我用背散射模式拍的照片如图，但是不知道衬度产生的原理是什么，哪位能帮忙解释一下，谢谢。还有，为什么图的右侧总比左侧亮？（试样为工业纯铝电解抛光）[~140695~]
第二届全国背散射电子衍射（EBSD）技术及其应用学术会议邀请函2007年8月20-22日，内蒙古，包头2005年8月于河北秦皇岛举办的首届全国电子背散射衍射（EBSD Electron-Backscatter-Diffraction）技术及其应用学术会议成功举行并得到高度评价；随后的电子背散射衍射EBSD专刊（中国体视学及图像分析，2005年第10卷第四期）将该技术在我国应用的现状首次较系统地正式出版。目前，EBSD设备已由两年前的60多套增加到近100套，越来越多的材料研究人员认识到该技术的优势。为进一步推动该技术在我国材料研究中的应用，中国体视学学会材料科学分会将在内蒙古包头召开第二届全国电子背散射衍射EBSD技术及其应用学术会议，我们热情邀请各位EBSD设备用户、该技术的应用人员以及对该技术感兴趣的人员参加这次会议。希望通过相互交流，提高我国使用EBSD技术的水平。分会场的主题有：1）EBSD原理及分析技术进展；2）EBSD在晶体取向（差）分析中的应用；3）EBSD在物相鉴定中的应用；4）EBSD在地质矿物分析中的应用。会上还将邀请国外EBSD厂家及专业人士介绍国际上该技术的使用现状，总结国内使用情况，介绍相关的专著和样品的制备要点。专。本次会议的特点是除学术交流外，专门开设一个学习班介绍研讨EBSD应用的经验、问题、数据处理再应用等问题，主要为研究生。
请教一下：如何做背散射？二次电子图像调清晰后，切换到背散射，为什么视野是一片黑？
鲁滨逊背散射探测器是什么原理？和传统的半导体固体探测器有什么不同？和闪烁体材质的环形背散射探测器有什么不同？
最近单位采购，一直纠结于某款热场电镜和冷场电镜。热场电镜的景深十分出色，但分辨率较为一般，除二次电子探测器（低位和高位）外，还配了单独的背散射电子探测器、主流能谱仪、五轴马达台、红外CCD相机。。。冷场电镜的景深也不错，分辨率十分出色，出二次电子探测器外，背散射电子的探测功能通过高位探测器改变偏压实现，不是那么主流的能谱仪、三轴马达台。。。价格估计两家都做得蛮拼的。各位前辈有没有什么建议？
[em09511],在背散射模式下，能否用能谱，对仪器有伤害不？听说在背散射下，真空度不高，能谱X射线会受影响？各位大侠出来讨论下！
各位大侠，本人新手，使用JEOLJSM-7000F 扫描电镜带SM54031背散射探头，前几天还试着看到了背散射像，现在却怎么也看不到背散射像，求助各位高人帮忙。下面介绍一下本人使用过程的过程：1. 先二次电子像聚焦好，2.插入背散射探头（此时还可看到二次电子像），3. 转换成compo模式，在转换成compo后就一篇白或一篇黑，然后ACB，再调对比度变成灰色，反复调对比度，从白到灰再到黑，但是就是没有像，换Topo模式也是一样，什么都看不到。请教各位大侠是什么原因呢，对了，电压15kv， probe 8，工作距离9.请教各位大侠1 是什么原因看不到背散射像呢？如何才能看到像呢？2 看背散射应该配成什么参数好呢？比如电压，probe， WD等3 compo，topo，msei等模式都有什么区别呀？谢谢！
想请教各位大侠，问下南京周边城市哪边的电镜配有被散射探头，可以做背散射。不要二次电子信号模拟的背散射信号，希望配有背散射探头，可不要发票，可长期合作。站内信联系
各位高手：我最近在用背散射电子做了一个奥氏体不锈钢中残留铁素体的背散射成分像，可是用背散射像看到的结果和我采用化学腐蚀看到的结果相差比较大（也就是说采用化学腐蚀用光学显微镜看到的残留铁素体的面积要远远大于采用背散射电子看到的残留铁素体相），我想请教大家：用背散射电子看第二相的精确度有多高，是其成分只要不同于基体，他就会成像吗？因为我觉得不论是基体还是第二相，都会有一定的成分梯度，这个我应该怎么理解呢，谢谢大家了
如题。不导电固体样品镀金后在高压电子束轰击下，内部一样会注入一次电子使样品内部荷电，这时的入射电子也会受负电位的反射生成背散射电子，结果使背散射电子像叠加了无成分特征的灰度图像。不知这个说法是否正确。
透射电镜（JEM-2010）上能否配EBSD（背散射电子衍射）？ 。谢谢！
目前个人知道做EBSD的有INCA和EDAX，在INCA能谱页面里看到：INCA Crystal电子背散射衍射系统(EBSD)是显微分析领域最具活力和前景的亚微米级显微分析技术手段。它作为扫描电镜上的一个附件，集显微结构,显微织构，相鉴定等多种功能于一身，开辟了一个全新的科学领域：INCA Crystal 覆盖了TEM 和 XRD 的部分研究范围，更重要的是，可以[color=blue]进行许多 TEM 和 XRD 所不能完成的研究工作。[/color] 请问它跟TEM与XRD相比，有哪些优缺点呢？能否像XRD一样做各种像的定量？请知道的前辈、朋友谈谈～～
