荧光寿命成像系统

荧光和荧光寿命分子包含多个单能态S0、S1、S2… 和三重态T1… ，每个能态都包含多个精细的能级。正常情况下，大部分电子处在*低能态即基态S0 的*低能级上，当分子被光束照射，会吸收光子能量，电子被激发到更高的能态S1 或S2 上，在S2 能态上的电子只能存在很短暂的时间，便会通过内转换过程跃迁到S1 上，而S1 能态上的电子亦会在极短时间内跃迁到S1 的*低能级上，而这些电子会存在一段时间后通过震荡弛豫辐射跃迁到基态，这个过程会释放一个光子，即荧光。此外，亦会有电子跃迁至三重态T1 上，再由T1 跃迁至基态，我们称之为磷光。荧光特性研究荧光特性时，主要在以下几方面进行分析：激发光谱，发射光谱、荧光强度、偏振荧光、荧光发光量子产率、荧光寿命等。其中荧光寿命（Fluorescence Lifetime）是指荧光分子在激发态上存在的平均时间（纳秒量级）。荧光寿命测试荧光寿命一般在几纳秒至几百纳秒之间，如今主要有两类测试方法：时域测量和频域测量时间稳定性实验测试曲线：1 时域测量由一束窄脉冲将荧光分子激发至较高能态S1，接着测量荧光的发射几率随时间的变化。其中目前广泛应用的是时间相关单光子计数，即TCSPC(Time Correlated Single Photon Counting)时间相关单光子计数(TCSPC) 实现了从百ps-ns-us 的瞬态测试，此方法对数据的获取完全依赖快速探测器和高速电路。用统计的方法计算样品受激后发出的第一个( 也是*一的一个) 光子与激发光之间的时间差，也就是下图的START( 激发时刻) 与STOP( 发光时刻) 的时间差。由于对于Stop 信号的要求，所以TCSPC 一般需要高重复频率的光源作为激发源，其重复至少要在100KHz 以上，多数的光源都会达到MHz 量级；同时，在一般情况下还要对Stop 信号做数量上的控制，做到尽量满足在一个激发周期内，样品产生且只产生一个光子的有效荧光信号，避免光子对的出现。2 频域测量对连续激发光进行振幅调制后，分子发出的荧光强度也会受到振幅调制，两个调制信号之间存在与荧光寿命相关的相位差，因此可以测量该相位差计算荧光寿命。 左图为正弦调制激发光（绿色）频域显示，发射光信号（红色）相应的相位变化频域显示。右图为对应不同寿命的调制和相位的频域显示。TM- 调制寿命，TP- 相位寿命。[1]显微荧光寿命成像技术（FLIM）显微荧光寿命成像技术（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，FLIM）是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术，由于其不受样品浓度影响，具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能，目前在生物医学工程、光电半导体材料等领域是一种重要的表征测量手段。FLIM 一般分为宽场FLIM 和激光扫描FLIM。宽场FLIM（Wide Field FLIM,WFM）该技术是用平行光照明并由物镜聚焦样品获得荧光信号，再由一宽场相机采集荧光成像。宽场FLIM 常用于快速获取大面积样品成像。时域或是频域寿命采集都可以应用在宽场成像FLIM 上。宽场FLIM 有更高帧率和低损伤的优势。2 激光扫描FLIM（Laser Scanning FLIM,LSM）激光扫描FLIM 是针对选定区域内的样品逐点获取其荧光衰减曲线，再经过拟合最终合成荧光寿命图像。相比宽场FLIM，其在空间分辨率、信噪比方面有更大的优势。扫描方式有两种：一种是固定样品，移动激光进行扫描，一种是固定激光，电动位移台带动样品移动进行扫描。显微荧光寿命成像系统RTS2-FLIM应用材料科学领域宽禁带半导体如GaN、SiC 等体系的少子寿命mapping 测量量子点如CdSe@ZnS 等用作荧光寿命成像显微镜探针钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测铜铟镓硒CIGS，铜锌锡硫CZTS 薄膜太阳能电池的组分、缺陷检测镧系上转换纳米颗粒GaAs 或GaAsP 量子阱的载流子扩散研究生命科学领域细胞体自身荧光寿命分析自身荧光相对荧光标记的有效区分活细胞内水介质的PH 值测量局部氧气浓度测量具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分活细胞内钙浓度测量时间分辨共振能量转移（FRET）：纳米级尺度上的远差测量，环境敏感的FRET 探针定量测量代谢成像：NAD(P)H 和FAD 胞质体的荧光寿命成像显微荧光寿命成像系统RTS2-FLIM应用案例1 用荧光分子对海拉细胞进行染色用荧光分子转子Bodipy-C12 对海拉细胞（宫颈癌细胞的一种） 进行染色。(a) 显微荧光寿命成像图，寿命范围1ns（蓝色）到2.5ns（红色）；(b) 荧光寿命直方图，脂肪滴的短寿命约在1.6ns 附近，细胞中其他位置寿命较长，在1.8ns 附近。用荧光分子转子的时间分辨测量*大的好处在于荧光寿命具备足够清晰的标签特性，且与荧光团的浓度无关。[2]2 金属修饰荧光金属修饰荧光：(a) 荧光寿命是荧光团到金表面距离的函数；(b) 用绿色荧光蛋白（GFP）标记乳腺腺癌细胞的细胞膜的共聚焦xz 横截面，垂直比例尺：5m；(c) b 图的FLIM 图，金表面附近的GFP 荧光寿命缩短。[2]3 钙钛矿太阳能电池下图研究中，展示了一种动态热风（DHA）制备工艺来控制全无机PSC 的薄膜形态和稳定性，该工艺不含有常规的有害反溶剂，可以在大气环境中制备。同时，钙钛矿掺有钡（Ba2+） 碱金属离子（BaI2:CsPbI2Br）。这种DHA 方法有助于形成均匀的晶粒并控制结晶，从而形成稳定的全无机PSC。从而在环境条件下形成完整的黑色相。经过DHA处理的钙钛矿光伏器件，在0.09cm小面积下，效率为14.85%，在1x1cm的大面积下，具有13.78%的*高效率。DHA方法制备的器件在300h后仍然保持初始效率的92%。4 MQWs 多量子阱研究在(a) 蓝宝石和(b) GaN 上生长的MQWs 的共焦PL mapping 图像。具有较小尺寸的发光团的最高密度是观察到在GaN 上生长的MQWs。在(c) 蓝宝石和(d)GaN 上生长的MQWs 的共焦TRPL mapping 图。仅对于在GaN 上生长的MQWs，强的PL 强度区域与较长PL 衰减时间的区域很好地匹配。在(e) 蓝宝石和(f)GaN 上生长的MQWs 在A 点和B 点测量的局部PL 衰减曲线，均标记在图中。对于在GaN 上生长的MQWs，点A 和B 之间的PL 衰减时间差更高。显微荧光寿命成像系统FLIM参数配置北京卓立汉光仪器有限公司提供的显微荧光寿命成像系统是基于显微和时间相关单光子计数技术，配合高精度位移台得到微观样品表面各空间分布点的荧光衰减曲线，再经过用数据拟合，得到样品表面发光寿命表征的影像。是光电半导体材料、荧光标记常用荧光分子等类似荧光寿命大多分布在纳秒、几十、几百纳秒尺度的物质的选择。参数指标：系统性能指标光谱扫描范围200-900nm最小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器空间分辨率≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器荧光寿命检测IRF≤2ns配置参数激发源及匹配光谱范围（光源参数基于50MHz 重复频率）375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW，荧光波段：400-850nm405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW，荧光波段：430-920nm450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW，荧光波段：485-950nm488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW，荧光波段：500-950nm510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW，荧光波段：535-950nm635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW，荧光波段：670-950nm660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW，荧光波段：690-950nm670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW，荧光波段：700-950nm科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），最小步进：50nm，重复定位精度：＜ 1μm光谱仪320mm 焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD 出口，配置三块68×68mm 大面积光栅，波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD（可扩展PLmapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm, 探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，最高量子效率值95%时间相关单光子计数器（TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统软件界面控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。自主开发的一套时间相关单光子计数（TCSPC）荧光寿命的拟合算法，可对荧光衰减曲线中最多包含4 个时间组分的荧光过程进行拟合，获得每个组分的荧光寿命，光子数比例，计算评价函数和残差。TCSPC 荧光寿命通常并非简单的指数衰减过程，而是与光源及探测器相关的仪器响应函数（IRF）与荧光衰减过程相互卷积的结果，因此适当的拟合方法和参数选择对获得正确可靠的荧光寿命非常重要。该软件可导入实际测量的IRF 对衰减曲线进行卷积计算和拟合。但是大多数情况下， IRF 很难正确的从实验获得，针对这种情况，软件提供了两种无需实验获取IRF 的拟合方法：1.通过算法对数据上升沿进行拟合，获得时间响应函数IRF，然后对整条衰减曲线进行卷积计算和拟合得到荧光寿命。2.对于衰减时间远长于仪器响应时间的，可对衰减曲线下降沿进行直接的指数拟合。该软件经过大量测试，可以很好的满足各种场合的用户需求。MicroLED 微盘的荧光强度像（3D 显示）：

