粉末表面分析仪

苏州这边有可以测粉末比表面积的吗?铜金属粉末,-325MESH 90%

哪位做过纳米钨粉粉末的比表面、孔径、孔容。比表面肯定是可以做的，测孔径、孔容有没实在的意义啊？我做出来的等温吸、脱附曲线不闭合是怎么回事啊？

请问专家:用傅里叶变换红外光谱仪测量吸附在金属粉末样品表面的水分可以吗?谢谢!

粉体/粉末/颗粒分析仪器

纳米级的Co3O4，经过氮化处理后，想测一下表面有没有N元素，并进行定量分析，请问可以用那些测试方法？

[b]1.基本原理[/b]表面解吸常压化学电离源（surface desorption atmospheric pressure chemical ionization ，DAPCI）又可写成 SDAPCI，其以APCI工作原理为基础，通过电晕放电的方式将试剂（如水、乙酸等）分子电离，生成初级试剂离子［H[sub]3[/sub]O[sup]+[/sup]，H[sub]2[/sub]O[sup]+[/sup][sup].[/sup]，（H[sub]2[/sub]O）H[sub]2[/sub]O[sup]+[/sup][sup].[/sup]，（H[sub]2[/sub]O）nH[sub]3[/sub]O[sup]+[/sup]等］。初级试剂离子作用于承载粉末、颗粒、液态等样品的玻璃或聚四氟乙烯等材质的平面上，将样品中待测分子解吸并发生分子-离子反应，使待测分子电离。根据待测样品分子的不同， DAPCI也有不同的工作形式，对于有一定挥发性易于解吸的样品分子，可以使用空气作为初级离子试剂［图1（a）］；相对难于解吸的小分子，可以通过使用辅助试剂产生初级试剂离子，增强离子源解吸能力［图1（b）］；对于样品量较少的样品，可以采用微量取样的方式进行分析［图1（c）］；对于较难解吸的大分子，可以使用液体辅助的 DAPCI进行分析［图1（d）］。不管哪种形式的 DAPCI，其主要经过三个过程：[img=image.png,500,329]https://i5.antpedia.com/attachments/att/image/20220126/1643167113660594.png[/img]图1 表面解吸常压化学电离示意图（a）无需气体，液体辅助，通过放电针电放电直接检测复杂待测表面的装置示意图；（b）通过气体为离子源增加辅助试剂的装置示意图；（c）通过微量取样针，检测极微量样品的装置示意图；（d）液体辅助DAPCIN装置示意图①放电针电晕放电产生初级离子；②待测物分子从样品表面被解吸出来；③待测物分子与初级离子在电晕放电的迁移区域内发生分子-离子反应，进行能量的转移和电荷的交换，从而完成对待测物分子的电离。[b]2.技术分类 [/b]DAPCI是以电晕放电为基础的，通过初级试剂离子对样品中待测分子进行解吸电离的二维离子化技术。[b]3.技术特点 [/b]DAPCI在复杂样品的直接电离质谱分析中，具有如下特点：①由于电放电能产生比ESI更多的初级离子 DAPCI就有较高的离子化效率和灵敏度；②可以无需载气，可以检测粉末样品；③便于与小型质谱仪联用；④可以无需有毒化学试剂，对样品表面无污染；⑤由于初级离子产生密度较高，对弱极性和非极性物质的检测能力也较高；⑥可以通过选择不同的辅助试剂，来提高分析的选择性；⑦可以在常压下产生自由基阳离子作为初级试剂离子，对于[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相[/color][/url]中分子离子反应的研究具有重要意义；⑧可以应用于样品表面的质谱成像研究；⑨上述各种形式的 DAPCI源，均可非常方便地与各种常见的质谱仪进行联用，如四极杆、离子阱、飞行时间和轨道阱质谱仪等。

实验室用的日立STA7300热重差热分析仪，在测试粉末样品时，样品的初始质量会一直下降，多时可以达几十个微克。是否通吹扫气体并不影响，烘干后的样品也会质量下降，而金属等块状样品则没有这个现象。还有哪些原因呢？

