分析中电子衍射花样的标定原理

电子背散射衍射EBSD在扫描电子显微镜下通过对多种材料物理属性有影响的晶体结构表征用以做微区纳米结构分析，特别是当它与微区能谱和波谱配合形成一体化综合分析时，其渐已成为电子显微实验室中常规的分析手段之一。 一体化作为Thermo Scientific NORAN System 7微区分析系统的卓越部分，Thermo Scientific QuasOr EBSD可使操作者轻而易举地在不影响EBSD采集速率的同时娴熟地采集能谱全谱图像和波谱数据。经由一个界面完成EBSD、能谱、波谱设置、采集、分析的便捷操控，避免了多个应用程序间繁琐的切换。全部分析数据（EBSD、EDS、WDS）连同对应的分析参数存储为一个项目文件中，便于数据管理及脱机分析。高效率QuasOr EBSD以便捷地操控和高速、完备的数据采集大幅提升了实验室工作效率！QuasOr EBSD以Thermo Scientific NORAN System 7微区分析系统为基石，和能谱、波谱在同一个操控界面进行数据采集、分析，便捷地操控方式使得用户省心、省时！采用引导式设计的EBSD校准和采集设置模式，使得用户快捷地经由必要的设定和步骤，节省时间。高速相机在采集EBSD花样时同步采集NORAN System 7能谱的全谱图像，在最短的时间内获得样品的微观结构和成分数据。便捷地一键即可全面、同步进行全谱图像采集，收集每个像素点的形貌和成分信息而无需对元素或线系进行预设。作为NORAN System 7微区分析系统的卓越部分，所有分析数据都可以一键转换为Word文档报告或者直接打印。Thermo Scientific NORAN System 7微区分析平台的用户实验室中可以按照实际需要安装多套完整的分析软件，用以脱机分析处理数据，有效提高电镜的使用效率，切实提高电子显微实验室资源利用效能！

Thermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX Pro立式X 射线衍射仪，高精度、高效率、高可靠性Thermo Scientific ARL EQUINOX Pro 是一款采用θ/θBragg-Brentano光学的立式X射线衍射仪。这款仪器基于“整体最优”设计原则，凭借先进的软、硬件配置，实现仪器系统运行的整体优化，提升仪器分析的准确性、精确性、易用性和安全性。这款仪器能够出色地完成各类粉末晶体的衍射分析，广泛地应用于材料研发和产品质量控制的相关领域。新型电控测角系统：最新的小型化和分散化电机控制系统，可克服由于驱动电机失步或超步引起的位置误差，提高测角仪的整体控制精度和重复性先进光子探测技术：前沿PTPC(脉冲触发实时位置)计数技术，通过同步脉冲触发探测器的电子门控电路，将测角仪实际到达位置与探测器响应进行同步，实现探测器计数与测角仪位置的精确对应，将角度位置与信号采集精确控制在行业先进级别魔卡免维护设计：光路魔卡设计系统和机械误差动态补偿技术，通过整个光路系统上的组件、光源高低、倾角、狭缝架高低、探测器的魔卡设计，支持用户在切换光路和样品台后无需再次校正，直接使用仪器X射线衍射原理帮助生产过程更高效，降低生产成本精准监控原材料品质，确保产品质量高标准严格遵循流程和法规，助力研发效率再提升

反射高能电子衍射仪（Reflection High-Energy Electron Diffraction）是观察晶体生长最重要的实时监测工具。它可以通过非常小的掠射角将能量为10～30KeV的单能电子掠射到晶体表面，通过衍射斑点获得薄膜厚度，组分以及晶体生长机制等重要信息。因此反射高能电子衍射仪已成为MBE系统中监测薄膜表面形貌的一种标准化技术。　　R-DEC公司生产的反射式高能电子衍射仪，以便于操作者使用的人性化设计，稳定性和耐久性以及拥有高亮度的衍射斑点等特长得到日本国内及海外各研究机构的一致好评和认可。特长 ◆可远程控制调节电压，束流强度，聚焦位置以及光束偏转◆带有安全闭锁装置◆镍铁高导磁合金磁屏蔽罩◆拥有高亮度衍射斑点◆电子枪内表面经特殊处理，能实现极低放气率◆经久耐用，稳定可靠◆符合欧盟RoHS指令 　　低电流反射高能电子衍射仪（Low Emission Reflection High-Energy Electron Diffraction）是利用微通道板技术，大幅减少对样品损伤的同时，并且保证明亮反射电子衍射图像的新一代低电流反射高能电子衍射仪。可以用于有机薄膜材料等结晶结构的分析研究。特长◆大幅度减少电子束对样品的损伤（相当于普通RHEED的1/500-1/2800）◆带有安全闭锁装置◆搭载高亮度微通道板荧光屏◆可搭载差动抽气系统◆kSA400 RHEED分析系统兼容◆符合欧盟RoHS指令

电子衍射仪,微电子衍射仪,3D电子衍射仪ELDICO的专用电子衍射仪是一种非常先进的仪器概念，可用于分析纳米级固体化合物。Product & Technology电子衍射（ED）在科学和工业中正在获得发展。 ED在进行纳米晶体学研究中的应用是一项颠覆性的创新，它将打开令人着迷的新视野，尤其是化学，制药和高级材料研究领域所需的有机化合物。The ELDICO Electron Diffractometer 以更高的质量，更快的速度和更低的价格塑造晶体学的未来：电子加速衍射通过进入亚微米范围来消除晶体尺寸问题。ELDICO科学电子衍射仪旨在测量有机和无机化合物纳米范围内的样品，并旨在在大多数情况下实现分辨率高达0.84%，且至少60-70％的完整数据集的Rint20％。 这些数据通常将允许在75％的情况下进行结构求解和细化，使R1值降至10％。 晶胞测定可以精确到千分之一。在一篇有关晶体学和电子衍射的文章中[1]，电子，中子和同步辐射等新型晶体学方法的创新潜力得到了明确认识。 这些技术现在使研究以前无法获得的结晶固体的原子结构成为可能。 除了新型检测器系统的性能外，还得益于更高的计算能力以及包含一百万个晶体结构的剑桥结构数据库（CSD），从而可以以过去无法想象的方式使用数据。 文章强调了电子衍射的作用。作为主要（众所周知）瓶颈之一的足够大的晶体的可用性，作者认为电子衍射和量子晶体学具有巨大的潜力：当前的一项发展是通过电子衍射阐明纳米晶体分子化合物的结构 。 由于混合像素检测器与透射电子显微镜的结合，现在可以确定小到几十纳米的单晶结构。我们认为需要仍然非常昂贵（我们认为不太合适）的microED设备，该设备主要是电子设备。

