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孔铜厚度量测仪的原理

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孔铜厚度量测仪的原理相关的资讯

  • 瓶口边厚仪是如何测量瓶口边缘厚度的?基于何种技术或原理
    在现代工业生产中,瓶口边厚仪作为一种关键的质量控制设备,广泛应用于医药、化工、食品等多个领域,尤其在玻璃瓶、塑料瓶等包装容器的生产中发挥着至关重要的作用。本文将深入探讨瓶口边厚仪的工作原理、所采用的技术或原理。一、瓶口边厚仪的工作原理概述瓶口边厚仪是一种高精度测试设备,主要用于测量玻璃瓶或塑料瓶瓶口边缘的厚度。其工作原理基于机械接触式测量技术,通过精确的传感器和数据处理系统,实现对瓶口边缘厚度的准确测量。该设备不仅具有高度的测试准确性和重复性,还能在不对被测物体造成损伤的情况下完成测量,确保测试结果的可靠性。二、机械接触式测量技术详解1. 探头组件与传感器的作用瓶口边厚仪的核心部件包括探头组件和传感器。探头组件通常采用碳纤维等轻质高强度材料制成,确保在测量过程中既能稳定接触瓶口边缘,又不会对瓶子造成损伤。传感器则负责将探头接触到的物理信号(如位移、压力等)转换为电信号,供后续数据处理系统分析。2. 信号处理与显示转换后的电信号经过信号放大器放大后,进入数据处理系统。该系统利用先进的数字信号处理技术,对信号进行滤波、去噪、线性化等处理,最终得出瓶口边缘的厚度值。测量结果通过数字显示屏实时显示,便于操作人员读取和记录。三、高精度测量的实现1. 精密的机械结构设计为了实现高精度的测量,瓶口边厚仪的机械结构设计十分精密。探头组件与瓶口边缘的接触点需保持恒定且均匀的压力,以确保测量结果的准确性。同时,设备的整体结构需具备较高的刚性和稳定性,以抵抗外界干扰和振动对测量结果的影响。2. 先进的测量算法除了精密的机械结构外,瓶口边厚仪还采用先进的测量算法对信号进行处理。这些算法能够自动校正测量过程中的系统误差和随机误差,提高测量结果的精度和稳定性。同时,算法还能实现数据的实时处理和统计分析,为质量控制提供有力支持。四、非接触式测量技术的探索虽然机械接触式测量技术在瓶口边厚测量中占据主导地位,但非接触式测量技术也在不断发展和探索中。例如,基于激光或超声波的非接触式测量技术具有不损伤被测物体、测量速度快等优点,但其在瓶口边厚测量中的应用还需进一步研究和验证。五、应用实例与市场需求1. 医药行业的应用在医药行业中,瓶口边厚仪被广泛应用于药品包装容器的质量检测中。通过测量瓶口边缘的厚度,可以评估包装容器的密封性、耐压性等关键性能指标,确保药品在储存和运输过程中的安全性和有效性。2. 化工行业的需求化工行业对包装容器的要求同样严格。瓶口边厚仪在化工瓶罐的生产过程中发挥着重要作用,通过测量瓶口边缘的厚度,可以及时发现并纠正生产过程中的偏差和缺陷,提高产品的整体质量和市场竞争力。3. 市场需求与未来展望随着工业生产的不断发展和消费者对产品质量要求的不断提高,瓶口边厚仪的市场需求将持续增长。未来,随着技术的不断进步和创新,瓶口边厚仪将更加智能化、自动化和便携化,为各行各业提供更加高效、准确的质量控制手段。六、结语瓶口边厚仪作为现代工业生产中的重要质量控制设备,其工作原理和技术特点决定了其在多个领域中的广泛应用和重要地位。通过不断的技术创新和产品优化,瓶口边厚仪将不断提高测量精度和稳定性,为企业的质量控制和市场竞争提供有力支持。同时,我们也期待非接触式测量技术在瓶口边厚测量中的进一步发展和应用,为工业生产的智能化和自动化注入新的活力。
  • 《锡膏厚度测量仪校准规范》发布实施
    近日,在广东省市场监管局指导下,由广东省计量院主持起草的JJF1965-2022《锡膏厚度测量仪校准规范》获国家市场监督管理总局批准发布实施。本规范的颁布实施,有效解决了锡膏厚度测量仪的量值一直无法获得有效溯源,不同仪器上测量结果差异较大的技术难题,进一步完善了精密几何量领域国家计量技术规范体系,促进了行业技术标准的统一,有利于集成电路产业、企业相关技术能力的提升。  据了解,锡膏厚度测量仪是一种被广泛用于检测集成电路板上锡膏印刷质量的仪器,它采用非接触式的光学测量原理,能快速、无损地测量锡膏的厚度、面积、体积等参数,其中,厚度是判断锡膏印刷质量的关键核心指标。以往由于缺乏相关的计量技术规范,各生产厂家在校正仪器时采用的方法和计量标准存在差异,导致测量结果的复现性较差,不利于产品质量的控制和不同企业间的产品验收。  针对上述问题,在广东省市场监管局的指导下,广东省计量院和国家计量院、山东院、苏州院等单位专家组成规范起草组,对目前市场上锡膏厚度测量仪的生产厂家和用户开展广泛调研,深入了解仪器技术原理、客户需求和实际使用情况,经过反复论证和实验,确定了仪器校准的主要技术指标、操作方法和计量标准器要求等,并最终由广东省计量院主持完成校准规范的起草和报批。目前,该院联合研发了配套的多种规格计量标准器,并已为香港生产力促进局等多家粤港澳大湾区的客户提供了校准服务。
  • 珍珠珠层厚度无损检测研究有重大突破
    从广西质量技术监督局获悉,2009年3月15日,该局承担的“X射线和近红外光珍珠珠层厚度无损检测仪研究与应用”科技成果项目鉴定验收会在广西产品质量监督检验院召开。此次项目验收鉴定会由广西科技厅组织,全国有关方面的权威专家对项目进行了审定。   据了解,该课题技术在珍珠检测领域具有较高的创新性。 一是国内首创微焦斑(Φ=8μm)X射线透射技术和CCD光电成像技术相结合,实时整体成像;二是珠层图像自动甄别采集,根据灰度级差原理,自动由外向内搜索(图像由白到黑)之最大梯度处视为珍珠核与珍珠层边缘;三是用测量误差理论最小二乘法圆度拟合,自动获取最接近珠核与珠层平均圆,实现准确和快速自动检测;四是用计算机技术实现尺寸自动匹配,以消除点光源引起不同尺寸珍珠的投影与其真正直径测量偏差的问题;五是研究出仪器的校准标准,建立量传溯源体系,确保测量准确度;六是实现珍珠球体多截面测量;七是控制测量误差,实现仪器测量准确度≤0.02mm。   参会专家一致认为:该课题在全国率先开展采用X射线和近红外光学相干层析成像技术对珍珠进行无损检测综合对比研究,并取得突破性进展,成功研制出两种珍珠无损检测高精度新仪器,把先进的测量理论成功转化为具有广泛应用意义的技术创新成果和测量仪器,属于国内首创,技术水平达到国内领先,国际先进水平。   目前该项目所研究的两种无损检测方法已被纳入国家技术标准在全国推广应用。对提高珍珠产品质量,促进广西珍珠产业的发展将具有深远的社会效益和经济效益。
  • PCB在线铜厚检测设备,提供全方位解决方案
    每一块线路板都应当严格把控质量若线路板铜厚不均匀或厚度不符合标准数据会影响线路板电流和信号传输继而导致品质低劣或产品故障进而引发诉讼风险和名誉受损所以铜厚检测至关重要 有正业,无烦恼 该设备系列产品适用于电路板生产企业及电子电气设备生产、组装行业。测量类型:●适用于PCB减铜生产线前后工序的面铜厚度检测●适用于PCB电镀铜后的面铜厚度检测●适用于PCB基材铜箔的面铜厚度检测检测标准参照:《IPC-A-600H》《IPC-4562》铜厚检验标准为10%,实际检验标准约为3%-5%。 01binggo!完胜人工抽检! 人工检测 VS 在线检测 在线检测对比人工检测的优势:◆在线检测减少不良品的产出◆抽检到全检质量的全面提升◆可有效提升产品测试的效率◆减少人工测量和记录的误差◆大数据统计在线质量管控◆实时精准数据提供至后端 02检测原理,搭载菲希尔传感器 面铜厚度检测原理:微电阻法:四探针方式测量电阻,基本的原理就是欧姆定律:U=R×I。 自动检测原理:自动化检测平台搭载面铜探头正反面同时检测。 ▲搭配菲希尔高精面铜传感器 03产品结构,针对需求特定设计 TH22型号 TH23型号 TH15型号 04全方位满足客户个性化需求 在线方案一:电镀后端在线检测 在线方案二:减铜前端在线检测 在线方案三:减铜后端在线检测 离线方案一:斜立式收放板 离线方案二:机械手收放板 离线方案三:薄板含治具离线检测方案 05正业优势,选上市品牌更有保障 06如何选机?快捷选型评估指南 07技术参数,一目了然 正业科技在线铜厚测试仪
  • 国家气象探测中心开展激光雷达霾层厚度观测
    中国气象报记者王晨 通讯员赵培涛 季承荔报道 针对近日全国较大范围重污染天气,中国气象局气象探测中心(以下简称“气象探测中心”)依托正在开展的超大城市综合观测试验,与相关单位利用10余台激光雷达系统开展联合协同观测;同时利用激光雷达综合观测数据进行激光雷达霾层厚度观测产品的综合加工处理,制作的霾厚度观测产品在央视《新闻联播》后的《天气预报》节目中使用。  据了解,在中国气象局紧急启动三级应急响应后,气象探测中心充分发挥在激光雷达观测上的技术优势,依托正在开展的超大城市综合观测试验,联合中国科学院安徽光学精密机械研究所、北京理工大学、安徽蓝盾光电子股份有限公司等单位,组建北京地区激光雷达观测网,在北京理工大学、北京南郊、健德桥等地开展激光雷达霾观测试验。连日来,北京地区共计10余台激光雷达系统开展了联合协同观测,实时监控观测北京地区霾层厚度的变化,获取了丰富的大气垂直高度及气溶胶颗粒等信息。 激光雷达霾层厚度观测设备。   在开展观测数据服务工作的同时,观测服务效益也凸显。利用激光雷达综合观测数据,气象探测中心开展激光雷达霾厚度观测产品的综合加工处理,每日制作并提供北京地区霾层厚度激光雷达观测产品,供全国天气会商及编制决策服务材料使用。其中,12月19日加工制作的激光雷达霾厚度观测产品在《新闻联播》后的《天气预报》节目中得以使用和展示。节目中,一张直观清晰的北京城区霾层厚度监测图出现在屏幕上,横轴显示不同的时间点,纵轴显示霾层在不同公里数上厚度的差别,上方配以消光系数,同时主持人深入浅出的讲解,使观众对“激光雷达霾层厚度观测”建立起感性认识。 新闻联播天气预报节目展示北京城区霾层厚度监测情况。   据悉,下一步,气象探测中心将根据服务需求,继续改进探测产品,积极探索新型探测设备的产品开发及应用,更加充分地发挥综合观测效益,同时全力做好综合观测系统的运行监控、技术保障工作,为气象预报预测服务提供有力支撑。  北京健德桥的激光雷达霾层厚度连续观测结果。北京南郊的激光雷达霾层厚度观测结果。 (责任编辑:栾菲)
  • 幕墙玻璃厚度检测仪研制
