手持膜厚仪的测量原理

手持式折射仪的工作原理：因为含糖溶液的折光率比例于浓度的原理而设计的糖量折光仪可以用来直接测定含糖溶液的含糖量。只要在检测棱镜的镜面上放入2-3滴试液就可以。糖量折光仪用于快速测定含糖溶液的溶度、果酒密度;通过换算还可以测量其它非糖溶度或折射率，是制糖、食品、饮料、酿酒、农业科研、纺织及矿山机械等行业必不可少的检测仪器。　　折射计折光的理论：如果你放置一杯水的一支铅笔,顶端将会显得弯曲的. 然后如果你在一个杯子中放置糖水并且试相同的实验,铅笔的顶端应该显得甚至更弯曲的. 这是折光率现象的一个例子. 折射计由于采用新型的光学系统放到一种实际的使用. 通过溶液的折射率与其溶度的对应关系的换算来测量试液的溶度.当物质的密度增加 (举例来说. 当糖在水被溶解的时候物质的溶度增加),它的折射率引相称地升高.

听说可以用XRF来测量薄膜厚度，并且可以测多层膜的厚度，但是不知道原理是什么。请版上的各位老师介绍一下技术原理与操作时注意要点。 万分感谢！

用的NITON（尼通）XL2-800系列手持荧光光谱仪，窗口膜坏了，用制作样杯的迈勒膜/米勒膜（mylar）代替，太容易磨损；去买原装的50~80RMB一片，太贵了；找别的普通薄膜又会影响测量精度，请问XRF窗口膜是什么材质的？厚度多少?

膜厚仪又名膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理是，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。　　膜厚仪也叫X射线测厚仪，它的原理是物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。　　有很多人会以为测厚仪和膜厚仪是一样的，其实膜厚仪属于测厚仪的分类，也就是说测厚仪是膜厚仪的上司一样，属于测厚仪的一种，膜厚仪测量覆膜薄膜的厚度，手持式的有涂层测厚仪，为磁阻法和电涡流原理，台式的不同原理也有好多种，电感原理等。[align=center][img]http://img.mp.sohu.com/upload/20170515/602539fd7791488ebd830ccd2659ea75_th.png[/img][/align]　　膜厚仪生产厂家哪家好？深圳市大成精密设备有限公司是一家集研发、制造、销售、服务于一体的国内领先的新能源设备生产企业。跟腾讯，华为等大型企业一样，诞生在特区深圳，公司拥有高素质的研发团队，通过与科研院所及高等院校的技术合作使我公司具有很强的持续自主研发能力和创新能力。　　目前所开发出的设备，均已达国际先进水平。主要以贝塔射线在线测重仪， X射线在线测重仪、激光测厚仪的生产销售为主。严格把关每个工件材料的选取与使用，一丝不苟地全程跟进设备的加工与装配，严格按照编制的工艺流程来执行，打造无需售后服务的一流产品。深度了解客户需求，把每一个细节都做到极致，自然就会诞生一个伟大的产品，这是我们全体员工的共识。

[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]是一种常用的检测仪器，具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，被广泛用于制造业、金属加工业、化工业等领域中。特曾测厚仪的原理是什么呢?下面小编就来具体介绍一下，希望可以帮助到大家。　　磁感应测量原理　　采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。　　磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。　　电涡流测量原理　　高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。　　采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。　　迪斯凯瑞GT-100高精度涂层测厚仪可无损地直接测量磁性材料（如钢、铁、合金和硬磁性钢）等物体表面上的非磁性覆盖层厚度（如：油漆、塑料，陶瓷，橡胶，铜，锌、铝、铬、铜等）。非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）。

波长色散XRF可以测量薄膜的厚度，其中的原理是什么呢？再有我测试的为ZnO薄膜，选择薄膜元素为Zn、O测试时，测出的膜厚为150微米，而薄膜的实际厚度仅为几百纳米。去掉氧计算时，厚度反而正常了。以上问题不解，望大家指教。谢谢！

在有关国家和国际标准中，对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，统称为覆层（coating）。 在加工工业、表面工程质量检测中，对覆层的厚度检测是检验产品优等质量标准的重要环节和必备手段。　　覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 随着科学技术的进步，对覆层厚度的测量的技术也随之进步。特别是近年来引入微机技术后，采用先进的磁性法和涡流法的[url=http://www.okyiqi.com/pages_products/prolist_17.html][color=black]测厚仪[/color][/url]进行覆层厚度的检测。此类测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率有了大幅度的提高，测量分辨率已达0.1微米，精度可达到1%。下面分别介绍磁性法和涡流法的测厚仪的原理。一． 磁吸力测厚仪的测量原理　　永久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。　　这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。二． 磁感应测厚仪的测量原理　　采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。　　磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。三． 电涡流测厚仪

