砂轮颗粒度测试标准

得利特（北京）科技有限公司专注油品分析仪器领域的开发研制销售，致力于为国内企业提供高性能的自动化油品分析仪器。公司推出系列精品润滑油分析检测仪器、燃料油分析检测仪器、润滑脂分析检测仪器等。油品颗粒度检测范围和方法油品颗粒度检测，其实就是对油品的磨损性能进行评价。油品颗粒度也是油品污染物的重要检测指标。检测油品的颗粒含量，不仅可以帮助提高使用油品机组的可靠性，还可以延长其使用寿命，减少生产事故的发生，提高生产效率。由此可见油品颗粒度检测的重要性。油品颗粒度检测范围：汽油、柴油、煤油、刹车油等。油品颗粒度检测方法：油品颗粒度分析的方法主要有光学法、电磁法、电容法和显微图像分析法。其中，光学检测法因其检测速度快、灵敏度高和颗粒形状分析能力强，被广泛应用于微小颗粒的计数检测。光阻法是光学检测方法中广泛检测和发展的一种颗粒计数测量方法。油品颗粒度检测标准DL/T 432-2018电力用油中颗粒度测定方法GB/T 30507-2014船舶和海上技术润滑油系统和液压油系统颗粒污染物取样和清洁度判定导则QC/T 29105.3-2013专用汽车液压系统液压油固体颗粒污染度测试方法取样QC/T 29105.4-1992专用汽车液压系统液压油固体污染度测试方法显微镜颗粒计数法JB/T 10560-2017滚动轴承防锈油、清洗剂清洁度及评定方法JB/T 9591.3-2015燃气轮机油系统清洁度测试用显微镜计数法测定油液中固体颗粒污染度SH/T 0573-1993在用润滑油磨损颗粒试验法(分析式铁谱法)QC/T 29104-2013专用汽车液压系统液压油固体颗粒污染度的限值JB/T 9737-2013流动式起重机液压油固体颗粒污染等级、测量和选用JB/T 12895-2016内燃机润滑油污染物颗粒分级和检测方法相关仪器A1030便携式油液污染度检测仪使用方便，用于液压油、润滑油及水乙二醇抗燃液清洁度的现场检测，检测清洁度直观易读，并能帮助维护工程师判断油品污染物的性质，判断污染物的来源，是现代工厂维护的常用检测设备。适应标准：DL432（显微镜对比法） NAS1638（美国航空航天工业联合会制定），ISO 4406（国际标准化组织制定）仪器特点1、可目测5～150μm颗粒污染情况2、颗粒成份一目了然，快速分析污染级3、操作方便，快捷实用技术参数• 显微镜：100倍• 检测颗粒：5μm～150μm• 检测等级：NAS等级00-12,ISO等级1-24• 滤膜：1.2μm、5μm• 精 准 度：±0.5个污染度等级• 小进样量：12.5ml• 环境温度 15℃～55℃• 尺寸：540mm*400mm*340• 重量：10.2kgA1031油液颗粒污染度检测仪是依据GB/T 18854-2002、ISO11171-1999、DL/T432-2007、GJB 420B、NAS1638、ISO4406等标准研制的用于油液中污染粒子的分布大小尺寸及等级检测的仪器。油液颗粒计数器采用光阻法（遮光法）原理研制，适用于液压油、润滑油、抗燃油、绝缘油和透平油等颗粒污染度的检测。可提供快速、准确、可靠、可重复的检测结果及完整的污染监测分析报告。广泛应用于航空、航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车制造等领域。仪器特点1.采用国际液压标准光阻（遮光）法计数原理。2.高精度激光传感器，测试范围宽，性能稳定，噪声低，分辨率高。3.采用精密注射泵取样方式，可自行设定取样体积，进样速度稳定，取样精度高。4.采用了正负压结合的进样系统，可实现样品脱气，适合不同粘稠度的检品测试。5.内置空气净化系统，保证测试不受污染。6.内置多重校准曲线，可兼容国内外常用标准进行校准。7.内置GJB-420B、NAS1638、ISO4406和ГOCT17216-71等8种常用标准，支持自定义标准测试，并可根据客户需求设置所需标准。8.可采用标准取样瓶或取样杯等多种取样容器，满足不同行业的检测要求。9.彩色触摸屏操作，内置打印机，结构简洁大方，操作简单方便。10.全功能自动操作，中文输入，具有数据存储、打印功能。11.内置数据分析系统，可根据标准自动判定样品等级。12.具有RS232接口，可连接电脑或实验室平台进行数据处理。13.可有偿提供颗粒度计量测试站“中国航空工业颗粒度计量测试站”校验报告。技术参数• 光源：半导体激光器• 粒径范围：0.8um~500um• 检测通道：8通道任意设置粒径尺寸• 分辨力：优于10%• 重复性：RSD2% • 粘度范围：大350mm2/s(cSt)• 取样体积：0.2~1000ml • 取样精度：优于±1%• 取样速度：5mL/min ~80mL/min• 气压舱真空：0.08MPa• 气压舱正压：0.8MPa • 极限重合误差：10000粒/mL• 工作电源：AC220V±10%，50Hz

纳米颗粒因尺度效应而具有传统大颗粒所不具备的独特性能，被广泛应用于生物医药、化工、日用品、润滑产品、新能源等领域。而纳米颗粒的粒度形状分布，直接关系到相应产品的性能质量及安全性，需要进行准确的测量表征。扫描电子显微镜（SEM）作为最直观、准确的显微测量仪器之一，在纳米颗粒测量表征中不可或缺。本标准等同采用ISO 19749：2021《Nanotechnologies — Measurements of particle size and shape distributions by scanning electron microscopy》，从很大程度上完善和补充国内现有标准的不足，给出较为完整的颗粒粒径测量的分析评价方法，对于采用不同扫描电子显微镜（SEM）得到的颗粒测量结果一致性评判，具有重要的参考价值。视具体需求以及仪器性能而定，本标准中涉及到的方法，也适用于更大尺寸的颗粒测量。一、背景纳米颗粒形态多种多样，很多情况下也会存在聚集、团聚的现象，这为SEM的观测与分析带来了较大的挑战。由于不同设备、不同人员的操作习惯以及采用不同分析策略所引起的粒度粒形测量结果的一致性问题也十分值得探讨。现行的相关国家标准大多关注采用SEM手段对特定被测对象的特征进行测量、表征、区分、定义等，具有较强的针对性，但缺乏系统性，特别是对设备性能的计量评定、样品处理及制样过程、图像处理的依据、测量结果的准确性与统计性等技术内容并未给出更为充分的、本质的、系统的说明。二、规范性引用文件本标准在制定过程中，在符合等同采用国际标准的要求的基础上，充分参照了现行相关国家标准中的相关术语及技术内容的表述，包括计量学、粒度分析、数理统计、微束分析、颗粒表征、纳米科技等各个专业领域；同时，在一些习惯性表达上，也充分征求了行业专家、资深从业者、用户的意见和建议，力求做到专业、通俗、易懂。三、制定过程本标准涉及的专业领域较为广泛，因此集合了国内相关领域的一批权威代表性机构和企业合作完成。牵头单位为中国计量科学研究院，主要参加单位包括国家纳米科学中心、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京理化分析测试中心）、山东省计量科学研究院、卡尔蔡司（上海）管理有限公司、北京海岸鸿蒙标准物质技术有限责任公司、中国检验检疫科学研究院、北京粉体技术协会等。对于标准中的重要技术内容，如SEM性能验证方法、典型样品（宽窄分布颗粒样品）制样方法、比对报告中涉及的颗粒测试及统计方法（算法）等均进行了方法学验证，验证了标准中相关技术操作的可行性。修正了ISO 19749：2021中的一些编辑性错误。四、适用范围本标准适用于各类纳米颗粒及其团聚、聚集体，甚至更大尺寸颗粒的粒度及形状分布测量。前提应将SEM作为一个测量系统进行评定，以确定所用SEM的性能范围，这包括设备自身的扫描分辨力、漂移、洁净度等特性。同时，也取决于观测者所需要的测量准确性。高的测量准确性需要高性能的SEM设备+高精度校准+洁净的样品前处理+匹配的测试参数+足够多的被测颗粒数量+合适的阈值算法，其中每一步都会影响最终的测试结果。因此，根据实际工作中对测试结果准确性、重复性和一致性的需求，可对上述环节进行不同程度的限定。五、主要内容本标准涉及的主要内容覆盖SEM测量颗粒粒度及形状分布的全流程，从一般原理到设备校准，样品制备到测试参数选用，图像采集到数据处理，均给出了较为详细的阐述，并在附录中给出了实用的案例。术语及定义：包括纳米技术的通用术语，图像分析、统计学和计量学专业核心术语、SEM核心术语等。一般原理：概括性地介绍了SEM成像原理及粒度、粒形测量原理。样品制备：较为系统地介绍了典型的粉末及悬浮液从取样、制样到分散的过程，并重点阐述了颗粒在硅基底和TEM栅网上的沉积方法。可根据需求，采用几种不同层次的硅片清洗与处理方法，一方面确保硅片的洁净，另一方面可使其表面带有正电或负电的捕获分子层，以确保颗粒在硅片上的有效分散。必要时采用TEM栅网，可提高颗粒与背底的对比度。考虑样本颗粒数量时，一般而言假设颗粒是对数正态分布的，本标准给出了一个颗粒数与误差和置信区间的计算公式可供参考。SEM设备的评价方法：给出了SEM成像能力的影响因素，包括空间分辨率、漂移、污染、水平垂直范围及线性度、噪声等，具体的验证方法在附件中有较为详细的描述，此外也可依照其他相关的技术规范或标准定期进行校准。图像采集：重点给出了不同粒度测量时放大倍率和像素分辨率的选择策略，取决于实际的测量需求。测量者需要充分考虑要求的误差和放大倍率来计算所需的像素分辨率，当颗粒分布较宽时可能有必要在不同放大倍率下进行拍摄，以兼顾颗粒的测量效率及测量精度。颗粒分析方法：手动分析可能准确率很高，能较好地界定测量区域以及筛选合格的颗粒（例如单分散颗粒体系中去除黏连颗粒），但采用软件自动处理往往更为高效。采用软件处理时，阈值的设定会对颗粒的筛选、粒度的大小产生较为关键的影响，必要的时候可以采用自动处理与手动处理相结合的方式。数据分析：给出了筛选数据可采用的统计学方法（方差分析、成对方差分析、双变量分析等方法）、模型拟合方法的参考，重点讲解了不确定度的来源与计算。结合60 nm颗粒测量结果，阐述了典型的不确定度来源。在上述基础上，给出了测量报告的信息及内容。本文作者： 黄鹭 副研究员； 中国计量科学研究院 前沿计量科学中心 Email:huangl@nim.ac.cn常怀秋 高级工程师； 国家纳米科学中心 技术发展部 Email：changhq@nanoctr.cn

标签：颗粒度瓶、普洛帝、世界标准[导读]英国普洛帝分析测试集团向全球客户升级颗粒度取样瓶产品技术，专利“5A+清洁灭菌”技术成为本次升级的重点，颗粒度瓶升级后可将粒径精准至0.1微米。2015年4月15日，英国普洛帝分析测试集团向全球客户升级颗粒度取样瓶产品技术，首次应用专利“5A+清洁灭菌”技术在油液颗粒度检测试验中，避免人为二次污染。普洛帝公司自1980年生产颗粒度瓶至今已有35年的历史了，经历了三代的更新，从NAS1638标准的等级控制，到清洁度等级RCL的控制，可适用于不同行业的要求。升级后的产品可接受各类客户的订制要求，按照NAS1638标准从00级别到4级别，ISO4406标准从0/0/0级别到8/8/8级别，GJB420B标准从00级别到2级别，清洁度等级RCL的控制可达到0.1微米不大于100个，是目前世界上最苛刻的指标要求。逐一检测批次抽检法是目前最为重苛刻的监督检测方法，生产中每一个产品需通过跟踪检测，再从成品中进行批次抽检，达到100%的合格率。目前为普洛帝大中国区服务中心特有监测手段。 普洛帝-全球著名的颗粒检测专家 !普洛帝(简称：PULUODY)是全球最大的油液颗粒监测技术提供者，1970年7月由PULUODY本人创立于英国诺福克，致力于向人们提供“精准、可信赖”的颗粒监测技术。普洛帝颗粒监测技术延续并持续创新了40余年，现已成为油液颗粒监测技术的领导者。PULUODY ANDLYSIS & TESTING GROUP LTD.拥有中国区颗粒检测技术的所有权，陕西普洛帝测控技术有限公司为其授权执行方。

在现代工业和科学研究中，颗粒的粒度是影响材料性能的关键因素之一。颗粒标准物质作为确保粒度测量准确性的关键工具，在多个行业中发挥着至关重要的作用。一、制药行业：粒度决定药效在制药行业中，颗粒的粒度对药物的溶解速率、释放特性和生物利用度起着决定性作用。例如，海岸鸿蒙提供的粒度标准物质可以帮助制药企业校准粒度分析仪器，确保药物颗粒大小的一致性，从而提高药物的疗效和安全性。此外，粒度的精确控制还有助于减少副作用，提高药物的稳定性和保质期。二、化工行业：粒度优化性能化工产品的性能很大程度上取决于其颗粒的粒度。例如，催化剂的粒度会影响化学反应的速率和选择性；涂料和塑料的粒度则影响其流动性、干燥时间和最终产品的机械性能。海岸鸿蒙的粒度标准物质用于校准粒度分析仪器，帮助科学家和工程师优化化学反应条件，提高产品性能和生产效率。三、材料科学：粒度塑造特性在材料科学领域，颗粒的粒度决定了材料的机械强度、热导率、电导率等关键性质。海岸鸿蒙的粒度标准物质使研究人员能够精确测量和控制颗粒大小，从而设计和开发具有特定性能的新材料。例如，在金属加工中，通过控制粉末的粒度，可以制造出具有优异机械性能的金属零件。四、环境科学：粒度影响空气质量环境科学中，大气颗粒物的粒度分布对空气质量和人类健康有着重要影响。细颗粒物（PM2.5）等微小颗粒可以深入肺部，对健康造成严重影响。海岸鸿蒙的粒度标准物质用于校准大气颗粒物监测设备，确保空气质量数据的准确性，为制定环境保护政策提供科学依据。五、食品工业：粒度提升食品品质在食品工业，颗粒的粒度影响食品的口感、颜色、保质期和营养成分的释放。例如，面粉的粒度影响面包的质地和口感；巧克力的粒度则关系到口感的细腻程度。海岸鸿蒙的粒度标准物质确保食品加工过程中粒度的一致性，提升食品的品质和消费者的食用体验。六、电子行业：粒度保障显示质量在电子行业，颗粒标准物质用于制造液晶显示器（LCD）的衬垫和光电子器件。精确控制微球的粒度对于保证显示图像的均匀性和精确性至关重要。此外，电子封装材料的粒度也会影响电子器件的散热性能和可靠性。七、纳米技术：粒度激发创新潜力纳米材料的粒度对其光学、磁学和催化性能有着决定性的影响。海岸鸿蒙的粒度标准物质在纳米材料的合成、表征和应用开发中发挥着关键作用。例如，在催化剂设计中，通过精确控制催化剂颗粒的粒度，可以提高其催化活性和选择性。在光学材料中，通过控制颗粒的粒度，可以制造出具有特定光学性质的材料，如光学涂层和光子晶体。海岸鸿蒙颗粒标准物质的研发已经达到国内领先、国际前沿水平，目前共有200余种颗粒标准物质，其中PM2.5、可见异物等百余种标准物质的研制成功填补了国内的空白，被国家市场监督管理总局批准为国家一级、二级标准物质。其颗粒产品包括颗粒标准物质和功能微粒两大类，共有3000多种产品，涵盖颗粒尺寸从30纳米到2000微米，涉及聚苯乙烯、二氧化硅、金属、胶体金和多元琼脂糖、等不同材质以及彩色微粒、荧光微粒、磁性微粒等不同功能的微粒产品。

