简述全站仪坐标测量的基本原理

各位老师，我工作中一直使用顶空进样法来测定样品的有机溶剂残留，外标法做标曲，但是一直对于这个顶空法的基本原理不是很了解，为什么用顶空可以代表真实样品中的组分呢？基于什么定理？使用中有什么限制条件吗？

万用表的基本原理是利用一只灵敏的磁电式直流电流表（微安表）做表头。当微小电流通过表头，就会有电流指示。但表头不能通过大电流，所以，必须在表头上并联与串联一些电阻进行分流或降压，从而测出电路中的电流、电压和电阻。下面分别介绍。测直流电流原理 如图1a，在表头上并联一个适当的电阻（叫分流电阻）进行分流，就可以扩展电流量程。改变分流电阻的阻值，就能改变电流测量范围。测直流电压原理 如图1b，在表头上串联一个适当的电阻（叫倍增电阻）进行降压，就可以扩展电压量程。改变倍增电阻的阻值，就能改变电压的测量范围。 测交流电压原理 如图1c，因为表头是直流表，所以测量交流时，需加装一个并、串式半波整流电路，将交流进行整流变成直流后再通过表头，这样就可以根据直流电的大小来测量交流电压。扩展交流电压量程的方法与直流电压量程相似。测电阻原理 如图1d，在表头上并联和串联适当的电阻，同时串接一节电池，使电流通过被测电阻，根据电流的大小，就可测量出电阻值。改变分流电阻的阻值，就能改变电阻的量程。万用表的表盘（以MF50型为例）如上图所示。通过转换开关的旋钮来改变测量项目和测量量程。机械调零旋钮用来保持指针在静止处在左零位。“Ω”调零旋钮是用来测量电阻时使指针对准右零位，以保证测量数值准确。测量电阻：先将表棒搭在一起短路，使指针向右偏转转，随即调整“Ω”调零旋钮，使指针恰好指到0。然后将两根表棒分别接触被测电阻（或电路）两端，读出指针在欧姆刻度线（第一条线）上的读数，再乘以该档标的数字，就是所测电阻的阻值。例如用R*100挡测量电阻，指针指在80，则所测得的电阻值为80*100=8K。由于“Ω”刻度线左部读数较密，难于看准，所以测量时应选择适当的欧姆档。使指针在刻度线的中部或右部，这样读数比较清楚准确。每次换档，都应重新将两根表棒短接，重新调整指针到零位，才能测准。测量直流电压：首先估计一下被测电压的大小，然后将转换开关拨至适当的V量程，将正表棒接被测电压“+”端，负表棒接被测量电压“-”端。然后根据该挡量程数字与标直流符号“DC-”刻度线上的指针所指数字，读出被测电压的大小。如用V250伏档测量，可以直接读0-250的指示数值。测量直流电流：先估计一下被测电流的大小，然后将转换开关拨至合适的mA量程，再把万用表串接在电路中。同时观察标有直流符号“DC”的刻度线，读出被测电流数值。测量交流电压：测交流电压的方法与测量直流电压相似，所不同的是因交流电没有正、负之分，所以测量交流时，表棒也就不需分正、负。读数应看标有交流符号“AC”的刻度线上的指针位置。

图像分析基本原理及分析过程概述在生物及医学研究中，对图像的判读与分析特别是对显微镜下微观图像的观察研究从来都是重要的研究手段。随着技术的进步，分析图像的方法也从眼观尺量进入到了使用计算机软件进行定量分析的阶段。计算机软件的发展速度呈加速前进，采集图像的设备也不断更新，这使得我们能有更多的手段来分析测量复杂的生物图像。现在我们可以使用CCD数码相机来采集图像。使用功能比较强大的图像分析软件来进行图像分析测量。相比之下，在不太久远的十来年前使用的图像分析仪及单色的图像采集摄像机已经过时了。而图像分析的手段也比以前丰富。简单地引用以前的分析方法未必就是最佳的方法，在许多情况下，需要我们依据软件及相机的情况设计与研究目标相适应的分析方法。分析测量图像绝不仅仅是一个软件使用的问题，而是从实验设计开始，就要综合考虑研究目标、样品制作方法、拍摄方式、选择视野等各方面因素，最后才是通过软件实现最有效的图像分析测量。一个完整的图像分析过程应该包括：1.明确需要测量分析的对象。2.使用适当的方法拍摄下这个对象，包括进行适当的染色及取样，采集到突出显示的测量对象的照片。3.分析照片上的图像元素,确定能反映测量对象的图像图形4.测量照片上的图形的测量参数,进而得到测量对象的测量数据5.对测量对象进行统计分析。图像分析的最佳效果，是利用图像分析软件可以自动地判断测量目标，准确分析测量出目标对象的数值。由于生物图像的复杂性，软件往往作不到这一点。此时只能退而求其次，采取抽样统计，手工选择等方法进行近似的测量。测量方法本身有时候也能成为一个研究课题。

