自动直径测量仪

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自动直径测量仪相关的厂商

  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件,机床设备及配件,电子产品及配件,仪器耗材等产品,致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询,力求成为客户可信赖的伙伴。
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  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业,行业经验30年,市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年,同中国三坐标测量行业一起成长,经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验,依托科学严谨的管理体系,配备完善的生产手段和检测条件,测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发,根据国际市场发展趋势研发的各类新产品,始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作,为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
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自动直径测量仪相关的仪器

  • 植物直径生长测量仪 400-860-5168转1432
    仪器简介:在与植物有关的研究工作中,一个很重要的任务就是了解植物生长、产量和环境因素的关系。为此我们一方面需要有关环境因素的数据(气象,水分,营养等等),另一方面我们也需要有关植物生理生长方面的数据。 目前,由于测量技术方面的困难,有关植物方面的数据都是不连续的,如年轮宽度,产量,生物量等,这些指标一般都是多种环境因素在一个生长季里累计作用的结果。究竟哪个环境因素,什么时间对这些植物指标起决定性的作用,一般很难客观确定。譬如,某一年的年轮宽度小于往年,你很难说清其成因,是由于春节霜冻,夏季干旱,还是由于秋季低温,等等。生长测量仪正是为解决这个问题而开发生产的。生长测量仪连续测定生长率,即时反应环境因素变化及人为措施给生长带来得影响。在实际使用中,完全可以将生长和气象因素同步观测,这样不但可以准确认定影响生长的关键因素,而且也给数据处理带来极大方便。 工作原理: Dendrometer是一种电子设备,带张力传感器,可监测环境因子对植物水分平衡的影响及茎杆、果实直径的生长。该系统具温度补偿功能。将Dendrometer固定在测量部位,数据可以直读,也可用Datalogger自动记录。Ecomatik公司的Dendrometer是在多项专利的基础上开发出来高质量的测量仪器。其优点在于精确度高,性能可靠,质优价廉。 应用: 不同经营方式(干旱/灌溉程度,施肥方式,耕作方式,间伐方式)与植物生长的关系。 同一植物在不同条件下(土壤,降雨量,海拔,气候)的生长情况。 长期监测树木的生长情况。 气候变化对物候的影响,准确测定生长季的始末。 用DV型测定树干的生长趋势。研究树干在机械力(风力,压力)作用下的变化,在竞争中的趋光性。 连续测量植物体内的含水量。 测定植物体水分饱和的时间。 连续测量植物体内的水势(Xylem waterpotential)。 灌溉控制。根据生长速度确定灌溉时间和灌溉量 研究冬天树干破裂的原因。寻找冬天树干破裂的原因关键是准确确定树干破裂的时间和发生的过程。这两个数据都可用生长仪准确测定。 准确确定霜冻发生的时间。通过测量空气温度一般无法确定霜冻发生的时间,因为不同植物的冰点不一样。但所有植物在遭受霜冻时,其直径都发生剧烈变化。因此通过监测直径变化,可以准确确定霜冻发生的时间。 研究热带植物的生长规律。因热带季节不分明,树木没有年轮,植物生长节奏很难观测。 