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智能射线测试仪

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智能射线测试仪相关的仪器

  • D8 VENTURE/QUEST—面向未来的单晶X射线衍射仪D8 VENTURE/QUEST是布鲁克公司推出的新款,功能强大的X射线单晶衍射仪。 一体化的设计, 配备目前世界上先进的光源以及PHOTON III MMPAD探测器,帮助您测试最富有挑战性的晶体,获得好的数据质量。 其主要特点为:● 同时适合小分子晶体学和蛋白质晶体学的研究需要,应用范围广。● 新一代的lus 3.0微焦斑光源,性能娘美微焦斑转靶,零维护,寿命超长。● 液态金属靶MetalJET,室内X射线光源, 强度远● 远高千微焦斑转靶,让您拥有个人的“同步辐射" ,解决最难的晶体学问 题, 比如GPCR膜蛋白的结构。● 采用四代光源XFEL探测器技术的PHOTON III MMPAD混合光子计数探测器,● 超大面积,超快速度, 零噪音, 单光子检测的灵敏度。● 双靶配置, 软件自动切换光源。 满足不同类型的研究需要。 元件自动识别, 智能化光路管理。● 新一代的APEX3/PROTEUM3软件, 功能强大, 智能化程度高, 轻松操控仪器, 获得好数据。● lus Diamond微焦斑光源, 零维护, 性能超越微焦斑转靶。
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  • H9002型β射线烟尘(气)测试仪产品简介H9002型β射线烟尘(气)测试仪是一款可用于直接测量固定污染源中颗粒物浓度的仪器,测试仪集S 型皮托管、温度传感器、加热控制、采气管于一体,利用β射线原理直接测量烟尘浓度,同时可测量烟道内的动压、静压、温度、含湿量、流速、风量以及烟尘排放浓度、排放量等。广范适用于固定污染源有组织排放废气中颗粒物浓度的测量,可供环保、卫生、劳动、安监、军事、科研、教育等部门使用。执行标准GB/T 16157 固定污染源排气中颗粒物测定与气态污染物采样方法HJ/T 397-2007 固定污染源废气监测技术规范DB 37/T 3785-2019 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 36/T 1386-2021 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 21/T 3270-2020 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 63/T 1873-2020 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法JJG 680-2007 烟尘采样器检定规程主要特点&bull 采用β射线吸收原理,测量结果不受颗粒物大小形状及其他化学性质的影响,数据准确;&bull 最低检出限是0.1mg/m3,可满足超低工况监测要求;&bull 采用异位法设计,采样工位与测量工位分离,避免关键元器件污染,保证测量精度;&bull 采样管及采样工位采用智能高效全程加热控制;&bull 采样管内壁采用超高光洁加工工艺,最大程度减少颗粒物的吸附;&bull 采样样管快速对接设计,可实现快速拆装,方便运输和使用;&bull 内置式皮托管,前端采用对接式设计,方便拆卸更换;&bull 使用符合国家标准的校准膜片进行校准,数据更加准确;&bull 采用安全稳定的C14放射源,符合国家豁免标准&bull 采用工业平板无线操控,支持蓝牙通信功能和外置蓝牙高速打印机; &bull 配有高负载低噪声大流量旋片式抽气泵,流量可达 100L/min;工作条件&bull 工作电源: AC(220±22)V,(50±1)Hz; &bull 环境温度:(-20~ 50)℃; &bull 环境湿度:(0 ~95)%RH; &bull 适用环境: 非防爆场合; &bull 电源接地线应良好接地; &bull 野外工作时,应有防雨、雪、尘以及日光爆晒等侵袭的措施。技术指标项目参数范围分辨率最大允许误差烟尘浓度(0~50)mg/m30.01mg/m3不超过±20%烟气温度(0~500) ℃0.1℃不超过±3℃取样管加热温度(50~160) ℃1℃不超过±10℃滤带加热温度(50~160) ℃1℃不超过±5℃采样嘴型号φ4.5、φ6、φ7、φ8、φ10、φ12皮托管系数0.84±0.01测孔直径要求≥80mm取样管耐温≤260℃
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  • H9002型β射线烟尘直读测试仪产品简介H9002型β射线烟尘(气)测试仪是一款可用于直接测量固定污染源中颗粒物浓度的仪器,测试仪集S 型皮托管、温度传感器、加热控制、采气管于一体,利用β射线原理直接测量烟尘浓度,同时可测量烟道内的动压、静压、温度、含湿量、流速、风量以及烟尘排放浓度、排放量等。广范适用于固定污染源有组织排放废气中颗粒物浓度的测量,可供环保、卫生、劳动、安监、军事、科研、教育等部门使用。执行标准GB/T 16157 固定污染源排气中颗粒物测定与气态污染物采样方法HJ/T 397-2007 固定污染源废气监测技术规范DB 37/T 3785-2019 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 36/T 1386-2021 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 21/T 3270-2020 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 63/T 1873-2020 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法JJG 680-2007 烟尘采样器检定规程主要特点&bull 采用β射线吸收原理,测量结果不受颗粒物大小形状及其他化学性质的影响,数据准确;&bull 最低检出限是0.1mg/m3,可满足超低工况监测要求;&bull 采用异位法设计,采样工位与测量工位分离,避免关键元器件污染,保证测量精度;&bull 采样管及采样工位采用智能高效全程加热控制;&bull 采样管内壁采用超高光洁加工工艺,最大程度减少颗粒物的吸附;&bull 采样样管快速对接设计,可实现快速拆装,方便运输和使用;&bull 内置式皮托管,前端采用对接式设计,方便拆卸更换;&bull 使用符合国家标准的校准膜片进行校准,数据更加准确;&bull 采用安全稳定的C14放射源,符合国家豁免标准&bull 采用工业平板无线操控,支持蓝牙通信功能和外置蓝牙高速打印机; &bull 配有高负载低噪声大流量旋片式抽气泵,流量可达 100L/min;工作条件&bull 工作电源: AC(220±22)V,(50±1)Hz; &bull 环境温度:(-20~ 50)℃; &bull 环境湿度:(0 ~95)%RH; &bull 适用环境: 非防爆场合; &bull 电源接地线应良好接地; &bull 野外工作时,应有防雨、雪、尘以及日光爆晒等侵袭的措施。技术指标项目参数范围分辨率最大允许误差烟尘浓度(0~50)mg/m30.01mg/m3不超过±20%烟气温度(0~500) ℃0.1℃不超过±3℃取样管加热温度(50~160) ℃1℃不超过±10℃滤带加热温度(50~160) ℃1℃不超过±5℃采样嘴型号φ4.5、φ6、φ7、φ8、φ10、φ12皮托管系数0.84±0.01测孔直径要求≥80mm取样管耐温≤260℃
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  • X射线残余应力测试仪 400-860-5168转3524
    X射线残余应力测试仪采用最先进的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快,线性好。主要技术参数: ★测量方法:侧倾固定ψ法,摆动法,残奥测定,织构测定。 定峰方法:交相关法,半高宽法,抛物线法,重心法。 仪器精度:采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射,铁粉(211)晶面,衍射角2θ测定误差 在±0.015°以内;铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。 ★测角仪型式:θ-θ扫描ψ测角仪 ★2θ扫描范围:120°~170°; 2θ扫描***小步距:0.01° 2θ扫描每步计数时间:0.1S~20S ψ角范围:0°~ 65° ψ角摆动角度:0°~±6° X射线管电压:15~30kV,连续可调 X射线管电流:3~10mA,连续可调 X射线管靶材:Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备,其余供选购。 衍射几何:聚焦法 准直管直径:提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。 测角仪重量:10 kg 简装置总重量:45 kg 供电要求:AC 220V±10%,1000W,50Hz
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  • 仪器简介:适用于Windows2000或选择适用于Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离)图形化的用户界面,测试件的图像显示可插入于测试报告中测量模式用于:单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量)能分析多达四种金属成分的合金和电镀液中金属离子含量;可编程的应用项图标,用于快速应用项选择完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估报告生成,数据输出语言可选择:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,及中文菜单中的某些选择项可授权使用技术参数:1.Fischerscope X-RAY XULM-XYm是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法;2.原始射线从下至上;3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50kV,40kV或30kV;4.视准器组:圆直径为0.1/0.2;正方形0.05X0..05mm;长方形0.03X0.2mm5.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)480 mm×375 mm×580 mm,重量大约为45kg;6.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)240 mm×360 mm×460mm)带向上回转箱门;7.手动X-Y工作台(平面板:360 mm宽×240 mm深),带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行,8.试件查看用标准的彩色摄像机;9.测量开始/结束按钮,及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。主要特点:FISCHERSCOPE XUL设计为X-射线管和探测器系统位于测量台下部。因此测量方向从下往上。这也就提供了一个重要的优点,尤其对于测量各种不同几何外形的小工件,或各种各样的线路板、引线框架以及电连接器的微小部位测量。在绝大多数情况下,被测试工件的表面可直接放置于测量台上,这就避免了在从上往下测量系统中需要的测量距离调整。测试点会自动地调整在正确的距离上。这就加快了测量的过程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的测量误差。- FISCHE是唯一一家实现了这种设计的X-射线荧光镀层厚度测试仪器的制造厂商。与WinFTM V.6 软件及校样标准块Gold Assay配合,XUL 作为FISCHERSCOPE GOLDLINE ASSAY的一部分,可以完美地适应于快速,非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。XULM使用了高能量的X射线管,即便是测量微小面积时也能有很强的X射线照射到被测样品上,以保证测量的精确度。