请问采用什么手段能对粉末材料表面进行区域的元素的定量分析.谢谢

随着微纳米技术的兴起，比表面分析仪已经成为当今世界不可替代的分析仪器，但是国内外品牌众多，在市场中各自占据一定的份额，这么众多的品牌，您觉得哪些品牌是好的品牌，请投上您宝贵的一票。

实验室欲购买进口比表面与孔径分析仪一台，目前开始选型工作。用途：微孔分析为主地点：广州。请广州的相关代理联系我。谢谢。zhujx@gig.ac.cn

哪家的比表面及孔径分析仪比较好呢？我知道的有美国康塔，美国麦克，大家还知道有哪几家吗？

我的样品是经过加热浓缩后得到的粉末样品，请问还能用元素分析仪测元素碳和总碳吗？？？？？谢谢告之！[em24]

实验室正在建设中，现在老板想买一个比表面积分析仪要求：1.最好是进口的，所有配件加仪器价格不超过30w 2.比表面积测试要精确，要有介孔分析功能，微孔分析可有可无 3.出数据较快

关于氮吸附比表面积分析仪试管的清洗试管里装的是粉未的样品，用吸耳球也吹不出去，粘在壁上，用什么方法可以清洗干净吗？

压汞仪与比表面孔径分析仪的区别？

1、认识激光粒度分析仪的测试报告　　　　常规测试报告的内容有测试参数、特征粒径、分布曲线、分布表格等。静电喷涂粉末涂料行业比较关注的是特征粒径（D50）、10μm以下颗粒含量和70μm以上颗粒含量等数据。这些数据在粒度测试报告中都会有明确显示。如有不是很清楚的地方可以致电仪器供应商的售后服务咨询。一般来说还可根据行业自身特点提出定制特别关注参数，有实力的厂商应该是能够满足用户的一些数据需求的。图二是某涂料粒度分布数据表。大家可以看出里面清楚显示了粉体的10μm以下颗粒含量和70μm以上颗粒含量。　　　　2、干、湿法测试结果的差异分析　　　　目前，部分客户（尤其是外商或外资企业）习惯使用干法激光粒度分析仪，大部分国内客户目前使用欧美克的湿法激光粒度分析仪。由于进样方式不同，干法测试结果一般大于湿法结果，由此产生了一些疑问。其实两个结果之间不存在谁更准的问题，因为涂料粒度分布没有绝对真值，测试结果的细微差别是允许存在的。如有强烈需求，也可以通过校正方法使两种仪器测试结果更接近一点。干、湿法测试结果的差异不会成为激光粒度仪应用过程中的障碍。　　　　3、如何对仪器状态进行客观评价　　　　仪器的状态不良会严重影响测试结果可靠性。激光粒度仪的仪器状态主要包括光路校准情况、激光光能稳定性、光学器件是否清洁、进样器工作是否稳定。一般来说激光粒度仪软件都会有背景光能显示窗口，前三个项目问题都可以通过此窗口得到答案。不同厂家的仪器判断方法会有细微的区别，在此以较普及的LS—POP系列仪器为例介绍一下。仪器光路是否校准是以“0环”和“1环”光能信号的高低判断的，一般要求“0环”调节到光能刻度60左右（至少能达到40以上），“1环”要在20以下（这里的“某环”其实代表的就是一个个顺序排列的光电探测器）。光能稳定性通过观察“0环”稳定性判断。“0环”在一分钟的周期内波动幅度不应该超过5%。光学器件是否清洁主要通过观察15—25环的高度判断，一般要求这些环的高度不超过5。进样器是否稳定，一是听水泵运转声音是否平稳，二是观察测试窗口镜头内是否有气泡，这两项正常进样器就基本没问题。　　　　4、湿法激光粒度仪测试静电喷涂粉末涂料的分散方法及检测技巧　　　　静电喷涂粉末涂料亲水性不佳，在水中有漂浮现象。分散过程中，通常加入少量十二烷基苯磺酸钠或者洗洁精的水溶液（浓度1—2%）作为分散剂，这样就可以保证涂料颗粒充分浸润到水中。为保证团聚颗粒被分散开，还需要将涂料颗粒悬浮液放在超声波中振荡分散1—2分钟。往进样器中添加样品时注意手法，既要保证取样均匀又要保证不将气泡带进进样器导致影响测试结果。关于仪器参数测设置，折射率选择2.6，分析模式选择Rosin-Ram模式（单峰分布模式）即可。样品添加量保证遮光比在10%左右，遮光比太小或者太小都会影响测试结果真实性。粉末涂料颗粒在进样系统中也不宜循环太长时间。因为时间过长会有部分颗粒重新粘结团聚，导致测试结果不正确。仪器不是万能的，它只是我们手中的工具。只有注意了前面所说的要点，对样品进行了充分的分散，使用正确的测试手法和测试参数，才能得出可靠的测试结果。粒度仪,激光粒度仪,粒度分析仪,激光粒度ben

