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AATCC检验方法76-1995 织物抗静电测试在1954年受AATCC委员会RA32发展;修订1963,1968,1970,1972,1973,1982,1995;重申1969,1975,1978,1989;编辑地修订1974,1984,1985;编辑地修订和重申1987。1.目的和范围1.1 这检验方法的目的是确定织物的抗静电力。织物的抗静电力影响纤维的静电荷的积累。(纱线抗静电力测试见AATCC检验方法84)。2.原则2.1静放的样品,通过相关的抗静电力表在带有相关的湿度和温度的指定的大气层的条件测试抗静电力。3.术语3.1抗静电力,n.—其数字的价值等于电压与当前物质材料密度的比率。注意:对于这方法的目的,表面电阻系数是计算:根据平面或者同心环的表面,测定其电阻,电阻与表面积的比例,每平方表面积的欧姆值。实际上,这种检验方法测量两个电极之间的材料电流的电阻。4.安全预防注意:这些安全防范仅仅是为了提醒安全目的。预防只是测辅助试的过程,不是检验方法的材料。制造厂必须提供材料安全数据表和制造商的推荐的其它具体的细节作参考。所有OSHA标准和规则也必须被参考和遵循。4.1好的实验实践应该被遵循。在所有实验室区域内化验员必须戴着安全眼镜。4.2对于有放射性间,制造厂提供的安全建议。4.3放射性间释放alpha射线表面上对人体是无害。放射性的同位素钋210是有毒的和应该按规定措施防范防止摄取或者吸入固体材料。不要拆开或者触到栏栅下的放射性带或放射性物件。如果放射带触到或者被碰到,立即彻底地洗手。当设备的消除器或者配置失去其效能时,要中止的使用,把设备归还到制造厂。不要作为碎片放弃。
简介: 本仪器符合SATRA—TM240、EN-344、GB/T 4386、ANSIZ41标准,用于测试成品鞋或者鞋材的电阻,以了解试样对静电的分散效果。 档位:100V/50V/500V可选; 量程:1×103~2×1010欧姆 原理: 在干燥的环境中调节后测量导电鞋的电阻 在干燥的环境中调节后测量防静电鞋的电阻 装置: 测试仪器(XK-3062防静电测试仪) 当施加(100±2)V直流电压时,能测量电阻到±2.5%的精度 内电极:由总质量4kg、直径5mm的不锈钢珠组成。钢珠应符合GB/T308要求。应采取措施防止或除去钢珠和铜板的氧化,因为氧化可能影响它们的导电性。 外电极:由一块铜接触板组成,使用前用已乙醇清洗 测量导电涂层电阻的装置 由三个导电金属探针组成,探针半径为(3±0.2)mm,安装在一块底板上。两个探针相距(45±2)mm并由一根金属带连接。第三个探针与另两个探针连线的中点相距(180±5)mm且与它们绝缘 试样调节的制备 制备 如果鞋装有活动垫,测试时应保留。用乙醇清洗鞋底表面以除去所有脱模剂的痕迹,用蒸馏水冲洗并在(23±2)℃环境中干燥。鞋底表面不应摩擦或磨损,也不应使用对鞋底有伤害或使鞋底膨胀的有机材料清洗 湿调节的特殊制备 在鞋底上涂一层面积为200mm×50mm的导电涂层,涂层面包括后跟和鞋前掌。干燥后测量涂层的电阻值小于1×103欧 将鞋内装满干净钢珠并放在XK-3062防静电测试仪的金属探针上,使外底前掌区域由两个相距45mm的探针支撑,后跟区域由第三个探针支撑,用测试仪器测量前段探针和第三个探针之间的电阻值 调节 根据被测试鞋的功能,按下列条件之一对制备好的试样进行调节 干燥条件,(20±2)℃、相对湿度(30+5)%。(放置7d) 潮湿条件,(20±2)℃、相对湿度(85+5)%。(放置7d) 如要测试不能在调节的环境中进行,则应在试样移出环境后5min内完成测试 步骤 用总质量4kg的干净钢珠装满试样,如有必要,可用一块绝缘材料增加鞋帮高度。将装满钢珠的样品放在铜板上,在铜板和钢珠之间施加(100±2)V直流测试电压,时间1min并计算电阻值 鞋底的能量不应超过3W。如果考虑3W的限制而降低电压,则应在测试报告上记录实际电压值
广东欧程电子仪器有限公司(东莞)联系人:肖菲 135-6081-3766公司地址:东莞市塘厦镇宏业北路148号升联创展大厦5楼公司网址: http://www.ony5117.comESS-6008半导体器件静电放电模拟试验器,静电是沿着物体移动而產生,而物体包含正、负电的电配置,当其配置失序,而倾向为一个极性時,静电即產生,这个现象就称为”带电”,“带电”主要是因为接觸,磨擦及剥落而產生 同时,静电还有另一种现象称为”感应带电”。此外,尽管有些時候,当脱下毛线衣及在干燥状态下接触车辆门把时可能会有火花产生而也称为静电,正确地說,它应该称为”静电放電(ESD)”。 