荧光和荧光寿命分子包含多个单能态S0、S1、S2…和三重态T1…，每个能态都包含多个精细的能级。正常情况下，大部分电子处在*低能态即基态S0 的*低能级上，当分子被光束照射，会吸收光子能量，电子被激发到更高的能态S1 或S2 上，在S2 能态上的电子只能存在很短暂的时间，便会通过内转换过程跃迁到S1 上，而S1 能态上的电子亦会在极短时间内跃迁到S1 的*低能级上，而这些电子会存在一段时间后通过震荡弛豫辐射跃迁到基态，这个过程会释放一个光子，即荧光。此外，亦会有电子跃迁至三重态T1 上，再由T1 跃迁至基态，我们称之为磷光。荧光特性研究荧光特性时，主要在以下几方面进行分析：激发光谱，发射光谱、荧光强度、偏振荧光、荧光发光量子产率、荧光寿命等。其中荧光寿命（Fluorescence Lifetime）是指荧光分子在激发态上存在的平均时间（纳秒量级）。荧光寿命测试荧光寿命一般在几纳秒至几百纳秒之间，如今主要有两类测试方法：时域测量和频域测量时间稳定性实验测试曲线：1 时域测量由一束窄脉冲将荧光分子激发至较高能态S1，接着测量荧光的发射几率随时间的变化。其中目前广泛应用的是时间相关单光子计数，即TCSPC(Time Correlated Single Photon Counting)时间相关单光子计数(TCSPC) 实现了从百ps-ns-us 的瞬态测试，此方法对数据的获取完全依赖快速探测器和高速电路。用统计的方法计算样品受激后发出的*一个( 也是唯一的一个) 光子与激发光之间的时间差，也就是下图的START( 激发时刻) 与STOP( 发光时刻) 的时间差。由于对于Stop 信号的要求，所以TCSPC 一般需要高重复频率的光源作为激发源，其重复至少要在100KHz 以上，多数的光源都会达到MHz 量级；同时，在一般情况下还要对Stop 信号做数量上的控制，做到尽量满足在一个激发周期内，样品产生且只产生一个光子的有效荧光信号，避免光子对的出现。2 频域测量对连续激发光进行振幅调制后，分子发出的荧光强度也会受到振幅调制，两个调制信号之间存在与荧光寿命相关的相位差，因此可以测量该相位差计算荧光寿命。 左图为正弦调制激发光（绿色）频域显示，发射光信号（红色）相应的相位变化频域显示。右图为对应不同寿命的调制和相位的频域显示。TM- 调制寿命，TP- 相位寿命。[1]显微荧光寿命成像技术（FLIM）显微荧光寿命成像技术（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，FLIM）是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术，由于其不受样品浓度影响，具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能，目前在生物医学工程、光电半导体材料等领域是一种重要的表征测量手段。FLIM 一般分为宽场FLIM 和激光扫描FLIM。宽场FLIM（Wide Field FLIM,WFM）该技术是用平行光照明并由物镜聚焦样品获得荧光信号，再由一宽场相机采集荧光成像。宽场FLIM 常用于快速获取大面积样品成像。时域或是频域寿命采集都可以应用在宽场成像FLIM 上。宽场FLIM 有更高帧率和低损伤的优势。2 激光扫描FLIM（Laser Scanning FLIM,LSM）激光扫描FLIM 是针对选定区域内的样品逐点获取其荧光衰减曲线，再经过拟合*终合成荧光寿命图像。相比宽场FLIM，其在空间分辨率、信噪比方面有更大的优势。扫描方式有两种：一种是固定样品，移动激光进行扫描，一种是固定激光，电动位移台带动样品移动进行扫描。FLIM 应用材料科学领域宽禁带半导体如GaN、SiC 等体系的少子寿命mapping 测量量子点如CdSe@ZnS 等用作荧光寿命成像显微镜探针钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测铜铟镓硒CIGS，铜锌锡硫CZTS 薄膜太阳能电池的组分、缺陷检测镧系上转换纳米颗粒GaAs 或GaAsP 量子阱的载流子扩散研究生命科学领域细胞体自身荧光寿命分析自身荧光相对荧光标记的有效区分活细胞内水介质的PH 值测量局部氧气浓度测量具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分活细胞内钙浓度测量时间分辨共振能量转移（FRET）：纳米级尺度上的远差测量，环境敏感的FRET 探针定量测量代谢成像：NAD(P)H 和FAD 胞质体的荧光寿命成像OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统应用案例1 用荧光分子对海拉细胞进行染色用荧光分子转子Bodipy-C12 对海拉细胞（宫颈癌细胞的一种） 进行染色。(a) 显微荧光寿命成像图，寿命范围1ns（蓝色）到2.5ns（红色）；(b) 荧光寿命直方图，脂肪滴的短寿命约在1.6ns 附近，细胞中其他位置寿命较长，在1.8ns 附近。用荧光分子转子的时间分辨测量*大的好处在于荧光寿命具备足够清晰的标签特性，且与荧光团的浓度无关。[2]2 金属修饰荧光金属修饰荧光：(a) 荧光寿命是荧光团到金表面距离的函数；(b) 用绿色荧光蛋白（GFP）标记乳腺腺癌细胞的细胞膜的共聚焦xz 横截面，垂直比例尺：5 m；(c) b 图的FLIM 图，金表面附近的GFP 荧光寿命缩短。[2]3 钙钛矿太阳能电池下图研究中，展示了一种动态热风（DHA）制备工艺来控制全无机PSC 的薄膜形态和稳定性，该工艺不含有常规的有害反溶剂，可以在大气环境中制备。同时，钙钛矿掺有钡（Ba2+） 碱金属离子（BaI2:CsPbI2Br）。这种DHA 方法有助于形成均匀的晶粒并控制结晶，从而形成稳定的全无机PSC。从而在环境条件下形成完整的黑色相。经过DHA处理的钙钛矿光伏器件，在0.09cm小面积下，效率为14.85%，在1x1cm的大面积下，具有13.78%的*高效率。DHA方法制备的器件在300h后仍然保持初始效率的92%。4 MQWs 多量子阱研究在(a) 蓝宝石和(b) GaN 上生长的MQWs 的共焦PL mapping 图像。具有较小尺寸的发光团的*高密度是观察到在GaN 上生长的MQWs。在(c) 蓝宝石和(d)GaN 上生长的MQWs 的共焦TRPL mapping 图。仅对于在GaN 上生长的MQWs，强的PL 强度区域与较长PL 衰减时间的区域很好地匹配。在(e) 蓝宝石和(f)GaN 上生长的MQWs 在A 点和B 点测量的局部PL 衰减曲线，均标记在图中。对于在GaN 上生长的MQWs，点A 和B 之间的PL 衰减时间差更高。OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统参数配置北京卓立汉光仪器有限公司提供的显微荧光寿命成像系统是基于显微和时间相关单光子计数技术，配合高精度位移台得到微观样品表面各空间分布点的荧光衰减曲线，再经过用数据拟合，得到样品表面发光寿命表征的影像。是光电半导体材料、荧光标记常用荧光分子等类似荧光寿命大多分布在纳秒、几十、几百纳秒尺度的物质的不二选择。参数指标：系统性能指标光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器空间分辨率≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器荧光寿命检测IRF≤2ns配置参数激发源及匹配光谱范围（光源参数基于50MHz 重复频率）375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW，荧光波段：400-850nm405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW，荧光波段：430-920nm450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW，荧光波段：485-950nm488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW，荧光波段：500-950nm510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW，荧光波段：535-950nm635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW，荧光波段：670-950nm660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW，荧光波段：690-950nm670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW，荧光波段：700-950nm科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度：＜ 1μm光谱仪320mm 焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD 出口，配置三块68×68mm 大面积光栅，波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD（可扩展PLmapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm, 探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器（TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps……33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统 FLIM 软件界面控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。自主开发的一套时间相关单光子计数（TCSPC）荧光寿命的拟合算法，可对荧光衰减曲线中*多包含4 个时间组分的荧光过程进行拟合，获得每个组分的荧光寿命，光子数比例，计算评价函数和残差。TCSPC 荧光寿命通常并非简单的指数衰减过程，而是与光源及探测器相关的仪器响应函数（IRF）与荧光衰减过程相互卷积的结果，因此适当的拟合方法和参数选择对获得正确可靠的荧光寿命非常重要。该软件可导入实际测量的IRF 对衰减曲线进行卷积计算和拟合。但是大多数情况下， IRF 很难正确的从实验获得，针对这种情况，软件提供了两种无需实验获取IRF 的拟合方法：NO.1 通过算法对数据上升沿进行拟合，获得时间响应函数IRF，然后对整条衰减曲线进行卷积计算和拟合得到荧光寿命。NO.2对于衰减时间远长于仪器响应时间的，可对衰减曲线下降沿进行直接的指数拟合。该软件经过大量测试，可以很好的满足各种场合的用户需求。MicroLED 微盘的荧光强度像（3D 显示）：测试案例

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标 系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

产品简介：LifeSpec II 是一款结构紧凑，高度集成化，高性能的荧光寿命测试光谱仪，与高频闪脉冲飞秒和皮秒激光器联用。这个系统是一个全自动化的解决方案，适合基础研究和常规实验室应用。它的零时间色散光学设置对于测量超快衰减提供了强大的技术支持。技术特点：荧光寿命范围低至5ps（依赖于检测器和光源）采用先进的时间相关单光子计数技术双光栅发射单色器相减模式设计，大限度抑制杂散光，防止脉冲展宽，到达零时间色散标配紫外可见区检测，可升级到近红外可选多种激发光源 EPL脉冲激光二极管：375~670nm可选 EPLED脉冲LED：265~360nm可选 耦合超连续激光器、耦合多种型号飞秒激光器可选检测器 蓝敏光电倍增管、红敏光电倍增管、MC-PMT、NIR PMT

产品简介：Mini-Tau 是爱丁堡光学一款紧凑型，低成本，滤光片分光的荧光寿命光谱仪。基于时间相关计数（TCSPC）测量技术，Mini-Tau通过T900软件和TC900计算机插卡，实现快速，可信，准确的测量及数据分析。技术特点：寿命测试范围25ps-50us一个带有光源和检测器的样品仓，PC和TCSPC插卡滤光片分光，标配滤光片转轮标配恒温水浴支架（带有温度探头）标配405nm皮秒脉冲激光光源用于寿命测试亚纳秒脉冲LED或者皮秒激光二极管（需要进行波长选择）超快，蓝敏或者红敏单光子计数检测器

显微拉曼荧光寿命成像系统 德国S&I GmbH成立于1995年，是一家专门从事科研级拉曼光谱分析设备的制造公司，也是美国普林斯顿仪器（Princeton Instruments）在欧洲的OEM客户,其设备以优异的灵活性，高灵敏及易操作性著称。MonoVista CRS+系列产品定位：服务于科学研究的强大“光谱成像综合分析平台”。l S&I公司擅长于提供各种科研级定制化的解决方案；l 根据用户的应用需求，适用并可拓展不同的配置；l 在保证系统自动控制与高可靠性情况下，适合各种光学测试；l 显微拉曼光谱 /显微荧光 / 荧光寿命TCSPC成像/ l 变温红外光谱 / 时间分辨光谱 / 暗场光谱/ l 适用高压科学研究要求的开放式测试环境，如大样品系统，低温，强磁，高温等。l Monovista CRS+系统是基于共聚焦显微镜设计的多功能光谱成像分析系统；l 应用领域：高压科学材料,半导体材料特性,碳纳米材料，钙钛矿材料，生物细胞研究等MonoVista CRS+ 特点：激光器深紫外到近红外波长范围多达内置4个波长激光器，外置外接大型激光器紫外和可见光/近红外双光束路径自动控制激光选择自动对准，聚焦和校准功能超高拉曼光谱分辨率 ＜0.9cm-1 @ 633 nm低波数拉曼,可测试到 +/- 10 cm-1高波数范围: 9000cm-1（@ 532nm）热电制冷和液氮制冷探测器正置/倒置/双显微镜空间分辨率：XY 1um Z 2um步进电机和压电驱动XYZ位移台快速3D拉曼Mapping荧光寿命成像Mapping功能集成控制液氮温度冷热台集成液氦温度低温恒温器可结合拉曼成像和原子力显微镜成像自动控制的偏振光谱功能L-Crystine的超低波数拉曼（正反斯托克斯）CCL4的超高拉曼分辨率TCSPC荧光寿命测试功能2 激光波长从375纳米到810纳米2 时间通道数：65536 ,分辨精度：4ps 2 各通道采集延时调节范围 ：± 100 ns，2 寿命时间抖动误差：12ps2 最大计数率：10MHz 最大同步率：84 MHz2 多种探测器选项，探测器通道：2个2 二维寿命成像，XY扫描压电位移台2 扫描台，范围可达几厘米，XY扫描精度优于500nm 2 固有响应时间：95ns2 仪器响应函数（IRF）200ps荧光寿命测试曲线荧光寿命MappingVistaControl硬件控制界面拉曼Mapping与显微图像对比MonoVista CRS+ 定制系统应用案例Monovista显微光路+宏光路拉曼+AFM Monovista与低温，强磁测试条件(HPSTAR)

