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平均粒度测定仪的原理

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平均粒度测定仪的原理相关的论坛

  • 【原创】费氏平均粒度仪常见故障处理

    费氏平均粒度仪是用空气渗透性原理研制的快速测定粉末颗粒平均粒径的仪器，广泛应用于粉末冶金、钨钼材料、硬质合金等领域.现就本人的一点维修经验,列举费氏仪(美国fisher公司生产)一些常见的故障处理方法,供各位同仁参考. 一:示值稳定性误差: 第一步,检查仪器的气密性,尤以橡胶管与玻璃管的连接处为重点(千万要小心,玻璃管易脆的很哦!!). 第二步,如果硅胶变色,立即更换硅胶. 二:两档位间示值偏差: 检查档位开关,通常是档位开关后的橡胶管老化引起的,更换橡胶管,上好档位开关后即可解决问题. 三 气泡太小且不均匀: 这是由于空气压力不够造成的. 首先检查整机的气密性,无误后就重点检查压缩空气的动力源-马达. 将马达与稳压管的连接杆拆下清洗并上少量润滑油,用细铁丝疏通连接杆上的小孔,重新装上后,大多数情况均能解决问题.如果效果不明显,就要将电机拆下进行大修了哈. 另外,为了分析结果的准确性,需要经常对标准管进行校正哈.

  • 截点法计算金属平均晶粒度实操过程

    GB/T6394-2002《金属平均晶粒度测定方法》有比较法、面积法和截点法三种方法，比较法比较直观简单，但必须要有标准图谱才行，而且受主观影响较大。面积法太复杂，数晶粒数把人数到神经衰弱还不一定数得清楚。截点法是仲裁法，而且实际操作比较简单，所以是最实用的方法。金属平均晶粒度截点法的计算公式为(公式不见了，郁闷。)式中M为实际放大倍数；P为实际数出来的节点数；L是用于截点的线段长度。解决了这三个参数，平均晶粒度便可以计算了。附件是计算的实际操作过程。