1.利用红外线测距或激光测距的原理是什么？ 测距原理基本可以归结为测量光往返目标所需要时间，然后通过光速c = 299792458m/s 和大气折射系数 n 计算出距离D。由于直接测量时间比较困难，通常是测定连续波的相位，称为测相式测距仪。当然，也有脉冲式测距仪，典型的是WILD的DI-3000需要注意，测相并不是测量红外或者激光的相位，而是测量调制在红外或者激光上面的信号相位。建筑行业有一种手持式的测距仪，用于房屋测量，其工作原理与此相同。2.被测物体平面必须与光线垂直么？ 通常精密测距需要全反射棱镜配合，而房屋量测用的测距仪，直接以光滑的墙面反射测量，主要是因为距离比较近，光反射回来的信号强度够大。与此可以知道，一定要垂直，否则返回信号过于微弱将无法得到精确距离。3.若被测物体平面为漫反射是否可以？ 通常也是可以的，实际工程中会采用薄塑料板作为反射面以解决漫反射严重的问题。4.超声波测距精度比较低，现在很少使用。

邵氏硬度计本硬度计（橡胶硬度计)广泛应用于橡胶、塑料的硬度测定。具有结构简单、使用方便、型小体轻、读数直观等特点，既可以随身携带手持测量，也可以装置在配套生产的同型号定荷架上定荷测定。本仪器执行JB6148-92标准。　　邵氏硬度计分为机械式，数显式两种A型适用于一般橡胶、合成橡胶、软橡胶，多元脂、皮革、蜡等C型适用于橡塑并用、塑料中含有发泡剂制成的微孔材料D型适用于一般硬橡胶、树脂、压克力、玻璃、热塑性橡胶、印刷板、纤维等。　　邵氏硬度计，是测定硫化橡胶和塑料制品硬度的仪器。具有结构简单、使用方便、型小体轻、读数直观等特点，产品符合GB/T531-1999及其它相关标准的要求，既可以随身携带手持测量，也可以装置在配套的SLX型邵氏硬度计测试机架上使用。　　测量原理　　具有一定形状的钢制压，在试验力作用下垂直压入试样表面，当压足表面与试样表面完全贴合时，压针面相对压足平面有一定的伸出长度L(见图1)，以L值的大小来表征邵氏硬度的大小,L值越大，表示邵尔硬度越低，反之越高.计算公式为： HA=100 -L/0.025HD=100 -L/0.025HC=100 -L/0.025　　分类　　邵氏硬度计主要分为三类：即 A型，C型和 D型。它们的测量原理完全相同，所不同的是测量针的尺寸不同。其中 A型的针尖直径为 0.79mm，邵 A型硬度计用来测量软塑料、橡胶、合成橡胶、毡、皮革、D型的针尖直径为 0.2mm.即半径为R0.1。邵D 型硬度计用来测量硬塑料和硬橡胶的硬度，例如:地板材料，保龄 球等现场测量硬度。C型的测针是一个圆球直径5mm。邵氏 C型硬度计用来测量泡沫材料和海绵等软性材料。

一、磁吸力原理测厚仪利用永久磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度，这个距离就是覆层的厚度，所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可以进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形，所以磁性测厚仪应用最广。测量仪基本结构是磁钢，拉簧，标尺及自停机构。当磁钢与被测物吸合后，有一个弹簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大，当拉力钢大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。一般来讲，依不同的型号又不同的量程与适应场合。 在一个约350º角度内可用刻度表示0～100µm;0～1000µm;0～5mm等的覆层厚度，精度可达5%以上，能满足工业应用的一般要求。这种仪器的特点是操作简单、强固耐用、不用电源和测量前的校准，价格也较低，很适合车间作现场质量控制。 二、磁感应原理测厚仪磁感应原理是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的，覆层愈厚，磁通愈小。由于是电子仪器，校准容易，可以实多种功能，扩大量程，提高精度，由于测试条件可降低许多，故比磁吸力式应用领域更广。当软铁芯上绕着线圈的测头放在被测物上后，仪器自动输出测试电流，磁通的大小影响到感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。早期的产品用表头指示，精度和重复性都不好，后来发展了数字显示式，电路设计也日趋完善。近年来引入微处理机技术及电子开关，稳频等最新技术，多种获专利的产品相继问世，精度有了很大的提高，达到1%,分辨率达到0.1µm，磁感应测厚仪的测头多采用软钢做导磁铁芯，线圈电流的频率不高，以降低涡流效应的影响，测头具有温度补偿功能。由于仪器已智能化，可以辨识不同的测头，配合不同的软件及自动改变测头电流和频率。 一台仪器能配合多种测头，也可以用同一台仪器。可以说，适用于工业生产及科学研究的仪器已达到了了非常实用化的阶段。利用电磁原理研制的测厚仪，原则上适用所有非导磁覆层测量，一般要求基本的磁导率达500以上。覆层材料如也是磁性的，则要求与基材的磁导率有足够大的差距(如钢上镀镍层)。磁性原理测厚仪可以应用在精确测量钢铁表面的油漆涂层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，化工石油行业的各种防腐涂层。对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业，利用测量平台或辊(钢铁制造)也可用来实现大面积上任一点的测量。