显微拉曼荧光寿命成像系统 德国S&I GmbH成立于1995年，是一家专门从事科研级拉曼光谱分析设备的制造公司，也是美国普林斯顿仪器（Princeton Instruments）在欧洲的OEM客户,其设备以优异的灵活性，高灵敏及易操作性著称。 显微拉曼荧光寿命成像系统，型号：MonoVista CRS+系列产品定位：服务于科学研究的强大“光谱成像综合分析平台”。lS&I公司擅长于提供各种科研级定制化的解决方案；l根据用户的应用需求，适用并可拓展不同的配置；l在保证系统自动控制与高可靠性情况下，适合各种光学测试；l显微拉曼光谱 /显微荧光 / 荧光寿命TCSPC成像/l变温红外光谱 / 时间分辨光谱 / 暗场光谱/l适用高压科学研究要求的开放式测试环境，如大样品系统，低温，强磁，高温等。 lMonovista CRS+系统是基于共聚焦显微镜设计的多功能光谱成像分析系统；应用领域：高压科学材料,半导体材料特性,碳纳米材料，钙钛矿材料，生物细胞研究等。 低波数性能： Stokes/Anti-Stokes spectrum from L-Cystine显微拉曼荧光寿命成像系统特点：l深紫外到近红外波长范围l多达 4 个集成多线激光器，可选配外接大型激光器端口l紫外和可见光/近红外双光束路径l自动控制激光选择l自动对准，聚焦和校准功能l超高拉曼光谱分辨率，例如 FWHM＜25px -1 @ 633 nml利用低波数拉曼附件，低波数可测试到 +/- 10 cm-1 l高波数范围可达 225000px-1（@ 532nm），适用于光致发光l热电制冷和液氮制冷探测器l正置/倒置/双显微镜l步进电机和压电驱动 XYZ 位移台l快速拉曼 mappingl集成控制加热/冷却台，液氦温度低温恒温器l可结合拉曼成像和原子力显微镜成像l自动控制的偏振光谱功能 硬件与激光选择软件自动切换 荧光扣减与背景抑制功能 同一样品不同成分的拉曼成像图显微拉曼荧光寿命成像系统定制应用案例 Monovista显微光路+宏光路拉曼+AFM Monovista与低温，强磁测试条件(HPSTAR)

激光共焦多维荧光成像系统： FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨显微系统： ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps （@256×256），自由选择1×1到4096×4096像元分辨率；同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据，保持单分子级的检测灵敏度。 用于化学、纳米、能源、生物等学科方向，单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。 ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任，实现共焦三维扫描模块（针孔，二维振镜、压电台或自动工作台）和时间分辨模块的完美结合，提供＜100ps-100ms的全时域荧光寿命检测；同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术，可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。 荧光寿命成像数据分析进入直读时代。 ISS 激光共焦扫描荧光寿命成像系统，还可以同时满足以下需要： 1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像； 2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像；266nm 355nm 3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像； 4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ； 5. 光谱采集及光谱成像； 6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用； 7. 纳米颗粒三维跟踪；（专有技术） 主要功能描述：（单/双光子功能）激光共焦荧光强度成像LCM；荧光寿命成像FLIM，磷光寿命成像PLIM；上转换荧光（寿命）成像，稀土发光（寿命）成像，延迟荧光（寿命）成像；荧光波动成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS，scan-FCS）， FLIM-FRET成像；荧光定量成像；单量子点发光（寿命）成像，单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET，包括交替激发PIE成像；稳态及瞬态偏振成像；微区荧光光谱采集 400-1100nm；反聚束测试（含专业软件）；活细胞工作站升级（含多孔板）仪器特点： 实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势，FRET效率分布；选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像，FLIM-FRET；可以升级无波长干扰AFM（正置或倒置），实现同区域形貌和FLIM同步测试；紫外-可见-红外激发波长，单波长或超连续激光器；单光子或双光子的激光器； 主要技术指标 1. 荧光寿命测试范围：100ps-100ms；2. 最小时间分辨率≤1ps；3. 数据计数速率：65 MHz/channel4. 检测通道：upto 8 channels；5. 标配xy振镜扫描，5kHz扫描频率，配合xy闭环自动台实现大区域扫描；6. Phasor plots 用于数据分析；7. 光谱采集；400-1100nm8. 扫描透射成像；9. 界面聚焦系统；10. 变温附件；77k-500k；

激光共焦多维成像系统： FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨显微系统： ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps （@256×256），自由选择1×1到4096×4096像元分辨率；同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据，保持单分子级的检测灵敏度。 用于化学、纳米、能源、生物等学科方向，单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。 ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任，实现共焦三维扫描模块（针孔，二维振镜、压电台或自动工作台）和时间分辨模块的完美结合，提供＜100ps-100ms的全时域荧光寿命检测；同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术，可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。 荧光寿命成像数据分析进入直读时代。 ISS 激光共焦扫描荧光寿命成像系统，还可以同时满足以下特殊需要： 1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像； 2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像； 3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像； 4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ； 5. 光谱采集及光谱成像； 6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用； 7. 纳米颗粒三维跟踪；（专有技术） 主要功能描述：（可以选择双光子功能）激光共焦荧光强度成像LCM；荧光寿命成像FLIM，磷光寿命成像PLIM；上转换荧光（寿命）成像，稀土发光（寿命）成像，延迟荧光（寿命）成像；荧光波动成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS，scan-FCS），FLIM-FRET成像；荧光定量成像；单量子点发光（寿命）成像，单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET，包括交替激发PIE成像；稳态及瞬态偏振成像；微区荧光光谱采集 400-1100nm；反聚束测试（含专业软件）；活细胞工作站升级（含多孔板）仪器特点： 实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势，FRET效率分布；选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像，FLIM-FRET；可以升级无波长干扰AFM（正置或倒置），实现同区域形貌和FLIM同步测试；紫外-可见-红外激发波长，单波长或超连续激光器；单光子或双光子的激光器； 主要技术指标 1. 荧光寿命测试范围：100ps-100ms；2. 最小时间分辨率≤1ps；3. 数据计数速率：65 MHz/channel4. 检测通道：upto 8 channels；5. 标配xy振镜扫描，5kHz扫描频率，配合xy闭环自动台实现大区域扫描；6. Phasor plots 用于数据分析；7. 光谱采集；400-1100nm8. 扫描透射成像；9. 界面聚焦系统；10. 变温附件；77k-500k；

激光共焦多维成像系统： FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨显微系统： ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps （@256×256），自由选择1×1到4096×4096像元分辨率；同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据，保持单分子级的检测灵敏度。 用于化学、纳米、能源、生物等学科方向，单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。 ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任，实现共焦三维扫描模块（针孔，二维振镜、压电台或自动工作台）和时间分辨模块的完美结合，提供＜100ps-100ms的全时域荧光寿命检测；同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术，可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。 荧光寿命成像数据分析进入直读时代。 ISS 激光共焦扫描荧光寿命成像系统，还可以同时满足以下特殊需要： 1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像； 2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像； 3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像； 4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ； 5. 光谱采集及光谱成像； 6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用； 7. 纳米颗粒三维跟踪；（专有技术） 主要功能描述：（可以选择双光子功能）激光共焦荧光强度成像LCM；荧光寿命成像FLIM，磷光寿命成像PLIM；上转换荧光（寿命）成像，稀土发光（寿命）成像，延迟荧光（寿命）成像；荧光波动成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS，scan-FCS），FLIM-FRET成像；荧光定量成像；单量子点发光（寿命）成像，单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET，包括交替激发PIE成像；稳态及瞬态偏振成像；微区荧光光谱采集 400-1100nm；反聚束测试（含专业软件）；活细胞工作站升级（含多孔板）仪器特点： 实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势，FRET效率分布；选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像，FLIM-FRET；可以升级无波长干扰AFM（正置或倒置），实现同区域形貌和FLIM同步测试；紫外-可见-红外激发波长，单波长或超连续激光器；单光子或双光子的激光器； 主要技术指标 1. 荧光寿命测试范围：100ps-100ms；2. 最小时间分辨率≤1ps；3. 数据计数速率：65 MHz/channel4. 检测通道：upto 8 channels；5. 标配xy振镜扫描，5kHz扫描频率，配合xy闭环自动台实现大区域扫描；6. Phasor plots 用于数据分析；7. 光谱采集；400-1100nm8. 扫描透射成像；9. 界面聚焦系统；10. 变温附件；77k-500k；

荧光寿命成像显微镜TauMap功能介绍提供激光器系统，激光器件，光学精密仪器设备，流动可视化测量和分析设备的最新进展和前沿应用信息 荧光寿命成像显微镜TauMap荧光寿命成像显微镜（FLIM）/荧光相关光谱（FCS）/荧光能量共振转移FRTE单细胞，细胞膜和组织的时间分辨荧光成像，用于生物，制药和医学研究:活体内分子和离子动力学的成像观测活体细胞中蛋白质相互作用的可视化倍频和荧光显微镜荧光寿命成像显微镜 (FLIM)荧光能量共振转移 (FRET)