    table border=" 1" cellspacing=" 0" cellpadding=" 0" width=" 600" tbody tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 成果名称 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 2em " 幕墙玻璃厚度检测仪 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 单位名称 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 2em " 中国建材检验认证集团股份有限公司 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 联系人 /p /td td width=" 177" p style=" line-height: 2em " 艾福强 /p /td td width=" 161" p style=" line-height: 2em " 联系邮箱 /p /td td width=" 187" p style=" line-height: 2em " afq@ctc.ac.cn /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 成果成熟度 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 2em " □正在研发 □已有样机 □通过小试 □通过中试 √可以量产 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 合作方式 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 2em " □技术转让□技术入股□合作开发& nbsp √其他 /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 2em " strong 成果简介: /strong br/ /p p style=" text-align:center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/64e1b730-057a-4fac-9850-b46e628b289c.jpg" title=" 厚度检测仪.jpg" width=" 350" height=" 224" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 350px height: 224px " / /p p style=" line-height: 2em " & nbsp /p p style=" line-height: 2em " span style=" line-height: 2em " & nbsp & nbsp 幕墙玻璃厚度检测仪利用激光测距技术,通过计算光程差来获得所测玻璃的厚度,厚度检测仪不仅可以测量单层玻璃的厚度,还可以测量中空玻璃三层厚度(包括:玻璃厚度、空气层厚度),采用数字化技术,将所测结果直观的显示在液晶显示屏上,可以快速、直观的获得所需结果,并设有内部存储功能可以存储9次测量结果,方便用户使用,该仪器操作简单,携带方便,测试结果快速、准确特别适合于现场检测。& nbsp /span /p p style=" line-height: 2em " & nbsp & nbsp & nbsp 主要特点 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 操作简单:只需将仪器放在待测玻璃上按测量键即可完成测量。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 测量精度高:该仪器测量精度达到微米级。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 测试速度快:测试时间1-2秒。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 便于携带:该仪器尺寸合适重量轻。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 稳定性好:多次测量结果无偏差。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 具有存储功能:可以存储9次的测量结果并查看。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 可同时测量玻璃厚度、空气层厚度。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 技术参数: br/ & nbsp & nbsp & nbsp 测量精度:微米级 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 物理尺寸:130*70*30 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 开关频率:1-2秒 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 采样频率:10Hz br/ & nbsp & nbsp & nbsp 供电电压:9v br/ & nbsp & nbsp & nbsp 重量:200g br/ & nbsp & nbsp & nbsp 使用温度:-20℃- 40℃ br/ & nbsp & nbsp & nbsp 机体重量:约1Kg /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 2em " strong 应用前景: /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp 该仪器操作简单,携带方便,测试结果快速、准确特别适合于玻璃幕墙的现场检测,同时也适合于工厂、建筑工程质量检测站、产品质量检测站、科研院校等玻璃的生产检测、和开发研究等领域。 /p /td /tr /tbody /table p br/ /p
  • 高阻隔材料测试中厚度对渗透率的影响
    当天气变冷时,我们马上就知道多穿几层衣服会让我们更暖和。简单地说,如果你想要更多的保护,你就增加更多的厚度。同样的原理也适用于气体透过率测试。经验法则是,如果你将材料的厚度增加一倍,阻隔水平也会增加一倍,相应的透过率将减少一半。厚度对渗透率的影响有多大?很少有人去了解的是,较厚的样品渗透达到平衡所需的测试时间。典型的假设是,厚度加倍就需要测试时间加倍。这是不正确的。通常情况下,每次材料厚度增加一倍,渗透率达到平衡需要4倍的时间。下面是厚度1mil和5mil PET薄膜及其渗透率水平的比较。选择这些薄膜是因为它们在短时间内WVTR达到平衡。在此示例中,1mil PET薄膜的水蒸气透过率 (WVTR) 为10.1 g/(m2 x day)。达到该值95%所需的时间不到30分钟。5mil PET薄膜的WVTR为2.17 g/(m2 x day),需要近450分钟才能达到最终值的95%。我们通常看到,对于厚样品特别是在测量更高阻隔材料时,最后5%~10%的渗透率平衡可能需要相对较长的时间。通过测试得出结论当测试较厚材料的阻隔时,整体渗透率会成比例下降。材料厚度增加5倍,测得的WVTR从10.1 g/(m2 x day)下降至 2.17 g/(m2 x day)。 随着材料厚度的增加,需要更多的时间(超过5倍)来测试样品以达到平衡。如图所示,渗透率水平和达到平衡的时间都受到材料厚度的影响。当您优化测试条件(例如WVTR和CO2TR的流速)和测试持续时间以确保平衡值时,需要牢记这一点。适用于薄样品的标准测试设置可能会为厚样品产生不准确或过早的结果。
  • 口服液瓶壁厚测厚仪的应用与原理
    口服液瓶壁厚测厚仪的应用与原理在制药包装行业中,口服液瓶作为药品的主要包装形式之一,其质量直接关系到药品的安全性和有效性。口服液瓶不仅需要具备良好的密封性能,以保持药品的稳定性,还需要有适当的壁厚,以确保在运输和使用过程中的耐用性和安全性。口服液瓶的应用口服液瓶广泛应用于液体药品的包装,包括但不限于口服溶液、糖浆、注射液等。这些瓶子的设计和制造必须符合严格的行业标准和法规要求,以保证药品在储存和使用过程中的质量和安全。壁厚测试的重要性壁厚是口服液瓶质量控制的关键参数之一。过薄的瓶壁可能导致瓶子在运输或使用过程中破裂,影响药品的完整性和安全性。而壁厚不均则可能影响药品的储存稳定性,甚至在极端情况下,可能导致药品泄漏或污染。口服液瓶壁厚测厚仪的作用为了确保口服液瓶的壁厚符合标准,需要使用专业的测厚仪器进行精确测量。口服液瓶壁厚测厚仪是一种专门用于测量口服液瓶壁厚的高精度设备,它能够快速、准确地检测出瓶子的壁厚,帮助制药企业及时发现和解决壁厚问题。容栅传感技术的应用口服液瓶壁厚测厚仪采用先进的容栅传感技术,这是一种机械接触式测量方法,通过测量表头与瓶壁之间的距离来确定壁厚。这种方法提高了测量的准确性和可靠性。测量原理口服液瓶壁厚测厚仪仪的工作原理基于容栅传感器的响应。当测量表头接触到瓶子时,传感器会采集相应的数据。这些数据随后被传输到系统中,通过计算得出瓶壁或瓶底的厚度值。这种测量方式不仅快速,而且可以提供高精度的测量结果。结论口服液瓶壁厚测厚仪是制药包装行业不可或缺的工具。它通过采用容栅传感技术,提供了一种高效、准确的测量方法,帮助企业确保口服液瓶的质量和安全性,从而保障药品的质量和患者用药的安全。本文简要介绍了口服液瓶在制药包装行业中的应用,以及壁厚测试的重要性和测厚仪的作用。通过使用这种高精度的仪器,制药企业可以更好地控制产品质量,确保药品的安全性和有效性。
  • 高光谱成像技术在薄膜厚度检测中的应用