TR200手持式粗糙度仪http://www.cqdhkj.com/images/product01.jpgTR200性能特点机电一体化设计，体积小巧，方便携带，适用于现场测量多参数测量，可测量多种机加工零件的表面粗糙度高精度电感传感器符合ISO和GB标准，兼容DIN、ANSI、JIS标准流行的菜单操作方式128×64点阵LCD液晶显示器可以显示测量参数及图形传感器触针位置指示具有示值校准功能高品质锂离子充电电池标准RS232接口，可与PC机通讯可连接专用打印机，现场打印测量原理当测量工件表面粗糙度时，将传感器放在工件被测表面上，由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行，传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度，此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移，该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化，从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成正比的模拟信号，该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统，DSP芯片将采集的数据进行数字滤波和参数计算，测量结果在液晶屏幕上显示，并可在打印机上输出，亦可与PC机进行通讯。TR200主要技术参数测量参数 Ra、Rz、Ry、Rq、Rp、Rv、Rt、R3z、Rmax、RSk、RS、RSm、Rmr测量范围 Ra：0.025μm～12.5μm显示范围 Ra、Rq：0.005μm～16μm；Rz、Ry、Rp、Rv、Rt、Rmax、R3z：0.02μm～160μm；RSm、RS：1mm；Rmr：0～100％（％Rt）; RSk：0～100％量程范围 ±20μm、±40μm、±80μm、自动 最高显示分辨率 0.001μm滤波方式 RC、PC-RC、GAUSS、D-P取样长度L 0.25mm、0.8mm、2.5mm、自动 评定长度Ln 1L～5L（L为取样长度） 测量行程长度 3L～7L（L为取样长度）最大驱动行程长度 17.5mm/0.71inch最小驱动行程长度 1.3mm/0.052inch驱动速度Vt 测量时，L=0.25mm，Vt=0.135mm/s; L=0.8mm，Vt=0. 5mm/s; L=2.5mm，Vt=1mm/s;返回时，Vt=1mm/s示值误差 ≤±10％示值变动性 ≤6％触针针尖角度 90°触针测力 4mN(400mgf)针尖圆弧半径 5μm导头纵向半径 45mm数据通讯接口 标准RS232串行接口电 源 6V/800mA高品质锂离子充电电池，连续工作时间大于20小时工作环境 温度：0～40℃；相对湿度：＜90%外型尺寸 140mm×52mm×48mm重 量 440克

手持式光谱仪是一种基于XRF光谱分析技术的光谱分析仪器，当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子从而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的状态,当较外层的电子跃迁到空穴时,产生一次光电子，击出的光子可能再次被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，发生俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应。由Moseley定律可知，只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不被原子内吸收,而是以光子形式放出,便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。 1、现场检测，快速无损，无需送抵实验室，大大提高效率 2、手持式光谱仪分析速度较台式光谱仪快很多，仅几秒钟就可显示分析结果 3、体积小，重量轻，携带方便

“摩擦，摩擦，在这光滑的地上摩擦…..”还记得庞麦郎的一首《我的滑板鞋》风靡大街小巷，广场上卷起了一股溜滑板鞋的浪潮。尔今浪潮已退，但摩擦声却未消失，作为一柄对社会发展起着双刃剑作用的武器，各大高校和科研机构一直都在对摩擦学进行着持续的研究，而中图仪器[b]SuperView W1光学3D表面轮廓仪[/b]，就是该领域最时尚的滑板鞋，载着研究人员疾驰，手持武器，所向披靡。　　摩擦学是一门研究物体相对运动时其表面摩擦、润滑、磨损三者间相互关系的交叉学科，摩擦学实验研究的重点和难点之一在于对磨损量的定量分析。磨损量涵盖了磨损区的轮廓尺寸、粗糙度、体积这线、面、体三个维度方面的参数，量级从纳米到毫米不等，又由于不可破坏性测量，传统的低精度接触式轮廓仪和影像仪无法适用，而以白光干涉为原理、具备高精度、非接触式测量能力的光学3D表面轮廓仪登上了摩擦学研究的舞台。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808238760989.jpg[/img][/align][align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808231572145.jpg[/img][/align][align=center]图1 工作中的CSM摩擦磨损测试仪[/align]　　上图展示的是一款工作中的CSM摩擦磨损测试仪，经过十数小时的摩擦，铜板表面出现了一圈圈摩擦痕迹，即为磨损区域，对磨损区域进行尺寸上的定量分析，是研究的重要组成部分，下面我们使用中图仪器SuperView W1光学3D表面轮廓仪对一块经过摩擦试验处理的铜板进行线、面、体三个维度的定量分析。一、一维：线_轮廓尺寸　　取一块摩擦处理过的铜板，使用SuperView W1光学3D表面轮廓仪对其中未摩擦过的光滑区域和摩擦过的磨损区域进行扫描，获取其3D图像。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808239913954.jpg[/img][/align][align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808234541029.jpg[/img][/align][align=center]图5 磨损区的剖面轮廓曲线[/align]　　从图中可以看到，相对光滑区细致较浅的划痕，磨损区充满了坑坑洼洼的槽，在磨损区3D图像上提取一条剖面轮廓曲线，可以获取槽深和槽宽的轮廓尺寸数据。二、二维：面_粗糙度　　分别在光滑区和磨损区选取若干点，测量分析显示经过摩擦磨损试验过的区域线粗糙度和面粗糙度均增大了至少十几倍。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808235791766.jpg[/img][/align][align=center]图6 光滑区域粗糙度[/align][align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808237197020.jpg[/img][/align][align=center]图7 磨损区域粗糙度[/align]三、三维：体_体积[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/8/201808238604911.jpg[/img][/align][align=center]图8 磨损区3D图像&孔洞体积测量[/align]　　如右上图，利用分析工作“孔洞体积”对磨损区进行区域体积分析。在选择的分析区域中，位于基准面（蓝色方框）上面的顶点区域显示为红色，位于基准面下方显示为绿色，利用“孔洞体积”分析工具可直接获取该区域内上下两部分的面积、体积、深度数据。　　一线二面三体，中图仪器SuperView W1光学3D表面轮廓仪能让研究人员掌握三个维度精确的数据信息，从而对摩擦磨损区进行全面的分析判断，如同穿上了酷炫的滑板鞋，在摩擦学研究这个舞台秀出华丽的舞步。