荧光寿命成像和相关分析软件SymPhoTime 64是一款集数据采集和分析为一身的软件，它被用来控制，，及升级系统这三种显微共聚焦系统，和其他设备。该软件需要在位操作系统下工作，拥有简单易懂的用户操作界面。结构清晰，功能强大，使用户可以更高效的获取数据分析结果，并可以通过模式更加直观的管理数据。最后，通过基于语言的用户自定义编译脚本功能，用户可以任意改变分析和测量的具体步骤。特点：功能强大的64位数据采集和分析软件单点，2D，和3D的TTTR数据采集，包含有可在线预览FLIM，FCS，time trace和TCSPC数据的功能FLIM、快速FLIM和FLIM-FRETFCS、FCCS、FLCS、PIE-FCS，符合相关，总相关分析FRET、PIE-FRET荧光随时间的分析及单分子荧光爆发现象分析各向异性分析TCSPC寿命拟合，包括先进的误差分析基于"STUPSLANG"语言的用户自定义编译脚本功能应用：荧光寿命成像和相关分析软件SymPhoTime 64可以被用于时间分辨共聚焦数据采集实验，如：时间分辨荧光荧光寿命成像(FLIM)磷光寿命成像(PLIM)荧光相关光谱(FCS)荧光寿命相关光谱(FLCS)荧光共振能量转移(FRET)超分辨显微(STED)双聚焦荧光相关光谱(2fFCS)脉冲交错激发(PIE)单分子探测/光谱学Pattern Matching分析时间分辨磷光(TRPL)TRPL成像镧化物上转换反聚束参数：数据采集可联用TCSPC模块HydraHarp 400, PicoHarp 300, TimeHarp 260, MultiHarp 150，TimeHarp 200 (仅数据导入)可联用荧光系统MicroTime 200 MicroTime 100激光扫描显微系统 (LSM)，支持Nikon, Olympus或 Zeiss品牌 单独的 TCSPC 模块 通过TCP/IP接口远程控制 (支持ZEN和 NIS Elements)探测通道数量1 到 8 detectors采集模式单点采集，多点采集，2D成像(XY，XZ，YZ)，3D成像(XYZ)，定时成像(XYT)，用于调节系统时使用的示波器模式采集预览FLIM, FCS, FLCS 和FCCS, Time Trace, TCSPC柱状图 最多同时在线显示4种数据自动化测量Z轴逐层成像, 定时成像, 图片缝合, 多点测量硬件控制PDL 828 "Sepia II" 激光驱动器 E-710, E-725, E-727和宽范围扫描仪控制器(Physik Instrumente)MicroTime 200的快门系统 MicroTime 200 中宽视场荧光相机IDS uEye USB3数据分析总体特点时间门控 BinningTCSPC binning TCSPC拟合(1到5多指数衰减拟合)最小平方拟合, 最大可能性估算拟合, IRF解卷积拟合，尾部拟合，自举误差分析TCSPC曲线的全局化分析图形化交互界面成像FLIM, FLIM-FRET, 荧光强度FRET, 各向异性成像, (时间门控) 荧光强度成像Pattern Matching, 快速Pattern Matching 可调寿命颜色分配及对比度 特定区域分析 (ROI)用于相位分析的 Bin输出（通过荧光动力学实验室开发的第三方软件Globals）相关分析FCS, FCCS, FLCS, PIE–FCS STED-FCS, STED-FLCS FCS 拟合 (拟合模型: 扩散常数, 三重态, 构象分析, 质子化, 高斯PSF, 用户自定义, 自举误差分析) 全局分析 FCS校准 反聚束/符合相关，总相关FRETPIE (脉冲交错激发) 渗滤校正 FLIM-FRETSTEDSTED, 门控STED, STED-FLIM, 交错脉冲 STED及共聚焦, 分辨率估计荧光强度Trace分子闪烁(On/Off 柱状图), 计数率柱状图 (PCH), 爆发量柱状图, 强度门控制TCSPC, 荧光寿命 Traces, 寿命柱状图, BIFL稳态各向异性包含物镜校正系数导出数据格式BMP, ASCII, TIFF, BIN用户自定义脚本译 (STUPSLANG)用户自定分析步骤, 拟合功能, 多条件筛选 整合控制外部其他器件

时间相关单光子计数相机——宽场荧光寿命成像FLIM姓名：谷工(Givin) 电话： 邮箱：光子计数是获得尽可能多的光所带来的信息的方法。在这里，我们提出的时间相关单光子计数相机系统不仅可以检测单个光子的到达时间，而且可以像相机一样直观地定位。单光子计数相机LINCam可以将任何简单的广域显微镜扩展成强大的荧光寿命成像系统。时间相关单光子计数相机LINCam是一种解决无扫描时间相关的单光子计数问题的相机。这款时间相关单光子计数相机可以精确地分辨单个光子的X和Y位置，拥有1000*1000像素的CCD和50ps的精确时间分辨能力。与脉冲光源配合时，时间相关单光子计数相机LINCam使任何传统的荧光显微镜成为一个强大的寿命测量仪器。带有现成光学元件的单光子计数相机LINCam也是激光雷达等宏观应用的解决方案。应用领域：宽视场荧光寿命显微成像FLIM光照明3D FLIM时间相关拉曼显微时间飞行测量弱光观测宽场TCSPC荧光寿命显微成像FLIM谷百合样本荧光寿命成像的示例：强度图像(a)是获得光子的位置的直方图。荧光寿命分析揭示了四个组成部分：τ1=0.19ns；τ2=0.67ns；τ3 = 1.95ns；τ4 = 3.75ns。所得到的叠加图像(b)显示了强度图像和平均寿命。数据采集处理：采集系统集成了时幅转换器TAC、模数转换器ADC、电源供应、参考信号恒比鉴别器CFD等功能。技术参数：

次世代荧光寿命成像相机/FLIM相机Lambert Instrument推出的Toggel是一款次世代荧光寿命成像相机/FLIM相机，它结合卓越的光灵敏度和易于获取的图像和数据分析等优点，简化了研究人员和成像中心的功能成像。次世代荧光寿命成像相机应用：活细胞成像Live-cell imaging使用内置的延时功能跟踪示例中的生命周期如何随时间变化。只需设置两次测量之间的持续时间和时间，我们的软件就可以完成其余的工作。这个视频截图是HeLa细胞的延时拍摄。加入异丙肾上腺素150秒后，cAMP迅速增加，荧光寿命相应延长。随后cAMP分解，荧光寿命逐渐降低。FLIM数据由荷兰癌症研究所提供。单图像荧光寿命成像Single-image FLIM演示了Lambert仪器荧光寿命成像相机Toggel用于单图像FLIM (siFLIM)检测组胺诱导的Ca2+浓度变化。加入组胺后，Ca2+水平出现微小振荡(~2.5 s周期)。这种微小而快速的瞬变现象被传统的FLIM记录下来时是完全不被注意的。细菌研究GFP-tagRFP荧光团被连接的枯草芽孢杆菌细胞与GFP-tagRFP荧光团被分裂的枯草芽孢杆菌细胞以1:1的比例混合 导致两种细胞的混合，一种是由于tagRFP的猝灭而导致GFP荧光寿命较短，另一种是GFP荧光寿命较长。图片由格罗宁根大学提供高通量筛选阿姆斯特丹大学的研究人员开发了一种多位置荧光寿命成像(FLIM)筛查方法来筛查明亮的FPs。然而，该方法可以应用于任何荧光寿命是一个重要参数的实验。次世代荧光寿命成像相机Toggel图片库下面的图像是用Toggel记录的，并在Toggel附带的LIFA软件中处理的。在ImageJ中对寿命图像进行拼接。次世代荧光寿命成像相机配置方案宽场荧光显微Widefield在宽视场显微镜上，荧光寿命成像相机Toggel结合多通道LED光源提供了一个强大而紧凑的FLIM解决方案。Toggel兼容广域显微镜的相机端口，而多通道LED光源兼容广域显微镜的标准荧光端口。转盘共聚焦荧光显微Spinning-disk confocal作为一种基于相机的系统，Lambert仪器用于频域FLIM的LIFA系统与多光束共焦显微镜技术兼容，知名的横河CSU旋转圆盘系列(基于Nipkow圆盘扫描仪)，以及Visitech International的VTInfinity系列。全内反射荧光显微Total Internal Reflection Fluorescence (TIRF)全内反射荧光(TIRF)显微镜便于极高对比度的可视化，因此在覆盖玻璃附近的荧光灵敏度很高。通常，靠近盖玻片的光学部分约为100纳米。TIRF和频域FLIM的独特组合使得测量寿命成为可能，例如，覆盖玻璃附近的小焦点粘连。次世代荧光寿命成像相机用户应用文献：Lability of Stationary and Time-Resolved Optical Properties of the Conformationally Locked CFP Chromophore Derivative（构象锁定CFP发色团衍生物的稳态和时间分辨光学性质的不稳定性）Advanced Imaging Techniques Enhance Fluorescence SensingsiFLIM: single-image frequency-domain FLIM provides fast and photon-efficient lifetime data（siFLIM:单图像频域FLIM提供快速和光子效率的寿命数据）Single Cell FRET Analysis for the Identification of Optimal FRET-Pairs in Bacillus subtilis Using a Prototype MEM-FLIM System（利用原型MEM-FLIM系统进行枯草芽孢杆菌中蕞优FRET对的单细胞FRET分析）荧光寿命成像相机TOGGEL规格指标：更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密、先进激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

荧光寿命成像FLIM入门套件昊量光电新推出的荧光寿命成像FLIM入门套件代表了一个完整的仪器解决方案，专门为追求单光子FLIM成像和荧光寿命光谱应用而设计。 荧光寿命成像FLIM入门套件核心参数：-蕞小可分辨荧光寿命50ps-激光波长:405、445、488、520、635和850nm或其-脉冲持续时间降至50ps (FWHM)- FC/PC光纤耦合单光子SPAD探测器，具有7 cps暗计数和 200ps时间抖动- SPAD传感器光谱响应从370nm到900nm，峰值灵敏度在450nm-可定制的基于FPGA的技术多达25个荧光输入通道-即插即用的USB 3.0 SuperSpeed micro-B PC接口-包括成像和光谱软件 荧光寿命成像FLIM入门套件组成模块：荧光寿命成像FLIM数据采集卡tdc我们的紧凑型，便携式，USB驱动的数据采集卡专为荧光寿命成像和光谱测量而设计。便携式和即插即用基于FPGA的可定制技术尺寸101 x139x28mmUSB供电重量轻(仅120克)USB 3.0超高速接口蕞小可分辨荧光寿命50ps蕞小时仓宽度为24或48ps定时精度(σ/√2)300ps失效时间1.5ns蕞小像素停留时间1µ s 光纤耦合皮秒脉冲激光器模块我们的单模光纤耦合皮秒脉冲激光模块可以在各种波长提供低至50ps的短光脉冲，峰值功率高达150mW。激光二极管增益开关技术可选波长:405、445、488、520、635和850nm尺寸135×110×50 mm独立模块，无需计算机连接FC/PC光纤耦合激光二极管 SPAD单光子探测器我们的USB供电的光纤耦合单光子SPAD探测器是专门为时间分辨荧光寿命成像和光谱测量而设计的。由于其便携和轻便的大小，它允许没有先例的时间标记。单光子雪崩二极管技术USB供电，便携式尺寸100 x60x30mmTE-cooled传感器FC/PC光纤耦合探测器器 荧光寿命成像FLIM软件FLIM软件旨在简化荧光寿命光谱和成像实验的数据采集、重建和分析。该环境提供了一个用户友好的界面和任何用户都可以使用的直观工具。实时成像和荧光衰减直方图数据重建实时FLIM相量图分析人工智能驱动的相量图分析技术用于数据采集和重构的软件API (Rust, C, c++， c#， Python, node.js， .NET)MATLAB, Python, HDF5， .SVG flim相量和成像数据导出云数据存储支持平台:Windows、Linux 更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

