晶体管特性图示仪原理

品牌： 华科智源 名称： 晶体管图示仪 型号： HUSTEC-DC-2020 用途： 测试二三极管，MOS管，IGBT，晶闸管，可控硅等件测试仪设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。产品介绍 产品为桌面放置的台式机结构，由测试主机和程控电脑两大部分组成。外接各类夹具和适配器，还能 够通过 Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin）连接分选机和机械手建立工作站，实现快速批量化测 试。通过软件设置可依照被测器件的参数等级进行自动分类存放。能够极好的应对“来料检验”“失效分 析”“选型配对”“量产测试”等不同场景。 产品的可靠性和测试数据的重复性以及测试效率都有着非常优秀的表现。创新的“点控式夹具”让操 作人员在夹具上实现一点即测。操作更简单效率更高。测试数据可保存为 EXCEL 文本。 应用场景Ø 模化、自动化测试） 测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试） Ø 失效分析（对失效器件进行测试分析，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提 出改善方案） Ø 选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对） Ø 来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率） Ø 量产测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规 产品特点(1) 可测试 7 大类 26 分类的各类电子元器件； (2) PC 机为系统的主控机； (3) 基于 Lab VIEW 平台开发的填充式菜单软件界面； (4) 自动识别器件极性 NPN/PNP (5) 16 位 ADC，100K/S 采样速率； (6) 程控高压源 10~1400V，提供 2KV 选配； (7) 程控高流源 1uA~40A，提供 100A,300A,500A 选配； (8) 驱动电压 10mV~40V； (9) 控制极电流 10uA~10mA； (10) 四线开尔文连接保证加载测量的准确；(11) 通过 RS232 接口连接校准数字表，对系统进行校验； (12) Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin） (13) 可为用户提供丰富的测试适配器(14) 连接分选机最高测试量为每小时 1 万个 (15) 可以测试结电容，诸如 Cka，Ciss，Crss，Coss； (16) 脉冲电流自动加热功能，方便高温测试，无需另加升温装置； 测试参数 (1) 二极管类：二极管 Diode Kelvin，Vrrm，Irrm，Vf，△Vf，△Vrrm，Cka，Tr（选配）；(2) 二极管类：稳压二极管 ZD（Zener Diode）Kelvin，Vz，lr，Vf，△Vf，△Vz，Roz，lzm，Cka； (3) 二极管类：稳压二极管 ZD（Zener Diode）Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka；(4) 二极管类：三端肖特基二极管 SBD（SchottkyBarrierDiode）Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka、Tr（选配）；(5) 二极管类：瞬态二极管 TVSKelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ； (6) 二极管类：整流桥堆 Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka；(7) 二极管类：三相整流桥堆Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka；(8) 三极管类：三极管Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、 Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcm、Vsd 、Ccbo 、Cces、Heater、Tr （选配）、Ts （选配）、Value_process； (9) 三极管类：双向可控硅 Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、 Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm；(10)三极管类：单向可控硅Kelvin、 Type_ident、 Qs_chk、 Pin test、 lgt、 Vgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△Vdrm△Vrrm、 Vtm； (11)三极管类：MOSFETKelvin 、Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、 Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs 、ld_lim 、Heater、Value_proces、△Rds(on) ； (12)三极管类：双 MOSFET Kelvin、 Pin_chk、Ic_fx_chk、 Type_ident、 Vgs1(th)、 VGs2(th)、 VBR)Dss1、 VBR)Dss2、 Rds1(on)、 Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、 Coss、Crss；(13)三极管类：JFET Kelvin、VGS(off )、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、 Idss(off)、 Idss(on)、 vds(on)、 Vsd、 Ciss、Crss、Coss； (14)三极管类：IGBTKelvin、VGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)、Gfe、lges、 lces、Vf、Ciss、Coss、Crss；(15)三极管类：三端开关功率驱动器Kelvin、Vbb(AZ)、 Von(CL)、 Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt； (16)三极管类：七端半桥驱动器 Kelvin、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt； (17)三极管类：高边功率开关Kelvin、Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、ll(Iim)、Coss、Fun_pin_volt； (18)保护类：压敏电阻Kelvin、Vrrm、 Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、 △Vr (19)保护类：单组电压保护器 Kelvin 、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr； (20)保护类：双组电压保护器Kelvin、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr； (21)稳压集成类：三端稳压器 Kelvin 、Type_ident 、Treg_ix_chk 、Vout 、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△IB、VD、 ISC、Max_lo、Ro、Ext _Sw、Ic_fx_chk； (22)稳压集成类：基准 IC（TL431）Kelvin、Vref、△Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka； (23)稳压集成类：四端稳压Kelvin、Type_ident、Treg_ix_chk、Vout、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△lB、VD、Isc、 Max_lo、Ro、Ext_Sw、Ic_fx_chk； (24)稳压集成类：开关稳压集成器 选配； (25)继电器类：4 脚单刀单组、5 脚单刀双组、8 脚双组双刀、8 脚双组四刀、固态继电器 Kelvin、Pin_chk、Dip6_type_ident、Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、Ton（选配）、Toff（选配）； (26)光耦类：4 脚光耦、6 脚光耦、8 脚光耦、16 脚光耦 Kelvin、Pin_chk、Vf、Ir、Bvceo、Bveco、Iceo、Ctr、Vce(sat)、Tr、Tf；(27)传感监测类： 电流传感器（ACS712XX 系列、CSNR_15XX 系列）（选配）； 霍尔器件（MT44XX 系列、A12XX 系列）（选配）； 电压监控器（选配）； 电压复位 IC（选配）；

泰克Tektronix370A 晶体管测试仪TEK370A 泰克Tektronix 370A 晶体管测试仪名称：泰克Tektronix 370A 晶体管测试仪主要参数:半导体器件高精度测量-上限达2000V或电流到10A的源（370A/B）-上限到3000V（371A）-上限到220W（370A/B）-上限到400A（371A）-1nA的测量分辨率-上限到3000W（371A）-上限到2mV的测量分辨率（370A/B）-波形对比-包络显示-波形平均-点光标（370A）-Kelvin传感测量-全程控-MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用交互式程-所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作参数，包括370A的非易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。测试夹具-测试夹具是标准附件，它提供被测器件安全防护，以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001，中间通过Kelvin传感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。程控特性曲线图示仪高分辨率特性曲线图示仪，可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。-在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作。应用-手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量-来料检查-生产测试-过程监视及质量控制-数据报告的生成-元件配对-失效分析-工程测试370A.jpg标签泰克Tektronix 370A 晶体管测试仪，泰克Tektronix 370A 晶体管测试仪价格相关产品半导体测试仪半导体测试仪备注： 本公司十年专业销售、租赁、维修、回收二手仪器，公司货源广阔，绝大部分直接从国外引进，成色新，价格低，资金雄厚，库存充足，售前严格，售后快捷是我们的特点：致力于为客户提供更专业，方便，快捷的人性化服务是我们的宗旨；勇于创新，敢于探索是我们的优势；凡在我司购买的仪器免费送较准服务一年！-鹏庆电子

产品目录? 晶体管图示仪（曲线追踪仪）? 半导体分立器件测试筛选系统。? 静态测试设备：包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数? 动态测试设备：包括 Tr， Trr , Qg , Rg , FRD , UIS , SC , Ci , RBSOA 等? 环境老化测试：包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等? 热特性测试：包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等? 测试范围：Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOSFET , DIODE , BJT , SCR等分立器件及功率器件。ST-SP2000_5 (Curve版)晶体管曲线追踪仪可测试 19大类27分类 的大中小功率分立器件及模块的 静态直流参数（测试范围包括Si/SiC/GaN材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）主极2000V / 50~1250A，分辨率*高至1mV / 10pA支持曲线扫描图示功能?产品应用应用领域军工院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……主要用途? 测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试）? 失效分析（对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 ）? 选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）? 来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）? 产线自动化测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试）?产品简述 产品扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。 曲线追踪仪（晶体管图示仪）功能则是利用高速ATE测试步骤逐点生成曲线，可快速而准确地生成精确的数据点。数据增量是可编程的线性或对数，典型的每步测试时间为6到20ms。一个两百条数据点曲线通常只需几秒钟就能完成。使用该系列跟踪仪更容易获取诸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFET RDSvs. VGS 等曲线数据。此外， 针对多条曲线，设备可以根据每条曲线的数据运行并将所获数据自动发送到一个单独的 Excel 工作表。系统能够更快，更简洁的创建曲线（单击，双击，选择输入菜单，单击）。就是这么简单。设备支持在单个 DUT 上运行高达 10 条不同曲线的能力，在运行过程中，每个图表都是可视的，每个数据集都被加载到一个被命名的 Excel 工作表中。系统运行速度快，可进行数据记录，提供更高级的数据工具箱，能够运行多条曲线并自动排序，自动将数据存入 Excel 表格，具有缩放功能，光标重新运行功能以及其他许多优点。 系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。?可供选择的曲线Tel:d173h4295a2894