中华人民共和国国家计量检定规程JJG 820- 1993手持糖量(含量)计及手持折光仪Hand Saccharimeter (Content一meter) and Hand Refractometer1993一06一04发布1993一10一01实施国家技术监督局发布d.1G 820- 1993手持糖量(含量)计及手持折光仪检定规程Verification Regulation of HandSaccharimeter(Content一meter)an d Hand Refractom eter本检 定 规 程经国家技术监督局于1993年06月04日批准，并自1993年10月01日起施行。归口单位:黑龙江省技术监督局起草单位:黑龙江省计量检定测试所本规程技术条文由起草单位负责解释JJG 820-1993本规程主要起草人:谷 智 铭 ( 黑 龙 江 省 计量检定测试所)JJG 820- 1993目录一概述·······················································。······························⋯⋯ (1)二技术要求·...................................................................................... ( 2 )三检定条件·...................................................................................... ( 3 )四检定项目和检定方法·....................................................................... (4)五检定结果的处理和检定周期····，，·· 。·······，，··-··。·······，·，，，，············一(6)附录1 标准糖溶液的配制和定值方法·‘····································，·········⋯⋯ (7)附录2 蔗糖和葡萄糖水溶液的折射率表和温度修正表·················，········⋯⋯ (8)附录3 手持糖量(含量)计及手持折光仪检定记录格式·············，··········⋯⋯ (12)JJG 820- 1993手持糖量(含量)计及手持折光仪检定规程本 规 程 适用于新制造、使用中和修理后的手持糖量(含量)计(蔗糖糖量计、葡萄糖糖量计和其它物质含量计)及手持折光仪的检定。一概述手 持 糖 量计用于测定水溶液中糖的含量;手持含量计用于测定某种物质(如食盐、蜂蜜、乳化液等)在溶液中的含量，或测定某种溶液(如防冻液、电瓶液、尿等)的某种物理量(如冰点、比重、密度等);手持折光仪用于测定溶液或液体的折射率。手 持 糖 量(含量)计和手持折光仪(以下简称仪器)都是利用折射原理测量折射临界角的仪器。通常由折射棱镜、进光棱镜或盖板、标尺，以及读数用的目镜系统所组成。仪器一般只有一个标尺，也有多标尺的。仪器的外观结构如图1所示。图 1 仪 器 外 观 结 构图1- 目镜系统;z一转换标尺手轮;3-镜筒;4- 折射棱镜;5一进光棱镜;6一盖板JJG 820- 1993当 光线 通过光疏介质进人光密介质时，光线发生折射(见图2)，根据折射定律有下列关系。黔川临界角{a)图 2 临 界 角 原理图(a ) 临 界 光 线和临界角;(b) 由临界角形成的明暗区域端视图sinra。一-nl。， 、n 2为 相应介质的折射率，在一定条件下是一个常数。当人射光线的人射角。变化时，折射光线的折射角:也随之变化，但始终是i r。当‘最大为90“时，此时的折射光线称为临界光线，相应的厂称为临界角。实际上，光线将从棱镜表面所有各点进人，并形成一簇有相同临界角的临界光线，此时，通过聚焦透镜从折射棱镜的端部可观察到被临界光线分开的明、暗视场。不 同 含 量的蔗糖(或其它)溶液，其折射率不同，因而其折射临界角也不同，而使明、暗分界线出现在刻度尺的不同位置上，从而可以显示物质的含量或溶液的折射率。二技术要求7 外观及性能检查1.1 仪器外表应无剥落和生锈现象;光学零件应清洁，不应有妨碍读数的疵病存在。1.2 仪器标尺的刻字、刻线应清晰且粗细均匀，不应有断线现象。1.3 光学与金属部件应粘接或装配牢固，仪器的活动部分应灵活可靠，金属盖板应能在任意位置上停留。1.4 仪器目镜视场中，明暗界线应清晰，且与标尺刻线在目视条件下无明显视差或倾斜现象。1.5 仪器零位调整范围应能满足正常使用要求。1.6 仪器应有型号、制造厂(或厂标)、出厂编号等标记。2 手持糖量(含量)计和手持折光仪的性能参数应符合表1或表2的规定。JIG 820- 1993表1 手持糖量(含量)计的性能参数含量测量范围0~15 0~30 0~50 0~80量程15 15~30 30~50 50分度值0.1 0.2 0.2 0.5 0.5 1.0 1.0 2.0准确度10.1 - 0.2 士0 2 士0 5 f 0.5 士1.0 士1.0 f 2.0注:1.手持糖量(含量)计多以质量分数(原称质量百分浓度)刻度，它可以用小数、百分数(% ) 或 g/100g 来表示。2. 特 殊 规格按厂家规定。表2 手持折光仪的性能参数折射率测量范围(、) 1.333 0一1.5200分度值0.0005 0.001准确度士0.0005 士0.0013 标尺转换误差如 仪 器 有转换标尺时，转换标尺和原标尺间的示值误差平均值之差应不超过仪器分度值的1/5a4 测量色差仪 器 在 测量糖或其它物质溶液的含量不大于65% (折射率不大于1.45)时，应无明显的色差;当测量的糖或其它物质溶液的含量大于65% (折射率大于1.45)时，不应有妨碍使用的色差。三检定条件5 环境条件5.1 室温10-40℃，室内应避免空气对流，温度波动应g1 T /ho5.2 室内应有足够的照度。6 标准溶液及检定设备6.1 蔗糖及葡萄糖标准溶液(配制及定值方法见附录1)0注 : 待 国家计量行政部门批准颁布本规程所需标准物质后，即应采用。6.2 标准溶液配制及定值用设备6.2.1 阿贝折光仪测 量 范 围(no):1 .3000一1.7000准 确 度 :10.00036.2.2 分析天平(及配套祛码)最 大 称 量:200gJJG 820- 1993分度 值 : 0.1 m g6.2.3 V棱镜折光仪测 量 范 围(n,):1.30000一1.700。。准 确 度 :士0.000056.2.4 架盘天平(及配套祛码)最大 称 量 :2009分度 值 : 0.196.3 检定用设备6.3.1 数字温度计钡」 量 范 围:10-40℃准 确 度 :士0.1℃6.3.2 水银温度计测 量 范 围:10-40℃分 度 值 :0.1℃6.3.3 铁支架、十字夹、铁夹及玻璃器皿等。四检定项目和检定方法7 新制造仪器按第1-4条进行全部检定，使用中和修理后仪器对外表和金属盖板停留位置不作要求。8 外观及性能检查按第1条所述要求用目视和手动试验进行。其中，1.2和1.4款可结合仪器准确度检定进行，1.5款只在仪器需要进行零点调节时，用滴人一滴蒸馏水进行检查。9 仪器准确度的检定9.1 标准溶液的选择在 仪 器 的测量范围内的上限值、下限值和中间值3处，以1110量程范围内选择标准溶液。9.2 检定要求每 种 标 准溶液3次分别在仪器清洗后滴人溶液进行测量，所得示值误差平均值应符合第2条规定。9.3 测温本 规 程 推荐使用热敏电阻数字温度计测温，测温前将热敏电阻贴敷在仪器测头的侧面;也可用水银温度计测温，测温前将水银温度计绑缚在仪器侧面，使水银球触及仪器测头的侧面。仪 器 利 用铁夹和十字夹固定在铁支架上。仪器和溶液接近室温后再开始检定。9.4 清洗仪 器 接 触溶液的折射棱镜和盖板两个表面，在滴人溶液前、后都要清洗干净。9.5 操作JJG 820- 1993待 棱 镜 表面水分干燥后，用贮存标准溶液的滴瓶的滴液管滴人一滴溶液，盖上盖板(接触仪器金属部分须带薄线手套操作)，根据溶液含量不同，等候2一5 min，读记温度并尽快读记仪器示值。先 检 低 含量点，超差者可在进行调零后重新检定。9.6 记录和计算9.6.1 仪器检定按附录3表格进行记录。9.6.2 手持糖量计准确度的检定，有关计算方法如下:(1 ) 示 值误差=示值(20 9C)