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  • 仪器简介:适用于Windows2000或选择适用于Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离)图形化的用户界面,测试件的图像显示可插入于测试报告中测量模式用于:单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量)能分析多达四种金属成分的合金;电镀液中金属离子含量;可编程的应用项图标,用于快速应用项选择完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估报告生成,数据输出语言可选择:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,及中文菜单中的某些选择项可授权使用注:基础WinFTM软件版本不允许创建新的应用,所要求的应用不得不在定货时明确。当校准标准块与仪器一起定购时,可在交货前预先创建应用。若没有定购校准标准块,则只可使用已预装的*无需标准块的测量应用。可选择的Super WinFTM软件(订货号602-950)提供了以下的附加功能:可随意创建测量应用可把每种测量模式的测量范围设定为想要的理论上的测量精度快速的频谱分析以决定合金成分技术参数:1.Fischerscope X-RAY XUL-XYm是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法;2.原始射线从下至上;3.X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50kV,40kV或30kV;4.视准器组:圆直径为0.3;在附加费用的基础上可选择0.05X0.3mm长方形视准器5.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)510 mm×455 mm×580 mm,重量大约为45kg;6.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)240 mm×360 mm×380mm)带向上回转箱门;7.手动X-Y工作台(平面板:360 mm宽×240 mm深),带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行.8.试件查看用标准的彩色摄像机;9.测量开始/结束按钮,及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。主要特点:FISCHERSCOPE XUL设计为X-射线管和探测器系统位于测量台下部。因此测量方向从下往上。这也就提供了一个重要的优点,尤其对于测量各种不同几何外形的小工件,例如螺丝、螺母、螺栓或各种各样的电连接器。在绝大多数情况下,被测试工件的表面可直接放置于测量台上,这就避免了在从上往下测量系统中需要的测量距离调整。测试点会自动地调整在正确的距离上。这就加快了测量的过程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的测量误差。- FISCHE是唯一一家实现了这种设计的X-射线荧光镀层厚度测试仪器的制造厂商。与WinFTM V.6 软件及校样标准块Gold Assay配合,XUL 作为FISCHERSCOPE GOLDLINE ASSAY的一部分,可以完美地适应于快速,非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。
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  • 智能X射线衍射仪 400-860-5168转0879
    &bull 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab系列,是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度,最高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)(理学专利)&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台(理学专利)&bull 6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学专利)&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件(理学独有)&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器,可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance(专利)&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有:1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析
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  • 智能X射线衍射仪 400-860-5168转0879
    技术参数 1、X射线发生器功率为3KW 2、测角仪为水平测角仪3、测角仪半径300mm4、测角仪配程序式可变狭缝 5、最小步径0.0001度6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学专利)7、高速探测器D/teX Ultra250(0维,1维模式)8、半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)7、搭载从控制测量到分析结果的SmartLab Studio II软件包 8、视频观察系统9、丰富的各种附件 主要特点 1、SmartLab家族中的最新成员SmartLab SE。2、使用SmartLab Studio II软件,可以一键式得到从选择条件、测量、到分析、结果报告的所有结果,不需要任何经验,就可以得到高质量的分析结果。3、智能X射线衍射仪SmartLabSE系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 4、可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 5、可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有: 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度 6.小角散射与纳米材料粒径分布 7. 微区样品的分析 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab SE系列,是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、智能的测量分析SmartLab Studio II软件,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。
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  • IBA MagicMax X射线测试仪,MagicMax剂量仪详细介绍:IBA MagicMax X射线测试仪,MagicMax剂量仪是一个强力设备 可应用于所有放射图像模式:放射线照相术,荧光镜检查,乳房X线照相术和CT,先进软件提供快速概览和综合专业细节及报告德国IBA MagicMax Universal X射线测试仪产品简介a、适用于评价各种X 线机,包括:CT机,拍片机,透视机,脉冲透视,便携X-线机等。a、可一次曝光测量数据包括kVp、PPV、剂量、剂量率、曝光时间、HVL、总滤过。a、随机提供免费数据储存及分析软件,可定制用户报告。德国IBA MagicMax Universal X射线测试仪产品特点a、具有外置双通道探测器接口,可同时附加第二通道剂量探测器。a、数据传输应用直接有线连接,高速数据传输技术。可真正做到0.1ms探测技术。a、可实时显示剂量及kVp波形,方便分析。波形图最小分辨时间为0.1毫秒。德国IBA MagicMax Universal X射线测试仪常规X射线机和透视系统部分的量程及精度:a、千伏:40-155 kV / ±2%a、剂量:50nGy-50Gy / ±5%a、剂量率:0.1μGy/s-120mGy/s / ±5% 或±0.02μGy/sa、曝光时间:0.2ms-999.9sa、快速半值层:1.3-10mmAl / ±10%或0.2mma、总滤过:1.5-30 mm Al / ±10% 或 ±0.3mm (60-120kV.HF/DC)德国IBA MagicMax Universal X射线测试仪的乳腺机量程及精度a、千伏:20-49 kV / ±1.5% 或 0.7 kVa、剂量:50nGy-50Gya、剂量率:0.4μGy/s-700mGy/sa、曝光时间:0.2ms-999.9sa、快速半值层:0.2-1.2 mm Al根据射线质量/ ±5%a、总滤过:1.5-30 mm Al / ±10% 或 ±0.3mm (60-120kV.HF/DC)德国IBA MagicMax Universal X射线测试仪CT机部分的量程及精度:a、测量后,分析软件可自动出具报告CTDI值a、量程范围:a、照射量:10nGy – 9999mGya、照射量率:100nGy/s – 120mGy/sa、曝光时间: 1 ms – 199999 sa、有效测量体积: 4.9cm3a、总有效长度: 100 mma、漏射线: +/-4x10 -15Aa、量程范围: 100 kV – 150 kVa、刻度因子(typ.): ND,K=70mGy*cm/nC(120kV/HWD4.05 mm Al)MagicMax通用万用表?您的高端万用表解决方案能够满足您所有射束验证需求一个强力设备 可应用于所有放射图像模式:放射线照相术,荧光镜检查,乳房X线照相术和CT先进软件提供快速概览和综合专业细节及报告插拔运行系统可实现快速无缝工作流程完全模块化和延展MagicMaX工具照度探头:光输出测量图像增强器和查看盒 电流探针: 非侵入式测量管道电流MagicMaX通用规格高分辨率:最高分辨率可达0.1 mm• 所有模式合为一台设备:21kV – 160kV (完全灵活的探测器,双头端口)高剂量测量动力:5nGy – 50 Gy完全检测我们的完整版 MagicMax Universal Cases: 您的完全解决方案覆盖您所有用于射束验证和图像质量控制需要——一切仅需一次完成。• 您可将射束验证和图像质量检查过程多合一!• 预设解决方案,便捷并易于携带!Multimeter MagicMaX -rad/flu/dent基于USB的系统课用于台式机和笔记本电脑MagicMax-Meter测量软件包含固块微观轨迹多探头XR能够附着额外固块探头测量剂量包括坚固铝制便携箱剂量仪部分根据IEC 61674设计Dosimeter MagicMaX -rad/flu/dent基于USB的系统课用于台式机和笔记本电脑MagicMax-Meter测量软件包含固块剂量探头RQA能够附着额外固块探头同时测量输入输出剂量包括坚固铝制便携箱kV-Meter MagicMaX -rad/flu/dent基于USB的系统课用于台式机和笔记本电脑MagicMax-Meter测量软件包括坚固铝制便携箱包含固块KV探头MagicMaX电流探针结合MagicMax万用表进行非侵入式测量管道电流。利用MagicMax- Meter软件进行综合分析方便选择测量范围优点:多合一设备有效解工作流程便利
