帕纳科荧光光谱仪

X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析，包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计，其高品质的设计和功能，可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。Zetium X射线荧光光谱仪 包含了 SumXcore 技术，它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 这种功能组合使 Zetium 在多种环境下拥有高分析能力、速度和任务灵活性。 Zetium X射线荧光光谱仪 配备了 SuperQ 软件（包括 Virtual Analyst），可帮助非专家用户轻松地设置应用程序。 针对特定分析提供了广泛的附加软件模块，例如无标分析、地质痕量元素、润滑油中的基体校正以及薄膜分析。 针对特定行业提供了 Zetium XRF 光谱仪行业专用版：水泥、矿物、金属、石化产品以及聚合物和塑料。另外提供可满足各行业严苛要求的高配置版本：Zetium顶级版。 Zetium 平台的模块化设计允许通过各种软件包来实现以任务为导向的性能增强。 马尔文帕纳科提供了一系列集成解决方案；从连接样品制备装置的简单接口，到将多个分析仪器集成到单一容器实验室中的全自动项目。特点增强的分析性能从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可增强灵敏度一系列 X 射线光管阳极材料（铑、铬、钼和金）可确保发挥特定应用性能用于增强灵敏度和加大过渡金属分析动态范围的复合探测器用于扩大的重元素动态范围（线性高达 3.5 Mcps）的 HiPer 闪烁探测器特别适合对钢中的铌和钼进行高精度分析出色的用户体验Virtual Analyst 提供简洁、直观的软件整套应用程序设置模块和软件解决方案使用无标 XRF 分析，对未知材料进行分析，或者在没有标准的情况下进行分析多元素微小区域分析可编程的面罩，适合的样品尺寸为 6 mm 至 37 mm提升样品处理量SumXcore 技术 - 利用 ED core（能谱核）将测量时间缩短多达 50%从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可加快分析速度Hi-Per 通道可实现对轻元素的同步测量连续和直接进样可大大缩短仪器的进样时间高容量进样器台（最多 209 位）可满足高处理量应用需求进样器条形码阅读器选项可实现快速、无故障的样品装载和数据录入可靠性除尘设备可尽量减少污染，并能够大大提升仪器的正常运行时间用于提高 X 射线管耐用性和耐腐蚀性的 CHI-BLUE X 射线管窗涂层样品类型识别（固体和液体）条形码阅读器可实现无差错的样品数据录入 仪器的拥有成本低节省空间的紧凑型设计 小体积空气锁设计 - 用于将样品快速循环到真空中，或对液体分析实现低氦气消耗便于检修的服务模块意味着更高的仪器可维修性和更短的停机时间专用制冷机可从实验室带走热量 - 避免实验室空调基础设施负荷过重可节省成本的成套解决方案

在几秒钟内完成多元素化学成分分析由于时间关键型过程控制或运行样品高处理量，您是否需要在几秒钟内对化学成分进行无损分析？ 同时测量多达 28 种元素，浓度范围为从 ppm 至 100％，马尔文帕纳科Axios FAST 同步 WDXRF 光谱仪是理想的解决方案。 准确而强大的分析，即使经验不足的员工也可方便地操作，同时正常运行时间长，拥有成本低。快速获得时间关键型应用的结果Axios FAST 元素分析仪只需几秒钟即可获得分析结果，是时间关键型应用和高样品处理量分析环境的理想工具。 主要应用领域包括钢与金属合金生产以及每天需要分析数百样品的地质或商业实验室。 特点高样品处理量凭借高速样品处理和操作可靠性，Axios FAST 同步 XRF 光谱仪是高速分析控制的理想产品。通过转盘结构实现的连续进样168 位 VRC 进样器，带有灵活的托盘装载功能，可实现无人值守的批量分析直接进样可实现快速无错样品装载和数据自动录入的样品条形码读取器增强的性能可同时测量多达 28 种元素，每个样品的测量时间低至 2 秒用于轻元素分析的高灵敏度 HiPer 通道最多可选 4 台测角仪所带来的分析灵活性X 射线阳极材料的范围（Rh、Cr、Mo、Au）为特定应用实现了高性能增强的仪器正常运行时间Axios FAST 专为关键型过程分析而设计，按照高质量标准而制造，运用了大量技术来预防和很大程度减少停机。带有 ZETA 技术的 SST-mAX - 可消除 X 射线管强度漂移并减少校准维护CHI-BLUE X 射线管窗涂层提高了 X 射线管的耐用性和耐腐蚀性主动除尘装置可在测量前将灰尘从样品上去除，从而尽可能防止灰尘进入系统，提升正常运行时间外部装有通道的紧凑型测量室 - 无需影响系统真空环境即可接触关键组件 - 从而可在维护后让系统迅速稳定只需用户进行有限干预的专用软件Axios FAST 使用马尔文帕纳科可靠的 SuperQ XRF 软件的新版本， 即使是欠缺经验的员工，也可以在接受低程度指导的情况下开展例行分析，与此同时软件仍可发挥出足以令用户满意的分析性能和功能。自动化Axios FAST 专门的软硬件接口允许灵活地连接样品传送设备和主机以实现全自动的分析。 Axios FAST 还是结合了直读光谱和 X 射线荧光光谱的 TEAMworks（全元素分析系统）解决方案的基础。 应用用于时间关键型的分析Axios FAST 通过在服务实验室等高处理量环境中进行采矿样品（如铁矿石，镍矿石）的分析，以及在钢铁行业所涉及的各种生产和质量控制应用中进行需要即时开展的样品分析，展现了强大的分析能力。 典型应用包括：低合金钢、铁素体钢和奥氏体钢的宽范围校准，铝合金的宽范围校准，钛合金的宽范围校准，低合金钢分析，不锈钢分析，工具钢分析，铸铁分析和制备为熔片的铁矿石样品分析。

借助 XRF 光谱仪 Epsilon 3 系列的经验打造而成，Epsilon 4 是一款多功能台式 XRF 分析仪，广泛用于从研发到流程控制等各个领域中需要从氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行业细分市场。 Epsilon 4 X射线荧光光谱仪 将激发和检测技术与成熟软件和智能设计相结合，其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光谱仪。Epsilon 4 任意位置由于较低的基础设施要求，可以将 Epsilon 4 放到生产过程中靠近生产线的任意位置。 其高性能使大多数应用能够在环境条件下运行，从而降低氦气或真空维护的成本。超越分析的价值能量色散式 X-射线荧光光谱仪可分析从碳 (C) 到镅 (Am) 的元素，涵盖从百万分之一以下到 100 wt% 的浓度。 将 Omnian 用于无标分析，当需要快速分析鉴定时，则使用 FingerPrint 来进行材料测试，或者使用 Stratos 来对涂层、表面层和多层结构进行快速、简单和非破坏性的分析。 还可以使用支持与 FDA 21 CFR 第 11 部分等法规合规的增强的数据安全性，或者使用 Oil-Trace 量化生物燃油混合燃料到新润滑油和使用过的润滑油。支持各类样品Epsilon 4 X射线荧光光谱仪可处理多种样本类型，包括固体、压片和疏松粉末、液体和滤膜。 在重量从几毫克到几千克的样品上，对从碳 (C) 氟到镅 (Am) 的元素进行非破坏性的定量分析，涵盖从 100% 到百万分之一以下的浓度范围。Epsilon 4 是稳健、可靠的传统系统替代方案，已在许多行业和应用领域中得到广泛应用，甚至在轻元素分析非常重要的环境中，包括：水泥生产、采矿、选矿、钢铁及有色金属、RoHS 筛选及定量、石油和石化、聚合物及相关行业、玻璃生产、法医学、制药、保健产品、环保、食品和化妆品。特点灵活的配置Epsilon 4 是高度灵活的分析工具，可在 10 瓦版本中用于从研发到过程控制等各个领域的元素分析 (F - Am)。 要实现更高的样品处理量或扩展的轻元素功能，并且处于更加具有挑战性的环境，可以使用 15 瓦版本，甚至可以对碳、氮和氧进行分析。新发展Epsilon 4 仪器将射线探测技术与分析软件结合到了一起。 15 瓦 X 射线管与大电流 (3 mA)、硅漂移探测器 SDD30 以及紧凑的光路设计相结合，提供了甚至超过 50 瓦功率 EDXRF 系统以及台式 WDXRF 系统的分析性能 - 同时还额外提高了能源利用效率。迅速、敏感利用可生成更高强度的硅漂移探测器技术实现迅速测量。探测器电路提供的线性计数率可超过 1,500,000 cps（在 50% 的死时间下），和计数率无关的分辨率通常高于 135 eV，可更好地分离光谱中的分析谱线。 这使得 Epsilon 4 光谱仪能够以全功率运行，因此与传统的 EDXRF 台式仪器相比，实现了更高的样品通量。降低氦气消耗量Epsilon 4 的高性能使得许多应用可以在空气环境中运行，无需较长的进样时间和费用来维护氦气或真空系统。 在空气中测量时，钠、镁和铝的低能量 X 射线光子对气压和温度变化很敏感。 内置温度和气压传感器可补偿这些大气变化，确保在各种气候条件下结果不受影响。

通过使用 Epsilon Xflow 进行在线液体分析，可以快速准确地控制过程参数。 增强的法规和质量规范推动对持续工艺流程的需求。 Epsilon Xflow 提供的实时洞察能力让您能够更有效地管理您的生产工艺并降低运营成本。&bull 同步分析多种元素&bull 实时结果&bull EDXRF 技术&bull 高度可重复性Epsilon Xflow 光谱仪为石化产品、聚合物、采矿、金属、食品和环境等特定行业提供量身定制的解决方案。燃料和润滑油的混合清晰度在炼油操作中，通过改善混合清晰度，可以减少硫的“泄漏”，以满足 Tier 3、Euro VI 和其他环境法规的要求。 在图中直观显示在低硫水平下出色的可重复性，确保更清晰的混合，从而减少“泄漏”。在矿石加工过程中监测液体和溶液矿石和精矿的加工需要频繁和准确的监测，以确保高效率低成本。Epsilon Xflow 可以在严峻的工艺条件下实现在线控制加工液体、溶液和试剂的成分。矿井废水控制为了保护环境和采矿作业周围的生命免受有害元素的影响，必须对矿井废水的质量进行持续的在线监测。Epsilon Xflow 可以探测有毒金属和其他元素的痕量，从而在必要时能够立即采取对抗措施，以防止造成环境破坏。监测液体食品中的重要矿物质营养和矿物质强化是许多食品生产过程中必不可少的步骤。准确强化与均匀混合相结合将确保最终产品始终符合标签声明。Epsilon Xflow 为液体产品中受控的重要矿物质（包括钾、钙和铁）提供在线监测。特点工艺中的元素分析X 射线荧光 (XRF) 是一种非破坏性的元素分析技术，可以测量您的工艺流，而不会造成任何损失或化学/物理变化。 由此实现的实时在线分析可以快速优化许多工艺参数和产品属性。高度可重复、准确且维护需求低Epsilon Xflow 采用经过验证的强大 Epsilon 3X 技术，该技术由激发和探测技术提供支持。 设计精良的光路、适合轻元素和重元素的广泛激发功能，加上高灵敏度 SDD 探测器系统，这一切造就了 Epsilon 3X 的强大性能。可为许多生产工艺定制Epsilon Xflow 的灵活设计使其在许多不同的工艺和工艺条件下都可轻松地实现集成。 我们提供专用的完整解决方案，能够应对不同的条件，例如：温度压力粘度pH 值腐蚀性溶剂极性统包解决方案安装可包括：样品调理ATEX 设计样品回收和废物管理适当的保护工艺流选择各种气候下的实验室表现在工厂环境中，恶劣的条件很常见。 分析仪的多种不同的功能使其能够应对恶劣和不断变化的气候条件：温度和气压变化的实时校正加热电子设备，以便在寒冷环境中使用可以进行额外冷却，以便应对热带条件提供保护

Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器，其包括光谱仪、内置计算机、触摸屏和分析软件。 Epsilon 1 台式X射线荧光光谱仪采用激发和检测技术的新成果，是低成本小型台式XRF仪器。Epsilon 1 台式X射线荧光光谱仪能生成快速、具有成本效益、准确的数据，基本不需要操作员干预和样品制备。 因此，与成本高昂、同时需要技能熟练的操作员操作的湿式化学方法和其他分析技术（如 AAS 和 ICP）相比，总体运行成本会下降很多。 Epsilon 1 台式X射线荧光光谱仪是手持 xrf 分析仪或 xrf 枪的便携式安全替代品。 请阅读选择我们的五大理由，了解为什么您应考虑 Epsilon 1 而不是其他手持设备。可靠且灵活的定量分析Epsilon 1 可以使用与常规样品成分相匹配的参考材料进行校准。 经过专门的校准后，可以提供准确可靠的数据。 Epsilon 1 可针对各种工业设施进行校准。 Epsilon 1 是一款高性能的台式 XRF 仪器，非常适合对周期表中从钠到镅的主量、微量和痕量元素进行分析。增强的数据安全性Epsilon 系统软件的增强的数据安全性选项可帮助您加强审计跟踪，显著降低误差风险，并证明 XRF 仪器能够按预期方式工作。 功能包括高级用户管理、操作记录和数据保护。特点非破坏性分析几乎不需要进行样品制备，即可直接在样品上执行测量。 由于 XRF 是一项无损技术，因此也可根据需要随后采用其他分析技术测量样品。高灵敏度薄窗 Ag 阳极 X 射线光管，由马尔文帕纳科设计和制造，确保高质量和高灵敏度。 50 kV X 射线光管和发生器非常适合激发重元素，可加快分析速度并提高准确性。方便的通信进行 USB 和网络连接，以使用用于扩展使用、应用程序开发和固定的操作员的标准计算机外围设备。空气变化钠、镁、铝、硅、磷和硫的低能量 X 射线光子对气压和温度变化很敏感。 内置温度和气压传感器可补偿这些大气变化，确保在各种气候条件下结果不受影响。溢漏保护为了保护系统核心部分免于溢漏，准备好保护膜。 发生溢漏时，操作员可以方便地更换保护膜。主要应用矿业和矿产 &bull 对岩石、矿石和钻芯进行直接定量分析&bull 使用 FingerPrint 软件快速识别阳性材料&bull 无标分析，无需专门校准即可定量分析多种矿物质 金属 &bull 使用 Stratos（多）层分析解决方案对涂层进行简单检查&bull 阳性材料鉴定套件，快速实现金属分类和提供合格/不合格报告 &bull 矿碴的元素定量分析&bull 快速筛查含铁和非含铁金属 石化产品 &bull Epsilon 1 燃料含硫测量仪遵循 ASTM D4294、ISO 8754、20847、IP 336、496 和 JIS K2541-4 测试方法&bull 即用型润滑油测量仪符合 ASTM D6481 规定性能&bull 一站式光谱仪服务，符合石油和燃料标准的认证 食品 &bull 快速定量分析食品和动物饲料产品中的营养素&bull 缩短食品和动物饲料过程控制的反馈回路&bull 可靠准确的奶粉定量分析 建筑材料 &bull 水泥、熟料和原材料的现场流程和质量控制&bull 使用无标分析筛选多种替代燃料和原材料 (AFR) 学术界 &bull 一台仪器适合各类样品，无需专门校准&bull 安全的设计和较低的公用设施要求，是理想的教育工具&bull 即用型学术界解决方案，通过使用 Omnian 无标分析进行预校准 制药 &bull 对残留物元素直接分析，加速流程开发&bull 利用可用的“增强数据安全性”软件，达到 FDA 21 CFR Part 11 的 要求&bull 高效的原材料检查，可快速识别供应变化&bull 可选“安装和操作鉴定”套件（IQ 和 OQ） 环保 &bull 现场识别受污染的土壤&bull 对采样器所在位置的空气过滤器上的无机化合物进行分析&bull 快速分析废水 塑料和聚合物 &bull RoHS-3 分析依据 ASTM F2617 要求&bull Epsilon 1 具有小微区分析功能，可对非均质样品进行详细直接的分析&bull CRM 解决方案可用于分析聚乙烯中的添加剂、受限元素和有毒元素

NS300是NanoSight颗粒表征产品系列中使用NTA（(Nanoparticle Tracking Analysis）技术的一种型号。NS300采用整体设计，具有对带荧光标记的颗粒进行检测的功能。NS300纳米颗粒跟踪分析仪可以对于悬浮液中粒径范围在10-2000 nm的颗粒进行粒径、散射光强、计数和荧光检测。其检测能力使其在蛋白质团聚、外泌体、微泡、药物传递等等领域具有广泛的应用。集成度高、激光模块易于更换 NS300纳米颗粒跟踪分析仪在40cm x 25cm x 40cm(长x宽x高)尺寸的主机内集成了高灵敏度科研级CMOS传感器、温控单元等模块。样品池和激光模块被巧妙地设计成为一个可拆分组合体，便于样品清洁以及激光模块的更换。此外，样品检测点已事先被调试固定好，用户测量时只需进行上下聚焦，为用户节省了时间。荧光样品检测 最多可将五个不同的荧光过滤片集成到荧光转轮上，通过软件控制转动转轮，从而可以 更加有选择性的跟踪分析不同的荧光材料。流变测试 软件中的流变功能可以通过在样品中加入已知粒径的示踪颗粒检测0.4 – 5.0 cP (mPa.s)范围内的非牛顿流体样品零剪切条件下的粘度。特点 四种激光波长选择 多荧光滤片自动切换(最多5个) 流变功能 研究颗粒的团聚过程样品池易于清洁 检测0.4 – 5.0 cP (mPa.s)的粘度信息 工作原理NanoSight仪器利用激光光源照射纳米颗粒悬浮液，借助金属镀膜形成全黑背景，可以清晰观察到带有散射光的颗粒的布朗运动。对于宽分布体系，NTA 软件可以同时对于每一个颗粒进行直接观测、自动 跟踪、粒径计算，并且同时得到整个体系的粒径分布信息。结合颗粒的散射强度，NTA软件可以绘制出粒径，对应数量分布强度和散射强度的三维图谱，可以对于粒径相同但是材质不同的样品清晰地作出区分。此外，NTA软件还可以保存颗粒运动的录像和图片信息，用于将来做进一步分析。

天瑞新型X荧光贵金属分析仪EDX 3600继承了天瑞仪器EDX系列的准确、快速、无损、直观及环保五大特点，FAST-SDD探测器，可准确无误地分析出黄金、铂金、银等饰品中金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱的含量,测试结果完全符合国标GB-1887《首饰贵金属纯度的规定及命名方法》和GB/T-18043《贵金属首饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》的要求。性能特点三重安全保护模式 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回归程序 任意多个可选择的分析和识别模型 高信噪比的电子线路单元 全元素测试专用X荧光分析软件 与传统仪器相比，新增加的抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的版图采用FAST-SDD探测器，分辨率低至125ev，更好的检测铂金中铱和金的含量提供多种准直器，直径小达0.2mm，轻松实现精小部位的精确测试精选全球优质组件组件 真空腔在分析低含量的轻元素时，必须使用真空泵设备把空气抽出，使内部在真空状态下对轻元素进行分析。真空泵（选配）极限真空：6×10-2 帕转速：1400 转/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦技术指标测量元素范围：从钠（Na）至铀（U） 测量对象状态：粉末、固体、液体 同时分析元素：30种元素同时分析 元素含量分析范围：1ppm-99.99%能量分辨率为：125ev测量时间：60s-200s（可调） 制冷方式：电制冷，无需任何耗材 环境温度：10℃-30℃ 环境湿度：35%-70%输入电压：AC 110V/220V管压：5kV-50kV管流：50μA-1000μA样品腔尺寸：334×500×80mm外观尺寸：670×533×855 mm重量：80kg标准配置FAST-SDD探测器 数字多道分析器 放大电路、高低压电源、高效X光管 计算机、打印机、真空泵（选配）、稳压电源（选配） 软件：贵金属分析软件（标配）、镀层分析软件（选配）、有害元素分析软件（选配）应用领域黄金、铂金、银等贵金属的成分检测。可广泛应用于珠宝首饰中轻元素的检测。 分析元素:金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱、钠、镁、铝、硅、磷、硫等

在几秒钟内完成多元素化学成分分析由于时间关键型过程控制或运行样品高处理量，您是否需要在几秒钟内对化学成分进行无损分析？ 同时测量多达 28 种元素，浓度范围为从 ppm 至 100％，马尔文帕纳科Axios FAST 同步 WDXRF 光谱仪是理想的解决方案。 准确而强大的分析，即使经验不足的员工也可方便地操作，同时正常运行时间长，拥有成本低。快速获得时间关键型应用的结果Axios FAST 元素分析仪只需几秒钟即可获得分析结果，是时间关键型应用和高样品处理量分析环境的理想工具。 主要应用领域包括钢与金属合金生产以及每天需要分析数百样品的地质或商业实验室。 特点高样品处理量凭借高速样品处理和操作可靠性，Axios FAST 同步 XRF 光谱仪是高速分析控制的理想产品。通过转盘结构实现的连续进样168 位 VRC 进样器，带有灵活的托盘装载功能，可实现无人值守的批量分析直接进样可实现快速无错样品装载和数据自动录入的样品条形码读取器增强的性能可同时测量多达 28 种元素，每个样品的测量时间低至 2 秒用于轻元素分析的高灵敏度 HiPer 通道最多可选 4 台测角仪所带来的分析灵活性X 射线阳极材料的范围（Rh、Cr、Mo、Au）为特定应用实现了高性能增强的仪器正常运行时间Axios FAST 专为关键型过程分析而设计，按照高质量标准而制造，运用了大量技术来预防和很大程度减少停机。带有 ZETA 技术的 SST-mAX - 可消除 X 射线管强度漂移并减少校准维护CHI-BLUE X 射线管窗涂层提高了 X 射线管的耐用性和耐腐蚀性主动除尘装置可在测量前将灰尘从样品上去除，从而尽可能防止灰尘进入系统，提升正常运行时间外部装有通道的紧凑型测量室 - 无需影响系统真空环境即可接触关键组件 - 从而可在维护后让系统迅速稳定只需用户进行有限干预的专用软件Axios FAST 使用马尔文帕纳科可靠的 SuperQ XRF 软件的新版本， 即使是欠缺经验的员工，也可以在接受低程度指导的情况下开展例行分析，与此同时软件仍可发挥出足以令用户满意的分析性能和功能。自动化Axios FAST 专门的软硬件接口允许灵活地连接样品传送设备和主机以实现全自动的分析。 Axios FAST 还是结合了直读光谱和 X 射线荧光光谱的 TEAMworks（全元素分析系统）解决方案的基础。 应用用于时间关键型的分析Axios FAST 通过在服务实验室等高处理量环境中进行采矿样品（如铁矿石，镍矿石）的分析，以及在钢铁行业所涉及的各种生产和质量控制应用中进行需要即时开展的样品分析，展现了强大的分析能力。 典型应用包括：低合金钢、铁素体钢和奥氏体钢的宽范围校准，铝合金的宽范围校准，钛合金的宽范围校准，低合金钢分析，不锈钢分析，工具钢分析，铸铁分析和制备为熔片的铁矿石样品分析。

