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天瑞射线荧光光谱操作规程

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天瑞射线荧光光谱操作规程相关的论坛

  • 天瑞参与编制《能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试方法》国家标准

    天瑞参与编制《能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试方法》国家标准

    11月19日，国家标准《能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试方法》（以下简称《性能测试方法》）编制启动会在天瑞仪器召开。四川材料与工艺研究所、成都理工大学及天瑞仪器作为编制三方，均出席了本次启动会，并完成了对标准的初稿审查。《性能测试方法》是由核仪器仪表标准化技术委员会主导，四川材料与工艺研究所杨明太研究员负责撰写。四川材料与工艺研究所质量处处长郑刚、质量科科长雷洪波、研究员杨明太、研究室主任邹乐西、成都理工大学信息学院副院长方方教授等，与天瑞仪器总经理应刚、应用研发中心主任姚栋梁博士、研发一部副部长周晓辉、张波等，共同对该标准制定进行深入探讨。启动会上，三方就《性能测试方法》标准编制的流程、时间节点、注意事项等进一步细化洽谈，并完成对标准初稿的审查及修订。同时也正式签署合作意见书。来宾在总经理应刚的陪同下，依次对天瑞产品展厅、化学实验室、前处理实验室、产品生产线、研发实验室等区域进行详细考察。他们表示，天瑞仪器规范、强大的生产、品质管理系统，让他们印象深刻；但更为惊喜的是，天瑞作为仪器厂商，能有独立的化学及前处理实验室，足以证明对研发及应用的重视。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/11/201111211633_332008_2090336_3.jpg国标编制启动会现场http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/11/201111211633_332009_2090336_3.jpg合影留念

