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射线荧光分析仪在水泥生产中的控制的原理

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射线荧光分析仪在水泥生产中的控制的原理相关的论坛

  • 我国自主研发的X荧光分析仪受水泥界宠爱

    从11月28日召开的全国水泥生料质量控制应用技术研讨会上获悉,由北京邦鑫伟业技术开发有限公司打破国外二十多年技术垄断、自主研发成功的X荧光分析仪受到与会专家和企业的关注。该公司白友兆博士介绍说,产品不仅填补了国家的空白,采用的单道双晶体和全谱显示技术在国际上未见先例。来自于一线的工程技术专家称,该产品投入使用后,在水泥行业生产质量控制实际应用中发挥了重要作用。 X射线分析技术是国际公认的常规分析手段。广泛应用于建材、地矿、冶金、石油、化工、半导体、医药卫生等领域,也是商检、质检、环保、科研院校等部门普遍采用的一种快速、准确和经济的多元素分析方法。由于人工化验速度慢、效率低,而且费工、费时、费钱,满足不了社会化大生产的需要,严重影响了工业生产对质量的控制。因此,世界各国从上个世纪六十年代相继开展对X射线分析技术的研究。到上个世纪八十年代这项技术在美、英、德、荷、日五国已经相当成熟并普及到工业生产中。 我国是一个材料生产大国,也是应用此类仪器最大的市场。上个世纪六十年代也开始X射线技术的研究,由于技术复杂,研究开发难度大,以及文化大革命的影响,这项技术我国一直处于落后局面。改革开放后,国家投资研发并列入了“九五”攻关计划,到2000年技术上有了一定突破,但由于研究开发与生产设备脱节,此项产品的开发未果。我国大型工业、科研院校等单位使用的波长色散X荧光光谱仪全部依赖于进口,市场被美、英、德、荷、日五国垄断长达二十多年。 北京邦鑫伟业技术开发有限公司,瞄准了国内这一广阔市场需求,组织国内一批长期从事X射线技术研究的顶尖专家,集研究开发、生产销售、维修服务于一体,密切关注世界上X射线分析技术发展的动向,以科学的态度、大胆创新,采用单道双晶体和全谱显示技术,在X射线分析技术领域里探出一条新路,研制成功的BX-200和BX-100型波长色散X荧光光谱仪,实现了仪器的小型化、故障低、节能等目标。仪器的测量精度准确性和运行的可靠性等各项技术指标,都达到了国际上同类产品的先进水平,而仪器价格仅为国外同类产品的一半,改写了我国长期不能独立研发生产此类仪器的历史。仪器投放市场后,导致国外同类产品单台报价普遍下降五万美元以上。据过去几年的不完全统计,我国年平均进口量在200台以上,仅此一项每年将为国家节约千万美元。 与会代表在参观北京琉璃河水泥厂水泥生料生产线时,一位国有大型水泥厂的技术处长感慨地说:“我们早就盼望着国产X荧光分析仪的问世,我们买外国的仪器除了购买和维修费用高,关键是维修服务不及时,影响了我们的生产和质量。”长期从事X射线分析仪器研究的老专家、原中国建材研究院院长闫盛慈教授,看到国产仪器深有感触地说:“为了研究我国自己的X荧光分析仪,我们从黑发干到了白发,没想到一个民营企业实现了我们几代人的梦想。”  (来源:中国水泥网)

  • 【支持国产】我国自主研发的X荧光分析仪受水泥界宠爱!

    记者从近日召开的全国水泥生料质量控制应用技术研讨会上获悉,由北京邦鑫伟业技术开发有限公司打破国外二十多年技术垄断、自主研发成功的X荧光分析仪受到与会专家和企业的关注。该公司白友兆博士介绍说,产品不仅填补了国家的空白,采用的单道双晶体和全谱显示技术在国际上未见先例。  来自于一线的工程技术专家称,该产品投入使用后,在水泥行业生产质量控制实际应用中发挥了重要作用。  X射线分析技术是国际公认的常规分析手段。广泛应用于建材、地矿、冶金、石油、化工、半导体、医药卫生等领域,也是商检、质检、环保、科研院校等部门普遍采用的一种快速、准确和经济的多元素分析方法。由于人工化验速度慢、效率低,而且费工、费时、费钱,满足不了社会化大生产的需要,严重影响了工业生产对质量的控制。因此,世界各国从上个世纪六十年代相继开展对X射线分析技术的研究。到上个世纪八十年代这项技术在美、英、德、荷、日五国已经相当成熟并普及到工业生产中。 我国是一个材料生产大国,也是应用此类仪器最大的市场。上个世纪六十年代也开始X射线技术的研究,由于技术复杂,研究开发难度大,以及文化大革命的影响,这项技术我国一直处于落后局面。改革开放后,国家投资研发并列入了“九五”攻关计划,到2000年技术上有了一定突破,但由于研究开发与生产设备脱节,此项产品的开发未果。我国大型工业、科研院校等单位使用的波长色散X荧光光谱仪全部依赖于进口,市场被美、英、德、荷、日五国垄断长达二十多年。  北京邦鑫伟业技术开发有限公司,瞄准了国内这一广阔市场需求,组织国内一批长期从事X射线技术研究的顶尖专家,集研究开发、生产销售、维修服务于一体,密切关注世界上X射线分析技术发展的动向,以科学的态度、大胆创新,采用单道双晶体和全谱显示技术,在X射线分析技术领域里探出一条新路,研制成功的BX-200和BX-100型波长色散X荧光光谱仪,实现了仪器的小型化、故障低、节能等目标。   仪器的测量精度准确性和运行的可靠性等各项技术指标,都达到了国际上同类产品的先进水平,而仪器价格仅为国外同类产品的一半,改写了我国长期不能独立研发生产此类仪器的历史。仪器投放市场后,导致国外同类产品单台报价普遍下降五万美元以上。据过去几年的不完全统计,我国年平均进口量在200台以上,仅此一项每年将为国家节约千万美元。 与会代表在参观北京琉璃河水泥厂水泥生料生产线时,一位国有大型水泥厂的技术处长感慨地说:“我们早就盼望着国产X荧光分析仪的问世,我们买外国的仪器除了购买和维修费用高,关键是维修服务不及时,影响了我们的生产和质量。”长期从事X射线分析仪器研究的老专家、原中国建材研究院院长闫盛慈教授,看到国产仪器深有感触地说:“为了研究我国自己的X荧光分析仪,我们从黑发干到了白发,没想到一个民营企业实现了我们几代人的梦想”。