产地:德国Ecomatik公司技术参数:性能指标: 数据采集器: 型号:U型数据采集器 通道:4个模拟通道 (可同时连接4个生长测量仪) 分辨率:12bit 内存:32K,可存21600个数据 机箱:密封防水箱 接口:RS232 电源供应:碱性电池,保证两年以上供电 传感器 测量范围:11mm,通过重调测量范围可一直扩大 准确性:7&mu m 分辨率:7&mu m 线性:± 0.5% 温度系数:0.04%/℃ 应用环境:温度:-30℃~40℃;湿度:0~100% 重量:13g (不含电缆) 电缆长度:标准电缆长2m,可延长至100m 传感器型号:DD型直径生长测量仪 应用范围: 水果蔬菜树干及其他球状植物器官的直径树枝 直径: 0~11cm (11 cm可特制) 是否损伤:植物对植物没有损伤 温度系数:极小 尺寸/重量:27× 24× 1.5 cm主要特点:特点: 高度精确 自身重量极小(13克),几乎不压迫植物 耗能小,如和专用数采一起,用一个小电池可以连续测量两年以上 适用各种户外条件 直接微米输出,无需标定 已有十年以上的实地使用经验 几乎无需保护维修措施
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  • 蔬菜水果直径测量仪 400-860-5168转1432
    仪器简介:在与植物有关的研究工作中,一个很重要的任务就是了解植物生长、产量和环境因素的关系。为此我们一方面需要有关环境因素的数据(气象,水分,营养等等),另一方面我们也需要有关植物生理生长方面的数据。 目前,由于测量技术方面的困难,有关植物方面的数据都是不连续的,如年轮宽度,产量,生物量等,这些指标一般都是多种环境因素在一个生长季里累计作用的结果。究竟哪个环境因素,什么时间对这些植物指标起决定性的作用,一般很难客观确定。譬如,某一年的年轮宽度小于往年,你很难说清其成因,是由于春节霜冻,夏季干旱,还是由于秋季低温,等等。生长测量仪正是为解决这个问题而开发生产的。生长测量仪连续测定生长率,即时反应环境因素变化及人为措施给生长带来得影响。在实际使用中,完全可以将生长和气象因素同步观测,这样不但可以准确认定影响生长的关键因素,而且也给数据处理带来极大方便。 工作原理: Dendrometer是一种电子设备,带张力传感器,可监测环境因子对植物水分平衡的影响及茎杆、果实直径的生长。该系统具温度补偿功能。将Dendrometer固定在测量部位,数据可以直读,也可用Datalogger自动记录。Ecomatik公司的Dendrometer是在多项专利的基础上开发出来高质量的测量仪器。其优点在于精确度高,性能可靠,质优价廉。 应用: 不同经营方式(干旱/灌溉程度,施肥方式,耕作方式,间伐方式)与植物生长的关系。 同一植物在不同条件下(土壤,降雨量,海拔,气候)的生长情况。 长期监测树木的生长情况。 气候变化对物候的影响,准确测定生长季的始末。 用DV型测定树干的生长趋势。研究树干在机械力(风力,压力)作用下的变化,在竞争中的趋光性。 连续测量植物体内的含水量。 测定植物体水分饱和的时间。 连续测量植物体内的水势(Xylem waterpotential)。 灌溉控制。根据生长速度确定灌溉时间和灌溉量 研究冬天树干破裂的原因。寻找冬天树干破裂的原因关键是准确确定树干破裂的时间和发生的过程。这两个数据都可用生长仪准确测定。 准确确定霜冻发生的时间。通过测量空气温度一般无法确定霜冻发生的时间,因为不同植物的冰点不一样。但所有植物在遭受霜冻时,其直径都发生剧烈变化。因此通过监测直径变化,可以准确确定霜冻发生的时间。 研究热带植物的生长规律。因热带季节不分明,树木没有年轮,植物生长节奏很难观测。 产地:德国Ecomatik公司技术参数:性能指标: 数据采集器: 型号:U型数据采集器 通道:4个模拟通道 (可同时连接4个生长测量仪) 分辨率:12bit 内存:32K,可存21600个数据 机箱:密封防水箱 接口:RS232 电源供应:碱性电池,保证两年以上供电 传感器 测量范围:11mm,通过重调测量范围可一直扩大 准确性:7&mu m 分辨率:7&mu m 线性:± 0.5% 温度系数:0.04%/℃ 应用环境:温度:-30℃~40℃;湿度:0~100% 重量:13g (不含电缆) 电缆长度:标准电缆长2m,可延长至100m 传感器型号 型号:DF型水果蔬菜直径测量仪 应用范围:水果蔬菜树干及其他球状植物器官的直径 可测量植物的尺寸:直径0~11cm (11 cm可特制) 是否损伤植物:对植物没有损伤 温度系数:极小 材质:不锈钢,铝合金 尺寸/重量:18× 15× 1.5 cm,52g主要特点:特点: 高度精确 自身重量极小(13克),几乎不压迫植物 耗能小,如和专用数采一起,用一个小电池可以连续测量两年以上 适用各种户外条件 直接微米输出,无需标定 已有十年以上的实地使用经验 几乎无需保护维修措施