    研究背景在薄膜和涂层行业中,厚度是非常重要的质量参数,厚度和均匀性指标严重影响着薄膜的性能。目前,薄膜厚度检测常用的是X射线技术和光谱学技术,在线应用时,通常是将单点式光谱仪安装在横向扫描平台上,得到的是一个“之”字形的检测轨迹(如下图左),因此只能检测薄膜部分区域的厚度。SPECIM FX系列行扫描(推扫式成像)高光谱相机可以克服上述缺点。在每条线扫描数据中,光谱数据能覆盖薄膜的整个宽度(如上图右),并且有很高的空间分辨率。 实验过程 为了验证高光谱成像技术在膜厚度测量上的应用,芬兰Specim 公司使用高光谱相机SPECIM FX17(935nm-1700nm))测量了4 种薄膜样品的厚度,薄膜样品的标称厚度为17 μm,20 μm,20 μm和23 μm. 使用镜面几何的方法,并仔细检查干涉图形,根据相长干涉之间的光谱位置及距离,可以推导出薄膜的厚度值。通过镜面反射的方式测量得到的光谱干涉图,可以转化为厚度图使用 Matlab 将光谱干涉图转换为厚度热图,通过SPECIM FX17相机采集的光谱数据,计算的平均厚度为18.4 μm、20.05 μm、21.7 μm 和 23.9 μm,标准偏差分别为0.12 μm、0.076 μm、0.34 μm和0.183 μm。当测量薄膜时,没有拉伸薄膜,因此测量值略高于标称值。此外,在过程中同时检测到了薄膜上的缺陷,如下图所示,两个缺陷可能是外部压力造成的压痕。结论SPECIM FX17高光谱相机每秒可采集多达数千条线图像,同时可以对薄膜进行100%全覆盖在线检测,显著提高了台式检测系统的检测速度,提高质量的一致性并减少浪费。与单点式光谱仪相比,高光谱成像将显著提高薄膜效率和涂层质量控制系统,同时也无X射线辐射风险。 理论上,SPECIM FX10可以测量1.5 μm到30 μm的厚度,而SPECIM FX17则适用于4 μm 到90 μm的厚度。如需了解更多详情,请参考:工业高光谱相机-SPECIM FX:https://www.instrument.com.cn/netshow/C265811.htm
  • ADVANCE RIKO发布聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d新品
    聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d日本ADVANCE RIKO公司塞贝克系数与电阻测量系统ZEM系列在全球销售量超过300台,广获全球科研及工业用户的赞誉,成为热电材料领域“标杆型”测试设备。2019年,在此前的成功基础上,ADVANCE RIKO公司推出了专门用于评价聚合物厚度方向上热电性能的全新设备ZEM-d。与之前ZEM系列产品(ZEM-3/ZEM-5)不同,新型号ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品最薄为10μm。此外,ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致,其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。ZEM-d测量原理现存测试方法ZEM-d(厚度方向测量)电阻率测量原理塞贝克系数测量原理ZEM-d技术参数测量参数 塞贝克系数,电阻率温度范围 最高200℃(样品表面)样品尺寸 截面:Φ20mm(Max),长度:0.01-20mm测量氛围 空气或惰性气体软件界面创新点:ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品最薄为10μ m。 此外,ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致,其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。 聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d
  • 奥林巴斯全新测厚解决方案:使用交互式自定义模板标准化厚度检测
    从创造日常用品到开发尖端技术,制造工业几乎在每个领域都发挥着关键作用。确保产品质量和合规性是这项工作的关键,而工件检测有助于维持这些高标准。为了简化检测过程并优化质量控制工作,我们的工程师开发了一种新的厚度测量功能:交互式自定义模板。72DL PLUS超声测厚仪上提供的交互式自定义模板可在工件图像上显示清晰标注的检测位置,从而为用户进行常规厚度测量提供有用的可视化工具。此文将探究这种交互式自定义模板如何在从标准化厚度检测过程到改进质量控制和促进数据分析等方面为制造工业提供支持。标准化制造工业的厚度检测过程交互式自定义模板使用清晰标注的检测位置提供被检工件的视觉参考标记。管理员可以使用PC界面应用程序,通过几个简单的步骤创建模板:上传工件图像标记要检测的具体位置为检测位置添加自定义名称(可选)选择用于指示厚度测量状态和质量的颜色创建自定义模板后,管理员就可以轻松地将模板发送到生产车间的一台或多台72DL PLUS测厚仪上。通过在多台设备上实施标准化,消除了歧义,让所有检测员都可以遵循相同的流程,对工件进行一致的评估,而不受地点或当班时间的限制。通过PC界面应用程序上的工件创建工作流程,管理员可以在上传的工件图像上添加厚度测量位置(TML),并选择用于指示TML状态的颜色。厚度检测过程的效率和准确性当检测员在72DL PLUS测厚仪上调用工件设置时,仪器会显示待测工件的图像,并清楚标明检测位置。检测员可以使用触摸屏缩放和平移模板,以确认他们正在检测工件上的正确位置。自定义模板的交互特性可在检测过程中提供实时反馈。在记录测量值时,测厚仪会根据厚度测量位置(TML)的状态更新模板的颜色,从而为检测员提供即时的视觉反馈。通过这种交互式功能,检测员可以快速识别潜在的厚度变化或缺陷,从而缩短检测时间,迅速纠正问题。72DL PLUS测厚仪上显示汽车工件图像的交互式自定义模板。相应颜色的TML为生产车间的检测员提供实时反馈。厚度检测培训和支持交互式自定义模板还有益于培训新的检测员,因为模板明确了需要检测的具体位置。在检测数据文件(IDF)中,管理员和检测员等人员都可以轻松复核每个TML的测量值、轴向扫描、报警状态和其他信息,包括其在模板上的检测状态。这些数据可以直接在仪器上或通过PC界面应用程序进行复核。这种设置可促进检测做法的一致性,并方便新检测员遵守既定的检测标准。在PC界面应用程序上复核包含每个TML测量值的检测数据文件,并可在波形视图和工件图视图之间切换。促进厚度检测的数据管理和分析交互式自定义模板还有助于数据管理和分析。测量数据可轻松记录并与模板上的具体位置相关联。数据分析师可以回顾传输到PC界面应用程序的检测数据文件。他们可以研究工件每个TML的厚度趋势,并将这些信息用于质量控制文档、工艺改进和合规目的。PC界面应用程序显示多层测量工件的TML厚度趋势赋能制造工业数据驱动决策通过PC界面应用程序中的报告生成器,数据分析师可以利用一系列检测数据为利益相关方生成报告:工件设置信息检测数据文件统计厚度趋势带TML的工件图像通过这些支持数据驱动决策的全面报告,利益相关方可以根据可靠、全面的数据做出明智的选择。通过使用交互式自定义模板标准化检测、提高效率和准确性、改进培训和促进数据分析,制造商可以优化质量控制工作。我们期待看到这一功能给制造业带来的不断进步和影响。
  • 德国 AIM Systems发布德国AIM Systems全自动涂层测厚仪CoatPro新品
    德国AIM Systems公司简介 德国AIM Systems有限责任公司一家是专注于工业涂布涂覆无损检测技术的光电科技公司。公司集研发、生产、销售与服务为一体,拥有无接触无损涂层检测的国际领先专利技术和产品,可为客户提供定制化的涂层测厚系统解决方案和专属产品。公司由Stefan Boettger博士在德国萨尔州圣英贝特市创立。公司顺利通过了国际质量管理体系ISO9001认证。 Boettger博士及其领导的核心技术团队,多年来一直致力于利用光热红外法对涂层无损检测的技术研发和工业应用,具有丰富的工业项目实践经验,曾为众多包括大众、奥迪、戴姆勒、采埃孚、蒂森克虏伯、特瑞堡集团、奥钢联、杜尔集团、ABB等几十家全球知名企业成功地提供过定制化的涂层测厚系统解决方案和产品,获得了用户的广泛认可。 北京东方德菲仪器有限公司是德国AIM System公司在中国区的指定代理商,作为AIM Systems公司在中国区的授权代理商,东方德菲将继续秉承“Leading by Professional因专业而领先”的理念,与AIM Systems公司一起用我们严谨的产品研发理念、深厚的工业应用经验、精湛的无损检测技术、卓越的产品、和真诚的服务为您的智能制造助力,我们期待与您的合作!德国AIM System全自动涂层测厚仪CoatPro 德国AIM System全自动涂层测厚仪CoatPro由德国AIM Systems公司研发生产,采用光热红外法技术原理,可被固定安装在机器臂或其他横动装置上,与电脑及配套测量软件组成实时在线涂层测厚系统,在涂装线上对涂层的湿膜或干膜厚度进行实时无损无接触在线测量,为客户提升涂装质量和优化控制涂装工艺提供重要的检测手段和数据支持。 一、全自动涂层测厚仪CoatPro基本原理---光热红外探测技术原理 待测样品在调制光源的激励下吸收了光辐射的能量,产生红外热辐射即热波,由于待测样品内部的多层结构或者自身缺陷而存在分界面特性的差异,导致红外热波在通过分界面时波形发生变化,不同层状结构厚度以及样品缺陷形貌对热波波形变化有不同的影响,通过探测反射热波形的随时间变化及相对激发光信号的延迟可以分析得到待测样品层状结构以及缺陷形貌尺寸的信息。二、CoatPro技术参数:测量精度:±0.5微米或更优测量范围:3-300微米工作距离:100± 30 毫米距离容差:±50毫米允许探测角度:±60°测量时间:1-2秒/点 三、CoatPro技术优势:无损无接触式测量适用范围广: 适用于不同材料上的不同涂层的干膜和湿膜厚度测量, 可测量的基材材质不限(金属、塑料、橡胶、复合材料等), 可测量的涂料种类不限(油漆、粉末涂料、粘胶剂、润滑涂层等) 可测量的涂装工艺不限可在曲面、粗糙表面和各种厚度的基底上测量高精度,通常在±0.5μm或更小LED光源,使用安全,无辐射和激光危害满足工业防爆安全区要求可自动生成检测报告和数据统计可在线实时测量, 适配于涂装机器人设备维护成本低四、CoatPro典型应用领域全自动涂层测厚仪CoatPro的应用领域极其广泛,不受限于涂层的基材材质,也不受限于涂装材料以及涂装工艺,典型应用领域如下:油漆涂装领域(例如汽车车身漆层、机车车身漆层以及零部件漆层的厚度量)塑料涂装领域(例如塑料外壳、电路板、汽车内饰/外饰上的涂层厚度测量)卷材涂装领域(例如钢卷和铝卷表面镀膜厚度的测量)粉末涂装领域(例如在粉末涂装加热烘烤前对膜厚进行测量)其他涂装领域(例如橡胶或者复合材料上的涂层厚度测量) 用于实验室检测 创新点:1.采用了独特的采用光热红外法技术原理 2.适用范围广:适用于不同材料不同涂层的干、湿膜厚度测量,且基材材质不限、涂料种类不限 3.高精度,通常在?0.5µ m或更小 4.LED光源,使用安全,无辐射和激光危害 德国AIM Systems全自动涂层测厚仪CoatPro
  • 操作薄膜厚度测量仪时,有哪些步骤是容易被忽视的