  • 【资料】熊猫收集--X射线荧光分析技术应用的误区

    X射线荧光分析作为工业分析技术经历了几十年的发展历程,在水泥制造业已得到广泛应用。我国水泥工业中X射线荧光分析技术的应用和发展,基本上是在近25年中实现的。上个世纪七十年代末八十年代初,一方面随着大量新型干法水泥生产线的成套引进,大型X荧光光谱仪开始出现在我国水泥工业,另一方面,随着钙铁分析仪的研制成功,钙铁分析仪在水泥生产过程控制中迅速普及,形成了高端产品和低端产品两翼齐飞的局面;八十年代后期,采用管激发、Si(Li)半导体探测器的X射线荧光能谱仪曾一度受到关注,但到了九十年代初期,国产的源激发正比计数管多元素分析仪,以其简单实用的结构和价格低廉的优势迅速进入市场,成为以水泥工业为主要对象的中档产品;世纪之交前后,针对工业分析应用开发的小型多道X荧光光谱仪,随着我国水泥工业结构调整的步伐得以大量应用。可以说,目前在水泥制造业,X射线荧光分析仪的应用是处于百花齐放的时代。这种局面给用户带来了多种选择,同时也形成一些误区。本文试图跳出X荧光分析技术领域学术研究和商业行为的圈子,从水泥制造业应用X荧光分析技术的角度,提出一些避免误区的观点。 1.X射线荧光分析基本原理 荧光,顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。 从原子物理学的知识我们知道,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行,内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,成为自由电子,我们说原子被激发了,处于激发态,这时,其他的外层电子便会填补这一空位,也就是所谓跃迁,同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的,它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的,称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量,便可以确定相应元素的存在,而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量。 量子力学知识告诉我们,X 射线具有波粒二象性,既可以看作粒子,也可以看作电磁波。看作粒子时的能量和看作电磁波时的波长有着一一对应关系。这就是著名的普朗克公式:E=hc/λ。显然,无论是测定能量,还是波长,都可以实现对相应元素的分析,其效果是完全一样的。 2.X射线荧光分析仪的分类 2.1. 根据分光方式的不同,X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类,也就是通常所说的能谱仪和波谱仪,缩写为EDXRF和WDXRF。 通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析,相应的仪器称之为能谱仪,通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长色散X射线荧光分析,相应的仪器称之为X射线荧光光谱仪。 2.2. 根据激发方式的不同,X射线荧光分析仪可分为源激发和管激发两种:用放射性同位素源发出的X射线作为原级X射线的X荧光分析仪称为源激发仪器;用X射线发生器(又称X光管)产生原级X射线的X荧光分析仪称为管激发仪器。 2.3. 就能量色散型仪器而言,根据选用探测器的不同,X射线荧光分析仪可分为半导体探测器和正比计数管两种主要类型。 2.4. 根据分析能力的大小还可分为多元素分析仪器和个别元素分析仪器。这种称呼多用于能量色散型仪器。 2.5. 在波长色散型仪器中,根据可同时分析元素的多少可分为,单道扫描X荧光光谱仪、小型多道X荧光光谱仪和大型X荧光光谱仪。[color=#DC143C]发错版面,已经有人发过---熊猫[/color]

  • 【转帖】关于X射线荧光分析技术应用的误区

    X射线荧光分析作为工业分析技术经历了几十年的发展历程,在水泥制造业已得到广泛应用。我国水泥工业中X射线荧光分析技术的应用和发展,基本上是在近25年中实现的。上个世纪七十年代末八十年代初,一方面随着大量新型干法水泥生产线的成套引进,大型X荧光光谱仪开始出现在我国水泥工业,另一方面,随着钙铁分析仪的研制成功,钙铁分析仪在水泥生产过程控制中迅速普及,形成了高端产品和低端产品两翼齐飞的局面;八十年代后期,采用管激发、Si(Li)半导体探测器的X射线荧光能谱仪曾一度受到关注,但到了九十年代初期,国产的源激发正比计数管多元素分析仪,以其简单实用的结构和价格低廉的优势迅速进入市场,成为以水泥工业为主要对象的中档产品;世纪之交前后,针对工业分析应用开发的小型多道X荧光光谱仪,随着我国水泥工业结构调整的步伐得以大量应用。可以说,目前在水泥制造业,X射线荧光分析仪的应用是处于百花齐放的时代。这种局面给用户带来了多种选择,同时也形成一些误区。本文试图跳出X荧光分析技术领域学术研究和商业行为的圈子,从水泥制造业应用X荧光分析技术的角度,提出一些避免误区的观点。

  • 【分享】X射线荧光分析技术应用的误区

    X射线荧光分析作为工业分析技术经历了几十年的发展历程,在水泥制造业已得到广泛应用。我国水泥工业中X射线荧光分析技术的应用和发展,基本上是在近25 年中实现的。上个世纪七十年代末八十年代初,一方面随着大量新型干法水泥生产线的成套引进,大型X荧光光谱仪开始出现在我国水泥工业,另一方面,随着钙铁分析仪的研制成功,钙铁分析仪在水泥生产过程控制中迅速普及,形成了高端产品和低端产品两翼齐飞的局面;八十年代后期,采用管激发、Si(Li)半导体探测器的X射线荧光能谱仪曾一度受到关注,但到了九十年代初期,国产的源激发正比计数管多元素分析仪,以其简单实用的结构和价格低廉的优势迅速进入市场,成为以水泥工业为主要对象的中档产品;世纪之交前后,针对工业分析应用开发的小型多道X荧光光谱仪,随着我国水泥工业结构调整的步伐得以大量应用。可以说,目前在水泥制造业,X射线荧光分析仪的应用是处于百花齐放的时代。这种局面给用户带来了多种选择,同时也形成一些误区。本文试图跳出X荧光分析技术领域学术研究和商业行为的圈子,从水泥制造业应用X荧光分析技术的角度,提出一些避免误区的观点。

  • 【转帖】关于X射线荧光分析技术应用的误区

    [size=3][font=仿宋_GB2312]X[/font][font=仿宋_GB2312]射线荧光分析作为工业分析技术经历了几十年的发展历程,在水泥制造业已得到广泛应用。我国水泥工业中X射线荧光分析技术的应用和发展,基本上是在近25年中实现的。上个世纪七十年代末八十年代初,一方面随着大量新型干法水泥生产线的成套引进,大型X荧光光谱仪开始出现在我国水泥工业,另一方面,随着钙铁分析仪的研制成功,钙铁分析仪在水泥生产过程控制中迅速普及,形成了高端产品和低端产品两翼齐飞的局面;八十年代后期,采用管激发、Si(Li)半导体探测器的X射线荧光能谱仪曾一度受到关注,但到了九十年代初期,国产的源激发正比计数管多元素分析仪,以其简单实用的结构和价格低廉的优势迅速进入市场,成为以水泥工业为主要对象的中档产品 世纪之交前后,针对工业分析应用开发的小型多道X荧光光谱仪,随着我国水泥工业结构调整的步伐得以大量应用。可以说,目前在水泥制造业,X射线荧光分析仪的应用是处于百花齐放的时代。这种局面给用户带来了多种选择,同时也形成一些误区。本文试图跳出X荧光分析技术领域学术研究和商业行为的圈子,从水泥制造业应用X荧光分析技术的角度,提出一些避免误区的观点。[/font][/size]