质谱的基本原理

pH电极、溶氧电极的基本原理和在生物发酵上的应用 pH电极的基本原理：pH 测量中使用的电极又称为原电池。原电池是一个系统，它的作用是使化学能量转成为电能。此电池的电压被称为电动势（EMF）。此电动势（EMF）由二个半电池构成。其中一个半电池称作测量电极，它的电位与特定的离子活度有关；另一个半电池为参比半电池，通常称作参比电极，它一般是与测量溶液相通，并且与测量仪表相连。此二种电极之间的电压遵循能斯特（NERNST）公式： 其中：E——电位 E0——电极的标准电压 R——气体常数（8.31439焦耳/摩尔和℃ ）T——开氏绝对温度（例：20 ℃ =273=293开尔文） F——法拉弟常数（96493库仑/当量）n——被测离子的化合价（银=1，氢=1） aMe——离子的活度标准氢电极是所有电位测量的参比点。标准氢电极是一根铂丝，用电解的方法镀（涂覆）上氯化铂，并且在四周充入氢气（固定压力为1013hpa）构成的。由于氢电极做为参比电极在实践中很难实现，于是使用第二类电极做为参比电极。其中最常用的便是银/氯化银电极。最熟悉也是最常用的 pH 指示电极。它是一支端部吹制上对于 pH 敏感的玻璃膜的玻璃管。管内充填有一定浓度的缓冲溶液。存在于玻璃膜内外两面的反映 pH 值的电位差用Ag/AgCL传导系统导出。此电位差同样遵循能斯特公式。

testo风速仪其基本原理是将一根细的金属丝放在流体中，通电流加热金属丝，使testo风速仪温度高于流体的温度，因此将金属丝称为“热线”。当流体沿垂直方向流过金属丝时，将带走金属丝的一部分热量，使金属丝温度下降。根据强迫对流热交换理论，可导出热线散失的热量Q与流体的速度v之间存在关系式。标准的热线探头由两根支架张紧一根短而细的金属丝组成，金属丝通常用铂、铑、钨等熔点高、延展性好的金属制成。常用的丝直径为5μm，长为2mm；最小的探头直径仅1μm，长为0.2mm。根据不同的用途，热线探头还做成双丝、三丝、斜丝及V形、X形等。为了增加强度，有时用金属膜代替金属丝，通常在一热绝缘的基体上喷镀一层薄金属膜，称为热膜探头，热线探头在使用前必须进行校准。静态校准是在专门的标准风洞里进行的，测量流速与输出电压之间的关系并画成标准曲线；动态校准是在已知的脉动流场中进行的，或在风速仪加热电路中加上一脉动电信号，校验热线testo风速仪的频率响应，若频率响应不佳可用相应的补偿线路加以改善。

气相色谱基本原理

XRD 单晶衍射仪的基本原理是什么？

化学反应中的电子——基本原理[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=15753]化学反应中的电子——基本原理[/url]

紫外分光基本原理

照度计的基本原理知识您是否经常用直觉来判断一个光源的亮度？或是以同样的方来判定类似的产品何者较亮？您可知道其中可能的差有多大吗？　　 一个灯具的光线与原来设计的分布是否一致，我想大家一定也非常关心；做为一照明业的工作尖兵，您我实在应该好好利用这个照明本工具─照度计。面对众多不同品牌的照度计，其品质与价格的差距也非常悬殊，该如何做适当的选择也常令人伤透脑筋。　　在此做个简单的说明：一个理想的照度计应该具有下列条件：● 体积小、重量轻 (Compact Size、Light Weight)　　照度计使用的机会非常广泛，运用的时机也常在不同的场所，所以可携带式体樍小、重量轻为照度计的第一先决条件。● 准确度﹝Accuracy﹞　　照度计的良莠与否，和它的准确度有绝对的关系。当然也和它的价格息息相关，因此以合理的价格买个准确度较高的照度计实有必要，一般以误差不超过±15%为宜。● 色彩补偿 ﹝Color Compensation﹞　　光源的种类包罗万象，有些偏重波长较长的的红色系高压灯 ，或波长较短蓝紫色系如Daylight日光灯；也有分布比较平均的如白炽灯泡系列，同一照度计对不同的波长其灵敏度可能略有不同，故适度的补偿属必要。● 余弦补偿﹝Cosine Compensation﹞　　大家都知道，受照面的亮度与光源的入射角度有关。相同的道理，在用照度计做测量时，感应器﹝Sensor﹞与光源入射角度自然会对照度计的读值有影响。所以一个好的照度计是否有余弦补偿的功能实在不可忽略。