产品系列晶体管图示仪半导体分立器件测试筛选系统静态测试（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）动态测试（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）环境老化测试（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）热特性测试（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件FBSOA1000Forward Bias Safe Operating Area 1000A晶体管正向偏置安全工作区测试系统Transistor Forward Bias Safe Operating Area Test System&bull 用于 Si , SiC , GaN , 材料的器件级和模块级的IGBT , MOS-FET的正向偏置安全工作区测试&bull FBSOA和对应的IV曲线&bull ICE电流0~1000A&bull VCE电压0~100V。&bull VGE驱动电压0~30V&bull vF热敏电压≤5V&bull Pmax最大功率100KW.&bull 脉宽10us~10ms，&bull 柜式结构，气动安全（支持手动式）工装柜，计算机全自动程控一、关于安全工作区晶体管的安全工作区，英文全称safe operating area，简称SOA。顾名思义，也就是说只要使用的条件（电压、电流、结温等）不超出SOA圈定的边界，晶体管必然能够按照电路设计正常运行，反之则死。所以，FBSOA是指全控型晶体管的门极电压VGE处于正向偏置（VGEVGEth）时，沟道处于导通状态时的安全工作区。FBSOA是全控型晶体管各种工作状态的集合，必须集合晶体管的其它特性去理解安全工作区的含义。失效器件送到原厂做FA分析，看到的字眼通常包含over voltage，over current，short circuit，EOS等，但是，其失效的深层原因与整机的应用环境和系统设计是密切相关的。整机产品里面包含的元器件数量少则几十，多则上万甚至更多，应用环境千奇百怪，元器件的失效就不可避免，作为工程师，能做的就是根据整机性能要求充分评估、测试元器件的各项关键参数，出现失效后，复盘设计，复现失效，找出根因，避免失效再次复现。二、FBSOA参数定义右图是简化的FBSOA曲线，本质上讲，FBSOA曲线划定了 四条电压-电流关系的边界线，分别由AB段，BC段，CD段，DE段构成。AB段规定了处于饱和导通状态下IGBT的最大工作电流，这个电流与IGBT的门极驱动电压幅值密切相关，从图4可以看出，IGBT的门极驱动电压幅值越高，饱和导通状态下的最大工作电流越大。BC段规定了IGBT的最大可重复电流ICpuls，这个电流是4倍的标称电流；FBSOA简化曲线CD段是最复杂的，需要结合IGBT的瞬态热阻来看。大家知道，IGBT有两个工作区，线性区和饱和区，跨越过AB段之后，其实IGBT就处于线性区了，也就是退出饱和导通区了，IGBT的损耗急剧上升，所以，这条边界体现了IGBT能承受的最大耗散功率Ptot。同时可以看出，集射极CE两端电压越高，IGBT所能承受的电流脉冲幅值越低，另外，电流脉冲宽度越大，IGBT所能承受的电流幅值也越低。从图可以看出，蓝色CD段各种脉冲宽度下的SOA，均是单脉冲安全工作区，非连续工作情况下的工作区，所以，必须参考上一页的右下角的IGBT瞬态热阻曲线，由公式（1）计算出在指定VCE条件下允许的电流IC的幅值和脉宽。DE段最容易理解，它规定了IGBT的集射极CE击穿电压，需要注意的是，IGBT的CE击穿电压是和结温正相关的，结温越低，CE击穿电压也越低。三、规格及环境要求&bull  设备尺寸∶800*800*1800mm（2组）∶&bull  设备质量∶800kg∶&bull  海拔高度∶海拔不超过4000m；  &bull 环境要求∶-20℃～60℃（储存）、5℃～45℃（工作）；&bull  相对湿度∶20%RH～75%RH（无凝露，湿球温度计温度45℃以下）；&bull  大气压力∶86Kpa～106Kpa；&bull  防护条件∶无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等；&bull  电网要求AC220V、±10%、50Hz±1Hz &bull  压缩空气∶根据配置；&bull  工作时间∶连续。四、产品特点&bull 测试规范：国际标准IEC60747-9、IEC60747-2、国家标准GB/T29332、GB/T4023&bull 测试工装有“手动式”“气动式”“电子开关式”供用户选择，针对不同的封装外观，通过更换“DUT适配器”即可&bull 高温测试，支持室温~200℃，±1℃@0.5℃&bull 计算机程控，测试数据可存储为 Excel 文件以及生成PDF格式，且内置多种通用文档模板供用户选择，还可自定义&bull 安全稳定（PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）设备具有安全工作保护功能&bull 采用品牌工控机，具有抗电磁干扰能力强，排风量大等特点&bull 智能化，通过主控计算机进行操控及数据编辑，测试结果自动保存及上传指定局域网，支持MES系统和扫码枪连接&bull 安全性，防爆，防触电，防烫伤，短路保护等多重保护措施，确保操作人员、设备、数据及样品安全&bull 电压源电流源模块化设计，根据用户需求等级，自选搭配5. 部分配件清单&bull 系统主机：数量/1 套，品牌/天光测控，型号/SOA-1000，规格/?； &bull 高压电源：数量/1 套，品牌/顾伟，型号/PSW160-14.4，规格/电流0-14.4A 电压0-160V 功率720W 单输出多量程；&bull 驱动电源： 数量/1 套，品牌/顾伟，型号/GPP-2323，规格/双通道输出 电压32V 电流3A；&bull 工 控 机：数量/1 套，品牌/研华，型号/610L，规格/；CPU:酷睿i7.操作系统windows10&bull 机 柜：数量/1 套，品牌/天光测控，型号/SOA-A，规格/高≥2000mm 宽≤800mm 深≤800mm&bull 采集卡: 数量/1 套，品牌/阿尔泰，型号/USB8504，规格/ADC分辨率：14位 输入通道：4通道 采样率：40MS\s 存储深度2GB &bull 多功能数据卡: 数量/1 套，品牌/阿尔泰，型号/USB3132A，规格/操作系统win：XP.7.8.10 AI.AO输入分辨率:16位250K &bull 电压变送器: 数量/1 套，品牌/阿尔泰，型号/S1205，规格/输入-2~+2 输出-10V~+10V？&bull 霍尔电流传感器: 数量/1 套，品牌/深圳知用，型号/CTA1000，规格/连续直流电流1000A 有效电流707 传输比：1：1000 带宽：500KHZ&bull 探头: 数量/1 套，品牌/深圳知用，型号/P6251，规格/带宽：250MHZ 衰减比10：1 上升时间：1.4ns？&bull 柔性电流探头：品牌/深圳知用，型号/CP9120L，规格/灵敏度5mv/A 电流1.2KA低频带宽1dB 高频带宽10dB&bull 集成配套包、鼠标、电源线六、系统架构原理图七、局部示意图驱动模块气动工装示意图

SWT-6000A微电脑晶体管焊接电源是电阻焊接里面最理想的焊接电源，主机采用高速微处理器控制，控制精度高，时间响应快， 工作模式丰富，它具有电流上升快、输出电流稳定、熔接处于两焊接接触面，被焊接处氧化少、焊接自检等主要特性，主要用于 锂离子电池组焊接、动力电池、电动工具电池焊接之用，是保证高品质焊接必选机型。整机电源全为开关电源控制，电源适应能力强。该电源是我司最新推出高端焊接电源，焊接电流通过晶体管进行高速切换，无需变压器，焊接电流上升速度成倍提高，可极短时间内对工件进行高品质焊接。具有焊机参数自检对比功能，以确保每个焊点质量达标。规格型号:SWT-6000A(4000A/10000A)最*焊接电流：6000A(4000A/10000A)焊接电压：12V焊接能力：0.01-0.20mm（0.01-0.12mm/0.01-0.30mm）焊接模式：定电压/定电流焊接时间：1.0-3.0mS外型尺寸：380*230*320mm输入电源：AC220V±10%/50Hz

SWT-10000A微电脑晶体管焊接电源是电阻焊接里面最理想的焊接电源，主机采用高速微处理器控制，控制精度高，时间响应快， 工作模式丰富，它具有电流上升快、输出电流稳定、熔接处于两焊接接触面，被焊接处氧化少、焊接自检等主要特性，主要用于 锂离子电池组焊接、动力电池、电动工具电池焊接之用，是保证高品质焊接必选机型。整机电源全为开关电源控制，电源适应能力强。微电脑晶体管点焊机为机头与电控箱分离式，可做成单针/双针机头，该焊接电源广泛用于自动化设备焊接配套使用，具有焊接质量自动检测功能，极大的提高了焊接品质。主要用于：组合电池连接片的焊接，电池组合，五金件焊接。规格型号：SWT-10000A（6000A）电流：10000A （6000A） 驱动形式：气动预焊电流：0-99%焊接电音：0-99%焊接时间：1-3.0mS焊接电源：晶体管电源输入电源：AC220V±10%/50Hz焊接电流：0-9.99KA对比电流：0-9.99KA输入气源：4-8MPa电极直径：φ3/φ6焊针压力：0.5-2.5KGF电极行程：1-10mm高度可调范围：65-130mm（可定制）台面尺寸：850*700mm