  • 【原创】全铝X-射线分析仪分析铝电解质

    摘要:本文叙述全铝X-射线分析仪分析铝电解质中的Al、F、Na、Ca、Mg含量,进一步计算分子比、CaF2、MgF2、Al2O3、过剩AlF3的方法,以及每个元素及化合物谱线的选择与修正、分析参数的建立、工作曲线的绘制、样品的制备方法等。实践证明:分析结果准确可靠,精密度良好,实现了准确快速测定的目的。一 前言铝槽电解质的分子比是铝电解生产控制的重要参数之一,正确分析电解质的各项指标,直接影响铝电解的工艺控制和经济效益。目前,在国内铝工业生产中铝电解质的分析方法有热滴定法、化学法、结晶光学法和X-射线衍射法,在这些方法中,热滴定法和化学法是基础,但其分析速度慢,分析结果严重滞后;结晶光学法对于有多种添加剂和低分子比的电解质分析时误差太大。X-射线衍射法只有国内少数铝厂采用,其分析的项目较少。本文介绍全铝X-射线分析仪(X荧光+X衍射综合性仪器)分析铝电解质的方法。这是国内从瑞士ARL公司引进的最先进的仪器,经过近一年的实践,证明仪器所分析的数据准确、精密度高、速度快。为青铜峡铝厂三期13万吨200千安预焙电解槽在短时间内达产达标提供了有力的技术支持。使其在4个月内电流效率提高到92%,创造了可观的经济效益。二 实验部分1 实验原理根据邱竹贤、K. Grjotheim等人铝电解质的酸度理论,固态酸性电解质的基体是由冰晶石(Na3AlF6)、亚冰晶石(Na5Al3F14)和Al2O3组成。当加入CaF2时,增加了NaCaAlF6相,液态中增加了CaF2相;加入MgF2时,增加了Na2MgAlF7相,液态中增加了NaMgF3相;加入LiF时,增加了Na2LiAlF6相,液态中增加了Li3AlF6相。因预焙槽工艺中不加LiF,其含量可忽略。根据以上理论,用仪器的荧光部分测定电解质的Al、F、Na、Ca、Mg含量, 再用数学模型计算NaF,AlF3,CaF2,MgF2,Al2O3,过剩AlF3及分子比。2 标样的研制这种标样在实际生产电解槽中直接采取。保证基体相同及每个元素和化合物有足够的梯度。我们在实际生产的640台槽中取样,先用仪器分析其强度,发现单元素有异常的样品,立即大量取样,选取17个单元素有一定梯度的样品,经本厂化验室、郑州轻金属研究所、北京有色金属研究院、包头铝厂、中宁铝厂多家单位化学定值。综合评定,最后选取10个作为标样。3 样品制备为保证分析结果的重复性,从电解槽取样必须严格遵守取样的操作规程。新型全铝分析仪使用慢冷样品,样品中基本上没有非晶质物质存在。各标准样品的冷却条件要和实际取样时尽量保持一致。试样制备过程如下;(1) 粉碎:取电解厂房送来的铝电解质冷却试料块约30g,放入破碎机的试料容器中进行破碎。为了避免破碎时试料粘在容器壁上及压片时易于成型,破碎前滴上1-2滴无水乙醇。经实验在转速1550转/分条件下破碎20秒,可使试料达到300目以上。(2) 压片:将料环放在样托上,称取5克试样粉末倒入料环内,放入压样机,选用30吨压力静压15秒,取出压成的试样片,即可上仪器分析。注意:正常分析样品的取样冷却条件、试样的破碎程度、压样时的压力、静压时间对测量结果均有影响,尽量和标样制备时保持一致。4 选择谱线X-射线荧光是激发原子的最内层K层电子,所以每种元素的特征谱线有好几条,首选Ka谱线,理论Ka谱线与实际生产工艺中元素的谱线并不吻合,必须多做实验加以调整,衍射的谱线也应做调整,无需扣背景,具体谱线见表1。5 确定激发条件对某一种元素,其谱线、晶体、探测器、计数时间、准直器、X-光管电压、电流选择搭配不同,其分析效果也不同。必须做大量实验,总结经验,选择适合生产工艺并能准确反映元素真实含量的分析参数