    在精密制造与材料科学的广阔领域中,薄膜厚度测量仪作为一种关键的检测工具,其准确性与操作规范性直接影响到产品质量与科研结果的可靠性。然而,在实际操作过程中,一些看似微不足道的步骤往往容易被忽视,这些被忽视的细节正是影响测量精度与效率的关键因素。本文将从几个关键方面出发,探讨操作薄膜厚度测量仪时容易被忽视的步骤。一、前期准备:环境检查与设备校准的疏忽1.1 环境条件未充分评估在进行薄膜厚度测量之前,对测量环境的温湿度、振动源及电磁干扰等因素的评估往往被轻视。这些环境因素的变化可能直接导致测量结果的偏差。因此,应确保测量环境符合仪器说明书的要求,如温度控制在一定范围内,避免强磁场干扰等。1.2 设备校准的忽视校准是确保测量准确性的基础。但很多时候,操作者可能因为时间紧迫或认为仪器“看起来很准”而跳过校准步骤。实际上,即使是最精密的仪器,在使用一段时间后也会因磨损、老化等原因产生偏差。因此,定期按照厂家提供的校准程序进行校准,是保障测量精度的必要环节。二、操作过程中的细节遗漏2.1 样品处理不当薄膜样品的表面状态(如清洁度、平整度)对测量结果有直接影响。若样品表面存在油污、灰尘或凹凸不平,会导致测量探头与样品接触不良,从而影响测量精度。因此,在测量前应对样品进行彻底清洁和平整处理。2.2 测量位置的随机性为确保测量结果的代表性,应在薄膜的不同位置进行多次测量并取平均值。然而,实际操作中,操作者可能仅选择一两个看似“典型”的位置进行测量,这样的做法无疑增加了结果的偶然误差。正确的做法是在薄膜上均匀分布多个测量点,并进行统计分析。2.3 参数设置不合理薄膜厚度测量仪通常具有多种测量模式和参数设置选项,如测量速度、测量范围、灵敏度等。这些参数的设置应根据薄膜的材质、厚度及测量要求进行调整。若参数设置不当,不仅会影响测量精度,还可能损坏仪器或样品。因此,在测量前,应仔细阅读仪器说明书,合理设置各项参数。三、后期处理与数据分析的疏忽3.1 数据记录的不完整在测量过程中,详细记录每一次测量的数据、环境条件及仪器状态是至关重要的。但实际操作中,操作者可能因疏忽而遗漏某些关键信息,导致后续数据分析时无法追溯或验证。因此,应建立规范的数据记录制度,确保信息的完整性和可追溯性。3.2 数据分析的片面性数据分析不仅仅是计算平均值或标准差那么简单。它还需要结合测量目的、样品特性及实验条件等多方面因素进行综合考量。然而,在实际操作中,操作者可能仅关注测量结果是否达标,而忽视了数据背后的深层含义和潜在规律。因此,在数据分析阶段,应采用多种方法(如统计分析、图形表示等)对数据进行全面剖析,以揭示其内在规律和趋势。结语操作薄膜厚度测量仪时,每一个步骤都至关重要,任何细节的忽视都可能对测量结果产生不可忽视的影响。因此,操作者应时刻保持严谨的态度和细致的观察力,严格按照操作规程进行操作,确保测量结果的准确性和可靠性。同时,随着科技的进步和测量技术的不断发展,我们也应不断学习新知识、掌握新技能,以更好地应对日益复杂的测量任务和挑战。
  • 《纳米快报》:新型材料可研制纸张厚度的相机
    研究生雷斯东采用铜铟联硒化合物薄片研制了一个二维三像素相机,声称未来相机可以制造得像纸张一样薄。   腾讯科学讯 据国外媒体报道,目前,美国德克萨斯州莱斯大学科学家最新研制一种超薄成像设备,可使未来相机变得像纸张一样薄。他们采用仅原子厚度的铜铟联硒化合物(CIS)研制电荷耦合器,这是相机的一个重要组成部分。   该研究报告发表在近期出版的《纳米快报》上,这种二维三像素相机设备对光线探测具有独特的优势。   许多现代数码相机的图像传感器叫做电荷耦合器,这种手指甲盖大小的硅芯片包含着数百万个光敏二极管,它能够捕获像素进行拍摄。伴随着电荷耦合器尺寸逐渐缩小,未来可研制体积更小的相机。参与这项研究的研究生雷斯东(音译)说:&ldquo 传统电荷耦合器较厚、较硬,然而铜铟联硒化合物制成的电荷耦合器将超薄、透明、具有一定的弹性,是理想的2D成像设备组成部分。&rdquo   莱斯大学材料科学和纳米工程系资深研究员罗伯特-瓦塔尔(Robert Vajtai)博士称,铜铟联硒化合物对于光线具有较强的敏感性,这是因为捕获的电子消散得非常慢。有许多二维材料可以探测光线,但都不及铜铟联硒化合物如此高效。铜铟联硒化合物比之前我们所见的感光材料有效10倍。   雷斯东认为,未来在医学领域,铜铟联硒化合物可以结合其它2D电子技术应用于生物成像设备,起到实时监控的作用。
  • 积极推动绿色方式转型,计量是双碳发展的“度量衡”
    计量是双碳发展的“度量衡”“目前我国碳市场处于起步阶段,国家温室气体排放清单工作也比较粗放,计量部门并未能接入碳市场和国家清单工作中,造成了计量对国家碳数据支撑脱节的问题。”全国人大代表、郑州计量先进技术研究院院长林鸿呼吁,要充分发挥计量在碳达峰碳中和中的“度量衡”作用。计量是测量及其应用的科学,是推动科技创新、加快经济发展、促进社会进步、保障国家安全和提高人民生活质量的重要技术支撑。在民生、工业、能源和科技等方面,计量起到了“度量衡”的作用,为社会经济发展保驾护航。林鸿说:“要加强国家级计量科研机构在碳测量方面的带头作用,通过碳数据核验工作,全面提升我国碳数据质量。加强碳排放测量技术的研发和推广,将已经领先的科研成果落地转化,以此为抓手促进国家高端仪器仪表自主研发和技术革新,长远获得完整的产业链和良好的经济效益。”打造多维度温室气体检测网络 碳捕集、利用与封存(CCUS)技术是国家碳中和目标的重要技术组成、CCUS技术涉及捕集、储运、地质封存与利用,具有技术链条长,直接减排量大的特点,CCUS量化与核查是量化评估CCUS减排效果的直接保证,是国际国内应对气候变化与碳中和领域关注的重点技术。温室气体测量方法包括涉及大气、污染源温室气体浓度检测方法,以及涉及碳汇监测的通量检测方法等。基于现有资料调查显示,CO2/CH4/N2O等温室气体监测有多种原理与方法,部分已经发布相关标准。通过打造空基、天基、地基、移动走航等多维度温室气体检测网络,可以实现点、面、垂直柱浓度的监测。来自两会的更多呼吁2023年全国两会《政府工作报告》将“发展循环经济,推进资源节约集约利用”作为“推动发展方式绿色转型”的重要手段。国家最高权力机关的风向标已经清晰,人人减排、人人减碳的二手循环经济,将成为绿色生活方式的重要部分,重塑我们的生活。民进中央在提案中指出,推进资源节约集约循环利用,对推动实现碳达峰、碳中和目标具有重要意义。建议修订《循环经济促进法》,将其更名为《循环经济法》,把“提高资源利用效率”作为法律的基本原则。同时,明确再生资源行业作为绿色产业的定位,优化再生资源行业在增税、财政补贴、绿色金融等方面的优惠政策,引导社会消费。全国人大代表,海尔集团董事局主席、首席执行官周云杰建议:推进碳普惠相关配套政策与措施出台,建立标准化碳足迹核算机制和统一的碳普惠系统平台,促进碳普惠朝着更加规范化的方向发展,通过公益性高、普及性强的碳普惠场景调动大众参与的积极性。全国政协委员、吉利控股集团董事长李书福今年的三份提案,其中两份全都与“双碳”目标相关。李书福指出:建立全国统一的产品碳足迹核算规则及碳标签认证制度,鼓励商家及个人采购带有碳标签的产品;全面普及碳普惠制度,鼓励基于碳减排生活方式的创新创业,同时引导低碳消费,形成全民降碳的良好社会氛围。全国人大代表、浙江清华长三角研究院生态环境研究所所长刘锐表示:在“双碳”问题上,环保要从源头减量做起,这是环保的最基本原则;延长商品的使用寿命、推进二手商品再利用是源头减量的最简单易行方式之一。我们一直在生产新的产品,就如同动脉给全身输血,但相应的我们也需要从事拆解、回收等能够给身体“循环净化”的“静脉产业”,而二手商品的回收、流通就是静脉产业的重要组成部分。全国人大代表、天能控股集团董事长张天任强调:二手商品交易是助力“双碳”目标实现的重要抓手,其作为循环经济重要组成部分,可以显著减少新品在生产、消费过程以及二手商品处置过程中产生的二氧化碳排放,具有生产端和消费端双向减碳作用。国政协委员、云南省政协副主席李学林指出:闲置物品交易行为具有减碳效应,是大众参与门槛最低的环保行为之一。随着国家“双碳”战略的推进和生活水平的提高,人们的绿色消费意识越来越强,将自家闲置物品变现成为一种新的生活方式。
  • 日本精工电子X射线荧光镀层厚度测量仪全新上市
    日本精工电子纳米科技有限公司最新推出X射线荧光镀层厚度测量仪的新机型[SFT-110]   通过自动定位功能,可简单迅速地测量镀层厚度。      日本精工电子有限公司的子公司精工电子纳米科技有限公司将在5月初推出配备自动定位功能的[X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110],使操作性进一步提高。   对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理,可保证产品的功能及品质,降低成本。精工从1971年首次推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线荧光镀层厚度测量仪以来,已经累计销售6000多台,得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。   为了适应日益提高的镀层厚度测量需求,精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能,仅需把样品放置到样品台上,就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此,无需进行以往的手动逐次对焦的操作,大大提高了样品测量的操作性。   近年来,随着检测零件的微小化,对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且,配备有新开发的薄膜FP法软件,即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量,可对应更广泛的应用需求。   精工今后还会通过X射线技术产品的开发,更多地支持制造业的品质管理及环境管制对应。 [SFT-110的主要特征] 1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统(选配) 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5. 对应大型印刷线路板(选配) 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6. 低价位 与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。 [主要产品规格] 检测器: 比例计数管 X射线源: 空冷式小型X射线管 准直器: 0.1、0.2mmφ2种 样品观察: CCD摄像头 样品台移动量:250(X)×200(Y)mm 样品最大高度:150mm
  • 《Science》大子刊:原位电子显微学用芯片厚度的重大突破!
