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光纤光谱仪测量薄膜厚度原理

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光纤光谱仪测量薄膜厚度原理相关的论坛

  • XRF测量薄膜厚度的原理是什么?

    听说可以用XRF来测量薄膜厚度,并且可以测多层膜的厚度,但是不知道原理是什么。请版上的各位老师介绍一下技术原理与操作时注意要点。 万分感谢!

  • 【讨论】椭偏仪测量薄膜厚度

    在si片上镀一层纳米碳膜,碳膜表面光洁如镜面,采用椭偏仪测量薄膜的厚度,测量时选择基底材料为si,将k设为0(透明薄膜,不知是否准确或透明薄膜如何定义?),根据SEM测量得到的薄膜厚度拟合得到一个n值(2.0921),采用此n值对类似情况下制备的薄膜进行厚度测量,测量得到的结果还行,基本与肉眼看到的薄膜厚度差别相当。不知此方法是否正确?1.是否能采用透明膜的测量方法测量碳膜?2.采用同一n值测量厚度是否合适?希望高手指点,谢谢!

  • 【求助】测量薄膜厚度

    我现在需要测量ITO薄膜的厚度,透明的薄膜,大概200纳米左右。用椭偏仪行不行?是不是还需要薄膜的折射率?希望各位大侠指导一下[em61] [em09]

  • 【原创】测量薄膜厚度和光学常数的方法

    摘要: 借助于不同的色散公式, 运用改进的单纯形法拟合分光光度计测得的透过率光谱曲线, 来获得薄膜的光学常数和厚度。用科契公式分别对电子束蒸发的T i O 2和反应磁控溅射的S i3 N 4,以及用德鲁特公式对电子束蒸发制备的I T O薄膜进行了测试, 结果表明测得的光学常数和厚度, 与已知的光学常数以及台阶仪测得的结果具有很好的一致性。这种方法不仅简便, 而且不需要输人任何初始值, 具有全局优化的能力, 对厚度较薄的薄膜也可行。采用不同的色散公式可以获得各种不同薄膜的光学常数和厚度, 这在光学薄膜、 微电子和微光机电系统中具有实际的应用价值。

  • 【讨论】关于使用椭偏仪测量薄膜厚度、吸收系数、折射率存在的缺陷

    最近工作上涉及到椭偏仪,想知道椭偏仪测量的优点与缺点都有什么?我看了一些资料,说椭偏仪测量存在如下缺点:1、薄膜基片如果是透明的,那么对样品的前处理会很麻烦,很费钱2、如果样品是有机物薄膜,椭偏仪很难测出结果来3、椭偏仪测量得到的数据需要手工处理,很复杂,非专业人员无法处理,暂时没有软件可以直接得薄膜的厚度、折射率、吸收系数值4、测量吸收系数时不能同时测量透射光与反射光,所以得到的吸收系数是有误差的不知道以上观点是不是正确? 为什么薄膜的基片不能是透明的?透明的基片对薄膜厚度测量有什么影响?为什么很难得到有机物薄膜的厚度?请指教,谢谢!不知道是否还有其他缺点?

  • 在线语音研讨会--微型光纤光谱仪在膜厚测量中的应用

    报名地址: http://webinar.ofweek.com/activityDetail.action?activity.id=4555210&user.id=2 时间:2011年12月22日 10:00-11:00http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInfo.asp?infoID=314 时间:2011年12月28日 14:30-15:30在线研讨会介绍研讨会主题:微型光纤光谱仪在膜厚测量中的应用 举行公司:海洋光学亚洲分公司研讨会简介: 美国海洋光学作为微型光纤光谱仪的发明者,一直致力于光纤光谱仪,化学传感器的研究,是全球领先的光传感解决方案提供商,自1989年来在全球共售出近200,000套光谱仪,为OEM客户提供灵活多样的产品选择,为工业科研用户提供性能优越的系统解决方案,涉及领域涵盖生物,环保,医药,光电,化工,教育等。 干涉膜厚仪nanocalc系列和椭偏仪specEI系列是海洋光学针对薄膜测量用户推出的两套解决方案,已经应用在半导体器件(如晶硅/非晶硅,SiO2,GaN,及半导体),金属(Au,Ag等)镀膜,多层减反射膜等光学薄膜,薄膜太阳能电池,光刻胶,透明导电薄膜(ITO,FTO,AZO等),OLED(PEDOT,AlQ3),硬质保护膜及封装材料(PC,PET,PMMA等),铁电介电薄膜(PbZr1-xTixO3,Si3N4)等薄膜厚度,光学参数(包括介电常数)的在线/离线检测。根据配置选择,测试范围10nm-250μm,精度达0.1nm,对多层薄膜分析最多可达10层,研究用户还可选择膜厚分析软件SCOUT建模处理复杂膜系。主讲人介绍http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/pic.png演讲专家: 文豪专家职务: 研发工程师专家简介: 2011年毕业于中科院上海硅酸盐研究所信息功能中心,博士 答疑人介绍http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/dinghaifeng.jpg演讲专家: 丁海峰专家职务: 光学工程师专家简介: 1982年出生,2008年毕业于上海交通大学 光学工程专业,硕士; 2010年3月加入海洋光学以来,一直致力于光学传感、光度测量及光谱分析方面的工作,侧重于技术研发及应用支持,尤其在LED光度、颜色测量及荧光粉测量方面。奖品介绍http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/j1.jpghttp://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/j2.jpghttp://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/j3.jpg参加预先提问活动人员里面抽5个幸运奖(限量纪念版4G U盘,价值100元)参加现场提问活动人员里面抽5个幸运奖(限量纪念版4G U盘,价值100元)研讨会结束后 再抽3个大奖(精美真皮钱包,价值500元)公司介绍 美国海洋光学作为微型光纤光谱仪的发明者,一直致力于光纤光谱仪,化学传感器的研究,是全球领先的光传感解决方案提供商,自1989年来在全球共售出近200,000套光谱仪,为OEM客户提供灵活多样的产品选择,为工业科研用户提供性能优越的系统解决方案,涉及领域涵盖生物,环保,医药,光电,化工,教育等。 海洋光学是英国豪迈(Halma)集团的分公司,豪迈集团主要经营用于探测潜伏危险和保护人们生命安全的产品,是专业性电子、安全和环境技术领域的领军企业。

