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手持膜厚仪的测量原理
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手持膜厚仪的测量原理相关的方案
护热板法导热系数测定仪测量半球向全发射率原理模型有限元模拟分析
根据保护热板法导热系数测试的国标和ISO标准中对热辐射率的规定,本文在保护热板法测量原理和测量装置基础上建立了相应的半球向全发射率原理模型,并对半球向全发射率的原理模型进行了有限元模拟分析计算,优化和确定出了有限元计算参数和试验参数,从理论上证明了这种方法的有效性和准确性,并得出了一些实际测量中需要特别关注的结论,为进一步实际测试模型的有限元分析计算提供了参考。
使用手持式 FTIR 对镀膜材料进行定性和厚度分析
FTIR 检测技术一直用于涂布工艺,但过去主要是 用于研究和开发应用,因为传统的 FITR 仪器必须 在实验室环境中使用,必须将小型样品或大型样品的小片送往实验室进行分析,而不能在关键时刻或生产过程中进行测量。安捷伦的手持式 FTIR 系统采用创新的采样技术,使得 FTIR 分析仪不仅限于实验室分析,还能用于生产车间或者需要对样品进行分析的任何地点。此性能对于需要在现 场进行测量,或者由于样品体积过大而无法在实 验室条件下进行测量的情况意义重大,因为并非所有样品都可以在出现问题时取一小片带回实验室进行测量。
生物医疗设备涂层应用-Filmetrics 膜厚测量仪
Filmetrics 膜厚测量仪的卓越技术,Filmetrics膜厚测量仪提供了范围广泛的测量生物医疗涂层的方案。支架: 支架上很小的涂层区域通常需要显微镜类的仪器。 我们的 F40膜厚测量仪 在几十个实验室内得到使用,测量钝化和/或药物输送涂层。我们有独特的测量系统对整個支架表面的自動厚度测绘,只需在测量时旋轉支架。植入件: 在测量植入器件的涂层时,不规则的表面形状通常是唯一挑战。 Filmetrics 提供这一用途的全系列探头。导丝和导引针: 和支架一样,这些器械常常可以用象 F40 这样的显微镜仪器。 用 F42 可以进行显微区域内厚度的两维测绘。导液管和血管成型球囊的厚度:大于 100 微米的厚度和可见光谱不透明性决定了 F20-NIR 是这一用途方面全世界众多实验室内最受欢迎的仪器。
MC方案:测量厚膜的厚度均匀性
WLRS被引入用于测量厚透明膜情况下的膜厚度和均匀性。 所有测量均使用FR-Basic进行,调谐后可在400-1000nm光谱范围内进行。 样品是通过旋涂涂覆有热SiO2和SU-8膜的Si晶片。 对于参考测量,使用标准的硅晶片。
单层薄膜的厚度测试方法
试验原理:该设备采用机械接触式测试原理,通过位移传感器测试薄膜材料的厚度。设备采用测量头与传感器一体化设计,在测试试样之前
厚片光PIV系统利用层析PIV重构原理计算全部的三维应力张量
利用最新的厚片光层析PIV原理,测量立体空间中全部的三维速度梯度张量。这对湍流研究是非常重要的。这里的层析PIV使用了三相机成像系统。
QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
使用X-荧光能谱仪进行多层薄膜厚度测量技术在半导体材料镀层分析上广泛使用。但是纳米级薄膜测量技术仍然是测量技术的难点。本文详细介绍了使用QuanX 荧光能谱仪进行这种分析的全过程
MC方案:薄和超薄金属薄膜的厚度测量
薄膜厚度对涂层的性能,特别是薄膜和超薄薄膜的性能至关重要。因此,采用非常精确和无损的方法来表征此类薄膜是非常重要的。薄膜厚度的光学测定方法具有非接触、无损、快速、准确、灵敏、重现性好等优点。在本应用说明中,我们使用FR工具测量金属薄膜和超薄薄膜的厚度。
MC方案:精确的非接触式在线PET薄膜厚度测量
FR-inLine是一种在线非接触式测厚仪,用于实时测量透明和半透明的单层或多层薄膜的厚度,以及以片状或带状形式生产的大多数材料的厚度。在本应用说明中,我们演示了使用FR工具在线测量PET薄膜的厚度。