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  • 一、仪器介绍智能X射线衍射仪SmartLab系列,是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。二、技术参数1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶2、测角仪为水平测角仪3、测角仪最小步进为1/10000度,最高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)4、测角仪配程序式可变狭缝5、自动识别所有光学组件、样品台6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)8、多用途薄膜测试组件9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件10、In-Plane测试组件11、入射端Ka1光学组件12、高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器,可以接收直射X射线)14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance三、主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品四、主要的应用有1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析
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  • X射线残余应力分析仪,应力测定仪,应力测试仪 主要技术参数:采用瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快,线性好。★测量方法:侧倾固定ψ法,摆动法,残奥测定,织构测定。定峰方法:交相关法,半高宽法,抛物线法,重心法。仪器精度:采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射,铁粉(211)晶面,衍射角2θ测定误差在±0.015°以内;铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式:θ-θ扫描ψ测角仪★2θ扫描范围:120°~170°;2θ扫描***小步距:0.01°2θ扫描每步计数时间:0.1S~20Sψ角范围:0°~ 65°ψ角摆动角度:0°~±6°X射线管电压:15~30kV,连续可调X射线管电流:3~10mA,连续可调X射线管靶材:Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备,其余供选购。衍射几何:聚焦法准直管直径:提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。测角仪重量:10 kg***简装置总重量:45 kg供电要求:AC 220V±10%,1000W,50Hz
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  • 仪器简介:适用于Windows2000或选择适用于Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离)图形化的用户界面,测试件的图像显示可插入于测试报告中对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正(DCM方法)范围可达80mm(3.2〞)测量模式用于:单、双及三层镀层系统 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度 和合金成分都能被测量)能分析多达四种金属成分的合金,包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。可编程的应用项图标,用于快速产品选择。完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估。报告生成,数据输出语言可选择:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,及中文菜单中的某些选择项可授权使用技术参数:1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法;2.原始射线从上至下;3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50kV,40kV或30kV;4.标准视准器组:圆形0.1/0.2/0.3和长方形0.05X0.3mm;5.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)650 mm×570 mm×740 mm(26〞×22〞×29〞),重量大约为105kg(120lbs);6.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)300 mm×460 mm×500 mm(12〞×18〞×20〞)带向上回转箱门;7.嵌入式固定的测试件支承板,需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件;8.电机驱动的144mm(5.7〞)X-射线头部(X-射线管,比例接收器及视准器)的Z轴运行;9.试件查看用彩色摄像机10.测量开始/结束按钮,X-射线头部上/下按钮及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。主要特点:FISCHERSCOPE XDLM-C4 是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。微聚焦X-射线管以及电机带动的有4个不同尺寸视准器组成的视准器组使得XDLM-C4成为测量大批量生产部件的理想测量仪器,例如螺丝,螺母和螺栓。可选择的钴接收器有效地解决铜上镀镍的测量应用问题XDLM的特色是独特的距离修正测量方法。DCM方法(距离控制测量)自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别,简便了测量复杂几何外形的测试工件和在不同测量距离上的测量。与WinFTM V.6软件及校样标准块Gold Assay结合,XDLM作为FISCHERSCOPE GOLDLINE ASSAY的一部分, 完美地适用于快速,非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。
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  • 仪器简介:适用于Windows2000或Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能。频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离,见背面)图形化的用户界面,测试件的图像显示可插入于测试报告中对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正(DCM方法)范围可达80mm(3.2〞)测量模式用于:单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量)能分析多达四种金属成分的合金,包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。可编程的应用项图标,用于快速产品选择。完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估。报告生成,数据输出语言可选择:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,及中文菜单中的某些选择项可授权使用技术参数:1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法;2.原始射线从上至下;3.X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50kV,40kV或30kV;4.单个0.3mm直径(12 mils)的标准视准器,在附加费用的基础上可选择0.05×0.3 mm(2×12 mil)带槽视准器;或直径0.1mm 或直径0.2mm;或0.4X0.4mm方形。5.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)650 mm×570 mm×740 mm(26〞×22〞×29〞),重量大约为105kg(120lbs);6.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)300 mm×460 mm×500 mm(12〞×18〞×20〞)带向上回转箱门;7.嵌入式固定的测试件支承板,需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件。7.从X-射线头部(X-射线管,成比例的反射接收器及视准器)至测试件平面支承板有三种可选择的固定距离。需要的设定距离(见背面)必须在定货时明确(标准设定:中间位置)8.试件查看用彩色摄像机9.带有LED状态指示灯的测量开始/结束按钮与测试箱集成在一体主要特点:FISCHERSCOPE XDL-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。XDL-B 的特色是独特的距离修正方法。DCM方法(距离控制测量)自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL-B 带测量距离固定的X-射线头,这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。特别针对微波腔体之类样品的底部镀层厚度进行测量。
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  • GR-3100D型低浓度烟尘/气测试仪 产品简介 Product introduction GR-3100D型低浓度烟尘/气测试仪应用皮托管平行等速采样法采集固定污染源排气中的颗粒物,应用过滤称重法测定烟尘质量,应用定电位电解法定性定量测定烟气成份。