  • 【工业薄膜生产中的光谱测量创新解决方案】网络研讨会报名中

    海洋光学(Ocean Optics)微型光纤光谱仪应用系列研讨会又来了~~~工业薄膜生产中的光谱测量创新解决方案研讨会简介:现在,一种创新的非接触式光谱测量法将更快速便捷地实现对薄膜产品的厚度、成分及光学参数的测定。该方法集材料对宽光谱光响应的精确测量和领先的薄膜分析技术于一身,可满足更多领域的需求,并提供针对超厚膜、粗糙薄膜、图案化薄膜等非传统薄膜的测量新技术及相关算法。作为一种创新的测量方案,光谱反射干涉法具有准确、高精、迅速、成本相对较低的优势,尤其适用于工业应用。在测量薄膜特性、制定并优化流程、监测并控制质量等方面,该方案将极大地推动相关领域的工业技术革新,为使用厂商增加收入,降低成本。时间:2012年7月31日 上午10:00 报名请戳:http://webinar.ofweek.com/activityDetail.action?activity.id=6094870&user.id=2

  • 【求助】测微米尺度半导体薄膜的厚度需要什么显微镜?

    请大家帮我分析一下,我想在玻璃或者硅上生长一层或多层金属氧化物薄膜,这些薄膜多数是半透明的,厚度在0.5-2微米之间,我希望能依靠一种光学显微镜对厚度有个大致的测量,然后根据结果改进我的实验参数,这就需要放大倍数在500倍以上,最好能达到1000倍甚至更高,但必须不能使用油镜。我看了江南永新和上海长方的显微镜资料,发现金相显微镜和偏光显微镜似乎对我有用,我对这两种显微镜的用途不甚了解,不知道该买哪一款。请热心的网友们帮我参谋参谋,谢谢了。

  • 【讨论】半波损失、增透膜原理及对分光光度计测量值的影响

    看到tutm老师在论坛里提到半波损失,还有论坛里一些分光测量的吸光度值的怪异现象。特在网上搜了一下,我认为,半波损失只是引起了光的光程的改变,如果,比色皿--样品(参比)--四周空气这样的嵌套结构,不符合增透膜原理,那就不会对最后的测量结果产生影响。最初我想到了干涉滤光片的原理,网上一搜,觉得增透膜更接近此模型,不过它们的原理基本一样。下面是我在网上看到的一篇文章,我简单编辑了一下。原文章叫《薄膜干涉中的半波损失与薄膜厚度》地址:http://www.nbxiaoshi.net/ReadNews.asp?Newsid=2371增透膜中的半波损失一。基本概念http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191652_629291_1786353_3.gif 图1A。所谓“半波损失",就是当光从折射率小的光疏介质射向折射率大的光密介质时,在入射点,反射光相对于入射光有相位突变π,即在入射点反射光与入射光的相位差为π,由于相位差π与光程差λ /2相对应,它相当于反射光多走了半个波长λ /2的光程,故这种相位突变π的现象叫做半波损失。 如图1所示为增透膜示意图,其中n0、n1、n2分别表示空气、膜层和玻璃的折射率,如空气的折射率n0=1,MgF2的折射率n1=1.38,冕牌玻璃的折射率n2=1.52。n0相对于n1就是光疏介质,n1相对于n2就是光疏介质。当入射光线SA从no射入n1时,在no和n1的界面反射,由于n0

  • 【分享】磁性涂镀层厚度测量仪应用原理简介

    一、磁吸力原理测厚仪利用永久磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度,这个距离就是覆层的厚度,所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大,就可以进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形,所以磁性测厚仪应用最广。测量仪基本结构是磁钢,拉簧,标尺及自停机构。当磁钢与被测物吸合后,有一个弹簧在其后逐渐拉长,拉力逐渐增大,当拉力钢大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。一般来讲,依不同的型号又不同的量程与适应场合。 在一个约350º角度内可用刻度表示0~100µm;0~1000µm;0~5mm等的覆层厚度,精度可达5%以上,能满足工业应用的一般要求。这种仪器的特点是操作简单、强固耐用、不用电源和测量前的校准,价格也较低,很适合车间作现场质量控制。 二、磁感应原理测厚仪磁感应原理是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的,覆层愈厚,磁通愈小。由于是电子仪器,校准容易,可以实多种功能,扩大量程,提高精度,由于测试条件可降低许多,故比磁吸力式应用领域更广。当软铁芯上绕着线圈的测头放在被测物上后,仪器自动输出测试电流,磁通的大小影响到感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。早期的产品用表头指示,精度和重复性都不好,后来发展了数字显示式,电路设计也日趋完善。近年来引入微处理机技术及电子开关,稳频等最新技术,多种获专利的产品相继问世,精度有了很大的提高,达到1%,分辨率达到0.1µm,磁感应测厚仪的测头多采用软钢做导磁铁芯,线圈电流的频率不高,以降低涡流效应的影响,测头具有温度补偿功能。由于仪器已智能化,可以辨识不同的测头,配合不同的软件及自动改变测头电流和频率。 一台仪器能配合多种测头,也可以用同一台仪器。可以说,适用于工业生产及科学研究的仪器已达到了了非常实用化的阶段。利用电磁原理研制的测厚仪,原则上适用所有非导磁覆层测量,一般要求基本的磁导率达500以上。覆层材料如也是磁性的,则要求与基材的磁导率有足够大的差距(如钢上镀镍层)。磁性原理测厚仪可以应用在精确测量钢铁表面的油漆涂层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,化工石油行业的各种防腐涂层。对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业,利用测量平台或辊(钢铁制造)也可用来实现大面积上任一点的测量。

  • 【求助】请教:用波长色散XRF测量膜厚的原理是什么?