测厚仪是基础的物性仪器之一，其中，又分为涂层测厚仪和超声波测厚仪。涂层测厚仪用来测试表面涂层的厚度，而超声波测厚仪作为一种精准度非常高的科学仪器，则可以测试多种材料的厚度和声速。[img]https://mp.toutiao.com/mp/agw/article_material/open_image/get?code=YjU4NmFlN2ExMmNkZjc2MmZiZWQxNWU5ZWI4MDliYTQsMTY1MDc4Mjg5MjYxMA==[/img][b]一、什么是超声波测厚仪[/b]超声波测厚仪是一款利用超声波测量原理，采用高速处理器、高集成芯片设计，实现便携、无损、快速、精准地测量多种材料厚度及声速的高精度测厚仪。适用于能使用超声波以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量，如钢铁、各种金属、玻璃、ABS、塑料、PVC，球墨铸铁等材质的厚度测量。[b]二、超声波测厚仪的工作原理是什么？[/b]当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精准测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。[img]https://mp.toutiao.com/mp/agw/article_material/open_image/get?code=YWEzZTM0OWVhNzlhNjdiOTYyMjRmZGZlMTliMjkxMzIsMTY1MDc4Mjg5MjYxMA==[/img][b]三、超声波测厚仪主要用来测什么？[/b]适用于各种材料的高精度厚度测量需求，可应用于各种金属（钢铁、不锈钢、铝、铜、等）石英、玻璃、塑料等材质的被测物体厚度测量。[color=#333333]广泛应用于冶金、造船、机械、化工、电力、原子能等各工业部门的产品检验[/color]。[img]https://mp.toutiao.com/mp/agw/article_material/open_image/get?code=OTkxZjA0NzM2ODgwZDBmZGMwM2RmNWEzMWI1OGRlYTQsMTY1MDc4Mjg5MjYxMA==[/img]英徕铂超声波测厚仪几乎适合于所有材质的厚度测量:各种金属,玻璃,塑料等材料；仪器精美，小巧，采用2.3寸彩屏显示，手持式携带方便,适合现场检测；测量精度高，测量范围大，单一探头全量程。除此之外，它还具有以下特点：? 测量模式：标准模式／超薄模式（ELB-UTG500CB专用）? 测量模式：标准模式／穿透模式（ELB-UTG500CT专用）? 测量精度高，测量范围大，单一探头全量程? 中英文双语言版本? 蓝牙互联数据传输功能（适用于蓝牙版测厚仪）? 校准：标准块校准,声速校准，可通过已知厚度求声速? 手动关机和自动关机两种，用户可随意选择；? 内置7种常用材料的声速，并可编辑，方便用户使用；? 人性化数据保存模式：大容量存储，并且可分组保存数据，可存储10组数据，每组可保存200个数据，可存储2000个数据? 大容量存储、查看、删除操作，方便简单? 多探头选择使用，高温环境测量可选配高温探头耐高温（300℃）[img]https://mp.toutiao.com/mp/agw/article_material/open_image/get?code=ZjEyYzJlYzhkNzkxMzJlOWRmMWI4OWVlYzMxYWFjMzksMTY1MDc4Mjg5MjYxMA==[/img]【英徕铂】英徕铂ENLAB，物性检测仪器品牌，为国内市场提供数百种物性检测仪器，为科研工作者提供检测仪器解决方案与服务。

