能量型荧光光谱仪原理

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行准确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。性能特点超薄窗X光管数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，准度更高，在合金检测中效果更好FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然技术参数产品型号：EDX 4500H产品名称：X荧光光谱仪测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：30秒-200秒探测器能量分辨率为：145±5eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃环境湿度：35%-70%样品腔体积：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg标准配置超薄窗X光管FAST-SDD探测器数字多道技术光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式可靠的整体钢架结构90mm×70mm的状态显示液晶屏真空泵应用领域合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）

产品型号：EDX 4500产品名称：X荧光光谱仪测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：60秒-200秒探测器能量分辨率为：125eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃环境湿度：35%-70%外形尺寸：660mm×510mm×350mm样品腔体积：Φ320mm×100mm重量：65Kg性能特点超薄窗X光管，指标达到国际先进水平数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然标准配置超薄窗X光管FAST-SDD探测器数字多道技术钢铁行业测试专用配件光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回归程序整体钢架结构，力度可靠的保证90mm×70mm的液晶屏真空泵

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF（能量色散 X 射线荧光）系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。 ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；2、元素分析浓度范围从1ppm到100%；3、多元素同时测量时间10-60秒；4、可选多种进样器；5、使用CCD相机进行样品成像；6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；8、多功能XRF应用软件；9、薄膜厚度测量与镀层分析；10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；11、多语言支持；12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；14、设计紧凑，可以轻松移动；15、低噪音、得益于智能温控风扇；16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；17、易于安装，更易于维护。与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X射线管产生的所有杂散干扰。

追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200 ü无损分析，保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样)新升级———降低分析成本————l阈值算法优化，有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级，降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管，有效提高高湿度地区光管使用寿命

EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析，满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统。应用领域电镀行业、电子通讯、航天新能源、五金卫浴、电器设备汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等超高硬件配置采用Fast-SDD探测器,125eV分辨率,能精准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。搭配大功率X光管,能很好的保障信号输出和激发的稳定性,减少仪器故障率。高精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动,更精准快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。设计亮点上照式设计，可适应更多异型微小样品的测试。相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，满足微小产品，台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台，微小密集型可多点测试，大大提高测样效率。自带数据校对系统。软件界面人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。曲线的中文备注，让您的操作更易上手。仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。

天瑞新型X荧光贵金属分析仪EDX 3600继承了天瑞仪器EDX系列的准确、快速、无损、直观及环保五大特点，FAST-SDD探测器，可准确无误地分析出黄金、铂金、银等饰品中金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱的含量,测试结果完全符合国标GB-1887《首饰贵金属纯度的规定及命名方法》和GB/T-18043《贵金属首饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》的要求。性能特点三重安全保护模式 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回归程序 任意多个可选择的分析和识别模型 高信噪比的电子线路单元 全元素测试专用X荧光分析软件 与传统仪器相比，新增加的抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的版图采用FAST-SDD探测器，分辨率低至125ev，更好的检测铂金中铱和金的含量提供多种准直器，直径小达0.2mm，轻松实现精小部位的精确测试精选全球优质组件组件 真空腔在分析低含量的轻元素时，必须使用真空泵设备把空气抽出，使内部在真空状态下对轻元素进行分析。真空泵（选配）极限真空：6×10-2 帕转速：1400 转/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦技术指标测量元素范围：从钠（Na）至铀（U） 测量对象状态：粉末、固体、液体 同时分析元素：30种元素同时分析 元素含量分析范围：1ppm-99.99%能量分辨率为：125ev测量时间：60s-200s（可调） 制冷方式：电制冷，无需任何耗材 环境温度：10℃-30℃ 环境湿度：35%-70%输入电压：AC 110V/220V管压：5kV-50kV管流：50μA-1000μA样品腔尺寸：334×500×80mm外观尺寸：670×533×855 mm重量：80kg标准配置FAST-SDD探测器 数字多道分析器 放大电路、高低压电源、高效X光管 计算机、打印机、真空泵（选配）、稳压电源（选配） 软件：贵金属分析软件（标配）、镀层分析软件（选配）、有害元素分析软件（选配）应用领域黄金、铂金、银等贵金属的成分检测。可广泛应用于珠宝首饰中轻元素的检测。 分析元素:金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱、钠、镁、铝、硅、磷、硫等

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用三重射线防护系统（软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计），彻底杜绝各种工作情况下的辐射泄露。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用独创设计的组合式短光路光路盘，显著提高检测灵敏度，降低检测限。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用大型样品室，无需破坏和前期处理即可测量比较大的样品。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪软件工作站一键式操作，简单易用，使用方便，人机交互友好，无需专业知识。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪从S到U的快速元素分析，测量时间可调。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪多达15组复合滤光片，X射线照射径从1mm到7mm可选。强大的自主定制分析报告格式功能，分析报告可保存为 PDF 和 Excel 两种格式，分析结果自动保存，可方便对历史数据进行查询及统计，只需一次点击即可输出数据。软件可视频观察样品的位置，并且对样品进行拍照，样品图片显示在测试报告中。可进行谱图比对，对不同元素含量的谱图进行比对，进行材料识别。采用经典的定性定量分析方法，全面保证测试数据的准确性。开放式校准曲线平台，可为客户量身定做有害物质检测方案。

微谱科技WEPER XRF2800便携式能量色散X荧光光谱仪WEPER XRF2800 是一款基于X射线荧光原理的现场元素分析利器，是微谱科技在深耕XRF技术多年的最新力作。便携式X荧光光谱仪体积小、重量轻、性能稳定、灵敏度高、操作灵活、外形美观，可轻松应对复杂、恶劣的野外环境，随时随地对样品中的元素进行定性和半定量分析。广泛应用于场地调查、土壤初筛、油品、现场监控、现场污染物筛查等领域基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率4w，最大电压50kV，最大电流200uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：7寸 产品特点： 体积小，超级便携230mm×230mm×290mm迷你尺寸，随时随地都可为您提供测试服务超长续航大容量电池，续航时间6-8小时；可额外配置大容量手提式充电器，让您操作无忧出数快，30+元素一键即测，10 s左右即可得到稳定测量值，可同时分析30多种土壤金属元素，还可根据客户需求定制增加检测元素一体化X光管，性能优异采用高性能微型X射线管，搭配智能多位滤光片，针对重点元素进行了特别优化，达到最优异的检测效果更高的分辨率WEPER XRF2800采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至125eV@Mn Kα线，因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分领进谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析其他应用WEPER XRF2800打破了实验室环境条件的限制，无需真空和氦气条件就可以分析样品中的Mg、Al、Si、P、S等轻元素。可实现现场采样及现场分析矿石品味、进行矿石评估、岩心检测、绘制矿石分布图等。是地质勘探、矿山开采现场检测的得力助手。WEPER XRF2800可以实现快速、准确分析土壤中Pb、As、Cu、Ni、Zn、Cr等重金属，能够及时对厂区、矿区、重工业区周边环境进行监测，从而有效进行控制排放和污染治理。同时还可以对土壤中的营养元素进行监测，提高农作物的质量和产量，实现智能耕作。WEPER XRF2800可为海关检测假冒伪劣的材料和产品，用于进出口管控，识别冲突矿物，验证金、银、铂、钯金属的纯度，用于进口征税。还可用于珠宝贵金属的识别以及汽车三元催化剂的回收检测。

