射线单晶衍射仪原理

D8 VENTURE/QUEST—面向未来的单晶X射线衍射仪D8 VENTURE/QUEST是布鲁克公司推出的新款，功能强大的X射线单晶衍射仪。 一体化的设计， 配备目前世界上先进的光源以及PHOTON III MMPAD探测器，帮助您测试最富有挑战性的晶体，获得好的数据质量。 其主要特点为：● 同时适合小分子晶体学和蛋白质晶体学的研究需要，应用范围广。● 新一代的lus 3.0微焦斑光源，性能娘美微焦斑转靶，零维护，寿命超长。● 液态金属靶MetalJET，室内X射线光源， 强度远● 远高千微焦斑转靶，让您拥有个人的“同步辐射＂ ，解决最难的晶体学问 题， 比如GPCR膜蛋白的结构。● 采用四代光源XFEL探测器技术的PHOTON III MMPAD混合光子计数探测器，● 超大面积，超快速度， 零噪音， 单光子检测的灵敏度。● 双靶配置， 软件自动切换光源。 满足不同类型的研究需要。 元件自动识别， 智能化光路管理。● 新一代的APEX3/PROTEUM3软件， 功能强大， 智能化程度高， 轻松操控仪器， 获得好数据。● lus Diamond微焦斑光源， 零维护， 性能超越微焦斑转靶。

D8 VENTURE/QUEST—面向未来的单晶X射线衍射仪D8 VENTURE/QUEST是布鲁克公司推出的新款，功能强大的X射线单晶衍射仪。 一体化的设计， 配备目前世界上先进的光源以及PHOTON III MMPAD探测器，帮助您测试最富有挑战性的晶体，获得好的数据质量。 其主要特点为：● 同时适合小分子晶体学和蛋白质晶体学的研究需要，应用范围广。● 新一代的lus 3.0微焦斑光源，性能娘美微焦斑转靶，零维护，寿命超长。● 液态金属靶MetalJET，室内X射线光源， 强度远● 远高千微焦斑转靶，让您拥有个人的“同步辐射＂ ，解决最难的晶体学问 题， 比如GPCR膜蛋白的结构。● 采用四代光源XFEL探测器技术的PHOTON III MMPAD混合光子计数探测器，● 超大面积，超快速度， 零噪音， 单光子检测的灵敏度。● 双靶配置， 软件自动切换光源。 满足不同类型的研究需要。 元件自动识别， 智能化光路管理。● 新一代的APEX3/PROTEUM3软件， 功能强大， 智能化程度高， 轻松操控仪器， 获得好数据。● lus Diamond微焦斑光源， 零维护， 性能超越微焦斑转靶。

Thermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX Pro立式X 射线衍射仪，高精度、高效率、高可靠性Thermo Scientific ARL EQUINOX Pro 是一款采用θ/θBragg-Brentano光学的立式X射线衍射仪。这款仪器基于“整体最优”设计原则，凭借先进的软、硬件配置，实现仪器系统运行的整体优化，提升仪器分析的准确性、精确性、易用性和安全性。这款仪器能够出色地完成各类粉末晶体的衍射分析，广泛地应用于材料研发和产品质量控制的相关领域。新型电控测角系统：最新的小型化和分散化电机控制系统，可克服由于驱动电机失步或超步引起的位置误差，提高测角仪的整体控制精度和重复性先进光子探测技术：前沿PTPC(脉冲触发实时位置)计数技术，通过同步脉冲触发探测器的电子门控电路，将测角仪实际到达位置与探测器响应进行同步，实现探测器计数与测角仪位置的精确对应，将角度位置与信号采集精确控制在行业先进级别魔卡免维护设计：光路魔卡设计系统和机械误差动态补偿技术，通过整个光路系统上的组件、光源高低、倾角、狭缝架高低、探测器的魔卡设计，支持用户在切换光路和样品台后无需再次校正，直接使用仪器X射线衍射原理帮助生产过程更高效，降低生产成本精准监控原材料品质，确保产品质量高标准严格遵循流程和法规，助力研发效率再提升

X射线单晶衍射仪 D8 结晶解决方案 — 单晶 X 射线衍射 (SC-XRD) 的质量和多功能标准结晶是确定小分子和大分子结构的zui明确方法，且单晶 X 射线衍射可以通过其他科学无法企及的方式，提供准确、精确的分子大小测量结果。Structural Biology D8 QUEST和D8 VENTURE 提供广泛的 X 射线源及光学器件，以及测角仪选项。D8 QUEST 是一种体型小巧、经济实惠的高性能单一 X 射线源配置，适用于化学结晶等典型用途，而D8 VENTURE 为化学和生物结晶的双波长组合提供平台。 D8 QUEST 是一个专为单波长试验而设计的紧凑型解决方案，配备有革新性的 PHOTON 100 CMOS 探测器。该系统可以在较小的空间里高度灵活的进行试验，可十分方便的拿取物品并具备较高的样品可视性。 根据 DAVINCI.DESIGN 原理，该系统使用zui好的组件进行高度模块化设计，并且具有完全气冷配置。因此，D8 QUEST 能够提供完全符合您的研究需求的解决方案。保证提供zui好的结构。系统参数：具备 CMOS 技术的全新 PHOTON 100 探测器100 平方厘米的大型有效面积高灵敏度气冷3 年保修密封 X 射线源Mo or Cu radiation经济划算的解决方案可选 3 倍强度的 TRIUMPH全新的高亮度 IμS 微聚焦 X 射线源Mo or Cu or Ag radiation强度zui多增加 60%气冷 (观看我们的 Air-Cooled 视频)3 年保修提供zui佳的软件APEX2 是适用于化学晶体的zui完整套件PROTEUM2 现在具有一个适用于结构生物学的数据处理线路完全集成的低温装置（可选） D8 VENTURE 的试验装置放置在更为宽敞的外壳内，还为旋转阳极提供空间以及双波长解决方案。所有系统均配备革新性 PHOTON 100 CMOS 探测器。 D8 VENTURE 提供zui高的试验灵活性，可十分方便地拿取物品并具备较高的样品可视性。获专利的门可采用滑门模式或双开式弹簧门模式打开。该系统使用zui好的组件进行高度模块化设计，并且具有完全气冷配置。 因此，D8 VENTURE 能够提供完全符合您的研究需求的解决方案。保证提供zui好的结构。系统参数：具备 CMOS 技术的全新 PHOTON 100 探测器 100 平方厘米的大型有效面积高灵敏度气冷提供三年保修密封X 射线源 Mo or Cu radiation经济型解决方案可选 3 倍强度的 TRIUMPH全新的高亮度 IμS 微聚焦 X 射线源Mo or Cu or Ag radiation强度增加高达 60%气冷 (观看气冷演示视频)提供三年保修微聚焦 TXS 旋转阳极紧凑型直接驱动，维护量低细丝经预先结晶和预先校准METALJET 适用于结构生物学的革新性液态金属 X 射线源适用于更小、更具挑战性样品的zui高 X 射线强度室内源使用镓放射自生式标靶，降低背底散射和放射损伤购置成本低，正常运行时间长测角仪FIXED-CHIKAPPABest goniometer precision选择一个带有小于 7 微米弥散球的测角仪，确保即使是zui小的样品，也能稳固地放置在 X 射线束的中心先进安全外壳 符合zui严格的辐射安全规范符合新机械指令提供zui佳的软件 APEX2 - 适用于化学晶体学的zui完整套件PROTEUM2 - 现在具有一个适用于结构生物学的数据处理线路完全集成的低温设备（可选）设备咨询电话：（微信同号）；QQ：；邮箱：欢迎您的来电咨询！

TD-5000型单晶X射线衍射仪产品介绍国内独家—填补国内空白仪器功能： TD-5000 X射线单晶衍射仪主要用于测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构。测定新化合物(晶态)分子的准确三维空间(包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度)及分子在晶格中的实际排列状况 可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。X射线单晶衍射仪是以丹东通达科技有限公司为牵头单位，承担的国家科技部-【国家重大科学仪器设备开发专项】立项的高新技术产品，填补国内没有单晶衍射仪研制和生产的空白。仪器特点：整机采用可编程序控制器PLC控制技术； 操作方便，一键式采集系统；模块化设计，配件即插即用，无需校准；触摸屏实时在线监测，显示仪器状态；高功率X射线发生器，性能稳定可靠；电子铅门联锁装置，双重防护。仪器精度：2θ角重复精度：0.0001°；最小步进角度：0.0001°； 温度控制范围：100K—300K控制精度：±0.3K测角仪：采用四圆同心技术来保证无论发生怎么样的转动均可使测角仪中心保持不变,实现获得最精准的数据的目的,得到更高的完整率，四圆同心是常规单晶扫描的必要条件。PILATUS混合像素探测器：采用PILATUS混合像素探测器能够实现最好的数据质量的同时保证低功耗和低冷却的特点,该探测器将单光子计数和混合像素这两项关键技术相结合，应用于同步辐射和常规实验室光源等各个领域，有效排除读出噪声和暗电流的干扰，混合像素技术可以直接探测X射线，更易分辨信号，并且PILATUS探测器可以高效提供优质数据。 PILATUS面探测器特点（可选配）： 敏感区域 [mm2]：83.8 × 70.0像素尺寸 [µ m2]：172 × 172像素间距： 0.03%最大帧速率[Hz]：20读出时间[ms]:7能量范围[keV]:3.5 - 18低温设备：通过低温设备采集的数据结果更加理想，在低温设备的作用下可提供更多的优势条件可以使不理想的晶体获得理想的结果，也可使理想的晶体获得更理想的结果。温度控制范围:100K~300K； 控制精度:±0.3K 液氮消耗量:1.1~2升/小时；完美的控制软件及测试结果：可选附件：多层膜聚焦透镜：X射线管功率：30W或50W；发散度：0.5~1 mrad；X射线管靶材：Mo / Cu 靶；焦斑：0.5~2 mm销售业绩：

产品介绍：单晶衍射仪Xtalab Pro系列可以适用于广泛的样品类型，从小分子结构到生物大分子结构。单晶X射线衍射仪主要应用了HPAD探测器。HPAD探测器技术产生了一个近乎完美的探测器，而且就一个单晶衍射来说，它扩大了信息收集速度、增强了收集有效信息的能力。。PILATUS 200K硅阵列（HPAD）探测器是XtaLAB PRO 里的标准探测器，它是基于同步光束在世界范围内被认可的的探测器。。探测器的这些显著特点确保了每一台单晶衍射仪都尽可能的搜集到最有效的数据。 特点：★无快门数据收集★极低噪音★卓越的点扩散函数★范围广泛的X射线源：微焦点密封管X射线光源，标准密封管X射线光源，标准转靶X射线光源， ★多种可供选择的配置

X射线单晶衍射仪X-ray Single Crystal Diffractometer System1．用途及特点：测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况；可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。精确测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构；可精确测定无机分子、有机分子、矿质材料以及大生物分子的结构，提供全面的结构数据，并可按不同要求提供各种结构图、动态图。 2. 系统总体构成：高性能混合像素光子直读探测器；kappa 四圆测角仪；X 射线金属陶瓷管（Mo 或 Cu）；X 射线发生器；单毛细管光学器件；晶体样品液氮低温系统；晶体样品监视系统；X 光管的循环冷却水装置；计算机控制系统；系统控制和数据收集及数据分析软件。 3. 主要技术参数： 3.1 X 射线发生器和光路系统：3.1.1 X 射线发生器最大输出功率: 3000W；3.1.2 最大管电压/通道：60 KV；3.1.3 最大管电流/通道：50 ma；3.1.4 电流电压稳定度： 8 小时内变化不超过± 0.1%；3.1.5 X 射线管保护：过电压、过电流、冷却水异常保护； 3.2 测角仪：3.2.1 类型: kappa 四圆测角仪，步进马达定位，四个角度均可自由转动，满足常规晶体结构分析和专业晶体学研究需要；3.2.2 角度分辨率：Omega 和 Theta 0.0001 度，Kappa 0.001 度，Phi 0.001 度；3.2.3 扫描速度范围 0.005 - 3.0 度/秒；3.2.4 theta 臂具有通用性，与公司所提供的其他探测器兼容； 3.3. 晶体对中监视系统：CCD 摄像头加放大镜头，安装在仪器内部用于样品对心与调整； 3.4 探测器：DECTRIS Pilatus混合像素光子计数探测器；3.5 高性能计算机实现仪器控制及数据采集；3.6 系统控制和数据处理软件：包括控制、维护、数据收集、数据还原和数据分析程序，以及处理孪晶和晶面吸收校正等功能。收集数据和还原数据同步进行；3.7 液氮低温系统：温度范围 120 - 400 K，控温精度：± 0.1 K。

X射线单晶衍射仪X-ray Single Crystal Diffractometer System1．用途及特点：测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况；可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。精确测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构；可精确测定无机分子、有机分子、矿质材料以及大生物分子的结构，提供全面的结构数据，并可按不同要求提供各种结构图、动态图。 2. 系统总体构成：高性能混合像素光子直读探测器；kappa 四圆测角仪；X 射线金属陶瓷管（Mo 或 Cu）；X 射线发生器；单毛细管光学器件；晶体样品液氮低温系统；晶体样品监视系统；X 光管的循环冷却水装置；计算机控制系统；系统控制和数据收集及数据分析软件。 3. 主要技术参数： 3.1 X 射线发生器和光路系统：3.1.1 X 射线发生器最大输出功率: 3000W；3.1.2 最大管电压/通道：60 KV；3.1.3 最大管电流/通道：50 ma；3.1.4 电流电压稳定度： 8 小时内变化不超过± 0.1%；3.1.5 X 射线管保护：过电压、过电流、冷却水异常保护； 3.2 测角仪：3.2.1 类型: kappa 四圆测角仪，步进马达定位，四个角度均可自由转动，满足常规晶体结构分析和专业晶体学研究需要；3.2.2 角度分辨率：Omega 和 Theta 0.0001 度，Kappa 0.001 度，Phi 0.001 度；3.2.3 扫描速度范围 0.005 - 3.0 度/秒；3.2.4 theta 臂具有通用性，与公司所提供的其他探测器兼容； 3.3. 晶体对中监视系统：CCD 摄像头加放大镜头，安装在仪器内部用于样品对心与调整； 3.4 探测器：DECTRIS Pilatus混合像素光子计数探测器；3.5 高性能计算机实现仪器控制及数据采集；3.6 系统控制和数据处理软件：包括控制、维护、数据收集、数据还原和数据分析程序，以及处理孪晶和晶面吸收校正等功能。收集数据和还原数据同步进行；3.7 液氮低温系统：温度范围 120 - 400 K，控温精度：± 0.1 K。

D8 VENTURE/QUEST—面向未来的单晶X射线衍射仪D8 VENTURE/QUEST是布鲁克公司推出的新款，功能强大的X射线单晶衍射仪。 一体化的设计， 配备目前世界上先进的光源以及PHOTON III MMPAD探测器，帮助您测试最富有挑战性的晶体，获得好的数据质量。 其主要特点为：● 同时适合小分子晶体学和蛋白质晶体学的研究需要，应用范围广。● 新一代的lus 3.0微焦斑光源，性能娘美微焦斑转靶，零维护，寿命超长。● 液态金属靶MetalJET，室内X射线光源， 强度远● 远高千微焦斑转靶，让您拥有个人的“同步辐射＂ ，解决最难的晶体学问 题， 比如GPCR膜蛋白的结构。● 采用四代光源XFEL探测器技术的PHOTON III MMPAD混合光子计数探测器，● 超大面积，超快速度， 零噪音， 单光子检测的灵敏度。● 双靶配置， 软件自动切换光源。 满足不同类型的研究需要。 元件自动识别， 智能化光路管理。● 新一代的APEX3/PROTEUM3软件， 功能强大， 智能化程度高， 轻松操控仪器， 获得好数据。● lus Diamond微焦斑光源， 零维护， 性能超越微焦斑转靶。

产品介绍： 1.产品概述： STADIVARI是STOE公司推出的一款具有划时代意义的新型单晶衍射仪，配备微聚焦点光源（可选双靶或液态金属靶）、三维聚焦镜、Pilatus探测器、OPEN Eulerian Cradles四圆测角仪，完美兼容高压DACs、高低温附件等，是目前市面上配置高、性能先进的单晶衍射仪；广泛应用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。 仪器主要用于测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况，可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。2.产品特点： 新一代Genix 3D微聚焦点光源； 三维全反射多层膜聚焦镜； OPEN Eulerian Cradles 四圆测角仪； 大样品空间，支持原位实验； 高性能 Pilatus 混合像素探测器，零噪音，单光子计数能力； 完美支持高压DACs、高低温样品台等附件。

产品概述 MarμX 是新一代即开即用的X射线衍射仪系统，配有技术成熟的高自动化、高分辨数据收集的像板探测器或CCD探测器、Pilatus探测器，具有节能稳定、耗材少，维护简单、维修量小等特点，可用于单晶、粉晶、材料等的结构分析。 产品特点高通量、微聚焦点光源；高性能探测器；耗材少、维护费用低、免维护；快速筛选蛋白晶体；配置参数光 源:三种光源可选，微聚焦点光源30 W (50 kV,0.6A)、转靶光源、Metaljet液态金属靶光源。聚焦镜:Montel多层膜聚焦镜、或单片椭圆形三维聚焦镜可选。探测器:成像板探测器mar345 或 mar345s。混合像素探测器PILATUS3 R 1M, 300K 或 200K混合像素探测器EIGER R 4M 或 1MCCD探测器 SX-165，HS-85等。测角仪:自动化准直优化系统mardtb “desktop beamline”，可选“easymount”或者 “marcsc”样品装卸机器手。低温冷却系统: Cryostream 800 或者Cobra。桌子防护罩：配备X射线联控装置。

这款台式X射线衍射仪是一种多用途多功能的实时测量的台式X射线衍射系统，特别为科研院校和企业应用而研发。这款实时台式X射线衍射仪与其它采用&ldquo 机械扫描测角仪器&rdquo 的X射线衍射仪不同，它采用独特的具有专利技术的曲线弧型探测器代替传统的机械扫描测角仪器，从而实现以超高分辨率超高速度实时完成2theta的测量。台式X射线衍射系统具有多种样品测量模式和多用户分析技术，使用最新的垂直安装的弧型X-eye高灵敏度探测器，以低于2毫秒的速度测量整个2 theta的全部衍射类型。该台式X射线衍射仪具有的实时测量功能使得它非常适合所有类型的动力学实验以及快速传统的X射线衍射研究。台式X射线衍射仪具有独特的110度角范围和180度曲率半径的弧度探测器，具有无以伦比的可靠性，非常适合大量测量任务的需要。台式X射线衍射系统产品特色* 不需要日常维护，超长保质期，超低使用成本，* 操作简餐，非常可靠，* 摆脱了机械扫描式的测角仪器；* 高灵敏度弧型X射线探测器* 超高速度：2毫秒可测量2 theta；* 实时测量实时分析结果；* 超高分辨率：0.10FWHM 台式X射线衍射系统操作情况：不需要任何使用经验的工程师也可快速使用，非常可靠，不需要日常维护，高速高分辨率高安全性测量。台式X射线衍射仪使用成本：使用高灵敏度弧型X射线探测器替代了昂贵的测角仪，整套系统的价格更低，使用成本更低。先进的技术：测量速度更快，它可以同时测量所有衍射峰，完成一次对多个样品全分辨率的测量仅需要几秒时间，不需要等待。超大样品室：由于替代了测角仪，这个台式X射线衍射仪以较小尺寸提供超大样品室，可以容纳更为广泛的样品操作附件，包括8位自动采样器，可以自动分析样品而不需要操作人员。样品尺寸要求：可以测量任何尺寸的样品，而其他产品一般完成分析测量的样品最大不超过2.0mm. 100微米的样品可直接分析而不需要额外的X射线源。X射线安全性：对样品的尺寸无要求，因此X射线安全性显著提高，传统的X射线衍射仪对样品尺寸存在要求，因此需要厚厚的安全防护装置和X射线窗口，但是整体的安全性依然得不到严格保证。单晶/粉末衍射功能：这套台式X射线衍射系统还可添加附件，实现对粉末,单晶的X射衍射测量。X射线荧光测量功能：提供标准的X射荧光测量软件模块，支持特殊的X射线荧光和X射线衍射测量。矿产和冶金特殊应用： 该台式X射线衍射系统特别为地质矿产和冶金等应用而设计。它卓越的性能和操作的方便性非常适合材料科学的研究。台式X射线衍射仪技术参数： 分辨率： 0.10度 FWHM探测器曲率半径：180mm2 theta：110度X射线源: 50W , 60KV/3KW电源功率：最大50W重量： 200Kg尺寸： 95x650x150cm台式X射线衍射系统可选附件：拉曼探针，X射线荧光附件，样品操作附件，X射线管Cu,W,Co, Mo, 单晶安装架，自动采样器等。

技术特点▼u 全自动的垂直三轴衍射仪，使用Omega扫描和Theta扫描方法以及摇摆曲线测定各种晶体的方向。配备可容纳长达450毫米和30公斤的样品及样品架；u 自动化测量，并通过定制软件进行访问。利用Omega扫描，可在晶体旋转(5秒)中确定完整的晶格方向。Theta扫描更加灵活，但每次扫描只产生一个方向分量；u 精确地确定倾斜角度，Theta扫描精度达到0.001°；u 模块化系统，并配备了多功能需求扩展。 行业应用▼具有多种几何形状和大小的样品 根据材料和产量的不同，晶体样品可以表现出多种尺寸和几何形状。Omega/Theta X射线衍射仪可以处理大块钢锭或钢球和实验合成的微小晶体。非线性光学材料(NLO)：晶体质量和定向 与典型的无机金属、半导体和绝缘体相比，NLO材料具有更复杂的晶体结构和更低的对称性。这些晶体通常被切割成尺寸在毫米范围内的小棒，而对这种小晶体的表面质量测定常常可以揭示晶体内部的结构缺陷和裂纹。通过对Omega/Theta的设计进行的一些特殊的修改，我们的定向仪能够确定许多NLO材料，如LBO, BBO和TeO2的的晶向。平面方向的标记和测量 Omega扫描能够在一次测量中确定完整的晶体方位。因此，平面方向可以直接识别。这是一个有用的功能，以标记在平面方向或检查方向的单位或缺口。 摇摆曲线：晶体表面评价 摇摆曲线测量对晶格内的缺陷和应变场很敏感。将这种技术与映射阶段相结合，可以扫描晶体表面并确定缺陷区域。通过装备一个具有映射阶段和双晶体的Omega/Theta衍射仪，可以直接测量晶体表面某一反射的摇摆曲线映射。如下图显示的结果，这种映射的碳化硅晶圆片的内部呈现出两到三倍于摇摆曲线的FWHM。这可能与表面划痕或生长缺陷有关。

X射线衍射方法是研究晶体结构的重要手段之一。高压X射线衍射实验中，样品尺寸通常较小，且衍射几何会受到高压样品腔（DAC）的限制，因此该实验方法对对X射线光源有较高要求，即要求X射线源同时具备微焦点、高通量、高能量三大要素。同步辐射光源是目前高压衍射实验使用的主要光源，但其机时通常较紧张。随着科学技术的发展，传统的X光机得到了长足发展，不论光源强度还是焦点尺寸都已经满足了高压实验的需要。实验室所用的高压X射线衍射仪在使用时间上不受限制，为科研人员开展高压衍射实验提供了巨大的便利。本公司针对高压 X 射线衍射技术，采用最先进的旋转中心定位方法，成功研制出针对高压实验的专用X射线衍射仪，其独特的设计可同时用于高压粉末和高压单晶两种实验，实现一机两用。技术指标：1、 可选微焦斑Mo靶（17kev）,Ag靶材（22 kev），同时可选针对高压实验的高能液态金属In光源（24 kev），X 射线光源具有聚焦后样品处光斑小，光通量大和波长短等特点。2、 大面积、单光子计数探测器提高衍射数据分辨率，获得更多的衍射峰数量，提高晶体结构的分辨率。配备CdTe单光子计数型探测器，大幅提高对短波长射线的探测效率并降低背景噪音，提高数据信噪比。3、 采用在同步辐射实验装置上所使用的先进旋转中心定位法，在此基础上进行优化。利用五维电动样品位移台，通过软件操作，实现样品扫描对中。具有样品到探测器距离固定不变、数据精确等优势，避免用户操作时辐照损伤。液态金属In靶E1型X射线光源参数高通量模式焦斑大小90 μm FWHM通量1.9 × 108 ph/s发散度3.15 mrad小焦斑模式焦斑大小15 μm FWHM通量1.8 ×107 ph/s发散度12.6 mrad特殊模式焦斑大小10 μmFWHM通量1.0 ×106 ph/s发散度2 mrad位移台参数XY轴重复定位精度±0.2 μm；行程±10 mm；Z轴重复定位精度≤±0.2 μm；行程±10 mm；Ф 轴重复定位精度≤0.002°；行程±135°；X1Y1重复定位精度±0.2 μm；行程±12.5 mm；应用领域：1、高压下的结构相变、状态方程、弹性、织构等研究2、涉及的材料包括高温超导体、纳米材料、超硬材料、矿物、大块金属玻璃、半导体、各种功能材料等3、应用领域包括物理、化学、地球/行星科学、材料等

弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备， 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等；同时致力于开发多种 结构的弯晶构型，包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试， 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律，即当入射X射线与晶体晶格相互作用时，会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状，能够精确控制X射线的衍射效应，从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1，衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一，使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试，对各种弯晶材料进行了全面的研究，总结出相应的的性能特点，可以为客户提供优化设计的支持。弯晶石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶，并对各种弯晶构型做了详细测试，综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用，XRF能够在激发端有效降低荧光背景，检出限相比传统能谱方案降低一个数量级，如硫的检出限可达到1ppm以下，符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦，部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时，检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级，测硫方案符合ASTM 7039标准；部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值，还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务，将设计、制作和调试打包成一体，为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器，即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持，保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。

特点Omega/Theta X射线衍射仪是一个全自动的垂直三轴衍射仪，使用Omega扫描和Theta扫描方法以及摇摆曲线测定各种晶体的方位。大而宽敞的设计可以容纳长达450毫米和30公斤的重量和样品架。所有的测量都是自动化的，可以通过用户友好的软件界面进行访问。利用Omega扫描，可以在晶体旋转(5秒)中确定完整的晶格方向。Theta扫描更加灵活，但每次扫描只产生一个方向分量。可以非常精确地确定倾斜角度，使用Theta扫描到0.001°。对于所有其他的晶体方向，精度取决于垂直于表面的角差。该系统是模块化的，并配备了许多不同的扩展用于特殊目的，如形状或平面的确定，绘图和不同的样品架。样品的倾斜度是通过光学测量来检测的，可以用来校正最终的方向。单晶衍射仪 Omega扫描图（SiC） 涡轮叶片，一个方向组件的映射图 (Si, Ge)晶圆，定向图 晶格参数映射图 全自动单晶完全晶格取向测量使用Omega扫描方法的超高速晶体定位测量自动摇摆曲线测量衍射仪的角分辨率：0.1弧秒。样本大小可达450毫米适合于生产质量控制和研究用户友好和成本效益样品处理方便，操作方便先进的,用户友好的软件低能耗，低运营成本模块化设计和灵活性各种升级选项定制用户的需求Omega/Theta X射线衍射仪的应用具有多种几何形状和大小的样品 单晶的工业合成从大而重的晶体开始，到小块如晶圆或坯。实验生长产生微小的圆柱体。根据材料和产量的不同，晶体样品可以表现出多种尺寸和几何形状。Omega/Theta X射线衍射仪可以处理大块钢锭或钢球和实验合成的微小晶体。非线性光学材料(NLO)：晶体质量和定向 与典型的无机金属、半导体和绝缘体相比，NLO材料具有更复杂的晶体结构和更低的对称性。这种结构创造了一个高度各向异性的环境，光通过晶体，并导致他们的特殊性质。这些晶体通常被切割成尺寸在毫米范围内的小棒，作为频率倍增器和光学参量振荡器的有源元件。对这种小晶体的表面质量测定常常可以揭示晶体内部的结构缺陷和裂纹。这些材料的大单位晶胞是Omega扫描方法的一个挑战。我们能够确定许多NLO材料，如LBO, BBO和TeO2的Omega扫描参数的最重要的方向。对Omega/Theta的设计进行了一些特殊的修改，以涵盖几种不同材料的NLO能力。平面方向的标记和测量 Omega扫描能够在一次测量中确定完整的晶体方位。因此，平面方向可以直接识别。这是一个有用的功能，以标记在平面方向或检查方向的单位或缺口。在晶圆片的注入和光刻过程中，平面或凹槽作为定位标记。经过加工后，晶圆片携带数百个芯片，需要通过切割将其分离。晶片必须正确地对准晶圆片上易于切割的晶格面。因此，检查平台或缺口的位置是必要的。为了确定平面或缺口的位置，必须测量平面内的部件。该仪器通过旋转转盘，可以将任何平面方向转换成用户指定的特定位置。这简化了将标记应用到特定平面方向的任务，例如必须定义平面方向时。对于高吞吐量应用程序，可提供自动测量解决方案。摇摆曲线:晶体表面评价 摇摆曲线测量对晶格内的缺陷和应变场很敏感。将这种技术与映射阶段相结合，可以扫描晶体表面并确定缺陷区域。在晶格匹配的薄膜中，摇摆曲线也可以用来研究层厚、超晶格周期、应变和成分剖面、晶格失配、三元结构和弛豫。晶圆片表面必须达到非常高的清洁和均匀性标准。制造商正努力使晶体的位错和缺陷尽可能少。特别是在碳化硅方面，消除错位为这种材料提供了新的应用领域。通过装备一个具有映射阶段和双晶体的Omega/Theta衍射仪，可以测量晶体表面某一反射的摇摆曲线映射。图像显示的结果，这种映射的碳化硅晶圆。晶圆片的内部呈现出两到三倍于摇摆曲线的FWHM。这可能与表面划痕或生长缺陷有关。

布鲁克 JV-QCVelox X射线衍射仪 XRD——用于 LED 和外延层晶圆分析的生产专用高分辨率 X 射线衍射系统 产 品 概 述Bruker’的 JV-QCVelox 是长期运行的 JV-QC 仪器中z新、z先进的 HRXRD。它是化合物半导体行业高分辨率 X 射线衍射的专用质量控制工具。 它适用于表征所有常见的半导体衬底，包括Si、GaAs、InP、GaN 等。测量可以部分或完全自动化运行，用户可自定义的脚本处理日常工作。 VeloMAX&trade 光学器件：通过 10 倍以上的强度改进实现高生产率 JV-QC-Velox 系统的入射光束包括许多标准功能以获得高强度。 晶体选择根据材料进行了优化：在不损失分辨率的情况下，提高了通量并提高了可重复性。在不降低分辨率的情况下，可以实现比以前更快的测量和更高的精度。 这是在 MQW 分析中保持准确的成分值的关键。多层反射镜作为所有 JV-QC-Velox 系统的标准配置对于高镶嵌样品，使用 25 英寸的调节晶体发散角来增强系统（标配）对于传统的 III-V 系统，可以提供更高分辨率的调节晶体 (10”) 来代替 25” 晶体（需要在采购订单上注明）系统的校准可以轻松安全地进行，机柜中没有开梁。检测器级包括许多标准功能，可以增强系统的能力EDRc（增强动态范围）检测器的动态范围 2x107自动衰减器，通过控制软件进行控制。这将系统动态范围增加到超过3x108三轴晶体是获得所需晶体的关键GaN测量的分辨率。电动探测器狭缝允许对系统进行控制分辨率，无需手动更换模块所有探测器级组件都是自动对齐的通过电脑 HRXRD 技术 材料：单晶衬底（例如 Si、GaAs、InP、GaN）和外延层，包括多层结构参数：层厚度、成分和松弛、应变、区域均匀性、失配、掺杂剂水平、错切、层倾斜。直接测量多层结构内层的松弛/应变/组成自动样品校准、测量、分析和报告由 JV-RADS 软件执行的分析。化合物半导体衬底可实现对称、非对称和斜对称反射 VeloSWAP: 高级样品板运动学样品板：可以快速更换样品板——每个板都可以在几秒钟内移除/更换。 由于运动加载，安装后无需对齐板。 可以提供多个板并互换使用。31 x 2” 运动学样品板，用于大批量测量，以增加板重新加载之间的时间并提高生产力和工具效率。外部条码阅读器可以安装到工具或独立站。JV-QCVelox 配备机器人，可从晶圆盒进行全自动测量2” 至 200 毫米磁带自动检测晶圆盒尺寸任意数量插槽的任意配方组合提高更大晶圆尺寸的生产力无需人工处理晶圆，提高晶圆清洁度 bruker 布鲁克 JV-QCVelox X射线衍射仪 XRD产品规格布鲁克 JV-DX X射线衍射仪 XRD ——X射线测量满足您的研发需求Jordan Valley 的 Delta-X 是用于材料研究、工艺开发和质量控制的新一代柔性 X 射线衍射仪器。 该系统具有全自动源和检测器光学元件以及水平样品安装，可以在完全计算机/配方控制下在标准和高分辨率 X 射线衍射和 X 射线反射率模式之间切换，而无需手动更改配置。 这可确保每次使用佳工具配置，而无需专家设置工具以供使用。&bull 样品的自动校准、测量和分析&bull 测量的自动化程度由用户定义&bull 使用 300 毫米欧拉支架实现高精度样品定位和扫描&bull 全300mm 晶圆水平贴装和映射&bull 由于 100° 倾斜 (Chi) 和无限方位角旋转 (Phi)，可以进行极点图和残余应力测量&bull 根据请求的测量进行智能自动工具对齐和重新配置&bull 行业领先的设备控制和分析软件&bull 使用高分辨率测角仪进行准确和精确的测量&bull 高强度光源和光学元件可实现快速测量&bull 可用的技术和参数范围广泛&bull 由拥有 30 多年经验和庞大的全球安装基础的高分辨率 X 射线衍射领域的专家打造 自动源和检测器阶段&bull 光源光学器件的开发考虑到了易用性和佳性能。 所有系统均标配平行光束多层反射镜，可提供适用于 XRR 和 XRD 测量的高强度光束。&bull 为了启用HRXRD，可以安装一系列晶体光学器件，以涵盖从8” (Ge 004) 到 40” (Ge 111) 的分辨率。 可根据要求提供定制晶体。&bull 它们会自动切换进出光束路径，以便能够在同一自动测量批次中覆盖适用于不同基板类型和不同技术的光束配置。 与其他系统不同，无需手动从系统中移除镜子或晶体，以确保它们不会损坏或错位。 高分辨衍射仪 & X 射线反射率高分辨率 XRD 是第一原理测量，可以确定外延层的厚度、成分、松弛、应变、掺杂剂水平和误切&bull 直接测量多层结构内层的松弛/应变/组成&bull 在需要时将三轴分析仪晶体自动插入和对齐到光束中&bull 自动样品校准、测量、分析和报告&bull 倒数空间图在几分钟内完成并使用PeakSplit 进行分析&bull 可以使用模拟双轴和三轴衍射扫描&bull JV-RADS分析软件X 射线反射率 (XRR) 是第一原理测量，可以确定薄膜的厚度、密度和粗糙度&bull 第一原理，无损测量&bull XRR 对材料质量不敏感，因此层可以是非晶、多晶或外延层&bull 金属、氮化物、氧化物、有机物、聚合物……&bull 自动样品校准、测量、分析和报告&bull 厚度范围从 1nm 到 1μm，取决于吸收 分析软件JV-DX 系统上使用的分析软件套件以 30 年的 X 射线表征和薄膜计量经验为基础。 基于在 Bede Scientific 的分析软件套件中，JV-DX 分析包包括行业领先的高分辨率 X 射线衍射 (HRXRD)、X 射线反射率 (XRR) 和 XRD 软件模拟软件。 bruker布鲁克 JV-DX X射线衍射仪 XRD规格售后服务保修期：

产品概述：MWL120实时反射劳厄相机系统用来测定单晶的取向（反射和透射）、单晶的完整性、测量晶体的对称性、观察晶体的一般缺陷、拍摄板材棒材的结构相、精确测定点阵常数、测定残余应力等。 原理：由X射线管产生的X射线从相机的入射光阑射入，照射在被分析样品上，在满足布拉格公式：nλ=2dSinθ条件下，产生X射线衍射图像，这些图像记录在感光片上，然后对这些图像进行计算分析，可以了解物质内部结构。 本产品所具有的特点1 有效检测范围大：30cm×30cm2 灵敏度高：单光3 角灵敏度高：0.054 探测速度快：几秒钟即可根据角的偏差自动收集分析并在电脑上形成劳厄图像5 维护成本低：半年更换一次气体，一年更换一次冷却剂即可（价格较低廉）6 样品可旋转：探测器转过程中同时转动样品，可以得到对称性高的图像

X射线单晶衍射仪X-ray Single Crystal Diffractometer System1．用途及特点：测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况；可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。精确测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构；可精确测定无机分子、有机分子、矿质材料以及大生物分子的结构，提供全面的结构数据，并可按不同要求提供各种结构图、动态图。 2. 系统总体构成：高性能混合像素光子直读探测器；kappa 四圆测角仪；X 射线金属陶瓷管（Mo 或 Cu）；X 射线发生器；单毛细管光学器件；晶体样品液氮低温系统；晶体样品监视系统；X 光管的循环冷却水装置；计算机控制系统；系统控制和数据收集及数据分析软件。 3. 主要技术参数： 3.1 X 射线发生器和光路系统：3.1.1 X 射线发生器最大输出功率: 3000W；3.1.2 最大管电压/通道：60 KV；3.1.3 最大管电流/通道：50 ma；3.1.4 电流电压稳定度： 8 小时内变化不超过± 0.1%；3.1.5 X 射线管保护：过电压、过电流、冷却水异常保护； 3.2 测角仪：3.2.1 类型: kappa 四圆测角仪，步进马达定位，四个角度均可自由转动，满足常规晶体结构分析和专业晶体学研究需要；3.2.2 角度分辨率：Omega 和 Theta 0.0001 度，Kappa 0.001 度，Phi 0.001 度；3.2.3 扫描速度范围 0.005 - 3.0 度/秒；3.2.4 theta 臂具有通用性，与公司所提供的其他探测器兼容； 3.3. 晶体对中监视系统：CCD 摄像头加放大镜头，安装在仪器内部用于样品对心与调整； 3.4 探测器：DECTRIS Pilatus混合像素光子计数探测器；3.5 高性能计算机实现仪器控制及数据采集；3.6 系统控制和数据处理软件：包括控制、维护、数据收集、数据还原和数据分析程序，以及处理孪晶和晶面吸收校正等功能。收集数据和还原数据同步进行；3.7 液氮低温系统：温度范围 120 - 400 K，控温精度：± 0.1 K。

X射线衍射基本原理：当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。土壤粘粒矿物是土壤中带电荷粒子之间进行相互作用的主体。研究表明，粘粒矿物的种类有十几种，主要类型有绿泥石、高岭石、伊利石、蒙脱石和伊/蒙混层矿物。粘粒矿物种类不同地区分布不同，其含量也在不同地区有很大差异，而各个储层在平面和纵向上相差很大。映SHINE便携式X射线衍射仪（土壤版）是浪声专为黏土矿物鉴定而研发的一款便携式X射线衍射设备，其可以基于不同的黏土矿物的晶体构造，快速鉴定出粘粒矿物具体种类以及其所占的百分含量，即便是细微粒状的矿物也能准确判定，具有制样简单、快捷、测量精度高等优点，是粘粒矿物鉴定的主要方法。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要约20毫克的样品即可获得优质的检测结果并可以减小或避免择优取向问题。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。二维X射线衍射仪仪器配备电荷耦合装置（CCD）探测器，可以采集衍射环的切片，以帮助用户了解是否正确制备了样品（粒子统计和/或晶粒的择优取向）。从而进一步帮助用户确认所获得的定性定量数据是否具有准确性和代表性。配置灵活根据用户具体应用的需要，为客户提供Cu/Co靶材两种不同的阳极靶材。应用场景 农业绿色发展 土壤污染治 理 环境指示研究 规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keVXRF检测范围Mg(镁)—U(铀)样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸500×400×188mm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

X-3/4/4A型高精度X射线单晶定向仪 此3种型号为双晶衍射型高精度定向仪，强度较低。主要用于测定高精度水晶晶片以及其他单晶材料。 型号 角度显示方式 测角精度 角度显示精度 X-3型 刻度显示 ± 15&Prime 最小读数15&Prime X-4型 数字显示 ± 15&Prime 最小读数10&Prime X-4A型 数字显示 ± 15&Prime 最小读数1&Prime 技术指标: 完全符合国家最新标准（JB/T5482-2004），并达到国外相似型号仪器水平。 输入电源：单相交流220V，50Hz,0.5kW X射线管：铜靶，风扇冷却 最大管电压电流：30Kv，mA 时间常数：0.4，0.8秒 测角范围：2&theta ＝10～120° ，&theta =-10～60° 角度读数：刻度环上标出最小读数为：2&theta ：1° ，&theta ：1° 数字显示以度、分、秒表示 角度调整：数字显示可予置在作任何角度上 主 光 匣：手动 显示板：角度显示，射线强度表。 附件：陶瓷真空样品架，长条样品架。弹簧样品架、大块样品架为任选件 单 色 器：内置 综合精度：± 15&Prime 外型尺寸：1140（长）× 650（宽）1100× （高）mm 重量：300kg具体信息请点击查看：

技术参数 1、使用新一代高分辨X射线探测器HyPix6000HE.HyPix6000HE是理学公司全新自主开发的一款通用型、高性能光子直读X射线探测器。HyPix6000HE具有极低的背景噪音、极宽的动态范围、能够完全无快门数据收集。.检出方式:直接读数 .有效面积: 77.5 mm × 80.0mm .像素大小: 100 μm × 100 μm.冷却方式: 空冷.读数动态范围: 最大31 Bit .读数时间: 无快门模式，0ms模式 2. 测角仪AFC-Kappa four-axis 3、光源包括：微焦斑、微焦斑转靶MM007HF，微焦斑转靶超高辉度FR-X 靶材包括：Cu，Mo，或Cu/Mo双光源 4、低温装置 5、软件CrysAlisPro控制收集数据软件AutoChem全自动结构解析软件 主要特点 .日本理学与牛津衍射（前安捷伦X射线事业部）的联合，将以为晶体学家提供卓越的仪器和获得高质量的数据为目标，全力引领行业的新时代。 .优秀的硬件、软件与专业技术的融合将为单晶衍射市场带来令人兴奋的未来，开拓无限可能的境界。

仪器简介：&bull XtaLABmini的出现，标志先进的台式X射线单晶衍射技术时代的到来；仪器技术先进，操作简单，为学生和研究者提供测试分析平台；不需要培训，通过自动测量软件及自动分析软件，可以得到精确的小分子结构数据。 技术参数：1. X射线发生器：Mo靶，高频技术，600W2. 光学系统：SHINE3. &chi ：固定在54º 4. &Phi ：-360º ，沿样品中心轴自由旋转5. &omega ：2&theta ± 90º (-60~120º )6. 2&theta ：固定30º 7. 70倍CCD摄像头观察样品8. 照相距离：50mm9. 探测器：CCD10. 探测面积：&Phi 75mm11. 像素尺寸：73.2&mu m/146.4&mu m12. 像素点数：1024x1024/512x51213. 读取时间：2.24sec/0.56sec14. 暗电流：0.1electorns/pixel/sec15. 选件，可以提供低温装置主要特点：&bull XtaLABmini是专门为晶体学家、课题组开发的仪器。实现小型化，充分发辉理学的技术优势，是世界上最小的单晶衍射装置。自动测试、自动分析。即使没有相关经验，也可以使用本仪器实现自动快速收集数据及分析工作。数据符合Acta投稿要求。使用新型CCD探测器，读取数据时间大幅度降低，通常2～3小时可以完成晶体的数据采集。有极高的性能价格比，保养简便，使用成本低。

EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器进口二维双能阵列光子计数衍射仪X射线探测器1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

劳厄晶体衍射仪产品概述：MWL120实时反射劳厄相机系统用来测定单晶的取向（反射和透射）、单晶的完整性、测量晶体的对称性、观察晶体的一般缺陷、拍摄板材棒材的结构相、精确测定点阵常数、测定残余应力等。 原理：由X射线管产生的X射线从相机的入射光阑射入，照射在被分析样品上，在满足布拉格公式：nλ=2dSinθ条件下，产生X射线衍射图像，这些图像记录在感光片上，然后对这些图像进行计算分析，可以了解物质内部结构。 本产品所具有的特点1 有效检测范围大：30cm×30cm2 灵敏度高：单光3 角灵敏度高：0.054 探测速度快：几秒钟即可根据角的偏差自动收集分析并在电脑上形成劳厄图像5 维护成本低：半年更换一次气体，一年更换一次冷却剂即可（价格较低廉）6 样品可旋转：探测器转过程中同时转动样品，可以得到对称性高的图像

简介QC3 高分辨率X射线衍射仪是Jordan Valley公司推出的半导体生产质量控制设备的最新机型，专注于化合物半导体产业中的生产监控需求。Jordan Valley公司质量控制型(QC)设备已经有三十余年的历史，并在全球被广泛应用于Si, GaAs, InP, GaN, 及其他常见的半导体衬底或外延层材料的测试和生产控制。QC3实现了高分辨率X射线衍射测试技术的部分或完全自动化，并可根据客户产品的具体需求，度身设计专用的自动化控制程序和质量控制参数。 QC3可依需要配置自动化机械手臂，实现半导体晶圆片的自动化装载，在生产线上执行测试流程的全自动化。QC3也可以提供一次性同时放置多个小尺寸晶圆片。样品盘上可以同时放置20片2英寸晶圆片，或者5片4英寸晶圆片。控制软件可以将自动化测试菜单程序添加给同一批次的不同晶圆片，并依次针对样品盘上所有的晶圆片执行测试菜单，有效减少人工操作及干预，提高测试效率。 产品特色及优势&bull 专注于半导体材料的高分辨率X射线衍射，未因兼顾其他X射线测试技术而降低高分辨率 的要求。&bull 与前期质量控制型设备相比，提高了X射线强度。在相同测试速度的情况下，可提高测试精度。在相同测试精度的条件下，将提高测试速度。&bull 降低了设备及附件的购置和维护成本。&bull 更低的运行成本。&bull XRGProtect&trade 可以有效延长X射线光管的使用寿命。&bull 环保的绿色工作模式，待机时有效降低能耗。&bull 可依据客户需求，选择性地配置自动化装卸晶圆片用机械手臂，具备多片批次式同时测试的功能，提高生产测试效率。&bull 操作简便，无需专业人才操作。&bull 完全自动化准直、测量晶圆片，数据分析自动化&bull 工业界领先的RADS衍射数据自动化拟合软件已经被客户广泛使用并获得肯定。&bull 测试和分析的数据结果可以进行自动化远程报告。&bull 可依客户需要的格式自动创建测试数据报告。

日本理学 XRD 智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 智能 X 射线衍射仪 SmartLab 系列，是当今世界性能的多功能的 X 射线衍射仪，它采用了理学独创的 CBO 交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 日本理学智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 技术参数• 1、X 射线发生器功率为 3KW、新型 9KW 转靶• 2、测角仪为水平测角仪• 3、测角仪最小步进为 1/10000 度，精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）• 4、测角仪配程序式可变狭缝• 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）• 6、CBO 交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带 Mirror）（理学专利）• 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)• 8、多用途薄膜测试组件• 9、微区测试组件、CBO-F 微区光学组件• 10、In-Plane 测试组件（理学独有）• 11、入射端 Ka1 光学组件• 12、高速探测器 D/teX-Ultra（能量分辨率 20%以下）• 13、二维面探 PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射 X 射线)• 14、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance（专利） • 日本理学智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 主要特点智能 X 射线衍射仪 SmartLab 系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld 定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane 装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

技术参数： 1. X射线发生器：Mo靶，高频技术，600W 2. 光学系统：SHINE 3. &chi ：固定在54º 4. &Phi ：-360º ，沿样品中心轴自由旋转 5. &omega ：2&theta ± 90º (-60~120º ) 6. 2&theta ：固定30º 7. 70倍CCD摄像头观察样品 8. 照相距离：50mm 9. 探测器：CCD 10. 探测面积：&Phi 75mm 11. 像素尺寸：73.2&mu m/146.4&mu m 12. 像素点数：1024x1024/512x512 13. 读取时间：2.24sec/0.56sec 14. 暗电流：0.1electorns/pixel/sec 15. 选件，可以提供低温装置 主要特点： XtaLABmini是专门为晶体学家、课题组开发的仪器。实现小型化，充分发辉理学的技术优势，是世界上较小的单晶衍射装置。自动测试、自动分析。即使没有相关经验，也可以使用本仪器实现自动快速收集数据及分析工作。数据符合Acta投稿要求。使用新型CCD探测器，读取数据时间大幅度降低，通常2～3小时可以完成晶体的数据采集。有极高的性能价格比，保养简便，使用成本低。

&bull 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）&bull 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件（理学独有）&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

仪器简介：Miniflex 600系列是世界上体积最小、 重量最轻的便携式X射线衍射仪。主要特点：台式X射线衍射仪MiniFlex600，外型小巧方便，具有近于高端分析仪器的测试性能，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域，是一种适用于大专院校学生实验及研究的X射线衍射仪,特别适合于野外作业进行材料结构解析；Miniflex600系列也是一种适用于工厂生产现场质量管理检查，劳动保护、环境污染测量的X射线衍射仪；Miniflex600系列是世界上体积最小、重量最轻的便携式X射线衍射仪。* 打破以往X射线分析仪器常规，以小型化和高效能的完美组合刷新了X射线行业的基准；* 外箱采用具有高度安全性的完全密封设计，使仪器移动、安装均能简单自如完成，可充分调整光学系统；* 安装后接入电源即可开始使用，操作简单，初学者也能轻松自如；* 具有超高性价比的MiniFlex 600，为您开创轻松自由的X射线新时代。 技术参数1. 最小最轻的X射线衍射仪。主机宽约560mm，高700mm，深395mm；重量约80kg。2. 功率600W，强度大大提高（上一代产品MiniFlexII最大功率450W）。3. 测角仪精度高、放置样品方便。4. 测角仪配程序式可变狭缝，改善低角度P/B，提高高角度强度。5. 安全设计，放置样品时自动关闭X射线。6. 软件丰富7. 附件可配：计数端单色器，扣除K&beta 、荧光X射线，提高P/B比旋转样品台隔绝空气。水蒸气样品台六样品自动交换器高速一维阵列探测器D/teX Ultra2主要的应用软件有：1. 多重记录2. 定性分析3. 定量分析4. ICDD数据库管理5. 环境粉尘专用定量软件