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  • DD-S茎杆直径生长变化测量仪一、产品简介DD-S是专门用于农作物,小乔木,灌木和树枝的直径生长测量,适合直径小于5厘米的植物。特别的安装技术保证了及时在安装物体硬度很低的情况下,也能有非常稳定的测量结果。该传感器有两种版本:带标准安装架的DD-S1,带快速安装架的DD-S2。二、产品特点&bull 适用于小树和农作物&bull 植物不承担DD-S的自重&bull 测量直径变化&bull 对植物无损伤&bull 对测点压力极小&bull 可抗拒风,雪,下跌小树枝和小果实的影响,保证稳定测量&bull 可按植物的大小订购&bull 耗电少&bull 有15年全球不同地带成功使用的经验(极地地区,热带,高山,沙漠)&bull 分辨率高达0.2微米(取决于数采的分辨率)&bull 探头温度补偿;三、产品参数DD-S1DD-S2适用于树杆直径0~5㎝0~5㎝安装支架标准安装支架快速安装支架传感器测量范围11mm11mm复调测量范围0~5㎝(可扩大)0~5㎝(可扩大)准确度±1.5μm(取决于使用的数采)±1.5μm(取决于使用的数采)分辨率0.04%读数+4.4μm(取决于使用的数采)0.04%读数+4.4μm(取决于使用的数采)线性系数1%1%传感器的温度系数0.2μm/度0.2μm/度传感器重量13g15g工作温度-25~70℃-25~70℃工作湿度0~100%0~100%四、产地:德国
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  • 沈阳自动化研究所IDE团队成功研出大型圆柱度测量仪
    近日,中国科学院沈阳自动化研究所智能检测与装备研究室IDE团队在国家重点研发计划项目的支持下,经过艰苦攻关,创新性提出了高负载大可变量程的大型圆柱度测量新方法,并依此方法研发了大型圆柱度测量仪。大型零件圆柱度测量仪样机圆柱度是精密回转类零件重要的精度指标之一。目前,圆柱度测量仪大多通过接触式传感器获取被测目标信息,采用精密转台回转的方式实现测量,如英国Talyrond公司研制的最大测量直径达1.6米的1600型圆柱度测量仪。接触式传感器的可形变量极小,在圆柱度测前定心调整过程中,大偏心距累积的运动定位误差极易超出传感器的极限行程而造成传感器损坏。受被测对象的尺寸、重量及高精密转台的制造技术等因素的影响,过大的载荷将严重影响精密轴系的回转精度,所产生的随机误差难以通过算法有效补偿,无法满足大型工件的高精度测量需求。对于直径超过2米的大型轴承套圈,由于零件尺寸巨大、圆柱度测量精度要求高以及测量环境的局限性,现有的接触式传感器与转台回转的测量方式难以满足其测量要求。因此,亟需研究针对大型回转类零件圆柱度的现场快速精密测量方法及相应的评定技术。沈阳自动化所智能检测与装备研究室IDE团队提出的高负载大可变量程的大型圆柱度测量新方法采用具有精密、隔震等特性的气浮驱动技术,配合精密耦件,通过测前快速自适应偏置调整技术实现工件测前自动定心,采用精密测头回转的方式快速获取有效测量信息。在测量原理方面,提出了更完善的圆柱度测量模型及误差分离算法,测前定心与实际测量采用分立的运动控制系统,既解决了大型工件的载荷问题,又能够通过模型参数拟合的方式实现偏心、测量线偏置、被测圆柱轴倾斜等误差的精准分离;测量系统采用对称式双测头测量方案,综合了非接触式位移传感器安全、柔性的特点与接触式位移传感器精密、可靠的特性。本方法的提出突破了传统测量方法在大型圆柱度测量过程中的局限性,实现了大型回转类零件圆柱度测前自适应偏置调整和现场快速精密测量。