能量色散X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分析方法。不管是块状样品、粉末样品还是液体样品，位于元素周期表上从4号元素铍（Be）到92号元素铀（U）之间的几乎所有元素都可以进行精确的定性、定量和无标样分析。根据不同的应用要求，其分析浓度范围可从0.1ppm到100%，而且即使高至100%的元素浓度也能直接进行测量而无须进行稀释。XRF分析法具有样品制备简单、测定元素范围广、测定精度高、重现性好、测量速度快（30s-900s）、无环境污染、不破坏样品等特点。 XRF法广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域，在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。具体应用见以下说明： ●电子、塑胶、五金材料：各种电子元件、五金件、塑胶原料及制品、线路板等。●纸张及纸原料：纸原料、各种纸张、调色剂、油墨等。●石油、煤炭：石油、润滑油、重油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等。●陶瓷、水泥：陶瓷、耐火材料、岩石、玻璃、水泥、水泥原料和生料、熟料、石灰石、高岭土、粘土等。●农业、食品：土壤、农药残留物、肥料、植物、各种食品等。●有色金属：铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等。●钢铁：生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、高合金钢、特种钢、铁合金、铁矿石、炉渣、电镀液、铸造砂等。●化学工业：无机有机物及制品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂、催化剂、涂料、颜料、药品、化学纤维等。●环境：各种废弃物、工业废物、大气粉尘、工业废水、海水、河水等。●生物科学：有机体、辅助物等。 X射线荧光分析基本原理各种元素的核外电子轨道位能互不相同，因此，受激发后发出的X射线光子能量互不相同，即每种元素发射该元素原子所特有能量的X射线，代表了该元素的特征，因此称作该元素的特征X射线。每种元素的特征X射线具有其特定的能量，检测到此种能量的X射线，即可以确定物质样品中有该元素存在。 能量色散X射线荧光仪器原理X光管加高压产生的原级X射线经过滤光片适当过滤后照射到样品上，激发样品中所含元素的特征X射线(称为X射线荧光)，使用具有高能量分辨率的X射线探测器，得到X射线荧光能谱，不同的元素在谱图上形成不同的谱峰。谱峰的强度与样品中元素的含量成正比关系，通过计算机对探测器检测到的能谱进行解析，以谱峰位置和形状对样品中含有的元素种类进行定性，用谱峰强度对元素成分进行定量分析。 能谱仪简介：能量色散X射线荧光光谱仪是采用能量色散X荧光分析技术，同时测量多种元素的分析仪器，根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。该仪器可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业。是企业质量控制的理想选择。 整机性能：●Si(PIN)或SDD半导体制冷探测器探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一 分 辨 率 145eV (分辨率越低则灵敏度越高)计 数 率 1000/S晶体面积 15平方毫米铍窗厚度 = 0.025mm探测功率 1.2W ●多道脉冲幅度分析器（俗称谱仪能量刻度）通道数：2048道 ●电源控制器系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制 400 VDC ●低功率小型侧窗X射线发生器（俗称X光管）经过内部嵌铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。 罐绝缘油用于高压绝缘和冷却，0.005英寸铍窗标准窗口，额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命15000小时。 ●高压发生器输 入：85～265Vac,47～63Hz,功率因数校正。 1kV～5kV的型号符合UL85～250Vac输入标准电压变动率：无负载到满负载，输出电压的0.01%电流变动率：0～额定电压，输出电流的0.01%纹 波：输出电压的0.25%峰-峰 温度系数：电压或电流调定，0.01%/℃ 稳 定 性：预热半小时后，0.05%/8小时 ●滤光片自动转换系统滤光片自动转换系统：6种滤光片自动选择并自动转换（滤光片作用：改善激发源的谱线能谱成分，在进行多元素分析时，用来抑制高含量组分的强X射线荧光，提高待测元素的测量精度）。 ●安全防辐射系统1、重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理（从源头做起）2、全封闭铅板双层防辐设计（从设计结构做起）3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置4、样品盖意外开启X射线强制中断装置 5、延时测试与X射线警示系统 ●针对ROHS指令限制使用有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限为2ppm ●强大的分析软件工作站1．一键式的操作软件，简单易用，无需专业知识。2．人性化的人机界面3．各种测试参数无需操作人员设定，强大定制报告功能。4．测试数据自动存储，具有历史查询功能。5．最前沿的定性定量分析方法。6．可同时分析几十种元素。7．元素分析快速，分析时间从30秒到900秒可调。8．长时间待机不用，自动降低管压、管流，延长X光管寿命。9．对X射线管进行温度管控，保护X射线管并延长它寿命。10．实时监测仪器运行状态，轻易维护仪器。11.防止在测试样品时打开样品盖的误操作，软件有警示操作提示，同时关闭高压电源。

微谱科技5E-XRF2510高性能能量色散X射线荧光光谱仪5E-XRF2500 X射线荧光光谱仪凭借其紧凑的尺寸，优异的分析性能，超高的测试效率，可以精准测试从F到U的所有元素。广泛应用于水泥、采矿、金属冶炼、玻璃陶瓷、化妆品、催化剂、石化等行业。基本参数：元素范围：F-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：3种可选，空气，真空，氦气触屏大小：10寸产品特点：操作简单在测试过程中，可随时查看仪器运行状态：管压、管流、光管温度、光谱室真空度、各类传感器状态、探测器温度信息，随时全面掌握仪器的工作信息样品旋转通过样品旋转，增加样品测试面积的同时提高代表性，使样品测试结果更加准确高性能能量色散X射线荧光光谱仪，从灵敏度，分辨率和稳定性体现更高的灵敏度微谱科技5E-XRF2500设备采用石墨烯SDD探测器，更加紧凑型的光路，微型测试腔、创新性的解谱算法，计数率高于1000000cps，使得从F到U的所有元素都可获得最佳的灵敏度。例如，通过上述创新性技术，可以使用熔融制样方法对样品中的钠元素进行准确定量分析，以前只有价格昂贵的WDXRF才可以完成的任务，而现在使用微谱科技的EDXRF就可以完成更高的分辨率5E-XRF2500采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至123eV@Mn Kα线，因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分领进谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析，如地质矿物以及金属合金样品的分析。更高的稳定性5E-XRF2500创新性的采用微型测试腔体设计，紧凑型测试光路，高真空度光谱室，样品自旋技术，创新性的稳谱技术。使得微谱科技的EDXRF具有极高性能的长期稳定性。