ESS-6008半导体器件静电放电模拟试验器国内又叫做日本NOISEKEN ESS-6002/ESS-6008 LED静电分析仪,即可以测试人体和机械两种模式的静电测试仪。而在当下LED行业发展迅猛,很多企业又将之称做LED静电分析仪。日本NOISEKEN的ESS-6002/ESS-6008半导体器件静电放电模拟发生器已经生产10多年,最高机械模式可以达到8KV,并已经得到各行业的广泛认可。相比国内的一些刚生产一年左右的产品来说,稳定性、精密性、认可度优势已十分明显。作为专业从事EMC设备研发与生产,和相关标准的制定者,NOISEKEN的ESS-6002/ESS-6008以它的卓越功能被广泛认可。 在我们日常生活中,仅仅只是穿鞋及走在地毯上,很容易就可产生30kV静电。“NoiseKen”ESD模拟试验器(ESS-S3011/ESS-B3011/ESS-L1611)可再现及模拟来自带电人体的ESD,用意是要测试电子设备在ESD影响下是否能正确地操作或发生故障?而且,模拟试验器符合由IEC国际电工委员会标准化的IEC61000-4-2标准。而用于测试电子组件如半导体的ESD模拟试验器,有ESS-6008(请参考目录上之合格标准)。发生故障的过程是,当ESD发生到一电子设备時,表面电流在体表流動,而电位上升,结果,GND的电位變動,而接着产生电/磁雜訊,噪声流到内部与电路耦合,因此,造成故障(请参下圖)。 由于这个现象可轻易地频繁產生,因此,对电子设备进行测试乃是必须的。特 点考查实际上给电子设备安装半导体元件时,半导体元件所受到的抗静电破坏能力的静电试验器。半导体元件因受静电可能发生内部配线,绝缘膜的熔断,破坏等而导致产品特性裂化,误动作的现象。对于此静电破坏试验,只需利用1 台弊司小型ESS-600X 更换探头就可简单实行人体带电型,机器带电型的试验。还有,可用选件中的精密型支架可对超细密间距元件做半自动的试验。最适合用于进行LED,LCD, 光元件等电子部品的静电破坏耐性试验。精密型支架 可做最高输出电压±8KV 试验(ESS-6008) 可做出留有余量的试验 可对各种间距的受测元件进行静电施加试验 可搭配精密测台,以半自动(Y 轴)的脚位移动而正确的对待 测物施加静电 可做最低试验电压±10V 的试验(ESS-6002) 对于低电压驱动元件的评价可从10V 开始以1V 的步长予施加 可对应规格对应标准人体模型试验 (HBM)机械模型试验 (MM)AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003AEC-Q100-003-REV-E Jul.2003ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999IEC 61340-3-1Ed.1.0 2002IEC 61340-3-2 Ed.1.0-2002IEC 60749-26 Ed.1.0 2003IEC 60749-27 Ed.1.0 2003JEDEC JESD22-A114E Jan 2007JEDEC JESD22-A115A Oct.1997JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001MIL-STD-883G Method 3015.7 Mar.1989规格半导体器件静电放电模拟试验器 (ESS-6002/ESS-6008)项目功能/性能ESS-6002ESS-6008输出电压10~2000V±10%(ESS-6002) 1V步进100~8000V±10%(ESS-6008) 10V步进输出极性正或负重复周期0.3~99s±10%到10s为止0.1s步进 10s以后1s步进放电次数1~99次/连续Automatic output voltage rampingAvailable尺寸(W)340×(H)×199×(D)300mm(不含突起部分)尺寸约6kg简易型探针台 项目功能/性能尺寸/重量(探针台主机)(W)200×(H)330×(D)290mm/约1.5kg尺寸/重量(简易放电板)(W)100×(H)27×(D)180mm(不含突起部)/约200g钳口尺寸110mm其他POM造V型部件1个 标准附件半自动精密型探针台 由于半自动精密型探针台的最小分辨率为0.01mm,所以可以简单地对毫米间距和英寸间距等极小间距的半导体进行试验项目功能/性能尺寸/重量(W)250×(H)400×(D)300mm/约7kg可对应IC最大尺寸:40mm角 最小导线间距:0.4mmX轴手动 移动量:20mm ×燕尾槽、进给螺杆Y轴电动(zui大速度:13mm/s)移动量:40mm(Y分辨率:0.01mm)*步进马达&滚珠螺杆θ轴手动 移动量:360°Z axis手动 移动量:20mm *内置弹簧下压式回原点手动