无纺布厚度测试仪

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无纺布厚度测试仪相关的仪器

  • 无纺布厚度测量仪 400-860-5168转3947
    无纺布厚度测量仪测量物体厚度的仪器适用于精确测量薄膜、复合薄膜、纸张、金属箔、硬件、纸板等硬软材料的厚度。分辨率为1um,广泛应用于薄膜、铝箔制造商、质量检验机构等单位。 技术特征彩色大液晶显示测试结果,以及每次测量值、统计值。触摸屏控制,无需计算机,主机可独立操作,可存储,查询测试结果,节省每次测试必须连接计算机的繁琐。仪器具有足够的密码保护等级(3级)。每个操作人员只有独特的登录名和密码组合才能进入仪器操作,以确保数据的完整性和标准化。配备微型打印机,快速打印每次测量结果和统计大值、小值、平均值。仪器自动保存多500组测试结果,随时检查打印。专业软件提供测试结果图形统计分析,准确直观地向用户展示测试结果。配备标准RS232接口,方便系统与计算机的外部连接和数据传输。系统程序具有ISP在线升级功能,可提供个性化服务。 技术参数 测量范围 0-10mm (其他量程可定制) 分辨率 1um 测量速度 10次/min(可调) 测量压力 20±0.5kPa(纸板) 17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(纸张) 接触面积 50mm² (薄膜),200mm² (纸张)1000mm² (纸板) 注:纸板、薄膜、纸张任选一种 机器尺寸 450mm×340mm×450mm (长宽高) 重 量 28Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 试验环境 无震动,无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 产品配置 标准配置:主机、标准量块、微型打印机无纺布厚度测量仪此为广告
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  • 薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪无纺布材料厚度检测仪是一种专业设备,用于精确测量无纺布以及其他薄型材料的厚度。这类仪器设计精密,确保在生产、质量控制和研究中提供准确的厚度数据。以下是基于通用参数和功能的详细介绍:薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪基本参数与特点:测量范围:0~2 mm(标准量程)(0-6mm,0-12mm可选,其它行程可订制)。分辨率:高精度仪器的分辨率可达到1微米(um),确保测量的细微差异也能被捕捉。测量原理:采用接触式测量技术,接触式通常通过压头轻触材料表面。重复性:高质量的检测仪重复性误差小于0.5%,保证每次测量的一致性。显示与操作:配备清晰的LCD显示屏,显示即时测量结果,操作界面简单直观,便于快速读取和操作。兼容标准:设计符合GB/T 3820等国家标准,确保测试结果的标准化和可比性。适用材料:不仅限于无纺布,还适用于薄膜、纸张、金属箔、纺织品等薄型材料。稳定性与耐用性:具有良好的稳定性和耐用性,适合在实验室和生产线上长期使用。数据处理:部分高级型号可能支持数据存储、输出至电脑,便于数据分析和记录管理。校准功能:内置校准机制,确保长期使用的准确性,用户可定期进行校准以维持测量精度。薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪操作流程:准备样品:确保无纺布样品平整无皱。放置样品:将样品置于测量区域,保持稳定。启动测量:按下测量按钮,仪器自动进行厚度读取。读取结果:显示屏上显示即时的厚度数据。记录与分析:根据需要记录数据,进行进一步的质量评估或分析。
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  • 无纺布撕裂度测试仪 400-860-5168转3947
    无纺布撕裂度测试仪编织材料、薄膜、防水卷材、织物、无纺布、肠衣膜和包装薄膜等材料,在各行各业都有广泛的应用。这些材料不仅需要满足各自领域特定的功能要求,还需保证在各种环境条件下具有足够的耐用性和稳定性。其中,撕裂强度是衡量这些材料耐用性和稳定性的重要指标之一。 撕裂强度测试是评估材料抵抗撕裂性能的重要方法,通过使用撕裂强度测试仪和埃莱门多夫法,可以有效地评估材料的撕裂强度。埃莱门多夫法是一种常用的静态力学测试方法,该方法通过将待测材料撕裂成两个部分来记录撕裂过程中最大撕裂力和撕裂声速,并根据公式计算出材料的撕裂强度。 对于编织材料来说,撕裂强度的测试结果与其织造方式和纤维类型密切相关。通常情况下,高强度纤维和特殊的织造结构可以提高编织材料的撕裂强度。薄膜材料的撕裂强度则与其厚度、韧性和弹性模量有关。对于防水卷材和织物来说,除了考虑材料的撕裂强度外,还需关注其在防水性能方面的表现。无纺布的撕裂强度与纤维的排列和交织方式有关,通常需要具备一定的拉伸强度和耐久性。肠衣膜作为一种常见的包装材料,其撕裂强度直接影响到食品包装的安全性和可靠性。同样地,包装薄膜的撕裂强度对于产品的运输和销售也至关重要。 在撕裂强度测试过程中,需要注意以下几点:首先,待测材料需要平整、无褶皱,以确保测试结果的准确性;其次,测试过程中需要保持速度均匀,避免突然的加速或减速;最后,需要选择合适的传感器和测试软件,以确保数据的准确性和可重复性。 这些材料的撕裂强度与其织造方式、纤维类型、厚度、韧性、弹性模量和用途等方面密切相关。通过了解材料的撕裂强度,可以为产品的设计和生产提供有力支持,提高其耐用性和稳定性,从而延长产品的使用寿命和降低成本。 技术参数摆体容量 200gf、400gf、800gf、1600gf、3200gf、6400gf 分辨率 1mN 试样夹持 气动 摆体释放 气动 外形尺寸 450mm×340mm×530mm (长宽高) 重 量 0kg 工作温度 5℃-35℃ 相对湿度 70%RH 电 源 220V 50Hz 无纺布撕裂度测试仪此为广告
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无纺布厚度测试仪相关的方案

