间差异显著。由于新的标准要求静电放电模拟器满足更多的要求,很明显,有些静电放电模拟器将不再符合新标准(GB/T17626.2:2018)要求。不符合规定的静电放电模拟器测试可以导致对受试设备的过度测试或测试不足。原有的静电放电模拟器,应按GB/T17626.2:2018规定要求,重新检验确认。[/align][align=left][b]5 结束语[/b]本文简要介绍了GB/T17626.2-2006IDT IEC 61000-4-2:2001与GB/T17626.2-1998以及与GB/T17626.2-2018IDT IEC 61000-4-2:2008的主要差异。指出了ESD模拟器最新校验方法和ESD试验要点,对于电磁兼容实验室ESD试验有重要意义;可供ESD试验工程师参考。[/align]

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