    原位电镜(in situ transmission electron microscopy)是一种在电子显微镜下实时高空间分辨率观察和记录材料或样品在不同条件下变化的技术,这种技术的应用涵盖了多个领域,包括材料科学、纳米科技、生物学等。特别是得益于气体和液体环境的引入,大大的拓展了原位电镜技术的应用范畴,如腐蚀科学和催化反应等。电子显微镜本身具有非常高的真空工作环境,因此,气相和液相反应介质通常被密封在一个非常小的纳米反应器里面。由于氮化硅(SiNx)具有易于微纳米制造且在一定厚度下仍有可靠的力学特性及适度的电子透明度等优点,被广泛应用于原位电镜中芯片用的密封膜材料。在过去20年,基于像差校正器、单色器及直接探测器等硬件技术的发展,电子显微镜本身的性能包括空间和能量分辨率都得到显著提升。但是原位电子显微学直到目前为止,在空间分辨率上并无显著突破。关键原因是作为密封的SiNx膜材料限制了电镜本身及原位实验的品质因子。目前商用的SiNx膜的厚度一般为50 nm,而气相和液相电子显微学一般需要用两个原位芯片,这样仅密封膜的厚度就高达100 nm。如此厚的密封膜会造成非常高的有害电子散射,大大降低了原位电子显微学实验中采集的各种数据的信噪比。在原位电子显微学领域,学者们都一直认为降低SiNx膜的厚度非常必要,但是直到目前仍很难实现,因为仅通过刻蚀降低SiNx膜厚度,会造成力学性能的显著恶化。针对此问题,美国西北大学的Xiaobing Hu和Vinayak Dravid教授研究团队从自然界蜂窝结构稳定性获得灵感,巧妙利用掺杂浓度对Si的刻蚀速率影响,在观察窗口区域引入了额外的微米尺度Si支撑图案,成功的将SiNx膜的厚度从50 nm降至10 nm以下。这种在窗口区域具有支撑图案的超薄原位芯片具有很多优点,如优异的力学性能、耐电子束辐照、充分大的可观察区域,保证了该超薄芯片在原位电子显微学上的广泛应用。基于Pd的储氢特性,作者系统了探索了超薄芯片对原位实验测量品质因子的影响,及Pd纳米颗粒的吸/析氢行为。图1. 超薄原位电镜用芯片的制备及其优异的力学稳定性和电子束耐辐照性能,插图A、C中标尺分别为10 mm, 100 μm图1A显示超薄芯片的制备过程,图1B显示了具有不同厚度的SiNx窗口的原位芯片。图1C的扫描透射模式下的暗场和明场像显示出超薄芯片窗口区域的蜂窝状特征。图1D显示出这种超薄芯片优异的力学特性,即使在5 nm厚的情况下,仍能承受1个大气压,完全满足绝大多数的气相原位实验。图1E显示出超薄芯片非常好的耐电子束辐照特性,当厚度从50 nm降到10 nm时,临界电子束剂量几乎没有改变。图1E为用光学方法和电子能量损失谱测量的不同厚度的SiNx膜数据。图2. 基于超薄原位芯片的气相电子显微学实验品质因数的显著提升图2A为理论模拟不同厚度的SiNx对Au纳米颗粒明场像信噪比的影响,对于超薄原位芯片而言,即使在电子剂量比较低的情况下,仍可以拥有很好的信噪比,成像质量比较高。图2B、C显示出在一个大气压的Ar环境不同SiNx膜厚度下的高分辨像对比。可以看出与常规50 nm厚的原位芯片相比,超薄芯片的应用不仅提高了图像的信噪比,分辨率也从2.3 Å提高到1.0 Å。图2C显示出了能谱对比结果,可以看出在一个大气压的Ar环境下,当原位芯片窗口区域膜厚度从50 nm 降低到10 nm时,Ar/Si峰值比从0.59%升到8.3%,提高了14倍以上。图2E-G数据显示了超薄原位芯片显著提高了电子能量损失谱分析的灵敏度。图3. 基于超薄原位芯片电子显微学在储氢材料中应用图3A、3B为在不同支撑载体下纳米Pd颗粒的电子衍射对比图,可以看出超薄芯片显著压制了膜材料本身的有害电子散射,提高的电子衍射的信噪比。而这也允许研究人员在原位气相实验中进行定量衍射分析。图3C-D的原位电子衍射,显示出Pd纳米颗粒在原位充氢、放氢过程中的相变行为。图3E的电子能量损失谱分析确认了相变产物PdHx的产生。基于气相超薄原位芯片的设计与探索实验,作者提出这种超薄芯片的设计策略可大规模推广到液相原位及其它基于SiNx的原位芯片上,大大提高原位电子显微学实验的品质因子,从而允许研究人员在原位实验过程中不单单观察形貌变化,可将其它先进电子显微学方法应用到原位实验上来。更进一步,这种超薄芯片也可拓展到原位X射线领域。可以说,超薄芯片的概念提出,将大大的影响整个原位实验领域。这一成果近期发表在Science Advances上,美国西北大学胡肖兵研究副教授,Vinayak Dravid讲席教授为文章的通讯作者,Kunmo Koo博士为文章的第一作者。
  • 研究首次制造出亚微米厚度的柔性压力传感器
    柔性压力传感器是得到关注最多的一类柔性传感器,在生物医学、脑机工程、智能制造等众多领域得到了应用。近日,大连理工大学研究员刘军山团队与李明教授等团队合作,独辟蹊径地提出了一种纳米工程策略,首次制造出了亚微米厚度(0.85μm)的柔性压力传感器。相关成果发表在Small上,并被选为封面文章。封面图片。大连理工大学供图柔性压力传感器通常由上下两层柔性电极层和中间的功能软材料层组成,外界压力会导致功能软材料层产生压缩变形,从而引起传感器输出信号的改变。而这种以功能软材料层压缩变形为主导的传感机理,要求电极层具有相对较大的抗弯刚度,电极层厚度一般要比功能软材料层大1~2个数量级。因此,现有的柔性压力传感器厚度只能在百微米甚至毫米量级,严重影响了传感器的轻质性、变形性和共形性。团队通过纳米工程策略,将柔性压力传感器的传感机理,由功能软材料层的压缩变形为主导,转变为柔性电极层的弯曲变形为主导,从根本上解除了对于传感器厚度的限制。并且,由于超薄的柔性电极层拥有极强的变形能力,使得传感器具有优异的检测性能。传感器的单位面积重量只有2.8 g/m2,相当于普通办公打印纸的1/29,能够承受曲率半径小至8.8μm的面外超大弯曲变形,并且能够与皮肤表面实现完全共性贴合。另外,传感器的灵敏度为92.11 kPa-1,检出限为0.8 Pa,均处于目前公开报道的最高水平。纳米工程策略可以成数量级地减小传感器的厚度,从而突破性提升传感器的轻质性、变形性和共形性,同时还能够使得传感器具有超高的检测性能,为柔性压力传感器的设计和制造提供了一种全新的思路。
  • 国际首台超高时空分辨原位多尺度量子测量系统通过项目验收
    2024年4月22日,中国科学院主管业务局组织专家组对物理所承担的国家重大科研装备研制项目“超高时空分辨原位多尺度量子测量系统的研制”进行了验收。专家组听取了项目负责人白雪冬研究员整体工作汇报、许智高级工程师原位电镜低温扫描探针装置和刘开辉教授原位电镜超快光学装置两个子系统的研制报告,以及用户报告、技术验收报告、档案验收报告和财务验收报告,现场核查了仪器设备运行情况和项目文档。专家组认为,项目组研制的超高时空分辨原位多尺度量子测量系统为国际首台,全部技术指标达到考核要求,圆满完成了总体目标,同意通过验收。该系统基于数字信息光学原理,发明了适用原位电镜的超快光谱测量技术,实现了超快脉冲光的光纤聚焦和扫描,解决了原位光谱测量实验中保持样品稳定和光纤信号保真采集的技术难题,使得原位电镜超快光学研究达到了原子分辨水平,技术专家现场测试时间分辨率为317飞秒。该系统还实现了原位电镜液氦杜瓦低温和变温条件下的电输运性质测量。项目组利用自主研制的装置,做出了原创性科研工作,成果发表在Nature等杂志上。原位电镜超快光学测量装置验收会现场
  • 葛炳辉团队:STEM模式下基于扫描莫尔条纹快速测定样品厚度的方法
    ◆第一作者:南鹏飞通讯作者:葛炳辉教授通讯单位:安徽大学论文DOI:10.1016/j.micron.2022.103230近日,安徽大学电镜中心南鹏飞同学关于利用扫描摩尔条纹测定样品厚度的工作被Micron杂志接收。样品厚度是透射电镜(TEM)成像中的重要参数,主要用于图像衬度的解释以及性能和微观结构之间的关系的研究。当前,透射电镜中常用的样品测厚方法主要包括电子能量损失谱(EELS),会聚束电子衍射(CBED)和位置平均会聚束电子衍射 (PACBED)等技术。其中EELS是一种原位测厚技术,主要通过log-ratios方法或K-K求和法则来计算样品的相对厚度或绝对厚度。在准确测得非弹性平均自由程的情况下,EELS测厚的准确度可达± 10%。CBED测厚则主要借助模拟来实现,测厚准确度可达 ± 5%。PACBED是扫描透射模式(STEM)下的一种测厚方法,通过对多个位置的CBED花样取平均,最终获得的PACBED花样中只包含厚度、倾转和极化的影响,精确度优于± 10%。然而,实际使用时,EELS测厚需要昂贵的Gatan成像过滤系统(Gif),而CBED和PACBED测厚则需要复杂且耗时的模拟工作。本工作介绍了一种STEM模式下快速测定样品厚度的方法,主要通过调节focus借助系列离焦的扫描莫尔条纹(SMF)成像来判断。通过将样品倾转至正带轴或强的双束衍射条件,并且适当调整放大倍数和电子束扫描方向就可以在中等放大倍数范围观察到SMF像。通过SMF的形成条件可知,只有电子探针和样品发生相互作用时才能观察到SMF。再通过改变离焦量,就可以控制电子探针相对于样品的位置,从而实现SMF的出现和消失。因此,实际在改变离焦值时电子探针的位置变化 ∆f 就反映了样品厚度。不过,要更准确的获得样品厚度 T 还需要考虑电子探针在深度方向的尺寸 δz 以及样品表面总的非晶层厚度 A, 即 T=∆f-δz+A ,其中δz=1.77λ/α^2,α 为会聚半角,λ 为电子波长。进一步地,本工作还结合EELS测厚方法验证了SMF测厚方法的正确性。该工作强调了系列离焦SMF在快速测定样品厚度方面的应用,能够有效避免STEM模式下的电子束损伤和积碳问题,尤其适用于不耐电子束辐照的样品。赞助国家自然科学基金项目 (Nos. 11874394) 安徽省高校协同创新计划项目 (No. GXXT-2020-003)。论文链接https://doi.org/10.1016/j.micron.2022.103230