不知谁用过热电的QSurf M3型比表面分析仪，目前仪器用N2校正时无法通过，一直处于校正状态，要是哪位有该仪器的说明书，可否共享一下，谢谢！

1、认识激光粒度分析仪的测试报告　　常规测试报告的内容有测试参数、特征粒径、分布曲线、分布表格等。静电喷涂粉末涂料行业比较关注的是特征粒径(D50)、10μm以下颗粒含量和70μm以上颗粒含量等数据。这些数据在粒度测试报告中都会有明确显示。如有不是很清楚的地方可以致电仪器供应商的售后服务咨询。一般来说还可根据行业自身特点提出定制特别关注参数，有实力的厂商应该是能够满足用户的一些数据需求的。图二是某涂料粒度分布数据表。大家可以看出里面清楚显示了粉体的10μm以下颗粒含量和70μm以上颗粒含量。http://www.omec-instruments.com/uploadfiles/2013082723422771966.jpghttp://www.omec-instruments.com/uploadfiles/20130827234150.jpg　　2、干、湿法测试结果的差异分析　　目前，部分客户(尤其是外商或外资企业)习惯使用干法激光粒度分析仪，大部分国内客户目前使用欧美克的湿法激光粒度分析仪。由于进样方式不同，干法测试结果一般大于湿法结果，由此产生了一些疑问。其实两个结果之间不存在谁更准的问题，因为涂料粒度分布没有绝对真值，测试结果的细微差别是允许存在的。如有强烈需求，也可以通过校正方法使两种仪器测试结果更接近一点。干、湿法测试结果的差异不会成为激光粒度仪应用过程中的障碍。　　3、如何对仪器状态进行客观评价　　仪器的状态不良会严重影响测试结果可靠性。激光粒度仪的仪器状态主要包括光路校准情况、激光光能稳定性、光学器件是否清洁、进样器工作是否稳定。一般来说激光粒度仪软件都会有背景光能显示窗口，前三个项目问题都可以通过此窗口得到答案。不同厂家的仪器判断方法会有细微的区别，在此以较普及的LS—POP系列仪器为例介绍一下。仪器光路是否校准是以“0环”和“1环”光能信号的高低判断的，一般要求“0环”调节到光能刻度60左右(至少能达到40以上)，“1环”要在20以下(这里的“某环”其实代表的就是一个个顺序排列的光电探测器)。光能稳定性通过观察“0环”稳定性判断。“0环”在一分钟的周期内波动幅度不应该超过5%。光学器件是否清洁主要通过观察15—25环的高度判断，一般要求这些环的高度不超过5。进样器是否稳定，一是听水泵运转声音是否平稳，二是观察测试窗口镜头内是否有气泡，这两项正常进样器就基本没问题。　　4、湿法激光粒度仪测试静电喷涂粉末涂料的分散方法及检测技巧　　静电喷涂粉末涂料亲水性不佳，在水中有漂浮现象。分散过程中，通常加入少量十二烷基苯磺酸钠或者洗洁精的水溶液(浓度1—2%)作为分散剂，这样就可以保证涂料颗粒充分浸润到水中。为保证团聚颗粒被分散开，还需要将涂料颗粒悬浮液放在超声波中振荡分散1—2分钟。往进样器中添加样品时注意手法，既要保证取样均匀又要保证不将气泡带进进样器导致影响测试结果。关于仪器参数测设置，折射率选择2.6，分析模式选择Rosin-Ram模式(单峰分布模式)即可。样品添加量保证遮光比在10%左右，遮光比太小或者太小都会影响测试结果真实性。粉末涂料颗粒在进样系统中也不宜循环太长时间。因为时间过长会有部分颗粒重新粘结团聚，导致测试结果不正确。仪器不是万能的，它只是我们手中的工具。只有注意了前面所说的要点，对样品进行了充分的分散，使用正确的测试手法和测试参数，才能得出可靠的测试结果。

比表面积分析仪主要应用于那些领域?什么材料对比表面的要求比较高?谢谢!