自然界中很多物质属于颗粒，例如黏土、沙子和灰尘；人类的食物也往往是颗粒，例如谷粒、豆子、盐和蔗糖；很多加工物，例如煤炭、催化剂、水泥、化肥、颜料、药物和炸药也大多属于粉体或颗粒。颗粒学是一门多交叉学科，由多基础科学和大量相关的应用技术组成，涉及化学、物理、数学、生物、医学、材料等若干基础科学，与工艺、工程应用技术密切相关。颗粒（包括固体颗粒、液滴、气泡）与能源、 动力、环境、机械、医药、化工、轻工、冶金、材料、食品、集成电路、气象等行业密切相关，同时也会影响到人们的日常生活。据文献介绍，70% 以上的工业产品都涉及颗粒，近年来经常出现的沙尘暴、冬季大范围的浓雾等都与空气中的颗粒物有关。颗粒粒径和形貌是颗粒的最重要参数。上海理工大学颗粒与两相流测量研究所所长蔡小舒教授及课题组成员长期从事颗粒粒度测量方面的研究和教学工作，先后得到国家自然科学基金重点项目和面上项目、国家 863计划项目、国家 973计划项目、上海市“科技创新行动计划”纳米科技项目等多个项目的支持，开展光散射理论、基于光散射原理的多种颗粒测量方法、基于超声的多种颗粒测量方法、纳米颗粒测量方法、图像法、颗粒在线测量等方面的研究，在颗粒测量基础理论和测量方法及技术方面取得多项成果。《颗粒粒度测量技术及应用》（第一版）左图：蔡小舒教授；右图：《颗粒粒度测量技术及应用》（第一版）《颗粒粒度测量技术及应用》（第一版）是蔡小舒教授等从 20 世纪 80 年代到 2010 年二十多年在颗粒测量理论、方法、技术和应用研究的总结，反映了我国和国际上当时颗粒测量的技术水平。第一版系统介绍了颗粒的基础知识以及颗粒粒径分布的表征方法，全面系统地讨论了有关光散射颗粒粒径测量方面的基础知识，归纳总结基于散射光能测量和透射光能测量的多种颗粒测量方法、纳米颗粒粒度的测量方法以及蔡小舒教授等开展在线颗粒测量应用研究的具体例子。成为从事颗粒测量技术研究和仪器开发的研究人员和工程技术人员的最主要参考书，也是众多涉及颗粒制备与应用的科技人员的重要参考书。时任中国颗粒学会名誉理事长的郭慕孙院士对该书的出版表示肯定，并为该书作序，推荐给从事颗粒研究、加工、应用的科技人员。随着科技的发展，颗粒测量技术也在不断迎来新的挑战、迈向新的高度。颗粒测量方法、技术和仪器有了很大的发展进步，出现了不少新的技术和仪器，远心镜头、液体变焦镜头、各种新型激光光源和发光二极管（LED）光源等光电子技术和计算机技术等硬件技术的发展，以及金属氧化物半导体器件（CMOS）技术的发展推动了各种数字相机技术的飞速发展。颗粒粒度涉及的范围也越来越广泛：▪ 大气环境污染，雾霾使得 PM2.5 成为家喻户晓的名词，新冠病毒的传播更使气溶胶这样的专业词汇得到普及。▪ 纳米颗粒、生物颗粒、微泡、药物颗粒、能源颗粒等新的颗粒应用以及越来越广泛的在线测试需求促进了颗粒测试技术的快速发展。高浓度纳米颗粒粒度测量探针▪ 大数据分析、人工智能算法等手段被引入到测量数据的处理中。众多领域对颗粒测试的需求、软硬件技术的发展等诸多因素，催生出许多新的颗粒测量方法和技术手段。例如，图像测量方法不再局限于对微米级以上颗粒的成像测量，也应用于纳米颗粒的粒度测试；又如，将图像测量方法与光散射等其他方法融合，形成了多种包括气溶胶等在内的在线颗粒测量新方法。纳米颗粒粒度仪 很显然，颗粒测量技术的飞速发展使得 2010 年出版的《颗粒粒度测量技术及应用》一书已不能满足当前颗粒研究者的需要，内容亟需更新。经典再版 全面更新为此，在化学工业出版社的支持下和国家科学技术学术著作出版基金的再次资助下，第二版图书于2023年1月正式出版了。第二版图书在保持上一版结构框架的基础上，对图书内容进行了重新撰写，主要体现在以下几方面：▪ 对部分章节结构作了调整，如将原第 7 章“纳米颗粒的测量”中，有关动态光散射原理的纳米颗粒测量内容并入第 5 章“动态光散射法纳米颗粒测量技术”，有关超声纳米颗粒测量的内容并入第 6 章“超声法颗粒测量技术”，将第 7 章改写成“图像法颗粒粒度测量技术”。▪ 补充了作者团队自第一版出版后 12 年来在光散射理论及测量、超声理论及测量、图像法测量、纳米颗粒测量、多方法融合测量、在线测量等技术及应用的研究成果。▪ 补充修订了与颗粒测量相关的国际标准和国家标准目录等内容。▪ 本书不仅可作为从事颗粒相关研究和应用的科研与工程技术人员的主要参考书，也可供相关专业研究生学习和参考。本书作者深深感谢郭慕孙先生生前的支持和鼓励，谨以本书第二版出版纪念郭慕孙先生逝世10周年。《颗粒粒度测量技术及应用》（第二版）「聚焦颗粒测量技术」「注重技术发展与应用」蔡小舒 苏明旭 沈建琪 等著责任编辑：李晓红书号:978-7-122-42009-1定价：198.00元▲ 长按识别 即可优惠购买本书图书分为四部分。第一部分介绍了颗粒粒度的基本知识；第二部分系统介绍了光散射理论、超声散射理论和图像处理理论等，以及基于上述理论发展的各种颗粒测量技术，其粒度测量范围覆盖了在科学研究及各领域和行业应用涉及的从纳米到毫米粒度范围；第三部分介绍了颗粒粒度测量仪器和应用，并引入其它颗粒测量技术作为补充；第四部分为作者多年来收集的大量物质的折射率和其它物性参数，以及国际和国内有关颗粒测量的标准等资料。本书适合从事颗粒科学研究与应用的科研人员和工程技术人员参考，也可作为高等学校相关学科教师和研究生的教材或参考书。# 目录预览 #第1章　颗粒基本知识　/ 0011.1　概述　/ 0011.2　颗粒的几何特性　/ 0021.2.1　颗粒的形状　/ 0021.2.2　颗粒的比表面积　/ 0031.2.3　颗粒的密度　/ 0031.3　颗粒粒度及粒度分布　/ 0041.3.1　单个颗粒的粒度　/ 0041.3.2　颗粒群的粒径分布　/ 0061.3.3　颗粒群的平均粒度　/ 0111.4　标准颗粒和颗粒测量标准　/ 0131.4.1　标准颗粒　/ 0131.4.2　颗粒测量标准　/ 0171.5　颗粒测量中的样品分散与制备　/ 0171.5.1　颗粒分散方法　/ 0171.5.2　颗粒样品制备　/ 0191.5.3　常见测量问题讨论　/ 020参考文献　/ 022第2章　光散射理论基础　/ 0232.1　衍射散射基本理论　/ 0232.1.1　惠更斯-菲涅耳原理　/ 0232.1.2　巴比涅原理　/ 0252.1.3　衍射的分类　/ 0262.1.4　夫琅和费单缝衍射　/ 0262.1.5　夫琅和费圆孔衍射　/ 0282.2　光散射基本理论　/ 0302.2.1　光散射概述　/ 0302.2.2　光散射基本知识　/ 0322.2.3　经典Mie光散射理论　/ 0352.2.4　Mie散射的德拜级数展开　/ 0522.3　几何光学对散射的描述　/ 0562.3.1　概述　/ 0562.3.2　几何光学近似方法　/ 0572.4　非平面波的散射理论　/ 0642.4.1　广义Mie理论　/ 0642.4.2　波束因子的区域近似计算　/ 0692.4.3　高斯波束照射　/ 0702.4.4　角谱展开法　/ 071参考文献　/ 076第3章　散射光能颗粒测量技术　/ 0813.1　概述　/ 0813.2　基于衍射理论的激光粒度仪　/ 0843.2.1　衍射散射式激光粒度仪的基本原理　/ 0843.2.2　多元光电探测器各环的光能分布　/ 0863.2.3　衍射散射法的数据处理方法　/ 0893.3　基于Mie散射理论的激光粒度仪　/ 0933.3.1　基于Mie理论激光粒度仪的基本原理　/ 0933.3.2　粒径与光能变化关系的反常现象　/ 0963.4　影响激光粒度仪测量精度的几个因素　/ 0993.4.1　接收透镜焦距的合理选择　/ 0993.4.2　被测试样的浓度　/ 1003.4.3　被测试样轴向位置的影响　/ 1023.4.4　被测试样折射率的影响　/ 1043.4.5　光电探测器对中不良的影响　/ 1043.4.6　非球形颗粒的测量　/ 1063.4.7　仪器的检验　/ 1063.5　激光粒度仪测量下限的延伸　/ 1063.5.1　倒置傅里叶变换光学系统　/ 1083.5.2　双镜头技术　/ 1093.5.3　双光源技术　/ 1103.5.4　偏振光散射强度差（PIDS）技术　/ 1113.5.5　全方位多角度技术　/ 1123.5.6　激光粒度仪的测量上限　/ 1143.5.7　国产激光粒度仪的新发展　/ 1153.6　角散射颗粒测量技术　/ 1203.6.1　角散射式颗粒计数器的工作原理　/ 1213.6.2　角散射式颗粒计数器的散射光能与粒径曲线　/ 1223.6.3　角散射式颗粒计数器F-D曲线的讨论　/ 1243.6.4　角散射式颗粒计数器的测量区及其定义　/ 1283.6.5　角散射式颗粒计数器的计数效率　/ 1323.6.6　角散射式颗粒计数器的主要技术性能指标　/ 1323.7　彩虹测量技术　/ 1353.7.1　彩虹技术的原理　/ 1363.7.2　彩虹法液滴测量　/ 1373.8　干涉粒子成像技术　/ 1413.8.1　干涉粒子成像技术介绍　/ 1413.8.2　干涉粒子成像法颗粒测量　/ 1423.9　数字全息技术及其应用　/ 1443.9.1　数字全息技术介绍　/ 1443.9.2　数字全息技术的应用　/ 146参考文献　/ 151第4章　透射光能颗粒测量技术　/ 1584.1　消光法　/ 1584.1.1　概述　/ 1584.1.2　消光法测量原理　/ 1584.1.3　消光系数　/ 1604.1.4　消光法数据处理方法　/ 1634.1.5　消光法颗粒浓度测量　/ 1704.1.6　消光法粒径测量范围及影响测量精度的因素　/ 1704.1.7　消光法颗粒测量装置和仪器　/ 1724.2　光脉动法颗粒测量技术　/ 1744.2.1　光脉动法的基本原理　/ 1754.2.2　光脉动法测量颗粒粒径分布　/ 1784.2.3　光脉动法测量的影响因素　/ 1834.3　消光起伏频谱法　/ 1854.3.1　数学模型　/ 1854.3.2　测量方法和测量原理　/ 1884.3.3　消光起伏频谱法的发展现状　/ 197参考文献　/ 198第5章　动态光散射法纳米颗粒测量技术　/ 2025.1　概述　/ 2025.2　纳米颗粒动态光散射测量基本原理　/ 2045.2.1　动态光散射基本原理　/ 2045.2.2　动态光散射纳米颗粒粒度测量技术的基本概念和关系式　/ 2075.2.3　动态光散射纳米颗粒测量典型装置　/ 2115.2.4　数据处理方法　/ 2135.3　图像动态光散射测量　/ 2205.3.1　图像动态光散射测量方法（IDLS）　/ 2205.3.2　超快图像动态光散射测量方法（UIDLS）　/ 2225.3.3　偏振图像动态光散射法测量非球形纳米颗粒　/ 2245.4　纳米颗粒跟踪测量法（PTA）　/ 2295.5　高浓度纳米颗粒测量　/ 231参考文献　/ 234第6章　超声法颗粒测量技术　/ 2376.1　声和超声　/ 2376.1.1　声和超声的产生　/ 2376.1.2　超声波特征量　/ 2386.2　超声法颗粒测量基本概念　/ 2426.2.1　声衰减、声速及声阻抗测量　/ 2446.2.2　能量损失机理　/ 2486.3　超声法颗粒测量理论　/ 2506.3.1　ECAH 理论模型　/ 2516.3.2　ECAH理论模型的拓展和简化　/ 2626.3.3　耦合相模型　/ 2776.3.4　蒙特卡罗方法　/ 2836.4　超声法颗粒测量过程和应用　/ 2886.4.1　颗粒粒径及分布测量过程　/ 2886.4.2　在线测量　/ 2986.4.3　基于电声学理论的Zeta电势测量　/ 2996.5　超声法颗粒检测技术注意事项　/ 3006.6　总结　/ 301参考文献　/ 301第7章　图像法颗粒粒度测量技术　/ 3047.1　图像法概述　/ 3047.2　成像系统　/ 3057.2.1　光学镜头　/ 3057.2.2　图像传感器　/ 3087.2.3　照明光源　/ 3107.3　显微镜　/ 3117.4　动态颗粒图像测量　/ 3177.5　颗粒图像处理与分析　/ 3187.5.1　图像类型及转换　/ 3187.5.2　常用的几种图像处理方法　/ 3207.5.3　颗粒图像分析处理流程　/ 3237.5.4　颗粒粒径分析结果表示　/ 3237.6　图像法与光散射结合的颗粒测量技术　/ 3277.6.1　侧向散射成像法颗粒测量　/ 3277.6.2　后向散射成像法颗粒测量　/ 3307.6.3　多波段消光成像法颗粒测量　/ 3317.7　彩色颗粒图像的识别　/ 3347.7.1　彩色图像的色彩空间及变换　/ 3347.7.2　彩色颗粒图像的分割　/ 3367.8　总结　/ 338参考文献　/ 339第8章　反演算法　/ 3418.1　反演问题的积分方程离散化　/ 3418.2　约束算法　/ 3438.2.1　颗粒粒径求解的一般讨论　/ 3438.2.2　约束算法在光散射颗粒测量中的应用　/ 3458.2.3　约束算法在超声颗粒测量中的应用　/ 3548.3　非约束算法　/ 3628.3.1　非约束算法的一般讨论　/ 3628.3.2　Chahine算法及其改进　/ 3658.3.3　投影算法　/ 3678.3.4　松弛算法　/ 3688.3.5　Chahine算法和松弛算法计算实例　/ 371参考文献　/ 372第9章　电感应法（库尔特法）和沉降法颗粒测量技术　/ 3759.1　电感应法（库尔特法）　/ 3759.1.1　电感应法的基本原理　/ 3769.1.2　仪器的配置与使用　/ 3779.1.3　测量误差　/ 3809.1.4　小结　/ 3839.2　沉降法　/ 3849.2.1　颗粒在液体中沉降的Stokes公式　/ 3849.2.2　颗粒达到最终沉降速度所需的时间　/ 3869.2.3　临界直径及测量上限　/ 3879.2.4　布朗运动及测量下限　/ 3889.2.5　Stokes公式的其它影响因素　/ 3899.2.6　测量方法及仪器类型　/ 3919.2.7　沉降天平　/ 3949.2.8　光透沉降法　/ 396参考文献　/ 399第10章　工业应用及在线测量　/ 40110.1　喷雾液滴在线测量　/ 40110.1.1　激光前向散射法测量　/ 40210.1.2　消光起伏频谱法测量　/ 40410.1.3　图像法测量　/ 40510.1.4　彩虹法测量　/ 40610.1.5　其它散射法测量　/ 40810.2　乳浊液中液体颗粒大小的测量　/ 41010.3　汽轮机湿蒸汽在线测量　/ 41110.4　烟气轮机入口颗粒在线测量　/ 41410.5　烟雾在线测量探针　/ 41510.6　动态图像法测量快速流动颗粒　/ 41710.7　粉体颗粒粒度、浓度和速度在线测量　/ 41910.7.1　电厂气力输送煤粉粒径、浓度和速度在线测量　/ 41910.7.2　水泥在线测量　/ 42110.8　超细颗粒折射率测量　/ 42310.9　超声测量高浓度水煤浆　/ 42410.10　结晶过程颗粒超声在线测量　/ 42510.11　含气泡气液两相流超声测量　/ 42610.12　排放和环境颗粒测量　/ 42810.12.1　PM2.5测量　/ 42810.12.2　图像后向散射法无组织排放烟尘浓度遥测　/ 43010.12.3　图像侧向散射法餐饮油烟排放监测　/ 43210.13　图像动态光散射测量纳米颗粒　/ 43510.13.1　纳米颗粒合成制备过程原位在线测量　/ 43510.13.2　非球形纳米颗粒形貌拟球形度Ω测量　/ 43810.13.3　纳米气泡测量　/ 439参考文献　/ 440附录　/ 443附录1　国内外主要颗粒仪器生产厂商　/ 443附录2　颗粒表征国家标准和国际标准　/ 445附录3　国内外标准颗粒主要生产厂商　/ 453附录4　液体的黏度和折射率　/ 455附录5　固体化合物的折射率　/ 458附录6　分散剂类别　/ 473