  • X射线荧光分析技术应用误区分析

    一、选型误区  随着技术发展,X射线荧光分析仪的种类越来越多,商品名称也比较混乱,再加上用户对相关知识的了解有限,使得用户合理选择仪器的难度大大增加。  误区1:强调“荧光”,许多用户误认为只有用X光管作为激发源的管激发仪器才是X荧光仪,一味地强调所谓“荧光”。事实上,如前所述,无论是采用X光管还是采用放射性同位素源作为激发源,只要是由X射线激发、通过测定被测样品发出的荧光X射线得出其化学成分及含量的仪器,都是X荧光分析仪。  源激发和管激发各有优缺点。源激发类型的仪器结构简单、紧凑,特别是放射性同位素源发出X射线是自然现象,其强度是非常稳定的。虽然有着自然衰减,但这种衰减是遵循可描述的物理规律的,也就是说是我们可以准确计算出来的,而且作为商品化仪器选用的同位素源半衰期都比较长,在短周期内这种衰减几乎反映不出来。放射源的最大弱点在于,它发出的X射线强度小,能量分布不可调。因此可分析元素种类是受限制的,光路的几何布置必须非常紧凑,分析时间相对要长一些,谱线处理和定量分析计算难度较大。  管激发型仪器的激发源是X射线管。与放射性同位素源相比,最大的优点在于其可调节性。通过调节管流和高压,可以在一定范围内改变输出X射线的强度和分布,进而有选择性地提高或减小对某些特定元素的激发效率,提高分析能力。再者,X射线管的输出强度远远高于放射性同位素源,光路的几何布置受限制小,可使用准直器、滤光片、狭缝等进一步提高性能。采用X光管的最大问题在于稳定性,给X光管提供高压的高压电源稳定性必须在万分之三以下,X光管本身还需要冷却,而且环境温度、电网波动等因素都会影响X光管输出X射线的稳定性,从而影响仪器的稳定性。因此,一般来讲,管激发仪器对使用环境及外围条件的要求要比源激发仪器高得多。  误区2:重硬件轻软件和技术。任何一种分析仪器在某一领域的成功应用都是硬件、软件和分析技术有机结合的结果,三者缺一不可。毫无疑问,硬件是基础,但硬件并不能决定一切。从应用的角度来讲,硬件只有通过软件才能充分发挥作用,而分析技术涉及到仪器应用的每一个环节。一台好仪器,一定是建立在分析技术研究基础之上的,否则,它就很难适应众多用户的各种需求,这样的仪器等于没有灵魂。对于软件的考察,绝不能停留在画面的漂亮与否、花样是否齐全等表面文章上,关键要看采用的算法是否先进有效,建立在怎样的分析技术基础上,是否适应于主要被分析样品的特性,还要考虑是否适合操作人员的素质和能力。  误区3:重价格轻服务。价格当然是选购商品的重要因素,但不应当是决定性因素。分析仪器各部件质量及其价格悬殊极大,并且直接决定了仪器的售价,单纯追求价格便宜,很难保证质量。对于X荧光分析仪这样的设备来说,服务往往更为重要。这里所说的服务不仅指安装调试、备品备件供应、维修服务等,更重要的是应用技术服务。对于大多数用户来讲,是不具备自行研究分析技术并用于指导应用的,这种情况下,技术服务显得尤为重要。  误区4:听别人多,看自己少。用户在设备选型时经常会开展一些调研考察,一方面了解一些各种仪器及厂家的基本情况,作一些相互比较;另一方面会去一些与自己情况类似的用户那里考察。这当然是必要的。但最重要的还是要根据自己的实际情况和具体需求来选择。比如:以全厂质量控制为主要目的,样品种类多,需要做全分析,准确度要求高,应用环境比较好,可以考虑X荧光光谱仪;以生产过程控制为主要目的,应用环境较差则可考虑多元素分析仪、钙铁仪等源激发类仪器;原料不太好、波动大,没有预均化措施或很简陋,分析仪器要配置高一些,最好考虑在线分析仪器,在线钙铁仪加多元素分析仪或小型多道X荧光光谱仪便是很好的组合,当然,有条件的可以上中子活化在线分析仪,而原料稳定、预均化很有效,分析仪器的配置则可以低一些,多元素分析仪甚至离线钙铁仪便可以解决问题;操作人员素质较高,仪器可以选择小型多道X荧光光谱仪等功能多样、灵活性较大的,反之则应考虑选择功能单一、操作简单的源激发类仪器。二、技术指标误区  评价一台仪器好坏的技术指标是多重、综合的。用户关心和看重的主要有分析元素范围,即我们通常所说的可分析元素有哪些,分析时间长短,精确度如何等。技术指标的重要性最终还是取决于应用目的。  误区1:片面追求高指标。对于工业分析而言,被分析样品的种类是确定的,甚至是单一的,对结果的要求也是确定的。对于远远高出这些要求的指标的追求实际上是一种资源的浪费。比如:大多数水泥厂的控制分析只做钙、铁,用于率值控制需要测钙、铁、硅、铝,全分析则要求增加Na、Mg、S、K等元素,几万元的钙铁仪便可满足控制要求,如追求能测硅铝则需要约十万元的多元素分析仪,多元素分析仪完全可以满足率值控制四种主要元素分析的要求,如一定要提出更高精度和速度的要求就需要约百万元的小型多道X荧光光谱仪了。由于被分析样品的确定性,经验系数法是最有效的分析方法,如果一定要追求无标样法,便达不到经验系数法的效果。本来被测元素是确定的,而且数量有限,固定道就可以解决问题,一味追求可变道,既多花了钱,还牺牲了稳定性和分析时间;就能量色散型仪器而言,ADC道数也并非越多越好。  误区2:片面追求准确度:每当谈到仪器性能,往往会自然而然地把结果是否准确作为第一判断标准,而且在日常应用中也会把大量的精力用于判断仪器“准不准”,最常见的就是与化学分析“对结果”。准确性固然重要,但作为工业分析而言,精密度决不可忽视,首先要关注的是精密度问题,也就是说,同一样品多次测量,其结果应有良好的一致性,每一测量结果与均值的差要足够小,至于测量值与真值的差,往往属于系统偏差,是可以进行数学校正的。  误区3:不重视稳定性和重现性。所谓稳定性是指同一样品连续测量多次(通常为21次)的标准偏差,而重现性则是同一样品间隔较长时间后再次测量的结果之间的一致性。这两项指标是作为工业分析仪器的关键指标,工业分析的结果主要是用于生产过程的控制和参数调整,分析结果的相对变化直接关系着过程控制和调节。而相对变化的准确测量是建立在稳定性和重复性之上的。  误区4:分析时间越短越好。X射线测量是随机事件的统计测量,是由统计规律决定的,计数的绝对量取决于测量时间,并直接决定着测量误差的大小,足够长的测量时间是测量精度的前提条件,为了保证测量精度,必须有足够的测量时间。三、分析技术误区  分析技术是获得正确结果的保证。分析技术贯穿于仪器应用的全过程。分析方法的选择必须满足仪器应用的需要。  误区1:标样制备太麻烦,最好用无标样法。X射线荧光分析事实上是一种对比分析,特别是经验系数法,测得的X射线强度与相应元素浓度的对应关系完全是建立在标准样品的基础之上的,必须制备足够数量的标准样品,标样的质量直接决定了分析结果的可靠性。基本参数法等无标样分析法一般是用于完全未知样品的初步分析的,所谓无标样也只是不需要系列标准样而已。  误区2:标准样品可以购买别人的。由于每个用户的原料情况、配比是各不相同的,而对于X荧光分析而言,标样与被测未知样越相似,测定结果越好,因此,为了取得好的分析结果,各用户应自己配制标样。标样的配置应注意几个问题:  (1)必须主要用生产用原料配制,个别少量组份可用化学试剂;  (2)标样数目应大于被分析元素个数(至少多两个);  (3)标样中被测元素的含量范围应完全覆盖未知样品相应元素的浓度变化范围;  (4)标样中各被测元素的浓度之间不应存在相关性。  误区3:工作曲线的评价。通常对工作曲线的定量评价标准主要是相关系数和标准偏差,从数学上来讲,相关系数越接近1越好,标准偏差越小越好。但必须首先检查是否符合物理意义,斜率大小是否合适。  误区4:基体校正中元素间影响因子的设定越多越好。如不考虑物理意义就数学结果而选择影响因子,就无法保证未知样分析的正确可靠。影响因子的设定应遵循相邻元素、主元素、浓度变化范围大的元素、重元素的原则,在此基础上根据经验试设。几点建议  (一)仪器选型一定要适应本企业的实际情况,根据预想的主要用途和本企业原料、工艺乃至人员素质情况选购仪器;  (二)再好的仪器也要靠人用,应当充分重视分析技术在仪器应用中的重要作用;  (三)关于在线分析:近年来,中子活化在线分析取得的成功,使在线分析成为水泥工业分析的一个亮