    波长色散XRF可以测量薄膜的厚度,其中的原理是什么呢?再有我测试的为ZnO薄膜,选择薄膜元素为Zn、O测试时,测出的膜厚为150微米,而薄膜的实际厚度仅为几百纳米。去掉氧计算时,厚度反而正常了。以上问题不解,望大家指教。谢谢!

  • 【分享】微型光纤光谱仪---荧光测量系统

    当前,微型光纤光谱仪非常流行,受到了众多应用领域的青睐。与大型光谱仪相比较,微型光纤光谱仪价格便宜(仅是大型光谱仪的零头);携带方便(只有手掌大小);测量速度快(毫秒级的数据采集,实现在线实时分析);操作方便,性能稳定可靠(无需专人维护)等长处。因此,在满足使用要求的前提下,微型光纤光谱仪是一种最佳的选择。 我司微型光纤光谱仪的主要功能有:吸光度测量;反射率测量;透射率测量;颜色测量;相对辐射和绝对辐射测量。具体应用包括吸光度测量系统(包括气体、液体、固体的吸光度测量);颜色测量系统(纸张、油漆、颜料、布料、动物皮肤、植物、光源等等);膜厚测量系统(感光保护膜、半导体薄膜、金属膜、等离子体镀膜、光学镀膜等);SLM系列光源测量系统(白炽灯、荧光灯、ARC、HRC、以及发光二级管等光源的各种参数测量);SMS光照度/辐照度测量系统(光通量、光强、光照度或光亮度测量);LCS系列LED测量系统(测量LED光源、大型光源的光学、光谱、颜色、纯度等特征信息);氧含量测量系统(连续测量氧饱和度、总含量、含氧和去氧血色素的浓度);[color=#00008B][color=#00FFFF][color=#DC143C][size=4]荧光测量系统(测量皮克级的含有荧光团的物质);[/size][/color][/color][/color]近红外测量系统(糖、酒精、湿度、脂肪等成分的分析);拉曼测量系统(药物、爆炸物、水质、现场材料的分析,制药监控,石化工业过程控制等);LIBS2500光纤光谱仪系统(无损地对气体、液体、固体进行定性和半定量的实时元素分析);PlasCalc等离子监控器系统(监测等离子蚀刻,检查表面清洁处理,分析等离子反应腔控制情况,检测异常污染和排放现象,等离子开发过程的检测和控制,等等);防晒指数测量系统(化妆品、防晒用品、防紫外服、感光乳剂等的SPF值测量);量子效应测量系统(量子效率的测量等)。另外,我司还有闪光光解光谱仪(演示化学动力学原理);各种光源(钨光源、氘光源、氘-钨光源、氙光源、LED系列光源、校准光源等)及各种光纤(普通光纤、中红外光纤、红外光纤、高功率传输光纤、图像传输光纤、医疗光纤等)。 谢谢您的关注!详情请见我司的网站(http://www.psci.cn)或与我联系(电话:0571-88225151-8020,13738178070,Email:zqchen@psci.cn 陈振泉)。

  • 厚度测量仪哪个品牌比较好?

    厚度的测量方法有多种,总体上分为非接触式与接触式,非接触式包括射线,涡流,超声波,红外等多种类型,接触式行业中也称为机械式测厚,分为点接触式与面接触式。厚度测量仪的用途:适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。  在选择厚度测厚仪这样的机械设备时,往往都通过比较做出选择,知名品牌也是参考的一点,但是设备的质量也尤为重要。大成精密厚度测量仪就符合这两点的厂家,在国内来说,他们做的是相当不错的,自主研发生产,质量高,进一步确保了高精度,高效率,高稳定性的测量。得到了得到了消费者的大力认可。[align=center][img]http://img.mp.sohu.com/upload/20170516/8bbeebc80b4b42248dbe8f8aabbea7dc_th.png[/img][/align]  厚度测量仪又叫金属厚度测量仪、钢管厚度测量仪、钢板厚度测量仪、厚度测量仪价格、厚度测量仪厂家、金属超声测厚仪、超声厚度测量仪、超声测厚仪价格、数显超声测厚仪、便携式测厚仪、超声波测厚仪价格、超声波测厚仪品牌、数显测厚仪、电子测厚仪、精密测厚仪、超声测厚计、超声测厚仪器、高温测厚仪、不锈钢测厚仪、模具测厚仪、带钢测厚仪、钢结构测厚仪、压力容器测厚仪、压力罐测厚仪、金属管道测厚仪、无损测厚仪是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术,基于超声波测量原理,可以测量金属及其它多种材料的厚度,并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度,也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。  超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。  厚度测量仪哪个品牌比较好?不同类型的测厚仪,对应不一样的行业,适用范围也有所不同,那么大家在选购测厚仪时,就需要对特定的测厚仪有所了解。如在选择厚度测量仪上有需要提供产品和知识帮助的友们,欢迎来电大成精密公司来咨询。