反射高能电子衍射仪（ReflectionHigh-Energy Electron Diffraction）是观察晶体生长最重要的实时监测工具。它可以通过非常小的掠射角将能量为10～30KeV的单能电子掠射到晶体表面，通过衍射斑点获得薄膜厚度，组分以及晶体生长机制等重要信息。因此反射高能电子衍射仪已成为MBE系统中监测薄膜表面形貌的一种标准化技术。　　R-DEC公司生产的反射式高能电子衍射仪，以便于操作者使用的人性化设计，稳定性和耐久性以及拥有高亮度的衍射斑点等特长得到日本国内及海外各研究机构的一致好评和认可。用于有机薄膜晶体结构检测。世界首创！欢迎来电询问详细技术资料！

用于透射电镜电子衍射的高性能探测器相机ASI的Chee-tah是一种适合于电子显微镜应用的混合像素探测器。Chee-tah卓越的灵敏度和速度为获得电子衍射、成像及断层扫描提供了可能性。Chee-tah 含有一个硅二极管传感器，硅二极管被分成512x 512或1024 x 1024的像素阵列。每个像素通过bump-bonds与集成在芯片上的读出电子器件相连，芯片位于传感器下方。每个像素的电子器件单独处理来自该像素传感器的信号。每个独立像素对其相应区域中检测到的事件进行计数和处理。闪烁体CCD探测器探测不到噪声量级的微弱信号，而Chee-tah可以获得。与其它类型的直接探测器相机比较，Chee-tah的动态范围很大，电子束灵敏度很高，常用于衍射实验。Chee-tah的高速特点使之成为观察动态过程和捕捉快速衰减信号的理想工具。探测器优点1）ASI的新型超高灵敏探测器提供了一种通过电子衍射研究微米和纳米尺度晶体的解决方案，并可安装在现有的透射电镜底部，或也可侧装。高灵敏度以及高读出速率及宽动态范围使得用户能够收集远超过CCD和CMOS相机所限制的数据。对(4D)STEM应用来说，这意味着能够对大面积进行快速扫描。2）多功能设计使我们的探测器向后兼容几乎所有的电子显微镜，也可进一步调整以满足用户新需求。3）X射线晶体学是测定蛋白质和其它光束敏感材料之原子结构常用的方法。要获得高分辨率的X射线数据，通常需要比较大的晶体。然而，在许多情况下，只生长出微米或纳米尺度的晶体。近期的研究结果表明，微米和纳米尺度晶体可以用TEM电子衍射来研究。应用领域能量分辨X射线计算机断层扫描快速生产线X射线检查电子显微镜质谱Chee-tah120TimepixChee-tah1800Timepix3RXChee-tah(event)Timepix3Pixels(55um)512 x 512 / 1k x 1k512 x 512 / 1k x 1k512 x 512Sensitive Area2.8 x 2.8 / 5.6 x 5.6 cm2.8 x 2.8 / 5.6 x 5.6 cm2.8 x 2.8 cmMax Speed120 Hz1800 / 425 Hz1.6 ns (500 MHz)Counter Depth13.5 bit12/24 bit14bitSensorsSi, GaAsSi, GaAsSi, GaAsConnection1 GB / 4 x 1 GBEthernet10 GB Ethernet10 GB EthernetOperationCounting, TOA, TOTCounting, CSMSimultaneous, TOA, TOT型号及配置荷兰ASI公司(Amsterdam Scientific Instruments B.V.)出品的Chee-tah系列用于TEM ED的光子计数型混合像素探测器相机有多种型号及配置可选：1）可选型号：Chee-tah120（Timepix技术，ToT、ToA等应用，帧频120f/s，阈值数1个）；Chee-tah 1800（Medipix3RX技术，CSM&SPM模式等应用，帧频1800f/s，阈值数1或2个）；Chee-tah(event)（Timepix3技术，ToT、ToA、光子时间戳、速度映射成像和符合成像等应用，可与同步加速器或自由电子激光等配套，时间分辨率1.6纳秒，超高速帧频500 MHz，阈值数1个）等。2）可选传感器材料类型：Si, GaAs, CdTe, ... 常用硅，可选砷化镓（高能量用途），碲化镉（更高能量用途）。3）可选传感器厚度：300um/500um/1000um（标配300um，高能量应用请选较厚的厚度）4）可选像素数：65k、262k、524k、1M、2M等不同活区面积。5）可选底装或侧装。上述总有一款及其配置适合您的TEM ED晶体学分析和结构解析以及X射线检测和成像应用，欢迎选购！

反射式高速电子衍射仪RHEED 制造商名称：R-DEC株式会社RDA-005G产品信息随着薄膜晶体生长技术的发展，反射高速电子衍射作为结晶评价的观察方法已成为不可或缺的手段。在RHEED中，大约10至30KeV的电子束通常以几度的浅入射角入射到样品表面，由于电子的波动性，电子束被晶格衍射，投影到对面的屏幕上，这是一种可以让您检查结构的设备。电子枪的特点紧凑的设计实现高亮度（与本公司相比120%）具有联锁安全机构标准配备磁屏蔽高耐用性和可靠性符合RoHS指令电源特点新增光束消隐功能数字控制提高稳定性设定值保存/恢复功能，可保存100种最佳条件设定值采用液晶显示，让您即时查看所有参数支持使用 k-Sapce 图像分析系统 (kSA 400) 进行原位分析绘画规格电子枪模型RDA-005G绝缘电压直流30kV光斑直径最小Φ90μm灯丝钨钢发夹韦纳特可变偏差聚焦镜空芯电磁透镜偏光镜片环形电磁透镜光束偏转X/Y：±8°磁屏蔽标准设备运营压力 1×10 -3 Pa单级差动排气型 1 Pa * )最高烘烤温度200℃安装法兰ICF70-FH尺寸Φ100 mm x 335 mm（455 mm 包括连接器）*选项：RDA-005G-DP电源模型RDA-006P加速电压-3 ~ -30 kV (纹波 15 V pp)发射电流高达 80 μA灯丝电源0 至 +2 V，高达 1.9 A偏置电源0 至 480 V 可变（纹波 5 m V pp）具有记忆功能的遥控器LCD显示：加速电压、发射电流、灯丝电流、　　　偏置电压、光束偏转（X/Y）、焦点（Z）互锁高压互锁装置电缆高压电缆5 m，遥控电缆7 m外部输入/输出模拟数字 I/O，兼容 kSA 400 喷枪控制输入功率交流100V尺寸EIA 4U 高 177 毫米 x 宽 482.5 毫米 x 深 450 毫米其他的符合 RoHS 标准RHEED 分析系统 kSA 400 　除了晶格间距、应变变化、薄膜生长速率、薄膜厚度和相干长度之外，您还可以通过 RHEED 衍射图像轻松监控评估/分析晶体薄膜表面所需的信息。除了分析获取的衍射图像和视频外，还可以对高速基板旋转期间获取的数据进行精确的原位分析。