无纺布厚度测试仪相关的论坛

  • 【原创】天瑞仪器Thick800镀层厚度测试仪全国路演

    天瑞仪器Thick800镀层厚度测试仪全国路演为了答谢新老客户对天瑞仪器公司的支持,天瑞仪器特隆重推出新一代产品——Thick800镀层厚度测试仪,为进一步向大家介绍该仪器的非凡功能和领先科技,并为新老客户提供仪器、技术、服务方面的全套解决方案,增进天瑞仪器公司与新老客户的交流。天瑞仪器有限公司(中国)特举办—— 注:1.本次会议我们将提供午宴及精美礼品一份。 2.本次活动的最终解释权归天瑞仪器有限公司(中国)所有。 天瑞仪器公司总部2008-5-4

无纺布厚度测试仪相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件:核心模块----光谱仪;外壳模块----各种精密精美的仪器外壳;工作面积模块----测量工作区域;光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件;测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型,不同光谱范围和光源,满足各种测量应用
  • 厚度6.0μm 迈拉膜3015
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Mylar® 迈拉、ROHS测试膜--美国Chemplex-3015# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:3015产品信息:Mylar® 迈拉,厚度6.0μm,直径63.5mm,100片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/卷3015 Mylar® 迈拉 6.0 μ 0.00024” 0.24 mil 0.00610 mm 2.5”(63.5mm) 100片

