SpecMetrix® DFTQA 实验室干膜厚度质量保证系统SpecMetrix® DFTQA 系统为底漆和面漆干膜厚度涂层提供非接触式、非破坏性和实时厚度测量。 由SpecMetrix提供,工业物理旗下专业的涂层测试品牌,致力于创新的涂层厚度测量。SpecMetrix® DFTQA系统为干膜厚度提供了一个全新的非接触、非破坏性和实时绝对测量数据标准。无论是底漆、面漆、透明或着色样品,我们的DFTQA系统都能让您获得详细的涂层测量数据和分析。简化质量控制流程 SpecMetrix® DFTQA系统专为简化干膜厚度的质量控制流程而设计,它是我们在卷材涂层实验室测量中首选的工具之一,具有亚微米级精度。它利用我们独有的技术来改进涂层工艺和质量控制,同时减少质量控制实验室或研发中心的成本。DFTQA系统加速了离线样品测试,受到多个行业和应用中质量控制实验室的信赖。多功能测量能力SpecMetrix® DFTQA系统是用于干膜厚度分析的极其多功能的系统: 分析干涂层 清晰、有色或着色涂层 可测量底漆、底涂层、面漆、清漆、背涂层、层压膜、透明涂层及其他卷材涂层(包括聚酯、环氧树脂、纹理、金属化和PVDF) 适用于任何金属基材上的涂层,包括铝、钢、镀锡、冷轧镀铝锌钢板,甚至任何油漆颜色上的涂层 广泛应用 – 实时测量单层或双层涂层,或离散层,精度达到亚微米级 双重功能 – 单个系统配置包括两个光学组件高精度和可重复性使用SpecMetrix® DFTQA,您可以对质量控制和质量保证数据更加有信心。其测量精度不受操作员技能或人为误差的影响,使用户能够获得更高的重复性和再现性。完整的涂层洞察凭借SpecMetrix精确和创新的ROI增强光学干涉技术,用户可以通过非接触和非破坏性手段获得详细的干膜厚度测量数据。该技术极其精确,能为用户提供其涂层的真实图像。DFTQA系统允许用户获取整个样品区域的准确涂层厚度和干膜厚度测量,而不是仅限于代表性较差的孤立测量点。此外,单个系统配置可以包括双重光学组件,使用户能够更快地测量底漆和面漆。我们专利的独家光学技术高度先进,并在涂层行业中广泛应用。强大的SensorMetric软件作为测量分析的核心部分,我们用户友好的软件包将所有测量数据存储到Excel® 中,或与工厂网络接口,以便在生产运行期间或之后进行SPC分析。此外,我们的软件还包括一个配方助手,帮助操作员创建新的涂层配方并编辑现有的配方和配方方案。功能和优点 理想用于卷材涂层的干膜厚度测量和分析 非接触且非破坏性 – 测量过程中不会损坏涂层或基材,保持样品的完整性。 绝对厚度测量 – 提供样品区域内精确的涂覆层厚度和干膜厚度(DFT)测量。无需针对不同颜色或基材进行重新校准。 基材独立 – 可测量金属基材上的涂层,包括铝、钢、镀锡、冷轧镀铝锌钢板,甚至任何油漆颜色上的涂层。 广泛应用 – 实时测量已应用的底漆、底涂层、面漆、清漆、背涂层、层压膜、透明涂层及其他卷材涂层。 触摸屏界面 卓越的Gage R&R – 测量精度不受操作员技能或人为误差的影响,确保系统的可重复性和再现性。 环保 – 非破坏性测试方法有助于减少废料、返工劳动力和能源成本。 双重功能 – 单个系统配置包括双重光学组件,使底漆和面漆测量速度更快。 强大的SensorMetric软件 – 用户友好的软件包将所有数据存储到Excel® 中,或与工厂网络接口以便进行SPC分析。规格应用: 光学测试, 油墨与涂料, 涂层检测, 涂层测试材料: 油墨和涂料测量范围: 0.7至350微米*(透明/清漆涂层),0.7至75微米*(着色/不透明涂层)* 取决于所选的光学组件精度: 涂层厚度的±1%(标称值)测量速度: 每秒最多100次温度范围: 0°至50°C输出指标: 微米、密耳、g/m² 操作系统: Windows® 平台制造: 美国制造认证: CE认证、UL认证和CSA认证
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