X-123——封装于可手持小金属盒内的完整X射线探测系统。RoHS/WEEE标准X射线荧光分析测试中使用的理想系统。无需液氮。图1。图2。图3. 6mm2/500µ m（探测器有效面积/厚度）的探测器得到的55Fe能谱。 包含：1. X射线探头和前置放大器（前放）；2. 数字脉冲处理器和多道分析器；3. 电源和PC接口。产品特性：1. 紧凑的一体化设计；2. 易操作；3. 体积小（2.7 x 3.9 x 1英寸，7 x 10 x 2.5厘米）；4. 低功耗（2.5W）；5. 重量轻（180克，6.3盎司）；6. USB和RS232通讯支持；7. 可封装全系列的AMPTEK探测器。应用范围：1. X射线荧光谱仪；2. 执行RoHS/WEEE标准检测的仪器；3. 流程控制；4. 艺术和考古；5. X-123产品演示。探测器：1. Si-Pin半导体X射线探头；2. 两级热电制冷；3. 面积：6-25mm2；4. 厚度：300-500µ m；5. 多层准直器。典型性能参数：1. 分辨率：在5.9keV能量出的半高全宽为145到230eV；2. 适用能量范围：1-40keV；3. 最大计数率：可达每秒两百万计数。4. 实际的性能参数取决于不同的探测器和配置，可以为不同应用进行优化。 X-123是代表Amptek 公司14年X射线探测器技术发展的集大成产品。我公司一直致力于生产小型、低功率、高性能、易操作的仪器，而X-123是该宗旨的集中体现——X-123包含有 XR100-CR型X 射线探测器及其电荷灵敏前放，带脉冲整形功能的数字脉冲处理器 DP5，多道分析器和数据接口以及PC5供电电源。用户仅需提供+5V直流输入和USB/RS232线缆和您的计算机通讯。X-123产品介绍： Amptek公司专注于生产小型、低功耗、高性能和易操作的X射线光谱仪。X123将Amptek公司的高性能X射线光谱分析元件产品集成在一个独立的盒体内，这些元件包括：XR100CR探测器和前放，DP5数字脉冲处理器和多道分析器以及 PC5电源。这样的一体化系统更适合手持操作。而市场上销售的其它谱仪系统，仅前置放大器就比X123谱仪更大、更重，而且更耗能。而X123额外需要的只有两根线缆连接：电源线（+5V 直流电）和数据线（USB 或 RS232）。任何人都能利用X-123方便快捷地得到高质量的X射线能谱。 该系统的核心部件是一个 Si-PIN光电二极管：X射线与硅作用，在硅中平均每损耗3.62 eV的 X射线能量便产生一个电子/空穴对，即为输入信号。 探测器以及输入场效应管（FET）均安装在一个热电致冷器上，并与一个定制的电荷敏感前放相连。热电致冷技术的应用缓解了探测器和前放上的电子学噪声问题，其工作原理与大家比较熟知的空调制冷比较类似；电荷敏感前放则采用了一种新型的反馈技术，即通过高压连接向探测器输入复位脉冲。 DP5是一个数字脉冲处理器，可代替现今大多数模拟信号系统中采用的成形放大器和多道分析器（MCA）。数字技术的应用改善了诸多关键参数：1. 性能更佳，尤其是在高计数率时有更好的分辨率和性能；2. 有更多的配置方案可选，因此使用范围较广，具有较大的灵活性；3. 用户可利用RS-232 接口和配套软件控制，选择配置方案；4. 稳定性和可重复性更好。 DP5 将前放的输出信号数字化，并对信号进行实时处理，测定峰值（即数字化），然后将这些数值存储于寄存器中，并生成能谱图，最后谱图通过DP5的接口传送到用户的计算机上。Amptek DP5处理器主要有 6个功能模块来实现上述程序：1. 模拟信号预滤波器；2. 模数转换器（ADC）；3. 数字脉冲整形器；4. 脉冲选择逻辑单元；5. 寄存器单元；6. 硬件接口（包括一个微控制器）和配套软件。 系统电源采用的是 Amptek公司的PC5模块（结构简单，单块电路板）。输入为电压约为+5V，电流为200mA的直流电。PC5中利用开关电源为数字处理器和前置放大器提供它们所需的直流低电压，同时它还包含了一个高压倍增器以产生探测器所需要的400V的高偏压，并闭环控制热电制冷器以提供达85℃的温差。另外在出厂前会针脚对配套探测器进行所有电源输出调试。 整个系统被封装在一个7 x 10 x 2.5 cm3的铝盒中，探测器安装于加长管的前端。在标准配置下，仅需两条连接线：电源线（+5V 直流电）和数据线（USB 或 RS232）。当 X123 与其他仪器配合使用时，DP5电路板上还可集成更多的输入/输出：一个 MCA 门，一个缓存选择信号、同步输出和 SCA 输出。详情请联系Amptek公司或查阅DP5说明书。图4. X-123架构和接线图。 X-123参数说明：系统性能能量分辨率在5.9 keV能量处半高全宽为145-230 eV。具体数值因探测器、峰化时间和温度的不同而不同。可探测能谱范围在1.5-25keV能量范围中X射线探测效率25%。超过该能量范围则探测效率会有一定下降。最大计数率受峰化时间影响。开启堆积判弃功能时，50%空载时间下推荐的最大计数率如下表。DP5 峰化时间（µ s）2.46.425.6成形时间（µ s）1.02.911.6推荐的最大计数率1.2x1054.6x1041.2x104 探测器和前放探测器类型Si-PIN，SDD或CdTe。探测器面积6 mm2-25 mm2。探测器厚度300 µ m和500 µ m。铍窗厚度1mil(25µ m)或0.2mil(12.5µ m)。准直器多层。热电致冷两级。前放类型AMPTEK公司为用户定制的可利用高压连接复位的前放。脉冲处理器增益结合使用粗调和微调增益可获得从0.84到127.5连续可调的所有增益。粗调增益通过软件可选从1.12到102的共16个对数档： 1.12，2.49，3.78，5.26，6.56，8.39，10.10，11.31，14.56，17.77，22.42，30.83，38.18，47.47，66.26，102.0。微调增益从0.75到1.25，通过软件可选，10bit精度。最大刻度增益为1时输入脉冲为1000 mV。增益稳定性20 ppm/℃（典型情况）。脉冲形状梯形。峰化时间通过软件可选0.8到102µ s间的24个峰化时间，近似对数间隔，相当于0.4至45 µ s的半高斯成形时间。空载时间总的空载时间为1.05倍的峰化时间，无转换时间。脉冲对分辨时间（快通道）120 ns多通道分析器通道数通过软件可选：8k，4k，2k，1k，0.5k或0.25k道。预设值时间，总计数，感兴趣能区（ROI）计数，单道计数。数据传输USB全速2.0 （12Mbps）串口标准RS232接口（115.2k或57.6 k波特）以太网10BASE-T标准（10Mbps，双绞线）电源标准输入一般情况下输入为+5 V，500mA直流电（2.5W）；而电流和探测器温差ΔT强相关，300-800mA可变；另外配有交流电源适配器。输入电源范围4 V-6 V（300-200 mA，最大500 mA）。高压电源内置倍增器，可达 400 V。制冷器闭环控制器，温差最大为ΔTmax =85℃。常规参数和工作环境工作温度-20℃到+50℃。保修期1年。典型寿命视实际使用情况，一般为5至10年。仓储和物流长期存放：干燥环境下10年以上；一般的仓储和物流：-20℃到+50℃，10%到90%的湿度，无凝结。标准检测符合RoHS标准。TUV认证：认证编号：CU 72101153 01；检测于：UL61010-1:2009 R10.08；CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1。连线USB标准USB Mini接口RS232标准2.5 mm立体声耳机接口尖端发送数据电脑DB9针脚2（DB25针脚3）环接收数据电脑DB9针脚3（DB25针脚2）套管信号地电脑DB9针脚5（DB25针脚7）以太网标准以太网连接器（RJ-45）电源接口Hirose Electric生产的MQ172-3PA(55)，配接插头：MQ172-3SA-CV。其他线缆 16针接口（两排八脚，2 mm间距，Samtec产品编号ASP-135096-01）和如下排线配套使用：Samtec产品编号TCMD-08-S-XX.XX-01；上排为奇数针，下排为偶数针。右上为针1，右下为针2。针号名称针号名称1SCA12SCA23SCA34SCA45SCA56SCA67SCA78SCA89AUX_IN_110AUX_OUT_111AUX_IN_212AUX_OUT_213IO214IO315GND16GND 通讯控制接口软件/固件ADMCAX-123可利用Amptek公司的ADMCA显示和采集软件来控制：能控制和设置X-123的各项参数，同时可以下载和显示数据；支持感兴趣区域（ROI），标定，峰值搜索等；包括一个接口程序，能与XRF-FP定量X射线分析软件包无缝连接。在安装有Windows 98SE或更高版本的PC 兼容机上运行（仅32位），建议在 Windows XP PRO SP2或更高版本下运行。DPP API X-123自带有一个DLL数据库类型的应用程序接口程序，用户可以方便地根据自己的需要采用该数据库编写特定的代码来控制X-123，并集成到上级软件系统中； 另外AMPTEK还提供了VB，VC++上API使用的范例以及一个Pocket PC版的Window CE。VB示例软件 基于VB的示例软件可在个人计算机上运行，而用户通过该软件可设置 X-123的参数，开始和中断数据采集以及保存数据文件。AMPTEK可提供用户源代码以方便修改。该软件仅为在没安装DPP API软件时，通过USB/RS232，使用基本指令控制X-123的范例，特别对于必须自行编写控制软件的非Windows平台系统有参考意义。 可选配件： 1. 可定购其它厚度的铍窗（0.3 mil，即7.5 µ m）；2. 高通量应用中所需的整套准直器；3. 真空配件；4. OEM应用。图5. X-123探测器加长管配置选项 图6. 带有 PA-230前放的X-123和外壳。 该选项可认为是不接探测器/前放的 X-123（仅包含电子学部分），而所需连接通过软排线来完成，这样能够使探测器即使远离X-123也可以正常工作，参见OEM获取更多信息。图7. Si-PIN和SDD探测器的能量分辨率和峰化/成形时间关系曲线。图8. 在不同的峰化时间下，能量分辨率和输入计数率（ICR）的关系曲线。图9. 计数率输出效率，输入计数率（ICR）和输出计数率（OCR）的关系曲线。准直器的使用： 为了提高能谱的质量，Amptek 生产的大部分探测器都带有内部准直器。探测器有效面元(active volume)边缘部分和X射线的相互作用会因不完全电荷收集产生一些小脉冲信号，进而影响测得的能谱数据。而且这些信号可能正处在用户所关心的元素所在的能量范围，降低了信噪比。而内部准直器则可以限制X射线只能打到有效面元内，这就避免了噪声信号的产生。不同类型的探测器中准直器的应用各有优点：1. 提高峰本比（P/B）；2. 消除边界效应；3. 消除假尖峰信号。真空应用： X-123可以在空气或真空度达 10-8托的条件下使用。X-123通过一个标准的O圈刀口密封的接口和真空室连接，还可选用型号为EXV5/EXV9（5/9英寸长）的探测器真空加长管（如图5）。探测效率曲线：图10（线性坐标）. X-123对应的完全能量沉积的内禀探测效率。 该效率对应X射线进入该探测器前端并通过光电效应沉积所有能量到探测器上的概率。 图11（对数坐标）. 考虑各种效应后的收集效率，其中也包含了光电效应的概率影响。 光电效应在低能段主导，而该效应对应了能量的完全沉积，但在超过40keV后，康普顿（Compton）散射效应逐渐显著，不是所有能量均沉积在探测器上。 上面两图同时考虑了铍窗（包括保护层）对X射线透过率的影响以及光子与硅探测器之间的相互作用。曲线的低能部分由铍窗的厚度决定，而高能部分则取决于硅探测器的有效探测厚度。选用特定的铍窗，可使90%的能量为2到3keV的入射光子到达探测器；选用特定的探测器，可接收到90%的9到12keV 的光子。传输效率文件：包含传输效率方面系数和常见问题解答的.zip格式文件，仅提供基本信息，不能作为定量分析依据。X-123的应用，RoHS/WEEE标准测试： 2006年6月，RoHS/WEEE标准（电子电气设备废弃物和有害物质限制规定）规定了电子设备中某些物质（Cr VI，Pb，Cd，Hg，Br PBB/PBDE）的最高含量标准。通过 X射线荧光分析（XRF），X-123可应用于质量控制环节，检测设备是否符合RoHS/WEEE标准。用户可以快速、准确以及无损地检测特定元素的浓度，而公司可以核实供应商的标准并说明自己的标准。借助这个方便、小巧和易用的探测仪器，X-123向原始设备供应商（OEMs）和最终用户提供了一个强大的 X射线探测系统，它可以直接应用并投放市场。由于所有的连接都已在产品内部做好，用户所需只是+5V直流输入和USB/RS232线缆。 X-123并未因小型化而牺牲性能。根据不同探测器类型和峰化时间，Fe的5.9keV能峰处的能量分辨率（半高全宽）可达145 eV至230 eV。X-123是封装好的一整套 X射线谱仪，是产品快速开发的完美选择，且为原始设备供应商（OEMs）提供了最快的投放市场速度。 图12. RoHS/WEEE应用中能谱示例。采用Si-PIN探测器的X-123 的典型测量结果：图13. 109Cd样品的X射线荧光分析谱图（多元素）。 图14. 109Cd样品中铅的X射线荧光分析谱图。 图15. PC机主板的一些位置得到109Cd样品的 X射线荧光分析谱图。 图 16. 109Cd样品中所含若干元素的 X射线荧光分析谱图。机械部分机械尺寸图17. 装配硬件。图18. 包含装配板和角铁的X-123。图19. X-123装配板尺寸图。图20. X-123所用角铁尺寸。 完整的X射线荧光谱仪（XRF）系统：图21. 完整的XRF系统。图22. 已装配在MP1型底板上的X-123和Mini-X射线管。完整的XRF系统包括：1. X-123 X射线能谱计；2. Mini-X型USB控制X射线管；3. XRF-FP定量分析软件；4. MP1型XRF装配底板。