1．1基本原理 由光源D（或W）发出的复合光，经分光器G色散为单色光，此单色光经旋转扇形镜调制为1500转/分钟的交变信号，并分成S和R两束。此两束光分别通过样品池和参比池而到达接受器B。扇形镜构造如图2-2所示，R为反射光束，S为透射光束，D为不透也不反的背景，因此，由接受器（光电倍增管）输出如图2-3所示的电信号。与扇形镜同步旋转的编码器分别控制三路信号的通断，使之依次通过放大、转换及运算处理系统，并将扣除背景D之后的透射比输出。 2．2构造 由光源D（或W）发出的光能，经反射镜M1聚焦在入射狭缝S处。入射狭缝置于准光镜M2的前焦点上，故经M2反射后的光束变为平行光束，其相对口径为D/f=1/7.5。经光栅G（1200L/mm）色散后，由M3聚焦在出射狭缝S`处。这一单色器采用了对称式布置的Zeny-Turner系统。从而保证了轴外象差的自动平衡和较低的杂散光。M2与M3是完全相同的一对球面镜，保证了光路系统的完全对称。 在入射狭缝前，置有消除高级次光谱的截止滤光片F，扫描过程中，滤光片自动切换。 通过出射狭缝的单色光，经M4反射及旋转扇形镜（CH）调制后，交替投射在反射镜M5、M6上，从而使光束分成频率为25C/S的双光束（及R和S两束光），它们经M5、M6分别聚焦在样品池和参比池上，通过样品池和参比池后，再经过M7、M8交替会聚到光电倍增管的接受面上。因为该仪器采用了双光束不等比100％T自动平衡原理，两束光是从不同角度入射到接受器靶面的。 旋转扇形镜（CH）的结构如图3-2所示，在3600范围内分作四部分，1/4为反射部分，1/4为透射部分，其余为既不透射也不反射的背景。当反射部分进入光路时，参比光束到达接受器，而当透射部分进入光路时，则样品光束到达接受器。当背景反射不可能完全为0时，将有一个很低电平的信号输出，因而接受器输出了如图3-3所示的电信号。 2．2．4光源转换 仪器光源由氘灯和溴钨灯组成，换灯波长可在340-360nm之间选择，通常情况下为360nm。本仪器的光源转换是通过转动反射聚焦镜M1实现的。M1的转动则是由微机控制步进电机驱动的。M1的转动中心线与电机轴线一致，在灯座旁设有检零片，当检零片通过光电开关时，就给出了步进电机转动的初始位置，其结构原理如图2-9所示。 2．2．5电路原理 被调制的光信号投射在光电倍增管上，转换成相应的电信号，由于光电倍增管是一种高阻抗电流器件，所以前置放大器采用高阻抗输入，以转换成电压信号，并线形地进行适度放大。被放大了的模拟信号，馈入A/D转换单元，转换成数字量，最终通过微型计算机进行适当的数据处理，并通过终端装置显示或打印出被测样品的谱图。为了提高整机系统的测光精度，A/D转换采用12bit集成电路，其转换精度达1/4096。 为了能够有效地进行信号分离工作，将产生同步信号的旋转编码器与产生调制光信号的扇形镜同步运转，这样同步信号永远地与扇形镜的调制频率同步，从而完成仪器一系列横坐标控制功能。 仪器在波长扫描过程中，自动的改变负高压电平，从而平稳地进行整机系统增益的调节，以保证仪器正常地进行工作。

紫外分光基本原理

色谱法的基本原理利用样品混合物中各组分理、化性质的差异，各组分程度不同的分配到互不相溶的两相中。当两相相对运动时，各组分在两相中反复多次重新分配，结果使混合物得到分离。两相中，固定不动的一相称固定相；移动的一相称流动相。分类：根据流动相分—以气体作流动相—气相色谱——固定相为液体 气-液色谱固定相为固体 气-固色谱—以液体作流动相—液相色谱——固定相为液体 液-液色谱