  • 质子交换膜燃料电池气体扩散层厚度方向导热系数测试方法研究

    质子交换膜燃料电池气体扩散层厚度方向导热系数测试方法研究

    [color=#cc0000]摘要:针对质子交换膜燃料电池中气体扩散层材料厚度方向导热系数测试,介绍了气体扩散层在压缩等条件下进行测试的几种有效测试方法,并分析了稳态法和瞬态法的特点、局限性和应用中存在的问题。并针对瞬态法开展了深入研究,提出了一种更实用的新型测试模型结构。[/color][color=#cc0000]关键词:燃料电池,气体扩散层,导热系数,温度波法,激光闪光法[/color][align=center][color=#cc0000][img=气体扩散层导热系数测试,690,454]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901152122447766_8811_3384_3.jpg!w690x454.jpg[/img][/color][/align][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align][b][color=#cc0000]1. 概述[/color][/b]  质子交换膜燃料电池中的气体扩散层(GDL)材料呈现明显的各向异性特点,而且厚度很薄,也就是气体扩散层材料是微米量级的物理尺度。在如此小的物理尺度下对薄膜材料性能进行准确测量评价,势必面临着严峻的技术挑战,这种技术挑战完全是薄膜材料面内方向热物理性能测试无法比拟的,毕竟物理尺度不在一个量级上。因此,上海依阳实业有限公司针对薄膜材料,特别是质子交换膜燃料电池中的气体扩散层薄膜材料,对厚度方向导热系数测试技术进行研究,以在实际工程应用中建立起测量准确性高、且操作简便的测试方法和测试仪器。[b][color=#cc0000]2. 气体扩散层厚度方向导热系数测试要求[/color][/b]  根据目前质子交换膜燃料电池中的气体扩散层(GDL)材料的现状,GDL薄膜材料在厚度方向上的导热系数测试,要考虑以下几方面的特性:  (1)各向异性条件:如文献报道,各种GDL材料的面内方向和厚度方向导热系数分别为3.5~15W/mK和0.2~2W/mK。这基本就确定了GDL薄膜厚度方向导热系数变化范围大致为0.05~5W/mK,这个范围基本就是非金属薄膜材料的导热系数范围。  (2)厚度范围:各种GDL材料的厚度基本都在100~500范围内。  (3)压缩力条件:在燃料电池装配过程中会对GDL产生一定的压缩力来改变电池性能,加载到GDL上的压力范围一般为1MPa以下,最大不超过6MPa。  [b][color=#cc0000]3. 测试方法及其特点分析[/color][/b]  薄膜材料的导热系数测试方法众多,但由于GDL被测样品要在上述加载压力下进行测试,有些方法并不适合。合适的测试方法基本上分为稳态法和瞬态法两类。[color=#cc0000]3.1. 稳态法3.1.1. 稳态热流计法[/color]  对于薄膜和薄层材料厚度方向导热系数的测试,最常用的方法是A-S-T-M D5470。由于这种方法基于稳态热流测量,所以通常称之为保护热流计法或恒定热流法。另外,由于这种方法可以对被测样品加载可控的压缩力和对接触热阻进行测量,使得这种方法在大多数GDL厚度方向导热系数测量中得到应用。[align=center][img=,690,547]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901152116413556_4706_3384_3.jpg!w690x547.jpg[/img][/align][align=center][color=#cc0000]图3-1 气体扩散层(GDL)厚度方向导热系数测量装置示意图[/color][/align]  如图3-1所示,在稳态热流计法中,GDL样品夹在上下两个热流计棒之间。上热流计顶部与热板接触,下热流计棒底部与冷板接触,因此通过柱形棒轴线方向从顶部到底部存在连续的热流,实验装置也设计成热量仅允许沿轴向传递。通过温度传感器测量棒上的温度分布梯度(如图3-1所示,并排放置,在顶部和底部棒上具有相同间隔),施加到GDL样品上的压缩载荷也通过负载装置控制。在达到稳态条件下,分别测量流经样品的热流、样品厚度方向上的温差和样品厚度,就可根据稳态傅立叶传热定律计算得到GDL样品厚度方向上的导热系数。[color=#cc0000]3.1.2. 准稳态法[/color]  准稳态法是一种介于稳态和瞬态方法之间的一种导热系数测试方法,在板状被测样品的一面线性升温和降温过程中,在一维热流边界条件下,样品的冷热面温差会逐渐趋于一种相等状态,这个动态过程中的稳态阶段,就称之为准稳态。通过准稳态下的测量可确定被测样品导热系数随温度的实时变化曲线,准稳态法导热系数测试所对应的标准测试方法为A-S-T-M E2584。  准稳态法的测量原理如图3-2所示,Zamel等人采用准稳态法对用作GDL的碳纸在厚度方向的导热系数进行了测量,并测量了温度、压缩和PTFE加载对碳纸厚度方向导热系数的综合影响。在测试中所用的样品材料为日本东丽TPGH-120型号的碳纸,单张碳纸的厚度为370μm,被测样品由6层碳纸组成,总厚度为2.22 mm。测试温度范围为-50~120℃,压缩力大小最大为1.6 MPa。如所推测的那样,在碳纸未经处理和经PTFE处理过的不同情况下,随着压缩增加,导热系数增加。此外,他们还观察到温度的升高导致厚度方向导热系数提高。这种行为与面内导热系数研究的测量结果形成对比,表明碳纤维的热膨胀具有方向依赖性。[align=center][img=,690,561]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901152117126996_6136_3384_3.jpg!w690x561.jpg[/img][/align][color=#cc0000][/color][align=center][color=#cc0000]图3-2 准稳态法GDL厚度方向导热系数测量原理图[/color][/align][color=#cc0000]3.1.3. 稳态法应用中存在的问题和局限性[/color]  目前GDL厚度方向导热系数测量的大多数都是采用稳态测量方法,从文献报道上来看基本都是采用自行搭建的测试仪器。