能量色散荧光光谱仪

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

探险者EXPLORER能量色散X荧光光谱仪是天瑞仪器结合10年手持式XRF技术研发经 验，集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术，具有自主知识产权的全新一代便 携式XRF产品。 EXPLORER 9000能量色散X荧光光谱仪是使用全新大屏高分辨率液晶显示屏及新型数字多道数据处理器的便携式土壤重金属分析仪。EXPLORER 9000可对土 壤污染物进行原位测试与修复分析，可对污染土壤中的汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、 钒、铬、锰等重金属元素进行有效检测，还可根据客户需求定制增加检测元素。仪器不仅体 积小、重量轻，可随身携带进行测量；而且性能卓越，堪比台式机，即使是重金属含量较低 的土壤也能轻松测定。应用领域优势土壤重金属普查内置GPS功能，在野外可随时搜索卫星信号，确定取样点的地理 位置信息，快速普查超大范围的土壤地质污染区，建立污染地 图，实时监控各区域的污染情况。对各类农业用地、居住用地、 商业用地、工业用地等级进行重金属污染环境评价。土壤重金属污染后的应急处理常用于污染事件发生后的应急处理。能快速、现场追踪污染异 常，有效寻找“污点”地带，圈定污染区域边界，进行实时勘察。助力污染区土壤修复对污染地带进行等级划分，圈定重点土壤污染区，按照划分好的区域进行重点优选治理，提高筛查效率，并实时监控污染区的土壤修复情况。六大性能优势更便捷的操作重量轻，体积小，人体工程学把手设计，配有专用仪器套，更易抓握，野外使用更方便。270 °可旋转5寸高清屏，支持多点操控，任何光线下都能清晰显示。密封式一体设计，具备防水防尘功能，可在恶劣环境下连续使用。无需制备样品，可直接对待测物表面进行测定。仪器既可手持进行快速测试，也能使用测试座对样品进行较长时间的精确测试。更卓越的性能无损快速检测，对准即测，一秒可报结果。性能堪比台式机，检测效果又快又准。 同时检测：汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、钒、铬、锰等重金属元素，还可根据客户需求定制增加检测元素。 超近光路设计，提高了计数率达到5倍以上，大大缩短了测试时间，完全可以满足手持检测需求。更强劲的电力选配超大27000mAh锂电池，续航工作时间可达三天。并配备交流和车载充电器，保证电力供应。内置记忆电池，换电池不断电。更高端的配置微型光管、SDD探测器、微型数字信号多道处理器及智能分析模块四大核心技术的引入，使其具有台式相近的测试精度。 采用超高主频及大内存，超大存储空间，可海量存储数据。全新自主研发的数字多道技术，保证每秒有效采谱计数可达500kcps。准直滤波系统，其组合达到极限12组，满足客户的不同条件下的检测需求。 800万高清晰摄像头，随时观察样品测试位置，使测量更加准确。更安全的防护智能三色预警系统：LED三色长灯带设计，360度无死角显示。通电开机时绿灯亮，测试红灯闪烁，设备故障黄色灯闪 烁，仪器状态，一目了然。 三重安全防护功能： a: 自动感应，没有样品时仪器不工作，无射线泄漏。 b: 采用加厚防护测试壁，有效防止散射。 c: 配送防护安全罩，防周边轻基体散射。 安全联动锁装置，当软件无法控制关闭，轻轻一按，保护您的安全。更智能的软件EXPLORER 9000 能量色散X荧光光谱仪配有专门针对土壤污染物的专业应用软件，具有智能化、高灵敏度、测试时间短、自动判断是否超标、操作简易、可实现边测边打印功能等特点。 全新的智能软件，一键智能操作，采用双模设计（用户模式和专家模式）。用户模式一键检测标准土壤重金属元素；专家模式可进行增加元素，增加特定曲线等深入分析操作。 内置强度校正方法，校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF（能量色散 X 射线荧光）系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。 ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；2、元素分析浓度范围从1ppm到100%；3、多元素同时测量时间10-60秒；4、可选多种进样器；5、使用CCD相机进行样品成像；6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；8、多功能XRF应用软件；9、薄膜厚度测量与镀层分析；10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；11、多语言支持；12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；14、设计紧凑，可以轻松移动；15、低噪音、得益于智能温控风扇；16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；17、易于安装，更易于维护。与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X射线管产生的所有杂散干扰。

EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析，满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统。应用领域电镀行业、电子通讯、航天新能源、五金卫浴、电器设备汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等超高硬件配置采用Fast-SDD探测器,125eV分辨率,能精准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。搭配大功率X光管,能很好的保障信号输出和激发的稳定性,减少仪器故障率。高精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动,更精准快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。设计亮点上照式设计，可适应更多异型微小样品的测试。相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，满足微小产品，台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台，微小密集型可多点测试，大大提高测样效率。自带数据校对系统。软件界面人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。曲线的中文备注，让您的操作更易上手。仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。

追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200 ü无损分析，保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样)新升级———降低分析成本————l阈值算法优化，有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级，降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管，有效提高高湿度地区光管使用寿命

