仪器简介:光谱薄膜测试仪 Spectro-Refelctometer for Thin Film Measurement 应用领域: IC fab, MEMS, LED, solar cell, photonics, nano technologies. 设备特性: Angstrom Sun 光谱反射仪广泛用于各种透明、半透明薄膜测试. &bull 广泛用于检测各种薄膜的厚度, 包括oxide, nitride, photo resist, metal oxide, ITO. &bull 膜厚范围可自20nm 到5000nm. 可选各种光谱范围, 自UV 200nm到IR 1700nm. &bull 可具有高达12&rdquo 直径自动 mapping 功能,软件功能强大.技术参数:光谱薄膜测试仪 Spectro-Refelctometer for Thin Film Measurement 应用领域: IC fab, MEMS, LED, solar cell, photonics, nano technologies. 设备特性: Angstrom Sun 光谱反射仪广泛用于各种透明、半透明薄膜测试. &bull 广泛用于检测各种薄膜的厚度, 包括oxide, nitride, photo resist, metal oxide, ITO. &bull 膜厚范围可自20nm 到5000nm. 可选各种光谱范围, 自UV 200nm到IR 1700nm. &bull 可具有高达12&rdquo 直径自动 mapping 功能,软件功能强大.
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