  • 从纳米到百米,中图仪器以工匠精神淬炼度量标尺
    技术人员将一个在精密机械、零件生产加工中常用的千分表放在高智能指示表全自动检定仪的检测位置,只需在电脑上的检定软件中选择表的类型、分度值和量程等参数后点击“开始”键,不需手工采样,2分钟就能完成一份包括各点的数据列表,正、反程误差曲线等内容的检定记录。“如果说千分表是测量工件形状和位置误差是否合规的‘尺子’,那么我们的仪器就是检验这把‘尺子’度量是否合格的‘尺子’。”在深圳市中图仪器股份有限公司副总经理张和君的介绍下,记者见识了中图仪器的“尺子精神”。自2005年成立以来,中图仪器从自主研发具有独立知识产权的全自动指示表检定仪起步,逐步覆盖从纳米到百米的完整精密测量解决方案,在计量、3C电子、半导体、航空航天、高校科研、医疗器械、装备制造等领域树立了良好形象。同时中图仪器积极走出国门,与世界先进品牌同台竞技,在国际市场上传递“中国智造”的口碑。高端精密仪器是典型的高技术和高智力结晶,研发周期长,需要持续不断的技术积淀和投入。据统计,中图仪器年均研发投入占营收比例多年维持在20%以上,在精密轮廓扫描技术、激光干涉测量、微纳米运动设计、显微三维形貌重建、大尺寸三维空间测量、精密光栅导轨测控等技术领域形成了独特的研发设计、制造优势。“作为制造数据获取的基本感知和测量工具,精密仪器设备是智能制造的火眼金睛,从纳米到百米,它都能找到用武之地。”张和君补充道,如果连评判度量标准是否合格的“尺子”都是别人造的,我国关键领域的自主发展就容易陷入被动。被誉为“几何量仪器皇冠上的明珠”的激光跟踪仪是一种空间大尺寸三维坐标精密测量的几何量仪器,它不仅可以对静止的空间目标进行高精度三维测量,还能对运动的目标进行跟踪测量。张和君介绍,激光跟踪仪的测量范围和应用领域已延伸到大部分空间点坐标测量领域,并能对隐藏特征、曲面等复杂特征进行测量。如在航空航天领域对飞机零部件及装配精度的测量,在机床行业中对机床平面度、直线度、圆柱度等的测量,在汽车制造中对新车型的在线测量,在高端制造中对运动机器人(10.400, -0.26, -2.44%)位置的标定,在造船、轨道交通、核电等领域,激光跟踪仪也能大展拳脚。“尺子精神”的背后是工匠精神。位于宝安区石岩街道的中图仪器生产车间内,员工在自制的圆形标准块表面涂上研磨膏后,通过手工方式来回研磨一对用于超高精度全自动光栅测长机上的测帽,不停寻找测帽的光面高点。整个过程手腕需要长时间保持同一姿势,每次手指和手腕都会酸胀不已。经过四五个小时的研磨后,测帽的表面会逐渐光滑。“这个过程必须得有一股工匠精神,不仅静得下心,还要有经验,要将测帽任何平行位置的误差都控制在0.3微米以内。”制造总监贺放文告诉记者,作为光栅测长机的关键零部件,检测被测件精度的测帽越光滑平整,测长机的测量精度就越高。螺纹检测问题是另一个困扰机械工业的难题。中图仪器研发的SJ5200系列螺纹综合测量机利用扫描针与被测螺纹表面进行轴向截面轮廓的接触扫描,由测量系统获得螺纹轴向轮廓的形貌,按螺纹参数的相关定义直接进行分析与计算,获得螺纹的综合几何参数,进而根据数据库自动做出螺纹的合格性判断。相关技术颠覆了传统的螺纹检测方法。今年6月28日,由中国计量科学研究院和深圳中图仪器等单位起草的《JJF1950-2021螺纹量规扫描测量仪校准规范》正式实施。“目前,中图仪器已参与起草制定十余项国际、国家和行业标准,促进了我国计量、测量行业技术发展。”张和君说。
  • 岛津SPM石墨烯厚度测试——应对GB/T 40066—2021
    近期,国家标准化管理委员会发布了《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》,这一方面意味着石墨烯材料的产业化工作向前迈进了一步,另一方面也表明原子力显微镜开始逐步被标准化工作认可和接受。 为此,作为有着三十年原子力显微镜/扫描探针显微镜设计、开发、销售经验的岛津,按照新发布标准的流程进行了产品验证。结果表明,岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合标准的要求。 本次分析流程完全参照《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》附录A方法一实例进行。 01测试仪器:岛津SPM-9700HT02图像分析软件:WSxM 5.0 Develop 8.403图像处理过程经SPM-9700HT扫描获得的原始图像如下:利用WSxM软件Flatten功能处理后图像如下按标准利用软件的Profile功能选取不同位置三条轮廓线,轮廓线方向为SPM-9700HT快速扫描方向(X轴)。将3条轮廓线数据导出,利用EXCEL软件进行处理,分别拟合3条轮廓线的上台阶拟合直线和下台阶拟合直线。厚度计算:利用标准中的公式计算公式图片来源:《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》结论(1)、按照标准计算得知该片氧化石墨烯厚度为0.630±0.039nm,由此可推测这片氧化石墨烯为单层石墨烯。 (2)、岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》的要求。
  • 精工盈司推出高性能X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9500X系列
    高精度测量极微小部位的金属薄膜厚度 精工电子纳米科技有限公司(简称:SIINT,社长:川崎贤司,总公司:千叶县千叶市)是精工电子有限公司(简称:SII,社长:新保雅文,总公司:千叶县千叶市)的全资子公司,其主要业务是测量分析仪器的生产与销售。本公司于12月19日开始销售可高精度测量电镀・ 蒸镀等极微小部位的纳米级别的镀层厚度测量仪「SFT9500X系列」。出货时间预定为2012年2月上旬。 高性能X射线荧光镀层厚度测量仪 「SFT9550X」 要对半导体、电子部件、印刷电路板中所使用的电镀・ 蒸镀等金属薄膜的膜厚・ 组成进行测量管理,就必须确保功能、品质及成本。特别是近年来随着电子仪器的高功能化、小型化的发展,连接器和导线架等电子部件也逐渐微细化了。与此同时,电镀・ 蒸镀等金属薄膜厚度的测量也要求达到几十微米的极微小部位测量以及达到纳米等级的精度。 「SFT9500X系列」通过新型X射线聚光系统(毛细管)和X射线源的组合,可达到照射直径30μmφ的高能量X射线束照射。以往的X射线荧光膜厚仪由于照射强度不足而无法获得足够的精度,而「SFT9500X系列」则可以对导线架、连接器、柔性线路板等的极微小部位进行准确、迅速的测量。 SIINT于1978年在世界上率先推出了台式X射线膜厚仪,而后在日本国内及世界各地进行广泛销售,得到了顾客很高的评价。此次推出的「SFT9500X系列」是一款凝聚了长期积累起来的X射线微小部位测量技术的高性能X射线荧光膜厚仪。今后将在电子零部件、金属材料、镀层加工等领域进行销售,对电子仪器的性能・ 品质的提高作出贡献。 【SFT9500X系列的主要特征】1. 极微小部位的薄膜・ 多层膜测量通过采用新型的毛细管(X射线聚光系统)和X射线源,把与以往机型(SFT9500)同等强度的X射线聚集在30μmφ的极微小范围。因此,不会改变测量精度即可测量几十微米等级的微小范围。同时,也可对几十纳米等级的Au/Pd/Ni/Cu多镀层的各层膜厚进行高精度测量。 2.扫描测量通过微小光束对样品进行XY扫描,可把样品的镀层厚度分布和特定元素的含量分布输出为二维扫描图像数据,更方便进行简单快速的观察。 3. 异物分析通过高能量微小光束和高计数率检测器的组合,可进行微小异物的定性分析。利用CCD摄像头选定样品的异物部分并照射X射线,通过与正常部分的能谱差进行异物的定性分析(Al~U)。 【SFT9500X系列的主要产品规格】 SFT9500X SFT9550X 样品台尺寸(宽)×(长)  175×240 mm 330×420 mm 样品台移动量(X)×(Y)×(Z)  150×220×150 mm 300×400×50 mm 被测样品尺寸(最大)(宽)×(长)×(厚度)  500×400×145 mm 820×630×45 mm X 射 线 源 空冷式小型X射线管(最大50kV,1mA) 检 测 器 Vortex半导体检测器(无需液氮) 照 射 直 径 最小30μmφ 样 口 观 察 CCD摄像头(附变焦功能) 样 品 对 焦 激光点 滤 波 器 Au极薄膜测量用滤波器 操 作 部 电脑、19英寸液晶显示器 测 量 软 件 薄膜FP法、薄膜検量線法 选 配 能谱匹配软件、红色显示灯、打印机 测 量 功 能 自动测量、中心搜索 数 据 处 理 Microsoft® Excel、Microsoft® Word(配备统计处理;测量数据、平均值、最大・ 最小值、CV值、Cpk值等测量结果报告制作(包含样品图像)) 安 全 功 能 样品室门安全锁、仪器诊断功能 【价格】 1,650万日元~(不含税) 【出货开始时间】 2012年2月上旬 【销售目标台数】 50台(2012年度)    Microsoft是美国 Microsoft Corporation在美国及其它国家的登记商标或者商标。 以上 本产品的咨询方式中国:精工盈司电子科技(上海)有限公司TEL:021-50273533FAX:021-50273733MAIL:sales@siint.com.cn日本:【媒体宣传】精工电子有限公司综合企划本部 秘书广告部 井尾、森TEL:043-211-1185【客户】精工电子纳米科技有限公司分析营业部 营业三科TEL: 052-935-8595MAIL:info@siint.co.jp