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

天瑞仪器在累计万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上，十年磨一剑，开发出将多种需求高水平融于一体的X荧光分析装置—EDX3800。仪器配置电子制冷的高性能半导体检测器、超近低损耗测试光路、高功率高管压激发光源、独立通道散热风路、智能一键测试模块、大面积触控电脑及全自动机械臂进样系统（选配），与以往机型相比，实现更高灵敏度、高准确度、高智能化、高效率。仪器在控制运行成本、提升维护性能的同时，大大提高了便捷性，可选择手动进样及自动机械臂进样两种模式，真正的做到了智能自动检测。仪器可以应对从RoHS/ELV指令/玩具指令等的管控法规限制的产品管理到普通材料分析的日常研究，从电子电气材料到金属成分分析、汽车机械检测、石油化学研究、医药食品管控等多行业领域。产品的特点1.配置高性能检测系统，提高各项分析性能高性能半导体探测器，高速数字处理多道及高功率高管压激发光源与分析光路配合，获得超高灵敏度。与以往机型相比，重元素检测下限可提升5~10倍，可应对高要求的检测需求。独立通道散热风路确保仪器在高功率运转下具有更好的稳定性，提升分析结果的可靠性。2.轻松操作，自动便捷 一体机式设计、一键测试功能、全匹配分析模式确保样品检测一个动作完成。3.多层防护，安全可靠软件误操作提醒，仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重 X射线防护措施确保使用人员安全。4.全自动进样机械臂（选配）配备水平多关节机械手，85位自动进样系统，可实现多达 85个样品的无人值守自动测试 。工业级四轴机械臂，有别于传统机械臂形态的创新轻巧外观；碰撞即停的设置，使机械臂可在无防护的状态下与人安全协作而无需围栏。直驱技术应用节约50%的设备成本，通过人机协作可提高50%的人工效率。应用领域RoHS检测分析、有害元素分析地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业、首饰销售和检测机构、电镀行业

JSX-1000S是日本电子在2014年3月在全世界同步推出的最新一款能量色散X射线荧光元素分析仪，软件设计简单，操作极为方便；灵敏度高、效率好；还未不同的应用专门设计的特色软件应对，实现了准确、高效的元素分析，应用范围极为广泛。 JSX-1000S由设计顶级设计团队设计外观，洋溢现代美感，充分体现了该仪器的高端气质。 主要技术指标：探测范围:标准配置Mg～U 选配Na～U X-射线发生装置：5～50　kV , 1mA靶材：Rh过滤器（最大九种）：标准配置OPEN, ND, Cr, Pb, Cd　；选配Cl, Cu, Mo, Sb检测器：硅漂移探头样品室尺寸：300mmφ×80mmH样品室真空：标准配置（大气）；选配真空样品室内观察系统：彩色相机分析软件：定性分析、定量分析、RoHS对应软件（Cd,Pb,Hg,Br,Cr)、简易分析软件、报告书软件、日常检查软件等

天瑞仪器在累计万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上，十年磨一剑，开发出将多种需求高水平融于一体的X荧光分析装置—EDX3800。仪器配置电子制冷的高性能半导体检测器、超近低损耗测试光路、高功率高管压激发光源、独立通道散热风路、智能一键测试模块、大屏幕触控电脑及全自动机械臂进样系统（选配），与以往机型相比，实现更高灵敏度、高准确度、高智能化、高效率。仪器在控制运行成本、提升维护性能的同时，大大提高了便捷性，可选择手动进样及自动机械臂进样两种模式，真正的做到了智能自动检测。应用领域RoHS检测分析、有害元素分析地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业、首饰销售和检测机构、电镀行业产品特点配置高性能检测系统，提高各项分析性能高性能半导体探测器，高速数字处理多道及高功率高管压激发光源与分析光路配合，获得灵敏度。与以往机型相比，重元素检测下限可提升5~10倍，可应对高要求的检测需求。独立通道散热风路确保仪器在高功率运转下具有更好的稳定性，提升分析结果的可靠性。轻松操作，自动便捷一体机式设计、一键测试功能、全匹配智能分析模式确保样品检测一个动作完成。多层防护，安全可靠软件误操作提醒，仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重 X射线防护措施确保使用人员安全。全自动进样机械臂（选配）配备水平多关节机械手，85位自动进样系统，可实现多达 85个样品的无人值守自动测试 。工业级四轴机械臂，有别于传统机械臂形态的创新轻巧外观；碰撞即停的设置，使机械臂可在无防护的状态下与人安全协作而无需围栏。直驱技术应用节约50%的设备成本，通过人机协作可提高50%的人工效率。