PH那种现场检验的手持测量仪和实验室台式PH计测量的结果有没有可比性？

一、糖度计的工作原理光线从一种介质进入另一种介质时会产生折射现象，且入射角正弦之比恒为定值，此比值称为折光率。果蔬汁液中可溶性固形物含量与折光率在一定条件下（同一温度、压力）成正比例，故测定果蔬汁液的折光率，可求出果蔬汁液的浓度（含糖量的多少）。常用仪器是手持式折光仪，也称糖镜、手持式糖度计， 通过测定果蔬可溶性固形物含量（含糖量），可了解果蔬的品质，大约估计果实的成熟度。手持糖度计一般是圆柱形的。二、手持糖度折光仪使用说明（一）、仪器结构http://www.foodmate.net/file/upload/201011/19/09-58-26-97-510998.jpg①、折光棱镜 ②、盖板 ③、校准螺栓 ④、光学系统管路 ⑤、目镜（视度调节环）（二）、使用方法打开盖板②，用软布仔细擦净检测棱镜①。取待测溶液数滴，置于检测棱镜上，轻轻合上盖板，避免气泡产生，使溶液遍布棱镜表面。将仪器进光板对准光源或明亮处，眼睛通过目镜观察视场，转动目镜调节手轮⑤，使视场的蓝白分界线清晰。分界线的刻度值即为溶液的浓度。