不导电样品表面经导电处理后其内部仍然是不导电的，表面荷电问题解决了，内部荷电问题仍然没有解决。这对背散射电子像和能谱分析会有怎样的影响呢？ 我这样考虑大家意下如何？对背散射图像应该影响不大，因为在背散射区域基本上是入射电子数等于背散射电子数加上继续向深度方向散射的电子数，所以在背散射区域以外可能会有荷电，形成负电场。这个负电场也有使入射电子背散射出试样的可能性，数量不是很多，但对背散射像有一些影响，可能平时并未影响图像的清晰度。假如样品是由多相组织组成的，各个相的漏电能力不同，则负电场也是不均匀的，这就会在背散射图像上叠加一层不均匀的灰度像。我很夸张地模拟成下面的两张图，左边是背散射电子像，右边叠加了内部荷电的影响，只是太夸张了。大家怎么看？http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304120148_435028_1609375_3.jpg
http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/10/201510232200_570762_1905429_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/10/201510232203_570763_1905429_3.jpg由于换了电镜，现在用背散射拍出的照片质量很差（图片1），请问是什么原因。试样没有腐蚀，抛光后直接拍照，另外附上以前用背散射拍的照片（图片2），同样的合金，不同的状态，但是差别很大，求牛人解答。
想咨询一下用过日立S-4800的各位大侠：S-4800的背散射探头是不是用的时候套在极靴前，不用的时候可以拿下来？拆装是否方便？有没有极靴内置的BSE探头？在装着背散射的时候，是否还能用UHR模式？
file:///C:/DOCUME~1/admin/LOCALS~1/Temp/ksohtml/wps_clip_image-14055.png这是客户提供的一张化成铝箔的横截面图片，外层为三氧化二铝，中间层为纯Al，图片具有明显的立体感，file:///C:/DOCUME~1/admin/LOCALS~1/Temp/ksohtml/wps_clip_image-14538.png第二张图为本人拍的，样品镶嵌后抛光处理的，采用的为背散射电子像，没有前一张图的立体感，曾尝试将二次电子像和背散射电子像进行混合，但效果仍不理想，请大家给点意见，如何拍出第一张图的效果。谢谢
看背散射的时候有成分像,拓扑像和立体像,这三种像之间有什么区别?为什么我可以看到成分像,转到立体像和拓扑像的时候一片白,什么也看不到呢?
求助：刚刚开始接触仪器使用，在用Inca软件调取电镜背散射图像时，显示为灰白（没有图像），而二次电子像则可以正常显示。请问各位前辈，是哪里没有设置，还是其它原因，望赐教！
我们用的SU8020场发射扫描电镜，背散射信号还有低角与高角。请问LA-BSE和HA-BSE有什么区别？什么时候选择什么信号呢？
背散射探头断以一根线，居然还可以用，什么情况！那些六七彩色条线分别做什么用的呢？
请问背散射的英文缩写1.Backscattered electron image (BSE)2.back-scattered electron imaging (BEI)这两个哪一个更专业和更常用？谢谢
[align=center][b]二次电子与背散射电子成像区别[/b][/align] 二次电子检测器和背散射电子检测器是扫描电子显微镜常用检测器。二次电子检测器成像速度快，在快速扫描时很容易对焦，图像立体感强，背散射电子检测器在快速扫描时图像有带状条纹，对焦成像条件一般依赖二次电子检测器（即在调整好二次电子像参数后启动背散射电子检测器成像）。 散射电子检测器一般是被嫌弃的，因为它成像分辨率低（图1）。造成分辨率不同的原因是二者检测的信号源不同。二次电子（SE）的能量小于50ev，二次电子信号主要来自试样表层，深度大约5～10 nm，反映试样表面的形貌。背散射电子（BSE）是受到试样原子核的弹性和非弹性散射而被反射回的一部分入射电子，能量大于二次电子(SE)（图2）[sup][/sup]。一般来说，背散射电子的能量大于50ev，背散射电子反映试样表面50～200 nm深度的信息，激发区域大于二次电子。[img=,690,282]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807261522354238_7646_2265735_3.jpg!w690x282.jpg[/img][b]图1 金纳米粒子二次电子图像(A)和背散射电子图像（B）。[/b]背散射电子图像分辨率低于二次电子图像(图中红色箭头指示处)。JEOL-7800F扫描电子显微镜，工作距离10mm。