产品介绍 产品为桌面放置的台式机结构，由测试主机和程控电脑两大部分组成。各类夹具和适配器，还能 够通过 Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin）连接分选机和机械手建立工作站，实现快速批量化测 试。通过软件设置可依照被测器件的参数等级进行自动分类存放。能够极好的应对“来料检验”“失效分 析”“选型配对”“量产测试”等不同场景。 产品的可靠性和测试数据的重复性以及测试效率都有着非常优秀的表现。创新的“点控式夹具”让操 作人员在夹具上实现一点即测。操作更简单效率更高。测试数据可保存为 EXCEL 文本。 应用场景Ø 测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试） Ø 失效分析（对失效器件进行测试分析，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提 出改善方案） Ø 选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对） Ø 来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率） Ø 量产测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试） 产品特点(1) 可测试 7 大类 26 分类的各类电子元器件； (2) PC 机为系统的主控机； (3) 基于 Lab VIEW 平台开发的填充式菜单软件界面； (4) 自动识别器件极性 NPN/PNP (5) 16 位 ADC，100K/S 采样速率； (6) 程控高压源 10~1400V，提供 2KV 选配； (7) 程控高流源 1uA~40A，提供 100A,300A,500A 选配； (8) 驱动电压 10mV~40V； (9) 控制极电流 10uA~10mA； (10) 四线开尔文连接保证加载测量的准确；(11) 通过 RS232 接口连接校准数字表，对系统进行校验； (12) Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin） (13) 可为用户提供丰富的测试适配器(14) 连接分选机测试量为每小时 1 万个 (15) 可以测试结电容，诸如 Cka，Ciss，Crss，Coss； (16) 脉冲电流自动加热功能，方便高温测试，无需升温装置； 测试参数 (1) 二极管类：二极管 Diode Kelvin，Vrrm，Irrm，Vf，△Vf，△Vrrm，Cka，Tr（选配）；(2) 二极管类：稳压二极管 ZD（Zener Diode）Kelvin，Vz，lr，Vf，△Vf，△Vz，Roz，lzm，Cka； (3) 二极管类：稳压二极管 ZD（Zener Diode）Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka；(4) 二极管类：三端肖特基二极管 SBD（SchottkyBarrierDiode）Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka、Tr（选配）；(5) 二极管类：瞬态二极管 TVSKelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ； (6) 二极管类：整流桥堆 Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka；(7) 二极管类：三相整流桥堆Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka；(8) 三极管类：三极管Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、 Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcm、Vsd 、Ccbo 、Cces、Heater、Tr （选配）、Ts （选配）、Value_process； (9) 三极管类：双向可控硅 Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、 Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm；(10)三极管类：单向可控硅Kelvin、 Type_ident、 Qs_chk、 Pin test、 lgt、 Vgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△Vdrm△Vrrm、 Vtm； (11)三极管类：MOSFETKelvin 、Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、 Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs 、ld_lim 、Heater、Value_proces、△Rds(on) ； (12)三极管类：双 MOSFET Kelvin、 Pin_chk、Ic_fx_chk、 Type_ident、 Vgs1(th)、 VGs2(th)、 VBR)Dss1、 VBR)Dss2、 Rds1(on)、 Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、 Coss、Crss；(13)三极管类：JFET Kelvin、VGS(off )、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、 Idss(off)、 Idss(on)、 vds(on)、 Vsd、 Ciss、Crss、Coss； (14)三极管类：IGBTKelvin、VGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)、Gfe、lges、 lces、Vf、Ciss、Coss、Crss；(15)三极管类：三端开关功率驱动器Kelvin、Vbb(AZ)、 Von(CL)、 Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt； (16)三极管类：七端半桥驱动器 Kelvin、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt； (17)三极管类：高边功率开关Kelvin、Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、ll(Iim)、Coss、Fun_pin_volt； (18)保护类：压敏电阻Kelvin、Vrrm、 Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、 △Vr (19)保护类：单组电压保护器 Kelvin 、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr； (20)保护类：双组电压保护器Kelvin、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr； (21)稳压集成类：三端稳压器 Kelvin 、Type_ident 、Treg_ix_chk 、Vout 、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△IB、VD、 ISC、Max_lo、Ro、Ext _Sw、Ic_fx_chk； (22)稳压集成类：基准 IC（TL431）Kelvin、Vref、△Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka； (23)稳压集成类：四端稳压Kelvin、Type_ident、Treg_ix_chk、Vout、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△lB、VD、Isc、 Max_lo、Ro、Ext_Sw、Ic_fx_chk； (24)稳压集成类：开关稳压集成器 选配； (25)继电器类：4 脚单刀单组、5 脚单刀双组、8 脚双组双刀、8 脚双组四刀、固态继电器 Kelvin、Pin_chk、Dip6_type_ident、Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、Ton（选配）、Toff（选配）； (26)光耦类：4 脚光耦、6 脚光耦、8 脚光耦、16 脚光耦 Kelvin、Pin_chk、Vf、Ir、Bvceo、Bveco、Iceo、Ctr、Vce(sat)、Tr、Tf；(27)传感监测类： 电流传感器（ACS712XX 系列、CSNR_15XX 系列）（选配）； 霍尔器件（MT44XX 系列、A12XX 系列）（选配）； 电压监控器（选配）； 电压复位 IC（选配）；

SWT-1419微电脑晶体管焊接电源是电阻焊接里面最理想的焊接电源，主机采用高速微处理器控制，控制精度高，时间响应快， 工作模式丰富，它具有电流上升快、输出电流稳定、熔接处于两焊接接触面，被焊接处氧化少、焊接自检等主要特性，主要用于 锂离子电池组焊接、动力电池、电动工具电池焊接之用，是保证高品质焊接必选机型。整机电源全为开关电源控制，电源适应能力强。 SWT-1418微电脑晶体管点焊机带自动送料装置专用于镍片与电子线 焊接，也可以分开使用，方便快捷，焊接牢固。专用焊棒，不粘针，不炸火。规格型号：SWT-1419电流：8000A焊接能力：0.01-0.20驱动形式：气动焊接时间：1.0-3.0mS焊接电流：0-99%电极直径：φ6输入电源：AC220V±10%/50Hz

BW-3010B晶体管光耦参数测试仪（双功能版）品牌： 博微电通名称：晶体管光耦参数测试仪(光耦&光电传感器双功能版)型号： BW-3010B用途： BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。 BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器和光电传感器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试，BW-3010B为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降（VF）和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输比(CTR)等 。中文软件界面友好,简化了系统的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设定,测试条件及数据同步存入EEPROM中，测试条件可以任意设置，测试正向压降和输出电流可达1A，操作简便，实用性强。广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、产品选型等重要检测设备之一。产品电气参数：产品信息产品型号：BW-3022A产品名称：晶体管光耦参数测试仪；物理规格主机尺寸：深 305*宽 280*高 120(mm)主机重量：＜4.5Kg主机颜色：白色系电气环境主机功耗：＜75W环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）；相对湿度：≯85%；大气压力：86Kpa～106Kpa；防护条件：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等；电网要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；工作时间：连续；服务领域： 应用场景： ▶ 选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对） ▶ 检验筛选（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率） 产品特点： ▶ 大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单 ▶ 大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数. ▶ 全部可编程的DUT恒流源和电压源. ▶ 内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路. ▶ 高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1500V； ▶ 重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题； ▶ 软件自校准功能； ▶ 自动测试测DUT短路、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试； ▶ DUT的功能检测通过LCD显示出被测器件/DUT的类型，显示测试结果是否合格,并有声光提示； ▶ 两种工作模式：手动、自动测试模式。 BW-3010B主机和DUT的管脚对应关系型号类型P1 T1P2 T2P3T3P4T4光藕PC817AA测试端KK测试端EE测试端CC测试端 BW-3010B测试技术指标：1、光电传感器指标:输入正向压降(VF)测试范围分辨率精度测试条件0-2V2mV1%+2RD0-1000MA反向电流(Ir)测试范围分辨率精度测试条件0-200UA0.2UA2%+2RDVR:0-20V集电极电流(Ic)测试范围分辨率精度测试条件0-40mA0.2MA1%+2RDVCE:0-20V IF:0-40MA输出导通压降(VCE(sat))测试范围分辨率精度测试条件0-2.000V2mV1% +5RDIC：0-40mAIF:0-40mA输出漏电流(Iceo)测试范围分辨率精度测试条件0-2.000mA2UA2%+2RDVR:0-20V2、光电耦合器：耐压(VCEO)测试指标测试范围分辨率精度测试条件0-1400V1V2%+2RD0-2mA输入正向压降(VF)测试范围分辨率精度测试条件0-2V2mV1%+2RD0-1000MA反向漏电流(ICEO)测试范围分辨率精度测试条件0-2000uA1UA5% +5RDBVCE=25V反向漏电流(IR)测试范围分辨率精度测试条件0-2000uA1UA5% +5RDVR=0-20V电流传输比(CTR)测试范围分辨率精度测试条件0-99991%1% +5RDBVCE：0-20VIF:0-100MA输出导通压降(VCE(sat))测试范围分辨率精度测试条件0-2.000V2mV1% +5RDIC：0-1.000AIF:0-1.000A可分档位总数：10档 BW-3010B测试定义与规范：AKEC:表示引脚自左向右排列分别为 光耦的,A K E C极.VF:IF: 表示测试光耦输入正向VF压降时的测试电流.Vce:Bv:表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压.Vce:Ir: 表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流.CTR:IF:表示测试光耦传输比时输入端的测试电流。CTR:Vce:表示测试光耦传输比时输出端的测试电压。Vsat:IF:表示测试光耦输出导通压降时输入端的测试电流。Vsat:Ic:表示测试光耦输出导通压降时输出端的测试电流。

监视器附件 6SY8101-0AA31干扰抑制滤波器 6SB2076-4AA00-0AA0干扰抑制滤波器 6SY8101-0AA37风扇 6SY8101-0AA66电源变压器 短路器 6SY8101-0AA77风扇 6SY8101-0AB06风扇 6SL3994-0FX05-0AA0干扰抑制滤波器 6SY8101-0AC00风扇 6SL3994-0FX03-0AA0制动电阻 6SY8101-0AC07SITOR 模块 6QA5111-0AK21闸流晶体管 6SB2071-0AA00-0AA0闸流晶体管 6SB2071-1AA00-0AA0晶闸管 6SD2180-3AA0闸流晶体管 6SB2071-4BA00-0AA0闸流晶体管 6SB2071-6AA00-0AA0闸流晶体管 6SB2071-7AA00-0AA0变压器 6SB2072-1AA00-0AA0电流互感器 6SB2072-4AA00-0AA0电流互感器 6SB2072-5AA00-0AA0电流互感器 6SB2072-5BA00-0AA0电流互感器 6SB2072-6AA00-0AA0电容器 6SB2073-3DA00-0AA0闸流晶体管 6SD2180-1AA0闸流晶体管 6SD2180-2AA0风扇 6SL3994-0FX04-0AA0闸流晶体管 6SD2180-5AA0闸流晶体管 6SD2180-6AA0电流实际值转换器 6SD2181-2AA0变压器 6SD2181-4AA0电泳放电器面板 6SD2182-0AA0电泳放电器面板 6SD2182-1AA0电泳放电器面板 6SD2182-2AA0电泳放电器面板 6SD2182-3AA0径流式风扇 6SL3944-0FX00-0AA0晶闸管 6SL3953-6PX00-0AA0

微电脑晶体管焊接电源是电阻焊接里面最理想的焊接电源，主机采用高速微处理器控制，控制精度高，时间响应快， 工作模式丰富，它具有电流上升快、输出电流稳定、熔接处于两焊接接触面，被焊接处氧化少、焊接自检等主要特性，主要用于 锂离子电池组焊接、动力电池、电动工具电池焊接之用，是保证高品质焊接必选机型。整机电源全为开关电源控制，电源适应能力强。SWT-1418点焊机专用于圆柱电芯底部电极焊接。单针对焊，底部电 极固定于带滑动块的支撑体上，点焊时手拿电芯钢壳轻推其滑块将待 焊接电芯套入上部焊针上，启动焊接完成焊接过程。规格型号:SWT-1418电流：4000A焊接能力：0.01-0.15驱动形式：气动焊接时间：1.0-3.0mS焊接电流：0-99%电极直径：φ3/φ6输入电源：AC220V±10%/50Hz