目前,该研发团队已完成大型圆柱度测量仪原理样机的研发工作,并在《光学精密工程》《中国激光》等高质量期刊发表相关论文2篇,申请发明专利4项。经过国家权威计量专家及天津计量院的检定,大型圆柱度测量仪样机的回转精度为42.6nm,Z向导轨精度139nm/100mm,最大测量直径为2500mm,且其测量范围可根据使用需求进一步拓展。这意味着该原理样机的核心技术指标已达到国内领先、国际先进水平。本项目的实施将进一步夯实我国大型轴承及以大型轴承为核心基础部件的高端装备的制造技术基础,填补直径大于2米的大型轴承圆柱度测量仪的国内空白,掌握大型圆柱度测量仪的核心技术,提高轴承及相关行业的自主创新能力,为我国高铁、风电和高档数控机床等高端装备制造业的进一步发展提供保障能力,对我国从制造大国迈向制造强国,具有重要的现实意义和巨大的社会经济效益。
  • 科众精密-全自动晶圆接触角测量仪,测量等离子处理镀膜后的接触角
    半导体晶圆表面的接触角测试是半导体制造中常见的一项表面质量评估方法,其重要性在以下几个方面:1、粗糙度评估:半导体晶圆表面的粗糙度会对接触角产生影响,接触角测试可以用来评估晶圆表面的粗糙度,从而评估其表面质量。表面清洁评估:半导体晶圆表面的杂质和污染物会影响接触角的测量结果,接触角测试可以用来评估晶圆表面的清洁程度。2、表面处理评估:半导体晶圆表面的各种表面处理,如刻蚀、沉积、退火等会影响接触角的测量结果,接触角测试可以用来评估这些表面处理对晶圆表面性质的影响。3、界面张力评估:在半导体制造中,各种材料的粘附和分离过程都涉及到界面张力的变化,接触角测试可以用来评估晶圆表面和各种材料之间的界面张力。综上所述,半导体晶圆表面的接触角测试可以用来评估晶圆表面的粗糙度、清洁程度、表面处理效果和界面张力等方面的性质,对半导体制造过程中的表面质量控制具有重要的意义。晶圆全自动接触角测量仪详细参数:技术参数KZS-50图片硬件外观接触角平台长12寸圆平台(6寸、8寸、12寸(通用)扩展升级整体扩展升级接触角设备尺寸670x690x730mm(长*宽*高)重量35KG样品台样品平台放置方式水平放置 样品平台工作方式三维移动样品平台样品承重0.1-10公斤仪器平台扩展可添加手动,自动倾斜平台,全自动旋转平台,温控平台,旋转平台,真空吸附平台调节范围Y轴手动行程400mm,精度0.1mmX轴手动,360°自动旋转,精度0.1mm测试范围0-180°测量精度高达0.01°测量面水平放置样品平台旋转全自动旋转平台仪器水平控制角位台可调,镜头可调,样品平台可调滴液滴液系统软件控制自动滴液,精度0.1微升,自动接液测试注射器高精密石英注射器,容量500ul针头直径0.51mm,1.6mm表面张力测试滴液移动范围X轴手动调节80mm,精度0.01mmZ轴自动调节100mm,精度0.01mm滴液系统软件控制自动滴液泵滴液模组金属丝杆滑台模组镜头/光源光源系统单波冷光源带聚光环保护罩,寿命60000小时以上光源调节软硬共控镜头可移动范围滑台可调100mm镜头远心变倍变焦定制镜头镜头倾斜度±10°,精度0.5°相机帧率/像素300fps(可选配更高帧率)/300万像索电源电源电压220V,功率60W,频率60HZ漏电装置带漏电装置保护软件部分软件算法分辨率拟合法、弧面法、θ/2、切线法、量角法、宽高法、L-Y法、圆法、椭圆法、斜椭圆法测量方式全自动、半自动、手动拟合方式 分辨率点位拟合,根据实际成像像素点完全贴合图像拍摄支持多种拍摄方式,可单张、可连续拍摄,支持视频拍摄,并一键测量。左右接触角区分支持分析方法座滴法、纤维法、动态润湿法、悬滴法、倒置悬滴法、附着滴法、插针法、3D形貌法、气泡捕获法分析方式 润湿性分析、静态分析、实时动态分析、拍照分析、视频分析、前进后退角分析保存模式Word、EXCEL、谱图、照片、视频总结1、晶圆接触角测量可以订制,适用于各种半导体制造中常用的6英寸、8英寸、12英寸等尺寸的晶圆。2、高精度测量:可以在非常小的范围内准确测量晶圆表面的接触角,具有高度的重复性和准确性。3、多功能性:晶圆接触角测量仪通常具有多种测试模式,可以测量不同类型的表面处理,如刻蚀、沉积、清洗等过程对接触角的影响,可以提供全面的表面质量评估。