AbrasiMet M 手动砂轮切割机在快速切割金属过程中展现出出色的耐用性 高效且强大的台式砂轮切割机Abrasimet M 适用于严苛的生产环境，切合需要对零件切割进行质量控制和检验的客户需求。紧凑型Abrasimet M是一台手动切割机，配备强大的5.5 hp（4KW）电机，可容纳10in [254mm] 至12in [305mm] 的切割片，其最 大化的切割室空间以及滑动罩的设计，可为客户提供快速、干净且简便的切割解决方案，适用于任何工作环境的样品制备。 节省时间，简化切割 实验室技术人员将能够减少切割时间，无需工具即可轻松更换切割片。此外，简化了清洁30gal大容量循环水箱的工作量，其配有固定式过滤筛的辅助过滤箱可收集切屑，无需持续处理大量冷却液，也无需使用消耗型过滤装置，并配备了坚固的金属框架和车轮。AbrasiMet M在繁忙的生产环境中节省了切割时间，帮助用户快速进入下一步制备流程。 标乐（Buehler）为AbrasiMet M切割机的使用和维护设计了以下功能：• 将电机置于切割室外部，因此大大增加了切割室空间；• 优化10in[254mm]和12in[305mm]切割片的转速设置，大大提高切割质量；• 明亮的LED灯带，提高样品的可见度；• 可通过调节切割臂的长度和角度获得舒适轻松的手动切割运动；• 双刀片切割，附带的配件包可实现同时在样品的两个位置进行切割，可减少一半的时间；• 利用外置开关可轻松选择直接冷却切割片或手持式直冲软管。 适用于严苛环境的耐用仪器 AbrasiMet M适用于各种严苛环境。标乐（Buehler）选用的铸件是耐用的耐腐蚀钢T形槽。此外，其滑动式安全罩设计经过强化，可重复打开/关闭，封闭式电机切割臂系统可防止切屑或冷却液进入其中，从而大大延长电机的使用寿命。标乐（Buehler）有一系列可选配的夹具、组件和垫块，可满足所有类型试样的夹持需求。AbrasiMet™ M 手动砂轮切割机产品规格操作方式手动电机功率5.5hp[4kW]总电源200-240VAC 或 380-460VAC,3 相，50/60Hz切割片移动方向Z 轴最 大试样长度25in[635mm]切割片尺寸10in[254mm] | 12in[304mm]切割片至台面距离6.8in[172mm] | 5.8in[147mm]切割能力4.3in[109mm]切割片转速3000rpm | 2600rpm照明2 根 LED 照明灯带双刀片切割宽度0.06in-1in [1.52mm-25.4mm]@ 0.06in 增量设备尺寸长度：31.1in [791mm]宽度：27.3in [694mm]高度：25.7in [653mm] (护罩闭合)高度：36.2in [919mm] (护罩开放)T 型槽工作台尺寸9.8in x 7.1in[250mm x 180mm](L)9.8in x 4.5in[250mm x 115mm](R)安全功能安全锁, 急停按钮遵循标准CE 指令创新点：（1）双刀片切割应用实现平行切割，显著降低切割时间，保证样品两面的平行（2）使用快速锁紧螺母可无工具快速更换切割片（3）双水箱设计使得清理更加简单，将内水箱拎出即可清理将切削残渣（4）滑动门设计使得开关门比前代切割机的液压设计更加省力美国标乐 Buehler | AbrasiMet M 手动砂轮切割机

12 月 28 日下午，小米汽车技术发布会在国家会议中心举行，五大自研核心技术重磅发布，首款车型小米SU7也在发布会上同步亮相。在小米汽车技术发布会上，雷军表示，小米首款车已经小批量量产。还要再过几个月再正式发布，还要进行大量测试，以保证万无一失。雷军在发布会上展示了小米SU7的几大特点，分别是：电驱、电池、大压铸、智能驾驶、智能座舱。在发布会上，雷军把汽车工业分成了三个时代，汽车工业的第一个时代出行载具，汽车的第二个时代可移动的计算终端，汽车工业的全新时代先进的移动智能空间。汽车工业的发展离不开科技的进步，更离不开材料领域的发展。汽车在制造过程需要使用大量的金属结构和塑料件结构件。这些结构件在汽车研发生产等过程都需要大量的失效分析验证其性能。汽车上的零部件一般都比较大，需要大型切割机对其进行精准定位切割。标乐最近新推出的一款新型切割机AbrasiMet L Pro特别适用于汽车行业失效分析。AbrasiMet L Pro自动砂轮切割机AbrasiMet L Pro是一款专为严苛环境下应用而设计的自动砂轮切割机， 大尺寸的切割室和轴移动范围加大了切割能力并方便固定样品。AbrasiMet L Pro 支持灵活的切割模式并且可以创建并保存切割程序，SmartCutT&trade 可变智能切割可在缩短切割时间的同时通过先进的方式提供一致性的结果。触摸屏、三轴操纵杆和多功能切割平台能帮助轻松设置切割参数，通过三轴移动，结合激光对准功能，可以快速设置并且精确地定位切割位置，满足不同的切割需求。这款设备支持自动清洗切割室，除了顶部喷淋外，切割室后方底部也有强力出水口，过滤再循环系统轻松过滤切割碎屑，可有效节省清洁时间，延长机器使用寿命提高工作效率。AbrasiMet L Pro具有4 种切割模式: 垂直切割、Y轴切割、平切和手动切割，可实现序列切割、切割启动检测、脉冲切割、可变智能切割功能。方法可存储，保证切割的一致性。用户可设置主轴电机的最大输出功率，介于 30% 和 99% 之间。SmartCut 是一种保护功能，一定程度上保护样品和刀片。该功能将降低进给速度，以满足最大电机限值的要求。未知情况可设大的电机功率，不会损坏机器，同时可以通过样品表面质量判断进给速度是否合适。设置高进给速度坚→机器将在整个切割过程中控制进给速度→保证切割质量的同时，以最快速度完成样品的切割。AbrasiMet L Pro采用4kW超大功率电机。与传统使用的悬臂结构，单边受力不同，AbrasiMet L Pro采用三角形结构，刚性和稳定性更好。刀片移动采用电缸---滚珠丝杆，滚动摩擦非常小，高位置精度。整个防水腔体结构，更安全具有极高的使用寿命。使用三菱电机+刹车+绝对值编码器配合控制。配置了专用刹车，杜绝切割时抖动及受力对丝杆的磨损。对轴电机和切割电机进行了广泛的寿命测试，以承受高产量环境通过 3百万次的寿命测试。AbrasiMet L Pro冷却液出口流速高，流量充足，目前市场上冷却效果极佳的设备。刀片和样品上的冷却液流速越高，传到样品上的热量就越少。其中6 个冷却液出口，2 个固定的刀罩内置冷却液出口和4个可调喷嘴用于对准刀片和样品。自动清洗切割室（3-30秒），顶部的喷淋系统及四个内部喷头可有效减少清洗时间，死角有效清洁，延长机器使用寿命。 AbrasiMet L Pro标配三轴操纵杆，X轴方向，刀片可移动，市场上切割机通常是平台移动且为选配。中间带有分隔槽的可移动T型槽切割平台，以获得较大的切割能力且防止设备损坏。X 和 Y 方向的 T 型槽方便用户灵活放置夹具。对于需要多刀切割的样品，用户可以通过序列切割功能进行编程，点击运行后无需其他操作设备即可自行完成序列切割任务。借助切割片精确的 X 轴运动，激光对准辅助确定切割位置，用户可以设置统一或自定义的切割宽度，无需重新夹紧试样便可执行所需的切割操作。2组LED照明（IDEC）高寿命，配备标准防眩光模式，大尺寸的前窗和侧窗，方便在切割过程中直接观察。 机器标配大功率大容量水箱，确保为机器持续供应冷却液，高效过滤循环系统中的杂物，可过滤大碎片并沉淀细小碎片。过滤水箱尺寸不大，可放在机器下方，占地面积小。水箱配备滚轮，可移动进行清洁。换水方便，两段式结构，过滤器可直接抬出。冷却液液位指示器--可视，了解何时需要更多冷却液。

标乐（Buehler）推出AbrasiMet 中型手动砂轮切割机在快速切割金属过程中展现出出色的耐用性 位于Illinois的标乐（Buehler）总部隆重推出高效且强大的台式砂轮切割机Abrasimet M。该仪器适用于严苛的生产环境，切合需要对零件切割进行质量控制和检验的客户需求。紧凑型Abrasimet M是一台手动切割机，配备强大的5.5 hp（4KW）电机，可容纳10in [254mm] 至12in [305mm] 的切割片，其宽敞的切割室空间以及滑动罩的设计，可为客户提供快速、干净且简便的切割解决方案，适用于任何工作环境的样品制备。 节省时间，简化切割 实验室技术人员将能够减少切割时间，无需工具即可轻松更换切割片。此外，简化了清洁30gal大容量循环水箱的工作量，其配有固定式过滤筛的辅助过滤箱可收集切屑，无需持续处理大量冷却液，也无需使用消耗型过滤装置，并配备了坚固的金属框架和车轮。AbrasiMet M在繁忙的生产环境中节省了切割时间，帮助用户快速进入下一步制备流程。 标乐（Buehler）为AbrasiMet M切割机的使用和维护设计了以下功能：• 将电机置于切割室外部，因此大大增加了切割室空间；• 优化10in[254mm]和12in[305mm]切割片的转速设置，大大提高切割质量；• 明亮的LED灯带，提高样品的可见度；• 可通过调节切割臂的长度和角度获得舒适轻松的手动切割运动；• 双刀片切割，附带的配件包可实现同时在样品的两个位置进行切割，可减少一半的时间；• 利用外置开关可轻松选择直接冷却切割片或手持式直冲软管。 适用于严苛环境的耐用仪器 AbrasiMet M适用于各种严苛环境。标乐（Buehler）选用的铸件是耐用的耐腐蚀钢T形槽。此外，其滑动式安全罩设计经过强化，可重复打开/关闭，封闭式电机切割臂系统可防止切屑或冷却液进入其中，从而大大延长电机的使用寿命。标乐（Buehler）有一系列可选配的夹具、组件和垫块，可满足所有类型试样的夹持需求。 标乐（Buehler）是材料制备、图像分析和硬度测试所用仪器、附件、耗材和相关技术的出色供应商。标乐（Buehler）产品涵盖众多行业，包括金属、汽车、航空航天、电子、医疗、能源等。关于标乐（Buehler） 标乐（Buehler）隶属于美国ITW集团（伊利诺伊工具公司），总部坐落在美国伊利诺伊州莱克布拉夫市。ITW是一家美国财富200强企业，在全球从事增值耗材、特种设备的工业产品制造并提供相关服务。 标乐公司于1936年建立，是最早为材料分析行业制造科学设备和材料的厂商。2011年标乐和威尔逊硬度计合并，提供了更全的材料制备和分析检测设备。标乐现已在9个国家成立办事处、在100多个国家设立销售网点并拥有超过45个标乐解决方案中心。