Epsilon 3XLE 台式能量色散型X射线荧光光谱仪构建在其前代产品的经验和成功的基础之上，采用了激发和检测技术的最新成果。该仪器运行稳定，操作简便，对整个元素周期表中元素均具备卓越的分析性能。Epsilon 3XLE 光谱仪依靠各种软件模块是一款经济实惠、高度灵活的分析工具，适用于各种应用场合。Epsilon 3XLE 具有如下特点：通过智能激发和检测设计实现高灵敏度市场领先的轻元素性能确保X射线安全完全的数据可追溯性符合法规全球在线支持高度灵活的分析工具，适用于各种应用场合：Epsilon 3XLE - 具有改进的和扩展的轻元素功能（C - Am），用于实现更高的样品生产量Epsilon 3XLE 中配备的SDDultra硅漂移探测器甚至可以分析超轻元素，例如碳、氮和氧。Epsilon3XLE 光谱仪可以处理类型广泛的样品，包括固体、稀松或压片粉末、液体和滤片，重量从几毫克到更大的实体样品不等。广泛应用于石化产品、塑料和聚合物、环境、医药、采矿、建筑材料、研究与教育、金属、食品和化妆品等多个行业领域。Epsilon3X 光谱仪配有各种专用行业软件可选：Omnian - 先进的无标样分析软件；针对多种不同类型未知材料样品，实现快速可靠的定量分析。Oil-Trace - 石化行业专用软件；专用于解决对石油和石化进行分析时常面临的挑战的创新软件包。Stratos - 涂层厚度软件；Stratos模块采用的算法可同步确定化学成分和分层材料的厚度。FingerPrint - “指纹识别”软件；采用快速的光谱数据统计分析，可用于更全面的诊断分析的常规成分测定。

作为市场上高端科研级荧光光谱仪的领导厂商，IBphotonics公司一直致力于在已有技术优势的基础上，不断创新，结合用户不断升级的实验需求，将我们的系列仪器持续完善，增加更多样性的功能模块，丰富用户的选择，更好地服务于所有荧光光谱用户的实验工作。KEY FEATURESEmission time-resolved measurements insolutions, vapor cells and thin films,Fluorescence anisotropy measurements,Optimized for MHz Ti:Sa Oscilators,Covers fluorescence phenomena fromfemtoseconds to 2 ns,Sub-100fs time resolution,Easy alignment. DetectionRange:320-1300nm Excitation:SHG Time Resolution: 100fs(for laser pulsewidth 70fs)Optical Delay:2-ns travel, 3 fs step 4ns optionalDark Count Rate:3.106cps Software:Standalone and LabView TMDimentions:90 x 70 x 18.5cm (35.4 x 27.5 x 7.3 in.) Input Parameters Pulse Energy: 3 nJ(230mW@76MHz)Pulsewidth:30 - 200 fsBeam Diameter:2 - 5 mm Near TEM00Polarization:Linear, HorizontalRepetition rate:1-200 MHzWavelenght:770-820 nmBeam height:110 mm 作为市场上高端科研级荧光光谱仪的领导厂商，IBphotonics公司一直致力于在已有技术优势的基础上，不断创新，结合用户不断升级的实验需求，将我们的系列仪器持续完善，增加更多样性的功能模块，丰富用户的选择，更好地服务于所有荧光光谱用户的实验工作。KEY FEATURESEmission time-resolved measurements insolutions, vapor cells and thin films,Fluorescence anisotropy measurements,Optimized for MHz Ti:Sa Oscilators,Covers fluorescence phenomena fromfemtoseconds to 2 ns,Sub-100fs time resolution,Easy alignment. DetectionRange:320-1300nm Excitation:SHG Time Resolution: 100fs(for laser pulsewidth 70fs)Optical Delay:2-ns travel, 3 fs step 4ns optionalDark Count Rate:3.106cps Software:Standalone and LabView TMDimentions:90 x 70 x 18.5cm (35.4 x 27.5 x 7.3 in.) Input Parameters Pulse Energy: 3 nJ(230mW@76MHz)Pulsewidth:30 - 200 fsBeam Diameter:2 - 5 mm Near TEM00Polarization:Linear, HorizontalRepetition rate:1-200 MHzWavelenght:770-820 nmBeam height:110 mm

DM8000型X荧光光谱仪 概述 DM8000型X荧光光谱仪是由本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用波长色散X射线荧光分析技术(WDXRF)，多道同时测量从Na到U的任意十种元素，对大多数元素分析的含量可低至ppm高至100%。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作人员劳动强度低、只需一次性投资、无污染等特点，故广泛应用于建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。DM8000型X荧光光谱仪关键部件采用进口产品，如X射线管采用Varian公司生产的400W薄铍端窗X射线管，Na、Mg等轻元素道探测器窗采用Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗，恒温室温度控制精度小于0.1℃，流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa，由此使本光谱仪具有极高的精度和准确度，达到国际先进水平。本光谱仪屏蔽防护的良好设计保证无任何射线泄漏，满足辐射豁免要求。DM8000型X荧光光谱仪应用于我国水泥行业尤其显示出其优越性。由于该款仪器是为水泥行业专门开发的，完全满足国家推荐标准GB/T 176-2008 《水泥化学分析方法》和建材行业推荐标准JC/T 1085-2008《水泥用X射线荧光分析仪》，其性能对水泥行业来说比进口同类产品更好，而价格仅为进口同类产品的几分之一，具有无可比拟的价格性能比。另外国内企业售后服务的方便程度是国外企业所无法相比的。 主要技术指标 1. 分析元素或其氧化物种类: 从Na到U的任意十种元素及其氧化物，以水泥为例（下同）具体是：Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等。2. 分析范围宽度： “控制目标值±2.5%”的范围内，由所标定的曲线决定。3. 系统分析时间： 典型值：180秒。4. 精密度： 谱线强度的变异系数： εSiO2＜0.40%，εSO3＜2.0%，εCaO＜0.15%。5. 稳定性： 谱线强度的极差： RSiO2＜1.5%，RSO3＜5.0%，RCaO＜0.5%。6. 线性： 含量的误差： ENa2O＜0.035%，EMgO＜0.10%，EAl2O3＜0.14%， ESiO2＜0.14%，ESO3＜0.10%，ETiO2＜0.035%， EK2O＜0.07%，ECaO＜0.18%，EFe2O3＜0.10%。7. X射线管功率： 400W（最高50KV，最大8mA）。8. 恒温室温度： 36℃±0.1℃9. 使用条件： 环境温度：15~+28℃，相对湿度：≤75%(25℃)，电源：220V±20V，50Hz。10. 整机功耗： 50W。11. 尺寸及重量： 长×宽×高：790mm×760mm×1200mm，重量：195kg。 水泥国家标准样品测量结果 XS1标样Fe2O3SiO2SO3Al2O3CaOK2OMgONa2O标准值1.9614.430.244.2739.840.302.590.09平均示值1.9514.340.264.3139.950.292.510.07最大示值1.9614.390.274.3639.980.292.540.07最小示值1.9414.290.264.2939.920.292.500.07极差0.020.10.010.070.0600.040示值标准偏差0.0050.020.0020.020.020.00140.010.001示值相对标准偏差0.25640.16900.83460.46840.0500.50110.39841.506 让我们提供 更好的产品，更好的服务 公司简介（附图）上海爱斯特电子有限公司是专业生产用于建材行业分析仪的厂家。公司位于人杰地灵的金山区，在国家高速公路G1501亭枫公路出口旁，公司占地12亩，厂房面积7500平方米，固定资产近亿元。公司员工80%以上为具有大专以上文化程度的工程技术人员，高级技术人员占20%以上，具有雄厚的实力。公司自1992年成立以来已生产DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等一万多台，用户遍布全国各地，全国有50%以上的水泥厂已使用本公司的分析仪。公司每年的科技投入占销售额的15%以上，产品按ISO9001质保体系生产，大部分仪器为专利产品，其中DM2100型X荧光多元素分析仪被认定为上海市高新技术成果转化项目，并获上海市科技创新基金和国家发明专利。本公司仪器已获得全国第一张辐射豁免证书，是真正绿色环保产品。 地址：上海市金山区朱泾工业区中发路169号 邮编：201500 传真： 网址：电话(直线)： 电话(总机)： E-mail:

产品介绍：天津能谱FLUORO 9系列分子荧光光谱仪拥有高速荧光、发光、磷光测试（三维扫描）功能，是一种快速、准确的样品分析方法，可广泛应用于环境物体的分析监测，卫生控制和工艺过程监控，食品安全检测、材料研究等行业。优势特点采用超强脉冲氙灯作为光源，双单色器光学设计，可以参比和传输通道进行校正，提高测量精度；仪器采用的长寿命除臭氧型氙灯光源和光电倍增管检测器等关键器件，均为进口原装器件；200nm-900nm的宽光谱范围内有充足的光强信号和检测灵敏度。独特的光学系统设计，超高信噪比满足各种实验检测；具有多级带宽可调功能，适合各种测试情景；多种测量附件：包括膜状样品和粉状样品测量附件、超微量样品池，半导体恒温样品池附件、水浴温控比色皿架附件等可选；高速波长扫描速度，可在1分钟内轻松实现样品的三维荧光图谱扫描。高速扫描可缩短了对未知样品的分析时间，三维荧光分析，同步荧光分析的理想仪器；独特光学设计保证了仪器的高灵敏度，具备分析的高灵敏度和稳定性；超微量样品量测试设计，可以满足最低0.5mL样品的检测；系统符合FDA、认证标准，具有访问控制，权限分配、审计追踪，电子签名等功能，满足GMP/GLP要求。可选配提供3Q服务； 广泛应用序号 类别 检测项目 主要客户群体 1 维生素/微量元素VB₁ 、VB₂ 、VA、VC、Se、A1、Zn等 食品、医药、质检、高校(食品生物发酵专业)2 食品中有害物 甲醛、荧光增白剂、黄曲霉毒素、苯并(a)芘、氰化物等 食品、质检、高校(食品学院) 3农药残留 乙氧三甲喹啉等 食品、质检、高校(食品生物发酵专业)4 环境水质 地沟油(十二烷基苯磺酸钠)、石油类、苯并(a)芘等 环保、质检、高校(海洋学院) 5 食品色素添加剂胭脂红、曙红、荧光桃红、荧光素钠、日落黄、柠檬黄，亚硝酸盐等食品、质检、高校(食品生物发酵专业) 6 生物医学 组胺、钙离子浓度、氨基酸(丙氨酸、苯丙氨酸、酪氨酸、色氨酸)等，核酸研究，如DNA和 RNA、蛋白质研究、酶动力学、细胞研究，包括细胞内离子测定 生物、医药、高校(生物医学学院) 7 荧光材料 荧光粉、荧光板、量子点材料、稀土材料等，法医检查:油墨，纸张等的光谱特性分析对象材料、医药、高校(材料化工) 8生态地质生态地质研究使用“荧光标记”方法对水文地质过程进行研究。港口，河流和水库水域油品的污染源 外部因素对天然水体中油品生物降解过程的研究 水库生物活性对叶绿素荧光的研究 生态地质研究所，高校等。9科学研究测量发光光谱特性，研究有机和无机发光物质，发光标签，嵌入生物物体中 ，荧光粉，其他发光粉末的光谱纯度分析 研究院等

艾克手持式荧光光谱分析仪 钛合金材料分析检测技术参数：重 量主机:1.27kg，配电池后:1.46kg尺寸(长x宽x高)233mm x 84mm x 261mm激发源大功率高性能X射线微型管靶 材射线管靶材5种可选择 金（Au）、银（Ag）、钨（W）、钽（Ta），钯（Pd）电 压50kv电压（电压可变）滤波器多种可选择的滤波器，根据不同的被测物自动调节探测器高分辨率SDD探测器探测器制冷温度Peltier效应半导体制冷系统标准片合金校验片电 源标配2块锂电池（单块6800mAh）处理器高性能脉冲处理器操作系统Windows CE系统（全新版本）数据传输USB，蓝牙，WiFi 共享热点功能软件标准模式Alloy Plus 3.0数据处理SD海量存储卡，可存储数十万条数据（内存可扩）显示屏高分辨率TFT工业级彩色高清触摸屏，具备人体工学，坚固、防尘、防水，任何光线条件下清晰可见外形设计一体化机身设计，坚固，防水、防尘、防冻、防振，在恶劣的环境中均可正常使用。安全操作“一键式”检测，软件自动定时锁、自动停止测试功能；判断测试窗前无样品时2秒内自动关闭X射线（具有防呆功能）校 正仪器出厂前已经校正；仪器具备建立针对性的校正曲线功能，适用于特定样品的精确测试结果报告仪器配有标准USB，蓝牙，WiFi 共享热点传输功能，可直接定制报告格式和EXCEL格式下载检测数据及其X射线谱图。（用户可根据应用自定义报告）分析元素Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、W、Hf、Ta、Re、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Sn、Sb、Pd、Cd Ti和Th等元素。智能系统智能识别大气压并进行校正1. “一键式”开机并检测2. 重量轻、体积小，独特尖嘴设计适用于狭小部位。3. 性能卓越，现场无损检测，可直接接土壤样品表面测试，现场确定元素种类。4. 只需开机一次，超长待机无需关闭电源，无检测操作时自动待机，同时光管及探测器断电停止工作。5. 1/3机身为轻质铝合金结构，具有优良的防辐射和散热效果。6. 快速开机优于同类仪器；测试速度快，1-3秒内身份等级鉴定。7. 坚固的构造、密封超大屏幕彩色TFT显示，无LCD高原反应，防湿防尘。8. 稳定先进的操作系统、先进的智能软件，反应迅速。9. 丰富的智能牌号库。（客户可自建牌号库）10. 一体式供电，海量存储、待机时间长。 艾克手持式荧光光谱分析仪 钛合金材料分析检测软件说明仪器工作原理说明 l XRF就是X射线荧光光谱分析仪(X Ray Fluorescence Spectrometer) 。 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光 ，而把用来照射的X射线叫原级X射线。l 当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12~10-14S，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。l 当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光(特征X射线)，其能量等于两能级之间的能量差。l 特征X射线荧光产生： 碰撞→跃迁↑(高) →空穴→跃迁↓(低)l 不同元素发出的特征X射线荧光能量和波长各不相同，因此通过对其的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 软件工作光谱仪采用了目前国际上先进的软件算法，基本参数法（FP）。公司经过近10年的开发和完善，使软件已经具备了完善的使用内容外，还具备强大的教学和科研开发功能。光谱仪软件算法的主要处理方法1) Smoothing谱线光滑处理2) Escape Peak Removal 逃逸峰去除3) Sum Peak Removal 叠加峰去除4) Background Removal 背景勾出5) Blank Removal 空峰位去除6) Intensity Extraction 强度提取7) Peak Integration 图谱整合8) Peak Overlap Factor Method 波峰叠加因素方法 四、产品保修及售后服务24小时/7天不间断服务4小时内响应回复远程在线故障诊断排除长期备品备件保有库存新机免费安装培训新机15天内包换可根据客户要求定新机保修一年 终身免费维护 产品配置：(1) X荧光光谱分析仪主机一台；(2) 矿石分析专用测试软件一套；(3) 锂电池(两块) ；(4) 锂电池充电器一套；(5) 专用数据下载USB数据线一套；(6) 316标准帽一块；(7) 用户手册一份；(8) 仪器出厂检验合格证书 ；(9）窗口保护膜二片；(10) 防水主机保护箱一个；

通过使用 Epsilon Xflow 进行在线液体分析，可以快速准确地控制过程参数。 增强的法规和质量规范推动对持续工艺流程的需求。 Epsilon Xflow 提供的实时洞察能力让您能够更有效地管理您的生产工艺并降低运营成本。&bull 同步分析多种元素&bull 实时结果&bull EDXRF 技术&bull 高度可重复性Epsilon Xflow 光谱仪为石化产品、聚合物、采矿、金属、食品和环境等特定行业提供量身定制的解决方案。燃料和润滑油的混合清晰度在炼油操作中，通过改善混合清晰度，可以减少硫的“泄漏”，以满足 Tier 3、Euro VI 和其他环境法规的要求。 在图中直观显示在低硫水平下出色的可重复性，确保更清晰的混合，从而减少“泄漏”。在矿石加工过程中监测液体和溶液矿石和精矿的加工需要频繁和准确的监测，以确保高效率低成本。Epsilon Xflow 可以在严峻的工艺条件下实现在线控制加工液体、溶液和试剂的成分。矿井废水控制为了保护环境和采矿作业周围的生命免受有害元素的影响，必须对矿井废水的质量进行持续的在线监测。Epsilon Xflow 可以探测有毒金属和其他元素的痕量，从而在必要时能够立即采取对抗措施，以防止造成环境破坏。监测液体食品中的重要矿物质营养和矿物质强化是许多食品生产过程中必不可少的步骤。准确强化与均匀混合相结合将确保最终产品始终符合标签声明。Epsilon Xflow 为液体产品中受控的重要矿物质（包括钾、钙和铁）提供在线监测。特点工艺中的元素分析X 射线荧光 (XRF) 是一种非破坏性的元素分析技术，可以测量您的工艺流，而不会造成任何损失或化学/物理变化。 由此实现的实时在线分析可以快速优化许多工艺参数和产品属性。高度可重复、准确且维护需求低Epsilon Xflow 采用经过验证的强大 Epsilon 3X 技术，该技术由激发和探测技术提供支持。 设计精良的光路、适合轻元素和重元素的广泛激发功能，加上高灵敏度 SDD 探测器系统，这一切造就了 Epsilon 3X 的强大性能。可为许多生产工艺定制Epsilon Xflow 的灵活设计使其在许多不同的工艺和工艺条件下都可轻松地实现集成。 我们提供专用的完整解决方案，能够应对不同的条件，例如：温度压力粘度pH 值腐蚀性溶剂极性统包解决方案安装可包括：样品调理ATEX 设计样品回收和废物管理适当的保护工艺流选择各种气候下的实验室表现在工厂环境中，恶劣的条件很常见。 分析仪的多种不同的功能使其能够应对恶劣和不断变化的气候条件：温度和气压变化的实时校正加热电子设备，以便在寒冷环境中使用可以进行额外冷却，以便应对热带条件提供保护

便携式荧光光谱仪特点 光谱仪分辨率FluSys-405： 0.5nmFluSys-532： 0.5nm 用户可订制多种波长范围及分辨率 高灵敏度和精度 支持Spectral Analysis 5.0软件下载应用 晶体荧光光谱检测 稀土元素荧光光谱检测 水质分析 浑浊控制 汽油分析 DNA分析 ■ 基本组成　 FPB-405/ 532 荧光探头　 405/ 532光纤激光器　 光纤光谱仪:Aurora4000 　 PC数据处理单元　 人机界面 ■ 激光器参数：波长(nm)405±5532±1模式Near TEM00TEM00功率稳定性1%,3%,5%1%,3%,5%操作模式CWCW预热时间(分钟)510工作温度(℃)10-3510-35预期寿命(小时)1000010000保修期1年1年 ■ 光谱仪参数：波长范围405-850nm（光谱仪波段及分辨率可订制）532-1100nm（光谱仪波段及分辨率可订制）光学分辨率(nm)0.5nm FWHM像素数量(pixels)3648像元尺寸8um*200um尺寸(mm)149*105*46重量(g)840信噪比300:1全光谱积分时间4ms-10s功耗450mA@5VDC数据传输速度每4ms通过USB2.0全扫描内存每18ms通过USB1.1全扫描内存输入/输出5个输入端口和5个输出端口模拟通道一个12位模拟输入和一个12位模拟输出接口类型30pin ■ 荧光探头参数：　激发波长(nm)405nm / 线宽~1nm532nm / 线宽~1nm探头焦距(mm)7.5探头主体材料黑色阳极氧化铝材质，111*38*14.8mm 探头顶端38mm光纤配置两根排列的单芯光纤 (100 μm 激发光光纤,200 μm 接收光纤)N.A. =0.22, SMA905接口PVC护套/金属护套光纤长度：1m滤光效果可以将接收到的杂散光滤除, 并且消除石英光纤产生的背景散射(O.D. 5 @激光波长)工作温度(℃)0-40℃连接端口SMA 905 连接器 ■ 软件光谱分析Spectral Analysis 软件操作系统Windows XP/Win7 (32位和64位) ■ 产品特性尺寸：406*330*174mm 405/ 532激发光源功率可调且稳定 测量简便、速度快、易于操作 具有库匹配与搜索功能，且提供方便的自建库功能 采样灵活稳定，分析样品形式多样 外接供电（充电），配车载充电器 防尘、防水、防震动、野外使用防环境强光干扰