请问在哪儿可以用BET法测定LiCoO2粉末的比表面积，是否还有其他方法？

【求助】GB/T11107金属及其化合物粉末 比表面积和粒度测定 空气透过法.。谢谢！在网上实在是找不到了，这个标准可能近期要修订了。现行标准应该是1989版的。哪位朋友能查到的，帮我一下。先谢谢啦！

比表面积分析仪所采用的压力传感器的品质。http://www.bjbuilder.com/zcuploadfile/20120315091633847.jpg压力传感器是静态法仪器的核心检测部件，其性能决定分析仪器的精确度，目前国内物理吸附仪的供应商一般会用到国产传感器、美国精量、美国西特、德国莱宝、德国普发、德国英福康等品牌，这些传感器从几百元到一万多元不等，传感器的选型很大程度上决定仪器的成本。并非所有进口产品都拥有优良的性能和高高的售价，现在市面上就有一款低品质的美国进口压力传感器，仅仅不到千元，其性能很难保证仪器的测试精度。而美国西特、德国莱宝、德国普发、德国英福康等品牌已经在物理吸附仪行业得到了良好应用。

X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法摘　　要 本文是一篇关于XRF光谱分析中粉末压片制样法的综述。根据70多篇文献和一些常见的资料, 作者从样品制备、方法应用、理论校正等三个方面介绍了粉末压片制样法的现状和进展。 1　前言 　　作为一种比较成熟的成分分析手段，XRF光谱分析在地质、冶金、环境、化工、材料等领域中应用广泛。它的分析对象主要是块状固体、粉末、液体三种，其中，固体粉末是分析得最多的一种。因为很多试样如水泥、煤、灰尘等本身就是粉末，对于形状不规则的块状固体，由于直接分析技术还不成熟，往往也粉碎成粉末。液体试样可放入液体样品杯中分析，但由于不能抽真空等原因，有时将液体转变为固体，一些预分离、富集的结果也常是粉末，因此，粉末试样的制样技术是XRF光谱分析中的重要研究课题。 　　XRF光谱分析粉末样品主要有两种方法：粉末压片法和熔融法。［1,2］对于样品量极少的微量分析，还有一种薄样法，这里拟不介绍。熔融法是应用较多的一种制样方法，它较好地消除了颗粒度效应和矿物效应的影响。但熔融法也有缺点：因样品被熔剂稀释和吸收，使轻元素的测量强度减小；制样复杂，要花费大量时间；成本也较高。粉末压片法的优点是简单、快速、经济，在分析工作量大、分析精度要求不太高时应用很普遍，也常用于痕量元素的分析。从中国理学XRF光谱仪协会和中国菲利浦X射线分析仪器协会的最近两本论文集［3-4］来看，采取粉末压片制样的文章占了很大的比例。在实际应用如水泥、岩石、化探样品的分析中，粉末压片仍是一种应用很广泛的XRF制样法。 　　近年来，有关XRF及其应用的综述或评论很多［5-13］，其中包括样品制备方面的内容，还有一些专门介绍制样法的文章［14-15］。本文根据收集到的70多篇文献，从样品制备、方法应用、理论校正等方面阐述粉末压片法的现状与进展。