键合固定相的基本原理Ⅰ 键合固定相的基本原理Ⅰ碳量及键合度测试方法和量度 填料含碳量用元素分析来测量。通常，所得结果直接用来表示填料的碳量。用这个值，结合填料比表面积的知识以及键合的配基的分子量，键合度就可以计算出来。键合度通常用μmol/m(2)(微摩尔每平方米)作单位。键合度有时候也叫做表面覆盖率。键合度是键合相表面组成的一个非常重要的量，也是决定填料的选择性的一个重要的参数。碳量 在相同的硅胶基质上，相同的键合度，配基分子量越大，碳量越大；因此，C18固定相比C1固定相有更高碳量。相同配基，相同硅胶；覆盖率越高，碳量越大。对于相同配基，相同的表面覆盖率；填料的碳量随孔径的增加而减少，应为比表面积下降了。基于这点，我们可看到，只用碳量是不能衡量填料的选择性和保留性能的。键合度 键合度，又称表面覆盖率，是一个更好的表示填料特征性质的方法。可以用下面的公式计算：x=%C/(100*SA*(1-%C*(MW-1)/(100*nC*12)))SA是比表面积，%C是碳量，MW是配基的分子量，nC是配基分子中碳原子的数目。这个值越高，填料表面柱配基的密度越高。它也是表示表面硅醇基密度减少的方法。在完全羟基化的硅胶，硅醇基的表面密度约为8μmol/平方米。对键合单功能基配基的不同键合相，主配基的键合密度在0.5到4μmol/平方米之间。键合密度的再生对于填料保留性质和选择性质的再生是最重要的。此外，高键合密度的填料对于水解的稳定性比低键合密度的填料好。按键合密度分组的C18填料低密度 中等密度 高密度键合相类型和封端键合相是用有机硅烷与硅胶表面进行化学反应而产生的。目的是获得均匀的单分子层。在键合反应中可使用不同的硅烷。硅烷可分为单功能基、双功能基和三功能基的，根据与硅胶表面键合的硅烷的基团数目来分。对于单功能基的硅烷，由于空间位阻的原因，键合密度不会超过4微摩尔/平方米。而多功能基的硅烷可以获得更高的键合密度。通常，这种高键合密度的填料被称为多聚物填料，尽管并不怎么可能形成聚合物。反之，低键合密度的填料被称为单聚物填料。填料的选择性决定于键合的密度。尤其是在分离碳水化合物时，不同键合密度表现出不同的选择性。多数能得到的商品键合柱键合密度低于4微摩尔/平方米，也就是属于单功能基的。单功能基的键合覆盖率更容易预测，因为不会有第二功能基产生复杂的副反应。但是，硅胶表面键合单功能基硅烷比键合多功能基的更容易水解。三功能基硅烷于硅胶表面的键合，更难重现。折衷一下，键合二功能基，使得更耐水解。三功能基硅烷键合相更适用于低pH流动相。生产商并不都公开它们的键合技术。但多数会指出是否是单功能基C18。现在多数推荐这种填料，因为用单功能基硅胶可以得到高的重现性。对于在高或低pH，易于水解的流动相中，最好使用耐用的多功能基键合硅胶。所有硅胶基质的离子交换填料都是三功能基的。如果腈基填料用于反相色谱，用硅胶基质耐用（低孔体积）、三功能基硅烷的较好。一些生产商会生产专门用于反相色谱的腈基键合相。单功能基配基的 三功能基配基的Symmetry C18 Waters Spherisob ODS2Nova-Pak C18 Waters Spherisob CNμBondapak C18封端对于许多反相填料，要进行二次键合以覆盖硅胶表面未被反应的硅醇基。通常使用小分子硅烷，如三甲基氯基硅烷（TMCS）,以便获得最大的覆盖率。这个步骤称为封端。在反相色谱中，封端用于多数的键合相；用在正相或其他色谱的键合相不用封端。没有封端的反相色谱填料通常比封端的有更多样的选择性。但是，碱性物质在不封端的填料上，容易产生拖尾。三甲基硅烷基（封端基团）在酸性条件下容易水解。因此，封端的填料不能pH2的条件下使用。译自Waters Chromatography Columns and Supplies Catalog 1999-2000 　 摘录：ttx(发表时间：2002-1-2 22:59:35)

