以下有关巴黎圣母院大教堂修复工作的叙述是根据发表于第78期Contrôles Essais Mesures(CEM)(《控制、测试、测量》,译自法语名称)杂志上的文章“Notre-Dame de Paris―la pierre des voûtes auscultée”(巴黎圣母院:听诊穹顶上的石材)撰写的。
目前,电子显微镜技术(electron microscopy)已成为研究机体微细结构的重要手段。常用的有透射电镜 (transmission electron microscope,TEM)和扫描电子显微镜(scanning electron microscope,SEM)。与光镜相比电镜用电子束代替了可见光,用电磁透镜代替了光学透镜并使用荧光屏将肉眼不可见电子束成像。