探险者EXPLORER能量色散X荧光光谱仪是天瑞仪器结合10年手持式XRF技术研发经 验，集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术，具有自主知识产权的全新一代便 携式XRF产品。 EXPLORER 9000能量色散X荧光光谱仪是使用全新大屏高分辨率液晶显示屏及新型数字多道数据处理器的便携式土壤重金属分析仪。EXPLORER 9000可对土 壤污染物进行原位测试与修复分析，可对污染土壤中的汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、 钒、铬、锰等重金属元素进行有效检测，还可根据客户需求定制增加检测元素。仪器不仅体 积小、重量轻，可随身携带进行测量；而且性能卓越，堪比台式机，即使是重金属含量较低 的土壤也能轻松测定。应用领域优势土壤重金属普查内置GPS功能，在野外可随时搜索卫星信号，确定取样点的地理 位置信息，快速普查超大范围的土壤地质污染区，建立污染地 图，实时监控各区域的污染情况。对各类农业用地、居住用地、 商业用地、工业用地等级进行重金属污染环境评价。土壤重金属污染后的应急处理常用于污染事件发生后的应急处理。能快速、现场追踪污染异 常，有效寻找“污点”地带，圈定污染区域边界，进行实时勘察。助力污染区土壤修复对污染地带进行等级划分，圈定重点土壤污染区，按照划分好的区域进行重点优选治理，提高筛查效率，并实时监控污染区的土壤修复情况。六大性能优势更便捷的操作重量轻，体积小，人体工程学把手设计，配有专用仪器套，更易抓握，野外使用更方便。270 °可旋转5寸高清屏，支持多点操控，任何光线下都能清晰显示。密封式一体设计，具备防水防尘功能，可在恶劣环境下连续使用。无需制备样品，可直接对待测物表面进行测定。仪器既可手持进行快速测试，也能使用测试座对样品进行较长时间的精确测试。更卓越的性能无损快速检测，对准即测，一秒可报结果。性能堪比台式机，检测效果又快又准。 同时检测：汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、钒、铬、锰等重金属元素，还可根据客户需求定制增加检测元素。 超近光路设计，提高了计数率达到5倍以上，大大缩短了测试时间，完全可以满足手持检测需求。更强劲的电力选配超大27000mAh锂电池，续航工作时间可达三天。并配备交流和车载充电器，保证电力供应。内置记忆电池，换电池不断电。更高端的配置微型光管、SDD探测器、微型数字信号多道处理器及智能分析模块四大核心技术的引入，使其具有台式相近的测试精度。 采用超高主频及大内存，超大存储空间，可海量存储数据。全新自主研发的数字多道技术，保证每秒有效采谱计数可达500kcps。准直滤波系统，其组合达到极限12组，满足客户的不同条件下的检测需求。 800万高清晰摄像头，随时观察样品测试位置，使测量更加准确。更安全的防护智能三色预警系统：LED三色长灯带设计，360度无死角显示。通电开机时绿灯亮，测试红灯闪烁，设备故障黄色灯闪 烁，仪器状态，一目了然。 三重安全防护功能： a: 自动感应，没有样品时仪器不工作，无射线泄漏。 b: 采用加厚防护测试壁，有效防止散射。 c: 配送防护安全罩，防周边轻基体散射。 安全联动锁装置，当软件无法控制关闭，轻轻一按，保护您的安全。更智能的软件EXPLORER 9000 能量色散X荧光光谱仪配有专门针对土壤污染物的专业应用软件，具有智能化、高灵敏度、测试时间短、自动判断是否超标、操作简易、可实现边测边打印功能等特点。 全新的智能软件，一键智能操作，采用双模设计（用户模式和专家模式）。用户模式一键检测标准土壤重金属元素；专家模式可进行增加元素，增加特定曲线等深入分析操作。 内置强度校正方法，校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用三重射线防护系统（软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计），彻底杜绝各种工作情况下的辐射泄露。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用独创设计的组合式短光路光路盘，显著提高检测灵敏度，降低检测限。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用大型样品室，无需破坏和前期处理即可测量比较大的样品。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪软件工作站一键式操作，简单易用，使用方便，人机交互友好，无需专业知识。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪从S到U的快速元素分析，测量时间可调。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪多达15组复合滤光片，X射线照射径从1mm到7mm可选。强大的自主定制分析报告格式功能，分析报告可保存为 PDF 和 Excel 两种格式，分析结果自动保存，可方便对历史数据进行查询及统计，只需一次点击即可输出数据。软件可视频观察样品的位置，并且对样品进行拍照，样品图片显示在测试报告中。可进行谱图比对，对不同元素含量的谱图进行比对，进行材料识别。采用经典的定性定量分析方法，全面保证测试数据的准确性。开放式校准曲线平台，可为客户量身定做有害物质检测方案。

微谱科技5E-XRF2510高性能能量色散X射线荧光光谱仪5E-XRF2500 X射线荧光光谱仪凭借其紧凑的尺寸，优异的分析性能，超高的测试效率，可以精准测试从F到U的所有元素。广泛应用于水泥、采矿、金属冶炼、玻璃陶瓷、化妆品、催化剂、石化等行业。基本参数：元素范围：F-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：3种可选，空气，真空，氦气触屏大小：10寸产品特点：操作简单在测试过程中，可随时查看仪器运行状态：管压、管流、光管温度、光谱室真空度、各类传感器状态、探测器温度信息，随时全面掌握仪器的工作信息样品旋转通过样品旋转，增加样品测试面积的同时提高代表性，使样品测试结果更加准确高性能能量色散X射线荧光光谱仪，从灵敏度，分辨率和稳定性体现更高的灵敏度微谱科技5E-XRF2500设备采用石墨烯SDD探测器，更加紧凑型的光路，微型测试腔、创新性的解谱算法，计数率高于1000000cps，使得从F到U的所有元素都可获得最佳的灵敏度。例如，通过上述创新性技术，可以使用熔融制样方法对样品中的钠元素进行准确定量分析，以前只有价格昂贵的WDXRF才可以完成的任务，而现在使用微谱科技的EDXRF就可以完成更高的分辨率5E-XRF2500采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至123eV@Mn Kα线，因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分领进谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析，如地质矿物以及金属合金样品的分析。更高的稳定性5E-XRF2500创新性的采用微型测试腔体设计，紧凑型测试光路，高真空度光谱室，样品自旋技术，创新性的稳谱技术。使得微谱科技的EDXRF具有极高性能的长期稳定性。