各位大侠：最近我从本版中发现了一篇很好的文章《原子发射光谱法》，在其中说到：15 进样方法：根据试样的不同以及对分析检出限和准确度的要求不同,常用的试样的进样方法有以下几种：1）粉末试样的进样。试样为矿物或化合物粉末时，用石墨或碳电极制成辅助电极，下电极制成各种形状的小孔或杯形电极放试样,上电极为圆锥形。以交流成直流电弧进行蒸发和激发。不同电极构型（见图14）有不同特性，可根据试样性质和激发条件来选择。石墨具有导电性能好、沸点高（可达400OK）、有利于试样蒸发、谱线简单、容易制纯及易于加工成型等优点。（2）金属合金试样的进样。直接将试样做成电极，用火花光源激发。对于少量的金属试样，可按粉末法，或将它溶解后按溶液法进行分析。（3）液体试样的进样。现在一般用雾化器将试样溶液直接引入等离子体光源激发进行ICP光谱分析，极少数用“溶液残渣法”进行分析，即将试液滴在平头或凹月面电极上，烘干后激发。为了防止溶液渗入电极，预先在电极表面滴聚苯乙烯的苯溶液，形成一层有机物薄膜。将试样溶液滴在薄膜上，烘干后作为对电极用交流电弧或火花光源激发。试液也可以用石墨粉吸收，烘干后装入电极孔内。”于是，我在想，我们的实验室有台旧光谱，还能用，但已经淘汰闲置。能不能根据以上所述，把电极改造一下，分析粉末样品呢？请各位大侠讨论一下可行性（我知道摄谱可以做，但不知火花光电直读可否，ICP现在也在发展固体制样）

BDE标样/分析纯/粉末，有没有哪位版友了解这个，帮忙介绍一下！！[em09511][em09511]

这是关于纳米粉末的热分析表征手段的综述,很经典![img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=40240]纳米粉末的热分析表征手段[/url]

[center]比表面及孔径测定仪的分析方法[/center] 表面积：颗粒的表面积包括内表面积和外表面积两部分。外表面积是指颗粒轮廓所包络的表面积，它由颗粒的尺寸、外部形貌等因素所决定。内表面积是指颗粒内部孔隙、裂纹等的表面积。 比表面积：单位体积（或单位质量）物体的表面积，称为该物体的比表面积或比表面。 常用的比表面分析方法： (1) BET吸附法 吸附法是在试样颗粒的表面上吸附截面积已知的吸附剂分子，根据吸附剂的单分子层吸附量计算出试样的比表面积，然后换算成颗粒的平均粒径。(2) 气体透过法 气体透过法的理论根据是kozeny Carman关于层流状态下气体通过固定颗粒层时透过流动速度与颗粒层阻力的关系气体透过法测定粉体比表面积应用最广泛的是Bline法（又称勃氏法）。（3） Bline法是测定水泥比表面积的常用方法，也可用于测定其他干燥细粉。 在同内的几家生产商中，北京彼奥德公司是唯一采用真空静态法进行比表面积及孔分析的厂家，并且测量过程为全部电脑控制，达到了真正的全自动化操作。 SSA-4200仪器的工作原理为国际通用的等温物理吸附的静态容量法。全程计算机自动控制无需人工监测。使用本方法的比表面积及孔隙度分析仪在国内只有我公司生产和销售，此项仪器技术我公司已经申请相关国家专利。SSA-4200全自动快速比表面积及孔隙度分析仪（氮单元系统），可同时进行两个样品的分析和两个样品的制备，仪器的操作软件为先进的“Windows”软件，仪器可进行单点、多点 BET比表面积、BJH中孔、孔分布、孔大小及总孔体积和面积、及平均孔大小等的多种数据分析，其比表面分析范围为0.1m2/g 至无上限，孔径的分析范围为0.35-200nm。[center][IMG]http://bbs.jixie.com/space/upload/2008/06/12/19573649372571.gif[/IMG][/center]

压片法适用或不适用的样品都可以用粉末反射法测定其红外光谱，也用于微小样品、色谱馏分的红外光谱定性、吸着在粉末表面样品的红外光谱分析。该法的原理是，照射到粉末样品上的光首先在其表面反射，一部分直接进入检测器，另一部分进入样品内部多次透过、散射后再从表面射出，后者称为扩散反射光。粉末反射法就是利用扩散散射光获取红外光谱的方法。与压片法相比，该法由于测定的是多次经过样品的光，因此两者的光谱强度比不同，压片法中的弱峰有时会增强

求康塔比表面和孔径分布分析仪的操作手册，仪器要可测中孔和微孔类型的。谢谢！