日本R-DEC株式会社RDA-006P反射式高速电子衍射仪电源产品信息随着薄膜晶体生长技术的发展，反射高速电子衍射作为结晶评价的观察方法已成为不可或缺的手段。在RHEED中，大约10至30KeV的电子束通常以几度的浅入射角入射到样品表面，由于电子的波动性，电子束被晶格衍射，投影到对面的屏幕上，这是一种可以让您检查结构的设备。电子枪的特点紧凑的设计实现高亮度（与本公司相比120%）具有联锁安全机构标准配备磁屏蔽高耐用性和可靠性符合RoHS指令电源特点新增光束消隐功能数字控制提高稳定性设定值保存/恢复功能，可保存100种最佳条件设定值采用液晶显示，让您即时查看所有参数支持使用 k-Sapce 图像分析系统 (kSA 400) 进行原位分析绘画规格电子枪模型RDA-005G绝缘电压直流30kV光斑直径最小Φ90μm灯丝钨钢发夹韦纳特可变偏差聚焦镜空芯电磁透镜偏光镜片环形电磁透镜光束偏转X/Y：±8°磁屏蔽标准设备运营压力 1×10 -3 Pa单级差动排气型 1 Pa * )最高烘烤温度200℃安装法兰ICF70-FH尺寸Φ100 mm x 335 mm（455 mm 包括连接器）*选项：RDA-005G-DP电源模型RDA-006P加速电压-3 ~ -30 kV (纹波 15 V pp)发射电流高达 80 μA灯丝电源0 至 +2 V，高达 1.9 A偏置电源0 至 480 V 可变（纹波 5 m V pp）具有记忆功能的遥控器LCD显示：加速电压、发射电流、灯丝电流、　　　偏置电压、光束偏转（X/Y）、焦点（Z）互锁高压互锁装置电缆高压电缆5 m，遥控电缆7 m外部输入/输出模拟数字 I/O，兼容 kSA 400 喷枪控制输入功率交流100V尺寸EIA 4U 高 177 毫米 x 宽 482.5 毫米 x 深 450 毫米其他的符合 RoHS 标准RHEED 分析系统 kSA 400 　除了晶格间距、应变变化、薄膜生长速率、薄膜厚度和相干长度之外，您还可以通过 RHEED 衍射图像轻松监控评估/分析晶体薄膜表面所需的信息。除了分析获取的衍射图像和视频外，还可以对高速基板旋转期间获取的数据进行精确的原位分析。

反射式高速电子衍射仪RHEED 制造商名称：R-DEC株式会社RDA-005G、RDA-005G-DP反射式高速电子衍射仪RHEED日本R-DEC株式会社RDA-005G产品信息随着薄膜晶体生长技术的发展，反射高速电子衍射作为结晶评价的观察方法已成为不可或缺的手段。在RHEED中，大约10至30KeV的电子束通常以几度的浅入射角入射到样品表面，由于电子的波动性，电子束被晶格衍射，投影到对面的屏幕上，这是一种可以让您检查结构的设备。电子枪的特点紧凑的设计实现高亮度（与本公司相比120%）具有联锁安全机构标准配备磁屏蔽高耐用性和可靠性符合RoHS指令电源特点新增光束消隐功能数字控制提高稳定性设定值保存/恢复功能，可保存100种最佳条件设定值采用液晶显示，让您即时查看所有参数支持使用 k-Sapce 图像分析系统 (kSA 400) 进行原位分析绘画规格电子枪模型RDA-005G绝缘电压直流30kV光斑直径最小Φ90μm灯丝钨钢发夹韦纳特可变偏差聚焦镜空芯电磁透镜偏光镜片环形电磁透镜光束偏转X/Y：±8°磁屏蔽标准设备运营压力 1×10 -3 Pa单级差动排气型 1 Pa * )最高烘烤温度200℃安装法兰ICF70-FH尺寸Φ100 mm x 335 mm（455 mm 包括连接器）*选项：RDA-005G-DP电源模型RDA-006P加速电压-3 ~ -30 kV (纹波 15 V pp)发射电流高达 80 μA灯丝电源0 至 +2 V，高达 1.9 A偏置电源0 至 480 V 可变（纹波 5 m V pp）具有记忆功能的遥控器LCD显示：加速电压、发射电流、灯丝电流、　　　偏置电压、光束偏转（X/Y）、焦点（Z）互锁高压互锁装置电缆高压电缆5 m，遥控电缆7 m外部输入/输出模拟数字 I/O，兼容 kSA 400 喷枪控制输入功率交流100V尺寸EIA 4U 高 177 毫米 x 宽 482.5 毫米 x 深 450 毫米其他的符合 RoHS 标准RHEED 分析系统 kSA 400 　除了晶格间距、应变变化、薄膜生长速率、薄膜厚度和相干长度之外，您还可以通过 RHEED 衍射图像轻松监控评估/分析晶体薄膜表面所需的信息。除了分析获取的衍射图像和视频外，还可以对高速基板旋转期间获取的数据进行精确的原位分析。