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF（能量色散 X 射线荧光）系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。 ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；2、元素分析浓度范围从1ppm到100%；3、多元素同时测量时间10-60秒；4、可选多种进样器；5、使用CCD相机进行样品成像；6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；8、多功能XRF应用软件；9、薄膜厚度测量与镀层分析；10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；11、多语言支持；12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；14、设计紧凑，可以轻松移动；15、低噪音、得益于智能温控风扇；16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；17、易于安装，更易于维护。与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X射线管产生的所有杂散干扰。

1.能量色散X荧光光谱仪应用领域： 1.1.ROHS\无卤检测指令 1.2.合金分析领域（特别是轻元素） 锌铝合金成分分析 铝合金成分分析 铜合金牌号判定、成分分析 不锈钢成分分析（抽真空轻元素检测） 铸铁成份分析等 1.3.镀层成分分析 镀层厚度分析 镀层环保检测 1.4.能量色散X荧光光谱仪仪器规格 仪器腔尺寸：400mmX340mmX80mm 仪器外观尺寸：700mmX510mmX336mm 仪器重量：56kg 1.5.工作条件： ●工作温度：15-30℃ ●相对湿度：40%～70% ●电源：AC:220V±5V、 1.6.技术性能及指标: 1.6.1.元素分析范围从钠(Na)到铀(U)； 1.6.2.元素含量分析范围为1PPm到99.99%； 1.6.3.测量时间：100-300秒(可调)； 1.6.4.RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl）其检测限度达1PPM； 1.6.7.能量分辨率为129±5电子伏特； 1.6.8.温度适应范围为15℃至30℃； 1.6.9.电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）； 1.7.产品特点 1.7.1HM-550，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，对于矿石间各元素进行检测，减少元素间干扰 1.7.2整体结构化设计，仪器美观大方。 1.7.3采用美国最新型的SDD硅飘移探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。 1.7.4采用自主研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更精准。 1.7.5一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。 1.7.6七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。 1.7.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品Highest。 1.7.8优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。 1.7.9独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。 1.7.10多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控,让仪器工作更稳定、更安全。 1.7.11专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。 1.7.12本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。 1.7.13独有的全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。 1.7.14一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。 1.7.15抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用；同时开盖即解除真空，安全、简单实用。 2.仪器硬件部分主要配置 2.1SDD电制冷探测器: 2.1.1.SDD电制冷探测器；分辨率：145±5e电子伏特 2.1.2.放大电路模块:对样品特征X射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大。 2.2X射线激发装置: 2.2.1.灯丝电流输出MAX：1mA； 2.2.2.属于半损耗型部件，使用寿命大于5000小时 2.3高压发射装置: 2.3.1.电压输出MAX：50KV； 2.3.2.电压输出MIN:5KV，可控调节 2.3.3.自带电压过载保护 2.4一体化真空系统 2.4.1具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统； 2.4.2几何抽速：60L/min（50Hz） 2.4.3压力：6.7×10-2Pa 2.5数字多道分析器: 2.5.1.将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件； 2.5.2道数MAX：4096； 2.5.3包含信号增强处理功能； 2.65光路过滤模块 2.6.1降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确； 2.6.2将准直器与滤光处整合； 2.7准直器自动切换模块 2.7.1多达7种选择，口径分别为8-1＃,8-2＃,8-3＃,8-4＃，6＃,4＃,2＃。 2.8滤光片自动切换模块 2.8.1五种滤光片的自由选择和切换。 2.9准直器和滤光片的自由组合模块 2.9.1多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。 2.10工作曲线自动选择模块 2.10.1自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化 演绎得更完美，使操作更人性，更方便。 3.专用软件JPSPEC-FP 3.1.1软件简介 专门针对金属材料元素成份检测而开发（含真空控制功能），对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。 3.1.2功能介绍 ※应对不同矿产材料可调式数据，测量时间为100-300秒（可调） ※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作

微谱科技WEPER XRF2600大腔体/无损能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2600可以精准测试从Mg到U的所有元素。315mm×225mm×62mm大腔体，是无损分析的能手，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。标配样品观察功能，精准定位并记录检测点。基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率4w，最大电压50kV，最大电流200uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：10寸 产品特点：大腔体315mm×225mm×62mm大腔体，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。无损检测不需要破坏样品，可直接在样品上执行测量。先进分析技术微谱科技WEPER XRF2600设备采用石墨烯SDD探测器，计数率高于1000000cps， 分辨率可低至123eV@Mn Kα线超快速度大部分样品的测试时间再60-600s以内