  • 平均粒度检测仪

    各位论坛里的大神，帮忙解决哈，为什么在不同的平均粒度检测仪测出的Fsss值会相差10多上？

  • 关于如何做好金属平均晶粒度能力验证的经验之谈

    关于如何做好金属平均晶粒度能力验证的经验之谈

    金属的晶粒度是金相检验中基本检测项目之一，金属的晶粒度也是金属材料物理性能部分的能力验证项目之一，但是目前据我所了解的新一代的金相人好像对这些基本功学的不是太扎实，根据我本人近两年所做的两次晶粒度的能力验证为基础（一次为金属平均晶粒度的测定，另一次为铝合金平均晶粒度的测定），按照晶粒度检测的步骤，阐述一下个人对如何做好金属平均晶粒度能力验证的几点经验，供大家学习参考，也希望大家不吝赐教。 1. 仔细阅读《能力验证计划指导书》，严格按照指导书的要求进行测试并报送测试结果，避免因看错要求而报错结果导致不满意结果出现，一般要求报两个测试结果，一个是平均截距，另一个是晶粒度级数。要看清楚指导书中对晶粒度级数测试结果的保留位数以及平均截距测试结果的单位与保留位数的要求。一般金属平均晶粒度的测定指导书中都指明用GB/T 6394-2002的截点法进行测试。 2. GB/T 6394-2002的截点法中有直线截点法、单圆截点法和三圆截点法，推荐使用三圆截点法（仲裁检验使用的方法，最准确的方法）。能力验证的样品为一张金相图片，可使用Word等办公软件或画图软件在金相图片上画三个等距的同心圆，三圆的直径为d，2d，3d，d可用任意直径，画这三个等距同心圆的原则就是使之能穿过更多的晶粒，得到更多的截点，使测试结果更为客观，通俗点就是圆要画的尽可能大，画好圆后直接打印出来。GB/T 6394-2002中图1就推荐使用直径分别为79.58mm、53.05mm和26.53mm的圆，使得三圆总周长为500mm以方便计算，其实使用推荐的直径的前提就是必须调整金相图片的大小使这三个圆能尽可能穿过较多的晶粒。 3. 打印出来后就是数截点数，数截点数严格按照GB/T 6394-2002中5.3.3.2的要求，对图片中与晶界相切的，有明显三个晶粒汇合点应该仔细对比原金相图片进行确认，同时，金相图片中会有个别晶界没有腐蚀的很清楚的，一定要计算进去，一些细小的晶粒也不能忽略，也要计算进去。数完三个圆的截点后相加就得到三圆的总截点数P。然后用卡尺测量打印出来的图片中标尺的长度和三圆直径，用测出的长度除以标尺长度即为放大倍数M。将三圆周长相加即得到总截线的长度L。其实如果用WORD软件的话，每个圆的直径可以直接在word中设置，打印出来的都是直接尺寸，比如word中三圆的直径分别设置为4mm、8mm、12mm，打印出来用卡尺测量绝对丝毫不差，标尺的长度也可以通过在word中画一条和标尺同样长的线来测量，可以省去卡尺测量的步骤，而且在word中可以通过放大使画的线与标尺的长度无限接近，直接在word中读画线的长度，减少用卡尺测量长度的误差，提高测量精度。4. 平均截距按照GB/T 6394-2002中5.3.1.1的公式计算，平均截距=L/(M*P） 晶粒度级数，也就是平均晶粒度级别数G，按照GB/T 6394-2002中5.3.1.2的公式计算，G=6.643856*lg（M*P/L）-3.288 平均截距和晶粒度级数结果严格按照指导书中的单位要求和修约规则要求进行修约。5. 建议进行3次～5次的测量，结果报告表中的测试结果报几次测量的中间值。因为能力验证的金相图片都是长方形，我一般会将三个等距的同心圆在金相图片左边的位置、左边偏中的位置、中间位置、中间偏右的位置和右边位置五个位置都测量一次，然后取五个测量的中间值。（建议不要取平均值，取平均值的话，截点数与实际测试结果会不一致）同时，建议2～3人对同一张图片的截点数分别计算，尽量避免人为错误导致截点数与实际不符。6. 按照上述方法，晶粒度的能力验证基本不会有太大问题，一般晶粒度的稳健标准差有0.3级左右，三圆截点法的精度肯定是能够满足的，只要在操作过程中不出现错误行为。建议大家多问，多向前辈请教，有时不要自己想当然的以为是正确的，能力验证是一个很严肃的问题，代表着整个实验室的技术能力水平，当然也反映了你个人的技术能力，必须认真、严谨、科学的去对待。 下图有一张晶粒度的图片，是我一次能力验证的金相图片，标尺长度为0.2mm，初学者可以用我这张图练练手该次能力验证的结果通知单也拿出来分享一下，晶粒度级数偏差仅0.02，基本上没有误差。结果通知单在附件，建议要练手的做完再看！http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09502.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/12/201512232311_579293_2493625_3.jpg

  • 求购进口粒度测定仪

    由于实验需求，本人需求够一台进口粒度测定仪，卖家请与本人联系，邮箱190299792@qq.com

  • 金属平均晶粒度评级

    那位TX有软件请帮忙测量晶粒度级数和平均截距(mm)，附带说明有的那个厂家的分析软件，谢谢！图片见附件！

  • 钢标委GB/T6394-2017《金属平均晶粒度测定方法》国家标准的宣贯会

    全国钢标准化技术委员会金相分委会、钢铁研究总院中心实验室与北京中实国金国际实验室能力验证研究有限公司将于2018 年4月12日～13日在北京召开关于GB/T6394-2017《金属平均晶粒度测定方法》、GB/T 13298-2015《金属显微组织检验方法》国家标准的宣贯及应用培训会。此次会议分别邀请GB/T6394-2017和GB/T13298-2015的第一起草人对标准解读、实际操作进行全面的讲授和培训，同时结合北京中实国金国际实验室能力验证研究有限公司近年来晶粒度能力验证项目进行培训和考核。[b]会议时间：[/b] 4月12日～13日[b]会议地点：[/b]北京（报名后通知详细地址）[b]联系人：[/b]李钊 [b]电 话：[/b]01062186287[b]E-mail:[/b] [email]lizhao@analysis.org.cn[/email]

  • 金属平均晶粒度的CNAS认可，望有经验的前辈们给点指导

    目前实验室在做CNAS认可，金属平均晶粒度是申报项目之一。关于金属平均晶粒度的不确定度报告，不太明白要不要做。是按GB/T 6394附录B的来做就行了？还是这个项目不需要提交不确定度报告 。给我们指导的老师对这块也不是太清楚 ，只是对化学分析那边提了很多。只能到论坛里希望前辈们指点一下。