  • 【分享】testo 350XL烟气分析仪在水泥生产中的应用

    testo 350 烟气分析仪在水泥生产中的应用 在新型干法旋窑烧成控制中,窑尾进料室和预热机C1出口的烟气分析(NOx、CO、O2及SO2含量)极为重要,是中控操作员的“眼睛”,因为烟气中各种气体含量能比较准确的反映窑内的烧成温度、窑内通风、反应气氛(一般要求为氧化气氛)等状况。 1. 中控操作员可以根据进料室的NOx(表征窑内烧成温度高低)含量来加、减煤,通过CO及O2含量来判断窑内通风状况,可以增、减窑尾主排风机转速或开、关三次风管闸板开度来调整窑内通风状况。还可以根据SO2的含量多少及时调整窑况,防止窑尾结皮过重。这些气体的含量对于窑的操作比较重要,特别是在窑况波动时,这些数据对窑操作员做出准确判断尤其重要。我公司原来在进料室配置了一台离线式气体分析仪,由于使用频率较高,经常损坏或者出现测量的数据不准确(漂移,需要校准),有时对经验不足的操作员造成误导,以致影响到窑的操作。为了及时准确的掌握窑况,后来我公司购买了一台便携式的testo 350烟气分析仪,用来测量窑及预热机系统中的各种气体的含量,并经常和现有离线气体分析仪所测量的数据经行比对,给窑操作员提供准确的参数,对窑况做出准确的判断,及时的对风、煤、料、速进行调整,稳定窑的操作,给我司烧成系统能够高产、低耗、高品质、长期安全运转提供了有效的保障。2. testo 350还用来测量预热机C1出口处的CO、O2来判断分解炉中的O2是否能保证煤粉在分解炉中完全燃烧,以及预热机系统拉风是否过大,造成烧成系统热耗增加。3. 我司每周用testo 350对整个生料粉磨系统和熟料烧成系统进行测量标定:a. 生料粉磨系统:测量预热机出口O2含量、生料磨进口O2含量、生料磨出口O2含量,生料电收尘出口O2含量及系统风量,通过以上数据判断整个生料粉磨系统的漏风情况,做到及时堵漏工作,漏风即影响生料的产量亦浪费电耗,不利于经济生产。b. 烧成系统:标定预热机C1出口和进料室的气体分析仪,为烧成提供及时准确的信息;测量C1出口的风量,判断系统拉风状况。;测量冷却机出口系统风量,看冷却机系统的操作工况。小结:烟气分析仪是水泥厂必不可少的仪器设备,它为整个生产线的运转提供了强有力的保障。它的经济效益也是巨大的,远超过了它本身的价值。 如有问题请发EMAIL:tech@testool.com

  • 【转帖】便携全反射X射线荧光分析仪

    转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿(TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术,它突出的优点是检出限低(pg、ng/mL 级以下)、用样量少(Μl、ng级)、准确高度(可用内标法)、简便、快速,而且要进行无损分析,成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段,在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看,与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较,TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内,能谱仪(XRF)和波谱仪(WXRF)在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面,都明显比TXRF差。在表面分析领域内,尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中,TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理:TXRF利用全反射技术,会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级,从而大大提高了能量分辨率和灵敏率,避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应,大大缩减了定量分析的工作量和工作时间,同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限(MDL)可由公式计算: (2)这里, 是木底计数率,t为测量计数时间,M为被测量元素质量,l代表被测量元素产生的特征峰净计数率,S=I/M就是系统灵敏度,由公式可以看出,提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处,因而MDL很低。

  • 【好消息】中国仪器仪表学会分析仪器分会X射线荧光光谱分析技术培训5月在北京举办

    X射线荧光光谱分析技术已经广泛应用于地质、冶金、采矿、有色、海洋、生化、环境、石化、商检、电子、公安、考古、难融化物和陶瓷工业、RoHs和 WEEE分析等领域。分析技术已从主、次量、微量元素分析,扩展到痕量元素分析、元素成分微区分布分析等 新近发展到对大气尘埃的分析、生化医药、纳米材料和薄膜分析。随着新分析仪器的普及,X射线荧光光谱仪器已经成为各实验室的常规仪器。  X射线荧光光谱分析具有制样简单、精密度高、准确度好、自动化程度高,能同时对多元素快速分析等优点,已成为化学元素分析的常用工具之一。近年来,国内各分析测试单位配备了很多各种型号的X射线荧光光谱仪,由于仪器功能的充分发挥及分析质量的提高,需要掌握其原理,性能和多种应用技术,为了提高X射线荧光光谱仪器分析技术人员的专业素质和技术水平,充分发挥X射线荧光光谱仪器的功能,提高分析测试质量,特举办培训班,系统地讲授X射线荧光光谱技术及在各领域应用,欢迎大家前来参加。  [b]一、授课教师[/b]  邓赛文:研究员 国家地质测试中心 长期从事X射线荧光光谱分析,主持国家、部、院科学研究项目  [b]二、培训内容[/b]  1、X射线荧光光谱分析基础  2、X射线荧光光谱理论强度计算公式  3、X射线荧光光谱光谱仪分类及其结构性能  4、X射线荧光光谱定量分析  5、X射线荧光光谱分析基体校正  6、X射线荧光光谱定性和半定量分析  7、X射线荧光光谱薄膜和镀层分析  8、X射线荧光光谱分析样品制备  9、化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用  10、X射线荧光光谱分析不确定度评定  11、X射线荧光光谱分析标准化及其在水泥行业中应用  12、水泥用X射线荧光分析仪行业标准介绍  13、X射线荧光分析仪器性能检验实验结果  [b]三、培训对象[/b]  各企事业单位从事X射线荧光光谱分析的工作者和科学研究人员  [b]四、培训时间、地点及收费[/b]  2010年5月24日—5月29日 北京  培训费1780元(包括授课费、讲义、文具、证书费等),食宿统一安排,费用自理。 [b] 五、培训考核与发证[/b]  培训结束后由中国仪器仪表学会分析仪器分会颁发培训合格证书及中国仪器仪表学会会员证书(免收个人会员会费,工本费、邮寄费20元) [b][color=#ec0078] 六[/color][color=#ff483f]、报名方式:010-51299927-101,13269178446,[email=training@instrument.com.cn][color=#ff483f]training@instrument.com.cn[/color][/email][/color][/b]