产品名称：CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪 产品说明、技术参数及配置 CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪，是先达公司2003年推出的达到世界先进水平、国内领先水平的全元素分析仪器，当年被科技部、质监总局、税务总局等五部委联合批准为&ldquo 国家重点新产品&rdquo ，同时被国家列入十五、十一五重点推广的科技项目。该仪器利用低能X光管进行激发，采用了国外最先进的半导体电制冷探测器进行探测，数字化谱分析技术，2048道多道脉冲分析器对射线光谱进行精细分析，一次性可以完成20多种元素的快速、准确分析。 适用范围 钢铁行业：生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石等各种成份分析； 耐火材料：各类样品成份分析； 有色行业：铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析； 质检部门：工业产品、金、银等各种成份分析。 型号：CIT-3000SM 性能特点 采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； 采用X光管激发样品，一次激发全部待测元素，韧致辐射型，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率； 采用进口的电致冷Si-PIN半导体探测器，分辨率高，无需液氮制冷，使用方便。可以一次性完成对多种元素的探测； 高压电源：电压 0V-50kV连续可调；电流0-lmA连续可调，数码显示，精度高，无故障操作； 样品种类：固体、粉末、液体均可，压片无需添加任何试剂； 腔内环境：空气或真空； 真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和测量范围； 2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便了解样品的组成； 可一次性实现20多种元素的快速、无损、准确分析； 自动稳谱，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定； 专业的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要建立库文件； 全中文Windows应用软件，操作简单。 技术指标 分析元素：Mg-U，主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、As等 分析范围：1ppm-99.99% 同时分析：20多种元素同时分析 能量范围：1-30keV 测量时间：1-2分钟可以完成全部待测元素的含量分析 探测器的分辨率：150ev 管电压：0-50Kv 管电流： 1～1000 &mu A 仪器的分析精度：标准偏差&le 0.08% 分析误差：优于国家标准要求 辐射剂量：25&mu sv/h. 工作环境：温度10～35 ℃ 湿度30～70%RH 電源：AC 220 V± 10 %、50/60 Hz 仪器配置 仪器主机一台 控制面板 进口电制冷半导体探测器 X光管（1KV-40KV） 高压电源 计算机一台 激光打印机一台 真空泵一台 压片机一台 制样模具一套 稳压电源一台 测试软件一套

产 品 说 明Epsilon3 是一个台式能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF）Epsilon3 可以处理:固体、压制和松散粉末、液体和滤膜样品。Epsilon3 从钠到铀元素的非破坏定量分析。

微谱科技WEPER XRF2800便携式能量色散X荧光光谱仪WEPER XRF2800 是一款基于X射线荧光原理的现场元素分析利器，是微谱科技在深耕XRF技术多年的最新力作。便携式X荧光光谱仪体积小、重量轻、性能稳定、灵敏度高、操作灵活、外形美观，可轻松应对复杂、恶劣的野外环境，随时随地对样品中的元素进行定性和半定量分析。广泛应用于场地调查、土壤初筛、油品、现场监控、现场污染物筛查等领域基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率4w，最大电压50kV，最大电流200uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：7寸 产品特点：体积小，超级便携230mm×230mm×290mm迷你尺寸，随时随地都可为您提供测试服务超长续航大容量电池，续航时间6-8小时；可额外配置大容量手提式充电器，让您操作无忧出数快，30+元素一键即测，10 s左右即可得到稳定测量值，可同时分析30多种土壤金属元素，还可根据客户需求定制增加检测元素一体化X光管，性能优异采用高性能微型X射线管，搭配智能多位滤光片，针对重点元素进行了特别优化，达到最优异的检测效果更高的分辨率WEPER XRF2800采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至125eV@Mn Kα线，因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分领进谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析其他应用WEPER XRF2800打破了实验室环境条件的限制，无需真空和氦气条件就可以分析样品中的Mg、Al、Si、P、S等轻元素。可实现现场采样及现场分析矿石品味、进行矿石评估、岩心检测、绘制矿石分布图等。是地质勘探、矿山开采现场检测的得力助手。WEPER XRF2800可以实现快速、准确分析土壤中Pb、As、Cu、Ni、Zn、Cr等重金属，能够及时对厂区、矿区、重工业区周边环境进行监测，从而有效进行控制排放和污染治理。同时还可以对土壤中的营养元素进行监测，提高农作物的质量和产量，实现智能耕作。WEPER XRF2800可为海关检测假冒伪劣的材料和产品，用于进出口管控，识别冲突矿物，验证金、银、铂、钯金属的纯度，用于进口征税。还可用于珠宝贵金属的识别以及汽车三元催化剂的回收检测。

微谱科技WEPER XRF2501(集成版）能量色散X射线荧光光谱仪 WEPER XRF2501(集成版） X射线荧光光谱仪尺寸紧凑，分析性能优异，测试效率高，可以精准测试从F到U的所有元素。广泛应用于水泥、采矿、金属冶炼、玻璃陶瓷、化妆品、催化剂、石化等行业。基本参数：元素范围：F-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV测试气氛模式：3种可选，空气，真空，氦气，内置真空泵触屏大小：台式电脑操作产品特点：操作简单在测试过程中，可随时查看仪器运行状态：管压、管流、光管温度、光谱室真空度、各类传感器状态、探测器温度信息，随时全面掌握仪器的工作信息样品旋转通过样品旋转，增加样品测试面积的同时提高代表性，使样品测试结果更加准确外接电脑操作数据处理更加便捷更高的灵敏度采用石墨烯SDD探测器，更加紧凑型的光路，微型测试腔、创新性的解谱算法，计数率高于1000000cps，使得从F到U的所有元素都可获得最佳的灵敏度。例如，通过上述创新性技术，可以使用熔融制样方法对样品中的钠元素进行准确定量分析，以前只有价格昂贵的WDXRF才可以完成的任务，而现在使用微谱科技的EDXRF就可以完成更高的分辨率WEPER XRF2501(集成版）采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至123eV@Mn Kα线，微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分领进谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析，如地质矿物以及金属合金样品的分析更高的稳定性WEPER XRF2501(集成版）创新性的采用微型测试腔体设计，紧凑型测试光路，高真空度光谱室，样品自旋技术，创新性的稳谱技术，使得微谱科技的EDXRF具有极高性能的长期稳定性。