稳态法的最大特点是原理模型简单,这往往误导了很多此方法的使用者。因为稳态法原理模型所要求的边界条件非常苛刻且实现难度大,要做到对薄膜类材料导热系数准确测量需要非常精密的加工制造和复杂的校准过程,所以很多国外商品化稳态法测试仪器往往很昂贵,而这些往往是自行搭建仪器最容易忽略的关键内容,由此带来的结果就是测试数据波动性大和误差大,不同文献往往会得出相反的结论。  迄今为止,已经尝试了实验性努力以使用稳态法了解压缩对厚度方向导热系数的影响。用稳态法Khandelwal和Mench测量了温度在+26~+73℃范围内对TORAY碳纸导热系数的影响,他们报告了导热系数随温度升高而降低。他们的测量是在2MPa的压缩力下进行,该压缩力大小代表着接触热阻最小化的压力。在同一项研究中,他们还测量了Teflon对SIGRACET碳纸处理的影响,并表明在碳纸上添加PTFE会大大降低其导热系数。  在文献中还研究了压缩和添加PTFE对多个制造商碳纸的总导热系数的影响,观察到的一般趋势是厚度方向导热系数随着压缩压力的增加而增加,这主要归因于碳纤维之间总接触热阻的降低。在Burheim等人的研究中,他们研究了压缩、厚度、PTFE和液态水对碳纸的厚度方向导热系数的影响,他们报告说,添加PTFE会导致整体导热系数降低,而压缩和液态水会导致这种性能提高。此外,他们的主要观察之一是具有不同厚度的TORAY纸显示出不同的导热性,他们将这一发现主要归功于这种碳纸的制造过程,而且他们假设较厚的样品是通过将较薄的样品堆叠在一起而制成的。  在Nitta等人的研究中报道了,尽管施加的压力高达5.5MPa,但发现TORAY碳纸的导热系数与压缩压力无关,他们认为这种趋势主要是由于通过空气的热传递引起的,尽管其导热系数低于固体碳纤维的导热系数。值得注意的是,根据TORAY材料的规格参数,不考虑纸张厚度时,TORAY碳纸厚度方向导热系数在室温下为1.7 W/mK。没有关于TORAY所使用的测量方法的公开信息,此外,在已发表的文献中关于获得该值所需的压缩压力存在很大差异。例如,根据Khandelwal和Mench和Burheim等人的研究,压缩压力对整体导热系数有显著影响,而在参考文献中可以看出这种情况并非如此。  通过对大量文献进行分析,发现在气体扩散层(GDL)厚度方向热导率测试中很多研究机构选择稳态法测量导热系数,主要出于以下几方面的考虑:  (1)同时兼顾气体扩散层样品面内方向导热系数的测试。  (2)同时兼顾气体扩散层样品厚度方向电导率的测试。  (3)可进行仪器结构扩展以兼顾薄膜样品面内方向电导率和导热系数的测试。  由于在稳态法测试仪器研制过程中,缺乏对测试模型和边界条件的深刻理解,缺乏仪器设计和高精度制造的能力,缺乏校准和考核仪器的技术手段,以及稳态法自身存在的局限性,这些都会造成稳态法测试仪器对薄膜导热系数测量产生较大误差,使得薄膜热物理性能变化规律很容易淹没在仪器的系统误差内。  纵观各种稳态法测试仪器,在薄膜材料厚度方向导热系数测试应用中普遍存在的问题以及测试方法固有的局限性主要表现在以下几个方面。  (1)温度传感器的选择:温度测量的准确性差是目前稳态法薄膜导热系数测量的最严重问题。温度测量涉及到流经薄膜样品厚度方向热流测量和薄膜样品厚度方向上两个表面上的温度差,因此温度测量对导热系数和热阻测量精度有着直接影响。尽管在稳态法中温度测量可以是相对形式(温差值),但对温度传感器的灵敏度、稳定性和一致性要求非常高。绝大多数自制稳态法仪器普遍采用细径铠装热电偶进行测温,采用细径主要是为了减少铠装热电偶金属套管带来的侧向散热损失。而热电偶是一种测温精度较差的温度传感器,在常温附近更容易引起较大误差,所以热电偶的测温精度根本无法满足要求。但如果选择精度合适的电阻温度传感器,则会增大传感器尺寸,带来更大的定位误差,同时会增加传感器自身导热带来的散热损失。  (2)温度传感器的校准和配套措施:温度传感器除了在安装前需要进行自身校准之外,因为温度传感器还涉及到热流测量和样品表面温度的推算,安装后的温度传感器还需要进行一系列的在线校准来对传感器和装置做出准确的评估和合理的修正。另外,为了防止温度传感器引线带了的侧向热损,需要配套专门用于热电偶引线的热防护装置,这势必使得整个测量装置非常复杂。A-S-T-M D5470只是给出了原则性的规定,并没有详细的描述,这方面内容在A-S-T-M C177中有着详细描述以及试验考核验证过程。  (3)对于薄膜厚度方向导热系数测试,薄膜样品厚度,特别是在线受压时的厚度要求均匀性要好,这就对测量装置的机械移动机构和在线厚度测量机构提出非常高的要求,位移、平行度和位移测量至少要达到微米量级精度,否则很容易在加载压力过程中使得薄膜样品产生倾斜而带来很大的热阻和导热系数测量误差。同时,还需要测试仪器在整个生命周期内始终保持这个高精度。  (4)综上所述,可以将稳态法导热系数和热阻测量装置等效看作是一个精度更高的大号螺旋千分卡尺,位移及其厚度测量精度至少优于10微米,而且还要保证平行度,同时还要布置上多只温度传感器及其主动和被动热防护装置。所有这些都会使得相应的稳态法测试仪器较为复杂,在选材、设计和加工制作中要十分谨慎,并经过一系列复杂的校准和考核试验后,仪器才能正常使用。目前我们看到的国内外大多数自制的稳态法测试仪器,包括国内一些仪器厂商生产的一些低价的稳态法测试仪器,只能属于教学类仪器,根本经不起规范的考核验证的检验,无法真正在科研生产中进行准确测量,使得很多材料特征及其变化规律往往淹没在巨大的测试误差范围内。[color=#cc0000]3.2. 瞬态法[/color]  瞬态法不同于稳态法需要人为加载一个较大的温度梯度,瞬态法测量时只是在稳态样品上施加一个1℃左右的微小温度扰动,测量由于温度扰动所引起的温度幅度或相位变化,测试过程更快捷,测试边界条件更接近于薄膜材料的真实使用环境,直接得到的测量结果往往是热扩散系数。尽管瞬态法理论模型和数据处理十分复杂,但测量装置十分简单,可以直接放置在各种实际应用环境中进行测试,特别适用于老化过程中薄膜材料性能的实时衰减考核。  在ISO 22007标准测试方法中,比较全面的对各种瞬态法做出了规定。但针对气体扩散层(GDL)厚度方向导热系数在压力加载过程中的测试,比较合适的瞬态法是温度波法和激光闪光法。由于瞬态热线法和平面热源法测量的是体积导热系数,无法明确测量厚度方向导热系数,并不适合各向异性GDL厚度方向导热系数测试。