示波表又可称为手持示波器，有携带方便、操作简单等特点。它能把肉眼看不见的电信号变换成看得见的图象，便于人们研究各种电现象的变化过程。示波表功能是什么，现由仪商跟亲们介绍一下。[b] 示波表[/b] 示波表又可称为手持示波器，有携带方便、操作简单等特点。它能把肉眼看不见的电信号变换成看得见的图象，便于人们研究各种电现象的变化过程。利用示波器能观察各种不同信号幅度随时间变化的波形曲线，还可以用它测试各种不同的电量，如电压、电流、频率、相位差、调幅度等。[b] 功能介绍[/b] 手持式数字示波表集数字存储示波器、数字万用表、数字频率计三者功能于一体，采用电池供电，图形液晶显示，是电子测量领域里一类新型的实用仪器。本设计采用嵌入式设计技术，把微控制器、A/D转换器、LCD控制器等核心部件嵌入该系统，并利用嵌入式操作系统、ASIC设计技术、LCD图形显示技术及数字信号处理技术等综合设计的嵌入式仪器系统。该仪器功能齐全，并且体积小、重量轻，携带和操作都十分方便，具有极高的技术含量、很强的实用性和巨大的市场潜力，代表了当代电子测量仪器的一种发展趋势。 [b]示波表功能及原理简介 原理分析 模拟示波器工作原理[/b] 传统的模拟示波器把需观测的两个电信号加至示波管的X、Y通道以控制电子束的偏移，从而获得荧光屏上关于这两个电信号关系的显示波形。显然，这种模拟示波器体积大、重量重、成本高、价格贵，并且不太适合用于对非周期的、单次信号的测量。[b] 数字示波器工作原理[/b] 现代数字存储示波器首先对模拟信号进行高速采样获得相应的数字数据并存储。用数字信号处理技术对采样得到的数字信号进行相关处理与运算，从而获得所需的各种信号参数（包括可能需要使用万用表测试的一些元器件电气参数）。根据得到的信号参数绘制信号波形，并可对被测信号进行实时的、瞬态的分析，以方便用户了解信号质量，快速准确地进行故障的诊断。 测量开始时，操作者可通过中文界面选定测量类型（波形测量、元件测量）、测量参数（频率/周期、有效值、电阻阻值、二极管通断等）及测量范围（可选自动设置，由仪器自动设置最佳范围）；微处理器自动将测量设置解释到采样电路，并启动数据采集；采集完成后，由微处理器对采样数据按测量设置进行处理，提取所需要的测量参数，并将结果送显示部件。如果需要，用户可选择自动测试方式：微处理器在分析首次采样得到的数据后会根据具体情况调整、修改测量设置，并重新采样。在经过几次这样的“采样-分析-调整-重采样”循环后，示波表即可完成即触即测功能，而无须人工调换量程，便于手持操作。显然，数字存储示波器与传统的模拟示波器相比具有很多突出的优点： 可以根据被测信号的特点自动确定和调整测试条件，真正实现自动、离手测试。 能够较容易地实现对高速、瞬态信号的实时捕获。 在波形存储与运算方面有着明显的长处。[b] 性能指标[/b] 集数字存储示波器、万用表和频率计的功能于一体；手持；交/直流供电。 模拟带宽10MHz；单次带宽5MHz；取样率50MS/s。 记录长度2KB；单通道。 水平扫描50ns/div~10s/div；垂直扫描5mV/div~5V/div。 测量信号参数：周期、频率、占空比、平均、有效、峰峰值。 测量电阻：100、1K、10K、100K、1M。 测量电压：10 mV、30mV、1V、3V、10V、30V。 二极管测量、通断测量。频率计：10MHz±5%。 测量精度：示波器精度±5%，万用表精度±3%。 校准信号：1KHz/0.3V。 LCD：320×240点92mm×72mm，对比度可调，有背景光。 其它：电池供电≥2小时，RS2。 [b]示波表功能及原理简介 应用范围[/b] 1、电力能源； 2、航空航天； 3、汽车电子； 4、电路设计； 5、大学院校。