双源单波长激发 能量色散X射线荧光光谱仪采用双曲面弯晶技术对双激发源进行单色化，从而大幅降低X射线管出射X射线经样品所产生的散射线背景干扰，提升样品中元素荧光射线强度，降低对多元素的检出限，尤其对重金属元素检出限可降低至0.05mg/kg水平。该仪器可实现对硼元素之后的全元素检测。此外该仪器在定量方面采用快速基本参数法，可实现在无标样或少标样的情况下对未知样品进行定性和定量分析。

微谱科技WEPER XRF2510智能能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2510 是微谱科技新一代X荧光产品，在分析性能和测试稳定性方面更进一步。简洁大方的一体式设计，低噪便捷的操作平台，让整个实验室变得更整洁舒适；超薄石墨烯探测器，创新性的解谱算法，分辨率和灵敏度达到最优；仪器测试腔体采用微型测试腔模式，配置真空、氦气双模式，从容应对复杂样品和轻元素的定量分析。该产品广泛应用在水泥、采矿、金属冶炼、催化剂、石化等行业。基本参数：元素范围：F-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：3种可选，空气，真空，氦气触屏大小：15寸进样方式：60位自动进样器 产品特点：高科技，高智能可视化玻璃窗，60位样品工位一目了然，只需在软件中选择对应位置即可。中途可随时增加样品，调整样品测试顺序在测试过程中，可随时查看仪器运行状态：管压、管流、光管温度、光谱室真空度、各类传感器状态、探测器温度信息，随时全面掌握仪器的工作信息测试过程中打开观察窗，智能机械臂会立即进入待机状态用户可根据日期、样品名称、测试方法查询和导出结果，同时还可以在测试方法修改后对历史光谱进行重新计算样品旋转通过样品旋转，增加样品测试面积的同时提高代表性，使样品测试结果更加准确更高的灵敏度微谱科技WEPER XRF2510设备采用石墨烯SDD探测器，更加紧凑型的光路，微型测试腔、创新性的解谱算法，计数率高于1000000cps，使得从F到U的所有元素都可获得最佳的灵敏度。例如，通过上述创新性技术，可以使用熔融制样方法对样品中的钠元素进行准确定量分析，以前只有价格昂贵的WDXRF才可以完成的任务，而现在使用微谱科技的EDXRF就可以完成更高的分辨率WEPER XRF2510采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至123eV@Mn Kα线，因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分邻近谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析，如地质矿物以及金属合金样品的分析。更高的稳定性WEPER XRF2510创新性的采用微型测试腔体设计，紧凑型测试光路，高真空度光谱室，样品自旋技术，创新性的稳谱技术。使得微谱科技的EDXRF具有极高性能的长期稳定性。

EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析，满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统。应用领域电镀行业、电子通讯、航天新能源、五金卫浴、电器设备汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等超高硬件配置采用Fast-SDD探测器,125eV分辨率,能精准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。搭配大功率X光管,能很好的保障信号输出和激发的稳定性,减少仪器故障率。高精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动,更精准快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。设计亮点上照式设计，可适应更多异型微小样品的测试。相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，满足微小产品，台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台，微小密集型可多点测试，大大提高测样效率。自带数据校对系统。软件界面人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。曲线的中文备注，让您的操作更易上手。仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。

微谱科技WEPER XRF2501液体样品/车载应用能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2501可以精准测试从F到U的所有元素。液体样品直检，操作简单方便。可满足从柴油到原油中硫和其他元素分析的要求。符合ASTM和ISO标准。360mm×640mm×400mm小尺寸，可用于车载实验室，实现土壤重金属元素快速筛查，煤中有害元素的快速筛查和定量分析。基本参数：元素范围：F-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气(可额外选配真空模式和氦气模式)触屏大小：10寸 产品特点：液体样品直检符合油中硫检测的国际分析标准，ASTM D7220，D4284和ISO 13032污水样品直接检测，可用于快速检测污水中的重金属元素超标情况。直接将污水样品放入样品杯即可车载应用360mm×640mm×400mm小尺寸，可用于车载实验室，实现土壤重金属元素快速筛查，煤中有害元素的快速筛查和定量分析样品旋转通过样品旋转，增加样品测试面积的同时提高代表性，使样品测试结果更加准确更高的灵敏度微谱科技WEPER XRF2501设备采用石墨烯SDD探测器，更加紧凑型的光路，微型测试腔、创新性的解谱算法，计数率高于1000000cps，使得从F到U的所有元素都可获得最佳的灵敏度。更高的分辨率WEPER XRF2501采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至123eV@Mn Kα线，因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分领进谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析，如地质矿物以及金属合金样品的分析。更高的稳定性WEPER XRF2501创新性的采用微型测试腔体设计，紧凑型测试光路，高真空度光谱室，样品自旋技术，创新性的稳谱技术。使得微谱科技的EDXRF具有极高性能的长期稳定性。