仪器简介：HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）荧光光谱仪器可提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。在细胞科学、生物物理和材料科学领域，重要变化经常会发生在时间和空间的微小尺度里。时间分辨荧光显微镜是研究细胞结构和纳米材料领域中动态事件的有效工具。与传统的荧光强度成像（由荧光显微镜获得）不同，荧光寿命是荧光基团的一个内在特性，因此它的测量不受非均匀负载，光漂白，激发光不稳定和光散射的影响。更重要地是时间分辨测试通过辨别显微点在样品中的位置获得更多关于分子运动、尺寸、所处环境、相互作用和键合的信息。借助于共聚焦显微镜的力量，可以得到清晰的样品成像、测定细胞内的局部作用和细胞结构的动力学。HORIBA科学仪器部推出的DynaMyc是基于滤光片式，全自动共焦显微镜系统，可在微观尺寸下测试荧光寿命和强度。DynaMyc采用高灵敏度的时间相关单光子计数（TCSPC）技术，荧光寿命范围100ps~100&mu s。整机包括：模块光学部件和Olympus BX51显微镜。它的成像部分包含X,Y,Z自动快速扫描平台，以及共聚焦设计，可在微米级的空间分辨率条件下实现荧光寿命成像。DynaMyc是一款灵活的研究工具，针对您的不同应用需求，可选多种波长的皮秒脉冲激光二极管光源，涵盖较宽的光谱范围（270~980nm），宽重复频率可调（CW~100MHz），多种滤光片以及不同检测器可选。可配置高动态范围、低噪声、制冷型照相机和高强度荧光照明，获得宽场荧光成像。DynaMyc由DataStation软件交互控制的一款全自动系统。基于去卷积分析后，可以生成各种参数的成像图，例如，寿命，相对振幅，平均寿命和荧光强度。DynaMyc是研究蛋白动态结合或解离及FRET的理想工具。可选附件：l 物镜（60/100X可选）l 皮秒脉冲激光二极管光源（多种波长可选）l 制冷型荧光相机技术参数：l 样平台：分辨率0.5µ m，行程范围75 x 50 mml 时间相关单光子计数（TCSPC）技术，寿命范围100ps~10&mu sl 光谱检测范围：185-650 nm/300-850 nm（TBX快速检测器）l 可配置DeltaDiode 100MHz高频率激光器，连续输出CW可选l 单点、多点和荧光寿命成像三种数据采集模式l 专业DAS6寿命分析软件能够快速数据分析l 可实现宽场荧光成像（制冷型荧光相机可选） 主要特点：l 时间相关单光子计数（TCSPC）技术，寿命范围100ps~10&mu sl 全自动紧凑光学寿命模块，可自动切换滤光片，二向色滤光片和针孔l 光纤耦合不同激光二极管（370~980nm）l 共焦头单元可自动切换针孔（100~1000&mu m）l 激光二极管（DeltaDiode），高重复频率可调（~100MHz），CW或脉冲模式可调l 直观的数据采集和分析软件l 宽场荧光成像（制冷型荧光照相机可选）

荧光和荧光寿命分子包含多个单能态S0、S1、S2…和三重态T1…，每个能态都包含多个精细的能级。正常情况下，大部分电子处在*低能态即基态S0 的*低能级上，当分子被光束照射，会吸收光子能量，电子被激发到更高的能态S1 或S2 上，在S2 能态上的电子只能存在很短暂的时间，便会通过内转换过程跃迁到S1 上，而S1 能态上的电子亦会在极短时间内跃迁到S1 的*低能级上，而这些电子会存在一段时间后通过震荡弛豫辐射跃迁到基态，这个过程会释放一个光子，即荧光。此外，亦会有电子跃迁至三重态T1 上，再由T1 跃迁至基态，我们称之为磷光。荧光特性研究荧光特性时，主要在以下几方面进行分析：激发光谱，发射光谱、荧光强度、偏振荧光、荧光发光量子产率、荧光寿命等。其中荧光寿命（Fluorescence Lifetime）是指荧光分子在激发态上存在的平均时间（纳秒量级）。荧光寿命测试荧光寿命一般在几纳秒至几百纳秒之间，如今主要有两类测试方法：时域测量和频域测量时间稳定性实验测试曲线：1 时域测量由一束窄脉冲将荧光分子激发至较高能态S1，接着测量荧光的发射几率随时间的变化。其中目前广泛应用的是时间相关单光子计数，即TCSPC(Time Correlated Single Photon Counting)时间相关单光子计数(TCSPC) 实现了从百ps-ns-us 的瞬态测试，此方法对数据的获取完全依赖快速探测器和高速电路。用统计的方法计算样品受激后发出的*一个( 也是唯一的一个) 光子与激发光之间的时间差，也就是下图的START( 激发时刻) 与STOP( 发光时刻) 的时间差。由于对于Stop 信号的要求，所以TCSPC 一般需要高重复频率的光源作为激发源，其重复至少要在100KHz 以上，多数的光源都会达到MHz 量级；同时，在一般情况下还要对Stop 信号做数量上的控制，做到尽量满足在一个激发周期内，样品产生且只产生一个光子的有效荧光信号，避免光子对的出现。2 频域测量对连续激发光进行振幅调制后，分子发出的荧光强度也会受到振幅调制，两个调制信号之间存在与荧光寿命相关的相位差，因此可以测量该相位差计算荧光寿命。 左图为正弦调制激发光（绿色）频域显示，发射光信号（红色）相应的相位变化频域显示。右图为对应不同寿命的调制和相位的频域显示。TM- 调制寿命，TP- 相位寿命。[1]显微荧光寿命成像技术（FLIM）显微荧光寿命成像技术（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，FLIM）是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术，由于其不受样品浓度影响，具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能，目前在生物医学工程、光电半导体材料等领域是一种重要的表征测量手段。FLIM 一般分为宽场FLIM 和激光扫描FLIM。宽场FLIM（Wide Field FLIM,WFM）该技术是用平行光照明并由物镜聚焦样品获得荧光信号，再由一宽场相机采集荧光成像。宽场FLIM 常用于快速获取大面积样品成像。时域或是频域寿命采集都可以应用在宽场成像FLIM 上。宽场FLIM 有更高帧率和低损伤的优势。2 激光扫描FLIM（Laser Scanning FLIM,LSM）激光扫描FLIM 是针对选定区域内的样品逐点获取其荧光衰减曲线，再经过拟合*终合成荧光寿命图像。相比宽场FLIM，其在空间分辨率、信噪比方面有更大的优势。扫描方式有两种：一种是固定样品，移动激光进行扫描，一种是固定激光，电动位移台带动样品移动进行扫描。FLIM 应用材料科学领域宽禁带半导体如GaN、SiC 等体系的少子寿命mapping 测量量子点如CdSe@ZnS 等用作荧光寿命成像显微镜探针钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测铜铟镓硒CIGS，铜锌锡硫CZTS 薄膜太阳能电池的组分、缺陷检测镧系上转换纳米颗粒GaAs 或GaAsP 量子阱的载流子扩散研究生命科学领域细胞体自身荧光寿命分析自身荧光相对荧光标记的有效区分活细胞内水介质的PH 值测量局部氧气浓度测量具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分活细胞内钙浓度测量时间分辨共振能量转移（FRET）：纳米级尺度上的远差测量，环境敏感的FRET 探针定量测量代谢成像：NAD(P)H 和FAD 胞质体的荧光寿命成像OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统应用案例1 用荧光分子对海拉细胞进行染色用荧光分子转子Bodipy-C12 对海拉细胞（宫颈癌细胞的一种） 进行染色。(a) 显微荧光寿命成像图，寿命范围1ns（蓝色）到2.5ns（红色）；(b) 荧光寿命直方图，脂肪滴的短寿命约在1.6ns 附近，细胞中其他位置寿命较长，在1.8ns 附近。用荧光分子转子的时间分辨测量*大的好处在于荧光寿命具备足够清晰的标签特性，且与荧光团的浓度无关。[2]2 金属修饰荧光金属修饰荧光：(a) 荧光寿命是荧光团到金表面距离的函数；(b) 用绿色荧光蛋白（GFP）标记乳腺腺癌细胞的细胞膜的共聚焦xz 横截面，垂直比例尺：5 m；(c) b 图的FLIM 图，金表面附近的GFP 荧光寿命缩短。[2]3 钙钛矿太阳能电池下图研究中，展示了一种动态热风（DHA）制备工艺来控制全无机PSC 的薄膜形态和稳定性，该工艺不含有常规的有害反溶剂，可以在大气环境中制备。同时，钙钛矿掺有钡（Ba2+） 碱金属离子（BaI2:CsPbI2Br）。这种DHA 方法有助于形成均匀的晶粒并控制结晶，从而形成稳定的全无机PSC。从而在环境条件下形成完整的黑色相。经过DHA处理的钙钛矿光伏器件，在0.09cm小面积下，效率为14.85%，在1x1cm的大面积下，具有13.78%的*高效率。DHA方法制备的器件在300h后仍然保持初始效率的92%。4 MQWs 多量子阱研究在(a) 蓝宝石和(b) GaN 上生长的MQWs 的共焦PL mapping 图像。具有较小尺寸的发光团的*高密度是观察到在GaN 上生长的MQWs。在(c) 蓝宝石和(d)GaN 上生长的MQWs 的共焦TRPL mapping 图。仅对于在GaN 上生长的MQWs，强的PL 强度区域与较长PL 衰减时间的区域很好地匹配。在(e) 蓝宝石和(f)GaN 上生长的MQWs 在A 点和B 点测量的局部PL 衰减曲线，均标记在图中。对于在GaN 上生长的MQWs，点A 和B 之间的PL 衰减时间差更高。OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统参数配置北京卓立汉光仪器有限公司提供的显微荧光寿命成像系统是基于显微和时间相关单光子计数技术，配合高精度位移台得到微观样品表面各空间分布点的荧光衰减曲线，再经过用数据拟合，得到样品表面发光寿命表征的影像。是光电半导体材料、荧光标记常用荧光分子等类似荧光寿命大多分布在纳秒、几十、几百纳秒尺度的物质的不二选择。参数指标：系统性能指标光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器空间分辨率≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器荧光寿命检测IRF≤2ns配置参数激发源及匹配光谱范围（光源参数基于50MHz 重复频率）375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW，荧光波段：400-850nm405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW，荧光波段：430-920nm450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW，荧光波段：485-950nm488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW，荧光波段：500-950nm510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW，荧光波段：535-950nm635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW，荧光波段：670-950nm660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW，荧光波段：690-950nm670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW，荧光波段：700-950nm科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度：＜ 1μm光谱仪320mm 焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD 出口，配置三块68×68mm 大面积光栅，波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD（可扩展PLmapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm, 探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器（TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps……33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统 FLIM 软件界面控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。自主开发的一套时间相关单光子计数（TCSPC）荧光寿命的拟合算法，可对荧光衰减曲线中*多包含4 个时间组分的荧光过程进行拟合，获得每个组分的荧光寿命，光子数比例，计算评价函数和残差。TCSPC 荧光寿命通常并非简单的指数衰减过程，而是与光源及探测器相关的仪器响应函数（IRF）与荧光衰减过程相互卷积的结果，因此适当的拟合方法和参数选择对获得正确可靠的荧光寿命非常重要。该软件可导入实际测量的IRF 对衰减曲线进行卷积计算和拟合。但是大多数情况下， IRF 很难正确的从实验获得，针对这种情况，软件提供了两种无需实验获取IRF 的拟合方法：NO.1 通过算法对数据上升沿进行拟合，获得时间响应函数IRF，然后对整条衰减曲线进行卷积计算和拟合得到荧光寿命。NO.2对于衰减时间远长于仪器响应时间的，可对衰减曲线下降沿进行直接的指数拟合。该软件经过大量测试，可以很好的满足各种场合的用户需求。MicroLED 微盘的荧光强度像（3D 显示）：测试案例