  • 金属平均晶粒度的CNAS认可，望有经验的前辈们给点指导

    目前实验室在做CNAS认可，金属平均晶粒度是申报项目之一。关于金属平均晶粒度的不确定度报告，不太明白要不要做。是按GB/T 6394附录B的来做就行了？这个项目需不需要提交不确定度报告 。给我们指导的老师对这块也不是太清楚 ，只是对化学分析那边提了很多。只能到论坛里希望前辈们指点一下。

  • 【求助】2个标准：ISO 16014-2003塑料.用粒度排除色谱法测定聚合物中平均分子量和分子量的分布

    1.出版者:BSI. 标准号:BS ISO 16014-1-2003. 标准类型:英国国家标准. 发布日期:2003-05-12. 标准状态:ST塑料.用粒度排除色谱法测定聚合物中平均分子量和分子量的分布.一般原则 ( Plastics - Determination of average molecular mass and molecular mass distribution of polymers using size-exclusion chromatography - General principles ) • 英语 2.出版者:BSI. 标准号:BS ISO 16014-2-2003. 标准类型:英国国家标准. 发布日期:2003-05-16. 标准状态:ST塑料.用粒度排除色谱法测定聚合物的平均分子量和分子量的分布.通用校准法 ( Plastics - Determination of average molecular mass and molecular mass distribution of polymers using size-exclusion chromatography - Universal calibration method ) • 英语

  • 钢标委召开GB/T6394-2017《金属平均晶粒度测定方法》标准宣贯培训通知

    [b]各位委员及有关单位：[/b]GB/T6394-2017《金属平均晶粒度测定方法》于2017年02月28日发布，2017年11月01日实施。为此，全国钢标准化技术委员会金相分委会、钢铁研究总院中心实验室与北京中实国金国际实验室能力验证研究有限公司将于2018 年4月12日～13日在北京召开关于GB/T6394-2017《金属平均晶粒度测定方法》、GB/T 13298-2015《金属显微组织检验方法》国家标准的宣贯及应用培训会。[b]此次会议分别邀请GB/T6394-2017和GB/T13298-2015的第一起草人对标准解读、实际操作进行全面的讲授和培训，[/b]同时结合北京中实国金国际实验室能力验证研究有限公司近年来晶粒度能力验证项目进行培训和考核。本次会议委托北京中实国金国际实验室能力验证研究有限公司承办。会议收取会议费1000元/人。此外，实验室检测人员可自愿参加全国分析检测人员能力培训委员会（NTC）的笔试考核，考核费500元/人，经考核合格可取得NTC签发的技术能力证明，在实验室资质认定、实验室认可中作为人员的技术能力证明使用。考核人员需备彩色一寸照片2 张、身份证复印件报到时交给工作人员，并填写附件2《全国分析检测人员能力培训委员会分析检测人员考核申请表》发至[email]lizhao@analysis.org.cn[/email]。[b]会议时间：[/b] 4月12日～13日[b]会议地点：[/b]北京（报名后通知详细地址）[b]联系人：[/b]李钊 [b]电 话：[/b]李钊01062186287[b] E-mail:[/b] [email]lizhao@analysis.org.cn[/email] [email]wangchunfang@nercast.com[/email]请确认参加会议的代表及时与联系人联系并将填写好的会议出席确认表-回执于2018年4月4日前 E-mail或者微信给会议组。

  • 激光粒度测定仪选购

    准备买台激光粒度测定仪，问下各位应该注意什么参数和性能指标，另外几个大牌子的优劣都是什么？我的用途是特殊制剂的粒径测量（脂质体、纳米粒、微球、微乳、亚微乳等），测量范围的下限能在几十纳米就行，上限能大点最好。之前看了马尔文的Nano ZS90，感觉参数要求基本能符合需要，但是没用过，不知道如何。不知道其他几家有没有能测到纳米级别的仪器。这边预算是在35万，不够可以追加，不过我看了一圈感觉这个预算能搞定的，附件在预算范围内越多越好，马尔文的给加了Zata电位。