4、高效性:晶圆接触角测量仪可以在非常短的时间内完成多个晶圆的测量,提高了实验的效率。5、自动化程度高:晶圆接触角测量仪通常具有自动化控制和数据处理系统,可以自动完成晶圆的定位、测量和数据处理,减少了实验人员的工作量和误差。晶圆接触角测量仪是一种专门用于测量半导体晶圆表面接触角的仪器。相比传统的接触角测量仪,它具有以下优势:1、适用于大尺寸晶圆:晶圆接触角测量仪通常具有较大的测试平台,能够容纳大尺寸的晶圆,适用于半导体制造中常用的6英寸、8英寸、12英寸等尺寸的晶圆。2、高精度测量:晶圆接触角测量仪使用高精度的光学传感器和计算算法,可以在非常小的范围内准确测量晶圆表面的接触角,具有高度的重复性和准确性。多功能性:晶圆接触角测量仪通常具有多种测试模式,可以测量不同类型的表面处理,如刻蚀、沉积、清洗等过程对接触角的影响,可以提供更全面的表面质量评估。3、高效性:晶圆接触角测量仪可以在非常短的时间内完成多个晶圆的测量,提高了实验的效率。4、自动化程度高:晶圆接触角测量仪通常具有自动化控制和数据处理系统,可以自动完成晶圆的定位、测量和数据处理,减少了实验人员的工作量和误差。综上所述,晶圆接触角测量仪具有高效、高精度、多功能等优点,在半导体晶圆表面处理和质量控制中具有广泛的应用前景。
  • (纽迈分析-中油测井)创新联合出成果:移动式全直径二维核磁共振测量仪助力车载岩石物理实验室建设
    12月1日,主题为“智能驱动、数字决策”的中油测井新产品发布会在西安召开。 中国工程院院士邱爱慈、王双明、李宁,陕西省科学技术厅、中国石油总部部门、油气和新能源板块、工程技术板块、同行企业、石油高校等41家单位160余人出席会议。 此次发布会,中油测井发布了MLab车载岩石物理实验室、IDS智能导向系统、hiDAS光纤传感系统、FITS过钻具测井系列、LogUDB中国石油统一测井数据库等5项新产品。 纽迈与MLab车载岩石物理实验室 纽迈公司在核磁共振技术方面拥有多年的研发经验和技术积累,而中油测井公司在测井行业具有广泛的应用场景和实际经验。基于双方在技术研发和行业经验方面的优势互补,为推动核磁共振技术在测井行业的应用和发展,服务好国家重大战略需求,为我国测井行业作出新的更大贡献,纽迈与中油测井共建了核磁共振技术创新联合体。 MLab车载岩石物理实验室的核心设备移动式全直径二维核磁共振测量仪便是联合体双方联合开发的重要成果。 车载岩石物理实验室 车载岩石物理实验室由移动式全直径二维核磁共振测量仪、全直径岩心光学扫描仪、全直径岩心自然伽马能谱测量仪、漫反射红外光谱测量仪、岩石高温热解分析仪组成,有效集成了传统施工现场测试的及时性,以及实验室测试的精细化等优点,具有绿色、安全、快速、无损、机动性强的等特点。 可用于井场新鲜全直径岩心的快速连续测量,提供岩性、物性、含油性和孔隙结构及烃源岩特性参数、为测井解释、储层评价、甜点优选提供数据支撑,尤其适用于致密油、页岩油等非常规储层的快速精确评价,助力石油天然气勘探开发。 移动式全直径二维核磁共振测量仪 基于移动式全直径二维核磁共振测量仪等设备的车载岩石物理实验室充分发挥钻井取心的价值,最大程度的保持原位地层信息,为数字岩心建设提供解决方案。 当岩心出井后,去除岩心表面的泥浆或者密闭液,立刻将岩心用保鲜膜包裹,减少岩心中流体的逸散,首先连续采集以一维核磁T2谱,获取岩心孔隙度、孔隙结构信息。然后采集二维核磁T1-T2谱,计算含油饱和度,核磁共振仪器的最小回波间隔0.2毫秒,纵向分辨率1cm、2cm、4cm、10cm可选。每次扫描1米岩心,2cm分辨率下的一维核磁采集时间12分钟,二维核磁单点采集时间3分钟。 移动式全直径岩心核磁扫描技术能够检测大尺寸岩心,全面描述强非均质性储集层的真实孔隙结构,代表性强;可以在岩心出井的第一时间进行无损、快速测量;能够设定测量速度,模拟不同测井速度下的测量效果;同时具有更高的纵向分辨率。

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  • 直线度测量仪在现代工业中有广泛的应用前景