当前价格是定金，准确货期&实际价格请与客服咨询为准！谢谢 追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200ü无损分析，保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量 更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低 更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例 新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样) 新升级———降低分析成本————l阈值算法优化，有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级，降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管，有效提高高湿度地区光管使用寿命

Genius IF多元素EDXRF光谱分析仪采用二次靶技术能量色散X射线荧光光谱仪Genius IF Genius IF提供了一种经济高效的元素分析解决方案。该能量色散X射线荧光（EDXRF）光谱仪可以对C（6）- Fm（100）范围内的多种元素进行亚ppm级别无损定性及定量元素分析。 高度集成的光谱仪采用复杂独特的设计结合了自定义滤光片和二次靶技术，可放在传统实验室工作台上，适用于多种高端应用领域。 无损元素分析通过使用标样或无标样方法（基本参数）进行定性及定量分析。硅漂移探测器（SDD）高计数率及分辨率的SDD探测器，分辨率可达125eV，探测范围C（6）- Fm（100）。X射线源激发性能可达50kV，50W，Rh靶材料，分析浓度探测限范围可达亚ppm至100%，其卓越的性能可适用于复杂应用。轻元素探测超薄探窗能够实现对低序元素探测分析的优异性能。二次靶技术及滤光片采用专利几何结构，设计8个二次靶及8个自定义滤光片，可快速准确的测定痕量和微量元素。Analytix专用软件Analytix专用软件优异性能以及易用的GUI能够对项目分析和管理提供最快速直接的反应并得到结果。定量分析算法通过元素间修正进行多元回归分析（6个可用模型）。总计数、净计数拟合及数字滤波强度等工具。 二次靶技术全能型元素分析仪 Genius IF采用专利几何结构，设计8个二次靶并配备直接激发模式下8个自定义滤光片，使得仪器以最优的激发方式检测所有元素。WAG（广角几何）专利技术下的二次靶技术为痕量元素和微量元素的测量提供了最佳的解决方案。 由X射线管激发产生的射线激发二次靶材料（纯金属）的特征K线，进而用于激发待测样品。通过使用二次靶技术，可进一步降低某些元素的检测限。更低的检测限意味着Genius IF能够异于传统EDXRF仪器而适用于更加广泛的用途，成为一款全能型多元素分析仪器。二次靶技术与直接激发模式谱图对比： 图中显示了峰背比提升的效果，其中蓝色轮廓部分代表使用了二次靶技术，而红色区域部分为直接激发模式的图谱。 Genius IF应用领域

X-Cite台式EDXRF光谱仪多元素分析仪能量色散X射线荧光光谱仪X-Cite 实用型台式X射线荧光光谱仪X-Cite配备独特几何结构的阳极靶及高功率X射线激发源，适用于传统实验室工作台，并集成完整计算机系统、6个自定义滤光片及样品托盘。 Xenemetrix台式X射线荧光光谱仪采用高分辨率探测器及高性能X射线管，同时配备样品相机及样品盘，可容纳多种尺寸类型的样品。 为发挥系统最佳性能，获得精确测量，滤光片可根据系统硬件配置为每次测量要求自适应切换。无损元素分析通过使用标样或无标样方法（基本参数）对Na（11）- U（92）范围元素进行定性及定量分析。X射线源激发性能达40kV，18W，Rh靶材料，分析浓度探测限范围可达ppm至100%，在复杂的应用中表现其卓越的性能。Analytix专用软件Analytix专用软件支持在野外进行操作并快速得到结果。硅漂移探测器（SDD）高计数率及分辨率的SDD探测器，分辨率可达125eV，探测元素范围可达Na（11）- U（92）。滤光片考虑不同的应用要求，6个管式滤光片可针对痕量元素和微量元素自定义快速准确的切换。。自动校准系统可根据周围环境的变化针对材料自动校准。Analytix专用软件 Analytix软件能够提供准确全面，易于理解的分析结果，适用于多种应用，并能够高效的在短时间内执行多种测量。 软件采用高度直观的界面设计，简单易用的GUI，适用于不同层次用户，广泛的应用于各种元素工作任务。 Analytix可提供客户-服务器操作员模式，这种模式支持通过WiFi或GPS进行实时数据传输，并在其它位置远程轻松管理系统。分析过程可在现场完成，分析结果可传输至每个客户端并伴随相关的定位数据及测试识别信息。X-Cite应用领域