[color=#cc0000]3.2.1. 温度波法[/color]  ISO 22007-3规定了一种温度波分析方法,用于确定薄膜和塑料板在整个厚度方向上的热扩散系数。温度波法是一种通过测量样品前后表面之间温度波的相移来测量薄而扁平样品厚度方向热扩散系数的方法。使用在样品两个表面上溅射或接触的电阻器,一个作为加热器,通过交流焦耳加热产生温度波,另一个作为温度计来检测温度波。  ISO 22007-3中给出了温度波法测量装置示意图,如图3-3所示,同时还给出了直接溅射到薄膜样品前后表面上的加热器和传感器元件的示例,如图3-4所示。[align=center][img=3-3 温度波法热扩散系数测量装置示意图,690,473]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901151925076294_8710_3384_3.jpg!w690x473.jpg[/img][/align][align=center][color=#cc0000]图3-3 温度波法热扩散系数测量装置示意图[/color][/align][align=center][color=#cc0000][img=3-4 加热器和传感器单元示例,690,381]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901151925274567_6425_3384_3.jpg!w690x381.jpg[/img][/color][/align][color=#cc0000][/color][align=center][color=#cc0000]图3-4 加热器和传感器单元示例[/color][/align]  从上述描述中可以看出,温度波法测量装置包括彼此面对的微加热器和温度传感器,样品安装在它们之间。向加热器提供弱的正弦电功率信号,在样品表面上产生温度波。温度传感器是一种高灵敏度电阻传感器,它使用前置放大器在将弱信号进入锁相放大器之前对其进行放大。观察到的温度信号是激发温度波和背景温度信号的混合,例如环境的温度。在交流测量中,锁定放大的一个优点是能够提取和分析信号中仅一个指定频率分量的变化,抵消室温变化的影响(误差的主要来源)以及噪声成分实现高灵敏度测量。通过将实际施加的温度波幅度限制在1℃以内或更低,可以有效地抑制对流和辐射,并确保几乎不损坏样品。此外,如果采用极小的传感器尺寸则可识别更小样品区域内的热扩散系数。  由此可以看出,在样品的夹持、厚度控制和测量方面,温度波法与稳态法基本相同,温度波法也可以在测量过程中对样品加载一定的压力,但温度波法则规避了稳态法温度和热流测量方面的复杂问题,并采用交流加热和锁相放大技术可以有效的提取测量信号和减少误差,可以对薄膜材料进行高灵敏测量。  温度波法对薄膜热性能测试有着明显优势,Morikawa和Hashimoto采用此方法对芳香族族聚酰亚胺薄膜厚度方向热扩散系数进行了测量,获得了10~570K温度范围内厚度范围为0.1~300μm的薄膜热扩散系数。  但从图3-4所示的样品制备中可以看出,需要在薄膜样品的两个表面上进行繁琐的溅射工艺处理,这明显制约了温度波法的广泛应用,这也是ISO 22007-3温度波法标准颁布这么多年来一致没有推广使用的主要原因。[color=#cc0000]3.2.2. 激光闪光法[/color]  在ISO 22007-4对激光闪光法也做出的规定。激光闪光法的原理是使用短能量脉冲(通常由激光提供)照射样品的正面,并使用红外探测器记录样品背面的后续温度升高。从样品背面的温度-时间曲线的形状和样品厚度,可以确定样品的热扩散率。对于具有多孔或透明性质的薄膜材料,它们必须在测试前进行涂覆以确保分别在前后面进行吸收和发射。激光闪光法测量原理和样品表面处理如图3-5所示。[align=center][img=,690,236]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901152117530286_1398_3384_3.jpg!w690x236.jpg[/img][/align][color=#cc0000][/color][align=center][color=#cc0000]图3-5 激光闪光法测量原理和样品表面处理示意图[/color][/align]  激光闪光法最大的特点是非接触测量,很容易进行各种温度下的测试,因此激光闪光法在薄膜热物理性能测试中应用十分广泛。但对于气体扩散层(GDL)这种特殊薄膜材料的测试,采用激光闪光法则存在以下问题:  (1)气体扩散层(GDL)是一种多孔材料,相对于激光而言属于透光材料,在采用激光闪光法测试是需要对GDL样品进行表面处理,需要镀金和喷涂石墨来进行遮光处理,但这样的样品表面处理会使涂层材料通过孔隙进入GDL样品而对测量结果带来严重影响。  (2)GDL薄膜材料需要在可控压力加载情况下进行测试,而普通的激光闪光法测量装置并不具备压力加载和控制能力,由此使得激光闪光法很少用于GDL导热系数的测试。[color=#cc0000]3.2.3. 瞬态法特点和应用中存在的问题[/color]  在薄膜材料热性能测试方面,稳态法与瞬态法有着明显区别和各自的显著特点。  稳态法是基于温度和热流处于不随时间变化的稳定状态下进行测试的一种方法,测量薄膜材料热性能基本是基于较厚块体样品的测试软硬件体系。而在薄膜材料稳态法测试过程中,由于样品厚度的减小,相应的被测信号(如温度和热流)相应的也会变小,这使得在块体样品测试中一些并不明显的问题得到了放大和凸出,如温度传感器精度、热损影响和测量表面精度等。为了解决因样品变薄所带来的一系列问题,就需要增加相应的辅助措施来保证测试满足边界条件,从而造成测试设备整体十分复杂,并需要进行一系列的校准验证考核试验,但效果并不十分明显。从另一个方面来看,稳态法是在块体材料热性能基础上发展起来的测试方法,对于较大尺寸的块体样品测试技术非常成熟和稳定。为了进行薄膜材料测试,在稳态法上做的任何工作都是在挖掘稳态法的潜力,是对稳态法测试能力区间的下限进行进一步的拓展,但毕竟是测试能力下限,受到了稳态法自身的制约,这种扩展空间十分有限且效果很难保证。这也是市场上没有可用于薄膜材料热性能测试仪器的主要原因。  