  • 荧光钙铁元素分析仪是什么仪器

    [size=16px][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &][color=#05073b]荧光钙铁元素分析仪是什么仪器[/color][/font]荧光钙铁元素分析仪是一种微机化的新型台式分析仪器,专为水泥、电厂、建材、砖厂等企业研制。它基于元素特征射线的X荧光能量色散原理,采用低能小功率X光管激发(不用放射源)、正比计数管探测、核电子学及微机等组成,实现了对样品中钙(Ca)和铁(Fe)元素含量的快速、准确测定。荧光钙铁元素分析仪的主要用途包括分析水泥生料、熟料、水泥中的CaO和Fe2O3百分含量,为配料成分控制及时提供数据。此外,它还可以用于分析石灰石、粘土、铁粉、粉煤灰、煤矸石、页岩等混合材中CaO和Fe2O3的百分含量,为进厂原材料提供质量数据。由于分析速度快(通常只需30秒),荧光钙铁元素分析仪能够实时监控生产过程中成分变化的情况,便于及时调整原料配比,为生产合格熟料、水泥打下坚实的基础。此外,荧光钙铁元素分析仪不仅保留了早期钙铁分析仪的优点,还吸纳了当代最新的科技成果,使其分析样品更快、更准,并具有更大的存储容量,有利于用户的质量管理。同时,它符合节能、环保、安全的要求,使得在使用过程中更加安全、可靠。总的来说,荧光钙铁元素分析仪在建材、电力等行业中有着广泛的应用,对于生产过程的控制和产品质量的保障具有重要意义。[img=,400,300]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/03/202403071005446690_7515_6098850_3.jpg!w400x300.jpg[/img][/size]

  • 荧光X射线分析仪

    应对ROHS指令的利剑 ——岛津EDX900HS荧光X射线分析仪 关于“ROHS指令”相信大家并不陌生,“自2006年7月1日起,所有在欧盟市场上出售的电子设备必须禁止或限量使用铅(Pb)、镉(Cd)、水银、汞(Hg)、六价铬(Cr6+ )等重金属有害物质,以及聚溴二苯醚(PBDE)和聚溴联苯(PBB)等燃剂。”简称为“ROHS指令”换句话说也就是:自2006年7月1日起有害元素超标的产品禁止在欧洲市场上销售。 从有关方面了解到,国内很多企业对自已产品中到底含不含“ROHS”指令中涉及的几种有害物质,到底含多少,并不清楚,对欧盟的指令还不够重视,但实事上,国家发改委、信息产业部等相关政府部门也正着手制定“ROHS”相应的我国自已的法规,预期应该和欧盟指令在2006年同步实施。这样一来就会使得中国企业,无论其产品是否出口欧盟,都将面临一个同样的市场准入问题。 全球经济市场正全面提高环保法规标准,各国际大厂已先后投入绿色环保标准的长期计划。欧盟(EU)即将实施二大新环保法令(WEEE及RoHS)。面临严格的环保法规,相信您已有所准备,提升更高的竞争优势。 不够绿(环保),将错失商机。 绿色行动 迫在眉睫!!岛津 EDX900HS X射线荧光分析仪是你最好的选择!台式小型主机,配备全自动开关的大样品室。适应固体、液体、粉体、光盘、薄膜等各种类型的样品。扩展性优越,16/8样品交换、真空/He气氛、4种准直仪、使用CCD摄像头观察样品等。 →分析元素:11Na~92U(EDX-900HS)→检测器:硅半导体检测器,电子冷却无需液态氮成本,操作更方便。→滤波器:5种自动切换,减少背景和元素间的干扰。 →软件:定性、定量分析、FP法、薄膜FP法、BG-FP法→选购件:真空/He测定组件、16/8试样转台、试样容器等丰富的选购件。→可对物质进行快速,准确,方便的定性,定量分析和膜厚测量功能。 采用能最小限度减少试样形状、厚度、材质、位置所带来影响的自动补正软件,可以简单进行测量。对有害元素具有高灵敏度的分析仪国际各大厂商为了树立其绿色产品、环境友好产品的市场形象,提高其绿色产品供应链的品质和综合竞争力,对其所有原料及产品中的纯度和有害物质含量要求进行严密的监测。他们大都采用荧光X射线分析仪(XRF)进行品质控制。例如:索尼公司采购岛津公司EDX系列60多台荧光X射线分析仪。XRF使用简单,不但可以节约时间,精确控制品质,检测范围广,而且无需毁坏样品。 欧盟WEEE/RoHS规则已经出台,贵公司的绿色贸易进程已经开始了吗?我公司可以提供应对WEEE/RoHS规则的检测仪器XRF和ICP。若有任何问题或者产品需求欢迎与我们联络!沈阳兴岛科学仪器有限公司联系人:白晓秋电话:024-23226342 手机:13889251040邮葙:rrrjatto@163.com

  • x射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准

    x射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准Radiological standards for X-ray diffraction and fluorescence analysis equipmentGBZ115-20021 范围 本标准规定了X射线衍射仪和X射线荧光分析仪的放射防护标准和放射防护安全操作要求。 本标准适用于X射线衍射仪和X射线荧光分析仪的生产和使用。2 规范性引用文件 下列标准中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版本均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。 GB4075 密封放射源分级 GB4076 密封放射源一般规定 GB8703 辐射防护规定 ZBY226 X射线衍射仪技术条件3 术语和定义 下列术语和定义适用于本标准。3.1 X射线衍射仪和X射线荧光分析仪 X-ray diffraction equipment and X-ray fluorescence analysis equipment X射线衍射仪 利用X射线轰击样品,测量所产生的衍射X射线强度的空间分布,以确定样品的微观结构的仪器。 X射线荧光分析仪 利用射线轰击样品,测量所产生的特征X射线,以确定样品中元素的种类与含量的仪器。 以下把X射线衍射仪和X射线荧光分析仪统称为分析仪。3.2 闭束型分析仪和敞束型分析仪 enclosed-beam analytic analytical equipment and open-beam analytical equipment 闭束型分析仪 以结构上能防止人体的任何部分进入有用线束区域为特征的分析仪。 敞束型分析仪 结构上不完全符合闭束型分析仪特征的分析仪,操作人员的某部分身体有可能意外地进大有用线束区域。3.3 射线源 radiation source 本标准中,射线源特指X射线管或能便样品受激后发出特征X射线的密封型放射性核素源(以下简称密封型源)。3.4 联锁装置 interlocking device 分析仪的一种安全控制装置,当其中相关的组件动作时可以发出警告信号,或能够阻止分析仪进入使用状态,或使正在工作的分析仪立即关停。3.5 有用线束 primary radiation 来自射线源并通过窗、光栏或准直器射出的待用射线束。3.6 受照射部件 exposed components 分析仪中受到有用线束照射的部件,如:源套、遮光器、准直器、连接器、样品架、测角仪、探测器等。3.7 源套 radiation source housing 套在射线源外部的具有一定防护效能的壳体,分为密封源套和X射线管套。3.8 防护罩 protective enclosure 敞束型分析仪中,用来屏蔽源套和所有受照射部件的一种防护设备。在防护罩的侧面,通常装有可以平移的防护窗,调试、校准等操作结束后,关闭防护窗,能够有效地防止人员受到有用线束和较强散射线的照射。3.9 遮光器 shutter 安装在有用线束出口处的可以屏蔽有用线束的器件。