仪器简介：Reflection High-Energy Electron Diffraction (RHEED) has become widely known as an essential method for real-time observation of crystal growth. RHEED can be used to analyze film surfaces in either a static mode for existing materials or dynamically as film growth evolves. This makes RHEED an exceptionally valuable tool for investigating structures in Molecular Beam Epitaxy (MBE).In general, RHEED is a method for investing the structure of crystal surfaces. A high-energy electron beam(10-30KeV) is directed at the sample surface at a low incident angle(1-2°).The electrons are diffracted by the crystal structure of the sample being investigated and then projected on a fluorescent screen mounted opposite the electron gun. The characteristic pattern of the impinging electrons is a series of streaks. The distance between the streaks is an indication of the surface lattice cell size.RHEED系统可以实时监控表面结构，所以可以被广泛应用于以下领域： &bull 结晶学(Crystallography) &bull 超导体(Superconductors) &bull 分子束外延生长Molecular beam epitaxy (MBE) &bull 化学气相沉积Chemical vapor deposition &bull 激光脉冲沉积（PLD）、有机分子化学气相沉积(MOCVD) &bull 冶金(Metallurgy) &bull 薄膜制备(Thin film deposition) &bull 涂层(Coatings)技术参数：30KeV Electron Gun:Beam Spot Size: 90micro meter dia. Maximum Filament: 0.1mm dia. Tungsten Wire (hairpin-shaped) Wehnelt: Self Bias Focus Lens: Air Core Solenoid Coil Lens Deflection Lens: Troidal Coil Lens Axial Alignment Mechanism: Alignment for Filament and Wehnelt Insulation Voltage: DC30KV Working Pressure: 10-4Pa to 10-9Pa Max. Bakeout Temperature: 200 degrees C Mounting Flange: ICF70 Dimensions: 100mm dia. x 401mm long (501mm long with a connector inserted) 30KeV E-GUN POWER SUPPLY:Acceleration Voltage: 0 to -30KeV Constant Voltage Supply ( Ripple 0.03% Maximum) Beam Current: 0 to 160 micro ampere Filament Voltage: 0 to 5V Constant Voltage Supply (Ripple 0.05% Maximum) Filament Current: Max. 2A Deflection Lens Supply: 1A Constant Current Source(plus or minus1V) (Ripple 0.05% Maximum) Focus Lens Supply: 0 to 1.5A Constant Current Source(0 to 22V) (Ripple 0.05% Maximum) Input Power: 200V, 220V, 230V, 240V Dimensions: 480mm x 199mm x 500mm (cable +100mm) Safety Feature: High Voltage Interlock Others: RoHS-ready 主要特点：1. 电子枪部分 RHEED电子枪是专门为进行衍射研究所设计的电子光学系统，其能量范围从10到30keV。通过结合静电和磁部件，保证了电子枪具有高亮度、小斑点、低分散和极低放气率的特征。电子枪可以完全安装在腔体外面，可以原位保养，可以烘烤。如果配备了差分抽气系统，还可以在高压环境下使用。 2. 控制电源部分 设计紧凑的提供30KeV能量的电子枪电源控制部分，由电子元件制造。电子枪的设置参数，如能量、灯丝电流、束流强度等都可以数字形式在显示器上显示，而且可以通过一个简洁的控制面板远程控制调节束流强度、聚焦位置等。系统具有自我诊断能力，可以快速全面地对RHEED系统进行检查。 3．电子束光阑 通过电子束光阑可以控制束流的开关，这样可以保证样品上极低的电子负荷。光阑开关信号也可同时被外部信号触发，这样就使得RHEED可以在有干扰磁场下使用，并可以用来研究旋转样品。 4. 电子束摇摆 为了做RHEED分析，电子束以掠角方式入射样品。 独特的电子束摇摆特征，允许调节和变化电子束入射角度，而不用移动样品。这个特征在对固定位置的样品进行分析测试时是非常有用的 5．差分抽气系统 通常的电子枪是为在如10-4 torr 这样较高压力条件下工作设计的，但是这样必然导致灯丝寿命的缩短。带有差分抽气系统选项的RHEED系统， 保证了可以在高压和有反应气体存在的环境下进行日常的操作。对灯丝部分的高效抽气，使得RHEED系统同其他系统相比有无与伦比的灵活性。 6. 计算机控制 RHEED系统可以完全由计算机来控制。电子枪控制部分包括一个界面模块和一个软件包，这保证了RHEED的使用灵活性，和可重复性。 用户自己设定的参数可以被保存并调入，通过电子束光阑可以控制电子束的开关，使用电子束摇摆特征可以调节电子束入射角度。 7. 荧光屏 提供各种尺寸的荧光屏，它们有高空间分辨率和对比度。荧光屏上的镀铝保护涂层确保荧光屏有好的电接触特性，并可以屏蔽掉从真空腔来的一些游离光线，从而提高RHEED图像的对比度。 8．数据采集和分析系统 RHEED Vision 是一套可以同现存的各种RHEED系统配套使用的功能强大的数据采集软件， 它可以同时进行图像处理和实时数据分析。并且有很多可选的数据缩减程序。另外还提供其它的硬件控制模块，如锁相外延生长，快门控制，激光脉冲触发器等。