[img=,690,518]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807261523412701_7969_2265735_3.png!w690x518.jpg[/img][b]图2 当加速电子轰击分析物激发的各种信号[sup][/sup][/b]。二次电子（SE）和背散射电子（BSE）是扫描电镜成像的基础信号。 二次电子和背散射电子有一定的方向性，背散射电子更加靠近入射法线。一般二次电子的探测器装在电镜样品仓侧面（在物镜内部，小工作距离的高分辨二次电子探头不在这里讨论）,背散射探头的探测晶体直接安装在物镜下面，中心与物镜光学中心重合。探测器的安装位置和电子不同的反射角度会影响图像的明暗。图3是硅球的扫描电镜图。二次电子图像的有较大阴影，球的中心位置阴影最明显，与之相反背散射电子图像球的中心位置最亮。[img=,690,266]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807261527144207_5694_2265735_3.png!w690x266.jpg[/img][b]图3 硅球的二次电子图像(A)和背散射电子图像（B）[/b]。JEOL-7800F扫描电子显微镜，工作距离10mm。 背散射电子检测器也有自己的独特之处，有的时候可以成功逆袭二次电子探测器。背散射电子图像具有一定的Z轴衬度，与晶体取向有关，电子强度与物质组成有关，可以显示样品内部结构，也就是说背散射电子图像可以用来分析复合材料。在试验条件相同的情况下，背散射电子信号的强度随分析物[b]平均原子序数[/b]增大而增强，在样品表层平均原子序数较大 的区域，产生的背散射信号强度较高[sup][/sup]。目前商品化的背散射电子检测器可以区分元素周期表相邻的两个元素。图4显示在基底上镀镍（28号元素）和铜（29号元素），在二次电子图像上几乎看不出是两个不同的镀层，能谱分析显示两个镀层有明显的界限，背散射电子图像不仅可以完美区分两个镀层，对镀层的缺陷也比背散射电子图像更加明确的呈现出来。[img=,690,349]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807261530426736_7830_2265735_3.png!w690x349.jpg[/img][b][b]图4 不同镀层的扫描电子显微镜分析[/b]。A，二次电子图像；B，EDS能谱图像；C,背散射电子图像。JEOL-7800F扫描电子显微镜，工作距离10mm。牛津（oxford）能谱仪。[/b] 目前扫描电镜分析已经逐渐脱离单纯的形貌分析，组成和相分析更加有助于我们深刻理解材料的构成和性质。我们在常规扫描电镜实验中，调用一下常常被忽略的背散射电子检测器，在几乎不增加工作量的情况下也许会有意外的收获。[b]参考文献[/b] 1.JEOL指导手册,A Guide to Scanning Microscope Observation 2.Bozzola, J.J., Russell, L.D., 1999.Electron Microscopy: Principles and Techniques for Biologists, 2nd ed. Jonesand Bartlett Publishers, Boston, NY.
在做背散射能谱面扫的时候，时间久了，图片漂移非常厉害。怎么进行漂移矫正啊？或者说需要增加什么功能啊？是电镜的还是能谱的？
我是刚毕业的学生,刚到公司上班,被分到测试中心从事扫描电子显微镜的工作,我以前没接触电镜,想了解具体一下背散射,希望各位前辈多多指导!谢谢![em0812]
请教各位大侠,在什么时候使用背散射比较合适.
扫描电镜在装上背散射并运行时，常出现死机现象，必须得软件重启。当不运行背散射头时就不会死机。不知道什么原因，有哪位可以指导一下是什么原因...
我在进行背散射mapping的时候，发现扫描100min（32 frame+dwell 200 μs）的效果反而不如50min（16 frame+dwell 100 μs），而且样品有一定的漂移，请问以上是怎么回事儿啊附件是50和100的图片样品是粉煤灰原材料
请教各位，十几微米直径的纤维，如何处理才能使表面变平呢？不平的话是不是做不了背散射电子呢？大家都是怎么做纤维的背散射的。谢谢啦！
请问要做背散射电子像，导电性不好的样品，可以喷金吗？会不会喷完金，看到的都是金的相？
我用的是日本电子JSM-6390A,看背散射的时候屏幕上一片白,什么都看不到,怎么回事啊?看背散射应该怎么看呀,技术参数调到多少看的效果最好,操作有没有什么技巧?本人是新手,接触电镜刚刚一个星期,请高手们多多指教!
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