p　　“大而全”的企业以综合见长，走的是品牌路线；“小而精”的企业则以特长致胜，靠的是用户口碑。据了解，美国PSS粒度仪公司(Particle Sizing System)的前身是创建于1977年的NICOMP公司，拥有自动单颗粒光学传感专利技术，专注于提供高分辨率自动单颗粒技术系统。作为一家不足百人的颗粒测试仪器公司，PSS自创办至今始终致力于在颗粒测试领域“深耕细作”，擅长于为全球客户解决颗粒测试方面的“疑难杂症”。/pp　　近日，仪器信息网编辑有幸采访到了PSS全球市场总监Mark Bumiller，并就PSS发展历程、技术优势及其市场战略进行了交流探讨。/pp style="text-align: center "img title="裁剪后Mark.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201604/insimg/a3570667-cb5c-4882-880c-be78bfd62f85.jpg"//pp style="text-align: center "span style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "strong美国PSS粒度仪公司全球市场总监Mark Bumiller/strong/span/pp　　strong“千方百计”为全球客户解决颗粒测试难题/strong/pp　　说到PSS，就不得不提到它的创始人——动态光散射(DLS)理论研究的开创者之一，Dave F. Nicoli博士。/pp　　在上个世纪70年代，Nicoli博士基于DLS数学理论发明了Nicomp 380系列仪器，是世界上最早将DLS理论进行商业化的公司之一，其首创的专利Nicomp多峰分布解析粒度方法比传统的高斯分布解析方式更精确，更是解决了多组分复杂体系的粒度解析问题。其后，Nicoli博士研究发明了单颗粒光学传感(SPOS)技术，成功将光消减(也称之为“光阻法”)和光散射两种物理作用进行了结合，利用光消减可获得较大的动态粒径范围，通过光散射可增加对小粒子的灵敏度，因此，SPOS技术具有非常高的精确度和分辨率。“当时市面上只能检测一定浓度的样品，比如每毫升中颗粒数量不得超过10000个才能得到比较可靠的数据，于是Nicoli博士针对高浓度样品又发明了自动稀释系统。”在Mark Bumiller看来，“Nicoli博士是一位天才型的发明家”。/pp　　也正是基于这一系列的创新发明，Nicoli博士在1977年创建了NICOMP公司。1986年，PSS现任总裁Kerry Hasapidis加盟并负责商务运作。自此，NICOMP公司开始了飞速发展，并逐步完善了产品销售与售后服务。数年后，“为了方便客户了解公司的主营业务与产品优势，我们决定将NICOMP更改为PSS。”Mark Bumiller补充到。/pp　　而对于PSS与安捷伦之间的一段收购渊源，Mark Bumiller告知，当年安捷伦有计划进入颗粒测试领域，并一次性收购了PSS等三家公司。但后来安捷伦的战略计划发生改变，颗粒测试不再是优先拓展领域，因此PSS高层又将公司赎回。“因为我们更喜欢拥有自己的技术型公司，做真正为客户考虑的仪器产品，”Mark Bumiller强调到。/pp　　从客户角度出发研制新产品，这是PSS始终坚守的一个原则，也是PSS客户服务的一大特色。对于这一点，Mark Bumiller很是肯定，“我们乐于也擅于为客户解决颗粒测试难题，即使是Nicoli博士也非常愿意呆在实验室为客户做样品分析和仪器改动。”/pp　　strong凭“一技之长”在半导体和制药行业打开局面/strong/pp　　在谈到产品布局时，Mark Bumiller介绍说，“目前PSS拥有DLS、光阻法、集束光聚焦(后两者均属单颗粒光学传感技术，简称为SPOS)3种传感器以及4种自动稀释专利技术，我们将其自由组合，形成了Nicomp380、AccuSizer780两个系列的粒径测试仪器，检测范围从纳米到微米级，给半导体、制药等行业的用户提供从实验室到生产现场的整体解决方案。”/pp　　据了解，AccuSizer780系列不仅可以对颗粒进行常规的粒度测试，还可以对样品颗粒进行计数，并且对于其他光散射或光衍射方法检测不到的极少数大粒子也可以精准地检测出，给出高分辨率的结果，“我们的产品在这一方面是同类仪器中表现最好的，这是PSS最大的独特优势。”Mark Bumiller特别指出。/pp　　“当纳米颗粒体系中存在少数大粒子时，这往往是影响产品质量至关重要的因素，而常规的技术手段无法检测到这极少的部分粒子，检测不出就不会了解产品合格率大幅下降的根本原因，特别是在半导体行业，产品的良品率是衡量生产成本、决定企业生存的关键指标，而影响良品率的一个重要原因就是少数大粒子的存在。”Mark Bumiller谈到，“正是因为采用了SPOS、自动稀释、多达512个数据通道的分析手段等专利技术，我们的产品可以有效地区分开相邻峰，分辨出少数大粒子造成的杂峰，这让PSS在半导体、制药、墨水、涂料等行业占据了明显优势。”/pp　　为了继续保持这一独特的技术优势，PSS每年的研发支出占到了营业收入的大约20%，“借助于新型传感器和自动稀释技术，PSS解决了高浓度颗粒样品的计数难题。在过去的三年内，我们还成功开发出了两款新型传感器，将AccuSizer780的计数功能下限扩展到了150nm，接下来我们将尝试开发具有更低检测下限的新技术。另外，生产现场的在线检测技术也是我们非常关注的一方面。”/pp　　strong中国市场潜力诱人 未来开发策略将更接地气/strong/pp　　对于大多数中国用户而言，PSS可以说是一家比较“神秘”的颗粒测试仪器商，品牌亮相频率不高、市场宣传方式低调。Mark Bumiller也承认PSS进入中国市场比较晚，“2011年我们在中国上海成立了PSS中国卓越中心，希望借此贴近中国市场，为客户提供更好的技术支持。”/pp　　在谈到与其他颗粒测试品牌的竞争优势时，Mark Bumiller颇为自信地表示，“首先，AccuSizer780是我们的独有产品，在半导体、制药等应用领域已占据优势，几乎没有竞争对手；尽管Nicomp380在市场中存在一些竞争对手，但去年的销售表现已证明它的竞争实力。相比市场占有率，我们更看重用户口碑，因此PSS的销售策略就是用实验数据来说服客户。一般而言，客户在购买仪器时往往比较关注品牌、仪器配置，但我认为，客户更应该关注哪款仪器能够给出最真实的检测数据，这才是选择仪器最重要的依据。”/pp　　基于上述优势，再加上用户口碑以及市场战略的发力，2015年成为了PSS全球市场表现最好的一年。“去年我们的全球销售产值增长超过20%，尽管中国市场在销售产值上只贡献了15%，但增速却实现了翻番增长。” Mark Bumiller非常看好中国市场，“2016年PSS全球增长最快的市场肯定是在中国，我期望增速能够达到40%。”/pp　　“2015年PSS中国市场增长最大的驱动力来源于制药行业。”不过，Mark Bumiller相信，随着中国半导体行业的发展，技术水平的提升，中国半导体行业市场规模将会不断增大，而且对于高端技术的需求也会越来越多，未来对PSS的业绩贡献可能将与制药行业“分庭抗礼”。/pp　　中国市场可观的增长潜力，让Mark Bumiller意识到，“我们应该更多地听取中国客户的一些意见和建议。接下来，PSS将会加强中国市场的品牌宣传工作，考虑到中国客户更习惯搜索和阅读中文文献，我们已安排了专人进行外文应用案例的翻译共享。同时，我们将在中国加大人员投入，增加销售、应用和售后服务力量，也会经常派出总部专家到中国进行现场技术支持 另外，我们还将发展更多的下级经销商和代理商，借助其经销渠道来覆盖全中国。”/pp style="text-align: right "strong编辑：刘玉兰/strong/pp　　strong附：Mark Bumiller个人简介/strong/pp　　span style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "现任职务：美国PSS粒度仪公司全球市场总监/span/ppspan style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "　　其他职务： 美国USP 788 和ISO粒度标准的专家委员会成员 国际微粒研究学会理事会成员 美国化学工程师学会粒子技术论坛理事会成员。/span/ppspan style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "　　主要工作经历：/span/ppspan style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "　　2013年至今 美国PSS粒度仪公司全球市场总监 美国/span/ppspan style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "　　2010年-2013年 HORIBA科学事业部粒度仪欧洲区经理 法国/span/ppspan style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "　　2007年-2010年 HORIBA科学事业部粒度仪产品美国区副总裁 美国/span/ppspan style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "　　1990年-2007年 英国马尔文仪器公司销售和营销经理、市场部副总裁、商业发展部副总裁 英国/span/ppspan style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "　　1985年-1990年 哈希公司国际销售经理、大客户经理、产品经理 美国/span/p

颗粒分析的准确度对生产过程和最终产品的影响图像分析系统可以测量颗粒大小、形状和浓度，并且允许用户对特定的颗粒设置测量参数作者：PETER BOUZA 美国麦克仪器粒度市场发展部经理颗粒分析在医药行业中，无论是生产效率或生产过程，都起着关键性的作用。粒径可以影响辅料或活性药物成份（API）的溶解度，并也可能会影响到药物制剂。各种已有的颗粒分析技术完全能满足今天的药品市场所需的颗粒粒度测量要求。然而，在某些情况下，简单的控制颗粒大小并不能完全的控制最终产品。对监测和控制颗粒的形状尤为重要。近年来，在制药行业的研究和质量控制中，了解颗粒形状的信息促进了图像分析的发展。测量颗粒形状大多数粒度分析方法在分析颗粒时，都把颗粒假定为球形，输出的报告也为“相当于球形直径”的结果。这种假设在大多数情况下是不能接受的。例如，样品在流动生产过程中，单独监测颗粒大小是不准确的。有些粒子可能是球形，一些可能是矩形，球形颗粒比长方形颗粒流动性更好些—需要更少的能量。为确保矩形颗粒均匀流动，则需要更多的能量。颗粒形状影响流动性，颗粒与其他样品组成成分正确地混合能力将影响最终产品的结果。图1：两种相当于大约63微米球形直径的粒子。然而，两者在形状和作用上有明显的区别。 图1表示的是一个真实的样品例子。大多数用来测量颗粒粒度的方法都认为样品的颗粒形状类似于球形。该颗粒粒径是“相当于球形”大约63微米的直径，这是由接近于具有相同面积的球体颗粒计算得到的。虽然报告粒径结果认为得到了类似的统计直方图，但这些颗粒实际是不一样的。在生产环境中，形状的不规则性巨大地影响流动性，形状边缘也会影响与其他颗粒的粘接能力，暴露的表面也会影响所需的覆盖量。如果这些和其他与形状相关的因素在分析过程中是很重要的因素，那么使用单一的粒度分析仪在分析过程中就可能无法捕捉到必要的参数。图像分析系统的其他功能除了能够测量颗粒大小和形状，图像分析系统也可以测量浓度。这些系统可以分析被捕获的颗粒，同时，他们也可以对颗粒计数，提供一个颗粒浓度参数。此外，如果样品中含有大量各种形状的颗粒，大多数图像分析系统都可以在软件-计算形状参数的基础上定出一个分析样品的数量。在图2上的直方图中显示的是两个完全不相同的样品峰。图像分析系统可以让用户选择性的查看创建每个直方图 峰值的实际颗粒的分析结果。图2：大多数图像分析系统使用户能够根据具体形状参数有选择性地查看颗粒不同部分的统计直方图。 当然，大多数图像分析系统在分析颗粒图像时总是有益的。而且，除了可以统计颗粒分析结果外，图像分析系统还可以采集每一个被分析颗粒的图像。很多时候，用户可以得到样品粒度的“指纹”统计直方图，但无法确定某些分布颗粒的类型。用户可根据需要设置代表性颗粒、所有颗粒或者只有那些可能影响部分直方图的某些颗粒的统计范围。例如，用户可以设定一系列的圆来查看样品中的球形颗粒。用户可设定一个完美的圆1，选择圆幅度接近1，以查看所有球形颗粒。更多的实际例子，如使用多个形状参数的图像分析系统直接测量颗粒表面粗糙度或平滑度，使用户能够监测相关的颗粒形状。例如，设置一个程序，随着粒径的增大，颗粒变得更光滑。只有图像分析系统才能实现自动化的测量和相关系数与统计值的结合。下列案例研究显示了在实际药物辅料中使用动态图像分析仪在自动图像分析里的一些优点。正如这个研究表明的一样，用户利用形状参数，可以更好地控制和监测样品颗粒，从而得到更有效的结果和更有效的成本控制。图3：外形表面粗糙度的形状参数。备注：表面粗糙度影响形状因素，而不是大小或圆形度。案例研究：八个辅料表面粗糙度的对比在制药行业中，辅料的选择是基于所起的不同作用来选择的。除了作为API的非活性载体外，他们在生产中还起了重要的作用。有些辅料的选择是根据他们作为粘结剂、填料和控制API溶解速度的媒介来选择的。然而，在保护易损坏的涂料和润滑油中，确保他们的流动性也是很重要的。无论如何，都必须监控辅料的表面粗糙度。形状特征，特别是形状因素所界定的不规则度都决定了表面粗糙度。颗粒形状分析仪能监测和控制颗粒在包装和制剂的过程中是如何与API相互作用的，以及在通过消化道时的吸收情况。用在本案例研究的仪器-Particle Insight(Particulate Systems)-可以分析在水相或者有机溶剂中的悬浮颗粒。在这个案例研究中，Particle Insight的尺寸和形状参数的9/28被选择来分析八个辅料。在这一案例研究只有一个参数—形状因素被讨论。形状因素可根据颗粒的面积和投影的周长来计算。参数是一个介于0和1之间的数字，一个平滑的圆圈形状因素等于1。类似于圆形度的情况，一般颗粒形状因素受非圆程度的影响。然而，不规则的周长，也就是表面粗糙度，也影响形状因素。参阅图3可看出测试不同形状的颗粒的形状因素是不同的。如图所示，颗粒表面粗糙度也可改变颗粒的形状因素。分析结果本研究是建立在60秒至4分钟之间采集多达10,000个颗粒的分析结果基础之上的，并与被使用的每个样品的分散度有关。图4：8个辅料中的每个辅料所对应的形状因素图4显示了这八个被分析辅料中任何一个被恢复的形状因素（表面粗糙度的测量）。该表按递减的方式排列形状因素。请注意，形状因素越靠近1，表面越平滑。表5、6和7显示的是Particle Insight为一些辅料自动拍摄的照片。这些照片揭示：平均形状因素为0.843的硬脂酸钠比平均形状因素为0.655的乳糖水合物有更光滑的表面。作为一个实际样品，硬脂酸钠在生产、成型的过程中比乳糖水合物更容易流动。图5：硬脂酸钠图6：硬脂酸图6：乳糖水合物结论在选择辅料时，对颗粒形状的测量在生产过程中是非常重要的。像润滑油一样，具有低表面粗糙度的或者高形状因素的辅料可以促进粉末的流动和压片的形成。在生产过程中，表面粗糙的辅料填充剂会影响药物的粘结和溶解，并且影响API在消化道里释放的位置。动态图像分析仪的出现实现了前所未有的自动化信息的传递。在这种情况下，Particle Insight根据表面粗糙度来区分辅料的种类，并且在生产过程中，表面粗糙度也是颗粒的一个重要特征。参考1.Tinke,A.P.,Govoreanu,R.,Vanhoutte,K.“ParticleSizeandShapeCharacterizationofNanoandSubmicronLiquidDispersions,”AmericanPharmaceuticalReview,Sept/Oct2006作者简介：Peter Bouza 美国麦克仪器公司粒度市场发展部经理。他主要负责麦克公司的颗粒粒度、计数和形状分析仪器的开发。Peter Bouza于2007年加入麦克公司，并且在颗粒表征领域拥有了超过16年的经验。颗粒系统是麦克公司为创新性的OEM颗粒表征产品技术推出的一个新的品牌。Particle Insight全自动粒形分析仪Particle Insight，采用动态光散射技术，内置多达30种的颗粒分析模型，可提供颗粒粒度、粒形、平整度、圆度、长径比等参数，能够在最极短的时间内，获取颗粒粒度和粒形信息。粒径分析范围：1-800μm同时进行粒度和粒形分析内置多达30种的不同颗粒形状参数实时分析水系或有机系样品，并实时监测结果完全符合ASTM D4438-85(2007)、ISO 9276-6:2008、ISO 13322-2:2006等国际标准本篇文章若没得到麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司同意，禁止转载，违者必究！