无纺布厚度测试仪相关的资料

无纺布厚度测试仪相关的资讯

  • 剥离强度测试仪能否兼顾测试无纺布胶带的拉伸强度
    随着工业领域的快速发展,材料性能的检测变得越来越重要。剥离强度测试仪作为一款专业设备,被广泛应用于胶粘剂、胶粘带等相关产品的剥离、拉断等性能测试。然而,当面对无纺布胶带这一特殊材料时,我们不禁要问:剥离强度测试仪能否兼顾测试无纺布胶带的拉伸强度呢?一、剥离强度测试仪的基本原理与功能剥离强度测试仪是一种电子剥离试验机,通过模拟实际使用过程中的剥离过程,对材料的剥离强度进行精确测量。其基本原理是通过施加一定的力量,使试样在特定条件下发生剥离,从而测得剥离力的大小。剥离强度测试仪具有高精度、高稳定性等特点,能够准确反映材料的剥离性能。二、无纺布胶带的特性与拉伸强度测试需求无纺布胶带作为一种新型材料,具有优异的柔韧性和粘附性,广泛应用于包装、固定、保护等领域。无纺布胶带的拉伸强度是衡量其质量和耐用性的重要指标。在实际应用中,无纺布胶带需要承受各种外力作用,因此其拉伸强度的大小直接影响着其使用效果和安全性。三、剥离强度测试仪在测试无纺布胶带拉伸强度方面的应用虽然剥离强度测试仪主要用于测试材料的剥离性能,但在实际应用中,我们发现它同样可以用于测试无纺布胶带的拉伸强度。这是因为无纺布胶带的拉伸过程可以看作是一种特殊的剥离过程,即胶带纤维在拉伸方向上的剥离。因此,通过调整剥离强度测试仪的测试参数和条件,我们可以实现对无纺布胶带拉伸强度的测量。在测试过程中,我们需要注意以下几点:首先,选择合适的试样尺寸和形状,以确保测试结果的准确性和可靠性;其次,根据无纺布胶带的特性,设定合适的剥离速度和剥离角度;最后,对测试数据进行处理和分析,以得出无纺布胶带的拉伸强度值。四、剥离强度测试仪在测试无纺布胶带拉伸强度方面的优势与局限性剥离强度测试仪在测试无纺布胶带拉伸强度方面具有操作简便、测量精度高等优势。通过该设备,我们可以快速获得无纺布胶带的拉伸强度数据,为产品设计和质量控制提供有力支持。然而,剥离强度测试仪在测试无纺布胶带拉伸强度方面也存在一定的局限性。由于剥离强度测试仪主要用于测试剥离性能,因此在测试拉伸强度时可能无法完全模拟实际使用过程中的复杂条件。此外,不同品牌和型号的剥离强度测试仪在测试原理和性能上可能存在差异,这也可能对测试结果产生一定影响。五、结论与建议综上所述,剥离强度测试仪在一定程度上可以兼顾测试无纺布胶带的拉伸强度。然而,在实际应用中,我们还需要根据具体需求和条件进行选择和调整。为了确保测试结果的准确性和可靠性,我们建议采取以下措施:首先,选择合适的剥离强度测试仪品牌和型号,以确保其性能和精度符合测试要求;其次,根据无纺布胶带的特性,设定合适的测试参数和条件;最后,对测试数据进行综合分析和评估,以得出全面准确的结论。
  • 应用 | 医用口罩用新型石墨烯无纺布性能测试与评价
    研究背景自疫情爆发以来,个人防护进入常态化,消费者对口罩的要求从最开始的单一防护功能向舒适化、可复用、时尚化等多功能性转变。市场对多功能化医用口罩的迫切需求,不断推动着现代医用口罩非织造布在新材料、新技术方面的不断探索和改进。有研究表明,将传统非织造织物材料与石墨烯相结合,可开发高效、低阻的新型复合材料。同时,利用石墨烯独特的网状结构和极高的比表面积,吸附和过滤颗粒、细菌和病毒,能有效阻隔冠状病毒,大大地拓宽了石墨烯的应用领域。2020年12月25日,在深圳举行的第22届中国国际高新技术成果交易会上,一种新型石墨烯无纺布一经面世就获得优秀产品奖,引起了社会各界的广泛关注。这种新型石墨烯无纺布是将传统原料聚丙烯替换为石墨烯/聚丙烯复合母粒,采用纺粘无纺布制造工艺制备获得。本文通过对这种新型石墨烯无纺布微观组织形貌及热性能、表面亲疏水(油) 性、防水性能、透气性、压力差、 配戴时效性及是否有异味等进行测试和评价,分析研究这种新型石墨烯无纺布在医用口罩方面的应用前景,开发石墨烯在医疗器械领域的应用潜力,为口罩生产企业的产品升级、转型提供数据支撑。图1. 石墨烯无纺布和医用无纺布扫描电子显微镜照片实验方法与仪器本文采用KRÜ SS DSA25B接触角测量仪对石墨烯无纺布进行接触角测试。