手持式光谱仪是一种基于XRF（X Ray Fluorescence，X射线荧光）光谱分析技术的光谱分析仪器，主要由X光管、探测器、CPU以及存储器组成，由于其便携具有高效、便携、准确等特点，使其在合金、矿石、环境、消费品等领域有着重要的应用。目前市场上典型仪器主要有尼通XL2、XL3t系列等。手持式光谱仪是一种功能强大，并且可扩展的手持式光谱仪，广泛用于金属材料的成分分析，牌号鉴别和快速分选。它包括激发枪和配有可充电电池的光谱仪主机两部分。它工作时，既不需要氩气，也不需要放射源。它的特点就是操作极为方便。光谱仪由一个安装在激发枪上，WINDOWS操作系统的掌上电脑来控制并进行数据处理。随仪器同时提供的还包括：带护肩的背包、便携箱、充电器、ICAL标样、通用激发枪枪头和消耗品。手持式光谱仪使用相关指标手持式光谱仪使用相关指标分析范围：Ti～U分析范围：Ti～U显示屏： 320x240 LCD彩显，65536像素，在任何背景光线下都可显示测量结果显示屏： 320x240 LCD彩显，65536像素，在任何背景光线下都可显示测量结果检测器：Penta-Pin检测器：速度快、分辨率高（165EV）检测器：Penta-Pin检测器：速度快、分辨率高（165EV）电 源：可交、直流供电。锂电池安装在手柄内，使用时间4-6h电 源：可交、直流供电。锂电池安装在手柄内，使用时间4-6h充电器：110/230V，50/60Hz（包括交直流适配器）充电器：110/230V，50/60Hz（包括交直流适配器）X射线管：铑靶，最大电压，40kV； 最大电流：50(u) A。X射线管：铑靶，最大电压，40kV； 最大电流：50 (u)A。计算机：惠普PDA，Windows Mobile5.0操作系统，触摸屏，可提供12种语言。计算机：惠普PDA，Windows Mobile5.0操作系统，触摸屏，可提供12种语言。内存128MB，存储卡1G，可存储100，000个数据和谱线。内存128MB，存储卡1G，可存储100，000个数据和谱线。数据传输：可通过USB通用串行接口，IR（红外），WiFi（无线），Bluetooth（蓝牙）等传输工具进行传输。数据传输：可通过USB通用串行接口，IR（红外），WiFi（无线），Bluetooth（蓝牙）等传输工具进行传输。冷却系统：Peltier恒温冷却系统，保证核心单元的寿命及仪器精度。冷却系统：Peltier恒温冷却系统，保证核心单元的寿命及仪器精度。样品形状、大小不限：任何形状材料都可以测量，如粉末，丝线状样品。对测试件表面要求不高。样品形状、大小不限：任何形状材料都可以测量，如粉末，丝线状样品。对测试件表面要求不高。高温测量：最高可测400℃的零部件高温测量：最高可测400℃的零部件生产历史：近40年生产历史：近40年质量保证：整机（包括X射线管，消耗品除外）保修2年。质量保证：整机（包括X射线管，消耗品除外）保修2年。环境温度：-10℃～+50℃环境温度：-10℃～+50℃尺寸：9㎝ 30㎝ 27㎝尺寸：9㎝ 30㎝ 27㎝重量：1.8Kg（含电池和PDA）重量：1.8Kg（含电池和PDA）

现在有个塑料件 有银白色金属光泽的镀层 手头有手持式的XRF 请问能不能用来测量镀层金属的成分。镀层很薄的，有点类似于中性笔笔头那种 只是大致看一下 不用很精确的 手头只有XRF 请问行不行 可靠性如何？

在si片上镀一层纳米碳膜，碳膜表面光洁如镜面，采用椭偏仪测量薄膜的厚度，测量时选择基底材料为si，将k设为0（透明薄膜，不知是否准确或透明薄膜如何定义？），根据SEM测量得到的薄膜厚度拟合得到一个n值(2.0921），采用此n值对类似情况下制备的薄膜进行厚度测量，测量得到的结果还行，基本与肉眼看到的薄膜厚度差别相当。不知此方法是否正确？1.是否能采用透明膜的测量方法测量碳膜？2.采用同一n值测量厚度是否合适？希望高手指点，谢谢！

看到tutm老师在论坛里提到半波损失，还有论坛里一些分光测量的吸光度值的怪异现象。特在网上搜了一下，我认为，半波损失只是引起了光的光程的改变，如果，比色皿－－样品（参比）－－四周空气这样的嵌套结构，不符合增透膜原理，那就不会对最后的测量结果产生影响。最初我想到了干涉滤光片的原理,网上一搜，觉得增透膜更接近此模型，不过它们的原理基本一样。下面是我在网上看到的一篇文章，我简单编辑了一下。原文章叫《薄膜干涉中的半波损失与薄膜厚度》地址：http://www.nbxiaoshi.net/ReadNews.asp?Newsid=2371增透膜中的半波损失一。基本概念http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191652_629291_1786353_3.gif 图1A。所谓“半波损失"，就是当光从折射率小的光疏介质射向折射率大的光密介质时，在入射点，反射光相对于入射光有相位突变π，即在入射点反射光与入射光的相位差为π，由于相位差π与光程差λ /２相对应，它相当于反射光多走了半个波长λ /２的光程，故这种相位突变π的现象叫做半波损失。 如图1所示为增透膜示意图，其中ｎ0、ｎ1、ｎ2分别表示空气、膜层和玻璃的折射率，如空气的折射率ｎ0＝1，ＭｇＦ2的折射率ｎ1＝1．38，冕牌玻璃的折射率ｎ2＝1．52。n0相对于n1就是光疏介质，n1相对于n2就是光疏介质。当入射光线SA从no射入n1时，在no和n1的界面反射，由于n0

印刷行业的[url=http://www.xrite.cn/categories/][color=#000000]测色仪[/color][/url]更多指的是分光测量原理的颜色测量仪器，和色度计很类似，只是将RGB三色滤色片替换成了更多的滤色镜（一般为31块滤色镜，或者光栅），获取全光谱的数据。分光光度计的有不同的大小（有手持和台式的），还有在线检测的，他们都可以评估不同光源下的颜色表现，所以能够很好的评估同色异谱现象。因此它比色度计应用更加广泛。