可应用于各种锅炉、烟道、工业炉窑等固定污染源颗粒物的排放浓度、折算浓度、排放总量的测定及设备除尘脱硫效率的测定;自动测量烟气动压、烟气静压、流速、流量计前压力、流量计前温度、烟气温度、含湿量、O2、SO2、CO、 NO、NO2、H2S、CO2浓度等参数执行标准 Executive standard GB/T 16157-1996 《固定污染源排气中颗粒物和气态污染物采样方法》HJ/T 48-1999 《烟尘采样器技术条件》HJ 57-2017 《固定污染源废气 二氧化硫的测定 定电位电解法》HJ 693-2014 《固定污染源废气 氮氧化物的测定 定电位电解法》 HJ 836-2017 《固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 重量法》 JJG 680-2007 《烟尘采样器检定规程》 JJG 968-2002 《烟气分析仪检定规程》 功能特点 Functional features &bull 7.0寸高亮彩色宽温触摸显示屏,界面美观,人机界面采用触摸屏和按键双操作模式&bull 烟气分析部分可选配紫外差分吸收光谱法(DOAS)或非分散红外法(NDIR)&bull 搭配GR8030型烟尘多功能取样管,可同时实现烟尘滤筒采样、低浓度滤膜采样、烟气取样、油烟采样(选配)、阻容法湿度测量(选配)、工况测量功能&bull 搭配GR-8031型β射线烟尘直读取样管,可实现烟尘浓度的现场直读测量&bull 多功能取样管配有显示屏、可独立进行烟气流速、温度、湿度等工况参数的测量&bull 多功能取样管支持有线和无线双通信模式传输工况参数,减少现场管线连接&bull 采样器主机具有烟尘采样、烟气测量、溶液吸收烟气采样同步运行功能&bull 高性能大流量烟尘采样泵,采样流量可达110L/min,等速跟踪流量40L/min&bull 宽压输入(AC:80~260V),具有过压、过流保护&bull 钛合金材质,耐高温、耐腐蚀,防吸附、重量轻&bull 烟温线、通讯线、取样管电源线、气路连接管四合一,气路连接采用快速接头,使用方便&bull 内置气体交叉干扰自动修正算法,最大限度避免了交叉干扰对测量结果的影响,保证测量精度&bull 采用工业级嵌入式控制设计,抗静电能力强&bull 精确电子流量计控制,实时监测计温、计压,自动调节流量&bull 微电脑控制等速跟踪采样,专有调节方式,响应时间快&bull 仪器内置气流缓冲器,提高采样流量稳定性&bull 具有防倒吸功能,可防止采样结束后采集的烟尘被倒吸入烟道,影响测量数据&bull 内置排水泵,气体过滤及储水装置透明式设计,烟尘、烟气采样具有自动排水功能&bull 实时记录设备工作状态数据,具有采样过程停电记忆功能&bull 具备气密性自动检测功能、故障自检功能,可对仪器功能进行检测并故障报警&bull 设备支持出入库管理操作系统,方便用户管理设备&bull 采用高效粉尘过滤器,提高过滤效率,降低了流量传感器和采样泵系统的故障率&bull 选用大容量存储器数据存储量达10万组,测量数据可通过U盘导出&bull 实时查询检测数据,标配蓝牙高速打印机,可现场打印数据&bull 交直流两用,内置可充电锂电池,电池组设有独立电池仓方便快捷插拔更换。电池自带电量显示&bull 采样过程中断电数据自动保护,来电后继续采样&bull 可选配物联网模块,可拓展联网功能,实现远程数据传输和物联网组网&bull 仪器可选配GPS和北斗卫星定位模块,实现GPS+北斗双定位模式和日期时钟授时功能&bull 可选配通过手机APP查看设备工作状态、可通过手机获取文件和转存数据;&bull 采样文件支持二维码转存,通过软件扫一扫即可实现文件获取并转存
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  • 仪器介绍: 全新智能X射线衍射仪SmartLab系列,是当今世界高性能的多功能的X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数: 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶 2、测角仪为水平测角仪 3、测角仪最小步进为1/10000度,高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位) 4、测角仪配程序式可变狭缝 5、自动识别所有光学组件、样品台 6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror) 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS) 8、多用途薄膜测试组件 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件 10、In-Plane测试组件(理学独有) 11、入射端Ka1光学组件 12、高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下) 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器,可以接收直射X射线) 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance 主要特点: 智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有: 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度 6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构 7. 小角散射与纳米材料粒径分布 8. 微区样品的分析
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  • 仪器简介:适用于Windows2000的真Win32位程序带在线帮助功能;频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用;能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使校准简单化;画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;十字星瞄准并带度量网格,以及测试点尺寸指示;测试工件的视频图像可用BMP文件形式保存;XYZ运行编程功能:随机单点,第1点、最后1点及等分的中间点,鼠标左键点选功能,鼠标右键的使用相当于操纵杆;测量模式用于:单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量)能分析多达四种金属成分的合金并具分析金的K数的特殊功能。能分析含一到二种金属离子的电镀溶液;频谱显示可自由选择颜色;并可同时显示前台和背景的频谱以便比较;频谱可储存和打印;可使用定义的文件名进行应用文件的管理(应用文件包含应用名,数据表示方式,打印形式定义,输出模板设定及记事本);用户可定义的报告编辑器,并自动插入测试工件的显示图像,及一些小的图片,如公司标识,图表,数据排列,字体选择;可以WinWordTM形式保存;单个的应用可连接至任意数量的应用文件(此种连接大大减少了所需要的校准及初始化步骤);使用条形码标签及可选的条形码读入键盘可自动选择应用;可选择数据进行统计评估;通过RS232串行口进行在线或离线的数据输出;可通过RS232串行口或在网络环境下的指令文件进行远程控制;可编程的应用项图标,用于快速应用项选择完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估语言:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,中文及日文(需要特殊的Windows版本);可自由定义“短目录”以锁住某些重要的系统功能;技术参数:1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法,符合技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568;2.测量箱结构坚固,使用合格的机械和电气部件;3.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)720 mm×660 mm×950 mm,重量大约为135kg;4.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)160 mm×560 mm×530 mm,带向上回转箱门;5.原始射线从上至下;6.高性能的X-射线管,高压及电流设定可调节至最佳的应用,高压设定:50kV,40kV或30kV;阳极电流:连续可调至0.8mA;7.原生电子过滤器:Ni和Be;8.4个对焦平面用于凹槽,腔体的测量,并可达到90mm;9.标准视准器组件Ⅰ有以下组成:0.1mm(4mil) 0.2mm(8mil) 0.05x0.05mm(2x2 mil)方形 0.03x0.2mm(1x8mil)带槽;在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅱ(取代组件Ⅰ)有以下组成:0.1mm(4mil) 0.2mm(8mil) 0.3mm(12mil)圆形 0.05x0.3mm(2x12mil)带槽;在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅲ(取代组件Ⅰ)有以下组成:0.2mm(8mil) 圆形 0.05x0.05mm(2x2mil) 0.025X0.025mm(2X2mils)方型;0.03mmX0.2mm(1.2X8mil)带槽;注:当测量PC印板,电脑接插件,引线框架等小工件时,推荐使用视准器组件Ⅰ10.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用;11.充氙气的比例计数器,频谱处理时,内部采用4096通道的ADC,对外显示为256通道;12.快速编程,高精确度,电机带动的XY工作台运行范围:型号XDVM-T7.1:X=175mm(7.0〃), Y=175mm(7.0〃)型号XDVM-T7: X=250mm(10.0〃), Y=250mm(10.0〃)13.工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆14.工作台面板可自动移出至工件放置位置;定位容易;15.电机驱动及高度(Z-轴)可编程的X-射线头部(X-射线管,比例计数器及视准器组件);Z-轴运行=145mm(5.9〞);16.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看;可选择的双重放大率X40/X80,带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示;17.测量箱键盘适合于最常用的测量功能和程序选择,操纵杆控制X-Y工作台,钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动,LED状态指示灯。主要特点:FISCHERSCOPE XDVM-W是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。它杰出的特性包括:2组可切换的各带4个视准器的视准器组,大的开槽的测量箱体确保工件放置简便,精确的可编程的直流电机驱动的X-Y工作台快速和无振动移动以及原始射线从上往下设计为在Z-轴可移动的X-射线发生和接受装置。这个特性使得该系统非常适合于测量大批量生产的部件,例如螺丝,连接器插针或大的线路板。按动按钮就可根据预设的测试点定位进行自动测量,并可自动的进行评估报告输出。