国际衍射数据中心PDF粉末衍射数据库（Powder Diffraction File，PDF）国际衍射数据中心（The International Centre for Diffraction Data, ICDD）是一个非盈利的科学组织，是全球X射线衍射权威机构，致力于收集、编辑、出版和发行用于晶态材料鉴定的粉末衍射数据。沃根瑞特科技（北京）有限公司于2018年被国际衍射数据中心(ICDD)认可为中国区授权代理商，被授权在中国区进行PDF衍射数据库的推广、销售等工作。PDF粉末衍射数据库（Powder Diffraction File，PDF）国际衍射数据中心(ICDD)-PDF粉末衍射数据库是经过ISO认证的晶体学数据库，所有数据经过严格质量审查，并给出质量标记。PDF数据库覆盖面广，精度高，兼容性强，功能强大，涵盖30多个领域，是材料学、物理学、化学、地质学、药物学、生物学、检验检疫、司法鉴定等科学研究及工业生产等领域不可缺少的数据库，并赢得全球用户的信任和支持，为新材料的探索做出了卓越的贡献。质量高：高质量、标准化衍射数据和单晶结构数据，每年剔除低质量数据；包含不同靶材X射线、中子、电子及同步辐射衍射数据；提供二维/三维晶体结构、选区电子衍射图（SAED）、自动指标化SAED图、电子背散射衍射图（EBSD）、二维衍射环等；提供物相的高温、高压衍射数据；每一条数据均提供参考文献、材料物性信息，大大缩短科研及产品研发周期；支持全自动检索物相和定量分析功能；方便快捷保存多种数据形式；可与Jade、EVA、Highscore、PDXL等软件兼容；PDF数据库（Powder Diffraction File，PDF）具有多个版本，请联系我们，我们会帮您确认所需版本!PDF-4+ 粉末衍射数据库412,000+套衍射数据311,200+套原子坐标位置PDF-4+ 是一个包含PDF-2数据以及ICDD与MPDS合作数据的先进数据库。其设计宗旨在于定量分析(Rietveld, RIR和Pattern Fitting)和物相鉴定。数据库中涵盖了大量无机材料，并且包含了大量数字谱线、分子图形和原子参量等信息。通过利用Rietveld分析、参考强度比(RIR)方法和全谱分析法这三种方法之一，增强了定量分析的能力。PDF-2 粉末衍射数据库304,100+套衍射数据PDF-2是ICDD、FIZ以及NIST的合作产品，设计用于无机材料的分析。ICDD中很多常规的有机材料数据被加入到了这个数据库，这样可以便于快速的物相鉴定。PDF-4+ / Organics 有机物 粉末衍射数据库535,600+套特色有机物&有机金属化合物衍射数据115,500+套原子坐标位置PDF-4/Organics　的设计宗旨是有机和有机金属材料的鉴定。除了484,910个有机条目外，还包含几千个无机材料和基本的药物赋形剂信息，以便于配方分析和鉴定。PDF-4+ / Minerals 矿物　粉末衍射数据库46,100+套衍射数据37,000+套原子坐标位置PDF-4/ Minerals 是PDF-4+的子系统，包含那些已编入PDF-4+的新功能。这个数据库是世界上有关矿物和相关矿物材料的权威数据库。这些相关材料包括人造矿物、宝石和在非大气条件下处理的样品。*请使用正版数据库，免除因错误使用数据库而带来的拒稿风险！

新型的DECTRIS QUADRO® 探测器为材料科学研究TEM提供了理想性的性能，不断突破电子探测的极限。同时，这款直接电子探测器能够在很高计数率下实现单电子探测的能力。并且保持理想的动态范围、速度及探测灵敏度，而不必担心透射电镜高能汇聚电子束对探头的损伤。产品介绍 QUADRO采用完全由DECTRIS设计的全新EIGER2 ASIC驱动，以及我们具有专利保护的 INSTANT RETRIGGER® 技术，可在感兴趣区域（ROI）模式下提供 32 位动态范围和高达每秒18,000 帧的读数，无需图像叠加，无噱头!核心优势 — 直接电子探测— 感兴趣区域模式— 高达18,000帧每秒— 无死区时间— 无噪声电子计数— 107光子计数/秒/像素— 无需光束阻挡器— 在低能量下仍然提供理想DQE应用领域— 电子衍射— 4D-STEM— 应力分析— 洛伦兹显微镜术成像— 叠层成像术— 原位透射电镜— 动态透射电镜 TEM— LEEM/PEEM 技术规格单像素尺寸 [μm2]75 × 75像素数 (W x H)512 × 512有效面积, W × H [mm2]38.4 × 38.4能量范围 [keV]30 - 200最大帧速率 (ROI, max.) [Hz]9'000 (16-bit) 18'000 (8-bit)帧速率 (ROI,max.) [Hz]2'250 (16-bit), 4'500 (8-bit)传感器材料Silicon (Si)DQE (0) 计数率 (max.) [el/s/pixel]107量子探测效率 DQE(0)0.9 at 100 kV 0.8 at 200 kVDQE (0) 探测器安装位置Bottom-mounted, on-axis产品应用TedPella铝蒸发料校准样品的衍射花样。QUADRO的动态范围能够解析出更高角度(大约0.82&angst -1)微弱的衍射环，同时不需要遮挡透射束。支持收集样品含有的所有数据!单体单层二硫化钼的高分辨率成像和衍射，即使采用配备QUADRO 探测器的常规透视电镜也能清楚地分辨出四角晶格,其衍射图案仅需要约2*105个电子和10ms的采集时间。QUADRO的成像速度比您实验室中环境干扰还快。因其具备高速和高灵敏度等优势,即使在漂移和干扰下，仍可采集高质量数据。 请升级您的显微镜，而非实验室!

SymmetryS2是搭载于扫描电镜（SEM）/聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）的电子背散射衍射仪(EBSD探测器)，基于始创的CMOS技术。它是一款拥有出色的性能、易用性以及一系列创新设计的特点的EBSD。可用于金属、合金、陶瓷、地质、半导体、电池样品的结构、物相、晶粒、取向等分析。 Symmetry S2采用专门定制的CMOS传感器，拥有独特而强大速度、灵敏度和衍射花样细节等特点。Symmetry S2与AZtec软件相结合，为各种材料和测量提供出色的性能。Symmetry S2的分析速度超过4500pps，是市场上任何基于CCD的EBSD探测器的两倍以上，而这是在没有高束流或过多像素合并的条件下实现的。这意味着，即使在具有挑战性的实际样品上，如多相轻金属合金或变形钢，也能实现高速分析。 仅用12 nA束流就能保证标定速度超过4500 pps 在高速下具有156x88像素图像分辨率–比快速CCD探测器的像素高出16倍以上 全分辨率（1244x1024）模式——高分辨率(HR)-EBSD应变分析的理想选择 低失真光学元件, 确保角度精度优于0.05° 优化荧光屏的高灵敏度, 确保低剂量和低电子束能量下的高质量花样——实现更大的空间分辨率 即使在高速下也能实现无缝集成EDS 软件控制倾斜接口并自动校准——无论样品尺寸大小，都能实现准确的定位和标定 波纹管SEM接口，保持显微镜真空完整性 接近传感器——在可能发生的碰撞发生前提前感知,并自动将探测器移动到安全位置 简单直观的探测器设置，确保每次都能获得良好的效果五个集成的前散射探测器（FSD）, 提供彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像