X-123&mdash &mdash 封装于可手持小金属盒内的完整X射线探测系统。RoHS/WEEE标准X射线荧光分析测试中使用的理想系统。无需液氮。图1。图2。图3. 6mm2/500µ m（探测器有效面积/厚度）的探测器得到的55Fe能谱。 包含：1. X射线探头和前置放大器（前放）；2. 数字脉冲处理器和多道分析器；3. 电源和PC接口。产品特性：1. 紧凑的一体化设计；2. 易操作；3. 体积小（2.7 x 3.9 x 1英寸，7 x 10 x 2.5厘米）；4. 低功耗（2.5W）；5. 重量轻（180克，6.3盎司）；6. USB和RS232通讯支持；7. 可封装全系列的AMPTEK探测器。应用范围：1. X射线荧光谱仪；2. 执行RoHS/WEEE标准检测的仪器；3. 流程控制；4. 艺术和考古；5. X-123产品演示。探测器：1. Si-Pin半导体X射线探头；2. 两级热电制冷；3. 面积：6-25mm2；4. 厚度：300-500µ m；5. 多层准直器。典型性能参数：1. 分辨率：在5.9keV能量出的半高全宽为145到230eV；2. 适用能量范围：1-40keV；3. 最大计数率：可达每秒两百万计数。4. 实际的性能参数取决于不同的探测器和配置，可以为不同应用进行优化。 X-123是代表Amptek 公司14年X射线探测器技术发展的集大成产品。我公司一直致力于生产小型、低功率、高性能、易操作的仪器，而X-123是该宗旨的集中体现&mdash &mdash X-123包含有 XR100-CR型X 射线探测器及其电荷灵敏前放，带脉冲整形功能的数字脉冲处理器 DP5，多道分析器和数据接口以及PC5供电电源。用户仅需提供+5V直流输入和USB/RS232线缆和您的计算机通讯。X-123产品介绍： Amptek公司专注于生产小型、低功耗、高性能和易操作的X射线光谱仪。X123将Amptek公司的高性能X射线光谱分析元件产品集成在一个独立的盒体内，这些元件包括：XR100CR探测器和前放，DP5数字脉冲处理器和多道分析器以及 PC5电源。这样的一体化系统更适合手持操作。而市场上销售的其它谱仪系统，仅前置放大器就比X123谱仪更大、更重，而且更耗能。而X123额外需要的只有两根线缆连接：电源线（+5V 直流电）和数据线（USB 或 RS232）。任何人都能利用X-123方便快捷地得到高质量的X射线能谱。 该系统的核心部件是一个 Si-PIN光电二极管：X射线与硅作用，在硅中平均每损耗3.62 eV的 X射线能量便产生一个电子/空穴对，即为输入信号。 探测器以及输入场效应管（FET）均安装在一个热电致冷器上，并与一个定制的电荷敏感前放相连。热电致冷技术的应用缓解了探测器和前放上的电子学噪声问题，其工作原理与大家比较熟知的空调制冷比较类似；电荷敏感前放则采用了一种新型的反馈技术，即通过高压连接向探测器输入复位脉冲。 DP5是一个数字脉冲处理器，可代替现今大多数模拟信号系统中采用的成形放大器和多道分析器（MCA）。数字技术的应用改善了诸多关键参数：1. 性能更佳，尤其是在高计数率时有更好的分辨率和性能；2. 有更多的配置方案可选，因此使用范围较广，具有较大的灵活性；3. 用户可利用RS-232 接口和配套软件控制，选择配置方案；4. 稳定性和可重复性更好。 DP5 将前放的输出信号数字化，并对信号进行实时处理，测定峰值（即数字化），然后将这些数值存储于寄存器中，并生成能谱图，最后谱图通过DP5的接口传送到用户的计算机上。Amptek DP5处理器主要有 6个功能模块来实现上述程序：1. 模拟信号预滤波器；2. 模数转换器（ADC）；3. 数字脉冲整形器；4. 脉冲选择逻辑单元；5. 寄存器单元；6. 硬件接口（包括一个微控制器）和配套软件。 系统电源采用的是 Amptek公司的PC5模块（结构简单，单块电路板）。输入为电压约为+5V，电流为200mA的直流电。PC5中利用开关电源为数字处理器和前置放大器提供它们所需的直流低电压，同时它还包含了一个高压倍增器以产生探测器所需要的400V的高偏压，并闭环控制热电制冷器以提供达85℃的温差。另外在出厂前会针脚对配套探测器进行所有电源输出调试。 整个系统被封装在一个7 x 10 x 2.5 cm3的铝盒中，探测器安装于加长管的前端。在标准配置下，仅需两条连接线：电源线（+5V 直流电）和数据线（USB 或 RS232）。当 X123 与其他仪器配合使用时，DP5电路板上还可集成更多的输入/输出：一个 MCA 门，一个缓存选择信号、同步输出和 SCA 输出。详情请联系Amptek公司或查阅DP5说明书。图4. X-123架构和接线图。 X-123参数说明：系统性能能量分辨率在5.9 keV能量处半高全宽为145-230 eV。具体数值因探测器、峰化时间和温度的不同而不同。可探测能谱范围在1.5-25keV能量范围中X射线探测效率25%。超过该能量范围则探测效率会有一定下降。最大计数率受峰化时间影响。开启堆积判弃功能时，50%空载时间下推荐的最大计数率如下表。DP5 峰化时间（µ s）2.46.425.6成形时间（µ s）1.02.911.6推荐的最大计数率1.2x1054.6x1041.2x104 探测器和前放探测器类型Si-PIN，SDD或CdTe。探测器面积6 mm2-25 mm2。探测器厚度300 µ m和500 µ m，点击此处查看效率曲线。铍窗厚度1mil(25µ m)或0.2mil(12.5µ m)，点击此处查看透射曲线。准直器多层，点击此处查看更多信息。热电致冷两级。前放类型AMPTEK公司为用户定制的可利用高压连接复位的前放。脉冲处理器增益结合使用粗调和微调增益可获得从0.84到127.5连续可调的所有增益。粗调增益通过软件可选从1.12到102的共16个对数档： 1.12，2.49，3.78，5.26，6.56，8.39，10.10，11.31，14.56，17.77，22.42，30.83，38.18，47.47，66.26，102.0。微调增益从0.75到1.25，通过软件可选，10bit精度。最大刻度增益为1时输入脉冲为1000 mV。增益稳定性20 ppm/℃（典型情况）。脉冲形状梯形。峰化时间通过软件可选0.8到102µ s间的24个峰化时间，近似对数间隔，相当于0.4至45 µ s的半高斯成形时间。空载时间总的空载时间为1.05倍的峰化时间，无转换时间。脉冲对分辨时间（快通道）120 ns多通道分析器通道数通过软件可选：8k，4k，2k，1k，0.5k或0.25k道。预设值时间，总计数，感兴趣能区（ROI）计数，单道计数。数据传输USB全速2.0 （12Mbps）串口标准RS232接口（115.2k或57.6 k波特）以太网10BASE-T标准（10Mbps，双绞线）电源标准输入一般情况下输入为+5 V，500mA直流电（2.5W）；而电流和探测器温差&Delta T强相关，300-800mA可变；另外配有交流电源适配器。输入电源范围4 V-6 V（300-200 mA，最大500 mA）。高压电源内置倍增器，可达 400 V。制冷器闭环控制器，温差最大为&Delta Tmax =85℃。常规参数和工作环境工作温度-20℃到+50℃。保修期1年。