特点 光谱仪分辨率T-FluSys-405： 0.5nmT-FluSys-532： 0.5nm 高灵敏度和精度 用户可订制多种波长范围及分辨率 支持Spectral Analysis 5.0软件下载应用　 晶体荧光光谱检测 稀土元素荧光光谱检测 水质分析 浑浊控制 汽油分析 DNA分析 ■ 基本组成 FPB-405/ 532 荧光探头 405/ 532光纤激光器 光纤光谱仪:Aurora4000 PC数据处理单元 人机界面 ■ 激光器波长(nm)405±5532±1模式Near TEM00TEM00功率稳定性1%,3%,5%1%,3%,5%操作模式CWCW预热时间(分钟)510工作温度(℃)10-3510-35预期寿命(小时)1000010000保修期1年1年 ■ 光谱仪波长范围405-850nm（光谱仪波段及分辨率可订制）532-1100nm（光谱仪波段及分辨率可订制）光学分辨率(nm)0.5nm FWHM像素数量(pixels)3648像元尺寸8um*200um尺寸(mm)149*105*46重量(g)840信噪比300:1全光谱积分时间4ms-10s功耗450mA@5VDC数据传输速度每4ms通过USB2.0全扫描内存每18ms通过USB1.1全扫描内存输入/输出5个输入端口和5个输出端口模拟通道一个12位模拟输入和一个12位模拟输出接口类型30pin ■ 荧光探头激发波长(nm)405nm / 线宽~1nm532nm / 线宽~1nm探头焦距(mm)7.5探头主体材料黑色阳极氧化铝材质，111*38*14.8mm 探头顶端38mm光纤配置两根排列的单芯光纤 (100 μm 激发光光纤,200 μm 接收光纤)N.A. =0.22, SMA905接口PVC护套/金属护套光纤长度：1m滤光效果可以将接收到的杂散光滤除, 并且消除石英光纤产生的背景散射(O.D. 5 @激光波长)工作温度(℃)0-40℃连接端口SMA 905 连接器 ■ 软件光谱分析Spectral Analysis 2.0 软件操作系统Windows XP/Win7 (32位和64位) ■ 产品特性尺寸：420*272*160 mm 405/ 532激发光源功率可调且稳定 测量简便、速度快、易于操作 采样灵活稳定，分析样品形式多样 外接供电（充电），配车载充电器 防尘、防水、防震动、野外使用防环境强光干扰

专为对贵重物品和静止物体进行现场分析而设计ARTAX是个商业化的便携式微区 X 射线荧光光谱仪，设计用于满足对贵重的物品如考古和艺术品进行现场成分分析的需求。 对材料的结构和组成进行非破坏性的微区多元素分析，分析元素范围11Na-92U，空间分辨率达到70微米。 适用于用于现场对各种尺寸、形状的样品进行无损检测。 模块化的设计允许许多应用，文物保护、考古、刑侦以及商检等领域。 第四代XFlashSDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术， 不需要液氮，没有任何消耗。分辨率优于165eV at MnKa 100Kcps。优于145eV分辨率探测器可选。 灵活的设计，样品检验时可以不受空间、样品尺寸限制。X-Y-Z 三维自动定位跟踪样品台，防碰撞保护，可以自动完成点、线、面扫描功能。 配有各种靶材的低功率X射线光管、CCD相机、微聚焦多孔毛细管镜、XYZ样品台、激光定位系统。 微聚焦多孔毛细管镜与准直管相比强度提高1000倍以上。 根据应用要求不同，可提供多种配置。 ARTAX系统的部件是它的紧凑式的探测头：含有设计的、fei常紧凑的，具有微聚焦X射线管；毛细管聚焦光学系统产生一个高光强微区；一个紧凑的，高分辨率，无氮且高速/低噪的XFlash SD探测器；的观测、分析、采样点定位系统。快捷的X射线光管更换 测量头由一个含有探测器单元、CCD相机和指示激光组成。位于旁边的激发单元，由光管外壳、X射线光管、X射线光学系统组成，通过锁紧固定，便于快速更换。这样的设计，令用户可以选择合适的激发源或者靶材，也可以快速跟换X射线光学系统。基于三脚架的便携性 测量头、电动马达驱动X-Y-Z三向定位平台和控制模块都被安置于一具可移动的、减震三脚架上。这样的设计使整个测量系统在工作时可以根据被测物的具体形状和位置自由定位，同时驳斥重复性优于±10 μm。轻质元素分析 ARTAX 具有氦气保护系统，用于轻质元素的测量分析。使用氦气保护，测量的范围可以从在空气中的Ti(22) 至 U(92) ，下降到 Na(11)。使用氦气保护的额外的好处是，使得原本在真空中可能的样品，避免受到伤害。轻质元素检测性能，使得那些原本重要，却不被重视的 元素得以被检测到，如P(15), S(16) 和Cl(17) 以及 Al(13) 和 Si(14)等。其它特性：由于更加紧凑的测量头设计的样品测量距离，令样品可接近性大大改shan；接触传感器可避免艺术品的损坏辐射防护：增加了一个基本功能，可以直接访问的终止控制开关；如额外的警告灯，门联锁触点，等；轻质元素测量时，软件可以实现氦气流量控制；定位激光也可以实现软件控制。功能强大的ARTAX软件--SPECTRA：XRF软件用于控制硬件功能，实现光谱采集和存储；元素识别，峰解谱功能，用于计算光谱---背景归一以及峰净面积计算；强大的定性分析、定量计算功能；报告和数据输出功能同时显示100条光谱；可以创建400万条光谱的数据库；基于DCCR算法，进行定量计算（DCCR: Direct Comparison of Counting Rates）匹配筛选功能，可以在库软件中筛选出相似谱线.文物保护、文物修复、考古、艺术品、笔迹鉴定、书画、刑侦、材料研究、电子、汽车、航空航天等领域。

微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。M4 TORNADO采用了技术，为各种用户提供了佳的分析性能和方便的操控性。 采用多导毛细管聚焦镜，照射光斑小，空间分辨率高。 涡轮增速X-Y-Z样品台，借助放大倍数可变的摄像系统获得的样品影像，可在“飞行中”进行元素分布分析。 通过可选的双X射线光管和多6个滤光片进行灵活的激发。 使用XFlash探测器高速地获取样品图谱，另外，使用多个探测器可以进一步提高测量速度。 基于无标样分析法准确定量分析块状样品，准确分析多层膜样品。 具有便捷进样功能的可抽真空的样品室 行业应用：1.地球科学（岩心、岩石、沉淀物、微体化石、年轮等多元素分布成像、行扫描与相序分析。）2.司法鉴定、法医及痕量分析（弹孔射击残留物GSR分析等）3.艺术与考古(对文物进行颜料、色料的成分分析，修复文物)4.生命科学（植入材料扩散材料分析，生物体内的生物矿化，水凝胶质检，树木横断面/叶子/树根年轮）5.材料科学（三元梯度薄膜分析，锂电池正极材料异物分析，水泥钢材腐蚀检验）6.环境科学(土壤重金属、污水污泥重金属分析、空气和城市废物)7.质量控制与故障分析仪（电子和电子部件元素分析，ROHS分析）

微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。M4 TORNADO采用了技术，为各种用户提供了佳的分析性能和方便的操控性。 采用多导毛细管聚焦镜，照射光斑小，空间分辨率高。 涡轮增速X-Y-Z样品台，借助放大倍数可变的摄像系统获得的样品影像，可在“飞行中”进行元素分布分析。 通过可选的双X射线光管和多6个滤光片进行灵活的激发。 使用XFlash探测器高速地获取样品图谱，另外，使用多个探测器可以进一步提高测量速度。 基于无标样分析法准确定量分析块状样品，准确分析多层膜样品。 具有便捷进样功能的可抽真空的样品室行业应用：1.地球科学（岩心、岩石、沉淀物、微体化石、年轮等多元素分布成像、行扫描与相序分析。）2.司法鉴定、法医及痕量分析（弹孔射击残留物GSR分析等）3.艺术与考古(对文物进行颜料、色料的成分分析，修复文物)4.生命科学（植入材料扩散材料分析，生物体内的生物矿化，水凝胶质检，树木横断面/叶子/树根年轮）5.材料科学（三元梯度薄膜分析，锂电池正极材料异物分析，水泥钢材腐蚀检验）6.环境科学(土壤重金属、污水污泥重金属分析、空气和城市废物)7.质量控制与故障分析仪（电子和电子部件元素分析，ROHS分析）