    [font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]在现代的生产中,传统的产品直线度尺寸检验是直尺法、准直法、重力法和直线法等离线检测方法。这种检测方法具有滞后性,检测效率低,而生产企业要想得到快速高质量生产,一台在线直线度测量仪是必不可少的。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度测量仪是可进行在线无损直线度尺寸检测的设备,可在生产线上监测直线度的微小变化,提供及时的检测数据,在超差时进行声光提醒,从而实现高质量的生产。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度测量仪由3台测量仪构成,每台测量仪内采用成90°交叉分布的2路光电测头测量棒材边缘的位置,利用2路测头的位置数据计算测量点在坐标系中的实际偏差。因此,无论被测物的弯曲方向如何,测量仪均可测得真实的直线度尺寸。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]测径工作介绍:棒材通过测量仪的测量区,每台小型测量仪分别实时采集直径数据。当外径测量的数据超过设定的公差范围时,声光报警器自动声光报警。测量的数据传输到控制柜中进行存储、显示、分析等。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度工作介绍:3台小型测量仪同时采集各截面边沿的位置,计算圆棒的直线度误差,与测径数据采集不冲突。当直线度超过设定的公差范围时,声光报警器自动声光报警,达到合格判定的目的。测量的数据传输到控制柜中进行存储、显示、分析等。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度测量仪可兼顾直径与直线度的检测,直线度测量精度≤±0.5mm。整个系统中测量仪安装在轧制现场,控制柜安放在控制室或其它环境适合电脑工作的室内。测量仪的供电电源由控制柜引入,测量仪的测头采用串口服务器合并成1路数据后通过网线或光缆传输至控制柜内的工控机。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度测量仪具有检测精度高、响应速度快、抗干扰性好、可靠性高等特点,能够满足棒材生产现场条件的使用要求。能安装于生产线上进行测量,它可实现长距离大范围的连续测量,同时具有精度高,测量准确性好的特点,这种自动化的在线直线度测量仪在现代工业及国民经济建设中有广泛的应用前景。[/color][/size][/font]

  • 全自动影像测量仪的技术

    全自动影像测量仪是在数字化影像测量仪基础上发展起来的人工智能型现代光学非接触测量仪器,其承续了数字化仪器优异的运动精度与运动操控性能,融合机器视觉软件的设计灵性,属于当今最前沿的光学尺寸检测设备。全自动影像测量仪能够便捷而快速进行三维坐标测量与SPC结果分类,满足现代制造业对尺寸检测日益突出的要求:更高速、更便捷、更精准的测量需要,解决制造业发展中的又一个瓶颈技术。全自动影像测量仪基于机器视觉的自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量合成、影像合成等人工智能技术,具有“点哪走哪”自动测量、CNC走位自动测量、自动学习批量测量,影像地图目标指引,全视场鹰眼放大等优异功能。同时,基于机器视觉与微米精确控制下的自动对焦过程,可以满足清晰造影下辅助测高需要(亦可加入触点测头完成坐标测高)。支持空间坐标旋转的优异软件性能,可在工件随意放置的情况下进行批量测量,亦可使用夹具进行大批量扫描测量与SPC 结果分类。全自动影像测量仪是影像测量技术的高级阶段,具有高度智能化与自动化特点。其优异的软硬件性能让坐标尺寸测量变得便捷而惬意,拥有基于机器视觉与过程控制的自动学习功能,依托数字化仪器高速而精准的微米级走位,可将测量过程的路径,对焦、选点、功能切换、人工修正、灯光匹配等操作过程自学并记忆。全自动影像测量仪可以轻松学会操作员的所有实操过程,结合其自动对焦和区域搜寻、目标锁定、边缘提取、理匹选点的模糊运算实现人工智能,可自动修正由工件差异和走位差别导致的偏移实现精确选点,具有高精度重复性。从而使操作人员从疲劳的精确目视对位,频繁选点、重复走位、功能切换等单调操作和日益繁重的待测任务中解脱出来,成百倍地提高工件批测效率,满足工业抽检与大批量检测需要。