清晰的对比，即时产生寿命成像STELLARIS 8 FALCON（FAst Lifetime CONtrast，快速寿命对比）是功能成像的未来发展方向。 利用荧光寿命成像的强大性能来研究细胞生理学并探索活细胞动力学。 STELLARIS 8 FALCON 是一款完全整合的荧光寿命成像 (FLIM) 解决方案，以视频速率进行荧光寿命成像来研究活细胞的快速动力学。STELLARIS 8 FALCON 为您的成像增加了一个新的对比维度，实现生物传感以及跟踪蛋白质之间的相互作用。 现在，荧光寿命成像信息可用于STELLARIS 8 系统的所有模块。您现在可以： 通过 FLIM-FRET（荧光共振能量转移）跟踪分子间的快速相互作用。 使用生物传感器检测代谢状态和微环境的变化 通过寿命对比区分多个荧光团 经过简单的培训即可获得荧光寿命成像数据HeLa 细胞中的笼锁cAMP（环磷酸腺苷），表达 EPAC mT2-dVenus FRET 传感器。 EPAC对紫外线介导的cAMP（环磷酸腺苷）解笼锁的反应（中心区域）。 视频采集速度4帧/秒。 图像大小： 256 x256 像素。 颜色条的尺度（寿命）：ns。 由荷兰阿姆斯特丹癌症研究所的Kees Jalink和Bram van den Broek提供。通过 FLIM-FRET 跟踪分子间相互作用现代科研工作研究分子间如何进行相互作用来完成重要任务。 FLIM-FRET 是探索这种相互作用的金标准。STELLARIS 8 FALCON 为 FLIM 仪器设定了新的速度标准。它能在高度动态的细胞事件中完成荧光共振能量转移 (FRET)实验。 您可以在日常实验中采集和分析 FRET 数据。用凝血酶活化肽刺激后的钙振荡。 单个细胞中的响应被记录为寿命变化。 视频以4 pfs速率拍摄。 图像大小： 256 x 256个像素。 颜色条的尺度（寿命）：ns。 由荷兰阿姆斯特丹癌症研究所的Kees Jalink和Bram van den Broek提供。用生物传感器监测细微而快速的变化生物传感器是代谢活动、信号传导机制、酸碱度和微环境变化的强大报告元件。STELLARIS 8 FALCON 可提供荧光寿命中包含的信息，即使在膜电位动力学这类高速事件中也不例外。 这些信息是 STELLARIS 8 系统提供的光谱荧光强度成像和TauSense模式的有力补充。非生理条件下哺乳动物细胞的自发荧光 （酸碱度为 8.5）。 信号与内源性 NAD/NADH 的变化相关。 氧化应激的发展表现为荧光寿命随时间缩短。 原始图像大小： 512 x 512 像素。 颜色条的尺度（寿命）：ns。更可靠、更灵敏的代谢成像自发荧光 在传统成像中可能是一个问题。 STELLARIS 8 FALCON 可将其转化为有价值的信息。 您现在可以将自发荧光转化为代谢状态、细胞分化和癌症发展的报告元件。此外，STELLARIS 8 FALCON 能够对活组织进行成像对比，而荧光标记通常是非特异性的，或者会破坏生理条件。超越光谱选项的荧光基团分离荧光标记是区分细胞内结构的标准方法。 光谱分离方法非常强大，但有时当发射光谱太接近时，这个方法就会受到限制。使用 STELLARIS 8 FALCON，您可以充分利用荧光寿命成像的潜力，使用指数拟合、谱图拟合和新的 FLIM 相量分离分析功能来分离多个荧光探针。交互式图像： 通过寿命对比加以区分的细胞骨架结构。 波形蛋白用Alexa Fluor 555（绿色）免疫标记，微管蛋白用Alexa Fluor 546（蓝色）免疫标记。 荧光基团的光谱非常相似，但它们可通过荧光寿命信息区分。 图像大小： 512 x 512 像素。含有Alexa Fluor 555（绿色）溶液中的荧光珠（品红色）单通道图像。 基于荧光寿命的荧光基团分离可以在不同的速度下进行，例如 16帧/秒（上）、27帧/秒（视频速率，中）和 83帧/秒（超快，下）。 通过寿命信息进行染料分离明显比强度信息（灰度）更有优势。 视频展示了寿命组分的逐像素拟合。 帧大小： 512 x 64 像素。 比例尺： 10微米。使用 STELLARIS 8 FALCON 进行快速寿命成像STELLARIS 8 FALCON 显微镜克服了FLIM的速度限制，可快速提供寿命数据。到目前为止，由于FLIM的技术限制，从快速过程的荧光寿命数据中获取功能信息仍有很大难度。 FLIM采集速度比记录共聚焦强度至少慢10倍。使用 STELLARIS 8 FALCON 快速荧光寿命对比成像， 您能够以适当的速度跟踪细胞的动态过程。 这是因为采用了一种新的时间测量方法，即采用 TCSPC（时间相关单光子计数）技术和智能的数据处理和分析算法。轻松采集复杂样本。 高分辨率小鼠胚胎成像，由包含1.9亿像素的722张图像拼接而成。 通过四个特有荧光寿命拟合的FLIM数据，彩色编码。 采集时间： 1小时23分。 分析时间： 1小时一体化的多模态成像STELLARIS 8 FALCON 使 FLIM 与其他模态的结合变得十分简单。 一直以来，研究人员都不得不处理复杂的布线和繁琐的文件传输工作。 使用 STELLARIS 8 FALCON，您可以将寿命信息整合到标准的共聚焦工作流程中。STELLARIS 8 FALCON 可完全整合到 LAS X 采集与分析软件中。 它既可以同时记录4个光谱通道，又可先后记录多达10个通道的荧光寿命成像。 使用 STELLARIS 8 FALCON，您能够在 3D 层扫、延时序列乃至大型拼接成像方式中获得荧光寿命信息。使用 LAS X NAVIGATOR，您可以将观察区域扩大10,000 倍，更快地识别感兴趣的区域，以全新的方式研究样本。Alexa555-鬼笔环肽和 H2B-mCherry 标记的细胞。 使用 FLIM phasors 执行组分离。 相量图清晰地显示了两种寿命分布。 样本提供方： 德国康斯坦茨大学生物系 Martin Stö ckl 博士。通过相量简单确定寿命使用 STELLARIS 8 FALCON 的 FLIM 相量图进行分析，可显示寿命分量的 2D 图。 通过 FLIM 相量分析，您可以跟踪微环境变化，选择多路信号的组分来确定 FRET 效率。一键式设计，让您能够专注于科学研究： 由 LAS X 软件控制的 STELLARIS 8 FALCON只需点击一下即可获得您需要的结果使用 LAS X 软件，只需点击一下即可获得荧光寿命成像，方法与常规光谱成像相同。即使您将显微镜当作一种辅助技术，您也可以找到重要的内容，并立即开始成像。更专业的功能可作为工作流程提供，为您实现方便的自动化工作。

激光扫描共聚焦显微镜（LSM）是生物化学，细胞生物学和其他相关生命科学领域中广泛使用的工具。 通过使用时间分辨技术，可以进一步增强这些显微镜的功能，并具有以下优点：基于荧光寿命的荧光共振能量转移(FRET)效率量化测量利用时间分辨成像测量环境参数(pH,离子浓度)寿命测量与荧光团浓度无关利用荧光寿命拆分发射光谱重叠的荧光分子减少所需检测器的数量——一个检测器足以根据不同荧光团的特定寿命通过模式匹配同时检测不同荧光团用荧光寿命区分荧光对弹性和拉曼散射及其他背景噪声造成的影响荧光寿命作为一个进一步的参数提高了分析测量的准确性该升级套件作为激光扫描显微镜升级部件，在增强了功能性的基础上，更使整个系统简单易用。作为交钥匙系统，它主要包含三个单元:皮秒脉冲激发源，单分子灵敏度检测器，以及时间相关单光子计数(TCSPC)模块。特点：FLIM, FRET, FCS的交钥匙系统紧凑、易用、免维护的组件，所有的升级系统各个配置都高度模块化，具有无限的灵活性最大4通道独立探测模块的高灵敏系统荧光寿命探测范围从100ps到微秒级别高端易用、匹配多种分析方式的数据收集和分析软件可用于各向异性和厚组织FLIM新功能：rapidFLIMHiRes——利用超快FLIM成像和出色的5 ps时间分辨率实现动态过程可视化应用：时间分辨荧光rapidFLIM - 重新定义动态FLIM成像标准荧光寿命成像（FLIM）磷光寿命成像（PLIM）荧光相关光谱（FCS）荧光寿命相关光谱（FLCS）荧光互相关光谱（FCCS）荧光共振能量转移（FRET）脉冲交替激发（PIE）激光切割/烧蚀模式匹配分析时间分辨光致发光（TRPL）TRPL 成像反聚束效应各向异性参数：激发系统激光耦合台，基于皮秒脉冲半导体激光器(功率/重复频率可调, 最大80MHz)375-900nm波长范围支持单通道或者多通道驱动可选：支持外接第三方激光器 (如钛蓝宝石飞秒激光器和超连续谱激光器)新品：采用LDH-D-TA-560的560 nm皮秒脉冲激发支持显微镜的厂家型号Nikon：AX，A1, C2+, C2, C1siOlympus: FluoView FV3000, FVMPE-RS, FluoView FV1200 (MPE), FluoView FV1000 (MPE)Scientifica：VivoScope, HyperScopeZeiss：LSM 980, LSM 880, LSM 780, LSM 710探测方式最多可支持4通道相互独立的探测模块共聚焦和NDD配置通过光纤与显微镜连接探测器单光子雪崩二极管(SPAD) 混合型光电倍增管(Hybrid-PMT) 光电倍增管(PMT)数据采集方式基于时间相关单光子计数(TCSPC)的TTTR测量模式 多达四个通道的同时数据采集采集和软件SymPhoTime 64支持显微镜的厂家型号：AX，A1，C2+, C2，C1siFluoView FV3000FVMPE-RSFluoView FV1200 (MPE)FluoView FV1000 (MPE)HyperScopeVivoScopeLSM 980LSM 880LSM 780LSM 710