  • 【资料】天瑞仪器手持式X荧光光谱仪EDX-Pocket系列

    【资料】天瑞仪器手持式X荧光光谱仪EDX-Pocket系列

    应各位版油意见，现分享天瑞仪器手持式X荧光光谱仪EDX-Pocket系列 相关知识，望各位分享快乐~ X射线荧光光谱仪属于先进的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式，转化成光、机、电、算（计算机）一体化、自动化的结构，并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。手持式X荧光光谱仪集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项高技术而开发出的用于化学元素成分定量分析、定性检测的智能分析检测仪器，具有快速、准确、无损、方便的特点。应用于合金、矿样、地质、贵金属、废旧金属回收分析、土壤检测、电子消费品、玩具安全等的环保检测、特别用于 “RoHS”（欧盟颁布的《关于电子电气设备中限制使用某些有害物质的指令》）检测等领域。2008年，手持智能化X射线荧光光谱仪市场需求为1000台以上，并且今后每年以50%的比例增长。统计报告还指出：环境监测分析仪器增长最快，尤其是X射线荧光光谱仪的出口更是成倍增长。智能化的仪器很好地解决了对非化学分析专业领域里对专业人员的知识要求，使应用更便捷，使用人员范围更普及。天瑞公司以已掌握的成熟的台式X射线荧光光谱仪技术为基础，结合国外相关最新的技术发展成果，以国际现有的商品化手持式X射线荧光光谱仪为性能目标，研制出具有自主知识产权的，满足市场需求的智能、便携式的X射线荧光分析仪产品。天瑞仪器公司自主研发的EDX-Pocket系列手持式X荧光光谱仪是,专门针对在现场，野外进行X荧光分析的应用而设计，具有体积小，重量轻，普通人可手持测量的特点；包括RoHS分析仪，合金成分分析仪和地质矿样分析仪等一系列专业型号，可充分满足从原料检测，生产过程控制到成品检验中各种元素成分的现场在线分析，金属材料的可靠性鉴别和合金牌号快速识别，各类地质矿样的野外原位多元素分析等市场需求。本产品突破并解决了使用高分辨率的SDD(UHRD)探测器，分辨率达到155eV，处于国际先进水平；产品设计了具有防辐射功能的屏蔽罩、X射线发生器，使辐射剂量符合国际规定；蓝牙连接的PDA主机、全球定位接收系统（GPS）集成、自主研发专用元素分析软件；实现了仪器的手持式小型化，便于携带与现场操作。项目申请了6项发明专利（其中1项申请了欧洲、美国专利）并已进入实审，2项实用新型专利、2项外观专利已获授权，并有2项软件著作权。为省高新技术产品。产品通过江苏省计量科学研究院的检测，各项指标均符合相关技术要求，并通过了中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定，技术达国际先进水平。以上产品已批量销售于国内外市场，受到客户的好评，打破国外厂家的垄断。手持式X荧光光谱仪的基本构成:天瑞仪器生产的EDX-Pocket系列手持式X荧光光谱仪基本构成，是由一体化高压和端窗微型X光管、准直滤光系统、探测器、信号放大器、多道分析器和PDA微电脑系统构成。一体化高压和端窗微型X光管其主要用途及特点和工作原理是：放射连续能量的X射线，其主要用途是用它来激发样品的待测元素，产生X荧光。其特点是不会像放射源一样每时每刻都在放射射线，可以通过不同的方式来控制放射射线。其工作原理是灯丝加热产生的自由电子在高压电场进行加速，轰击到靶材上，产生靶材的特征X射线和韧致辐射，如下图示：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/04/201104141105_288704_2090336_3.jpg准直滤光系统其主要用途及特点：滤光系统由滤光片和准直器组成，其中滤光片的用途是抑制靶材谱线和降低背景提高检出限。准直器的用途是聚光和调节光斑大小。特点是通过滤光系统可以提高测试元素的检出限，每组滤光片和准直器应用于不同的测试元素和应用行业。探测器其主要用途及特点：探测器是对性能指标有决定性影响的关键部件，它的作用，就如同人的眼睛，照相机的镜头。它的主要用途是接收到的X射线光子转换为电信号。信号放大器其主要用途及特点：它与探测器接到的X射线光子转换的电信号进行放大处理。多道分析器其主要用途及特点：它会把每个元素的荧光光子信号按其能量进行分类然后依次在多道分析器里进行统计和计算。PDA微电脑系统的主要用途及特点：它的用途是把应用软件安装在PDA上进行X荧光分析算法的计算。其特点是通过仪器与PDA无线蓝牙连接，数据通过无线传送到PDA上进行计算而得出测试结果。仪器技术特色：1. 采用小功率端窗一体化微型光管，功耗小，激发效率高，结合使用大面积铍窗电致冷Si-PIN或SDD探测器，使手持式仪器具有与台式相近的地质矿样测试指标。2. 体积很小，便携、方便野外工作。随时随地，随心所欲的现场分析和原位分析。3. 野外分析无需制备样品，可直接在待测物表面进行测定，可分析任何样品类型，包括土壤、岩石、泥土、残渣、固体小颗粒、液体沉积物等。4. 采用高显示分辨率（640*480）的PDA作主机，结合无线蓝牙通讯的微型多道分析器专利技术，仪器使用方便灵活，在任何环境中，测试数据都尽在掌中。5. 仪器既可手持进行快速测试，也能使用座式对样品进行较长时间的精细测试。6. 仪器防水防尘，可在高温高湿环境下连续使用，其保护箱采用高强度军工用品，有良好的防潮防震防压三防功能。7. 专业软件， RoHS分析仪，合金成分分析仪和地质矿样分析仪 分别配置专业的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、操作简易，对操作人员限制很小的特点。8. 具有多种测试模式设置和无限数目模式的自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。9. 两块锂电池满电可连续工作8小时，并可选配太阳能充电器或车载式充电器，保证随时随地进行测试。仪器技术性能数据http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/04/201104141120_288714_2090336_3.jpg仪器应用领域：[/

  • 《能量色散X荧光光谱仪》标准制定工作会议在天瑞召开

    《能量色散X荧光光谱仪》标准制定工作会议在天瑞召开

    5月18日，全国分析仪器标准化委员会秘书长马雅娟、主任委员郑增德来到天瑞仪器，就《能量色散X荧光光谱仪》行业标准的编制实施进行深入研讨。《能量色散X荧光光谱仪》行业标准是由全国分析仪器标准化技术委员会推动，共分为“通用技术”、“元素分析仪”、“镀层厚度分析仪”三章。目前，该标准已完成草稿工作。5月18日，在天瑞仪器二楼会议室，分析仪器标准化委员会秘书长马雅娟、主任委员郑增德，与天瑞仪器副总经理余正东、应用研发中心负责人姚栋梁博士、研发部部长吴升海博士、研发部副部长周晓辉、应用研发工程师吴敏、李强、盛敏等人，共同就标准的制定执行进行深入探讨。分析仪器标准化委员会秘书长马雅娟在会议中表示：“能量色散X射线荧光光谱仪作为一种定性及定量的无损测试技术，可广泛应用于电子、机械制造、医疗卫生、环保和生态研究、冶金、食品工业、珠宝首饰、地质勘探、考古、商检、电镀、钢铁、石化、稀土等行业。但该技术目前在国内外却缺少相关标准。本次行标的编撰实施，对促进民族工业发展、促进与国际先进技术的接轨，具有重要意义。”天瑞仪器副总经理余正东表示，天瑞仪器作为专业的X荧光光谱仪研发生产厂商，在技术研发、仪器制造、应用开发、产品服务等方面拥有深厚的经验。天瑞仪器希望能够发挥优势，为行业标准的规范完善作出贡献。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205231600_368298_2090336_3.jpg合影留念