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  • 仪器简介:WinFTMV6 是一套专门为解决含量分析和镀层测量的软件WinFTMV6可在WindowsTM9X//NT/XP平台上运行;因为透过简单操作及准确的分析结果,所以便能够提升生产力。WinFTMV6还有以下的特色……特大屏幕能提供画中画显示分析结果,光谱及彩色影像图,图像亦可以用JPG格式储存。仪器能同时间分析最多24种不同的元素;根据可检定的元素范围由x ppm到100%,所以原子序号可由氯Cl=17)到铀(Uranium Z=92)。可同时测量23层不同元素镀层的厚度。共有1024频道显示清晰光谱,可随意选用不同颜色及储存光谱图,方便日后加以分析。因为不同受检样本的光谱可以进行比较,所以便快捷和容易地得出两种不同样本含量的分别。快速的频谱分析以决定合金成分。可以随意创建元素分析应用程式。透过预先设入的14种纯元素作为资料库,仪器便可以不需用标准片调校亦能以基本系数(FP)进行分析;如果输入已知的元素更可快捷地得出含量结果。可同时接受最多10种不同含量的标准片来调校仪器,所得出的结果更精确及可信赖。用滑鼠选择已经储存的应用档案后,便可即时进行含量分析。测量样品后,可透过“analysis”功能按键,仪器便会自动侦测内里的元素含量。自带SOFTWARE PDM(Product Data Management产品数据管理)提供了以下的附加功能:通过可定义的文件夹实现产品文件管理(产品文件包括应用,数据呈现方式,打印形式定义,输出模板设置和记事簿)。打印形式可由用户随意设定,例如输出公司标题之类的小图片。包括字体管理以及随意定义页面设置。单个的应用可连接至任何的产品文件(这种连接大大减少了校验和标准化所需的步骤数)。使用条形码标签以及可选择的条形码读入器键盘,可实现产品自动选择。允许仅对选择的数据进行评估。从选择的数据块中进行单组读数的数据输出。FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-u可以透过RS232接口、磁碟片或网络卡将所要的资料汇出到其他电脑进行统计。XYZ运行程序功能:随机的单个点,第一点和最后一点以及距离固定的中间点,列阵点,鼠标左键选点功能,右键可作为控制键。语言可选择:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,及中文技术参数:1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法,符合技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568;2.测量箱结构坚固,使用合格的机械和电气部件;3.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)720 mm×660 mm×950 mm,重量大约为90kg;4.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)140mm×560 mm×530 mm,带向上回转箱门;5.原始射线从上至下;6.高性能的X-射线管,高压及电流设定可调节至最佳的应用,高压设定:50kV,40kV或30kV;阳极电流:连续可调至0.8mA;7.最小测量点: 50×100um8.聚焦范围: 2.5 mm9.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用;10.高能量解像度的半导体接受器带帕耳帖冷却;内部光谱处理的ADC的通道为4096,压缩为1024个输出通道;;11.快速编程,高精确度,电机带动的XY工作台运行范围:X=250mm, Y=220mm. ;定位精度0.005mm; 工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆工作台面板可自动移出至工件放置位置;定位容易;12.电机驱动及高度(Z-轴)Z-轴运行=95mm;13.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看;可选择的双重放大率30-1108倍,带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示;14.测量箱键盘适合于最常用的测量功能和程序选择,操纵杆控制X-Y工作台,钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动,LED状态指示灯。主要特点:新型号的FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-µ 是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件,包括线路板,芯片和连接器等带来的挑战。这种创新技术的,目前正在申请专利的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度,这就可以在小到几?reg 微米的结构上进行测量。在经济上远远优于多元毛细透镜的Fischer专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。XDVM-µ 可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。具有强大功能的X-射线XDVM-µ 带WinFTM V6 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种独立元素的多镀层的厚度和成分。
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  • 仪器介绍: 全新智能X射线衍射仪SmartLab SE系列,是当今世界高性能的多功能的X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Studio II,一台仪器可以智能进行粉末测试、定量分析、晶粒尺寸、结晶度。技术参数:1、X射线发生器功率为3KW2、测角仪为水平测角仪3、测角仪最小步进为1/10000度,高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)4、测角仪配程序式可变狭缝5、自动识别所有光学组件、样品台6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)7、小角散射测试组件(SAXS)8、多用途薄膜测试组件9、高速一维探测器10、二维探测器,可以在零维、一维或二维模式间无缝切换11、全新的SmartLab Studio II 提供了模块化的衍射功能组件12、自对准光学器件可延长仪器正常运行时间并降低购置成本主要特点: 智能多功能X射线衍射仪SmartLab SE ,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有: 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度 6. 小角散射与纳米材料粒径分布 7. 微区样品的分析
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  • 全角度X射线应力测定仪 仪器的核心部件:微型X射线管、线阵探测器、超高速、紧凑型六轴机器手,分别来自,美国、瑞士、日本,全球领先的品质得到了完全的保证。一、描述: 以一个X射线管和两个线阵探测器和为核心器件,通过必要的内部支架及外壳组合而成为宝盒。两个探测器的中心线和与入射线夹角分别设为2η,夹角顶点为测试点S。盒内还安装左右两个激光器,两束激光和交汇于S点。另外配以微调升降机构和多段式万向支架,即可用于应力测试。只需使用两束激光对准测试点S,调整宝盒外壳参照平面使之平行于试样测试面,开机后没有测量动作,采集数据几秒至十几秒即可完成测试。 这里2η依据不同待测材料和X射线管的靶材确定。 二、与现有X射线应力设备的比较: 现在所有的X射线应力测试设备都必须有两种运动机构:(1)通过机械扫描测定衍射角2θ的机构;(2)改变Ψ角的机构。测试过程都是在若干个不同的Ψ角分别测定衍射角2θ,然后计算应力。本仪器却没有这样两种机构,无需这两种测量动作。开机直接采集数据,计算应力值,瞬间给出测试结果。 三、技术参数: 1、X线管靶材:Cr(可定制)。 2、X射线管功率:60kv,200uA。 3、高压电源:与X射线管集成。 4、线阵探测器:厚320Um,宽50UM,*4mm*640mm。 5、2θ范围:144°-168°。 6、ψ角:可选择35°、40°、45°。
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  • XY-8031型β射线烟尘直读采样管产品概述本仪器是采用β射线吸收称重原理,配合烟尘主机针对固定污染源有组织排放气体中的颗粒物浓度进行自动采样和精确测量,具有体积小,测量精度高,便于携带安装等特点。可测定烟道的动压、静压、温度、流速、标干流量、烟尘排放等。广泛应用于环保、检测公司、工矿企业(电厂、钢铁厂、水泥厂、糖厂、造纸厂、冶炼厂、陶瓷厂、锅炉炉窑,以及铝业、镁业、锌业、钛业、硅业、药业,包括化肥、化工、橡胶、材料厂等)、卫生、劳动、安监、军事、科研、教育等领域采用标准GB/T16157-1996固定污染源排气中颗粒物测定与气态污染物采样方法HJ/T 397-2007固定源废气监测技术规范DB37/T 3785-2019固定污染源废气 颗粒物的测定 β射线法技术特点1) β射线吸收原理,不受颗粒物大小、形状等其他化学性质影响,现场自动测算尘重及排放量2) 采用低活度的14C β射线源,安全可靠3) Z低检查限0.1mg/m3,可满足超低工况监测要求4) 内置湿度检查模块,具有湿度测量功能5) 选配烟气预处理功能,可配合烟尘主机进行尘气同采,测尘的同时进行烟气浓度的测量。6) 采用滤带式采测异工位结构设计,采样与测量过程分离,避免关键元器件污染,保证测量精度7) 钛合金取样管全管路采用智能高效加热控制,气路内壁采用超光洁工艺加工,减少颗粒物损失,保证测量精度8) 滤膜前后双重加热,提升滤膜烘干效率,防治烟气冷凝对测量结果造成影响。9) 可实时测量水平和垂直方向的角度,具有倾斜报警功能10) 采用惰性材料校准膜校准,测试数据更准确11) 取样管采用独特的对接设计,可实现快速拆装,且可多角度转动,方便运输和使用12) 内置式皮托管,外观简洁,操作便利;皮托管采用模块化设计,方便拆卸,降低维修成本13) 具备滤带用尽前预警和纸带用尽、断裂报警功能14) 采用滤带式设计,一次安装长时间使用,并可实现短期在线监测功能。15) 具备USB接口,可实现USB导出功能。16) 可与GR-3100D型低浓度烟尘/气测试仪搭配使用,实现烟尘浓度直读17) 带有WIFI及蓝牙,实现远程数据传输和物联网组网 技术参数表1 主要技术指标主要指标参数范围分辨率Z大允许误差浓度范围(0~50)mg/m3(可扩展)0.01mg/m3±20%采样流量(0~50)L/min0.1L/min±2.5%含湿量(0~40)% VOL0.01% VOL±2.0%VOL烟气动压(0~2500)Pa0.1Pa±2.0%烟气静压(-35~35)kPa0.01kPa±2.0%烟气全压(-35~35)kPa0.01kPa±2.0%烟气温度(-50~500)℃(可扩展)0.1℃±3.0℃大气压(30~120)kPa0.01kPa±0.5 kPa校准方式标准膜校准工作电源DC24V 15A外形尺寸323x100x248mm采样管长度标准1.5m可定制功耗360W
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  • X射线应力测定仪 一、仪器用途: 本仪器依据中华人民共和国标准 GB7704--2008《X射线应力测定方法》,能够在短时间内无损地测定材料表面指定点、指定方向的残余应力(用“ + ”、“ - ”号分别表示拉、压应力), 并具备测定主应力大小和方向的功能。在构件承载的情况下测得的是残余应力与载荷应力之代数和,即实际存在的应力。适用于各种金属材料经过各种工艺过程(如铸造、锻压、焊接、磨削、车削、喷丸、热处理及各种表面热处理)制成的构件。本系统因功能齐全而适于实验室的试验研究工作,又因轻便灵活而适于现场测量。 各种机械构件在制造时往往会产生残余应力。在制造过程中,适当的残余应力可能成为零件强化的因素,不适当的残余应力则可能导致变形和开裂等工艺缺陷 在加工以后,残余应力将影响构件的静载强度、疲劳强度、抗应力腐蚀能力及形状尺寸的稳定性。 一个构件残余应力状态如何,是设计者、制造者和使用者共同关心的问题。无损地测定残余应力是改进强度设计,提高工艺效果,检验产品质量和进行设备安全分析的必要手段。 为了说明残余应力测试技术的应用场合,于此列举如下事例: 在现代机械工程中,由于焊接技术的进展,使许多巨大金属机构的制造成为可能,但随之而来的问题就包括如何测定并进而控制其残余应力的大小和分布。这是一个绝对不可掉以轻心的问题,它关系到工程的质量、寿命和安全。实际上,对于诸如球罐、塔器、轧辊、铁路、桥梁船舶、海上石油平台、水利水电工程中的大闸门和压力钢管等等大型构船舶、海上石油平台、水利水电工程中的大闸门和压力钢管等等大型构件,以及航空、航天、核工业的有关设备,各有关部门都已把测定和控制残余应力的问题提到重要议事日程上来。 为了消除对构件带来不良影响的残余应力,传统的热时效方法还在普遍采用,而后来兴起的振动时效技术也正逐步形成推广应用的热潮。显然,检测构件时效前后,特别是振动时效前后各部位残余应力的变化,对于确定和正确掌握时效工艺是十分必要的。 为了提高某些零件的疲痨强度,材料强度专家们提出采用喷丸、滚压、表面热处理以及表面化学热处理等办法。就其强化机理而言,这里就包括 一个至关重要的因素──残余压应力的作用。因此,无损地测定零件表面残余应力对于确定和正确掌握强化工艺也是十分必要的。 