典型寿命视实际使用情况，一般为5至10年。仓储和物流长期存放：干燥环境下10年以上；一般的仓储和物流：-20℃到+50℃，10%到90%的湿度，无凝结。标准检测符合RoHS标准。TUV认证：认证编号：CU 72101153 01；检测于：UL61010-1:2009 R10.08；CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1。连线USB标准USB Mini接口RS232标准2.5 mm立体声耳机接口尖端发送数据电脑DB9针脚2（DB25针脚3）环接收数据电脑DB9针脚3（DB25针脚2）套管信号地电脑DB9针脚5（DB25针脚7）以太网标准以太网连接器（RJ-45）电源接口Hirose Electric生产的MQ172-3PA(55)，配接插头：MQ172-3SA-CV。其他线缆 16针接口（两排八脚，2 mm间距，Samtec产品编号ASP-135096-01）和如下排线配套使用：Samtec产品编号TCMD-08-S-XX.XX-01；上排为奇数针，下排为偶数针。右上为针1，右下为针2。针号名称针号名称1SCA12SCA23SCA34SCA45SCA56SCA67SCA78SCA89AUX_IN_110AUX_OUT_111AUX_IN_212AUX_OUT_213IO214IO315GND16GND 通讯控制接口软件/固件ADMCAX-123可利用Amptek公司的ADMCA显示和采集软件来控制：能控制和设置X-123的各项参数，同时可以下载和显示数据；支持感兴趣区域（ROI），标定，峰值搜索等；包括一个接口程序，能与XRF-FP定量X射线分析软件包无缝连接。在安装有Windows 98SE或更高版本的PC 兼容机上运行（仅32位），建议在 Windows XP PRO SP2或更高版本下运行。DPP API X-123自带有一个DLL数据库类型的应用程序接口程序，用户可以方便地根据自己的需要采用该数据库编写特定的代码来控制X-123，并集成到上级软件系统中； 另外AMPTEK还提供了VB，VC++上API使用的范例以及一个Pocket PC版的Window CE。VB示例软件 基于VB的示例软件可在个人计算机上运行，而用户通过该软件可设置 X-123的参数，开始和中断数据采集以及保存数据文件。AMPTEK可提供用户源代码以方便修改。该软件仅为在没安装DPP API软件时，通过USB/RS232，使用基本指令控制X-123的范例，特别对于必须自行编写控制软件的非Windows平台系统有参考意义。 可选配件： 1. 可定购其它厚度的铍窗（0.3 mil，即7.5 µ m）；2. 高通量应用中所需的整套准直器；3. 真空配件；4. OEM应用。图5. X-123探测器加长管配置选项 图6. 带有 PA-230前放的X-123和外壳。 该选项可认为是不接探测器/前放的 X-123（仅包含电子学部分），而所需连接通过软排线来完成，这样能够使探测器即使远离X-123也可以正常工作，参见OEM获取更多信息。图7. Si-PIN和SDD探测器的能量分辨率和峰化/成形时间关系曲线。图8. 在不同的峰化时间下，能量分辨率和输入计数率（ICR）的关系曲线。图9. 计数率输出效率，输入计数率（ICR）和输出计数率（OCR）的关系曲线。准直器的使用： 为了提高能谱的质量，Amptek 生产的大部分探测器都带有内部准直器。探测器有效面元(active volume)边缘部分和X射线的相互作用会因不完全电荷收集产生一些小脉冲信号，进而影响测得的能谱数据。而且这些信号可能正处在用户所关心的元素所在的能量范围，降低了信噪比。而内部准直器则可以限制X射线只能打到有效面元内，这就避免了噪声信号的产生。不同类型的探测器中准直器的应用各有优点：1. 提高峰本比（P/B）；2. 消除边界效应；3. 消除假尖峰信号。点击这里获取更多信息。真空应用： X-123可以在空气或真空度达 10-8托的条件下使用。X-123通过一个标准的O圈刀口密封的接口和真空室连接，还可选用型号为EXV5/EXV9（5/9英寸长）的探测器真空加长管（如图5）。点击这里获得更多真空下应用的信息。探测效率曲线：图10（线性坐标）. X-123对应的完全能量沉积的内禀探测效率。 该效率对应X射线进入该探测器前端并通过光电效应沉积所有能量到探测器上的概率。 图11（对数坐标）. 考虑各种效应后的收集效率，其中也包含了光电效应的概率影响。 光电效应在低能段主导，而该效应对应了能量的完全沉积，但在超过40keV后，康普顿（Compton）散射效应逐渐显著，不是所有能量均沉积在探测器上。 上面两图同时考虑了铍窗（包括保护层）对X射线透过率的影响以及光子与硅探测器之间的相互作用。曲线的低能部分由铍窗的厚度决定，而高能部分则取决于硅探测器的有效探测厚度。选用特定的铍窗，可使90%的能量为2到3keV的入射光子到达探测器；选用特定的探测器，可接收到90%的9到12keV 的光子。传输效率文件：包含传输效率方面系数和常见问题解答的.zip格式文件，仅提供基本信息，不能作为定量分析依据。X-123的应用，RoHS/WEEE标准测试： 2006年6月，RoHS/WEEE标准（电子电气设备废弃物和有害物质限制规定）规定了电子设备中某些物质（Cr VI，Pb，Cd，Hg，Br PBB/PBDE）的最高含量标准。通过 X射线荧光分析（XRF），X-123可应用于质量控制环节，检测设备是否符合RoHS/WEEE标准。用户可以快速、准确以及无损地检测特定元素的浓度，而公司可以核实供应商的标准并说明自己的标准。借助这个方便、小巧和易用的探测仪器，X-123向原始设备供应商（OEMs）和最终用户提供了一个强大的 X射线探测系统，它可以直接应用并投放市场。由于所有的连接都已在产品内部做好，用户所需只是+5V直流输入和USB/RS232线缆。 X-123并未因小型化而牺牲性能。根据不同探测器类型和峰化时间，Fe的5.9keV能峰处的能量分辨率（半高全宽）可达145 eV至230 eV。X-123是封装好的一整套 X射线谱仪，是产品快速开发的完美选择，且为原始设备供应商（OEMs）提供了最快的投放市场速度。 图12. RoHS/WEEE应用中能谱示例。采用Si-PIN探测器的X-123 的典型测量结果：图13. 109Cd样品的X射线荧光分析谱图（多元素）。 图14. 109Cd样品中铅的X射线荧光分析谱图。 图15. PC机主板的一些位置得到109Cd样品的 X射线荧光分析谱图。 图 16. 109Cd样品中所含若干元素的 X射线荧光分析谱图。机械部分机械尺寸图17. 装配硬件。图18. 包含装配板和角铁的X-123。图19. X-123装配板尺寸图。图20. X-123所用角铁尺寸。 完整的X射线荧光谱仪（XRF）系统：图21. 完整的XRF系统。图22. 已装配在MP1型底板上的X-123和Mini-X射线管。完整的XRF系统包括：1. X-123 X射线能谱计；2. Mini-X型USB控制X射线管；3. XRF-FP定量分析软件；4. MP1型XRF装配底板。点击这里获取XRF实验室套装的更多信息。 更多信息请关注AMPTEK英文官方网站：。

EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行准确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。性能特点超薄窗X光管数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，准度更高，在合金检测中效果更好FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然技术参数产品型号：EDX 4500H产品名称：X荧光光谱仪测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：30秒-200秒探测器能量分辨率为：145±5eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃环境湿度：35%-70%样品腔体积：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg标准配置超薄窗X光管FAST-SDD探测器数字多道技术光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式可靠的整体钢架结构90mm×70mm的状态显示液晶屏真空泵应用领域合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）

产品型号：EDX 4500产品名称：X荧光光谱仪测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：60秒-200秒探测器能量分辨率为：125eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃环境湿度：35%-70%外形尺寸：660mm×510mm×350mm样品腔体积：Φ320mm×100mm重量：65Kg性能特点超薄窗X光管，指标达到国际先进水平数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然标准配置超薄窗X光管FAST-SDD探测器数字多道技术钢铁行业测试专用配件光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回归程序整体钢架结构，力度可靠的保证90mm×70mm的液晶屏真空泵

1.能量色散X荧光光谱仪应用领域： 1.1.ROHS\无卤检测指令 1.2.合金分析领域（特别是轻元素） 锌铝合金成分分析 铝合金成分分析 铜合金牌号判定、成分分析 不锈钢成分分析（抽真空轻元素检测） 铸铁成份分析等 1.3.镀层成分分析 镀层厚度分析 镀层环保检测 1.4.能量色散X荧光光谱仪仪器规格 仪器腔尺寸：400mmX340mmX80mm 仪器外观尺寸：700mmX510mmX336mm 仪器重量：56kg 1.5.工作条件： ●工作温度：15-30℃ ●相对湿度：40%～70% ●电源：AC:220V±5V、 1.6.技术性能及指标: 1.6.1.元素分析范围从钠(Na)到铀(U)； 1.6.2.元素含量分析范围为1PPm到99.99%； 1.6.3.测量时间：100-300秒(可调)； 1.6.4.RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl）其检测限度达1PPM； 1.6.7.能量分辨率为129±5电子伏特； 1.6.8.温度适应范围为15℃至30℃； 1.6.9.电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）； 1.7.产品特点 1.7.1HM-550，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，对于矿石间各元素进行检测，减少元素间干扰 1.7.2整体结构化设计，仪器美观大方。 1.7.3采用美国最新型的SDD硅飘移探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。 1.7.4采用自主研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更精准。 1.7.5一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。 1.7.6七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。 1.7.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品Highest。 1.7.8优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。 1.7.9独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。 1.7.10多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控,让仪器工作更稳定、更安全。 1.7.11专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。 1.7.12本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。 1.7.13独有的全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。 1.7.14一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。 1.7.15抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用；同时开盖即解除真空，安全、简单实用。 2.仪器硬件部分主要配置 2.1SDD电制冷探测器: 2.1.1.SDD电制冷探测器；分辨率：145±5e电子伏特 2.1.2.放大电路模块:对样品特征X射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大。 2.2X射线激发装置: 2.2.1.灯丝电流输出MAX：1mA； 2.2.2.属于半损耗型部件，使用寿命大于5000小时 2.3高压发射装置: 2.3.1.电压输出MAX：50KV； 2.3.2.电压输出MIN:5KV，可控调节 2.3.3.自带电压过载保护 2.4一体化真空系统 2.4.1具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统； 2.4.2几何抽速：60L/min（50Hz） 2.4.3压力：6.7×10-2Pa 2.5数字多道分析器: 2.5.1.将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件； 2.5.2道数MAX：4096； 2.5.3包含信号增强处理功能； 2.65光路过滤模块 2.6.1降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确； 2.6.2将准直器与滤光处整合； 2.7准直器自动切换模块 2.7.1多达7种选择，口径分别为8-1＃,8-2＃,8-3＃,8-4＃，6＃,4＃,2＃。 2.8滤光片自动切换模块 2.8.1五种滤光片的自由选择和切换。 2.9准直器和滤光片的自由组合模块 2.9.1多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。 2.10工作曲线自动选择模块 2.10.1自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化 演绎得更完美，使操作更人性，更方便。 3.专用软件JPSPEC-FP 3.1.1软件简介 专门针对金属材料元素成份检测而开发（含真空控制功能），对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。 3.1.2功能介绍 ※应对不同矿产材料可调式数据，测量时间为100-300秒（可调） ※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作

微谱科技WEPER XRF2501(集成版）能量色散X射线荧光光谱仪 WEPER XRF2501(集成版） X射线荧光光谱仪尺寸紧凑，分析性能优异，测试效率高，可以精准测试从F到U的所有元素。广泛应用于水泥、采矿、金属冶炼、玻璃陶瓷、化妆品、催化剂、石化等行业。基本参数：元素范围：F-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99% 光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV测试气氛模式：3种可选，空气，真空，氦气，内置真空泵触屏大小：台式电脑操作产品特点：操作简单在测试过程中，可随时查看仪器运行状态：管压、管流、光管温度、光谱室真空度、各类传感器状态、探测器温度信息，随时全面掌握仪器的工作信息样品旋转通过样品旋转，增加样品测试面积的同时提高代表性，使样品测试结果更加准确外接电脑操作数据处理更加便捷更高的灵敏度采用石墨烯SDD探测器，更加紧凑型的光路，微型测试腔、创新性的解谱算法，计数率高于1000000cps，使得从F到U的所有元素都可获得最佳的灵敏度。例如，通过上述创新性技术，可以使用熔融制样方法对样品中的钠元素进行准确定量分析，以前只有价格昂贵的WDXRF才可以完成的任务，而现在使用微谱科技的EDXRF就可以完成 更高的分辨率WEPER XRF2501(集成版）采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至123eV@Mn Kα线，微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分领进谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析，如地质矿物以及金属合金样品的分析更高的稳定性WEPER XRF2501(集成版）创新性的采用微型测试腔体设计，紧凑型测试光路，高真空度光谱室，样品自旋技术，创新性的稳谱技术，使得微谱科技的EDXRF具有极高性能的长期稳定性。

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF(能量色散 X 射线荧光)系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。　　ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:　　1、快速分析氟(F)到铀(U)之间的元素 　　2、元素分析浓度范围从1ppm到100% 　　3、多元素同时测量时间10-60秒 　　4、可选多种进样器 　　5、使用CCD相机进行样品成像 　　6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小 　　7、高性能电制冷硅漂移探测器(SDD) 　　8、多功能XRF应用软件 　　9、薄膜厚度测量与镀层分析 　　10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术 　　11、多语言支持 　　12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行 　　13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互 　　14、设计紧凑，可以轻松移动 　　15、低噪音、得益于智能温控风扇 　　16、全面的自定义和现场应用方法建立功能 　　17、易于安装，更易于维护。　　与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X 射线管产生的所有杂散干扰。

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF（能量色散 X 射线荧光）系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。 ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；2、元素分析浓度范围从1ppm到100%；3、多元素同时测量时间10-60秒；4、可选多种进样器；5、使用CCD相机进行样品成像；6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；8、多功能XRF应用软件；9、薄膜厚度测量与镀层分析；10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；11、多语言支持；12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；14、设计紧凑，可以轻松移动；15、低噪音、得益于智能温控风扇；16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；17、易于安装，更易于维护。与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X射线管产生的所有杂散干扰。

微谱科技WEPER XRF2510智能能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2510 是微谱科技新一代X荧光产品，在分析性能和测试稳定性方面更进一步。简洁大方的一体式设计，低噪便捷的操作平台，让整个实验室变得更整洁舒适；超薄石墨烯探测器，创新性的解谱算法，分辨率和灵敏度达到最优；仪器测试腔体采用微型测试腔模式，配置真空、氦气双模式，从容应对复杂样品和轻元素的定量分析。该产品广泛应用在水泥、采矿、金属冶炼、催化剂、石化等行业。基本参数：元素范围：F-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：3种可选，空气，真空，氦气触屏大小：15寸进样方式：60位自动进样器 产品特点：高科技，高智能可视化玻璃窗，60位样品工位一目了然，只需在软件中选择对应位置即可。中途可随时增加样品，调整样品测试顺序在测试过程中，可随时查看仪器运行状态：管压、管流、光管温度、光谱室真空度、各类传感器状态、探测器温度信息，随时全面掌握仪器的工作信息测试过程中打开观察窗，智能机械臂会立即进入待机状态用户可根据日期、样品名称、测试方法查询和导出结果，同时还可以在测试方法修改后对历史光谱进行重新计算样品旋转通过样品旋转，增加样品测试面积的同时提高代表性，使样品测试结果更加准确更高的灵敏度微谱科技WEPER XRF2510设备采用石墨烯SDD探测器，更加紧凑型的光路，微型测试腔、创新性的解谱算法，计数率高于1000000cps，使得从F到U的所有元素都可获得最佳的灵敏度。例如，通过上述创新性技术，可以使用熔融制样方法对样品中的钠元素进行准确定量分析，以前只有价格昂贵的WDXRF才可以完成的任务，而现在使用微谱科技的EDXRF就可以完成更高的分辨率WEPER XRF2510采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至123eV@Mn Kα线，因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分邻近谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析，如地质矿物以及金属合金样品的分析。更高的稳定性WEPER XRF2510创新性的采用微型测试腔体设计，紧凑型测试光路，高真空度光谱室，样品自旋技术，创新性的稳谱技术。使得微谱科技的EDXRF具有极高性能的长期稳定性。

微谱科技WEPER XRF2601超大腔体/无损能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2601可以精准测试从Mg到U的所有元素。350mm×345mm×85mm大腔体，是无损分析的能手，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。标配样品观察功能，精准定位并记录检测点。可选配12位样品自动进样系统，提高测试效率。基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：台式电脑 产品特点：超大腔体350mm×345mm×85mm超大腔体，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。无损检测不需要破坏样品，可直接在样品上执行测量。无人值守WEPER XRF2601可选配12位样品自动进样系统，提高了测试效率先进分析技术微谱科技WEPER XRF2601设备采用石墨烯SDD探测器，计数率高于1000000cps， 分辨率可低至123eV@Mn Kα线超快速度大部分样品的测试时间再60-600s以内

追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200 ü无损分析，保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样)新升级———降低分析成本————l阈值算法优化，有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级，降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管，有效提高高湿度地区光管使用寿命