  • 水泥行业过程控制气体分析仪

    水泥行业按其测点温度的不同分为常温气体分析仪和高温气体分析仪。常温气体分析仪主要包括:预热器C1出口常温气体分析仪、窑尾电收尘入口常温气体分析仪、收尘器出口常温气体分析仪、煤磨煤粉仓常温气体分析仪。高温气体分析仪包括分解炉出口高温气体分析仪和窑尾烟室高温气体分析仪。按其功能又可分为优化燃烧和操作工艺,如分解炉出口高温气体分析仪、窑尾烟室高温气体分析仪、预热器C1出口常温气体分析仪和安全生产类:窑尾电收尘入口常温气体分析仪、收尘器出口常温气体分析仪、煤磨煤粉仓常温气体分析仪。

  • 【求助】关于X射线荧光分析仪的购买问题

    我们工厂原来对铝土矿和高铝矾土熟料的检测都是采用人工的方法,现在准备用X射线荧光分析仪进行检测,不知道要采用什么品牌和型号的X射线荧光分析仪?请各位指教(国内品牌不考虑)。分析项目含量范围%Al2O3≤97SiO2≤90Fe2O3≤15TiO2≤10MnO2≤70CaO≤20MgO≤2K2O≤4Na2O≤8

  • 【原创】关于日本理学的X射线荧光分析仪

    我是搞化验的,专门管维护x射线荧光分析仪 是日本理学产的,我们单位有发X射线计量仪,没有什么防护措施,主任说相当于一台29寸彩电的辐射量,不知道到底对身体有 什么影响 尤其是对女性 哪位了解给说下啊[em61]

  • 【转帖】X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法

    X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法摘  要 本文是一篇关于XRF光谱分析中粉末压片制样法的综述。根据70多篇文献和一些常见的资料, 作者从样品制备、方法应用、理论校正等三个方面介绍了粉末压片制样法的现状和进展。 1 前言   作为一种比较成熟的成分分析手段,XRF光谱分析在地质、冶金、环境、化工、材料等领域中应用广泛。它的分析对象主要是块状固体、粉末、液体三种,其中,固体粉末是分析得最多的一种。因为很多试样如水泥、煤、灰尘等本身就是粉末,对于形状不规则的块状固体,由于直接分析技术还不成熟,往往也粉碎成粉末。液体试样可放入液体样品杯中分析,但由于不能抽真空等原因,有时将液体转变为固体,一些预分离、富集的结果也常是粉末,因此,粉末试样的制样技术是XRF光谱分析中的重要研究课题。   XRF光谱分析粉末样品主要有两种方法:粉末压片法和熔融法。[1,2]对于样品量极少的微量分析,还有一种薄样法,这里拟不介绍。熔融法是应用较多的一种制样方法,它较好地消除了颗粒度效应和矿物效应的影响。但熔融法也有缺点:因样品被熔剂稀释和吸收,使轻元素的测量强度减小;制样复杂,要花费大量时间;成本也较高。粉末压片法的优点是简单、快速、经济,在分析工作量大、分析精度要求不太高时应用很普遍,也常用于痕量元素的分析。从中国理学XRF光谱仪协会和中国菲利浦X射线分析仪器协会的最近两本论文集[3-4]来看,采取粉末压片制样的文章占了很大的比例。在实际应用如水泥、岩石、化探样品的分析中,粉末压片仍是一种应用很广泛的XRF制样法。   近年来,有关XRF及其应用的综述或评论很多[5-13],其中包括样品制备方面的内容,还有一些专门介绍制样法的文章[14-15]。本文根据收集到的70多篇文献,从样品制备、方法应用、理论校正等方面阐述粉末压片法的现状与进展。

  • X射线荧光光谱法分析石油产品中的铁镍钒

    近年来,随着原油开采深度加大,及生产工艺愈加完善,世界原油资源逐渐向着重质化的方向发展,重质原油产品中的金属含量通常是常规原油的数倍,如镍(Ni)、铁(Fe)和钒(V)。在石油炼制过程中,这些金属元素需要持续监测,主要是因为它们对精炼过程中的影响。比如,石油馏分中的镍和铁容易导致加氢装置和催化裂化装置中使用的催化剂中毒,促使产品质量下降,并导致焦炭超标,增加炼油厂的额外成本。而加工原油中镍和钒等重金属对外部环境的污染问题也一直受到环境保护部门的重视和关注。因此准确测定其含量具有重要意义。目前,有两种常用的元素分析技术可实现对石油产品中铁、镍、钒元素的含量进行测量:电感耦合等离子体发射光谱法(ICP)(ASTM D5708B)和 X射线荧光光谱法(XRF)(ASTM D8252)。对于测量灵敏度可达ppb级别的ICP方法来说,样品必须首先经过一个耗时且过程复杂易存在污染的样品制备过程,通常需要4-10小时才能完成,且需要经过专门培训的操作人员才可完成。而X射线荧光光谱法直接测试,减少污染环节,通常可以在不到五分钟的时间内得到结果,操作简单方便,可作为一种经济高效的替代方法,节省数小时的样品制备时间。但在实际应用中,基质影响、元素干扰、以及样品中颗粒物的存在造成的沉降效应等一直是XRF方法目前存在的问题,导致相应元素检测下限和重复性无法满足检测需求。美国XOS公司推出的Petra MAX高精度X射线荧光多元素分析仪,采用单通道激发能量色散X荧光技术(HDXRF),通过单色X荧光照射待测样品,大大突破传统能量色散X荧光检测下限, 适用于亚 ppm 级别的铁、镍和钒等主要元素分析检测,可分析检测原油、柴油、汽油、喷气燃料和润滑剂等碳氢化合物,以及煤炭等固体样品,实现无损分析。创新的“侧照式”进样系统可降低颗粒物沉降带来的数据干扰,并可将意外溢出的液体引至滴液盘,远离重要部件,降低因样品意外泄漏对检测窗及内部重要部件的损坏,避免频繁维护。图 1 美国XOS公司Petra MAX高精度X射线荧光多元素分析仪案列和数据分享:欧洲一家大型炼油厂对Petra MAX的性能进行了相应测试,因为他们认为在5分钟内获得镍、钒和铁元素的含量极具价值,可作为其内部测试流程的潜在补充。该炼油厂进行了一系列元素分析研究,对比了Petra MAX(ASTM D8252)和ICP(ASTM D5708B)在不同油品样品下的精准度。以下仅为VGO样品的数据对比结果:表1:Petra MAX和 ICP标准方法在VGO样品中铁(Fe)含量的数据对比待测元素:铁(Fe)样品类型:VGOPetra MAX测试结果(mg/kg)ICP方法测试结果(mg/kg)结果差异(mg/kg)样品10.530.300.23样品20.650.470.18样品30.990.800.19样品40.220.500.28样品50.710.300.41样品60.830.400.43样品70.200.200.00样品80.280.100.18样品90.160.100.06样品100.170.200.03表2:Petra MAX和 ICP标准方法在VGO样品中镍(Ni)含量的数据对比待测元素:镍(Ni)样品类型:VGOPetra MAX测试结果(mg/kg)ICP方法测试结果(mg/kg)结果差异(mg/kg)样品10.190.160.03样品20.390.370.02样品30.520.500.02样品40.120.100.02样品50.240.200.04样品60.120.100.02样品70.140.100.04样品80.300.200.10样品90.310.230.08样品100.190.320.13表3:Petra MAX和ICP标准方法在VGO样品中钒(V)含量的数据对比待测元素:钒(V)样品类型:VGOPetra MAX测试结果(mg/kg)ICP方法测试结果(mg/kg)结果差异(mg/kg)样品10.500.330.17样品20.860.800.06样品31.071.100.03样品40.430.300.13样品50.210.100.11样品60.370.200.17样品70.250.200.05样品80.310.300.01样品90.130.100.03样品100.570.560.01总结:如表1、表2和表3所示,Petra MAX的结果与ICP方法的结果相比,在三种元素浓度的测量中,两种方法测试结果之间的差异均在这些方法的再现性范围之内。作为X射线荧光光谱法分析设备,Petra MAX操作简单,5分钟内即可得到测试结果,采用单波长激发能量色散X射线荧光技术(HDXRF),大大突破传统能量色散X荧光检测下限,满足日常控制分析需求。Petra MAX是一款可以精准测定VGO及其他类似石油产品中镍、钒和铁元素浓度的宝贵工具,可使实验室更快的做出相应关键决策。