SWT系列点焊机采用最先进晶体管电源，它具有瞬间大功率焊接功能。是目前电阻焊接工艺中最理想的焊接方法，它能达到瞬间完 成焊接的目的，使得焊接物品具有焊接牢固，焊点美观无氧化发黑现象，由于焊接时间极短，焊接热能量小，对焊件的影响和伤 害甚微。该机采用微电脑控制，各项参数键盘设置，LCD显示各项参数和状态，使得该机具有很好的易用性。它广泛用于锂电池 制造和精密五金件制造焊接工序。SWT-2119/2419晶体管点焊机适用于动力锂电池组连接片的焊接、五金件焊接，广泛用于新能源汽车、电动车生产。1、规格型号:SWT-2119电流：8000A焊接能力：0.01mm-0.25mm驱动形式：气动/脚踏焊接时间：1.0-4.0mS焊接电流：0-99%电极直径：φ6输入电源：AC220V±10%/50Hz2、规格型号:SWT-2419电流：8000A焊接能力：0.01mm-0.25mm驱动形式：气动/脚踏焊接时间：1.0-4.0mS焊接电流：0-99%电极直径：φ6输入电源：AC220V±10%/50Hz

SWT系列点焊机采用最先进晶体管电源，它具有瞬间大功率焊接功能。是目前电阻焊接工艺中最理想的焊接方法，它能达到瞬间完 成焊接的目的，使得焊接物品具有焊接牢固，焊点美观无氧化发黑现象，由于焊接时间极短，焊接热能量小，对焊件的影响和伤 害甚微。该机采用微电脑控制，各项参数键盘设置，LCD显示各项参数和状态，使得该机具有很好的易用性。它广泛用于锂电池 制造和精密五金件制造焊接工序。单针对焊点焊机主要用于五金片、软包电池极耳加电子线焊接、五金件焊线以及保护片的焊接 规格型号:SWT-1116大电流：4000A焊接能力：0.01-0.15驱动形式：脚踏焊接时间：1.0-3.0mS焊接电流：0-99%电极直径：φ3/φ6输入电源：AC220V±10%/50Hz

SWT系列点焊机采用最先进晶体管电源，它具有瞬间大功率焊接功能。是目前电阻焊接工艺中最理想的焊接方法，它能达到瞬间完 成焊接的目的，使得焊接物品具有焊接牢固，焊点美观无氧化发黑现象，由于焊接时间极短，焊接热能量小，对焊件的影响和伤 害甚微。该机采用微电脑控制，各项参数键盘设置，LCD显示各项参数和状态，使得该机具有很好的易用性。它广泛用于锂电池 制造和精密五金件制造焊接工序。该机为单脚踏驱动双针点焊机，不用气源，只需电源，操作简单灵活，应用于：扣式电池连接片焊接、五金件焊接、数码电池连接片的焊接、动力电池组合。 1、规格型号：SWT-2118电流：4000A焊接能力：0.01mm-0.15mm驱动形式：气动/脚踏焊接时间：1.0-3.0mS焊接电流：0-99%电极直径：φ3输入电源：AC220V±10%/50Hz 2、规格型号：SWT-2418电流：4000A焊接能力：0.01mm-0.15mm驱动形式：气动焊接时间：1.0-3.0mS焊接电流：0-99%电极直径：φ3输入电源：AC220V±10%/50Hz

EN-2005C 功率器件综合测试系统（大功率晶体管特性曲线图示仪）系统概述西安易恩电气 EN-2005C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统，本系统可自动生成功率器件的I-V曲线，也可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统在失效分析，IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来，数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究，是一款高效多功能的高端半导体测试设备。本系统使用方便，只需要通过USB或者RS232与电脑连接，通过电脑中友好的人机界面操作，即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL和WORD的格式保存。系统提供过电保护功能，门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。对诊断设备状态和测试结果提供了可靠地保证。系统软件支持器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为Windows或WindowsNT的PC机上USB接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成，具有全屏显示和增强型编辑帮助。 一种填空式编程方法向用户提供简明、直观的使用环境。操作人员只需在提示下，输入所选器件系列名称和测试类型，并选择所需测试的参数，而不必具有专业计算机编程语言知识。完成一个器件的测试程序编制只需几分钟的时间，非常快捷方便。概述EN-2005C测试系统通过PC机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制，达到对器件进行测试的目的。在一定的测试条件下，这些源与条件负载按照条件准确的连接，其中包含了大量的负载、转换功率源和所要求的外部测试线路。测试系统特点 IV曲线显示/局部放大 程序保护电流/电压,以防损坏 品种繁多的曲线 可编程的数据点对应 增加线性或对数 可编程延迟时间可减少器件发热 保存和重新导入入口程序 保存和导入之前捕获图象 曲线数据直接导入到EXCEL 曲线程序和数据自动存入EXCEL 程序保护电流/电压,以防损坏测试范围广（19总大类，27分类）系统规格及技术指标主极电压： 1mV-2000V电压分辨率： 1mV主极电流： 0.1nA-50A扩展电流： 100A电流分辨率： 0.1nA测试精度： 0.2%+2LSB测试速度： 0.5mS/参数工作温度：25℃--40℃ 工作湿度：45%--80% 贮存湿度：10%--90% 工作电压：200v--240v 电源频率：47HZ--63HZ 通信接口：RS232 USB 系统功耗：150w设备尺寸：450mm×570mm×280mm质 量： 35KG 测试范围测试范围 / 测试参数序号测试器件测试参数01二极管DIODEIR；BVR ；VF02晶体管（NPN型/PNP型）ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF03J型场效应管J-FETIGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF04MOS场效应管 MOS-FETIDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS05双向可控硅TRIACVD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-06可控硅SCRIDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH07绝缘栅双极大功率晶体管IGBTICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS08硅触发可控硅STSIH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ； VPK-；VGSW+；VGSW-09达林顿阵列DARLINTONICBO； ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES ；BVCBO；BVEBO；hFE ；VCESAT； VBESAT；VBEON10光电耦合OPTO-COUPLERICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode)11继电器RELAYRCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME12稳压、齐纳二极管ZENERIR；BVZ；VF；ZZ13三端稳压器REGULATORVout；Iin；14光电开关OPTO-SWITCHICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF15光电逻辑OPTO-LOGICIR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF16金属氧化物压变电阻MOVID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ；17固态过压保护器SSOVPID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+ IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ- 18压变电阻VARISTORID+； ID-；VC+ ；VC-19双向触发二极管DIACVF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,