S1 TITAN手持式矿石分析仪是Bruker公司新推出的手持式XRF矿石分析仪，它以巨人般的威力，走在检测技术的前沿。 S1 TITAN手持式矿石分析仪打破了实验室环境的限制，无需真空盒氦气保护就能分析Mg、Al、Si、S、P等轻元素。实现现场实时多重样式，快速分析矿石品位，进行矿石评定，品位控制，岩芯检测，矿脉分析，回执矿石分布图等，是地质勘查、矿山开采、矿产贸易、环境监测的工具。 手持式矿石分析仪测量矿种:各种金属、非金属、贵重金属和金属矿采矿和勘探-现地址化学分析：勘探：手持式矿石分析仪S1 TITAN轻质化、易携带的设计，方便了在勘探现场直接探测并定位有潜在矿产的区域，测量钻孔岩心，判定矿床的深度和分布情况矿石分析：一旦发现矿产地点，手持式矿石分析仪S1 TITAN可快速分析矿床矿石质量控制：矿产定位且开始开采后，手持式矿石分析仪S1 TITAN可对每辆货车内的矿石进行检测，提供矿石的详细品级信息，为即将流入加工厂的矿石进行筛选，提高原料矿石的质量加工和浓度分析：矿石加工过程中，手持式矿石分析仪S1 TITAN可测定样品的浓度复原和整治：当采矿作业进入尾声，手持式矿石分析仪S1 TITAN可用于末了分析，并协助完成土地复原主要应用：主要分析矿体、矿块、矿粉、矿渣、精矿、粗矿、尾矿；还可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥浆；粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层等。领域：勘查、岩心检测、开采过程控、品位控制、环境分析地质化学痕量测定：痕量元素、矿石探途元素土壤或沉积层中的污染物、修复检查、催化转化器地质化学常量测定：主要和微量元素、含金属矿石、工业矿物、精矿、铝土矿手持式矿石分析仪测量范围(Mg-U)：Mg，Al，Si，P，S，Cl，K，Ca，Sc，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，As，Se，Rb，Sr，Zr，Nb，Mo，Pd，Ag，Cd，Sn，Sb，Te，Cs，Ba，Hf，Ta，W，Re，Pt，Au，Hg，Pb，Bi，Th，U等。铂悦仪器（上海）有限公司主要代理各类手持式光谱仪，布鲁克手持式矿石分析仪，BRUKER布鲁克矿石元素分析仪，矿石分析仪，便携式矿石分析仪，进口手持式矿石分析仪，德国手持XRF矿石元素分析仪，美国手持矿石元素分析仪，布鲁克手持式矿石分析仪，手持矿石光谱仪，布鲁克德国便携式XRF分析仪，便携式XRF检测仪，手持光谱仪，布鲁克手持荧光光谱仪，手提式S1 TITAN荧光光谱元素分析仪，手持式矿石品位分析仪，手持式XRF矿石分析仪。

微谱科技WEPER XRF2600大腔体/无损能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2600可以精准测试从Mg到U的所有元素。315mm×225mm×62mm大腔体，是无损分析的能手，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。标配样品观察功能，精准定位并记录检测点。基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率4w，最大电压50kV，最大电流200uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：10寸 产品特点：大腔体315mm×225mm×62mm大腔体，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。无损检测不需要破坏样品，可直接在样品上执行测量。先进分析技术微谱科技WEPER XRF2600设备采用石墨烯SDD探测器，计数率高于1000000cps， 分辨率可低至123eV@Mn Kα线超快速度大部分样品的测试时间再60-600s以内

微谱科技WEPER XRF2501液体样品/车载应用能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2501可以精准测试从F到U的所有元素。液体样品直检，操作简单方便。可满足从柴油到原油中硫和其他元素分析的要求。符合ASTM和ISO标准。360mm×640mm×400mm小尺寸，可用于车载实验室，实现土壤重金属元素快速筛查，煤中有害元素的快速筛查和定量分析。基本参数：元素范围：F-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气(可额外选配真空模式和氦气模式)触屏大小：10寸 产品特点：液体样品直检符合油中硫检测的国际分析标准，ASTM D7220，D4284和ISO 13032污水样品直接检测，可用于快速检测污水中的重金属元素超标情况。直接将污水样品放入样品杯即可车载应用360mm×640mm×400mm小尺寸，可用于车载实验室，实现土壤重金属元素快速筛查，煤中有害元素的快速筛查和定量分析样品旋转通过样品旋转，增加样品测试面积的同时提高代表性，使样品测试结果更加准确更高的灵敏度微谱科技WEPER XRF2501设备采用石墨烯SDD探测器，更加紧凑型的光路，微型测试腔、创新性的解谱算法，计数率高于1000000cps，使得从F到U的所有元素都可获得最佳的灵敏度。更高的分辨率WEPER XRF2501采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至123eV@Mn Kα线，因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分领进谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析，如地质矿物以及金属合金样品的分析。更高的稳定性WEPER XRF2501创新性的采用微型测试腔体设计，紧凑型测试光路，高真空度光谱室，样品自旋技术，创新性的稳谱技术。使得微谱科技的EDXRF具有极高性能的长期稳定性。

EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析，满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统。应用领域电镀行业、电子通讯、航天新能源、五金卫浴、电器设备汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等超高硬件配置采用Fast-SDD探测器,125eV分辨率,能精准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。搭配大功率X光管,能很好的保障信号输出和激发的稳定性,减少仪器故障率。高精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动,更精准快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。设计亮点上照式设计，可适应更多异型微小样品的测试。相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，满足微小产品，台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台，微小密集型可多点测试，大大提高测样效率。自带数据校对系统。软件界面人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。曲线的中文备注，让您的操作更易上手。仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。

产品详情X射线荧光分析法的原理特点 图为用波尔模型说明电子轨道和荧光X射线产生的原理 X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子则向外发射原子的X射线。这种X射线被称为荧光X射线，各元素具有特定的波长（能量）。因此，通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外，荧光X射线的强度与浓度具有函数关系，检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。 满足所有领域不同的应用■ 电子电气 RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测■ 钢铁非金属 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫元素的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析玩具日用品中有害重金属元素测定等有设计感的外观460mm宽的紧凑身材，配备大容量的样品室460mm宽的紧凑身材，与我公司以往机型相比尺寸减少20%。而紧凑的机身，拥有可放置200（W）×275（D）×约100（H）mm样品的大型样品室。 识别度高的LED显示灯产生X射线时，分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯将会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。 “初次见面”也可轻松上手的软件PCEDX Navi 为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室，深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。凭直觉操作的浅显简单画面，使从初学者到专家的每一位用户都可以体验到便捷的操作环境。 简洁的界面 在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。在测定界面上可以直接切换准直器 可以一边观察样品图像，一边切换准直器直径。同时，选定的直径用黄色圆圈表示。自动保存样品图像 测定开始时自动读取样品图像，与数据文件夹关联保存。 测定结束后，与样品画面一起，元素名、浓度、3δ（测定的标准偏差）均会在同一界面清楚显示。轻松点击鼠标，即可看到《分析结果一览》或《报告》。 使用转台时的测定准备画面（样品位置确认时）同样适用于连续分析PCEDX Navi同样可应对使用转台（选购件）的分析。可以轻松切换样品图像确认界面和样品位置确认界面。良好的分析性能采用高性能的SDD检测器，确保硬件良好，具有高灵敏度高速分析和高分辨率。可以检测出6C～的机型正式上线（EDX-8000/8100）。高灵敏度 –提高检测下限1.5～5倍-高性能的SDD检测器与光学系统和一次滤光片的组合，实现高灵敏度。从轻元素到重元素，全范围轻松应对。与采用传统Si（Li）半导体检测器的分析装置相比，灵敏度也更胜一筹。高速 –分析速度可提高10倍-SDD检测器在单位时间内X射线荧光的计数率高，因此能够在更短的检测时间内进行高精度分析。特别是对金属材料的分析，这个特点可以得到较大限度的发挥。测定时间与标准偏差（定量值偏差）的关系实际样品的比较分别用以往型号和EDX-7000/8000/8100对无铅焊锡中所含的铅（Pb）进行分析，比较重现性。 满足分析精度所需的检测时间 X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数从而提高精度（重现性）。搭载高计数率SDD检测器的EDX-7000/8000/8100与以往型号相比，能够在更短的时间内保证分析精度。高分辨率 能量分辨率的比较（样品：PPS树脂） 与配置以往Si（Li）半导体检测器的型号相比，能量分辨率更胜一筹。不同元素峰值重叠的影响减小，提升可靠性。无需液氮SDD检测器为电子制冷方式，无需液氮冷却。不仅可以从繁琐的液氮补充作业中解放出来，更可以降低仪器的维护成本。检测元素范围 用EDX-7000/8100进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元或者氦气置换检测单元（均为选购件）。 用EDX-8000进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元（选购件）。 用EDX-8100检测氟元素的分析结果 EDX-8000/8100进行超轻元素分析EDX-8000/8100搭载的SDD检测器窗口采用薄膜特殊材料，能够检测碳（C）、氧（O）、氟（F）超轻元素。 优良的通用性从微小样品到大型样品，从粉末样品到液体样品，灵活应对各类样品。配备进行轻元素的高灵敏度分析时所需的真空检测单元、氦气置换检测单元，以及可实现自动连续测定的12位样品转台(选购件)。4种准直器以及CCD样品观察装置 选择1mmΦ准直器 1、3、5、10mmΦ的4种准直器自动切换 根据样品尺寸的不同，照射直径可有4种不同的选择。微小异物分析和失效解析时采用1mmΦ，少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ，根据样品的形状可以选择适合的照射直径。 标配CCD样品观察装置 通过样品观察装置可以确认X射线的照射位置。适用于检测微小样品、检测由多个测样点组成的样品、使用微量样品容器检测等情况。 选择5mmΦ准直器时，使用微量样品容器 自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线，从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。EDX-7000/8000/8100搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实现软件操控自动切换。滤光片有效能量(KeV)对应元素示例#1 15～24 Zr, Mo, Ru, Rh, Cd#2 2～5 Cl, Cr#3 5～7 Cr#4 5～13 Hg, Pb, Br#5 21～24（5～13）* Cd (Hg, Pb, Br)*使用滤光片后，（）中能量范围的背景降低。 准直器和一次滤光片自由组合准直器和一次滤光片独立驱动，无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。样品无损且无需前处理，通过X射线荧光，即可简单轻松实现对医药品中杂质的管理 &bull 分析只需4 Step！&bull 遵照制药界的FDA 21CFR Part11标准&bull 以提升效率为目标，使用LabSolutions CS进行数据管理&bull 通过X射线荧光可以实现对杂质的分析 分析只需4 Step！主要特长遵照制药界的FDA 21CFR Part11标准遵照FDA 21CFR Part11具有如下功能。&bull 安全功能&bull 用户管理功能&bull 操作日志，逐位跟踪日志的生成功能&bull PDF生成功能&bull 验证功能安全功能通过ID/密码进行用户认证，对具有权限的用户开放操作履历记录、界面锁定等功能。逐位跟踪日志的生成功能可以生成分析装置设定更改履历和用户的操作履历等跟踪日志。以提升效率为目标，使用LabSolutions CS进行数据管理包括其它分析装置的的全部分析数据都可以通过服务器电脑的数据库进行管理，因此联网后任何电脑都可读取数据。不论何处都可实现数据管理统合化。使用EDX-7000/8000/8100，轻松实现对医药品中的金属进行分析 如图所示，制成添加了Pt的纤维素粉末标准样品，在0～20ppm的范围内形成6点工作曲线。样品量仅为100mg，平均1样品测定20分钟，就可如下表得到良好的标准偏差（RMS）和直线性，从而实现高正确度的分析。元素濃度範囲(ppm)RMS(ppm)相関係数Pt0-200.250.9993 混入Pt和As的纤维素粉末样品的EDX光谱