近年来在轴承、轧辊、齿轮、弹簧等等行业已经把残余应力和残余奥氏体含量测定当作必检项目,用以控制产品质量。 机械设备的失效分析表明,应力腐蚀是导致零部件损伤和断裂事故的主要原因之一。其中,因焊接或其它工艺产生的残余拉应力所引起的事故占大多数。因此对于在腐蚀介质中工作的构件,残余应力是正或是负,以及绝对值的大小肯定是不容忽视的参数。 许多零件经过淬火、回火、磨削之后发现了裂纹。为了判定裂纹产生的主要原因,就必须分别研究热处理应力和磨削应力。 为了保证零部件形状尺寸的准确性和稳定性,也必须重视它的残余应力现状和变化趋势。凡要求精密之处,测定关键零部件的残余应力显然是非常重要的。 在各种无损测定残余应力的方法之中,X射线衍射法被公认为最可靠和最实用的。它原理成熟,方法完善,经历了七十余年的进程,在国内外广泛应用于机械工程和材料科学,取得了卓著成果。 X-射线应力测定仪是一种简化和实用化的X射线衍射装置,因而它还有一项重要的功能──测定钢中残余奥氏体含量。由于它适用于各种实体工件,而且能够针对同一点以不同的φ角、Ψ角进行测试,以探测织构的影响,这项功能便具备了重要而独特的用途。 采用TK-360-A型测角仪可以测定各种实体工件的织构。二、测量原理: X射线应力测定仪测量原理基于X射线衍射理论。 当一束具有一定波长λ的X射线照射到多晶体上时,会在一定的角度2θ上接收到反射的X射线强度极大值(即所谓衍射峰),这便是X射线衍射现象(如左图所示)。X射线的波长λ、衍射晶面间距d和衍射角2θ之间遵从著名的布拉格定律: 2d Sinθ=n λ (n=1,2,3……) 在已知X射线波长λ的条件下,布拉格定律把宏观上可以测量的衍射角2θ与微观的晶面间距d建立起确定的关系。当材料中有应力σ存在时,其晶面间距d必然随晶面与应力相对取向的不同而有所变化,按照布拉格定律,衍射角2θ也 会相应改变。因此我们有可能通过测量衍射角2θ随晶面取向不同而发生的变化来求得应力σ。 关于X射线应力测量原理还可以作如下进一步的解释: 众所周知,对于晶粒不粗大、无织构的多晶材料来说,在一束X光照射范围内便有许许多多个晶粒, 其中必有许多晶粒,其指定的(h k l)晶面平行于试样表面,晶面法线与表面法线夹角ψ为0;也必有许多晶粒,其(h k l)晶面法线与表面法线成任意的ψ。首先,如图A所示,以试样表面某点(o点)法线为轴,将一束适当波长的X光和探测器(计数管)对称地指向该点O,并同步地相向扫描改变入射角和反射角。根据布拉格定律,可以找到平行于试样表面的(h k l)晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ 。这个由X光束和计数管轴线组成的平面称作扫描平面,衍射晶面的法线必在扫描平面内,并居于X光束和计数管轴线二者角平分线的位置上。让我们记住,此时扫描平面与试样表面垂直,衍射晶面与试样表面平行,ψ=0(如图B)。然后,扫描平面以图A中直线OY为轴转过一个ψ角(如图C),同样也可以得到(h k l)晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ ,这时,衍射晶面法线与试样表面法线夹角为ψ(如图D)。 图A 图 B 图 C 图 D 在无应力状态下,对于同一族晶面(h k l)来说,无论它居何方位,即无论ψ角等于何值,晶面间距d均相等;根据布拉格定律,相应的衍射角2θ也应相等。当有应力存在时,譬如沿图中OX方向存在拉应力,则平行于表面(即ψ=0)的(h k l)晶面,其间距d会因泊松比的关系而缩小(见图B);随着ψ角的增大,晶面间距d会因拉应力的作用而增大(见图D)。于是相应的衍射角2θ也将随之改变──按照布拉格定律,d 变小,则2θ变大;d 变大,则2θ变小。显然2θ随ψ角变化的急缓程度与应力σ大小密切相关。对于各向同性的多晶材料,在平面应力状况下,依据布拉格定律和弹性理论可以导出,应力值σ正比于2θ随Sin ψ变化的斜率M,即 σ=KM ????2θ M= —————— ??Sin2 ψ式中K为应力常数, E π K = — ————— Ctgθ0 ———— ? 2(1+μ) 180式中E为杨氏模量,μ为泊松比,θ0为无应力状态的布拉格角。对于指定材料,K值可以从资料中查出或通过实验求出。这样,测定应力的实质问题就变成了选定若干ψ角测定对应的衍射角2θ。 X-350A X射线应力测定仪可以自动完成测量并给出最终结果和某些有价值的物理参数。 X射线应力测定仪三、仪器结构: 本仪器主机由以下五部分组成:PC微机、主控箱、高压电源箱、测角仪及台式支架、PC 微机的最低配置应能支持Windows7/xp。 主控箱内有高压电源控制系统、接口线路和单片机系统、步进电机驱动器、计数放大器,以及1500V、24V、5V电源。 高压电源箱输出15kV~30kV电压,通过高压电揽供给测角仪上的 X 射线管。 测角仪是测量执行机构。仪器的核心部件 X 射线管和 X 射线探测器就装在测角仪上。本仪器的测角仪为θ-θ扫描Ψ测角仪。这是本研究所的专利技术。 X 射线管和 X 射线探测器同步等量相背扫描,二者各前进一个 θ,则衍射角改变 2θ,故名θ-θ扫描。在整个扫描过程中,衍射晶面法线保持不动,准确体现固定Ψ法的几何要求。 将上述θ-θ扫描平面设置在与Ψ平面相垂直的位置上,衍射晶面法线含于θ-θ扫描平面之中,且处在与试样表面垂直的平面里。这样,可以直观地看出,当θ-θ扫描平面沿着Ψ导轨转动时,该平面与试样表面之夹角就是Ψ角——衍射晶面与试样表面法线之夹角。这正是侧倾法的几何布置。所谓Ψ 测角仪,其实质即在于此。 测角仪上采用了圆弧滚动导轨、谐波齿轮等先进机械元件,运动精密而流畅。 台式支架用于支承测角仪。它包含 X、Y、Z 三个平移机构,均采用直线滚动导轨。底座和加长脚上装有螺栓支脚。调整螺栓支脚可以保证测角仪的主轴线与测试点法线重合。调整 Z 向平移机构可以校准测角仪至测试点的距离。调整 X、Y 平移机构则是为了对准选定的测试点,便于连续测定应力在工件表面各点的分布。螺栓支脚下端的球头用于连接电控永磁吸盘。立柱可以旋转360°,在采用了吸盘之后,旋转立柱可以扩大测试范围。四、功能特点: X射线应力测定方法分为同倾法和侧倾法, 侧倾法比同倾法具有无可比拟的优越性;从另一角度分类又分为固定ψ0法和固定ψ法,后者又因原理准确实用效果好而优于前者。更具魅力的是将此二优结合起来,即在侧倾的条件下实施固定ψ法便会产生喜人的新特点──吸收因子恒等于1。这就是说,不论衍射峰是否漫散,它的背底都不会倾斜,峰形基本对称,而且在无织构的情况下峰形及强度不随ψ角的改变而变化(如图所示)。显然这个特点对提高测量精度是十分有利的。所以行家们的共识:侧倾固定ψ法是最理想的测量方法 。然而,除了国产X-350A型以外,迄今国内外尚无以侧倾固定ψ法为主的应力测定仪。在X射线应力测定领域里普遍采用的都是同倾固定ψ 0法。对于使用多功能仪器者来说,虽然在必要时可以实现固定ψ法和侧倾法,但是由于仪器机构和功能的限制,总会伴随诸多困难和麻烦,更难应用于现场测量。新型 X-350A X射线应力测定仪当年便是在这种情况下应运而生的。本仪器以其独创性和先进性获得国家专利(ZL 专利号:98244375.7)。我公司具有θ-θ扫描Ψ测角仪的完全独立的知识产权。其功能特点如下: 1、本仪器的测角仪以其独特的构思和巧妙的设计,使得在2θ平面上的X光管和探测器同时等速相对而行,严格满足固定ψ法的几何要素;另外,又使2θ平面与ψ平面相互独立。这样便保证了本系统以侧倾固定ψ法为主,实现理想的测量方法;同时保持结构简洁灵活轻便的特点。2θ扫描范围:120°~170°,在侧倾法的条件下,测定应力既可利用高衍射角又可利用较低衍射角.这样,除适用于铁素体型钢和铸铁材料之外,还为奥氏体不锈钢、铝合金、钛合金、铜合金以及高温合金、硬质合金等材料的应力测定带来方便并可提高测量精度。侧倾固定Ψ法另一特点是对于各种形状的零部件有更好的适应性,特别是对于齿轮的齿根部位。 2、本仪器θ-θ扫描Ψ测角仪的衍射几何 为聚焦法。如图所示。在 X 射线管和 X 射线探测器以θ-θ方式沿测角仪圆扫描过程中,X 光源点、试样上被照射点和探测器接受点,三者随时同处在一个聚焦圆上,当然,随着扫描过程,聚焦圆的大小是逐步变化的。 3、测定残余奥氏体含量更为便当。本仪器2θ扫描范围120°~170°, 一次扫描可以得到αFe(211) 、γFe(220)两个完整的衍射峰,无需另外安装延长扫描范围的附件,测试更加方便、快捷、准确。而且可以针对同一测试点取不同的Φ角、角进行测定,以便探测织构的影响。必要时,可以做到残奥含量和残余应力同时测定,亦即一次测量得到残奥含量和残余应力两项数据。这些都是本仪器独有的功能,对于各种实体工件具有极其可贵的实用价值。 4、支架与测角仪之间可以装备针对同一测试点转Φ角的连接机构,这样即可测定主应力的大小及其方向,测定剪切应力。 5、应用PC微电脑,Windows 环境操作,界面友好,使用方便。提供侧倾、同倾固定ψ法、摆动法应力测定以主应力计算、残奥测定等专用软件,丰富而实用。自动生成专业而翔实的实验报告;根据用户要求,还可以生成英文版实验报告。 6、引入交相关法进行数据处理,显著提高定峰和应力测量精度。 7、为X光管配置高压开关电源,最大功率30KV×10mA,稳定度优于0.1% 。 8、采用微型激光器校准测试点的位置与方向。 应力测定仪五、主要技术参数:★测量方法:侧倾固定ψ法,摆动法,残奥测定,织构测定。 定峰方法:交相关法,半高宽法,抛物线法,重心法。 仪器精度:采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射,铁粉(211)晶面,衍射角2θ测定误差在±0.015°以内;铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式:θ-θ扫描ψ测角仪★2θ扫描范围:120°~170°; 2θ扫描最小步距:0.01°2θ扫描每步计数时间:0.1S~20Sψ角范围:0°~ 65°ψ角摆动角度:0°~±6° X射线管电压:15~30kV,连续可调X射线管电流:3~10mA,连续可调X射线管靶材:Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备,其余供选购。 衍射几何:聚焦法 准直管直径:提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。 测角仪重量:10 kg最简装置总重量:45 kg供电要求:AC 220V±10%,1000W,50Hz
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  • 日本Rigaku 智能多功能X射线衍射仪 Smartlab SE高自动化、多功能衍射仪, 精于形,智于心 引导用户从测试到数据分析: Smartlab Studio || 软件包中的Guidance软件可以根 据用户希望完成的测试 ,给出仪器所需硬件配置 ,井 优化测量参数 。对于常见的测试,软件会给出最优化 的仪器配置,井可以 自动化的完成测试序列。由于 Smartlab中使用了独有的组件识别技术 ,因此当测试 人员没有正确配置光路或附件时 ,Guidance 软件可以 告知测试人员。软件参数的优化与硬件组件的智能确 认是Smartlab系统可以胜任所有样品测试的关键 。 可以满足不同应用需求: 多种光路及附件组合 ,能满足多种用户测试需求 。 简单 、快速的切换不 同的光路几何,CBO (交叉先路) 技术与光路自动调整和样品位置矫 正的结合 ,可以使用户在多种光路几何间 ,快速便捷 的切换。 支持多种附件: 自动进样器 、样品旋转台、变温附件或湿度控制附件 等多种附件可供用户选择。