西门子CPUST30晶体管输出模块6ES7288-1ST30-0AA0S7-200 SMART，CPU ST30，标准型 CPU 模块，晶体管输出，24 V DC 供电，18 输入/12 输出上海斌勤电气技术有限公司 业务经理；康工竭诚为你服务，急你所需、公司地址：上海市松江区三新北路1800弄（电子商务园）24号楼5005室所售均为西门子原装全新未开封产品，图片仅供参考,一切以型号为准，实物保证全新，敬请放心购买.本公司销售的产品一律（全新原装*假一罚十*质保一年） 本公司可以签约正式的销售合同，并可以开具16%票、如需票，税点另算。S7-200接地指南对于您的应用，佳的接地方案应该确保S7-200及其相关设备的所有接地点在一点接地。这个单独的接地点应该直接连接到大地。为了提高抗电子噪声保护特性，建议将所有直流电源的公共点连接到同一个单一接地点上。同样建议将24 VDC传感器供电的公共点(M)接地。所有的接地线应该尽量短并且用较粗的线径(2 mm2或者14 AWG)。当选择接地点时，应当考虑安全接地要求和对隔离器件的适当保护。S7-200接线指南在设计S7-200的接线时，应该提供一个单独的开关，能够同时切断S7-200CPU、输人电路和输出电路的所有供电。提供熔断器或断路器等过流保护装置来限制供电线路中的电流。您也可以为每一输出电路都提供熔断器或其它限流设备作为额外的保护。在有可能遭受雷击浪涌的线路上安装浪涌抑制器件。避免将低压信号线和通讯电缆放在与AC导线和高能量、快速转换的DC导线相同的线盒中。应始终成对布线，导线采用中性导线或通用导线，并用热电阻线或信号线进行配对。导线尽量短并且保证线粗能够满足电流要求。端子排适合的线粗为2 mm2到0.3 mm2(14 AWG到22AWG)。使用屏蔽电缆可以得到的抗电子噪声特性。通常将屏蔽层接地可以得到佳效果。当输人电路由一个外部电源供电时，要在电路中添加过流保护器件。如果使用S7-200 CPU上的24VDC传感器供电电源，则无需额外添加过流保护器件，因为此电源已经有限流保护。大多数的S7-200模块有可拆卸的端子排。（附录A中标明了哪些模块有端子排)。为了防止连接松动，要确保端子排插接牢固，同时也要确保导线牢固地连接在端子排上。为了避免损坏端子排，螺钉不要拧得太紧。螺钉连接的扭矩为0.56N-m (5 inch-pounds)。为了避免意想不到的电流流人系统，S7-200在合适的部分提供电气隔离。当您设计系统走线时，应考虑这些隔离。附录A中给出了电路中包含哪些隔离及它们的隔离级别。级别低于1500 VAC的隔离不能作为安全隔离。提示在通讯网络中，如果不使用中继器，通讯电缆的长度为50m。S7-200的通讯口是不隔离的。详细内容参见第7章。藝告使用与交流电路不隔离或者单隔离的电源给低压电路供电，会在安全电路，例如通讯电路或者低压传感器电路中产生不安全电压。这种高电压会导致死亡或者严重的人身伤害和设备损坏。只使用经过安全认证的高低压变换器。21S7-200可编程序控制器系统手册感性负载设计指南在使用感性负载时，要加人抑制电路来限制输出关断时电压的升高。抑制电路可以保护输出点不至于因为高感抗开关电流而过早的损坏。另外，抑制电路还可以限制感性负载开关时产生的电子噪声。提示您应该根据具体情况，选择合适的抑制电路。要确保所有器件参数与实际应用相符合。直流输出和控制直流负载的继电器输出直流输出有内部保护，可以适应大多数场合。由于继电器型输出既可以连接直流负载，又可以连接交流负载，因而没有内部保护。图3-3给出了直流负载抑制电路的一个实例。在大多数的应用中，用附加的二极管A即可，但如果您的应用中要求更快的关则推荐您加上齐纳二极管B确极管能够满足输出电路的电流要求。图3-3直流负载的抑制电路输出点A- I1N4001二极管或类似器件B-直流输出选8.2V齐纳二极管继电器输出选36V齐纳二极管交流输出和控制交流负载的继电器输出交流输出有内部保护，可以适应大多数场合。由于继电器型输出既可以连接直流负载，又可以连接交流负载，因而没有内部保护。图3-4给出了交流负载抑制电路的一个实例。当您采用继电器或交流输出来切换115 V/230 V交流负载时，交流负载电路中请采用该图所示的电阻/电容网络。您也可以使用金属氧化物可变电阻器(MOV)来限制峰值电压。确保MOV的工作电压比正常的线电压至少高出20%。藝告当继电器扩展模块用于切换AC感性负载时，外部电阻/电容器噪声抑制电路必须放在AC负载上，防止意外的机器或过程操作。参见图3-4。.1 ^ F100至120 Q图3-4交流负载的抑制电路灯负载设计指南灯负载会因高的接通浪涌电流而造成对继电器触点的损坏。对于一个钨丝灯，其浪涌电流实际上将是其稳态电流大小的10到15倍。对于使用期内高切换次数的灯负载，建议使用可替换的插人式继电器或加人浪涌限制器。22PLC的基本概念S7-200的基本功能是监视现场的输人，根据您的控制逻辑去控制现场输出设备的接通和关断。本章为您解释有关程序执行、存储器种类以及存储器掉电保持等方面的一些概念。在本章中理解S7-200如何执行您的控制逻辑................................. 24访问S7-200的数据........................................ 27理解S7-200如何保存和恢复数据.................................. 36选择S7-200 CPU的操作模式.................................. 40使用S7-200资源管理器..................................... 41S7-200的特征......................................... 4123S7-200可编程序控制器系统手册理解S7-200如何执行您的控制逻辑S7-200周而复始地执行程序中的控制逻辑和读写数据。S7-200将您的程序和物理输入输出点联系起来S7-200的基本操作非常简单：□CPU读取输人状态□CPU中存储的程序利用输人执行控制逻辑。当程序运行时，CPU刷新有关数据。□CPU将数据写到输出。图4-1给出了一个简图，说明一个继电器图如何与S7-200联系起来。在本例中，电机启动开关的状态和其他输人点的状态结合在一起。它们计算的结果，最终决定了控制执行机构启动电机的输出点状态。启动_PBE_#M_启动器- )电机启/停开关图4-1输人和输出的控制S7-200在扫描循环中完成它的任务S7-200周而复始地执行一系列任务。任务循环执行一次称为-描周期中，S7-200将执行部分或全部下列操作：十扫描周期。如图4-2所示，在一个扫读取输人：S7-200将实际输人的状态复制到过程映像输人寄存器。执行程序中的控制逻辑：S7-200执行程序指令，并在不同的存储区存储数值。S7-200执行通讯所需的所有处理通讯请求：任务。执行CPU自检诊断：S7-200可确保固件、程序存储器和所有扩展模块正确工作。写人输出：将存储在过程映像输出寄存器中的数值写人到实际输出。图4-2S7-200扫描周期用户程序的执行取决于S7-200是处于STOP模式还是RUN模式。在RUN模式中，执行程序；在STOP模式中，不执行程序。24PLC的基本概念第4章读取输入数字量输人:每个扫描周期从读取数字量输人的当前值开始，然后将这些值写人到过程映像输人寄存器。模拟量输人:除非启用了模拟量输人过滤，否则，S7-200在正常扫描周期中不更新来自扩展模块的模拟量输人。模拟量滤波会使您得到较稳定的信号。可以启用每个模拟量输人通道的滤波功能。当您启用了模拟量输人滤波功能后，S7-200会在每一个扫描周期刷新模拟量、执行滤波功能并且在内部存储滤波值。当程序中访问模拟量输人时使用滤波值。如果没有启用模拟量输人滤波，则当程序访问模拟量输人时，S7-200都会直接从扩展模块读取模拟值。在每次扫描期间，CPU224XP的AIW0和AIW2模拟量输人都会读取模-数转换器生成的值，从而完成刷新。该转换器求取的是均值(sigma-delta),因此通常无需软件滤波。提示模拟量滤波会使您得到较稳定的信号。在模拟量输人信号随时间变化缓慢时使用模拟量输人滤波。如果信号变化很快，不应该选用模拟量滤波。不要对在模拟量字中传递数字信息或者报警指示的模块使用模拟量输人滤波。对于RTD、TC和ASI主站模块，不能使用模拟量输人滤波。执行程序在扫描周期的执行程序阶段，CPU从头至尾执行应用程序。在程序或中断程序的执行过程中，立即I/O指令允许您直接访问输人与输出。如果在程序中使用子程序，则子程序作为程序的一部分存储。当由主程序、另一个子程序或中断程序调用时，则执行子程序。从主程序开始时子程序嵌套深度是8,从中断程序开始时子程序嵌套深度是1如果在程序中使用了中断，与中断事件相关的中断程序就作为程序的一部分被存储。中断程序并不作为正常扫描周期的一部分来执行，而是当中断事件发生时才执行（可能在扫描周期的任意点)。为11个实体中的每一个保留局部存储器：当从主程序开始时，为1个主程序、8个子程序嵌套级别；当从中断程序开始时，为1个中断和1个子程序嵌套级别。局部存储器有一个局部范围，在该范围内它只能供其相关的程序实体使用，其他程序实体无法访问。有关局部存储器的更多信息，请参见本章中的局部存储区：L。图4-3描述了一个典型的扫描流程，该流程包括局部存储器应用和两个中断事件(一个事件发生在程序执行阶段，另一个事件发生在扫描周期的通讯阶段)。子程序由下一个较高级别调用，并在调用时得到执行。不调用中断程序；中断程序是发生相关中断事件的结果。