  • 《天瑞客户通讯》优秀文稿：X射线荧光算法对铁矿石中TiO2组分测试结果的影响

    X射线荧光算法对铁矿石中TiO2组分测试结果的影响 张辉（江苏天瑞仪器股份有限公司，江苏昆山，215300）摘要本文采用压片法能量色散X射线荧光光谱测试铁矿石中各种组分（TFe、MgO、Al2O3、SiO2、P、S、TiO2、CaO、Mn、Cu、Zn）。算法采用经验系数法，讨论了Ti Ka峰边界和强度计算方法对其测试结果的影响。关键词：铁矿石；压片法；峰边界；强度计算方法The Effect of XRF Spectrometry Calculation Methods on Test Results of TiO2 Component in Iron Ores Zhang Hui（Jiangsu Skyray Instrument Co.LTD. Kun San of Jiang Su, 215300）Abstract: A method for determination of components （TFe、MgO、Al2O3、SiO2、P、S、TiO2|、CaO、Mn、Cu、Zn）in iron ore was studied by EDXRF spectrometer with powder pressed-disc technique. Results with the effect of Ti Ka peak boundary and methods of intensity calculation were also discussed in iron ore with experienced coefficient method. Keywords: iron ore; powder pressed-disc technique; peak boundary；[/size

  • 关于天瑞EDX4500 X荧光光谱仪的求助

    天瑞的销售主推这款天瑞EDX4500 X荧光光谱仪，不知道有哪位大大用过或者了解过，真的比直读光谱方便么，而且号称不需多少人工维护及费用,价格在多少，辐射量对人体安不安全，公司主要产品以高锰钢以及耐热钢为主，够不够用

  • 《能量色散X光射线荧光光谱仪计量校准规范》是否有统一规范

    今天有看到一篇信息，摘录如下：“省计量院《能量色散X光射线荧光光谱仪计量校准规范》通过审定 文章来源：福建省计量科学研究院 更新时间：2011-10-8 14:35:09 9月27日，省计量院《能量色散X射线荧光光谱仪校准规范》通过审定。由此建立的能量色散X射线荧光光谱仪计量校准方法，具有较强的实用性和可操作性。能量色散X射线荧光光谱仪是公认的RoHs（关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令）筛选检测首选仪器，可以检测出RoHs法案中规定的所有物质，具有检测速度快、分辨率高、可实现无损检测、无需专门人员等特点。但该仪器相关技术指标没有国家规程，缺乏统一的技术规范。省计量院根据该仪器的计量性能和实际检测要求，制定了能量色散X射线荧光光谱仪的计量校准方法。该规程的运用，将有效提升能量色散X射线荧光光谱仪的检测质量，并保障该行业的健康发展，具有较好的社会及经济效益。”目前有关能量色散X光射线荧光光谱仪计量校准规范是不是没有一个统一的标准？ 那大家公司一年一次或两次的校准都是依据哪个规范进行的呢？http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/emyc1010.gif

  • XRF环境新标准能给天瑞带来新机遇吗？

    环保部近日发布了HJ 780-2015《土壤和沉积物 无机元素的测定 波长色散X射线荧光光谱法》（见附件），该标准准规定了测定土壤和沉积物中25种无机元素和7种氧化物的波长色散X射线荧光光谱法，并将于2016年2月1日起实施。对此，天瑞准备好了么？天瑞的波长色散X射线荧光光谱仪能满足HJ 780-2015的要求吗？XRF环境新标准的发布能给天瑞带来新机遇吗？