最新推出的全自动影像测量仪具有人工测量、CNC扫描测量、自动学习测量三种方式,并可将三种方式的模块叠加进行复合测量。可扫描生成鸟瞰影像地图,实现“点哪走哪”的全屏目标牵引,测量结果生成图形与影像地图图影同步,可点击图形自动回位、全屏鹰眼放大。可对任意被测尺寸通过标件实测修正造影成像误差,从而提高关键数据的批测精度。全自动影像测量仪人机界面友好,支持多重选择和学习修正,其优异的高速测量可达1500mm/min,重合精度: ±2μm,线性精度:±(3+L/150)μm。优秀性能使其在各种精密电子、晶圆科技、刀具、塑胶、精密零件、弹簧、冲压件、接插件、模具、军工、二维抄数、绘图、工程开发、五金塑胶、PCB板、导电橡胶、粉末冶金、螺丝、钟表零件、手机、医药工业、光纤器件、汽车工程、航天航空、高等院校、科研院所等领域具有广泛运用空间。SK全自动影像测量仪承续了SK数字化影像仪的以下技术特点:集CNC快速测量、CAD逆向测绘、图影管理于一身。运用了现代光学、计算机屏幕测量、空间几何运算和精密运动控制等前沿技术,是集光、机、电、软件为一体的高度智能化设备。具有三轴数控、点哪走哪、图影同步、实时校验、误差修正、工件随意放置、CNC快速测量等基础性能。具有极高的数字化程度,全部操作均由鼠标完成。柔和的三轴微米数控能力,实现“点哪走哪”、同步读数、人机合一;良好的人机界面将烦琐的操作过程有机集成,摆脱手摇时代的机械局限;实时非线性误差修正使其突破了传统设备中存在的精度与速度极限;便捷的CNC快速测量,通过样品实测、图纸计算、CNC 数据导入等方式建立CNC坐标数据,由仪器自动走向每一个目标点进行测量操作,数十倍于手摇式测量设备的工作能力下人员轻松高效。具有优异的高速性能,基于独有的高速位移传感技术,其±2um测量精度下的速度可达500mm/min,其工作效率是工具手摇式测量仪器的数十倍以上。位移驱动为0.1μm,位移解析度为0.4μm,重合精度达±2μm,线性精度±(3+L/150)μm,这些参数均优于传统设备和同类产品。具有空间几何运算能力,可以利用软件技术完成空间坐标系旋转和多坐标系之间的复杂换算,被测工件可随意放置,随意建立坐标原点和基准方向并得到测量值,同时在屏幕上呈现出标记,直观地看出坐标方向和测量点,使最为常见的基准测量变得十分简便而直观,也使分度盘这个机械时代的产物与摇柄一起成为历史。具有支持个性化的软件平台,具有图像保存、编辑、处理等图影管理功能。全新的测绘操作,可轻松描绘或导入CAD图形。还可根据客户需求扩充测量模块,从而满足个性化特点和综合测量的快速需要,使测量设备具有量身定做的软件灵魂。

  • 天泽全自动影像测量仪的特点

    [color=#2f2f2f]来源:http://www.dg[/color][url=https://links.jianshu.com/go?to=http%3A%2F%2Fbbs.elecfans.com%2Fzhuti_715_1.html]ti[/url][color=#2f2f2f]anze.com 作者:天泽精密仪器[/color] [url=http://www.dgtianze.com/]全自动[b]影像测量仪[/b][/url]是现代光学非接触式测量仪器,它是在数字化基础上发展而来的人工智能型测量仪。这种测量仪器继承了数字化运动精度、运动操控的特点,结合视觉软件的创新。全自动影像测量仪具有高精度、高效率、自动化、稳定性好等优点。解决了制造业的几大难题,影像测量仪界的骄傲。天泽精密推出的全自动影像测量仪具有人工测量、CNC扫描、自动学习测量三种方式,还可以将三种性能融合,实现复合扫描。也可以进行跟踪式扫描,实现点哪走哪的测量,并且能够对成像误差进行修正。全自动影像测量仪具有以下特点:1. 高数字化程度 全自动影像测量仪的测量操作全部由鼠标操作,微米数控实现了人机合一点哪走哪的愿望。以前的手动仪器测量过程很繁琐,也容易造成人工误差,而全自动测量仪在这方面就得到改善,摆脱了人工缺陷。增加的非线性误差修正使得仪器在精度、速度上都有巨大提高。 2. 空间运算几何能力 全自动影像测量仪具有高端软件技术,能够实现坐标系旋转和坐标系的复杂运算。