西门子CPUST40晶体管输出模块6ES7288-1ST40-0AA0S7-200 SMART，CPU ST40，标准型 CPU 模块，晶体管输出，24 V DC 供电，24 输入/16 输出 上海斌勤电气技术有限公司 高级业务顾问；康晓肆竭诚为你服务.所有产品均为西门子全新原装，所有产品非人为损坏质保一年，（烧坏、客户保管不善）。全新原装，千万库存。本公司宗旨：本着以诚信为本，以顾客为中心，让顾客满意，创造一个舒心的购物环境因为诚信所以简单，成交只是开始，服务永不止步。原装承诺,诚信服务,价格实惠.本店所售均为西门子原装全新未开封产品，图片仅供参考,一切已型号为准，实物保证全新，敬请放心购买！量大价优，欢迎选购！S7-200可编程序控制器系统手册模拟量输出：AQS7-200把1个字长(16位)数字值按比例转换为电流或电压。可以用区域标识符(AQ)、数据长度(W)及字节的起始地址来改变这些值。因为模拟量为一个字长，且从偶数字节(如0、2、4)开始，所以必须用偶数字节地址(如AQWO、AQW2、AQW4)来改变这些值。模拟量输出值是只写数据。格式：AQW[起始字节地址]AQW4顺序控制继电器(SCR)存储区：SSCR或S位用于组织机器操作或者进人等效程序段的步骤。SCR提供控制程序的逻辑分段。可以按位、字节、字或双字来存取S位。位:SI字节地址.〖位地址S3.1字节、字或双字：S[大小K起始字节地址SB4实数的格式实数(浮点数)由32位单精度数表示，其格式按照ANSI/IEEE 754-1985标准中所描述的形式，参见图4-9。实数按照双字长度来存取。对于S7-200来说，浮点数精确到小数点后第六位。因而当您使用一个浮点数常数时，最多可以指定到小数点后第六位。MSB31 3023 22LSB0指数尾数符号位图4-9实数的格式S实数运算的精度在计算中涉及到非常大和非常小的数，则有可能导致计算结果不精确。例如数值相差10的x次方倍，而x6时。例如:100 000 000 + 1 = 100 000 000字符串的格式字符串指的是一系列字符，每个字符以字节的形式存储。字符串的一个字节定义了字符串的长度，也就是字符的个数。4-10给出了一个字符串的格式。一个字符串的长度可以是0到254个字符，再加上长度字节，一个字符串的长度为255个字节。而一个字符串常量的长度为126字节。长度宇符1宇符2宇符3宇符4宇符254字节0字节1字节2字节3字节4字节254图4-10字符串的格式32PLC的基本概念第4章在S7-200指令中输入常数值在S7-200的许多指令中，都可以使用常数值。常数可以是字节、字或者双字。S7-200以二进制数的形式存储常数，可以分别表示十进制数、十六进制数、ASCII码或者实数(浮点数)。见表4-2。表4-2常数表示法数制格式举例十进制[十进制值]20047十六进制16#[十六进制值]16#4E4F二进制2#[二进制数]2#1010_0101_1010_0101ASCII码’[ASCII码文本]’!ABCD!实数ANSI/IEEE 754-1985+1.175495E-38 (正数)-1.175495E-38 (负数）字符串“[字符串文本]”“ABCDE”提示S7-200CPU不支持数据类型检测(例如指定常数存储为一个整数、有符号整数或者双整数)。例如：可以在加法指令中使用VW100中的值作为有符号整数，同时也可以在异或指令中将VW100中的数据当作无符号的二进制数。本地I/O和扩展I/O的寻址CPU提供的本地I/O具有固定的I/O地址。您可以将扩展模块连接到CPU的右侧来增加I/O点，形成I/O链。对于同种类型的输人输出模块而言，模块的I/O地址取决于I/O类型和模块在I/O链中的位置。举例来说，输出模块不会影响输人模块上的点地址，反之亦然。类似的，模拟量模块不会影响数字量模块的寻址，反之亦然。提示数字量模块总是保留以8位(1个字节)增加的过程映像寄存器空间。如果模块没有给保留字节中每一位提供相应的物理点，那些未用位不能分配给I/O链中的后续模块。对于输人模块，这些保留字节中未使用的位会在每个输人刷新周期中被清零。模拟量I/O点总是以两点增加的方式来分配空间。如果模块没有给每个点分配相应的物理点，则这些I/O点会消失并且不能够分配给I/O链中的后续模块。33S7-200可编程序控制器系统手册图4-11中是一个特定的硬件配置中的I/O地址。地址间隙(用灰色斜体文字表示)无法在程序中使用。CPU224XP4输入/4输出8输入4模拟霣输入 1模拟量输出8输出I0.0Q0.0■0.1Q0.1I0.2Q0.2I0.3Q0.3I0.4Q0.4I0.5Q0.5I0.6Q0.6I0.7Q0.7I1.0Q1.0I1.1Q1.1I1.2Q1.2I1.3Q1.3I1.4Q1.4I1.5Q1.511.6Q1.611.7Q1.7AIWAAQW0AIWAAQW2本地丨/O扩展I/O模块0模块1模块2模块3I2.0Q2.0I3.0AIW4AQW4Q3.0I2.1Q2.1I3.1AIW6AQW6Q3.1I2.2Q2.2I3.2AIW8Q3.2I2.3Q2.3I3.3AIW10Q3.312.4Q2.4I3.4Q3.412.5Q2.5I3.5Q3.512.6Q2.6I3.6Q3.612.7Q2.7I3.7Q3.7模块4AIW12 AQW8AIW14 AQW10AIW16AIW18图4-11CPU224XP的本地和扩展I/O地址举例用指针对S7-200存储区间接寻址间接寻址是指用指针来访问存储区数据。指针以双字的形式存储其他存储区的地址。只能用v存储器、L存储器或者累加器寄存器(AC1、AC2、AC3)作为指针。要建立一个指针，必须以双字的形式，将需要间接寻址的存储器地址移动到指针中。指针也可以作为参数传递到子程序中。S7-200允许指针访问下列存储区：I、Q、V、S、AI、AQ、SM、T (仅当前值)和C (仅当前值)。无法用间接寻址的方式访问单独的位，也不能访问HC或者L存储区。要使用间接寻址，应该用符号加上要访问的存储区地址来建立一个指针。指令的输人操作数应该以符号开头来表明是存储区的地址，而不是其内容将移动到指令的输出操作数(指针)中。当指令中的操作数是指针时，应该在操作数前面加上“号。如图4-12所示，输人*AC1指定AC1是一个指针，MOVW指令决定了指针指向的是一个字长的数据。在本例中，存储在VB200和VB201中的数值被移动到累加器AC0中。V199V200V201V202V203AC1VW200的地址AC012 3 4图4-12创建和使用指针MOVD &VW200, AC1将VB200的地址(VW200的起始地址)作为指针存人ACMOVW *AC1, AC0将AC1所指向的字(VW202)中的值送人AC034PLC的基本概念第4章如图4-13所示，您可以改变一个指针的数值。由于指针是一个32位的数据，要用双字指令来改变指针的数值。简单的数学运算，如加法指令或者增加指令，可用于改变指针的数值。MOVD &VW200, AC1将VB200的地址(VW200的起始地址)作为指针存人AC1中。MOVW *AC1, AC0将AC1所指向的字(VW200)中的值送人AC0+D +2, AC1将AC1中的数值加2指向下一个字MOVW *AC1, AC0将AC1所指向的字(VW202)中的值送人AC0图4-13改变指针V199V200V201V202V203V199V200V201V202V203提示切记调整所访问数据的大小：访问字节时，指针值加1 访问字或定时器或计数器的当前值时，指针值加2 访问双字时，指针值加4。用地址偏移量来访问V存储区数据的范例程序本例中用LD10作为VB0的地址指针。然后可以利用VD1004中存储的地址偏移量来改变指针值。经过改变后，LD10指向V区中的另外一个地址(VB0 +偏移量)。然后将LD10指向的V区地址中存储的数值复制到VB1900中。通过改变VD1004中的数值，您可以访问V存储器中的任意单元。Network 1 //如何使用偏移量读取//所有VB位置的数值：//1.将V存储器的起始地址装载到指针中。//2.将偏移量值添加到指针中。//3.将V存储器位置(偏移量)中的数值复制到VB1900。LDSM0.0MOVD &VB0, LD10+DVD1004, LD10MOVB *LD10, VB190035S7-200可编程序控制器系统手册用指针访问数据表的范例程序本例中用LD14作为指向一个配方表的指针，配方表的起始地址为VB100。在本例中VW1008用来存储一个指定的配方在表中的索引号。如果每条配方的长度为50个字节，则用这个索引号乘以50就可以得到这条配方起始地址的偏移量。用指针加上偏移量，您就可以访问表中的每一条配方。在本例中，配方被复制到从VB1500开始的50个字节中。Network 1 //如何从配方表传送配方：//-每个配方的长度为50个字节。-索引值(VW1008)指定装载哪一条配方。//1.创建一个指向配方表// 起始地址的指针。//2.将配方的索引转换为//双字值。//3.増加偏移量，以容纳//每个配方的大小。//4.将调节后的偏移量添加到指针中。//5.将选定的配方传送到//VB1500至 VB1549。LDSM0.0MOVD&VB100, LD14ITDVW1008, LD18*D+50, LD18+DLD18, LD14BMB *LD14, VB1500, 50

X射线自动定向仪是根据市场对晶体角度测量越来越高的精度要求而推出的手动定向仪的升级产品，它是利用X射线衍射原理，设计制造的光，机，电三为一体精密仪器，能快速地测定天然和人造晶体（压晶体管、光学晶体、激光晶体、半导体晶体）的晶面，可与各种切割、研磨等加工设备配套使用。是精密加工制造晶体器件不可缺少的仪器，上述各种晶体的定向与切割。广泛适用于各种晶体材料加工行业和科研院校。 技术特点： 1. 采用进口PLC控制，自动化程度高、故障率极低、抗干扰能力强、系统稳定性好。 2. 全中文人机界面，7英寸TFT触摸屏，接口直观、操作简单。 3. 自动测角扫描方式，并采用进口高分辨率编码器，大大提高测量精度，规避了人工测量的读数误差，极大降低了操作者的劳动强度和操作难度。 4. 测量方式灵活，只需轻触触摸屏或踩脚踏开关，二者任选。 5. 自动标晶校对准确方便、自动扫描10次，取平均值。 6. 满足客户不同需求，设置单点、两点、四点测量模式。 7. 显示可在任一位置调零，便于显示晶体片角度偏差值。 8. 具有峰值放大的特殊积分器，采用高压模块器件，提高检测精度。 9. 模块化的电子线路，射线管高压电缆一体结构，使用维修简单。 10. 自动控制关闸设计，只在必要时打开，安全方便无隐患。 11. 可根据被测样品不同，定制各种样品台，保证测量精度和使用的方便性。 技术参数： 本技术参数根据中华人民共和国机械行业标准，JB/5482 —91 1)、使用条件： 1) 海拔不超过1000米 （超过1000.米、客户与制造厂协商解决） 2) 环境温度+5°~+35°C ； 3) 相对湿度不得大于75%,(如超过此湿度必须采取相应措施)； 4) 单相交流220V，50HZ 5A，电源电压波动不大于±10%，容量不低0.5KW ； 5) 有良好的接地装置，接地电阻不应大于4Ω； 6) 供电线路中不得有电焊机，高频炉等设备引起的高频和电弧干扰。 2、技术指标： (1) X射线发生器部分 输入电源：单相交流220V、50HZ、0.5KW； X射线管：铜靶阳极接地，强迫风冷； X管电压：-30KVP，全压合闸； X管电流：0~5mA，连续可调； 功 率：总功率不大于0.5KW； 保 护：自动光闸、高压连锁、温度保护； 静态检测精度：≤±10″ （用标准石英片SIO2、1011面）（θ：13°20′）（2θ：26°40′） (2) 测 角 仪 部 分： 样品台转角度：θ，0~+55°； 计数器转角度：2θ，0°~+100°； 狭 缝：发散度为4′.5′.6′插入式； (3) 触 摸 屏： 角度最小读值：1″； 数字显示：度、分、秒。 角 度 调 整：数字显示可予置任何角度值。 （3）记录部分： 计 数 管：GJ5101盖革计数管工作电压0~1100V 。 强度显示；微安表显示被测晶体角强度值。 （4）外型尺寸：1150（长）×650（宽）×1500（高）。 （5）重 量：约200Kg。