  • X射线荧光光谱仪

    请问大家，我们用的是落地式较大的那种X射线荧光光谱仪，是布鲁克的，请问这台设备对操作人员的辐射危害大吗？

  • 天瑞仪器入选国家重大仪器专项 获批1215万专项资金

    天瑞仪器入选国家重大仪器专项 获批1215万专项资金 根据科技部通知，天瑞仪器承担的“顺序式波长色散X荧光光谱仪的研发及产业化”项目（以下简称“项目）入选“2011年国家重大科学仪器设备开发专项项目”，并获批专项资金1215万元。 项目开发产品“顺序式波长色散X荧光光谱仪”通用性强、适应范围广，在超轻、超微量元素分析上具有突出的优势，在元素分析市场上占据重要地位。天瑞仪器具有非常深厚的波长色散光谱仪的研发、生产经验。对于顺序道仪器的研发及产业化有着良好的技术基础、客户应用基础、市场营销网络、优质的售后服务等各种优势。国内目前仅有天瑞仪器及全资子公司北京邦鑫伟业技术开发有限公司具有固定道波长色散X荧光光谱仪的研发、生产、销售。 项目研发成功后，仪器性能指标可达到《波长色散X射线荧光光谱仪检定规程（JJG810-1993） 》中A类仪器标准；不仅有助于天瑞仪器拓宽业务领域，对发展我国高新技术产业，打破国外产品市场垄断、节约客户使用成本，更具重要意义。PS：项目实施时间为5年，五年后,中国就有自已的顺序道大型波长色散型光谱仪了~！http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09505.gif

  • X射线荧光光谱仪

    波长色散X射线荧光光谱仪分析对象主要有各种磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。 波长色散X射线荧光光谱仪采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 美国Cianflone公司扫描型X射线荧光光谱仪（波长色散型）2501XBT型号是ASTM金属基层处理涂层测厚检验标准（D5723-95）、ASTM1306-07和D6906-03中唯一推荐检测仪器。X射线荧光光谱仪是表面金属元素成分分析的理想工具。 Portaspec2501XRF可以试验如下金属和矿物的全定量分析： 铬、钴、铜、金、铁、铅、锂、锰、汞、钼、镍、、铂、银、钍、钛、钨、铀、钒、锌、锆? Portaspec以安全的辐射标准（CRF标准）耐用的光学系统，简便的元素选择操作，强大灵活的测量功能、成为金属元素定量定性的最好分析工具。 PortaspecX系列色散型X射线荧光光谱仪用于质量控制和研究，高效、功能强大，包括触摸屏笔记本电脑。X射线管冷却水浴、真空泵，高压电源于一体，完全实现低成本运行。 PortaspecX系列色散型X射线荧光光谱仪主要特点： XSEBT单一元素； XBT分析从钛到银、从钡到铀的单一或多金属顺序测量； XLT分析AI、Si 、P、S、Cl、K、Ca、Zr 系统设置与样品分析耗时短 移动式测量探头，可实现无损在线检测 符合CRF辐射安全 包括触摸屏笔记本电脑 快速调角开关电源 密封、高效耐用的光学系统实验高精度高可靠性的测量请不要注明出处。否则广告论处。

  • 射线荧光光谱搬迁

    想问一下大家的x射线荧光光谱在搬迁时是怎么操作的，是找的仪器提供方还是专门的搬迁的，希望可以提供相应的公司或建议，谢谢

  • X射线荧光光谱分析

    X射线荧光光谱分析

    X射线荧光光谱分析用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。下图是这两类仪器的原理图。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112280433_341844_1601823_3.jpg现将两种类型X射线光谱仪的主要部件及工作原理叙述如下： http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112280434_341845_1601823_3.jpg两种类型的X射线荧光光谱仪都需要用X射线管作为激发光源。上图是X射线管的结构示意图。灯丝和靶极密封在抽成真空的金属罩内，灯丝和靶极之间加高压（一般为40KV）,灯丝发射的电子经高压电场加速撞击在靶极上，产生X射线。X射线管产生的一次X射线，作为激发X射线荧光的辐射源。只有当一次X射线的波长稍短于受激元素吸收限lmin时，才能有效的激发出X射线荧光。大于lmin的一次X射线其能量不足以使受激元素激发。　　　　　　　 　　X射线管的靶材和管工作电压决定了能有效激发受激元素的那部分一次X射线的强度。管工作电压升高，短波长一次X射线比例增加，故产生的荧光X射线的强度也增强。但并不是说管工作电压越高越好，因为入射X射线的荧光激发效率与其波长有关，越靠近被测元素吸收限波长，激发效率越高。 　　X射线管产生的X射线透过铍窗入射到样品上，激发出样品元素的特征X射线，正常工作时，X射线管所消耗功率的0.2%左右转变为X射线辐射，其余均变为热能使X射线管升温，因此必须不断的通冷却水冷却靶电极。

  • 关于天瑞EDX4500 X荧光光谱仪的求助

    天瑞的销售主推这款天瑞EDX4500 X荧光光谱仪，不知道有哪位大大用过或者了解过，真的比火花直读光谱方便么，而且号称不需多少人工维护及费用

  • 关于天瑞EDX4500 X荧光光谱仪的求助

    天瑞的销售主推这款天瑞EDX4500 X荧光光谱仪，不知道有哪位大大用过或者了解过，真的比火花直读光谱方便么，而且号称不需多少人工维护及费用,公司主要产品以高锰钢以及耐热钢为主