就算将被测工件随意放置,也可以对其进行检测,能够直观的看出坐标方向和测量点,一目了然又容易操作。 3. 个性化软件 全自动影像测量仪具有强大的软件功能,能够进行图像的编辑、保存、处理等,还能够很容易的描绘、导入CAD图形。还可以依据客户需求,设计增添个性化的测量模块,为客户量身打造所需测量仪。 全自动影像测量仪高智能化、自动化的特点,使得测量变得简便。融合了机器视觉和自动学习的能力,并结合数字微米走位,使得测量过程能够被仪器记忆和学习。全自动影像测量仪便于操作员使用学习,满足企业抽检和大批量检测的要求,提高企业工作效率,能正真为企业做贡献。 天泽精密仪器作为国内知名仪器制造企业,其励精图治研究开发的的全自动影像测量仪也十分先进。比如全自动系列中的&ldquo VIP大行程龙门式&rdquo 影像测量仪,其功能强大,精度极高,并且能测量大尺寸的工件,测量行程可达2000*1500mm。另外&ldquo VIP系列全自动光学影像坐标测量仪&rdquo 也是天泽精密仪器全自动测量仪中的一个系列,其x/y线性精度高达2+L/3&mu m,显示分辨率高达0.0001mm。而且配有强大的软件功能,还可根据客户需求进行调节设计,售后软件升级也配有保障,客户可以放心选择。

自动直径测量仪相关的耗材

  • 小型直径生长测量仪 (DD-S)
    DD-S是专门用于农作物,小乔木,灌木和树枝的直径生长测量。适合直径小于5厘米的植物。独特的安装技术保正非常稳定的测量结果。 优点:适用于小树和农作物植物不承担DD-S的自重测量直径变化对植物无损伤 对测点压力极小可抗拒风,雪,下跌小树枝和小果实的影响,保证稳定测量可按植物的大小订购 技术参数 名称小型直径生长测量仪 DD-S适用于树杆直径5厘米传感器测量范围11 毫米复调测量范围0-5厘米 (可扩大)准确度± 2微米(12位数采)分辨率0.001微米线性系数1%传感器的温度系数0.1微米/度工作条件温度范围 -30 – 40 °C, 湿度范围 0-100% 产地:德国
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 多功能翘曲度测量仪配件
    多功能翘曲度测量仪配件是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器,一套翘曲度测试仪器可以测量:热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。多功能翘曲度测量仪配件是特别为半导体晶圆(wafer)和太阳能电池(solar cell)的翘曲度(warp) 和弯曲度(bow)以及表面形貌(topography)的测量而设计,可以测量晶圆翘曲度(wafer warpage) 和晶圆表面形貌, 晶圆应力,硅片张力,太阳能电池量子效率,既适合科研单位使用,也适合工业客户大产品、高效率的晶圆翘曲度和表面形貌的检测的需要。 我们还根据不同晶圆类型提供如下两种硅片翘曲度测量仪: 1. 非反射型:适合晶圆表面覆盖晶圆保护膜/胶带(wafer tape),图案化晶圆 /图样化晶圆(patterned wafer),粗糙的晶圆的应用; 2. 高反射型: 适合晶圆表面光滑 / 镜反射的应用。 多功能翘曲度测量仪配件特点: × 适合不同尺寸的晶圆检测,从0.5’‘到12' ' 的直径; * 标准检测能力为: 每小时可检测2000个晶圆或更多太阳能电池; × 同时测量多个晶圆或太阳能电池; × 测量镀膜后的晶圆或solar cell * 分析太阳能电池或晶圆应力和张力; * 对晶圆表面进行图像分析; * 测量图案化晶圆或非图案化的晶圆; * 具有太阳能电池的量子效率测量选项供选择 多功能翘曲度测量仪配件参数: × 翘曲度测量范围:1-20微米; * 重复精度: 百分之0.5 (1 sigma) * 给出结果:曲率半径,晶圆弯曲高度,翘曲度,测量日期和时间; * RMS粗糙度mapping: 0.5-20A (可选项); * 光源:根据用户的应用而配备不同光源; * 探测器:高分辨率探测器阵列并配备亚像素软件;
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