瞬态法与稳态法恰恰相反,瞬态法是基于样品材料对热激励动态响应的一种测试方法,被测样品越薄,对热激励的响应越快,所以瞬态法的核心是检测物理量随时间变化快慢的问题。同时,在被测样品对热激励的快速响应过程中,周围环境和其他边界条件的影响反而变得很小,这就是瞬态法测试设备往往比较简单的主要原因。最主要的是,随着技术的发展,块体样品(特别是薄膜材料)对热激励的动态响应时间,在当前的电子检测技术面前都不属于快速测量范畴,采用目前的各种电子技术手段很容易对热激励响应进行快速和准确测量。从另一方面理解,就是针对材料的热性能测试,瞬态法可以针对不同被测样品厚度范围(响应时间)采用相应响应频率范围的电子仪器和设备来实现准确测量,而目前电子仪器设备的测试能力要远远超过薄膜材料热性能测试的需求。这就是瞬态法自身的最大优势,同时也是目前市场上薄膜材料热性能测试仪器大多采用瞬态法的主要原因。  瞬态法与稳态法一样,在实际应用中都存在以下几方面的共性问题:  (1)在线厚度的均匀性和准确测量问题:样品尺寸越大,样品厚度越小,厚度均匀性越难保证。稳态法由于要布置多只温度传感器而使得样品面积尺寸没有多少减少余地,所以在厚度均匀性保证上有一个极限值。但瞬态法在样品尺寸变化上则有很大空间,瞬态法可以根据激励源和探测器的尺寸来改变样品尺寸大小,样品可以做到很小尺寸,如激光闪光法样品尺寸可以做到直径5~12mm,温度波法样品尺寸还可以更小,由此使得瞬态法更容易保证样品厚度的均匀性以及在线准确测量。  (2)接触热阻问题:无论是稳态法还是瞬态法,测量中都会面临接触热阻问题,在薄膜材料测试中会更为明显。稳态法解决接触热阻问题是通过测量一系列相同材质和表面状态但厚度不同的样品,通过测试结果推算出接触热阻。但对于薄膜材料而言,一系列不同厚度薄膜样品很难加工制作,另外薄膜厚度均匀性问题也会造成接触热阻测量误差很大。因此无论是稳态法还是瞬态法,采用变厚度测量方法测试接触热阻只能算是一种无奈之举。在瞬态法测试过程中,可以将接触热阻看作是另一种材质的样品薄膜,整个测试模型就可以看作是一个多层薄膜结构的测试问题。只要采用瞬态法测量结果推算出各分层样品的热性能参数,就可以消除接触热阻的影响。随着瞬态法理论模型的发展,目前已经找到多层结构求解的技术途径,还需要进一步的模拟计算和试验考核以验证此方法的准确性和可靠性。  (3)多层膜问题:大多数薄膜材料在实际应用中都是沉积在基材上,或是与其他薄膜材料进行复合后使用,呈现单层结构并能用于测量的薄膜材料很少,因此更有应用价值的是多层膜的测试问题,特别是对于多层膜样品要能够测试出各个单层薄膜的热物性参数,同时还要考虑压缩力等外部环境条件。多层膜问题与接触热阻问题类似,核心都是一个根据瞬态法测量结果求解单层膜信息的科学问题。[b][color=#cc0000]4. 瞬态法测试技术的深入研究[/color][/b]  从上述瞬态法特点和存在问题中可以看出,对于薄膜材料,特别是对于质子交换膜燃料电池气体扩散层薄膜材料,瞬态法测试中很大的问题是要对每个被测气体扩散层样品进行表面加工和处理,这显然会增大测试的难度和工作量。如果样品材料的刚度不够而发生皱着和弯曲,则会很难制造合适的被测薄膜样品,因此薄膜测试中被测样品的制作和提取一直是个比较棘手的问题。  我们通过分析,对瞬态法测试技术进行了更深入的研究,特别是在被测样品环节提出了一种新的试验方法。这种新方法就是不在被测样品上进行任何处理,将原来对样品表面的处理转移到两片基材上,通过两片基材把被测样品夹持在中心位置来达到样品表面处理的相同效果。新方法的原理如图4-1所示。[align=center][img=4-1 新型瞬态法测试模型原理示意图,690,396]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901151926256162_9109_3384_3.png!w690x396.jpg[/img][/align][align=center][color=#cc0000]图4-1 瞬态法新型模型原理示意图[/color][/align]  针对不同的瞬态测试方法,这种改进后的瞬态法模型可以有不同结构形式,并具有以下几方面的功能和特点:  (1)对于温度波法而言,基体就相当于图3-4中的背板,可以将加热器、探测器和电极引线直接溅射在背板上,然后将被测薄膜样品加持在两块背板之间。这样避免了对被测样品的表面处理,通过已经制作成型的背板对各种样品进行测试。  (2)不对样品进行表面处理,可以避免直接在样品表面进行沉积涂层过程中涂层材料进入多孔薄膜对测量结果的影响,这对于气体扩散层这种多孔材料的导热系数测试尤为重要。  (3)对于激光闪光法而言,基体材料为刚性透明材料,激励层和探测层为沉积在基体材料表面的金属材料,然后表面在喷涂石墨层。这相当于将以往对透明样品的表面处理形式挪用到对基体材料的表面惊醒处理。作为激励源的激光脉冲经过透明的基体材料照射到激励层使得激励层温度快速升高,同时热量穿过被测样品到达探测层。探测层的温度变化透过透明基体被探测器检测,这个测试过程与普通激光闪光法完全相同,不同的是要考虑热量在多层结构中的传递,而不是以往那样仅有被测样品一层。在实际薄膜激光闪光法测试过程中,经过表面处理后的样品,也应该按照多层结构进行数据处理才能真正得到薄膜样品的测量结果。  (4)采用新型结构形式的激光脉冲法,同样规避了每次测试薄膜样品都需要进行表面处理的繁琐程序,做多每次需要再在基体表面喷涂石墨以增加发射率。  (5)从理论上来说,激光闪光法也可以看作是温度波法的一种特殊形式,普通温度波法是周期性热激励和周期信号检测,而激光闪光法则是单脉冲式的热激励和单个温升信号检测。因此,如果将激光单脉冲激励源更换为连续激光加周期性调制,使得经过激光束按照一定周期对激励层进行加热,这就相当于温度波法,但可以实现非接触测量。  总之,采用瞬态温度波法可以很好的进行压缩环境下薄膜材料的热物性测试。如果能解决多层模型的单层热性能参数的提取问题,解决接触热阻的影响,温度波法将更为准确和实用,同时也为激光闪光法开辟了更广泛的应用领域。[b][color=#cc0000]5. 参考文献[/color][/b]  (1) Zamel N, Litovsky E, Shakhshir S, et al. 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  • 美研制出增强薄膜太阳能电池吸光技术