高低温试验箱温度测量系统的设计原理解决方案
温度-阻值非线性原理温度测量系统由温度传感器和接口电路构成。温度传感器有热电阻和热电偶两类。在不同温度作用下,热电阻的电阻值或热电偶的电流会产生变化。接口电路把电阻或电流变化情况转变成可用电信号,经过调校后输出到电气控制系统对设备进行温度调节。因此,温度测量系统的输出是否准确与温度传感器和接口电路都有直接关系。
【天研】涡流涂镀层测厚仪工作原理及使用方法介绍
涡流涂镀层测厚仪分体N1型探头,检测非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护配备的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。
MC方案:用于MEMS应用的悬浮式活性硅膜厚度测量
硅基传感器因其高性能、低成本和小尺寸而广泛应用于不同的微机电系统。悬挂在图案化硅膜或基于硅绝缘体的传感器上的活性硅层的厚度确定对于最终平台[1]的性能控制至关重要。在这里,我们已经在一个微机电系统压力传感器上测量了这样的薄膜厚度,使用的是一个孔径为250μ m的FR-μ 探针工具,该工具安装在一个徕卡分模光学显微镜上。使用10X物镜进行测量,该物镜与选定的孔径大小一起对应于25μ m的光斑大小(测量区域)。
MC方案:薄膜叠层厚度测量
介绍了在电介质和半导体薄膜叠层的情况下测量薄膜厚度的WLRS。所有的测量都是在400-1000nm光谱范围内用fr-basic进行的。反射探头的有效光斑直径为1毫米。样品为Si3N4/SiO2、聚Si/Si3N4/SiO2、PMMA/聚Si/Si3N4/SiO2组成的Si晶圆。在所有测量中,使用高反射镀铝镜(NT01-913-533,Edmund光学)进行参考测量。
薄膜测量
薄膜测量系统是基于白光干涉的原理确定光学薄膜的厚度,通过对白光干涉图样进行数学运算来计算出薄膜的厚度。
MC方案:钙钛矿薄膜厚度的测量
钙钛矿广泛用于太阳能电池的开发。由于这些类型的太阳能电池具有良好的光伏性能,因此对它们进行了系统的研究。钙钛矿薄膜的厚度和形态是影响太阳能电池性能的重要因素。特别地,人们发现,当钙钛矿的厚度小于400nm时,钙钛矿太阳能电池的效率很大程度上取决于薄膜厚度;而当钙钛矿的厚度大于400nm时,效率则很大程度上取决于钙钛矿层的薄膜形态。在本应用说明中,我们使用FR工具测量钙钛矿薄膜的厚度。
【设备更新】纸张厚度测量仪检测印刷纸的单层厚度
三泉中石生产的纸张厚度测量仪CHY-U适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。本文借助纸张厚度测量仪CHY-U测试纸张的厚度。
利用金相显微镜测量微米级膜层厚度
金相显微镜主要用于金属的相结构分析。也可以利用各种平面分析系统进行膜层的厚度测量,并且精度很高,最小误差约为±0.8μm,可作为金属镀层和氧化膜层的仲裁测量。
新一代全检膜厚测量仪ME-210-T
可整面快速检测膜厚分布的新一代椭偏仪,透明基板上的极薄膜厚也可检测。
利用Model 2010/M(Metricon)进行大块材料或厚膜指数/双折射率测量
Model 2010/M可作为全自动折射计运行,在不使用有毒或腐蚀性指数匹配流体的情况下,为指数范围为1.0-2.6的固体或液体大块材料和厚膜提供折射率和指数各向异性的高精度测量。这种散装材料指数测量不是一种选择,而是每个系统提供的标准功能。
X射线荧光分析仪测量镀层厚度
奥林巴斯VANTA手持式光谱分析仪(HHXRF)的镀层模式能够分析多层镀层材料,基体可以是任何类型的材料,不局限于金属。
数显路面标线厚度检测仪工作原理
适用于各种聚合物路面标线厚度的测量,适用于现场测量和实验室取样测量,测量度高 ,LCD 数字显示,分辨率0. 01mm 适合道路养护单位,路标漆制造商,施工承包商,品管验收单位等。阳极处理铝合金本体,符合人体工学设计,操作十分容易符合国标标准GB/T 16311-2005的要求.