时间：2018年12月12日 14:00 - 15:00内容简介：作为应用领域最广的粒度分析设备，激光衍射粒度仪有着其它粒度分析设备没有的更宽的测量范围，更高的重复性，更快的测量速度以及更简便的操作。但我们所测样品种类繁多，粒度分布极广，所以如何确保仪器上下限粒度的极限测量？如何确保快速准确区分单峰、多峰样品？如何简化并规范操作流程？这些都是我们关注的焦点。 本讲座将通过对样品的前处理探讨，以及测试过程中对激光粒度仪LS 13 320 XR软硬件设计的详细剖析，为您快速获知任何所测样品的准确粒度分布提供有力保障。主讲人简介：史艳轻产品应用技术专家 贝克曼库尔特生命科学市场部 在粉体制备、颗粒表征以及颗粒特性产品应用领域工作多年，有着丰富的样品颗粒分析和检测经验，现为贝克曼库尔特公司颗粒特性和计数产品专员，负责颗粒产品的技术和应用开发等相关工作。美国贝克曼库尔特公司于1997年由贝克曼公司和库尔特公司合并成立，现已成为世界著名的颗粒分析仪器公司。作为颗粒特性分析领域的先驱和领导者，贝克曼库尔特专注于为全球用户创造卓越的价值。众多应用领域如食品、制药、化工等和国际组织如美国ASTM，国家航空航天局 （NASA）等均将贝克曼库尔特的技术和产品定为标准方法或质量控制的专用仪器。秉承“为全球客户提供富于创新和值得信赖的科学解决方案”的使命，贝克曼库尔特不忘初心，不断创新，致力于为客户提供完整领先的颗粒表征及粒度分析解决方案。

各会员单位及有关单位：根据《陕西省质量认证认可协会团体标准制修订工作程序》要求，陕西省质量认证认可协会对《细粒土颗粒分析试验激光粒度仪法》、《水质 可溶性阳离子（锶、钡）的测定 离子色谱法》团体标准进行了立项审查，经协会技术专家认真研究与审核，上述申报的团体标准符合立项条件，现批准立项。请起草单位按照《中华人民共和国标准化法》的有关要求严格把控标准质量，切实提高标准制定的质量和水平，增加标准的实用性和实效性，按期完成标准编制的相关工作。同时欢迎与立项标准有关的高校、科研机构、相关企业、使用单位等加入该标准的起草编制工作。有意参与标准起草工作的请与协会秘书处联系。联系方式：联系人：刘耕典电话：029-87299220；18791486587邮箱：SXQCABZ@163.com地 址：陕西省西安市未央区未央路与凤城南路南100米荣民中央国际1606室 陕西省质量认证认可协会2023年03月10日陕西省质量认证认可协会关于《细粒土颗粒分析试验激光粒度仪法》等2项团体标准立项的通知.pdf

各会员单位及有关单位：根据《陕西省质量认证认可协会团体标准制修订工作程序》要求，陕西省质量认证认可协会对《细粒土颗粒分析试验激光粒度仪法》、《水质 可溶性阳离子（锶、钡）的测定 离子色谱法》团体标准进行了立项审查，经协会技术专家认真研究与审核，上述申报的团体标准符合立项条件，现批准立项。请起草单位按照《中华人民共和国标准化法》的有关要求严格把控标准质量，切实提高标准制定的质量和水平，增加标准的实用性和实效性，按期完成标准编制的相关工作。同时欢迎与立项标准有关的高校、科研机构、相关企业、使用单位等加入该标准的起草编制工作。有意参与标准起草工作的请与协会秘书处联系。联系方式：联系人：刘耕典电话：029-87299220；18791486587邮箱：SXQCABZ@163.com地 址：陕西省西安市未央区未央路与凤城南路南100米荣民中央国际1606室陕西省质量认证认可协会2023年03月10日陕西省质量认证认可协会关于《细粒土颗粒分析试验激光粒度仪法》等2项团体标准立项的通知.pdf

2016年8月16日至19日，颗粒度计量测试技术交流和培训考核会议山东烟台市隆重举行，本次会议由国防科技工业颗粒度一级计量站主办，烟台航宇流体净化科技有限公司承办。会议邀请了流体测试、颗粒度测试仪器校准与维护方面的多位专家进行技术交流，并现场答疑。诸多困扰仪器使用单位多年来存在的问题，如特殊流体测试、仪器操作维护、仪器校准方法及如何选择测试仪器等诸多技术难题，均在此会议中一一得到妥善解决。欧波同有限公司作为国内知名的实验室系统解决方案服务商应邀出席，为与会嘉宾、专家、学者们带来了最先进前沿的工业颗粒度分析解决方案。蔡司颗粒度分析仪配备了一系列能够满足日常工业所需的功能，是德国蔡司公司最新研制的一种技术领先的全自动颗粒计数及形态分析系统。采用高分辨率的光学成像检测技术取代了传统的应用激光颗粒传感器的方法，同时全自动完成油品清洁度（颗粒计数）和颗粒形态分析，并可以清晰地显示每个颗粒的形态特征和磨粒尺寸照片。还能够对马赛克图像进行完全分析并轻松满足用户的特殊测试要求，并能与蔡司显微镜完美结合，操作简便、用途广泛。欧波同多年致力于颗粒度分析控制应用方案输出，并积累了大量的实践经验。颗粒度分析解决方案的出现，吸引了在场来宾及专家学者的目光，将工业品控制过程上升到了新的高度，并代表了当今颗粒分析测试技术的最先进的水平，大幅提升了欧波同有限公司在颗粒度计量测试领域的信誉与知名度。

中国，上海 —— 2018年10月讯 ——贝克曼库尔特生命科学事业部推出新一代激光衍射粒度分析仪LS 13 320 XR，以满足制药和工业领域质量控制和研究应用的严苛要求。贝克曼库尔特公司已有数十年颗粒表征分析的历史。作为颗粒产品的重要一员，多波长PIDS专利技术（专利号：4953978；5104221）的激光衍射粒度分析仪LS系列一直是业内的翘楚。新一代LS 13 320 XR是一款全自动、高准确性、高分辨率、高重现性以及操作极简的干湿两用粒度分析仪。其采用专利设计的X型对数排布的检测器阵列，可准确记录散射光强信号，获得真实准确的粒度分布。而132枚检测器更能清晰地区分不同粒度等级间散射光强谱图的差异，无需预估样品峰型，无需选择分析模型，便可轻松准确分析多峰样品，粒径测量范围从10 纳米至3,500 微米。在亚微米范围，为了从根本上解决传统方法对亚微米颗粒光强谱图差异区分差的难点，LS 13 320 XR采用偏振光强度差散射（PIDS）专利技术来分析多波长和多偏振下的样品，不仅可以真正实现小至10纳米的颗粒测量，而且还可以直接检测亚微米范围内的多峰分布，获得亚微米范围内更高的分辨率和准确性。ADAPT操作软件，不仅界面更加直观，而且增加了触摸屏技术，非常易于使用，无需操作经验，简单三步轻松获得准确的数据。醒目的导航轮，仅需一步便可完成数据的显示和导出。而为了更迅速的了解样品质量情况，软件可自动对测量结果标注绿色或红色，实现自动合格/不合格管理，直接质控。新一代激光衍射粒度分析仪LS 13 320 XR满足对于粒度测试的需求，适用于各种应用环境，从食品饮料质量控制、工业制造到小分子和生物制药应用领域。贝克曼库尔特生命科学事业部颗粒特性高级市场经理Dave Dunham表示：“在各种严苛环境下，LS 13 320 XR都能为客户提供灵活且优异的性能，我们对其检测结果的准确性和再现性以及最终产品的一致性信心十足！”*本产品仅用于科研，不用于临床诊断。关于贝克曼库尔特生命科学事业部贝克曼库尔特生命科学事业部一直致力于改善全世界人类的健康。贝克曼库尔特公司为广大科研、商业实验室的生命科学研究工作者们提供先进的仪器系统、试剂和完善的技术服务与支持，不断促进生物学科研的新技术发展。贝克曼库尔特公司不仅在离心机和流式细胞仪的行业位于前列，而且长期以来一直是生命科学仪器和解决方案的创新者，其产品主要用于前沿的重要研究领域，包括基因组学、蛋白质组学等。欲了解更多信息，敬请访问贝克曼库尔特全球网站www.BeckmanCoulter.com和中文官方网站www.beckmancoulter.cn。© 2018 Beckman Coulter, Inc. 保留所有权利。贝克曼库尔特、个性化标识和贝克曼库尔特产品以及服务标记均系贝克曼库尔特公司在美国和其他国家的商标或注册商标。

AbrasiMet XL Pro™ 超大型切割机显著提升大型样品的处理效率和质量AbrasiMet XL Pro 可高质量切割直径7 英寸 [178 毫米] 以内的样品，在同类 18” 切割机中表现出色。这款切割机采用了该尺寸砂轮切割机强大的 10kW 电机，并配备有 14 英寸 [355 毫米] 至 18 英寸 [457 毫米] 刀片。通过使用 AbrasiMet XL Pro，汽车、航空航天、金属和其他制造业领域的质量控制实验室技术人员将显著缩短切割时间，并可在确保一致性和可重复性的同时提升其切割质量。耐用的设计、 直观的用户界面和优化的空间， 使其成为在严苛环境中切割（垂直切割、 Y 轴进给、 锯切）大型试样的理想选择。AbrasiMet XL Pro™ 能够满足严苛环境中大批量制样的质量控制需求 触摸屏用户界面直接显示可编程功能，方便用户创建和保存多个切割程序，以便快速访问。编程选项中包括切割片尺寸、切割类型、连续切割和冲洗切割室。切割不同样品时时，用户可为其样品快速加载特定程序，开始切割。 精确实现对准和连续切割。这款切割机配置有移动跟踪系统，精确的切割参数和绿色激光可轻松实现 X 轴对准。移动操纵杆简化了对切割臂与 T 型槽工作台运动的控制，以快速设置切割操作。切割片可实现精确的 X、Y 和 Z 向移动，一个切割程序即可实现多次切割。 轻松更换切割片。自紧固锁紧螺母使得更换切割片时无需使用工具，更换过程轻松快捷。更换切割片时只需用手拧松自紧固锁紧螺母，然后安装下一个切割片即可。无需再费时费力寻找合适的扳手，可大大降低受伤风险。 采用全新设计的易清洁循环冷却系统，简化清洁步骤。配有固定式过滤筛的辅助过滤箱可收集切屑，用户无需持续处理大量冷却液，也无需使用消耗型过滤装置。解决了用户清洁和清空体积庞大、沉重的冷却箱的烦恼 大型视窗和高亮 LED 照明确保用户可观察切割进程，并快速判定是否需要对切割过程进行调整。全球创新总监 Sarah Beranek 提到，“标乐（Buehler） 设计的此款重型大规格切割机，用户可轻松装载零部件、快速完成切割，且方便清洗。我们确保机器的强大特性可满足客户需求。所有这些特性造就出令客户满意的杰出设备。”AbrasiMet™ XL Pro 自动切割机产品规格操作方式自动、手动电机功率13.4Hp [10Kw]总电压380-480VAC, 3 相, 50/60Hz最 大电流25amp @ 460VAC切割片移动方向X、Y、Z切割片尺寸14in[356mm], 16in[406mm], 18in[457mm]T 型槽工作台尺寸9.71in[247mm], 8.71in[221mm], 7.71in[196mm]切割能力5in[127mm], 6in[152mm], 7in[178mm]切割片转速2100rpm, 1900rpm, 1860rpm切割类型垂直切割、Y 轴进给、锯切照明4 个 LED激光器绿色 2 类激光 (520nm)最 大试样长度最 大 49in[1245m]设备尺寸长度: 54in[1372mm]宽度: 50.7in[1288mm]高度: 75in[1905mm]过滤循环水箱容量45gal[170L]安全功能安全锁；急停按钮；门打开状态下，双手同步按压操作键移动切割片或工作台；Smart Cut™ 智能切割遵循标准CE 指令创新点：（1）单操纵杆可实现3轴移动，专为大尺寸样品设计；（2）使用快速锁紧螺母可无工具快速更换切割片； （3）触摸屏界面操作简单，所有参数均在主页面进行修改，实现序列切割。（4）双水箱设计使得清理更加简单，将内水箱拎出即可清理将切削残渣。Buehler AbrasiMet XL Pro™ 大型砂轮切割机

德国新帕泰克公司与江苏颗粒学会共同举办激光粒度测试技术交流会时间：2006年9月15日 星期五 上午9：00开始，一天。地点：南京大学（汉口路22号）知行楼会议厅（正大门进，即物理楼旁边）会议内容：1 激光粒度仪测试原理介绍。2 干法在线激光测试技术介绍3 纳米激光粒度测试原理及仪器的介绍。4 快速粒度形状分析5 高浓度粘度湿法在线粒度测试技术介绍6 新帕泰克公司一起介绍及演示，并进行免费的现场测试。

2013年北京彼奥德电子技术有限公司联合中国颗粒学会会员单位制定关于颗粒真密度测试标准提案，根据真密度测试方法--真空气态置换法，根据其方法制定相关的仪器测试标准，初步方案已经制定完成，已经提交相关部门进行审议，希望我们可以为该行业做出更多贡献！ 彼奥德电子2014年3月14日

第十二届全国颗粒测试学术会议，于2019年11月8日-10日在杭州赞成宾馆隆重举行，在首届中国颗粒学会颗粒测试奖中，丹东百特Bettersize2600激光粒度仪获得一等奖。 在本次会议上获得中国颗粒学会颗粒测试奖一等奖的Bettersize2600激光粒度仪，是百特研制的一种高性能的激光粒度仪。首先它采用了百特发明的正反傅里叶光学系统，散射光探测角度达0.0163～175度，量程达0.02～2600微米，并且具有很高的灵敏度和分辨力，能自动准确识别单峰、双峰和多峰样品，准确性和重复性偏差均小于0.5%。 第二，适应领域广泛。该系统配有水循环分散系统、溶剂循环分散系统(20~100ml)、溶剂微量样品池系统(5~10ml)、常规干法进样系统、微量干法进样系统（10mg~1g），配有这些进样系统的激光粒度仪，加上同时具有的3Q认证、电子签名和SOP（一键操作）等功能的激光粒度仪，不仅适应众多工业粉体材料的粒度测试与控制，还满足了制药、食品、新能源材料、贵金属材料以及科研和教学等领域的特殊要求，是一种“全能”型激光粒度仪。 在评审与颁奖过程中，众多颗粒测试领域专家和用户代表对Bettetsize2600的优良性能给予了高度评价。正如沈建琪教授在颁奖辞中说：“Bettersize2600是采用正反傅里叶光学技术的一种新型激光粒度仪，重复性、准确性和分辨力达到国外同类仪器水平，是一种适应范围广泛的激光粒度仪。” 全国颗粒测试学术会议由中国国颗粒学会颗粒测试专业委员会主办，每两年举行一次，是中国颗粒测试领域学术水平的最高盛会。本次会议有140多位颗粒测试专家和代表与会，清华大学骆广生教授、中国原子能研究院魏岩凇研究员做了特约报告,三十多位专家做了大会报告。丹东百特仪器有限公司研发总监范继来应邀做了《百特颗粒测试的最新技术》的报告，全面展示了百特近两年来的最新技术和仪器，受到与会专家代表的广泛好评。为期两天的会议圆满结束了。在闭幕式的致词中，颗粒测试专委会葛宝臻主任委员宣布，2021年第十三届全国颗粒测试学术会议将在天津举行。相信两年后，颗粒测试领域将会有更多的人才和成果涌现，中国颗粒测试技术将会迎来更加灿烂的明天。