我把仪器分析的一些基本原理和谱图方法分享给大家

红外线气休分析仪的基本原理是基于某些气体对红外线的选择性吸收。红外线分析仪常用的红外线波长为2^12Hm。简单说就是将待测气体连续不断的通过-定长度和容积的容器，从容器可以透光的两个端面的中的一一个端面一侧入射一束红外光，然后在另-个端面测定红外线的辐射强度,然后依据红外线的吸收与吸光物质的浓度成正比就可知道被测气体的浓度。本项目中采用的是ABBA02000系列仪表，配以URAR26红外模块。朗伯一比尔定律一其物理意义是当一束平行单色光垂直通过某一均匀非散射的吸光物质时其吸光度与吸光物质的浓度及吸收层厚度成正比。这就是红外线气体分析仪的测量依据。红外线气体分析仪的特点1、能测量多种气体：除了单原子的惰性气体和具有对称结构无极性的双原子分子气体外，CO、C02、NO、N02、NH3等无机物、CH4、C2H4等烷烃、烯烃和其他烃类及有机物都可用红外分析仪器进行测量 2、测量范围宽：可分析气体的。上限达100%，下限达几个ppm的浓度。进行精细化处理后，还可以进行痕量分析 3、灵敏度高：具有很高的监测灵敏度，气体浓度有微小变化都能分辨出来 4、测量精度高：一般都在+/-2%FS,不少产品达到+/-1%FS。与其他分析手段相比，它的精度较高且稳定性好 5、反应快：响应时间一般在10S以内6、有良好的选择性：红外分析仪器有很高的选择性系數,因此它特别适合于对多组分混合气体中某--待分析组分的测量，而且当混合气体中-种或几种组分的浓度发生变化时,并不影响对待分析组分的测量。[b][color=#ffffff]更多参考：分析仪http://www.china-endress.com[/color][/b]

ICP-MS是上世纪八十年代兴起的测试分析技术，其以谱线简单，干扰少，低背景、低检测限、多元素同时测试、线性动态范围宽等优势成为无机元素分析的佼佼者，是分析技术的一次革命，虽然简单，但能够用的得心应手并非易事，了解一台仪器要从他的组成原理入手，因此请大家多多发表一些与ICP-MS基本结构与基本原理方面的资料，一起来庖丁解牛吧！

动态顶空色谱技术的基本原理是什么？

核磁共振的基本原理是什么？详细一点的

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=95003]直读光谱仪基本原理[/url]

中国心[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=111341][url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]基本原理[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=111343][url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]基本原理[/url]

量子化学——基本原理和从头计算法（上、中、下册）[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=15593]量子化学——基本原理和从头计算法（上、中、下册）[/url]

有关光谱分析的基本原理,好

新手第一贴~~注册就是为了发帖子，全中国我感觉也就这能问问了，各位大侠帮忙啊！小的在国外留学，最近学到动态流变仪，什么损耗模量、储能模量的都是第一次接触，以前从没学过流体力学，还上来就是英语，马上要考试了痛不欲生啊！想请问大家这个动态流变仪的基本原理是什么啊？一般是确定力还是剪切速率啊？还有就是根据sample选择geometry什么的，是cone还是plate，这个一般根据什么选择呢？linear viscoelastic region是什么啊?是不是一定要在这么区间？唉总之一头雾水，希望可以有人帮忙！先谢过大家！

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=50978]粒度分析基本原理[/url]