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  • H9002型β射线烟尘(气)测试仪产品简介H9002型β射线烟尘(气)测试仪是一款可用于直接测量固定污染源中颗粒物浓度的仪器,测试仪集S 型皮托管、温度传感器、加热控制、采气管于一体,利用β射线原理直接测量烟尘浓度,同时可测量烟道内的动压、静压、温度、含湿量、流速、风量以及烟尘排放浓度、排放量等。广范适用于固定污染源有组织排放废气中颗粒物浓度的测量,可供环保、卫生、劳动、安监、军事、科研、教育等部门使用。执行标准GB/T 16157 固定污染源排气中颗粒物测定与气态污染物采样方法HJ/T 397-2007 固定污染源废气监测技术规范DB 37/T 3785-2019 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 36/T 1386-2021 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 21/T 3270-2020 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 63/T 1873-2020 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法JJG 680-2007 烟尘采样器检定规程主要特点&bull 采用β射线吸收原理,测量结果不受颗粒物大小形状及其他化学性质的影响,数据准确;&bull 最低检出限是0.1mg/m3,可满足超低工况监测要求;&bull 采用异位法设计,采样工位与测量工位分离,避免关键元器件污染,保证测量精度;&bull 采样管及采样工位采用智能高效全程加热控制;&bull 采样管内壁采用超高光洁加工工艺,最大程度减少颗粒物的吸附;&bull 采样样管快速对接设计,可实现快速拆装,方便运输和使用;&bull 内置式皮托管,前端采用对接式设计,方便拆卸更换;&bull 使用符合国家标准的校准膜片进行校准,数据更加准确;&bull 采用安全稳定的C14放射源,符合国家豁免标准&bull 采用工业平板无线操控,支持蓝牙通信功能和外置蓝牙高速打印机; &bull 配有高负载低噪声大流量旋片式抽气泵,流量可达 100L/min;工作条件&bull 工作电源: AC(220±22)V,(50±1)Hz; &bull 环境温度:(-20~ 50)℃; &bull 环境湿度:(0 ~95)%RH; &bull 适用环境: 非防爆场合; &bull 电源接地线应良好接地; &bull 野外工作时,应有防雨、雪、尘以及日光爆晒等侵袭的措施。技术指标项目参数范围分辨率最大允许误差烟尘浓度(0~50)mg/m30.01mg/m3不超过±20%烟气温度(0~500) ℃0.1℃不超过±3℃取样管加热温度(50~160) ℃1℃不超过±10℃滤带加热温度(50~160) ℃1℃不超过±5℃采样嘴型号φ4.5、φ6、φ7、φ8、φ10、φ12皮托管系数0.84±0.01测孔直径要求≥80mm取样管耐温≤260℃
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  • 德航(天津)智能科技有限公司β射线法扬尘监测仪采用β射线检测方法,根据β射线穿过清洁滤纸和采集有颗粒物的滤纸时的变化量来计算在滤纸上采集到颗粒物的质量,继而求得空气中的颗粒物浓度。广泛适于测量环境空气中的颗粒物浓度,如PM10、PM2.5、TSP(选配不同的采样切割头)等。详情介绍近年来,根据国家环保部监测数据,空气污染严重的深层次原因是我国快速工业化、城镇化过程中所积累环境问题的显现,高耗能、高排放、布局不合理,污染排放量的大幅增加,都是影响空气质量的原因。德航(天津)智能科技有限公司 β射线分析仪/颗粒物浓度监测仪采用了β射线衰减的原理对粒子进行监测,可以实时监测环境大气中PM10颗粒物的浓度水平。工作原理德航(天津)智能科技有限公司 β射线颗粒物监测仪采用β射线检测方法,根据β射线穿过清洁滤纸和采集有颗粒物的滤纸时的变化量来计算在滤纸上采集到颗粒物的质量,继而求得空气中的颗粒物浓度。广泛适于测量环境空气中的颗粒物浓度,如PM10、PM2.5、TSP(选配不同的采样切割头)等。1)液晶显示:监测仪大屏幕液晶显示,全中文菜单。2)数据存储:数据存储量可达百万个,数据保存时间长达20年。5)监测仪能提供各种在线的运行参数,仪器控制的所有功能。6)采用质量流量计测量流量,恒定流量采样,保证了测量精度。7)内部故障自动诊断和报警提示,也可以通过远程诊断并修复错误。9) 系统断电后来电自动重新启动,恢复正常工作。10)工作周期长,能够连续自动运行,安装简单,维护方便。DH-HBYC1000型β射线颗粒物监测仪是全天候户外自动监控终端,其采用钢质材料,能够适应全天候复杂环境,IP65防尘、防溅水设计,功能完善、体积小巧、系统集成度高、坚固耐用,可在各种复杂环境下可靠工作。设备带有机箱内部温度控制系统。 关于德航智能德航(天津)智能科技有限公司位于天津市,成立于2013年。德航智能集成和发展了云计算、物联网等新技术的研究,是一家智慧环保、智慧消防、智能控制集研发、生产、销售为一体的高技术企业。德航智能公司拥有一支技术团队和激情的销售团队,大力发展德航智能为客户提供环保智能化物联网业务体系的服务和解决方案。本公司多款产品支持定制。
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  • GHK-2200型β射线烟尘直读采样管是采用β射线吸收称重原理,配合烟尘主机针对固定污染源有组织排放气体中的颗粒物浓度进行自动采样和精确测量,具有体积小,测量精度高,便于携带安装等特点。 执行标准 GB/T16157-1996《固定污染源排气中颗粒物测定与气态污染物采样方法》 HJ/T397-2007《固定源废气监测技术规范》 DB37/T3785-2019《固定污染源废气颗粒物的测定β射线法》 功能特点 1、β射线吸收原理,不受颗粒物大小、形状等其他化学性质影响,现场自动测算尘重及排放量 2、采用低活度的14Cβ射线源,安全可靠 3、检出限低,可满足超低工况监测要求 4、内置湿度检查模块,具有湿度测量功能 5、选配烟气预处理功能,可配合烟尘主机进行尘气同采,测尘的同时进行烟气浓度的测量 6、采用滤带式采测异工位结构设计,采样与测量过程分离,避免关键元器件污染,保证测量精度 7、钛合金取样管全管路采用智能高效加热控制,气路内壁采用超光洁工艺加工,减少颗粒物损失,保证测量精度 8、滤膜前后双重加热,提升滤膜烘干效率,防治烟气冷凝对测量结果造成影响 9、可实时测量水平和垂直方向的角度,具有倾斜报警功能 10、采用惰性材料校准膜校准,测试数据更准确 11、取样管采用独特的对接设计,可实现快速拆装,且可多角度转动,方便运输和使用 12、内置式皮托管,外观简洁,操作便利;皮托管采用模块化设计,方便拆卸,降低维修成本 13、具备滤带不足预警和纸带用尽、断裂报警功能 14、采用滤带式设计,一次安装长时间使用,并可实现短期在线监测功能 15、具备USB接口,可实现U盘导出功能 16、与低浓度烟尘/气测试仪搭配使用,实现烟尘浓度直读 17、可选配物联网模块,实现远程数据传输和物联网组网
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  • 一、产品介绍FJ2000个人剂量仪是智能型袖珍仪器,主要用来监测X射线和γ射线,直接读出个人剂量和个人剂量率;在测量范围内,可以固定或预置报警阈值,超过阈值或阻塞时发出声光报警。产品执行标准是JJG 1009-2006直读式X、γ辐射个人剂量当量(率)监测仪检定规程。具有制造计量器具生产许可证。二、产品参数1、探测器:GM计数管(经补偿)2、测量范围:累积剂量当量:Hp(10)0.0μSv-99.99mSv3、剂量当量率:Hp(10)0.1μSv/h-99.99mSv/h4、相对误差:<15%(137Cs)5、能量响应:50KeV-1.3MeV,误差在±30%6、角响应:参考137Cs在0°~90°时不超过校准方向上响应的±30%7、报警功能:本仪器现设有固定报警阈值50μSv和25μSv/h,大于设定的报警阈值时有声光报警,当计数管阻塞时,连续报警不断,报警声音强度在30cm处大于80dB。8、电源功耗:AAA型1.5V碱性电池两节(7号电池)环境本底下,功耗<2mW,连续使用720小时。9、外形尺寸:92(长)×55(宽)×18(厚)10、重量: 98克适用于工业无损探伤、同位素应用、核工业、医院、铁路、民航、环保等放射性应用领域的工作人员的防护和个人剂量监测。三、产品特点1、仪器灵敏度高,对环境本底亦有响应2、功耗低:<2mW3、抗电磁干扰能力强
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  • 日本Rigaku 智能多功能X射线衍射仪 Smartlab SE高自动化、多功能衍射仪, 精于形,智于心 易用、智能的全功能X射线衍射仪 多功能X 射线衍射仪装备有多种附件 ,兼具多种用 途 ,例如 :粉 末 衍 射 、小角散 射 、残余 应 力等多 种 应用。然而,伴随着仪器附件及功能的增加 ,多功能 X射线衍射仪的易用性不断降低 。您是否确定测试人 员选择了最佳的测试条件 ?当进行多种复杂附件切换 的时候,1fE如何确定仪器处于最佳的矫正状态 ? Smartlab SE 从如下三个方面解答了您 的疑问。 首先,仪器可以通过二维码 自动识别装载于衍射仪上的 组件,井检查相关组件是否满足用户选择的测试 。理 学智能的软件会建议操作人员 更换组件 ,以达到最佳 的测试结果。 其次 ,理学独有的全自动校正操作 ,会在组件安装完 毕后启动。在实验前的自动校正 ,是确保实验数据一 致性 ,咸小实验误差 的唯一方法。 除此之外,全新的Sma「tlab Studio || 软件为全新的 Smartlab SE 提供了模块化的衍射功能组件 ,包括仪 器的控制 、衍射数据的分析和生成报告等。Smartlab Studio II 软件的设计思路,源自于理学的简单易用的 设计语言。全新的 Guidance 软件确保即使是初学者 也可以通过软件的“引导”获得与同行专家一样的测试 数据。 引导用户从测试到数据分析 Smartlab Studio || 软件包中的Guidance软件可以根 据用户希望完成的测试 ,给出仪器所需硬件配置 ,井 优化测量参数 。对于常见的测试,软件会给出最优化 的仪器配置,井可以 自动化的完成测试序列。由于 Smartlab中使用了独有的组件识别技术 ,因此当测试 人员没有正确配置光路或附件时 ,Guidance 软件可以 告知测试人员。软件参数的优化与硬件组件的智能确 认是Smartlab系统可以胜任所有样品测试的关键 。 可以满足不同应用需求多种光路及附件组合 ,能满足多种用户测试需求 。 简单 、快速的切换不 同的光路几何CBO (交叉先路) 技术与光路自动调整和样品位置矫 正的结合 ,可以使用户在多种光路几何间 ,快速便捷 的切换。 支持多种附件自动进样器 、样品旋转台、变温附件或湿度控制附件 等多种附件可供用户选择。 可满足快速和二维测量的先进的探测器Smartlab SE提供两个先进的检测器 :D/teX Ultr a 250 高速一维探测器作为标准配置 ,HyPix-400 二维 半导体阵列检 测器 作 为 升级配 置 供 用 户选 择 。 HyPix-400半导体阵列检测器不仅可以在二维模式下 使用,同时还可以切换为零维或一维模式 ,这样极大 的扩展了该检测器的应用范围。 从粉末测试到二维数据采集根据用户的需要,整个仪器的配置可以满足常规粉末样品测试, 或者,复杂的微区或原位测试等要求 。 标准光路配置Bragg-Brentano 聚焦光路.粉末测试定量分析.晶粒尺寸 结晶度 切换至SAXS测量模式 理学专利的交叉光路 ( CBO) 技术 使用CBO光路系统聚焦光路件平行光路 〈通过CBO 转换) SAXS 测试 薄膜测试 聚焦光路悼会聚光路法 (CBO-E).粉末透射测试聚焦光路件发散光路 (通过CBO α转换).高峰背比 (P/B) 的粉末测试 切换至微区测量模式HyPix-400检测器搭载HyPix-400 的光路系统装载有HyPix-400 二维探测器的光路.微区测试原filln-situ测试.取向测试 Smartlab SE 产品特征 先进的高速探测器 高分辨率,超快速 一维 X 射线探测器D/teX Ultra250 (0/1D)D/teX Ultra250 一维探测器支持Bragg-Brentano聚焦法测试 ,并且可 以在短时间内获得广角度的粉末衍射峰形 。作为一款高性能的半导 体检测器 ,其极高的能量分辨率可以有效的降低在测试过程中产生 的背景噪音。D/teX Ultra250 高速探测器作为一维探测器使用时 ,可 以检测到极弱的衍射信号 ,同时,该探测器还可以像闪烁计数器一 样,作为零维探测器使用 。 半导体阵列多维探测器 HyPix-400 (OD /1D/20)SmartLab SE搭载了先进的HyPix-400半导体阵列20探测器 。如果说 D/teX Ultra 250可以胜任常规的零维和一维模式读取的话 ,那么大读 取面积的HyPix-40 0 二维探测器在收集二维衍射照片方面具有非常 大的优势,HyPix -400 二维探测器可以在极短的时间内完成晶体取 向评估及广域倒易空 间成像等多种应用。 交叉光路技术 :CBO (理学专利) CBO 是理学专利的光路切换单元 ,使用CBO仅需要对狭缝更换即可 完成两种不 同的光路几何之间的切换。SmartLab SE 可以根据用户 需求提供三种不同的CBO单元的组合 :Bragg-Brentano 聚焦光束/平 行光束,B「agg-Brentano 聚焦光束/会聚光束,B「agg-Brentano 聚 焦光束/发散光束。 B旧gg”Brentan 聚焦法 :衷方法多用于常规粉末 XRD) lj试。 平行光束法 (CBO) :多层膜抛物面镜使发散的光束变为平行光 。 该光束多用于SAXS ,薄膜样品或表面粗糙样品的测试等。 会聚光束法 (CBO-E) :发散的光束通过具有椭圆形镜面的多层膜 透镜会聚于被测表面 ,该光路可以在透射模式下提供高角度分辨率 的数据。发散光束法 (CBO α):光束被平面 多层膜镜单色后,只有 Kα,相 比Bragg-Brentano 可以增加数据的峰背比。 测量及数据分析软件包 Smartlab Studio 11 Sma「tlab Studio II 是一个功能强大、操作界面友好的软件包 ,其中整合了所有的光路调整,数据测试和分析的 功能。用户可以通过不同组件的切换选悻所需的功能 ,例如“测试” 、“粉末数据分析” 、“极图” 、℃DF分析”或“残 余应力”等功能。所有这些功能都集中于 同一个界面友好且容易操作 的软件操作平台。 智能光路感知功能由于光学组件可以被仪器自 动识别 ,使用理学的Guidance 软件可以通过演示动画指导用户更换光路或附件 。除此之外,对于常见的应用 ,软件包中预设有推荐的光路 设置 、样品校正和测量序列 ,可以吗助初学者尽快熟悉井 完成所需的测试。 流程图式的测试引导栏Sma『tlab Studio 川 采用了简洁的流程图式的引导栏,从测 试到数据分析的整个过程中 ,通过提示关键步骤 ,更加直 观的帮助测试人员者理解每步操作。 综合信息管理系统Smartlab Studio II 采用了先进的 SOL数据管理模式,于本 地数据库中高效的管理测试材料信息 、测试数据及数据分 析结果 。SOL数据库具有出色的数据检索和备份功能 ,可以轻松处理海量测试信 息.Smartlab SE 可根据应用需求调整配置反射/透射 模式下的粉末衍射测量反射模式光路配置Bragg-Brentano 聚焦法.平行光束法发散光束法用户可以根据测量需要在反射模式和透射模式 间切换。使 用会聚光束进行透射法测试 ,可以获得更高的强度和更好 的分辨率。0.1 质量分数% 石棉 (温石棉) 分散于碳酸钙中 一束发散的X射线经过平面镜单色后进行衍射实 验 ,相比于传统的 Bragg-Brentano聚焦光路模 式,可以获得更高的信背 比。从衍射实验结果中可以看出,?自量的石棉衍射信号都可 以被检测到 。 透射模式光路配置 聚焦光束法平行光束法(上图展示的是垂直模式下的透射测试光路)分别用反射法和透射法测试药 片的X射线衍射峰 药物片剂一般由含有甜昧的辅料及可食用色素构 成,可以有效的降低药片在吞咽时的苦涩感。药片 表面的成分可以通过反射法进行测试 ,而药片内部的信息可以通过透射法获得。 微区衍射测试采用理学专有的 CBO-f光学附件,该附件可以使X射线会聚于 样品表面,而不再需要调整×射线从线光源到点光源。除此之外,使用D/teX Ult「a250 高速探测器或 HyPix-400 二 维半导体阵列探测器可以快速的检测到微区实验中弱的衍射 信号。 微区测试应用于即刷电路板(1) 电容器 (2) IC 芯片 (3) 焊点 采用CBO-f 和 HyPix-400 测试。 极图/残余应力测试使用线光源在极图测量时 ,可以降低由于使用Schulz狭缝 时,衍射强度随试样倾角的增加而降低的情况 ,其测试效果与点光源一致。软件中的“Pole figure and ODF analysis” 插件可以进行晶体取向分析井且可以通过重新计算得到样品的全极图。 在残余应力测试中 ,使用平行狭缝分析器 ( PSA) 可以有效 的降低由于位移误差造成的峰位漂移 。 重新计算后生成的铝锚片的全相极图 测试中使用了 ,α日 样品台 ,反射附件 , Schulz挟缝。全相极图是基于三个不 同的 米勒指数面 仆仆,200 和 220 ) 的测试结 果,通过ODF重新计算得来的 。 小角X射线散射(SAXS)SAXS测试可以获得粒径或孔径小于 100nm的材料的分布情 况,衷测试过程中 28角度移动范围小于 10。。SAXS测试过程 中,使用双挟握和平行光光路系 统。/使用真空光路 ,可以减小空气散射的影响 ,从而获得高质量 的数据。 10 SAXS测试分散于 甲苯中的金粒子 (双 狭缝光学系统)原位测试原位 ( In-situ ) 测试技术 ,可以通过测试人员的控制,改变 温度或湿度,同时测量衍射数据的变化。Smartlab SE支持 各种原位测量附件 ,如常见的变温附件 ,湿度控制附件,使 用DSC附件还可以监测样品在热反应前后的变化 。多种原位 附件与HyPix400半导体阵列检测器的结合 ,使得快速的实时 测量成为可能 ,不仅可以鉴定结构的变化 ,还可以检测大尺 寸晶粒和晶面取向的变化。 相变属虫化过程,甲糖宁是一种治疗糖尿病的 药物J 监测其在变温过程中物象的变化。 随着温度的变化,甲糖宁的晶体结构发生改 变。使用二维半导体阵歹I]探测器HyPix-400, 可以监测其在眼热反应 (峰) 前后晶体结构 的变化。
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  • H6型β射线颗粒物监测仪(便携式)产品简介: H6型β射线颗粒物监测仪采用β射线,利用低能量14c作为β射线源,根据β射线穿过清洁滤纸和采集有颗粒物的滤纸时的变化量来计算在滤纸上采集到颗粒物的质量,继而求得空气中的颗粒物浓度。 仪器在结构上整体采用钢质材料,能够适应全天候复杂环境,具备电子兼容A级设计,以及IP55防尘、防溅水设计,功能完善、体积小巧、系统集成度高、坚固耐用,可在各种复杂环境下可靠工作。设备带有机箱内部温度控制系统,可工作在外部环境温度为(-20~50)℃,适用范围广。主要特点:&bull 仪器主机:仪器主机面板有触摸屏,实现人机交互功能;&bull 仪器体积小、重量轻、内置采样泵、方便移动、携带、可在户外运行;&bull 安全剂量的β射线作为辐射源。β放射源为14c,半衰期为 5730,性能稳定,符合核安全卫士标准;&bull 切割器:切割器是根据空气动力学原理设计的,用于分离不同直径的颗粒物(PM10和PM2.5),切割器切割效率的有效流量16.7L/min;&bull 可选配不同的切割头对PM10、PM2.5、TSP浓度进行实时测量;&bull 采用β射线吸收原理直接测量颗粒物的质量;&bull 气路流量采用质量流量计控制,恒流精度高;&bull 监测仪结构紧凑、具备自动校准功能、断纸和数据异常报警功能;&bull 使用动态加热系统(DHS),消除环境湿度带来的测试影响;&bull 能实现多种样品的采集并测试浓度,通过选择不同的切割器测量空气中TSP、PM10、PM2.5等浓度;&bull 可以实时传输测量过程中的温度、大气压、流量和测量浓度等数据功能;&bull 采样系统采用模块化设计,分为计算采样模块、流量控制模块、动态加热控制模块、数据传输模块,便于后期维护及更换;&bull 可自动连续监测,便于维护,运行成本低;&bull 数据查询可在设备上查询,也可通过U盘导出数据。主要资质:CPA计量器具型式批准证书CCEP环境保护产品认证证书技术参数项目技术指标测量范围(0~10000) μg/m³ 示值误差±15%检测限1ug/m3分辨率0.1ug/m3校准膜重现性≤2%标称值纸带玻璃纤维纸带β射线源C-14,半衰期5730年与参比方法线性回归符合斜率:1±0.15截距:(0±10)μg/m³ 相关系数:≥0.93采样流量16.7L/min,示值误差±2%校准方法标准膜校准USB接口支持U盘数据导出远程数据查询具备DTU模块,可远程查询仪器工作状态和传输实时测量数据数据存储能力30000组数据故障报警实时显示故障报警动态加热(DHS)(0-60)℃可设纸带走纸距离17mm计量前温度-20℃~50℃,示值误差±0.5℃采样流量偏差±2%(以恒流量16.7L/min为基础)大气压检测(30~130)kPa湿度控制(0~99)%RH可设(环境湿度检测,滤膜后湿度检测)工作环境环境温度:-20℃〜 50℃ 相对湿度:不大于80%大气压:86kPa〜 106kPa电源:电压AC220V±22V、频率50Hz±1Hz其他仪器工作时附近不应有剧烈震动的装置或设备,无强电、磁场干扰;防止酸、碱及其他腐蚀性气体或烟雾侵蚀仪器的光学及精密机械零件。仪器尺寸(不包含切割器)长×宽×高(mm):260×243×343;重量:8.5KG
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  • X射线残余应力分析仪,应力测定仪,应力测试仪X射线应力测定仪 主要技术参数:采用最先进的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快,线性好。★测量方法:侧倾固定ψ法,摆动法,残奥测定,织构测定。定峰方法:交相关法,半高宽法,抛物线法,重心法。仪器精度:采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射,铁粉(211)晶面,衍射角2θ测定误差在±0.015°以内;铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式:θ-θ扫描ψ测角仪★2θ扫描范围:120°~170°;2θ扫描***小步距:0.01°2θ扫描每步计数时间:0.1S~20Sψ角范围:0°~ 65°ψ角摆动角度:0°~±6°X射线管电压:15~30kV,连续可调X射线管电流:3~10mA,连续可调X射线管靶材:Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备,其余供选购。衍射几何:聚焦法准直管直径:提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。测角仪重量:10 kg***简装置总重量:45 kg供电要求:AC 220V±10%,1000W,50Hz
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  • 智能X射线衍射仪SmartLab系列,是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度,最高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)(理学专利)&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台(理学专利)&bull 6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学专利)&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件(理学独有)&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器,可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance(专利)&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有:1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析
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