X射线衍射分析软件XROCK简介： XROCK衍射分析软件是针对粘土和全岩石油地质工作人员设计，用于对矿物、全岩，粘土，伊利石结晶度和白云石有序度等地质样品的衍射数据进行分析的，满足SYT 5163-2018 沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法标准的要求。 在石油及地质行业衍射谱图解释虽然有标准的详细指导仍然比较繁琐，如果是批量样品将是个巨大的工作量。在保证分析质量的前提下如何快速完成任务就需要XROCK分析软件的帮助。xrock基本实现了谱图处理的主要功能。 可以打开几十种谱图文件格式，甚至可以导入未知格式文件，平移缩放，背底，光滑，寻峰，积分，拟合，去除Ka2等功能，有PDF数据库可以物相检索。XRock开发了符合石油地质行业标准SYT 5163-2018的多个功能模块。主要功能： 全岩分析模块 粘土分析模块 伊利石结晶度分析模块 白云石有序度分析模块 快速全谱拟合矿物成分分析模块软件特点： 功能模块严格执行有关标准 软件算法思路清晰 主观见解在软件上自由体现 软件操作自动化辅助 软件操作简单化，用鼠标即可完成 大幅缩减谱图解释时间，消除谱图解释工作量软件安装环境：winXP,win7，win10

桌面式X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上，样品台位于测角仪中心，基于反射几何θs-θd，X射线光束在满足布拉格定律时，在特定的方向上发生衍射现象，经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上，最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。FRINGE EV是公司自主研发的一款桌面式X射线衍射仪器，其融合XRD和计算机软件等多项技术，可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，具有精度高、准确度高、稳定性好、应用范围广、操作简便和智能化等特点，为材料研究、大学及研究院所、建筑材料、金属、矿物、塑料制品、医药品和半导体等众多领域提供高精度的分析。使用优势空气弹簧大橱窗升降门空气弹簧大橱窗升降门，节约桌面空间，适合每一台办公桌，有效提高空间利用率。桌面式千瓦级功率FRINGE EV拥有强悍的KW级功率，让他成为桌面式XRD领域无与伦比的收割机。适合所有人的XRDCrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX软件 吧。安全性具有在测试过程中自动切断保护装置、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能。集成式索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得界FRINGE桌面式XRD可安装于车载实验室平台。DPPC探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器），计数吞吐量≥1×10^7CPS，无需使用二级单色仪，DPPC探测器在提供衍射数据的同时提供能量色散光谱数据。规格参数测角仪θ/θ立式测角仪、衍射圆半径 150mm2θ角度范围-3° - +150°2θ角度精度全谱范围内＜±0.02°偏差分辨率0.04°2θ 半峰宽FWHM索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性平台X光管金属陶瓷 X 射线管，焦点：1 x 10 mm，默认配置Cu靶，可选配 Co、Cr、Mo靶高压发生器功率标配1200W，最大支持1600W仪器尺寸580 x 450x 680mm（L×W×H）重量120KG电源220V±10V，50Hz，整机功率 最大值2000W散热方式FRINGE EV使用外置水循环冷却系统，强力冷却澎湃动力探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器）接口紧凑的家用墙插插头提供电源，USB接口连接PC用于控制XRD气源提供2路气源接口，可用于原位分析或气氛保护安全性FRINGE EV具有空气弹簧大橱窗升降门，可无死角观察原位分析过程，并可有效屏蔽X射线，具有在测试过程中自动切断的保护、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能云端服务功能配套使用可同步的移动端APP服务，用于支持衍射数据卡片化管理，并支持接入知识管理系统CrystalX软件CrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，无需手动检索，无需扣背景，无需平滑，无需手动寻峰，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX 软件 吧

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仪器说明: Innov-x Terra作为一款航天军用X射线衍射仪（XRD），现已被广泛应用于地质矿产、石油化工、医药、材料、水泥、刑侦、环境、考古、海关等领域，主要为晶体物质提供物相分析、晶体结构分析、晶胞参数分析、应力分析等。全球首款真正意义上的便携式XRD。 标配清单：1.便携式X 射线衍射仪Terra主机1台；2.嵌入式Linux操作系统1套；3.XRD数据分析软件Xpowder1套；4.粉末数据库1套；5.航空运输胶箱1个；6.电源适配器1个；7.主机锂电池4个；8.制样系统1套；9.滤筛1套；10.工具包1套；11.螺丝刀1个；12.样品匙1个；13.螺丝8个；14.窗口膜2套；15.标准样品（石英）1瓶；16.开机钥匙2把；17.U盘(内含用户手册,软件等)1个；18.快速操作指南1份； 19.校准证明1张。 技术参数:外形尺寸485X392X192mm重量14.5Kg色彩黑黄色相间环境工作温度-20℃ ～35℃环境湿度0～75%供电系统100～240V,50/60 Hz内存容量40GB激发源低功率X射线陶瓷管,稳定性高,辐射低,使用寿命长靶材Cu或Co靶二选一,也可根据用户选择其他靶材探测器二维能量敏、位敏的CCD面探测器,收集整个劳厄斑的信息,增大了数据收集量 同步进行XRD和XRF分析,XRF信息有助于XRD分析冷却系统采用了Peltier恒温冷却系统,控测器在-45℃下工作,保证仪器的检测精度,和不受外界温度的影响射线管电压,电流电压30kv,电流300uA电池现场使用:可使用电池独立工作4～6小时壳体材料Terra使用工业级的高强度高分子材料做外箱,整机密封性好,防水防尘防震样品振动系统(NASA专利)替代了传统台式机的测角仪系统,可以获得待测样品全方位衍射信息便携性仪器小型化,占地小,重量轻,无需专业的实验室,无需水循环冷却系统,维护方便,成本低自动化无测角仪系统,仪器使用做样品振动系统(NASA专利),样品制备更加简单,无需专业人员操作,自动化程度更高快速检测全谱显示而非步进扫描,普通样品3分钟即可完成分析制样制样简单样品无需制片、压片、刮片,只需得到150um的颗粒即可样品振动技术完全消除检测过程中晶体的择优取向,间接地增大了焦斑面积,使样品室内所有的样品都参加衍射,提高了统计量衍射几何透射衍射技术光路距离XRD光管产生的X射线光束与样品之间的光路距离50px,可以有效地降低X光束的散射能量的耗散从而保持有效的光束强度一键式按钮一键式按钮:无需复杂的参数设置,点击Start即可测试操作界面无需专门的操作软件,连接网络后在IE界面即可操控仪器数据重现性及再现性同一个样品,不同的人检测或者同一个人检测不同次数,数据完全一致超长使用寿命由于功率很小,因而阳极靶材的质量衰减比常规大功率XRD的靶材衰减要弱得多,理论寿命可达无限,实际使用测试达8-10年,远远长于常规大功率XRD的光管使用寿命(3-5年)数据输出文件可采用TXT, plv等格式输出数据传输采用无线wifi、USB传输数据辐射安全警示具有明显的射线开启警示灯、警示标签,以及软件内的警示提醒辐射安全根据NCPR(美国辐射防护委员会)标准,在美国每年的全身辐射受照量的允许值是50mSv/年,手足等表皮组织的年辐射受照量的允许值是50Rem/年辐射量正确使用X射线衍射仪TERRA仪器,辐射能级0.5 mRem/Hr,所吸收的辐射每年小于1.5Rem,远远低于安全值,X射线衍射仪TERRA是非常安全的辐射安全认证辐射全球最低, 美国原厂辐射报告.国家计量研究所报告

弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备， 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等；同时致力于开发多种 结构的弯晶构型，包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试， 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律，即当入射X射线与晶体晶格相互作用时，会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状，能够精确控制X射线的衍射效应，从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1，衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一，使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试，对各种弯晶材料进行了全面的研究，总结出相应的的性能特点，可以为客户提供优化设计的支持。弯晶石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶，并对各种弯晶构型做了详细测试，综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用，XRF能够在激发端有效降低荧光背景，检出限相比传统能谱方案降低一个数量级，如硫的检出限可达到1ppm以下，符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦，部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时，检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级，测硫方案符合ASTM 7039标准；部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值，还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务，将设计、制作和调试打包成一体，为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器，即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持，保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。

苏州锂影科技有限公司X射线衍射仪机中机苏州锂影科技有限公司 锂影团队长期从事于X射线衍射仪的开发与应用研究，积累了丰富的项目经验。团队针对智能化快速X射线衍射仪已经开展了类德拜照相、多位样品台设计、多线程控制软件设计等相关基础研发工作。01 产品说明 Product Instructions个性化定制衍射仪——“机中机”的搭建依托于日本理学Smartlab衍射仪，并在Smartlab上完成了验证。该机型可以实现多位粉末样品连续测试以及原位热退火和原位溶剂蒸气处理过程的秒级快速跟踪02 技术参数 Technical Parameter‍‍角度偏差：不超过0.1°重复性：0.1°最小步进角度：0.1°发生器功率：2.2kW03 售后服务 After-sale Service1、免费上门安装：是 2、保修期：5年 3、是否可延长保修期：是4、保内维修承诺：免费上门指导5、报修承诺：24小时线上服务6、免费仪器保养：1年1次7、免费培训：工程师技术培训8、现场技术咨询：有 9、售后服务电话：

FRINGE CLASS桌面式X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上，样品台位于测角仪中心，基于反射几何θs-θd，X射线光束在满足布拉格定律时，在特定的方向上发生衍射现象，经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上，最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。FRINGE CLASS是公司自主研发的一款多功能粉末衍射分析仪器，其融合XRD和计算机软件等多项技术，可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，具有操作简便、精度高、检测速度快等特点，为材料研究、生物医药、矿物、塑料制品、半导体等众多领域提供高精度的分析。使用优势θ-2θ联动测角系统专利新型θ-2θ耦合联动测角系统，单轴驱动机构，精约简省，立志非凡。内置水循环冷却系统FRINGE CLASS内置水循环冷却系统，无需额外增加冷水机，软件可实时显示X射线管中水温、流量、流速等信息。适合所有人的XRDCrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX 软件 吧。安全性具有在测试过程中自动切断保护装置、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能。集成式索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得界FRINGE CLASS桌面式XRD可安装于车载实验室平台。正比计数探测器正比计数探测器，计数吞吐量≥500KCPS，经典之作。应用场景生物医药陶瓷、水泥地质勘探研究与教育金属化合物化学与催化剂规格参数测角仪θ-2θ联动立式测角仪、衍射圆半径 150mm2θ角度范围-3° - +150°2θ角度精度全谱范围内＜±0.02°偏差分辨率0.04°2θ 半峰宽FWHM索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得FRINGE CLASS桌面式XRD可安装于车载实验室平台X光管金属陶瓷 X 射线管，焦点：1 x 10 mm，默认配置Cu靶，可选配 Co、Cr、Mo靶高压发生器功率600W仪器尺寸580 x 450x 680mm（L×W×H）重量120KG电源220V±10V，50Hz，整机功率 1000W散热方式FRINGE CLASS内置水循环冷却系统，无需额外增加冷水机，软件可实时显示X射线管中水温、流量、流速等信息探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器）接口紧凑的家用墙插插头提供电源，USB接口连接PC用于控制XRD气源提供2路气源接口，可用于原位分析或气氛保护安全性可有效屏蔽X射线，具有在测试过程中自动切断的保护、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能云端服务功能配套使用可同步的移动端APP服务，用于支持衍射数据卡片化管理，并支持接入知识管理系统CrystalX软件CrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，无需手动检索，无需扣背景，无需平滑，无需手动寻峰，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX软件 吧