FLUO-IMAGER紧凑型水中油三维荧光光度计产地：欧洲LDI简介：? 紧凑台式设计，体积小?同时测量SFS和吸收光谱?可选流动测量模式?适用于水中油测定?氙闪光灯? 5 kg产品特点：同时完成荧光和吸收测量Fluo-Imager分析仪在测量SFS（改性发射矩阵-EEM）的同时，对预设定波长下的样品荧光光谱进行测量。同时也对吸收光谱进行测量。实现了水样品中的非荧光物质的探测和光密度的控制。在对综合水质数据进行多元校准时，吸收数据也列入了考虑。自动SFS 特征谱库通过自调节特征库，可以根据要求对具体应用进行优化。Fluo-Image的应用范围广泛，可用于自然水，锅炉水，冷却水，工业废水，地下水等样品的测量，以及钻井平台周围的油和PAH探测。无需任何化学添加物该测量方法的一个优势在于测量过程中不需要添加任何的化学物质，因此也不会产生任何测量废弃物，测量完成后样品可以继续使用。多参数分析由于采用自调节特征库，可以对数据库中已经存在的物质进行测量。目标测量物质可以分开独立进行测量，也可以和其他组分一起进行测量。当某个组分的含量达到临界值，可以对警报法制进行设定。持续背光修正纯净天然水的SFS测量结果中包含腐殖酸和富啡酸的光谱图。为了对水中的污染物进行测量，背光的荧光度（FDOM）也列入了考虑。水中甲苯的2维色谱图和3维模型不同的颜色（紫色到红色）表示荧光的不同强度。典型探测极限：原油重油0.5 mg/l 中油0.5 mg/l 轻油0.3 mg/l燃料油煤油0.1 mg/l 汽油（Petrol）0.5 mg/l 柴油0.5 mg/l 汽油（Gasoline）0.2 mg/l润滑油车油0.5 mg/l 透平油0.5 mg/l苯酚苯酚0.01 mg/l 间甲酚0.1 mg/l 百里酚0.05 mg/lPAH蒽1 μg/l 萘5 μg/l 苯并芘1 μg/l浮游植物叶绿素1 μg/l PFP-7火焰光度计ATS 200S型多通道火焰光ATS/37007铀分析仪ATS/40997火焰光度计ChemTrom 近红外光谱分FP8000火焰光度计ECS 4024 CHNSO元ECS 4010 CHNSO元布鲁克G8-GALILEO氧氮布鲁克G4-PHOENIX扩散FLUO-IMAGER便携式三FLUO-IMAGER紧凑型水FLUO-IMAGER型浮游植IONIX 电化学微量金属分析 1/1 FLUO-IMAGER型浮游植物三维荧光光度计产地：欧洲LDI简介：? 全自动系统，内置蠕动泵?现场在线测量?实验室单次测量?每2分钟进行一次测量?专门为浮游植物或油污染应用定制? 采用氙灯? 17 kg产品特点：同时完成荧光和吸收测量Fluo-Imager分析仪在测量SFS（改性发射矩阵-EEM）的同时，对预设定波长下的样品荧光光谱进行测量。同时也对吸收光谱进行测量。实现了水样品中的非荧光物质的探测和光密度的控制。在对综合水质数据进行多元校准时，吸收数据也列入了考虑。自动SFS 特征谱库通过自调节特征库，可以根据要求对具体应用进行优化。Fluo-Image的应用范围广泛，可用于自然水，锅炉水，冷却水，工业废水，地下水等样品的测量，以及钻井平台周围的油和PAH探测。无需任何化学添加物该测量方法的一个优势在于测量过程中不需要添加任何的化学物质，因此也不会产生任何测量废弃物，测量完成后样品可以继续使用。多参数分析由于采用自调节特征库，可以对数据库中已经存在的物质进行测量。目标测量物质可以分开独立进行测量，也可以和其他组分一起进行测量。当某个组分的含量达到临界值，可以对警报法制进行设定。持续背光修正纯净天然水的SFS测量结果中包含腐殖酸和富啡酸的光谱图。为了对水中的污染物进行测量，背光的荧光度（FDOM）也列入了考虑。水中甲苯的2维色谱图和3维模型不同的颜色（紫色到红色）表示荧光的不同强度。典型探测极限：原油重油0.5 mg/l 中油0.5 mg/l 轻油0.3 mg/l燃料油煤油0.1 mg/l 汽油（Petrol）0.5 mg/l 柴油0.5 mg/l 汽油（Gasoline）0.2 mg/l润滑油车油0.5 mg/l 透平油0.5 mg/l苯酚苯酚0.01 mg/l 间甲酚0.1 mg/l 百里酚0.05 mg/lPAH蒽1 μg/l 萘5 μg/l 苯并芘1 μg/l浮游植物叶绿素1 μg/l

仪器简介： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）荧光光谱仪器可提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。 借助于成熟的FluoroLog® 技术，Nanolog® 采用模块化设计，即可实现稳态测量，也可实现瞬态测量（TCSPC技术），系统搭配成像光谱仪，可实现红外三维荧光快速测量。 NanoLog ® 系列仪器专门用于纳米技术和纳米材料的研究， NanoLog ® 可以检测到800-1700nm的近红外范围，可选~2&mu m的多通道检测器和~3&mu m的单通道检测器，同时也可实现紫外-可见区荧光光谱测量。专为单壁碳纳米管（SWNTs）设计的NanoSizer® 软件，可计算荧光共振能量传递(FRET)和碳管内径分布，并且在微秒时间内就能获得完整的二维光谱图，1秒内获得的激发-发射三维荧光光谱图。技术参数：450W的大功率连续氙灯，涵盖UV~NIR波长范围快速获得全波长范围激发-发射三维荧光图Symphony II InGaAs阵列检测器：800~1700nm；规格可选：256× 1，512× 1和1024× 1，单像元25µ m；噪音水平：650e-rms （液氮制冷）；可选电制冷；扩展范围可选（1.1-2.2µ m）iHR320发射光谱仪：焦长=320mm；f/4.1；线色散=2.64nm/mm；分辨率=0.06nm；全软件控制三光栅塔轮（所有测定在光栅刻线数1200gr/mm条件下）固态近红外检测器，光电倍增管覆盖UV~NIR全光谱范围寿命测定，采用时间相关单光子计数技术测定荧光寿命范围：100ps~1ms（UV~NIR）；磷光寿命范围1us~10s（UV~NIR）主要特点：一秒内获得激发-发射三维光谱高灵敏度的近红外InGaAs阵列检测器高光谱分辨率易于实现SWNTs的定性和定量分析可选多种检测器适于紫外至近红外光谱范围的检测需求： PMT用于高灵敏度和时间分辨的测量 InGaAs阵列检测器用于NIR数据的快速采集 CCD阵列检测器用于UV-Vis数据的快速采集同时解析量子点易于实现能量转移研究模块设计以满足不同实验的需求可选附件：超连续激光光源 液氮杜瓦瓶HPLC流通池 光纤导入支架多芯光纤 四位电磁搅拌控温样品架两位电磁搅拌控温样品架 单池电磁搅拌控温样品架固体样品架 积分球停留附件 显微镜耦合部件多孔板阅读器 铂尔贴控温装置外部触发装置 自动滴定注射附件1~5/50/250&mu L微量样品池 截止滤光片偏振片附件 低温附件

上转换激光诱导荧光光谱仪型号 : LIFS808-BUP产品介绍LIFS808-BUP上转换激光诱导荧光光谱仪主要由三个部件组成：808nm半导体激光器、808nm激光诱导上转换荧光探头和微型光纤光谱仪。相比于传统的荧光光谱仪，808nm上转换激光诱导荧光光谱仪的具有激光功率小、灵敏度高、测量不受样品形态影响等特点。样品可以是固体、粉末、液体等。主要应用领域可分为：生物医疗、宝石鉴定、纳米材料等。特点列表◆ 灵敏度高，相对传统的0/90的采样方式荧光信号提高2个数量级◆ 采样灵活，固体、液体、粉末均可检测◆ 内部增加了窄线宽滤光片，有效屏蔽激发光本身噪声影响◆ 半导体808nm激光器，体型小，功耗低◆ 20mW-500mW，激光功率可调，利用效率更高◆ 共聚焦设计，OD3的滤波效果◆ 可适配显微镜产品参数项目值整机尺寸180mm*135mm*70mm整机重量2Kg激光器波长808nm+/-3nm预热时间:15 Min激光器线宽2nm输出功率20mW-500mW功率稳定性3% RMS使用寿命5000hrs滤光片激光截止深度3荧光波长范围400nm-750nm适应激光器波长范围808nm+/-3nm尾纤长度100cm工作距离7.5mm探头直径9.6mm光谱范围400-1100nmA/D16信噪比300：1分辨率1nm工作温度10-35℃电源电压5V 3A操作软件结构图实物图下转换激光诱导荧光光谱仪产品介绍主要由三个部件组成：808nm半导体激光器、808nm激光诱导下转换荧光探头和微型光纤光谱仪。相比于传统的荧光光谱仪，808nm下转换激光诱导荧光光谱仪的具有激光功率小、灵敏度高、测量不受样品形态影响等特点。样品可以是固体、粉末、液体等。主要应用领域可分为：生物医疗、宝石鉴定、纳米材料等。特点列表◆ 灵敏度高，相对传统的0/90的采样方式荧光信号提高2个数量级◆ 采样灵活，固体、液体、粉末均可检测◆ 内部增加了窄线宽滤光片，有效屏蔽激发光本身噪声影响◆ 半导体808nm激光器，体型小，功耗低◆ 20mW-500mW，激光功率可调，利用效率更高◆ 共聚焦设计，OD3的滤波效果◆ 可适配显微镜产品参数项目值整机尺寸180mm*135mm*70mm整机重量2Kg预热时间15 Min激光器波长808nm+/-3nm激光器线宽2nm输出功率20mW-500mW功率稳定性3% RMS使用寿命5000hrs滤光片激光截止深度3尾纤长度100cm适应激光器波长范围808nm+/-3nm荧光波长范围850nm-1100nm工作距离7.5mm探头直径9.6mm光谱范围400-1100nm分辨率1nm信噪比300：1A/D16工作温度10-35℃电源电压5V 3A操作软件结构图实物图

微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。M4 TORNADO采用的技术，为各种用户提供了好的分析性能和方便的操控性。 采用多导毛细管聚焦镜，照射光斑小，空间分辨率高。 涡轮增速X-Y-Z样品台，借助放大倍数可变的摄像系统获得的样品影像，可在“飞行中”进行元素分布分析。 通过可选的双X射线光管和多6个滤光片进行灵活的激发。 使用XFlash探测器获取样品图谱，另外，使用多个探测器可以进一步测量速度。 基于无标样分析法准确定量分析块状样品，准确分析多层膜样品。 具有便捷进样功能的可抽真空的样品室 行业应用：1.地球科学（岩心、岩石、沉淀物、微体化石、年轮等多元素分布成像、行扫描与相序分析。） 2.司法鉴定、法医及痕量分析（对衣物上的弹孔进行射击残留物GSR分析）3.艺术与考古(对文物进行颜料、色料的成分分析，修复文物)4.质量控制与故障分析仪（电子和电子部件元素分析，ROHS分析）5.发动机部件、电机/润滑油（识别电机/润滑油中的发动机磨损产物）6.生命科学（检查树木横断面/叶子/树根年轮）7.材料科学（钢材腐蚀检验）8.环境科学(土壤重金属、污水污泥重金属分析、空气和城市废物)9.过滤器上的薄膜（空气滤膜）