DSA25B接触角测试仪实验开始前,将石墨烯无纺布用蒸馏水超声清洗,并在50°C的鼓风干燥箱中烘干。实验时, 样品平铺在载玻片上,水滴(油滴)体积约为2μL。高速相机捕捉水滴(油滴)照片,采用座滴法测量接触角,即在液滴轮廓和表面投影(基线)之间的交叉点上(三相接触点)使用座滴图像量取接触角,每张照片测量10组数据,取平均值作为测试结果。结果与讨论图2. 石墨烯无纺布表面亲疏水(油)性测试结果(注:a.水(油)滴光学照片;a.水(油)接触角)在室温条件下,分别测试了石墨烯无纺布正反面水和油的静态接触角。图2a所示为测试过程中捕捉的水(油)滴光学照片,通过座滴图像法量取的接触角如图2b所示。可知,石墨烯无纺布正面水接触角为132.6°,反面水接触角为138.8°,正面油接触角为142.8°,反面油接触角为129.9°。这种新型石墨烯无纺布纤维表面张力低于水、油的表面张力,使得水滴以及油污无法在织物表面铺展,因此证明这种新型石墨烯无纺布具有拒水、拒油的特性。同时,防水性能评价测试结果显示试样表面没有润湿,存有少量水珠,依照GB/T 4745-2012《纺织品防水性能的检测和评价沾水法》评价标准,沾水等级达到4~5 级,该材料具有良好的抗沾水性能。总结可看出减少银浆层的空洞是提高芯片键合强度的一种有效方法。合适的粘合促进剂可以帮助增加银浆在基材表面的浸润并减少界面银浆层里的空洞。新型石墨烯无纺布在医用口罩的应用中体现出了组织结构稳定、拒水、拒油、抗沾水、低阻透气、口罩无异味的特性,符合当下人们对口罩的舒适性、防护性和可重复使用性的要求,有助于口罩生产企业对产品的升级、转型。随着石墨烯无纺布生产技术和表面改性技术不断完善成熟,新型石墨烯无纺布在医用口罩、医用缝合线、医用辅料等医疗器械的应用将得到进一步拓展,从而实现石墨烯在功能无纺布应用中的商业化与规模化,未来可能会有越来越多功能各异的石墨烯无纺布产品陆续出现在市场上。参考文献:[1]陈大雷,陈凡红,元瑛,梁峰,杨晓辉,贺军权.医用口罩用新型石墨烯无纺布性能测试与评价[J].中国医疗器械信息,2022,28(23):17-20+73.DOI:10.15971/j.cnki.cmdi.2022.23.038.
  • 岛津SPM石墨烯厚度测试——应对GB/T 40066—2021
    近期,国家标准化管理委员会发布了《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》,这一方面意味着石墨烯材料的产业化工作向前迈进了一步,另一方面也表明原子力显微镜开始逐步被标准化工作认可和接受。 为此,作为有着三十年原子力显微镜/扫描探针显微镜设计、开发、销售经验的岛津,按照新发布标准的流程进行了产品验证。结果表明,岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合标准的要求。 本次分析流程完全参照《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》附录A方法一实例进行。 01测试仪器:岛津SPM-9700HT02图像分析软件:WSxM 5.0 Develop 8.403图像处理过程经SPM-9700HT扫描获得的原始图像如下:利用WSxM软件Flatten功能处理后图像如下按标准利用软件的Profile功能选取不同位置三条轮廓线,轮廓线方向为SPM-9700HT快速扫描方向(X轴)。将3条轮廓线数据导出,利用EXCEL软件进行处理,分别拟合3条轮廓线的上台阶拟合直线和下台阶拟合直线。厚度计算:利用标准中的公式计算公式图片来源:《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》结论(1)、按照标准计算得知该片氧化石墨烯厚度为0.630±0.039nm,由此可推测这片氧化石墨烯为单层石墨烯。 (2)、岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》的要求。

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