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标 系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

DeltaHub——DeltaFlex的关键部件 超短的死时间（10ns）：配合高重复频率的激光光源和高速检测器，可实现无损失的光子计数，达到快速采集数据和准确的分析结果。 超快寿命测试技术：真正实现了荧光寿命动力学测试，采集时间低至1ms（全球同类产品中 快），支持1ms-10,000min无间断寿命动态监测。新型脉冲半导体光源 DeltaFlex配置新型脉冲半导体光源作为荧光和磷光的激发光源（四大类型，百种可选），即插即用，无需校准，而且终身免维护。 其中DeltaDiode光源的重复频率可达100MHz，是超快寿命测试的 选择光源，同时可配置用于磷光测定的SpectraLED光源。与氙闪灯相比，SpectraLED具有265-1275nm宽波长的覆盖范围，以及实用方便、测试速度更快和信号无拖尾的优点。科研级模块化设计 在DeltaFlex系统上无需更换控制器和检测器，即可实现11个数量级（25ps-1s）范围内的荧光寿命测试。系统采用科研级模块化设计，配合全新的F-Link技术，可自动识别各类部件，软件直接接入、附件即插即用，能够无限满足升级需求。尤其是其中采用了行业优先的寿命拟合软件，没有费用开放数十种主流专业拟合功能，可单独于仪器操作。 多种光谱仪可选，配合像差校正光栅，覆盖200-1600nm宽光谱范围，完美实现时间分辨发射谱功能，支持100条发射波长动态连续监测，软件自动获得衰减相关光谱参数。 荧光寿命技术是科研中强有力的工具，可广阔用于物理、化学、材料、信息、生物和医学等领域。主要应用：FRET(Forster共振能量转移)Stern-Volmer猝灭稀土发光时间分辨和磷光各向异性分子互作，蛋白结构变化太阳能材料单线态氧测试光物理技术参数：基于滤光片或单色仪实现波长选择皮秒超快集成化PPD光子检测模块（标配）可升级NIR检测器（~1700nm）综合分析受命拟合软件，开放数十种拟合功能标准液体样品架，加载温度传感器和搅拌装置大尺寸样品仓，配置高效UV级光学部件F-Link即插即用型交互界面主要特点：超宽寿命测试范围25ps-1s 超快测试时间（低至1ms），完美实现动态反应分析超微量样品测试，低至1μL综合分析软件，5指数寿命拟合高稳定性设计，使用维护简单高度自动化，一键测量分析大尺寸样品仓设计，强劲的附件兼容能力高性能荧光、磷光寿命测试功能

仪器简介： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。 荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒，或更长的寿命范围。 HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计，可按应用需求定制光谱仪。 Fluorocube将新的迷你化光源和检测技术与成熟的TCSPC电子系统，及自动化操作结合起来，提供灵活和界面友好的光子计数寿命系统。 可选附件 激发/发射单色仪：Seya-Namioka型，波长可调（200~800 nm），与样品仓盖之间集成安全锁，同步手动调节狭缝宽度（1~32nm） 四位光束控制反射镜（可选） 偏振器 红外扩展 PPD 模块 (例如PPD-850C 或 PPD-900C) NIR检测器（~1700nm） 固体样品支架 低温附件 低荧光背景滤光片 技术参数： 寿命范围从皮秒至秒 基于滤光片实现波长选择(可选激发/发射单色仪) 外循环液体控温样品架 PPD 光子检测模块（标配） 检测器范围185nm-650nm，可升级至850nm（与样品仓盖之间配有安全锁） Fluorocub计时电子装置，皮秒到秒寿命范围（依赖于激发光源） 综合分析软件 可选偏振器测量自旋相关时间 NanoLED和SpectraLED二管激发光源覆盖全波长范围主要特点： 灵敏度高：单光子计数技术 准确性好：计时电路无需校正 灵活性强：可选多种光源，寿命响应范围宽 模块化：可以根据需要定制模块配件 方便性：全电脑控制，易于操作 Fluorocube产品系列： FluoroCube NL：滤光片分光系统及二管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 FluoroCube-01-NL：发射单色器及二管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 FluoroCube-11-NL：带有激发/发射单色器和二管激发的寿命体系 FluoroCube-10-CF：激发单色器（滤光片检测通道）和闪光灯激发的寿命系统 FluoroCube-11-CF：激发/发射单色器和闪光灯激发（5000U）的寿命系统 PhosphoCube-10-XF：激发单色器（滤光片检测通道）和微妙氙灯闪光灯激发的磷光寿命系统 PhosphoCube-11-XF：激发/发射单色器和微秒氙灯激发的磷光寿命系统注：具体配置、价格请咨询当地销售工程师

昊量光电新推出紧凑型，USB驱动的便携式FLIM荧光寿命测量TDC，专为荧光寿命成像和光谱测量而设计。它的尺寸小重量轻，允许极大的便携性，可以通过USB供电连接使其能够在便携式设置甚至户外使用。TDC卡上的I/O设计是可定制的，一些通道可以配置为荧光采样或成像重建信号，如像素，线和帧时钟。此外，信道可用于与其他正在使用的设备同步数据采集，如声光偏转器，压电位移台和其他一般实验室设备。此FLIM荧光寿命测量TDC还提供强大的数据重建和分析软件。 l 便携式FLIM荧光寿命测量TDC主要技术指标：l 300 ps单发精度(σ/√2)l 24或48 ps的蕞小时间bin分辨率l 1.5 ns死区l 80MHz蕞大激光同步速率l 0.5% RMS微分非线性l 传输速率高达100 M计数/秒l 每个输入通道的峰值计数率高达640 Mcounts/sl 26个通道l 11 SMA单端输入LVTTL 50Ohml 1 SMA激光触发(同步)LVTTL 50Ohm信号l 1 SMA激光触发输出(同步输出)LVTTL 50Ohm用于调制外部脉冲激光源l 13 USB-C LVDS输入/输出可配置 紧凑便携，USB供电 荧光寿命成像与光谱，同步各类外围仪器便携式FLIM荧光寿命测量TDC软件特点：l 实时成像和荧光衰减直方图数据重建l 实时FLIM相量图分析l 人工智能驱动的相量图分析技术l 用于数据采集和重构的软件API (Rust, C, c++， c#， Python, node.js， .NET)l MATLAB, Python, HDF5， .SVG flim相量和成像数据导出l 云数据存储l 通过社交媒体，即时消息，聊天和电子邮件分享结果l 支持平台:Windows、Linux 便携式FLIM荧光寿命测量TDC主要应用：荧光寿命成像——相量分析法当引入相量分析方法时，可以很容易地处理FLIM图像中包含的信息。这种方法允许寿命分布的图形表示(相量图)，使FLIM图像更快地读取。事实上，FLIM相量图的解释很简单，FLIM与相量的组合使研究人员能够轻松地在同一样本中分离不同的寿命种群。荧光相关光谱（FCS）荧光相关光谱(FCS)是一种研究和定量分子动力学的技术。顾名思义，FCS是基于荧光分子在观测量内外扩散时荧光波动的时间相关性分析。它被认为是一种单分子技术，因为荧光分子在探测体积内外的连续波动可以用来确定样品中一个或几个物种的单个性质。荧光共振能量转移（FRET）近红外光谱（NIRS） 此外，我们还提供匹配的单光子探测器，皮秒半导体激光器，CFD等系统基础组件更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps……33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

荧光寿命/瞬态吸收分析系统 欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息！产品目录：紧凑型荧光寿命测量仪Quantaurus-Tau 紧凑单盒型荧光寿命测量系统用于操作简单而高精度地测量荧光寿命和光致发光谱。皮秒荧光寿命测量系统 采用二维光子计数法来测量多光谱荧光寿命的高灵敏度和高时间分辨率（5 ps）荧光寿命测量系统。近红外荧光寿命测量系统 具有亚纳秒到皮秒的时间分辨率的近红外（650—1700 nm）荧光寿命测量系统。紧凑型近红外光致发光寿命测量仪 紧凑型近红外光致发光寿命测量仪是专门为测量近红外波段（580—1400 nm）光致发光谱（PL Spectrum）和光致发光寿命（PL Life）而设计的。