根据行业需求，我司参与了“中国合格评定国家认可委员会（CNAS）”与北京粉体技术协会联合组织开展的“纳米颗粒的粒度分析”能力认证项目，我司在全国及国外各大实验室中脱颖而出，在颗粒的粒度分析检测项目中获得中国合格评定国家认可委员会（CNAS）的能力认证。 这次能力认证的成功，证明了我司在纳米颗粒粒度检测方面达到国际先进水平。

p/pp　strong　第十一届全国颗粒测试学术会议/strong/ppstrong　　2017全国粉体测试技术应用研讨会/strong/ppstrong　　最新动态：/strong/pp　　第十一届全国颗粒测试年会论文延期至10月25/pp　　注册费缴费优惠截止日期延长至2017年10月25日/pp　　会议将设立优秀论文奖 最佳墙报奖/pp　　其他详见会议通知/pp style="text-align: center "　strong　第十一届全国颗粒测试学术会议/strong/pp style="text-align: center "strong　　2017全国粉体测试技术应用研讨会/strong/pp style="text-align: center "strong　　(第三轮通知)/strong/pp　　为促进我国颗粒行业发展，提高颗粒行业中科技人员的技术水平与研发能力，加强交流学习，研讨“十三五”期间的新动态、新思路，中国颗粒学会颗粒测试专业委员会拟定于2017年11月15日-17日在广州召开“第十一届全国颗粒测试学术会议”。本次会议将邀请国内外颗粒测试的专家在大会作学术报告，总结交流颗粒测试等方面的最新成果，探讨颗粒测试发展方向和未来趋势，为与会者提供交流新思想、切磋新技术的舞台。热诚欢迎国内外颗粒领域的专家、学者、技术人员、企业界代表及研究生踊跃投稿，积极参会，同时欢迎公司、企事业单位到会展示技术成果，洽谈产、学、研合作。/pp　　三、会议日程：/pp　　2017年11月15日：全天报到 晚7点召开专委会扩大会议 /pp　　2017年11月16日：全天大会，特邀报告、专题研讨会、分会场报告 /pp　　2017年11月17日：上午青年学者论文交流会，能力验证总结交流会，颗粒团体标准交流会 下午颗粒测试热点问题交流(答疑)，优秀论文和优秀墙报颁奖。/pp　　四、征文范围(包括但不限于以下主题)/pp　　1. 微米、纳米颗粒测试理论及新进展/pp　　2. 颗粒测试新技术/pp　　3. 颗粒测试新技术的应用(如矿冶、化工、医药、农药、电池等领域)/pp　　4. 大气颗粒物的测试技术及仪器/pp　　5. 石墨烯制备、应用及表征/pp　　6. 颗粒标准化/pp　　7. 颗粒标准物质的研制与开发/pp　　8. 粒度比对及能力验证/pp　　9. 颗粒比表面及孔径的测试/pp　　10. 粒度测试热点问题的探讨/pp　　11. 其他/pp　　五、会议安排/pp　　1. 本次大会时间为期两天，将以大会特邀报告、专题研讨会、分会场报告、墙报张贴等形式进行交流。/pp　　2. 安排国内外颗粒领域的知名专家与企业互动，现场解答企业提出的问题。/pp　　3. 召开颗粒测试专业委会委员扩大会议。/pp　　4. 召开学会团体标准“光散射原理PM2.5质量浓度测量仪性能测试方法”研讨会。/pp　　5. 召开CNASZ0127“纳米颗粒的粒度分析”能力验证工作总结讲评会。/pp　　6. 会议将启动优秀论文的评选工作，并将在大会闭幕式上组织颁奖。/pp　　六、投稿须知/pp　　会议出版论文集。论文要求为详细摘要或全文投稿，稿件请采用Word排版并直接投稿至：/pp　　klxh863@163.com，投稿格式请参照《中国粉体技术》的论文格式。/pp　　投稿截止日期：2017年10月25日。/pp　　参加优秀论文评选的必须提供论文全文。会后将推荐未发表的优秀论文至《中国粉体技术》(核心期刊)，或《颗粒学报》(英文)(SCI与EI收录，IF=2.110)。/pp　　投稿时务请指定论文希望的交流形式(口头报告或/及墙报交流)，同时请附上计划的论文宣读人(或墙报交流人)的简单个人信息。/pp　　七、会议费用/pp　　大会注册费：1800元/人 学生(凭学生证)：1500元/人。食宿费自理。会议无接送站。/pp　　在大会报名截止日期前交大会注册费：1500元/人 学生(凭学生证)：1200元/人。/pp　　大会报名截止日期：2017年10月25日。/pp　　会议欢迎企业以多种形式赞助本次会议。/pp　　八、会议地点/pp　　地点：广州宾馆/pp　　地址：广州越秀区起义路2号/pp　　联系人：陈小健(13728000209) 广州宾馆总机：020-83338168-总台/pp　　需提前邮寄物品者，请联系：彭力(13480208185)，陈小健(13728000209)/pp　　住宿：广州宾馆/pp　　九、联系方式/pp　　邮 箱：klxh863@163.com/pp　　注册缴费：韩秀芝：010-62647647 高原：13910812410，/pp /p

一年之计在于春，2月3日立春之际，《颗粒 激光衍射粒度分析仪 通用技术要求》国家标准（计划号20204883-T-469）启动会于云端成功召开。标准起草单位及国内外主流激光粒度仪生产厂商的近40位代表出席了活动。会议由全国颗粒标准化分技术委员会秘书长李兆军主持，项目负责人、中国计量科学研究院张文阁详细介绍了该标准立项的背景、意义及过程，并对接下来的工作安排与分工进行了部署。激光粒度分析仪是用于测量颗粒材料粒度大小和分布的仪器。激光（衍射）粒度分析仪与其它粒度测量仪器相比，具有准确可靠、测试速度快、重复性好、操作简便、适用领域广泛等突出特点。目前，国内外激光粒度仪生产厂家众多，我国市场存量达数万台。在激光衍射粒度仪的生产和使用过程中，仪器技术指标及试验验证方法更受厂商及用户关注，而现有标准和技术规范对此基本没有涉及，亟需相关标准的修订。基于此，中国计量科学研究院等单位通过中国颗粒学会测试专业委员会联合相关单位的科研与技术人员，于2019年初组建了标准起草工作组（以下简称“工作组”），工作组以JJF1211-2008、IS013320等相关标准为基础，经过多次讨论、反复修改完成了《颗粒 激光衍射粒度分析仪 通用技术要求》草案，于2019年10月在全国颗粒标准化分技术委员会年会上讨论通过，之后通过国标委组织的专家答辩，于2020年12月28日正式批准立项。《颗粒 激光衍射粒度分析仪 通用技术要求》国家标准拟对激光衍射粒度分析仪的技术指标、试验项目、试验方法和仪器测量结果的不确定度评定方法进行规定，适用于静态激光衍射粒度分析仪的通用技术要求和性能评价。新标准的发布可进一步保障激光粒度仪的重复性、准确性、分辨率、测试范围，为用户提供更可靠的测试结果。项目启动后，工作组将汇总各相关单位的意见和建议，经充分讨论后形成标准征求意见稿，预计今年11月在全国颗粒标准化分技术委员会年会上对标准送审稿进行审查。仪器信息网将持续关注本标准项目进展情况并报道。

安东帕在颗粒度领域不断提高市场知名度，即去年的Litesizer 500系列上市到今年PSA系列激光粒度仪的上市，原子力显微镜的上市，在颗粒测量领域更具有竞争度。近期第十一届全国颗粒测试学术会议暨2017全国粉体测试技术应用研讨会在广州举办，安东帕的展台也获得关注，并在大会上做了专题报告。报告题目：安东帕Litesizer TM系列和90系列激光粒度仪的介绍 安东帕应用工程师在颗粒测试学术会议上做报告，主要介绍了安东帕LitesizerTM系列和90系列两个激光粒度仪产品，其中LitesizerTM系列包含Litesizer TM500和Litesizer TM100，该系列采用了专利的cmPALS技术，可实现更短测量时间，更低施加电场降低样品和电极的影响、污染。90系列即990/1090/1190系列，于2017年上市，源于法国Cilas公司，具有湿法条件下粒度大小和形态可同时测定等特点。 安东帕MCR模块化智能型高级流变仪和litesizer 500纳米粒度分析仪形成互相补充的测试技术，最完美得匹配。使用Litezizer粒度仪获得有价值的颗粒度和胶体稳定性观察，现在你可以改进你的流变性能测试。了解颗粒度可以帮助你选择正确的测试系统，zeta电位表征你样品在更高剪切速率的稳定性。-更加专业的流变性能测试-对结果的更进步评估-对样品的更全面理解为进一步扩大公司颗粒表征的产品线，安东帕收购法国CILAS公司PSA业务。PSA系列激光粒度仪是在今年9月份推出的新品。 该系列产品包括PAS 990、PSA 1090和PSA 1190这三个型号。 PSA系列仪器扩展了基于动态光散射的当前粒度测量仪器组合，是LitesizerTM系列仪器的极佳补充。 PSA系列激光粒度仪最大的特点在于可一键切换干湿法，用户无需进行硬件的切换，只需一键点击鼠标便可轻松切换，无需重新验证或重新调准灵敏的光学器件。本次讲座将对PSA990/1090/1190基本应用情况，特点进行阐述。 化繁为简,为真正的工业AFM开辟道路安东帕进入原子力显微镜市场，推出一款专为工业用户设计、满足各种需求的 AFM 产品 Tosca™ 400。它独一无二地将先进技术与简单易用的操作完美结合，使得这款 AFM 既适合工业用户，也适合科学工作者。自动化和工作流导向的控制分析软件植入到机器的每个操作层级，进一步提高了效率并简化AFM测量操作。

想领略大上海的车水马龙、日新月异、华灯璀璨，黄浦江畔无疑是见证上海百年变迁的不二之选。不管是万国建筑华灯初上的外滩，还是摩登高楼鳞次栉比的陆家嘴，踏上弗尔德仪器赞助的黄浦江游轮之旅，让您在会议思想碰撞之余体验上海的繁华昌盛。? 华灯初上的陆家嘴VS万国建筑的外滩会议介绍随着我国医疗、新能源、增材制造、食品、化妆品和化工等领域的飞速发展，颗粒调整得到广泛应用，特别是微米、纳米材料研发等应用领域，颗粒表征逐渐成为不可或缺的技术手段。2018年10月15-16日，全国颗粒表征与分析及筛网标准化技术委员会在上海组织召开了颗粒表征国际标准会议，来自ISO/TC24/SC4成员国代表、ISO/TC281（精细气泡）专家、ISO/TC229（纳米）专家、欧盟联合研究中心专家、国家标准化管理委员会、中国颗粒表征技术专家等60多位中外来宾济济一堂、共同商讨与制定颗粒表征标准。会议围绕颗粒表征术语、沉降与分级、孔径分布和孔隙度、激光衍射法、动态光散射、图像分析法、液体中分散颗粒表征等主要议题，展开了深入而又激烈地讨论。?作为15日颗粒表征国际标准会议黄浦江游轮晚宴的东道主，弗尔德（上海）仪器设备有限公司科学仪器事业部总经理董亮先生发表了会议开幕致辞，热烈欢迎了到场的中外嘉宾，并对弗尔德仪器旗下的子品牌和产品做出了简要的介绍。?在经历了一天紧锣密鼓的会议之余，弗尔德仪器精心为参会代表们策划了一场美轮美奂的黄浦江游览之旅，洗涤舟车劳顿的疲惫，游览华灯初上的黄浦江畔。莱驰科技Retsch Technology（莱驰科技）作为Retsch的姊妹公司，专业致力于粒度及粒形分析仪仪器的研发和生产，基于ISO13322-2标准设计，Camsizer P4i/Camsizer X2可以一次进样，测量粒度大小、粒度分布、球形度、纵横比、对称性、凹凸度，并可进行颗粒计数、密度及比表面积测量，Camsizer系列已经逐渐成为催化剂、玻璃珠、金属粉末等行业粒度分析的新宠。?Camsizer X2/Camsizer P4