  • 【分享】X射线荧光光谱分析法介绍

    利用原级 X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。在成分分析方面，X射线荧光光谱分析法是现代常规分析中的一种重要方法。 　　[b]简史 [/b]　20世纪20年代瑞典的G.C.de赫维西和R.格洛克尔曾先后试图应用此法从事定量分析，但由于当时记录和探测仪器水平的限制，无法实现。40年代末，随着核物理探测器的改进，各种计数器相继应用在X射线的探测上，此法的实际应用才成为现实。1948年H.弗里德曼和 L.S.伯克斯制成了一台波长色散的X射线荧光分析仪，此法才开始发展起来。此后,随着X射线荧光分析理论和方法的逐渐开拓和完善、仪器的自动化和计算机水平的迅速提高，60年代本法在常规分析上的重要性已充分显示出来。70年代以后，又按激发、色散和探测方法的不同，发展成为X射线光谱法（波长色散）和X射线能谱法（能量色散）两大分支，两者的应用现已遍及各产业和科研部门。

  • 波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别

    一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。 二．波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。（一）原理区别 X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪（ED-XRF）是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。（二）结构区别 波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管），样品室，分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要打，一般为2-3千瓦，单X射线管的效率极低，只有1%的功率转化为X射线辐射功率，大部分电能均转化为而能产生高温，所以X射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪（DE-XRF）

  • 【原创】能量色散X射线荧光光谱(电源)

    能量色散X射线荧光光谱开关电源能量色散X射线荧光光谱采取脉冲高度剖析器将不同能量的脉冲离开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具备高分别率的光谱仪，分别率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分别率光谱仪通常采取液氮冷却的半导体探测器，如Si（Li）和高纯锗探测器等。低分别便携式光谱仪经常采取反比计数器或闪耀计数器为探测器，它们不须要液氮冷却。近年来，采取电致冷的半导体探测器，高分别率谱仪已不必液氮冷却。同步辐射光激起X射线荧光光谱、质子激起X射线荧光光谱、喷射性同位素激起X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采取的是能量色散方法。编纂本段非色散谱仪　　非色散谱仪不是采取将不同能量的谱线分别开来，而是通过抉择激起、抉择滤波和抉择探测等方法使测量剖析线而消除其余能量谱线的搅扰，因而个别只实用于测量一些简朴和组成基础固定的样品。假如n1n2，则介质1相关于介质2为光密介质，介质2相关于介质1为光疏介质。关于X射线，个别固体与空气相比都是光疏介质。所以，假如介质1是空气，那么α1α2（图2。20右图），即折射线会倾向界面。假如α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1α临界时，界面就象镜子一样将入射线整个反射回介质1中，这就是全反射景象。X射线荧光光谱法有如下特征：剖析的元素规模广，从4Be到92U均可测定； 　　荧光X射线谱线简朴，互相搅扰少，样品不必分别，剖析方法对比简便； 　　剖析浓度规模较宽，从常量到微量都可剖析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差。待续。。。。。非色散？不是很理解。楼主，你有示意图来介绍一下吗。

  • 波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的比较

    虽然波长色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（WD-XRF）X射线荧光光谱仪同属X射线荧光分析仪，它们产生信号的方法相同，最后得到的波谱或者能谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，ED-XRF（波谱）与ED-XRF（能谱）在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。　　（一）原理区别　　X-射线荧光光谱法，是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪（WD-XRF）是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同，故仪器结构也不同。　　（二）结构区别　　波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X-射线管的功率要大，一般为２～３千瓦。但X-射线管的效率极低，只有１％的电功率转化为X-射线辐射功率，大部分电能均转化为热能产生高温，所以X-射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室和检测系统等组成，与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它用不分光晶体。由于这一特点，使能量色散型荧光光仪具有如下优点：　　①仪器结构简单，省略了晶体的精密运动装置，也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低，一般在100W以下，不需要昂贵的高压发生器和冷却系统，空气冷却即可，节省电力。　　②能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近，X-射线的利用率很高，不需要光学聚集，在累积整个光谱时，对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感，对样品形状也无特殊要求。　　③在能量色散谱仪中，样品发出的全部特征X-射线光子同时进入检测器，这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱（包括背景）的基础，也能清楚地表明背景和干扰线。因此，半导体检测器X-射线光谱仪能比晶体X-射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。　　④能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度，而不是峰顶强度。因此，减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响，提高净计数的统计精度，可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素，而不是按特定谱线分析特定元素。因此，见笑了偶然错误判断某元素的可能性。（选自网络，侵删）

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