产品概要：半导体曲线图示仪集漏电流与大电流为一体，可自动测试。基本信息：CS5000系列（5kV）：适合于测试耐压3,300V的功率模块的衰减特性CS3000系列（3kV）：适用于IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体特性测试的标准型号模拟式曲线图示仪（10kV~）：适用于高电压二极管、SCR等的耐压测试CS10000系列（10kV、12kV、15kV）：超高电压・ 大电流 在CS-3100基础上加载UHV与HC技术优势：1、简单易用，追求人性化的先进功能采用电路图模式显示内部的配线状态「CONFIGURATION」具有能确认实际印加电流/电压波形的Wave模式2、与电脑完美结合的全自动化半导体参数测试软件 CS-810（选用件）通过对主机的远程控制，可实现各种自动测试的软件。传统上通过曲线图示仪难以进行的疲劳试验、加热实验或同时控制恒温箱进行多温度点实验都可使用本软件来实现。USB存储器可用来保存图像、数据及设置条件。图像可以保存为TIFF,BMP,PNG格式背景可选择黒或白、图像可选择彩色或黑白。波形数据可同时保存为文本文件和二进制文件。远程控制工具（无偿）如因保密需要无法使用USB存储器时，可以通过安装在电脑中的远程控制工具进行数据存取。SWEEP，测试点数可调整。可根据需要的扫描速度及分辨率来设置。根据不同用途可改变扫描方向。同时具有客户指定功能，可以指定仅对某一段进行扫描。特别是在自动测试时可以实现高速且高分辨率的测试。Vth･ hFE自动检测功能（选用件CS-800）可在条件设定后进行自动测试，避免了之前的繁杂操作。限制扫描功能（选用件CS-800）在一般的扫描测试中加入电流、电压的限制功能。 限制在被测模块上印加的电流值、电压值，以起到保护作用。也可在达到目标值时停止扫描。3、简单易用的基本操作采用独立旋钮CONSTANT功能（选用件CS-800）可印加规定电压或规定电流。与半导体参数测试软件CS-810配合使用时，可使用半导体曲线图示仪进行自动疲劳试验。主要应用：适用于无论大小容量的IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体的特性测试。

ST-SP 2002_5半导体管测试仪可测试 19大类27分类 大中小功率的 分立器件及模块的 静态直流参数（测试范围包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）主极输出 2000V / 50~1250A，分辨率高至1mV / 10pA支持曲线扫描图示功能 ? 产品应用应用领域军工院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……主要用途? 测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试）? 失效分析（对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 ）? 选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）? 来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）? 产线自动化测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试） ? 产品简述 产品扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。 曲线追踪仪（晶体管图示仪）功能则是利用高速ATE测试步骤逐点生成曲线，可快速而准确地生成精确的数据点。数据增量是可编程的线性或对数，典型的每步测试时间为6到20ms。一个两百条数据点曲线通常只需几秒钟就能完成。使用该系列跟踪仪更容易获取诸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFETRDSvs. VGS 等曲线数据。此外， 针对多条曲线，设备可以根据每条曲线的数据运行并将所获数据自动发送到一个单独的 Excel 工作表。系统能够更快，更简洁的创建曲线（单击，双击，选择输入菜单，单击）。就是这么简单。 设备支持在单个 DUT 上运行高达 10 条不同曲线的能力，在运行过程中，每个图表都是可视的，每个数据集都被加载到一个被命名的 Excel 工作表中。系统运行速度快，可进行数据记录，提供更高级的数据工具箱，能够运行多条曲线并自动排序，自动将数据存入 Excel 表格，具有缩放功能，光标重新运行功能以及其他许多优点。 系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。? 产品特点?测试范围广（19大类，27分类）?升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A?采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300us?被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试, 保证被测器件不受损坏?真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导 ，其结果与器件实际值偏差很大）?系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排障?二极管极性自动判别功能，无需人工操作?IV 曲线显示 / 局部放大?程序保护电流/电压,以防损坏 ?品种繁多的曲线?可编程的数据点对应 ? 增加线性或对数?可编程延迟时间可减少器件发热 ?保存和重新导入入口程序?保存和导入之前捕获图象 ?曲线数据直接导入到 EXCEL?曲线程序和数据自动存入 EXCEL ? 测试能力序号测试器件测试参数01IGBTICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS02MOSFET / MOS场效应管 IDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS03J-FET / J型场效应管IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF04晶体管（NPN/PNP）ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF05DIODE / 二极管IR；BVR ；VF06ZENER / 稳压、齐纳二极管IR；BVZ；VF；ZZ07DIAC / 双向触发二极管VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,08OPTO-COUPLER / 光电耦合ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode)09RELAY / 继电器RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME10TRIAC / 双向可控硅VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-11SCR / 可控硅IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH12STS / 硅触发可控硅IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；VPK-；VGSW+；VGSW-13DARLINTON / 达林顿阵列ICBO；ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES；BVCBO；BVEBO；hFE；VCESAT；VBESAT；VBEON14REGULATOR / 三端稳压器Vout；Iin；15OPTO-SWITCH / 光电开关ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF16OPTO-LOGIC / 光电逻辑IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF17MOV / 金属氧化物压变电阻ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ；18SSOVP / 固态过压保护器ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+ IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ- 19VARISTOR / 压变电阻ID+； ID-；VC+ ；VC-

安捷伦B1505替代品易恩晶体管特性曲线图示仪如何EN-2005C 功率器件综合测试系统系统概述西安易恩电气 EN-2005C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统，本系统可自动生成功率器件的I-V曲线，也可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统在失效分析，IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来，数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究，是一款高效多功能的高端半导体测试设备。本系统使用方便，只需要通过USB或者RS232与电脑连接，通过电脑中友好的人机界面操作，即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL和WORD的格式保存。系统提供过电保护功能，门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。对诊断设备状态和测试结果提供了可靠地保证。系统软件支持器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为Windows或WindowsNT的PC机上USB接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成，具有全屏显示和增强型编辑帮助。一种填空式编程方法向用户提供简明、直观的使用环境。操作人员只需在提示下，输入所选器件系列名称和测试类型，并选择所需测试的参数，而不必具有专业计算机编程语言知识。完成一个器件的测试程序编制只需几分钟的时间，非常快捷方便。概述EN-2005C测试系统通过PC机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制，达到对器件进行测试的目的。在一定的测试条件下，这些源与条件负载按照条件准确的连接，其中包含了大量的负载、转换功率源和所要求的外部测试线路。测试系统特点IV曲线显示/局部放大，程序保护电流/电压,以防损坏，品种繁多的曲线，可编程的数据点对应，增加线性或对数，可编程延迟时间可减少器件发热，保存和重新导入入口程序，保存和导入之前捕获图象，曲线数据直接导入到EXCEL，曲线程序和数据自动存入EXCEL，程序保护电流/电压,以防损坏，测试范围广（19总大类，27分类）系统规格及技术指标 主极电压： 1mV-2000V电压分辨率： 1mV主极电流： 0.1nA-50A扩展电流： 100A电流分辨率： 0.1nA测试精度： 0.2%+2LSB测试速度： 0.5mS/参数工作温度： 25℃--40℃工作湿度： 45%--80%贮存湿度： 10%--90%工作电压： 200v--240v电源频率： 47HZ--63HZ通信接口： RS232 USB系统功耗： 150w设备尺寸： 450mm×570mm×280mm质 量： 35KG测试范围二极管DIODE，晶体管（NPN型/PNP型），J型场效应管J-FET，MOS场效应管 MOS-FET双向可控硅TRIAC，可控硅SCR，绝缘栅双极大功率晶体管IGBT，硅触发可控硅STS达林顿阵列DARLINTON，光电耦合OPTO-COUPLER，继电器RELAY，稳压、齐纳二极管ZENER三端稳压器REGULATOR，光电开关OPTO-SWITCH，光电逻辑OPTO-LOGIC，金属氧化物压变电阻MOV，固态过压保护器SSOVP，压变电阻VARISTOR，双向触发二极管DIAC

一款适用于4英寸及以下晶圆测试的标准探针台，也可用于单个器件，或样片的测试。常用于搭配晶体管图示仪、数字源表或者半导体参数分析仪，对器件的 IV、CV、脉冲/动态 IV 等参数进行测试；可用于测试的器件如：CMOS 晶体管、双极晶体管、分立器件、存储器、功率器件、纳米器件等；应用场景如研发阶段的芯片测试，生产中芯片或晶圆的抽样检测，或是器件可靠性测试等。另有丰富的测试辅助配件供选择，如防震光学平台、测试屏蔽箱、加热控制器等。整个探针台系统占用空间小，操作灵活，简单易用。能满足用户对产品的基本测试要求，是小型实验室，检测部门的不错选择！成都测芯科技有限公司（CHIPTEST）--专业的探针台品牌地址：成都高新西区合作路89号19栋5楼电话：曹经理 (weixin)邮箱：网站：

光敏晶体三极管 光敏晶体三极管用来放大入射光产生的电流。与光电二极管相比，晶体三极管即使在很小的感光面积上也可以产生很大的输出电流。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息！产品图像产品型号产品名称封装封装类型光电流暗电流集电极-发射极电压（最大值）峰值响应波长 S4404-01光敏晶体三极管塑料带透镜2.5 mA100 nA0.4 V870 nm S2829光敏晶体三极管塑料带透镜1 mA100 nA0.4 V850 nm

仪器简介：QCM200是一种非常灵敏的质量检测仪器，其测量精度可达纳克级，比灵敏度在微克级的电子微天平高100倍，理论上可以测到的质量变化相当于单分子层或原子层的几分之一。主要特点：石英晶体微量天平QCM200系统主要由电子振荡电路、频率计数器和压电石英晶体3部分组成。 其工作原理是：利用了石英晶体谐振器的压电特性，将石英晶振电极表面质量变化转化为石英晶体振荡电路输出电信号的频率变化，进而通过计算机等其他辅助设备获得高精度的数据。QMC 所具有的高灵敏度和实时测量质量改变的特点使其在化学和生物医学研究领域的应用备受关注。QCM200是一种非常灵敏的质量检测仪器，其测量精度可达纳克级，比灵敏度在微克级的电子微天平高100倍，理论上可以测到的质量变化相当于单分子层或原子层的几分之一。系统主要由电子振荡电路、频率计数器和压电石英晶体3部分组成。 测量精度为±1.5ppm；最小测量为1ng；频率范围大于5MHz；RS232接口。利用了石英晶体谐振器的压电特性，将石英晶振电极表面质量变化转化为石英晶体振荡电路输出电信号的频率变化，进而通过计算机等其他辅助设备获得高精度的数据。QMC 所具有的高灵敏度和实时测量质量改变的特点使其在化学和生物医学研究领域的应用备受关注。应用选定的SRS QCM100/200文学引文免疫传感器吸附传感器水分测定仪颗粒显示器污染监测电价测量氢吸附在金属薄膜气泡的形成氧化还原和导电聚合物研究双层表征腐蚀研究表面氧化DNA和RNA杂交的研究抗原抗体反应蛋白质吸附检测病毒衣壳，细菌，哺乳动物细胞生物污染和防污生物膜和生物材料蛋白质相互作用自组装单分子膜（SAMs）的分子印迹聚合物（MIP）朗缪尔/ LB膜激光烧蚀，解吸和故障研究基于MEMS的纳米材料智能生物材料