使用手持式近红外光谱仪microPHAZIR Rx定量测试农药中间体成分含量
赛默飞世尔科技的手持式近红外光谱仪microPHAZIR Rx 基于近红外光谱的原理,采用便携式设计,无需取样,直接在现场即可完成中间体含量测定,可大大提高工作效率。
对固化前的粉末涂层厚度进行在线过程控制测量
德国Markdorf J. Wagner技术实验室的测试表明,CoatMaster在线非接触式实时测厚系统非常适合于在线过程控制未固化状态下粉末涂层厚度。该测量是在带有粉末涂料的移动铝型材上进行的。由于 CoatMaster直接安装在粉末涂装室的出口处,因此在涂上涂层后和固化前可立即进行测量。不同的型材悬挂在框架中,并在运输带上以1.8米/分钟的速度移动。一旦有工件经过,触发光栅传感器的信号进行自动测量。
SpectraPen/PolyPen手持式光谱仪应用案例——光合机理研究
捷克科学院、捷克南波西米亚大学与英国帝国理工学院利用多种蓝藻Synechocystis sp PCC 6803突变体进行研究,发现在光系统II装配初期,D1和D2蛋白的有效组合需要一种光合作用特殊红素氧还蛋白RubA。这一研究成果发表于2019年《The Plant Cell》。研究者使用荧光灯对样品进行培养,并模拟光暗周期变化以激活光合功能。荧光灯光谱使用SpectraPen SP110手持式光谱仪进行测量,以确保其符合实验要求。之后对样品吸收光谱进行的测量,展现了不同突变株对各个波段光的吸收率变化。
掌握醋酸浓度含量测量原理的方法
醋酸广泛存在于食品、果汁、造纸、制药和其他工业产品中,一个非常重要的参数,即能测量用于食品添加剂醋酸的含量浓度,更好的调出食品饮料的口味。ATAGO(爱拓)醋酸浓度仪是便携式,快速测定数值的工具,因为采用折光原理的技术,它非常适合于各类生化液体产品如醋酸、柠檬酸、谷氨酸、淀粉糖、木糖醇等的过程浓度测试。因为具有外部光线干扰阻止功能,酸醋浓度仪适合于任何场所使用,进行浓度的测量和控制。它能直接显示出:质量百分比浓度(Brix)、固形物含量(SD)或折光指数,可专门们用于测定醋酸的含量的酸醋浓度仪
GB 6672-2001塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法
GB 6672-2001塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法:
探讨手持式 FTIR 光谱仪的人机工程学设计与测量质量之间的关系
专为实验室设计的光谱仪与现场原位检测时使用的光谱仪有着很大的不同 。 例如,实验室使用的仪器通常设计用于水平的平面(如工作台)上,然而手持式光谱仪通常要用于几乎所有场合 。 实验室用 FTIR 光谱仪中采用的干涉仪,在上述的水平条件下工作性能良好。但是处于竖直状态时,这些干涉仪几乎不能工作。鉴于此,安捷伦手持式 FTIR 系统采用了创新的干涉仪设计理念,可以在多种应用要求条件下得到同等质量的数据。
应用介绍 | 奥林巴斯手持式X射线荧光(XRF)分析仪检测非铬酸盐转化涂层
奥林巴斯Vanta手持式XRF分析仪可以无损方式快速、准确地确定非铬酸盐转化涂层的厚度。涂层厚度的测量值必须处于所规定的厚度范围之内,才可以确保随后涂上的漆层能够完好地贴附其上,从而才可有效地保护部件,不会使部件受到的腐蚀。
使用配备 UMA 附件的 Cary 5000 测量折射率薄膜厚度
采用配备全能型测量附件包的 Cary 5000 分光光度计测量了两种样品的折射率。其中一个样品为纳米复合涂层:石英基底(可见光范围内透明)上的 Zr-Si-B-(N) 薄膜。第二个样品为单晶硅基底(可见光范围内不透明)上的铌酸锂 LiNbO3 层状结构。计算出了两个样品的折射率,准确度为 ± 0.01。根据所测定的折射率,计算了两个样品的薄膜厚度。
薄膜测厚仪的操作文案
薄膜厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量
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