超声波测厚仪基本原理：　　超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。按此原理设计的测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，也可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。使用技巧：(以我公司销售的超声波测厚仪为例)1、一般测量方法：（1）在一点处用探头进行两次测厚，在两次测量中探头的分割面要互为90°，取较小值为被测工件厚度值。（2）30mm 多点测量法：当测量值不稳定时，以一个测定点为中心，在直径约为30mm 的圆内进行多次测量，取最小值为被测工件厚度值。2、精确测量法：在规定的测量点周围增加测量数目，厚度变化用等厚线表示。3、连续测量法：用单点测量法沿指定路线连续测量，间隔不大于5mm。4、网格测量法：在指定区域划上网格，按点测厚记录。此方法在高压设备、不锈钢衬里腐蚀监测中广泛使用。5、影响示值的因素：（1）工件表面粗糙度过大，造成探头与接触面耦合效果差，反射回波低，甚至无法接收到回波信号。对于表面锈蚀，耦合效果极差的在役设备、管道等可通过砂、磨、挫等方法对表面进行处理，降低粗糙度，同时也可以将氧化物及油漆层去掉，露出金属光泽，使探头与被检物通过耦合剂能达到很好的耦合效果。（2）工件曲率半径太小，尤其是小径管测厚时，因常用探头表面为平面，与曲面接触为点接触或线接触，声强透射率低（耦合不好）。可选用小管径专用探头（6mm ),能较精确的测量管道等曲面材料。（3）检测面与底面不平行，声波遇到底面产生散射，探头无法接受到底波信号。（4）铸件、奥氏体钢因组织不均匀或晶粒粗大，超声波在其中穿过时产生严重的散射衰减，被散射的超声波沿着复杂的路径传播，有可能使回波湮没，造成不显示。可选用频率较低的粗晶专用探头（2.5MHz)。（5）探头接触面有一定磨损。常用测厚探头表面为丙烯树脂，长期使用会使其表面粗糙度增加，导致灵敏度下降，从而造成显示不正确。可选用500#砂纸打磨，使其平滑并保证平行度。如仍不稳定，则考虑更换探头。（6）被测物背面有大量腐蚀坑。由于被测物另一面有锈斑、腐蚀凹坑，造成声波衰减，导致读数无规则变化，在极端情况下甚至无读数。（7）被测物体（如管道）内有沉积物，当沉积物与工件声阻抗相差不大时，测厚仪显示值为壁厚加沉积物厚度。 （8）当材料内部存在缺陷（如夹杂、夹层等）时，显示值约为公称厚度的70%，此时可用超声波探伤仪进一步进行缺陷检测。（9）温度的影响。一般固体材料中的声速随其温度升高而降低，有试验数据表明，热态材料每增加100°C，声速下降1%。对于高温在役设备常常碰到这种情况。应选用高温专用探头（300－600°C)，切勿使用普通探头。（10）层叠材料、复合（非均质）材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的，因超声波无法穿透未经耦合的空间，而且不能在复合（非均质）材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备（像尿素高压设备），测厚时要特别注意，测厚仪的示值仅表示与探头接触的那层材料厚度。（12）耦合剂的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气，使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。如果选择种类或使用方法不当，将造成误差或耦合标志闪烁，无法测量。因根据使用情况选择合适的种类，当使用在光滑材料表面时，可以使用低粘度的耦合剂；当使用在粗糙表面、垂直表面及顶表面时，应使用粘度高的耦合剂。高温工件应选用高温耦合剂。其次，耦合剂应适量使用，涂抹均匀，一般应将耦合剂涂在被测材料的表面，但当测量温度较高时，耦合剂应涂在探头上。（13）声速选择错误。测量工件前，根据材料种类预置其声速或根据标准块反测出声速。当用一种材料校正仪器后（常用试块为钢）又去测量另一种材料时，将产生错误的结果。要求在测量前一定要正确识别材料，选择合适声速。（14）应力的影响。在役设备、管道大部分有应力存在，固体材料的应力状况对声速有一定的影响，当应力方向与传播方向一致时，若应力为压应力，则应力作用使工件弹性增加，声速加快；反之，若应力为拉应力，则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时，波动过程中质点振动轨迹受应力干扰，波的传播方向产生偏离。根据资料表明，一般应力增加，声速缓慢增加。（15）金属表面氧化物或油漆覆盖层的影响。金属表面产生的致密氧化物或油漆防腐层，虽与基体材料结合紧密，无名显界面，但声速在两种物质中的传播速度是不同的，从而造成误差，且随覆盖物厚度不同，误差大小也不同。 http://www.1718-show.cn/ComFolder/18show/908/2006621161542373.gif 超声波测厚仪基本原理：　　超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。按此原理设计的测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，也可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。使用技巧：(以我公司销售的超声波测厚仪为例)1、一般测量方法：（1）在一点处用探头进行两次测厚，在两次测量中探头的分割面要互为90°，取较小值为被测工件厚度值。（2）30mm 多点测量法：当测量值不稳定时，以一个测定点为中心，在直径约为30mm 的圆内进行多次测量，取最小值为被测工件厚度值。2、精确测量法：在规定的测量点周围增加测量数目，厚度变化用等厚线表示。3、连续测量法：用单点测量法沿指定路线连续测量，间隔不大于5mm。4、网格测量法：在指定区域划上网格，按点测厚记录。此方法在高压设备、不锈钢衬里腐蚀监测中广泛使用。5、影响示值的因素：（1）工件表面[/si

HPLC各个部件基本原理