产品系列晶体管图示仪半导体分立器件测试筛选系统静态参数测试（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）动态参数测试（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）环境老化测试（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）热特性测试（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件K曲线测试仪ST-Thermal_Kcurve可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的K曲线扩展功能包括：功率循环秒级&分钟级/Pcsec&PCmin，被动循环/TC，热阻（抗）/Rth/Zth，K曲线/Kcurve ?电路原理简图 说明： Qf为总进线保护断路器，电源电压经过电压调节到主功率变压器，由主功率变压器到整流和滤波单元，产生大功率直流电源。再由电子开关施加到被测单元。图中二极管为隔离二极管，热敏电流单元提供足够大的热敏电流。触发单元施加规定的触发电压，处于导通状态。工控机和PLC智能系统保证设备的正常工作时序和操作人员安全。冷却系统和气路系统保证设备的可靠运行?产品特点? 品类齐全的DUT适配器（针对不同封装外观的器件及模块，提供专用的适配连接装置）；? 系统具有过流、过热、水压不足等保护功能。具有连续工作的特点；? 测试程序由计算机控制，按设定的程序进行自动测试，且系统采用内控和外控两种方式，便于工作人员操作；? 脱机状态时，面板显示每个工位的壳温，试验电流、试验次数、加热时间、冷却时间等；? 器件保护：被测器件及模块的特性变化超过限值后自动停止测试；? 安全稳定（PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）；? 智能化，通过主控计算机进行操控及数据编辑，测试结果自动保存及上传指定局域网；? 安全防护：系统具有防爆、防触电、防烫伤、烟雾、漏液等多重保护，结合远程测试能力确保操作人员安全。? 配有漏电保护器及空气开关，对短路、过载及漏电等情况进行保护，设计符合CE认证；?技术规格

产品名称：硅锗(Si-Ge)晶体基片产品简介：Al2O3（Sapphire,又称白宝石，蓝宝石）有着很好的热特性，极好的电气特性和介电特性，并且防化学腐蚀，它耐高温，导热好，硬度高，透红外，化学稳定性好。广泛用于耐高温红外窗口材料和III-V族氮化物及多种外延薄膜基片材料，为满足日益增长的蓝、紫、白光发光二极管（LED）和蓝光激光器（LD）的需要，科晶公司专业生产高质量的蓝宝石晶体和外延抛光基片，将为您提供大量高质量低价格的单晶和基片。技术参数：单晶: Si-Ge （ wt 2%）导电类型: P type电阻: 7-8 ohm-cm抛光情况：单面抛光 产品规格：常规晶向：100；常规尺寸：dia4″x0.5mm；注：可按照客户要求加工尺寸及方向。标准包装：1000级超净室100级超净袋相关产品：A-Z系列晶体列表等离子清洗机基片包装盒系列切割机旋转涂层机

产品系列晶体管图示仪半导体分立器件测试筛选系统静态参数测试仪（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）动态参数测试仪（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）环境老化测试（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）热特性测试（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件ST-SP3020 功率器件静态参数测试系统用于测试 IGBTs,MOSFETs, Diode,静态直流参数3000V/2000A ?产品简述 ST-SPX系列产品是主要针对半导体功率器件的静态参数测试而开发设计。通过DUT适配器的转换，可实现对各种封装形式的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs 等半导体器件的静态电参数测试，包括器件、模块以及DBC衬板和晶圆。 设备融入了自动化及智能化的设计理念及功能，支持批量上下料并进行全自动测试。用于规模化量产可节省人力并提高测试产能，适合产线量测以及器件研发设计阶段的实验室测试，设备由主控计算机操控，测试数据自动上传以及保存。测试能力包含输出特性、转移特性、击穿特性、漏电流、阈值电压、二极管压降等。产品功能及输出功率进行了模块化设计，满足用户潜在的后期需求，测试电压电流可扩展至10KV/10KA，变温测试支持常温到200℃。?测试能力?产品特点? 产品以2000A为一个电流模块,以1000V为一个电压模块，可升级到10KA/10KV. ? 可以连接探针台做 wafer / chip 测试，也可以安装夹具及适配器做模块测试? 针对不同结构的封装外观，通过更换 DUT适配器即可? 可进行室温~200℃变温测试,也可实现子单元测试功能? 测试软件具有实验模式和生产模式,测试数据可存储为Excel文件? 栅极电阻可任意调整? 系统测试性能稳定,适合大规模生产测试应用（24hr 工作）? 支持半自动和全自动测试? 采用品牌工控机，具有抗电磁干扰能力强，排风量大等特点? 安全稳定（PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）? 自动化，单机测试时只需手动放置DUT，也可连接机械选件实现自动化测试线? 智能化，通过主控计算机进行操控及数据编辑，测试结果自动保存及上传指定局域网? 安全性，防爆，防触电，防烫伤，短路保护等多重保护措施，确保操作人员、设备、数据及样品安全。

Ppxx散装芯片关键词：PPLN晶体,PPLT晶体,PPMGOLN,非线性晶体_PPLN晶体,非线性晶体 基于准相位匹配（QPM），使新的波生成和xx型谱是困难的或不可能的工程实现由传统的非线性材料。xx型芯片和全谱（LN、LT：氧化镁：镁和适当的非线性频率转换计划）（DFG SFG，倍频、OPO，收购，联合，一个CAN，等），实现期望的输出波长（紫外/可见到/从太赫兹光谱反演和特殊功能（），两个频谱转换。频谱工程等）有效。 HCP提供以下全光谱configurations xx型散装芯片来满足你的应用要求和规格。我们可以帮助你设计结构合适的外加电压和外加电压为选定的时间获得所需的材料/ PPLT极化相匹配指定的操作温度和光谱.思考与输入和输出功率/能量/脉冲以及它们的光谱特性。请为您的特殊要求，也具有挑战。Ref-1: Materials and Application Wavelength?Ref-2: Chip StructureRef-3: Conversion ConfigurationRef-4: Dimension and Surface Specification ???

产品系列晶体管图示仪半导体分立器件测试筛选系统静态参数测试（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）动态参数测试（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）环境老化测试（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）热特性测试（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件ST-Thermal_X（PCsec） 半导体器件IGBT秒级功率循环试验台用于 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的秒级功率循环试验包括 功率循环秒级&分钟级/Pcsec&PCmin，被动循环/TC，热阻（抗）/Rth/Zth，K曲线/Kcurve ?电路原理简图 说明： Qf为总进线保护断路器，电源电压经过电压调节到主功率变压器，由主功率变压器到整流和滤波单元，产生大功率直流电源。再由电子开关施加到被测单元。图中二极管为隔离二极管，热敏电流单元提供足够大的热敏电流。触发单元施加规定的触发电压，处于导通状态。工控机和PLC智能系统保证设备的正常工作时序和操作人员安全。冷却系统和气路系统保证设备的可靠运行?产品特点? 品类齐全的DUT适配器（针对不同封装外观的器件及模块，提供专用的适配连接装置）；? 系统具有过流、过热、水压不足等保护功能。具有连续工作的特点；? 测试程序由计算机控制，按设定的程序进行自动测试，且系统采用内控和外控两种方式，便于工作人员操作；? 脱机状态时，面板显示每个工位的壳温，试验电流、试验次数、加热时间、冷却时间等；? 器件保护：被测器件及模块的特性变化超过限值后自动停止测试；? 安全稳定（PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）；? 智能化，通过主控计算机进行操控及数据编辑，测试结果自动保存及上传指定局域网；? 安全防护：系统具有防爆、防触电、防烫伤、烟雾、漏液等多重保护，结合远程测试能力确保操作人员安全。? 配有漏电保护器及空气开关，对短路、过载及漏电等情况进行保护，设计符合CE认证；?技术规格

产品系列晶体管图示仪半导体分立器件测试筛选系统静态参数测试（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）动态参数测试（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）环境老化测试（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）热特性测试（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件ST-Thermal_PCmin 分钟级功率循环试验台Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的分钟级功率循环试验扩展功能包括：功率循环秒级&分钟级/Pcsec&PCmin，被动循环/TC，热阻（抗）/Rth/Zth，K曲线/Kcurve ?电路原理简图 说明： Qf为总进线保护断路器，电源电压经过电压调节到主功率变压器，由主功率变压器到整流和滤波单元，产生大功率直流电源。再由电子开关施加到被测单元。图中二极管为隔离二极管，热敏电流单元提供足够大的热敏电流。触发单元施加规定的触发电压，处于导通状态。工控机和PLC智能系统保证设备的正常工作时序和操作人员安全。冷却系统和气路系统保证设备的可靠运行?产品特点? 品类齐全的DUT适配器（针对不同封装外观的器件及模块，提供专用的适配连接装置）；? 系统具有过流、过热、水压不足等保护功能。具有连续工作的特点；? 测试程序由计算机控制，按设定的程序进行自动测试，且系统采用内控和外控两种方式，便于工作人员操作；? 脱机状态时，面板显示每个工位的壳温，试验电流、试验次数、加热时间、冷却时间等；? 器件保护：被测器件及模块的特性变化超过限值后自动停止测试；? 安全稳定（PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）；? 智能化，通过主控计算机进行操控及数据编辑，测试结果自动保存及上传指定局域网；? 安全防护：系统具有防爆、防触电、防烫伤、烟雾、漏液等多重保护，结合远程测试能力确保操作人员安全。? 配有漏电保护器及空气开关，对短路、过载及漏电等情况进行保护，设计符合CE认证；?技术规格