  • 基于动态光散射原理的纳米粒度仪的研制

    基于动态光散射原理的纳米粒度仪的研制

    基于动态光散射原理的纳米粒度仪的研制任中京, 陈栋章 (济南微纳颗粒技术有限公司, 济南)摘要:介绍了基于动态光散射原理的纳米粒度仪的工作原理和设计, 重点讲述了我公司自研制的CR128数字相关器的设计原理与性能特点, 以及利用该器件成功研制出的winner801光子相关纳米粒度仪的特性。关键词.. 纳米粒度仪;动态光散射(DLS);光子相关谱(PCS);数字相关器纳米颗粒的尺度一般在1-100nm之间, 是介于原子、分子和固体体相之间的物质状态。由于纳米颗粒具有尺寸小、比表面积大和量子尺寸效应, 使它具有不同于常规固体的新特性。在纳米态下, 颗粒尺寸更是对其性质有着强烈的影响, 纳米材料的粒度大小是衡量纳米材料最重要的参数之一。而常规的基于静态光散射原理的激光粒度仪的测量下限己接近极限, 但仍旧不能对纳米颗粒的粒度测试得出理想的结果甚至无能为力。光子相关光谱(Photon Correlation Spectroscopy,简称PCS)法已被证明是一种适于测量纳米及亚微米颗粒粒度的有效方法。PCS技术也成为动态光散射(Dynamic Light Scattering, 简称DLS) 技术, 主要是研究散射光在某一固定空间位置的涨落现象。其颗粒粒度测量原理建立在颗粒的布朗运动基础之上。由于颗粒的布朗运动, 一定角度下的散射光强将相对于某一平均值随机涨落。PCS技术就是通过这种涨落变化的快慢间接地得到相关颗粒粒度的信息。1 动态光散射基本原理基于动态光散射原理的颗粒粒度测试基本原理如图1.1所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281054_441893_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281054_441894_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281054_441895_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281054_441897_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281054_441898_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281054_441899_388_3.jpg最后再对四路基线求其平均值用于数据分析, 以免突变的光强引起光强自相关函数发生畸变。在如上的算法的基础上, 我们所研制的C R 12 8 数字相关器采用F PG A 技术, 以硬件方式实现。如图2 .1所示, 主要由取样时间发生器、取样时间、光子计数器、12 8 相关运算模块、基线运算模块、相关数据存储器、数据输出及控制电路组成。其工作原理为:选取适当的取样时间, 并在该时间段内将输入的光子数连续计数, 并将计数结果进行128 路自相关运算及基线

  • 【求助】有人用过CAMSIZER粒度测定仪，请帮忙介绍一下

    有人用过CAMSIZER粒度测定仪，请帮忙介绍一下。仪器称能测量范围从0.030 mm至30 mm，不知道在小颗粒的测量上做得如何？在防静电方面做得如何（怕小颗粒沾在壁上）？仪器的清洁保养难度如何？准备买一台，不知道最低多少钱?其他：仪器相关信息如下：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH101118/C18451.htm

  • 激光粒度仪的测试原理

    激光粒度仪一般采用米氏散射原理。米氏散射理论是对处于均匀介质中的各向均匀同性的单个样品，在单色平行光照射下的Maxwell方程边界条件的严格数学解；当微粒半径的大小接近于或者大于入射光线的波长时，大部分的入射光线会沿着前进的方向进行散射，这种现象被称为米氏散射。与其他光学散射理论相比，米式散射的程度跟波长是无关的，而且光子散射后的性质也不会改变，因此在测量精度要求高的测试仪器中应用广泛。济南微纳等激光粒度仪生产厂家都是采用的这种原理~

  • 不同原理的粒度仪与粒径

    由于颗粒形状的复杂性，颗粒测量只能采用等效粒径的概念，和间接测量的方式。不同原理的粒度仪器，采用不同的等效粒径：激光衍射（散射）仪器采用的是散射粒径，近似等于等效截面粒径。沉降粒度仪采用的斯托克斯粒径（沉降速度与同质球体等效）。库尔特（电阻法）粒度仪采用的是体积等效粒径。 如果使用球形颗粒，各种仪器测量结果应该相同。 对于非球形颗粒，各种仪器测量结果差别不可预测，因为颗粒形状太复杂。但是对同一种非球形颗粒，不同仪器测量结果有规律可循。为此微纳公司研制了数据校准软件。根据用户提供的样品和相关目标仪器的粒度分布数据，交给具有一定的学习功能软件，今后遇到同类样品即使大小不同，也可给出相关性令人满意的结果。

  • 建议研制新品粒度仪

    我需要的多是测量0.01mm－1mm之间的粒度，用筛子就比较麻烦了，最好有专业人士研制这类粒度的测定仪

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