    中国科技网讯 据英国《自然》杂志网站近日报道,尽管薄膜太阳能电池应用广泛,但其也有“先天不足”:薄膜越薄,制造成本越低,但当其变得更薄时,会失去捕光能力。美国科学家表示,当薄层厚度等于或小于可见光的波长时,其捕光能力会变得很强。科学家们可据此研制出厚度仅为现在商用薄膜太阳能电池厚度的1%、但捕光能力却大有改善的薄膜太阳能电池。 科学家们用射线—光极值这一理论最大捕光值来标识一种材料最多能捕获多少光线,但是,只有当材料具有一定的厚度时,才能达到这一峰值。目前,科学家们已经制造出了吸光层的厚度仅为0.1纳米的薄膜太阳能电池,但这样纤细的薄膜会漏掉很多光。 然而,现在,加州理工学院应用物理和材料科学教授哈里·阿特沃特和同事在最新一期《纳米快报》杂志上指出,他们找到了一种巧妙的方法,使薄层能帮助太阳能电池超越射线—光极值。他们发现,当薄层的厚度小于可见光的波长(400到700纳米)时,薄层会同这些可见光的波特性相互作用而不是将可见光看成一条直直的射线。阿特沃特说:“当我们制造出的薄层厚度等于或小于可见光的波长时,一切规则都改变了。”这样,一种材料的吸光能力不再取决于厚度,而取决于光线和吸收材料之间的波作用。 通过计算和计算机模拟,阿特沃特团队证明,让一种材料对光更有“胃口”的技巧在于,制造出更多“光态”让光来占领,这些“光态”就像狭缝一样,能吸收特定波长的光。一种材料的“光态”数量部分取决于该材料的折射率,折射率越高,其能支持的“光态”就越多。 其实,早在2010年,斯坦福大学的教授范汕洄(音译)和同事就将“光态”数确定为一种材料能吸入多少光线的主要因素。他们用一种折射率较高的材料将一种折射率低的材料包围,结果发现,高折射率材料的出现能有效提高低折射率材料的折射率,增强其捕光能力。 阿特沃特团队对上述结论进行了延伸,最新研究表明,薄膜吸光器内挤满 “光态”会大大增强其捕光能力。而且,可通过几种方式(比如,用金属或晶体结构包住吸光层或将吸光器嵌入一个更复杂的三维阵列中)来提高吸收器的有效折射率。范汕洄表示:“最新研究表明,我们可以采用多种不同的方法有效地突破射线—光极值。” 美国托莱多大学的罗伯特·柯林斯表示,阿特沃特团队的研究是“非常关键的第一步”。但他也认为,这项技术还面临着诸多挑战,比如,需要额外的工业过程来制造这些超薄的薄膜,这会导致成本增加。(刘霞)

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