单颗粒电感耦合等离子质谱法（spICP-MS）是一种在非常低的浓度中检测单个纳米颗粒的方法。与传统表征金属纳米颗粒技术相比，使用单台ICP-MS，不需联用设备就可以同时完成纳米颗粒的成分、浓度、粒径、粒度分布和颗粒团聚的检测，这是透射电子显微镜（TEM）、动态光散射（DLS）等纳米粒径表征技术无法完成的，并且此方法可将样品中溶解的纳米颗粒离子与固体纳米颗粒区分开来。近期，国家纳米科学中心牵头制定了国内首项单颗粒电感耦合等离子体质谱法（spICP-MS）国家标准《GB/T 42732-2023 纳米技术 水相中无机纳米颗粒的尺寸分布和浓度测量 单颗粒电感耦合等离子体质谱法》。本文特邀国家纳米科学中心葛广路研究员、郭玉婷高级工程师对该标准进行解读。一、背景 目前，基于纳米技术或含有工程纳米颗粒的产品已广泛使用，并开始影响有关的行业和市场。因此，消费者可能直接或间接地接触到（除天然纳米颗粒外的）工程纳米颗粒。在食品、消费品、毒理学和暴露研究中，工程纳米颗粒的检测成为纳米颗粒应用潜在效益和潜在风险评估的必要部分，迫切需要建立产品、试验样品和环境等复杂基质中痕量纳米颗粒检测方法标准。二、标准概述本标准包括范围、规范性引用文件、术语和定义、缩略语、适用性、步骤、结果、测试报告8章内容和1个资料性附录。本标准描述了使用电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）在时间分辨模式下测定单个纳米颗粒的质量和悬浮液中离子浓度，检测水相悬浮液中纳米颗粒，并表征颗粒数量与质量浓度、颗粒尺寸及数均尺寸分布的方法。三、适用性本方法仅限用于纯纳米颗粒的水相悬浮液、材料或消费品的水相提取液、食品或组织样品的水相消解液、水相毒理学样品或环境水样品。非水相样品处理见标准参考文献。水相环境样品经过过滤和稀释，食品和毒理学样品经过化学或酶消解和稀释。将水相悬浮液中的颗粒数量或质量浓度与原始样品中的浓度联系起来需样品相关提取、效率和基质效应等信息，并由用户进行额外验证。四、主要技术内容本文选取原理、重要参数传输效率和响应值及线性的确定、结果计算方面部分重点内容进行讲解，详细内容及仪器设置、试样制备等相关内容与注意的事项参见标准原文。1 原理单颗粒电感耦合等离子体质谱(spICP-MS)是一种能够在非常低的浓度下检测单个纳米颗粒的方法，此方法适用于水相悬浮液中无机纳米颗粒的尺寸及数均尺寸分布、颗粒数量浓度与质量浓度，悬浮液中离子浓度的测定。将常规的ICP-MS系统设置为以高时间分辨率模式采集数据。水相样品连续进入ICP-MS中，雾化后，一部分纳米颗粒进入等离子体并被原子化和电离。每个原子化的颗粒相对应的离子团为一个信号脉冲。使用合适的驻留时间和适当稀释的纳米颗粒悬浮液，质谱仪可实现单个纳米颗粒检测，称为“单颗粒”ICP-MS。对纳米颗粒悬浮液进行稀释，以避免违反“单颗粒规则”（即在一个驻留时间内有一个以上的颗粒到达检测器）。由于离子团中的离子密度很高，其产生的脉冲信号远高于背景（或基线）信号。脉冲强度、脉冲面积与纳米颗粒中被测元素的质量，也即纳米颗粒直径的立方成正比（假定纳米颗粒的几何形状是球形）。单位时间检测到的脉冲数与待测水相悬浮液中纳米颗粒的数量成正比。2 确定传输效率引入的样品只有一部分到达等离子体，结果的计算需要知道传输效率。使用已知的纳米颗粒标准样品测定传输效率。如果没有可用的纳米颗粒标准样品，可以使用任何其他良好表征过的纳米颗粒悬浮液，重新计算稀释倍数和浓度。纳米颗粒尺寸已知，颗粒浓度未知时，结合分析一系列与纳米颗粒相同元素的离子标准溶液，确定传输效率。3 确定响应值及线性随着纳米颗粒的直径增大，信号响应值将按三次方增加，所以需要对纳米颗粒每种组成每种尺寸范围的响应进行验证。校准最好使用纳米颗粒标准样品，无法获得这样的标准样品时，在相同的样品分析条件下，使用被测元素的离子标准溶液进行此步骤中的校准。分析离子溶液的标准工作液，用线性回归法确定校准曲线的相关系数，校准函数的斜率，即为ICP-MS响应值。4 结果计算4.1 检出限的计算由空白对照样品中的颗粒数量确定颗粒数量浓度检出限，结合平均颗粒质量，计算质量浓度检出限。由刚好能从背景中区分出来的脉冲信号强度决定颗粒尺寸检出限。4.2 颗粒浓度和尺寸、离子浓度的计算由时间扫描中检测到的脉冲数、传输效率、样品流速计算水相样品中的颗粒数量浓度；样品中颗粒信号强度、离子标准溶液的ICP- MS响应值、传输效率、驻留时间、样品流速、纳米颗粒材料的摩尔质量和被测物的摩尔质量计算单个颗粒的质量，假设颗粒为球形，计算得到颗粒的直径。由离子产生的连续基线信号估算样品中的离子浓度。通常，可以用商用软件或将测试数据导入定制的电子表格程序进行处理，以计算纳米颗粒的数量、质量浓度、尺寸（等效球直径）和相应数均尺寸分布，并同时确定样品中存在的离子质量浓度。本标准的资料性附录A给出了定制的电子表格程序处理数据的示例。五、结语本标准等同采用ISO/TS19590:2017 Nanotechnologies—Size distribution and concentration of inorganic nanoparticles in aqueous media via single particle inductively coupled plasma mass spectrometry，于2023年8月6日发布，将于2024年3月1日实施，是国内首项使用单颗粒电感耦合等离子体质谱方法表征纳米颗粒的国家标准，支撑spICP-MS作为一种普适性方法的推广与应用。本标准由国家纳米科学中心、珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司、赛默飞世尔科技(中国)有限公司、岛津企业管理(中国)有限公司、清华大学、中国计量科学研究院、杭州谱育科技发展有限公司，安捷伦科技（中国）有限公司制定。在起草阶段，标准起草工作组选用金纳米颗粒，在国家纳米科学中心、赛默飞世尔科技(中国)有限公司、岛津企业管理(中国)有限公司、安捷伦科技（中国）有限公司、杭州谱育科技发展有限公司，利用不同仪器进行了测试，使用仪器所带软件对颗粒尺寸和颗粒数量浓度进行了处理计算。在征求意见阶段，向四川大学、中国地质大学、武汉大学、清华大学深圳国际研究生院、东北大学、华东师范大学、中山大学、厦门大学、中国科学院过程工程研究所、中国科学院南京土壤研究所、中国科学院生态环境研究中心、上海市食品药品检验研究院、生态环境部南京环境科学研究所、中国科学院高能物理研究所、山东英盛生物技术有限公司等高校、科研院所和企业发送了标准征求意见材料，征求意见专家多为分析化学、纳米科学等领域专家，给本标准提出了具有代表性的意见，在此感谢他们对本项标准制定工作的支持。本文作者： 葛广路 研究员；郭玉婷 高级工程师 国家纳米科学中心 中国科学院纳米标准与检测重点实验室 Email：gegl@nanoctr.cn guoyt@nanoctr.cn

A1032油液颗粒污染度检测仪是依据GB/T 18854-2002、ISO11171-1999、DL/T432-2007、GJB 420B、NAS1638、ISO4406等标准研制的专门用于油液中污染粒子的分布大小尺寸及等级检测的仪器。A1032采用光阻法（遮光法）原理研制，适用于液压油、润滑油、抗燃油、绝缘油和透平油等颗粒污染度的检测。可提供快速、准确、可靠、可重复的检测结果及完整的污染监测分析报告。广泛应用于航空、航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、制造等领域。 油液颗粒污染度检测仪仪器特点 1. 采用国际液压标准委员会指定的光阻（遮光）法计数原理。2. 高精度激光传感器，测试范围宽，性能稳定，噪声低，分辨率高。3. 采用精密注射泵取样方式，可自行设定取样体积，进样速度稳定，取样精度高。4. 采用了正负压结合的进样系统，可实现样品脱气，适合不同粘稠度的检品测试。5. 内置空气净化系统，保证测试不受污染。6. 内置多重校准曲线，可兼容所有国内外常用标准进行校准。7. 内置GJB-420B、NAS1638、ISO4406和ГOCT17216-71等8种常用标准，支持自定义标准测试，并可根据客户需求设置所需标准。8. 可采用标准取样瓶或取样杯等多种取样容器，满足不同行业的检测要求。9. 彩色触摸屏操作，内置打印机，结构简洁大方，操作简单方便。10. 全功能自动操作，中文输入，具有数据存储、打印功能。11. 内置数据分析系统，可根据标准自动判定样品等级。12. 具有RS232接口，可连接电脑或实验室平台进行数据处理。13. 可有偿提供颗粒度计量测试站“中国航空工业颗粒度计量测试站”校验报告。 油液颗粒污染度检测仪技术参数 光源：半导体激光器粒径范围：0.8um~500um检测通道：8通道任意设置粒径尺寸分辨力：优于10%重复性：RSD2% 粘度范围：350mm2/s(cSt)取样体积：0.2~1000ml 取样精度：优于±1%取样速度：5mL/min ~80mL/min气压舱真空：0.08MPa气压舱正压：0.8MPa 极限重合误差：10000粒/mL电源：AC220V±10%、50Hz 标准配置 名称型号单位数量油液颗粒污染度检测仪主机A1031台1增压泵A1031台1搅拌子A1031个1电源线A1031根1软管A1031根3取样瓶A1031个2超声波发生器A1031台1使用说明书A1031份1合格证A1031份1保修卡A1031份1创新点：新款油液颗粒度检测仪是一款便携式的油品污染度检测仪器，它具有可自定义通道的内部配置，重复型好、测量精度高，携带方便，支持现场检测。得利特A1032油液颗粒度检测仪石油

A1032油液颗粒污染度检测仪是依据GB/T 18854-2002、ISO11171-1999、DL/T432-2007、GJB 420B、NAS1638、ISO4406等标准研制的专门用于油液中污染粒子的分布大小尺寸及等级检测的仪器。A1032采用光阻法（遮光法）原理研制，适用于液压油、润滑油、抗燃油、绝缘油和透平油等颗粒污染度的检测。可提供快速、准确、可靠、可重复的检测结果及完整的污染监测分析报告。广泛应用于航空、航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、制造等领域。 仪器特点 1. 采用国际液压标准委员会指定的光阻（遮光）法计数原理。2. 高精度激光传感器，测试范围宽，性能稳定，噪声低，分辨率高。3. 采用精密注射泵取样方式，可自行设定取样体积，进样速度稳定，取样精度高。4. 采用了正负压结合的进样系统，可实现样品脱气，适合不同粘稠度的检品测试。5. 内置空气净化系统，保证测试不受污染。6. 内置多重校准曲线，可兼容所有国内外常用标准进行校准。7. 内置GJB-420B、NAS1638、ISO4406和ГOCT17216-71等8种常用标准，支持自定义标准测试，并可根据客户需求设置所需标准。8. 可采用标准取样瓶或取样杯等多种取样容器，满足不同行业的检测要求。9. 彩色触摸屏操作，内置打印机，结构简洁大方，操作简单方便。10. 全功能自动操作，中文输入，具有数据存储、打印功能。11. 内置数据分析系统，可根据标准自动判定样品等级。12. 具有RS232接口，可连接电脑或实验室平台进行数据处理。13. 可有偿提供颗粒度计量测试站“中国航空工业颗粒度计量测试站”校验报告。 技术参数 光源：半导体激光器粒径范围：0.8um~500um检测通道：8通道任意设置粒径尺寸分辨力：优于10%重复性：RSD2% 粘度范围：350mm2/s(cSt)取样体积：0.2~1000ml 取样精度：优于±1%取样速度：5mL/min ~80mL/min气压舱真空：0.08MPa气压舱正压：0.8MPa 极限重合误差：10000粒/mL电源：AC220V±10%、50Hz 标准配置 名称型号单位数量油液颗粒污染度检测仪主机A1031台1增压泵A1031台1搅拌子A1031个1电源线A1031根1软管A1031根3取样瓶A1031个2超声波发生器A1031台1使用说明书A1031份1合格证A1031份1保修卡A1031份1创新点：新款油液颗粒度检测仪是一款便携式的油品污染度检测仪器，它具有可自定义通道的内部配置，重复型好、测量精度高，携带方便，支持现场检测。得利特A1032油液颗粒度检测仪石油

p style="text-align: center "strong　　第十一届全国颗粒测试学术会议/strong/pp style="text-align: center "strong　　2017全国粉体测试技术应用研讨会/strong/pp style="text-align: center "strong　　(第一轮通知)/strong/pp　　为促进我国颗粒行业发展，提高颗粒行业中科技人员的技术水平与研发能力，加强交流学习，研讨“十三五”期间的新动态、新思路，中国颗粒学会颗粒测试专业委员会拟定于2017年11月15日-17日在广州召开“第十一届全国颗粒测试学术会议”。本次会议将邀请国内外颗粒测试的专家在大会作学术报告，总结交流颗粒测试等方面的最新成果，探讨颗粒测试发展方向和未来趋势，为与会者提供交流新思想、切磋新技术的舞台。热诚欢迎国内外颗粒领域的专家、学者、技术人员、企业界代表及研究生踊跃投稿，积极参会，同时欢迎公司、企事业单位到会展示技术成果，洽谈产、学、研合作。/pp　strong　一、会议信息/strong/pp　　主办单位：中国颗粒学会颗粒测试专业委员会/pp　　承办单位：华南师范大学物理与电信工程学院/pp　　珠海真理光学仪器有限公司/pp　　支持单位：丹东市百特仪器有限公司/pp　　济南微纳颗粒仪器股份有限公司/pp　　成都精新粉体测试设备有限公司/pp　　北京海岸鸿蒙标准物质技术有限责任公司/pp　　协办单位： 北京粉体技术协会/pp　　全国纳米技术标准化技术委员会/pp　　全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会颗粒分技术委员会/pp　　光电信息技术教育部重点实验室(天津大学)/pp　　广东省光电检测仪器工程技术研究中心/pp　　安徽省粉体材料标准化技术委员会/pp　　中国粉体技术杂志社/pp　　中国超细粉产业发展联盟(筹)/pp　　江苏省颗粒学会/pp　　合作伙伴：中国颗粒网 中国粉体网 仪器信息网/pp　　会议重要时间节点：/pp　　2017年3-4月第一轮通知/pp　　2017年 6 月第二轮通知/pp　　2017年 4-8月会议注册、提交论文/pp　　2017年 8月30日会议论文接收截止、优惠注册缴费截止/pp　　2017年 11月15日报到/pp　　2017年 11月16-17日会议/ppstrong　　二、 组织机构：/strong/pp　　学术委员会：/pp　　名誉主席：胡荣泽/pp　　主 席：葛宝臻 副主席：蔡小舒、任中京、张福根、董青云、韩鹏/pp　　委 员：白蕴如、程虎民、付燕、葛广路、古燕玲、郭峰、高峡、胡振锋、郝新友、胡子平、何振江、金涛、刘 飚、李兆军、李力、李增和、刘希尧、刘俊杰、刘伟丽、秦和义、曲丹丹、梁勇、任玲玲、任飞、沈建琪、宋金子、宋正启 、张立新、苏明旭、王孝平、魏耀林、王玄玉、 谢洪勇、吴立敏、魏永杰、王海、夏 辉、许人良、徐喜庆、许传龙、杨冠玲、杨正红、郁卫飞、杨毅、余方、于明洲、杨传民、钟家湘、朱子新、周定益、周已欣、张文阁、周恒辉、周 骛、周素红、赵 鹏/pp　　组织委员会：/pp　　主 席：韩鹏 副主席：张福根、 付信涛、魏耀林、周素红/pp　　委 员：邱健、 郭华、郭峰、韩秀芝、高原、解庭红、骆开庆、彭力、魏永杰/pp　　strong三、 征文范围(包括但不限于以下主题)/strong/pp　　1. 微米、纳米颗粒测试理论及新进展/pp　　2. 颗粒测试新技术/pp　　3. 颗粒测试新技术的应用(如矿冶、化工、医药、农药、电池等领域)/pp　　4. 大气颗粒物的测试技术及仪器/pp　　5. 石墨烯制备、应用及表征/pp　　6. 颗粒标准化/pp　　7. 颗粒标准物质的研制与开发/pp　　8. 粒度比对及能力验证/pp　　9. 颗粒比表面及孔径的测试/pp　　10. 其他/ppstrong　　四、会议安排/strong/pp　　1. 本次大会时间为期两天，将以大会特邀报告、专题研讨会、分会场报告、墙报张贴等形式进行交流。/pp　　2. 安排国内外颗粒领域的知名专家与企业互动，现场解答企业提出的问题。/pp　　3. 召开颗粒测试专业委会委员扩大会议。/pp　　4. 会议将启动优秀论文的评选工作，并将在大会闭幕式上组织颁奖。/ppstrong　　五、投稿须知/strong/pp　　会议出版论文集。论文要求为详细摘要或全文投稿，稿件请采用Word排版并直接投稿至：klxh863@163.com，投稿格式请参照《中国粉体技术》的论文格式。投稿截止日期：2017年 8月30日。参加优秀论文评选的必须提供论文全文。会后将推荐部分优秀论文至《中国粉体技术》(核心期刊)，或《颗粒学报》(英文)(SCI与EI收录，IF=2.110)。/pp　　投稿时务请指定论文希望的交流形式 (口头报告 或/及 墙报交流)，同时请附上计划的论文宣读人(或墙报交流人)的简单个人信息。/ppstrong　　六、会议费用/strong/pp　　大会注册费：1800元/人 学生(凭学生证)：1500元/人。食宿费自理。/pp　　在大会报名截止日期前交大会注册费：1500元/人 学生(凭学生证)：1200元/人/pp　　大会报名截止日期：2017年8月30日。/pp　　会议欢迎企业以多种形式赞助本次会议。/ppstrong　　七、会议地点/strong/pp　　地点：广州(具体开会地点将在第二轮通知中详细说明)/ppstrong　　八、联系方式/strong/pp　　注册缴费：韩秀芝：010-62647647 高原：13910812410，/pp　　论文投稿：韩 鹏：15986339922 魏耀林：13602055500 邱 健：13609010392/pp　　会议赞助：周素红:：13301330433 zsh863@163.com/pp　　strong九、注册费提前汇款到/strong/pp　　户 名：中国颗粒学会/pp　　开户行：中国工商银行北京海淀西区支行/pp　　帐 号：0200004509014413416/pp　　请在备注栏中注明“测试会”参会人姓名字样，汇款后，请将汇款信息和发票抬头发到会务组klxh863@163.com。/pp　strong　十、报名表/strong/pp　　请计划投稿与参会人员务必在2017年8月30日前将回执发出，以便安排住宿和会议准备。/pp style="text-align: right "　　中国颗粒学会颗粒测试专业委员会/pp style="text-align: right "　　2017-03-20/pp /pp style="line-height: 16px "img src="/admincms/ueditor1/dialogs/attachment/fileTypeImages/icon_doc.gif"/a href="http://img1.17img.cn/17img/files/201703/ueattachment/dfbbbec5-3277-4a71-a79c-dd7ea5c3ad12.docx"参 会 回 执.docx/a/p