  • GE检测控制技术推出高性能新型测厚仪
    近日,GE检测控制技术推出的新型测厚仪DMS Go是一款高端测厚仪,既简单易用,又能在一系列可选择的格式下提供准确、全面的厚度检测数据。它具有创新的操纵杆控制技术、全方面的可见性、高分辨率的色彩显示功能。DMS Go 结构稳健、防水防尘、重量轻,可以被广泛用于厚度检测。并且,由于具有内置温度补偿算法,可以在600°F的高温下仍然保持测量稳定性。十分适用于石油、天然气和电力行业的腐蚀检测。   正如GE的产品经理 Francois de Fromont 所说,“ DMS Go代表了测厚仪器方面的重大进步,因为它不仅具备了我们的DMS2测厚仪所有的高级性能,还具有更强大的数据管理功能,新颖的人性化工程学设计,高性能、操作简单的优势。采用零交点波形测试,以确保较高的测量稳定性和可靠性,其自动获取控制功能确保了极佳的检测概率。这种新型仪器和我们便携式探伤仪USM Go 可以使用相同的操作平台,该平台已经被广泛应用,并得到广大用户认可。事实上,这种设计原理的一大好处是通过一次简单的软件升级,使测厚仪作为便携式探伤仪使用。”   DMS Go的数据记录和数据管理功能通常是由普遍使用的UltraMATE文档编制程序实现的,然而本仪器也可以使用GE软件开发工具包与第三方软件程序相对接。强大的机载数据记录器具有15万的读数容量,可以将A扫描、B扫描和微栅格(MicroGRID)作为厚度读数的附件进行存储。它还支持6种不同的文件格式,便于与用户数据管理和质量控制系统集成。通过高容量的可移动SD卡进行数据传送,使用USB端口与PC连接。通过可选的应用软件,包括TopCOAT技术和A-V测量模式,可以同时测量涂层和金属厚度,无需校准试块即可使用未知声速在部件上测量厚度。   新型测厚仪的软件可升级性,使得它还能用作便携式探伤仪,这给用户带来很重要的便利。现在无损检测人员只需携带一个仪器,用户只需购买一台仪器,就能进行准确、可靠的厚度测量和缺陷检测。这种多功能性也同样适用于USM Go探伤仪,现有用户可以很容易升级他们的设备,将高质量的厚度测量能力加到现有设备上。用户可以在启动仪器的时候选择仪器升级所需的操作方式,这种设计原理另一个优势就是可以显著减少对操作者培训次数。
  • 探伤仪软件WeldSight更新!自动分析腐蚀,厚度C扫描可导出!
    什么是WeldSight?WeldSight是Tomoview和FocusPC的继任者,用于Focus PX和未来的Olympus PA采集装置。同时,WeldSight也是一个焊接检验专家,包含符合ISO、API、ASME和类似制造规范和工作程序的工具和特性,WeldSight和Focus PX专为工厂或大批量工作场所(包括机器人和集成系统)的重复焊接检查而设计。 FocusPC,一种强大的数据采集和分析软件程序;两个软件开发包(SDK):FocusControl和FocusData,可使用户基于自己的应用自行定制软件界面,并通过FocusPC控制检测过程,实现全自动检测操作。 WeldSight的重要功能 3D显示板材、管道、容器等进行体积合并后,可一键实现含PA数据的三维构件图像。组件设计和探头偏移在ESBT中管理,对于支持的配置,在WeldSight中无需配置即可实现。管道极坐标视图管道的一键式B扫描极坐标视图允许在多探头体积合并和单独跳跃中实现深度校正长度尺寸缺陷可视化。管道设计和探头偏移在ESBT中进行管理,并在weldsight实现配置。WeldSight本次升级核心自动腐蚀分析在腐蚀管理器下,设定需要分析的最大厚度以及缺陷在扫查轴和步进轴上的最小长度,点击run。操作界面:软件自动框选符合条件的缺陷并排序,在缺陷列表,可自动得出位置,长度,面积等信息。厚度C扫描在分析-corrosion下,可显示厚度C扫描,调节调色板,改变C扫的颜色。 C扫描导出:可在Export功能下,点击Cscan,可获取两种格式的数据:Excel,CSV,以下是Excel中视图的还原:生产力及便利性历史上,PA检查的许多技能和专业知识都是在复杂的软件导航和复杂的工作流程中完成的。而奥林巴斯的WeldSight软件,通过ESBT 设置扫查计划,且具有简单直观的用户界面和工作流程,非但可以显著的提升工作效率,同时也为高级焊接检验提供短期培训增添了更多可能性。WeldSight 软件集成Eclipse Scientific Beam Tool,集成了ESBT的所有探头、楔块、结构、校准试块、声束设置;简化设置复杂性和缩短创建时间,可一键创建扫查计划. 使用ESBT可减少培训和经验跟踪,并简化设置、获取和分析工作流程。WeldSight TCG带来了市场上非常好的校准速度和可重复性,包括同时或连续点创建、12位振幅分辨率和400%饱和极限。
  • 科学家发现北半球气溶胶光学厚度近20年呈下降趋势
    近日,中科院合肥物质院刘东研究员团队和安徽理工大学唐超礼教授利用近20年卫星数据合作开展气溶胶光学厚度(AOD550)时空分布研究,研究发现:北半球气溶胶光学厚度近20年的长期变化趋势是呈小幅下降趋势,这种下降趋势在中国东南部尤其明显,且全球气溶胶光学厚度以北纬17°为对称轴分布,更多成果发表在中科院二区TOP期刊《Atmospheric Environment》上。   大气气溶胶光学厚度(AOD,550纳米波段的气溶胶光学厚度为AOD550),是表征大气浑浊程度的关键的物理量。它是天气、气候和地球能量收支平衡研究中关注的重要参数,也是确定气溶胶气候效应的重要因素。通常高的AOD值预示着气溶胶纵向积累的增长,因此导致了大气能见度的降低。   我国科学家分析了国际地球观测系统(EOS)中的TERRA和Aqua卫星上的中分辨率成像光谱仪(MODIS)探测的近20年AOD550数据,系统地获取了全球气溶胶光学厚度的全球分布和时空变化特性。   研究发现:一、北半球气溶胶光学厚度近20年的长期变化趋势是呈小幅下降趋势,这种下降趋势在中国东南部尤其明显(图1)。课题组研究人员利用经验正交函数分析法EOF(Empirical Orthogonal Function)对陆地年平均全球气溶胶光学厚度分析时发现,第一模态(图2)显示近20年来中国东南部、亚马逊平原、美国东部以及欧洲-地中海-里海-非洲东北部区域的气溶胶光学厚度呈下降趋势。与之相反,亚洲北部、印度半岛、阿拉伯半岛南部和东部呈明显上升趋势。   二、在中、低纬度地区,气溶胶光学厚度的全球分布并不是关于赤道对称的,而是向北偏移约17°(图3)。全球气溶胶光学厚度在北纬17°达到最大值,然后向南北两极随纬度先显著减小、后逐渐变化平稳。   但在同一纬度地区,气溶胶光学厚度随经度的变化是不同的,在中纬度地区,气溶胶光学厚度在北半球随经度变化明显,而在南半球随经度变化平缓。在高纬度地区,南半球气溶胶光学厚度随纬度的升高而增大,北半球气溶胶光学厚度随纬度的升高而减小,并且南半球的气溶胶光学厚度随纬度变化比北半球快。   三、气溶胶光学厚度南北半球均呈现季节性变化规律(图4和图5):北半球气溶胶光学厚度显著高于南半球,且最大值都出现在各自半球的春季,最小值都出现在各自半球的秋季。   此外,海洋和陆地上的气溶胶光学厚度季节变化差异也很明显。EOF的月平均海洋气溶胶光学厚度分析结果显示,海洋气溶胶主要是由陆地气溶胶来源主导(图6)。特别值得注意的是,南半球水域上的气溶胶光学厚度的增加与全球气候变化导致的南半球深林火灾频发有密切正相关联系,其增长速率为0.0009/年(通过了95%的置信水平下的显著性检验)。   四、陆地来源的沙尘气溶胶峰值出现在七月,谷值出现在一月,陆地生物质燃烧气溶胶峰值出现在九月,谷值在四至五月。另外,陆地EOF分析捕捉到了一些极端气溶胶事件(图2),如2014/2015年强厄尔尼诺在太平洋赤道附近持续发展引起的东南亚极端生物质燃烧事件。   此研究利用卫星长期观测数据获得了全球气溶胶光学厚度全球经纬度分布规律和长期时空变化特性。目前科学家们正在利用数据对其时空分布变化进行更深入的分析,可以预见,气溶胶光学厚度的研究工作将为全球气候的长期变化规律分析、建立和验证全球高空大气模式等工作提供重要参考。   该成果论文第一作者是田晓敏博士,通讯作者是唐超礼教授,研究工作得到了国家高技术项目和空间天气学国家重点实验室开放课题基金支持。图1. 2003至2020年的年平均AOD550的空间分布图2. 陆地AOD550经验正交函数分析的前六个模式的空间分布图3. 18年(2003~2021)年平均的AOD550(蓝色点线)和其标准差(品红色线棒)随纬度(a)和经度(b)的变化曲线图4. 2004, 2006, 2008, 2010, 2012, 2014, 2016, 2018, 2020年的季节平均AOD550空间分布图5. 2003.03至2021.02的季节平均AOD550,全球(a)、南半球(b)、北半球(c)、全球海洋(d)、南半球海洋(e)、北半球海洋(f)、全球陆地(j)、南半球陆地(h)和北半球陆地(i),北半球春季(绿色)、北半球夏季(红色)、北半球秋季(黄色)和北半球冬季(黑色)图6. 海洋上月平均AOD550的经验正交函数分析的前六个模式的空间分布