  • 【原创】X射线荧光光谱仪的使用原理及在合金分析上的用途

    合金分析就是采用XRF(X射线荧光光谱)分析原理来分析合金元素成份/含量以及合金牌号,XRF分析原理是目前世界最先进的合金分析原理,相比传统的化学分析方法来说,XRF分析可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位.逐渐取代传统化学分析方法.   X射分析原理是利用X射线激发被测物体表面,使得其表面原子发生能级跃迁,利用探测器接收到X射线,然后通过能谱图对比分析元素成份,每种原子都有其特定的能量光谱图.x射线是1895年德国物理学家伦琴(W.C.RÖntgen)在研究阴极射线管中气体放电现象时,用一只嵌有两个金属电极(一个叫做阳极,一个叫做阴极)的密封玻璃管,在电极两端加上几万伏的高压电,用抽气机从玻璃管内抽出空气。为了遮住高压放电时的光线(一种弧光)外泄,在玻璃管外面套上一层黑色纸板。他在暗室中进行这项实验时,偶然发现距离玻璃管两米远的地方,一块用铂氰化钡溶液浸洗过的纸板发出明亮的荧光。再进一步试验,用纸板、木板、衣服及厚约两千页的书,都遮挡不住这种荧光。更令人惊奇的是,当用手去拿这块发荧光的纸板时,竞在纸板上看到了手骨的影像。  当时伦琴认定:这是一种人眼看不见、但能穿透物体的射线。因无法解释它的原理,不明它的性质,故借用了数学中代表未知数的“X”作为代号,称为“X”射线(或称X射线或简称X线)。这就是X射线的发现与名称的由来。此名一直延用至今。后人为纪念伦琴的这一伟大发现,又把它命名为伦琴射线。

  • X射线荧光光谱分析的基本原理 及应用

    X射线荧光光谱分析的基本原理   当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为10-12-10-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的,与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,X射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。图10.1给出了X射线荧光和俄歇电子产生过程示意图。   K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线,称为K系谱线:由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射(见图10.2)。如果入射的X射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层,此时就有能量ΔE释放出来,且ΔE=EK-EL,这个能量是以X射线形式释放,产生的就是Kα射线,同样还可以产生Kβ射线 ,L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下: λ=K(Z-s)-2   这就是莫斯莱定律,式中K和S是常数,因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。

  • 能量色散X射线荧光硫分析仪

    本人有HORIBA公司的能量色散X射线荧光硫分析仪一台,是展览用样机,全新,地价销售,原厂提供保修一年,可以联系13923763802

  • 结合自己的工作,谈谈X射线荧光分析给你带来了哪些便利。

    X射线荧光光谱分析不仅已广泛应用于地质、冶金、矿山、电子机械、石油、化工、航空航天材料、农业、生态环境、建筑材料、商检等各个领域的物质材料的化学成分分析;而且在某些行业实现了生产工艺过程各个阶段中间产品的现场监测与控制,及时给出工艺过程的有关信息,实现了现场指导,随时调整生产过程的有关因素,从而保证产品的质量并提高其产量。这些都是与X射线荧光光谱分析本身的特点有密切的关系,那么在实际工作中,X射线荧光分析,给你带来了哪些便利,请大家讨论。凡是参与均有积分奖励。

  • 【资料】X射线荧光光谱法( 共37讲)

    [B][center]射线荧光光谱法(1) [/center] [/B] 主讲人 binfu 1 X射线荧光光谱法(X Ray Fluorescence Spectrometry)X射线荧光(以下简称XRF)光谱法的基本原理是当物质中的原子受到适当的高能辐射的激发后,放射出该原子所具有的特征X射线。根据探测到该元素特征X射线的存在与否的特点,可以定性分析;而其强度的大小可作定量分析。在XRF定量分析中,鉴于高灵敏度和多用途的要求,多数采用高功率的封闭式X射线管为激发源,配以晶体彼长色散法和高效率的正比计数器和闪烁计数器,并用电子计算机进行程序控制、基体校正和数据处理。该法具有准确度高,分析速度快,试样形态多样性及测定时的非破坏性等特点,它不仅用于常量元素的定性和定量分析,而且也可进行微量元素的测定,其检出限多数可达10-6,与分离、富集等手段相结合,可达10-8。测量的元素范围包括周期表中从F~U的所有元素。一些较先进的X射线荧光分析仪器还可测定铍、硼、碳等超轻元素。而多道XRF分析仪,在几分钟之内可同时测定20多种元素的含量。

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