中国颗粒学会颗粒测试专业委员会第十三届全国颗粒测试学术会议2021全国粉体测试技术应用研讨会（第三轮通知）为促进我国颗粒行业的深入发展，加强交流学习，促进颗粒测试新方法、新技术的创新与应用，研讨“十四五”期间的新动态、新思路，中国颗粒学会颗粒测试专业委员会拟定于2021年9月24日-26日在天津市滨海新区召开“第十三届全国颗粒测试学术会议”。本次会议将邀请国内外颗粒测试的专家在大会作学术报告，总结交流颗粒测试等方面的最新成果，探讨颗粒测试发展方向和未来趋势，为与会者提供交流新思想、切磋新技术的舞台。热诚欢迎国内外颗粒领域的专家、学者、技术人员、企业界代表及研究生踊跃投稿、积极参会，同时欢迎公司、企事业单位到会展示技术成果，洽谈产、学、研合作。一、会议信息主办单位：中国颗粒学会颗粒测试专业委员会承办单位：天津商业大学北京海岸鸿蒙标准物质技术有限责任公司天津天河分析仪器有限公司北京粉体技术协会支持单位：丹东市百特仪器有限公司济南微纳颗粒仪器股份有限公司弗尔德（上海）仪器设备有限公司珠海真理光学仪器有限公司珠海欧美克仪器有限公司成都精新粉体测试设备有限公司泰州巨纳新材料有限公司合肥鸿蒙标准技术研究院德国新帕泰克有限公司苏州代表处欧波同（中国）有限公司天津润道油液监测有限责任公司司迈实科技（北京）有限公司协办单位：江苏省颗粒学会上海市颗粒学会中国颗粒学会气溶胶专业委员会全国纳米技术标准化技术委员会全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会颗粒分技术委员会河北工业大学机械工程学院合作单位：中国颗粒网中国粉体网会议重要时间节点：2021年5月第一轮通知2021年7月第二轮通知2021年8月第三轮通知2021年5-8月会议注册、提交论文2021年7月31日优惠注册缴费截止2021年9月10日会议论文接收截止2021年9月24日报到2021年9月25-26日会议二、组织机构（姓氏拼音顺序）学术委员会主席：葛宝臻名誉主席：胡荣泽副主席：董青云、韩鹏、沈建琪、张福根、张文阁、周素红名誉副主席：杨冠玲、周定益、蔡小舒、金涛、魏耀林委员：陈龙飞、陈胜利、程虎民、丁荣、董亮、方勤、付信涛、付艳、高峡、高思田、高原、葛广路、耿建芳、郝新友、何羽微、胡子平、李力、李卫军、李增和、李兆军、梁铮、刘飚、刘伟、刘俊杰、吕且妮、曲丹丹、任飞、任玲玲、苏明旭、田庆国、王海、王孝平、王远航、魏永杰、魏严凇、吴汉平、吴立敏、席广成、徐喜庆、许传龙、许人良、杨毅、杨正红、余方、于明州、郁卫飞、张立新、张淑琴、周恒辉、周已欣、朱晓阳、朱子新青年委员：陈诚、陈进、窦晓亮、范继来、高洁、宫晓群、纪英露、孔德宇、李晓光、刘伟丽、潘林超、沈兴志、杨荟楠、钟华、周骛、邹宗勇组织委员会主席：周素红、魏永杰、李力、陈诚副主席：付信涛、高原委员：常怀秋、韩秀芝、田庆国、席广成、朱晓阳三、会议日程：2021年9月24日：全天报到；晚6点30分召开专委会扩大会议；8点召开青年理事会议2021年9月25-26日：全天大会，特邀报告、专题研讨会。四、征文范围（包括但不限于以下主题）1. 微米、纳米颗粒测试理论及新进展2. 颗粒测试新技术、新方法及创新成果3. 颗粒关键参数的测试理论与验证4. 颗粒测试在交叉学科中的应用5. 颗粒标准化6. 颗粒标准物质的研制与开发7. 粒度多峰样品比对及能力验证8. 颗粒比表面及孔径的测试9. 其它五、会议安排1. 大会时间为两天，将以大会特邀报告、会场报告、墙报张贴、专题研讨会等形式进行交流。2. 安排国内外颗粒领域的知名专家与企业互动，现场解答企业提出的问题。3. 召开颗粒测试专业委会委员扩大会议。4. 召开颗粒粒度多峰样品比对研讨会。六、投稿须知会议出版论文集。论文要求为详细摘要或全文投稿，稿件请采用Word排版并直接投稿至：klxh863@163.com，投稿格式见附件。会后将推荐部分论文至《中国粉体技术》（核心期刊），或《颗粒学报》（英文）（SCI与EI收录）。投稿时请确定论文希望的交流形式(口头报告或/及墙报交流)，同时请附论文宣读人（或墙报交流人）的个人信息。投稿截止日期：2021年9月10日。七、会议费用大会注册费：2000元/人；学生（凭学生证）：1500元/人。食宿费自理。大会报名截止日期：2021年9月18日。会议欢迎企业以多种形式赞助本次会议。八、同期展览、企业交流会为了便于交流宣传、展示最新的产品，促进科研成果的转化，推动产、学、研的结合，本次会议将专门安排“新技术、新产品、新设备推介及展示”区域，内容包括：测试分析仪器、颗粒/粉体制备技术及设备、颗粒/粉体材料及产品、颗粒/粉体应用技术等，希望参与会上展示的企业，请于会前与专委会秘书处周老师联系，以便提前协调。热忱欢迎相关企业及单位积极参与。九、会议地点天津泰达中心酒店(滨海新区经济技术开发区第三大街16号，总机：022-25206666)需提前邮寄物品，请联系：泰达中心酒店销售经理刘磊 13821345067交通：距离天津滨海国际机场45公里；滨海高铁站5公里；天津站乘轻轨9号线泰达站下车，2公里到酒店。十、联系方式注册缴费：韩秀芝：010-62647647，苏伟13701194007论文投稿：魏永杰：13012262260，田庆国：13212268007会议赞助：周素红：13301330433，zsh863@163.com十一、汇款帐户户名：北京正信管理技术培训中心有限公司开户行：农行北京六里桥支行账号：11062801040007516汇款后，请将汇款信息和发票抬头发到会务组klxh863@163.com。现场接受现金、公务卡、信用卡、支付宝、微信形式支付；已经提前报名并准确回执的代表可以现场领取发票。十二、报名表请计划投稿与参会人员务必在2021年9月18日前将回执发出，以便安排住宿和会议准备。中国颗粒学会颗粒测试专业委员会2021-9-1参会回执.docx

中国颗粒学会颗粒测试专业委员会第十三届全国颗粒测试学术会议2021全国粉体测试技术应用研讨会（第一轮通知）为促进我国颗粒行业的深入发展，加强交流学习，促进颗粒测试新方法、新技术的创新与应用，研讨“十四五”期间的新动态、新思路，中国颗粒学会颗粒测试专业委员会拟定于2021年9月下旬在天津市滨海新区召开“第十三届全国颗粒测试学术会议”。本次会议将邀请国内外颗粒测试的专家在大会作学术报告，总结交流颗粒测试等方面的最新成果，探讨颗粒测试发展方向和未来趋势，为与会者提供交流新思想、切磋新技术的舞台。热诚欢迎国内外颗粒领域的专家、学者、技术人员、企业界代表及研究生踊跃投稿、积极参会，同时欢迎公司、企事业单位到会展示技术成果，洽谈产、学、研合作。一、会议信息主办单位：中国颗粒学会颗粒测试专业委员会承办单位：天津商业大学 北京海岸鸿蒙标准物质技术有限责任公司支持单位：丹东市百特仪器有限公司 济南微纳颗粒仪器股份有限公司 珠海真理光学仪器有限公司 珠海欧美克仪器有限公司 成都精新粉体测试设备有限公司 合肥鸿蒙标准技术研究院 天津润道油液监测有限责任公司协办单位：北京粉体技术协会 上海颗粒学会 江苏颗粒学会 中国颗粒学会气溶胶专业委员会 全国纳米技术标准化技术委员会 全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会颗粒分技术委员会合作单位：中国颗粒网 中国粉体网会议重要时间节点：2021年5月第一轮通知2021年6月第二轮通知2021年5-8月会议注册、提交论文2021年8月31日会议论文接收截止、优惠注册缴费截止2021年9月下旬会议二、组织机构（姓氏拼音顺序）学术委员会主席：葛宝臻名誉主席：胡荣泽副主席：董青云、韩鹏、沈建琪、张福根、张文阁、周素红名誉副主席：杨冠玲、周定益、蔡小舒、金涛、魏耀林委员：陈龙飞、陈胜利、程虎民、丁荣、方勤、付信涛、付艳、高峡、高思田、高原、葛广路、郝新友、何羽微、胡子平、李力、李卫军、李增和、李兆军、梁铮、刘飚、刘伟、刘俊杰、吕且妮、曲丹丹、任飞、任玲玲、苏明旭、田庆国、王海、王孝平、王远航、魏永杰、魏严凇、吴汉平、吴立敏、席广成、徐喜庆、许传龙、许人良、杨毅、杨正红、余方、于明州、郁卫飞、张立新、张淑琴、周恒辉、周已欣、朱晓阳、朱子新青年委员：陈诚、陈进、窦晓亮、范继来、高洁、宫晓群、纪英露、孔德宇、李晓光、刘伟丽、潘林超、沈兴志、杨荟楠、钟华、周骛、邹宗勇组织委员会主席：陈诚、李力、魏永杰、周素红副主席：付信涛、高原委员：常怀秋、韩秀芝、田庆国、席广成、朱晓阳三、征文范围（包括但不限于以下主题）1. 微米、纳米颗粒测试理论及新进展2. 颗粒测试新技术、新方法及创新成果3. 颗粒关键参数的测试理论与验证4. 颗粒测试在交叉学科中的应用5. 颗粒标准化6. 颗粒标准物质的研制与开发7. 粒度比对及能力验证8. 颗粒比表面及孔径的测试9. 其它四、会议安排1. 本次大会时间为两天，将以大会特邀报告、会场报告、墙报张贴、专题研讨会等形式进行交流。2. 安排国内外颗粒领域的知名专家与企业互动，现场解答企业提出的问题。3. 召开颗粒测试专业委会委员扩大会议。五、投稿须知会议出版论文集。论文要求为详细摘要或全文投稿，稿件请采用Word排版并直接投稿至：klxh863@163.com，投稿格式见附件。会后将推荐部分论文至《中国粉体技术》（核心期刊），或《颗粒学报》（英文）（SCI与EI收录）。投稿时请确定论文希望的交流形式(口头报告或/及墙报交流)，同时请附论文宣读人（或墙报交流人）的个人信息。投稿截止日期：2021年8月31日。六、会议费用大会注册费：2000元/人；学生（凭学生证）：1500元/人。食宿费自理。在大会报名截止日期前交大会注册费：1800元/人；学生（凭学生证）：1200元/人大会报名截止日期：2021年8月31日。会议欢迎企业以多种形式赞助本次会议。七、同期展览、企业交流会为了便于交流宣传、展示最新的产品，促进科研成果的转化，推动产、学、研的结合，本次会议将专门安排“新技术、新产品、新设备推介及展示”区域，内容包括：测试分析仪器、颗粒/粉体制备技术及设备、颗粒/粉体材料及产品、颗粒/粉体应用技术等，希望参与会上展示的企业，请于会前与专委会秘书处周素红联系，以便提前协调。热忱欢迎相关企业及单位积极参与。八、会议地点地点：天津市滨海新区（具体开会地点将在第二轮通知中详细说明）九、联系方式注册缴费：韩秀芝：010-62647647论文投稿：魏永杰：13012262260，田庆国：13212268007会议赞助：周素红：13301330433，zsh863@163.com十、注册费汇款帐户户名：中国颗粒学会开户行：中国工商银行北京海淀西区支行帐号：0200004509014413416请在备注栏中注明“测试会”参会人姓名字样，汇款后，请将汇款信息和发票抬头发到会务组klxh863@163.com。十一、报名表请计划投稿与参会人员务必在2021年8月31日前将回执发出，以便安排住宿和会议准备。中国颗粒学会颗粒测试专业委员会2021-5-20第十三届中国颗粒学会颗粒测试专业 委员会- 第一轮通知.docx参会回执.docx