1.产品名称及机型指标介绍:　　1.1. 产品名称及型号：　　能量色散X荧光光谱仪-------R-350 型　　1.2. 制造商：山东云唐　　1.3. 仪器规格　　仪器腔尺寸 439mmX300mmX150mm　　仪器外观尺寸 550mmX410mmX320mm　　仪器重量 45kg　　1.4. 工作条件：　　● 工作温度：15-30℃　　● 相对湿度：40%～50%　　● 电 源：AC :220V ±5V　　1.5. 能量色散X荧光光谱仪技术性能及指标:　　1.5.1. 元素分析范围从硫(S)到铀(U) 　　1.5.2. 元素含量分析范围为1 PPm到99.99% 　　1.5.3. 测量时间：100-300秒 　　1.5.4. RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)其检测限度高达1PPM 　　1.5.5. 能量分辨率为149±5电子伏特 　　1.5.6. 温度适应范围为15℃至30℃ 　　1.5.7 电源：交流220V±5V (建议配置交流净化稳压电源。)　　1.6.产品特点　　1.6.1 R-350是专门针对RoHS、EN71等环保指令设计得一款产品。　　1.6.2打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方。　　1.6.3采用美国新型的Si-pin探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。　　1.6.4采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确。　　1.6.5一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化。　　1.6.6七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。　　1.6.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品Highest。　　1.6.8先进的一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行安全。　　1.6.9机芯温控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。　　1.6.10多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。　　1.6.11RoHS专用测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便。　　1.6.12本机采用USB2.0接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输。　　2.仪器硬件部分主要配置　　2.1Si-pin电制冷半导体探测器:(最新型探测器)　　2.1.1. Si-pin电制冷半导体探测器 分辨率：149±5电子伏特　　2.1.2. 放大电路模块:对样品特征X射线进行探测 把探测采集的信息,进一步放大。　　2.2 X射线激发装置:　　2.2.1. 灯丝电流灯丝电流输出MAX：1mA 　　2.2.2 .属于半损耗型部件，50W，空冷。　　2.3 高压发射装置:　　2.3.1. 电压电压输出MAX： 50KV 　　2.3.2.电压输出MIN: 5KV，可控调节　　2.3.3.自带电压过载保护　　2.4 多道分析器:　　2.4.1. 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件。　　2.4.2 .道数MAX：4096 　　2.4.3 包含信号增强处理　　2.5光路过滤模块　　2.5.1 降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确。　　2.5.2 将准直器与滤光处整合 　　2.6 准直器自动切换模块　　2.6.1多达8种选择，口径分别为8#, 6#, 4#, 3#，2#, 1#, 0.5#,0.2#。　　2.7 滤光片自动切换模块　　2.7.1六种滤光片的自由选择和切换。　　2.8 工作曲线自动选择模块　　2.8.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化　　3. 专用软件JPSPEC-FP　　3.1.1软件简介　　专门针对RoHS检测而开发，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。　　3.1.2功能介绍　　※专门应对欧盟RoHS指令中六种物质涉及的六种元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr，Cl测试，测量时间为100-300秒　　※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作　　※可自动选择适合的校准曲线，测量更方便，更准确。　　※中英文界面自动切换，并具有第三方语言订制功能　　※自动校准仪器。　　※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线　　※多种报告形式打印。　　※可同时显示多个光谱图　　※机芯温度监控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。　　4. 样品配置　　标准样品用于制作工作曲线　　4.1 样品腔　　开放式大样品腔　　4.2 标样　　欧盟标样E60K　　纯银样品　　5. 产品保修及售后服务　　5.1 对客户方操作人员免费进行培训。　　5.2 安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。　　5.3正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器自验收合格之日起保修一年。　　5.4 产品终身维修。(客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证，保修卡等)　　5.5 免费提供软件升级 　　5.6 提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，2小时内响应，如有需要，48小时内派人上门维修和排除故障。

能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（高分辨率SDD）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。 另外，近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS2.0应对手段。 追求省时省力，高速筛选分折降低运行成本、减少日常维护量配备只针对RoHS法规有害5元素+氯元素所需的 筛选分析功能配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义 深入浅出利用［筛选分析］画面、操作简单方便从主成分判定到条件选择全部实现自动处理 配备所有必备功能标准配备了RoHS/ELV分析所需的各种功能超大样品室，可直接测试大型样品 配备只针对RoHS法规有害5元素+氯元素所需的筛选分析功能 尽可能将需要荧光X射线分析知识的操作步骤自动化，可进行RoHS法规5元素+氯元素（选配）的高速筛选分析。EDX-LE从开始分析到得到结果只需要（根据样品）约1分钟。不仅可进行高速筛选分析，同时维持了高可信性的分析水平EDX-LE标准配备了RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能，用户无需购买特殊选购件，就可以获得RoHS/ELV/无卤素分析系统。 具体货期&价格请与客服咨询为准！谢谢

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

杰出的灵敏度带来高达3倍的精度改进——这是分析维量到主量元素含量时高准确性的基础 可以检测到极低的痕量元素：自适应激发、前沿的X光管设计和高计数率的检测系统显著降低了多种元素（通常为1/3）的检测极限 掌握未知：Turboquant II软件工具提供一种前所未有的能力——分析未知样本，不管是液体、固体还是粉末状，无论是树叶、塑料、油品、石墨… … 新型SPECTRO XEPOS光谱仪代表了能量色散X射线荧光技术上的巨大突破。它带来主量、微量和痕量元素含量水平多元素分析方面的突破性进展。激发和检测方面的新发展实现了杰出的灵敏度和检测极限——大幅提高精确性和准确度。SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理，包括地质和采矿、环境和废物检测以及科研和高校。不同版本最大化特定基体中所含特定元素组的性能。创新的X射线管和独特的新型自适应性激发技术造就最高灵敏度，全面优化所选的目标元素。重复性： 0.1%分析含量范围： 亚ppm-100%价格区间： 50万-100万能量分辨率： 130eV元素分析范围： Na-U仪器种类： 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF