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射线荧光分析仪标准
仪器信息网射线荧光分析仪标准专题为您提供2024年最新射线荧光分析仪标准价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括射线荧光分析仪标准参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的射线荧光分析仪标准您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合射线荧光分析仪标准相关的耗材配件、试剂标物,还有射线荧光分析仪标准相关的最新资讯、资料,以及射线荧光分析仪标准相关的解决方案。
射线荧光分析仪标准相关的方案
如何用X荧光射线硫分析仪检测煤炭硫含量?
X荧光射线硫分析仪是一种利用X射线荧光光谱原理进行元素分析的设备。它通过激发样品产生X射线荧光,然后通过检测荧光的能量和波长,来确定样品中各种元素的含量。 在煤炭行业中,主要用于测定煤炭中的全硫和硫酸盐硫。全硫是指煤炭中所有的硫元素,包括有机硫和无机硫;硫酸盐硫则是指煤炭中以硫酸盐形式存在的硫。这两种硫的含量直接影响到煤炭的燃烧效果和环境影响。
使用便携式X射线荧光光谱分析仪检测矿体的金元素和金探途元素
奥林巴斯的X射线荧光(XRF)分析仪具有很高的分析性能,可以实时提供地球化学数据,从而有助于用户快速确定土壤、岩石和矿石的多元素特性。随着XRF技术发展,增加了可测元素的数量,改进了检出限,并降低了检测时间。Vanta XRF分析仪在金矿上和金矿实验室中,可以快速方便地测量与黄金勘探相关的很多种类的样本,而且还可以对精炼黄金产品进行快速准确的分析。
奥林巴斯手持式X射线荧光分析仪用于土壤重金属污染检测
奥林巴斯手持式X射线荧光分析仪,可以在土壤重金属污染检测,场地评估,有害废物筛查等方面发挥极大作用。仪器可以检测多种污染元素,如Ag, As, Ba, Cd, Cr, Cu, Hg, Ni, Pb, Se等,还可以检测稀土元素(REE)及放射性元素U,Pu,检测含量为PPM到百分含量级别。
使用岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)分析树脂原材料Br
岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)对树脂中Br等元素进行了全面分析,通过有机和无机结合的方式达到了对来料进行成分鉴定的目的。
使用岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)分析树脂原材料Zn
岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)对树脂中Zn等元素进行了全面分析,通过有机和无机结合的方式达到了对来料进行成分鉴定的目的。
如何选择燃料用X射线荧光测硫仪
本文通过解读燃料硫浓度的强制性国家标准,比较了尽可能多的各国燃料中硫测定的X射线荧光光谱法标准,主要是比较标准中的重要指标,如:重复性r、再现性R、合并定量限(PLOD)等,及不同标准所采用的各种不同的X射线荧光光谱法,结合具体应用和市场上大部分的X射线荧光测硫仪,给出了选择X射线荧光测硫仪的方法。特别是结合本公司的X射线荧光测硫仪,给出了选择本公司的各种不同的X射线荧光测硫仪的方法。
使用岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)分析树脂原材料Ca
岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)对树脂中Ca等元素进行了全面分析,通过有机和无机结合的方式达到了对来料进行成分鉴定的目的。
使用岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)分析树脂原材料
岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)对树脂成份进行了全面分析,通过有机和无机结合的方式达到了对来料进行成分鉴定的目的。
X射线荧光光谱法分析生铁中多元素
生铁试样用砂轮、砂带机研磨后,用X射线荧光光谱法分析样品中的多元素。用此方法分析生铁标准样品,分析结果与标准值在允许误差范围内,能够替代传统的化学分析方法,满足此类试样日常检测的需求。
使用赛默飞便携式X射线荧光光谱(XRF)分析仪勘探和开采稀土元素(REE)
赛默飞便携式XRF分析仪根据您的分析需求提供不同激发源的最佳配置分析仪。我们当前的产品线包含三款用于REE检测和定量的XRF分析仪:赛默飞 Niton XL3t GOLDD+(X射线管)、Niton?XL3 Ultra(X射线管)和Niton XLp 522K(同位素)分析仪。
X射线荧光光谱法分析石油焦中元素含量
依据《SH/T 0934-2016 石油焦中痕量金属元素的测定波长色散X射线荧光光谱法》规定的对生石油焦、煅烧石油焦中元素的分析要求;以及《YS/T 63.16-2019 铝用炭素材料检测方法第16部分 微量元素的测定X射线荧光光谱分析方法》规定的石油焦、煅后石油焦、预焙烧阳极中相关元素的分析要求,使用岛津多道同时型X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus建立工作条件,分析石油焦中Fe、Ca、Si、Na、Ni、V、S元素含量。实验结果表明,分析结果完全优于标准要求。该方法操作简单,分析速度快,无需化学前处理,对环境友好。
X射线荧光光谱玻璃熔片法分析玻璃纤维中的主次成分
参考《玻璃纤维及原料化学元素的测定 X射线荧光光谱法(征求意见稿)》国标方法,将玻璃纤维高温灼烧处理后熔融制成玻璃熔片,使用岛津多道同时型X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus建立工作条件分析玻璃纤维中的主次成分含量。实验结果表明,分析结果完全能够满足标准要求。该方法操作简单,能够很好地消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应,提高了玻璃纤维成分分析方法的准确度。
X射线荧光分析包在石化工业中的解决方案
石油工业里的很多ASTM、IP、ISO规范和其它标准方法采用了WDXRF。赛默飞世尔科技根据待测元素及其浓度范围、样品类型(固体和液体)和工作量要求提供了多种X射线仪器。从成本效益的ARL OPTIM' X光谱仪,适合简单而专用的分析任务(例如分析石油中的硫、汽油中的铅或者少量样品中的少量元素),到最为先进的ARL PERFORM’X系列光谱仪,可用于中心实验室,赛默飞世尔为石油工业的各个领域提供了适合的分析手段。由于灵敏度高、稳定性好,赛默飞世尔的X射线荧光光谱仪已经被应用于各种标准方法中,如ASTM D2622、 ASTM D4927、ISO 20884等。
便携式X射线分析仪在油品中的应用
X射线荧光光谱仪(XRF)作为一种强大的分析工具,能够对油品中污染物、磨损金属颗粒、添加剂化学组成进行分析。
使用岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)分析树脂原材料
为了保证产晶质量,使用安全优质的原材料是必要条件,原材料的重要性不言而喻。但对利润最大化的追求使得原料供应商往往按照性能要求下限来提供原材料,更有甚者在未告知的情况下替换材料,导致生产过程中出现各种品质问题。因此,对来料的性能监控十分关键。本文结合红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)对树脂成份进行了全面分析,通过有机和无机结合的方式达到了对来料进行成分鉴定的目的。
X射线荧光光谱法分析玻璃纤维及原料中的主次成分
依照国标《GB/T 43309-2023玻璃纤维及原料化学元素的测定 X射线荧光光谱法》方法,将玻璃纤维或原料高温灼烧处理后熔融制成玻璃熔片,使用岛津多道同时型X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus建立可测元素范围广、浓度范围宽的元素工作条件,不但能分析各类玻璃纤维主次成分含量,也能分析叶腊石、高岭土、石灰石、白云石、钠长石、钾长石、玄武岩、矿渣等矿物原料及配合料中的主次成分含量。实验结果表明,分析结果的准确度及重复性完全优于同类标准要求。该方法操作简单,能够很好地消除基体效应、粒度效应及矿物效应,提高了分析方法的准确度。
熔融制样-X射线荧光光谱法测定炉渣中主次组分
炉渣标准样品用玻璃熔片法制样,用X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立主次组分的校准曲线,实现对炉渣中主次组分的X射线荧光光谱分析。用此方法分析炉渣样品,分析结果与化学值在允许误差范围内,能满足此类样品分析的需要。
爆炸物的X射线荧光定性-定量分析
通过X射线荧光快速无损地对爆炸物进行最早期的定性-定量分析,可以帮助公安司法机关初步快速查明爆炸物的来源提高了效率。而具有高灵敏度、高分辨率且采用了新型硅漂移检测器(SDD) 的岛津EDX-7000能量色散型X射线荧光光谱仪,非常适用于对爆炸物的早期定性-定量分析,操作简单,方便快捷,无需复杂的化学前处理。
X射线荧光光谱分析法在铼金属检测中的应用
X射线荧光光谱分析法在铼金属检测中的应用
能量色散 X 射线荧光能谱仪 (EDXRF) 分析空气过滤器
美国国家环境保护局 (U.S. EPA) 承诺改善美国的空气质量,这使得愈加迫切需要监测住宅、工业和娱乐场所过滤器采集的大气颗粒物中的特定元素。X射线荧光光谱法由于其无损检测特性、超高的灵敏度而成为了分析与空气监测样品的方法。Thermo Scientific™ ARL™ QUANT’X 型能量色散X射线荧光能谱仪 (EDXRF) 是测定空气过滤器采集的多种元素浓度的理想选择。台式仪器能够分析元素周期表中从钠到镅的元素,并且需要制备的样品最少。ARL QUANT’X 型能谱仪配备了先进的硅漂移探测器 (SDD),具有出色的分辨率,可减少光谱干扰,同时具备出色的响应能力。确保达到较大的立体角,可有效收集X射线。高通量铑阳极管的设计保证了可从X射线管直接激发,或通过选择九种不同的滤波器定制激发,提高了对各种元素的灵敏度。
熔融制样-X射线荧光光谱法测定铝土矿中主次组分
样品用无水四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂熔融,以消除矿物效应和粒度效应,并铸成适当形状的玻璃片,用X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立主次组分的校准曲线,实现对铝土矿中主次组分的X射线荧光光谱分析。用此方法分析铝土矿样品,分析结果与标准值在允许误差范围内,能满足此类样品日常检测的需要。
X射线荧光光谱法测定工业硅中杂质元素
本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》,利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪,采用粉末压片制样方法,测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线,各杂质元素标准曲线线性良好,平行测定10次,各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。
X射线荧光法鉴别法庭科学土壤类样品的元素成分
土壤所具有的复杂而明显的地域性特征,使其成为法医学追踪证据的主要形式之一。X射线荧光光谱法无需前处理,可直接进行全元素分析,操作灵活方便,被公安刑侦行业列为标准方法。本文使用岛津波长色散型X射线荧光光谱仪XRF-1800对各种土壤样品进行了分析,该方法结果全面、操作简便且无破坏,非常适用于公安领域对泥土类样品的鉴别分析。
X射线荧光光谱玻璃熔片法分析日用陶瓷粉中的主次成分
参考《GB/T 4734-2022 日用陶瓷材料及制品化学分析方法》国标方法,将日用陶瓷粉高温灼烧处理后熔融制成玻璃熔片,使用岛津多道同时型X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus建立工作条件分析日用陶瓷粉中的主次成分含量。实验结果表明,分析结果全部优于标准要求。该方法操作简单,能够很好地消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应,提高了日用陶瓷粉成分分析方法的准确度。
X射线荧光光谱法测定黏土类样品主成分
参考标准《GB/T 21114-2019耐火材料 X射线荧光光谱化学分析 熔铸玻璃片法》,建立了黏土类样品分析方法。将试样与专用熔剂按1:10比例混合,高温熔融制备成荧光分析用玻璃片,在X射线荧光光谱仪上进行测量。对烧失量影响、共存元素影响等分析条件进行了优化,以确保分析结果的可靠性。用标样灼烧基熔融制样建立工作曲线,工作曲线线性良好,正确度符合常规分析要求。对方法的精度及准确度进行了考察,分析结果优于标准要求。
通用氧化物校准工作曲线ARL OPTIM’X型低功率波长色散X射线荧光光谱仪
波长色散X射线荧光仪(WD-XRF)可以 检测元素周期表中多达83种元素,测量 各种形态和性质的样品:例如固体或液体,导电材料或绝缘材料。相对于其他分析技术而言,X 射线荧光光谱分析法的优 点是分析速度快、制样简单、分析状态 稳定、精确度高,并且成份分析范围 广(从ppm级到100%含量)。
电气绝缘油中硫磷氯元素的X射线荧光筛选分析
家标准《电工流体 变压器和开关用的未使用过的矿物绝缘油》(GB2536-2011)对变压器油、超高压变压器油、低温开关油、断路器油等电气绝缘油中硫(S)、多氯联苯(PCB)、磷(P)等物质进行了一定的限制。而岛津EDX-7000/8100 能量色散型X射线荧光光谱仪能够方便快捷地对电气绝缘油中硫(S)、氯(Cl)、磷(P)等元素的进行初步筛选分析,无需化学前处理。
X射线荧光光谱仪测定浮法玻璃渗锡量
将熔窑中流出的玻璃液引流到锡槽中,理想的情况是玻璃经平面成型抛光,从而制得高质量低成本的浮法玻璃。然而在生产过程中锡离子也进入玻璃下表面即玻璃渗锡,成为浮法玻璃的固有缺陷。渗锡后玻璃的光散射及渗锡层和玻璃块体的折射率差异增大,且玻璃透光率也降低。经热处理后的玻璃表面2价锡被氧化成4价锡从而引起区域体积变化,形成玻璃缺陷。所以渗锡量是浮法玻璃渗锡过程的一个重要控制参数,通过波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)建立校准曲线可以测定不同规格类型的浮法工艺玻璃,X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃表面的锡层并得到对应的强度信息,进而算出较为通俗的厚度计量单位(ug/cm2),适用于玻璃表面的锡层厚度分析,从而达到快速控制生产的目的。
X射线荧光光谱熔片法分析硅微粉主成分
试样和特定溶剂按一定比例混匀,放入铂黄坩埚中,在高温熔融炉中熔融制成玻璃熔片,用X射线荧光光谱法(XRF)分析硅微粉中主成分SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、TiO2、MnO、K2O、Na2O等元素,实验结果表明,该方法能消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应的影响,提高了硅微粉分析方法的准确度。
X射线荧光分析洗漱水中的锌(Zn)含量
洗漱水作为一种口腔卫生用品,主要作用就是抑菌、固齿、清新口气。现使用岛津EDX-7000 能量色散型X射线荧光光谱仪直接对某种抗过敏的杀菌消炎洗漱水中Zn含量进行快速无损定量分析,可以有效达到生产工艺对Zn的控制要求,无需化学前处理,可以随时取样分析,操作简单而又快捷。
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