清晰的对比即时产生寿命成像 STELLARIS 8 FALCON STELLARIS 8 FALCON（FAst Lifetime CONtrast，快速寿命对比）是功能成像的未来发展方向。 利用荧光寿命成像的强大性能来研究细胞生理学并探索活细胞动力学。 STELLARIS 8 FALCON 是一款完全整合的荧光寿命成像 (FLIM) 解决方案，以视频速率进行荧光寿命成像来研究活细胞的快速动力学。STELLARIS 8 FALCON 为您的成像增加了一个新的对比维度，实现生物传感以及跟踪蛋白质之间的相互作用。 现在，荧光寿命成像信息可用于STELLARIS 8 系统的所有模块。您现在可以： 通过 FLIM-FRET（荧光共振能量转移）跟踪分子间的快速相互作用。 使用生物传感器检测代谢状态和微环境的变化 通过寿命对比区分多个荧光团 经过简单的培训即可获得荧光寿命成像数据猫眼组织切片。 同时进行的光谱（灰色）和 FLIM（彩色）共聚焦成像显示了寿命对比情况。 使用 STELLARIS 8 FALCON 和 LAS X 软件采集和显示。通过 FLIM-FRET 跟踪分子间相互作用现代科研工作研究分子间如何进行相互作用来完成重要任务。 FLIM-FRET 是探索这种相互作用的金标准。STELLARIS 8 FALCON 为 FLIM 仪器设定了新的速度标准它能在高度动态的细胞事件中完成荧光共振能量转移 (FRET)实验。 您可以在日常实验中采集和分析 FRET 数据。HeLa 细胞中的笼锁cAMP（环磷酸腺苷），表达 EPAC mT2-dVenus FRET 传感器。 EPAC对紫外线介导的cAMP（环磷酸腺苷）解笼锁的反应（中心区域）。 视频采集速度4帧/秒。 图像大小： 256 x256 像素。 颜色条的尺度（寿命）：ns。 由荷兰阿姆斯特丹癌症研究所的Kees Jalink和Bram van den Broek提供。用生物传感器监测细微而快速的变化生物传感器是代谢活动、信号传导机制、酸碱度和微环境变化的强大报告元件。STELLARIS 8 FALCON 可提供荧光寿命中包含的信息，即使在膜电位动力学这类高速事件中也不例外。 这些信息是 STELLARIS 8 系统提供的光谱荧光强度成像和TauSense模式的有力补充。用凝血酶活化肽刺激后的钙振荡。 单个细胞中的响应被记录为寿命变化。 视频以4 pfs速率拍摄。 图像大小： 256 x 256个像素。 颜色条的尺度（寿命）：ns。 由荷兰阿姆斯特丹癌症研究所的Kees Jalink和Bram van den Broek提供。 更可靠、更灵敏的代谢成像自发荧光 在传统成像中可能是一个问题。 STELLARIS 8 FALCON 可将其转化为有价值的信息。 您现在可以将自发荧光转化为代谢状态、细胞分化和癌症发展的报告元件。此外，STELLARIS 8 FALCON 能够对活组织进行成像对比，而荧光标记通常是非特异性的，或者会破坏生理条件。非生理条件下哺乳动物细胞的自发荧光 （酸碱度为 8.5）。 信号与内源性 NAD/NADH 的变化相关。 氧化应激的发展表现为荧光寿命随时间缩短。 原始图像大小： 512 x 512 像素。 颜色条的尺度（寿命）：ns。超越光谱选项的荧光基团分离荧光标记是区分细胞内结构的标准方法。 光谱分离方法非常强大，但有时当发射光谱太接近时，这个方法就会受到限制。使用 STELLARIS 8 FALCON，您可以充分利用荧光寿命成像的潜力，使用指数拟合、谱图拟合和新的 FLIM 相量分离分析功能来分离多个荧光探针。交互式图像： 通过寿命对比加以区分的细胞骨架结构。 波形蛋白用Alexa Fluor 555（绿色）免疫标记，微管蛋白用Alexa Fluor 546（蓝色）免疫标记。 荧光基团的光谱非常相似，但它们可通过荧光寿命信息区分。 图像大小： 512 x 512 像素。使用 STELLARIS 8 FALCON 进行快速寿命成像STELLARIS 8 FALCON 显微镜克服了FLIM的速度限制，可快速提供寿命数据。使用 STELLARIS 8 FALCON 快速荧光寿命对比成像， 您能够以适当的速度跟踪细胞的动态过程。 这是因为采用了一种新的时间测量方法，即采用 TCSPC（时间相关单光子计数）技术和智能的数据处理和分析算法。STELLARIS 8 FALCON 可完全整合到 LAS X 采集与分析软件中。 它既可以同时记录4个光谱通道，又可先后记录多达10个通道的荧光寿命成像。 使用 STELLARIS 8 FALCON，您能够在 3D 层扫、延时序列乃至大型拼接成像方式中获得荧光寿命信息。一体化的多模态成像STELLARIS 8 FALCON 使 FLIM 与其他模态的结合变得十分简单。 一直以来，研究人员都不得不处理复杂的布线和繁琐的文件传输工作。 使用 STELLARIS 8 FALCON，您可以将寿命信息整合到标准的共聚焦工作流程中。使用 LAS X NAVIGATOR，您可以将观察区域扩大10,000 倍，更快地识别感兴趣的区域，以全新的方式研究样本。轻松采集复杂样本。 高分辨率小鼠胚胎成像，由包含1.9亿像素的722张图像拼接而成。 通过四个特有荧光寿命拟合的FLIM数据，彩色编码。 采集时间： 1小时23分。 分析时间： 1小时通过相量简单确定寿命使用 STELLARIS 8 FALCON 的 FLIM 相量图进行分析，可显示寿命分量的 2D 图。 通过 FLIM 相量分析，您可以跟踪微环境变化，选择多路信号的组分来确定 FRET 效率。即使您将显微镜当作一种辅助技术，您也可以找到重要的内容，并立即开始成像。Alexa555-鬼笔环肽和 H2B-mCherry 标记的细胞。 使用 FLIM phasors 执行组分离。 相量图清晰地显示了两种寿命分布。 样本提供方： 德国康斯坦茨大学生物系 Martin St?ckl 博士。 只需点击一下即可获得您需要的结果使用 LAS X 软件，只需点击一下即可获得荧光寿命成像，方法与常规光谱成像相同。更专业的功能可作为工作流程提供，为您实现方便的自动化工作。一键式设计，让您能够专注于科学研究： 由 LAS X 软件控制的 STELLARIS 8 FALCON

功能：微区荧光寿命衰减曲线测量；微区PL谱激发光斑：＜1um；光学相机视场：小于0.5mm荧光寿命范围达：5ps--10s，最宽的测量区间 全集成的基于PC软件系统，确保数据质量；可选：1. 高脉冲激光光源；可选266-1030nm波长光源，可接入4个激光器；2. 可选配：液氮变温控制工作台；3. 可升级选配：自动工作台, 获得FLIM功能；4. 皮秒检测器（波长和冷冻可选）；5. 时间分辨率≤1ps；6. 时间抖动 jitter time ＜10ps；7. 计时速率＞65MHz/channel 8. 同时采集信号通道≥8 channel；9. 微区光谱波长范围：360-1100nm；10. 寿命采集波长范围：400-1050nm；（可选红外二区波段）11. 分光，可以选用扫描单色仪；也可以采用滤光片；推荐理由：深紫外和红外激发波长可兼顾；微区荧光寿命；荧光寿命动力学；TCSPC 时间相关单光子计数技术；Picosecond to millisecond TCSPC (time-correlated single-photon counting) for measuring fast fluorescence decays

荧光寿命测试仪（Quantaurus&mdash Tau）Quantaurus-Tau是一套测试ps至ms量级荧光寿命的系统。它的操作十分简单，只需将样品放入样品腔，在软件中输入几个测试条件即可很快得到荧光寿命及光致发光光谱。一般典型实验可在60秒内得到分析结果，最高时间分辨率可达30-50ps. 应用领域荧光寿命测试有着非常广的应用范围。典型应用包括研究有机金属化合物分子内或分子间的电荷运动机能量转移，以及在有机电子发光器件开发中材料的荧光及磷光寿命测试，荧光蛋白中的FRET（荧光共振能量转移）以及太阳能电池及LED行业中的半导体化合物的测试。参数特性利用单光子计数技术实现高灵敏度，高速度的测试时间分辨率优于50ps可以测试低温液体样品（-196℃）荧光各向异性时间分辨测试荧光至磷光寿命测试集成化设计，简便化操作，性能稳定产品原理从有机材料或荧光探针中得到的荧光光谱（峰值波长及荧光强度等）是控制和评估材料的功能及特性的重要参数。然而，荧光光谱通常显示的是时间积分的结果，因此，当材料包含多种物质及活性元素时，这些物质及元素的荧光光谱只能以累积的形式表现出来。在这种情况下进行分析的一个有效手段是通过使用时间轴参数来观察发光的动态信息。这种方法通常也被称为荧光寿命测试，其中物质被脉冲光源激发并回到基态的过程可以在ps至ms的时间尺度内进行测试，这样甚至可以得到在相同波长及浓度下的多个不同的荧光寿命。

仪器简介： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）荧光光谱仪器可提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。 荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒，或更长的寿命范围。 HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计，可按应用需求定制光谱仪。 Fluorocube推出的迷你化光源和检测技术与成熟的TCSPC电子系统，及自动化操作结合起来，提供最灵活和界面友好的光子计数寿命系统。技术参数： &bull 寿命范围从皮秒至秒 &bull 基于滤光片实现波长选择(可选激发/发射单色仪) &bull 外循环液体控温样品架 &bull PPD 光子检测模块（标配） &bull 检测器范围185nm-650nm，可升级至850nm（与样品仓盖之间配有安全锁） &bull Fluorocub计时电子装置，皮秒到秒寿命范围（依赖于激发光源） &bull 综合分析软件 &bull 可选偏振器测量自旋相关时间 &bull NanoLED和SpectraLED二极管激发光源覆盖全波长范围主要特点： &bull 灵敏度高：单光子计数技术 &bull 准确性好：计时电路无需校正 &bull 灵活性强：可选多种光源，寿命响应范围宽 &bull 模块化：可以根据需要定制模块配件 &bull 方便性：全电脑控制，易于操作可选附件 &bull 激发/发射单色仪：Seya-Namioka型，波长可调（200~800 nm），与样品仓盖之间集成安全锁，同步手动调节狭缝宽度（1~32nm） &bull 四位光束控制反射镜（可选） &bull 偏振器 &bull 红外扩展 PPD 模块 (例如PPD-850C 或 PPD-900C) &bull NIR检测器（~1700nm） &bull 固体样品支架 &bull 低温附件 &bull 低荧光背景滤光片 Fluorocube产品系列： &bull FluoroCube NL：滤光片分光系统及二极管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 &bull FluoroCube-01-NL：发射单色器及二极管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 &bull FluoroCube-11-NL：带有激发/发射单色器和二极管激发的寿命体系 &bull FluoroCube-10-CF：激发单色器（滤光片检测通道）和闪光灯激发的寿命系统 &bull FluoroCube-11-CF：激发/发射单色器和闪光灯激发（5000U）的寿命系统 &bull PhosphoCube-10-XF：激发单色器（滤光片检测通道）和微妙氙灯闪光灯激发的磷光寿命系统 &bull PhosphoCube-11-XF：激发/发射单色器和微秒氙灯激发的磷光寿命系统

EzTime-PL 同步可调制半导体激光器-------上转换荧光寿命测试仪◆ 替代OPO，提供大功率，宽波长范围激发波长选择；◆ 波长选择范围：405nm-2200nm；◆ 可实现连续输出和脉冲输出模式；◆ 输出脉宽独立可调；◆ 闪烁频率独立可调；◆ 幅值功率独立可调；☆ 上转换荧光光谱激发；☆ 上转换荧光寿命激发；☆ 微弱样品微秒寿命激发；☆ 防伪及刑侦光源；☆ 荧光标记筛选；☆ 单态氧发光光谱及寿命；☆ 脉宽—-颜色受控样品表征；应用一：上转换荧光光谱及寿命，980nm 激光器激发；应用二：单态氧发光光谱动态及寿命，405nm 激光器激发；可以匹配已有市场的大部分型号荧光谱仪： 配合 HORIBA 荧光寿命测试系统，EDI FLS系列荧光寿命测试系统； TCPSC 系统中的 MCS 测试模式或磷光测试模式，获得荧光衰减曲线、时间分辨发射谱TRES和延迟荧光光谱；控制器部分1. 荧光寿命测试范围： 1us -10s ；2. 受控输出信号闪烁频率（0.01 -1kHz），可以实现的完全受控同步；3. 主动信号输出：0.1Hz-100kHz；带同步输出端口；4. 独立输出信号脉宽调整 ：25ns -500ms 无级可调；5. 电信号 拖尾小于1ns（外接 50 Ω电阻） ；激光器部分6. 半导体 激光器，额定功率2W，功率可调输出，1 -5W 可选7. 激光器 连续输出稳定性，＜ 2%，依赖于不同激发波长；8. 激光器 可选开放式平行光输出或线端口；可选波长：375-2200nm（请咨询 销售工程师更新列表）