GR13-0608刻线衍射光栅其它通用分析 特性闪耀波长范围从750到1600 nm在闪耀波长下光栅效率高达60%到80%低鬼影：小于主反射的0.5%反射铝膜钠钙玻璃基底，300到1200槽/mm使用刻线的基底材料生产Thorlabs提供用于近红外区域的刻线衍射光栅。这些光栅在闪耀波长附近具有相对尖锐的效率峰值，并且由刻线的基底材料生产。我们提供不同闪耀角的光栅，满足需要重点考虑效率的多种光谱学和分析应用。需要更多信息请点击上方光栅教程标签。我们还提供全息光栅，它们不会产生鬼影效应，但是效率更低。欲了解不同光栅类型的差异，请点击上方光栅指南标签。请注意，这些光栅是裸露的铝层，而且没有保护膜层。但是可以定制MgF2或金膜来保护光栅的铝膜表面。金膜在红外波段的性能更好，而MgF2膜提供最佳保护性能；详情请联系我们。安装座和转接件Thorlabs提供多种安装座和转接件，以确保精确稳定地安装和对准方形光学元件。Thorlabs所有的光栅都可以直接安装在KM100C右手系或KM100CL左手系矩形光学元件调整架上。Thorlabs还提供三种可调光栅安装转接件，用于将光栅安装在Thorlabs任意Ø 1英寸光学调整架中，包括POLARIS-K1E超稳定光学调整架。注意光栅很容易被潮湿、指纹、气溶胶或任意摩擦材料的轻微接触而损伤。光栅只能在必要时才拿取，而且只能通过边缘夹持。应佩戴橡胶手套或类似的防护套，以防止手指上的油污接触光栅表面。清洁时只能使用净化的干燥空气或氮气吹扫光栅，其它任何操作都是不允许的。溶剂很可能会损伤光栅表面。Thorlabs有一个洁净室设施，用于将光栅组装到机械装置内。如果您的应用需要将光栅集成到一个子装配系统中，请联系我们了解我们详细的装配能力。Thorlabs 刻线衍射光栅，MIR反射式

刻划衍射光栅，其它通用分析GR25-0303特性闪耀波长300 nm闪耀波长下具有高光栅效率：60% - 80%低重影：小于主反射的0.5%铝反射膜钠钙玻璃基底，300或1200 Grooves/mm由带刻划的基底制成Thorlabs提供用于300 nm左右的紫外刻划衍射光栅。这些光栅在300 nm闪耀波长下具有相对明显的效率峰值，并且由带刻划的基底制成。我们提供具有不同闪耀角的光栅，以满足高效率为主要需求的多种光谱学和分析应用。更多信息请点击上方光栅教程标签。我们还提供全息光栅，它们不会产生重影效应，但是效率变低。欲了解不同光栅类型的差异，请点击上方光栅指南标签。请注意，Thorlabs 刻划衍射光栅，反射式，紫外上的铝膜是裸露的，没有镀保护层。但是可以定制MgF2或金膜来保护光栅的铝膜表面。金膜在红外波段具有高性能，而MgF2膜可提供最佳保护；详情请联系我们。安装座和转接件Thorlabs提供多种安装座和转接件，用于精确且稳定地安装和对准方形光学元件。Thorlabs所有的光栅都可以直接安装到KM100C右手系或KM100CL左手系矩形光学元件调整架上。光栅还可通过可调光栅安装转接件安装，这款转接件可安装最高60 mm的光栅和矩形反射镜，并且兼容Thorlabs的前装式无螺纹Ø 1英寸光学调整架，包括POLARIS-K1超稳定光学调整架。注意光栅很容易因潮湿、指纹、气溶胶或与任何粗糙材料的轻微接触而损坏。只有在必要时才可拿取光栅，且只能通过边缘夹持。应佩戴橡胶手套或类似的防护套，以防止手指上的油污接触光栅表面。清洁时只能使用净化的干燥空气或氮气吹扫光栅，请勿进行任何其他操作。溶剂很可能会损伤光栅表面。Thorlabs使用洁净室设备将光栅组装到机械装置内。如果您的应用需要将光栅集成到子装配或装置中，请联系我们了解我们详细的装配技术。

Thermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX Pro立式X 射线衍射仪，高精度、高效率、高可靠性Thermo Scientific ARL EQUINOX Pro 是一款采用θ/θBragg-Brentano光学的立式X射线衍射仪。这款仪器基于“整体最优”设计原则，凭借先进的软、硬件配置，实现仪器系统运行的整体优化，提升仪器分析的准确性、精确性、易用性和安全性。这款仪器能够出色地完成各类粉末晶体的衍射分析，广泛地应用于材料研发和产品质量控制的相关领域。新型电控测角系统：最新的小型化和分散化电机控制系统，可克服由于驱动电机失步或超步引起的位置误差，提高测角仪的整体控制精度和重复性先进光子探测技术：前沿PTPC(脉冲触发实时位置)计数技术，通过同步脉冲触发探测器的电子门控电路，将测角仪实际到达位置与探测器响应进行同步，实现探测器计数与测角仪位置的精确对应，将角度位置与信号采集精确控制在行业先进级别魔卡免维护设计：光路魔卡设计系统和机械误差动态补偿技术，通过整个光路系统上的组件、光源高低、倾角、狭缝架高低、探测器的魔卡设计，支持用户在切换光路和样品台后无需再次校正，直接使用仪器X射线衍射原理帮助生产过程更高效，降低生产成本精准监控原材料品质，确保产品质量高标准严格遵循流程和法规，助力研发效率再提升

X射线衍射基本原理：当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。土壤粘粒矿物是土壤中带电荷粒子之间进行相互作用的主体。研究表明，粘粒矿物的种类有十几种，主要类型有绿泥石、高岭石、伊利石、蒙脱石和伊/蒙混层矿物。粘粒矿物种类不同地区分布不同，其含量也在不同地区有很大差异，而各个储层在平面和纵向上相差很大。映SHINE便携式X射线衍射仪（土壤版）是浪声专为黏土矿物鉴定而研发的一款便携式X射线衍射设备，其可以基于不同的黏土矿物的晶体构造，快速鉴定出粘粒矿物具体种类以及其所占的百分含量，即便是细微粒状的矿物也能准确判定，具有制样简单、快捷、测量精度高等优点，是粘粒矿物鉴定的主要方法。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要约20毫克的样品即可获得优质的检测结果并可以减小或避免择优取向问题。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。二维X射线衍射仪仪器配备电荷耦合装置（CCD）探测器，可以采集衍射环的切片，以帮助用户了解是否正确制备了样品（粒子统计和/或晶粒的择优取向）。从而进一步帮助用户确认所获得的定性定量数据是否具有准确性和代表性。配置灵活根据用户具体应用的需要，为客户提供Cu/Co靶材两种不同的阳极靶材。应用场景 农业绿色发展 土壤污染治 理 环境指示研究 规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keVXRF检测范围Mg(镁)—U(铀)样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸500×400×188mm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

该系统结合了θ - θ型x射线衍射仪和DSC，可以在相同的温度和气氛下同时测量DSC和XRD。同时得到有关相变温度和能量的信息及相变前后的晶体状态。