  • 扫描电镜测试法:我国首个光学功能薄膜微观结构厚度测试标准正式实施
    近日,由中国航天科技集团有限公司中国乐凯研究院起草的国家标准GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》正式实施。(文末附下载链接)该标准规定了通过扫描电子显微镜(SEM)检测光学功能薄膜横截面微结构厚度的方法,适用于微米、纳米级光学功能薄膜各功能层微观结构测试。这是我国首个覆盖光学功能薄膜全领域的微米-纳米级各功能层微观结构的测试标准。该标准的制定与实施,对于准确测定光学功能薄膜微结构厚度、规范行业测定方法、促进行业发展具有重要意义。GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》详细内容标准下载链接:https://www.instrument.com.cn/download/shtml/1198352.shtml
  • 安光所团队在气溶胶光学厚度反演方面取得进展
    近期,安光所光学遥感研究中心孙晓兵研究员团队为满足单角度多波段偏振气溶胶探测的需求,提出了一种多波段强度和偏振信息联合利用的最优化反演算法,相关成果发表在学术期刊《Remote Sensing》上。   大气气溶胶光学厚度(Aerosol optical depth, AOD)用来表征气溶胶对太阳辐射的消光作用,在遥感大气校正及细颗粒物污染评估中都具有重要作用。孙晓兵团队提出的反演算法主要利用短波红外波段的偏振信息,在不需要地面先验信息的情况下,对地面和大气信息进行分离,然后使用标量信息来获得最终结果。利用该方法进行地气解耦,避免了地表反射率数据库更新不及时造成的反演误差和时空匹配误差。   研究人员利用搭载在高光谱观测卫星(GF-5B)上的高精度偏振扫描仪(POSP)的观测数据对该算法进行了验证。与不同地区AEROENT站点的AOD产品比对结果表明,该算法能反演不同地表上空的AOD;与MODIS的AOD产品进行比对,验证了算法在不同污染条件下的有效性。   该研究得到了航天科技创新应用研究项目、中国高分辨率对地观测系统项目、中国资源卫星应用中心项目资助。图1 POSP的反演结果与AEROENT产品比对图2 POSP的AOD反演结果(a)与MODIS产品(b)对比(2022年5月4日)
  • 厚度33微米,科学家研发出高性能电磁屏蔽材料
    在日常生活和工作中,电子设备运行时会产生电磁辐射,可能会给人们的健康带来不良影响,各设备间的电磁干扰也会严重影响电子设备的性能及其正常运行。因此,发展新型电磁屏蔽材料,尤其是高性能电磁屏蔽材料是解决电磁污染的关键。  如今,各种电子设备越来越多地应用于人们的生活和工作中,但是电子设备在运行过程中会产生电磁辐射,可能会给人们的健康带来不良影响,各设备间的电磁干扰也会造成信号被拦截、数据丢失等,严重影响电子设备的性能及其正常运行。特别是随着物联网、自动驾驶、可穿戴设备的发展,电子设备越来越复杂、体积越来越小、精度要求越来越高,要保证这些高度集成、高功率的电子设备正常运行,电磁干扰屏蔽至关重要。  发展新型电磁屏蔽材料是解决电磁污染的关键,特别是超薄、轻质并具有优异力学强度和可靠性的高性能电磁屏蔽材料。日前,北京航空航天大学化学学院研究员衡利苹团队研发了一种具有超润滑界面的还原氧化石墨烯/液态金属(S-rGO/LM)异质层状纳米复合材料,可用于高性能稳定的电磁屏蔽。相关研究成果发表在国际学术期刊《美国化学学会纳米》上。  用石墨烯研发高性能柔性电磁屏蔽材料  电磁屏蔽材料是能够通过吸收、反射等方式来衰减电磁波能量传播,以有效抑制电磁干扰和污染的功能材料。  人们希望,电子设备在工作时,既不被外界电磁波干扰,又不辐射出电磁波干扰其他设备或危害人体健康,因此电子设备运行时,自身产生的电磁波需要被吸收,而外界入射的电磁波需要被反射或吸收。铜、铝等金属是常用的电磁屏蔽材料,但它们容易被腐蚀、密度大、重量重,并以反射电磁波为主,会造成二次电磁污染。特别是传统的金属材料不具备柔性,难以被应用在柔性电磁屏蔽领域。  镓基液态金属(LM)是目前柔性电子制造应用最广泛的材料,这主要归因于其具有低熔点、低黏度、高电导率和热导率等物理特性。衡利苹说,随着对具备室温流动性的镓金属、镓基合金液态金属材料研究的逐步深入,其在柔性电磁屏蔽材料领域已表现出相当大的潜力。  但是现有的镓基液态金属电磁屏蔽材料普遍需要与绝缘的聚合物基材共混,以得到具备一定机械强度、可实际应用的电磁屏蔽材料。而材料的导电性和导磁性越好,对电磁的屏蔽效能就越高,镓基液态金属电磁屏蔽材料与绝缘的聚合物基材共混,会损失镓基液态金属的导电性能,使电磁屏蔽性能无法达到最佳水平。使用一种本身也具备超高电导率的基材来构建液态金属柔性复合材料,成为提升液态金属柔性电磁屏蔽复合材料性能的关键。于是,石墨烯进入了衡利苹团队的视线。  石墨烯具有优异的光学、电学、力学特性,本身就可以保持很好的导电性。氧化石墨烯(GO)对镓基液态金属还起到了良好的桥接作用,因此,在S-rGO/LM材料内部,可形成连续完整的导电网络。材料厚度仅需33微米,就可屏蔽99%的入射电磁波,且对X波段的电磁屏蔽效率较高。  可作为抗结冰、除冰功能材料使用  聚二甲基硅氧烷(PDMS)具有耐热性、耐寒性、防水性、导热性以及良好的化学稳定性,电绝缘性和疏水性能好,可在-50℃—200℃下长期使用。目前,PDMS已广泛用于绝缘润滑、防震、防油尘和热载体等。  该团队先将S-rGO/LM材料在稀释后的PDMS溶液中浸涂,随后再对其旋转涂抹硅油,使其获得超润滑特性。衡利苹说,得益于材料本身的稳定性和超润滑界面的协同保护,S-rGO/LM材料在极限工作温度中,严重机械磨损后,依然能保持良好的电磁屏蔽能力。  除了具有出色的电磁屏蔽性能外,S-rGO/LM材料还具备优秀的热管理性能。实验显示,在1个太阳光照功率(100毫瓦/平方厘米)照射下,S-rGO/LM材料的表面温度在40秒内就可达到47.5℃。这表明,在低温地区,S-rGO/LM还可以作为具有抗结冰、除冰功能的材料来使用。
  • 【热电资讯】厚度方向热电性能评价系统ZEM-d正式开放免费样品测试预约
    日本ADVANCE RIKO公司50多年来专业从事“热”相关技术和设备的研究开发,一直处于相关领域的技术前沿。2018年初,Quantum Design中国子公司与日本ADVANCE RIKO公司就新先进热电材料测试技术开展合作,将小型热电转换效率测量系统Mini-PEM、塞贝克系数/电阻测量系统ZEM、热电转换效率测量系统PEM及大气环境下热电材料性能评估系统F-PEM引进中国。 2018年中下旬,Quantum Design中国子公司与日本ADVANCE RIKO正式达成合作协议,作为其热电材料测试设备在中国的代理商继续深度合作,并将日本ADVANCE RIKO的相关设备引入到中国大陆、香港和澳门地区进行进一步推广。2019年,在日本ADVANCE RIKO公司的通力支持下,Quantum Design中国子公司在北京建立了部分热电设备示范实验室和用户服务中心,更好地为中国热电技术的发展提供设备支持和技术服务。 日本ADVANCE RIKO公司塞贝克系数与电阻测量系统ZEM系列在全球销售量超过300台,广获全球科研及工业用户的赞誉,成为热电材料领域应用广泛的测试设备。2019年,在此前的成功基础上,ADVANCE RIKO公司推出了专门用于评价聚合物厚度方向上热电性能的全新设备ZEM-d。 与之前ZEM系列产品(ZEM-3/ZEM-5)不同,新型号ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品薄为10 μm。此外,ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致,其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。 为更好服务国内热电材料研究领域的客户,满足客户体验需求, Quantum Design中国子公司与日本ADVANCE RIKO公司携手推出 厚度方向热电性能评价系统ZEM-d免费样品测试活动。活动时间自即日至2020年5月15日止,如您有样品测试需求,欢迎通过官方微信平台(QuantumDesignChina、电话010-85120280或邮箱info@qd-china.com联系我们,公司将有专人对接,与您协调具体的样品测试工作。
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