真空型X荧光光谱古董分析仪EDX 9900 plus美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率真空测试环境提供最优轻元素检测效果超宽元素分析范围，涵盖11Na to92U超大型抽真空样品腔，满足不同大小、器形的陶瓷样品无损检测大功率真空泵，缩短测量时间，极大提高检测效率多滤光片自动切换，提高微量元素检出限多准直孔，可测试不同大小样品点位内置高清摄像头EDX9900 plus能量色散荧光光谱仪-古董分析专家古陶瓷、古青铜器、古金器等金属文物和是古代文明的瑰宝，对世界文化和现代文明都具有重要的影响。现行的古器鉴定工作中,如何精确探究文物所藏成为最有待解决的问题。断源与断代是古陶瓷科学技术研究中的两个重要方面，其中必定要使用到对古陶瓷标本的化学组成以及记录其年代信息的载体进行测定的科学方法。测定古陶瓷标本与各地制陶原料的化学组成可以确定古陶瓷的产地，并可在一定程度上帮助判断古陶瓷的烧造年代；而通过检测保留在古陶瓷内部的记录其年代信息的各种载体，则可以较准确的进行断代。能量色散X荧光能谱(EDXRF) 是以X射线照射到样品表面，利用能谱仪测定各种元素的特征X射线光子的能量和强度，以此来进行定性和定量分析。作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9900 plus古董分析仪配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂古董样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体或者粉末，EDX9900 plus古董分析仪都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9900 plus光谱仪在古器、古文物鉴定科学领域中，快速无损的鉴别陶器，油画，影印制品，玉石、玻璃制品，宝石，青铜及铜合金真伪和年代，对文物、艺术品的修复起到了重要的作用英飞思EDX9900 plus古董分析光谱仪可以一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份；也能对青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Cu、Ni、Zn等）的化学成份含量进行检测，再对照中国古陶瓷数据库便可以达到断代断源的功效。EDX9900 plus古董分析仪专注于对古董陶瓷或金属材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：测定青铜器中的元素成分测定瓷器的元素成分测定金银器中的元素成分测定铁器等元素成分产品特点作为一款专业为古董元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9900 plus古董分析测试光谱仪兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：• 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果• 强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响• 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率• 能同时进行元素和氧化物成分分析• 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全• 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高• 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像• 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位古董元素检测专家EDX9900 plus仪器参数仪器外观尺寸: 880×750×1280 mm超大样品腔：665×580×980mm仪器重量: 315Kg元素分析范围：Na11-U92硫到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器X光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Ag初始化标样古董陶瓷标准样真空泵交流净化稳压电源USB数据线电源线测试薄膜仪器出厂和标定报告保修卡功能强大而界面友好的测试软件EDX9900 plus已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了一键初始化仪器，基体自动匹配自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度可实时刷新测量结果简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线可定制化测试报告，一键打印陶瓷样品10次测试稳定性报告样品名称Na2OMgOAl2O3SiO2PK2OTiO2Fe2O3陶瓷4-10.15300.358219.250868.41180.14034.84630.15180.9259陶瓷4-20.16000.310219.226068.19610.13204.86340.15690.9184陶瓷4-30.16770.349819.070968.29300.13114.85110.15060.9249陶瓷4-40.17210.339919.145368.15050.13384.84300.14970.9216陶瓷4-50.15900.319019.187568.34850.13044.85860.15350.9108陶瓷4-60.15870.356819.153068.28220.13704.85590.14670.9171陶瓷4-70.15030.313219.124368.36570.13264.85930.14520.9267陶瓷4-80.16420.318219.137168.30770.12694.85180.14140.9182陶瓷4-90.15050.331019.147168.32040.13734.85690.15720.9221陶瓷4-100.15640.300319.111968.24440.13604.84060.14930.9244陶瓷4-110.16220.334519.053768.28050.13474.85070.15260.9175平均值0.15950.330119.146168.29100.13384.85250.15040.9207标准偏差0.00690.01960.05920.07470.00380.00710.00480.0048相对标准偏差4.32%5.94%0.31%0.11%2.81%0.15%3.18%0.52%

显微荧光光谱测量系统，可视化定位使观测者可以检测样品上不同表面状态的荧光信号，同时在计算机上同步显示所检测位置的微区状态，便利了荧光微区检测，使得“所见即所测”成为可能。该平台将优化的共焦显微模块与优良的荧光测量系统相结合，光学设计匹配无限远显微光学系统，优化的光路设计，灵活的结构模块组合，可依据客户要求定制不同波长的显微荧光检测平台，同时新产业公司提供的的激光器和光谱仪设备，为客户提供了更多的选择空间。特点　 可调节稳频激光，避免波长漂移及样品损坏 保证激光焦平面与物镜视场焦平面重合以达到共焦 高稳定性探测器，提高了光谱采集效率及准确性 模块化设计，可自行组装，操作简单，携带方便 波长范围及分辨率可定制应用　 晶体微区荧光光谱检测 微区稀土元素荧光光谱检测 量子点荧光标记微区光谱测量 微纳光子器件微区PL光谱测量 ■ 产品型号 Mic-F-Sys 405/ 532系列型号 ■ 基本组成 荧光模块、荧光检测系统、显微镜 ■ 产品参数 显微镜显微镜型号GMM-580Z轴调焦系统粗微动同轴调焦微动格值：2um带锁紧和限位装置X/Y移动平台尺寸210mm*140mm平台移动范围50mm*75mm相机500万像素成像系统ISH500 (可选择)显微物镜5X-100X (可选择)相机图像芯片CMOS, 彩色, 逐行扫描芯片尺寸1/2.5 英寸有效像素500 万像素尺寸2.2um*2.2um分辨率(H×V)2592*1944帧频5fps(2592 ×1944 全分辨率)21fps(1280*960)25fps (1024 ×768)38fps (640 ×480)色彩深度24bit信噪比54dB工作温度(℃)0-60数据接口高速USB2.0镜头接口标准C-mount激光器波长(nm)405±5 (波长可定制)532±1 (波长可定制)模式Near TEM00TEM00功率稳定性1%,3%,5%1%,3%,5%操作模式CWCW预热时间(分钟)510工作温度(℃)10-3510-35预期寿命(小时)1000010000保修期1年1年光谱仪波长范围200-1100nm（光谱仪波段及分辨率可订制）光学分辨率(nm)0.75nm FWHM像素数量(pixels)3648像元尺寸8um*200um尺寸(mm)149*105*46重量(g)840信噪比300:1积分时间4ms-10s功耗450mA@5VDC数据传输速度每4ms通过USB2.0全扫描内存每18ms通过USB1.1全扫描内存输入/输出5个输入端口和5个输出端口模拟通道一个12位模拟输入和一个12位模拟输出接口类型30pin荧光探头光谱范围(nm)405-850532-1100激发波长(nm)405532探头焦距(mm)7.5探头主体材料黑色阳极氧化铝材质光纤配置两根排列的单芯纤 (100μm激发光光纤, 200μm接收光纤) , N.A.=0.22, SMA905接口, PVC护套/金属护套，光纤长度：1m 软件光谱分析Spectral Analysis 软件相机成像ISCapture操作系统Windows XP/Win7 (32位和64位)

LIFS-976系列激光诱导荧光光谱仪，主要由三个部件组成：976nm多模光纤耦合激光器、976nm光纤探头和微型光纤光谱仪。 相比于传统的荧光光谱仪，976nm激光诱导荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高等特点。 该系统采用TEC制冷控制，保证了激光光源工作更加稳定，性能更加优异。其检测样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等。 LIFS-976系列激光诱导荧光光谱仪检测系统更具有重现性好，测量速度快，灵敏度高等特点。适合于各种工业和科研用户。主要应用领域可分为：生物医疗、宝石鉴定、纳米材料、农业生产、石油化工等。 产品特性1. 半导体976nm激光器，体型小，功耗低2. 高空间分辨：测量结果可达微米量级3. 稳定性达到3% RMS4. 10,000.00小时寿命5. 毫秒级光谱采集速度6. 20mW-500mW，激光功率可调，利用效率更高7. 固体、液体、粉末均可检测8. 共聚焦设计，OD3的滤波效果规格参数物理参数整机尺寸:180*135*72mm整机重量:1.5Kg激光器激光器波长:976nm+/-1nm激光器线宽:0.2nm输出功率:20mW-500mW功率稳定性: 3% P-P使用寿命:10000hrs预热时间:15 Min探头滤光片激光截止深度:OD3激光器波长范围:976nm+/-5nm荧光波长范围:350nm-850nm工作距离:7.5mm探头直径:9.5mm尾纤长度:150cm光谱仪光谱范围:400-1100nm像素:2048分辨率:1.5nm信噪比:300:1A/D :16bit其他电源电压:5V 3A工作温度:10-35℃