天瑞新型X荧光贵金属分析仪EDX 3600继承了天瑞仪器EDX系列的准确、快速、无损、直观及环保五大特点，FAST-SDD探测器，可准确无误地分析出黄金、铂金、银等饰品中金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱的含量,测试结果完全符合国标GB-1887《首饰贵金属纯度的规定及命名方法》和GB/T-18043《贵金属首饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》的要求。性能特点三重安全保护模式 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回归程序 任意多个可选择的分析和识别模型 高信噪比的电子线路单元 全元素测试专用X荧光分析软件 与传统仪器相比，新增加的抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的版图采用FAST-SDD探测器，分辨率低至125ev，更好的检测铂金中铱和金的含量提供多种准直器，直径小达0.2mm，轻松实现精小部位的精确测试精选全球优质组件组件 真空腔在分析低含量的轻元素时，必须使用真空泵设备把空气抽出，使内部在真空状态下对轻元素进行分析。真空泵（选配）极限真空：6×10-2 帕转速：1400 转/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦技术指标测量元素范围：从钠（Na）至铀（U） 测量对象状态：粉末、固体、液体 同时分析元素：30种元素同时分析 元素含量分析范围：1ppm-99.99%能量分辨率为：125ev测量时间：60s-200s（可调） 制冷方式：电制冷，无需任何耗材 环境温度：10℃-30℃ 环境湿度：35%-70%输入电压：AC 110V/220V管压：5kV-50kV管流：50μA-1000μA样品腔尺寸：334×500×80mm外观尺寸：670×533×855 mm重量：80kg标准配置FAST-SDD探测器 数字多道分析器 放大电路、高低压电源、高效X光管 计算机、打印机、真空泵（选配）、稳压电源（选配） 软件：贵金属分析软件（标配）、镀层分析软件（选配）、有害元素分析软件（选配）应用领域黄金、铂金、银等贵金属的成分检测。可广泛应用于珠宝首饰中轻元素的检测。 分析元素:金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱、钠、镁、铝、硅、磷、硫等

　　1.产品名称及机型指标介绍:　　1.1. 产品名称及型号：　　能量色散X荧光光谱仪-------R-350 型　　1.2. 制造商：山东云唐　　1.3. 仪器规格　　仪器腔尺寸 439mmX300mmX150mm　　仪器外观尺寸 550mmX410mmX320mm　　仪器重量 45kg　　1.4. 工作条件：　　● 工作温度：15-30℃ 　　● 相对湿度：40%～50%　　● 电 源：AC :220V ±5V　　1.5. 能量色散X荧光光谱仪技术性能及指标:　　1.5.1. 元素分析范围从硫(S)到铀(U) 　　1.5.2. 元素含量分析范围为1 PPm到99.99% 　　1.5.3. 测量时间：100-300秒 　　1.5.4. RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)其检测限度高达1PPM 　　1.5.5. 能量分辨率为149±5电子伏特 　　1.5.6. 温度适应范围为15℃至30℃ 　　1.5.7 电源：交流220V±5V (建议配置交流净化稳压电源。)　　1.6.产品特点　　1.6.1 R-350是专门针对RoHS、EN71等环保指令设计得一款产品。　　1.6.2打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方。　　1.6.3采用美国新型的Si-pin探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。　　1.6.4采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确。　　1.6.5一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化。　　1.6.6七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。　　1.6.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品Highest。　　1.6.8先进的一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行安全。　　1.6.9机芯温控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。　　1.6.10多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。　　1.6.11RoHS专用测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便。　　1.6.12本机采用USB2.0接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输。　　2.仪器硬件部分主要配置　　2.1Si-pin电制冷半导体探测器:(最新型探测器)　　2.1.1. Si-pin电制冷半导体探测器 分辨率：149±5电子伏特　　2.1.2. 放大电路模块:对样品特征X射线进行探测 把探测采集的信息,进一步放大。　　2.2 X射线激发装置:　　2.2.1. 灯丝电流灯丝电流输出MAX：1mA 　　2.2.2 .属于半损耗型部件，50W，空冷。　　2.3 高压发射装置: 　　2.3.1. 电压电压输出MAX： 50KV 　　2.3.2.电压输出MIN: 5KV，可控调节　　2.3.3.自带电压过载保护　　2.4 多道分析器:　　2.4.1. 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件。　　2.4.2 .道数MAX：4096 　　2.4.3 包含信号增强处理　　2.5光路过滤模块　　2.5.1 降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确。　　2.5.2 将准直器与滤光处整合 　　2.6 准直器自动切换模块　　2.6.1多达8种选择，口径分别为8#, 6#, 4#, 3#，2#, 1#, 0.5#,0.2#。　　2.7 滤光片自动切换模块　　2.7.1六种滤光片的自由选择和切换。　　2.8 工作曲线自动选择模块　　2.8.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化　　3. 专用软件JPSPEC-FP 　　3.1.1软件简介　　专门针对RoHS检测而开发，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。　　3.1.2功能介绍　　※专门应对欧盟RoHS指令中六种物质涉及的六种元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr，Cl测试，测量时间为100-300秒　　※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作　　※可自动选择适合的校准曲线，测量更方便，更准确。　　※中英文界面自动切换，并具有第三方语言订制功能　　※自动校准仪器。　　※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线　　※多种报告形式打印。　　※可同时显示多个光谱图　　※机芯温度监控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。　　4. 样品配置　　标准样品用于制作工作曲线　　4.1 样品腔　　开放式大样品腔　　4.2 标样　　欧盟标样E60K　　纯银样品　　5. 产品保修及售后服务　　5.1 对客户方操作人员免费进行培训。　　5.2 安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。　　5.3正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器自验收合格之日起保修一年。　　5.4 产品终身维修。(客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证，保修卡等)　　5.5 免费提供软件升级 　　5.6 提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，2小时内响应，如有需要，48小时内派人上门维修和排除故障。