多元素分析高灵敏度X射线荧光光谱仪(HS XRF)高性能XRF台式机PHECDA-HE&HES1.概述高灵敏度X射线荧光光谱仪（HS XRF） 型号：PHECDA-HES型号：PHECDA-HE核心技术： 硬件：单色化聚焦技术HS XRF 软件：快速基本参数法Fast FP&bull 硬件核心技术：单色化聚焦激发技术 全聚焦双曲面弯晶将X射线管出射谱某一特定波长单色化并聚焦衍射至样品点，因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外，不存在连续散射背景，从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。 &bull 软件核心技术：快速基本参数法快速基本参数法Fast FP2.0 XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收-增强效应、标准样品欠缺等问题，对于不同类型样品的定量分析带来挑战。 基本参数法是当前X射线荧光领域的研究前沿， 快速基本参数法（Fast FP）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，将物理学明确的物理现象建立相应的数学模型，基本参数法充分计算X射线光产生的各种效应，减少分析误差，通过少量标准物质（或定值样品）的校正得到更为精确的元素定量结果。&bull 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA与快速基本参数法联用提供行业解决方案：解决方案解决问题应用特点应用领域土壤无机元素分析 &bull 满足《GB15618-2018土壤环境质量农用地土壤环境污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 &bull 满足《GB36600-2018土壤环境质量建设用地土壤污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 &bull 各类土壤与沉积物中50多种无机元素含量分析 &bull 优化镉的检出能力，土壤镉的检出限达到0.06mg/kg &bull Fast FP算法消除土壤基体差异，达到土壤无机元素精确定量分析环境监测、地质地矿、土壤检测、大学科研水质重金属检测 &bull 满足地表水、地下水、生活饮用水、企业排污水等重金属限值含量检测 &bull 环境水质污染事件重金属含量现场快速检测 &bull 重金属富集膜片技术（HMET）与HS XRF联用，将水质重金属检出限降低至1-3ug/L环境水质应急监测、环境水质现场检测固废重金属检测 &bull 满足固废中27种毒性元素和7种氧化物快速定量分析 &bull 危废鉴别-毒性元素含量分析 &bull Fast FP对各类固体废物的基体自适应 &bull 样品处理简单，快速定量分析环境监测、环境司法鉴定、科学研究、固废处理企业PM2.5无机元素分析 &bull 满足《HJ 829-2017 环境空气 颗粒物中无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法》 &bull 提供从PM2.5无机元素分析到污染源溯源数据分析 &bull PM2.5膜片中三十几种无机元素含量快速含量分析 &bull Fast FP完成无标样（或少标样）情况下PM2.5膜片元素含量分析 环境监测、空气污染源调查、科学研究食品重金属快速检测 &bull 满足《GB2762-2017食品安全国家标准 食品中污染物限量》中部分食品重金属限量值检测要求 &bull 水产品、肉类、调味品、水果蔬菜、粮食、茶叶等食品及其制品中铅、镉、砷、铬、镍、锡等重金属含量检测 &bull 提供全套食品前处理设备与方案，样品处理简单，检测速度快 &bull Fast FP软件对各类食品基体的自适应 &bull 与实验室参比方法高度一致性食品安全领域、公安系统食品安防、海关食品监管矿石全元素分析 &bull 铁矿石、铅矿石、铜精矿、锰矿石等无机元素含量分析 &bull 矿石中有害元素（铅、砷、汞、镉等）含量分析 &bull 稀土元素含量分析 &bull 提供现场矿石元素含量整体解决方案 &bull Fast FP算法对各类矿石产品的精确定量分析能力地质、矿产、有色、海关中药重金属含量检测 &bull 满足中国药典规定的中药重金属（铅、镉、砷、铜）限量值含量检测要求 &bull Fast FP算法对各类中药基体的适应与背景扣除 &bull 快速、简单、精确中药行业石化产品中金属元素含量分析 &bull 满足汽柴油产品中铁、锰、铅限量值含量检测 &bull 润滑油、机油、汽柴油等各类油品中金属元素含量分析 &bull 对石化产品中金属元素检出限达到0.1mg/kg水平 &bull 二十多种金属元素同步分析石油化工水泥窑协同处置 &bull 满足环保和建材行业对水泥窑协同处置中规定的从生料、熟料到水泥及水泥浸出物的重金属元素含量检测 &bull 水泥工业全元素（钠、镁、铝、硅、铁、钙、氯等）含量分析，分析添加材对水泥质量影响的判断 &bull Fast FP算法对各类样品基体的自适应 &bull 重金属膜片富集技术（HMET）满足水泥熟料浸出物中重金属含量检测建材工业、水泥企业 2.特点 高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力，快速基本参数法（Fast FP）提升元素精确定量水平，两项核心技术的结合，为XRF元素检测带来新的应用前景。 2.1 单色化聚集激发技术 高灵敏度XRF重金属分析仪采用双曲面弯晶单色化器，优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景，提升元素荧光射线的信噪比。 2.2采用高性能SDD探测器 硅漂移探测器（SDD）是能量色散X射线荧光光谱仪的核心部件，其性能取决于晶体面积、窗口材料、计数率、分辨率等，PHECDA 系列采用当今高性能的SDD探测器，确保元素分析性能。 2.3 Fast FP算法 （1）XRF分析的困难点是元素荧光强度不仅与样品中元素含量相关，也与其它元素含量有关，这就是所谓的基体吸收-增强效应，而这种物理效应，使得选择合适的标准样品成为困难，若选择的标准样品基体不一致、不能含盖待测样品的各元素含量范围，就会对实际样品分析带来误差。 （2）基本参数法（Fundamental parameters method）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到更为精确的元素定量结果。 2.4 优化镉元素检出能力 镉是有毒重金属，在环境保护和食品安全等领域备受关注，常规XRF对镉（Kα：23.1KeV）的激发和探测存在挑战，高灵敏度X射线荧光光谱仪通过对镉的单色化聚焦激发，对镉的检出限达到的0.06mg/kg水平。 2.5 高通量 PHECDA-HES 配置30位以上自动进样单元； 无需气体、真空等辅助设备3.规格 指标参数说明原理 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱法元素范围 Mg-U检出限(mg/kg) Cd：0.06mg/kg Pb：0.4mg/kg Cr:1.0mg/kg 土壤基体，元素扫描时间300秒重复性 Cd:0.3mg/kg RSD＜15% 土壤基体，元素扫描时间300秒样品种类 固体样品、液体样品、粉末样品、粘稠样品 提供不同样品的制备方案自动进样 PHECDA-HES配置30位自动进样单元，可条形码扫描软件 Fast FP软件系统，支持各种样品应用开发、谱图显示对比、无标定量、标样校正、元素定量分析、数据存储、网络传输富集技术 重金属富集膜片（HMET）与HS XRF联用技术，水质重金属检出限达到1~3ug/L详细技术参数与应用方案请咨询安科慧生工作人员！ 4.应用4.1 痕量元素检出能力 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪基于全聚焦性双曲面弯晶的单色化聚焦技术，提升元素信号强度的同时大幅降低散射线背景，大幅提升样品元素信噪比，从而将XRF对元素分析延伸至微量和痕量应用领域。 4.2 软件准确定量能力 安科慧生科研人员历时十几年成功开发先进的快速基本参数法（Fast FP），其通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，快速基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素定量分析结果。 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA系列与快速基本参数法（Fast FP）的强强联合，为以下行业提供完整的解决方案：应用领域解决方案编号编号环境保护 农用地和建设用地土壤无机元素含量分析 HMET+HS XRF联用应对环境水质重金属应急监测 固体废物重金属含量检测 PM2.5无机元素含量分析与数据溯源食品安全 食品中重金属含量快速测定-X射线荧光基本参数法 中药中重金属含量检测-HS XRF with Fast FP 化妆品中重金属含量检测-高灵敏度XRF重金属分析仪地质矿产 HS XRF与Fast FP对各类矿石元素含量分析 稀土元素含量快速检测高纯金属（合金）分析（铜）精矿元素含量分析其它 水泥窑协同处置重金属含量分析 石化产品中金属元素含量分析

便携式原子荧光光谱仪PAF1100产品介绍真正用于现场快速检测的便携式原子荧光光谱仪；原子荧光进入固体酸时代，全面替代盐酸、硝酸、磷酸和硫酸高度集成低功耗进样技术 低功耗全封闭原子化技术 数字化自动对光技术 短焦距非色散光学系统 智能化传感及GPS定位技术 全自动双气源气路系统 微型光电检测系统 低功耗无线通讯技术；全新的S-G平滑和小波变换滤波技术 固体酸及压片技术 自适应尾气排放系统。应用领域：食品卫生检验、环境样品检测、城市给排水检验、农产品检验、地质冶金检测、化妆品检验、纺织纤维样品检测、教学研究、临床医学样品检验、药品检验、土壤饲料肥料检验

仪器特性及优势：北分瑞利便携式原子荧光光谱仪的重量仅为10Kg，功率仅为12W。其体积、重量和功率仅为与常规原子荧光光谱仪的1/5、1/6和1/20，但是具备与常规原子荧光光谱仪相同的技术指标，可携带到现场进行重金属污染的快速检测。在分析方法上，首次以精确定量预制成片剂的环境友好型试剂-固体酸全面取代具有危险性和毒性的液体盐酸、硝酸、磷酸和硫酸，极大地简化了现场分析的复杂程度。便携式原子荧光在高度集成的低功耗进样技术、低功耗全封闭原子化技术、数字化对光技术、短焦距非色散光学系统、智能化传感及GPS定位技术、全自动双气源气路系统、微型光电检测系统、低功耗无线通讯技术、全新的S-G平滑和小波变换滤波技术、固体酸及硼氢化钾压片技术、自适应尾气排放系统、电源管理模块等十余项涉及原子荧光子模块的自主知识产权关键技术领域获得重大突破，累计申请专利已经超过30项。指标参数检出限（DL）：As≤0.06μg/L，Hg(冷原子法)≤0.006μg/L重复性（RSD）：As ≤1.5%，Hg(冷原子法)≤1.5%线性范围：大于三个数量级标准曲线的线性(r)：As 0.5μg/L—50μg/L范围内的r≥0.999， Hg 0.05μg/L—5μg/L范围内的r≥0.999稳定性：30分钟内漂移≤2%，30分钟内噪声≤2%应用领域：食品卫生检验、环境样品检测、城市给排水检验、农产品检验、地质冶金检测、化妆品检验、纺织纤维样品检测、教学研究、临床医学样品检验、药品检验、土壤饲料肥料检验

Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器，其包括光谱仪、内置计算机、触摸屏和分析软件。 Epsilon 1 台式X射线荧光光谱仪采用激发和检测技术的新成果，是低成本小型台式XRF仪器。Epsilon 1 台式X射线荧光光谱仪能生成快速、具有成本效益、准确的数据，基本不需要操作员干预和样品制备。 因此，与成本高昂、同时需要技能熟练的操作员操作的湿式化学方法和其他分析技术（如 AAS 和 ICP）相比，总体运行成本会下降很多。 Epsilon 1 台式X射线荧光光谱仪是手持 xrf 分析仪或 xrf 枪的便携式安全替代品。 请阅读选择我们的五大理由，了解为什么您应考虑 Epsilon 1 而不是其他手持设备。可靠且灵活的定量分析Epsilon 1 可以使用与常规样品成分相匹配的参考材料进行校准。 经过专门的校准后，可以提供准确可靠的数据。 Epsilon 1 可针对各种工业设施进行校准。 Epsilon 1 是一款高性能的台式 XRF 仪器，非常适合对周期表中从钠到镅的主量、微量和痕量元素进行分析。增强的数据安全性Epsilon 系统软件的增强的数据安全性选项可帮助您加强审计跟踪，显著降低误差风险，并证明 XRF 仪器能够按预期方式工作。 功能包括高级用户管理、操作记录和数据保护。特点非破坏性分析几乎不需要进行样品制备，即可直接在样品上执行测量。 由于 XRF 是一项无损技术，因此也可根据需要随后采用其他分析技术测量样品。高灵敏度薄窗 Ag 阳极 X 射线光管，由马尔文帕纳科设计和制造，确保高质量和高灵敏度。 50 kV X 射线光管和发生器非常适合激发重元素，可加快分析速度并提高准确性。方便的通信进行 USB 和网络连接，以使用用于扩展使用、应用程序开发和固定的操作员的标准计算机外围设备。空气变化钠、镁、铝、硅、磷和硫的低能量 X 射线光子对气压和温度变化很敏感。 内置温度和气压传感器可补偿这些大气变化，确保在各种气候条件下结果不受影响。溢漏保护为了保护系统核心部分免于溢漏，准备好保护膜。 发生溢漏时，操作员可以方便地更换保护膜。主要应用矿业和矿产 &bull 对岩石、矿石和钻芯进行直接定量分析&bull 使用 FingerPrint 软件快速识别阳性材料&bull 无标分析，无需专门校准即可定量分析多种矿物质 金属 &bull 使用 Stratos（多）层分析解决方案对涂层进行简单检查&bull 阳性材料鉴定套件，快速实现金属分类和提供合格/不合格报告 &bull 矿碴的元素定量分析&bull 快速筛查含铁和非含铁金属 石化产品 &bull Epsilon 1 燃料含硫测量仪遵循 ASTM D4294、ISO 8754、20847、IP 336、496 和 JIS K2541-4 测试方法&bull 即用型润滑油测量仪符合 ASTM D6481 规定性能&bull 一站式光谱仪服务，符合石油和燃料标准的认证 食品 &bull 快速定量分析食品和动物饲料产品中的营养素&bull 缩短食品和动物饲料过程控制的反馈回路&bull 可靠准确的奶粉定量分析 建筑材料 &bull 水泥、熟料和原材料的现场流程和质量控制&bull 使用无标分析筛选多种替代燃料和原材料 (AFR) 学术界 &bull 一台仪器适合各类样品，无需专门校准&bull 安全的设计和较低的公用设施要求，是理想的教育工具&bull 即用型学术界解决方案，通过使用 Omnian 无标分析进行预校准 制药 &bull 对残留物元素直接分析，加速流程开发&bull 利用可用的“增强数据安全性”软件，达到 FDA 21 CFR Part 11 的 要求&bull 高效的原材料检查，可快速识别供应变化&bull 可选“安装和操作鉴定”套件（IQ 和 OQ） 环保 &bull 现场识别受污染的土壤&bull 对采样器所在位置的空气过滤器上的无机化合物进行分析&bull 快速分析废水 塑料和聚合物 &bull RoHS-3 分析依据 ASTM F2617 要求&bull Epsilon 1 具有小微区分析功能，可对非均质样品进行详细直接的分析&bull CRM 解决方案可用于分析聚乙烯中的添加剂、受限元素和有毒元素